JP2005339784A - Cpp−gmr再生ヘッドおよびその製造方法、ならびにcpp−gmr素子 - Google Patents

Cpp−gmr再生ヘッドおよびその製造方法、ならびにcpp−gmr素子 Download PDF

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Abstract

【課題】 より高い信号検出感度と安定した性能とを実現するCPP−GMR再生ヘッドおよびその製造方法ならびにCPP−GMR素子を提供する。
【解決手段】 GMR素子1のフリー層20が、鉄含有率が65at%〜72at%のNiFe層21を含むように構成する。これにより、良好な軟磁気特性と許容範囲内の磁歪定数を維持しつつ、より大きな抵抗変化率(GMR比)を確保することができる。
【選択図】 図1

Description

本発明は、積層面と直交する方向に検出電流を流すように構成された面直交電流型巨大磁気抵抗効果型(CPP−GMR)再生ヘッドおよびその製造方法、ならびにCPP−GMR素子に関する。
現在、一般的に使用されている磁気再生ヘッドは、磁界の存在中における磁性材料の抵抗変化(すなわち磁気抵抗効果[Magneto-Resistance]による電気抵抗の変化)を利用することにより、その動作を制御するものである。磁気抵抗効果は、スピンバルブ(Spin Valve;SV)構造によって非常に高めることができる。なかでも高記録密度化した記録媒体の読出を行う場合には、巨大磁気抵抗効果(GMR;Giant Magneto-Resistance)型のSV構造を有する磁気抵抗効果素子(以下、GMR素子という。)を備えた磁気再生ヘッド(以下、GMRヘッドという。)が好適である。この巨大磁気抵抗効果(GMR)とは、磁化された固体中を電子が通過する際に、その固体自体の( 電子スピン方向によって決まる) 磁化ベクトルと周囲の磁界方向との関係により、格子での通過電子散乱度が変化し、抵抗値が変動する現象である。具体的には、固体自体の磁化ベクトルと周囲磁界方向とが平行ならば、反平行の場合と異なり、通過電子はほとんど散乱されず、抵抗値が低くなる。
GMR素子を備えた初期のGMRヘッドは、CIP(Current flowing in the plane)型と言われる構造を有するものである。このCIP型のGMRヘッドにおいては、GMR素子の両側に配置したリード層によって、主にフリー層を面内方向に流れるようにGMR素子にセンス電流が供給される。CIP型のGMRヘッドにおけるGMR素子は、一般的に、複数の導電性薄膜からなる積層構造をなしているが、その積層構造には、磁気的な作用を持たず、抵抗変化の供給において全く機能しない導電層が含まれている。その結果、センシング電流の一部が分岐して、GMR素子のうちの検出動作が行われない部分を通過してしまうことから、GMR素子全体としての感度が低下する。
このような問題を回避するため、CPP(Current flowing perpendicular to the plane)構造を有するGMRヘッド(CPP−GMRヘッド)が開発された。このCPP−GMRヘッドでは、積層体からなるセンサ部分としてのGMR素子を上下方向(積層方向)に挟むように上部導電層および下部導電層が設けられ、GMR素子に対して、その積層方向( すなわち、積層面と直交する方向) にセンス電流が流れるようになっている。
図2は、従来のCPP−GMRヘッドの主要部を表すものである。このCPP−GMRヘッドでは、GMR素子101が下部リード層110と上部リード層118との間に挟まれるように設けられている。下部リード層110および上部リード層118は、GMR素子101にセンス電流を供給する電流経路である。GMR素子101は、下部リード層110の側から、シード層111と、反強磁性層112と、磁化固着構造(ピンド層)131と、非磁性介在層(スペーサ層)116と、磁化自由層(フリー層)117とが順に積層されたものである。反強磁性層112は、ピンド層131の磁化方向を規定(固着)するように作用する。ピンド層131は、シンセティック反強磁性ピンド構造をなしている。具体的には、互いに逆平行(反対向きの)磁化を示す2つの強磁性層113(AP2)および強磁性層115(AP1)と、それらに挟まれた結合層114とを有している。ピンド層131の上に形成されたスペーサ層116は、例えば銅(Cu)などの非磁性導電性材料により構成される。さらに、フリー層117は、低保磁力を示す強磁性材料により形成されている。このフリー層117の上面と接するようにコンタクト層としての上部リード層118が設けられている。
GMR素子101が外部磁場に晒されると、その(外部磁場の)付与される方向に応じてフリー層117の磁化方向が自由に回転するようになっている。外部磁場が取り除かれると、フリー層117の磁化方向は、ある方向に維持される。その方向は、結晶構造、形状異方性、電流磁場、結合磁場および反磁場などによって決まる最小エネルギー状態によって定まる。仮に、強磁性層115の磁化方向がフリー層117の磁化方向と平行である場合には、伝導電子が、あまり散乱を受けることなくフリー層117とピンド層131とを通過することができる。よって、抵抗値は比較的低くなる。しかしながら、強磁性層115の磁化方向がフリー層117の磁化方向と逆平行である場合には、伝導電子が多くの散乱を受けながらフリー層117とピンド層131とを通過することとなり、抵抗値が比較的高くなる。このような磁化方向の状態に基づく抵抗値の変化により、スピンバルブ構造のGMR素子では、一般的に8%〜20%の抵抗変化率を示す。GMR素子を有するCPP−GMRヘッドによれば、1平方インチあたり100ギガビットを超える記録密度を有する磁気メディアにも対応して、その磁気情報を読み出すことが可能である。
上記のようなGMRヘッドに関連する従来技術を検索したところ、以下のものが見つかった。
フリー層中の鉄含有量を特定的に開示しているものは見つからなかった。但し、例えばCarey らによる特許文献1、Shimazawa らによる特許文献2、Smith らによる特許文献3、および Redonらによる特許文献4には、鉄コバルト合金(FeCo)やニッケル鉄合金(NiFe)等の材料を含んだフリー層が開示されている。また、Odagawa らによる特許文献5には、ニッケルを多く含んだフリー層が開示されている。
なお、関連する他の文献としては、M.Ledermanらによる特許文献6やJ.W.Dykes らによる特許文献7がある。
米国特許第6686068号 米国特許第6562199号 米国特許第6473279号 米国特許第6469879号 米国特許公開第2004/0047190号 米国特許第5627704号明細書 米国特許第5668688号明細書
ところで最近では、高密度記録化が著しく進んでおり、磁気記録媒体からの信号磁界が微弱化し、その信号磁界を検出するための感度を十分に確保することが困難となってきている。したがって、CPP−GMRヘッドに搭載されるGMR素子としては、妥当な値の接合抵抗RAの他に、(1)できるだけ高い抵抗変化率(=GMR比)を発現することが要求される。また、フリー層がその本来の機能を果たすためには、(2)保磁力ができるだけ低いこと(フリー層が良好な軟磁性特性を示すこと)が必要である。さらに、ヘッドの磁気的安定性を良くするためには、(3)低い正の磁歪定数λ(+1×10-6〜+3×10-6程度)を示すことも必要である。
本出願人は、CPPスピンバルブ構造において、フリー層として例えばCo50Fe50等のようなスピン偏極性(spin polarization )の強い強磁性材料を用いることによってGMR比を改善し得る可能性がある、という知見を得ている。鉄を多く含有するNiFeもまた、スピン偏極性の強い強磁性材料と考えられる。しかしながら、現在までのところ、上記したいずれの文献でも、NiFeにおける鉄含有量の好適な範囲(組成最適化)について、上記の(1)〜(3)を考慮した上での具体的検討は十分に行われていなかった。
本発明はかかる問題に鑑みてなされたもので、その目的は、より高い信号検出感度と安定した性能とを実現することができるCPP−GMR再生ヘッドおよびその製造方法、ならびにCPP−GMR素子を提供することにある。
従来の標準的なCPP−GMRヘッドにおけるスピンバルブ構造では、フリー層として、Co90Fe10層とNi81Fe19層とを複合的に用いたものが知られている。これらのCo90Fe10層およびNi81Fe19層は、磁歪定数がほとんど零(例えば10-7程度)であると考えられる。CoFe層の磁歪定数は鉄の含有量の増加に伴って増加するが、一方、NiFe層の磁歪定数は、鉄の含有量に対して非線形に変化する。具体的には、NiFe層の磁歪定数は、鉄の含有量が低い場合(10原子%未満)には負となり、鉄の含有量が20〜66原子%の場合には正となる。そして、NiFe層の磁歪定数は、鉄の含有量が65〜72原子%(より好ましくは66〜71原子%)の場合に、ほとんど零になる。本発明では、このような知見に基づいて、フリー層におけるNiFe層の鉄含有量を、従来よりも多い65〜72原子%の範囲にすることにより、軟磁性特性および低磁歪定数を維持しつつGMR比の向上を実現している。具体的には、以下の各手段によってそれを可能にしている。
本発明のCPP−GMR素子は、下部リード層と上部リード層との間に、シード層、ピンニング層、ピンド層、非磁性層スペーサ層、フリー層およびキャップ層をこの順で積層してなるCPP−GMR素子であって、フリー層が、鉄を65ないし72原子%含有するニッケル鉄層を含むようにしたものである。
本発明のCPP−GMR再生ヘッドは、下部リード層と、下部リード層の上に順次形成されたシード層およびピンニング層と、ピンニング層の上に形成されたピンド層と、ピンド層の上に形成された非磁性層スペーサ層と、非磁性層スペーサ層の上に形成され、鉄を65ないし72原子%含有するニッケル鉄層と鉄を9ないし75原子%含有するコバルト鉄層とを含むフリー層と、フリー層の上に順次形成されたキャップ層および上部リード層とを備えるようにしたものである。この場合において、特に、フリー層のコバルト鉄層が、鉄を25原子%含有するのが好ましい。
本発明のCPP−GMR再生ヘッドの製造方法は、下部リード層の上に、シード層およびピンニング層を連続的に形成する工程と、ピンニング層の上にピンド層を形成する工程と、ピンド層の上に非磁性層スペーサ層を形成する工程と、非磁性層スペーサ層の上に、鉄を65ないし72原子%含有するニッケル鉄層と鉄を9ないし75原子%含有するコバルト鉄層とを含むフリー層を形成する工程と、フリー層の上にキャップ層および上部リード層をこの順で形成する工程とを含むものである。この場合において、特に、フリー層のコバルト鉄層が、鉄を25原子%含有するのが好ましい。
本発明のCPP−GMR再生ヘッドおよびその製造方法では、フリー層を、鉄含有量が65〜72原子%であるニッケル鉄層のみによって構成するようにしてもよい。また、フリー層を、鉄含有量が65〜72原子%である第1のニッケル鉄層と、鉄含有量が16〜21原子%である他の組成の第2のニッケル鉄層とによって構成するようにしてもよい。
本発明のCPP−GMR素子およびCPP−GMR再生ヘッドでは、フリー層が、鉄を65ないし72原子%含有するニッケル鉄層を含んでいることから、軟磁性特性および低磁歪定数を維持しつつGMR比が向上する。
本発明のCPP−GMR素子およびCPP−GMR再生ヘッドによれば、CPP−GMR再生ヘッドのフリー層におけるNiFe層の鉄含有量をより多くして65〜72原子%程度としたので、軟磁性特性および低磁歪定数を維持しつつGMR比を向上させることができ、すなわち、より高い信号検出感度と安定した性能とを実現することができる。
また、本発明のCPP−GMR再生ヘッドの製造方法によれば、フリー層の製造プロセスにおけるNiFe層の組成を工夫して鉄含有量が65〜72原子%程度であるようにしたので、より高い信号検出感度と安定した性能とを有するCPP−GMRヘッドを、特殊なプロセスを用いることなく、既存の基本プロセスを用いて形成することができ、製造が容易である。
以下、本発明を実施するための最良の形態(以下、単に実施の形態という。)について、図面を参照して詳細に説明する。
図1は、本実施の形態のCPP−GMR再生ヘッドの要部断面構成を表すものである。このCPP−GMR再生ヘッドは、積層方向(積層面と直交する方向)にセンス電流が流れるように構成されたCPP(Current Perpendicular to the Plane)−GMR(Giant Magnetoresistive)構造のGMR素子1を有する。このGMR素子1は、電流経路としての下部リード層10と上部リード層18との間に挟まれるように配置されており、これらの下部リード層10および上部リード層18を介してGMR素子1にセンス電流が供給されるようになっている。詳細には、GMR素子1は、下部リード層10の側からシード層11と、反強磁性層(ピンニング層)12と、磁化固着構造(ピンド構造)31と、非磁性介在層(スペーサ層)16と、磁化自由層(フリー層)20とが順に積層された構成となっている。
シード層11は、例えば0.5nmの厚みを有するタンタル(Ta)層と4.5nmの厚みを有するニッケルクロム(NiCr)層との2層構造からなる。
ピンニング層12は、イリジウムマンガン合金(IrMn)などの安定した反強磁性を示す材料からなり、例えば4.5nm以上8.0nm以下の厚みを有している。ピンニング層12は、ピンド層31の磁化方向を固着するように作用する。
ピンド層31は、シンセティック反強磁性ピンド構造をなしている。具体的には、互いに逆平行(反対向きの)磁化を示す2つの強磁性層13,15と、それらに挟まれたルテニウム(Ru)などの非磁性材料からなる反強磁性結合層14とを有している。
スペーサ層16は、例えば銅(Cu)などの非磁性導電性材料により構成される。スペーサ層16は、単層構造であってもよいが、「Cu/AICU/PIT/IAO/Cu」といった積層構造とすることが好ましい。ここで、「AICU」とは、酸化アルミニウム(AlO)に銅が不均質に混入した材料であり、「PIT」とは、プレ・イオン処理(pre-ion treatment )の略記である。また、「IAO」とは、イオンアシスト酸化(ion assisted oxidation)を意味する。このような積層構造とすることにより、単層の銅の場合と比べて、抵抗変化率(GMR比)や接合抵抗RA(単位面積あたりの抵抗値RとGMR素子1の形成面積Aとの積)が向上する。
フリー層20は、鉄含有率が65at%〜72at%のニッケル鉄合金(NiFe)からなるNiFe層21と、その上に積層されたCoFe層22とを含んで構成されている。CoFe層22は、鉄を9〜75at%含有するのが好ましいが、より好ましくは、鉄を約25at%含有するのがよい。NiFe層21の膜厚は、例えば1.5nm〜5.0nmとし、CoFe層22の膜厚は、例えば0.3nm〜1.5nmとするのが望ましい。ここで、NiFe層21とCoFe層22とは、上下が逆転していてもよい。
なお、図1に示した例では、フリー層20は、NiFe層21の他にCoFe層22を含んでいるが、本発明はこれに限定されず、フリー層20が、少なくとも、鉄を65at%〜72at%含有するNiFe層を含んでいれば足りる。
具体的には、例えば、鉄を65at%〜72at%含有するNiFe層単独で構成してもよいし、あるいは、NiFe層21上に積層するCoFe層22に代えて、NiFe層21とは異なる組成の第2のNiFe層(図示せず)を積層してもよい。
NiFe層21および第2のNiFe層という2層構成とする場合には、鉄を65at%〜72at%含有する下層側のNiFe層21の膜厚は、例えば0.5nm〜3.0nmとするのが望ましい。また、第2のNiFe層は、鉄を16at%〜21at%含有するものとし、その膜厚は、例えば1.0nm〜4.5nmとするのが望ましい
以上のように、鉄を65at%〜72at%含有するNiFe層を少なくとも含むようにフリー層20を構成することにより、高い抵抗変化率を得ることができる。しかも、その磁歪定数λが+1×10-6〜+3×10-6という許容範囲内に収まるので、CPP−GMR再生ヘッドの磁気的特性をより安定化することができる。また、フリー層20の保磁力Hcは、5×(250/π)A/m〜30×(250/π)A/m程度となり、良好な軟磁性特性を確保することができる。すなわち、良好な軟磁性特性および適正な磁歪定数を維持しつつ、GMR比の向上を図ることができる。
次に、図1を参照して、GMR素子1を有する薄膜磁気ヘッドの製造方法について説明する。
本実施の形態における薄膜磁気ヘッドの製造方法では、まず、図示しない基板上に下部リード層10を形成した基体(図示せず)を用意する。次に、この下部リード層10の上に、シード層11と、ピンニング層12と、強磁性層13と、反強磁性結合層14と、強磁性層15と、スペーサ層16と、NiFe層21と、CoFe層22とを順に形成する。ピンニング層12の材料や膜厚、ならびにNiFe層21およびCoFe層22の組成や膜厚は上記の通りである。最後に、CoFe層22の上に上部リード層18を形成する。これにより、例えば11.5%という高い抵抗変化率を発現するCPP−GMRヘッドを完成させることができる。
このように、本実施の形態による薄膜磁気ヘッドの製造方法によれば、鉄含有率が65at%〜72at%のNiFe層21と、鉄含有率が25at%程度のCoFe層22とを含む積層構造を形成し、これをフリー層20とするようにしたので、高い抵抗変化率を発現するCPP−GMRヘッドを、特殊なプロセスを用いることなく、既存の基本プロセスを用いて形成することができ、製造が容易である。
本発明の実施例について以下に説明する。
本発明の効果を確認するため、表1に示す構造を有する本発明の実施例としてのCPP−GMR素子を作製し、評価実験を行った。表1において、「A」は本実施例のCPP−GMR素子に関する評価結果であり、「B」は比較例のCPP−GMR素子に関する評価結果である。両者の違いは、フリー層20のNiFe21層が、比較例「A」ではNi83Fe17という組成であるのに対し、実施例「B」ではNi30Fe70という組成である点にある。評価項目は、接合抵抗RA、抵抗変化率(GMR比)DR/R、磁化自由層の保磁力Hc、層間結合磁場Hinおよびフリー層の磁歪定数λである。それらの評価実験の結果をまとめて表2に示す。なお、スペーサ層の積層構成「Cu/AICU/Cu」のうち、AICUは、上記したように、酸化アルミニウムに銅が不均質に混入した材料である。また、AICUとその上のCuとの間において、プレ・イオン処理(PIT)およびイオンアシスト酸化(IAO)を行っている。
Figure 2005339784
Figure 2005339784
表2に示したように、実施例の接合抵抗RAは0.31Ω・μm2 であり、比較例の接合抵抗RAは0.30Ω・μm2 である。したがって、実施例のCPP−GMRデバイスのサイズが、例えば0.1μm×0.1μmというサイズであるとすると、そのデバイスのインピーダンスは31Ωとなる。この値は、100ギガビット/平方インチ以上の記録密度に適合するスピンバルブ再生ヘッドとして十分使用可能な範囲である。また、比較例BにおけるGMR比(DR/R)は9%であるのに対し、実施例AにおけるGMR比(DR/R)は11.5%であり、約28%も向上している。なお、実施例では、フリー層の保磁力Hcおよび層間結合磁場Hinが比較例に比べて僅かに増加しているものの、これは許容範囲内である。フリー層20の磁歪定数λは両者ほぼ同じである。
このように、本実施例では、フリー層20に要求される他の特性(Hc,Hin,λ)の顕著な低下を伴うことなく、GMR比を約28%も改善することができた。
なお、本実施例は、フリー層20のNiFe層21が鉄を70at%含有する場合についてのものであるが、NiFe層21が鉄を65at%〜72at%の範囲で含有する限り同様の結果が得られた。この場合において、CoFe層22中の鉄含有量を、本実施例における25at%から、9〜75at%の範囲で他の値に変更しても同様の性能が確認された。また、本実施例は、フリー層20がNiFe層21およびCoFe層22の2層構造である場合についてのものであるが、これらの2層を上下反転させた場合にも同様の結果が得られた。また、フリー層20を、鉄含有量が65at%〜72at%の範囲である単層のNiFe層21によって構成した場合も、本実施例と同様の性能が確認された。さらに、フリー層20を、鉄含有量が65〜72原子%である第1のニッケル鉄層と、鉄含有量が16〜21原子%である第2のニッケル鉄層とによって構成した場合も、本実施例と同様の性能が確認された。
一方、各層の膜厚については、IrMnからなるピンニング層11の膜厚を、本実施例における7.0nmから、4.5〜8.0nmの範囲で他の値に変更しても、同様の結果が得られ、NiFe層21の膜厚を、本実施例における3.5nmから、1.5〜5.0nmの範囲で他の値に変更しても同様の結果が得られ、CoFe層22の膜厚を、本実施例における1.0nmから、0.3〜1.5nmの範囲で他の値に変更しても同様の結果が得られた。
以上、実施の形態および実施例を挙げて本発明を説明したが、本発明はこれらに限定されず、種々の変形が可能である。すなわち、当業者であれば理解できるように、上記実施の形態および実施例は本発明の一具体例であり、本発明は上記の内容に限定されるものではない。本発明の特許請求の範囲に合致する限り、製造方法、材料、構造および寸法などについての修正および変更がなされてもよい。例えば、本実施の形態では、GMR素子をボトムスピンバルブ型としたが、トップスピンバルブ型としてもよい。その場合には、下部リード層の上にフリー層を形成し、その上にスペーサ層およびそれに続く諸層を、上記実施の形態の場合と逆の順序で順次積層すればよい。
本発明の一実施の形態に係る薄膜磁気ヘッドの主要部構成を表す断面図である。 従来の薄膜磁気ヘッドの主要部構成例を表す断面図である。
符号の説明
1…GMR素子、10…下部リード層、11…シード層、12…ピンニング層、13,15…強磁性層、14…反強磁性結合層、16…スペーサ層、18…上部リード層、20…フリー層、21…NiFe層、22…CoFe層、31…ピンド層。

Claims (40)

  1. 下部リード層の上に、シード層およびピンニング層を連続的に形成する工程と、
    前記ピンニング層の上にピンド層を形成する工程と、
    前記ピンド層の上に非磁性層スペーサ層を形成する工程と、
    前記非磁性層スペーサ層の上に、鉄(Fe)を65ないし72原子%含有するニッケル鉄(NiFe)層と鉄を25原子%含有するコバルト鉄(CoFe)層とを含むフリー層を形成する工程と、
    前記フリー層の上にキャップ層および上部リード層をこの順で形成する工程と
    を含むことを特徴とするCPP−GMR再生ヘッドの製造方法。
  2. 前記ピンニング層を、4.5nmないし8.0nmの膜厚のイリジウムマンガン(IrMn)で形成することを特徴とする請求項1に記載のCPP−GMR再生ヘッドの製造方法。
  3. 前記ニッケル鉄層の膜厚を1.5nmないし5.0nmにしたことを特徴とする請求項1に記載のCPP−GMR再生ヘッドの製造方法。
  4. 前記コバルト鉄層の膜厚を0.3nmないし1.5nmにしたことを特徴とする請求項1に記載のCPP−GMR再生ヘッドの製造方法。
  5. 前記ピンド層として、反強磁性結合層と、この反強磁性結合層を間に挟んで互いに隔てられると共に互いに逆方向に磁化された1対の強磁性層とを含むシンセティック反強磁性層を形成することを特徴とする請求項1に記載のCPP−GMR再生ヘッドの製造方法。
  6. 下部リード層の上に、シード層およびピンニング層を連続的に形成する工程と、
    前記ピンニング層の上にピンド層を形成する工程と、
    前記ピンド層の上に非磁性層スペーサ層を形成する工程と、
    前記非磁性層スペーサ層の上に、鉄を65ないし72原子%含有するニッケル鉄層と鉄を9ないし75原子%含有するコバルト鉄層とを含むフリー層を形成する工程と、
    前記フリー層の上にキャップ層および上部リード層をこの順で形成する工程と
    を含むことを特徴とするCPP−GMR再生ヘッドの製造方法。
  7. 前記ピンニング層を、4.5nmないし8.0nmの膜厚のイリジウムマンガンで形成することを特徴とする請求項6に記載のCPP−GMR再生ヘッドの製造方法。
  8. 前記ニッケル鉄層の膜厚を1.5nmないし5.0nmにしたことを特徴とする請求項6に記載のCPP−GMR再生ヘッドの製造方法。
  9. 前記コバルト鉄層の膜厚を0.3nmないし1.5nmにしたことを特徴とする請求項6に記載のCPP−GMR再生ヘッドの製造方法。
  10. 前記ピンド層として、反強磁性結合層と、この反強磁性結合層を間に挟んで互いに隔てられると共に互いに逆方向に磁化された1対の強磁性層とを含むシンセティック反強磁性層を形成することを特徴とする請求項6に記載のCPP−GMR再生ヘッドの製造方法。
  11. 下部リード層の上に、シード層およびピンニング層を連続的に形成する工程と、
    前記ピンニング層の上にピンド層を形成する工程と、
    前記ピンド層の上に非磁性層スペーサ層を形成する工程と、
    前記非磁性層スペーサ層の上に、鉄を65ないし72原子%含有するニッケル鉄層を含むフリー層を形成する工程と、
    前記フリー層の上にキャップ層および上部リード層をこの順で形成する工程と
    を含むことを特徴とするCPP−GMR再生ヘッドの製造方法。
  12. 前記ピンニング層を、4.5nmないし8.0nmの膜厚のイリジウムマンガンで形成することを特徴とする請求項11に記載のCPP−GMR再生ヘッドの製造方法。
  13. 前記ニッケル鉄層の膜厚を1.5nmないし5.0nmにしたことを特徴とする請求項11に記載のCPP−GMR再生ヘッドの製造方法。
  14. 前記ピンド層として、反強磁性結合層と、この反強磁性結合層を間に挟んで互いに隔てられると共に互いに逆方向に磁化された1対の強磁性層とを含むシンセティック反強磁性層を形成することを特徴とする請求項11に記載のCPP−GMR再生ヘッドの製造方法。
  15. 下部リード層の上に、シード層およびピンニング層を連続的に形成する工程と、
    前記ピンニング層の上にピンド層を形成する工程と、
    前記ピンド層の上に非磁性層スペーサ層を形成する工程と、
    前記非磁性層スペーサ層の上に、鉄を65ないし72原子%含有する第1のニッケル鉄層と鉄を16ないし21原子%含有する第2のニッケル鉄層とを含むフリー層を形成する工程と、
    前記フリー層の上にキャップ層および上部リード層をこの順で形成する工程と
    を含むことを特徴とするCPP−GMR再生ヘッドの製造方法。
  16. 前記ピンニング層を、4.5nmないし8.0nmの膜厚のイリジウムマンガンで形成することを特徴とする請求項15に記載のCPP−GMR再生ヘッドの製造方法。
  17. 前記第1のニッケル鉄層の膜厚を0.5nmないし3.0nmにしたことを特徴とする請求項15に記載のCPP−GMR再生ヘッドの製造方法。
  18. 前記第2のニッケル鉄層の膜厚を1.0nmないし4.5nmにしたことを特徴とする請求項15に記載のCPP−GMR再生ヘッドの製造方法。
  19. 前記ピンド層として、反強磁性結合層と、この反強磁性結合層を間に挟んで互いに隔てられると共に互いに逆方向に磁化された1対の強磁性層とを含むシンセティック反強磁性層を形成することを特徴とする請求項15に記載のCPP−GMR再生ヘッドの製造方法。
  20. 下部リード層と上部リード層との間に、シード層、ピンニング層、ピンド層、非磁性層スペーサ層、フリー層およびキャップ層をこの順で積層してなるCPP−GMR素子であって、
    前記フリー層が、鉄を65ないし72原子%含有するニッケル鉄層を含む
    ことを特徴とするCPP−GMR素子。
  21. 前記ニッケル鉄層の膜厚が1.5nmないし5.0nmであることを特徴とする請求項20に記載のCPP−GMR素子。
  22. 下部リード層と、
    前記下部リード層の上に順次形成されたシード層およびピンニング層と、
    前記ピンニング層の上に形成されたピンド層と、
    前記ピンド層の上に形成された非磁性層スペーサ層と、
    前記非磁性層スペーサ層の上に形成され、鉄を65ないし72原子%含有するニッケル鉄層と鉄を25原子%含有するコバルト鉄層とを含むフリー層と、
    前記フリー層の上に順次形成されたキャップ層および上部リード層と
    を備えたことを特徴とするCPP−GMR再生ヘッド。
  23. 前記ピンニング層が、4.5nmないし8.0nmの膜厚のイリジウムマンガンで形成されていることを特徴とする請求項22に記載のCPP−GMR再生ヘッド。
  24. 前記ニッケル鉄層の膜厚が1.5nmないし5.0nmであることを特徴とする請求項22に記載のCPP−GMR再生ヘッド。
  25. 前記コバルト鉄層の膜厚が0.3nmないし1.5nmであることを特徴とする請求項22に記載のCPP−GMR再生ヘッド。
  26. 前記ピンド層が、反強磁性結合層と、この反強磁性結合層を間に挟んで互いに隔てられると共に互いに逆方向に磁化された1対の強磁性層とを含むシンセティック反強磁性層で構成されていることを特徴とする請求項22に記載のCPP−GMR再生ヘッド。
  27. 前記下部リード層の上に順次形成されたシード層およびピンニング層と、
    前記ピンニング層の上に形成されたピンド層と、
    前記ピンド層の上に形成された非磁性層スペーサ層と、
    前記非磁性層スペーサ層の上に形成され、鉄を65ないし72原子%含有するニッケル鉄層と鉄を9ないし75原子%含有するコバルト鉄層とを含むフリー層と、
    前記フリー層の上に順次形成されたキャップ層および上部リード層と
    を備えたことを特徴とするCPP−GMR再生ヘッド。
  28. 前記ピンニング層が、4.5nmないし8.0nmの膜厚のイリジウムマンガンで形成されていることを特徴とする請求項27に記載のCPP−GMR再生ヘッド。
  29. 前記ニッケル鉄層の膜厚が1.5nmないし5.0nmであることを特徴とする請求項27に記載のCPP−GMR再生ヘッド。
  30. 前記コバルト鉄層の膜厚が0.3nmないし1.5nmであることを特徴とする請求項27に記載のCPP−GMR再生ヘッド。
  31. 前記ピンド層が、反強磁性結合層と、この反強磁性結合層を間に挟んで互いに隔てられると共に互いに逆方向に磁化された1対の強磁性層とを含むシンセティック反強磁性層で構成されていることを特徴とする請求項27に記載のCPP−GMR再生ヘッド。
  32. 前記下部リード層の上に順次形成されたシード層およびピンニング層と、
    前記ピンニング層の上に形成されたピンド層と、
    前記ピンド層の上に形成された非磁性層スペーサ層と、
    前記非磁性層スペーサ層の上に形成され、鉄を65ないし72原子%含有するニッケル鉄層を含むフリー層と、
    前記フリー層の上に順次形成されたキャップ層および上部リード層と
    を備えたことを特徴とするCPP−GMR再生ヘッド。
  33. 前記ピンニング層が、4.5nmないし8.0nmの膜厚のイリジウムマンガンで形成されていることを特徴とする請求項32に記載のCPP−GMR再生ヘッド。
  34. 前記ニッケル鉄層の膜厚が1.5nmないし5.0nmであることを特徴とする請求項32に記載のCPP−GMR再生ヘッド。
  35. 前記ピンド層が、反強磁性結合層と、この反強磁性結合層を間に挟んで互いに隔てられると共に互いに逆方向に磁化された1対の強磁性層とを含むシンセティック反強磁性層で構成されていることを特徴とする請求項32に記載のCPP−GMR再生ヘッド。
  36. 前記下部リード層の上に順次形成されたシード層およびピンニング層と、
    前記ピンニング層の上に形成されたピンド層と、
    前記ピンド層の上に形成された非磁性層スペーサ層と、
    前記非磁性層スペーサ層の上に形成され、鉄を65ないし72原子%含有する第1のニッケル鉄層と鉄を16ないし21原子%含有する第2のニッケル鉄層とを含むフリー層と、
    前記フリー層の上に順次形成されたキャップ層および上部リード層と
    を備えたことを特徴とするCPP−GMR再生ヘッド。
  37. 前記ピンニング層が、4.5nmないし8.0nmの膜厚のイリジウムマンガンで形成されていることを特徴とする請求項36に記載のCPP−GMR再生ヘッド。
  38. 前記第1のニッケル鉄層の膜厚が0.5nmないし3.0nmであることを特徴とする請求項36に記載のCPP−GMR再生ヘッド。
  39. 前記第2のニッケル鉄層の膜厚が1.0nmないし4.5nmであることを特徴とする請求項36に記載のCPP−GMR再生ヘッド。
  40. 前記ピンド層が、反強磁性結合層と、この反強磁性結合層を間に挟んで互いに隔てられると共に互いに逆方向に磁化された1対の強磁性層とを含むシンセティック反強磁性層で構成されていることを特徴とする請求項36に記載のCPP−GMR再生ヘッド。
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