JP2003509228A - 微細造作を有するデバイスの液体エンボス加工による製造 - Google Patents

微細造作を有するデバイスの液体エンボス加工による製造

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マサチューセッツ・インスティテュート・オブ・テクノロジー
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Abstract

(57)【要約】 エラストマースタンプが、電気材料、生物材料、化学材料、及び機械材料の直接的なパターン形成を容易にする。材料の薄いフィルムが基体上に堆積される。堆積された材料は、当初から液体として存在し、或いは後に液化され、隆起したパターンを有するエラストマースタンプを用いて、低圧でエンボス加工することによってパターン形成される。パターン形成された液体は次いで硬化されて機能層を形成する。堆積、エンボス加工、及び硬化のステップは、同じ液体又は異なる液体について、また二次元又は三次元で多数回繰り返される。堆積される種々の層は、例えば、集積された電子部品を生成するよう相互作用する種々の電気的特性を有することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
この出願は、1999年9月14日に出願された米国仮出願第60/1537
76号及び1999年11月29日に出願された米国仮出願第60/16784
7号に由来する。
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、微細造作を有する電子デバイス、化学デバイス、及び機械デバイス
の製造に関する。
【0002】
【従来の技術】
電子部品及び電気機械部品は現在、大きな固定された製造設備で製作されてい
るが、こうした設備の構築及び作動は非常にコストがかかる。例えば半導体デバ
イスの製造は一般に、専用のマイクロリソグラフィ及びケミカルエッチング設備
を必要とし、またプロセスの汚染を避けるために広範囲にわたる対処を必要とす
る。ひとつのチップを加工するのに要する時間の総計は、日単位で勘定されうる
ものであり、また通常、チップを真空状態の中へ或いは外へと、繰り返して搬送
することが必要である。
【0003】 コストに加えて、電子部品及び電気機械部品を生成するのに普通に採用されて
いる製造プロセスは、高温及び/又は腐食性化学物質といった苛酷な条件を包含
している。そのため、こうした部品の製造を、機能的に関連しているが環境の影
響を受けやすい要素の製造と一体化する可能性には制約がある。例えばシリコン
の処理加工には高温が用いられるが、これは三次元的な製造や大面積での製造を
妨げる。こうした温度はまた、有機分子や生物分子といった、温度の影響を受け
やすい材料と両立しない。高温はまた、在来の可撓性プラスチックのような基体
上に製造を行うことを排除するが、こうした基体は広範囲に入手可能でありコス
トも低い。
【0004】 上記のようなプロセスの代替を開発しようとする相当の努力が払われてきたに
も拘わらず、真に実現可能な技術はまだ出現していない。例えば米国特許第58
17550号は、プラスチック基体上に薄膜トランジスタを生成するための、低
温でのロールからロールへのプロセスを記載している。この手法は数多くのハー
ドルに直面しており、また在来のフォトリソグラフィ及びエッチングプロセスに
伴う多額のコストや複雑性を実質的に低減させるものではない。
【0005】 米国特許第5772905号は、シリコン金型を用いる「ナノ圧痕リソグラフ
ィ」と呼ばれるプロセスを記載している。シリコン金型は高温高圧下で、薄いフ
ィルム材料に対してプレスされる。金型を付けたまま冷却した後、その材料は金
型の造作を正確に保持するようになる。薄いフィルムは次いで、エンボス領域に
残存する少量の材料を除去するように処理される。こうしてパターン形成された
薄いフィルムは、下側にある機能材料の層を選択的にエッチングするためのマス
クとして使用可能である。このプロセスは、在来のプロセスに付随するコストを
相当に下回るコストでもって、非常に微細な解像度を有するパターンを生成する
ことを可能にする。しかしこのプロセスは非常に込み入っており、パターン形成
された機能材料の層をひとつ生成するだけで、時間のかかるステップを多く必要
とする。この技術は、非常に低い雰囲気圧力において、高い適用圧力と温度を必
要とし、それによって相当の複雑性をもたらし、またそれに伴ってパターン形成
可能な材料のタイプについて制約を課する。恐らく最も重要なことは、この技術
が起伏造作を有する単層を生成するのに限定されており、それによってデバイス
の製造に対する適用性が大きく制約されることである。
【0006】 米国特許第5900160号は、機能材料を成形するためにエラストマースタ
ンプを使用することを記載している。特にこのスタンプは変形して、自発的に凝
集した分子の単層を何らかの表面に対して印刷する。MIMIC(エラストマー
マスターに対するマイクロ成形)とも呼ばれるこのプロセスは、ナノ圧痕リソグ
ラフィよりもかなり単純であり、雰囲気温度及び圧力において実行可能である。
しかしこの技術は概して、低解像度の造作(10μmを越える)に限定されてお
り、またより重要なことに、この技術による成形に適した幾何学形状のタイプに
は制約がある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
従って本発明の課題は、多段階のエッチング手順に対する必要性なしに、機能
材料を直接パターン形成するための、簡単に実施可能な低コストのプロセスを提
供することである。
【0008】 本発明の別の課題は、機能材料の層をパターン形成可能な速度を増大させるこ
とである。
【0009】 本発明のさらに別の課題は、通常でない温度、圧力、又は雰囲気条件を必要と
せず、それによってパターン形成に適した材料の範囲を広げることのできる製造
プロセスを提供することである。
【0010】 本発明のさらなる課題は、隣接した多数の層のナノスケールでの好適なパター
ン形成を容易にすることである。
【0011】 本発明のさらに別の課題は、適用プロセスの一部として堆積された材料の平坦
化を行い、追加の平坦化プロセス(化学的機械的研磨)の必要性を排除し、それ
によって多数(例えば100を越える)層を用いた複雑な三次元デバイスの製造
を容易にすることである。
【0012】
【課題を解決するための手段】
上記の課題及びその他の課題を解決すべく、本発明はエラストマースタンプを
用いて、電気材料、生物材料、化学材料、及び機械材料の直接的なパターン形成
を容易にする。本発明によれば、材料の薄いフィルムが基体上に堆積される。堆
積された材料は、当初から液体として存在し、或いは後に液化され、隆起したパ
ターンを有するエラストマースタンプを用いて、低圧でエンボス加工することに
よってパターン形成される。パターン形成された液体は次いで硬化されて機能層
を形成する。堆積、エンボス加工、及び硬化のステップは、同じ液体又は異なる
液体について、また二次元又は三次元で多数回繰り返される。堆積される種々の
層は、例えば、集積された電子部品を生成するよう相互作用する種々の電気的特
性を有することができる。
【0013】 以上の記載は、添付図面を参照して取り上げた場合に、本発明の以下の詳細な
説明からより容易に理解される。
【0014】
【発明の実施の形態】
図1Aから図1Dは、本発明の実施に有用なエラストマースタンプの製造に対
する例示的な手法を示している。図1Aに示されているように、基体100は、
一連の窪んだ造作105及び突出した造作110でもってパターン形成されてい
る。これらの造作の寸法及び配置(深さは除く)は、部品の層について望ましい
パターンに対応している。従って造作105,110は、フォトリソグラフィ、
電子ビーム、集束イオンビーム、マイクロ機械加工、又は他のリソグラフィ的手
法の如き在来の技術によって形成することができる。造作の寸法としては最小で
150nmまでが正確に得られ、使用されているが、さらにより小さな造作も勿
論可能である。基体100は例えば、好都合にパターン形成でき、スタンプが形
成されている材料に対して接合しない、十分な平滑さを有するどのような表面で
あってもよい。適切な材料には例えば、シリコン、金属ウェーハ、露光されたフ
ォトレジストなどがある。
【0015】 図1Bに示されているように、立ち上がった囲い115が基体100に適用さ
れて、造作105,110のパターンを取り囲むようにされる。囲い115は例
えば金属又はプラスチック製の壁であり、その外側輪郭は、後述するようにして
スタンプを適用する装置の内部にフィットするように設計される。液体状の未硬
化エラストマー120が、囲い115と造作105,110によって形成された
ウェル(井戸)125に注入される。好ましくはエラストマー120は、硬化可
能なゴム、又は例えばダウ・コーニング社から市販されているSYLGARD−
184のようなポリジメチルシロキサン(PDMS)の如きシリコーンである。
浸出を防止するために、囲い115は望ましくは基体100の表面に対して適度
な圧力で保持され、或いは基体100に設けられた対応する溝の中にセットされ
る。
【0016】 造作105を完全に充填し、スタンプ動作のための安定した嵩のある本体を提
供するため、十分な量のエラストマー120がウェル125の中に注入される。
エラストマー120は次いで硬化されて、固形のプラグ130になる。例えば上
述したPDMS材料は、オーブン中で2時間、80℃で加熱することによって硬
化されうる。他のシリコーンエラストマーは、水分、電子ビーム又は化学線(例
えば紫外線)に曝露することによって、或いは架橋剤の添加によって硬化されう
る。
【0017】 固形のプラグ130は囲い115と共に、又は囲い115なしで、図1Dに示
すように基体100から分離され、最終的なスタンプ132が形成される。プラ
グ130は下側に、以上の処理ステップにより損傷を受けることのない基体10
0の造作105,110に対して相補的な、一連の突出及び窪んだ造作135,
140を有する。またプラグ130が取り外された場合、基体100にはエラス
トマーが、あるとしても極く僅かだけ残っているのが望ましい。
【0018】 囲い115は図1Dに示すようにプラグ130と一緒に取り除かれ得るが、こ
れに代えて基体100上の元の位置に残されるようにしてもよい。囲い115が
取り除かれ、プラグ130との連結が保持される場合には、幾つかの目的に資す
ることができる。すなわちスタンプ装置に対する機械的な取り付けを容易にし、
スタンプとの整列を補助し(例えば囲い115は、スタンプ装置に設けられる相
補的な窪みにかみ合う整列用タブを有することができる)、プラグ130の横方
向の変形を制限するといったことである。横方向の変形をさらに制限するために
、プラグ130を比較的薄く(基体100の表面よりも余り上の方でないレベル
まで液体エラストマー120を注入することにより)形成し、固形の支持構造に
よって覆うようにすることができる。開口部を有するフィルムや、剛性を付与す
る他の充填材料を硬化前に液体エラストマー120に追加し、それによって最終
のポリマーマトリクス中に一体化させ、プラグ130の剛性をさらに増大させる
ことができる。
【0019】 スタンプ132を製造するために、他の技術を使用することも可能である。例
えばスタンプは、エラストマーの薄いフィルムをマスクを介して化学線に曝露し
て選択的に硬化し、その後光化学的に現像する(曝露された又はされていない領
域を除去するため)ことにより、或いは原子間力顕微鏡(AFM)のサーマルチ
ップを用いて選択的に熱硬化することにより、選択的にパターン形成することが
できる。スタンプ132はまた、弾性でない、剛性材料から製造して、変形をよ
り良好に制御することもできる。例えば上述した手順は、エラストマーではなく
ポリアクリレートについて実行することができる。適切なポリアクリレートには
、電子ビームや紫外(UV)線によって硬化可能な、多官能アクリレート又は単
官能アクリレートと多官能アクリレートの混合物などがある。
【0020】 スタンプ132が汚れた場合は、パターン形成された表面を、日本合成ゴム製
の液状ポリイミドの如きでコーティングし、その場でポリイミドを硬化させ、次
いでスタンプからはぎ取ることによって、洗浄を行うことができる。この処理は
、パターン形成されたスタンプの表面を損傷することなしに、塵埃を取り除く。
【0021】 このスタンプは液体に対して適用され、その液体は硬化した場合に、所望とす
る電気的、化学的、生物学的、及び/又は機械的な機能性をもたらす。例えばこ
の液体は、ナノ粒子又はカーボンナノチューブのコロイド状分散物であり、未硬
化のポリイミドであり、生物材料の溶液であり、或いは後でドライエッチング又
はウェットエッチングされる適当な犠牲層又は剥離層の溶液(例えばPMMA)
でありうる。一般に、この液体は基体上に(又は先に堆積され硬化された層の上
に)、薄い均一なフィルムとして存在する。堆積された液体をこうしたフィルム
へと、種々の技術によって引き延ばすことができるが、そうした技術のひとつが
図2Aと図2Bに示されている。スライドガラス、シリコンウェーハ、プラスチ
ックシート、又はその他の平滑な材料でありうる基体200が、液体のビード2
10を受容する。平滑なロッド220(ガラス又は可撓性材料でよい)が基体2
00を横切って矢印の方向に引かれ、ビード210を均一なフィルム230に圧
伸する。一般に、ロッド220と基体200の間の圧力は、フィルム230の最
終厚みに影響を与えることなく変化させることができる。事実、ロッド220を
基体200よりも僅かに上方に保持することも可能である(従って実際上何の接
触も行われない)。しかしながら、ロッド220が基体200を横切って引かれ
る速度はフィルム230の厚みに影響し、より速い移動はより薄いフィルムをも
たらす。従って、均一な厚みを有するフィルムとするためには、ロッド220が
一定の速度で引かれなければならず、また引かれる際に回転が許されてはならな
い。フィルムの厚みはまた、ロッド220の寸法(直径)によっても影響を受け
る。
【0022】 ロッド220が基体200を完全に横断して引かれた後、フィルム230は通
常、依然として液状である。液体によっては、蒸発により容積のかなりの損失が
生じうる。事実、フィルムの当初の厚みの90%が失われることも珍しくない。
従って当初に100±10nmの厚みを有する薄い液体フィルムが、乾燥して1
0±1nmの厚みのフィルムになることがある。本発明者らはこの技法を用いて
、厚みが40nm未満の乾燥フィルムを日常的に得ることができた。
【0023】 幾つかの材料については、ロッドを用いて薄いフィルムを生成するという選択
肢はない。例えばそうした材料が基体200の表面を濡らさなかったり、或いは
溶媒が殆ど瞬間的に蒸発する場合もある。こうした場合に有用な代替的な適用技
術は、上述したようにパターン形成された表面を有するスタンプを使用する。基
体200上に、フィルムへと圧伸される液状材料が細いライン状に配置される。
この液体のラインの直ぐ隣りで、スタンプの一端が基体200と接触するように
される。次いでこのスタンプは下向きに動かされて基体と接触し、その前面にあ
る液体を押し退けて、薄いパターン形成された材料層をスタンプの下側に生成す
る。
【0024】 別の代替例は、パターン形成される材料を液滴として、受容基体の表面又はス
タンプの隆起したパターンを有する表面の何れかに適用することを含む。スタン
プは次いで基体表面と接触するようにされ、適用された材料はそれによって、ス
タンプのパターン通りに成形される。この材料は、スタンプが基体と接触してい
る状態で硬化(例えば熱的に)させることができる。例えば、この手法は液相ポ
リイミド、ビニル、及びナノ粒子金属インクに適用されたが、これらはパターン
形成後に基体の下側にある加熱板を付勢することによって硬化される。しかしな
がら、この手法は絶縁体(ポリマーなど)について最も有用であることが判明し
ている。なぜなら、得られるパターン形成されたフィルムが連続しているからで
ある。このプロセスはまた、硬化に際してのガス発生が限られている粘性材料に
ついて最適に作用する(PDMSスタンプはある程度多孔性であってガス発生成
分ではあるが)。
【0025】 図3Aから図3Cは、平坦な表面に適用された、本発明のエンボス加工技術を
示している。基体300は上述のように、薄い均一な液体のフィルム305で被
覆されている。突出及び窪んだ造作315,320のパターンを有するエラスト
マースタンプ310が、突出した造作315が基体300と接触するまで下降さ
れ、それによって接触領域にある液体305を押し退ける。窪んだ造作320の
高さ(幾つかの異なる高さの場合もある)は、その中へと押し退けられてくる液
体の高さを上回っている。突出した造作315の面積の大きさは、これらの造作
が液体305を押し退け、基体300と接触するか、或いは少なくとも後に都合
良く除去するのを容易にするのに十分な液体を押し退けるという必要性に基づく
制約を受ける。造作315の最大面積は、液体の粘度、フィルム305の厚み、
スタンプのエラストマーの性質に大きく依存している。湿潤フィルムの厚みが5
00nmの場合、懸濁液(15%)中の金属ナノ粒子については、PDMSから
形成されたエラストマースタンプは、5μmを越える距離にわたってナノ粒子含
有液体を完全に移送可能であることが判明している。造作315の移送能力を向
上させるため、これらの表面は平坦でなく、凸状であってもよい。例えば造作は
ドーム状、突端状、或いはその他の形状を有し、小さな領域で基体300と接触
し、スタンプ310が基体300に押し付けられて造作315が平たくなるに従
ってより多くの液体を動かすようにされる。
【0026】 スタンプ310は好ましくは基体300上へと、僅かな揺動動作を用いて降下
されるのが好ましい。スタンプは弾性であるから僅かに撓み、一端が最初に基体
と接触を行い、次いでスタンプの残りが場所に収まる。この手法は、気泡の形成
を阻止又は減少させる。エンボス加工プロセスには、通常でない圧力、温度、又
は雰囲気条件の一切が必要でない。突出した造作315が液体フィルム305を
貫通するように、スタンプ310には非常に軽い圧力が加えられるか、或いは圧
力は加えられない。突出した造作315と基体300の間での何らかの誘引力は
、液体を窪み320へと移送するのを助け、また接触を犠牲にすることなく圧力
を取り除いて、造作315が単に基体300に載置されているだけにする。
【0027】 スタンプ310が図3Bに示されているように基体300に対している状態で
、フィルム305は部分的又は完全に硬化される。硬化モードは液体の性質によ
って定まり、また加熱、溶媒(スタンプ310のエラストマーが浸透性のある)
の蒸発、UV曝露、レーザアニーリングその他の如き、1つ又はより多くの処理
ステップを含みうる。スタンプ310は図3Cに示すようにして基体300から
取り外され、窪み320のパターンに対応する、完全に又は部分的に硬化したフ
ィルムトレース325のパターンが残される。好ましくは、スタンプ310は揺
動動作を用いて取り除かれる。円滑で一様な動作により、パターン325の品質
が高められ、また空気の僅かなバーストによる損傷から保護される。
【0028】 スタンプ310が基体300と接触している間に液体305が硬化されない場
合であっても、液体の厚みが十分に小さければ、スタンプ310が除去されても
パターン325が保持される傾向があることが見出された。つまり、スタンプ3
10の突出領域によって押し退けられた領域に戻ろうとする液体の流れは検出可
能でない。これは恐らく、液体305の絶対的な厚みと、液体と基体300の間
の接触角が小さいことの両方に起因するものであろう。その上、基体300とス
タンプ310の表面エネルギーが十分に不釣り合いなものであれば、スタンプ3
10によって基体の材料が取り去られることはない。その結果、スタンプ310
は洗浄なしに、即座に再使用可能である。
【0029】 未硬化又は部分硬化である場合、パターン形成された液体325はこの時点に
おいて、完全に固形状へと硬化されうる。前述の硬化技術に加えて、スタンプ3
10が存在しないことにより、真空蒸着及び化学変性(例えば架橋剤の添加によ
る)といった付加的な機構が容易になる。この点について、スタンプ310によ
りパターン形成されるフィルムは、液体ではなく固体として出発してもよいこと
に留意すべきである。例えばフィルムは、スタンプ310がそれと接触するよう
になる前に、加熱して粘度を下げることができる。代替的には、スタンプ310
それ自体を加熱して、接触時に固形フィルムを溶かすのに十分な温度にすること
ができる。
【0030】 スタンプ310によりパターン形成されるフィルムは、平坦である必要はない
。事実、堆積された多数のパターン形成された層を包含する構造においては、所
望とする三次元構成を達成するために、層の間における相互平坦性が崩されるこ
とが多くある。図3Dは、予めパターン形成された第1の材料330の層を有す
る基体300を示している。液体の薄いフィルム335が材料330を覆って、
また露出されているところでは基体300を覆って延展されている。この液体3
35は概して形状順応性であり、その結果液体表面は不均一となる。パターン形
成された層の間に正確なアライメントを維持することが、最終的なデバイスの適
切な機能にとって不可欠なことは明らかである。
【0031】 エラストマースタンプ340は、こうした不均一な表面をパターン形成し、同
時にスタンプされたパターンの正確な表現を保持するについて、十分に適切なも
のである。図3Eに示されているように、スタンプ340は前述のようにして下
降される。その弾性的な性質により、スタンプ340は、別々の突出した造作3
45が異なる高さを有する固体表面に、実質的な横方向の偏向なしに到達するこ
とを可能にする。その結果、スタンプ340の除去に際して残存することになる
材料335のパターン350は、エンボス加工された領域の高さが異なるにも拘
わらず、突出した造作345のパターンに対して実質的に相補的となる。もちろ
ん、スタンプされたパターンに対する忠実性は、スタンプに固有の弾性度と、適
応しなければならない高さの相違とに依存している。
【0032】 スタンプ340の除去に続いて、エンボス加工された材料350のパターンが
硬化される。もちろん、選ばれる硬化モードは、先に硬化された層330を損傷
するものであってはならない。
【0033】 上に説明したように、堆積された薄いフィルムは形状順応性であり、高さが変
化する表面をもたらす(凹みを満たして平坦な表面を生成するのではなく)。本
発明のエンボス加工技術は、こうした堆積層を平坦化させるだけでなく、互いに
直接接触していない層を相互接続する「バイア」を生成するためにも使用するこ
とができる。図3Gを参照すると、基体300は先に堆積されエンボス加工され
た第1の材料360の層でパターン形成されている。液体の薄いフィルム365
が材料360を覆って、また露出されているところでは基体300を覆って延展
されている。この場合にも液体365は概して形状順応性であり、その結果液体
表面は不均一となる。多くの用途について、液体365から形成された部品の層
が、形状順応性であるよりも平坦であることが望まれる。例えば、マイクロ電気
機械(MEM)構造について、また多くの層による三次元回路について、平坦化
は本質的なものである。本発明は、平坦化と、階層化された隣接していない層の
間でのバイアの生成の両方を達成することができる。
【0034】 図3Gに示すように、スタンプ370の突出した造作(代表的に375で示す
)は、突出造作の表面377が基体373と接触した状態で、スタンプ370の
窪んだ部分(代表的に380で示す)が液体365の表面と接触を行うように、
選択された高さを有する。その結果図3Hに示すように、スタンプの表面380
と接触している個所において液体層365は平坦化する。スタンプ370が取り
除かれた場合(図3I)、385で示した縁部の尾根状部分を除き、この層は実
質的に平坦になる。さらに、基体300の表面と層365の上側表面との間に、
バイア390が確立される。従って、引き続いて層365の上に堆積される層は
、基体300と接触可能であり、そしてこの引き続いて堆積された層もまた、今
記載したような仕方で平坦化することができる。代替的には、バイア390が多
数の層を通って保持されるように、各層が適用されるごとに同様の突出した造作
でエンボス加工を行うことができる。このようにして、離れた層の間の接触を実
現することができる。
【0035】 突出した造作377の高さが不十分な場合には、基体300との接触は行われ
ず、バイア390は形成されない。突出した造作377の高さが過剰な場合には
、液体365は完全には平坦化されず、バイア390は実際上段付きになり、中
間にリッジやショルダが介在する。それでも後者の方の寸法誤差が好ましい。と
いうのはバイア390が機能を有し、また造作375を圧縮することにより(基
体300が適用される圧力を幾らか許容しうるのであれば)図3Iに示された構
成を依然として達成可能だからである。
【0036】 スタンプ370を取り除く前に、これまでに記載した仕方でもって、液体36
5を硬化してもしなくともよい(全部又は一部を)。硬化の後、液体365は厚
みを低減しうるが、これは平坦性を阻害する。この問題は、何らかの材料からな
る付加的な層を適用し、造作377,380と同じパターンでもってエンボス加
工を行うことによって克服可能である。同じステップで平坦化とパターン形成を
行う能力があることは、相当の製造能力と従来技術に対する改良が行われたこと
を示している。
【0037】 スタンプがマスターから作成され、次いで繰り返して使用されるという上記の
手法は、全ての用途について適切という訳ではない。代替的な構成配置では、コ
ンピュータ制御の下に表面のトポロジを所望のパターンに従って変化させ、次い
でスタンプとして作用することのできるデバイスが用いられる。こうしたデバイ
スは例えば、静電的、熱的、磁気的、圧電的に、或いは他のコンピュータ制御可
能な手段によって付勢されるMEM素子のアレイを用いて構築可能であり、ひと
つの素子の付勢はそれがアレイ表面から突出する度合い又は仕方を変化させるこ
とになる。本発明において有用なそうしたデバイスのひとつはマイクロミラーア
レイであり、そこでは電気信号に応じて素子のアレイが面からずれて傾斜するよ
うにされ、或いは平坦なままにされる(Kimら、Society for Information Displ
ay 99 Digest, p. 982 (1999)参照)。
【0038】 本発明の手法は、任意の機能性デバイスを生成するために使用可能である。こ
の技術は、突出した造作のパターンが、堆積される側ではなく除去される側の材
料に対応しているという意味で、ネガティブワーキングである。この設計方法論
は、2つのトランジスタからなる電子的インバータの製造を示している図4A−
図4F、及び図5A−図5Fから明らかである。図4A−図4Fの各々は、図番
を付した線に沿って図5A−図5Fの対応するそれぞれから取った断面図である
。機能層は基体400(図4A、図5A)の上に構築されるが、これは例えばス
ライドガラス、プラスチックシート、シリコンウェーハ、或いは十分に平滑な表
面400sを有する何らかの他の材料である。付加される層の各々は、異なるス
タンプによってパターン形成される。
【0039】 図4B及び図5Bに示されているように、パターン形成された導電性金属層4
10が、基体400の表面400s上に設けられる。これは最初に、金又は銀の
ナノ粒子の適当なキャリア液体中の懸濁液の如き、金属含有液体の薄いフィルム
を適用することによって達成される(例えばここでの参照によって開示の全体を
本書に取り入れる米国特許第5756197号を参照)。適用された液体は上述
したようにスタンプでパターン形成され、基体400の表面400sを露出させ
る一連のチャネルが生成される。この液体は次いで硬化される(例えば金属ナノ
粒子懸濁液の場合は、キャリアが蒸発されて金属粒子が凝集し、実質的に連続な
導電性のパターン形成されたフィルムとなる)。形成されたパターンは、一対の
トランジスタギャップ412と、接地レール414と、Vccレール416を含
む。
【0040】 導電層410上には、半導電層420が堆積される。層420はチャネル41
2を完全に満たし、またその上側で平坦化され、従ってそれらの個所では層42
0は基体400と接触する。他の部分では、層420のパターンは層410のパ
ターンと実質的に一致し、半導体420が金属のラインを橋絡することはない。
幾つかの領域422においては、層420はエンボス加工プロセスにおいて除去
されて下側にある層410を露出させるが、他の領域424においては層410
を介して先に画定されたチャネルの上側にあって、基体400を露出させる。半
導電層420は、例えば米国特許第5534056号(ここでの参照によって開
示の全体を本書に取り入れる)に記載されたように、半導体(例えばシリコン、
ゲルマニウム、CdSeなど)ナノ粒子の懸濁液として適用することができる。
この場合にも、パターン形成の後、この層はキャリアを蒸発させて粒子を連続的
なパターン形成されたフィルムへと凝集させることによって硬化させることがで
きる。
【0041】 絶縁層430が、図4D及び図5Dに示すようにして、半導電層420上に適
用される。層430はバイア424を完全に満たし、その上方で平坦化される。
先に生成されたバイア422(図4C参照)よりも僅かに小径のバイア432が
、そのバイア422を介して形成されて、層410を露出させる。この絶縁層は
、放射線硬化コーティングのような、未架橋の液状ポリマー前駆体として適用す
ることができる(例えばポリアクリレートやポリメタクリレートがこの目的に適
している)。パターン形成及びスタンプの除去の後に、ポリマー前駆体はUV又
は電子ビーム放射線に曝露することによって固体へと硬化(即ち架橋)される。
【0042】 図4E及び図5Eを参照すると、第2の金属層435が絶縁層430に適用さ
れ、スタンプ加工によってパターン形成される。金属層435のプラグが先に形
成されたバイア432を完全に満たし、金属層410へと接続している。バイア
432はバイア424よりも小さな直径を有しているため、バイア432の内部
では、絶縁材料の層が金属製のプラグを半導電層420から隔てている。第2の
金属層430は、2つのトランジスタのゲート440を形成している。
【0043】 UV硬化性ポリマー、エポキシ又はスピン塗布(スピンオン)ガラスのような
封止材料450が、層435を覆ってコーティングとして適用され、下側にある
全ての機能層を、汚染や物理的な損傷から保護する。封止材料は、全ての露出さ
れたチャネルを満たすのに十分な厚みで適用され、また最終的なデバイスに対し
て構造的な剛性をも付加する。
【0044】 図6A-図6G及び図7A−図7Gは、自由に回転するMEMホイールの製造
を示している。図6A−図6Gの各々は、図番を付した線に沿って図7A−図7
Gの対応するそれぞれから取った断面図である。この構造は、第1の犠牲又は剥
離層と、第2の犠牲又は剥離層と、第1の金属層と、第3の犠牲又は剥離層と、
第2の金属層とを含む。全ての層が適用された後に、最終的な剥離ステップによ
って剥離層がエッチングにより除去され、純粋に金属からなる構造が遊離される
。各々の層は、上述したようなエラストマースタンプを用いてパターン形成され
る。
【0045】 スライドガラス、プラスチックシート、シリコンウェーハ、或いは適当に平滑
な何らかの他の表面(MEM用途については、比較的堅い基体が望ましい)であ
る基体600(図6A、図7A)が、図6B及び図6Cに示すようにして第1の
剥離層610を受容する。剥離層610は例えば、溶媒(アセトンの如き)に可
溶又は溶媒中でウェットエッチング可能な、或いはドライエッチング技術(プラ
ズマエッチングの如き)によってエッチング可能なポリマー(PMMAの如き)
であり、或いはフッ化水素酸でエッチング可能なスピンオンガラスである。剥離
層610は、エラストマースタンプによってその剥離層にパターン形成された孔
612を除いて、基体600を完全に被覆する。この孔612は、ホイールの車
軸となる材料を受容する。
【0046】 第2の剥離層620は、図6C及び図7Cに示すようにパターン形成される。
このパターンは、一連の凹み622を含む。これらは金属で充填されて、回転ホ
イールにディンプルを形成する。孔612は、層620の中心にパターン形成さ
れている。
【0047】 図6D及び図7Dを参照すると、第1の金属層630が、最初の2つの剥離層
610,620にパターン形成された孔612,622(図6C参照)を充填す
る。層630は、これらの孔の上方で平坦化されている。スタンピングによつて
、一対の同心の環状領域632,635から金属が除去される。領域632はホ
イールの縁部を画定し、領域635は車軸からホイールを分離することを容易に
する。ホイールの底部は凹み622(図6C、図7C)を満たし、ホイールと基
体600の間のスティクションを低減させるディンプルを形成する。エッチング
液が下側の剥離層610,620に届くように、ホイールには小さな孔がパター
ン形成されているが、これらは図示されていない。
【0048】 第3の剥離層640は、図6E及び図7Eに示すようにして付加され、パター
ン形成される。この層は、第1の剥離層610をパターン形成するのに用いられ
たのと同一のスタンプを使用し、ホイールの車軸の中心に孔645を形成する。
【0049】 第2の金属層650(図6F、図7F)は、ホイールの車軸上にキャップ65
2を生成するようにパターン形成される。このキャップは、全ての剥離層がエッ
チングにより除去された後に、ホイールが車軸から分離するのを防止する。金属
層650はまた、金属の小さなアイランド655を生成する個所がハッチングで
示されている。これらのアイランドは余分の材料を表しており、剥離層がエッチ
ングにより除去される場合に取り除かれるが、剥離層の分離を容易にするために
含められている。剥離ステップに際しては、ホイールと基体の間で吸着の問題が
生ずるのを回避するため、超臨界CO2剥離を用いることが必要となりうる。
【0050】 適当な溶媒に曝露することによって、剥離層610,620,640がエッチ
ングにより除去された後、デバイスは図6G及び図7Gに示す構成を備えるよう
になる。最終的なデバイスは、底部表面にディンプル622を有するホイール6
60と、周囲でこのホイール660を自由に回転させる車軸665と、車軸66
5上の位置でホイール660を保持するキャップ650からなる。
【0051】 本発明を用いて製作するのに適した他のMEM構造には、例えば、いわゆるヒ
ーチュエータ(熱アクチュエータ)、リニアコームドライブ、及び内燃機関など
がある。
【0052】 図8Aから図8Fは、いわゆる「バイオチップ」、即ち異なる生物材料(例え
ばDNAプローブ、プロテインプローブ、炭水化物)の密なアレイを有する電子
的にアクティブ又は読み取り可能な基体を生成するための、本発明の使用を示し
ている。こうしたチップは例えば、対象となるサンプルを同定し、或いは種々の
分子配列が存在するか否かをテストするために用いることができる。例えば米国
特許第5605662号、第5874219号、第5744305号、及び第5
837832号を参照のこと。異なるオリゴヌクレオチドの十分に大きなアレイ
を表面上に堆積することができるのであれば、ハイブリッド化による配列決定法
によって、原理的には全てのゲノム配列の情報を獲得することができる(Skiena
ら、Proc. 36th Ann. Symp. on Foundations of Comp. Sci., pp. 613-20(1995)
)。図8Aに示されているように、エラストマースタンプ810は、一連の突出
した造作815を有している。基体820の上には、生物材料822の薄いフィ
ルムが堆積されている。
【0053】 スタンプ810は、突出した造作815が液体フィルム812を貫通し押し退
けて、下側にある基体820と接触を行うまで下降される(図8B参照)。スタ
ンプ810は次いで、接触している基体810から取り外され、生物材料のパタ
ーン825と、生物材料が除去された領域827の相補的パターンが残される(
図8C)。
【0054】 図8Dは、突出した造作832のアレイを有する第2の基体830を示してお
り、造作の各々には生物学的受容体835が結合されている。この生物学的受容
体は生物材料822の構成要素と固有の結合を行う。例えば生物材料822はプ
ロテイン溶液であり、受容体835はこのプロテインに特異な抗体である。第2
の基体830は、最初の基体820の上方に整列されている。
【0055】 第2の基体830は、基体820と接触するようにされる(図8E)。突出し
た造作832の幾らかは生物材料825の上側に配置されるが、他の者は空所8
27の上側にくる。生物材料は、液体を貫通してくる突出した造作に取着されて
いる受容体と結合するが、空所の領域827と接触する(又はその近傍にくる)
突出した造作は、変性されずに残る。図8Fは、基体820との接触状態から取
り外された第2の基体830を示している。最初の基体上にある生物材料は、第
2の基体830の特定の突出した造作832に対して選択的に転写されているが
、他の個所ではそうでない。こうした選択的にパターン形成され(造作832は
10nmから100μmのオーダ)化学的に反応させられた第2の基体830は
、バイオチップとして作用することができる。最初の基体820上に残存してい
る液体材料は、追加のバイオチップを生成するため使用することができる。
【0056】 所望ならばバイオチップは、最初のスタンプ810又は別のスタンプでパター
ン形成された、異なる生物材料を有する第3の基体と接触させることができる。
このようにして、生物材料の第2の層を、突出した造作832の各種のものに対
して選択的に付加させることができる。
【0057】 代替的な手法では、生物レジスト層を本発明によるエラストマースタンプによ
ってパターン形成し、次いで突出した造作を有する基体と接触させることができ
る。このレジスト材料は、造作とレジストのそれぞれのパターンに基づいて、選
択された突出造作に対して結合する。次いで構造の全体が、機能性生物材料中に
浸漬されるが、この材料はレジストを受容していない突出造作に対してのみ結合
する。最後に、この構造はエッチング浴に浸漬されてレジスト材料(及びそれに
結合している何らかの生物材料)が除去されるが、レジストを受容していない造
作に結合した生物材料は残される。
【0058】 第2の代替例では、生物材料はエラストマースタンプの突出造作から基体上の
選択された部位(例えば隆起された造作)に対して直接に転写される。窪んだ造
作に対応するスタンプの領域は、材料の転写を行わない。このようにして、中間
の転写ステップに対する必要性なしに、基体はパターン形成されうる。転写され
た材料が広がってしまうことは、スタンプが「インク付け」されるプレートにお
いて、非常に薄いフィルム状の材料のみを保持することによって、回避できる。
もちろん、受容側の表面が生物材料に対して、スタンプよりも高い親和性を示す
ことが重要である。PDMSは非常に低い表面エネルギーを有するため、広範囲
の材料を転写するについて理想的なものである。
【0059】 パターン形成に関するこの「直接パターン転写」手法は、生物学的液体以外の
材料に関しても採用しうることを強調しておかねばならない。例えば金属ナノ粒
子の分散液を薄いフィルムとして、ガラスやプラスチックのような平坦な表面に
対して適用することができる。パターン形成されたエラストマースタンプがこの
フィルム材料に対して接触され、除去され、そしてスタンプに付着した材料が第
2の表面に対して転写される。この技術を用いて、本発明者らはエッジ解像度が
300nmのオーダの導電性構造体を得た。
【0060】 米国特許第5744305号に記載されているような、DNAチップ製造のた
めの既存の方法は、解像度が限られており、またDNAアレイを平坦で無孔の表
面に制限することを必要としていた。本発明のスタンピング方法と、標準的なヌ
クレオチド化学物質(遺伝子合成装置で用いられている如きもの)を用いること
により、DNAバイオチップを製造することができる。その場合、ヌクレオチド
は1回に1塩基単位で添加され、配列が位置に基づいて異なる、空間的に分離さ
れたオリゴヌクレオチドのアレイが構築される。例えばDNAの化学合成は、反
応性のヌクレオチド誘導体を順次添加することによって達成可能である。配列中
に新たに添加されるヌクレオチドの各々は、まず4’,4’ジメトキシトリチル
(DMT)との反応によってブロックされ、次いで反応性の高いメチル化された
ジイソプロピルホスホラミダイト基と結合する。この基は新たなヌクレオチドを
、先に添加されたヌクレオチドとリンクさせる。ブロックを行っている基は脱ト
リチルによって除去され、これによって新たにリンクされたヌクレオチドは、さ
らなるヌクレオチドとリンクを行うために利用可能となる。合成が完了した時点
で、アルカリpH条件に曝露することにより、全てのメチル基が除去される。
【0061】 同様にして、プロテイン合成装置において用いられている標準的な化学処理(
例えばアミノ酸を化学的にブロックし、活性化し、添加された最新のアミノ酸と
リンクさせ、その後ブロックを外すという順序を繰り返す)や、炭化水素合成装
置において用いられているそれを用いることによって、プロテインや炭水化物の
バイオチップを製造することもできる。そうしたバイオチップでは、生物学的領
域の間(配列の異なるオリゴヌクレオチド相互間のごとき)の分離を良好にする
ことが望ましい。これは、かかる配列を非平坦な又は多孔性の表面上にスタンピ
ングすることによって達成可能である。この文脈において、「多孔性」という用
語は、それぞれのヌクレオチド配列(又は他の化学的に異なる生体分子)を物理
的に分離する、平坦でない造作を示すものである。例えば各々の配列は、それぞ
れ相互に物理的に分離された、隆起されたピラー(柱状体)の頂部表面上にパタ
ーン形成することができる。こうした設計は、所望でない化学物質を好都合に除
去することを可能にする。なぜならこうした化学物質は、ピラーの基部に蓄積す
るごとに連続的に取り除かれるからである。代替的に、各々のヌクレオチド配列
を、個別に窪ませたウェル(井戸)の中に堆積させることもできる。
【0062】 本発明のスタンピングプロセスは、一組のスタンプを用いて、回路パターンを
二次元又は三次元で繰り返して生成するために、効率的に用いることができる。
図9Aは、電力レールVcc910と接地レール915を有する単一のSRAM
900の回路を概略的に示している。このSRAM900は、水平制御ライン9
20と垂直制御ライン925を用いてアドレス指定される。これらのラインは、
両方が高レベルの場合にスプリットゲートトランジスタ構造930を付勢し、読
み出し/書き込みライン935をメモリセルに接続する。揮発性のメモリは、一
対の交差結合されたインバータ940に格納される。この回路は、2つの金属層
、半導電層、薄い絶縁層、及びバイアを備えた平坦化層という、5つの異なるエ
ラストマースタンプでもって、本発明のエンボス加工技術を用いて製造すること
ができる。
【0063】 図9Bは、この基本回路900を「タイル」のようにして用いて、この回路の
二次元アレイとする仕方を示している。この図において、回路900は16回複
製されて、連続する4×4の二次元アレイ950となっている。このメモリアレ
イ950は電力レールと接地レールを有し、水平制御ラインが左右の端部955
に沿って延び、また垂直制御ラインと読み出し/書き込みラインが上下の端部に
沿って延びる。このアレイ950は、上記したと同様の5つのスタンプを各層に
重ねて、このアレイのパターンでもって適用することによって生成される。スタ
ンピングされた領域は相互作用して、連続的な回路950を形成する。
【0064】 図9Cに示すように、二次元アレイ950を垂直スタック970へと複製する
ことにより、このアレイは三次元に拡張することができる。メモリアドレスは分
割され、アドレスの最初の方のビットはデコードされた場合、垂直方向にスタッ
クされているが二次元的には全て同じ位置にくる水平制御ラインの組を表すよう
にされ、またアドレスの最後の方のビットはデコードされた場合に、同様の仕方
で垂直制御ラインの組を表すようにされる。このようにして、メモリワードは垂
直スタックの異なるアレイにある二次元に同じ位置に格納される(かくしてデー
タワードのビット数は垂直方向にスタックされたメモリアレイの数に対応するよ
うになる)。メモリの端部にあるデコード回路もまた、各層について同じ5つの
マスクを繰り返して用い、層の間を相互接続するバイアを備えて、生成すること
ができる。
【0065】 この手法は、いわゆる「細胞オートマトン」の構造に好適である。これは並列
計算を行うため、隣接する処理細胞(セル)と相互作用する処理セルが、相互に
接続されてなるものである。細胞オートマトンは多くの場合、三次元環境をシミ
ュレートするために使用されるが、在来の手法は本来的に二次元的であり、従っ
て処理能力は限られていた。多くの層でもって回路を三次元的に生成することに
より、このスケール的な限界を克服することが可能になる。細胞オートマトンデ
バイスは、垂直方向にスタックされた、セルの多数の二次元アレイを含み、相互
接続された三次元アレイが生成される。
【0066】 本発明により製造するのに適した三次元デバイスの別の例は、隣のデバイスと
の間に多くの「樹枝状」相互接続を備え、三次元に配置された多くの個別の電子
的「神経細胞(ニューロン)」(それぞれがプロセッサにより代表される)から
なる神経(ニューラル)構造である。各々のニューロンは、その周囲にある全て
のニューロンから影響を受け、またそれが接続されているニューロンに対して影
響を及ぼす。三次元に生成されるニューラルネットワークは、今日の二次元的回
路に付随するスケール的な問題の多くを回避することができる。
【0067】 本発明のスタンピングプロセスの別の用途は、電界放出ディスプレイ(FED
)に用いるための、電子放出構造の生成を包含する。今日、これらのデバイスは
通常はシリコンに製作されており、またその製造は非常にコストがかかり複雑で
ある。使用されている最も一般的な構造は、スピント型突起である。最近の研究
が示すところによれば、仕事関数がより低い材料(例えば単壁カーボンナノチュ
ーブ)を用いて、典型的なシリコンエミッタと等しいか又はそれを上回る効率で
もって、より簡単な構造のものを製造可能である(Choiら、Society for Inform
ation Display 99 Digest, p. 1134 (1999))。残念なことに、ナノチューブを
生成するための成長温度は、ガラス又はプラスチック基体の融点を遙かに上回る
(800℃を越える)。そのため、そうした基体を用いたプロセスに関して取り
入れられることはなかった。
【0068】 本発明によれば、金属(好ましくは金)ナノ粒子及び細断されたナノチューブ
(ナノパイプ)のスラリーが、溶媒中に溶解される。図10Aに示すように、こ
のスラリーは次いで基体1010(例えばガラスシート)上へとスタンピングに
より、インターデジタル構造のラインの組1020,1025としてパターン形
成される。カーボンナノチューブ1030の幾らかは、ライン1020,102
5の表面から突出する。利用可能な種々の技術の何れかを用いて(例えば電場の
印加、スタンプが離型されるに際しての液体の流れの利用など)、これらのナノ
チューブは全てが同じ方向を向くように配置することができる。ライン1020
,1025は次いで、300℃未満の温度で硬化される。
【0069】 図10Bを参照すると、ラインの組の一方1020を完全に被覆し、カーボン
ナノチューブを完全に包囲するようにして、ナノ粒子スラリーの別の層1040
が適用されている。このラインの組1020はFEDのゲートを表し、これに対
してラインの組1025はカソードを表す。動作にあたっては、燐光性のアノー
ド1050が近傍に配置されてライン1020,1025と対峙し、このアノー
ド1050と基体1010の間に高真空が確立される。FEDの動作は2つのパ
ラメータにより支配される。アノード1050とカソードライン1025の間の
電圧(Vac)と、ゲートライン1020とカソードライン1025の間の電圧
(Vgc)である。FEDは、オン又はオフの何れかである。FEDを「オン」
状態とするためには、Vacは約20ボルトにセットされ、Vgcは0ボルトに
セットされる。カーボンナノチューブの仕事関数が低いため、電子はカソードラ
イン1025からアノード1050に流れるが、電子がゲートライン1020か
らアノード1050に流れることはない。FEDを「オフ」状態にセットするた
めには、Vacは約20ボルトのままであるが、Vgcは5ボルトにセットされ
る。カソードライン1025からの電子はこの場合、ゲートライン1020へと
流れ、アノード1050に流れる電子はない。カソードライン1025をライン
ごとに選択的に付勢してそこからの電子の流れを生じさせることにより、視覚用
ディスプレイがもたらされる。
【0070】 別の用途では、本発明のスタンピングプロセスは、既存のチップ製造技術と組
み合わせることができる。例えば現在のハイエンドのマイクロプロセッサの製造
プロセスは、2つの主要なステップに分けることができる。動作するトランジス
タを生成するのに必要な全てのステップからなる「フロントエンド」プロセス(
例えばシリコンの成長、ゲート酸化膜、ドーピング、トランジスタの造り込みな
ど)と、トランジスタ間に接続をもたらす金属相互接続及びバイアの生成を行う
ウェーハの「バックエンド」プロセスである。ハイエンドのチップの場合、マス
クセットは合計で30ほどあり、そのうち18がフロントエンドプロセス用、1
2がバックエンドプロセス用である。チップの複雑性とコストは概して、その製
造に用いられるマスクセットの数によって決まってくる。
【0071】 本発明によれば、他の通常の場合にはシリコンウェーハのフロントエンドにお
いて製造される金属のバックエンドを生成するために、スタンピングが用いられ
る。ウェーハは、金属が最初に堆積される時点に至るまでは、標準的なシリコン
のフロントエンドプロセスを用いて処理される。次いで、プラズマエッチング、
CPVD、CMP、ダマシン平坦化、及び/又は他の在来のプロセス(これらは
費用がかかり、時間を要し、困難で、無駄が多い)を用いてアルミニウムを蒸着
し適用するのに代えて、金属ナノ粒子の層がナノスケールでのエンボス加工によ
ってパターン形成され、相互接続層が形成される。具体的には、金属ナノ粒子溶
液の薄いフィルムがウェーハ上に適用され(例えばスピンオン技術により)、こ
のフィルムが上述したようにしてエンボス加工されて金属相互接続が形成され、
下側にある層までバイアが充填される。このようにして形成された導電性トレー
スは硬化され、その上に絶縁性ナノ粒子材料からなる層が堆積される。この層は
次いでエンボス加工されて金属層の間にバイアがパターン形成され、次いで硬化
される。導電層及び絶縁層を堆積し、パターン形成し、硬化するステップは、所
望とする数の層が得られるまで繰り返される。
【0072】 この手法は、費用、時間、廃棄物、及び製造の困難性の面において利点をもた
らす。しかしまた付加的に、これは自己平坦化を行うという利点をも有する。そ
の結果、絶縁層の各々をスタンピングプロセスを介して平坦化することができ、
それにより、現在用いられている在来のプロセスで得られるよりも遙かに多くの
層を生成することが可能になる。加えて、スタンピングプロセスは下側にある層
に対して形状順応性があるため、平坦化の品質はさほど重要でない(例えば各層
が数百ナノメートルの範囲内まで平坦でなければならないフォトリソグラフィの
場合のように)。
【0073】 本発明のスタンピングプロセスのさらに別の用途は、有機光エミッタ、有機ロ
ジック、及び有機トランジスタなどの製造である。有機光エミッタやロジックの
材料であるPPV(ポリ(p−フェニレンビニレン))やチオフェンなどは、標
準的なリソグラフィプロセスを用いてパターン形成するのが難しい。これは、エ
ッチング処理によって、有機材料が劣化しうるためである。ひとつの代替的な手
法はインクジェットを用いることであるが(Shimodaら、Society for Informati
on Display 99 Digest, p. 376 (1999))、この方法による解像度の限界は10
μmより大きい。本明細書に記載のスタンピングプロセスは、著しく微細な造作
をパターン形成するのを容易にする。
【0074】 本発明のスタンピングプロセスのなおも別の用途は、光学導波器のパターン形
成である。光学導波器は、第1の領域が第1の屈折率を有し、第2の領域が第2
の屈折率を有する構造体である。非常に単純な光学導波器は、空気に囲まれた光
学的に透明な材料(スピンオンガラス又はUV光学ポリマー)に、単に矩形のリ
ッジをエンボス加工することによって作成できる。リッジの一端に差し向けられ
た光は、他端から出射される。こうした印刷式の光学導波器を、有機エレクトロ
ルミネセンス材料、無機エレクトロルミネセンス材料、又はハイブリッドエレク
トロルミネセンス材料などの印刷式光エミッタと組み合わせ、また印刷式の検出
器(フォトトランジスタやフォトダイオードなど)及びスイッチ(電気光学スイ
ッチなど)と組み合わせることにより、種々の光遠隔通信の用途に関して入力さ
れる光信号を制御し光信号出力を伝送するための、「全てが印刷された」又は一
部が印刷されたスイッチ布帛を構成することが可能である。
【0075】 図11は、全体を1100で示された、好ましいナノエンボス加工システムの
ブロック図を示す。このシステムは、Z移動ステージ115に固定された基体1
110について作用する。このZ移動ステージは、XY平面で回転する360°
θステージ1120に固定されている。θステージ1120はそれ自体が、XY
平面で二次元運動を行うよう適合されたガントリシステム1130上のキャリッ
ジ1125に固定されている。これらの構成部材は移動限界の範囲内において、
また任意のXY回転を伴って、基体1110をいかなる空間的位置へも搬送する
ことができる。一連の機能性モジュールが基体1120の上方に懸架されており
、各々のモジュールはエンボス加工プロセスにおいて異なるステップ、即ち基体
上への材料の薄いフィルムの堆積、この薄いフィルムのパターン形成、エンボス
加工の後のフィルムの硬化などを営む。
【0076】 具体的には、図2A及び図2Bに関して前述したようにして、金属ロッド11
351と、少量の液体を堆積させる吐出装置11401(例えばインクジェットヘ
ッド又はピペット)によって、液体の薄いフィルムが基体1110上に生成され
る。異なる液体を堆積させるために、金属ロッドと吐出装置の別の組(代表的に
11352及び11402で示す)も利用可能である。堆積された液体フィルムは
、代表的なものを11501,11502で示してある利用可能な複数のスタンプ
から選択されるエラストマースタンプによって、パターン形成される。これらの
スタンプは各々、適当なスタンププレス(図示せず)内に保持され、スタンプの
外側輪郭は、スタンプ装置内にある相補的な凹部に嵌合する。
【0077】 パターン形成されたフィルムはデバイス1160(例えば加熱ランプ、UVラ
ンプ、レーザなど)により、そのフィルムに適切なように硬化される。基体11
10はこれらの異なるモジュールの間で往復動され、任意の数の層をパターン形
成することができる。基体1110に対するこれらの異なるモジュールの整列は
、例えば、シリコンマスクのアライメントに普通に使用されている、光学的基準
マークを用いることによって達成可能である。加えて、スタンプの物理的なセル
フアライメントを用いて、スタンプ1150の微細なアライメントを達成するこ
とができる。例えば各々のスタンプ1150は深く窪ませた三角形の造作を有す
ることができ、これを基体1110上の隆起したアライメント用造作と合致させ
ることができる。スタンプそれ自体は整列中に、移動及び回転が可能であるのが
好ましい。
【0078】 代替的に、本発明のナノエンボス加工システムは、機能デバイスの連続的な製
造を容易にするための「ロールからロール」プロセスからなることができる。ロ
ールからロールへのプロセスは、在来の凸版印刷プロセスに類似しており、この
場合に本発明のスタンプが、弾性の凸版印刷プレートとして構成されることにな
る。このプレートはドラム上で回転され、硬化可能な液体が堆積されている移動
性の基体に対して穏やかな接触を行う。
【0079】 本発明について用いるための、溶液中のナノ粒子は、化学蒸着(CVD)に類
似したプロセスを用いて製造できる。そのための代替的な構成を図12A及び図
12Bに示す。図12Aを参照すると、CVD前駆体のガスと、不活性キャリア
ガスの制御された流れが、質量流量コントローラ1210,1215のそれぞれ
を介して、加熱された真空チャンバ1200に導入される。このチャンバ120
0は全体として管状の形状を有し、周囲にある抵抗コイルによって加熱されてい
る。チャンバ1200の壁は、一対の直交配置されたレーザ12251,122
2からの放射線に対して、実質的に透過性である。有機キャッピング材料は流
れコントローラ1230により、レーザ12251,12252の下流側において
、チャンバ1200内へと気体状で導入される。チャンバ1200内のさらに下
流側には、収集テーブル1232が配置され、一対の弁12351,12352
介した冷却液体の循環によって冷却されている。気体状材料はチャンバ1200
を介して、真空源(図示せず)により矢印の方向に引かれている。
【0080】 CVD前駆体はチャンバ1200を通って移動するにつれて、チャンバ内の高
温と、レーザ12251,12252によって与えられるエネルギーとの組み合わ
せによって解離される。CVD前駆体と不活性キャリアのそれぞれの濃度は、化
学的に純粋な、解離された元素又は分子の平均自由行程が、確率的に見て、流れ
コントローラ1230から導入される有機気体に遭遇するまでに、他の同種のも
のとの数百回の衝突しか許容しないように選ばれる。衝突のたびごとに、より多
くの解離された種が一緒になり、それによって大きな粒子が形成される。この成
長する粒子を有機シェルでキャップすることで、それがさらに寸法を増大させる
ことが防止される。不活性ガスは成長する粒子を解離領域からキャップ領域へと
既知の速度で搬送する。キャップされたならば、粒子は冷却された収集テーブル
1232上に集められる。キャリアガスと未反応前駆体は、チャンバ1200か
ら排出される。得られたナノ粒子1240はプレート1232上でペースト状を
なし、次いで真空チャンバから取り出されて溶液とされる。この溶液には重力又
は遠心力が作用され、最も寸法の小さなナノ粒子が最上部からすくい取られる。
【0081】 適切なCVD前駆体には、シラン、TIBA(トリイソブチルアルミニウム)
、WF6、及びCu(hfac)2(即ち銅ヘキサフルオロアセチルアセトネート
)が含まれ、不活性キャリアガスはヘリウムやアルゴンである。適切な有機キャ
ップ基は、粒子に化学結合する直鎖アルキル基、又はイオウ、酸素、窒素、又は
珪素のようなヘテロ原子を介して粒子表面と相互作用する基を含む。米国特許第
5750194号に開示されているような他の適切な有機材料には、アルファテ
ルピネオール、オレイン酸メチル、酢酸ブチル、リノレン酸グリセリド、オレイ
ン酸グリセリド、シトロネロール、ゲラニオール、フェネチルアルコール、及び
ネロールなどがある。
【0082】 図12Bに示されているように、より反応性の強い種を使用すると、より簡単
な構成でよくなる。こうした構成は、弁1260を介して作動する真空ポンプ1
260によって排気される真空チャンバ1250を含む。CVD前駆体ガスと、
気体状の有機キャップ基は、それぞれ質量流量コントローラ1260,1265
を介して真空チャンバ1250に導入される。CVD前駆体はすぐに凝集して粒
子となり、有機気体によってキャップされる。粒子1270は冷却されたテーブ
ル1275上に集められ、上述したようにして採取される。
【0083】 本発明は特定の具体例について説明してきたが、それらが特許請求の範囲に含
まれてくる場合を除き、こうした具体例が本発明の範囲に対する制限とみなされ
ることは意図していない。
【図面の簡単な説明】
【図1A−図1D】 本発明によるエラストマースタンプの製造を示す、大きく拡大した断面図であ
る。
【図2A−図2B】 基体上への薄い、均一な液体フィルムの適用を示す側部立面図である。
【図3A−図3C】 平坦な表面に対して適用された本発明のエンボス加工プロセスを示す断面図で
ある。
【図3D−図3F】 非平坦表面に対して適用された本発明のエンボス加工プロセスを示す断面図で
ある。
【図3G−図3I】 本発明を用いた平坦化及びバイアの生成を示す断面図である。
【図4A−図4F】 本発明による電子的インバータの製造を示す断面図である。
【図5A−図5F】 図4A−図4Fに断面で示された構造の平面図である。
【図6A−図6G】 本発明によるマイクロ電気機械デバイスの製造を示す断面図である。
【図7A−図7G】 図6A−図6Gに断面で示された構造の平面図である。
【図8A−図8F】 本発明によるバイオチップの製造を示す断面図である。
【図9A−図9C】 単一のSRAM回路、こうした回路の二次元アレイ、及びこうした回路の三次
元アレイをそれぞれ概略的に示す。
【図10A−図10B】 本発明による電界放出ディスプレイデバイスの製造を示す断面図である。
【図11】 本発明を具現化する好ましいナノエンボス加工システムのブロック図である。
【図12A−図12B】 ナノ粒子を合成するための代替的な構成を概略的に示す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (31)優先権主張番号 09/525,734 (32)優先日 平成12年3月14日(2000.3.14) (33)優先権主張国 米国(US) (81)指定国 EP(AT,BE,CH,CY, DE,DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,I T,LU,MC,NL,PT,SE),OA(BF,BJ ,CF,CG,CI,CM,GA,GN,GW,ML, MR,NE,SN,TD,TG),AP(GH,GM,K E,LS,MW,MZ,SD,SL,SZ,TZ,UG ,ZW),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD, RU,TJ,TM),AE,AG,AL,AM,AT, AU,AZ,BA,BB,BG,BR,BY,BZ,C A,CH,CN,CR,CU,CZ,DE,DK,DM ,DZ,EE,ES,FI,GB,GD,GE,GH, GM,HR,HU,ID,IL,IN,IS,JP,K E,KG,KP,KR,KZ,LC,LK,LR,LS ,LT,LU,LV,MA,MD,MG,MK,MN, MW,MX,MZ,NO,NZ,PL,PT,RO,R U,SD,SE,SG,SI,SK,SL,TJ,TM ,TR,TT,TZ,UA,UG,UZ,VN,YU, ZA,ZW (72)発明者 ウィルヘルム,エリック,ジェイ アメリカ合衆国マサチューセッツ州02145, ソマービル,リー・ストリート・15 (72)発明者 ハバート,ブライアン,エヌ アメリカ合衆国マサチューセッツ州02139, ケンブリッジ,メモリアル・ドライブ・ 305,アッシュダウン・ハウス・ナンバー 608シー Fターム(参考) 2H025 AB02 AB16 AD01

Claims (44)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 機能部品の製造方法であって、 a.硬化可能な材料の薄いフィルムを液体状で準備するステップと、 b.隆起したパターンを有するエラストマースタンプで前記硬化可能な材料を低
    圧でエンボス加工することにより、前記硬化可能な材料をパターン形成するステ
    ップと、 c.前記パターン形成された材料を硬化するステップと、及び d.硬化した層が相互作用して機能部品を生成するように、硬化された場合に異
    なる機能特性を有する材料について前記ステップ(a)から(c)を複数回繰り
    返すステップからなる方法。
  2. 【請求項2】 前記スタンプが、剛性を付与する材料が担持された弾性重合マ
    トリクスからなる、請求項1の方法。
  3. 【請求項3】 a.基体に前記パターンの雌型圧痕を生成し、 b.前記パターンを包囲し、 c.液状エラストマー前駆体を包囲空間に注入し、前記前駆体が前記パターンの
    前記雌型圧痕内に流入するようにし、 d.前記エラストマー前駆体を硬化してエラストマーとし、及び e.前記エラストマーを前記基体から取り外すことにより、 前記エラストマースタンプを形成するステップをさらに含む、請求項1の方法。
  4. 【請求項4】 a.感光性エラストマーを準備し、 b.前記エラストマーを化学線に曝露して前記パターンを与え、及び c.前記曝露されたエラストマーを光化学的に現像して前記パターンを生成する
    ことにより、 前記エラストマースタンプを形成するステップをさらに含む、請求項1の方法。
  5. 【請求項5】 前記スタンプに液状ポリイミドを適用し、このポリイミドを硬
    化させ、硬化したポリイミドを前記スタンプから除去することにより、前記スタ
    ンプを洗浄するステップをさらに含む、請求項1の方法。
  6. 【請求項6】 前記硬化可能な材料が液体として適用される、請求項1の方法
  7. 【請求項7】 前記液体が平滑で平坦な支持体上にビードとして適用され、均
    一なフィルムへと圧伸される、請求項6の方法。
  8. 【請求項8】 前記硬化可能な材料が非液体として適用され、その後に液化さ
    れる、請求項1の方法。
  9. 【請求項9】 前記材料が支持体に適用され、この支持体を加熱することによ
    って液化される、請求項8の方法。
  10. 【請求項10】 前記材料が前記スタンプを加熱することによって液化される
    、請求項8の方法。
  11. 【請求項11】 前記隆起したパターンが凸状表面を含む、請求項1の方法。
  12. 【請求項12】 前記スタンプが揺動動作でもって前記パターン形成される材
    料に適用され、またそこから取り除かれる、請求項1の方法。
  13. 【請求項13】 前記材料が支持体上に存在し、前記スタンプがこの支持体に
    対して保持された状態で少なくとも部分的に硬化される、請求項1の方法。
  14. 【請求項14】 前記スタンプが前記材料の硬化に先立って前記材料から取り
    除かれ、前記材料が前記スタンプの除去にも拘わらず前記パターンを保持する、
    請求項1の方法。
  15. 【請求項15】 前記材料が不均一な表面上に存在し、前記スタンプが実質的
    な横方向の偏向なしに前記材料のパターン形成を行う、請求項1の方法。
  16. 【請求項16】 前記材料が不均一な表面上に存在し、前記スタンプが隆起さ
    れていない部分を有し、この部分が前記表面と接触している隆起された造作と共
    に、前記隆起されていない部分と接触している前記材料を平坦化する、請求項1
    の方法。
  17. 【請求項17】 複数の連続する層が複数のエラストマースタンプでパターン
    形成され、前記エラストマースタンプの少なくとも幾つかが異なるパターンを有
    し、前記スタンプの少なくとも幾つかが同じ個所に隆起した造作を有して、隣接
    していない層の間にバイアを生成する、請求項1の方法。
  18. 【請求項18】 前記バイアの少なくとも幾つかが複数の層にわたって延伸す
    る、請求項17の方法。
  19. 【請求項19】 前記バイアが前記層の1つを形成する堆積材料によって充填
    され、前記材料が前記層のパターン形成につれて平坦化される、請求項17の方
    法。
  20. 【請求項20】 前記層の少なくとも1つの材料が、キャリア液体中における
    ナノ粒子の懸濁液である、請求項1の方法。
  21. 【請求項21】 前記材料が、前記キャリア液体を蒸発させることによって硬
    化され、前記ナノ粒子が凝集して実質的に連続するパターン形成されたフィルム
    となる、請求項20の方法。
  22. 【請求項22】 前記ナノ粒子が金属であり、前記フィルムが導電性である、
    請求項21の方法。
  23. 【請求項23】 前記ナノ粒子が半導電性であり、前記フィルムが半導電性で
    ある、請求項21の方法。
  24. 【請求項24】 前記層の少なくとも1つが溶媒中に可溶であり、前記部品を
    前記溶媒に曝露することによって前記少なくとも1つの層を除去するステップを
    さらに含む、請求項1の方法。
  25. 【請求項25】 前記層の各々について、前記スタンプが複数個所に適用され
    、二次元の繰り返しパターンが生成される、請求項1の方法。
  26. 【請求項26】 前記ステップ(a)から(d)が複数回繰り返され、硬化し
    た層が繰り返し形成される、請求項1の方法。
  27. 【請求項27】 前記薄いフィルムに対する前記スタンプの適用の結果、前記
    スタンプの前記隆起したパターンに対する前記材料の付着がもたらされ、前記エ
    ンボス加工するステップが、前記付着した材料を硬化のために基体に転写するこ
    とを含む、請求項1の方法。
  28. 【請求項28】 前記転写が前記スタンプに低圧を適用することによって達成
    される、請求項27の方法。
  29. 【請求項29】 前記薄いフィルムが、前記硬化可能な材料を液滴状で堆積し
    、続いてこれに前記スタンプを適用して、前記スタンプのパターンと相補的なパ
    ターンを有する薄いフィルムを形成することによって形成される、請求項1の方
    法。
  30. 【請求項30】 前記機能部品がマイクロ機械構造である、請求項1の方法。
  31. 【請求項31】 前記機能部品が集積回路であり、前記硬化した層が導電層、
    誘電層、及び半導電層を含む、請求項1の方法。
  32. 【請求項32】 前記機能部品がバイオチップである、請求項1の方法。
  33. 【請求項33】 前記機能部品が電界放出ディスプレイである、請求項1の方
    法。
  34. 【請求項34】 前記硬化可能な材料が金属ナノ粒子及びカーボンナノチュー
    ブの懸濁液であり、前記パターンが突出するナノチューブを有するインターデジ
    タルラインの第1及び第2の組であり、前記繰り返すステップが金属ナノ粒子の
    懸濁液を適用して前記インターデジタルラインの第1の組を被覆し、これを覆っ
    て前記金属ナノ粒子の懸濁液を硬化させることを含む、請求項33の方法。
  35. 【請求項35】 前記機能部品が光学導波器である、請求項1の方法。
  36. 【請求項36】 請求項31に従って製造された集積回路。
  37. 【請求項37】 請求項32に従って製造されたバイオチップ。
  38. 【請求項38】 請求項38に従って製造された電界放出ディスプレイ。
  39. 【請求項39】 請求項35に従って製造された光学導波器。
  40. 【請求項40】 機能部品の製造方法であって、 a.液体の薄いフィルムを支持体上に準備するステップと、 b.第1の隆起したパターンを有するエラストマースタンプで前記液体を低圧で
    エンボス加工することにより前記液体をパターン形成し、前記隆起したパターン
    が前記支持体と接触された場合に前記液体を押し退けるステップと、及び c.第2の隆起したパターンを有する基体を前記支持体と接触させ、前記支持体
    上に存在する前記液体を前記第2の隆起したパターンに付着させるステップから
    なる方法。
  41. 【請求項41】 前記液体が生物材料を含む、請求項40の方法。
  42. 【請求項42】 前記液体が生物学的レジストを含み、前記基体を生物材料に
    曝露するステップをさらに含み、前記生物材料が前記基体のレジストを受容した
    隆起部分に付着しない、請求項40の方法。
  43. 【請求項43】 機能部品の製造方法であって、 a.液体の薄いフィルムを支持体上に準備するステップと、 b.隆起したパターンを有するエラストマースタンプで前記液体を低圧でエンボ
    ス加工することにより前記液体をパターン形成し、前記隆起したパターンがサブ
    ミクロン寸法の造作を少なくとも幾らか有し、前記支持体と接触された場合に前
    記液体を押し退けるステップと、及び c.前記パターン形成された液体を硬化するステップからなる方法。
  44. 【請求項44】 機能部品の製造装置であって、 a.硬化可能な材料の薄いフィルムを液体状で適用する手段と、 b.隆起したパターンを有し、前記隆起したパターンがサブミクロン寸法の造作
    を少なくとも幾らか有するエラストマースタンプと、 c.前記エラストマースタンプを前記硬化可能な材料に適用し、前記隆起したパ
    ターンが前記材料を押し退けるようにする手段と、及び d.前記パターン形成された材料を硬化させる手段からなる装置。
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