JP2003298232A - 多層配線基板の製造方法および多層配線基板 - Google Patents

多層配線基板の製造方法および多層配線基板

Info

Publication number
JP2003298232A
JP2003298232A JP2002099883A JP2002099883A JP2003298232A JP 2003298232 A JP2003298232 A JP 2003298232A JP 2002099883 A JP2002099883 A JP 2002099883A JP 2002099883 A JP2002099883 A JP 2002099883A JP 2003298232 A JP2003298232 A JP 2003298232A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wiring board
layer
adhesive material
manufacturing
conductor pattern
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002099883A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Asami
浅見  博
Hidetoshi Kusano
英俊 草野
Yuji Nishitani
祐司 西谷
Ken Orui
研 大類
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP2002099883A priority Critical patent/JP2003298232A/ja
Priority to US10/403,550 priority patent/US7288724B2/en
Publication of JP2003298232A publication Critical patent/JP2003298232A/ja
Priority to US11/063,131 priority patent/US7421777B2/en
Priority to US11/644,143 priority patent/US7420127B2/en
Priority to US11/890,892 priority patent/US20070293038A1/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/46Manufacturing multilayer circuits
    • H05K3/4688Composite multilayer circuits, i.e. comprising insulating layers having different properties
    • H05K3/4694Partitioned multilayer circuits having adjacent regions with different properties, e.g. by adding or inserting locally circuit layers having a higher circuit density
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/48Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
    • H01L21/4814Conductive parts
    • H01L21/4846Leads on or in insulating or insulated substrates, e.g. metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/48Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
    • H01L21/4814Conductive parts
    • H01L21/4846Leads on or in insulating or insulated substrates, e.g. metallisation
    • H01L21/4857Multilayer substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/498Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
    • H01L23/49833Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers the chip support structure consisting of a plurality of insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/10Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
    • H05K3/20Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern by affixing prefabricated conductor pattern
    • H05K3/205Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern by affixing prefabricated conductor pattern using a pattern electroplated or electroformed on a metallic carrier
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/46Manufacturing multilayer circuits
    • H05K3/4611Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards
    • H05K3/4614Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards the electrical connections between the circuit boards being made during lamination
    • H05K3/4617Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards the electrical connections between the circuit boards being made during lamination characterized by laminating only or mainly similar single-sided circuit boards
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/095Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00 with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials provided in the groups H01L2924/013 - H01L2924/0715
    • H01L2924/097Glass-ceramics, e.g. devitrified glass
    • H01L2924/09701Low temperature co-fired ceramic [LTCC]
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/01Dielectrics
    • H05K2201/0183Dielectric layers
    • H05K2201/0195Dielectric or adhesive layers comprising a plurality of layers, e.g. in a multilayer structure
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09209Shape and layout details of conductors
    • H05K2201/095Conductive through-holes or vias
    • H05K2201/09536Buried plated through-holes, i.e. plated through-holes formed in a core before lamination
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09818Shape or layout details not covered by a single group of H05K2201/09009 - H05K2201/09809
    • H05K2201/09881Coating only between conductors, i.e. flush with the conductors
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09818Shape or layout details not covered by a single group of H05K2201/09009 - H05K2201/09809
    • H05K2201/09972Partitioned, e.g. portions of a PCB dedicated to different functions; Boundary lines therefore; Portions of a PCB being processed separately or differently
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/0011Working of insulating substrates or insulating layers
    • H05K3/0017Etching of the substrate by chemical or physical means
    • H05K3/0023Etching of the substrate by chemical or physical means by exposure and development of a photosensitive insulating layer
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/46Manufacturing multilayer circuits
    • H05K3/4611Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards
    • H05K3/4623Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards the circuit boards having internal via connections between two or more circuit layers before lamination, e.g. double-sided circuit boards
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49124On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49124On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
    • Y10T29/49126Assembling bases
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49124On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
    • Y10T29/49128Assembling formed circuit to base
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49124On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
    • Y10T29/4913Assembling to base an electrical component, e.g., capacitor, etc.
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49124On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
    • Y10T29/49155Manufacturing circuit on or in base
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49124On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
    • Y10T29/49155Manufacturing circuit on or in base
    • Y10T29/49165Manufacturing circuit on or in base by forming conductive walled aperture in base

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ファインピッチな導体パターンの寸法安定性
を確保できるとともに、材料選定面からのプロセス上の
制約を解消し、更に、生産コストを低減できる多層配線
基板の製造方法および多層配線基板を提供する。 【解決手段】 金属製の支持シート40上に形成した第
2配線基板22および接着材料層23を、支持シート4
0を用いて第1配線基板21の所定領域上に部分的に積
層する。第2配線基板22を積層後、支持シート40は
最終的にエッチング除去する。第2配線基板22は、第
1配線基板21上の多層化が必要な部位にのみ積層し、
第2配線基板22の構成材料の使用量を低減する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、2以上の配線基板
を互いに積層してなる多層配線基板の製造方法および多
層配線基板に関する。
【0002】
【従来の技術】電子機器の小型化・多機能化に伴い、配
線基板(プリント配線板)の高密度化および実装部品の
小型化に対する要求が厳しくなっている。配線基板にお
いては、従来、配線ルールの縮小により基板表面と平行
な方向についての高密度化が図られていたが、近年で
は、ビルドアップ工法を採用して配線基板を積層し、任
意の層間を電気的に接続するためのビアホール(層間接
続部)を形成することにより、配線基板の表面に垂直な
方向での高密度化も進められている。
【0003】この種の従来技術として、例えば特開平1
0−107445号公報には、配線基板上の導体パター
ン(配線パターン)を転写法によって形成する多層配線
基板の製造方法が開示されている。以下、図15を参照
して、従来の多層配線基板の製造方法について説明す
る。
【0004】まず、図15(a)に示すように、絶縁基
材1の表面に第1の導体パターン2が形成された配線基
板を作製または準備する。そして、図15(b)に示す
ように、絶縁基材1の表面に絶縁性スラリーを塗布して
絶縁層3を形成する。次に、図15(c)に示すよう
に、絶縁層3に第1の導体パターン2と連絡するビアホ
ール4をレーザ加工等によって形成し、形成したビアホ
ール4の内部に導電ペースト5を充填する。続いて、図
15(d)に示すように、絶縁層3に対し、あらかじめ
転写シート7の上に形成しておいた第2の導体パターン
6を転写し、導電ペースト5を介して第1,第2の導体
パターン2,6を接続する。
【0005】転写シート7は、ポリエチレンテレフタレ
ート(PET)等の合成樹脂材料を主体として構成され
ている。導体パターン6は、この転写シート7の上に貼
着または蒸着された導体層をウェットエッチング法によ
って所定形状にパターニング形成して作製される。転写
シート7から絶縁層3への導体パターン6の転写は、導
体パターン6と絶縁層3および転写シート7との間の密
着力の差を利用して行われる。
【0006】導体層を3層以上形成する場合には、上述
と同様な工程を繰り返す。つまり、図15(e)に示す
ように、絶縁層3の上に更に絶縁層8を形成し、この絶
縁層8にビアホールを形成するとともに形成したビアホ
ールに導電ペースト10を充填した後、第3の導体パタ
ーン11を転写法により形成する。
【0007】上述のように、転写法によって製造される
多層配線基板は、絶縁層の任意の場所に層間接続用のビ
アを形成することによって、容易に多層化を図ることが
できる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の多層配線基板の製造方法においては、転写シー
ト7が樹脂フィルムを主体として構成されているので、
ハンドリング時において生じる転写シート7の伸縮や反
りによって、転写される導体パターン6,11のパター
ン形状(寸法)に誤差が生じ易いという問題がある。し
たがって、この従来の多層配線基板の製造方法では、今
後益々進展することが予想される導体パターンの微細化
(ファインピッチ化)に対応していくことが非常に困難
となり、ファインピッチ化に対応した高品位の多層配線
基板が得られなくなる。
【0009】なお、転写シートをステンレス等の金属材
料で構成することも考えられる。この場合、樹脂フィル
ムで転写シートを構成する場合に比べて剛性が高くなる
ので、導体パターンの寸法安定性が向上する。しかしな
がら、この場合、転写先のリジッド性が強いと、転写シ
ートの除去が困難となり、導体パターンの転写作用が適
正に行えなくなるという問題がある。
【0010】また、従来の多層配線基板の製造方法にお
いては、多層化プロセスが絶縁層および導体層を交互に
一層ずつ積み上げていく工程であるので、例えば上層部
において工程不良が生じると、それまでの工程が全て無
駄となり、配線基板全体が不良扱いされることになる。
したがって、従来の多層配線基板の製造方法では、生産
性が悪く、歩留まりが低いという問題がある。
【0011】さらに、従来の多層配線基板の製造方法に
おいては、多層化に際し、絶縁層3,8を下地層の全面
に形成するようにしている。形成した絶縁層3,8はベ
ーキングして硬化させる必要がある。したがって、従来
法では、ベーキング温度のミスマッチを防ぐために、絶
縁層3,8の構成材料の選定に一定の制限を加えなけれ
ばばらず、これにより基板設計自由度が低くなるという
問題がある。
【0012】一方、下地基板上の一部の領域のみ多層化
して配線密度を向上させるといった基板設計が行われる
場合、従来の製造プロセスでは、下地基板上の他の領域
に対しても均等に絶縁層を形成する必要があるために、
絶縁層として高価な材料を用いる場合には、従来法では
材料コストの負担が増大するという問題もある。
【0013】以上のように、従来の多層配線基板の製造
方法においては、導体パターンのファインピッチ化に対
応することが困難で、材料選定上の制約を常に伴い、更
には生産コストあるいは材料コストが高いという問題が
ある。
【0014】本発明は上述の問題に鑑みてなされ、ファ
インピッチな導体パターンの寸法安定性を確保できると
ともに、材料選定面からのプロセス上の制約を解消し、
更に生産コストを低減できる多層配線基板の製造方法お
よび多層配線基板を提供することを課題とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するに
当たり、本発明の多層配線基板の製造方法は、第1導体
パターンを有する第1配線基板と、第2導体パターンを
有する第2配線基板とが互いに積層されてなる多層配線
基板の製造方法であって、金属製の支持シート上で第2
配線基板を形成する工程と、形成した第2配線基板上に
接着材料層を形成する工程と、接着材料層に対し、第2
導体パターンと連絡する層間接続部を形成する工程と、
第2配線基板を接着材料層を介して第1配線基板の所定
領域上に積層し、層間接続部と第1導体パターンとを電
気的に接続する工程と、第2配線基板から支持シートを
除去する工程とを有する。
【0016】本発明では、第1配線基板と第2配線基板
は互いに独立して形成される。第2配線基板は、金属製
の支持シート上で形成される。第2配線基板の上には接
着材料層が形成され、その層間接続部と第2導体パター
ンとが電気的に接続される。その後、第2配線基板は、
接着材料層を介して第1配線基板の所定領域上に積層さ
れる。このとき、支持シートは第2配線基板の平面度を
維持するためのサポートとして機能し、両基板の積層
後、除去される。これにより、第1,第2配線基板が異
種の材料で構成されている場合にも互いに積層すること
が可能となり、材料選定面からのプロセス上の制約が解
消される。
【0017】本発明の多層配線基板の製造方法は、第2
配線基板が、比較的リジッド性あるいは自己支持性の弱
い材料で構成されている場合に好適である。金属製の支
持シートが第2配線基板および接着材料層の平面度を維
持し、第2導体パターンおよび層間接続部の寸法安定性
を確保して、第1配線基板上へ適正に積層することがで
きる。
【0018】また、本発明では、第2配線基板を第1配
線基板の所定領域上に積層するようにしている。このた
め、第2配線基板を第1配線基板よりも面積的に小さく
形成でき、材料コストの低減が図られる。
【0019】一方、本発明の他の多層配線基板の製造方
法は、金属製の支持シート上に接着材料層を形成する工
程と、接着材料層に対し層間を連絡する導電性の層間接
続部を形成する工程と、接着材料層の上に第2配線基板
を積層し、層間接続部と前記第2導体パターンとを電気
的に接続する工程と、接着材料層から前記支持シートを
除去する工程と、第2配線基板を、接着材料層を介して
第1配線基板の所定領域上に積層し、層間接続部と第1
導体パターンとを電気的に接続する工程とを有する。
【0020】本発明においても、第1配線基板と第2配
線基板とは互いに独立して形成される。第2配線基板
は、接着材料層を介して支持シート上に積層された後、
支持シートを除去して第1配線基板上の所定領域上に積
層される。
【0021】本発明では、第2配線基板が、比較的リジ
ッド性あるいは自己支持性の強い材料で構成されている
場合に好適である。
【0022】一方、本発明の多層配線基板は、第1配線
基板と、前記第1配線基板に対して電気的に接続される
第2配線基板とが互いに積層されてなる多層配線基板で
あって、第2配線基板が、第1配線基板の所定領域上に
部分的に積層されてなることを特徴とする。
【0023】本発明によれば、第2配線基板を第1配線
基板よりも面積的に小さく形成することができるので、
第2配線基板を第1配線基板の全面に形成する場合に比
べて第2配線基板の構成材料の使用量を低減し、材料コ
ストの低減を図ることができる。また、多層配線基板全
体の軽量化も図れる。
【0024】
【発明の実施の形態】以下、本発明の各実施の形態につ
いて図面を参照して説明する。
【0025】(第1の実施の形態)図1は、本発明の第
1の実施の形態による多層配線基板の構成を示してい
る。本実施の形態の多層配線基板20は、第1配線基板
21と、第2配線基板22と、これら第1,第2配線基
板21,22の間に介装される接着材料層23とから構
成されている。
【0026】本実施の形態の第1配線基板21は、例え
ば両面銅張積層板からなり、絶縁層としての絶縁基材2
4と、その両面の銅箔を所定形状にパターニング形成し
てなる導体パターン(本発明の「第1導体パターン」に
対応。)25A,25Bとを備えている。なお、導体パ
ターン25A,25Bの表層に、Ni/Au(ニッケル
/金)めっき層が形成されていてもよい。
【0027】絶縁基材24は、適用対象や用途等に応じ
てその構成材料が適宜選定され、例えば、ガラスエポキ
シ樹脂(ガラス繊維にエポキシ樹脂を含浸させたも
の)、ガラス繊維にポリイミド樹脂を含浸させたもの、
ガラス繊維にビスマレイミドトリアジン樹脂とエポキシ
樹脂との混合物を含浸させたBTレジン(商品名)、紙
にフェノール樹脂を含浸させたもの等の有機系材料で構
成されているが、これ以外にも、アルミナやガラス含有
セラミックス、窒化アルミニウム等のセラミック系材料
等で構成することも可能である。
【0028】導体パターン25A,25Bは、部分的
に、スルーホール26を介して互いに電気的に接続され
ている。スルーホール26は、絶縁基材24に形成した
貫通孔27とその内壁面に形成した銅めっき28とから
構成されている。なお、スルーホール26の内部には、
導電材料あるいは非導電材料からなる充填体29が充填
されている。
【0029】絶縁基材24の表裏面における導体パター
ン25A,25Bが形成されない領域は、絶縁性材料3
7A,37Bの層で被覆され、導体パターン25A,2
5Bの形成によって生じる絶縁基材24上の段差が消失
されている。これにより、第1配線基板21の積層面が
平坦化され、第2配線基板22との適正な積層状態が確
保される。
【0030】更に、導体パターン25A,25Bおよび
絶縁性材料37A,37Bによって形成される第1配線
基板21の外面は、ソルダレジスト38A,38Bによ
って被覆されるが、第2配線基板22が積層される領域
は、開口39を介して外部へ露出されている。
【0031】図2は、第1配線基板21の製造プロセス
の一例を示している。まず、あらかじめ準備した両面銅
張積層板の所定部位にマイクロドリル等を用いて貫通孔
27,27を形成し、さらに、貫通孔27の内壁面に銅
めっき28を形成する(図2A,B)。次いで、貫通孔
27の内部に充填体29を充填し、銅箔25,25を所
定形状にパターニングして導体パターン25A,25B
を形成する(図2C,D)。そして、導体パターン25
A,25Bが形成されていない絶縁基材24上を絶縁性
材料37A,37Bで被覆した後、ソルダレジスト38
A,38Bを両面に形成する(図2E)。以上のように
して、本実施の形態の第1配線基板21が作製される。
【0032】図1を参照して、第2配線基板22はそれ
自体、多層基板として構成され、導体パターン(本発明
の「第2導体パターン」に対応。)35を有している。
図示するように、第2配線基板22は第1配線基板21
よりも面積的に小さく形成されており、接着材料層23
を介して第1配線基板21上の所定部位に部分的に積層
されている。本実施の形態では、上記「所定部位」は、
第1配線基板21上において多層化(配線高密度化)を
必要とする領域を意味するものとする。
【0033】絶縁層としての絶縁基材34は、高解像度
の感光性樹脂材料、例えばポリベンズオキサドール(P
BO)、ベンゾシクロブテン、感光性ポリイミド等で構
成される。
【0034】導体パターン35は、半導体装置用微細配
線形成プロセスで広く用いられるダマシン法によって形
成され、絶縁基材34の表裏面に露出される導体ランド
部35A,35Bとこれらを接続する内部配線層35C
とで構成される。なお、ダマシン法以外に、例えばセミ
アディティブ法によって導体パターン35を形成するよ
うにしてもよい。
【0035】絶縁基材34表面側の導体ランド部35A
は、裏面側(第1配線基板21側)の導体ランド部35
Bよりも狭ピッチに形成されている。第2配線基板22
上には図示せずとも、半導体チップがフリップチップ実
装あるいはワイヤボンド接続等の公知の形態で搭載可能
とされ、この場合、導体ランド部35Aの配列ピッチ
は、当該半導体チップのバンプピッチに対応して形成さ
れる。つまり、第2配線基板22は、半導体チップを第
1配線基板21上へ実装する際のインターポーザ基板と
しての機能を行い得るようになっている。
【0036】さて、第2配線基板22は第1配線基板2
1に対して、接着材料層23を介して積層されている。
接着材料層23は、層間絶縁層31と、導電性の複数の
層間接続部32とから構成される。層間接続部32は、
層間絶縁層31の所定部位を貫通し、第1配線基板21
の導体パターン25Aと第2配線基板22の導体パター
ン35との間を電気的に接続している。
【0037】ここで、接着材料層23を構成する層間絶
縁層31は、例えば感光性接着剤からなり、その所定部
位にフォトリソグラフィ技術を用いて穿孔した孔に導電
材料を充填して層間接続部32を形成している。本実施
の形態では、層間接続部32は銅(Cu)の電気めっき
層で形成されるが、これ以外に、ニッケル(Ni)やす
ず(Sn)等の他の金属で構成することも可能である。
【0038】本実施の形態の多層配線基板20は、以上
のように構成される。本実施の形態の多層配線基板20
によれば、第1配線基板21および第2配線基板22が
接着材料層23を介して互いに積層されて構成されてい
るので、各々の絶縁基材24,34が互いに異種の材料
で構成されているにも拘わらず、容易に積層して多層化
を図ることができる。
【0039】例えば、第1配線基板の絶縁基材をガラス
エポキシ樹脂で構成し、第2配線基板の絶縁基材をベン
ゾシクロブテンで構成する。ベンゾシクロブテンは低誘
電性の材料であり、高周波回路用基材として適してい
る。このようにして構成された第1,第2の配線基板を
積層することにより、第1配線基板上の必要な領域に第
2配線基板の性能を付与することができ、システム的な
機能を実現できる多層配線基板を得ることができる。
【0040】また、本実施の形態の多層配線基板20
は、図1に示したように、第2配線基板22が第1配線
基板21の所定領域上に部分的に積層されて構成されて
いるので、本来必要とされる領域に対してのみ多層化を
図ることができる。これにより、第2配線基板22の小
面積化を図って材料コストの低減を図ることができる。
また、多層配線基板としての全体の軽量化も図れる。
【0041】次に、図3〜図7を参照して、本実施の形
態の多層配線基板20の製造方法について説明する。こ
こで、図3は第2配線基板22の製造方法を説明する工
程断面図、図4〜図6は多層配線基板20の製造方法を
説明する工程断面図、図7は多層配線基板20の製造方
法を説明するプロセスフロー図である。
【0042】まず、図4Aに模式的に示す構成の支持シ
ート40を用意する。支持シート40は、厚さが例えば
100μm程度の銅からなる金属ベース材41と、導電
性接着樹脂層42と、厚さが例えば5μm以下のクロム
(Cr)からなる被溶解金属層43との3層構造を呈し
ており、金属ベース材41と被溶解金属層43とは、導
電性接着樹脂層42を介して互いに分離(剥離)可能と
なっている。
【0043】金属ベース材41は、支持シート40の全
厚の主要部分を占め、主に、ハンドリング時に必要とさ
れる強度等の機械的性質および耐熱温度等の材料学的性
質を具備するように構成される。導電性接着樹脂層42
としては、金属ベース材41と被溶解金属層43との間
の導通を確保でき、かつ、両者の分離除去が可能な材料
によって構成され、例えば層状に形成したベンゾトリア
ゾール樹脂が適用される。被溶解金属層43は金属箔や
金属めっき層で構成されるとともに、接着材料層23の
層間接続部32に対して選択的にエッチングされ得るよ
うに、層間接続部32とは異種の金属材料で構成され
る。
【0044】なお、金属ベース材41と被溶解金属層4
3とを互いに分離除去するための構成例は上記に限ら
ず、他の構成例を採用することも可能であるが、その詳
細については、後述する。
【0045】次に、支持シート40の被溶解金属層43
側表面に、第2配線基板22を形成する(図4B、ステ
ップS11)。ここで図3は、第2配線基板22の製造
プロセスを示している。第2配線基板22は、例えば、
ポジ型感光剤のポリベンズオキサドール(PBO)等を
絶縁層として用いたデュアル・ダマシン法によって形成
される。
【0046】図3Aに示すように、支持シート40の被
溶解金属層43側表面に、ポリベンズオキサドール製の
感光剤をスピンコート法等により塗布し、所定のベーキ
ング処理を行って絶縁層34Aを形成する。次に、形成
した絶縁層34Aに対し、図示しないマスクを介して所
定域に露光光を照射し、現像処理を施して、図3Bに示
すような開口部36Aを形成する。開口部36Aは、層
間接続用のビアおよび配線層の一部を構成するもので、
二段露光によって露光深さが異なっている。
【0047】続いて、図3Cに示すように、開口部36
A内部を含む絶縁層34A上に、例えば銅からなる電気
めっき層33Aを形成する。この際、開口部36Aの内
壁面と電気めっき層33Aとの間に、Ti/Cu等のス
パッタバリア層を形成しておいてもよい。電気めっき層
33Aは、例えばCMP(Chemical Mechanical Polish
ing)法等によって絶縁層34Aの表面から除去される
(図3D)。
【0048】次に、絶縁層34Aの上に再度同種の感光
剤(ポリベンズオキサドール)をスピンコート法により
塗布し、所定のベーキング処理を行って絶縁層34Bを
形成する(図3E)。そして、形成した絶縁層34Bの
所定領域に露光光を照射し、内部配線層35Cと連絡す
る開口部36Bを形成する(図3F)。そして、開口部
36Bの内部を含む絶縁層34B上に同じく銅からなる
電気めっき層33Bを形成し(図3G)、CMP法等に
よって当該電気めっき層33Bを絶縁層34Bの表面か
ら除去して導体ランド部35A,35Bを含む内部配線
層35Cを形成する(図3H)。
【0049】以上のようにして、支持シート40の上に
第2配線基板22が形成される。本実施の形態の第2配
線基板22は、高光解像度の感光性樹脂材料を絶縁層と
し、これに半導体装置の配線形成プロセスに用いられる
デュアル・ダマシン法を用いて導体パターンを形成して
いるので、超微細で高精度な配線パターンを有してい
る。
【0050】また、絶縁基材34は厚さが数十μm程度
であり、それ単独では所定の平面度を維持することが困
難なほどリジッド性あるいは自己支持性が弱い。そのた
め、プロセス中は支持シート40によって支持され、か
つ支持シート40を介してハンドリングされる必要があ
るが、支持シート40が金属製であるので、絶縁層34
A,34Bの平面度を適正に維持することができる。し
かも、絶縁層34A,34Bのベーキング温度(例えば
300℃)にも寸法変化を生じない耐熱性を具備してお
り、電気めっき法による導体パターン35の形成も可能
であるので、極めて高精度に超微細な導体パターンを形
成することができる。
【0051】さて、図4に戻り、支持シート40上に形
成された第2配線基板22の上には、接着材料層23の
層間絶縁層31を構成する感光性接着剤が塗布され(ス
テップS12)、これに露光および現像処理を施して第
2配線基板22の導体ランド部35Bと連絡する貫通孔
31Aが形成される(図4C、ステップS13)。そし
て、図5Dに示すように、支持シート40をシード層
(給電層)にして電気めっき処理を行い、例えば銅から
なる電気めっき層によって貫通孔31Aを充填して、層
間接続部32を形成する(ステップS14)。なお、感
光性接着剤は液状のものに限らず、シート状のものを用
いてもよい。
【0052】以上のようにして、第2配線基板22上
に、層間絶縁層31と層間接続部32とからなる接着材
料層23が作製される。
【0053】本実施の形態では、上述のように、層間接
続部32を電気めっき法によって形成しているが、この
工程では、第2配線基板22の導通検査を同時に行うこ
とができる。つまり、層間接続部32は第2配線基板2
2を介して支持シート40に電気的に接続されているの
で、電気めっき層が析出しない貫通孔31A(図4C)
は、その部位の第2配線基板22の導体パターン35が
断線していると判断できる。これにより、高価な検査装
置等を用いることなく、導体パターン35の配線検査を
行うことができる。
【0054】また、本実施の形態では、層間接続部32
を電気めっき法によって形成するようにしているが、こ
のとき、先に形成した層間絶縁層31をめっきレジスト
として用いることができる。これにより、微小な孔径で
形成された各貫通孔31Aの内部に対し、導体層を均質
に形成することができる。また、層間接続部32をファ
インピッチに形成することができる。
【0055】また一般に、電解めっき浴は酸性であるた
めに、樹脂からなる層間絶縁層31はめっき浴中で変質
することがない。したがって、後述するように、層間接
続部32の形成後は、当該層間絶縁層31を第1,第2
配線基板21,22間の接着層として用いることが可能
となる。
【0056】なお、層間接続部32を全体的に銅で形成
するだけに限らず、例えば表層のみをすず(Sn)の電
気めっき層で形成してもよい。この場合、第1配線基板
21の導体パターン25Aの表層が金めっき層であれ
ば、積層界面の接続をSn−Au接合で担うことが可能
となり、積層工程の低温・低荷重化を実現することがで
きる。
【0057】次に、第2配線基板22を接着材料層23
および支持シート40とともに、第1配線基板21に積
層するサイズの個片に切り出すためのダイシング工程が
行われる(図5E、ステップS15)。
【0058】その後、図5Fに示すように支持シート4
0を反転させ、接着材料層23の各層間接続部32を第
1配線基板21上の導体パターン25Aに対向させる。
そして、第2配線基板22を接着材料層23を介して第
1配線基板21の所定領域上(ソルダレジスト38Aの
開口部39)へ積層し、層間接続部32と導体パターン
25Aとを電気的に接続する(図6G、ステップS1
6)。これにより、第1,第2配線基板21,22の導
体パターン25A,35の間が導通される。
【0059】ここで、本実施の形態では、第2配線基板
22を支持する支持シート40が金属製であるので、第
2配線基板22の所定の平面度を維持した状態で第1配
線基板21に対する積層工程を行うことができ、これに
より、第2配線基板22の導体パターン35および接着
材料層23の層間接続部32の寸法安定性を確保して、
適正に、第1配線基板21上の導体パターン25Aへ接
続することができる。
【0060】なお、接着層23の熱硬化条件は、第1配
線基板21の絶縁基材24の構成材料に応じて決定さ
れ、したがって、絶縁基材24の構成材料に応じて接着
材料層23の構成材料が選定される。例えば、第1配線
基板21がFR−4(商品名)基材からなる場合、例え
ば160℃×10sの加熱加圧条件で上記積層工程が行
われる。
【0061】次に、図6H,Iに示すように、支持シー
ト40を第2配線基板22から除去する工程が行われる
(ステップS17,S18)。支持シート40の除去
は、金属ベース材41を被溶解金属層43から分離除去
する工程(図6H、ステップS17)と、被溶解金属層
43を溶解除去する工程(図6I、ステップS18)と
で構成される。
【0062】図6G,Hを参照して、金属ベース材41
を被溶解金属層43から分離除去する工程は、導電性接
着樹脂層42を介して金属ベース材41を被溶解金属層
43から剥がすことにより行われる(ステップS1
7)。なお、導電性接着樹脂層42は、金属ベース材4
1とともに被溶解金属層43から分離されるようにする
べく、その被溶解金属層43側の表面所定部位に離型剤
を塗布してもよい。
【0063】金属ベース材41の除去は、例えば、支持
シート40のエッジ部分における金属ベース材41と被
溶解金属層43との間の境界部に、剥離開始の切れ込み
を入れることによって容易に行うことができる。また、
金属ベース材41の剥離処理中、被溶解金属層43は第
2配線基板22によって支持されているので、金属ベー
ス材41と被溶解金属層43との分離除去を適正に行う
ことができる。
【0064】一方、被溶解金属層43を溶解除去する工
程は、被溶解金属層43は溶解させるが導体パターン3
5(導体ランド部35A)は溶解させないエッチング液
を用いて、被溶解金属層43のみを選択的に除去する
(ステップS18)。
【0065】本実施の形態では、導体パターン35を
銅、被溶解金属層43をクロムで形成しているので、例
えば、塩酸系のエッチング液を用いることによって、導
体パターン35を残して被溶解金属層43のみを溶解除
去することができる。
【0066】以上のようにして、本実施の形態の多層配
線基板20が製造される。本実施の形態によれば、第1
配線基板21と第2配線基板22とを各々独立に作製し
ておき、最終的には、接着材料層23によって両者を一
体化するようにしているので、ひとつの工程不良によっ
て多層配線基板全体が不良化するということをなくし、
良品だけの利用によるコスト削減と、並列プロセス化に
よるタクトタイムの短縮が図られる。
【0067】加えて、第1配線基板21と第2配線基板
22との間の材料選定上からの制約を解消することがで
きる。例えば従来のビルドアップ工法を用いて、本実施
の形態のように第1配線基板をガラスエポキシ樹脂、第
2配線基板をPBOで構成しようとした場合、PBOの
ベーキング温度が約300℃と高温であるので、下地の
第1配線基板が当該温度に耐えられないという不都合が
あり、結果として全ての絶縁層をPBOで構成せざるを
得なかった。本実施の形態では、必要な層にのみPBO
を使用することができるので、生産コストの更なる削減
を図ることができると同時に、回路特性にマッチした基
板材料を選定してセットの高機能化に貢献することがで
きる。
【0068】特に、本実施の形態では、第2配線基板2
2を所定サイズの個片に切り出して第1配線基板21上
の必要とされる領域にのみ部分的に積層するようにして
いるので、基板材料コストを更に一層低減し、また、第
2配線基板22の取数増によって基板製造コストの大幅
な低減を図ることができる。
【0069】また、本実施の形態では、第2配線基板2
2および接着材料層23が金属製の支持シート40によ
り支持され、当該支持シート40を転写シート材として
これら第2配線基板22および接着材料層23を第1配
線基板21上へ転写するようにしているので、比較的リ
ジッド性あるいは自己支持性の弱い第2配線基板22お
よび接着材料層23の寸法安定性を確保して、適正に、
これらを第1配線基板21上へ積層することができる。
【0070】さらに、支持シート40を、金属ベース材
41と、この金属ベース材41に対して分離可能に積層
される被溶解金属層43とを含む構成とし、支持シート
40の除去を、金属ベース材41を被溶解金属層43か
ら分離除去する工程と、被溶解金属層43を溶解除去す
る工程とで構成したので、支持シート40の除去が適正
かつ容易となり、これにより、生産性の向上が図られ
る。
【0071】(第2の実施の形態)図8は、本発明の第
2の実施の形態による多層配線基板の構成を示してい
る。本実施の形態の多層配線基板50は、第1配線基板
51と、第2配線基板52と、これら第1,第2配線基
板51,52の間に介装される接着材料層53とから構
成されている。
【0072】本実施の形態の第1配線基板51は、上述
の第1の実施の形態で説明した第1配線基板21と同様
な構成を有しており、両面銅張積層板からなり、絶縁層
としての絶縁基材54と、その両面の銅箔を所定形状に
パターニング形成してなる導体パターン(本発明の「第
1導体パターン」に対応。)55A,55Bとを備えて
いる。なお、導体パターン55A,55Bの表層に、N
i/Auめっき層が形成されていてもよい。
【0073】絶縁基材54は、適用対象や用途等に応じ
てその構成材料が適宜選定され、例えば、ガラスエポキ
シ樹脂(ガラス繊維にエポキシ樹脂を含浸させたも
の)、ガラス繊維にポリイミド樹脂を含浸させたもの、
ガラス繊維にビスマレイミドトリアジン樹脂とエポキシ
樹脂との混合物を含浸させたBTレジン(商品名)、紙
にフェノール樹脂を含浸させたもの等の有機系材料で構
成されているが、これ以外にも、アルミナやガラス含有
セラミックス、窒化アルミニウム等のセラミック系材料
等で構成することも可能である。
【0074】導体パターン55A,55Bは、部分的
に、スルーホール56を介して互いに電気的に接続され
ている。スルーホール56は、絶縁基材54に形成した
貫通孔57とその内壁面に形成した銅めっき58とから
構成されている。なお、スルーホール56の内部には、
導電材料あるいは非導電材料からなる充填帯59が充填
されている。
【0075】絶縁基材54の表裏面における導体パター
ン55A,55Bが形成されない領域は、絶縁性材料6
7A,67Bの層で被覆され、導体パターン55A,5
5Bの形成によって生じる絶縁基材54上の段差が消失
されている。これにより、第1配線基板51の積層面が
平坦化され、第2配線基板52との適正な積層状態が確
保される。
【0076】他方、第2配線基板52はそれ自体、多層
基板として構成され、導体パターン(本発明の「第2導
体パターン」に対応。)65を有している。導体パター
ン65は、絶縁基材64の表裏面に露出される導体ラン
ド部65A,65Bとこれらを接続する内部配線層65
Cとで構成される。なお、導体ランド部65A,65B
の表層に、Ni/Auめっき層が形成されていてもよ
い。
【0077】図示するように、第2配線基板52は第1
配線基板51よりも面積的に小さく形成されており、接
着材料層53を介して第1配線基板51上の所定部位に
部分的に積層されている。本実施の形態においても、上
記「所定部位」は、第1配線基板51上において多層化
(配線高密度化)を必要とする領域を意味するものとす
る。
【0078】絶縁層としての絶縁基材64は、比較的リ
ジッド性あるいは自己支持性の強い材料、例えば、ガラ
スエポキシ樹脂(ガラス繊維にエポキシ樹脂を含浸させ
たもの)、ガラス繊維にポリイミド樹脂を含浸させたも
の、ガラス繊維にビスマレイミドトリアジン樹脂とエポ
キシ樹脂との混合物を含浸させたBTレジン(商品
名)、紙にフェノール樹脂を含浸させたもの等の有機系
材料で構成される。
【0079】図9は、第2配線基板52の製造プロセス
の一例を示している。第2配線基板52は、例えば従来
公知のビルドアップ工法等によって作製される。
【0080】まず、絶縁層64Bの所定部位に貫通孔6
6Bを形成し、内部に導電材料を充填してビア貫通体6
9Bを形成する(図9A,B)。絶縁層64Bにはさら
に、上面に銅箔等の導体層66を形成してこれをパター
ニングする(図9C,D)。次に、絶縁層64Bの上に
絶縁層64Aを形成し、導体層66に連絡する貫通孔6
6Aを形成して、その内部に導電材料を充填してビア貫
通体69Aを形成する(図9E,F,G)。これらビア
貫通体69A,69Bおよび導体層66により内部配線
層65Cが構成される。以上のようにして、第2配線基
板52が作製される。
【0081】次に、接着材料層53は、上述の第1の実
施の形態において説明した接着材料層23と同様に構成
され、感光性接着剤でなる層間絶縁層61と、この層間
絶縁層を貫通するように所定部位に形成される複数の層
間接続部62とから構成される。
【0082】層間接続部62は、第1配線基板51の導
体パターン55Aと第2配線基板52の導体パターン6
5とを各々対応して連絡している。本実施の形態では、
層間接続部62は銅(Cu)の電気めっき層でなるが、
これ以外に、ニッケル(Ni)やすず(Sn)等の他の
金属材料でも構成可能である。
【0083】本実施の形態の多層配線基板50は、以上
のように構成される。本実施の形態の多層配線基板50
によれば、第1配線基板51および第2配線基板52を
接着材料層53を介して互いに積層しているので、各々
の絶縁基材54,64の構成材料を互いに異ならせたと
しても、適正かつ容易に積層して多層化を図ることがで
きる。
【0084】また、本実施の形態の多層配線基板50
は、図8に示したように、第2配線基板52を第1配線
基板51の所定領域上に部分的に積層させているので、
第1配線基板51の本来必要とされる領域に対してのみ
多層化を図ることができる。これにより、第2配線基板
52の低面積化を図って材料コストを低減でき、また、
多層配線基板として全体的な軽量化を図ることができ
る。
【0085】次に、本実施の形態の多層配線基板50の
製造方法について、図10〜図13を参照して説明す
る。ここで、図10〜図12は多層配線基板50の製造
方法を説明する工程断面図、図13は多層配線基板50
の製造方法を説明するプロセスフロー図である。
【0086】まず、図10Aに模式的に示す支持シート
80を用意する。支持シート80は、第1の実施の形態
において説明した支持シート40と同様な構成を有して
おり、厚さが例えば100μm程度の銅からなる金属ベ
ース材81と、導電性接着樹脂層82と、厚さが例えば
5μm以下のクロム(Cr)からなる被溶解金属層83
との3層構造を呈している。金属ベース材81と被溶解
金属層83とは、導電性接着樹脂層82を介して互いに
分離(剥離)可能に積層されている。
【0087】なお、金属ベース材81と被溶解金属層8
3とを互いに分離除去するための構成例は上記に限ら
ず、他の構成例を採用することも可能であるが、その詳
細については、後述する。
【0088】次に、支持シート80の被溶解金属層83
側表面に、感光性接着剤85を塗布する(図10B、ス
テップS21)。感光性接着剤85は、第1配線基板5
1と第2配線基板52とを接着させる接着材料層53の
層間絶縁層61を構成する。なお、感光性接着剤85は
液状のものに限らず、シート状のものを用いてもよい。
【0089】感光性接着剤85を硬化させた後、露光お
よび現像の各処理を行って、図10Cに示すように貫通
孔86を形成する(ステップS22)。そして、形成し
た貫通孔86の内部に導電材料を充填することにより、
層間接続部62を形成する(図10D、ステップS2
3)。以上により、接着材料層53が形成される。
【0090】本実施の形態の層間接続部62は、支持シ
ート80をシード層(給電層)に用いた電気めっき法に
よって形成される銅めっき層で構成される。この場合、
感光性接着剤85は、めっきレジストとしての機能を果
たし、めっき浴中に浸漬された支持シート80の感光性
接着剤85が塗布されていない領域に対してのみ銅めっ
きを析出させる。これにより、微小な孔径で形成された
各貫通孔46の内部に対し、導電層を均質に形成するこ
とができる。また、層間接続部62をファインピッチに
形成することができる。
【0091】なお、本実施の形態においても、層間接続
部62は全体的に銅で形成するだけに限らず、例えば、
表層部位のみすず(Sn)の電気めっき層で形成するよ
うにしてもよい。これにより、第1(第2)配線基板5
1(52)の導体パターン55A(65)の表層が金め
っき層であれば、積層界面の接続をSn−Au接合で担
うことが可能となり、積層工程の低温・低荷重化を実現
することができる。
【0092】続いて、図11Eに示すように、層間接続
部62を形成した接着材料層53の上に、あらかじめ作
製しておいた第2配線基板52を積層し、層間接続部6
2と導体パターン65とを電気的に接続する(ステップ
S24)。
【0093】次のダイシング工程では、第2配線基板5
2は、接着材料層53および支持シート80とともに、
第1配線基板51に積層されるサイズの個片に切り出さ
れる(切断される)(図11F、ステップS25)。
【0094】その後、図11Gおよび図12Hに示すよ
うに、支持シート80を接着材料層53から除去する工
程が行われる(ステップS26,27)。支持シート8
0の除去は、金属ベース材81を被溶解金属層83から
分離除去する工程(図11G、ステップS26)と、被
溶解金属層83を溶解除去する工程(図12H、ステッ
プS27)とで構成される。
【0095】図11F,Gを参照して、金属ベース材8
1を被溶解金属層83から分離除去する工程は、導電性
接着樹脂層82を介して金属ベース材81を被溶解金属
層83から剥がすことにより行われる(ステップS2
6)。なお、導電性接着樹脂層82は、金属ベース材8
1とともに被溶解金属層83から分離されるようにする
べく、その被溶解金属層83側の表面所定部位に離型剤
を塗布してもよい。
【0096】金属ベース材81の剥離除去は、支持シー
ト80のエッジ部分における金属ベース材81と被溶解
金属層83との間の境界部に、剥離開始の切れ込みを入
れることによって容易に行うことができる。また、金属
ベース材81の剥離処理中、被溶解金属層83は接着材
料層53によって支持されているので、金属ベース材8
1と被溶解金属層83との分離除去を適正に行うことが
できる。
【0097】一方、被溶解金属層83を溶解除去する工
程では、被溶解金属層83は溶解させるが層間接続部6
2は溶解させないエッチング液を用いて、被溶解金属層
83のみを選択的に除去する(図12H、ステップS2
7)。これにより、接着材料層53に対して支持シート
80が適正に除去される。
【0098】本実施の形態では、層間接続部62を銅、
被溶解金属層83をクロムで形成しているので、例え
ば、塩酸系のエッチング液を用いることによって、層間
接続部62を残して被溶解金属層83のみを溶解除去す
ることができる。
【0099】第2配線基板52は、支持シート80が除
去された接着材料層53を介して第1配線基板51の所
定領域上へ積層される(図12I,J、ステップS2
8)。第1配線基板51と第2配線基板52との間の接
着作用は、所定の加熱、加圧操作で接着材料層53を熱
硬化させることによって得られる。
【0100】ここで、第2配線基板52を構成する絶縁
基材64は、比較的リジッド性あるいは自己支持性の強
い材料で構成されているので、第1配線基板51に対す
る積層時、導体ランド部65Bおよび接着材料層53の
層間接続部62の寸法のバラツキを抑制できる。
【0101】以上のようにして、本実施の形態の多層配
線基板50が製造される。本実施の形態によれば、第1
配線基板51と第2配線基板52とを各々独立に作製し
ておき、最終的には、接着材料層53によって両者を一
体化するようにしているので、ひとつの工程不良によっ
て多層配線基板全体が不良化するということをなくし、
良品だけの利用によるコスト削減と、並列プロセス化に
よるタクトタイムの短縮が図られる。
【0102】加えて、第1配線基板51と第2配線基板
52との間の材料選定上からの制約を解消することがで
き、これにより生産コストの更なる削減を図ることがで
きると同時に、回路特性にマッチした基板材料を選定し
てセットの高機能化に貢献することができる。
【0103】特に、本実施の形態では、第2配線基板5
2を所定サイズの個片に切り出して第1配線基板51上
の必要とされる領域にのみ部分的に積層するようにして
いるので、基板材料コストを更に一層低減し、また、第
2配線基板52の取数増によって基板製造コストの大幅
な低減を図ることができる。
【0104】一方、本実施の形態では、第2配線基板5
2および接着材料層53が、第1配線基板51への積層
の直前まで金属製の支持シート80によって支持される
ようにしている。支持シート80は、従来の樹脂フィル
ムで構成される転写シート7(図15参照)に比べて強
度が高いので、接着材料層53の形成および第2配線基
板52の仮付けに際して要求される支持シート80のハ
ンドリング時において、形成した接着材料層53の高い
寸法安定性を確保し、第2配線基板52との間の高精度
な位置合わせを実現することができる。
【0105】さらに、支持シート80を、金属ベース材
81と、この金属ベース材81に対して分離可能に積層
される被溶解金属層83とを含む構成とし、支持シート
80の除去を、金属ベース材81を被溶解金属層83か
ら分離除去する工程と、被溶解金属層83を溶解除去す
る工程とで構成したので、支持シート80の除去が適正
かつ容易となり、これにより、導体パターンの形成を高
精度に行うことができるとともに、生産性の向上が図ら
れる。
【0106】以上、本発明の各実施の形態について説明
したが、勿論、本発明はこれらに限定されることなく、
本発明の技術的思想に基づいて種々の変形が可能であ
る。
【0107】例えば以上の各実施の形態では、支持シー
ト40,80として、図4Aおよび図10Aに示したよ
うに、金属ベース材41,81と被溶解金属層43,8
3との間に導電性接着樹脂層42,82を介在させて、
金属ベース材41,81と被溶解金属層43,83とを
互いに分離可能に構成したが、支持シート40,80の
構成はこれに限らず、金属ベース材と被溶解金属層とを
互いに分離できる構成であれば、何れの構成であっても
よい。
【0108】例えば、図14Aにその断面構造を示す支
持シート101は、銅でなる金属ベース材102と、ニ
ッケルめっきでなる被溶解金属層104との間に、クロ
ムめっきでなる中間層103を介在させ、被溶解金属層
(Ni)104と中間層(Cr)103とをめっき応力差を利用
して界面で剥離するように構成されている。金属ベース
材102および中間層103の除去後における被溶解金
属層(Ni)104の溶解除去工程では、これと一体化され
ている導体部(層間接続部32、導体ランド部65A)
が銅である場合、例えば硫酸化過酸化水素水系エッチン
グ液を用いればよい。
【0109】また、図14Aにおいて、中間層103を
クロムめっきで、被溶解金属層104をニッケル−コバ
ルト合金めっきでそれぞれ形成すれば、各層103,1
04をその界面において容易に分離させることができ
る。この場合、被溶解金属層(Ni/Co)104の溶解除去
工程では、これと一体化されている導体部(層間接続部
32、導体ランド部65A)が銅である場合、例えば硫
酸化過酸化水素水をベースにしたソフトエッチング剤が
適用可能である。
【0110】また、以上の各実施の形態では、支持シー
ト40,80の除去を、金属ベース材41,81の分離
除去工程と、被溶解金属層43,83の溶解除去工程と
で構成した例について説明したが、これに代えて、支持
シート全体を溶解除去するようにしてもよい。この場
合、支持シートを同種金属で構成する場合はもちろん、
異種金属の積層体で構成してもよい。特に、後者の場合
は、異なるエッチング液を用いて各金属層を選択エッチ
ングすればよい。
【0111】例えば図14Bは、互いに異なる第1,第
2の金属層112,114からなる支持シート111の
構成を示している。ここで、第1の金属層112を銅、
第2の金属層114をニッケルとした場合、アルカリエ
ッチャントを用いれば第1の金属層(Cu)112のみをエ
ッチングすることができる。同様に、第1の金属層11
12を銅、第2の金属層114をアルミニウムとした場
合、エッチング液として硫酸温水を用いれば第1の金属
層(Cu)112のみをエッチングすることができる。その
他、第1,第2の金属層112,114の組み合わせ例
としては、ニッケルと金、銅とクロムなどがある。
【0112】また、これら異種金属の組み合わせ例は、
被溶解金属層43,83の構成金属と、導体パターン
(層間接続部32、導体ランド部65A)の構成金属と
の間の組み合わせ例としても、適用することができる。
【0113】さらに、支持シートを金属ベース材と被溶
解金属層の2層で構成し、これら各層を各層の熱膨張率
の差によって分離するようにしてもよい。または、図1
4Cに示す支持シート121のように、金属ベース材1
22と被溶解金属層124との間に熱発泡層123を介
在させ、所定温度への加熱処理により熱発泡層123を
発泡させて、金属ベース材122と被溶解金属層124
とを分離させるようにしてもよい。
【0114】一方、以上の各実施の形態では、支持シー
ト40,80の金属ベース材41,81を銅で構成した
が、これに限らない。すなわち、支持する配線基板の形
成プロセス条件や積層条件等に応じて要求される機械的
強度や熱膨張係数等を満足させる材料であれば、いかな
るものでも適用可能である。
【0115】また、接着材料層23,53の層間接続部
32,62を電気めっき層で構成したが、これに代え
て、例えばはんだ等の導電性微粒子を貫通孔31A,8
6内に充填することによって層間接続部を形成するよう
にしてもよい。
【0116】さらに、以上の各実施の形態では第1,第
2の2枚の配線基板を積層する例について説明したが、
勿論、これに限らず、第1〜第nのn枚の配線基板を積
層して多層化する場合についても、本発明は適用可能で
ある。
【0117】
【発明の効果】以上述べたように、本発明の多層配線基
板の製造方法によれば、第1,第2の配線基板が異種の
材料で構成されている場合にも接着材料層を介して互い
に積層することができるので、材料選定面からのプロセ
ス上の制約を解消することができる。
【0118】また、第2配線基板を第1配線基板の所定
領域上に積層するようにしているので、第2配線基板を
第1配線基板よりも面積的に小さく形成でき、これによ
り材料コストの低減を図ることができる。
【0119】さらに、第2配線基板を支持する支持シー
トが金属製であるので、ファインピッチに形成された第
2導体パターンおよび層間接続部の寸法安定性を確保し
て、第1配線基板上へ適正に積層することができる。
【0120】一方、本発明の多層配線基板によれば、第
2配線基板を第1配線基板よりも面積的に小さく形成す
ることができるので、第2配線基板を第1配線基板の全
面に形成する場合に比べて第2配線基板の構成材料の使
用量を低減し、材料コストの低減を図ることができる。
また、多層配線基板全体の軽量化も図れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態による多層配線基板
の要部の構成を模式的に示す断面図である。
【図2】本発明の第1の実施の形態の多層配線基板にお
ける第1配線基板の製造方法の一例を説明する工程断面
図である。
【図3】本発明の第1の実施の形態の多層配線基板にお
ける第2配線基板の製造方法の一例を説明する工程断面
図である。
【図4】本発明の第1の実施の形態の多層配線基板の製
造方法を説明する工程断面図であり、Aは支持シートの
準備工程、Bは第2配線基板の形成工程、Cは接着材料
層の形成工程をそれぞれ示す。
【図5】本発明の第1の実施の形態の多層配線基板の製
造方法を説明する工程断面図であり、Dは層間接続部の
形成工程、Eはダイシング工程、Fは積層工程をそれぞ
れ示す。
【図6】本発明の第1の実施の形態の多層配線基板の製
造方法を説明する工程断面図であり、Gは積層工程、H
およびIは支持シートの除去工程を示している。
【図7】本発明の第1の実施の形態の多層配線基板の製
造方法を説明する工程フロー図である。
【図8】本発明の第2の実施の形態による多層配線基板
の要部の構成を模式的に示す断面図である。
【図9】本発明の第2の実施の形態の多層配線基板の第
2配線基板の製造方法の一例を示す工程断面図である。
【図10】本発明の第2の実施の形態の多層配線基板の
製造方法を説明する工程断面図であり、Aは支持シート
の準備工程、Bは接着材料層の形成工程、CおよびDは
層間接続部の形成工程をそれぞれ示す。
【図11】本発明の第2の実施の形態の多層配線基板の
製造方法を説明する工程断面図であり、Eは第2配線基
板の形成工程、Fはダイシング工程、Gは支持シートの
除去工程の一部をそれぞれ示す。
【図12】本発明の第2の実施の形態の多層配線基板の
製造方法を説明する工程断面図であり、Hは支持シート
の除去工程、IおよびJは積層工程をそれぞれ示す。
【図13】本発明の第2の実施の形態の多層配線基板の
製造方法を説明する工程フロー図である。
【図14】本発明に係る支持シートの構成の変形例を説
明するための支持シートの断面模式図である。
【図15】従来の多層配線基板の製造方法を説明する工
程断面図である。
【符号の説明】
20,50…多層配線基板、21,51…第1配線基
板、22,52…第2配線基板、23,53…接着材料
層、24,34,54,64…絶縁基材、25A,25
B,55A,55B…導体パターン(第1導体パター
ン)、31,61…層間絶縁層、32,62…層間接続
部、35A,35B,65A,65B…導体ランド部
(第2導体パターン)、37A,37B,67A,67
B…絶縁性材料、40,80…支持シート、41,81
…金属ベース材、42,82…導電性接着樹脂層、4
3,83…被溶解金属層。
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成15年6月11日(2003.6.1
1)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0027
【補正方法】変更
【補正内容】
【0027】絶縁基材24は、適用対象や用途等に応じ
てその構成材料が適宜選定され、例えば、ガラスエポキ
シ樹脂(ガラス繊維にエポキシ樹脂を含浸させたも
の)、ガラス繊維にポリイミド樹脂を含浸させたもの、
ガラス繊維にビスマレイミドトリアジン樹脂とエポキシ
樹脂との混合物(BTレジン(商品名))を含浸させた
もの、紙にフェノール樹脂を含浸させたもの等の有機系
材料で構成されているが、これ以外にも、アルミナやガ
ラス含有セラミックス、窒化アルミニウム等のセラミッ
ク系材料等で構成することも可能である。
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0073
【補正方法】変更
【補正内容】
【0073】絶縁基材54は、適用対象や用途等に応じ
てその構成材料が適宜選定され、例えば、ガラスエポキ
シ樹脂(ガラス繊維にエポキシ樹脂を含浸させたも
の)、ガラス繊維にポリイミド樹脂を含浸させたもの、
ガラス繊維にビスマレイミドトリアジン樹脂とエポキシ
樹脂との混合物(BTレジン(商品名))を含浸させた
もの、紙にフェノール樹脂を含浸させたもの等の有機系
材料で構成されているが、これ以外にも、アルミナやガ
ラス含有セラミックス、窒化アルミニウム等のセラミッ
ク系材料等で構成することも可能である。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0078
【補正方法】変更
【補正内容】
【0078】絶縁層としての絶縁基材64は、比較的リ
ジッド性あるいは自己支持性の強い材料、例えば、ガラ
スエポキシ樹脂(ガラス繊維にエポキシ樹脂を含浸させ
たもの)、ガラス繊維にポリイミド樹脂を含浸させたも
の、ガラス繊維にビスマレイミドトリアジン樹脂とエポ
キシ樹脂との混合物(BTレジン(商品名))を含浸さ
せたもの、紙にフェノール樹脂を含浸させたもの等の有
機系材料で構成される。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H05K 3/46 H05K 3/46 X H01L 23/12 3/22 B H05K 3/22 H01L 23/12 N (72)発明者 西谷 祐司 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内 (72)発明者 大類 研 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内 Fターム(参考) 5E343 AA02 AA07 AA12 BB02 BB17 BB23 BB24 BB44 BB67 BB71 DD43 DD75 DD80 ER49 GG08 5E346 AA06 AA12 AA15 AA16 AA22 AA35 AA43 BB01 BB16 CC08 CC32 CC33 CC38 CC41 CC54 CC60 DD02 DD03 DD22 DD33 EE02 EE06 EE07 EE12 EE33 EE41 FF07 FF08 FF35 FF36 FF45 GG15 GG17 GG19 GG28 GG32 HH11 HH32 HH33

Claims (23)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1導体パターンを有する第1配線基板
    と、第2導体パターンを有する第2配線基板とが互いに
    積層されてなる多層配線基板の製造方法であって、 金属製の支持シート上で前記第2配線基板を形成する工
    程と、 前記形成した第2配線基板上に接着材料層を形成する工
    程と、 前記接着材料層に対し、前記第2導体パターンと連絡す
    る層間接続部を形成する工程と、 前記第2配線基板を前記接着材料層を介して前記第1配
    線基板の所定領域上に積層し、前記層間接続部と前記第
    1導体パターンとを電気的に接続する工程と、 前記第2配線基板から前記支持シートを除去する工程と
    を有することを特徴とする多層配線基板の製造方法。
  2. 【請求項2】 前記支持シートの除去が、前記支持シー
    トの少なくとも一部を溶解除去する工程を含むことを特
    徴とする請求項1に記載の多層配線基板の製造方法。
  3. 【請求項3】 前記支持シートが、金属ベース材と、前
    記第2配線基板が形成されるとともに前記金属ベース材
    に対して分離可能に積層される被溶解金属層とを含んで
    なり、 前記支持シートを除去する工程が、前記金属ベース材を
    前記被溶解金属層から分離除去する工程と、前記第2導
    体パターンを含む前記第2配線基板に対して前記被溶解
    金属層のみを選択的に溶解除去する工程とでなることを
    特徴とする請求項1に記載の多層配線基板の製造方法。
  4. 【請求項4】 前記被溶解金属層と前記第2導体パター
    ンとが互いに異種の金属材料でなり、前記被溶解金属層
    を溶解除去する工程が、前記被溶解金属層は溶解させる
    が前記第2導体パターンは溶解させないエッチング液を
    用いて行われることを特徴とする請求項3に記載の多層
    配線基板の製造方法。
  5. 【請求項5】 前記接着材料層として感光性接着材料が
    用いられ、前記層間接続部が、前記感光性接着材料をめ
    っきレジストとして用いた電気めっき法によって形成さ
    れることを特徴とする請求項1に記載の多層配線基板の
    製造方法。
  6. 【請求項6】 前記第2配線基板と前記第1配線基板と
    を積層する工程の前に、前記第2配線基板を前記支持シ
    ートとともに所定形状の個片に切り出す工程を有するこ
    とを特徴とする請求項1に記載の多層配線基板の製造方
    法。
  7. 【請求項7】 前記第1配線基板の絶縁層と、前記第2
    配線基板の絶縁層とを互いに異種の材料で形成すること
    を特徴とする請求項1に記載の多層配線基板の製造方
    法。
  8. 【請求項8】 前記第1配線基板上に前記第2配線基板
    を積層する工程の前に、前記第1配線基板上の前記第1
    導体パターンが形成されない領域を絶縁性材料で被覆し
    て、前記第1配線基板上を平坦化する工程を有すること
    を特徴とする請求項1に記載の多層配線基板の製造方
    法。
  9. 【請求項9】 第1導体パターンを有する第1配線基板
    と、第2導体パターンを有する第2配線基板とが互いに
    積層されてなる多層配線基板の製造方法であって、 金属製の支持シート上に接着材料層を形成する工程と、 前記接着材料層に対し層間を連絡する導電性の層間接続
    部を形成する工程と、前記接着材料層の上に前記第2配
    線基板を積層し、前記層間接続部と前記第2導体パター
    ンとを電気的に接続する工程と、 前記接着材料層から前記支持シートを除去する工程と、 前記第2配線基板を、前記接着材料層を介して前記第1
    配線基板の所定領域上に積層し、前記層間接続部と前記
    第1導体パターンとを電気的に接続する工程とを有する
    ことを特徴とする多層配線基板の製造方法。
  10. 【請求項10】 前記支持シートの除去が、前記支持シ
    ートの少なくとも一部を溶解除去する工程を含むことを
    特徴とする請求項9に記載の多層配線基板の製造方法。
  11. 【請求項11】 前記支持シートが、金属ベース材と、
    前記接着材料層が形成されるとともに前記金属ベース材
    に対して分離可能に積層される被溶解金属層とを含んで
    なり、 前記支持シートを除去する工程が、前記金属ベース材を
    前記被溶解金属層から分離除去する工程と、前記層間接
    続部を含む前記接着材料層に対して前記被溶解金属層の
    みを選択的に溶解除去する工程とでなることを特徴とす
    る請求項9に記載の多層配線基板の製造方法。
  12. 【請求項12】 前記被溶解金属層と前記層間接続部と
    が互いに異種の金属材料でなり、前記被溶解金属層を溶
    解除去する工程が、前記被溶解金属層は溶解させるが前
    記層間接続部は溶解させないエッチング液を用いて行わ
    れることを特徴とする請求項11に記載の多層配線基板
    の製造方法。
  13. 【請求項13】 前記接着材料層として感光性接着材料
    が用いられ、前記層間接続部が、前記感光性接着材料を
    めっきレジストとして用いた電気めっき法によって形成
    されることを特徴とする請求項9に記載の多層配線基板
    の製造方法。
  14. 【請求項14】 前記第2配線基板と前記第1配線基板
    とを積層する工程の前に、前記第2配線基板を前記支持
    シートとともに所定形状の個片に切り出す工程を有する
    ことを特徴とする請求項9に記載の多層配線基板の製造
    方法。
  15. 【請求項15】 前記第1配線基板上に前記第2配線基
    板を積層する工程の前に、前記第1配線基板上の前記第
    1導体パターンが形成されない領域を絶縁性材料で被覆
    して、前記第1配線基板上を平坦化する工程を有するこ
    とを特徴とする請求項9に記載の多層配線基板の製造方
    法。
  16. 【請求項16】 第1配線基板と、前記第1配線基板に
    対して電気的に接続される第2配線基板とが互いに積層
    されてなる多層配線基板であって、 前記第2配線基板が、前記第1配線基板の所定領域上に
    部分的に積層されてなることを特徴とする多層配線基
    板。
  17. 【請求項17】 前記第1配線基板の絶縁層と前記第2
    配線基板の絶縁層とが、互いに異種の材料で形成されて
    いることを特徴とする請求項16に記載の多層配線基
    板。
  18. 【請求項18】 前記第1配線基板と前記第2配線基板
    との間に、前記第1配線基板と前記第2配線基板とを接
    着させる接着材料層を有することを特徴とする請求項1
    6に記載の多層配線基板。
  19. 【請求項19】 前記接着材料層が、 感光性接着剤からなる層間絶縁層と、 前記層間絶縁層に形成され、前記第1,第2配線基板の
    間を電気的に接続する層間接続部とからなることを特徴
    とする請求項18に記載の多層配線基板。
  20. 【請求項20】 前記層間接続部が、電気めっき層から
    なることを特徴とする請求項19に記載の多層配線基
    板。
  21. 【請求項21】 前記第2配線基板が、多層基板である
    ことを特徴とする請求項16に記載の多層配線基板。
  22. 【請求項22】 前記第2配線基板上に、半導体チップ
    が搭載されることを特徴とする請求項21に記載の多層
    配線基板。
  23. 【請求項23】 前記第2配線基板が積層される前記第
    1配線基板上が、導体パターンが形成されない領域に絶
    縁性材料の層が形成されて平坦化されていることを特徴
    とする請求項16に記載の多層配線基板。
JP2002099883A 2002-04-02 2002-04-02 多層配線基板の製造方法および多層配線基板 Pending JP2003298232A (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002099883A JP2003298232A (ja) 2002-04-02 2002-04-02 多層配線基板の製造方法および多層配線基板
US10/403,550 US7288724B2 (en) 2002-04-02 2003-03-31 Method of manufacturing multilayer wiring substrate, and multilayer wiring substrate
US11/063,131 US7421777B2 (en) 2002-04-02 2005-02-22 Method of manufacturing multilayer wiring substrate using temporary metal support layer
US11/644,143 US7420127B2 (en) 2002-04-02 2006-12-22 Method of manufacturing multilayer wiring substrate, and multilayer wiring substrate
US11/890,892 US20070293038A1 (en) 2002-04-02 2007-08-08 Method of manufacturing multilayer wiring substrate, and multilayer wiring substrate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002099883A JP2003298232A (ja) 2002-04-02 2002-04-02 多層配線基板の製造方法および多層配線基板

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003298232A true JP2003298232A (ja) 2003-10-17

Family

ID=29388262

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002099883A Pending JP2003298232A (ja) 2002-04-02 2002-04-02 多層配線基板の製造方法および多層配線基板

Country Status (2)

Country Link
US (4) US7288724B2 (ja)
JP (1) JP2003298232A (ja)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009010357A (ja) * 2007-05-29 2009-01-15 Panasonic Corp 立体プリント配線板とその製造方法
JP2010010181A (ja) * 2008-06-24 2010-01-14 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 薄膜形成方法
JP2011142162A (ja) * 2010-01-06 2011-07-21 Daikin Industries Ltd パワーモジュール、電力変換装置、及び冷凍装置
JP2013508970A (ja) * 2009-11-03 2013-03-07 インテル コーポレイション マイクロエレクトロニクス・パッケージ及びその製造方法
JP2013214578A (ja) * 2012-03-30 2013-10-17 Ibiden Co Ltd 配線板及びその製造方法
JP2014082334A (ja) * 2012-10-16 2014-05-08 Ibiden Co Ltd 配線板及びその製造方法
JP2016004994A (ja) * 2014-06-16 2016-01-12 恆勁科技股▲ふん▼有限公司 パッケージ装置及びその製造方法
JP2016201529A (ja) * 2015-04-07 2016-12-01 サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. 印刷回路基板、その製造方法、及び電子部品モジュール
KR20180113897A (ko) * 2017-04-07 2018-10-17 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드 실리콘 기판이 없는 인터포저를 구비한 패키지와 그 형성 방법
KR20190032147A (ko) * 2017-09-18 2019-03-27 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드 무 Si 기판 인터포저를 갖는 패키지 및 그 형성 방법
WO2020017881A1 (ko) * 2018-07-19 2020-01-23 스템코 주식회사 다층 회로 기판 및 그 제조 방법
US10748841B2 (en) 2017-04-10 2020-08-18 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Co., Ltd. Packages with Si-substrate-free interposer and method forming same
US11769718B2 (en) 2017-04-10 2023-09-26 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Packages with Si-substrate-free interposer and method forming same

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4596846B2 (ja) * 2004-07-29 2010-12-15 三洋電機株式会社 回路装置の製造方法
KR100632554B1 (ko) * 2004-12-30 2006-10-11 삼성전기주식회사 커패시터 내장형 인쇄회로기판 및 그 제조방법
US7345370B2 (en) * 2005-01-12 2008-03-18 International Business Machines Corporation Wiring patterns formed by selective metal plating
US20070113950A1 (en) * 2005-11-22 2007-05-24 International Business Machines Corporation Method and apparatus for providing uniaxial load distribution for laminate layers of multilayer ceramic chip carriers
JP4621595B2 (ja) * 2006-01-11 2011-01-26 株式会社東芝 半導体装置の製造方法
TWI393511B (zh) * 2007-05-29 2013-04-11 Panasonic Corp Dimensional printed wiring board and manufacturing method thereof
US8040685B2 (en) * 2007-07-17 2011-10-18 Ibiden Co., Ltd. Stacked wiring board and method of manufacturing stacked wiring board
WO2009050829A1 (ja) * 2007-10-18 2009-04-23 Ibiden Co., Ltd. 配線基板及びその製造方法
KR101055473B1 (ko) * 2009-12-15 2011-08-08 삼성전기주식회사 기판 제조용 캐리어 부재 및 이를 이용한 기판의 제조방법
US20130044448A1 (en) * 2011-08-18 2013-02-21 Biotronik Se & Co. Kg Method for Mounting a Component to an Electric Circuit Board, Electric Circuit Board and Electric Circuit Board Arrangement
CN103298247A (zh) * 2012-02-24 2013-09-11 宏恒胜电子科技(淮安)有限公司 电路板及其制作方法
TWI451826B (zh) * 2012-05-28 2014-09-01 Zhen Ding Technology Co Ltd 多層電路板及其製作方法
US9915869B1 (en) * 2014-07-01 2018-03-13 Xilinx, Inc. Single mask set used for interposer fabrication of multiple products
US11088310B2 (en) 2019-04-29 2021-08-10 International Business Machines Corporation Through-silicon-via fabrication in planar quantum devices
TWI808716B (zh) * 2022-04-08 2023-07-11 欣興電子股份有限公司 具有對接結構的電路板、電路板模組及電路板製造方法

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0268992A (ja) * 1988-09-02 1990-03-08 Nec Corp 多層配線基板
US5298685A (en) * 1990-10-30 1994-03-29 International Business Machines Corporation Interconnection method and structure for organic circuit boards
JP2966972B2 (ja) * 1991-07-05 1999-10-25 株式会社日立製作所 半導体チップキャリアとそれを実装したモジュール及びそれを組み込んだ電子機器
US5165984A (en) * 1991-07-30 1992-11-24 At&T Bell Laboratories Stepped multilayer interconnection apparatus and method of making the same
US5231751A (en) 1991-10-29 1993-08-03 International Business Machines Corporation Process for thin film interconnect
EP0604893B1 (en) * 1992-12-26 2002-05-02 Canon Kabushiki Kaisha Liquid crystal apparatus
US5428190A (en) * 1993-07-02 1995-06-27 Sheldahl, Inc. Rigid-flex board with anisotropic interconnect and method of manufacture
JP2581431B2 (ja) 1993-12-28 1997-02-12 日本電気株式会社 多層配線基板の製造方法
JPH0977937A (ja) * 1995-09-12 1997-03-25 Idemitsu Petrochem Co Ltd プリント配線板用プリプレグ及びプリント配線用基板
JP3003922B2 (ja) 1995-11-09 2000-01-31 住友ベークライト株式会社 4層プリント配線板
JP2770820B2 (ja) * 1996-07-01 1998-07-02 日本電気株式会社 半導体装置の実装構造
JPH10107445A (ja) 1996-09-26 1998-04-24 Kyocera Corp 多層配線基板およびその製造方法
US6525414B2 (en) * 1997-09-16 2003-02-25 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Semiconductor device including a wiring board and semiconductor elements mounted thereon
US6140707A (en) * 1998-05-07 2000-10-31 3M Innovative Properties Co. Laminated integrated circuit package
US6239485B1 (en) * 1998-11-13 2001-05-29 Fujitsu Limited Reduced cross-talk noise high density signal interposer with power and ground wrap
JP3860380B2 (ja) 1999-04-06 2006-12-20 富士通株式会社 配線基板及びこれを使用したチップモジュール
JP2000331538A (ja) * 1999-05-17 2000-11-30 Nitto Denko Corp 異方導電性フィルムおよびその製造方法
JP2001077501A (ja) * 1999-09-03 2001-03-23 Seiko Epson Corp フレキシブル配線基板、電気光学装置および電子機器
JP2001237512A (ja) * 1999-12-14 2001-08-31 Nitto Denko Corp 両面回路基板およびこれを用いた多層配線基板ならびに両面回路基板の製造方法
JP2001237549A (ja) 2000-02-25 2001-08-31 Matsushita Electric Ind Co Ltd 多層配線基板およびその製造方法
JP2001267747A (ja) * 2000-03-22 2001-09-28 Nitto Denko Corp 多層回路基板の製造方法
DE10295940B4 (de) * 2001-01-31 2013-04-04 Sony Corp. Verfahren zur Herstellung einer Halbleitereinrichtung mit einem plattenförmigen Schaltungsblock

Cited By (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009010357A (ja) * 2007-05-29 2009-01-15 Panasonic Corp 立体プリント配線板とその製造方法
JP2010010181A (ja) * 2008-06-24 2010-01-14 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 薄膜形成方法
JP2013508970A (ja) * 2009-11-03 2013-03-07 インテル コーポレイション マイクロエレクトロニクス・パッケージ及びその製造方法
JP2011142162A (ja) * 2010-01-06 2011-07-21 Daikin Industries Ltd パワーモジュール、電力変換装置、及び冷凍装置
JP2013214578A (ja) * 2012-03-30 2013-10-17 Ibiden Co Ltd 配線板及びその製造方法
JP2014082334A (ja) * 2012-10-16 2014-05-08 Ibiden Co Ltd 配線板及びその製造方法
JP2016004994A (ja) * 2014-06-16 2016-01-12 恆勁科技股▲ふん▼有限公司 パッケージ装置及びその製造方法
JP2016201529A (ja) * 2015-04-07 2016-12-01 サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. 印刷回路基板、その製造方法、及び電子部品モジュール
KR102026537B1 (ko) * 2017-04-07 2019-09-27 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드 실리콘 기판이 없는 인터포저를 구비한 패키지와 그 형성 방법
KR20180113897A (ko) * 2017-04-07 2018-10-17 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드 실리콘 기판이 없는 인터포저를 구비한 패키지와 그 형성 방법
US11610858B2 (en) 2017-04-07 2023-03-21 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Packages with Si-substrate-free interposer and method forming same
US10854568B2 (en) 2017-04-07 2020-12-01 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Packages with Si-substrate-free interposer and method forming same
US11469166B2 (en) 2017-04-10 2022-10-11 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Packages with Si-substrate-free interposer and method forming same
US10748841B2 (en) 2017-04-10 2020-08-18 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Co., Ltd. Packages with Si-substrate-free interposer and method forming same
US11769718B2 (en) 2017-04-10 2023-09-26 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Packages with Si-substrate-free interposer and method forming same
US10381298B2 (en) 2017-09-18 2019-08-13 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Packages with Si-substrate-free interposer and method forming same
US10685910B2 (en) 2017-09-18 2020-06-16 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Packages with Si-substrate-free interposer and method forming same
KR102112640B1 (ko) * 2017-09-18 2020-05-19 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드 무 Si 기판 인터포저를 갖는 패키지 및 그 형성 방법
US10971443B2 (en) 2017-09-18 2021-04-06 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Packages with Si-substrate-free interposer and method forming same
KR20190032147A (ko) * 2017-09-18 2019-03-27 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드 무 Si 기판 인터포저를 갖는 패키지 및 그 형성 방법
US11527465B2 (en) 2017-09-18 2022-12-13 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Packages with Si-substrate-free interposer and method forming same
US10290571B2 (en) 2017-09-18 2019-05-14 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Packages with si-substrate-free interposer and method forming same
KR102173615B1 (ko) * 2018-07-19 2020-11-03 스템코 주식회사 다층 회로 기판 및 그 제조 방법
WO2020017881A1 (ko) * 2018-07-19 2020-01-23 스템코 주식회사 다층 회로 기판 및 그 제조 방법
KR20200009473A (ko) * 2018-07-19 2020-01-30 스템코 주식회사 다층 회로 기판 및 그 제조 방법
US11956904B2 (en) 2018-07-19 2024-04-09 Stemco Co., Ltd. Multilayer circuit board and manufacturing method therefor

Also Published As

Publication number Publication date
US7421777B2 (en) 2008-09-09
US7420127B2 (en) 2008-09-02
US20070102191A1 (en) 2007-05-10
US20050142852A1 (en) 2005-06-30
US20040003494A1 (en) 2004-01-08
US20070293038A1 (en) 2007-12-20
US7288724B2 (en) 2007-10-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2003298232A (ja) 多層配線基板の製造方法および多層配線基板
KR101375998B1 (ko) 다층 배선기판의 제조방법 및 다층 배선기판
US6192581B1 (en) Method of making printed circuit board
KR101329896B1 (ko) 다층 배선기판 및 그 제조방법
KR101281410B1 (ko) 다층 배선기판
JP4538486B2 (ja) 多層基板およびその製造方法
JPH0716094B2 (ja) 配線板の製造法
US20120210576A1 (en) Printed circuit board and method of manufacturing the same
US8677618B2 (en) Method of manufacturing substrate using a carrier
JP2007081157A (ja) 多層配線基板及びその製造方法
JPH07283538A (ja) 多層プリント配線板の製造方法
US20120011716A1 (en) Method of manufacturing printed circuit board including outmost fine circuit pattern
JP2005236067A (ja) 配線基板と配線基板の製造方法、および半導パッケージ
KR101044787B1 (ko) 인쇄회로기판 제조방법
JP2006245213A (ja) 配線基板の製造方法
JP3608559B2 (ja) 素子内蔵基板の製造方法
JP3874669B2 (ja) 配線基板の製造方法
JP3948105B2 (ja) 多層配線回路基板の製造方法
JP2004193295A (ja) 多層配線基板およびその製造方法
EP1631134B1 (en) Multilayer circuit board and method of producing the same
JP2005244140A (ja) 配線基板の製造方法
JP2004153123A (ja) 配線基板及びその製造方法
US20230135774A1 (en) Interconnect substrate, method of manufacturing the same, and semiconductor apparatus
JP3913632B2 (ja) ビルドアップ多層プリント配線板の製造方法
JP2004214273A (ja) 片面積層配線基板の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20060220

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060228

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060425

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061121

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20070326