JP2003096313A - 重合体コンポジット - Google Patents
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- 229920000642 polymer Polymers 0.000 title claims abstract description 49
- 239000002131 composite material Substances 0.000 title claims abstract description 33
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 33
- 239000002041 carbon nanotube Substances 0.000 claims abstract description 28
- 229910021393 carbon nanotube Inorganic materials 0.000 claims abstract description 27
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 18
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 14
- 229920000547 conjugated polymer Polymers 0.000 claims description 16
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 9
- 239000002048 multi walled nanotube Substances 0.000 claims description 7
- 239000002109 single walled nanotube Substances 0.000 claims description 6
- 239000002356 single layer Substances 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 25
- 239000010408 film Substances 0.000 description 14
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 12
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 12
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 9
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 8
- 229920000553 poly(phenylenevinylene) Polymers 0.000 description 8
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylformamide Chemical compound CN(C)C=O ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 6
- -1 crystalline silicon Chemical class 0.000 description 6
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 5
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000003197 catalytic effect Effects 0.000 description 4
- 239000013067 intermediate product Substances 0.000 description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 4
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 4
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 4
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 3
- 229920005603 alternating copolymer Polymers 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 3
- 125000005678 ethenylene group Chemical group [H]C([*:1])=C([H])[*:2] 0.000 description 3
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 3
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 3
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 3
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QIGBRXMKCJKVMJ-UHFFFAOYSA-N Hydroquinone Chemical compound OC1=CC=C(O)C=C1 QIGBRXMKCJKVMJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007239 Wittig reaction Methods 0.000 description 2
- 238000001241 arc-discharge method Methods 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 2
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 2
- 229910021389 graphene Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 2
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920002521 macromolecule Polymers 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000746 purification Methods 0.000 description 2
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010189 synthetic method Methods 0.000 description 2
- 238000009210 therapy by ultrasound Methods 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- RIOQSEWOXXDEQQ-UHFFFAOYSA-N triphenylphosphine Chemical compound C1=CC=CC=C1P(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 RIOQSEWOXXDEQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- GRJWOKACBGZOKT-UHFFFAOYSA-N 1,3-bis(chloromethyl)benzene Chemical compound ClCC1=CC=CC(CCl)=C1 GRJWOKACBGZOKT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001989 1,3-phenylene group Chemical group [H]C1=C([H])C([*:1])=C([H])C([*:2])=C1[H] 0.000 description 1
- VMKOFRJSULQZRM-UHFFFAOYSA-N 1-bromooctane Chemical compound CCCCCCCCBr VMKOFRJSULQZRM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KMHSUNDEGHRBNV-UHFFFAOYSA-N 2,4-dichloropyrimidine-5-carbonitrile Chemical compound ClC1=NC=C(C#N)C(Cl)=N1 KMHSUNDEGHRBNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-M Bromide Chemical compound [Br-] CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- XMWRBQBLMFGWIX-UHFFFAOYSA-N C60 fullerene Chemical class C12=C3C(C4=C56)=C7C8=C5C5=C9C%10=C6C6=C4C1=C1C4=C6C6=C%10C%10=C9C9=C%11C5=C8C5=C8C7=C3C3=C7C2=C1C1=C2C4=C6C4=C%10C6=C9C9=C%11C5=C5C8=C3C3=C7C1=C1C2=C4C6=C2C9=C5C3=C12 XMWRBQBLMFGWIX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N Dihydrogen sulfide Chemical class S RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004566 IR spectroscopy Methods 0.000 description 1
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N O-Xylene Chemical compound CC1=CC=CC=C1C CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002033 PVDF binder Substances 0.000 description 1
- 229930040373 Paraformaldehyde Natural products 0.000 description 1
- MNZMECMQTYGSOI-UHFFFAOYSA-N acetic acid;hydron;bromide Chemical compound Br.CC(O)=O MNZMECMQTYGSOI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 238000010306 acid treatment Methods 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910003481 amorphous carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010407 anodic oxide Substances 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- IZALUMVGBVKPJD-UHFFFAOYSA-N benzene-1,3-dicarbaldehyde Chemical compound O=CC1=CC=CC(C=O)=C1 IZALUMVGBVKPJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000006227 byproduct Substances 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001722 carbon compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000006482 condensation reaction Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 238000006704 dehydrohalogenation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 239000012153 distilled water Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910003472 fullerene Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002484 inorganic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000000608 laser ablation Methods 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- AZVCGYPLLBEUNV-UHFFFAOYSA-N lithium;ethanolate Chemical compound [Li+].CC[O-] AZVCGYPLLBEUNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- 239000012046 mixed solvent Substances 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- XURVRZSODRHRNK-UHFFFAOYSA-N o-quinodimethane Chemical group C=C1C=CC=CC1=C XURVRZSODRHRNK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NRNFFDZCBYOZJY-UHFFFAOYSA-N p-quinodimethane Chemical group C=C1C=CC(=C)C=C1 NRNFFDZCBYOZJY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002866 paraformaldehyde Polymers 0.000 description 1
- 125000000843 phenylene group Chemical group C1(=C(C=CC=C1)*)* 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 1
- 229920000058 polyacrylate Polymers 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 238000001955 polymer synthesis method Methods 0.000 description 1
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 1
- 229920002981 polyvinylidene fluoride Polymers 0.000 description 1
- 229910021426 porous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000001894 space-charge-limited current method Methods 0.000 description 1
- 238000001308 synthesis method Methods 0.000 description 1
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 1
- KUCOHFSKRZZVRO-UHFFFAOYSA-N terephthalaldehyde Chemical compound O=CC1=CC=C(C=O)C=C1 KUCOHFSKRZZVRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YOUIDGQAIILFBW-UHFFFAOYSA-J tetrachlorotungsten Chemical compound Cl[W](Cl)(Cl)Cl YOUIDGQAIILFBW-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- CRHIAMBJMSSNNM-UHFFFAOYSA-N tetraphenylstannane Chemical compound C1=CC=CC=C1[Sn](C=1C=CC=CC=1)(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 CRHIAMBJMSSNNM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KKKCMYAPKHMSQQ-UHFFFAOYSA-L triphenyl-[[3-(triphenylphosphaniumylmethyl)phenyl]methyl]phosphanium;dichloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].C=1C=CC=CC=1[P+](C=1C=CC=CC=1)(C=1C=CC=CC=1)CC(C=1)=CC=CC=1C[P+](C=1C=CC=CC=1)(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 KKKCMYAPKHMSQQ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- KPGXUAIFQMJJFB-UHFFFAOYSA-H tungsten hexachloride Chemical compound Cl[W](Cl)(Cl)(Cl)(Cl)Cl KPGXUAIFQMJJFB-UHFFFAOYSA-H 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000008096 xylene Substances 0.000 description 1
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 1
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
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Abstract
ア移動度の高い高分子を工業的に供給する。 【解決手段】単層カーボンナノチューブおよび/または
多層カーボンナノチューブと重合体とからなり、該カー
ボンナノチューブの重量分率が重合体に対し0.1%以
上7%以下である重合体コンポジット。
Description
ーブと重合体からなる重合体コンポジット、および該重
合体コンポジットを半導体素材として用いた薄膜トラン
ジスタ素子に関する。
から従来のシリコンや化合物半導体に替わる素材として
注目されている。このような高分子が半導体素材として
使用できれば、素材の安価さ、素子製造プロセスの大幅
な削減が期待される。しかし、共役系高分子はキャリア
の移動度が遅いために半導体素材として使用されておら
ず、従来、結晶のシリコン、ガリウムヒ素、非晶性シリ
コンなどの無機化合物が使用されている。
にその素材が有するキャリア(電子、正孔)に高い移動
度が要求されるが、共役系高分子では従来の無機結晶半
導体や非晶質シリコンと比べて移動度が低いという欠点
がある。これは高分子の非晶領域や高分子鎖間でのキャ
リアの散乱やトラップによるキャリアの捕捉によるもの
と考えられる。このため、共役系高分子を用いた電界効
果型トランジスタ(Field Effect Transistor、以下F
ETと略す)などの半導体素子では応答時間や出力電流
が十分でないという課題がある。
電極間に流れる電流が飽和する領域の電流Is(飽和電
流と呼ぶ)は次式 Is =(μCW/2D)(Vg−Vth)2 (1) で表される。
D、Wはそれぞれソース電極とドレイン電極間の距離、
電極幅である。Vgはゲート電圧、Vthは飽和電流が流
れ始めるゲート電圧である。式(1)からわかるように
FETの飽和電流を上げるには半導体素材の移動度μを
高めることが不可欠である。本発明は半導体素材のキャ
リアの移動度μを高めることを目的とするものである。
発明は下記の構成からなる。 (1)単層カーボンナノチューブおよび/または多層カ
ーボンナノチューブと重合体とからなり、該カーボンナ
ノチューブの重量分率が0.1%以上7%以下である重
合体コンポジット。 (2)重合体が共役系高分子からなる上記(1)の重合
体コンポジット。 (3)共役系高分子が螺旋構造を持つ高分子である上記
(2)の重合体コンポジット。 (4)上記(1)〜(3)のいずれかの重合体コンポジ
ットを半導体として用いた薄膜トランジスタ素子。
度を高める方法について鋭意検討した結果、本発明に到
った。以下、本発明について詳述する。
気相成長法(CVD法)、レーザー・アブレーション法
等によって作製されるが、いずれの方法も本発明に使用
される。カーボンナノチューブには1枚の炭素膜(グラ
ッフェン・シート)が円筒筒状に巻かれた単層カーボン
ナノチューブ(SCTN)と、複数のグラッフェン・シ
ートが同心円状に巻かれた複層カーボンナノチューブ
(MWCNT)とがあるが、本発明にはSWCNT、M
WCNTのいずれも使用される。上記の方法でSWCN
TやMWCNTを作製する際には、同時にフラーレンや
グラファイト、非晶性炭素が副生産物として生成され、
またニッケル、鉄、コバルト、イットリウムなどの触媒
金属も残存するので、これらの不純物を精製する必要が
ある。また、CNTは紐状に形成されるので、コンポジ
ットのフィラーとして供するためには、短繊維状にカッ
トすることが必要である。以上の不純物の精製や短繊維
へのカットには、硝酸、硫酸などによる酸処理とともに
超音波処理が有効であり、またフィルターによる分離を
併用することは純度を向上させる上でさらに好ましい。
本発明で用いられるCNTの直径は特に限定されない
が、1nm以上、100nm以下、より好ましくは50
nm以下が良好に使用される。
らかじめ短繊維状に作製したCNTも本発明により好ま
しく使用される。このような短繊維状CNTは基板上に
鉄、コバルトなどの触媒金属を形成し、その表面にCV
D法により700〜900#Cで炭素化合物を熱分解し
てCNTを気相成長させることによって基板表面に垂直
方向に配向した形状で得られる。このようにして作製さ
れた短繊維状CNTは基板から剥ぎ取るなどの方法で取
り出すことができる。また、短繊維状CNTはポーラス
シリコンのようなポーラスな支持体や、アルミナの陽極
酸化膜上に触媒金属を担持させ、その表面にCNTをC
VD法にて成長させることもできる。触媒金属を分子内
に含む鉄フタロシアニンのような分子を原料とし、アル
ゴン/水素のガス流中でCVDを行うことによって基板
上にCNTを作製する方法でも配向した短繊維状のCN
Tを作製することもできる。さらには、SiC単結晶表
面にエピタキシャル成長法によって配向した短繊維状C
NTを得ることもできる。
定されるものではない。具体的にはエポキシ系高分子、
ポリメチルメタアクリレートに代表されるアクリル系高
分子、ポリフッ化ビニリデンに代表されるフッ素系高分
子、ポリイミド系高分子などが挙げられる。またなかで
も共役系高分子が好ましく用いられる。特に重合体の分
子構造が螺旋構造を持つ共役系高分子が好ましく使用さ
れる。これらの共役系高分子としては、例えばポリフェ
ニレンビニレン(PPV)誘導体、ポリチエニレンビニ
レン(PTV)誘導体、ポリフェニルアセチレンなどが
挙げられる。
ッヒ反応法、脱ハロゲン化水素法、またはスルホニウム
塩分解法などの合成方法を経由して得ることができる。
何れの方法もキシリレンジハライドをスタート原料と
し、縮合反応によって重合させ、不必要となった置換基
を脱離することによって該誘導体を得る。一方、主鎖の
並び方としてフェニレンの置換基の位置が、p−位、m
−位、o−位のものを選ぶことができるが、目的に会わ
せて出発原料のキシリレンハライドの種類を、p−キシ
リレンジハライド、m−キシリレンジハライド、o−キ
シリレンジハライドに変えて所望の置換基の位置のもの
を選択する。
m−位が交互に連なったPPVの交互共重合体によって
得ることができる。例えば、PPVの交互共重合体の合
成にはビニレン基がm−位にあるm−キシリレンジクロ
ライドを出発原料として用いられる。ビニレン基の構造
にはシス体とトランス体のものがあり、合成方法によっ
てシス体とトランス体の生成割合が異なってくるので、
所望の構造を得るために最適な合成方法を選ぶ必要があ
る。好ましくはトランス体を多く得るためにウィティッ
ヒ反応法を用いて合成される。この出発原料から中間生
成物のm−キシリレン−ビス−(トリフェニルホスホニ
ウムクロライド)を合成し、次いでこの中間生成物と、
テレフタルアルデヒドを溶媒に溶解させることによりp
−フェニレンビニレンとm−フェニレンビニレンからな
る交互共重合体PPVが作製される。ポリフェニルアセ
チレンはトルエン溶媒中で触媒(6塩化タングステン/
テトラフェニル錫)を用いて合成される。
ーボンナノチューブを適当な溶媒に混合して、コンポジ
ット溶液を調製し、本発明の重合体コンポジットを得る
ことができる。用いる溶媒としてはメタノール、トルエ
ン、キシレンなど共役系高分子またはその中間体が可溶
なものであれば好ましく使用される。このようにして得
られた溶液に、好ましくは超音波洗浄機で超音波を約2
0時間照射し、1日程度放置してスピナー塗布用の塗液
を得ることができる。
されるカーボンナノチューブの量は、共役系高分子に対
しカーボンナノチューブを重量分率で0.1%以上7%
以下の範囲、より好ましくは0.1%以上3%以下で混
合することが重要である。この範囲の添加によって移動
度が大きく増大させることができる。すなわち、高分子
間または結晶子などドメインの間をキャリアが移動する
に際し、高分子間やドメイン間の構造の乱れによってキ
ャリアがトラップされたり、散乱されるため、外部に観
測される移動度は本来高分子が有する移動度より大きく
低下している、一方、カーボンナノチューブを適度に含
む重合体では、高分子間やドメイン間を移動度の高いカ
ーボンナノチューブが橋渡しするため、高移動度が得ら
れると考えられる。
ブを混合すると、カーボンナノチューブ間の接触する割
合がふえ、重合体の導電性が急激に増加して金属状態に
近づくので半導体として利用することができない。一
方、0.1%より少ないと橋渡しする確率が少ないため
移動度を向上させる効果が少ない。従って本発明では共
役系高分子に対するカーボンナノチューブの量は重量分
率で0.1%以上7%以下、とくに0.1%以上3%以
下の範囲が好ましい。
膜トランジスタの製造方法をFETを例にして説明す
る。先ず、n++シリコンウェーハーをゲート電極基板と
し、該ウエーハー上に形成されたSiO2膜を誘電体層
として使用する。次にSiO2膜上にソース電極とドレ
イン電極と形成するため、先ず薄いチタンの薄層、続い
て金の膜をスパッタリング法で形成する。ソース電極と
ドレイン電極のパターニングはリソグラフィー法によっ
て行われる。あるいは、マスクを使用してスパッタリン
グにより電極パターンを直接形成することも可能であ
る。ソース電極とドレイン電極との間の距離は一般には
10〜20μm、電極幅は10mm程度であるが、要求
されるFET特性によって変わることがある。次に前述
の方法で得られたコンポジット重合体の溶液を上記の電
極基板にのせてスピナー法により薄膜を作製した後、熱
処理を行ってコンポジット重合体を電極上に形成され
る。次に上記のゲート電極、ソース電極、ドレイン電極
からそれぞれリード線を取り出してFET素子が作製さ
れる。なおFET特性の評価は、例えばヒューレット・
パッカード社製ピコアンメータ/ボルテージソースを用
い、ゲート電圧を変えながらソース、ドレイン間の電圧
−電流特性を測定することができる。
められる。すなわち、先ずガラス基板に金属層(白金、
金など)をスパッタリングで形成した後、この金属表面
上にコンポジット重合体をスピナーを用いて塗布する。
次に、この塗布膜表面に金属薄膜をスパッタリングによ
り形成する。コンポジット重合体を挟む電極間に電圧
(V)を印加し、その時の電流(I)を求めた。電流
(I)は次式 I= 9εμV2/8d3 (2) で表される。電圧Vを増して行くとIがVに比例するオ
ーミックな挙動から、Vの2乗に比例する空間電荷制限
電流の領域に入る。
ジットの誘電率、μは移動度、dは塗布膜の厚みであ
る。この領域で式(2)から移動度μが算出される。な
お、FETの電流特性を示す式(1)を用いて、FET
特性から移動度を求めることもできる。
に説明する。もっとも、本発明は下記実施例に限定され
るものではない。
るポリ(m−フェニレンビニレン−co−2,5−ジオ
クトキシ−p−フェニレンビニレン(以下PmPVと略
す)の合成を以下の方法で作製した。まず、ヒドロキノ
ンを出発原料とし、アリカリ存在下エタノール中で2.
1等量のオクチルブロマイドと反応させ、ジオクトキシ
ベンゼンを得た。次いで25%HBr酢酸溶液中で6等
量のパラホルムアルデヒドと反応させることでブロモメ
チル化し、メタノールで洗浄して、2,5−ジオクトキ
シ−p−ジキシリレンブロマイドを得た。さらにN,N
−ジメチルホルムアミド中で2.2等量のトリフェニル
フォスフィンと150℃で反応させ、生成した白色の沈
殿物をN,N−ジメチルホルムアミドで3回、エチルエ
ーテルで1回洗浄し、減圧乾燥することで、中間生成物
の2,5−ジオクトキシ−p−キシリレン−ビス−(ト
リフェニルホスホニウムブロマイド)を得た。次いでこ
の中間生成物104.4g(Fw1044、0.1モ
ル)と、イソフタルアルデヒド14.7g(Fw13
4、0.11モル)をエタノール640mLに溶解さ
せ、リチウムエトキシド/エタノール溶液(粒状リチウ
ム1.75gをエタノール500mLに溶解させたも
の)を室温で1時間かけて滴下した後、4時間反応さ
せ、黄色沈殿物を得た。次いでこの黄色沈殿物を、蒸留
水40mL/エタノール100mL混合溶媒で2回、エ
タノール150mLで1回洗浄した後、60℃で減圧乾
燥させて40.2g(収率87%)の黄色の反応物を得
た。該反応物を赤外分光分析法によって分析した結果、
PmPVであることを確認した。
ボンナノチューブ(MWCNT)と単層カーボンナノチ
ューブ(SWCNT)とからなるCNTを硝酸と硫酸に
よる酸処理、及び超音波洗浄器による超音波処理を20
時間行うことで、不純物の精製とCNTの短繊維へのカ
ットを行った。
ン溶媒中に10-3モル濃度溶解させ、短繊維化したカー
ボンナノチューブをPmPVに対し重量分率で1%混合
して、コンポジット溶液を調製した。該溶液に対し超音
波洗浄機で超音波を照射した後、1日程度放置してスピ
ナー塗布用の塗液を得た。予め蒸着によりアルミニウム
電極1を作製したガラス基板上にこの塗液をスピナーで
塗布し約2μm厚の膜を形成した。さらにこの膜上に蒸
着によりアルミニウム電極2を形成し、アルミニウム電
極1と2の間に電圧を印加しながら、塗布膜の電圧−電
流特性を測定した。
塗布膜の厚み)に適用して移動度を測定したところ、移
動度は3×10-4cm2/V・secであった。
1と全く同様の方法でPmPVのみの薄膜を形成し、移
動度を測定したところ2×10-7cm2/V・secで
あった。
として用い、薄膜トランジスタ(TFT)を以下のよう
な手順で作製した。先ず、n++シリコンウェーハーをゲ
ート電極基板とし、該ウエーハー上に形成されたSiO
2膜を誘電体層として使用した。次にSiO2膜上にソー
ス電極とドレイン電極と形成するため先ず薄いチタンの
薄層、続いて金の膜をスパッタリング法で形成した。ソ
ース電極とドレイン電極のパターニングはリソグラフィ
ー法によって行った。ソース電極とドレイン電極との間
の距離は20μm、電極幅は10mmとした。次に実施
例1で調製したPmPV重合体コンポジットのトルエン
溶液を上記の電極基板にのせてスピナー法により薄膜を
作製した後、200#Cで熱処理を行うことによりコン
ポジット重合体からなる半導体層を電極上に形成した。
上記のゲート電極、ソース電極、ドレイン電極からそれ
ぞれリード線を取り出してTFT素子が作製される。T
FT特性の評価はヒューレット・パッカード社製ピコア
ンメータ/ボルテージソースを用い、ゲート電圧を0ボ
ルトから40ボルトまで変えながらソース、ドレイン間
の電圧−電流特性を測定した。図1にゲート電圧を−2
5ボルトとした時のドレイン間の電圧−電流特性を示
す。飽和電流として約100nAの電流が得られた。
まない比較例1の塗液を半導体素材とした以外は、実施
例2と全く同様な方法でTFT素子を作製し、TFT特
性を測定した。この時の飽和電流は約1nAと低かっ
た。
量%を8重量%に変えた以外は実施例1と同様の方法で
重合体コンポジットを作製した。この重合体コンポジッ
トの電導度は4×10-3S/cmと大きく増加したが、
移動度は7×10-7cm2/V・secと低かった。
て、実施例2と同じ方法でFET素子を作製したが、F
ETの機能は全く認められなかった。
トを半導体素材として使用することにより、高性能な半
導体素子を得ることが可能となる。
Claims (4)
- 【請求項1】単層カーボンナノチューブおよび/または
多層カーボンナノチューブと重合体とからなり、該カー
ボンナノチューブの重量分率が重合体に対し0.1%以
上7%以下である重合体コンポジット。 - 【請求項2】重合体が共役系高分子からなる請求項1記
載の重合体コンポジット。 - 【請求項3】共役系高分子が螺旋構造を持つ高分子であ
る請求項2記載の重合体コンポジット。 - 【請求項4】請求項1〜3のいずれか記載の重合体コン
ポジットを半導体素材として用いた薄膜トランジスタ素
子。
Priority Applications (8)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001295899A JP5061414B2 (ja) | 2001-09-27 | 2001-09-27 | 薄膜トランジスタ素子 |
PCT/JP2002/009851 WO2003029354A1 (en) | 2001-09-27 | 2002-09-25 | Organic semiconductor material and organic semiconductor element employing the same |
DE60238437T DE60238437D1 (de) | 2001-09-27 | 2002-09-25 | Organisches halbleitermaterial und organisches hal |
AT02768046T ATE489431T1 (de) | 2001-09-27 | 2002-09-25 | Organisches halbleitermaterial und organisches halbleiterelement, bei dem dieses eingesetzt wird |
CNB02818923XA CN1300254C (zh) | 2001-09-27 | 2002-09-25 | 有机半导体材料及使用该材料的有机半导体元件 |
EP02768046A EP1449887B1 (en) | 2001-09-27 | 2002-09-25 | Organic semiconductor material and organic semiconductor element employing the same |
KR1020047004449A KR100865500B1 (ko) | 2001-09-27 | 2002-09-25 | 유기 반도체 소재 및 이것을 사용한 유기 반도체 소자 |
US10/491,084 US7282742B2 (en) | 2001-09-27 | 2002-09-25 | Organic semiconductor material and organic semiconductor element employing the same including carbon nanotubes |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001295899A JP5061414B2 (ja) | 2001-09-27 | 2001-09-27 | 薄膜トランジスタ素子 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003096313A true JP2003096313A (ja) | 2003-04-03 |
JP2003096313A5 JP2003096313A5 (ja) | 2008-11-06 |
JP5061414B2 JP5061414B2 (ja) | 2012-10-31 |
Family
ID=19117249
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001295899A Expired - Fee Related JP5061414B2 (ja) | 2001-09-27 | 2001-09-27 | 薄膜トランジスタ素子 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7282742B2 (ja) |
EP (1) | EP1449887B1 (ja) |
JP (1) | JP5061414B2 (ja) |
KR (1) | KR100865500B1 (ja) |
CN (1) | CN1300254C (ja) |
AT (1) | ATE489431T1 (ja) |
DE (1) | DE60238437D1 (ja) |
WO (1) | WO2003029354A1 (ja) |
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US20040241900A1 (en) | 2004-12-02 |
WO2003029354A1 (en) | 2003-04-10 |
EP1449887A4 (en) | 2004-11-17 |
EP1449887A1 (en) | 2004-08-25 |
US7282742B2 (en) | 2007-10-16 |
CN1558932A (zh) | 2004-12-29 |
CN1300254C (zh) | 2007-02-14 |
KR20040039425A (ko) | 2004-05-10 |
DE60238437D1 (de) | 2011-01-05 |
EP1449887B1 (en) | 2010-11-24 |
JP5061414B2 (ja) | 2012-10-31 |
ATE489431T1 (de) | 2010-12-15 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080922 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080922 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120424 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120604 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120710 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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