JP2002084167A - フリップフロップ - Google Patents

フリップフロップ

Info

Publication number
JP2002084167A
JP2002084167A JP2001209981A JP2001209981A JP2002084167A JP 2002084167 A JP2002084167 A JP 2002084167A JP 2001209981 A JP2001209981 A JP 2001209981A JP 2001209981 A JP2001209981 A JP 2001209981A JP 2002084167 A JP2002084167 A JP 2002084167A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
flip
flop
input
output
node
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Abandoned
Application number
JP2001209981A
Other languages
English (en)
Inventor
Iain Robertson
ロバートソン イアイン
Richard Simpson
シンプソン リチャード
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Texas Instruments Inc
Original Assignee
Texas Instruments Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Texas Instruments Inc filed Critical Texas Instruments Inc
Publication of JP2002084167A publication Critical patent/JP2002084167A/ja
Abandoned legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/353Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
    • H03K3/356Bistable circuits
    • H03K3/3562Bistable circuits of the master-slave type
    • H03K3/35625Bistable circuits of the master-slave type using complementary field-effect transistors

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ラッチ回路を有する走査可能な非同期プリセ
ットおよび/もしくはクリアフリップフロップを得る。 【解決手段】 ラッチ回路27はインバータ28および
3状態NANDゲート29を含んでいる。ラッチ回路3
0はインバータ31および3状態NORゲート32を含
んでいる。CLK(クロック入力信号)およびCLRZ
(クリア入力信号の反転)が共にローである時は、3状
態NORゲート32の出力はローとされる。したがっ
て、インバータ31の入力はローであり出力信号Qはロ
ーとされ、反転出力信号QZはハイとされる。CLKが
ハイでCLRZがローである時は、3状態NANDゲー
ト29の出力がハイとされ、そのためインバータ28へ
の入力はハイでありインバータ31への入力はローであ
り、QはローとされQZはハイとされる。したがって、
CLRZがローである時は、CLK入力の状態に無関係
に入力QおよびQZは、それぞれ、ローおよびハイとさ
れる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は一般的にフリップフ
ロップ設計に関し、特に高性能フリップフロップの設計
に関する。
【0002】
【従来の技術】図1−図4は既知の走査可能なフリップ
フロップに関連している。デバイスの回路シンボル1が
図1に示されている。フリップフロップはデータ入力D
およびSD、制御入力ScanZおよびCLKおよび出
力Q,QZ,SQを有する。(本明細書では、文字Zは
反転信号を示し、出力QZは出力Qの反転である。)実
際上、テストの目的でこのような多くのフリップフロッ
プがシフトレジスタ内で一緒につながれ、各々のSQ出
力は次のSD入力に接続される。
【0003】既知の走査可能なフリップフロップの回路
図が図2に示されている。SDおよびD入力がマルチプ
レクサ2の入力に接続され、このマルチプレクサは2つ
の3状態インバータ3および4を含んでいる。3状態イ
ンバータ3はScanZ入力がハイである時に(すなわ
ち、Scanがローである時に)D入力を反転させ、S
canZがローである時はハイインピーダンスである。
逆に、3状態インバータ4はScanZがローである時
にSD入力を反転させ、ScanZがハイである時はハ
イインピーダンスである。したがって、マルチプレクサ
2の出力はScan入力に応じてDZ(Dの反転)もし
くはSDZ(SDの反転)である。
【0004】マルチプレクサ2の出力はCLKがロー
(CLKZはハイ)である時に入力を出力へ通し、CL
Kがハイ(CLKZはロー)である時はハイインピーダ
ンスである伝達ゲート5の入力に接続されている。伝達
ゲート5の出力はラッチ6の入力に接続され、このラッ
チはインバータ7および3状態インバータ8を含んでい
る。インバータ7は伝達ゲート5の出力を反転させ、3
状態インバータ8はCLKがハイである時にインバータ
7の出力を反転させる。3状態インバータ8の出力はイ
ンバータ7の入力に接続され、したがってCLKがハイ
である時に帰還ループを生成する。3状態インバータの
出力はCLKがローである時はハイインピーダンスであ
り、そのためCLKがハイからローとなる時に帰還ルー
プが断たれる。
【0005】ラッチ6の出力は第2の伝達ゲート9の入
力に接続され、この伝達ゲートはCLKがハイである時
はラッチ6の出力を通しCLKがローである時はこの出
力信号をブロックする。伝達ゲート9の出力はインバー
タ11および3状態インバータ12を含む第2のラッチ
10の入力に接続されている。伝達ゲート9の出力はイ
ンバータ11の入力に接続され、インバータ11の出力
は3状態インバータ12の入力に接続されている。この
3状態インバータ12はCLKがローである時はインバ
ータとして作用し、CLKがハイである時はハイインピ
ーダンスである。3状態インバータ12の出力はインバ
ータ11の入力に接続されている。したがって、帰還ル
ープはラッチ6内で接続される時はラッチ10内では断
路され逆も同様であるように、3状態インバータ8およ
び12の制御信号が接続される点を除けば、第2のラッ
チ10は第1のラッチ6と機能的に等価である。
【0006】ラッチ10の出力(すなわち、インバータ
11の出力)はインバータ13,14に接続されて、そ
れぞれ、SQおよびQ出力を与える。ラッチ10の入力
(すなわち、伝達ゲート9の出力)はインバータ15に
接続されてQZ出力を与える。
【0007】次に、図1および2の走査可能なフリップ
フロップの動作を図2の回路図および図3のタイミング
図に関して説明する。図2の回路の多数のノードにラベ
ルが付されており、これらのノードにおける電圧が図3
に示されている。ノードUはマルチプレクサ2の出力で
あり、ノードVは伝達ゲート5の出力であり、ノードW
はラッチ6の出力であり、ノードXは伝達ゲート9の出
力であり、ノードYはラッチ10の出力である。
【0008】図3のタイミング図はScanZ入力がハ
イであり、したがってマルチプレクサ2の出力はD入力
の反転であるものと仮定している。
【0009】図3のタイミング図に示すD入力は最初は
ハイであり、CLK信号がローである間は降下しCLK
信号がハイである間に再度立ち上がる。これはD信号が
CLK信号と非同期的である一般的ケースにおける挙動
を例示するものである。ノードUはD入力の単純な反転
である。ノードVの電圧は伝達ゲート5および3状態イ
ンバータ8によって決まる。CLKがローである時は、
Vの電圧はUの電圧に追従する。CLKがハイである時
は、Vの電圧は3状態インバータ8の出力に追従する。
CLKがハイである時は、3状態インバータ8の出力は
信号Wの反転である。
【0010】図3の例では、CLKおよびUが共にロー
であるため最初にVはローであり、Wはハイである。C
LKがハイとなると、VはWの反転であるためローのま
まである。Uが立ち上がると、Vは同時に立ち上がる
(伝達ゲート5を介した伝播遅延を受ける)。したがっ
て、Wは同時に立下がる。CLKはハイとなり、VはW
の反転に追従するためハイのままである。Uの値が立下
がると、CLKはハイとなって伝達ゲートは非導通であ
り、したがってCLKがローとなるまでVはハイのまま
である(Wの反転)。したがって、Vの立下りエッジは
CLKの立下りエッジと同期化されるように遅延され
る。しかしながら、今までのところ、Dの立下りエッジ
はCLK信号と同期化されてきている。
【0011】CLKがハイである時は、Xの電圧はWの
電圧に追従する。CLKがローである時は、Xの電圧は
信号Yの反転である。したがって、最初はWがハイであ
るためXはハイである(タイミング図の始めに回路は安
定であるものとする)。CLKおよびWが共にローであ
る時は、Xは信号Yの反転であるためハイのままであ
る。CLKがハイである時は、XはWに追従し、それは
既にローであってXをローとするため、XはCLKが再
度立ち上がるまでハイのままである。WはCLKが立下
がると同時に再度立ち上がる。したがって、Wは伝達ゲ
ート9が非導通となると同時に立ち上がる。したがっ
て、Xはこの点においてWに追従せずローのままである
(Yの反転)。Xが立ち上がるのはCLKが立ち上がっ
て、Xが再度Wに追従してからではない。したがって、
Xの立上りおよび立下りエッジが共にCLK信号の立上
りエッジと同期化される。
【0012】回路の残部はCLK信号の各立上りエッジ
において、Q出力がD入力の値をとりQZ出力がそのD
入力の反転をとるように単純な反転を行う。
【0013】図4は図1および図2の走査可能なフリッ
プフロップのトランジスタレベルのインプリメンテーシ
ョンを示す。この回路は複数のNMOSトランジスタ
(N1からN15)および複数のPMOSトランジスタ
(P1からP15)を含んでいる。各トランジスタはゲ
ート入力、ソース入力およびドレイン入力を含んでい
る。
【0014】トランジスタN1のゲート入力はP1のゲ
ート入力およびD入力に接続されている。トランジスタ
P2のゲートはScan入力に接続され、トランジスタ
N2のゲートはScanZ入力に接続されている。P2
のソースは電圧源VDDに接続され、P2のドレインは
P1のソースに接続され、P1のドレインはN1のドレ
インに接続され、N1のソースはN2のドレインに接続
され、N2のソースは電圧源VSSに接続されている。
P1のドレインおよびN1のドレインはP3のドレイン
およびN3のドレインにも接続されている。P3のソー
スはP4のドレインに接続されN4のソースは電圧源V
DDに接続されている。N3のソースはN4のドレイン
に接続され、N4のソースは電圧源VSSに接続されて
いる。P3およびP4のゲートは、それぞれ、Scan
ZおよびSDに接続され、N3およびN4のゲートは、
それぞれ、ScanおよびSDに接続されている。トラ
ンジスタN1からN4およびP1からP4は一緒に図2
のマルチプレクサ2を形成する。
【0015】P3のドレインおよびN3のドレインはP
5のドレインおよびN5のドレインにも接続されてい
る。N5のソースはP5のソースに接続されている。N
5およびP5のゲートは、それぞれ、CLKZおよびC
LKに接続されている。トランジスタN5およびP5は
図2の伝達ゲート5を形成する。
【0016】N5のソースおよびP5のソースはN6の
ゲートおよびP6のゲートにも接続されている。P6の
ソースは電圧源VDDに接続され、P6のドレインはN
6のドレインに接続されN6のソースは電圧源VSSに
接続されている。N6のドレインおよびP6のドレイン
はN8のゲートおよびP8のゲートにも接続されてい
る。N7およびP7のゲートは、それぞれ、CLKおよ
びCLKZに接続されている。P8のソースは電圧源V
DDに接続され、P8のドレインはP7のソースに接続
され、P7のドレインはN7のドレインに接続され、N
7のソースはN8のソースに接続され、N8のソースは
電圧源VSSに接続されている。P7のドレインおよび
N7のドレインはP5のソース、N5のソース、P6の
ゲートおよびN6のゲートにも接続されている。トラン
ジスタN6からN8およびP6からP8は図2のラッチ
6を形成する。
【0017】P6のドレイン、N6のドレイン、P8の
ゲートおよびN8のゲートはP9のドレインおよびN9
のドレインにも接続されている。N9のソースはP9の
ソースに接続されている。N9およびP9のゲートは、
それぞれ、CLKおよびCLKZに接続されている。ト
ランジスタN9およびP9は図2の伝達ゲート9を形成
する。
【0018】N9のソースおよびP9のソースはN10
のゲートおよびP10のゲートにも接続されている。P
10のソースは電圧源VDDに接続され、P10のドレ
インはN10のドレインに接続され、N10のソースは
電圧源VSSに接続されている。N10のドレインおよ
びP10のドレインはN12のゲートおよびP12のゲ
ートにも接続されている。N11およびP11のゲート
は、それぞれ、CLKZおよびCLKに接続されてい
る。P12のソースは電圧源VDDに接続され、P12
のドレインはP11のソースに接続され、P11のドレ
インはN11のドレインに接続され、N11のソースは
N12のドレインに接続され、N12のソースは電圧源
VSSに接続されている。P11のドレインおよびN1
1のドレインはP9のソース、N9のソース、P10の
ゲートおよびN10のゲートにも接続されている。トラ
ンジスタN10からN12およびP10からP12は図
2のラッチ10を形成する。
【0019】P10のドレイン、N10のドレイン、P
12のゲートおよびN12のゲートはトランジスタN1
3,N14,P13およびP14のゲートに接続されて
いる。P13のソースは電圧源VDDに接続され、P1
3のドレインはN13のドレインに接続され、N13の
ソースは電圧源VSSに接続されている。P14のソー
スは電圧源VDDに接続され、P14のドレインはN1
4のドレインに接続され、N14のソースは電圧源VS
Sに接続されている。P13のドレインおよびN13の
ドレインはSQ出力にも接続されている。P14および
N14のドレインはQ出力にも接続されている。
【0020】P9のソース、N9のソース、P10のゲ
ートおよびN10のゲートはP15のゲートおよびN1
5のゲートにも接続されている。P15のソースは電圧
源VDDに接続され、P15のドレインはN15のドレ
インに接続されN15のソースは電圧源VSSに接続さ
れている。P15のドレインおよびN15のドレインは
QZ出力にも接続されている。
【0021】図1,図2および図4のフリップフロップ
のバリエーションは非同期クリア入力を有する走査可能
なフリップフロップであり、その回路シンボルが図5に
示されている。図5のフリップフロップは、CLRZが
ローとなる時にQがローとされQZがハイとされるよう
に、アクティブローであるクリア入力(CLRZ)を有
する。非同期とはクリア信号がCLK信号のエッジを待
機せずに即座に作用することを意味する。
【0022】図6は図5のフリップフロップを実現する
既知の回路を示す。この回路は図5の回路のバリエーシ
ョンであり、事実マルチプレクサ2および伝達ゲート5
および9は変っていない。変っているのはラッチ回路1
7および21およびインバータ24−26の接続であ
る。
【0023】ラッチ17はインバータ18、NANDゲ
ート19および伝達ゲート20を含んでいる。インバー
タ18は伝達ゲート5の出力を反転させ、その出力はN
ANDゲート19の第1の入力に接続されている。NA
NDゲート19の第2の入力はCLRZ入力に接続され
ている。NANDゲート19の出力は伝達ゲート20の
入力に接続されている。伝達ゲート20はCLKがハイ
である時はNANDゲート19の出力をインバータ18
の入力に接続し、CLKがローである時は3状態であ
る。NANDゲート19の出力は伝達ゲート9の入力に
も接続されている。
【0024】伝達ゲート9の出力はラッチ21の入力に
接続されている。ラッチ21はインバータ22および3
状態NANDゲート23を含んでいる。ラッチ21への
入力はインバータ22の出力に接続され、インバータ2
2の出力は3状態NANDゲート23の第1の入力に接
続されている。3状態NANDゲート23への第2の入
力はCLRZ入力に接続されている。3状態NANDゲ
ート23はCLKがローである時にその入力の論理的N
ANDをインバータ22の入力に接続し、CLKがハイ
である時は3状態である。インバータ25,26の入力
はラッチ21の入力に接続され、インバータ24の入力
はラッチ21の出力に接続されている。インバータ2
4,25,26の出力は、それぞれ、出力信号QZ,Q
およびSQである。
【0025】CLRZがローである時は、NANDゲー
ト19の出力はハイとされる。CLKがハイでありイン
バータ22の入力がこのような状況下でハイであれば、
NANDゲート19の出力は伝達ゲート9を介して伝播
される。インバータ22への入力がハイであれば、Q出
力はローとされQZ出力はハイとされる。CLKがロー
であれば、伝達ゲート9は非導通であるためNANDゲ
ート19の出力はインバータ22の入力へ通されない。
替わりに、3状態NAND21ゲートの出力(CLRZ
がローである時はハイとされる)がインバータ22への
入力を与える。したがって、CLRZローである時は、
CLK入力の状態に無関係に出力QおよびQZは、それ
ぞれ、ローおよびハイとされる。
【0026】図6の回路の問題点は回路の入力および出
力間のクリティカルパス内にNANDゲート19を付加
すると、回路がさらに遅延することである。高性能フリ
ップフロップでは、このような遅延は許容されない。
【0027】
【発明が解決しようとする課題】本発明の1つの目的は
非同期クリア入力を含んでいるが、余分な遅延を挿入す
ることがない図2の走査可能なフリップフロップに基づ
いたフリップフロップ回路を提供することである。
【0028】
【課題を解決するための手段】本発明の1つの態様に従
って、フリップフロップが提供され、それは、データ入
力、データ出力、セット信号入力、クロック信号入力
と、少なくとも1つの段と、を含み、各段が、データ入
力からのデータ信号を受信するように接続された入力ノ
ード、出力ノード、内部ノード、と、クロック信号に応
答して、段の入力ノードにおける論理信号が内部ノード
へ通される導通状態と、ハイインピーダンス状態間を交
互に切り替える第1のゲート手段と、内部ノードに接続
されて、反転されたもしくは直立した、内部ノードにお
ける論理レベルを段の出力ノードに与えるバッファ手段
と、段の出力ノードにおける論理レベルをセット信号と
論理的に結合して論理的結合の結果を内部ノードに与え
る第2のゲート手段であって、論理的結合はセット信号
がアクティブである時に第2のゲート手段の出力がハイ
およびロー論理レベルの特定の一方にセットされるよう
な第2のゲート手段と、を含み、フリップフロップは、
さらに、第2のゲート手段がセット信号に応答して内部
ノードを特定の論理レベルへセットする前に、セット信
号に応答して特定の論理レベルを内部ノードに与える手
段を含んでいる。
【0029】内部ノードに特定の論理レベルをそのため
の前記手段により与えることにより、内部ノードを特定
の論理レベルへ駆動するのに時間がかかる第2のゲート
手段から生じることがあるフリップフロップの出力のグ
リッチが抑制され、そのレベルは既に与えられているた
め、第2のゲート手段から与えられるのを待つ必要がな
い。しかしながら、その後、特定の論理レベルを与える
前記手段がもはやそれを行わずに、例えば、第1のゲー
ト手段を介して行いそれが導通していない場合には、第
2のゲート手段は内部ノードに特定の論理レベルを維持
するのに利用することができる。
【0030】内部ノードに特定の論理レベルを与える手
段は第1のゲート手段が導通状態である時にそれを行う
ようにすることができる。
【0031】好ましくは、第2のゲート手段は内部ノー
ドにハイインピーダンスを与える状態と、内部ノードに
論理的結合の結果を与える状態間を切り替えるようにク
ロック信号に応答する。さらに、内部ノードに特定の論
理レベルを与える手段は第2のゲート手段がハイインピ
ーダンス状態である時にそれを行うようにすることがで
きる。好ましくは、第2のゲート手段は第1のゲート手
段が導通しているのと同じ期間だけハイインピーダンス
状態にあるが、クロック信号は第1および第2のゲート
手段にそれぞれ加えられる非重複クロック信号を含むこ
とができる。
【0032】特定のレベルを与える手段はその論理レベ
ルを第1のゲート手段を介して前記内部ノードへ与える
ことができる。
【0033】特定のレベルを与える手段はデータ信号を
受信して、前記セット信号がアクティブである時は特定
の論理レベルを前記段の入力ノードに与え、前記セット
信号がインアクティブである時はデータ信号を与えるよ
うに接続された第3のゲート手段を含むことができる。
第3のゲート手段はNANDゲートもしくはNORゲー
トを含むことができる。さらに、フリップフロップはデ
ータセレクト入力および、前記データ入力を含む、複数
の前記データ入力、およびマルチプレクサを含むことが
でき、第3のゲート手段はマルチプレクサ内に含むこと
ができ、このマルチプレクサはこれらのデータ入力を受
信しデータセレクト信号に応答してこれらのデータ入力
の中の特定の1つをフリップフロップの前記すなわち第
1段の入力ノードに供給するように接続することができ
る。第3のゲート手段は3状態出力を有することがで
き、マルチプレクサはデータセレクト信号およびセット
信号を結合して第3のゲート手段の出力をイネーブルす
る1つ以上の制御信号を与え、第3のゲート手段により
ゲートされたデータ信号がデータセレクト信号により表
示される時およびセット信号がアクティブである時は常
に、複数の他のデータ信号がマルチプレクサから出力さ
れるのを防止し、そうでなければ第3のゲート手段の出
力をハイインピーダンスとする制御回路を含むことがで
きる。
【0034】フリップフロップは前記段の第2段を含む
ことができ、第2段の入力ノードは第1の前記段の出力
ノードに接続することができ、フリップフロップ回路は
セット信号に応答して第2段の出力を特定の論理レベル
にセットすることができる。
【0035】本発明の第2の態様に従って、データ入
力、データ出力、セット信号入力、クロック信号入力、
および第1および第2の段を含むフリップフロップが提
供され、各段は、入力ノードおよび出力ノードを含み、
第2段の入力ノードは第1段の出力ノードに接続され、
フリップフロップ回路はセット信号に応答して第2段の
出力を特定の論理レベルにセットし、各段は、さらに、
クロック信号に応答して、段の入力ノードにおける論理
信号が内部ノードへ通される導通状態と、ハイインピー
ダンス状態間を交互に切り替える第1のゲート手段と、
内部ノードに接続されて、反転されたもしくは直立し
た、内部ノードにおけるレベルを段の出力ノードに与え
るバッファ手段と、段の出力ノードにおける論理レベル
をセット信号と論理的に結合して論理的結合の結果を内
部ノードに与える第2のゲート手段と、を含んでいる。
【0036】第2のゲート手段は内部ノードにハイイン
ピーダンスを与える状態と、内部ノードに論理的結合の
結果を与える状態間を切り替えるようにクロック信号に
応答することができる。回路は各段の第1および第2の
ゲート手段がハイインピーダンス状態である時間が交互
に起こり、第2段の第1のゲート手段および第1段の第
2のゲート手段がハイインピーダンス状態である時間が
交互に起こるように構成することができる。
【0037】第2のゲート手段は段内の第1のゲート手
段よりも高い出力電流を供給するすることができる。
【0038】フリップフロップは前記した本発明の第1
および第2の態様に従うことができる。
【0039】本発明のいずれかの態様において、フリッ
プフロップはデータセレクト入力、前記データ入力を含
む複数のデータ入力を含むことができ、かつこれらのデ
ータ入力を受信しデータセレクト信号に応答してこれら
のデータ入力の中の特定の1つをフリップフロップの前
記すなわち第1の段の入力ノードへ供給するマルチプレ
クサを含むことができる。
【0040】本発明のいずれかの態様において、セット
信号はアクティブローもしくはアクティブハイとするこ
とができ、それはフリップフロップがそのデータ出力に
論理ローを与えるように応答するクリア信号、もしくは
フリップフロップがそのデータ出力に論理ハイを与える
ように応答するプリセット信号とすることができる。さ
らに、フリップフロップはクリア信号に応答してそのデ
ータ出力に論理ローを与えプリセット信号に応答してそ
のデータ出力に論理ハイを与えることができる。セット
信号は直立および反転信号を含む相補形とすることがで
き、セット信号に応答するフリップフロップの構成部分
はこれらの相補信号の一方もしくは他方もしくは両方を
受信するように接続することができる。
【0041】本発明のいずれかの態様において、前記段
の各バッファは反転手段とすることができ段の出力ノー
ドにおいて反転された内部ノードの論理レベルを与える
ように接続することができる。
【0042】本発明のいずれかの態様において、各第2
のゲート手段はセット信号がインアクティブである時に
段の出力ノードにおける論理レベルを反転する論理的結
合を与えることができる。
【0043】本発明のいずれかの態様において、各第2
のゲート手段は好ましくはNANDゲートもしくはNO
Rゲートである。さらに、各第1のゲート手段は好まし
くは伝達ゲートである。付図を参照しながら、本発明の
実施例を説明する。
【0044】
【発明の実施の形態】図6の回路では、回路要素がフリ
ップフロップのクリティカルパスではなくラッチ21の
帰還パス内にあるため、3状態NANDゲート23はフ
リップフロップ内に余分な遅延を導入しないと述べた
が、発明者がこの問題について最初に考えた解決法はラ
ッチ17の付加回路要素(すなわち、NANDゲート1
9)をクリティカルパスからそのラッチの帰還パスへ移
すことであった。この最初の解決法の回路図を図7に示
す。
【0045】図7の回路は図2および図6の回路のバリ
エーションである。マルチプレクサ2、伝達ゲート5,
9およびインバータ13−15は図2に示すものと同じ
である。変っているのはラッチ回路27および30であ
る。
【0046】図7において、ラッチ27はインバータ2
8および3状態NANDゲート29を含んでいる。イン
バータ28の入力は伝達ゲート5の出力および3状態N
ANDゲート29の出力に接続されている。インバータ
28の出力は3状態NANDゲート29の第1の入力お
よび伝達ゲート9の入力に接続されている。3状態NA
NDゲート29の第2の入力は非同期クリア入力CLR
Zに接続されている。3状態NANDゲート29はCL
Kがハイであればその入力の論理的NANDをインバー
タ28の入力に接続し、CLKがローであればハイイン
ピーダンスである。
【0047】伝達ゲート9の出力はラッチ30の入力に
接続されている。ラッチ30はインバータ31および3
状態NORゲート32を含んでいる。インバータ31へ
の入力は伝達ゲート9の出力および3状態NORゲート
32の出力に接続されている。インバータ31の出力は
3状態NORゲート32の第1の入力およびインバータ
13,14の入力に接続されている。3状態NORゲー
ト32の第2の入力はCLR入力に接続されている。3
状態NORゲート32の出力はインバータ15の入力に
も接続されている。3状態NORゲート32はCLKが
ローであればその入力の論理的NORをインバータ31
の入力に接続し、CLKがハイであればハイインピーダ
ンスである。
【0048】CLKおよびCLRZが共にローである時
は(CLRハイ)、3状態NORゲート32の出力はロ
ーとされる。したがって、インバータ31の入力はロー
となりQ出力はローとされQZ出力はハイとされる。C
LKがハイでCLRZがローである時は、3状態NAN
Dゲート29の出力はハイとされてインバータ28への
入力はハイとなりインバータ31への入力はローとな
り、QはローQZはハイとされる。したがって、CLR
Zがローであれば、CLK入力の状態に無関係に出力Q
およびQZはそれぞれローおよびハイとされる。図2の
フリップフロップに比べると、これはフリップフロップ
のクリティカルパス内へさらに遅延を加えることなく達
成される。
【0049】図7の回路はフリップフロップのクリティ
カルパス内へさらに回路要素を加えることなく非同期ク
リア入力を加える問題を解決する。しかしながら、回路
の動作に困難が伴う。
【0050】図8のタイミング図は図7へのCLRZ,
CLKおよびD入力が最初に、それぞれ、ハイ、ローお
よびハイである状況を示す。出力QZはCLKの前の立
上りエッジのDの値によって決まるため、最初は未知で
ある。この状態において、伝達ゲート5は導通してお
り、伝達ゲート9はハイインピーダンスであり、3状態
NORゲート32は導通しており3状態NANDゲート
29はハイインピーダンスである。したがって、D入力
は伝達ゲート5を介して3状態NANDゲート29の第
1の出力へ伝播される。CLRZがハイからローへ立下
がると、NORゲート32の出力がローとされる。した
がって、CLRZ入力に応答して、インバータ15への
入力はローであり、出力QZはハイである(もちろん、
Qはローである)。
【0051】図8のタイミング図において、CLRZは
ローのままであり(アクティブ)、D入力はハイのまま
でありCLK入力は立ち上がる。CLKが立ち上がる
と、伝達ゲート5,9は、それぞれ、非導通および導通
となる。同様に、3状態NANDゲート29および3状
態NORゲート32は、それぞれ、導通および非導通と
なる。インバータ15への入力は、伝達ゲート9を介し
て、インバータ28の出力に接続されている。前記した
ように、CLK入力の立上りエッジの前でインバータ1
5の入力はローである。しかしながら、インバータ28
の出力(現在伝達ゲート9を介してインバータ15の入
力に接続されている)は予めハイであった(Dの値)。
インバータ28の入力は3状態NANDゲート29によ
りハイとされなければならない(その3状態NANDゲ
ート29は現在導通しているためCLRZに応答し
て)。しかしながら、3状態NANDゲート29は好ま
しくは小型装置であり、そのNANDゲートがインバー
タ28への入力をハイ電圧とするのに時間がかかる。そ
の結果、インバータ15への入力がハイである期間した
がって出力QZがローである期間がある。それは図8の
タイミング図においてグリッチ100として現れる。
(インバータ15への入力(その出力はQZ出力を与え
る)はインバータ31,14を介してQ出力に接続され
そのためQ出力はQZ出力の単なる反転であるため、グ
リッチはQ出力(100’)上にも現れることをお判り
願いたい。)
【0052】QZ出力上のグリッチの問題は3状態NA
NDゲート29のサイズを増大することにより解決でき
たが、それはフリップフロップ回路のサイズおよびその
動作速度に密接な関係がある。また、必要とされるNA
NDゲートのサイズはプロセスおよび環境に依存し、あ
らゆる条件の元でグリッチが生じないことを保証するの
は困難である。したがって、NANDゲートのサイズを
増大するのはグリッチ問題の好ましい解決法ではない。
【0053】図9の回路は本発明の第2の実施例を示
し、図7のマルチプレクサ2がマルチプレクサ33で置
換されている点を除けば、図7の回路と同等である。マ
ルチプレクサ33はNANDゲート34、3状態NAN
Dゲート35、3状態インバータ3およびインバータ3
6を含んでいる。NANDゲート34の第1および第2
の入力は、それぞれ、ScanZおよびCLRZ入力に
接続されている。3状態NANDゲート35の第1およ
び第2の入力は、それぞれ、SDおよびCLRZ入力に
接続されている。3状態インバータ3への入力はD入力
に接続されている。インバータ36への入力はNAND
ゲート34の出力に接続されている。3状態インバータ
36および3状態NANDゲート35の制御入力はNA
NDゲート34の出力およびインバータ36の出力に接
続されており、NANDゲート34の出力がローである
(かつインバータ36の出力がハイである)時は3状態
インバータ3が導通し、NANDゲート34の出力がハ
イである(かつインバータ36の出力がローである)時
は3状態NANDゲート35が導通するようにされる。
3状態インバータ36および3状態NANDゲート35
の出力は一緒に伝達ゲート5の入力に接続されている。
【0054】CLRZがハイ(インアクティブ)である
時は、NANDゲート34の出力はScanZの反転
(すなわち、Scan)であり、インバータ36の出力
はScanZである。したがって、3状態NANDゲー
ト35の出力はハイインピーダンスもしくはSDの反転
である。このようにして、CLRZがハイである時は、
図9の回路は図7の回路と厳密に同じように動作する。
【0055】CLRZがロー(アクティブ)である時
は、NANDゲート34の出力はハイとされて3状態N
ANDゲート35は導通し3状態インバータ3はハイイ
ンピーダンスである。さらに、3状態NANDゲート3
5の出力がハイとされ(そのCLRZ入力がローである
ため)、したがって伝達ゲート5への入力もハイであ
る。
【0056】CLK入力がローである時は、伝達ゲート
5への入力はラッチ27の入力へ通される。CLK入力
がハイでありかつCLRZ入力がローである時は、図7
の回路におけると同様に、ラッチ27の入力は3状態N
ANDゲート29によりハイとされる。
【0057】図7の回路に関連するグリッチ問題はラッ
チ27の出力へのDもしくはSD入力の伝播により生じ
る。本実施例において、この問題はCLRZがローであ
る時にマルチプレクサ段におけるDもしくはSD入力を
ブロックすることにより克服される。
【0058】次に、図10のタイミング図に関して図9
の回路の動作を説明する。図9のいくつかのノードにラ
ベルが付されており、これらのノードにおける電圧が多
様な入力状態に対して図10に示されている。ノードM
はNANDゲート34の出力である。ノードNは3状態
NANDゲート35および3状態インバータ36の出力
である。ノードPは伝達ゲート5の出力である。ノード
Rはインバータ28の出力である。ノードSは伝達ゲー
ト9の出力である。ノードTはインバータ31の出力で
ある。
【0059】図10のタイミング図はScanZ入力が
ハイであると仮定している。その場合、NANDゲート
34の出力(ノードM)はCLRZ入力の反転である。
ノードMは3状態インバータ36の一方の制御入力でも
あり、他方の制御入力はインバータ36により与えられ
るノードMにおける値の反転である。ノードMがローで
あるため(すなわち、ScanZがハイでCLRZがハ
イ)、3状態インバータ36はD入力を反転させるが、
ノードMがハイである時はハイインピーダンスである。
したがって、CLRZがハイである時はノードNはDの
反転であるが、それを駆動するインバータ3の出力はC
LRZがローである時はハイインピーダンスである。そ
れは図10のタイミング図に示されている。
【0060】CLKがローである時は、ノードPはノー
ドNの電圧に追従する。CLKがハイである時は、ノー
ドPは3状態NANDゲート29の出力、すなわちノー
ドRとCLRZ入力の論理的NAND、に追従する。ノ
ードRはノードPの反転である。同様に、CLKがハイ
である時は、ノードSの電圧はノードRの電圧に追従
し、CLKがローである時は、3状態NORゲート32
の出力、すなわちノードTとCLR入力の論理的NO
R、に追従する。ノードTおよび出力QZはノードSの
反転であり、出力QはノードTの反転である。
【0061】図10の例では、ノードD,P,およびS
は最初、それぞれ、ハイ、ローおよびハイで安定してお
りCLK入力はローである。したがって、QおよびQZ
出力は、それぞれ、ハイおよびロー論理レベルである。
CLKがローであるため、ノードPはノードNに追従し
ノードSはCLR入力とノードTの論理的NORであ
る。CLKが立ち上がる時は、ノードPはCLRZ入力
とノードRの論理的NANDであり、ノードSはノード
Rに追従する。回路が安定であるため、CLK変化の結
果としてノードPもノードSも変化しない。同様に、C
LKが立下がる時に、これらのノードのいずれも状態変
化しない。
【0062】CLKローおよび前記した内部ノードによ
り、図10の例においてCLRZ入力はハイからロー論
理レベルへ立下がる。それに応答して、ノードMが立ち
上がり、3状態インバータ3をディセーブルし3状態N
ANDゲート35をイネーブルする。ノードNはハイと
される(CLRZがローであるため)。ノードPはノー
ドNに追従し(すなわち、立ち上がる)ノードRは立下
がる。ほぼ同時に、CLRがハイであるため(CLRZ
の反転)ノードS(ノードTとCLR入力の論理的NO
R)が立下がる。ノードSが立下がると、ノードTおよ
び出力QZが立ち上がり出力Qが立下がる。
【0063】CLRZ入力はローのままであり、CLK
は立ち上がる。ノードPは変化せず(CLRZとノード
Rの論理的NANDがノードNの論理レベルと同じであ
るため)ノードSは変化しない(ノードRはCLKとノ
ードTの論理的NORと同じ論理レベルであるため)。
したがって、この回路は安定である。CLKがハイでC
LRZが立ち上がる時は、ノードNは入力Dの反転とな
る(すなわち、立下がる)。しかしながら、ノードPは
CLRZとノードRの論理的NANDであり、その両方
が変化しないために変化しない。ノードPが変化しない
ため、ノードRおよびSは変化しない。したがって、立
ち上がるCLRZに応答するノードNの変化は出力Qお
よびQZへ伝播する。回路は再び安定となり、前記した
理由でCLK入力が立下がる時に内部ノードおよび出力
は変化しない。
【0064】CLK入力がローでノードDの電圧が立下
がる時は、ノードNはD入力の反転であるため立ち上が
り、伝達ゲート5が導通しているためノードPおよびR
は、それぞれ、が立ち上がり立下がる。(それは例示の
目的でDの波形内へ挿入されるパルス101により示さ
れている。)伝達ゲート9は非導通であるため、ノード
Rのロー論理レベルはノードSへ通されない。101に
おいて、D入力はCLK入力が変化する前に立ち上が
り、ノードN,PおよびRは、それぞれ、立下り、立下
り、立ち上がる。CLK入力が立ち上がる時は、ノード
Rのハイ論理レベルがノードS(既にハイである)に通
され、したがって出力Qは変化しない。D入力のパルス
101は立ち上がるCLKエッジ上に保持されなかった
ため、出力には通されない。
【0065】CLK入力がハイ論理レベルで、CLRZ
入力がロー(アクティブ)とされる時は、ノードMは応
答して立ち上がり3状態インバータ3はハイインピーダ
ンスとなる。CLKがハイであれば、ノードPはノード
RとCLRZ入力の論理的NANDである。CLRZが
ローであるため、ノードPはハイとされ、次にノードR
がローとされる。伝達ゲート9が導通しているため、ノ
ードRの立下りに応答してノードSが立下り、したがっ
て出力Qが立下がる。出力Q102の立下りはCLK信
号に同期化されない。したがって、CLRZ入力は非同
期入力である。
【0066】CLRZ入力が再度立ち上がる時は、CL
K入力はローである。CLRZが立ち上がる時にノード
Mは立下がるため、3状態インバータ3はアクティブで
ある。したがって、ノードNはハイである(Dの反
転)。伝達ゲート5が導通しているため、ノードPおよ
びRは、それぞれ、ハイおよびローである。ノードSの
電圧はノードTおよびCLR入力の論理的NORにより
決定される。CLRが立下がる時(CLRZが立ち上が
るため)、ノードTは既にハイであるため、3状態NO
Rゲート32の出力、したがって、ノードSは変化しな
い(ロー)。したがって、出力Qはローのままであり回
路は安定である。
【0067】D入力が立ち上がるまで回路は安定したま
まであり、それに応答してノードNが立下がる。それは
CLKハイで生じ、そのためCLKが立下がるまで他の
ノードは変化しない。伝達ゲート5が導通するため、C
LK入力の立下りエッジでノードPおよびRは、それぞ
れ、立下り立ち上がる。
【0068】CLK入力の立下りエッジのすぐ後で、C
LRZ入力が立下がる。前と同様に、立下がるCLRZ
入力に応答して、ノードMが立ち上がり、そのため3状
態インバータ3の出力はハイインピーダンスである。ノ
ードNはCLRZがローであるためにハイを与える3状
態NANDゲート35により駆動される。したがって、
ノードPはハイであり、ノードRはローであり、ノード
Sはローであり、ノードTはハイであり出力Qはローで
ある。出力Qは既にローであるため、CLRZ信号によ
り変化されない。
【0069】CLRZが立ち上がる時は、ノードPおよ
びRはそれぞれローおよびハイへ変化する。それはD入
力がまだハイであり伝達ゲート5がまだ導通しているた
めである。前記したように、D入力のハイはCLK信号
の次の立上りエッジでノードS(したがって、出力Q)
へ伝播される。次に、Q出力は立下がるCLRZ入力1
03により再びローとされる。
【0070】したがって、図10のタイミング図は、C
LK入力がハイであるためCLK入力の各立上りエッジ
でノードDの値は出力Qへ伝播され、CLRZ入力が立
下がる時は常に、CLK入力に無関係に出力Qがローと
されることを示している。
【0071】図8のタイミング図に示したような、図7
の出力に生じるグリッチは図9の回路では生じない。図
7の回路の出力におけるグリッチはCLRZ,CLKお
よびD入力が最初に、それぞれ、ロー、ローおよびハイ
で生じ、そのためQ出力はアクティブCLRZ入力によ
りローとされた。その状態で、CLK入力が立ち上がる
時は、後述する理由により出力にグリッチ100,10
0’が生じる。図9の回路では、CLRZ,CLKおよ
びD入力がロー、ローおよびハイであり、3状態インバ
ータ3の出力はハイインピーダンスでありノードNは3
状態NANDゲート35によりハイに駆動されるため、
それは生じない。ノードNがハイであるため(CLRZ
がローであるため)ラッチ27への入力はハイである。
したがって、CLKが立ち上がる時は、3状態NAND
ゲート29は既にハイであるノードPをハイとする必要
がなく、そのため出力にグリッチは生じない。
【0072】図11は本発明の第3の実施例を示し、第
2の実施例と同様にグリッチ問題がない。図11におい
て、図9の実施例の非同期クリア入力(CLRZ)は非
同期プリセット入力(PREZ)により置換される。P
REZ入力がアクティブ(ロー)である時は常にQ出力
はハイとされる。NANDゲート34への入力がSca
nZおよびPREZであり、3状態NANDゲート35
が3状態NORゲート38により置換されCLRZ入力
はPRE入力(PREZの反転)により置換され、3状
態NANDゲート29が3状態NORゲート40により
置換され入力CLRZは入力PREにより置換され、3
状態NORゲート32が3状態NANDゲート42によ
り置換され入力CLRは入力PREにより置換される点
を除けば、この回路は図9の回路と同様である。NAN
Dゲート34、3状態インバータ3、インバータ36お
よび3状態NORゲート38はマルチプレクサ37を形
成し、インバータ28および3状態NORゲート40は
ラッチ39を形成し、インバータ31および3状態NA
NDゲート42はラッチ41を形成する。
【0073】入力PREZがハイ(インアクティブ)で
ある時は、NANDゲート34がScanZ入力を反転
し、3状態NORゲート38は実際上3状態インバータ
であり、3状態NORゲート40は実際上3状態インバ
ータであり、3状態NANDゲート42は実際上3状態
インバータであるため、図11の回路は図9の回路に簡
約化される。
【0074】PREZがロー(アクティブ)である時
は、NANDゲート34の出力はハイであるため3状態
インバータ36はハイインピーダンスであり、したがっ
てD入力をブロックする。PREZ入力がローであるた
め、出力QはCLKがハイである時にローである3状態
NORゲート40の出力によりハイとされ、CLKがロ
ーである時にハイである3状態NANDゲート42の出
力によりハイとされる。
【0075】図7の回路内に生じたグリッチはローであ
るPREZ(PREはハイ)に応答してローを出力する
3状態NORゲート38により抑制される。
【0076】図12は非同期クリア入力(CLRZ)と
非同期プリセット入力(PREZ)の両方を含む本発明
の第4の実施例を示す。図12の回路は図9の回路に類
似している。NANDゲート34は3入力NANDゲー
ト46に置換されており、これらの入力はScanZ,
CLRZおよびPREZである。3状態NANDゲート
35はORゲート47および3状態NANDゲート48
に置換されている。ORゲート47の第1および第2の
入力は、それぞれ、SDおよびPRE入力に接続され、
ORゲート47の出力は3状態NANDゲート48の第
1の入力に接続され、3状態NANDゲート48の第2
の入力はCLRZ入力に接続されている。3状態NAN
Dゲート29は3状態ANDゲート50および3状態N
ORゲート51に置換されている。3状態ANDゲート
50の第1の入力、第2の入力および出力は、それぞ
れ、インバータ28の出力、3状態NORゲート51の
CLRZ入力および第1の入力に接続されている。3状
態NORゲート51の第2の入力は入力PREに接続さ
れている。3状態NORゲート51の出力はインバータ
28の入力に接続されている。3状態NORゲート32
は3状態NORゲート53および3状態ANDゲート5
4に置換されている。3状態NORゲート53の第1、
第2の入力および出力は、それぞれ、インバータ31の
出力、PREZ入力および3状態ANDゲート54の第
1の入力に接続されている。3状態ANDゲート54の
第2の入力および出力は、それぞれ、CLRZ入力およ
びインバータ31の入力に接続されている。
【0077】図12の回路において、3状態インバータ
3、インバータ36、NANDゲート46、ORゲート
47および3状態NANDゲート48は一緒にマルチプ
レクサ44を形成し、インバータ28、3状態NAND
ゲート50および3状態NORゲート51は一緒にラッ
チ49を形成し、3状態NANDゲート53および3状
態ANDゲート54は一緒にラッチ52を形成する。
【0078】PREZおよびCLRZが共にハイ(イン
アクティブ)である時は、NANDゲート46がインバ
ータを実現し回路素子47および48、50および5
1、および53および54が3状態インバータを実現す
るため、図12の回路は図9の回路に簡約される。
【0079】CLRZもしくはPREZがローである時
は、NANDゲート46の出力はハイでありそのため3
状態インバータ3の出力は3状態である。次に、3状態
NANDゲート48はCLRZがロー(かつ、PREZ
がハイ)であれば論理ハイを発生し、PREZがロー
(かつ、CLRZがハイ)であれば論理ローを発生し
て、それぞれ第2および第3の実施例と同じ方法でグリ
ッチを抑制する。(フリップフロップの正規動作中は、
PREZとCLRZの両方をローとすることは許されな
い。)
【0080】PREZがローで、CLRZがハイでCL
Kがハイである時は、3状態NORゲート51の出力は
ローであり、したがってラッチ49の出力はハイであ
る。ラッチ49の出力は伝達ゲート9を介して出力Qへ
通され、出力Qはハイとされる。PREZがローで、C
LRZがハイでCLKがローである時は、3状態AND
ゲート54の出力はハイであり、Q出力はハイとされ
る。したがって、PREZがローで、CLRZがハイで
ある時は、CLKの状態に無関係にQ出力はハイとされ
る。
【0081】PREZがハイで、CLRZがローでCL
Kがハイである時は、3状態NORゲート51の出力は
ハイであり、したがってラッチ49の出力はローであ
り、Q出力はローとされる。PREZがハイで、CLR
ZがローでCLKがローである時は、3状態NANDゲ
ート54の出力はローであり、したがってラッチ52の
出力はハイとされQ出力はローとされる。したがって、
CLRZがローでPREZがハイである時は、CLKの
状態に無関係にQ出力はローとされる。
【0082】図2および図7の回路において、Scan
Z入力がローである時は、SD入力がD入力ではなく回
路を介して伝播される点を除けば、この回路はScan
Zがハイである時と厳密に同様に動作する。図9,図1
1および図12の回路はより複雑である。
【0083】図9の回路の1つの利点は、CLRZ入力
がアクティブである時にD入力がノードRへ伝播するの
を防止することである。それはノードMをハイとして3
状態インバータ3をディセーブルすることによりなされ
る。しかしながら、ScanZがローである時は、CL
RZ入力の状態に無関係にノードMはハイである。した
がって、3状態NANDゲート35がターンオンされ
る。CLRZ入力がアクティブである時にSD入力がノ
ードRへ伝播するのを防止するために、3状態NAND
ゲート35への第2の入力がCLRZ入力に接続されて
いる。したがって、CLRZ入力がロー(アクティブ)
である時は、SD入力に無関係に3状態NANDゲート
35の出力はハイである。CLKがローであれば、3状
態NANDゲート35のハイ出力はノードPに通され、
したがってノードRはローである。その結果、CLK入
力が立ち上がる時は、ノードPの値は既にハイであり3
状態NANDゲート29はそのノードをハイとする必要
がない。したがって、図7の回路で見られるグリッチは
生じない。
【0084】図11の3状態NORゲート38は、Sc
anZがローでPREZがローである時にノードN’を
ローとすることにより同様に働き、3状態NORゲート
40はノードP’をハイとする必要がない。
【0085】図12において、CLRZおよびScan
ZがローでPREZがハイである時は、3状態NAND
ゲート48の出力はハイであり3状態NORゲート51
はノードP”をハイとする必要がない。PREZおよび
ScanZがローでCLRZがハイである時は、3状態
NANDゲート48の出力はローであり3状態NORゲ
ート51はノードP”をローとする必要がない。
【0086】このようにして、各マルチプレクサ33,
37および44はScanZがローである時に図7の回
路内にグリッチを生じる状態が起こらないようにマルチ
プレクサの出力を保証するようにされている。
【0087】本発明の実施例について説明してきた。当
業者ならば、図7,図9,図11および図12のさまざ
まな論理回路の同じ機能を果たす代替構成があることが
お判りであろう。このような代替構成は本発明の範囲内
に入る。
【0088】さらに、図7の回路は非同期クリア入力を
有するフリップフロップを提供する。それは前記したグ
リッチを受けるが、いかなる状況においても問題とはな
らない。さらに、前記したように、グリッチは他の手
段、例えばより大きな3状態NANDゲート29、によ
り解消することができる。
【0089】前記した各実施例は走査入力およびマルチ
プレクサ回路によりデータ入力(D)が選択されるか走
査入力(SD)が選択されるかを制御する走査制御入力
を含んでいる。本発明は走査入力のないフリップフロッ
プにも応用することができる。例えば、非同期クリア入
力(CLRZ)を有し走査入力のない本発明に従った無
グリッチフリップフロップを実現するために、図9の回
路はマルチプレクサ33をD−入力およびCLRZ入力
を有する単一のNANDゲートで置換するように修正す
ることができる。NANDゲートはCLRZがハイ(イ
ンアクティブ)である時にD入力を反転させ、CLRZ
がロー(アクティブ)である時はD入力に無関係にハイ
である。図11のマルチプレクサ37および図12のマ
ルチプレクサ44を同様に変更することにより、図11
および図12の回路は、それぞれ、非同期PREZおよ
び非同期CLRZとPREZを有する非走査フリップフ
ロップへ変換される。図7の回路において、マルチプレ
クサ2はインバータで置換して非同期クリア入力を有す
る高速フリップフロップを提供することができ、さら
に、非同期PREZもしくは非同期PREZ各々がCL
RZ入力を有する同様な回路を提供することができる。
【0090】図7,図9,図11および図12の各実施
例は論理ゲート29,32,39,42,51および5
4、すなわち各ラッチの帰還部、がクロックされた3状
態ラッチとして例示されているが、それらはハイインピ
ーダンス状態およびクロック入力のない通常の論理ゲー
トとすることができる。これらの論理ゲートの出力が弱
く各伝達ゲートを介して受信される信号により出力が押
さえられる場合には、このような回路は例示した回路の
ように機能する。
【図面の簡単な説明】
【図1】走査可能なフリップフロップに対する回路シン
ボルである。
【図2】図1の走査可能なフリップフロップの回路図で
ある。
【図3】図1および図2の回路の機能の一部を例示する
タイミング図である。
【図4】図1および2の走査可能なフリップフロップの
1つの考えられるトランジスタレベルインプリメンテー
ションである。
【図5】非同期クリア入力を有する図1の走査可能なフ
リップフロップの修正に対する回路シンボルである。
【図6】図5のフリップフロップの回路図である。
【図7】本発明に従った図6のフリップフロップの修正
を示す回路図である。
【図8】図7のフリップフロップの機能の一部を例示す
るタイミング図である。
【図9】本発明の第2の実施例に従った非同期クリア入
力を有する走査可能なフリップフロップを示す回路図で
ある。
【図10】図9のフリップフロップの機能の一部を例示
するタイミング図である。
【図11】本発明の第3の実施例に従った非同期プリセ
ット入力を有する走査可能なフリップフロップを示す回
路図である。
【図12】本発明の第4の実施例に従った非同期クリア
入力および非同期プリセット入力を有する走査可能なフ
リップフロップを示す回路図である。
【符号の説明】
1 回路シンボル 2,33,37 マルチプレクサ 3,4,8,12 3状態インバータ 5,9,20 伝達ゲート 6,10,41 ラッチ 7,11,13,14,18,22,24,25,2
6,28,31,36インバータ 19,34 NANDゲート 17,21,27,30 ラッチ回路 23,29,35,42,48 3状態NANDゲート 32,38,40,51,53 3状態NORゲート 46 3入力NANDゲート 47 ORゲート 50,54 3状態ANDゲート
フロントページの続き Fターム(参考) 5J043 AA04 HH01 JJ05 JJ10 KK01 KK02 KK06

Claims (27)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 データ入力、データ出力、セット信号入
    力、クロック信号入力と、 少なくとも1つの段とを含むフリップフロップであっ
    て、各段が、 データ入力からのデータ信号を受信するように接続され
    た入力ノード、出力ノード、内部ノードと、 クロック信号に応答して、段の入力ノードにおける論理
    信号が内部ノードへ通される導通状態と、ハイインピー
    ダンス状態間を交互に切り替える第1のゲート手段と、 内部ノードに接続されて、反転されたもしくは直立し
    た、内部ノードにおける論理レベルを段の出力ノードに
    与えるバッファ手段と、 段の出力ノードにおける論理レベルをセット信号と論理
    的に結合して論理的結合の結果を内部ノードに与える第
    2のゲート手段であって、論理的結合はセット信号がア
    クティブである時に第2のゲート手段の出力がハイおよ
    びロー論理レベルの特定の一方にセットされるようにな
    される第2のゲート手段と、を含み、 該フリップフロップは、さらに、第2のゲート手段がセ
    ット信号に応答して内部ノードを特定の論理レベルへセ
    ットする前に、セット信号に応答して特定の論理レベル
    を内部ノードに与える手段を含むフリップフロップ。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のフリップフロップであっ
    て、内部ノードに特定の論理レベルを与える手段は第1
    のゲート手段が導通状態である時にそれを行うようにさ
    れているフリップフロップ。
  3. 【請求項3】 請求項1もしくは請求項2記載のフリッ
    プフロップであって、第2のゲート手段は内部ノードに
    ハイインピーダンスを与える状態と、内部ノードに論理
    的結合の結果を与える状態間を切り替えるようにクロッ
    ク信号に応答するフリップフロップ。
  4. 【請求項4】 請求項3記載のフリップフロップであっ
    て、内部ノードに特定の論理レベルを与える手段は第2
    のゲート手段がハイインピーダンス状態である時にそれ
    を行うようにされているフリップフロップ。
  5. 【請求項5】 請求項1〜請求項4のいずれかに記載の
    フリップフロップであって、特定のレベルを与える手段
    はその論理レベルを第1のゲート手段を介して前記内部
    ノードへ与えるフリップフロップ。
  6. 【請求項6】 請求項5記載のフリップフロップであっ
    て、特定の論理レベルを与える手段はデータ信号を受信
    して、前記セット信号がアクティブである時は特定の論
    理レベルを前記段の入力ノードに与え、前記セット信号
    がインアクティブである時はデータ信号を与えるように
    接続された第3のゲート手段を含むフリップフロップ。
  7. 【請求項7】 請求項6記載のフリップフロップであっ
    て、第3のゲート手段はNANDゲートもしくはNOR
    ゲートを含むフリップフロップ。
  8. 【請求項8】 請求項6もしくは7記載のフリップフロ
    ップであって、データセレクト入力および、前記データ
    入力を含む、複数の前記データ入力、およびマルチプレ
    クサを含み、第3のゲート手段はマルチプレクサ内に含
    むことができ、このマルチプレクサはこれらのデータ入
    力を受信しデータセレクト信号に応答してこれらのデー
    タ入力の中の特定の1つをフリップフロップの前記すな
    わち第1段の入力ノードに供給するように接続されるフ
    リップフロップ。
  9. 【請求項9】 請求項8記載のフリップフロップであっ
    て、第3のゲート手段は3状態出力を有し、マルチプレ
    クサはデータセレクト信号およびセット信号を結合して
    第3のゲート手段の出力をイネーブルする1つ以上の制
    御信号を与え、第3のゲート手段によりゲートされたデ
    ータ信号がデータセレクト信号により表示される時およ
    びセット信号がアクティブである時は常に、複数の他の
    データ信号がマルチプレクサから出力されるのを防止
    し、そうでなければ第3のゲート手段の出力をハイイン
    ピーダンスとする制御回路を含むフリップフロップ。
  10. 【請求項10】 請求項1〜請求項9のいずれかに記載
    のフリップフロップであって、請求項1に明記された段
    の中の第2段を含み、第2段の入力ノードは第1の前記
    段の出力ノードに接続され、フリップフロップ回路はセ
    ット信号に応答して第2段の出力を特定の論理レベルに
    セットするフリップフロップ。
  11. 【請求項11】 データ入力、データ出力、セット信号
    入力、クロック信号入力、および第1および第2の段を
    含むフリップフロップであって、各段は、 入力ノードおよび出力ノードを含み、 第2段の入力ノードは第1段の出力ノードに接続され、
    フリップフロップ回路はセット信号に応答して第2段の
    出力を特定の論理レベルにセットし、 各段は、さらに、 クロック信号に応答して、段の入力ノードにおける論理
    信号が内部ノードへ通される導通状態と、ハイインピー
    ダンス状態間を交互に切り替える第1のゲート手段と、 内部ノードに接続されて、反転されたもしくは直立し
    た、内部ノードにおけるレベルを段の出力ノードに与え
    るバッファ手段と、 段の出力ノードにおける論理レベルをセット信号と論理
    的に結合して論理的結合の結果を内部ノードに与える第
    2のゲート手段と、 を含むフリップフロップ。
  12. 【請求項12】 請求項11記載のフリップフロップで
    あって、第2のゲート手段は内部ノードにハイインピー
    ダンスを与える状態と、内部ノードに論理的結合の結果
    を与える状態間を切り替えるようにクロック信号に応答
    するフリップフロップ。
  13. 【請求項13】 請求項12記載のフリップフロップで
    あって、回路は各段の第1および第2のゲート手段がハ
    イインピーダンス状態である時間が交互に起こり、第2
    段の第1のゲート手段および第1段の第2のゲート手段
    がハイインピーダンス状態である時間が交互に起こるよ
    うに構成されるフリップフロップ。
  14. 【請求項14】 請求項13記載のフリップフロップで
    あって、第2のゲート手段は段内の第1のゲート手段よ
    りも高い出力電流を供給するするフリップフロップ。
  15. 【請求項15】 請求項1〜請求項10のいずれか1項
    および請求項11〜請求項14のいずれか1項に記載の
    フリップフロップ。
  16. 【請求項16】 請求項1〜請求項15のいずれかに記
    載のフリップフロップであって、データセレクト入力、
    前記データ入力を含む複数のデータ入力、およびこれら
    のデータ入力を受信しデータセレクト信号に応答してこ
    れらのデータ入力の中の特定の1つをフリップフロップ
    の前記すなわち第1段の入力ノードへ供給するマルチプ
    レクサを含むフリップフロップ。
  17. 【請求項17】 請求項1〜請求項16のいずれかに項
    記載のフリップフロップであって、セット信号はアクテ
    ィブローとされるフリップフロップ。
  18. 【請求項18】 請求項1〜請求項16のいずれかに記
    載のフリップフロップであって、セット信号はアクティ
    ブハイとされるフリップフロップ。
  19. 【請求項19】 請求項1〜請求項18のいずれかに記
    載のフリップフロップであって、セット信号はクリア信
    号でありフリップフロップはそれに応答してそのデータ
    出力に論理ローを与えるようにされているフリップフロ
    ップ。
  20. 【請求項20】 請求項1〜請求項18のいずれかに記
    載のフリップフロップであって、セット信号はプリセッ
    ト信号でありフリップフロップはそれに応答してそのデ
    ータ出力に論理ハイを与えるようにされているフリップ
    フロップ。
  21. 【請求項21】 請求項1〜請求項20のいずれかに記
    載のフリップフロップであって、クリア信号に応答して
    そのデータ出力に論理ローを与えプリセット信号に応答
    してそのデータ出力に論理ハイを与えるフリップフロッ
    プ。
  22. 【請求項22】 請求項1〜請求項21のいずれかに記
    載のフリップフロップであって、セット信号は直立およ
    び反転信号を含む相補形であり、セット信号に応答する
    フリップフロップの構成部分はこれらの相補信号の一方
    もしくは他方もしくは両方を受信するように接続される
    フリップフロップ。
  23. 【請求項23】 請求項1〜請求項22のいずれかに記
    載のフリップフロップであって、前記段の各バッファは
    段の出力ノードにおいて反転された内部ノードの論理レ
    ベルを与えるように接続された反転手段であるフリップ
    フロップ。
  24. 【請求項24】 請求項1〜請求項23のいずれかに記
    載のフリップフロップであって、各第2のゲート手段は
    セット信号がインアクティブである時に段の出力ノード
    における論理レベルを反転させる論理的結合を与えるフ
    リップフロップ。
  25. 【請求項25】 請求項24記載のフリップフロップで
    あって、各第2のゲート手段はNANDゲートもしくは
    NORゲートであるフリップフロップ。
  26. 【請求項26】 請求項1〜請求項25のいずれかに記
    載のフリップフロップであって、各第1のゲート手段は
    伝達ゲートであるフリップフロップ。
  27. 【請求項27】 図7,図9,図11もしくは図12の
    いずれか1つに実質的に示され、それに関して説明され
    たフリップフロップ。
JP2001209981A 2000-06-06 2001-06-06 フリップフロップ Abandoned JP2002084167A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GBGB0013790.1A GB0013790D0 (en) 2000-06-06 2000-06-06 Improvements in or relating to flip-flop design
GB0013790.1 2000-06-06

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002084167A true JP2002084167A (ja) 2002-03-22

Family

ID=9893109

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001209981A Abandoned JP2002084167A (ja) 2000-06-06 2001-06-06 フリップフロップ

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6614276B2 (ja)
EP (1) EP1162742A1 (ja)
JP (1) JP2002084167A (ja)
CN (1) CN1209871C (ja)
GB (1) GB0013790D0 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006109475A (ja) * 2004-10-02 2006-04-20 Samsung Electronics Co Ltd スキャン機能を有するフリップフロップ回路
JP2007336482A (ja) * 2006-06-19 2007-12-27 Toshiba Corp 半導体集積回路装置

Families Citing this family (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3842571B2 (ja) * 2001-03-29 2006-11-08 株式会社東芝 フリップフロップ回路
KR100445433B1 (ko) * 2002-03-21 2004-08-21 삼성에스디아이 주식회사 유기 전계발광 표시 장치와 그 구동 방법 및 구동 장치
DE10250866B4 (de) * 2002-10-31 2009-01-02 Qimonda Ag D-Flipflop
CN1324706C (zh) * 2002-11-07 2007-07-04 上海贝岭股份有限公司 多功能管脚电路
CN100483944C (zh) * 2004-03-06 2009-04-29 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 混合锁存触发器
US7098833B2 (en) * 2004-06-04 2006-08-29 Texas Instruments Incorporated Tri-value decoder circuit and method
JP2006005661A (ja) * 2004-06-17 2006-01-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd フリップフロップ回路
JP2006279315A (ja) * 2005-03-28 2006-10-12 Sanyo Electric Co Ltd チョッパ型コンパレータ
CN100347956C (zh) * 2005-03-29 2007-11-07 清华大学 低时钟信号摆幅条件预充电cmos触发器
CN100347957C (zh) * 2005-04-08 2007-11-07 清华大学 高速低时钟信号摆幅条件预充cmos触发器
CN100347955C (zh) * 2005-06-09 2007-11-07 清华大学 带有扫描测试功能基于条件预充结构的d触发器
CN100364230C (zh) * 2005-06-09 2008-01-23 清华大学 同步使能型条件预充cmos触发器
CN1710811B (zh) * 2005-06-24 2010-04-14 清华大学 同步扫描使能条件预充cmos触发器
US7596732B2 (en) 2005-06-30 2009-09-29 Texas Instruments Incorporated Digital storage element architecture comprising dual scan clocks and gated scan output
US8692592B2 (en) * 2005-06-30 2014-04-08 Texas Instruments Incorporated Digital storage element architecture comprising integrated 2-to-1 multiplexer functionality
US7315191B2 (en) * 2005-06-30 2008-01-01 Texas Instruments Incorporated Digital storage element architecture comprising dual scan clocks and reset functionality
US20070147572A1 (en) * 2005-12-28 2007-06-28 Intel Corporation Registers for an enhanced idle architectural state
JP4297159B2 (ja) * 2006-12-08 2009-07-15 ソニー株式会社 フリップフロップおよび半導体集積回路
JP5211310B2 (ja) * 2007-03-07 2013-06-12 セミコンダクター・コンポーネンツ・インダストリーズ・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー 半導体集積回路
TW200840217A (en) * 2007-03-23 2008-10-01 Faraday Tech Corp Circuit of scan flip-flop with extra hold time margin
US7649395B2 (en) * 2007-05-15 2010-01-19 Ati Technologies Ulc Scan flip-flop with internal latency for scan input
FR2951337B1 (fr) 2009-10-09 2012-06-08 St Microelectronics Sa Bascule a phase d'horloge unique et a puissance dynamique reduite
CN102064680B (zh) * 2009-11-18 2013-07-24 上海华虹Nec电子有限公司 应用于多电源片上系统的混合型锁存器
CN101866696B (zh) * 2010-03-30 2012-11-21 北京时代民芯科技有限公司 一种脉冲寄存器的实现结构
US8471618B2 (en) * 2010-04-12 2013-06-25 Mediatek Inc. Flip-flop for low swing clock signal
US8493118B2 (en) * 2010-09-28 2013-07-23 Apple Inc. Low power scannable latch
JP5704600B2 (ja) * 2010-11-26 2015-04-22 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体集積回路
US20120223756A1 (en) * 2011-03-01 2012-09-06 Morteza Afghahi Method and System for High Speed, Low Power and Small Flip-Flops
CN103138715A (zh) * 2013-01-24 2013-06-05 西安电子科技大学 基于晶体管的高速d触发器
US9311438B1 (en) 2014-10-07 2016-04-12 Freescale Semiconductor, Inc. Signal delay flip-flop cell for fixing hold time violation
US9455691B2 (en) 2014-10-17 2016-09-27 Freescale Semiconductor, Inc. Flip-flop cell with configurable delay
US10110232B2 (en) * 2015-06-30 2018-10-23 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Multiplexer and latch system
US9705481B1 (en) * 2015-12-31 2017-07-11 Texas Instruments Incorporated Area-optimized retention flop implementation
CN109088618B (zh) * 2018-09-29 2022-05-20 上海华虹宏力半导体制造有限公司 C2mos触发器
US11509295B2 (en) 2020-06-24 2022-11-22 Samsung Electronics Co., Ltd. High-speed flip flop circuit including delay circuit
CN113258925B (zh) * 2021-06-18 2021-10-19 浙江威固信息技术有限责任公司 一种电压信号上升沿到达先后顺序判断电路及判断方法
CN114567301B (zh) * 2022-04-28 2022-08-23 深圳比特微电子科技有限公司 具有多路选择器功能的混合相位d触发器

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4275316A (en) * 1978-11-06 1981-06-23 Rca Corporation Resettable bistable circuit
JPS6011489B2 (ja) 1978-12-13 1985-03-26 富士通株式会社 フリツプフロツプ回路
JPS6179318A (ja) * 1984-09-27 1986-04-22 Fujitsu Ltd フリツプフロツプ回路
JPH088473B2 (ja) * 1986-05-06 1996-01-29 松下電器産業株式会社 相補形d形フリツプフロツプ回路
JPS6318814A (ja) * 1986-07-11 1988-01-26 Nec Corp フリツプフロツプ回路
JPH0196573A (ja) * 1987-10-08 1989-04-14 Matsushita Electron Corp 集積回路
JPH03201717A (ja) * 1989-12-28 1991-09-03 Mitsubishi Electric Corp フリップフロップ回路
US5023486A (en) * 1990-03-30 1991-06-11 Atmel Corporation Logic output control circuit for a latch
US5140180A (en) 1990-08-24 1992-08-18 Ncr Corporation High speed cmos flip-flop employing clocked tristate inverters
JPH04263510A (ja) * 1991-02-18 1992-09-18 Nec Corp フリップフロップ回路
JPH0897685A (ja) * 1994-09-22 1996-04-12 Fujitsu Ltd フリップフロップ回路
US5663669A (en) * 1994-12-14 1997-09-02 International Business Machines Corporation Circuitry and method for latching information
US6198323B1 (en) * 1999-01-28 2001-03-06 Lucent Technologies Inc. Flip-flop having gated inverter feedback structure with embedded preset/clear logic

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006109475A (ja) * 2004-10-02 2006-04-20 Samsung Electronics Co Ltd スキャン機能を有するフリップフロップ回路
JP2007336482A (ja) * 2006-06-19 2007-12-27 Toshiba Corp 半導体集積回路装置
US8395431B2 (en) 2006-06-19 2013-03-12 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor integrated circuit device
US8558595B2 (en) 2006-06-19 2013-10-15 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor integrated circuit device

Also Published As

Publication number Publication date
GB0013790D0 (en) 2000-07-26
CN1209871C (zh) 2005-07-06
EP1162742A1 (en) 2001-12-12
CN1337781A (zh) 2002-02-27
US20020005745A1 (en) 2002-01-17
US6614276B2 (en) 2003-09-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2002084167A (ja) フリップフロップ
US5898330A (en) Edge-triggered staticized dynamic flip-flop with scan circuitry
US5917355A (en) Edge-triggered staticized dynamic flip-flop with conditional shut-off mechanism
US6023179A (en) Method of implementing a scan flip-flop using an edge-triggered staticized dynamic flip-flop
US7301372B2 (en) Domino logic compatible scannable flip-flop
US5646558A (en) Plurality of distinct multiplexers that operate as a single multiplexer
JP3552972B2 (ja) スタティッククロックパルス発振器、空間光変調器、およびディスプレイ
US5598114A (en) High speed reduced area multiplexer
US5444404A (en) Scan flip-flop with power saving feature
US5867049A (en) Zero setup time flip flop
JP3572329B2 (ja) データラッチ回路及びデータラッチ回路の動作方法。
US8072252B2 (en) Compound logic flip-flop having a plurality of input stages
US5426380A (en) High speed processing flip-flop
JP2005518747A (ja) マスタラッチにトランスミッションゲートを有するフリップフロップ
US6472909B1 (en) Clock routing circuit with fast glitchless switching
US20080084235A1 (en) Dynamic scannable latch and method of operation
US7873896B2 (en) High performance pulsed storage circuit
US5850150A (en) Final stage clock buffer in a clock distribution network
US6920595B2 (en) Skewed latch flip-flop with embedded scan function
JP2003043108A (ja) フリップフロップ及びスキャンパス回路
US7893722B2 (en) Clock control of state storage circuitry
EP1087529B1 (en) Latching domino logic circuit with hold time
US7164302B1 (en) One gate delay output noise insensitive latch
JPH08278840A (ja) 3状態バス用キーパ回路及びこれを含む集積回路
US8525566B2 (en) Glitch hardened flop repeater

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080508

A762 Written abandonment of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A762

Effective date: 20090916