JPH04263510A - フリップフロップ回路 - Google Patents

フリップフロップ回路

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JPH04263510A
JPH04263510A JP3045934A JP4593491A JPH04263510A JP H04263510 A JPH04263510 A JP H04263510A JP 3045934 A JP3045934 A JP 3045934A JP 4593491 A JP4593491 A JP 4593491A JP H04263510 A JPH04263510 A JP H04263510A
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JP
Japan
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data
latch
logic
clock
mos transfer
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JP3045934A
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Masao Akata
赤田 正雄
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NEC Corp
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/353Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
    • H03K3/356Bistable circuits
    • H03K3/3562Bistable circuits of the master-slave type
    • H03K3/35625Bistable circuits of the master-slave type using complementary field-effect transistors
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/01Details
    • H03K3/012Modifications of generator to improve response time or to decrease power consumption
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/027Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of logic circuits, with internal or external positive feedback
    • H03K3/037Bistable circuits
    • H03K3/0375Bistable circuits provided with means for increasing reliability; for protection; for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied; for storing the actual state when the supply voltage fails

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、MOS−LSI用の高
速フリップフロップ回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のMOSフリップフロップ回路は、
図3に示すように、マスタラッチとスレーブラッチの縦
属接続で構成される。マスタラッチは、データ入力端子
DのデータをインバータINV0を介して入力するPチ
ャネルMOSトランジスタMP0とNチャネルMOSト
ランジスタMN0とを並列接続したトランスファゲート
でサンプリングし、インバータINV1、ゲートNAN
D0およびPチャネルMOSトランジスタMP1とNチ
ャネルMOSトランジスタMN1を並列接続したトラン
スファゲートで形成される正帰還ループでサンプリング
したデータを保持する。ここで、トランスファゲートの
クロック信号はクロック入力端子Cから入力したクロッ
クの正・反両相の信号を、サンプリング用のMOSトラ
ンスファゲート(MP0、MN0)と保持用のMOSト
ランスファゲート(MP1、MN1)が相補的に動作す
るように与えられる。データ入力端子Dに設けられたイ
ンバータINV0は、入力端子インピーダンスがラッチ
動作に依存して変化しないようにするためのバッファ回
路である。また、正帰還ループのゲートNAND0はリ
セット入力端子Rから入力した信号で内部をリセットす
るためのものである。スレーブラッチは、マスタラッチ
の正帰還ループのデータをPチャネルMOSトランジス
タMP2とNチャネルMOSトランジスタMN2とを並
列接続したトランスファゲートでサンプリングし、ゲー
トNAND1、インバータINV2およびPチャネルM
OSトランジスタMP3とNチャネルMOSトランジス
タMN3を並列接続したトランスファゲートで形成され
る正帰還ループでサンプリングしたデータを保持する。
【0003】図3では、マスタラッチはクロック入力C
が論理「1」のときに保持動作、論理「0」のときに非
保持動作(つまり、入力変化が出力に伝達する)になっ
ており、スレーブラッチはその逆になっている。したが
って、フリップフロップ全体の動作としては、クロック
Cが論理「0」から論理「1」に立ち下がるときに入力
データをサンプリングし、その値を出力Qに伝達するエ
ッジトリガ動作になる。なお、スレーブラッチのデータ
はインバータINV3を介して出力端子Qから出力する
ので、負荷がラッチ動作に影響を与えない。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このような従来のフリ
ップフロップ回路では、データ入力端子Dおよびデータ
出力端子Qにはバッファ回路としてインバータINV0
およびINV3がそれぞれ設けられているものの、マス
タラッチの正帰還ループから直接にスレーブラッチのト
ランスファゲートが接続されているので、スレーブラッ
チの状態がマスタラッチに影響する。これは、クロック
入力cの立ち上がり近くでデータ入力Dが変化する場合
に問題になる。これを図4のタイムチャートで説明する
。図4は、論理「0」状態が保持されている図3のフリ
ップフロップ回路でクロックC立ち上がり時直前にデー
タ入力dが「0」から「1」に変化した様子を示してい
る。図中のIのタイミングでデータ入力dは「0」から
「1」に変化しはじめるが、IIのタイミングでクロッ
クcが変化し始め、MOSトランスファゲート(MP0
、MN0)が閉じ始めるのでINV1入力ノードの変化
が遅くなる。その上、スレーブラッチのトランスファゲ
ート(MP2、MN2)がオンしだすことによりスレー
ブラッチ内の論理「0」のノードにINV1の出力ノー
ドの電荷が吸い出され、結局マスタラッチは「1」に反
転できないままで終わる。この現象はいわゆる「セット
アップ時間が足りない」という状態である。図4のクロ
ック入力cとデータ入力dのタイミングはマージンの無
い動作状態を表しているが、問題となるのは図4のシー
ケンスがスレーブラッチの保持状態に依存していること
である。すなわち、図4のシーケンスでスレーブラッチ
が論理「1」を保持していれば、スレーブラッチの電荷
が逆にマスタラッチを反転させる方向に働くわけである
。この場合はセットアップタイムは小さくても良い。 このような回路では、セットアップタイムは当然「最悪
」の値に設定せざるを得ない。すなわち、スレーブラッ
チ内の電位の影響を受けてもマスタラッチが反転できる
だけのマージンを与える必要がある。
【0005】本発明は、このような欠点を除去するもの
で、スレーブラッチの状態によりマスタラッチへ影響を
与えないフリップフロップ回路を提供することを目的と
する。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、互いに逆相の
クロックで相補動作して入力データ電位をサンプリング
するMOSトランスファゲートとこのMOSトランスフ
ァゲートでサンプリングされた電位を保持する正帰還ル
ープとをそれぞれに含み、従属接続された2つのラッチ
回路を備えたフリップフロップ回路において、前段のラ
ッチ回路の正帰還ループと後段のラッチ回路のMOSト
ランスファゲートの入力との間に挿入れたバッファ回路
を備えたことを特徴とする。
【0007】
【作用】マスタラッチとスレーブラッチとの間のバッフ
ァ回路によりマスタラッチの動作にスレーブラッチの状
態が影響を与えない。したがって、セットアップタイム
を短縮することができる。
【0008】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を参照
して説明する。図1はこの実施例の回路構成図である。
【0009】この実施例は、図1に示すように、互いに
逆相のクロックで相補動作して入力データ電位をサンプ
リングするMOSトランスファゲート(MP0、MN0
)または(MP2、MN2)とこのMOSトランスファ
ゲート(MP0、MN0)または(MP2、MN2)で
サンプリングされた電位を保持する正帰還ループである
インバータINV1、ゲートNAND0 およびMOS
トランスファゲート(MP2、MN2)または( イン
バータINV2、ゲートNAND1 およびMOSトラ
ンスファゲート(MP3、MN3)とをそれぞれに含み
、従属接続された2つのラッチ回路であるマスタラッチ
( スレーブラッチ) を備え、さらに、本発明の特徴
とする手段として、前段のラッチ回路であるマスタラッ
チの正帰還ループと後段のラッチ回路であるスレーブラ
ッチのMOSトランスファゲートの入力との間に挿入れ
たバッファ回路を備える。
【0010】次にこの実施例の動作を説明する。マスタ
ラッチの構成動作は図3の従来例と同一である。すなわ
ち、クロックCが論理「0」の期間はMOSトランスフ
ァゲートMP0およびMN0はオン状態になり、インバ
ータINV0を介してデータ入力端子Dからのデータを
ラッチ内部に取り込み、クロックCが論理「1」になる
とMOSトランスファゲート(MP1、MN1)がオン
状態になり、インバータINV1およびゲートNAND
0から成る正帰還ループでそのデータを保持する。スレ
ーブラッチへはインバータINV2をバッファ回路とし
てデータを伝達し、そのデータはクロック入力cが論理
「1」の期間にMOSトランスファゲート(MP2、M
N2)がオン状態になってラッチ内部に取り込み、クロ
ックCが論理「0」の期間にMOSトランスファゲート
(MP3、MN3)がオンとなってインバータINV3
およびゲートNAND1から成る正帰還ループで保持す
る。データ出力端子Qへの出力がインバータINV3の
前段からインバータINV4を介して取り出されている
のは、データ入力端子Dと論理極性を合わせるためであ
る。また、従来例と違ってマスタラッチのゲートNAN
D1がインバータINV3の後にあるのは、リセット信
号Rが論理「0」のときに正しくデータ出力端子Qに論
理「0」が出力されるためである。
【0011】このフリップフロップ回路でクロック入力
cの立ち上がりの直前でデータ入力Dが「0」から「1
」へ変化してマスタラッチの内部を反転させる場合のタ
イムチャートを図2に示す。図中のIのタイミングでデ
ータが変化しはじめ、IIのタイミングでクロックが変
化しはじめ、トランスファゲート(MP0、MN0)が
オフしはじめることによりインバータINV1の入力変
化が遅くなる。しかし、インバータINV2を介してス
レーブラッチのトランスファゲートと接続されているの
で、トランスファゲートMP2およびMN2がオンしは
じめてもスレーブラッチの保持状態はマスタラッチに影
響しない。すなわち、スレーブラッチ内の電荷がマスタ
ラッチの反転を遅らせることはない。したがって、クロ
ックの立ち上がり直前のデータ変化でもマスタラッチを
反転させることが可能である。すなわち、セットアップ
タイムが小さくても動作できる。
【0012】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように、マスタ
ラッチとスレーブラッチの間をバッファ回路を介して接
続したので、マスタラッチの動作にスレーブラッチの状
態が影響を与えることなく、したがってセットアップタ
イムを小さくすることができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】  本発明実施例の構成を示すブロック構成図
【図2】  本発明実施例の動作を示す波形図。
【図3】  従来例の構成を示すブロック構成図。
【図4】  従来例の動作を示す波形図。
【符号の説明】
D        データ入力端子 C        クロック端子 R        リセット端子 Q        データ出力端子 INV    インバータ NAND  ゲート

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  互いに逆相のクロックで相補動作して
    入力データ電位をサンプリングするMOSトランスファ
    ゲートとこのMOSトランスファゲートでサンプリング
    された電位を保持する正帰還ループとをそれぞれに含み
    、従属接続された2つのラッチ回路を備えたフリップフ
    ロップ回路において、前段のラッチ回路の正帰還ループ
    と後段のラッチ回路のMOSトランスファゲートの入力
    との間に挿入れたバッファ回路を備えたことを特徴とす
    るフリップフロップ回路。
JP3045934A 1991-02-18 1991-02-18 フリップフロップ回路 Pending JPH04263510A (ja)

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