JPH04263510A - フリップフロップ回路 - Google Patents
フリップフロップ回路Info
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- JPH04263510A JPH04263510A JP3045934A JP4593491A JPH04263510A JP H04263510 A JPH04263510 A JP H04263510A JP 3045934 A JP3045934 A JP 3045934A JP 4593491 A JP4593491 A JP 4593491A JP H04263510 A JPH04263510 A JP H04263510A
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- data
- latch
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- clock
- mos transfer
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Links
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- 230000002035 prolonged effect Effects 0.000 abstract 1
- 101150110971 CIN7 gene Proteins 0.000 description 6
- 101100508840 Daucus carota INV3 gene Proteins 0.000 description 6
- 101150110298 INV1 gene Proteins 0.000 description 6
- 101100397044 Xenopus laevis invs-a gene Proteins 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 101100286980 Daucus carota INV2 gene Proteins 0.000 description 3
- 101100397045 Xenopus laevis invs-b gene Proteins 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 101150070189 CIN3 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/353—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
- H03K3/356—Bistable circuits
- H03K3/3562—Bistable circuits of the master-slave type
- H03K3/35625—Bistable circuits of the master-slave type using complementary field-effect transistors
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/01—Details
- H03K3/012—Modifications of generator to improve response time or to decrease power consumption
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/027—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of logic circuits, with internal or external positive feedback
- H03K3/037—Bistable circuits
- H03K3/0375—Bistable circuits provided with means for increasing reliability; for protection; for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied; for storing the actual state when the supply voltage fails
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、MOS−LSI用の高
速フリップフロップ回路に関する。
速フリップフロップ回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のMOSフリップフロップ回路は、
図3に示すように、マスタラッチとスレーブラッチの縦
属接続で構成される。マスタラッチは、データ入力端子
DのデータをインバータINV0を介して入力するPチ
ャネルMOSトランジスタMP0とNチャネルMOSト
ランジスタMN0とを並列接続したトランスファゲート
でサンプリングし、インバータINV1、ゲートNAN
D0およびPチャネルMOSトランジスタMP1とNチ
ャネルMOSトランジスタMN1を並列接続したトラン
スファゲートで形成される正帰還ループでサンプリング
したデータを保持する。ここで、トランスファゲートの
クロック信号はクロック入力端子Cから入力したクロッ
クの正・反両相の信号を、サンプリング用のMOSトラ
ンスファゲート(MP0、MN0)と保持用のMOSト
ランスファゲート(MP1、MN1)が相補的に動作す
るように与えられる。データ入力端子Dに設けられたイ
ンバータINV0は、入力端子インピーダンスがラッチ
動作に依存して変化しないようにするためのバッファ回
路である。また、正帰還ループのゲートNAND0はリ
セット入力端子Rから入力した信号で内部をリセットす
るためのものである。スレーブラッチは、マスタラッチ
の正帰還ループのデータをPチャネルMOSトランジス
タMP2とNチャネルMOSトランジスタMN2とを並
列接続したトランスファゲートでサンプリングし、ゲー
トNAND1、インバータINV2およびPチャネルM
OSトランジスタMP3とNチャネルMOSトランジス
タMN3を並列接続したトランスファゲートで形成され
る正帰還ループでサンプリングしたデータを保持する。
図3に示すように、マスタラッチとスレーブラッチの縦
属接続で構成される。マスタラッチは、データ入力端子
DのデータをインバータINV0を介して入力するPチ
ャネルMOSトランジスタMP0とNチャネルMOSト
ランジスタMN0とを並列接続したトランスファゲート
でサンプリングし、インバータINV1、ゲートNAN
D0およびPチャネルMOSトランジスタMP1とNチ
ャネルMOSトランジスタMN1を並列接続したトラン
スファゲートで形成される正帰還ループでサンプリング
したデータを保持する。ここで、トランスファゲートの
クロック信号はクロック入力端子Cから入力したクロッ
クの正・反両相の信号を、サンプリング用のMOSトラ
ンスファゲート(MP0、MN0)と保持用のMOSト
ランスファゲート(MP1、MN1)が相補的に動作す
るように与えられる。データ入力端子Dに設けられたイ
ンバータINV0は、入力端子インピーダンスがラッチ
動作に依存して変化しないようにするためのバッファ回
路である。また、正帰還ループのゲートNAND0はリ
セット入力端子Rから入力した信号で内部をリセットす
るためのものである。スレーブラッチは、マスタラッチ
の正帰還ループのデータをPチャネルMOSトランジス
タMP2とNチャネルMOSトランジスタMN2とを並
列接続したトランスファゲートでサンプリングし、ゲー
トNAND1、インバータINV2およびPチャネルM
OSトランジスタMP3とNチャネルMOSトランジス
タMN3を並列接続したトランスファゲートで形成され
る正帰還ループでサンプリングしたデータを保持する。
【0003】図3では、マスタラッチはクロック入力C
が論理「1」のときに保持動作、論理「0」のときに非
保持動作(つまり、入力変化が出力に伝達する)になっ
ており、スレーブラッチはその逆になっている。したが
って、フリップフロップ全体の動作としては、クロック
Cが論理「0」から論理「1」に立ち下がるときに入力
データをサンプリングし、その値を出力Qに伝達するエ
ッジトリガ動作になる。なお、スレーブラッチのデータ
はインバータINV3を介して出力端子Qから出力する
ので、負荷がラッチ動作に影響を与えない。
が論理「1」のときに保持動作、論理「0」のときに非
保持動作(つまり、入力変化が出力に伝達する)になっ
ており、スレーブラッチはその逆になっている。したが
って、フリップフロップ全体の動作としては、クロック
Cが論理「0」から論理「1」に立ち下がるときに入力
データをサンプリングし、その値を出力Qに伝達するエ
ッジトリガ動作になる。なお、スレーブラッチのデータ
はインバータINV3を介して出力端子Qから出力する
ので、負荷がラッチ動作に影響を与えない。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このような従来のフリ
ップフロップ回路では、データ入力端子Dおよびデータ
出力端子Qにはバッファ回路としてインバータINV0
およびINV3がそれぞれ設けられているものの、マス
タラッチの正帰還ループから直接にスレーブラッチのト
ランスファゲートが接続されているので、スレーブラッ
チの状態がマスタラッチに影響する。これは、クロック
入力cの立ち上がり近くでデータ入力Dが変化する場合
に問題になる。これを図4のタイムチャートで説明する
。図4は、論理「0」状態が保持されている図3のフリ
ップフロップ回路でクロックC立ち上がり時直前にデー
タ入力dが「0」から「1」に変化した様子を示してい
る。図中のIのタイミングでデータ入力dは「0」から
「1」に変化しはじめるが、IIのタイミングでクロッ
クcが変化し始め、MOSトランスファゲート(MP0
、MN0)が閉じ始めるのでINV1入力ノードの変化
が遅くなる。その上、スレーブラッチのトランスファゲ
ート(MP2、MN2)がオンしだすことによりスレー
ブラッチ内の論理「0」のノードにINV1の出力ノー
ドの電荷が吸い出され、結局マスタラッチは「1」に反
転できないままで終わる。この現象はいわゆる「セット
アップ時間が足りない」という状態である。図4のクロ
ック入力cとデータ入力dのタイミングはマージンの無
い動作状態を表しているが、問題となるのは図4のシー
ケンスがスレーブラッチの保持状態に依存していること
である。すなわち、図4のシーケンスでスレーブラッチ
が論理「1」を保持していれば、スレーブラッチの電荷
が逆にマスタラッチを反転させる方向に働くわけである
。この場合はセットアップタイムは小さくても良い。 このような回路では、セットアップタイムは当然「最悪
」の値に設定せざるを得ない。すなわち、スレーブラッ
チ内の電位の影響を受けてもマスタラッチが反転できる
だけのマージンを与える必要がある。
ップフロップ回路では、データ入力端子Dおよびデータ
出力端子Qにはバッファ回路としてインバータINV0
およびINV3がそれぞれ設けられているものの、マス
タラッチの正帰還ループから直接にスレーブラッチのト
ランスファゲートが接続されているので、スレーブラッ
チの状態がマスタラッチに影響する。これは、クロック
入力cの立ち上がり近くでデータ入力Dが変化する場合
に問題になる。これを図4のタイムチャートで説明する
。図4は、論理「0」状態が保持されている図3のフリ
ップフロップ回路でクロックC立ち上がり時直前にデー
タ入力dが「0」から「1」に変化した様子を示してい
る。図中のIのタイミングでデータ入力dは「0」から
「1」に変化しはじめるが、IIのタイミングでクロッ
クcが変化し始め、MOSトランスファゲート(MP0
、MN0)が閉じ始めるのでINV1入力ノードの変化
が遅くなる。その上、スレーブラッチのトランスファゲ
ート(MP2、MN2)がオンしだすことによりスレー
ブラッチ内の論理「0」のノードにINV1の出力ノー
ドの電荷が吸い出され、結局マスタラッチは「1」に反
転できないままで終わる。この現象はいわゆる「セット
アップ時間が足りない」という状態である。図4のクロ
ック入力cとデータ入力dのタイミングはマージンの無
い動作状態を表しているが、問題となるのは図4のシー
ケンスがスレーブラッチの保持状態に依存していること
である。すなわち、図4のシーケンスでスレーブラッチ
が論理「1」を保持していれば、スレーブラッチの電荷
が逆にマスタラッチを反転させる方向に働くわけである
。この場合はセットアップタイムは小さくても良い。 このような回路では、セットアップタイムは当然「最悪
」の値に設定せざるを得ない。すなわち、スレーブラッ
チ内の電位の影響を受けてもマスタラッチが反転できる
だけのマージンを与える必要がある。
【0005】本発明は、このような欠点を除去するもの
で、スレーブラッチの状態によりマスタラッチへ影響を
与えないフリップフロップ回路を提供することを目的と
する。
で、スレーブラッチの状態によりマスタラッチへ影響を
与えないフリップフロップ回路を提供することを目的と
する。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、互いに逆相の
クロックで相補動作して入力データ電位をサンプリング
するMOSトランスファゲートとこのMOSトランスフ
ァゲートでサンプリングされた電位を保持する正帰還ル
ープとをそれぞれに含み、従属接続された2つのラッチ
回路を備えたフリップフロップ回路において、前段のラ
ッチ回路の正帰還ループと後段のラッチ回路のMOSト
ランスファゲートの入力との間に挿入れたバッファ回路
を備えたことを特徴とする。
クロックで相補動作して入力データ電位をサンプリング
するMOSトランスファゲートとこのMOSトランスフ
ァゲートでサンプリングされた電位を保持する正帰還ル
ープとをそれぞれに含み、従属接続された2つのラッチ
回路を備えたフリップフロップ回路において、前段のラ
ッチ回路の正帰還ループと後段のラッチ回路のMOSト
ランスファゲートの入力との間に挿入れたバッファ回路
を備えたことを特徴とする。
【0007】
【作用】マスタラッチとスレーブラッチとの間のバッフ
ァ回路によりマスタラッチの動作にスレーブラッチの状
態が影響を与えない。したがって、セットアップタイム
を短縮することができる。
ァ回路によりマスタラッチの動作にスレーブラッチの状
態が影響を与えない。したがって、セットアップタイム
を短縮することができる。
【0008】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を参照
して説明する。図1はこの実施例の回路構成図である。
して説明する。図1はこの実施例の回路構成図である。
【0009】この実施例は、図1に示すように、互いに
逆相のクロックで相補動作して入力データ電位をサンプ
リングするMOSトランスファゲート(MP0、MN0
)または(MP2、MN2)とこのMOSトランスファ
ゲート(MP0、MN0)または(MP2、MN2)で
サンプリングされた電位を保持する正帰還ループである
インバータINV1、ゲートNAND0 およびMOS
トランスファゲート(MP2、MN2)または( イン
バータINV2、ゲートNAND1 およびMOSトラ
ンスファゲート(MP3、MN3)とをそれぞれに含み
、従属接続された2つのラッチ回路であるマスタラッチ
( スレーブラッチ) を備え、さらに、本発明の特徴
とする手段として、前段のラッチ回路であるマスタラッ
チの正帰還ループと後段のラッチ回路であるスレーブラ
ッチのMOSトランスファゲートの入力との間に挿入れ
たバッファ回路を備える。
逆相のクロックで相補動作して入力データ電位をサンプ
リングするMOSトランスファゲート(MP0、MN0
)または(MP2、MN2)とこのMOSトランスファ
ゲート(MP0、MN0)または(MP2、MN2)で
サンプリングされた電位を保持する正帰還ループである
インバータINV1、ゲートNAND0 およびMOS
トランスファゲート(MP2、MN2)または( イン
バータINV2、ゲートNAND1 およびMOSトラ
ンスファゲート(MP3、MN3)とをそれぞれに含み
、従属接続された2つのラッチ回路であるマスタラッチ
( スレーブラッチ) を備え、さらに、本発明の特徴
とする手段として、前段のラッチ回路であるマスタラッ
チの正帰還ループと後段のラッチ回路であるスレーブラ
ッチのMOSトランスファゲートの入力との間に挿入れ
たバッファ回路を備える。
【0010】次にこの実施例の動作を説明する。マスタ
ラッチの構成動作は図3の従来例と同一である。すなわ
ち、クロックCが論理「0」の期間はMOSトランスフ
ァゲートMP0およびMN0はオン状態になり、インバ
ータINV0を介してデータ入力端子Dからのデータを
ラッチ内部に取り込み、クロックCが論理「1」になる
とMOSトランスファゲート(MP1、MN1)がオン
状態になり、インバータINV1およびゲートNAND
0から成る正帰還ループでそのデータを保持する。スレ
ーブラッチへはインバータINV2をバッファ回路とし
てデータを伝達し、そのデータはクロック入力cが論理
「1」の期間にMOSトランスファゲート(MP2、M
N2)がオン状態になってラッチ内部に取り込み、クロ
ックCが論理「0」の期間にMOSトランスファゲート
(MP3、MN3)がオンとなってインバータINV3
およびゲートNAND1から成る正帰還ループで保持す
る。データ出力端子Qへの出力がインバータINV3の
前段からインバータINV4を介して取り出されている
のは、データ入力端子Dと論理極性を合わせるためであ
る。また、従来例と違ってマスタラッチのゲートNAN
D1がインバータINV3の後にあるのは、リセット信
号Rが論理「0」のときに正しくデータ出力端子Qに論
理「0」が出力されるためである。
ラッチの構成動作は図3の従来例と同一である。すなわ
ち、クロックCが論理「0」の期間はMOSトランスフ
ァゲートMP0およびMN0はオン状態になり、インバ
ータINV0を介してデータ入力端子Dからのデータを
ラッチ内部に取り込み、クロックCが論理「1」になる
とMOSトランスファゲート(MP1、MN1)がオン
状態になり、インバータINV1およびゲートNAND
0から成る正帰還ループでそのデータを保持する。スレ
ーブラッチへはインバータINV2をバッファ回路とし
てデータを伝達し、そのデータはクロック入力cが論理
「1」の期間にMOSトランスファゲート(MP2、M
N2)がオン状態になってラッチ内部に取り込み、クロ
ックCが論理「0」の期間にMOSトランスファゲート
(MP3、MN3)がオンとなってインバータINV3
およびゲートNAND1から成る正帰還ループで保持す
る。データ出力端子Qへの出力がインバータINV3の
前段からインバータINV4を介して取り出されている
のは、データ入力端子Dと論理極性を合わせるためであ
る。また、従来例と違ってマスタラッチのゲートNAN
D1がインバータINV3の後にあるのは、リセット信
号Rが論理「0」のときに正しくデータ出力端子Qに論
理「0」が出力されるためである。
【0011】このフリップフロップ回路でクロック入力
cの立ち上がりの直前でデータ入力Dが「0」から「1
」へ変化してマスタラッチの内部を反転させる場合のタ
イムチャートを図2に示す。図中のIのタイミングでデ
ータが変化しはじめ、IIのタイミングでクロックが変
化しはじめ、トランスファゲート(MP0、MN0)が
オフしはじめることによりインバータINV1の入力変
化が遅くなる。しかし、インバータINV2を介してス
レーブラッチのトランスファゲートと接続されているの
で、トランスファゲートMP2およびMN2がオンしは
じめてもスレーブラッチの保持状態はマスタラッチに影
響しない。すなわち、スレーブラッチ内の電荷がマスタ
ラッチの反転を遅らせることはない。したがって、クロ
ックの立ち上がり直前のデータ変化でもマスタラッチを
反転させることが可能である。すなわち、セットアップ
タイムが小さくても動作できる。
cの立ち上がりの直前でデータ入力Dが「0」から「1
」へ変化してマスタラッチの内部を反転させる場合のタ
イムチャートを図2に示す。図中のIのタイミングでデ
ータが変化しはじめ、IIのタイミングでクロックが変
化しはじめ、トランスファゲート(MP0、MN0)が
オフしはじめることによりインバータINV1の入力変
化が遅くなる。しかし、インバータINV2を介してス
レーブラッチのトランスファゲートと接続されているの
で、トランスファゲートMP2およびMN2がオンしは
じめてもスレーブラッチの保持状態はマスタラッチに影
響しない。すなわち、スレーブラッチ内の電荷がマスタ
ラッチの反転を遅らせることはない。したがって、クロ
ックの立ち上がり直前のデータ変化でもマスタラッチを
反転させることが可能である。すなわち、セットアップ
タイムが小さくても動作できる。
【0012】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように、マスタ
ラッチとスレーブラッチの間をバッファ回路を介して接
続したので、マスタラッチの動作にスレーブラッチの状
態が影響を与えることなく、したがってセットアップタ
イムを小さくすることができる効果がある。
ラッチとスレーブラッチの間をバッファ回路を介して接
続したので、マスタラッチの動作にスレーブラッチの状
態が影響を与えることなく、したがってセットアップタ
イムを小さくすることができる効果がある。
【図1】 本発明実施例の構成を示すブロック構成図
。
。
【図2】 本発明実施例の動作を示す波形図。
【図3】 従来例の構成を示すブロック構成図。
【図4】 従来例の動作を示す波形図。
D データ入力端子
C クロック端子
R リセット端子
Q データ出力端子
INV インバータ
NAND ゲート
Claims (1)
- 【請求項1】 互いに逆相のクロックで相補動作して
入力データ電位をサンプリングするMOSトランスファ
ゲートとこのMOSトランスファゲートでサンプリング
された電位を保持する正帰還ループとをそれぞれに含み
、従属接続された2つのラッチ回路を備えたフリップフ
ロップ回路において、前段のラッチ回路の正帰還ループ
と後段のラッチ回路のMOSトランスファゲートの入力
との間に挿入れたバッファ回路を備えたことを特徴とす
るフリップフロップ回路。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3045934A JPH04263510A (ja) | 1991-02-18 | 1991-02-18 | フリップフロップ回路 |
US07/830,706 US5189315A (en) | 1991-02-18 | 1992-02-04 | High-speed flip flop circuit with master latching circuit free from influence of slave latching circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3045934A JPH04263510A (ja) | 1991-02-18 | 1991-02-18 | フリップフロップ回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04263510A true JPH04263510A (ja) | 1992-09-18 |
Family
ID=12733098
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3045934A Pending JPH04263510A (ja) | 1991-02-18 | 1991-02-18 | フリップフロップ回路 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5189315A (ja) |
JP (1) | JPH04263510A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100445433B1 (ko) * | 2002-03-21 | 2004-08-21 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기 전계발광 표시 장치와 그 구동 방법 및 구동 장치 |
Families Citing this family (32)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05199080A (ja) * | 1992-01-17 | 1993-08-06 | Sony Corp | 相補型論理回路 |
US5463338A (en) * | 1993-06-07 | 1995-10-31 | Vlsi Technology, Inc. | Dual latch clocked LSSD and method |
US5416362A (en) * | 1993-09-10 | 1995-05-16 | Unisys Corporation | Transparent flip-flop |
US5394353A (en) * | 1993-09-20 | 1995-02-28 | Motorola, Inc. | Flipflop and control circuit in a content addressable memory |
DE69533604T2 (de) * | 1994-07-05 | 2005-02-10 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd., Kadoma | Verriegelungsschaltung |
CN1076479C (zh) | 1994-07-05 | 2001-12-19 | 皇家菲利浦电子有限公司 | 包含主从触发器的电子电路及其测试方法 |
US5638018A (en) * | 1995-06-02 | 1997-06-10 | Advanced Micro Devices, Inc. | P-type flip-flop |
US5576645A (en) * | 1995-06-05 | 1996-11-19 | Hughes Aircraft Company | Sample and hold flip-flop for CMOS logic |
EP0786170A1 (en) * | 1995-08-14 | 1997-07-30 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Mos master-slave flip-flop with reduced number of pass gates |
DE69514918T2 (de) * | 1995-08-31 | 2000-06-15 | Stmicroelectronics S.R.L., Agrate Brianza | D-Flip-Flop mit asynchronem Laden von Daten |
US5640115A (en) * | 1995-12-01 | 1997-06-17 | Sun Microsystems, Inc. | Self-enabling latch |
US5719516A (en) * | 1995-12-20 | 1998-02-17 | Advanced Micro Devices, Inc. | Lock generator circuit for use with a dual edge register that provides a separate enable for each use of an input clock signal |
US6002284A (en) * | 1996-04-24 | 1999-12-14 | Texas Instruments Incorporated | Split-slave dual-path D flip flop |
US5844428A (en) * | 1997-05-02 | 1998-12-01 | Integrated Silicon Solution Inc. | Driver circuit for use with a sensing amplifier in a memory |
US6107852A (en) * | 1998-05-19 | 2000-08-22 | International Business Machines Corporation | Method and device for the reduction of latch insertion delay |
JP3475851B2 (ja) * | 1999-04-28 | 2003-12-10 | 日本電気株式会社 | フリップフロップ回路 |
US6323709B1 (en) | 1999-05-18 | 2001-11-27 | The Regents Of The University Of Michigan | High-speed, compact, edge-triggered, flip-flop circuit |
US6281736B1 (en) * | 1999-12-02 | 2001-08-28 | Sun Microsystems, Inc. | Method and circuitry for soft fuse row redundancy with simple fuse programming |
JP3572329B2 (ja) | 1999-12-22 | 2004-09-29 | エルピーダメモリ株式会社 | データラッチ回路及びデータラッチ回路の動作方法。 |
US6452433B1 (en) * | 2000-05-31 | 2002-09-17 | Conexant Systems, Inc. | High phase margin low power flip-flop |
GB0013790D0 (en) * | 2000-06-06 | 2000-07-26 | Texas Instruments Ltd | Improvements in or relating to flip-flop design |
JP3614125B2 (ja) * | 2000-10-23 | 2005-01-26 | 三星電子株式会社 | Cpフリップフロップ |
US6882200B2 (en) * | 2001-07-23 | 2005-04-19 | Intel Corporation | Controlling signal states and leakage current during a sleep mode |
DE10250866B4 (de) * | 2002-10-31 | 2009-01-02 | Qimonda Ag | D-Flipflop |
JP2005160088A (ja) * | 2003-11-27 | 2005-06-16 | Samsung Electronics Co Ltd | パルスベースフリップフロップ |
US20060013352A1 (en) * | 2004-07-13 | 2006-01-19 | Ching-Wei Lin | Shift register and flat panel display apparatus using the same |
JP2006217540A (ja) * | 2005-02-07 | 2006-08-17 | Fujitsu Ltd | 半導体集積回路および半導体集積回路の制御方法 |
EP1717783B1 (en) * | 2005-04-28 | 2015-06-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Data latch circuit, driving method of the data latch circuit, and display device |
CN101055759B (zh) * | 2007-05-28 | 2010-10-06 | 威盛电子股份有限公司 | 存储器存取电路 |
KR20090027042A (ko) * | 2007-09-11 | 2009-03-16 | 주식회사 동부하이텍 | 리텐션 기능을 갖는 mtcmos 플립플롭 |
CN101686040B (zh) * | 2008-09-26 | 2012-07-04 | 辉达公司 | 可扫描d触发器 |
KR101595287B1 (ko) * | 2009-03-09 | 2016-02-18 | 삼성전자주식회사 | 클럭 분주 회로 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01171312A (ja) * | 1987-12-25 | 1989-07-06 | Nec Corp | フリップフロップ回路 |
JPH03201717A (ja) * | 1989-12-28 | 1991-09-03 | Mitsubishi Electric Corp | フリップフロップ回路 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59151537A (ja) * | 1983-01-29 | 1984-08-30 | Toshiba Corp | 相補mos形回路 |
JPS6179318A (ja) * | 1984-09-27 | 1986-04-22 | Fujitsu Ltd | フリツプフロツプ回路 |
JPS6295016A (ja) * | 1985-10-21 | 1987-05-01 | Mitsubishi Electric Corp | ラツチ回路 |
JPH088473B2 (ja) * | 1986-05-06 | 1996-01-29 | 松下電器産業株式会社 | 相補形d形フリツプフロツプ回路 |
JPS6318814A (ja) * | 1986-07-11 | 1988-01-26 | Nec Corp | フリツプフロツプ回路 |
JPH0691431B2 (ja) * | 1987-03-02 | 1994-11-14 | 沖電気工業株式会社 | フリツプフロツプ回路用クロツク制御回路 |
JPS644016A (en) * | 1987-06-25 | 1989-01-09 | Mitsubishi Electric Corp | Furnace tube |
JPS6458817A (en) * | 1987-08-28 | 1989-03-06 | K Seven Kk | Clutch |
JPH0246610A (ja) * | 1988-08-09 | 1990-02-16 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 被覆電線用識別マーキング装置 |
US4939384A (en) * | 1988-10-03 | 1990-07-03 | Oki Electric Industry Co., Ltd | Flip-flop circuit |
US5027382A (en) * | 1988-12-20 | 1991-06-25 | Ricoh Company, Ltd. | Shift register circuit |
JPH0736507B2 (ja) * | 1989-02-02 | 1995-04-19 | 株式会社東芝 | 半導体論理回路 |
-
1991
- 1991-02-18 JP JP3045934A patent/JPH04263510A/ja active Pending
-
1992
- 1992-02-04 US US07/830,706 patent/US5189315A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01171312A (ja) * | 1987-12-25 | 1989-07-06 | Nec Corp | フリップフロップ回路 |
JPH03201717A (ja) * | 1989-12-28 | 1991-09-03 | Mitsubishi Electric Corp | フリップフロップ回路 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100445433B1 (ko) * | 2002-03-21 | 2004-08-21 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기 전계발광 표시 장치와 그 구동 방법 및 구동 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5189315A (en) | 1993-02-23 |
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