JP2001244503A - 窒化物半導体発光素子 - Google Patents

窒化物半導体発光素子

Info

Publication number
JP2001244503A
JP2001244503A JP2000388964A JP2000388964A JP2001244503A JP 2001244503 A JP2001244503 A JP 2001244503A JP 2000388964 A JP2000388964 A JP 2000388964A JP 2000388964 A JP2000388964 A JP 2000388964A JP 2001244503 A JP2001244503 A JP 2001244503A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
light emitting
nitride semiconductor
emitting device
semiconductor light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000388964A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3893874B2 (ja
Inventor
Motokazu Yamada
元量 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nichia Chemical Industries Ltd
Original Assignee
Nichia Chemical Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nichia Chemical Industries Ltd filed Critical Nichia Chemical Industries Ltd
Priority to JP2000388964A priority Critical patent/JP3893874B2/ja
Publication of JP2001244503A publication Critical patent/JP2001244503A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3893874B2 publication Critical patent/JP3893874B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【課題】 小型化が可能でかつ発光した光の取り出し効
率が高い窒化ガリウム系化合物半導体発光素子を提供す
る。 【解決手段】 n型窒化ガリウム系半導体からなるn層
とp型窒化ガリウム系半導体からなるp層との間に発光
層を有する窒化物半導体発光素子において、n側オーミ
ック電極は、n層、発光層及びp層からなる積層薄板の
一方の主面であるn層の表面の一部に形成され、p側オ
ーミック電極は、積層薄板の他方の主面であるp層表面
に形成されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は窒化物半導体発光素
子に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、GaN、InGaN、AlGa
N、InAlGaN等の窒化ガリウム系化合物半導体を
用いて構成された高輝度純緑色発光LED、青色LED
が、既にフルカラーLEDディスプレイ、交通信号灯、
イメージスキャナ光源等の各種光源として実用化されて
いる。この窒化ガリウム系化合物半導体を用いて構成さ
れたLED素子は、一般に絶縁性のサファイア基板上に
n型、p型の窒化ガリウム系化合物半導体が成長されて
構成されるので、他のGaAs、GaAlP等の半導体
基板を用いた他の発光素子と異なり、基板に正又は負の
一方の電極を形成して通電することは不可能である。
【0003】従って、窒化ガリウム系化合物半導体を用
いたLED素子では、正、負の電極はいずれも半導体層
側の同一面側に形成され、それぞれの電極に上からワイ
ヤーボンディングして電極側から発光を観測したり、フ
リップチップボンディングして基板側から発光を観測し
ている。具体的には、サファイア基板上にn型窒化ガリ
ウム系化合物半導体層を介してp型窒化ガリウム系化合
物半導体層を形成して、p型窒化ガリウム系化合物半導
体層の一部を除去して露出させたn型窒化ガリウム系化
合物半導体層の表面にn側オーミック電極を形成し、そ
の残りのp型窒化ガリウム系化合物半導体層のほぼ全面
にp側オーミック電極を形成している。尚、p型窒化ガ
リウム系化合物半導体層のほぼ全面にp側オーミック電
極を形成する理由は、p型窒化ガリウム系化合物半導体
層の抵抗がn型窒化ガリウム系化合物半導体層の抵抗よ
り高いので、p型窒化ガリウム系化合物半導体層全体に
電流を流すためには、p側オーミック電極を広く形成す
る必要があるからである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、正及び
負の電極を同一面側に形成した従来の窒化ガリウム系化
合物半導体発光素子は、上述のようにp型窒化ガリウム
系半導体層の一部を除去してn側オーミック電極を形成
しているので、p型窒化ガリウム系半導体層を除去した
部分である非発光部の面積が比較的大きくなり、小型に
できないという問題点があった。また、従来の窒化ガリ
ウム系化合物半導体発光素子は、半導体側(p型窒化ガ
リウム系半導体層側)から光を取り出す場合、p型窒化
ガリウム系半導体層のほぼ全面に形成された透明電極を
介して光を取り出すように構成するが、その場合、透明
電極により光が減衰し取り出し効率が良くないという問
題点があった。
【0005】そこで、本発明は、小型化が可能でかつ発
光した光の取り出し効率が高い窒化ガリウム系化合物半
導体発光素子を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】以上の目的を達成するた
めに、本発明に係る窒化物半導体発光素子は、n型窒化
ガリウム系半導体からなるn層とp型窒化ガリウム系半
導体からなるp層との間に発光層を有する窒化物半導体
発光素子において、n側オーミック電極は、上記n層、
上記発光層及び上記p層が積層されてなる積層薄板の一
方の主面である上記n層の表面の一部に形成され、p側
オーミック電極は、上記積層薄板の他方の主面であるp
層表面に形成されていることを特徴とする。以上のよう
に構成された本発明に係る窒化物半導体発光素子は、発
光層で発光した光を、上記n層を介して上記積層薄板の
一方の主面から出力することができる。
【0007】以上のように構成された窒化物半導体発光
素子は、従来例のようにp層を除去することなくn側オ
ーミック電極を形成しているので、従来例と同じ外形の
素子とした場合、従来例より大きな面積の発光層を形成
することができる。従って、発光ダイオードとした場
合、従来例より小型の素子で、従来例と同等の発光層の
面積を得ることができる。また、本発明に係る窒化物半
導体発光素子は、発光ダイオードとした場合、上記発光
層で発光した光のうち上記p側オーミック電極に向かっ
た光を上記p側オーミック電極によって反射させて上記
n層の表面から出力することができるので、より光の取
り出し効率を良くできる。これにより、本発明に係る窒
化物半導体発光素子は、発光層で発光した光の取り出し
効率を従来例に比較してよくできる。
【0008】さらに、以上のように構成された窒化物半
導体発光素子は、n側オーミック電極を上記積層薄板の
一方の主面に形成し、p側オーミック電極を上記積層薄
板の他方の主面に形成しているので、n側オーミック電
極とp側オーミック電極間の短絡防止が容易である。
尚、本明細書において、発光層とはn層とp層の間に位
置して発光する活性層、及びn層とp層とのpn接合に
より発光する場合のそのpn接合部分の双方を含むもの
である。
【0009】また、本発明に係る窒化物半導体発光素子
では、上記積層薄板において、上記n層及びp層の一方
又は双方を複数の層で構成してもよい。すなわち、本発
明に係る窒化物半導体発光素子では、上記n層及びp層
の一方又は双方をそれぞれ所望の機能を有する複数の層
で構成することができ、これにより、発光ダイオードま
たはレーザダイオード等の種々の発光素子をそれぞれ目
的に応じて構成することができる。
【0010】また、本発明に係る窒化物半導体発光素子
で発光ダイオードを構成する場合、上記p側オーミック
電極は、上記積層薄板の他方の主面であるp層表面にお
いて、上記n側オーミック電極と対向する部分を除いて
形成されていることが好ましい。このようにすると、上
記n側オーミック電極に遮られて光の取り出しが困難で
ある上記n側オーミック電極直下の発光層への電流の供
給を抑制することができるので、無駄な発光を抑えるこ
とができ、外部量子効率を良好にできる。
【0011】また、本発明に係る窒化物半導体発光素子
で発光ダイオードを構成する場合、上記p側オーミック
電極は、上記積層薄板の他方の主面であるp層表面にお
ける、上記n側オーミック電極と対向する部分を除くほ
ぼ全面に形成されていることがさらに好ましい。このよ
うにすると、上記n側オーミック電極直下の発光層を除
く発光層全体に電流を供給することができるので、外部
量子効率を高くできかつより発光強度を高くできる。
尚、p層表面における、上記n側オーミック電極と対向
する部分を除くほぼ全面に形成されているとは、p層表
面のn側オーミック電極と対向する部分における概ね8
0%以上に形成されていることをいい、例えば、短絡防
止のためにp層表面の周辺部分を除いて形成されていて
もよい。
【0012】また、本発明に係る窒化物半導体発光素子
において、上記n層、発光層及びp層はそれぞれ有機金
属気相成長法により成長させることが好ましい。このよ
うにすると、結晶性のよいp層、発光層及びn層を形成
することができ、良好な発光特性が得られる。
【0013】また、本発明に係る窒化物半導体発光素子
はさらに、上記積層薄板と接合された導電性基板を備
え、該導電性基板は上記p側オーミック電極と導電性接
着剤によって接合されていることが好ましい。このよう
に構成すると、導電性基板により積層薄板を補強でき窒
化物半導体発光素子の取り扱いを容易にできる。
【0014】さらに、本発明に係る窒化物半導体発光素
子では、上記積層薄板の側面に絶縁保護膜が形成されて
いることが好ましい。これにより、p側オーミック電極
とn層との短絡を防止でき、また、導電性接着剤により
導電性基板を接着する場合、p側オーミック電極が導電
性接着剤によりn層と短絡するのを防止できる。
【0015】また、本発明に係る窒化物半導体発光素子
では、上記導電性基板は導電性に優れた金属板とするこ
とができる。また、上記導電性接着剤としてAu−Sn
等のはんだを用いることができる。
【0016】さらに、本発明に係る窒化物半導体発光素
子では、上記導電性基板において、上記積層薄板が接合
された一方の主面と側面とが交わる辺に沿って、凹部が
形成されていてもよい。
【0017】また、本発明に係る窒化物半導体発光素子
の製造方法は、複数の窒化物半導体発光素子を製造する
方法であって、基板上に、窒化ガリウム系半導体からな
るn層、窒化ガリウム系半導体活性層及び窒化ガリウム
系半導体からなるp層を順次成長させることと、上記p
層上に、各素子毎にそれぞれ該p層とオーミック接触す
るp側オーミック電極を形成することと、上記p側オー
ミック電極上にそれぞれ第1導電性接着剤層を形成する
ことと、各素子に分離するための素子分離溝を上記基板
に達するように形成することと、一方の主面に、第2導
電性接着剤層が形成された導電性基板を、その第2導電
性接着剤層と上記第1導電性接着剤層とを接合すること
により上記基板に接合することと、上記基板側からレー
ザ光を照射することにより、上記基板を分離すること
と、上記素子分離溝において上記導電性基板を分割する
ことにより個々の窒化物半導体発光素子に分離すること
とを含むことを特徴とする。
【0018】また、本発明に係る製造方法ではさらに、
製造工程中において、各素子の側面に上記導電性接着剤
の付着を防止するために、上記導電性基板に上記素子分
離溝と対向する溝を上記一方の主面に形成することと、
上記第2導電性接着剤層を上記溝が形成された上記一方
の主面に形成することとを含むことが好ましい。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
に係る実施の形態の窒化物半導体発光素子について説明
する。 実施の形態1.本実施の形態1の窒化物半導体発光素子
は、例えば、金属板からなる導電性基板12上に、それ
ぞれ窒化ガリウム系半導体からなるn層1、活性層2及
びp層3が積層されてなる積層薄板10が設けられてな
る発光ダイオード(LED)である。ここで、本発明に
おける積層薄板は、例えば、10μ程度の極めて薄い薄
板である。
【0020】詳細には、積層薄板10の一方の主表面
(n層1の表面)の一部に円形のn側オーミック電極5
が形成され、積層薄板10の他方の主表面(p層1の表
面)にp側オーミック電極4が形成されて、発光素子部
が構成される。ここで、n側オーミック電極5は、図2
に示すように、n層1の表面の中央部に形成され、p側
オーミック電極4は、発光層である活性層2の全体に電
流が流れるように、積層薄板10のp層1の表面のう
ち、n側オーミック電極5との対向部分を除くほぼ全面
に形成される。このように、n側オーミック電極5をn
層1の表面の中央部の一部に形成し、p側オーミック電
極4をp層1の表面のほぼ全面に形成することにより活
性層2の全体に電流が流れるようにできるのは、以下の
ような理由によるものである。
【0021】すなわち、窒化ガリウム系化合物半導体に
おいて、n型層はp型層に比較して抵抗が低いために、
n層の一部にn側オーミック電極を形成することにより
n層内において電流を拡散することができるのに対し、
比較的抵抗が高いp層内では電流を拡散させることがで
きないので、p側オーミック電極内において電流を拡散
させる必要があるからである。
【0022】そして、本実施の形態1では、n側オーミ
ック電極5とp側オーミック電極4が形成された積層薄
板10は、p側オーミック電極4と導電性基板12の上
面とが導電性接着剤11で接合されて導電性基板12上
に固定される。尚、本実施の形態1の窒化物半導体発光
素子においては、導電性接着剤11が積層薄板10の側
面に周り込んだ場合に、p側オーミック電極4と発光層
又はn層1との短絡及びp層3とn層1との間の短絡を
防止するために、積層薄板10の側面に絶縁膜6が形成
されている。
【0023】以上のように構成された本実施の形態1の
窒化物半導体発光素子において、導電性基板12とn側
オーミック電極5とに電圧を印加することにより、活性
層2に電流を供給して活性層2で発光させる。そして、
活性層で発光された光は、n層1を介して出力される。
【0024】以上のように構成された実施の形態1の窒
化物半導体発光素子は、積層薄板10の両面にn側オー
ミック電極5とp側オーミック電極4とを形成している
ので、従来例のようにp層を除去することなくn側オー
ミック電極を形成することができる。この様に構成した
ことにより、本実施の形態1の窒化物半導体発光素子
は、従来例のようにp層を除去することによりn層を露
出する必要がないので、従来例と同じ外形の素子であっ
ても、従来例より大きな面積の活性層を形成することが
できる。
【0025】また、本実施の形態1の窒化物半導体発光
素子は、活性層2で発光した光のうちp側オーミック電
極4に向かった光は、p側オーミック電極4によって反
射されてn層1の表面から出力されるので、より光の取
り出し効率を良くできる。ここで、本明細書において、
光の取り出し効率とは、発光した光のうち、発光観測面
(n層1の表面)から出力される光の割合をいう。尚、
このp側オーミック電極4は、Ni−Au及びNi−P
t等で形成することができるが、光の取り出し効率を考
えると、光に対する反射率の高いNi−Ptを用いるこ
とが好ましい。
【0026】また、本実施の形態1の窒化物半導体発光
素子は、n側オーミック電極5を積層薄板10の一方の
主面(上面)に形成し、p側オーミック電極を積層薄板
10の他方の主面(下面)に形成することにより、両面
に分離して形成しているので、n側オーミック電極とp
側オーミック電極間の短絡防止が容易にできる。また、
本実施の形態1では、n側オーミック電極5を積層薄板
10の一方の主面の中央部に形成しているので、n側オ
ーミック電極5とp側オーミック電極4との距離をより
大きくすることができ、n側オーミック電極とp側オー
ミック電極間の短絡防止がより効果的にできる。さら
に、本実施の形態1の窒化物半導体発光素子は、n側オ
ーミック電極5とp側オーミック電極4とを積層薄板の
両面に分離して形成しているので、n側オーミック電極
とp層3との間、p側オーミック電極4とn層との間の
短絡が防止できる。
【0027】また、本実施の形態1の窒化物半導体発光
素子は、p側オーミック電極4を積層薄板10のp層3
の表面において、n側オーミック電極5と対向する部分
を除くほぼ全面に形成するようにしている。このように
構成すると、p層3の抵抗値が比較的大きいために、p
側オーミック電極4が形成されていない部分と対向する
活性層2に対する電流供給を抑制できる。これにより、
n側オーミック電極5に遮られて光の取り出しが困難で
あるn側オーミック電極5直下の活性層への電流の供給
を抑制することができるので、無駄な発光を抑えること
ができ、外部量子効率を良好にできる。また、本実施の
形態1の窒化物半導体発光素子では、p側オーミック電
極4を、p層3の表面においてn側オーミック電極5と
対向する部分を除いた概ね80%以上の面積にあたるほ
ぼ全面に形成するようにしているので、発光層全体にわ
たって電流を供給することができ、発光強度を強くでき
る。尚、本発明は、p側オーミック電極4の大きさによ
り限定されるものではないが、好ましくは、p側オーミ
ック電極4を、p層3の表面においてn側オーミック電
極5と対向する部分を除いた60%以上の面積にあたる
部分に形成し、より好ましくは、上述のように80%以
上のほぼ全面に形成する。
【0028】また、本実施の形態1の窒化物半導体発光
素子では、積層薄板10において、n層1及びp層3の
一方又は双方を複数の窒化物半導体層で構成することも
できる。また、活性層2も単層であっても多層であって
もよい。従って、本実施の形態1の窒化物半導体発光素
子では、例えば、n層1及びp層3をそれぞれ、コンタ
クト層、クラッド層等の必要な機能に対応させた複数の
層で構成することができ、用途に応じた発光特性を実現
することができる。すなわち、本実施の形態1によれ
ば、目的に応じて種々の特性のLED素子を構成するこ
とができる。
【0029】本実施の形態1の窒化物半導体発光素子に
おける各層の例を挙げれば、以下のようなものである。
尚、本発明が以下の層に限られるものではないことは言
うまでもない。n層1のコンタクト層としては、例え
ば、Siドープのn型GaN層、n層1のクラッド層と
しては、例えば、Siドープのn型AlGaN層、p層
3のコンタクト層としては、例えば、Mgドープのp型
GaN層、p層3のクラッド層としては、例えば、Mg
ドープのp型AlGaN層、活性層2としては、InG
aN層、GaNとInGaNとの単一又は多重量子井戸
層、InGaN障壁層とその層とは組成比の異なるIn
GaN井戸層からなる単一又は多重量子井戸層等であ
る。また、n層1及びp層3は、アンドープの窒化物半
導体層をさらに含んでいても良い。
【0030】また、本実施の形態1の窒化物半導体発光
素子は、積層薄板10と接合された導電性基板を備えて
いるので、極めて薄い積層薄板10を機械的強度を強く
でき素子の取り扱いを容易にできる。さらに、本実施の
形態1では、該導電性基板12がp側オーミック電極4
と導電性接着剤によって接合されているので、導電性基
板12を介して発光素子部に電流を供給できる。
【0031】またさらに、本実施の形態1の窒化物半導
体発光素子では、積層薄板10の側面に絶縁保護膜6が
形成されているので、p側オーミック電極4とn層1と
の短絡を防止できかつ、導電性接着剤6が積層基板10
の側面に回り込んだ場合にp側オーミック電極4がn層
1と短絡することを防止できる。
【0032】次に、図3〜図5を参照しながら本実施の
形態1の窒化物半導体発光素子の製造方法について説明
する。 (第1工程)第1工程では、サファイア基板20上に、
窒化ガリウム系半導体からなるn層1、窒化ガリウム系
半導体活性層2及び窒化ガリウム系半導体からなるp層
3を、例えば、有機金属気相成長法(MOCVD法)に
より順次成長させることにより形成する(図3
(a))。
【0033】(第2工程)第2工程では、p層3上に、
例えば、Ni−Au、Ni−Pt等からなり該p層3と
オーミック接触するp側オーミック電極4aをそれぞれ
各窒化物半導体発光素子に対応させて形成する(図3
(b))。 (第3工程)第3工程では、各p側オーミック電極4a
上にそれぞれ、例えば、Au−Snからなる第1導電性
接着剤層11aを形成する(図3(c))。
【0034】(第4工程)第4工程では、各p側オーミ
ック電極4aと第1導電性接着剤層11aを覆うように
SiO2マスク21を形成し、該SiO2マスク21を用
いて個々の窒化物半導体発光素子に分離するための素子
分離溝31を形成する(図3(d))。 (第5工程)第5工程では、素子分離溝31及びSiO
2マスク21を全て覆うように、SiO2マスク22を形
成する(図3(e))。
【0035】(第6工程)第6工程では、素子分離溝3
1内のSiO2マスク21及び各素子の周辺部を覆うよ
うに、レジスト23を形成し(図4(a))、レジスト
23をマスクとして、SiO2マスク21,22をエッ
チングすることにより、第1導電性接着剤層11a上の
SiO2を除去する。これにより、図4(b)の下図に
示すように、各素子の側面を覆うSiO2からなる絶縁
保護膜6が形成される。
【0036】(第7工程)第7工程では、一方の面に、
例えば、Au−Snからなる第2導電性接着剤層11b
が形成された導電性基板12を、その第2導電性接着剤
層11bが各素子の第1導電性接着剤層11aに対向す
るように、サファイア基板20上の各素子と導電性基板
12とを密着させて、例えば、400℃で圧力をかける
ことにより、サファイア基板20上の各素子と導電性基
板12とを接合する(図4(b)(c))。尚、導電性
基板12としてAl等の金属板を使用する場合、Au−
Snからなる第2導電性接着材層11bは、Ti又はW
層を介して導電性基板12上に形成することが好まし
い。また、図において、第1導電性接着剤層11aと第
2導電性接着剤層11bが融合して一体化した層を導電
性接着剤11として示している。
【0037】(第8工程)第8工程では、図4(c)に
示すように、サファイア基板20側から所定のレーザ光
を照射することにより、サファイア基板20を分離す
る。ここで、本工程では、サファイア基板20を透過し
n層1で吸収されるレーザ光を用いることができる。す
なわち、サファイア基板20を透過しn層1で吸収され
るレーザ光を、例えば、600mJ/cm2程度の所定
の強さでサファイア基板20側から照射すると、サファ
イア基板とn層1の境界近傍に位置するn層1において
吸収されてその境界近傍で発熱しその熱によって分離す
ることができる。例えば、サファイア基板とn層1の境
界近傍に位置するn層1がGaNである場合、そのGa
Nは365nm以下の波長の光を吸収するので、例え
ば、KrFエキシマレーザ光(248nm)を用いるこ
とができる。
【0038】(第9工程)第9工程では、サファイア基
板20が分離されて露出されたn層1の表面に各窒化物
半導体発光素子にn側オーミック電極5を形成する(図
5(b))。 (第10工程)第10工程では、素子分離溝31におい
て導電性基板12をダイシングすることにより、個々の
窒化物半導体発光素子に分離する(図5(c))。以上
のようにして、図1に示す窒化物半導体発光素子を製造
することができる。
【0039】以上の本実施の形態1の製造方法では、n
層1、活性層2及びp層3をそれぞれ有機金属気相成長
法により成長させているので、結晶性のよいn層1、活
性層2及びn層3を形成することができ、良好な発光特
性を有する窒化物半導体発光素子を作製することができ
る。また、本実施の形態1の製造方法においては、サフ
ァイア基板20上に、例えば、GaNが低温で成長され
たGaNバッファ層を形成し、その上にn層1、活性層
2及びp層3を成長させるようにしても良く、このよう
にすると、より結晶性のよいn層1、活性層2及びn層
3を形成することができ、より良好な発光特性を有する
窒化物半導体発光素子を作製することができる。
【0040】実施の形態2.以下、本発明に係る実施の
形態2の窒化物半導体発光素子について説明する。本実
施の形態2の窒化物半導体発光素子は、実施の形態1の
窒化物半導体発光素子において、導電性基板12に代え
て、導電性基板112を用いて構成した以外は実施の形
態1と同様に構成される。ここで、実施の形態2の窒化
物半導体素子において、導電性基板112は、素子に接
合される一方の主面と側面とが交わる辺に沿って、凹部
113aを有することを特徴とし、以下のような優れた
作用効果を有する。
【0041】以下、本発明に係る実施の形態2の窒化物
半導体発光素子の製造方法について説明する。実施の形
態2の窒化物半導体発光素子は、実施の形態1の製造方
法において、第7工程を以下のように変更する以外は、
実施の形態1と同様に作製される。すなわち、実施の形
態2における第7の工程では、例えば、Siからなる導
電性基板112に、あらかじめ、エッチング又はダイサ
ー、スクライブ等で溝113を形成しておき、溝113
が形成された導電性基板112上の全面にAuからなる
層を薄く形成する。ここで、溝113を形成するエッチ
ングは、RIE等のドライエッチング又はエッチング液
を用いたウェットエッチングのいずれを用いてもよい。
また、このAuからなる層は、Au−Snからなる導電
性接着剤を用いる場合の好ましい一形態として形成する
ものであり、本願発明において必須の構成ではない。
【0042】ここで、導電性基板112に形成された溝
113は、例えば、幅50μm、深さ5μmに形成さ
れ、図6に示すように、サファイア基板20を接合した
時に、素子を分離するために形成された素子分離溝31
と中心が一致するように格子状に形成される。次に、導
電性基板112のAuが形成された面に、例えば、Au
−Snからなる第2導電性接着層11cを例えば1〜3
μmの厚さに形成する。この時、第2導電性接着層11
cは、溝113に沿って溝113と実質的に同一断面形
状を有する窪み114aが形成されるように形成する。
【0043】以上のように構成した第2導電性接着層1
1cが形成された導電性基板112を、第2導電性接着
剤層11cが各素子の第1導電性接着剤層11aに対向
するように、サファイア基板20上の各素子と導電性基
板112とを密着させて、例えば、400℃で圧力をか
けることにより、サファイア基板20上の各素子と導電
性基板112とを接合する(図6(b))。この際、圧
縮されることにより素子分離溝31(溝113)に囲ま
れた素子部分からはみ出した導電性接着剤11a,11
cは、溝113に沿って形成された窪み114aを埋め
るように移動する。
【0044】尚、図において、第1導電性接着剤層11
cと第2導電性接着剤層11bが融合して一体化した層
を導電性接着剤11としている。第8の工程以降は実施
の形態1と同様にして作製されるが(図7(a)(b)
(c))、本実施の形態2では導電性基板112に素子
分離溝31に対向するように溝113を形成しているの
で、ちょうどその溝113を2分するように各素子に分
割される。これにより、個々の素子に分離された後の各
素子の導電性基板112において、導電性接着剤11が
形成された一方の主面と側面とが交わる辺に沿って、溝
113が2分されてなる凹部113aが形成される。
【0045】以上説明したような実施の形態2の製造方
法によれば、導電性基板112において、素子を分離す
る位置に格子状に溝113が形成されているので、サフ
ァイア基板20上の各素子と導電性基板112とを密着
させて温度と圧力をかけることにより接合する際に、素
子部分からはみ出した導電性接着剤11a,11cを溝
113内に誘導することができるので、素子分離溝31
内に形成された絶縁保護膜6の上に導電性接着剤11が
付着することを防止できる。すなわち、絶縁保護膜6の
上に導電性接着剤11が付着すると、その付着した導電
性接着剤により素子の側面から出力される光が遮られ、
光の取り出し効率が低下するという問題がある。しかし
ながら、本実施の形態2では、上述のように絶縁保護膜
6上への導電性接着剤11の付着が防止できるので、光
の取り出し効率を低下させることはない。
【0046】また、本実施の形態2では、素子部分から
はみ出した導電性接着剤11a,11cを溝113内に
誘導して、素子分離溝31内に形成された絶縁保護膜6
の上に導電性接着剤11が付着することをより効果的に
防止するために、溝113の幅を素子分離溝31の幅よ
り広く設定することが好ましい。
【0047】また、本実施の形態2において、導電性接
着剤としてAu−Snを使用する場合、導電性基板11
2の導電性接着剤を塗布する面には、Au−Snとぬれ
性が良好なAuが形成されることが好ましく、このよう
にすると、サファイア基板20上の各素子と導電性基板
112とを密着させる際に、素子部分からはみ出した導
電性接着剤11a,11cを溝113内により効果的に
誘導することができるので、素子分離溝31内に形成さ
れた絶縁保護膜6の上に導電性接着剤11が付着するこ
とを効果的に防止することができる。
【0048】また、本実施の形態2において、導電性接
着剤11としてAu−Snを使用した時に、導電性基板
112の導電性接着剤を塗布する面にAuを形成する
と、接合後の導電性接着剤(Au−Sn)11中のAu
に対するSnの含有量が相対的に減少する。これによ
り、接合後の導電性接着剤11の融点が接合前より上昇
し、後の工程において溶けにくくなるという利点があ
る。
【0049】以上の実施の形態2では、導電性基板11
2としてSi基板を使用した例を示した。本実施の形態
2において、導電性基板112としてSi基板を使用す
ると、個々の素子に分割する際に容易であるという利点
がある。しかしながら、本発明はこれに限られるもので
はなく、金属からなる基板を導電性基板112として用
いてもよい。
【0050】変形例.以上説明した実施の形態の窒化物
半導体発光素子では、導電性基板12を用いて構成した
が、本発明はこれに限られるものではなく、例えば、絶
縁性基板の上にp側オーミック電極4と接続する電極層
を形成した基板を用いることもできる。また、本実施の
形態の窒化物半導体発光素子では、導電性基板又は電極
層を形成した絶縁性基板の上に、複数の素子(積層薄板
10にn側オーミック電極とp側オーミック電極4を形
成した状態のもの、すなわち、図1において導電性基板
12と導電性接着剤11を除いた状態のもの)を所定の
配列に配置するように構成しても良い。すなわち、本発
明に係る窒化物半導体発光素子は、積層薄板10にn側
オーミック電極とp側オーミック電極4を形成した素子
を備え、種々の変形が可能である。
【0051】また、上述の実施の形態では、導電性接着
剤としてAu−Snはんだを用いた例を示したが、本発
明はこれに限らず、他の金属合金からなるはんだ、導電
性の樹脂からなる接着剤等、種々の導電性接着剤を用い
ることができる。
【0052】以上の実施の形態では、発光ダイオードで
ある窒化物半導体発光素子について説明したが、本発明
は発光ダイオードに限らず、レーザダイオード(LD素
子)に適用することもできる。本発明をレーザダイオー
ドに適用する場合、例えば、積層薄板10の一方の主面
に一端面から他端面に至るストライプ状のn側オーミッ
ク電極を形成し、積層薄板10の他方の主面にそのn側
オーミック電極と対向するようにストライプ状のp側オ
ーミック電極を形成する。尚、n層、p層及び活性層は
レーザダイオードを構成する上で必要な機能に対応させ
て単層又は複数の層で構成する。このようにすると、n
側オーミック電極とp側オーミック電極の間でレーザ発
振させることができる。
【0053】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、小型化が可能でかつ発光した光の取り出し効率が
高い窒化ガリウム系化合物半導体発光素子を提供するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係る実施の形態1の窒化物半導体発
光素子の断面図である。
【図2】 実施の形態1の窒化物半導体発光素子の平面
図である。
【図3】 実施の形態1の窒化物半導体発光素子の製造
方法における工程(第1工程〜第5工程)のフローを示
す模式的な断面図である。
【図4】 実施の形態1の窒化物半導体発光素子の製造
方法における工程(第6工程〜第8工程)のフローを示
す模式的な断面図である。
【図5】 実施の形態1の窒化物半導体発光素子の製造
方法における工程(第8工程〜第10工程)のフローを
示す模式的な断面図である。
【図6】 実施の形態2の窒化物半導体発光素子の製造
方法における工程(第7工程〜第8工程)のフローを示
す模式的な断面図である。
【図7】 実施の形態2の窒化物半導体発光素子の製造
方法における工程(第8工程〜第10工程)のフローを
示す模式的な断面図である。
【符号の説明】
1…n層、 2…窒化ガリウム系半導体活性層、 3…p層、 4…p側オーミック電極、 5…n側オーミック電極、 6…絶縁保護膜、 10…積層基板、 11…導電性接着剤、 11a…第1導電性接着剤層、 11b…第2導電性接着剤層、 12…導電性基板、 20…サファイア基板、 21,22…SiO2マスク、 23…レジスト、 31…素子分離溝、 113…溝。

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 n型窒化ガリウム系半導体からなるn層
    とp型窒化ガリウム系半導体からなるp層との間に発光
    層を有する窒化物半導体発光素子において、n側オーミ
    ック電極は、上記n層、上記発光層及び上記p層が積層
    されてなる積層薄板の一方の主面である上記n層の表面
    の一部に形成され、p側オーミック電極は、上記積層薄
    板の他方の主面であるp層表面に形成されていることを
    特徴とする窒化物半導体発光素子。
  2. 【請求項2】 上記積層薄板において、上記n層及びp
    層の少なくとも一方は複数の層からなる請求項1に記載
    の窒化物半導体発光素子
  3. 【請求項3】 上記p側オーミック電極は、上記積層薄
    板の他方の主面であるp層表面において、上記n側オー
    ミック電極と対向する部分を除いて形成されていること
    を特徴とする請求項1又は2記載の窒化物半導体発光素
    子。
  4. 【請求項4】 上記p側オーミック電極は、上記積層薄
    板の他方の主面であるp層表面における、上記n側オー
    ミック電極と対向する部分を除くほぼ全面に形成されて
    いることを特徴とする請求項1又は2記載の窒化物半導
    体発光素子。
  5. 【請求項5】 上記n層及びp層はそれぞれ有機金属気
    相成長法により成長されてなる請求項1〜4のうちのい
    ずれか1項に記載の窒化物半導体発光素子。
  6. 【請求項6】 上記窒化物半導体発光素子はさらに、上
    記積層薄板と接合された導電性基板を備え、該導電性基
    板は上記p側オーミック電極と導電性接着剤によって接
    合されている請求項1〜5のうちのいずれか1項に記載
    の窒化物半導体発光素子。
  7. 【請求項7】 上記積層薄板の側面に絶縁保護膜が形成
    されている請求項1〜6のうちのいずれか1項に記載の
    窒化物半導体発光素子。
  8. 【請求項8】 上記導電性基板は金属板である請求項6
    又は7記載の窒化物半導体発光素子。
  9. 【請求項9】 上記導電性接着剤ははんだである請求項
    6〜8のうちのいずれか1項に記載の窒化物半導体発光
    素子。
  10. 【請求項10】 上記導電性基板は、上記積層薄板が接
    合された一方の主面と側面とが交わる辺に沿って、凹部
    が形成されたことを特徴とする請求項6〜9のうちのい
    ずれか1項に記載の窒化物半導体発光素子。
  11. 【請求項11】 複数の窒化物半導体発光素子を製造す
    る方法であって、 基板上に、窒化ガリウム系半導体からなるn層、窒化ガ
    リウム系半導体活性層及び窒化ガリウム系半導体からな
    るp層を順次成長させることと、 上記p層上に、各素子毎にそれぞれ該p層とオーミック
    接触するp側オーミック電極を形成することと、 上記p側オーミック電極上にそれぞれ第1導電性接着剤
    層を形成することと、各素子に分離するための素子分離
    溝を上記基板に達するように形成することと、 一方の主面に、第2導電性接着剤層が形成された導電性
    基板を、その第2導電性接着剤層と上記第1導電性接着
    剤層とを接合することにより上記基板に接合すること
    と、 上記基板側からレーザ光を照射することにより、上記基
    板を分離することと、 上記素子分離溝において上記導電性基板を分割すること
    により個々の窒化物半導体発光素子に分離することとを
    含む窒化物半導体発光素子の製造方法。
  12. 【請求項12】 上記製造方法はさらに、 上記導電性基板に上記素子分離溝と対向する溝を上記一
    方の主面に形成することと、 上記第2導電性接着剤層を上記溝が形成された上記一方
    の主面に形成することとを含む請求項11記載の窒化物
    半導体発光素子の製造方法。
JP2000388964A 1999-12-21 2000-12-21 窒化物半導体発光素子の製造方法 Expired - Lifetime JP3893874B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000388964A JP3893874B2 (ja) 1999-12-21 2000-12-21 窒化物半導体発光素子の製造方法

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP36272299 1999-12-21
JP11-362722 1999-12-21
JP2000388964A JP3893874B2 (ja) 1999-12-21 2000-12-21 窒化物半導体発光素子の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001244503A true JP2001244503A (ja) 2001-09-07
JP3893874B2 JP3893874B2 (ja) 2007-03-14

Family

ID=26581418

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000388964A Expired - Lifetime JP3893874B2 (ja) 1999-12-21 2000-12-21 窒化物半導体発光素子の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3893874B2 (ja)

Cited By (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005079298A (ja) * 2003-08-29 2005-03-24 Shin Etsu Handotai Co Ltd 発光素子及び発光素子の製造方法
JP2005522873A (ja) * 2002-04-09 2005-07-28 オリオール, インク. 縦方向構造を有するledの製作方法
JP2005522875A (ja) * 2002-04-09 2005-07-28 オリオール, インク. 金属支持膜を使用した縦方向デバイスの製作方法
JP2005522874A (ja) * 2002-04-09 2005-07-28 オリオール, インク. 基板をエッチングする方法
JP2005203519A (ja) * 2004-01-14 2005-07-28 Sumitomo Electric Ind Ltd 半導体発光装置
JP2005236303A (ja) * 2004-02-20 2005-09-02 Shogen Koden Kofun Yugenkoshi オーミック金属バルジを有する有機接着発光素子
WO2006004042A1 (ja) * 2004-07-07 2006-01-12 Sanken Electric Co., Ltd. 半導体発光素子及びその製造方法
JP2006210916A (ja) * 2005-01-25 2006-08-10 Shogen Koden Kofun Yugenkoshi 発光装置
JP2006303429A (ja) * 2005-04-15 2006-11-02 Samsung Electro Mech Co Ltd 垂直構造の窒化物半導体発光素子の製造方法
JP2007013107A (ja) * 2005-05-31 2007-01-18 Sanyo Electric Co Ltd 半導体発光素子及び半導体発光装置
JP2007036297A (ja) * 2006-11-08 2007-02-08 Sharp Corp 窒化物系化合物半導体発光素子およびその製造方法
WO2007055202A1 (ja) * 2005-11-08 2007-05-18 Rohm Co., Ltd. 窒化物半導体発光素子及び窒化物半導体発光素子製造方法
JP2007158128A (ja) * 2005-12-06 2007-06-21 Toyoda Gosei Co Ltd Iii族窒化物系化合物半導体光素子
JP2007519246A (ja) * 2004-01-26 2007-07-12 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 電流拡散構造を有する薄膜led
JP2007294579A (ja) * 2006-04-24 2007-11-08 Showa Denko Kk GaN系半導体発光素子の製造方法及びGaN系半導体発光素子、並びにランプ
JP2007299935A (ja) * 2006-04-28 2007-11-15 Showa Denko Kk 窒化物系半導体発光素子の製造方法、窒化物系半導体発光素子及びランプ
US7378334B2 (en) 2002-07-08 2008-05-27 Nichia Corporation Nitride semiconductor device comprising bonded substrate and fabrication method of the same
EP1929545A1 (en) * 2005-09-30 2008-06-11 Lattice Power (Jiangxi) Corporation Semiconductor light-emitting device and method for making same
JP2008521220A (ja) * 2004-11-15 2008-06-19 バーティクル,インク 機能が向上された厚い超伝導フィルム
WO2009082121A3 (en) * 2007-12-20 2009-09-11 Lg Innotek Co., Ltd Semiconductor light emitting device and method of fabricating the same
JP2010267813A (ja) * 2009-05-14 2010-11-25 Toshiba Corp 発光素子及びその製造方法
US7892874B2 (en) 2004-02-06 2011-02-22 Sanyo Electric Co., Ltd. Nitride-based light-emitting device and method of manufacturing the same
US7956364B2 (en) 2002-06-26 2011-06-07 Lg Electronics Inc. Thin film light emitting diode
US8063410B2 (en) 2008-08-05 2011-11-22 Sharp Kabushiki Kaisha Nitride semiconductor light emitting device and method of manufacturing the same
JP2012028779A (ja) * 2010-07-23 2012-02-09 Lg Innotek Co Ltd 発光素子、これを含む発光素子パッケージ及び照明システム
US8129209B2 (en) 2000-10-17 2012-03-06 Osram Ag Method for fabricating a semiconductor component based on GaN
JP2012199405A (ja) * 2011-03-22 2012-10-18 Stanley Electric Co Ltd 半導体素子の製造方法
KR101247727B1 (ko) * 2003-01-31 2013-03-26 오스람 옵토 세미컨덕터스 게엠베하 반도체 소자 제조 방법
US8450751B2 (en) 2007-04-26 2013-05-28 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelectronic semiconductor body and method for producing the same
US8575003B2 (en) 2002-01-31 2013-11-05 Osram Opto Semiconductors Gmbh Method for producing a semiconductor component
US8581279B2 (en) 2005-06-02 2013-11-12 Osram Opto Semiconductors Gmbh Light-emitting diode chip comprising a contact structure
US8592846B2 (en) 2001-10-26 2013-11-26 Lg Electronics Inc. Diode having vertical structure and method of manufacturing the same
DE102004061949B4 (de) * 2004-01-16 2014-05-22 Epistar Corp. LED mit organischer Kleberschicht
US8786056B2 (en) 2010-06-09 2014-07-22 Nichia Corporation Semiconductor light emitting elements comprising a plating substrate with a projecting tab, or comprising an exposed seed layer
US8860065B2 (en) 2005-01-18 2014-10-14 Epistar Corporation Optoelectronic semiconductor device
US8962362B2 (en) 2009-11-05 2015-02-24 Wavesquare Inc. Vertically structured group III nitride semiconductor LED chip and method for manufacturing the same
US9502603B2 (en) 2011-05-12 2016-11-22 Wavesquare Inc. Vertically structured group III nitride semiconductor LED chip and method for manufacturing the same
EP2262007B1 (en) * 2002-01-28 2016-11-23 Nichia Corporation Nitride semiconductor element with supporting substrate

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101007133B1 (ko) 2009-06-08 2011-01-10 엘지이노텍 주식회사 반도체 발광소자 및 그 제조방법

Cited By (104)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8809086B2 (en) 2000-10-17 2014-08-19 Osram Gmbh Method for fabricating a semiconductor component based on GaN
US8129209B2 (en) 2000-10-17 2012-03-06 Osram Ag Method for fabricating a semiconductor component based on GaN
US10326055B2 (en) 2001-10-26 2019-06-18 Lg Innotek Co., Ltd. Diode having vertical structure
US8592846B2 (en) 2001-10-26 2013-11-26 Lg Electronics Inc. Diode having vertical structure and method of manufacturing the same
US9000468B2 (en) 2001-10-26 2015-04-07 Lg Innotek Co., Ltd. Diode having vertical structure
US9620677B2 (en) 2001-10-26 2017-04-11 Lg Innotek Co., Ltd. Diode having vertical structure
US10032959B2 (en) 2001-10-26 2018-07-24 Lg Innotek Co., Ltd. Diode having vertical structure
EP2262007B1 (en) * 2002-01-28 2016-11-23 Nichia Corporation Nitride semiconductor element with supporting substrate
US8598014B2 (en) 2002-01-31 2013-12-03 Osram Opto Semiconductors Gmbh Method for producing a semiconductor element
US8575003B2 (en) 2002-01-31 2013-11-05 Osram Opto Semiconductors Gmbh Method for producing a semiconductor component
US9472727B2 (en) 2002-04-09 2016-10-18 Lg Innotek Co., Ltd. Vertical structure LEDs
US9209360B2 (en) 2002-04-09 2015-12-08 Lg Innotek Co., Ltd. Vertical topology light-emitting device
US10453993B1 (en) 2002-04-09 2019-10-22 Lg Innotek Co., Ltd. Vertical structure LEDs
US10243101B2 (en) 2002-04-09 2019-03-26 Lg Innotek Co., Ltd. Vertical structure LEDs
JP2005522873A (ja) * 2002-04-09 2005-07-28 オリオール, インク. 縦方向構造を有するledの製作方法
JP2018195855A (ja) * 2002-04-09 2018-12-06 エルジー イノテック カンパニー リミテッド 発光デバイス
US10147847B2 (en) 2002-04-09 2018-12-04 Lg Innotek Co., Ltd. Vertical topology light emitting device
JP2005522875A (ja) * 2002-04-09 2005-07-28 オリオール, インク. 金属支持膜を使用した縦方向デバイスの製作方法
US10453998B2 (en) 2002-04-09 2019-10-22 Lg Innotek Co. Ltd. Vertical topology light emitting device
US9882084B2 (en) 2002-04-09 2018-01-30 Lg Innotek Co., Ltd. Vertical structure LEDs
US9847455B2 (en) 2002-04-09 2017-12-19 Lg Innotek Co., Ltd. Vertical topology light emitting device
JP2005522874A (ja) * 2002-04-09 2005-07-28 オリオール, インク. 基板をエッチングする方法
US10461217B2 (en) 2002-04-09 2019-10-29 Lg Innotek Co., Ltd. Vertical structure LEDs
US7772020B2 (en) 2002-04-09 2010-08-10 Lg Electronics Inc. Method of fabricating vertical devices using a metal support film
JP2017038076A (ja) * 2002-04-09 2017-02-16 エルジー イノテック カンパニー リミテッド 発光デバイス
US8809898B2 (en) 2002-04-09 2014-08-19 Lg Innotek Co., Ltd. Method of fabricating vertical structure LEDs
US10600933B2 (en) 2002-04-09 2020-03-24 Lg Innotek Co., Ltd. Vertical structure LEDs
JP4662717B2 (ja) * 2002-04-09 2011-03-30 エルジー エレクトロニクス インコーポレイティド 基板をエッチングする方法
US8564016B2 (en) 2002-04-09 2013-10-22 Lg Electronics Inc. Vertical topology light emitting device
US9478709B2 (en) 2002-04-09 2016-10-25 Lg Innotek Co., Ltd. Vertical topology light emitting device
US8669587B2 (en) 2002-04-09 2014-03-11 Lg Innotek Co., Ltd. Vertical topology light emitting device
US8022386B2 (en) 2002-04-09 2011-09-20 Lg Electronics Inc. Vertical topology light emitting device
JP2013175748A (ja) * 2002-04-09 2013-09-05 Lg Electronics Inc 縦方向構造を有するledの製作方法
US8896017B2 (en) 2002-04-09 2014-11-25 Lg Innotek Co., Ltd. Vertical structure LEDs
US9224907B2 (en) 2002-04-09 2015-12-29 Lg Innotek Co., Ltd. Vertical structure LEDs
US8384120B2 (en) 2002-04-09 2013-02-26 Lg Electronics Inc. Method of fabricating vertical structure LEDs
US10644200B2 (en) 2002-04-09 2020-05-05 Lg Innotek Co., Ltd. Vertical topology light emitting device
US8368115B2 (en) 2002-04-09 2013-02-05 Lg Electronics Inc. Method of fabricating vertical devices using a metal support film
JP2015181164A (ja) * 2002-04-09 2015-10-15 エルジー イノテック カンパニー リミテッド 縦方向構造を有するledの製作方法
US8294172B2 (en) 2002-04-09 2012-10-23 Lg Electronics Inc. Method of fabricating vertical devices using a metal support film
US9000477B2 (en) 2002-04-09 2015-04-07 Lg Innotek Co., Ltd. Vertical topology light-emitting device
US9281454B2 (en) 2002-06-26 2016-03-08 Lg Innotek Co., Ltd. Thin film light emitting diode
US10825962B2 (en) 2002-06-26 2020-11-03 Lg Innotek Co., Ltd. Thin film light emitting diode
US9716213B2 (en) 2002-06-26 2017-07-25 Lg Innotek Co., Ltd. Thin film light emitting diode
US8207552B2 (en) 2002-06-26 2012-06-26 Lg Electronics Inc. Thin film light emitting diode
US10326059B2 (en) 2002-06-26 2019-06-18 Lg Innotek Co., Ltd. Thin film light emitting diode
US8384091B2 (en) 2002-06-26 2013-02-26 Lg Electronics Inc. Thin film light emitting diode
US7956364B2 (en) 2002-06-26 2011-06-07 Lg Electronics Inc. Thin film light emitting diode
US8445921B2 (en) 2002-06-26 2013-05-21 Lg Electronics, Inc. Thin film light emitting diode
US8288787B2 (en) 2002-06-26 2012-10-16 Lg Electronics, Inc. Thin film light emitting diode
US8030665B2 (en) 2002-07-08 2011-10-04 Nichia Corporation Nitride semiconductor device comprising bonded substrate and fabrication method of the same
US7378334B2 (en) 2002-07-08 2008-05-27 Nichia Corporation Nitride semiconductor device comprising bonded substrate and fabrication method of the same
US8524573B2 (en) 2003-01-31 2013-09-03 Osram Opto Semiconductors Gmbh Method for separating a semiconductor layer from a substrate by irradiating with laser pulses
KR101247727B1 (ko) * 2003-01-31 2013-03-26 오스람 옵토 세미컨덕터스 게엠베하 반도체 소자 제조 방법
JP2005079298A (ja) * 2003-08-29 2005-03-24 Shin Etsu Handotai Co Ltd 発光素子及び発光素子の製造方法
JP2005203519A (ja) * 2004-01-14 2005-07-28 Sumitomo Electric Ind Ltd 半導体発光装置
DE102004061949B4 (de) * 2004-01-16 2014-05-22 Epistar Corp. LED mit organischer Kleberschicht
US8368092B2 (en) 2004-01-26 2013-02-05 Osram Opto Semiconductors Gmbh Thin film LED comprising a current-dispersing structure
JP2007519246A (ja) * 2004-01-26 2007-07-12 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 電流拡散構造を有する薄膜led
KR101386192B1 (ko) * 2004-01-26 2014-04-17 오스람 옵토 세미컨덕터스 게엠베하 전류 분산 구조물을 갖는 박막 led
US7892874B2 (en) 2004-02-06 2011-02-22 Sanyo Electric Co., Ltd. Nitride-based light-emitting device and method of manufacturing the same
US8237182B2 (en) 2004-02-20 2012-08-07 Epistar Corporation Organic adhesive light-emitting device with ohmic metal bulge
JP2005236303A (ja) * 2004-02-20 2005-09-02 Shogen Koden Kofun Yugenkoshi オーミック金属バルジを有する有機接着発光素子
JP4648031B2 (ja) * 2004-02-20 2011-03-09 晶元光電股▲ふん▼有限公司 金属バルジを有する有機接着発光素子
US7675070B2 (en) 2004-07-07 2010-03-09 Sanken Electric Co., Ltd. LED having a reflector layer of improved contact ohmicity
WO2006004042A1 (ja) * 2004-07-07 2006-01-12 Sanken Electric Co., Ltd. 半導体発光素子及びその製造方法
JP2006024701A (ja) * 2004-07-07 2006-01-26 Sanken Electric Co Ltd 半導体発光素子及びその製造方法
JP2008521220A (ja) * 2004-11-15 2008-06-19 バーティクル,インク 機能が向上された厚い超伝導フィルム
US8860065B2 (en) 2005-01-18 2014-10-14 Epistar Corporation Optoelectronic semiconductor device
JP2006210916A (ja) * 2005-01-25 2006-08-10 Shogen Koden Kofun Yugenkoshi 発光装置
JP4698411B2 (ja) * 2005-04-15 2011-06-08 サムソン エルイーディー カンパニーリミテッド. 垂直構造の窒化物半導体発光素子の製造方法
US8021901B2 (en) 2005-04-15 2011-09-20 Samsung Led Co., Ltd. Method of fabricating vertical structure nitride semiconductor light emitting device
JP2006303429A (ja) * 2005-04-15 2006-11-02 Samsung Electro Mech Co Ltd 垂直構造の窒化物半導体発光素子の製造方法
JP2007013107A (ja) * 2005-05-31 2007-01-18 Sanyo Electric Co Ltd 半導体発光素子及び半導体発光装置
US8581279B2 (en) 2005-06-02 2013-11-12 Osram Opto Semiconductors Gmbh Light-emitting diode chip comprising a contact structure
JP2009510730A (ja) * 2005-09-30 2009-03-12 ラティス パワー (チアンシ) コーポレイション 半導体発光デバイスおよびその製造方法
EP1929545A1 (en) * 2005-09-30 2008-06-11 Lattice Power (Jiangxi) Corporation Semiconductor light-emitting device and method for making same
EP1929545A4 (en) * 2005-09-30 2014-03-05 Lattice Power Jiangxi Corp SEMICONDUCTOR ELECTROLUMINESCENT DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
WO2007055202A1 (ja) * 2005-11-08 2007-05-18 Rohm Co., Ltd. 窒化物半導体発光素子及び窒化物半導体発光素子製造方法
US8004006B2 (en) 2005-11-08 2011-08-23 Rohm Co., Ltd. Nitride semiconductor light emitting element
JP2007158128A (ja) * 2005-12-06 2007-06-21 Toyoda Gosei Co Ltd Iii族窒化物系化合物半導体光素子
JP2007294579A (ja) * 2006-04-24 2007-11-08 Showa Denko Kk GaN系半導体発光素子の製造方法及びGaN系半導体発光素子、並びにランプ
JP2007299935A (ja) * 2006-04-28 2007-11-15 Showa Denko Kk 窒化物系半導体発光素子の製造方法、窒化物系半導体発光素子及びランプ
JP2007036297A (ja) * 2006-11-08 2007-02-08 Sharp Corp 窒化物系化合物半導体発光素子およびその製造方法
US8450751B2 (en) 2007-04-26 2013-05-28 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelectronic semiconductor body and method for producing the same
US8653540B2 (en) 2007-04-26 2014-02-18 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelectronic semiconductor body and method for producing the same
US11245060B2 (en) 2007-08-27 2022-02-08 Epistar Corporation Optoelectronic semiconductor device
WO2009082121A3 (en) * 2007-12-20 2009-09-11 Lg Innotek Co., Ltd Semiconductor light emitting device and method of fabricating the same
US8772815B2 (en) 2007-12-20 2014-07-08 Lg Innotek Co., Ltd. Semiconductor light emitting device having a protecting member and method of fabricating the same
US8319243B2 (en) 2008-08-05 2012-11-27 Sharp Kabushiki Kaisha Nitride semiconductor light-emitting device and method of manufacturing the same
US8063410B2 (en) 2008-08-05 2011-11-22 Sharp Kabushiki Kaisha Nitride semiconductor light emitting device and method of manufacturing the same
US8618562B2 (en) 2009-05-14 2013-12-31 Kabushiki Kaisha Toshiba Light emitting device and method for manufacturing same
JP2010267813A (ja) * 2009-05-14 2010-11-25 Toshiba Corp 発光素子及びその製造方法
US8962362B2 (en) 2009-11-05 2015-02-24 Wavesquare Inc. Vertically structured group III nitride semiconductor LED chip and method for manufacturing the same
US9012935B2 (en) 2009-11-05 2015-04-21 Wavesquare Inc. Vertically structured group III nitride semiconductor LED chip and method for manufacturing the same
CN102687288B (zh) * 2009-11-05 2016-04-06 Bbsa有限公司 第iii族氮化物半导体纵向结构led芯片及其制造方法
KR101542026B1 (ko) * 2009-11-05 2015-08-04 (주)웨이브스퀘어 Ⅲ족 질화물 반도체 수직형 구조 led 칩 및 그 제조 방법
US9490388B2 (en) 2010-06-09 2016-11-08 Nichia Corporation Semiconductor light emitting element fabrication method
US8786056B2 (en) 2010-06-09 2014-07-22 Nichia Corporation Semiconductor light emitting elements comprising a plating substrate with a projecting tab, or comprising an exposed seed layer
US10141478B2 (en) 2010-07-23 2018-11-27 Lg Innotek Co., Ltd. Structure of a reflective electrode and an OHMIC layer of a light emitting device
US9356195B2 (en) 2010-07-23 2016-05-31 Lg Innotek Co., Ltd. Light emitting device, light emitting device package comprising the same and lighting system
JP2012028779A (ja) * 2010-07-23 2012-02-09 Lg Innotek Co Ltd 発光素子、これを含む発光素子パッケージ及び照明システム
JP2012199405A (ja) * 2011-03-22 2012-10-18 Stanley Electric Co Ltd 半導体素子の製造方法
US9502603B2 (en) 2011-05-12 2016-11-22 Wavesquare Inc. Vertically structured group III nitride semiconductor LED chip and method for manufacturing the same

Also Published As

Publication number Publication date
JP3893874B2 (ja) 2007-03-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3893874B2 (ja) 窒化物半導体発光素子の製造方法
JP5016808B2 (ja) 窒化物半導体発光素子及び窒化物半導体発光素子製造方法
JP4985260B2 (ja) 発光装置
KR100568269B1 (ko) 플립-칩 본딩용 질화갈륨계 발광 다이오드 및 그 제조방법
JP3896704B2 (ja) GaN系化合物半導体発光素子
US20040211972A1 (en) Flip-chip light emitting diode
KR20140130618A (ko) 솔더 페이스트를 통해 접착된 발광 다이오드를 갖는 발광 다이오드 모듈 및 발광 다이오드
JP2012074665A (ja) 発光ダイオード
JP2007173465A (ja) 窒化物半導体発光素子の製造方法
JP2007103689A (ja) 半導体発光装置
US8981398B2 (en) Semiconductor light emitting device and method for manufacturing the same
KR101000276B1 (ko) 반도체 발광소자
KR101106139B1 (ko) 확장된 금속 반사층을 갖는 플립 본딩형 발광다이오드 및 그 제조방법
JP2013239471A (ja) 発光ダイオード素子の製造方法
JPWO2017154975A1 (ja) 半導体発光装置
JPH10223930A (ja) 半導体発光素子
JP4868833B2 (ja) 半導体発光素子及び発光装置
JP6153351B2 (ja) 半導体発光装置
JP2000049376A (ja) 発光素子
JPH10209494A (ja) 半導体発光素子
KR20070039195A (ko) 열적 안정성이 개선된 반도체 소자 및 이의 제조방법
JP4154142B2 (ja) 発光ダイオード及びその製造方法
JP2012054423A (ja) 発光ダイオード
KR100644215B1 (ko) 발광소자와 그 제조방법
JP7227476B2 (ja) 発光装置及びその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20031212

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20051104

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20051104

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20060206

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20060706

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060718

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060919

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20060919

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061017

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061027

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20061121

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20061204

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 3893874

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091222

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091222

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101222

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101222

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111222

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111222

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121222

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121222

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131222

Year of fee payment: 7

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term