JP2001244116A - 電子部品及びその製造方法 - Google Patents

電子部品及びその製造方法

Info

Publication number
JP2001244116A
JP2001244116A JP2000054127A JP2000054127A JP2001244116A JP 2001244116 A JP2001244116 A JP 2001244116A JP 2000054127 A JP2000054127 A JP 2000054127A JP 2000054127 A JP2000054127 A JP 2000054127A JP 2001244116 A JP2001244116 A JP 2001244116A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sintered body
external electrode
electronic component
internal electrode
pores
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000054127A
Other languages
English (en)
Inventor
Hidemi Iwao
秀美 岩尾
Mayumi Arai
まゆみ 荒井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Taiyo Yuden Co Ltd
Original Assignee
Taiyo Yuden Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Taiyo Yuden Co Ltd filed Critical Taiyo Yuden Co Ltd
Priority to JP2000054127A priority Critical patent/JP2001244116A/ja
Priority to TW090103157A priority patent/TW477988B/zh
Priority to CN01104785A priority patent/CN1311513A/zh
Priority to US09/791,883 priority patent/US20010017420A1/en
Publication of JP2001244116A publication Critical patent/JP2001244116A/ja
Priority to HK02100052.3A priority patent/HK1038434A1/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002Details
    • H01G4/005Electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F17/00Fixed inductances of the signal type 
    • H01F17/0006Printed inductances
    • H01F17/0013Printed inductances with stacked layers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F41/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties
    • H01F41/02Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for manufacturing cores, coils, or magnets
    • H01F41/04Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for manufacturing cores, coils, or magnets for manufacturing coils
    • H01F41/041Printed circuit coils
    • H01F41/046Printed circuit coils structurally combined with ferromagnetic material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002Details
    • H01G4/228Terminals
    • H01G4/232Terminals electrically connecting two or more layers of a stacked or rolled capacitor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/30Stacked capacitors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Coils Or Transformers For Communication (AREA)
  • Manufacturing Cores, Coils, And Magnets (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 外界からの影響に強く特性が安定した電子部
品及びその製造方法を提供する。 【解決手段】 内部電極13が埋設された焼結体11
と、この焼結体11の外面に形成され前記内部電極13
と接続する外部電極12とを備えた電子部品において、
焼結体11に多数の細孔12aを有する外部電極12を
形成した後にその細孔12aを通して樹脂を含浸させる
ことにより、焼結体11と内部電極13との間に緩衝材
14を介在させるとともに、外部電極12の細孔12a
に前記緩衝材14と同一物質を含浸させた。これによ
り、内部電極12と焼結体101がそれぞれ別々に膨張
・収縮した場合にも、両者が接触する際に生じる応力の
発生を抑えるとともに発生した応力を吸収緩和するの
で、温度変化や磁界強度変化等が生じても特性が安定し
たものとなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、積層チップインダ
クタや積層フィルタ等の電子部品及びその製造方法に関
する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の電子部品は、内部電極が
埋設された磁性焼結体や誘電焼結体等の焼結体と、内部
電極の引出部と接続するように焼結体表面に形成された
外部電極とを備えたものが知られている。電子部品の一
例として積層インダクタについて図4を参照して説明す
る。図4は従来の積層インダクタの構造を説明する断面
図である。
【0003】この積層インダクタ100は、図4に示す
ように、コイルを形成する内部電極103が埋設された
磁性焼結体101と、磁性焼結体101の両端に設けら
れ前記内部電極103の引出部103aと接続するよう
に形成された外部電極102とからなる。
【0004】磁性焼結体101は、印刷法などを用いて
内部電極を形成する導電性ペースト及びセラミックグリ
ーンシートからなる積層体を作成し、この積層体を高温
で焼成して作成される。この焼結工程により導電性ペー
ストとセラミックグリーンシートが同時焼成され、それ
ぞれ内部電極103及び磁性焼結体101が形成され
る。
【0005】外部電極102は、ディップ法等により焼
結体101の両端にAg等を主成分とする金属ペースト
を塗布し、この後に焼成して形成される。また、外部電
極102は、半田濡れ性を向上させるために電気メッキ
等を施され、表面にメッキ層102aが形成されてい
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
たような電子部品は、一般的に焼結体と内部電極の熱収
縮率が相違するため、積層体の作成時、外部電極の焼き
付け時、回路基板への半田付け時に、焼結体の内部に応
力が生じ、この応力により電子部品の特性が変化したり
焼結体にクラックが生じたりするという問題があった。
この問題は、特に積層インダクタや積層フィルタ等のイ
ンダクタ素子を有する電子部品において顕著であった。
すなわち、前記積層インダクタ100では、磁性焼結体
101と内部電極103との境界面において応力が発生
すると、この応力により内部歪みが生じ、これにより磁
気特性が劣化する。
【0007】このような問題を解決するため、焼結体の
作成時に、内部電極を形成する導電性ペーストの熱収縮
率を大きくすることにより、内部電極を焼結体から剥離
させた電子部品及び製造方法が考えられている。この電
子部品では、内部電極と焼結体との間に空隙が形成され
ているので、内部電極と焼結体との境界面に生じる応力
が緩和される。これにより、焼結体のクラック発生や特
性変動を低減することができる。
【0008】また、外部電極として多孔質金属を採用し
た電子部品及びその製造方法も考えられている。この電
子部品では、外部電極の焼付時に焼結体に不均一に作用
する応力が緩和され、焼結体のクラック発生を低減する
ことができる。
【0009】しかしながら、内部電極と焼結体との間に
空隙が形成されている電子部品では、熱や磁界等の外部
からの影響により磁性体と内部電極が別々に膨張・収縮
した場合に、その膨張率の相違により両者が接触する場
合がある。このとき焼結体に内部歪みが生じ、特性が劣
化するという問題があった。
【0010】また、内部電極と焼結体との間に空隙が形
成され、外部電極が多孔質金属で形成されている電子部
品は、外部電極に電気メッキを施す際に、外部電極を通
してメッキ液が前記空隙に浸入する場合があった。この
場合には、メッキ後に洗浄してもメッキ液が残留するこ
とがあり、これにより内部電極の腐食や導通不良を生じ
させる場合があるという問題があった。
【0011】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
であり、その目的とするところは、外界からの影響に強
く特性が安定した電子部品及びその製造方法を提供する
ことにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1の発明では、内部電極が埋設された焼結体
と、この焼結体の外面に形成され前記内部電極と接続す
る外部電極とを備えた電子部品において、焼結体と内部
電極との間には緩衝材が介在し、外部電極は多数の細孔
を有する多孔質の導電性部材からなり、この外部電極の
細孔には前記緩衝材と同一物質が含浸されていることを
特徴とするものを提案する。
【0013】本発明によれば、焼結体と内部電極との間
に緩衝材が介在しているので、すなわち両者が直接に接
触していないので、内部電極と焼結体がそれぞれ別々に
膨張・収縮した場合にも、両者が接触する際に生じる応
力の発生が抑えられるとともに、発生した応力が緩衝材
により吸収緩和される。これにより、温度変化や磁界強
度変化等が生じても焼結体の内部に生じる応力は小さな
ものとなるので、特性が安定した電子部品となる。
【0014】また、本発明によれば、外部電極が多孔質
の導電性部材からなるので、外部電極の焼き付け時に焼
結体に作用する応力が低減する。また、外部電極が多孔
質の導電性部材であり、且つ、その細孔が緩衝材と同一
物質により含浸されているので、外部電極にメッキ層を
形成する際に、メッキ液等が焼結体内部に浸入するのを
防止することができる。
【0015】本発明の好適な態様の一例として、請求項
2の発明では、請求項1記載の電子部品において、前記
緩衝材及び細孔に含浸されている物質は熱硬化性樹脂で
あることを特徴とするものを提案する。また、請求項3
の発明では、前記外部電極の表面にはメッキ層が形成さ
れていることを特徴とするものを提案する。
【0016】また、上記目的を達成するために、請求項
4の発明では、内部電極が埋設された焼結体と、この焼
結体の外面に形成され前記内部電極と接続する外部電極
とを備えた電子部品の製造方法において、内部電極が印
刷された複数の絶縁体シートを積層し、この積層体を焼
結させることにより内部電極と焼結体との間に間隙を有
する焼結体を作成する工程と、この焼結体の表面に内部
電極と導通接続するように多孔質の導電性部材からなる
外部電極を形成する工程と、外部電極の細孔から前記間
隙及び外部電極の細孔に熱硬化性樹脂を含浸させる工程
と、含浸した熱硬化性樹脂を硬化させる工程とを有する
ことを特徴とするものを提案する。
【0017】本発明によれば、請求項1記載の電子部品
を確実且つ効率的に製造することができる。すなわち、
外部電極が多孔質の導電性部材からなり、外部電極を形
成後に、この外部電極の細孔を通して、内部電極と焼結
体との間隙及び外部電極の細孔に熱硬化性樹脂が含浸さ
れ、硬化する。ここで、外部電極が多孔質の導電部材か
らなるので、内部導体と焼結体との間に介在する樹脂と
外部電極の細孔に含浸する樹脂を一工程で含浸させるこ
とができるので、効率的に電子部品を製造することがで
きる。
【0018】本発明好適な態様の一例として、請求項5
の発明では、請求項4記載の電子部品の製造方法におい
て、前記樹脂の硬化工程の後に、外部電極の表面に付着
している樹脂することにより除去し、その表面にメッキ
層を形成する工程を有することを特徴とするものを提案
する。
【0019】
【発明の実施の形態】本発明の一実施の形態にかかる電
子部品について図1及び図2を参照して説明する。本実
施の形態では電子部品の一例として積層チップインダク
タについて説明する。図1は積層チップインダクタの斜
視図、図2は積層チップインダクタの断面図である。
【0020】この積層チップインダクタ10は、図1に
示すように、コイルを形成する内部電極13が埋設され
た磁性焼結体11と、直方体形状の磁性焼結体11の両
端部に形成され前記内部電極13と導通接続する外部電
極12とを備えている。
【0021】磁性焼結体11は、後述するように、磁性
体シートを積層し、これを焼結して得たものである。磁
性焼結体11としては、透磁率が高いものが好ましい。
例えばフェライトである。具体的には、例えばNi−Z
n−Cuフェライトや、Ni−Znフェライト、Cu−
Znフェライトなどである。本実施の形態では、Ni−
Zn−Cuフェライトを用いた。
【0022】内部電極13は、磁性焼結体11の両端面
に露出する引出部13aと、引出部13aと接続したコ
イル部13bとからなる。内部電極13は、インダクタ
として高いQを実現するため、電気抵抗が低いことが望
ましい。例えば、Ag、Au、Ptなどを主成分とする
貴金属やこれらの合金、Cu,Ni等の卑金属やこれら
の合金などの導電性部材である。本実施の形態ではAg
を用いた。
【0023】磁性焼結体11と内部電極13との間に
は、図2に示すように、緩衝材14が介在している。こ
の緩衝材14は、磁性焼結体11と内部導体13とが直
接接触するのを防止し、両者間に発生する応力を吸収緩
和する。この緩衝材としては、合成樹脂が用いられる。
具体的には、熱硬化性樹脂が製造上好ましく、例えばシ
リコーン樹脂、エポキシ樹脂、フェノール樹脂である。
本実施の形態では、シリコーン樹脂を用いた。
【0024】外部電極12は、前記内部電極13の引出
部13aと接続するよう磁性焼結体11の端部に形成さ
れている。この外部電極12は、多数の細孔12aを有
した多孔質の部材からなる。ここで外部電極12の多孔
度(気孔率)は10%〜30%程度が望ましく、好まし
くは15%〜25%程度である。また、細孔の平均孔径
は0.3μm〜4.0μmが望ましく、好ましくは1.
0%〜2.0%程度である。外部電極12の材質として
は、例えばAgなどの金属を主成分としたものからな
る。また、外部電極12の細孔12aには、前記緩衝材
14と同一物質からなる樹脂12bが含浸されている。
さらに、外部電極12の表層には、メッキ層12cが形
成されている。このメッキ層12cとしては、例えばN
iメッキや半田メッキにより形成されたものである。
【0025】次に、この積層チップインダクタ10の製
造方法について図3を参照して説明する。図3は積層チ
ップインダクタの製造工程図である。
【0026】まず、フェライトシートを作成する(ステ
ップS1)。具体的には、FeO2,CuO,ZnO,
NiOからなる仮焼粉砕後のフェライト微粉末に、エチ
ルセルロース、テルピネオールを加え、これを混練して
フェライトペーストを得る。このフェライトペーストを
ドクターブレード法等を用いてシート化してフェライト
シートを得る。
【0027】次に、このフェライトシートにパンチやレ
ーザなどで所定位置にスルーホールを形成する(ステッ
プS2)。次いで、このフェライトシートに内部電極用
導電性ペーストを所定パターンで印刷する(ステップS
3)。ここで、スルーホールの形成及び内部電極用導電
性ペーストの印刷パターンは、焼成した内部電極用導電
性ペーストにより内部電極のコイル部が形成されるよう
にする。
【0028】ここで、内部電極用導電性ペーストとして
は、焼成時にフェライトシートよりも収縮率が大きい組
成のものを用いる。具体的には、焼成時の収縮率が、フ
ェライトシートの収縮率の110%〜140%程度のも
のが好ましく、好適にはフェライトシートの収縮率の1
20%〜130%程度である。本実施の形態では、次に
示す組成のものを用いた。Ag粒子(球状粒子,平均粒
径0.3μm)が70wt%,エチルセルロースが9w
t%,ブチルカルビトールが19wt%,増粘剤が2w
t%からなるAgを主成分とする金属ペーストである。
【0029】次に、複数のフェライトシートをシート間
が互いにスルーホールで接続されるように積層圧着して
積層体を得る(ステップS4)。次いで、これを単位形
状にカットし、さらにバレル研磨を施す(ステップS
5)。
【0030】次に、この積層体を空気中にて約400℃
で2時間加熱して積層体中のバインダ成分を除去し、さ
らに空気中にて約850〜900℃で2時間焼成するこ
とにより、内部電極が埋設された磁性焼結体を得る(ス
テップS6)。前述したように焼成時における内部電極
用導電性ペーストの収縮率はフェライトシートの収縮率
よりも大きく設定されている。したがって、この焼成工
程により、内部電極用導電性ペーストが焼成してなる内
部電極と、フェライトシートが焼結してなる磁性焼結体
との間に空隙が形成される。
【0031】次いで、この磁性焼結体の両端部にディッ
プ法などを用いて外部電極用導電性ペーストを塗布し、
これを空気中にて約800℃で2時間焼成することによ
り、外部電極を形成する(ステップS7)。ここで、外
部電極用導電性ペーストは、前述したように焼成後の外
部電極に多数の細孔が生じるような組成のものを用い
る。本実施の形態では次に示す組成のものを用いた。A
g粒子(球状粒子,平均粒径0.5μm)が73wt
%,ガラスフリット(ZnO−B23−SiO2)が4
wt%,エチルセルロースが10wt%,ブチルカルビ
トールアセテートとエチルカルビトールとの1:1混合
液が13wt%からなるAgを主成分とする金属ペース
トである。このような金属ペーストを用いることによ
り、焼成時にガラスフリットがガス化して多孔質の金属
部材が形成される。
【0032】次に、外部電極が形成された磁性焼結体
に、樹脂を含浸させる(ステップS8)。具体的には、
トルエンで希釈したシリコーン樹脂が入った容器中に磁
性焼結体を投入する。そして、この容器を減圧容器内に
配置し、真空ポンプで減圧容器内を減圧させる。この含
浸時間は約10分間とした。この工程により、外部電極
の細孔を通して、磁性焼結体と内部電極との間の空隙及
び外部電極の細孔内にシリコーン樹脂が含浸される。
【0033】次いで、磁性焼結体を容器から取り出し、
空気中にて約200℃で1時間加熱させることにより、
含浸したシリコーン樹脂を硬化させる(ステップS
9)。
【0034】次いで、この磁性焼結体を回転バレル内に
入れてバレル研磨を施し、外部電極表面に付着している
シリコーン樹脂を洗浄除去した(ステップS10)。次
に、外部電極に電気メッキを施してメッキ層を形成した
(ステップS11)。最後に、水洗いしてメッキ液を除
去し、最後に乾燥容器内で乾燥させて積層チップインダ
クタが得られる(ステップS12)。
【0035】以上の製造工程により、図1及び図2に示
すように、内部電極13と磁性焼結体11との間にはシ
リコーン樹脂からなる緩衝材14が介在し、外部電極1
2は多数の細孔12aを有する多孔質金属からなり、そ
の細孔12aには緩衝材14と同一物質である樹脂12
bが含浸し、外部電極12の表面にはメッキ層12cが
形成された積層チップインダクタ10を製造することが
できる。
【0036】このような積層チップインダクタ10で
は、磁性焼結体11と内部電極13との間に緩衝材14
が介在しているので、すなわち両者が直接に接触してい
ないので、内部電極13と磁性焼結体11がそれぞれ別
々に膨張・収縮した場合にも、両者が接触する際に生じ
る応力の発生が抑えられるとともに、発生した応力が緩
衝材14により吸収緩和される。これにより、温度変化
や磁界強度変化等が生じても磁性焼結体の内部に生じる
応力は小さなものとなるので、磁気特性が安定したもの
となる。
【0037】また、この積層チップインダクタ10で
は、外部電極12が多孔質の導電性部材からなるので、
外部電極12の焼き付け時に磁性焼結体11に作用する
応力が低減する。また、外部電極12が多孔質の導電性
部材であり、且つ、その細孔12aが緩衝材14と同一
物質である樹脂12bにより含浸されているので、外部
電極12にメッキ層を形成する際に、メッキ液等が磁性
焼結体101の内部に浸入するのを防止することができ
る。
【0038】この積層チップインダクタ10を上記製造
方法にしたがって多数製造し、その中から100個を抜
き取り、これらの積層チップインダクタについて、以下
の4種類の測定を行い表1の測定結果を得た。
【0039】測定1:通常の測定条件におけるインダク
タンス値(L値)の平均値を測定 測定2:積層チップインダクタの近傍に1000ガウス
の磁石を接近させた後におけるL値の平均値を測定 測定3:積層チップインダクタに50ミリアンペアの直
流電圧を印加し、直流電圧の印加を解除した後における
L値の平均値を測定 測定4:積層チップインダクタを耐湿槽中に入れ、温度
85℃、湿度95%の条件下で200時間放置し、その
後に耐湿槽から取り出した場合における導通不良個数
(100個中の不良個数) なお、比較対象として、前記製造工程におけるステップ
8の樹脂含浸工程を行うことなく外部電極に電気メッキ
を施した積層チップインダクタを挙げる。
【0040】
【表1】
【0041】この測定1〜測定3の測定結果が示すよう
に、本発明にかかる積層チップインダクタ10によれ
ば、従来の積層チップインダクタと比較して、磁界変動
など外界の影響によるL値の変動が低減したことが観察
された。また、測定4の測定結果が示すように、耐久性
の高いことが観察された。なお、測定4において、耐湿
試験後の従来品では内部電極に多数の腐食部が形成され
ていることが観察された。このように本発明の効果を確
認できた。
【0042】なお、本実施の形態として電子部品の一例
として積層チップインダクタについて説明したが、本発
明はこれに限定されるものではない。焼結体に内部電極
を埋設し、焼結体表面に内部電極と接続する外部電極を
形成した電子部品であれば、本発明を実施することがで
きる。例えば、積層チップコンデンサ、LCフィルタ、
コンデンサアレイ、インダクタアレイ等である。特に、
焼結体が磁性体となっておりインダクタンス素子を含む
電子部品の場合には、内部電極と焼結体との間に生じる
応力が磁気特性に大きく影響するので本発明は有効であ
る。
【0043】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明にかかる電
子部品では、焼結体と内部電極との間に緩衝材が介在し
ているので、すなわち両者が直接に接触していないの
で、内部電極と焼結体がそれぞれ別々に膨張・収縮した
場合にも、両者が接触する際に生じる応力の発生が抑え
られるとともに、発生した応力が緩衝材により吸収緩和
される。これにより、温度変化や磁界強度変化等が生じ
ても焼結体の内部に生じる応力は小さなものとなるの
で、特性が安定した電子部品となる。
【0044】また、外部電極が多孔質の導電性部材から
なるので、外部電極の焼き付け時に焼結体に作用する応
力が低減する。さらに、外部電極が多孔質の導電性部材
であり、且つ、その細孔が緩衝材と同一物質により含浸
されているので、外部電極にメッキ層を形成する際に、
メッキ液等が焼結体内部に浸入するのを防止することが
できる。
【0045】さらに、本発明にかかる電子部品の製造方
法によれば、前記電子部品を確実且つ効率的に製造する
ことができる。すなわち、外部電極が多孔質の導電性部
材からなり、外部電極を形成後に、この外部電極の細孔
を通して、内部電極と焼結体との間隙及び外部電極の細
孔に熱硬化性樹脂が含浸され、硬化する。ここで、外部
電極が多孔質の導電部材からなるので、内部導体と焼結
体との間に介在する樹脂と外部電極の細孔に含浸する樹
脂を一工程で含浸させることができるので、効率的に電
子部品を製造することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】積層チップインダクタの斜視図
【図2】積層チップインダクタの断面図
【図3】積層チップインダクタの製造工程図
【図4】従来の積層チップインダクタの断面図
【符号の説明】
10…積層チップインダクタ、11…磁性焼結体、12
…外部電極、12a…細孔、12b…樹脂、12c…メ
ッキ層、13…内部電極、14…緩衝材

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 内部電極が埋設された焼結体と、この焼
    結体の外面に形成され前記内部電極と接続する外部電極
    とを備えた電子部品において、 焼結体と内部電極との間には緩衝材が介在し、 外部電極は多数の細孔を有する多孔質の導電性部材から
    なり、この外部電極の細孔には前記緩衝材と同一物質が
    含浸されていることを特徴とする電子部品。
  2. 【請求項2】 前記緩衝材及び細孔に含浸されている物
    質は熱硬化性樹脂であることを特徴とする請求項1記載
    の電子部品。
  3. 【請求項3】 前記外部電極の表面にはメッキ層が形成
    されていることを特徴とする請求項1又は2何れか1項
    記載の電子部品。
  4. 【請求項4】 内部電極が埋設された焼結体と、この焼
    結体の外面に形成され前記内部電極と接続する外部電極
    とを備えた電子部品の製造方法において、 内部電極が印刷された複数の絶縁体シートを積層し、こ
    の積層体を焼結させることにより内部電極と焼結体との
    間に間隙を有する焼結体を作成する工程と、 この焼結体の表面に内部電極と導通接続するように多孔
    質の導電性部材からなる外部電極を形成する工程と、 外部電極の細孔から前記間隙及び外部電極の細孔に熱硬
    化性樹脂を含浸させる工程と、 含浸した熱硬化性樹脂を硬化させる工程とを有すること
    を特徴とする電子部品の製造方法。
  5. 【請求項5】 前記樹脂の硬化工程の後に、外部電極の
    表面に付着している樹脂を研磨することにより除去し、
    その表面にメッキ層を形成する工程を有することを特徴
    とする請求項4記載の電子部品の製造方法
JP2000054127A 2000-02-29 2000-02-29 電子部品及びその製造方法 Pending JP2001244116A (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000054127A JP2001244116A (ja) 2000-02-29 2000-02-29 電子部品及びその製造方法
TW090103157A TW477988B (en) 2000-02-29 2001-02-13 Electronic component and its manufacturing method
CN01104785A CN1311513A (zh) 2000-02-29 2001-02-23 电子零件及其制造方法
US09/791,883 US20010017420A1 (en) 2000-02-29 2001-02-26 Electronic component and manufacturing method thereof
HK02100052.3A HK1038434A1 (zh) 2000-02-29 2002-01-04 電子零件及其制造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000054127A JP2001244116A (ja) 2000-02-29 2000-02-29 電子部品及びその製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001244116A true JP2001244116A (ja) 2001-09-07

Family

ID=18575420

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000054127A Pending JP2001244116A (ja) 2000-02-29 2000-02-29 電子部品及びその製造方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20010017420A1 (ja)
JP (1) JP2001244116A (ja)
CN (1) CN1311513A (ja)
HK (1) HK1038434A1 (ja)
TW (1) TW477988B (ja)

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005277385A (ja) * 2004-02-27 2005-10-06 Tdk Corp 積層チップインダクタ形成用部材および積層チップインダクタ部品の製造方法
JP2007027354A (ja) * 2005-07-15 2007-02-01 Toko Inc 積層型電子部品及びその製造方法
JP2008226960A (ja) * 2007-03-09 2008-09-25 Toko Inc 電子部品の製造方法
WO2009034824A1 (ja) * 2007-09-14 2009-03-19 Murata Manufacturing Co., Ltd. 積層コイル部品およびその製造方法
WO2009057276A1 (ja) * 2007-10-31 2009-05-07 Panasonic Corporation インダクタンス部品およびその製造方法
WO2009133766A1 (ja) * 2008-04-28 2009-11-05 株式会社村田製作所 積層コイル部品およびその製造方法
JP2010040860A (ja) * 2008-08-06 2010-02-18 Murata Mfg Co Ltd 積層コイル部品およびその製造方法
WO2010035559A1 (ja) * 2008-09-24 2010-04-01 株式会社村田製作所 積層コイル部品
JP2011124542A (ja) * 2009-12-10 2011-06-23 Samsung Electro-Mechanics Co Ltd 積層セラミックキャパシタ
JP2012033622A (ja) * 2010-07-29 2012-02-16 Kyocera Corp コイル内蔵配線基板
JP2014150096A (ja) * 2013-01-31 2014-08-21 Toko Inc 積層型電子部品
KR20150073900A (ko) * 2013-10-22 2015-07-01 삼성전기주식회사 칩 전자부품 및 그 제조방법
JP2016072485A (ja) * 2014-09-30 2016-05-09 株式会社村田製作所 積層セラミックコンデンサ
CN105742035A (zh) * 2014-12-30 2016-07-06 三星电机株式会社 电子组件和制造电子组件的方法
KR101892849B1 (ko) * 2017-03-02 2018-08-28 삼성전기주식회사 전자 부품
JP2020194853A (ja) * 2019-05-27 2020-12-03 株式会社村田製作所 インダクタ部品

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3551876B2 (ja) * 2000-01-12 2004-08-11 株式会社村田製作所 積層セラミック電子部品の製造方法
JP4924163B2 (ja) * 2007-04-06 2012-04-25 パナソニック株式会社 電子部品とその製造方法
TWI355068B (en) * 2008-02-18 2011-12-21 Cyntec Co Ltd Electronic package structure
ES2408861T3 (es) 2010-07-07 2013-06-21 Technical University Of Denmark Método para sinterización
KR101771732B1 (ko) * 2012-08-29 2017-08-25 삼성전기주식회사 코일부품 및 이의 제조 방법
US9287049B2 (en) 2013-02-01 2016-03-15 Apple Inc. Low acoustic noise capacitors
JP2015026815A (ja) * 2013-06-19 2015-02-05 株式会社村田製作所 セラミック電子部品およびその製造方法
KR101462806B1 (ko) 2013-10-11 2014-11-20 삼성전기주식회사 인덕터 및 그 제조 방법
JP6000314B2 (ja) * 2013-10-22 2016-09-28 サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. チップ電子部品及びその製造方法
KR20150080797A (ko) * 2014-01-02 2015-07-10 삼성전기주식회사 세라믹 전자 부품
KR20140039016A (ko) * 2014-02-27 2014-03-31 삼성전기주식회사 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판
KR101616610B1 (ko) * 2014-03-12 2016-04-28 삼성전기주식회사 적층형 전자부품 및 그 제조방법
EP2966124A1 (en) * 2014-07-09 2016-01-13 Heraeus Deutschland GmbH & Co. KG Electro-conductive paste with characteristic weight loss for low temperature application
EP2966121A1 (en) * 2014-07-09 2016-01-13 Heraeus Deutschland GmbH & Co. KG Electro-conductive paste with characteristic weight loss for high temperature application
JP6216085B2 (ja) * 2015-01-29 2017-10-18 京セラ株式会社 コンデンサおよびモジュール
KR101652850B1 (ko) * 2015-01-30 2016-08-31 삼성전기주식회사 칩 전자부품, 그 제조방법 및 이를 구비한 기판
US10431508B2 (en) 2015-07-19 2019-10-01 Vq Research, Inc. Methods and systems to improve printed electrical components and for integration in circuits
US10332684B2 (en) * 2015-07-19 2019-06-25 Vq Research, Inc. Methods and systems for material cladding of multilayer ceramic capacitors
CN109313981B (zh) * 2016-06-16 2021-05-14 株式会社村田制作所 电子部件的制造方法
KR102463330B1 (ko) * 2017-10-17 2022-11-04 삼성전기주식회사 코일 전자 부품
US10937596B2 (en) * 2019-02-06 2021-03-02 Tdk Corporation Electronic component
JP7230682B2 (ja) * 2019-05-21 2023-03-01 株式会社村田製作所 インダクタ部品
JP7369546B2 (ja) * 2019-05-31 2023-10-26 太陽誘電株式会社 コイル部品
JP2020202220A (ja) * 2019-06-07 2020-12-17 株式会社村田製作所 積層セラミック電子部品
JP7081575B2 (ja) * 2019-09-30 2022-06-07 株式会社村田製作所 コイル部品
KR20210074610A (ko) * 2019-12-12 2021-06-22 삼성전기주식회사 적층 세라믹 전자부품 및 이의 제조 방법
JP7338588B2 (ja) * 2020-08-19 2023-09-05 株式会社村田製作所 インダクタ部品
JP2022114762A (ja) * 2021-01-27 2022-08-08 太陽誘電株式会社 セラミック電子部品、回路基板およびセラミック電子部品の製造方法
KR20230089157A (ko) * 2021-12-13 2023-06-20 삼성전기주식회사 적층형 커패시터

Cited By (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005277385A (ja) * 2004-02-27 2005-10-06 Tdk Corp 積層チップインダクタ形成用部材および積層チップインダクタ部品の製造方法
JP2007027354A (ja) * 2005-07-15 2007-02-01 Toko Inc 積層型電子部品及びその製造方法
JP2008226960A (ja) * 2007-03-09 2008-09-25 Toko Inc 電子部品の製造方法
JP2013118395A (ja) * 2007-09-14 2013-06-13 Murata Mfg Co Ltd 積層コイル部品
WO2009034824A1 (ja) * 2007-09-14 2009-03-19 Murata Manufacturing Co., Ltd. 積層コイル部品およびその製造方法
JP2013118394A (ja) * 2007-09-14 2013-06-13 Murata Mfg Co Ltd 積層コイル部品
JP5195758B2 (ja) * 2007-09-14 2013-05-15 株式会社村田製作所 積層コイル部品およびその製造方法
JP2013118396A (ja) * 2007-09-14 2013-06-13 Murata Mfg Co Ltd 積層コイル部品
USRE46353E1 (en) 2007-09-14 2017-03-28 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer coil component and method for manufacturing the same
JPWO2009034824A1 (ja) * 2007-09-14 2010-12-24 株式会社村田製作所 積層コイル部品およびその製造方法
USRE45645E1 (en) 2007-09-14 2015-08-04 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer coil component and method for manufacturing the same
US8004383B2 (en) 2007-09-14 2011-08-23 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer coil component and method for manufacturing the same
WO2009057276A1 (ja) * 2007-10-31 2009-05-07 Panasonic Corporation インダクタンス部品およびその製造方法
US8284005B2 (en) 2007-10-31 2012-10-09 Panasonic Corporation Inductive component and method for manufacturing the same
JP5229317B2 (ja) * 2008-04-28 2013-07-03 株式会社村田製作所 積層コイル部品およびその製造方法
JPWO2009133766A1 (ja) * 2008-04-28 2011-09-01 株式会社村田製作所 積層コイル部品およびその製造方法
US8330568B2 (en) 2008-04-28 2012-12-11 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer coil component and method for manufacturing the same
WO2009133766A1 (ja) * 2008-04-28 2009-11-05 株式会社村田製作所 積層コイル部品およびその製造方法
JP2010040860A (ja) * 2008-08-06 2010-02-18 Murata Mfg Co Ltd 積層コイル部品およびその製造方法
US7889044B2 (en) 2008-09-24 2011-02-15 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer coil component
WO2010035559A1 (ja) * 2008-09-24 2010-04-01 株式会社村田製作所 積層コイル部品
JPWO2010035559A1 (ja) * 2008-09-24 2012-02-23 株式会社村田製作所 積層コイル部品
JP5195904B2 (ja) * 2008-09-24 2013-05-15 株式会社村田製作所 積層コイル部品
JP2011124542A (ja) * 2009-12-10 2011-06-23 Samsung Electro-Mechanics Co Ltd 積層セラミックキャパシタ
JP2012033622A (ja) * 2010-07-29 2012-02-16 Kyocera Corp コイル内蔵配線基板
JP2014150096A (ja) * 2013-01-31 2014-08-21 Toko Inc 積層型電子部品
KR20150073900A (ko) * 2013-10-22 2015-07-01 삼성전기주식회사 칩 전자부품 및 그 제조방법
KR101952859B1 (ko) * 2013-10-22 2019-02-28 삼성전기주식회사 칩 전자부품 및 그 제조방법
JP2016072485A (ja) * 2014-09-30 2016-05-09 株式会社村田製作所 積層セラミックコンデンサ
CN105742035A (zh) * 2014-12-30 2016-07-06 三星电机株式会社 电子组件和制造电子组件的方法
CN105742035B (zh) * 2014-12-30 2020-01-21 三星电机株式会社 电子组件和制造电子组件的方法
KR101892849B1 (ko) * 2017-03-02 2018-08-28 삼성전기주식회사 전자 부품
JP2018148199A (ja) * 2017-03-02 2018-09-20 サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. 電子部品
JP2019091927A (ja) * 2017-03-02 2019-06-13 サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. 電子部品
US11183325B2 (en) 2017-03-02 2021-11-23 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Electronic component
US11817251B2 (en) 2017-03-02 2023-11-14 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Electronic component
JP2020194853A (ja) * 2019-05-27 2020-12-03 株式会社村田製作所 インダクタ部品

Also Published As

Publication number Publication date
TW477988B (en) 2002-03-01
US20010017420A1 (en) 2001-08-30
HK1038434A1 (zh) 2002-03-15
CN1311513A (zh) 2001-09-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2001244116A (ja) 電子部品及びその製造方法
KR100415800B1 (ko) 칩형 전자 부품과 그 제조 방법
KR100939987B1 (ko) 적층 전자 부품
CN108231415A (zh) 多层陶瓷电子组件、其制造方法和具有其的电路板
WO1999046784A1 (fr) Module et procede de fabrication correspondant
CN116884769A (zh) 电子部件以及电子部件的制造方法
JP3304798B2 (ja) 電子部品およびその製造方法
US11749448B2 (en) Laminated electronic component
JP2007234774A (ja) セラミック電子部品及びその製造方法
JP2005109195A (ja) 積層コイル部品
JPH07240334A (ja) 電子部品及びその製造方法
JPH053134A (ja) 積層セラミツクコンデンサの外部電極の製造方法
JPH06112085A (ja) 積層セラミックコンデンサ及びその製造方法
JP2000182883A (ja) 積層セラミック電子部品の製造方法
JP3444290B2 (ja) セラミック電子部品およびその製造方法
JPH0155566B2 (ja)
JPH11317311A (ja) 複合部品およびその製造方法
JPH03296205A (ja) セラミックコンデンサ
JPH1027712A (ja) 高電流型積層チップインダクタ
JP2003109820A (ja) 積層型インダクタ及びその製造方法
JP2641010B2 (ja) チップ状電子部品
JP2001060518A (ja) 積層電子部品
JP2002299154A (ja) 電子部品の製造方法
CN112908697B (zh) 积层陶瓷电容器及其制造方法
JPH0656824B2 (ja) チップ状電子部品とその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20051024

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20051122

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20060530