JP2000133845A - 半導体発光素子 - Google Patents
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Abstract
いる電極に半田が侵入した場合にも、半田による部品の
破損を防止する半導体発光素子を提供すること。 【解決手段】 基板2の表面に形成される電極3、4と
その端子部3a、4aの表面には金メッキ層が形成され
ている。半導体発光(LED)チップ5をパッド部4b
に搭載し、表面側の電極5bは、電極3と金線6でワイ
ヤボンデングされて端子部3aと電気的に接続される。
半導体発光チップ5と金線6は透光性の合成樹脂を用い
たモ−ルド部7で封止する。モ−ルド部7内の電極3、
4には、半透明のエポキシ樹脂等を用いたレジストによ
り部分的に金層の断線部9、10を形成し、リフロ−処
理時にモ−ルド部7内に侵入する半田の流れを遮断し
て、金線やLEDチップ等の部品の破損を防止する。
Description
モ−ルド部内の電極に半田が侵入した場合にも、半田に
より部品が破損することを防止した半導体発光素子に関
する。
に示すような構成のものが知られている。図7は、チッ
プ型の半導体発光素子1を一部透視して示す斜視図であ
る。図7において、基板2に一対の電極3、4が形成さ
れており、電極4にはパッド部4bを設けている。3
a、4aは、一対の電極3、4の端子部である。
称する)5の表面側の電極5aは、電極3と金属線6で
ワイヤボンデングされて電気的に接続される。また、L
EDチップ5は電極4のパッド部4bに導電性ペ−スト
により接着されており、LEDチップ5の裏面側の電極
は電極4と電気的に接続される。LEDチップ5と金属
線6は透光性の合成樹脂を用いたモ−ルド部7で封止さ
れる。また、各電極3、4は、端子部3a、4aの部分
がモ−ルド部7の外部の基板上に延在し、基板2の側面
を通り裏面に至る経路に形成されている。
端子部3a、4aの位置にモ−ルド部7の端面の一部が
密着した状態で、LEDチップ5と金属線6が封止され
ている。チップ型の半導体発光素子1は、基板2の裏面
を回路基板の表面に重ねた状態で実装され、リフロ−処
理がなされて半田により電極3、4の端子部3a、4a
と回路基板の配線パタ−ンとが電気的に接続される。
極と端子部の構成を部分的に拡大して示す断面図であ
る。基板2上に最初に銅(Cu)層を形成し、次に銅層
の上にニッケル(Ni)層および金(Au)層を電解メ
ッキにより形成して、基板2上にCu層、Ni層および
Au層の三層の導電層を被着している。
Au層を形成することにより、端子部に半田が被着しや
すく、また、前記ワイヤボンデングされる金属線として
金線を用いる場合に、金線と電極との電気的接続が良好
に行なえ、半導体発光素子1の品質が向上する。
路基板に実装し、リフロ−処理を繰り返して実施する
と、溶融する半田の量が多い場合には、半田が端子部3
a、4aの表面に形成されているAu層を伝わり、モ−
ルド部7の外部から端面を通過してモ−ルド部7の内部
に形成されている一対の電極3、4に侵入してしまう場
合がある。図9は、一方の端子部3aから半田8が矢視
Xで示すようにモ−ルド部7の端面を通り、電極3に侵
入した状態を示す斜視図である。
4aの表面に形成されているAu層を伝わりモ−ルド部
7の端面を通過して各電極3、4に侵入すると、この際
の半田8の衝撃力により電極3にワイヤボンデングされ
ている金属線6が断線したり、LEDチップ5が電極4
のパッド部4bから剥離してしまうことがある。このよ
うに、金属線6や半導体発光チップ5等の部品が半田8
の侵入により破損すると、半導体発光素子1が正常に動
作しないという問題があった。
ものであり、リフロ−処理時にモ−ルド部内に形成され
ている電極に半田が侵入した場合に、半田により部品が
破損することを防止した半導体発光素子の提供を目的と
する。
導体発光素子を、基板と、基板に形成される一対の電極
と、前記一対の電極に電気的に接続される半導体発光チ
ップと、透光性の合成樹脂で半導体発光チップを封止す
るモ−ルド部とを有し、前記一対の電極はモ−ルド部内
からモ−ルド部外の基板に延在して設けられ、その表面
が金層で形成される半導体発光素子において、前記モ−
ルド部内の電極に部分的な金層の断線部を設けることに
より達成される。
部分的に金層の断線部を設けているので、リフロ−処理
時に端子部の表面に形成されている金層を伝わり半田が
モ−ルド部内の電極に侵入しても、金層の断線部で半田
の流れが遮断されることになる。このため、半田による
半導体発光素子の部品の破損を防止し、半導体発光素子
を正常に動作させることができる。
て図を参照して説明する。図1は本発明の実施の形態の
一例を一部透視して示す半導体発光素子の斜視図、図2
は図1の平面図である。図7で説明した従来の半導体発
光素子と同じ部分、または対応するところには同一の符
号を付している。なお、本発明の半導体発光素子は、基
板2の縦横の長さが、例えば2.0mm×1.25m
m、または1.6mm×0.8mm程度の小型のものに
特に有効に適用される。
中央部において対向する一対の電極3、4が設けられ、
これら電極3、4はそれぞれ基板2の端部から下面へと
延在している。一方の電極4には、基板2の中央部より
端部側にLEDチップ5がダイボンデングされており、
他方の電極3には、LEDチップ5と接続される金属線
6がワイヤボンデングされる。金属線6としては金(A
u)線を使用する。一対の電極3、4は、下からCu層
−Ni層−Au層の三層からなり、表面に被着されてい
るAu層の一部に断線部9、10を形成する。
EDチップ5とAu線6を封止している透光性の合成樹
脂を用いたモ−ルド部7内で、モ−ルド部7の端面に近
接した位置、すなわち、基板2の上面におけるモ−ルド
部7の境界面と、Au線6またはLEDチップ5の電極
3、4との接続個所との間に形成される。
るAu層に断線部を設ける具体例を示す断面図である。
図3〜図5においては、一対の電極の一方の電極3に形
成されるAu層の断線部9を示しているが、他方の電極
4にも同様構成のAu層の断線部が形成される。
エポキシ樹脂等を用いたレジストを形成する例である。
基板2に電極3を形成する際に、前記のようにCu層の
上にNiメッキを施した後に、Auメッキの処理に先立
ってNi層の上にレジストを形成する半透明のエポキシ
樹脂等を塗着する。
シ樹脂等を用いており、Ni層の上にAuメッキの処理
を施してもレジスト上にはAuメッキ層は形成されな
い。このため、レジストの部分はAu層の断線部が形成
されることになる。また、基板2にCu層を形成した後
にCu層上にレジストを塗着し、その後にNi層とAu
層を電解メッキにより形成しても良い。この場合にも同
様にレジスト上にはNiメッキ層及びAuメッキ層は形
成されず、レジストの部分にAu層の断線部が得られ
る。
のエポキシ樹脂等の絶縁材を用いたレジストによりAu
層の断線部9、10が設けられているので、リフロ−処
理時に端子部3a、4aの表面に形成されているAu層
を伝わり半田がモ−ルド部7内の電極3、4に侵入して
も、Au層の断線部9、10で半田の流れが遮断される
ことになる。このため、電極3にワイヤボンデングされ
ている金属線6や、電極4のパッド部4bにダイボンデ
ングされている半導体発光チップ5等の半導体発光素子
1の部品は、モ−ルド部7内に侵入する半田で破損する
ことはない。
導体発光素子の極性を判別するために色分けして極性の
記号を表示するペイント(以下、シルクという)を、前
記レジストに代えてAu層の断線部として一対の電極
3、4に塗着してもよい。このようなシルクも絶縁物を
用いているので、前記レジストと同様にCu層またはN
i層の上にシルクを塗着し、その後にAu層を電解メッ
キで形成しても、シルクの上にはAuメッキ層は形成さ
れず、Au層の断線部が得られる。
部9を形成する例を示すものである。図4の例では、N
i層の一部である図示Xの部分を部分的に酸化させて、
その表面に酸化ニッケル(NiO)層を形成してAu層
の断線部9としている。
記X部分のみを空中に露出し、他の部分はマスキングす
る処理を行なうことにより形成することができる。Ni
層の一部に部分的にNiO層を形成することにより、N
i層の上にAuメッキ処理を施しても、NiO層の部分
にはAuメッキ層は形成されず、Au層の断線部が得ら
れる。
断線部9を形成する例を示すものである。図5の例で
は、図8の例で説明したように、基板2上にCu層を形
成し、Cu層の上にNi層およびAu層を電解メッキに
より形成する。次に、Au層の一部である図示Yの部分
を切削加工により機械的に削り取り、Au層の断線部9
としている。
表面に形成されたAu層を伝わってモ−ルド内に侵入し
た半田の流れは、Au層の断線部9で遮断される。ま
た、図4、図5に示した構成のAu層の断線部は電極4
にも形成されているので、リフロ−処理時に、金属線6
やLEDチップ5等の半導体発光素子の部品が半田の侵
入で破損することを防止できる。
の電極を導電性ペ−ストによりパッド部4bに接着する
構成のチップ型の半導体発光素子の例であるが、本発明
は他の形式の半導体発光チップを用いたチップ型の半導
体発光素子にも適用される。図6は、本発明の更に別の
実施の形態の半導体発光素子1aを一部透視して示す斜
視図である。
発光するチッ化ガリウム系化合物半導体からなる半導体
発光チップ(LEDチップ)で、サファイア基板上にn
形層(クラッド層)、活性層(発光層)、p形層(クラ
ッド層)を積層している。これらの積層したn形層、活
性層、p形層の一部をエッチングして露出させたn形層
の上に一方の電極(n側電極)5yを設ける。また、p
形層の上には他方の電極(p側電極)5zを設ける。
り基板2上に実装し、n側電極5yは金属線6aでワイ
ヤボンデングされて電極3に接続される。また、p側電
極5zは金属線6bでワイヤボンデングされて電極4に
接続される。金属線6a、6bも金(Au)線を使用す
る。このように、図3の例ではLEDチップ5xのn側
電極5yとp側電極5zは表面側の同一の面に形成され
ており、n側電極5yおよびp側電極5zと一対の電極
3、4とは金属線6a、6bにより電気的に接続する構
成としている。
Au層の断線部9、10をモ−ルド部7内の一対の電極
3、4の一部に形成することにより、リフロ−処理時に
モ−ルド部7内に半田が侵入しても、半田の流れは断線
部9、10で遮断される。このため、金属線6a、6b
やLEDチップ5x等の部品の半田による破損を防止で
きる。
たと同様にしてレジストやシルクを形成することや、N
i層を部分的に酸化することにより、または、一旦Ni
層上に形成したAu層の一部を機械的に切削することに
より、断線部9、10を形成する。
モ−ルド部内の電極に部分的に金層の断線部を設けてい
るので、リフロ−処理時に端子部の表面に形成されてい
る金層を伝わり半田がモ−ルド部内の電極に侵入して
も、金層の断線部で半田の流れが遮断されることにな
る。このため、半田による半導体発光素子の部品の破損
を防止して、半導体発光素子を正常に動作させることが
できる。
部透視して示す斜視図である。
す電極の断面図である。
例を示す電極の断面図である。
例を示す電極の断面図である。
部透視して示す斜視図である。
視図である。
である。
例の半導体発光素子の斜視図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 基板と、基板に形成される一対の電極
と、前記一対の電極に電気的に接続される半導体発光チ
ップと、透光性の合成樹脂で半導体発光チップを封止す
るモ−ルド部とを有し、前記一対の電極はモ−ルド部内
からモ−ルド部外の基板に延在して設けられ、その表面
が金層で形成される半導体発光素子において、前記モ−
ルド部内の電極に部分的な金層の断線部を設けたことを
特徴とする半導体発光素子。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP30178098A JP3871820B2 (ja) | 1998-10-23 | 1998-10-23 | 半導体発光素子 |
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