CN106873066A - 偏振器、偏振片和制造偏振器的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了具有优异耐热性的偏振器。根据本发明的实施方案的偏振器包括含有碘的树脂膜，其中所述树脂膜的端部中形成有高浓度部分，所述高浓度部分的形成碘的抗衡离子的物质的浓度高于其他部分。

Description

偏振器、偏振片和制造偏振器的方法
发明背景
根据35U.S.C.第119条，本申请要求2015年11月4日递交的日本专利申请号2015-216472的优先权，其在此以引用方式并入本文。
1.技术领域
本发明涉及偏振器、偏振片和制造偏振器的方法。
2.背景技术
偏振片已被用于手机、笔记本个人电脑等的图像显示设备(如液晶显示设备)中。近年来，一直希望在例如汽车或智能手表的仪表显示部分中使用偏振片，因此需要将偏振片制成非矩形的形状并在偏振片中形成通孔。
当采用上述模式时，往往会出现耐久性差(如裂纹)的问题。为了改善耐久性，例如，已经提出了如下所述而形成的偏振片(参见日本专利申请公开No.2009-37228)。将一对偏振器保护膜粘合到偏振器的两个主表面上，将外部外围端表面的表面熔融并随后固化。同时，还需要改善偏振片的耐热性(例如抑制其着色)。
发明内容
本发明旨在解决所述问题，本发明的主要目的在于提供具有优异耐热性的偏振器。
根据本发明的实施方案的偏振器包括含有碘的树脂膜，其中所述树脂膜的端部中形成有高浓度部分，所述高浓度部分的形成碘的抗衡离子的物质的浓度高于其他部分。
在本发明的一个实施方案中，所述高浓度部分具有浓度梯度，使得所述形成碘的抗衡离子的物质的浓度在平面方向上向外增大。
在本发明的一个实施方案中，从所述树脂膜的端部表面至在平面方向上向内相距100μm或更多的位置处形成所述高浓度部分。
在本发明的一个实施方案中，所述形成碘的抗衡离子的物质含有钾或钠中的至少一种。
在本发明的一个实施方案中，所述树脂膜含有硼酸，并在所述树脂膜的端部中形成有低浓度部分，所述低浓度部分的硼酸浓度低于其他部分的硼酸浓度。
在本发明的一个实施方案中，所述高浓度部分的区域包括硼酸的低浓度部分的区域。
在本发明的一个实施方案中，在包括整个硼酸的低浓度部分的区域的区域中形成所述高浓度部分。
在本发明的一个实施方案中，所述低浓度部分具有浓度梯度，使得硼酸浓度在平面方向上向外减小。
在本发明的一个实施方案中，从所述树脂膜的端部表面至在平面方向上向内相距50μm或更多的位置处形成所述低浓度部分。
在本发明的一个实施方案中，在吸收轴方向的端部中形成所述低浓度部分。
在本发明的一个实施方案中，在所述偏振器中形成有通孔，并且在所述通孔的外围边缘部分中形成所述低浓度部分。
在本发明的一个实施方案中，在外边缘部分中形成所述低浓度部分。
在本发明的一个实施方案中，所述外缘部分包括在平面方向上形成向内凸起的大致V形的部位。
根据本发明的另一方面，提供了偏振片。所述偏振片包括：如上所述的偏振器；和设置在所述偏振器的至少一个表面上的保护膜。
根据本发明的另一方面，提供了制造偏振器的方法。所述方法包括使含有形成碘的抗衡离子的物质的处理液与含有碘的树脂膜接触，以在所述树脂膜的端部中形成高浓度部分，所述高浓度部分的形成碘的抗衡离子的物质的浓度高于其他部分。
在本发明的一个实施方案中，所述处理液包含通过将含有形成碘的抗衡离子的物质的化合物溶解在溶剂中而获得的溶液。
在本发明的一个实施方案中，所述化合物含有碘化钾或氯化钠中的至少一种。
在本发明的一个实施方案中，所述处理液的液温为50℃或更高。
在本发明的一个实施方案中，所述方法还包括通过切割或冲压加工中的至少一种将所述树脂膜形成为所需形状。
在本发明的一个实施方案中，通过用激光照射所述树脂膜来进行所述切割或冲压加工中的至少一种。
在本发明的一个实施方案中，所述激光包括CO2激光。
根据本发明，可提供具有优异耐热性的偏振器。
附图说明
图1是根据本发明的一个实施方案的偏振片的平面视图。
图2是图1中所示偏振片的局部放大截面图。
图3是根据本发明的一个实施方案的偏振片的端部的放大截面图。
图4A是耐热性测试后用光学显微镜观察比较实施例2的偏振片的端部所得到的照片，图4B是显示其显微拉曼光谱的分析结果的图。
图5A的图显示在其平面方向上实施例1的偏振器的端部的钾的浓度分布，图5B的图显示在其平面方向上比较实施例1的偏振器的端部的钾的浓度分布，图5C的图显示在其平面方向上比较实施例2的偏振器的端部的钾的浓度分布。
图6的图显示在平面方向上比较实施例2的偏振器的端部的浓度分布。
图7A是用光学显微镜观察实施例1的偏振片的端部所得的照片，图7B是用光学显微镜观察比较实施例1的偏振片的端部所得的照片。
具体实施方式
下面对本发明的实施方案进行说明。然而，本发明不限于这些实施方案。
A.偏振器(偏振片)
图1是根据本发明一个实施方案的偏振片的平面视图，图2是图1所示偏振片的局部放大截面图。偏振片100被适当地用于汽车的仪表盘中。偏振片100包括连续设置的第一显示部分50和第二显示部分60，并在各显示部分的中心附近形成了用于固定各种仪表指针的通孔51和61。各通孔的直径是例如0.5-100mm。各显示部分50和60的外边缘沿着仪表指针的旋转方向形成弧形。
偏振器通常以在其上层合保护膜的状态(即，以偏振片的状态)使用。示例中的偏振片100包括偏振器10，和一对设置在偏振器10的两个主表面上的保护膜21和22。尽管在示例中的偏振器的两个主表面上都设置了保护膜，但也可以只在其一个表面上设置保护膜。
偏振器包括树脂膜。任何适当的树脂都可以被用作形成树脂膜的树脂。优选使用基于聚乙烯醇的树脂(下文中称为“基于PVA的树脂”)。基于PVA的树脂的实例包括聚乙烯醇和乙烯-乙烯醇共聚物。聚乙烯醇通过皂化聚醋酸乙烯酯而获得。乙烯-乙烯醇共聚物通过皂化乙烯-醋酸乙烯酯共聚物而获得。基于PVA的树脂的皂化度通常为85-100mol％，优选95.0mol％或更高，更优选99.0mol％或更高，特别优选99.93mol％或更高。皂化度可根据JIS K6726-1994测定。使用具有这种皂化度的基于PVA的树脂可提供具有优异耐久性的偏振器。
所述基于PVA的树脂的平均聚合度可根据目的适当选择。所述平均聚合度通常为1,000-10,000，优选1,200-6,000，更优选2,000-5,000。平均聚合度可根据JIS K6726-1994测定。
偏振器(树脂膜)通常含有二色性物质。所述二色性物质的实例包括碘和有机染料。所述物质可单独或组合使用。其中，优选使用碘。
偏振器(树脂膜)10含有形成碘的抗衡离子的物质，且在其端部(具体而言，每个外边缘部分101，和通孔51和61的外围边缘部分51a和61a)中形成有高浓度部分，所述高浓度部分的所述物质的浓度高于任何其他部分。所述形成碘的抗衡离子的物质的实例包括形成卤化物的金属，如钾、钠、锂、锌、铝、铅、铜、钡、钙、锡和钛。其中，优选使用钾或钠。在所述树脂膜中，所述形成碘的抗衡离子的物质可采取任何适当的状态。具体而言，所述物质可以处于离子状态或者可以是键接到任何其他物质上的物质，或者这些状态的混合。所述其他物质的实例包括碘离子(I-)和碘络合物(I3 -)。
所述高浓度部分具有浓度梯度，例如使得形成碘的抗衡离子的物质的浓度在平面方向上向外增加。所述形成碘的抗衡离子的物质在其他部分的含量为例如0.3-5重量％。在一个实施方案中，存在于所述其他部分内的形成碘的抗衡离子的物质主要是在各种处理中被引入到树脂膜中的物质，所述处理例如后面将描述的染色处理、交联处理和洗涤处理。
优选在从所述偏振器(树脂膜)的端部表面至在平面方向上向内相距100μm或更多的位置处形成所述高浓度部分，更优选在从所述偏振器的端部表面至相距500μm或更多的位置处形成所述高浓度部分。同时，优选在从所述偏振器的端部表面至在平面方向上向内相距2,000μm或更少的位置处形成所述高浓度部分，并更优选在从所述偏振器的端部表面至相距1,000μm或更少的位置处形成所述高浓度部分。
偏振器(树脂膜)10通常含有硼酸。在一个实施方案中，在偏振器(树脂膜)10的端部(具体而言，各外边缘部分101，和所述通孔51和61的外围边缘部分51a和61a)中形成有低浓度部分，所述低浓度部分的硼酸浓度低于任何其他部分。所述低浓度部分的形成可改善所述偏振器的耐久性。特别是，所述形成可抑制出现裂纹。所述偏振器通常具有比保护膜更大的收缩力，因此因温度或湿度的变化而可能在所述偏振器和保护膜之间的界面产生应力并导致裂纹。可以通过例如去除基于硼酸的交联结构而使所述低浓度部分的刚性低于其他部分。结果，在所述低浓度部分，因所述偏振器的收缩而产生的应力得到缓和，因此可以抑制出现裂纹。因此，可以通过在易于集中应力的部位，如后面将描述的通孔的外围边缘或形成V-形的部位，形成所述低浓度部分，可以有效地抑制裂纹的出现。此外，根据该模式，对所述偏振器的外观及其与任何其他元件的粘合的影响都是极小的。
在实施方案中，所述低浓度部分具有浓度梯度，例如使得硼酸的浓度在平面方向上向外减小。浓度梯度的存在可抑制所述端部中偏振性能的突然降低，同时抑制裂纹的出现。其他部分中的硼酸含量为例如20-30重量％。
优选从所述偏振器(树脂膜)的端部表面至平面方向上向内相距50μm或更多的位置处形成所述硼酸的低浓度部分，更优选从所述偏振器的端部表面至相距80μm或更多的位置处形成所述硼酸的低浓度部分。当所述部分形成于该范围内时，可以充分获得耐久性的改善效果。同时，优选从所述偏振器的端部表面至平面方向上向内相距1,000μm或更少的位置处形成所述硼酸的低浓度部分，更优选从所述偏振器的端部表面至相距500μm或更少的位置处形成所述硼酸的低浓度部分。
当如示例一样形成通孔时，可以根据例如所述偏振器的应用而适当地设定所述通孔的位置。所述裂纹容易出现在作为起始点的通孔的外围边缘，所述通孔离所述偏振器的外边缘越远，该趋势就有可能越显著。因此，所述通孔离所述偏振器的外边缘更远(即，其距离所述偏振器的外边缘15mm或更多)时，可以获得通过形成所述硼酸的低浓度部分而更加显著地表现出耐久性改善效果。
在所述外边缘部分101中，优选至少在相应显示部分之间的边界部分41或42中形成所述硼酸的低浓度部分。特别是，优选在其外边缘在平面方向上形成向内凸起的V-形(包括R-形)的部位形成所述硼酸的低浓度部分。这是因为其外边缘在平面方向上形成向内凸起的V-形的部位如所述通孔的外围边缘一样容易作为裂纹的起始点。
优选在所述偏振器的吸收轴方向上的端部中形成所述硼酸的低浓度部分。裂纹往往沿着偏振器的吸收轴方向产生，因此在吸收轴方向上的端部中形成所述低浓度部分可有效地抑制裂纹的产生。
所述高浓度部分的形成可以改善所述树脂膜的耐热性。所述高浓度部分的区域优选包括所述硼酸的低浓度区域。特别是，对应于硼酸的低浓度部分的区域而形成所述高浓度部分的区域。更优选在包括整个硼酸的低浓度部分的区域的区域内形成所述高浓度部分。在一个实施方案中，当从所述树脂膜的端部表面至平面方向上向内的预定位置处形成所述硼酸的低浓度部分时，优选形成所述高浓度部分以使得其从所述硼酸的低浓度部分在平面方向上向内延伸100μm或更多。根据该模式，可以可靠地改善耐热性。如上所述，可以通过去除基于硼酸的交联结构而使所述硼酸的低浓度部分的刚性相对于其他部分降低。相应地，在裂纹的产生受到抑制的同时，耐热性可能降低。前述问题的一个可能的原因是在所述硼酸的低浓度部分内，碘络合物(即I3 -或I5 -)的含量低且碘离子(即I-或I3 -)的含量高。虽然碘络合物可在所述树脂膜中取向，但碘离子在树脂膜中可能以不稳定状态存在。相应地，当形成所述高浓度部分以引入抗衡离子时，所述碘离子可以被稳定化，从而导致树脂膜耐热性的改善(即，通过抑制多烯的形成而抑制树脂膜的着色)。在所述硼酸的低浓度部分，碘(I2)的含量被认为是高的，因此在所述树脂膜中碘也可能以不稳定状态存在。
所述偏振器优选在380–780nm的波长范围内显示吸收二色性。所述偏振器的单轴透过率(Ts)优选为40％或更大，更优选41％或更大，仍然更优选42％或更大，特别优选43％或更大。单轴透过率的理论上限为50％，其实际的上限是46％。此外，所述单轴透过率(Ts)是用JIS Z 8701的2度视场(C光源)测量的Y值，并经可视性校正，可以使用例如光谱仪(JASCO Corporation生产，V7100)测量。偏振器的偏振度优选为99.8％或更大，更优选99.9％或更大，仍然更优选99.95％或更大。
所述偏振器的厚度可被设定为任何适当的值。该厚度通常为1-80μm，优选3-40μm。
作为所述保护膜的形成材料，例如有基于纤维素的树脂如二乙酰基纤维素或三乙酰基纤维素(TAC)，(甲基)丙烯酸树脂，基于环烯烃的树脂，基于烯烃的树脂如聚丙烯，基于酯的树脂如基于聚对苯二甲酸乙二醇酯的树脂，基于聚酰胺的树脂，基于聚碳酸酯的树脂，及其共聚物树脂。术语“(甲基)丙烯酸树脂”是指丙烯酸树脂和/或甲基丙烯酸树脂。
所述保护膜的厚度优选为10-200μm。可在保护膜的一侧(在其上没有设置偏振器的一侧)上形成表面处理层。具体而言，可对该侧进行硬涂层处理、抗反射处理、或旨在漫射(diffusion)或抗眩光的处理。保护膜对的构造(包括形成材料和厚度)可以彼此相同或者也可以彼此不同。
通常通过粘合剂层中介将所述保护膜层合到所述偏振器的表面上。任何适当的粘合剂都可以作为粘合剂使用。例如，使用水性粘合剂、基于溶剂的粘合剂、或活性能量射线可固化的粘合剂。优选使用含有基于PVA的树脂的粘合剂作为水性粘合剂。
本发明的偏振器(偏振片)不限于示例中的构造，并可适当地改变。例如，可适当改变偏振器(偏振片)的形状、有或没有通孔、通孔的形状和尺寸、以及通孔的个数及形成位置。
B.制造偏振器(偏振片)的方法
优选通过将含有形成碘的抗衡离子的物质的处理液与所述含有碘的树脂膜接触而制造偏振器。根据该模式，可以将形成碘的抗衡离子的物质引入到树脂膜的所需位置内而简单地形成所述高浓度部分。此外，在该模式中，树脂膜中的硼酸可被洗脱到所述处理液中以同时形成所述硼酸的低浓度部分。
可以采用任何适当的方法以使所述处理液与所述树脂膜相接触。其具体实例包括：将所述树脂膜浸入到所述处理液中的方法；将所述处理液施加到所述树脂膜上的方法；和用所述处理液喷涂所述树脂膜的方法。其中，优选采用将树脂膜浸入到处理液中的方法。
通常通过将含有形成碘的抗衡离子的物质的化合物溶解在溶剂中而获得含有形成碘的抗衡离子的物质的处理液。含有形成碘的抗衡离子的物质的化合物的实例包括钾、钠、锂、锌、铝、铅、铜、钡、钙、锡、和钛的卤化物(优选碘化物和氯化物)。其中，优选使用碘化钾或氯化钠。
所述溶剂的实例包括水、醇如甲醇和乙醇；二甲亚砜，二甲基甲酰胺，二甲基乙酰胺，N-甲基吡咯烷酮，各种二醇，多元醇如三羟甲基丙烷，和胺如乙二胺和二亚乙基三胺。它们可单独或组合使用。其中，优选使用水。
相对于100重量份的溶剂，所述化合物的配合量优选为0.1-10重量份，更优选为1-5重量份。
所述处理液可以含有添加剂。
所述处理液的液温(接触时)优选为50℃或更高，更优选60℃或更高。同时，所述处理液的液温(接触时)优选为90℃或更低。在优选的实施方案中，在所述处理液与所述树脂膜相接触的状态下，温热所述处理液使得该处理液具有预定的温度(处理液的温度可以维持在所述预定温度下)。当将所述树脂膜浸入到处理液中时，浸入时间为例如3-20分钟。
当使所述处理液与所述树脂膜相接触时，可对所述处理液进行超声处理。具体而言，将所述树脂膜浸入到超声浴中。根据这种模式，可以高效地形成所述低浓度部分。可在任何适当的条件下进行所述超声处理。输出为例如40-1,000W。频率为例如15-100kHz。
当使所述处理液与所述树脂膜相接触时，优选对所述树脂膜进行各种处理，如溶胀处理、拉伸处理、用二色性物质的染色处理、交联处理、洗涤处理和干燥处理，以使所述膜达到可以作为偏振器使用的状态。在拉伸处理或交联处理时，通过例如使硼酸溶液(例如硼酸水溶液)与所述树脂膜相接触而获得含有硼酸的树脂膜。当实施各种处理时，所述树脂膜可以是形成在基材上的树脂层。拉伸处理中的拉伸方向可对应于将要获得的偏振器的吸收轴方向。通常情况下，为了获得优异的偏振特性，将所述树脂膜单轴拉伸3-7倍。
优选用覆盖膜覆盖所述树脂膜，并使所述处理液选择性地与所需位置相接触。优选将在与所述处理液接触后作为保护膜的膜原样用作所述覆盖膜。在一个实施方案中，将通过在所述树脂膜(偏振器)的两个主表面的每一个表面上都层合保护膜而得到的层合体浸入到所述处理液中。根据该模式，可以形成具有浓度梯度的高浓度部分和/或具有浓度梯度的低浓度部分。此外，根据该模式，如图3所示，偏振器10的端部表面10a的位置可以比保护膜21和22的端部表面21a和22a在平面方向上更加向内，因此可以形成偏振器空隙部分(polarizer void portion)30。所述偏振器空隙部分的形成可进一步改善耐久性。
如图中所示，通常通过切割和/或冲压加工以形成所需的形状。优选在形成所述高浓度部分之前实施所述切割和/或冲压加工。此外，优选对偏振器和保护膜的层合体进行所述切割和/或冲压加工，所述切割和/或冲压加工也可以仅在所述偏振器(树脂膜)上进行。在优选实施方案中，在通过切割和/或冲压加工将所述偏振器和保护膜的层合体形成所需形状后再形成所述高浓度部分。
可采用任何适当的方法作为切割(冲压)方法。例如，给出了使用刀片(冲模)的方法，如Thomson刀片或pinnacle刀片，或用激光照射所述层合体的方法。其中，优选采用激光照射切割。所述激光照射提供光滑的切割表面并可以抑制裂纹初始点(初始裂纹)的出现。
任何适当的激光都可以被用作所述激光。优选使用发射的光的波长范围为150nm-11μm的激光。其具体实例包括气体激光如CO2激光、固体激光如YAG激光、和半导体激光。其中，优选使用CO2激光。
激光照射的条件可根据例如所用的激光而设定为任何适当的条件。当使用CO2激光时，输出条件优选为10-1,000W，更优选为100-400W。
在与所述处理液接触后，可对所述树脂膜(层合体)进行干燥处理。干燥温度为例如50-120℃。
现在，通过实施例对本发明进行具体说明。然而，本发明不限于这些实施例。
[实施例1]
(偏振器的制造)
将含有基于PVA的树脂作为主要组分的聚合物膜依次浸入到下述[1]至[5]的五个浴中，同时在膜的长度方向上施加张力，随后进行拉伸。将拉伸的膜干燥以得到厚度为28μm的偏振器。
<条件>
[1]溶胀浴：纯水，30℃
[2]染色浴：含有碘和碘化钾的水溶液，30℃
[3]第一交联浴： 含有碘化钾和硼酸的水溶液，40℃
[4]第二交联浴： 含有碘化钾和硼酸的水溶液，60℃
[5]洗涤浴：含有碘化钾的水溶液，25℃
(偏振片片材的制造)
将基于PVA的粘合剂施加到偏振器的一侧，使得其干燥后的厚度为100nm，并将厚度为40μm的细长的TAC膜粘合到所述偏振器上，使得它们的长度方向彼此对齐。
随后，将基于PVA的粘合剂施加到所述偏振器的另一侧，使得其干燥后的厚度为100nm，并将厚度为30μm的细长的丙烯酸膜粘合到所述偏振器上，使得它们的长度方向彼此对齐。
这样，得到了构造为“TAC膜/偏振器/丙烯酸膜”的偏振片片材。
用CO2激光(波长：9.35μm，输出：150W)切割所得偏振片片材以提供尺寸为54mm×54mm的切片，所述切片在距离其外边缘25mm的位置处形成直径4mm的通孔。
将所得切片浸入到保持在74℃的3重量％碘化钾水溶液中16分钟以得到偏振片。
[比较实施例1]
以与实施例1相同的方式得到偏振片，区别在于所述切片没有被浸入到碘化钾的水溶液中。
[比较实施例2]
以与实施例1相同的方式得到偏振片，区别在于所述切片被浸入到74℃的温水中而不是碘化钾的水溶液中。
对每个所得偏振片都进行了下述测试。
1.热循环测试
通过用丙烯酸压敏粘合剂(厚度：20μm)将每一个所得偏振片粘合到玻璃片上而获得测试样品。将样品置于-40℃的环境中30分钟，然后再将其置于85℃的环境中30分钟。前述操作被定义为一个循环，重复该循环100次。之后，观察在偏振片内是否出现裂纹。
2.耐热性测试
通过用丙烯酸压敏粘合剂(厚度：20μm)将每一个所得偏振片粘合到玻璃片上而获得测试样品。将样品置于105℃的环境中140小时，观察耐热性测试后偏振片是否着色。
在实施例1和比较实施例2的每个偏振片中，都没有在所述热循环测试(也称为热冲击(HS)测试)后观察到裂纹(包括小裂纹)的出现。同时，在比较实施例1的偏振片中，在HS测试后，以通孔作为起点沿着拉伸方向出现了裂纹。
在实施例1和比较实施例1的每个中，都没有在所述耐热性测试后观察到着色。相反，在比较实施例2中，如用光学显微镜(Olympus Corporation生产，MX61，放大倍数：5)观察得到的图4A的照片所示，观察到沿着所述偏振片的端侧的宽度为约300μm的着色部分。图4B通过显微拉曼光谱给出了耐热性测试后比较实施例2的偏振片的端部的分析结果。所述着色被认为是由于多烯的形成。在着色部分中碘络合物(I3 -)的含量远低于非着色部分。显微拉曼光谱的测量条件如下所述。
·设备：激光拉曼显微镜(Jobin Yvon S.A.S.，LabRAM HR800)
·激发波长：514nm
·波长的测量范围：接近80cm-1至1,800cm-1
·光栅(grating)：600gr/mm
·物镜：×100
·累积时间：2秒
·累积次数：2
·滤光器：D3
·孔：300
·探测器：CCD
对每个所得偏振片都进行下述评价。
1.浓度分布的测量
测量了在平面方向上偏振器的端部的碘、钾和硼酸的浓度分布。飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)(ION-TOF生产，产品名：TOF-SIMS 5)用于所述测量。通过将每个所得偏振片都嵌入到树脂中并用显微镜用薄片切片机(microtome)制备切片得到样品，用作测量样品。测量条件如下所述。
·用于照射的初级离子：Bi3 2+
·初级离子加速电压：25kV
·测量面积：300-平方微米×两个视场
*在测量中使用电子枪用于电荷校正。
2.用光学显微镜观察
在厚度方向上切割每个端部都被嵌入到树脂中的各偏振片，并用光学显微镜(Nikon Corporation生产，ECLIPSE LV100，放大倍数：50)观察切割表面。
图5A的图表显示了在平面方向上实施例1的偏振器的端部的钾浓度分布，5B的图表显示了在平面方向上比较实施例1的偏振器的端部的钾浓度分布，图5C的图表显示了在平面方向上比较实施例2的偏振器的端部的钾浓度分布。确认了在实施例1的偏振器的端部中形成有高浓度部分，所述高浓度部分具有钾浓度向外增大的浓度梯度。所述高浓度部分的钾浓度可达到偏振器的中央部分的钾浓度的10倍。如图6所示，确认了在比较实施例2的偏振器的端部中形成有低浓度部分，所述低浓度部分具有硼酸浓度向外降低的浓度梯度。确认了在实施例1的偏振器的端部中还形成有硼酸的低浓度部分。在图6中，以放大的方式显示了强度。此外，图6中的区域I、II和III对应于每个图4A和图4B中的区域I、II和III。
图7A和图7B每个都是用光学显微镜观察所得到的照片。图7A给出了显示实施例1的偏振片的端部的照片，图7B给出了显示比较实施例1的偏振片的端部的照片。确认了在实施例1的偏振片的端部中形成有偏振器空隙部分。对于比较实施例2得到了与实施例1相同的结果。
本发明的偏振器不仅可适用于矩形的图像显示设备(液晶显示设备或有机EL装置)中，也可以适用于例如以汽车或智能手表的仪表显示部分为例的具有特定形状的图像显示部分。
对于本领域技术人员，在不偏离本发明的范围和精神的情况下，许多其他修改都是显而易见的并易于实施。因此，应理解所附权利要求的范围不限于说明书的细节，而应被广义地理解。

Claims (21)

1.偏振器，其包含含有碘的树脂膜，其中所述树脂膜的端部中形成有高浓度部分，所述高浓度部分的形成碘的抗衡离子的物质的浓度高于其他部分。
2.根据权利要求1所述的偏振器，其中所述高浓度部分具有浓度梯度，使得所述形成碘的抗衡离子的物质的浓度在平面方向上向外增大。
3.根据权利要求1或2所述的偏振器，其中从所述树脂膜的端部表面至在平面方向上向内相距100μm或更多的位置处形成所述高浓度部分。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的偏振器，其中所述形成碘的抗衡离子的物质含有钾或钠中的至少一种。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的偏振器，其中所述树脂膜含有硼酸，并在所述树脂膜的端部中形成有低浓度部分，所述低浓度部分的硼酸浓度低于其他部分的硼酸浓度。
6.根据权利要求5所述的偏振器，其中所述高浓度部分的区域包括硼酸的低浓度部分的区域。
7.根据权利要求6所述的偏振器，其中在包括整个硼酸的低浓度部分的区域的区域中形成所述高浓度部分。
8.根据权利要求5至7中任一项所述的偏振器，其中所述低浓度部分具有浓度梯度，使得硼酸浓度在平面方向上向外减小。
9.根据权利要求5至8中任一项所述的偏振器，其中从所述树脂膜的端部表面至在平面方向上向内相距50μm或更多的位置处形成所述低浓度部分。
10.根据权利要求5至9中任一项所述的偏振器，其中在吸收轴方向的端部中形成所述低浓度部分。
11.根据权利要求5至10中任一项所述的偏振器，其中在所述偏振器中形成有通孔，并且在所述通孔的外围边缘部分中形成所述低浓度部分。
12.根据权利要求5至11中任一项所述的偏振器，其中在外边缘部分中形成所述低浓度部分。
13.根据权利要求12所述的偏振器，其中所述外缘部分包括在平面方向上形成向内凸起的大致V形的部位。
14.偏振片，其包括：
根据权利要求1至13中任一项所述的偏振器；和
设置在所述偏振器的至少一个表面上的保护膜。
15.制造偏振器的方法，其包括使含有形成碘的抗衡离子的物质的处理液与含有碘的树脂膜接触，以在所述树脂膜的端部中形成高浓度部分，所述高浓度部分的形成碘的抗衡离子的物质的浓度高于其他部分。
16.根据权利要求15所述的制造方法，其中所述处理液包含通过将含有形成碘的抗衡离子的物质的化合物溶解在溶剂中而获得的溶液。
17.根据权利要求16所述的制造方法，其中所述化合物含有碘化钾或氯化钠中的至少一种。
18.根据权利要求15至17中任一项所述的制造方法，其中所述处理液的液温为50℃或更高。
19.根据权利要求15至18中任一项所述的制造方法，其还包括通过切割或冲压加工中的至少一种将所述树脂膜形成为所需形状。
20.根据权利要求19所述的制造方法，其中通过用激光照射所述树脂膜来进行所述切割或冲压加工中的至少一种。
21.根据权利要求20所述的制造方法，其中所述激光包括CO2激光。
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