JP6420747B2 - 偏光子、偏光板および偏光子の製造方法 - Google Patents

Description

本発明は、偏光子、偏光板および偏光子の製造方法に関する。

携帯電話、ノート型パーソナルコンピューター等の画像表示装置（例えば、液晶表示装置）には、偏光子が使用されている。近年、自動車のメータ表示部やスマートウォッチなどにも偏光子の使用が望まれており、偏光子の形状を矩形以外にすることや偏光子に貫通穴を形成することが望まれている。しかし、このような形態を採用する場合、耐久性の問題が発生しやすい。耐久性の向上を目的として、例えば、一対の偏光子保護フィルムを偏光子の両主面にそれぞれ貼り合わせて、外周端面の表面を溶融したのちに凝固して形成した偏光板が提案されているが（特許文献１参照）、さらなる耐久性の向上が求められている。

特開２００９−３７２２８号公報

本発明は上記課題を解決するためになされたものであり、その主たる目的は、耐久性に優れた偏光子を提供することにある。

本発明の偏光子は、ホウ酸を含む樹脂フィルムから構成され、この樹脂フィルムの端部に、ホウ酸の含有濃度が他の部位よりも低い低濃度部が形成されている。
１つの実施形態においては、上記低濃度部は、面方向外方にいくほどホウ酸含有濃度が少ない濃度傾斜を有する。
１つの実施形態においては、上記低濃度部は、上記樹脂フィルムの端面から面方向内方に５０μｍ以上の位置にかけて形成されている。
１つの実施形態においては、上記低濃度部は、吸収軸方向端部に形成されている。
１つの実施形態においては、貫通穴が形成され、この貫通穴の周縁部に上記低濃度部が形成されている。
１つの実施形態においては、上記低濃度部が外縁部に形成されている。
１つの実施形態においては、上記外縁は、面方向内方に凸の略Ｖ字形状をなす部位を含む。
本発明の別の局面によれば、偏光板が提供される。この偏光板は、上記偏光子と、この偏光子の少なくとも片面に配置された保護フィルムとを有する。
本発明のさらに別の局面によれば、偏光子の製造方法が提供される。この製造方法は、ホウ酸を含む樹脂フィルムに処理液を接触させて、この樹脂フィルムの端部に、ホウ酸の含有濃度が他の部位よりも低い低濃度部を形成する工程を含む。
１つの実施形態においては、上記処理液は水を含む。
１つの実施形態においては、上記処理液は、溶媒に、ヨウ素の対イオンを形成する物質を含む化合物を溶解させた溶液である。
１つの実施形態においては、上記化合物は、ヨウ化カリウムおよび／または塩化ナトリウムを含む。
１つの実施形態においては、上記処理液の液温は５０℃以上である。
１つの実施形態においては、上記ホウ酸を含む樹脂フィルムを、切断および／または打ち抜き加工により所望の形状に成形する工程を含む。
１つの実施形態においては、上記切断および／または打ち抜き加工を、レーザー光を照射することにより行う。
１つの実施形態においては、上記レーザーはＣＯ_２レーザーである。

本発明によれば、ホウ酸の含有濃度が他の部位よりも低い低濃度部を端部に形成することにより、耐久性に極めて優れた偏光子を得ることができる。

本発明の１つの実施形態による偏光板の平面図である。 図１に示す偏光板の部分拡大断面図である。 本発明の１つの実施形態による偏光板の端部の拡大断面図である。 （ａ）はヒートサイクル試験後の比較例３の偏光板の外観を示す写真であり、（ｂ）はヒートサイクル試験後の実施例３の偏光板の外観を示す写真である。 （ａ）は実施例１の偏光板の端部の耐熱試験後の光学顕微鏡による観察写真であり、（ｂ）はその顕微ラマン分光分析による解析結果を示すグラフである。 （ａ）は実施例１の偏光子の端部の面方向におけるホウ酸濃度分布を示すグラフであり、（ｂ）は比較例１の偏光子の端部の面方向におけるホウ酸濃度分布を示すグラフである。 （ａ）は実施例４の偏光子の端部の面方向におけるカリウムの濃度分布を示すグラフであり、（ｂ）は比較例１の偏光子の端部の面方向におけるカリウムの濃度分布を示すグラフであり、（ｃ）は実施例１の偏光子の端部の面方向におけるカリウムの濃度分布を示すグラフである。 （ａ）は実施例１の偏光板の端部の光学顕微鏡による観察写真であり、（ｂ）は比較例１の偏光板の端部の光学顕微鏡による観察写真である。

以下、本発明の実施形態について説明するが、本発明はこれらの実施形態には限定されない。

Ａ．偏光子（偏光板）
図１は本発明の１つの実施形態による偏光板の平面図であり、図２は図１に示す偏光板の部分拡大断面図である。偏光板１００は、自動車のメータパネルに好適に用いられる。偏光板１００は、第１の表示部５０と第２の表示部６０とが連設されて構成され、各表示部の中心付近には、各種メータ針を固定するための貫通穴５１，６１がそれぞれ形成されている。貫通穴の直径は、例えば０．５ｍｍ〜１００ｍｍである。表示部５０，６０の外縁は、メータ針の回転方向に沿った円弧状に形成されている。

通常、偏光子は保護フィルムが積層された状態で（偏光板とされて）使用される。図示例の偏光板１００は、偏光子１０と偏光子１０の両主面にそれぞれ配置された一対の保護フィルム２１，２２とを有する。図示例では、偏光子の両主面に保護フィルムが配置されているが、一方の面にのみ保護フィルムが配置されていてもよい。

上記偏光子は、樹脂フィルムから構成される。この樹脂フィルムを形成する樹脂としては、任意の適切な樹脂が用いられ得る。好ましくは、ポリビニルアルコール系樹脂（以下、「ＰＶＡ系樹脂」と称する）が用いられる。ＰＶＡ系樹脂としては、例えば、ポリビニルアルコール、エチレン−ビニルアルコール共重合体が挙げられる。ポリビニルアルコールは、ポリ酢酸ビニルをケン化することにより得られる。エチレン−ビニルアルコール共重合体は、エチレン−酢酸ビニル共重合体をケン化することにより得られる。ＰＶＡ系樹脂のケン化度は、通常８５モル％〜１００モル％であり、好ましくは９５．０モル％以上、さらに好ましくは９９．０モル％以上、特に好ましくは９９．９３モル％以上である。ケン化度は、ＪＩＳ Ｋ ６７２６−１９９４に準じて求めることができる。このようなケン化度のＰＶＡ系樹脂を用いることによって、耐久性に優れた偏光子が得られ得る。

ＰＶＡ系樹脂の平均重合度は、目的に応じて適切に選択され得る。平均重合度は、通常１０００〜１００００であり、好ましくは１２００〜６０００、さらに好ましくは２０００〜５０００である。なお、平均重合度は、ＪＩＳ Ｋ ６７２６−１９９４に準じて求めることができる。

偏光子（樹脂フィルム）１０はホウ酸を含み、その端部（具体的には、外縁部１０１および貫通穴５１，６１の周縁部５１ａ，６１ａ）には、ホウ酸の含有濃度が他の部位よりも低い低濃度部が形成されている。低濃度部を形成することにより、耐久性を向上させることができる。具体的には、クラックの発生を抑制することができる。通常、偏光子は保護フィルムよりも収縮力が大きく、温度・湿度変化により偏光子と保護フィルムとの界面で応力が生じてクラックが発生し得る。低濃度部は、例えば、ホウ酸による架橋構造が解除されることにより他の部位よりも剛性が低くなり得る。その結果、低濃度部においては偏光子収縮による応力が緩和され、クラックの発生が抑制され得る。したがって、後述する貫通穴の周縁やＶ字形状をなす部位のような応力が集中しやすい部位に、低濃度部を形成することにより、クラックの発生を効果的に抑制することができる。また、このような形態によれば、外観や他の部材との貼り合わせに及ぼす影響も非常に少ない。

上記低濃度部は、例えば、面方向外方へいくほどホウ酸含有濃度が少ない濃度傾斜を有する。濃度傾斜を有することにより、上記クラックの発生を抑制しながら、端部における偏光性能の急激な低下を抑制し得る。なお、上記他の部位におけるホウ酸含有量は、例えば２０重量％〜３０重量％である。

低濃度部は、偏光子（樹脂フィルム）の端面から面方向内方に５０μｍ以上の位置にかけて形成されていることが好ましく、さらに好ましくは偏光子の端面から８０μｍ以上の位置にかけて形成される。このような範囲であれば、上記耐久性向上の効果が十分に得られ得る。一方、低濃度部は、偏光子の端面から面方向内方に１０００μｍ以下の位置にかけて形成されていることが好ましく、さらに好ましくは５００μｍ以下の位置にかけて形成される。

図示例のように貫通穴を形成する場合、貫通穴の位置は、例えば、偏光子の用途に応じて適宜設定され得る。上記クラックは、貫通穴の周縁を起点に発生しやすく、貫通穴の位置が偏光子の外縁から離れているほどその傾向が顕著となり得る。その結果、貫通穴の位置が偏光子の外縁から離れているほど（例えば、偏光子の外縁から１５ｍｍ以上）、上記低濃度部形成による耐久性向上の効果が顕著に得られ得る。

外縁部１０１において、低濃度部は、少なくとも各表示部の境界部４１，４２に形成されていることが好ましい。具体的には、低濃度部は、外縁が面方向内方に凸のＶ字形状（アール状を含む）をなす部位において形成されていることが好ましい。外縁が面方向内方に凸のＶ字形状をなす部位は、上記貫通穴の周縁と同様、クラックの起点となりやすいからである。

低濃度部は、好ましくは、偏光子の吸収軸方向端部に形成される。上記クラックは、偏光子の吸収軸方向に沿って発生する傾向にあり、吸収軸方向端部に低濃度部が形成されていることにより、クラックの発生を効果的に抑制することができる。

上記偏光子（樹脂フィルム）は、代表的には、二色性物質を含む。二色性物質としては、例えば、ヨウ素、有機染料等が挙げられる。これらは、単独で、または、二種以上組み合わせて用いられ得る。好ましくは、ヨウ素が用いられる。

上記二色性物質をはじめとする偏光子に含まれる成分の含有濃度は、上記他の部位と比較して上記低濃度部では低くなり得る。偏光子に含まれる成分としては、ホウ酸、二色性物質以外では、例えば、後述する偏光子を得るための各種処理に用いられる溶液（具体的には、ヨウ化カリウム等のヨウ化物を溶解させた溶液）に含まれる成分が挙げられる。

１つの実施形態においては、偏光子（樹脂フィルム）１０はヨウ素の対イオンを形成する物質を含み、その端部（具体的には、外縁部１０１および貫通穴５１，６１の周縁部５１ａ，６１ａ）には、上記物質の含有濃度が他の部位よりも高い高濃度部が形成されている。ヨウ素の対イオンを形成する物質としては、例えば、カリウム、ナトリウム、リチウム、亜鉛、アルミニウム、鉛、銅、バリウム、カルシウム、錫、チタン等のハロゲン化物を形成し得る金属が挙げられる。これらの中でも、カリウム、ナトリウムが好ましく用いられる。なお、樹脂フィルムにおいて、ヨウ素の対イオンを形成する物質は、任意の適切な状態をとり得る。具体的には、イオンの状態であってもよいし、他の物質との結合物であってもよいし、これらの状態が混合していてもよい。他の物質としては、例えば、ヨウ素イオン（Ｉ⁻）、ヨウ素錯体（Ｉ_３ ⁻）が挙げられる。

上記高濃度部は、例えば、面方向外方へいくほど上記ヨウ素の対イオンを形成する物質の含有濃度が高い濃度傾斜を有する。なお、上記他の部位におけるヨウ素の対イオンを形成する物質の含有量は、例えば０．３重量％〜５重量％である。なお、他の部位に存在するヨウ素の対イオンを形成する物質は、主として、後述の染色処理、架橋処理、洗浄処理等の各種処理において樹脂フィルム中に導入されたものであり得る。

高濃度部は、偏光子（樹脂フィルム）の端面から面方向内方に１００μｍ以上の位置にかけて形成されていることが好ましく、さらに好ましくは偏光子の端面から５００μｍ以上の位置にかけて形成される。一方、高濃度部は、偏光子の端面から面方向内方に２０００μｍ以下の位置にかけて形成されていることが好ましく、さらに好ましくは１０００μｍ以下の位置にかけて形成される。

上記高濃度部を形成することにより、樹脂フィルムの耐熱性を向上させることができる。好ましくは、高濃度部の領域は、上記ホウ酸の低濃度部の領域を含む。具体的には、高濃度部の領域は、ホウ酸の低濃度部の領域に対応して形成される。さらに好ましくは、高濃度部は、ホウ酸の低濃度部の領域の全部を含む領域に形成されている。樹脂フィルムの端面から面方向内方の所定の位置にかけてホウ酸の低濃度部が形成されている場合、上記高濃度部は、ホウ酸の低濃度部から面方向内方に１００μｍ以上延出して形成されていることが好ましい。このような形態によれば、耐熱性を確実の向上させることができる。ホウ酸の低濃度部では、上述のとおり、ホウ酸による架橋構造が解除されることにより他の部位よりも剛性が低くなり得るので、クラックの発生が抑制される一方で、耐熱性は低下し得る。この原因の一つとして、ホウ酸の低濃度部において、ヨウ素錯体（例えば、Ｉ_３ ⁻、Ｉ_５ ⁻）の含有量は低く、ヨウ素イオン（例えば、Ｉ⁻、Ｉ_３ ⁻）の含有量が高いことが考えられる。ヨウ素錯体は樹脂フィルムに配向し得るのに対し、ヨウ素イオンは不安定な状態で樹脂フィルム中に存在し得る。よって、上記高濃度部を形成して対イオンを導入することにより、ヨウ素イオンを安定化して、樹脂フィルムの耐熱性の向上（例えば、ポリエン化の抑制による樹脂フィルムの着色の抑制）に寄与し得る。なお、ホウ酸の低濃度部ではヨウ素（Ｉ_２）の含有量も高いと考えられ、ヨウ素も不安定な状態で樹脂フィルム中に存在し得る。

偏光子は、好ましくは、波長３８０ｎｍ〜７８０ｎｍの範囲で吸収二色性を示す。偏光子の単体透過率（Ｔｓ）は、好ましくは４０％以上、より好ましくは４１％以上、さらに好ましくは４２％以上、特に好ましくは４３％以上である。なお、単体透過率の理論上の上限は５０％であり、実用的な上限は４６％である。また、単体透過率（Ｔｓ）は、ＪＩＳ Ｚ８７０１の２度視野（Ｃ光源）により測定して視感度補正を行なったＹ値であり、例えば、分光光度計（日本分光製、Ｖ７１００）を用いて測定することができる。偏光子の偏光度は、好ましくは９９．８％以上、より好ましくは９９．９％以上、さらに好ましくは９９．９５％以上である。

偏光子の厚みは、任意の適切な値に設定され得る。厚みは、代表的には１μｍ〜８０μｍであり、好ましくは３μｍ〜４０μｍである。

上記保護フィルムの形成材料としては、例えば、ジアセチルセルロース、トリアセチルセルロース（ＴＡＣ）等のセルロース系樹脂、（メタ）アクリル系樹脂、シクロオレフィン系樹脂、ポリプロピレン等のオレフィン系樹脂、ポリエチレンテレフタレート系樹脂等のエステル系樹脂、ポリアミド系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、これらの共重合体樹脂等が挙げられる。なお、「（メタ）アクリル系樹脂」とは、アクリル系樹脂および／またはメタクリル系樹脂をいう。

保護フィルムの厚みは、好ましくは１０μｍ〜２００μｍである。保護フィルムの片側（偏光子が配置されない側）には、表面処理層が形成されていてもよい。具体的には、ハードコート処理や反射防止処理、拡散ないしアンチグレアを目的とした処理が施されていてもよい。なお、上記一対の保護フィルムの構成（形成材料、厚み等）は、同じ構成であってもよいし、異なる構成であってもよい。

保護フィルムは、代表的には、偏光子表面に、接着剤層を介して積層される。接着剤としては、任意の適切な接着剤が用いられる。例えば、水系接着剤、溶剤系接着剤、活性エネルギー線硬化型接着剤等が用いられる。水系接着剤としては、ＰＶＡ系樹脂を含む接着剤が好ましく用いられる。

なお、本発明の偏光子（偏光板）は、上記図示例の構成に限らず適宜変更可能である。例えば、偏光子（偏光板）の形状、貫通穴の有無、貫通穴の形状やサイズ、貫通穴の数や形成位置は、適宜に変更可能である。

Ｂ．偏光子（偏光板）の製造方法
上記低濃度部は、好ましくは、ホウ酸を含む樹脂フィルムに処理液を接触させることにより形成される。このような形態によれば、所望の部位に低濃度部を簡便に形成することができる。具体的には、ホウ酸を処理液に溶出させて、良好に低濃度部を形成することができる。処理液の接触方法としては、任意の適切な方法が採用され得る。具体的には、処理液に樹脂フィルムを浸漬する方法、樹脂フィルムに処理液を塗布する方法、樹脂フィルムに処理液を噴霧する方法等が挙げられる。好ましくは、処理液に樹脂フィルムを浸漬する方法が採用される。

上記処理液には、例えば、水、メタノール、エタノール等のアルコール、ジメチルスルホキシド、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、Ｎ−メチルピロリドン、各種グリコール類、トリメチロールプロパン等の多価アルコール類、エチレンジアミン、ジエチレントリアミン等のアミン類が用いられる。これらは単独で、または、二種以上組み合わせて用いられる。これらの中でも、水が好ましく用いられる。

上記処理液は、ヨウ素の対イオンを形成する物質を含み得る。この場合、処理液は、代表的には、上記溶媒に、ヨウ素の対イオンを形成する物質を含む化合物を溶解させた溶液である。このような処理液を用いることにより、低濃度部の形成と同時に、樹脂フィルムにヨウ素の対イオンを形成する物質を導入して、上記高濃度部を形成することができる。

上記ヨウ素の対イオンを形成する物質を含む化合物としては、例えば、カリウム、ナトリウム、リチウム、亜鉛、アルミニウム、鉛、銅、バリウム、カルシウム、錫、チタン等のハロゲン化物（好ましくは、ヨウ化物、塩化物）が挙げられる。これらの中でも、ヨウ化カリウム、塩化ナトリウムが好ましく用いられる。このような化合物の配合量は、上記溶媒１００重量部に対して、好ましくは０．１重量部〜１０重量部、さらに好ましくは１重量部〜５重量部である。

１つの実施形態においては、処理液は塩基性溶液である。この場合、処理液は、上記溶媒に塩基性化合物を配合することにより得られ得る。塩基性化合物としては、例えば、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、水酸化リチウム等のアルカリ金属の水酸化物、水酸化カルシウム等のアルカリ土類金属の水酸化物、炭酸ナトリウム等の無機アルカリ金属塩、酢酸ナトリウム等の有機アルカリ金属塩等が挙げられる。これらは単独で、または、二種以上組み合わせて用いられる。塩基性溶液の濃度は、例えば１Ｎ〜１０Ｎである。

別の実施形態においては、処理液は酸性溶液である。この場合、処理液は、上記溶媒に酸性化合物を配合することにより得られ得る。酸性化合物としては、例えば、塩酸、硫酸、硝酸、フッ化水素等の無機酸、ギ酸、シュウ酸、クエン酸、酢酸、安息香酸等の有機酸等が挙げられる。これらは単独で、または、二種以上組み合わせて用いられる。酸性溶液の濃度は、例えば１Ｎ〜１０Ｎである。

なお、処理液は、添加剤を含んでいてもよい。

処理液の液温（接触時）は、好ましくは５０℃以上、さらに好ましくは６０℃以上である。良好に低濃度部が形成され得るからである。一方、処理液の液温（接触時）は、好ましくは９０℃以下である。好ましい実施形態においては、上記樹脂フィルムに処理液を接触させた状態で、処理液が所定の温度となるように（処理液が所定の温度に維持されるように）、処理液を加温する。樹脂フィルムを処理液に浸漬する場合、浸漬時間は、例えば３分〜２０分である。

樹脂フィルムに処理液を接触させる際、処理液に超音波処理を施してもよい。具体的には、超音波浴に樹脂フィルムを浸漬する。このような形態によれば、効率的に低濃度部を形成することができる。超音波処理は、任意の適切な条件で施し得る。出力は、例えば４０Ｗ〜１０００Ｗである。周波数は、例えば１５ｋＨｚ〜１００ｋＨｚである。

処理液を接触させる際、樹脂フィルムは、膨潤処理、延伸処理、上記二色性物質による染色処理、架橋処理、洗浄処理、乾燥処理等の各種処理が施されて、偏光子として使用し得る状態であることが好ましい。ホウ酸を含む樹脂フィルムは、例えば、延伸処理、架橋処理の際に、樹脂フィルムにホウ酸溶液（例えば、ホウ酸水溶液）を接触させることにより得られる。各種処理を施す際、樹脂フィルムは、基材上に形成された樹脂層であってもよい。上記延伸処理における延伸方向は、得られる偏光子の上記吸収軸方向に相当し得る。優れた偏光特性を得る観点から、通常、３倍〜７倍に樹脂フィルムは一軸延伸される。

好ましくは、ホウ酸を含む樹脂フィルムを被覆フィルムで被覆し、所望の部位に選択的に処理液を接触させる。被覆フィルムとしては、処理液の接触後、そのまま上記保護フィルムとして利用され得るものが好ましく用いられる。１つの実施形態においては、ホウ酸を含む樹脂フィルム（偏光子）の両主面それぞれに保護フィルムを積層して得られた積層体を処理液に浸漬して、低濃度部を形成する。このような方法によれば、上記濃度傾斜を有する低濃度部および／または高濃度部が良好に形成され得る。また、このような方法によれば、図３に示すように、偏光子１０の端面１０ａは保護フィルム２１，２２の端面２１ａ，２２ａよりも面方向内方に位置し得、偏光子空隙部３０が形成され得る。偏光子空隙部が形成されることにより、耐久性がさらに向上し得る。

図示するように、所望の形状への成形は、代表的には、切断および／または打ち抜き加工により行われる。切断および／または打ち抜き加工は、上記低濃度部を形成する前に行うのが好ましい。また、切断および／または打ち抜き加工は、偏光子（樹脂フィルム）単体に対して行ってもよいが、偏光子と保護フィルムとの積層体に対して行うのが好ましい。好ましい実施形態においては、偏光子と保護フィルムとの積層体を切断および／または打ち抜き加工により所望の形状に成形した後、上記低濃度部を形成する。

切断（打ち抜き）方法としては、任意の適切な方法が採用され得る。例えば、トムソン刃、ピクナル刃等の切断刃（打ち抜き型）を用いる方法、レーザー光を照射する方法が挙げられる。好ましくは、レーザー光照射による切断が採用される。レーザー光照射によれば、滑らかな切断面が得られ、クラックの起点（初期クラック）の発生を抑制することができる。

上記レーザーとしては、任意の適切なレーザーが採用され得る。好ましくは、１５０ｎｍ〜１１μｍの範囲内の波長の光を放射し得るレーザーが用いられる。具体例としては、ＣＯ_２レーザー等の気体レーザー；ＹＡＧレーザー等の固体レーザー；半導体レーザーが挙げられる。好ましくは、ＣＯ_２レーザーが用いられる。

レーザー光の照射条件は、例えば、用いるレーザーに応じて、任意の適切な条件に設定され得る。出力条件は、ＣＯ_２レーザーを用いる場合、好ましくは１０Ｗ〜１０００Ｗ、さらに好ましくは１００Ｗ〜４００Ｗである。

上記処理液との接触後、樹脂フィルム（積層体）は、乾燥処理に供され得る。乾燥温度は、例えば５０℃〜１２０℃である。

以下、実施例によって本発明を具体的に説明するが、本発明はこれら実施例によって限定されるものではない。

［実施例１］
（偏光子の作製）
ＰＶＡ系樹脂を主成分とする高分子フィルムを下記［１］〜［５］の５浴に順次、フィルム長手方向に張力を付与しながら浸漬し、延伸した。この延伸フィルムを乾燥させて、厚み２８μｍの偏光子を得た。
＜条件＞
［１］膨潤浴：３０℃の純水
［２］染色浴：ヨウ素とヨウ化カリウムとを含む、３０℃の水溶液
［３］第１の架橋浴：ヨウ化カリウムとホウ酸とを含む、４０℃の水溶液
［４］第２の架橋浴：ヨウ化カリウムとホウ酸とを含む、６０℃の水溶液
［５］洗浄浴：ヨウ化カリウムを含む、２５℃の水溶液

（偏光板シートの作製）
上記偏光子の片側にＰＶＡ系接着剤を乾燥後の厚みが１００ｎｍとなるように塗布し、長尺状で厚み４０μｍのＴＡＣフィルムを互いの長手方向を揃えるように貼り合わせた。
続いて、上記偏光子のもう片側にＰＶＡ系接着剤を乾燥後の厚みが１００ｎｍとなるように塗布し、長尺状で厚み３０μｍのアクリルフィルムを互いの長手方向を揃えるように貼り合わせた。
こうして、ＴＡＣフィルム／偏光子／アクリルフィルムの構成を有する偏光板シートを得た。

得られた偏光板シートを、ＣＯ_２レーザー（波長：９．３５μｍ、出力：１５０Ｗ）を用いて切断し、外縁から２５ｍｍの部位に直径４ｍｍの貫通穴が形成された５４ｍｍ×５４ｍｍのサイズの切断片を得た。
得られた切断片を７４℃に保たれた温水に１６分間浸漬し、偏光板を得た。

［実施例２］
切断片のサイズを９４ｍｍ×９４ｍｍとし、貫通穴を外縁から４５ｍｍの部位に形成したこと以外は実施例１と同様にして、偏光板を得た。

［実施例３］
切断片のサイズを１１４ｍｍ×１１４ｍｍとし、貫通穴を外縁から５５ｍｍの部位に形成したこと以外は実施例１と同様にして、偏光板を得た。

［実施例４］
７４℃に保たれた温水のかわりに、切断片を７４℃に保たれた３重量％のヨウ化カリウム水溶液に浸漬したこと以外は実施例１と同様にして、偏光板を得た。

［比較例１］
切断片を温水に浸漬しなかったこと以外は実施例１と同様にして、偏光板を得た。

［比較例２］
切断片を温水に浸漬しなかったこと以外は実施例２と同様にして、偏光板を得た。

［比較例３］
切断片を温水に浸漬しなかったこと以外は実施例３と同様にして、偏光板を得た。

得られた偏光板に対し、ヒートサイクル（ＨＳ）試験を行った。具体的には、ガラス板に、得られた偏光板を、アクリル系粘着剤（厚み２０μｍ）を用いて貼り合わせ、試験用サンプルを得た。これを、−４０℃の雰囲気下に３０分放置した後、８５℃の雰囲気下に３０分放置した。この操作を１サイクルとして、１００サイクル繰り返した後、偏光板にクラックが発生しているか否かを確認した。

各実施例の偏光板はＨＳ試験後においてクラック（小クラックも含めて）の発生は認められなかったのに対し、各比較例の偏光板はＨＳ試験後において、図４の光学顕微鏡（ＯＬＹＭＰＵＳ製、ＭＸ６１、倍率：５倍）による観察写真に示すように、延伸方向に沿ってクラックが発生した。比較例１ではクラック長は１２ｍｍと小さかったものの、比較例２，３ではクラックは貫通穴を起点に偏光板端辺まで達していた。

実施例１および実施例４の偏光板に対し、耐熱試験を行った。具体的には、偏光板を、アクリル系粘着剤（厚み２０μｍ）を用いてガラス板に貼り合わせ、試験用サンプルを得た。これを、１０５℃の雰囲気下に１４０時間放置し、耐熱試験後に偏光板が着色しているか否かを観察した。

実施例４では耐熱試験後に着色は確認されなかったのに対し、実施例１では、図５（ａ）の光学顕微鏡（ＯＬＹＭＰＵＳ製、ＭＸ６１、倍率：５倍）による観察写真に示すように、偏光板の端辺に沿って幅約３００μｍの着色部が確認された。耐熱試験後の実施例１の偏光板の端部の顕微ラマン分光分析による解析結果を図５（ｂ）に示すが、ポリエン化による着色であると推測される。非着色部に比べて着色部においては、ヨウ素錯体（Ｉ_３ ⁻）の含有量が格段に低い。なお、顕微ラマン分光分析の測定条件は以下のとおりである。
・装置：顕微鏡レーザーラマン（Ｊｏｂｉｎ Ｙｖｏｎ Ｓ．Ａ．Ｓ， ＬａｂＲＡＭ ＨＲ８００）
・励起波長：５１４ｎｍ
・測定波長範囲：８０〜１８００ｃｍ^−１付近
・Ｇｒａｔｉｎｇ：６００ｇｒ／ｍｍ
・対物レンズ：×１００
・積算時間：２ｓｅｃ
・積算回数：２回
・フィルター：Ｄ３
・Ｈｏｌｅ：３００
・検出器：ＣＣＤ

実施例１、実施例４および比較例１の偏光板に対し、以下の評価を行った。
１．濃度分布測定
偏光子端部の面方向におけるホウ酸の濃度分布を測定した。測定は、飛行時間型二次イオン質量分析計（ＴＯＦ−ＳＩＭＳ）（ＩＯＮ−ＴＯＦ製、製品名：ＴＯＦ−ＳＩＭＳ ５）を用いた。測定サンプルとしては、得られた偏光板を樹脂で包埋し、ミクロトームを用いて断面調製したものを用いた。測定条件は以下のとおりである。
・照射した一次イオン：Ｂｉ_３ ^２＋
・一次イオン加速電圧：２５ｋＶ
・測定面積：３００μｍ角×２視野
※測定には、帯電補正用電子銃を使用
２．光学顕微鏡観察
端部を樹脂で包埋した偏光板をその厚み方向に切断し、切断面を光学顕微鏡（Ｎｉｋｏｎ製、ＥＣＬＩＰＳＥ ＬＶ１００、倍率：５０倍）で観察した。

図６（ａ）は実施例１の偏光子の端部の面方向におけるホウ酸濃度分布を示すグラフであり、図６（ｂ）は比較例１の偏光子の端部の面方向におけるホウ酸濃度分布を示すグラフである。実施例１の偏光子の端部には、外方へいくほどホウ酸含有濃度が少ない濃度傾斜を有する低濃度部が形成されていることが確認された。実施例４の偏光子の端部にもホウ酸の低濃度部が形成されていることが確認された。

図７（ａ）は実施例４の偏光子の端部の面方向におけるカリウムの濃度分布を示すグラフであり、図７（ｂ）は比較例１の偏光子の端部の面方向におけるカリウムの濃度分布を示すグラフであり、図７（ｃ）は実施例１の偏光子の端部の面方向におけるカリウムの濃度分布を示すグラフである。実施例４の偏光子の端部には、外方へいくほどカリウム含有濃度が高い濃度傾斜を有する高濃度部が形成されていることが確認された。高濃度部のカリウム含有濃度は、偏光子中央部のカリウム含有濃度に対し最大で約１０倍程度であった。

図８は光学顕微鏡による観察写真であり、（ａ）は実施例１の偏光板の端部を示す写真であり、（ｂ）は比較例１の偏光板の端部を示す写真である。実施例１の偏光板の端部には、偏光子空隙部が形成されていることが確認された。なお、実施例４も実施例１と同様の結果が得られた。

本発明の偏光子は、矩形状の画像表示装置（液晶表示装置、有機ＥＬデバイス）に加え、例えば、自動車のメータ表示部やスマートウォッチに代表される異形の画像表示部にも好適に用いられ得る。

１０ 偏光子
２１，２２ 保護フィルム
１００ 偏光板

Claims (16)

1. ホウ酸を含む樹脂フィルムから構成され、
   前記樹脂フィルムの端部に、前記ホウ酸の含有濃度が他の部位よりも低い低濃度部が形成されている、
   偏光子。
2. 前記低濃度部が、面方向外方にいくほどホウ酸含有濃度が少ない濃度傾斜を有する、請求項１に記載の偏光子。
3. 前記低濃度部が、前記樹脂フィルムの端面から面方向内方に５０μｍ以上の位置にかけて形成されている、請求項１または２に記載の偏光子。
4. 前記低濃度部が、吸収軸方向端部に形成されている、請求項１から３のいずれかに記載の偏光子。
5. 貫通穴が形成され、該貫通穴の周縁部に前記低濃度部が形成されている、請求項１から４のいずれかに記載の偏光子。
6. 前記低濃度部が外縁部に形成されている、請求項１から５のいずれかに記載の偏光子。
7. 前記外縁が、面方向内方に凸の略Ｖ字形状をなす部位を含む、請求項６に記載の偏光子。
8. 請求項１から７のいずれかに記載の偏光子と、該偏光子の少なくとも片面に配置された保護フィルムとを有する、偏光板。
9. ホウ酸を含む樹脂フィルムに処理液を接触させて、該樹脂フィルムの端部に、該ホウ酸の含有濃度が他の部位よりも低い低濃度部を形成する工程を含む、
   偏光子の製造方法。
10. 前記処理液が水を含む、請求項９に記載の製造方法。
11. 前記処理液が、溶媒に、ヨウ素の対イオンを形成する物質を含む化合物を溶解させた溶液である、請求項９または１０に記載の製造方法。
12. 前記化合物が、ヨウ化カリウムおよび／または塩化ナトリウムを含む、請求項１１に記載の製造方法。
13. 前記処理液の液温が５０℃以上である、請求項９から１２のいずれかに記載の製造方法。
14. 前記ホウ酸を含む樹脂フィルムを、切断および／または打ち抜き加工により所望の形状に成形する工程を含む、請求項９から１３のいずれかに記載の製造方法。
15. 前記切断および／または打ち抜き加工を、レーザー光を照射することにより行う、請求項１４に記載の製造方法。
16. 前記レーザーがＣＯ_２レーザーである、請求項１５に記載の製造方法。