CN100393109C - 信号处理装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种即使在VOPB区B中存在不良像素的情况下也可以正确地检测出列噪声、并进行列噪声校正的信号处理装置。该信号处理装置包括：固态图像摄取元件，该元件包括像素部、垂直扫描电路、水平扫描电路、和输出电路；箝位部，用于将从输出电路输出的垂直遮光像素区和有效像素区的像素信号的黑色电平值固定在预设的基准值；阈值确定部，用于根据预设的基准值确定阈值；判定部，用于判定已通过箝位部将黑色电平值固定在基准值的垂直遮光像素区的像素信号是否超过了阈值确定部所确定的阈值；不良像素检测器，用于从排列在垂直遮光像素区中的像素中检测出不良像素；以及信号处理器，用于对已通过箝位部将黑色电平值固定在基准值的垂直遮光像素区的像素信号执行预定的信号处理。

Description

信号处理装置及方法

相关申请的交叉参考

本发明包含于2004年7月7日向日本专利局提交的日本专利申请第2004-201016号的主题，其全部内容结合于此，作为参考。

技术领域

本发明涉及一种通过X-Y地址型固态图像摄取元件拍摄对象的图像的信号处理装置及信号处理方法。

背景技术

在以CMOS(互补型金属氧化物半导体)传感器为代表的X-Y地址型固态图像摄取元件中，大量像素排列在如图1所示的由行和列构成的矩阵中。该元件包括：垂直扫描电路54，用于依次选择像素部52的各行；水平扫描电路60，用于依次选择像素部52的各列；以及输出电路61，用于输出信号。

垂直扫描电路54和水平扫描电路60由例如移位寄存器构成，并且分别为每一行和每一列产生一个垂直扫描脉冲和一个水平扫描脉冲。

当读取储存在各个像素中的图像信号时，通过垂直扫描电路54将脉冲信号加到一条垂直选择线53上，使同一行中的所有像素晶体管51电导通。图像信号从各感光部50被读取到垂直信号线55上。将被读取到垂直信号线55上的图像信号提供给相关双重取样电路(CDS)56等电路，以清除每个像素的偏移信号(offset signal，或叫偏差信号)。

水平扫描电路60通过水平选择线59将脉冲信号加到与各垂直信号线55连接的晶体管57上，使晶体管57处于通电状态。已通过CDS 56清除了偏移信号的列的像素信号被读取到水平信号线58。该像素信号通过输入电路61转换成电压信号后，向外部输出。

在这种X-Y地址型固态图像摄取元件中，各列分别具有不同的(或者是他们自身的)垂直信号线55。因此，一旦CDS 56和晶体管57具有不同的特性，自输出电路61提供的像素信号便会在各列间产生不同的偏移。分别对应各列的不同的偏移会作为条纹状的固定模式噪声(下文称之为列噪声)显现在显示屏幕上，造成画质不好。

现有一种防止画质变差的方法。在该方法中，从固态图像摄取元件中仅提取列噪声分量，提取出的列噪声分量被作为用于校正的基准信号保存。在通常的图像摄取操作时，从固态图像摄取元件的信号输出中减去基准信号，以此来校正列噪声。

然而，当用光照射像素部52时，基于入射光的信号分量会被加到列噪声分量中。因此，该输出信号不能被用作用于校正的基准信号。

因此，根据日本专利申请公开第10-126697号出版物，如图2所示，像素部52由有效像素区A、垂直光学黑体区B(下文称之为VOPB)、及水平光学黑体区C(下文称之为HOPB)构成，用于执行列噪声的检测/校正。有效像素区A被光照射。在垂直光学黑体区B和水平光学黑体区C中，光的照射在数行到数十行的范围内被诸如铝薄膜等遮光板遮挡。

发明内容

但是，当排列在VOPB区B中的像素中存在黑色或白色的不良像素时，该不良像素会影响到列噪声量的检测值。如果在受到该不良像素影响的列噪声上进行校正，便会产生条纹状噪声。

例如，当某列中存在白色不良像素时，将检测出比实际的列噪声量更大的值来当作列噪声。如果基于这种更大的列噪声量进行校正，便会产生暗条纹状噪声。或者，当某列中存在黑色不良像素时，将检测出比实际的列噪声量更小的值来当作列噪声。如果基于这种更小的列噪声量进行校正，便会产生亮条纹状噪声。

因此，本发明提供的是一种即使在VOPB区B中存在不良像素时也能够正确地检测出列噪声、并进行列噪声校正的信号处理装置和信号处理方法。

根据本发明的信号处理装置包括：固态图像摄取元件，该固态图像摄取元件包括：包括均匀排列在行列矩阵中的多个像素的像素部，该像素部包括被光照射的有效像素区和光的照射被遮挡的垂直遮光像素区；垂直扫描电路，用于控制排列在同一行中并通过垂直选择线共同连接的像素的控制电极；水平扫描电路，用于控制共同连接到排列在同一列中的像素的主电极上的垂直信号线的控制电极，从而以行为单位向水平信号线依次输出像素信号，该像素信号经由垂直信号线输出；以及输出电路，用于输出来自水平信号线的像素信号；箝位装置，用于将从固态图像摄取元件的输出电路输出的垂直遮光像素区和有效像素区的像素信号的黑色电平值固定在预设的基准值；阈值确定装置，用于根据预设的基准值确定阈值；判定装置，用于判定已通过箝位装置将黑色电平值固定在基准值的垂直遮光像素区的像素信号是否超过了由阈值确定装置所确定的阈值；不良像素检测装置，用于从排列在垂直遮光像素区中的像素中检测出不良像素；信号处理装置，用于对已通过箝位装置将黑色电平值固定在基准值的垂直遮光像素区的像素信号执行预定的信号处理。

根据本发明的信号处理方法是一种用于具有固态图像摄取元件的信号处理装置的信号处理方法，其中，该固态图像摄取元件包括：包括均匀排列在行列矩阵中的多个像素的像素部，该像素部包括被光照射的有效像素区和光的照射被遮挡的垂直遮光像素区；垂直扫描电路，该垂直扫描电路控制排列在同一行中并通过垂直选择线共同连接的像素的控制电极；水平扫描电路，该水平扫描电路控制共同连接到排列在同一列中的像素的主电极上的垂直信号线的控制电极，从而以行为单位向水平信号线依次输出像素信号，该像素信号经由垂直信号线输出；以及输出电路，该输出电路输出来自水平信号线的像素信号，上述方法包括以下步骤：箝位步骤，将从固态图像摄取元件的输出电路输出的垂直遮光像素区和有效像素区的像素信号的黑色电平值固定在预设的基准值；阈值确定步骤，根据预设的基准值确定阈值；判定步骤，判定已在箝位步骤中通过箝位装置将黑色电平值固定在基准值的垂直遮光像素区的像素信号是否超过了由在阈值确定步骤中确定的阈值；不良像素检测步骤，根据判定步骤的判定结果从排列在垂直遮光像素区的像素中检测出不良像素；以及信号处理步骤，对已在箝位步骤中通过箝位装置将黑色电平值固定在基准值的垂直遮光像素区的像素信号执行预定的信号处理。

在本发明中，在黑色电平值被数字箝位器设置为0电平的VOPB区的像素信号中，不良排除器将超出预设阈值的像素信号视为不良信号。检测出对应于该不良信号的不良像素。排除这些不良像素带来的影响。通过列噪声分量检测器从排除了不良像素影响的像素信号中检测出列噪声分量。利用列噪声校正器根据列噪声分量来校正有效像素区的像素信号中的列噪声。因此，即使VOPB区存在不良像素，也可以正确地检测出列噪声，并正确地执行有效像素区的像素信号的列噪声校正。

附图说明

图1是表示固态图像摄取元件的结构的示意图；

图2是表示将固态图像摄取元件的像素部分为有效像素区、VOPB区、以及HOPB区时的情形的示意图；

图3是表示根据本发明的信号处理装置的结构的框图；

图4是表示将固态图像摄取元件的像素部分为有效像素区、VOPB区、以及HOPB区时的情形的示意图；

图5是表示固态图像摄取元件的结构的示意图；

图6是表示设置在固态图像摄取元件中的信号处理器的结构的框图；

图7是表示设置在固态图像摄取元件中的不良排除器的结构的框图；

图8是表示以0电平为中心、因列噪声和随机噪声而不同的VOPB区的像素信号的波形的曲线图；以及

图9是表示以列噪声量为中心、因列噪声而不同的VOPB区的像素信号的波形的曲线图。

具体实施方式

下面，对根据本发明实施例的图像处理装置和图像处理方法进行描述。

如图3所示，信号处理装置1包括：透镜10，用于汇聚入射光；快门11，用于在规定时间内使由透镜10会聚的光通过；固态图像摄取元件12，用于摄取作为光线经过透镜10和快门11进入的对象的图像；控制器13，用于控制快门11和固态图像摄取元件12；以及信号处理器14，用于对通过固态图像摄取元件12摄取的像素信号进行预定的信号处理。

物体发出的光经由包括透镜10和快门11的光学系统入射到固态图像摄取元件12。固态图像摄取元件12包括对物体的图像进行拍摄的像素部。如图4所示，该像素部由被光照射的有效像素区A、利用诸如铝薄膜等遮光板在数行到数十行的范围内遮挡光的照射的垂直光学黑体(下文称之为VOPB)区B、和利用诸如铝薄膜等遮光板在数列到数十列的范围内遮挡光的照射的水平光学黑体(下文称之为HOPB)区C构成。

控制器13控制快门11的开关操作。控制器13还控制固态图像摄取元件12，以使信号处理器14输出从排列在有效像素区A、VOPB区B、和HOPB区C中的像素选择性输出的像素信号S1。

参照图5对固态图像摄取元件12进行描述。固态图像摄取元件12包括：例如X-Y地址型的感光部15，如图5所示，该感光部根据光的照射存储电荷；像素部17，由输出存储在感光部15中的电荷、并排列成行列矩阵的像素晶体管16构成；垂直扫描电路19，向垂直选择线18施加脉冲信号，其中，每一条垂直选择线都与排列在像素部17的矩阵的每一行中的像素连接；相关双重取样电路(CDS)21，通过从垂直扫描电路19施加脉冲信号，从提供给垂直信号线20的信号中清除偏移信号，其中，每条垂直信号线20都与排列在像素部17的矩阵的每一列中的像素连接；晶体管23，用于向水平信号线22提供已通过CDS 21清除了偏移信号的信号；水平扫描电路25，通过水平选择线24将脉冲信号提供给晶体管23，以此向水平信号线22提供已通过CDS 21清除了偏移信号的信号；以及输出电路26，将提供给水平扫描电路25的信号提供给信号处理器14。

在这种X-Y地址型固态图像摄取元件12中，垂直信号线20在所排列的像素的每一列间都互不相同。因此，如果CDS 21和晶体管23间具有不同的特性，从输出电路26输出的像素信号会受到各列间不同的偏移的影响。每列的偏移会作为条纹状的固定模式噪声(下文称之为列噪声)显现在显示屏幕上，造成画质不好。位于固态图像摄取元件12后段的信号处理器14能够清除这种噪声。

接着，就信号处理器14的结构进行描述。如图6所示，信号处理器14包括：AFE(模拟前端)部30，用于将固态图像摄取元件12的输出信号转换成数字信号；数字箝位器31，用于对从AFE部30提供的像素信号的HOPB区C的黑色电平值执行减法处理；不良排除器32，用于从自数字箝位器31输出的、对应于VOPB区B的像素信号中排除不良像素的影响；列噪声分量检测器33，用于从已通过不良排除器32排除了不良信号的影响的VOPB区B的像素信号中检测出固定模式噪声(下面称之为列噪声分量)，并检测出VOPB区B的黑色电平值；行存储器34，用于存储通过列噪声分量检测器33检测出的列噪声分量；列噪声校正器35，根据保存在行存储器34中的列噪声分量，校正由AFE部30提供的有效像素区A的像素信号的列噪声分量；以及像机信号处理器36，对列噪声校正器35的输出信号执行预定的像机处理。

AFE部30将自固态图像摄取元件12提供的像素信号转换成数字信号，并输出经过转换的像素信号。

数字箝位器31从自AFE部30提供的像素信号中检测出HOPB区C的黑色电平值，并从有效像素区A和VOPB区B的像素信号中减去检测到的HOPB区C的黑色电平值。数字箝位器31将通过从VOPB区B的像素信号中减去HOPB区C的黑色电平值而获得的信号提供给不良排除器32。另一方面，数字箝位器31将通过从有效像素区A的像素信号中减去HOPB区C的黑色电平值而获得的信号提供给列噪声校正器35。

向不良排除器32提供的是由数字箝位器31提供的、通过从VOPB区B的像素信号中减去了HOPB区C的黑色电平值而获得的像素信号，并从提供的像素信号中排除不良像素带来的影响。不良排除器32将排除后的像素信号输出给列噪声分量检测器33。在此，参照图7对不良排除器32的结构进行描述。

如图7所示，不良排除器32包括：阈值确定部40，根据预设的基准值(具有该基准值的信号电平为0电平)确定阈值；判定部41，判定已通过数字箝位器31将其黑色电平值固定在预设的基准值的VOPB区B的像素信号是否超过了阈值确定部40所确定的阈值；不良像素检测器42，根据判定部41的判定结果，从排列在VOPB区B中的像素中检测出不良像素；以及处理器43，根据不良像素检测器42的检测结果，对由数字箝位器31提供的VOPB区B的像素信号进行预定的信号处理。

下面，将描述利用根据本发明的不良排除器32检测不良像素所采用的两种方法。

现对第一种检测方法进行说明。通过了数字箝位器31的像素信号的黑色电平值的信号电平为0电平。即，如图8所示，VOPB区B的像素信号具有以0电平为中心的变量，因列噪声及由暗电流等引起的随机噪声而不同。阈值确定部40参照列噪声及随机噪声的信号可能表现出的值来确定阈值。具有超过该阈值的值的像素被确定为不良像素。阈值的确定方法如下所述。对列噪声及随机噪声的信号进行加法处理。算出该加法处理得到的加和值的标准偏差。将该标准偏差的3倍范围作为阈值。在该方法中，99.5％的非不良像素能够在用于检测列噪声的运算中使用。

接着，对第二种检测方法进行描述。在信号处理装置1中，当检测VOPB区B的列噪声时，对每一列都进行检测。例如，在对多个帧检测列噪声的情况下，当在一个帧内可以利用正在计算中的列噪声时，将正在检测中的列噪声当作那一列的黑色电平。如果注意某特定列，如图9所示，像素信号以列噪声量为中心，具有与对应于随机噪声的量相当的不同状态。参照随机噪声可采取的值来确定阈值，超出该阈值的像素被当作不良像素。阈值的确定方法如下所述。算出随机噪声的标准偏差，将该标准偏差3倍的范围当作阈值。在该方法中，99.5％的非不良像素能够在用于检测列噪声的运算中使用。

此外，上述方法与事先存储不良像素的位置的方法不同，它能够进行恒定的检测。

接着，进一步描述如何处理检测出的不良像素的两种方法。

第一种方法是一种对被不良像素检测器42当作不良像素的像素的信号进行溢出限制(overflow limitation)的方法。例如，如图8所示，不良像素检测器42将偏离以0电平为中心的阈值的信号当作不良信号。不良像素检测器42将这些信号提供给处理器43。处理器43根据不良像素检测器42的检测结果，对由数字箝位器31提供的VOPB区B的像素信号进行预定的信号处理。例如，如图8所示，处理器43对具有大于由阈值确定部40确定的阈值1的信号电平的像素(导致白色缺陷的像素a)进行溢出限制。换句话说，处理器43执行使白色不良像素a的信号电平减少到阈值1的信号电平的处理。同样，处理器43对具有小于由阈值确定部40确定的阈值2的信号电平的像素(导致黑色缺陷的像素b)进行溢出限制。换句话说，处理器43执行使黑色不良像素b的信号电平增加到阈值2的信号电平的处理。

通过执行这种处理，可缩小白色及黑色不良像素的信号的绝对值，以将不良像素给列噪声检测带来的影响降至最低。

第二种处理方法是一种从VOPB区B的像素信号中清除被不良像素检测器42当作不良像素的像素的信号的方法。处理器43根据不良像素检测器42的检测结果，执行从由数字箝位器31提供的VOPB区B的像素信号中清除不良像素的信号的处理。

通过执行这种处理，可将不良像素给列噪声检测带来的影响降至最低。

接着，对阈值确定部40确定阈值的方法进行描述。

阈值确定部40根据像素部的列噪声量和随机噪声量确定阈值。然而，当检测排列在VOPB区B中的像素的列噪声时，算入了没有在该检测中使用的像素的像素数量。因此，在这种像素的数量较大的情况下，应执行控制使阈值范围扩大。这是因为如果在列噪声检测的运算中没有使用到的像素数量过多的话，将被运算的像素的样本数便会减少，从而降低了检测精度。如果被检测的不良信号的数量太少的话，则应根据不良像素检测器42的检测结果，执行控制使阈值范围缩小。这是因为不良像素给列噪声检测带来的影响很大，从而必须缩小阈值范围来提高检测精度。注意，阈值确定部40可以采用不良像素检测器42的检测结果被不断反馈这样的结构。

列噪声分量检测器33从由不良排除器32提供的信号中检测出列噪声分量。着眼于同一列中的像素具有相同的列噪声量，列噪声分量检测器33从已由不良排除器32排除了不良像素的影响的VOPB区B的像素信号中检测出列噪声分量。列噪声分量检测器33将该检测结果存储到行存储器34中。

在此，对由列噪声分量检测器33检测出VOPB区B的黑色电平值的差值的操作进行描述。如上所述，在数字箝位器31中，从VOPB区B的像素信号中减去了HOPB区C的黑色电平值。因此，如果HOPB区C和VOPB区B的黑色电平值没有差别，VOPB区B的黑色电平值就被列噪声分量检测器33检测为0。

另一方面，如果HOPB区C和VOPB区B的黑色电平值存在差异，则VOPB区B的黑色电平值将被列噪声检测器33检测为正值或负值。当VOPB区B的黑色电平值为正值时，表示VOPB区B的黑色电平值高于HOPB区C的黑色电平值，当VOPB区B的黑色电平值为负值时，这意味着VOPB区B的黑色电平值低于HOPB区C的黑色电平值。

因此，为了检测出HOPB区C和VOPB区B的黑色电平值的差值，由于HOPB区C的黑色电平值为0，所以列噪声分量检测器33只需检测出VOPB区B的黑色电平值。用于检测出VOPB区B的黑色电平值的方法可以采用对整个VOPB区B求积分，也可以采用对部分VOPB区B进行积分。

列噪声校正器35根据由列噪声分量检测器33检测出的噪声分量校正从排列在有效像素区A中的像素中输出的像素信号的列噪声。列噪声校正器35将校正后的信号提供给像机信号处理器36。像机信号处理器36对已通过列噪声校正器35进行过列噪声校正处理的信号执行预定的像机信号处理。

因此，在根据本发明的信号处理装置1中，在黑色电平值被数字箝位器31设置为0电平的VOPB区B的像素信号中，超出预设阈值的像素信号被不良排除器32当作不良信号。检测出与该不良信号对应的不良像素。排除该不良像素的影响。通过列噪声分量检测器33从排除了不良像素影响的像素信号中检测出列噪声分量。通过列噪声校正器35根据列噪声分量来校正有效像素区的像素信号中的列噪声。因此，即使VOPB区B存在不良像素，也可以正确地检测出列噪声，并正确地执行有效像素区A的像素信号的列噪声校正。

本发明并不限于上面参照附图描述的实施例。各种修改、替换、或等价物在不脱离权利要求和本发明的主题的情况下都是可行的。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种信号处理装置，包括：

固态图像摄取元件，所述固态图像摄取元件包括：

像素部，所述像素部包括均匀排列在行列矩阵中的多个像素，并且所述像素部包括被光照射的有效像素区和光的照射被遮挡的垂直遮光像素区，

垂直扫描电路，用于控制排列在同一行中并通过垂直选择线共同连接的像素的控制电极，

水平扫描电路，用于控制共同连接到排列在同一列中的像素的主电极上的垂直信号线的控制电极，从而以行为单位向水平信号线依次输出像素信号，所述像素信号经由所述垂直信号线输出，以及

输出电路，用于输出来自所述水平信号线的像素信号；

箝位装置，用于将从所述输出电路输出的所述垂直遮光像素区和所述有效像素区的像素信号的黑色电平值固定在预设的基准值；

阈值确定装置，用于根据所述预设的基准值确定阈值；

判定装置，用于判定已通过所述箝位装置将黑色电平值固定的所述垂直遮光像素区的像素信号是否超过由所述阈值确定装置确定的阈值；

不良像素检测装置，用于根据所述判定装置的判定结果，从排列在所述垂直遮光像素区中的像素中检测出不良像素；

信号处理装置，用于根据所述不良像素检测装置的检测结果对已通过所述箝位装置将黑色电平值固定为所述基准值的所述垂直遮光像素区的像素信号执行预定的信号处理；

列噪声分量检测装置，用于在通过所述信号处理装置已经执行了预定的处理之后，从所述垂直遮光像素区的像素信号中检测出列噪声分量；以及

列噪声校正装置，用于根据所述列噪声分量检测装置检测出的列噪声分量，校正包含在已通过所述箝位装置将黑色电平值固定为所述预设的基准值的所述有效像素区的像素信号中的列噪声。

2.根据权利要求1所述的信号处理装置，其中，所述阈值确定装置根据所述不良像素检测装置的检测结果改变阈值的范围。

3.根据权利要求1所述的信号处理装置，其中，所述信号处理装置根据所述不良像素检测装置检测出的不良像素，从已通过所述箝位装置将黑色电平值固定为所述基准值的所述垂直遮光像素区的像素信号中检测出不良信号，并使所述不良信号的信号值收敛于由所述阈值确定装置确定的阈值。

4.根据权利要求1所述的信号处理装置，其中，所述信号处理装置根据所述不良像素检测装置检测出的不良像素，从已通过所述箝位装置将黑色电平值固定为所述基准值的所述垂直遮光像素区的像素信号中检测出不良信号，并清除所述不良信号。

5.一种用于具有固态图像摄取元件的信号处理装置的信号处理方法，所述固态图像摄取元件包括：

像素部，所述像素部包括均匀排列在行列矩阵中的多个像素，并且所述像素部包括被光照射的有效像素区和光的照射被遮挡的垂直遮光像素区，

垂直扫描电路，用于控制排列在同一行中并通过垂直选择线共同连接的像素的控制电极，

水平扫描电路，用于控制共同连接到排列在同一列中的像素的主电极上的垂直信号线的控制电极，从而以行为单位向水平信号线依次输出像素信号，所述像素信号经由所述垂直信号线输出，以及

输出电路，用于输出来自所述水平信号线的像素信号；

所述信号处理方法包括以下步骤：

箝位步骤，将从所述输出电路输出的所述垂直遮光像素区和所述有效像素区的像素信号的黑色电平值固定在预设的基准值；

阈值确定步骤，根据所述预设的基准值确定阈值；

判定步骤，判定已在所述箝位步骤中将黑色电平值固定为所述基准值的所述垂直遮光像素区的像素信号是否超过了在所述阈值确定步骤中确定的阈值；

不良像素检测步骤，根据判定步骤的判定结果，从排列在所述垂直遮光像素区中的像素中检测出不良像素；

信号处理步骤，根据不良像素检测装置的检测结果，对已在所述箝位步骤中将黑色电平值固定为所述基准值的所述垂直遮光像素区的像素信号执行预定的信号处理；

列噪声分量检测步骤，在所述信号处理步骤中已执行了预定处理之后，从所述垂直遮光像素区的像素信号中检测出列噪声分量；以及

列噪声校正步骤，根据在所述列噪声分量检测步骤中检测出的列噪声分量，校正包含于已在所述箝位步骤中已将黑色电平值固定为所述预设的基准值的所述有效像素区的像素信号中的列噪声。

6.根据权利要求5所述的信号处理方法，其中，所述阈值决定步骤根据所述不良像素检测步骤的检测结果改变阈值的范围。

7.根据权利要求5所述的信号处理方法，其中，所述信号处理步骤根据在所述不良像素检测步骤中检测出的不良像素，从已在所述箝位步骤中将黑色电平值固定为所述基准值的所述垂直遮光像素区的像素信号中检测出不良信号，并将所述不良信号的信号值收敛于所述阈值确定步骤中所确定的阈值。

8.根据权利要求5所述的信号处理方法，其中，所述信号处理步骤根据在所述不良像素检测步骤中检测出的不良像素，从已在所述箝位步骤中将黑色电平值固定为所述基准值的所述垂直遮光像素区的像素信号中检测出不良信号，并清除所述不良信号。

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