KR100946536B1 - 광학적으로 검은 픽셀 및 결합된 픽셀을 모두 사용하여이미저에서 블랙 레벨을 설정하는 방법 및 장치 - Google Patents
광학적으로 검은 픽셀 및 결합된 픽셀을 모두 사용하여이미저에서 블랙 레벨을 설정하는 방법 및 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100946536B1 KR100946536B1 KR1020087016897A KR20087016897A KR100946536B1 KR 100946536 B1 KR100946536 B1 KR 100946536B1 KR 1020087016897 A KR1020087016897 A KR 1020087016897A KR 20087016897 A KR20087016897 A KR 20087016897A KR 100946536 B1 KR100946536 B1 KR 100946536B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- pixels
- pixel
- fixed
- row
- dark
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 23
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 13
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 42
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000003491 array Methods 0.000 claims 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000005055 memory storage Effects 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000008520 organization Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000011946 reduction process Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/67—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
- H04N25/671—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction
- H04N25/677—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction for reducing the column or line fixed pattern noise
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/63—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to dark current
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/63—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to dark current
- H04N25/633—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to dark current by using optical black pixels
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/76—Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/62—Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels
- H04N25/621—Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels for the control of blooming
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Picture Signal Circuits (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
Description
Claims (29)
- 복수의 픽셀 행 및 열로 구성된 픽셀의 활성 영역(active area); 및픽셀의 상기 활성 영역 인근에 있는 픽셀 행 및 픽셀 열 중 적어도 하나에 배열되고, 광학적으로 검은 픽셀(optically black pixels) 및 고정된 픽셀(tied pixels)을 포함하는 복수의 다크(dark) 픽셀을 포함하며, 상기 광학적으로 검은 픽셀은 광을 감지하는 것이 막힌 것이고, 상기 고정된 픽셀은 전압이 고정된 것인, 이미징 픽셀 어레이.
- 청구항 1에 있어서, 상기 복수의 다크 픽셀의 행에서의 상기 광학적으로 검은 픽셀 및 고정된 픽셀은 서양 장기판(checkerboard) 패턴으로 구성되는, 이미징 픽셀 어레이.
- 청구항 1에 있어서, 상기 복수의 다크 픽셀의 행의 각 행은 제 1 절반부와 제 2 절반부로 구성되고, 상기 제 1 절반부는 광학적으로 검은 픽셀을 포함하고, 상기 제 2 절반부는 고정된 픽셀을 포함하는, 이미징 픽셀 어레이.
- 청구항 3에 있어서, 상기 픽셀의 제 1 및 제 2 절반부는 인접한 다크 픽셀의 행의 교호하는 측 상에 위치하는, 이미징 픽셀 어레이.
- 청구항 1에 있어서, 상기 복수의 다크 픽셀의 행에서의 상기 광학적으로 검은 픽셀 및 상기 고정된 픽셀은 대칭하는 패턴으로 구성되는, 이미징 픽셀 어레이.
- 픽셀 어레이의 복수의 다크 픽셀의 행 중 적어도 하나로부터의 복수의 광학적으로 검은 픽셀 및 복수의 고정된 픽셀의 출력값을 기초로 블랙 레벨 정정값을 계산하는 블랙 레벨 정정 모듈을 포함하고, 상기 광학적으로 검은 픽셀은 광을 감지하는 것이 막힌 것이며, 상기 고정된 픽셀은 전압이 고정된 것인, 이미저를 위해 픽셀 정정값을 제공하는 장치.
- 청구항 6에 있어서, 상기 블랙 레벨 정정 모듈은,상기 복수의 다크 픽셀의 행에서 각 행에 대한 광학적으로 검은 픽셀의 평균적인 출력 및 고정된 픽셀의 평균적인 출력을 계산하는 평균화 모듈; 및상기 블랙 레벨 정정값을 결정된 차이의 평균으로서 계산하는 계산 모듈을 더 포함하는, 이미저를 위해 픽셀 정정값을 제공하는 장치.
- 청구항 6에 있어서, 상기 복수의 다크 픽셀의 행에서의 상기 광학적으로 검은 픽셀 및 고정된 픽셀은 서양 장기판(checkerboard) 패턴으로 구성되는, 이미저를 위해 픽셀 정정값을 제공하는 장치.
- 청구항 6에 있어서, 상기 복수의 다크 픽셀의 행의 각 행은 제 1 절반부 및 제 2 절반부로 구성되며, 상기 제 1 절반부는 광학적으로 검은 픽셀을 포함하고, 상기 제 2 절반부는 고정된 픽셀을 포함하는, 이미저를 위해 픽셀 정정값을 제공하는 장치.
- 청구항 9에 있어서, 상기 픽셀의 제 1 절반부 및 제 2 절반부는 인접한 다크 픽셀의 행의 교호하는 측 상에 위치하는, 이미저를 위해 픽셀 정정값을 제공하는 장치.
- 청구항 6에 있어서, 상기 복수의 다크 픽셀의 행에서의 상기 광학적으로 검은 픽셀 및 상기 고정된 픽셀은 대칭하는 패턴으로 구성되는, 이미저를 위해 픽셀 정정값을 제공하는 장치.
- 이미저의 픽셀 어레이에서의 복수의 다크 픽셀의 행에서 각 행에 대한 광학적으로 검은 픽셀의 평균적인 출력 및 고정된 픽셀의 평균적인 출력을 계산하고, 상기 광학적으로 검은 픽셀은 광을 감지하는 것이 막힌 것이며, 상기 고정된 픽셀은 전압이 고정된 것인 단계;각 행에 대한 상기 광학적으로 검은 픽셀의 평균적인 출력 및 상기 고정된 픽셀의 평균적인 출력 사이의 차이를 결정하는 단계;블랙 레벨 정정값을 생성하기 위해 상기 결정된 차이의 평균을 내는 단계; 및상기 복수의 다크 픽셀의 행에 위치하지 않은 상기 이미저의 픽셀 어레이에서 각 픽셀의 픽셀 출력을 정정하기 위해 상기 블랙 레벨 정정값을 사용하는 단계를 포함하는, 이미저의 픽셀 신호를 정정하는 방법.
- 청구항 12에 있어서, 각 행에 대한 상기 광학적으로 검은 픽셀의 평균적인 출력 및 상기 고정된 픽셀의 평균적인 출력은, 상기 복수의 다크 픽셀의 행 내에서 서양 장기판 패턴으로 배열된 복수의 광학적으로 검은 픽셀 및 고정된 픽셀로부터 계산되는, 이미저의 픽셀 신호를 정정하는 방법.
- 청구항 12에 있어서, 각 행에 대한 상기 광학적으로 검은 픽셀의 평균적인 출력 및 상기 고정된 픽셀의 평균적인 출력은, 상기 복수의 다크 픽셀 행 내에서 대칭하는 패턴으로 배열된 복수의 광학적으로 검은 픽셀 및 고정된 픽셀로부터 계산되는, 이미저의 픽셀 신호를 정정하는 방법.
- 픽셀의 행 및 열로 구성된 픽셀의 활성 영역; 및픽셀의 상기 활성 영역 인근에 있는 픽셀 행 및 픽셀 열 중 적어도 하나에 배열되고, 광학적으로 검은 픽셀 및 고정된 픽셀을 포함하는 복수의 다크 픽셀을 포함하며, 상기 광학적으로 검은 픽셀은 광을 감지하는 것이 막힌 것이고, 상기 고정된 픽셀은 전압이 고정된 것인,픽셀 어레이; 및상기 복수의 다크 픽셀의 행에서의 상기 광학적으로 검은 픽셀 및 상기 고정된 픽셀의 출력을 기초로 블랙 레벨 정정값을 계산하는 블랙 레벨 계산 모듈을 포함하는, 이미저.
- 청구항 15에 있어서, 상기 블랙 레벨 계산 모듈은,상기 복수의 다크 픽셀의 행에서 각 행에 대한 광학적으로 검은 픽셀의 평균적인 출력 및 고정된 픽셀의 평균적인 출력을 계산하는 평균화 모듈;각 행에 대한 상기 광학적으로 검은 픽셀의 평균적인 출력 및 상기 고정된 픽셀의 평균적인 출력 사이의 차이를 결정하는 비교 모듈; 및상기 블랙 레벨 정정값을 상기 결정된 차이의 평균으로서 계산하는 계산 모듈을 더 포함하는, 이미저.
- 청구항 15에 있어서, 상기 복수의 다크 픽셀의 행에서의 상기 광학적으로 검은 픽셀 및 고정된 픽셀은 서양 장기판 패턴으로 구성되는, 이미저.
- 청구항 15에 있어서, 상기 복수의 다크 픽셀의 행의 각 행은 제 1 절반부 및 제 2 절반부로 구성되고, 상기 제 1 절반부는 광학적으로 검은 픽셀을 포함하며, 상기 제 2 절반부는 고정된 픽셀을 포함하는, 이미저.
- 청구항 18에 있어서, 상기 픽셀의 제 1 절반부 및 제 2 절반부는 인접한 다크 픽셀의 행의 교호하는 측 상에 위치하는, 이미저.
- 청구항 15에 있어서, 상기 복수의 다크 픽셀의 행에서의 상기 광학적으로 검은 픽셀 및 상기 고정된 픽셀은 대칭하는 패턴으로 구성되는, 이미저.
- 픽셀의 행 및 열로 구성된 픽셀의 활성 영역; 및픽셀의 상기 활성 영역 인근에 있는 픽셀 행 및 픽셀 열 중 적어도 하나에 배열되고, 광학적으로 검은 픽셀 및 고정된 픽셀을 포함하는 복수의 다크 픽셀을 포함하며, 상기 광학적으로 검은 픽셀은 광을 감지하는 것이 막힌 것이고, 상기 고정된 픽셀은 전압이 고정된 것인,픽셀 어레이; 및상기 복수의 다크 픽셀의 행에서의 상기 광학적으로 검은 픽셀 및 상기 고정된 픽셀의 출력을 기초로 블랙 레벨 정정값을 계산하는 블랙 레벨 계산 모듈로 구성된이미저를 포함하는, 이미징 시스템.
- 청구항 21에 있어서, 상기 블랙 레벨 계산 모듈은,상기 복수의 다크 픽셀의 행에서의 각 행에 대한 광학적으로 검은 픽셀의 평균적인 출력 및 고정된 픽셀의 평균적인 출력을 계산하는 평균화 모듈;각 행에 대한 상기 광학적으로 검은 픽셀의 평균적인 출력과 상기 고정된 픽셀의 평균적인 출력 사이의 차이를 결정하는 비교 모듈; 및상기 블랙 레벨 정정값을 상기 결정된 차이의 평균으로서 계산하는 계산 모듈을 더 포함하는, 이미징 시스템.
- 청구항 21에 있어서, 상기 복수의 다크 픽셀의 행에서의 상기 광학적으로 검은 픽셀 및 고정된 픽셀은 서양 장기판 패턴으로 구성되는, 이미징 시스템.
- 청구항 21에 있어서, 상기 복수의 다크 픽셀의 행의 각 행은 제 1 절반부 및 제 2 절반부로 구성되고, 상기 제 1 절반부는 광학적으로 검은 픽셀을 포함하며, 상기 제 2 절반부는 고정된 픽셀을 포함하는, 이미징 시스템.
- 청구항 24에 있어서, 상기 픽셀의 제 1 및 제 2 절반부는 인접한 다크 픽셀의 행의 교호하는 측 상에 위치하는, 이미징 시스템.
- 청구항 21에 있어서, 상기 복수의 다크 픽셀의 행에서의 상기 광학적으로 검은 픽셀 및 상기 고정된 픽셀은 대칭하는 패턴으로 구성되는, 이미징 시스템.
- 픽셀 어레이에서의 복수의 다크 픽셀의 행에서 각 행에 대한 광학적으로 검은 픽셀의 평균적인 출력 및 고정된 픽셀의 평균적인 출력을 계산하고, 상기 광학적으로 검은 픽셀은 광을 감지하는 것이 막힌 것이며, 상기 고정된 픽셀은 전압이 고정된 것인 단계;각 행에 대한 상기 광학적으로 검은 픽셀의 평균적인 출력 및 상기 고정된 픽셀의 평균적인 출력 사이의 차이를 결정하는 단계;블랙 레벨 정정값을 생성하기 위해 상기 결정된 차이의 평균을 내는 단계; 및상기 복수의 다크 픽셀의 행에 위치하지 않은 상기 픽셀 어레이에서 각 픽셀의 픽셀 출력을 정정하기 위해 상기 블랙 레벨 정정값을 사용하는 단계를 실행하기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 매체.
- 청구항 27에 있어서, 각 행에 대한 상기 광학적으로 검은 픽셀의 평균적인 출력과 상기 고정된 픽셀의 평균적인 출력은 상기 복수의 다크 픽셀 행 내에서 서양 장기판 패턴으로 배열된 복수의 광학적으로 검은 픽셀 및 고정된 픽셀로부터 계산되는, 컴퓨터로 읽을 수 있는 매체.
- 청구항 27에 있어서, 각 행에 대한 상기 광학적으로 검은 픽셀의 평균적인 출력과 상기 고정된 픽셀의 평균적인 출력은 상기 복수의 다크 픽셀의 행 내에서 대칭하는 패턴으로 배열된 복수의 광학적으로 검은 픽셀 및 고정된 픽셀로부터 계산되는, 컴퓨터로 읽을 수 있는 매체.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/302,124 | 2005-12-14 | ||
US11/302,124 US7427735B2 (en) | 2005-12-14 | 2005-12-14 | Method and apparatus for setting black level in an imager using both optically black and tied pixels |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20080085163A KR20080085163A (ko) | 2008-09-23 |
KR100946536B1 true KR100946536B1 (ko) | 2010-03-11 |
Family
ID=37845155
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020087016897A KR100946536B1 (ko) | 2005-12-14 | 2006-12-11 | 광학적으로 검은 픽셀 및 결합된 픽셀을 모두 사용하여이미저에서 블랙 레벨을 설정하는 방법 및 장치 |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7427735B2 (ko) |
EP (1) | EP1961208B1 (ko) |
JP (1) | JP4798400B2 (ko) |
KR (1) | KR100946536B1 (ko) |
CN (1) | CN101361360B (ko) |
AT (1) | ATE451788T1 (ko) |
DE (1) | DE602006011051D1 (ko) |
TW (1) | TWI327375B (ko) |
WO (1) | WO2007070461A1 (ko) |
Families Citing this family (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7564489B1 (en) * | 2005-02-18 | 2009-07-21 | Crosstek Capital, LLC | Method for reducing row noise with dark pixel data |
US7427735B2 (en) * | 2005-12-14 | 2008-09-23 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for setting black level in an imager using both optically black and tied pixels |
KR100955637B1 (ko) * | 2005-12-27 | 2010-05-06 | 후지쯔 마이크로일렉트로닉스 가부시키가이샤 | 고체 촬상 소자 및 암전류 성분 제거 방법 |
JP4607773B2 (ja) * | 2006-01-19 | 2011-01-05 | 富士フイルム株式会社 | 撮像素子および撮像システム |
US20080204578A1 (en) * | 2007-02-23 | 2008-08-28 | Labsphere, Inc. | Image sensor dark correction method, apparatus, and system |
US20080239111A1 (en) * | 2007-03-26 | 2008-10-02 | Micron Technology, Inc. | Method and appratus for dark current compensation of imaging sensors |
US20100045642A1 (en) * | 2007-05-18 | 2010-02-25 | Masakazu Satoh | Display device |
EP2148237B1 (en) * | 2007-05-18 | 2013-05-15 | Sharp Kabushiki Kaisha | Display device |
WO2008143211A1 (ja) * | 2007-05-18 | 2008-11-27 | Sharp Kabushiki Kaisha | 表示装置 |
US7999866B2 (en) * | 2007-05-21 | 2011-08-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Imaging apparatus and processing method thereof |
US7924330B2 (en) * | 2007-12-20 | 2011-04-12 | Aptina Imaging Corporation | Methods and apparatuses for double sided dark reference pixel row-wise dark level non-uniformity compensation in image signals |
US8089532B2 (en) * | 2008-01-25 | 2012-01-03 | Aptina Imaging Corporation | Method and apparatus providing pixel-wise noise correction |
KR100962005B1 (ko) | 2008-01-30 | 2010-06-08 | (주) 픽셀플러스 | 이미지 센서 픽셀 어레이 |
US8970707B2 (en) * | 2008-12-17 | 2015-03-03 | Sony Computer Entertainment Inc. | Compensating for blooming of a shape in an image |
TWI393428B (zh) * | 2009-04-20 | 2013-04-11 | Pixart Imaging Inc | 影像校正方法及使用此方法的影像處理系統 |
GB0920930D0 (en) * | 2009-11-30 | 2010-01-13 | St Microelectronics Res & Dev | Method and system for x-droop correction in solid state image sensor |
US8199225B2 (en) * | 2009-12-31 | 2012-06-12 | Omnivision Technologies, Inc. | Generating column offset corrections for image sensors |
JP2012015587A (ja) * | 2010-06-29 | 2012-01-19 | Toshiba Corp | 固体撮像装置 |
JP6052622B2 (ja) * | 2011-04-22 | 2016-12-27 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 固体撮像装置及びその駆動方法 |
US20130015322A1 (en) * | 2011-07-13 | 2013-01-17 | Analog Devices, Inc. | Apparatus and method for reducing common-mode error |
US9232159B2 (en) * | 2012-09-20 | 2016-01-05 | Semiconductor Components Industries, Llc | Imaging systems with crosstalk calibration pixels |
KR102072359B1 (ko) * | 2013-02-27 | 2020-02-03 | 삼성전자 주식회사 | 이미지 센서 |
CN104349085B (zh) * | 2013-07-26 | 2017-09-22 | 恒景科技股份有限公司 | 黑阶调整装置及黑阶调整方法 |
CN104125421B (zh) * | 2014-07-02 | 2018-08-14 | 江苏思特威电子科技有限公司 | Cmos图像传感器及其行噪声校正方法 |
US10694128B2 (en) * | 2015-07-23 | 2020-06-23 | Sony Corporation | Solid-state image pickup apparatus and driving method for solid-state image pickup apparatus |
CN105262963B (zh) * | 2015-10-15 | 2018-10-16 | 上海集成电路研发中心有限公司 | 暗像素阵列、替换控制电路系统及方法 |
KR102351950B1 (ko) * | 2017-06-30 | 2022-01-18 | 삼성전자주식회사 | 이미지 신호 프로세서를 포함하는 전자 장치 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20030184666A1 (en) * | 2002-03-29 | 2003-10-02 | Wan-Hee Jo | Image sensor having pixel array and method for automatically compensating black level of the same |
US20050243193A1 (en) * | 2004-04-30 | 2005-11-03 | Bob Gove | Suppression of row-wise noise in an imager |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5471515A (en) | 1994-01-28 | 1995-11-28 | California Institute Of Technology | Active pixel sensor with intra-pixel charge transfer |
US6522355B1 (en) * | 1997-04-10 | 2003-02-18 | Texas Instruments Incorporated | Digital nonuniformity correction for image sensors |
US6529242B1 (en) | 1998-03-11 | 2003-03-04 | Micron Technology, Inc. | Look ahead shutter pointer allowing real time exposure control |
US6473124B1 (en) | 1998-04-23 | 2002-10-29 | Micron Technology, Inc. | RAM line storage for fixed pattern noise correction |
US6791619B1 (en) * | 1998-09-01 | 2004-09-14 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | System and method for recording management data for management of solid-state electronic image sensing device, and system and method for sensing management data |
JP3870137B2 (ja) * | 2001-08-02 | 2007-01-17 | キヤノン株式会社 | 固体撮像装置及び固体撮像システム |
US7084912B2 (en) | 2001-09-20 | 2006-08-01 | Yuen-Shung Chieh | Method for reducing coherent row-wise and column-wise fixed pattern noise in CMOS image sensors |
JP2004112474A (ja) * | 2002-09-19 | 2004-04-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 固体撮像装置 |
JP4517660B2 (ja) * | 2004-02-09 | 2010-08-04 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置、画像入力装置および固体撮像素子の駆動方法 |
JP4345004B2 (ja) | 2004-04-23 | 2009-10-14 | ソニー株式会社 | 光学的黒レベル調整回路 |
US7920185B2 (en) * | 2004-06-30 | 2011-04-05 | Micron Technology, Inc. | Shielding black reference pixels in image sensors |
US7427735B2 (en) * | 2005-12-14 | 2008-09-23 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for setting black level in an imager using both optically black and tied pixels |
-
2005
- 2005-12-14 US US11/302,124 patent/US7427735B2/en active Active
-
2006
- 2006-12-11 AT AT06845185T patent/ATE451788T1/de not_active IP Right Cessation
- 2006-12-11 EP EP06845185A patent/EP1961208B1/en active Active
- 2006-12-11 WO PCT/US2006/047179 patent/WO2007070461A1/en active Application Filing
- 2006-12-11 DE DE602006011051T patent/DE602006011051D1/de active Active
- 2006-12-11 CN CN2006800510991A patent/CN101361360B/zh active Active
- 2006-12-11 JP JP2008545710A patent/JP4798400B2/ja active Active
- 2006-12-11 KR KR1020087016897A patent/KR100946536B1/ko active IP Right Grant
- 2006-12-14 TW TW095146873A patent/TWI327375B/zh active
-
2008
- 2008-08-18 US US12/222,857 patent/US7800042B2/en active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20030184666A1 (en) * | 2002-03-29 | 2003-10-02 | Wan-Hee Jo | Image sensor having pixel array and method for automatically compensating black level of the same |
US20050243193A1 (en) * | 2004-04-30 | 2005-11-03 | Bob Gove | Suppression of row-wise noise in an imager |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20080315073A1 (en) | 2008-12-25 |
CN101361360B (zh) | 2011-05-18 |
WO2007070461A1 (en) | 2007-06-21 |
KR20080085163A (ko) | 2008-09-23 |
EP1961208A1 (en) | 2008-08-27 |
EP1961208B1 (en) | 2009-12-09 |
US7427735B2 (en) | 2008-09-23 |
TW200735337A (en) | 2007-09-16 |
DE602006011051D1 (de) | 2010-01-21 |
JP4798400B2 (ja) | 2011-10-19 |
ATE451788T1 (de) | 2009-12-15 |
CN101361360A (zh) | 2009-02-04 |
US20070131846A1 (en) | 2007-06-14 |
US7800042B2 (en) | 2010-09-21 |
JP2009520402A (ja) | 2009-05-21 |
TWI327375B (en) | 2010-07-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100946536B1 (ko) | 광학적으로 검은 픽셀 및 결합된 픽셀을 모두 사용하여이미저에서 블랙 레벨을 설정하는 방법 및 장치 | |
EP3499873B1 (en) | Correction for variations in received light amount in photon counting image sensor | |
US7999866B2 (en) | Imaging apparatus and processing method thereof | |
JP4351658B2 (ja) | メモリ容量低減化方法、メモリ容量低減化雑音低減化回路及びメモリ容量低減化装置 | |
US9832402B2 (en) | Row and column noise correction with defective pixel processing | |
US9930264B2 (en) | Method and apparatus providing pixel array having automatic light control pixels and image capture pixels | |
EP2519932B1 (en) | Generating column offset corrections for image sensors | |
US20060262210A1 (en) | Method and apparatus for column-wise suppression of noise in an imager | |
US20090278963A1 (en) | Apparatus and method for column fixed pattern noise (FPN) correction | |
WO2007139788A1 (en) | Image sensor with built-in thermometer for global black level calibration and temperature-dependent color correction | |
EP1872572B1 (en) | Generation and strorage of column offsets for a column parallel image sensor | |
KR20110040745A (ko) | 고체 촬상 장치 | |
US10397504B2 (en) | Correcting lag in imaging devices | |
US8400534B2 (en) | Noise reduction methods and systems for imaging devices | |
JP7134786B2 (ja) | 撮像装置および制御方法 | |
JP2008236787A (ja) | 固体撮像装置及びその固定パターン雑音除去方法 | |
JP2007081453A (ja) | 撮像装置及び信号処理方法並びにプログラム | |
WO2008118155A1 (en) | Method, apparatus and system providing column shading correction for image sensor arrays | |
Zin et al. | Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A | |
JP2010171605A (ja) | 撮像装置及び信号補正方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130201 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140204 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150130 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160127 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170202 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180219 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190218 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20200218 Year of fee payment: 11 |