WO2017170466A1 - パターン形成方法、加工基板の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、電子部品の製造方法、インプリントモールドの製造方法 - Google Patents

パターン形成方法、加工基板の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、電子部品の製造方法、インプリントモールドの製造方法 Download PDF

Info

Publication number
WO2017170466A1
WO2017170466A1 PCT/JP2017/012507 JP2017012507W WO2017170466A1 WO 2017170466 A1 WO2017170466 A1 WO 2017170466A1 JP 2017012507 W JP2017012507 W JP 2017012507W WO 2017170466 A1 WO2017170466 A1 WO 2017170466A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
component
curable composition
mold
substrate
pattern
Prior art date
Application number
PCT/JP2017/012507
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
智教 大谷
伊藤　俊樹
Original Assignee
キヤノン株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by キヤノン株式会社 filed Critical キヤノン株式会社
Priority to KR1020187030447A priority Critical patent/KR102208977B1/ko
Priority to JP2018508023A priority patent/JP7086841B2/ja
Publication of WO2017170466A1 publication Critical patent/WO2017170466A1/ja

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/0002—Lithographic processes using patterning methods other than those involving the exposure to radiation, e.g. by stamping
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09D—COATING COMPOSITIONS, e.g. PAINTS, VARNISHES OR LACQUERS; FILLING PASTES; CHEMICAL PAINT OR INK REMOVERS; INKS; CORRECTING FLUIDS; WOODSTAINS; PASTES OR SOLIDS FOR COLOURING OR PRINTING; USE OF MATERIALS THEREFOR
    • C09D4/00—Coating compositions, e.g. paints, varnishes or lacquers, based on organic non-macromolecular compounds having at least one polymerisable carbon-to-carbon unsaturated bond ; Coating compositions, based on monomers of macromolecular compounds of groups C09D183/00 - C09D183/16
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09D—COATING COMPOSITIONS, e.g. PAINTS, VARNISHES OR LACQUERS; FILLING PASTES; CHEMICAL PAINT OR INK REMOVERS; INKS; CORRECTING FLUIDS; WOODSTAINS; PASTES OR SOLIDS FOR COLOURING OR PRINTING; USE OF MATERIALS THEREFOR
    • C09D11/00—Inks
    • C09D11/02—Printing inks
    • C09D11/10—Printing inks based on artificial resins
    • C09D11/101—Inks specially adapted for printing processes involving curing by wave energy or particle radiation, e.g. with UV-curing following the printing
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09D—COATING COMPOSITIONS, e.g. PAINTS, VARNISHES OR LACQUERS; FILLING PASTES; CHEMICAL PAINT OR INK REMOVERS; INKS; CORRECTING FLUIDS; WOODSTAINS; PASTES OR SOLIDS FOR COLOURING OR PRINTING; USE OF MATERIALS THEREFOR
    • C09D11/00—Inks
    • C09D11/30—Inkjet printing inks
    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/16—Coating processes; Apparatus therefor
    • G03F7/162—Coating on a rotating support, e.g. using a whirler or a spinner

Definitions

  • the present invention relates to a pattern forming method, a processed substrate manufacturing method, an optical component manufacturing method, a circuit board manufacturing method, an electronic component manufacturing method, and an imprint mold manufacturing method.
  • the photocurable composition is cured in a state where a mold (mold) having a fine uneven pattern formed on the surface is pressed against a substrate (wafer) coated with the photocurable composition (resist).
  • corrugated pattern of a mold is transcribe
  • a fine structure of the order of several nanometers can be formed on a substrate.
  • the liquid resist 102 is discretely dropped onto the pattern formation region on the substrate 101 by using an inkjet method (arrangement step (1), FIGS. 1A to 1C).
  • the dropped droplet of the resist 102 spreads on the substrate 101 as shown by the arrow 104 indicating the direction of spreading of the droplet, and this phenomenon is called pre-spread (FIG. 1C).
  • this resist 102 is molded using a mold (mold) 105 on which a pattern is formed and which is transparent to irradiation light 106 described later (mold contact step (2), FIG. 1D and a partially enlarged portion).
  • the resist droplet spreads over the entire gap between the substrate 101 and the mold 105 as indicated by an arrow 104 indicating the direction in which the droplet spreads (FIG. 1D). This phenomenon is called spread.
  • the resist 102 is filled into the concave portion on the mold 105 as indicated by the arrow 104 indicating the direction in which the droplet spreads (partial enlarged portion in FIG. 1D). This filling phenomenon is called fill.
  • the time until the spread and fill are completed is called the filling time.
  • the resist 102 is cured by irradiating the irradiation light 106 (light irradiation step (3), FIG.
  • FIG. 1F a photocured film 107 having a predetermined pattern shape is formed on the substrate 101.
  • SST-NIL short spread time nanoimprint technology
  • a first lamination step (1) (FIGS. 2A and 2B) of laminating a liquid curable composition (A1) 202 on a substrate 201;
  • a second lamination step (2) (FIGS.
  • a series of process units from the second lamination process (2) to the release process (5) is referred to as “shot”, and the mold 205 is in contact with the curable compositions (A1) 202 and (A2) 203.
  • a region where a pattern is formed on the substrate 201 is referred to as a “shot region”.
  • SST-NIL As indicated by an arrow 204, the droplets of the curable composition (A 2) 203 that are discretely dropped are shown in the direction in which the droplets spread on the liquid film of the curable composition (A 1) 202. Therefore, the filling time is short and the throughput is high. The detailed mechanism of SST-NIL will be described later.
  • the problems of conventional optical nanoimprint technology will be described with reference to schematic cross-sectional views of FIGS. 3A to 3D.
  • the curable composition (A2) 303 discretely dropped onto the shot region 304 on the substrate 301 in the stacking step (1) (FIG. 3A) of FIGS. 3A to 3C is obtained in the mold contact step (2) (FIG. 3B). It is sandwiched between the mold 305 and the substrate 301 and cured in the subsequent light irradiation step (3) (FIG. 3C). And the mold 305 is pulled away from the layer which consists of a curable composition after hardening by the mold release process (4) of FIG. 3D.
  • the present inventors have a slow spread and fill in the mold contact step (2), so that an unfilled portion 306 is generated in the light irradiation step (3), and finally an unfilled defect 307 occurs after the mold release step (4). I found a problem to occur. Alternatively, it has been found that if the filling time is increased in order not to generate the unfilled defect 307, the productivity is lowered as a result, and in particular, the feature of high throughput of SST-NIL is not utilized.
  • the pattern forming method according to the present invention includes: A first laminating step (1) for laminating a layer composed of a curable composition (A1) containing at least a polymerizable compound (a1) and a component (e1) on the surface of the substrate; Second laminating step of laminating droplets of the curable composition (A2) containing at least the component (a2) which is a polymerizable compound on the layer composed of the curable composition (A1). 2),
  • the curable composition (A1) contains at least a component (a1) that is a polymerizable compound and a component (e1) that is a compound having a higher surface tension than the component (a1) that is a polymerizable compound.
  • the curable composition (A2) contains at least a component (a2) that is a polymerizable compound.
  • the surface tension of the curable composition (A1) is higher than the surface tension of the curable composition (A2).
  • the curable composition (A1) may further contain a component (c1) that is a non-polymerizable compound and a component (d1) that is a solvent.
  • the curable composition (A2) may further contain a component (b2) that is a photopolymerization initiator, a component (c2) that is a non-polymerizable compound, and a component (d2) that is a solvent.
  • component (a) indicates “components (a1) and (a2)”.
  • the notation of component (a1) means the component (a) contained in the curable composition (A1)
  • the notation of component (a2) means the component (a) contained in the curable composition (A2).
  • component (b) means the component (a) contained in the curable composition (A2)
  • component (c) means the component (a) contained in the curable composition (A2).
  • Component (a) is a polymerizable compound.
  • the polymerizable compound means a film made of a high molecular compound by a chain reaction (polymerization reaction) by reacting with a polymerization factor (radical etc.) generated from the component (b) which is a photopolymerization initiator. It is a compound that forms. Examples of such a polymerizable compound include a radical polymerizable compound.
  • Component (a1) and component (a2) may be composed of the same compound or may be composed of different compounds.
  • the component (a1) and the component (a2) may be composed of only one type of polymerizable compound or may be composed of a plurality of types of polymerizable compounds.
  • the radical polymerizable compound is preferably a compound having at least one acryloyl group or methacryloyl group, that is, a (meth) acrylic compound.
  • the curable compositions (A1) and (A2) according to the present embodiment preferably include a (meth) acrylic compound as the component (a1) and the component (a2), and the component (a1) and the component (a2).
  • the main component is more preferably a (meth) acrylic compound, and most preferably all of the component (a1) is a (meth) acrylic compound.
  • the main component of the component (a1) and the component (a2) described here is a (meth) acryl compound, and 90% by weight or more of the component (a1) and the component (a2) is a (meth) acryl compound. It shows that there is.
  • the radically polymerizable compound is composed of a plurality of types of compounds having one or more acryloyl groups or methacryloyl groups, it is preferable to include a monofunctional (meth) acryl monomer and a polyfunctional (meth) acryl monomer. This is because a cured film having high mechanical strength can be obtained by combining a monofunctional (meth) acrylic monomer and a polyfunctional (meth) acrylic monomer.
  • Examples of monofunctional (meth) acrylic compounds having one acryloyl group or methacryloyl group include phenoxyethyl (meth) acrylate, phenoxy-2-methylethyl (meth) acrylate, phenoxyethoxyethyl (meth) acrylate, and 3-phenoxy.
  • Examples of the polyfunctional (meth) acrylic compound having two or more acryloyl groups or methacryloyl groups include trimethylolpropane di (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, and EO-modified trimethylolpropane tri (meth) ) Acrylate, PO-modified trimethylolpropane tri (meth) acrylate, EO, PO-modified trimethylolpropane tri (meth) acrylate, dimethyloltricyclodecane di (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, pentaerythritol tetra ( (Meth) acrylate, ethylene glycol di (meth) acrylate, tetraethylene glycol di (meth) acrylate, polyethylene glycol di (meth) acrylate, polypropylene Recall di (meth) acrylate, 1,4-butanedio
  • UV SA1002 As a commercial item of the said polyfunctional (meth) acryl compound, Iupimer (trademark) UV SA1002, SA2007 (above, Mitsubishi Chemical make), Biscote # 195, # 230, # 215, # 260, # 335HP, # 295, # 300, # 360, # 700, GPT, 3PA (above, manufactured by Osaka Organic Chemical Industry), Light Acrylate 4EG-A, 9EG-A, NP-A, DCP-A, BP-4EA, BP-4PA, TMP- A, PE-3A, PE-4A, DPE-6A (manufactured by Kyoeisha Chemical), KAYARAD (registered trademark) PET-30, TMPTA, R-604, DPHA, DPCA-20, -30, -60, -120 HX-620, D-310, D-330 (Nippon Kayaku Co., Ltd.), Aronix (registered trademark) M208, M210, M215 M220, M240, M305,
  • (meth) acrylate means acrylate or methacrylate having an alcohol residue equivalent thereto.
  • the (meth) acryloyl group means an acryloyl group or a methacryloyl group having an alcohol residue equivalent thereto.
  • EO represents ethylene oxide
  • EO-modified compound A refers to a compound in which the (meth) acrylic acid residue and alcohol residue of compound A are bonded via a block structure of an ethylene oxide group.
  • PO represents propylene oxide
  • PO-modified compound B refers to a compound in which the (meth) acrylic acid residue and alcohol residue of compound B are bonded via a block structure of a propylene oxide group.
  • the compounding ratio in the curable composition (A1) of the component (a1) which is a polymerizable compound is the total weight of the component (a1), the component (b1), the component (c1) and the component (e1), that is, the component which is a solvent. It is good in it being 50 to 100 weight% with respect to the total weight of the component of the curable composition (A1) except (d1). Further, it is preferably 80% by weight or more and 100% by weight or less, more preferably more than 90% by weight and 100% by weight or less.
  • the blending ratio of the component (a1) which is a polymerizable compound in the curable composition (A1) is 50% by weight with respect to the total weight of the component (a1), the component (b1), the component (c1) and the component (e1).
  • the cured film obtained can be a cured film having a certain degree of mechanical strength.
  • the curable composition (A1) preferably contains the component (d1), and the component (a1) is a component of the curable composition (A1) containing the component (d1) which is a solvent. It is good that it is 0.01 weight% or more and 10 weight% or less with respect to the total weight.
  • Component (b) is a photopolymerization initiator.
  • the photopolymerization initiator is a compound that generates the polymerization factor (radical) by sensing light of a predetermined wavelength.
  • the photopolymerization initiator is a polymerization initiator (radical generator) that generates radicals by light (infrared rays, visible rays, ultraviolet rays, far ultraviolet rays, charged particle beams such as X-rays, electron beams, etc., radiation). It is.
  • the component (b) may be composed of one kind of photopolymerization initiator or may be composed of a plurality of kinds of photopolymerization initiators.
  • radical generator examples include 2- (o-chlorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2- (o-chlorophenyl) -4,5-di (methoxyphenyl) imidazole dimer, 2- May have a substituent such as (o-fluorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2- (o- or p-methoxyphenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 4,5-triarylimidazole dimer; benzophenone, N, N′-tetramethyl-4,4′-diaminobenzophenone (Michler ketone), N, N′-tetraethyl-4,4′-diaminobenzophenone, 4-methoxy -4'-dimethylaminobenzophenone, 4-chlorobenzophenone, 4,4'-dimethoxybenzophenone, 4,4'-diamy Benz
  • Benzoin methyl Benzoin ether derivatives such as ether, benzoin ethyl ether and benzoin phenyl ether; benzoin derivatives such as benzoin, methyl benzoin, ethyl benzoin and propyl benzoin; benzyl derivatives such as benzyl dimethyl ketal; 9-phenylacridine, 1,7-bis (9 , 9′-acridinyl) heptane derivatives; N-phenylglycine derivatives such as N-phenylglycine; acetophenone, 3-methylacetophenone, acetophenone benzyl ketal, 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone, 2,2-dimethoxy-2- Acetophenone derivatives such as phenylacetophenone; thioxanthone such as thioxanthone, diethylthioxanthone, 2-isopropylthioxanthone,
  • Examples of commercially available radical generators include Irgacure 184, 369, 651, 500, 819, 907, 784, 2959, CGI-1700, -1750, -1850, CG24-61, Darocur 1116, 1173, Lucirin (registered trademark). Examples include, but are not limited to, TPO, LR8883, LR8970 (above, manufactured by BASF), Ubekrill P36 (manufactured by UCB), and the like.
  • the component (b) is preferably an acyl phosphine oxide polymerization initiator.
  • acylphosphine oxide polymerization initiators are 2,4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide, bis (2,4,6-trimethylbenzoyl) phenylphosphine oxide, bis (2 , 6-dimethoxybenzoyl) -2,4,4-trimethylpentylphosphine oxide.
  • the curable composition (A1) has substantially no photoreactivity.
  • the compounding ratio in the curable composition (A1) of the component (b1) that is the photopolymerization initiator is the sum of the component (a1), the component (b1), the component (c1), and the component (e1) described later.
  • the weight that is, less than 0.1% by weight based on the total weight of the components of the curable composition (A1) excluding the solvent component (d1).
  • it is 0.01 weight% or less, More preferably, it is 0.001 weight% or less.
  • the blending ratio of the component (b2), which is a photopolymerization initiator, in the curable composition (A2) is the total weight of the component (a2), the component (b2), and the component (c2) described later, that is, the solvent component (d2). It is good in it being 0.1 weight% or more and 50 weight% or less with respect to the total weight of the component of the curable composition (A2) except. Further, it is preferably 0.1% by weight or more and 20% by weight or less, and more preferably 1% by weight or more and 10% by weight or less.
  • the blending ratio of the component (b2) in the curable composition (A2) By setting the blending ratio of the component (b2) in the curable composition (A2) to 0.1% by weight or more based on the total weight of the component (a2), the component (b2), and the component (c2), The curing speed is increased and the reaction efficiency can be improved. Further, by setting the blending ratio of the component (b2) to 50% by weight or less with respect to the total weight of the component (a2), the component (b2), and the component (c2), the obtained cured film has a certain degree of mechanical strength. It can be set as the cured film which has.
  • Non-polymerizable compound Non-polymerizable compound
  • the component (c) which is a nonpolymerizable compound can be contained.
  • Such a component (c) does not have a polymerizable functional group such as a (meth) acryloyl group, and has the ability to generate the polymerization factor (radical) by sensing light of a predetermined wavelength.
  • No compound. Examples include sensitizers, hydrogen donors, internal release agents, surfactants, antioxidants, polymer components, and other additives. You may contain multiple types of the said compound as a component (c).
  • a sensitizer is a compound added as appropriate for the purpose of promoting the polymerization reaction or improving the reaction conversion rate.
  • the sensitizer include sensitizing dyes.
  • the sensitizing dye is a compound that is excited by absorbing light of a specific wavelength and interacts with the component (b) that is a photopolymerization initiator.
  • the interaction described here is an energy transfer, an electron transfer, etc. from the sensitizing dye of an excited state to the component (b) which is a photoinitiator.
  • sensitizing dyes include anthracene derivatives, anthraquinone derivatives, pyrene derivatives, perylene derivatives, carbazole derivatives, benzophenone derivatives, thioxanthone derivatives, xanthone derivatives, coumarin derivatives, phenothiazine derivatives, camphorquinone derivatives, acridine dyes, thiopyrylium salt series Dyes, merocyanine dyes, quinoline dyes, styrylquinoline dyes, ketocoumarin dyes, thioxanthene dyes, xanthene dyes, oxonol dyes, cyanine dyes, rhodamine dyes, pyrylium salt dyes, etc. It is not limited to these.
  • a sensitizer may be used individually by 1 type and may be used in mixture of 2 or more types.
  • the hydrogen donor is a compound that reacts with an initiation radical generated from the component (b) that is a photopolymerization initiator or a radical at a polymerization growth terminal to generate a radical having higher reactivity. It is preferable to add when the component (b) which is a photoinitiator is a photoradical generator.
  • Specific examples of such a hydrogen donor include n-butylamine, di-n-butylamine, allylthiourea, triethylamine, triethylenetetramine, 4,4′-bis (dialkylamino) benzophenone, N, N-dimethylaminobenzoic acid.
  • the hydrogen donor one kind may be used alone, or two or more kinds may be mixed and used. Further, the hydrogen donor may have a function as a sensitizer.
  • an internal additive releasing agent can be added to the curable composition.
  • the internally added type means that it is added to the curable composition in advance before the step of arranging the curable composition.
  • the internal release agent include surfactants such as silicone surfactants, fluorine surfactants, and hydrocarbon surfactants.
  • the internally added mold release agent is not polymerizable.
  • Fluorosurfactants include polyalkylene oxide (polyethylene oxide, polypropylene oxide, etc.) adducts of alcohols having a perfluoroalkyl group, polyalkylene oxide (polyethylene oxide, polypropylene oxide, etc.) adducts of perfluoropolyether, etc. included.
  • the fluorine-based surfactant may have a hydroxyl group, an alkoxy group, an alkyl group, an amino group, a thiol group, or the like as part of the molecular structure (for example, a terminal group).
  • a commercially available product may be used as the fluorosurfactant.
  • Commercially available products include, for example, MegaFace (registered trademark) F-444, TF-2066, TF-2067, TF-2068 (above, manufactured by DIC), Florard FC-430, FC-431 (above, manufactured by Sumitomo 3M) , Surflon (registered trademark) S-382 (manufactured by AGC), EFTOP EF-122A, 122B, 122C, EF-121, EF-126, EF-127, MF-100 (above, manufactured by Tochem Products), PF-636 , PF-6320, PF-656, PF-6520 (above, OMNOVA Solutions), Unidyne (registered trademark) DS-401, DS-403, DS-451 (above, manufactured by Daikin Industries), Footent (registered trademark) 250, 251, 222F, 208G (Neos).
  • the internally added mold release agent may be a hydrocarbon surfactant.
  • the hydrocarbon-based surfactant include an alkyl alcohol polyalkylene oxide adduct obtained by adding an alkylene oxide having 2 to 4 carbon atoms to an alkyl alcohol having 1 to 50 carbon atoms.
  • alkyl alcohol polyalkylene oxide adduct examples include methyl alcohol ethylene oxide adduct, decyl alcohol ethylene oxide adduct, lauryl alcohol ethylene oxide adduct, cetyl alcohol ethylene oxide adduct, stearyl alcohol ethylene oxide adduct, stearyl alcohol ethylene oxide adduct / Examples thereof include propylene oxide adducts.
  • the terminal group of the alkyl alcohol polyalkylene oxide adduct is not limited to a hydroxyl group that can be produced by simply adding a polyalkylene oxide to an alkyl alcohol.
  • This hydroxyl group may be substituted with other substituents, for example, a polar functional group such as a carboxyl group, an amino group, a pyridyl group, a thiol group, and a silanol group, and a hydrophobic functional group such as an alkyl group and an alkoxy group.
  • a polar functional group such as a carboxyl group, an amino group, a pyridyl group, a thiol group, and a silanol group
  • a hydrophobic functional group such as an alkyl group and an alkoxy group.
  • alkyl alcohol polyalkylene oxide adduct a commercially available product may be used.
  • examples of commercially available products include polyoxyethylene methyl ether (methyl alcohol ethylene oxide adduct) (BLAUNON MP-400, MP-550, MP-1000) manufactured by Aoki Yushi Kogyo, and polyoxyethylene decyl ether manufactured by Aoki Yushi Kogyo.
  • (Decyl alcohol ethylene oxide adduct) FINESURF D-1303, D-1305, D-1307, D-1310), polyoxyethylene lauryl ether (lauryl alcohol ethylene oxide adduct) (BLAUNON EL-1505) manufactured by Aoki Oil & Fats Industries, Ltd.
  • Stearyl ether (BLAUNON SA-50 / 50 1000R, SA-30 / 70 2000R), BASF polyoxyethylene methyl ether (Pluriol (registered trademark) A760E), Kao polyoxyethylene alkyl ether (Emulgen series), etc. Can be mentioned.
  • the internally added mold release agent is preferably an alkyl alcohol polyalkylene oxide adduct, and more preferably a long-chain alkyl alcohol polyalkylene oxide adduct.
  • One type of internally added mold release agent may be used alone, or two or more types may be mixed and used.
  • the blending ratio in the curable composition of the component (c) which is a non-polymerizable compound is the total weight of the component (a), the component (b) and the component (c) described later, that is, the components of the curable composition excluding the solvent. It is good that it is 0 wt% or more and 50 wt% or less with respect to the total weight. Further, it is preferably 0.1% by weight or more and 50% by weight or less, and more preferably 0.1% by weight or more and 20% by weight or less. Curing the resulting cured film with a certain degree of mechanical strength by adjusting the blending ratio of component (c) to 50% by weight or less with respect to the total weight of component (a), component (b) and component (c) It can be a membrane.
  • the curable composition concerning this embodiment may contain the component (d) which is a solvent.
  • the component (d) is not particularly limited as long as it is a solvent in which the component (a), the component (b), and the component (c) are dissolved.
  • a preferable solvent is a solvent having a boiling point of 80 ° C. or higher and 200 ° C. or lower at normal pressure. More preferably, it is a solvent having at least one of an ester structure, a ketone structure, a hydroxyl group, and an ether structure.
  • propylene glycol monomethyl ether acetate propylene glycol monomethyl ether, cyclohexanone, 2-heptanone, ⁇ -butyrolactone, ethyl lactate, or a mixed solvent thereof.
  • the curable composition (A1) according to this embodiment preferably contains the component (d1). This is because, as will be described later, a spin coating method is preferable as a method for applying the curable composition (A1) onto the substrate.
  • the component (e1) is a compound that has a higher surface tension than the component (a1) that is a polymerizable compound and is liquid at room temperature.
  • the mixture with the component (a1) which is a polymerizable compound is a liquid compound at room temperature, and the mixture has a higher surface tension than the component (a1) which is a polymerizable compound and is a solid compound at room temperature.
  • Such a compound is limited to a compound having a higher surface tension than the component (a1) which is a polymerizable compound, dissolved in the component (a1), the component (a2) and the component (d1) and having no photopolymerization initiating ability. Is done.
  • a preferable compound having a high surface tension is a compound that can be bonded to the component (a1) and the component (a2) through a radical reaction. More preferred is a hydrogen donor that promotes radical polymerization. Specifically, preferred examples include thiol compounds and amine compounds.
  • the component (e1) may be composed of only one type of compound or may be composed of a plurality of types of compounds. Specific examples of component (e1) are not particularly limited as long as they satisfy the above requirements, but the inventors of the present invention have found the following compounds as preferred examples.
  • Particularly preferred examples include pentaerythritol tetrakis (3-mercaptobutyrate), 1,10-decanedithiol, pentaerythritol tetrakis (3-mercaptopropionate), 1,3,5-tris (3-mercaptobutyryloxyethyl). ) -1,3,5-triazine-2,4,6 (1H, 3H, 5H) -trione.
  • each component is mixed and dissolved under predetermined temperature conditions. Specifically, it is performed in the range of 0 ° C. or higher and 100 ° C. or lower.
  • the curable compositions (A1) and (A2) according to this embodiment are preferably liquids. This is because the spread and fill of the curable composition (A1) and / or (A2) are completed quickly, that is, the filling time is short in the mold contact step described later.
  • the viscosity at 25 ° C. of the mixture of the components of the curable composition (A1) excluding the component (d1) which is the solvent according to the present embodiment is preferably 1 mPa ⁇ s or more and 1000 mPa ⁇ s or less.
  • the viscosity at 25 ° C. of the mixture of the components of the curable composition (A2) excluding the component (d2) which is the solvent according to this embodiment is preferably 1 mPa ⁇ s or more and 100 mPa ⁇ s or less. More preferably, it is 1 mPa ⁇ s or more and 50 mPa ⁇ s or less.
  • Non-Patent Document 1 Non-Patent Document 1
  • the optical nanoimprint method can be performed with high throughput. Also, pattern defects due to poor filling are less likely to occur.
  • the viscosity is 1 mPa ⁇ s or more
  • uneven coating is less likely to occur when the curable compositions (A1) and (A2) are applied on the substrate. Further, when the curable compositions (A1) and (A2) are brought into contact with the mold, the curable compositions (A1) and (A2) are less likely to flow out from the end of the mold.
  • the surface tension of the curable compositions (A1) and (A2) according to this embodiment is 23 ° C. of the composition of the curable compositions (A1) and (A2) except for the component (d) that is a solvent.
  • the surface tension is preferably 5 mN / m or more and 70 mN / m or less. More preferably, it is 7 mN / m or more and 50 mN / m or less, More preferably, it is 10 mN / m or more and 40 mN / m or less.
  • Non-Patent Document 1 the surface tension is higher, for example, when the surface tension is 5 mN / m or more, the capillary force works strongly, so when the curable composition (A1) and / or (A2) is brought into contact with the mold, the filling (spread) And fill) are completed in a short time (Non-Patent Document 1). Since the curable composition (A1) of the present invention contains the component (e1), the surface tension is higher than that of the conventional curable composition for SST-NIL (A1). Moreover, the cured film obtained by hardening
  • the component of the curable composition (A2) excluding the component (d2) which is the solvent has a surface tension of the component of the curable composition (A1) excluding the component (d1) which is the solvent.
  • the surface tension of the composition is preferably higher.
  • the Marangoni effect is a phenomenon of free surface movement caused by a local difference in the surface tension of the liquid (Non-Patent Document 2).
  • the surface tension that is, the difference in surface energy, is used as a driving force to cause diffusion such that a liquid having a low surface tension covers a wider surface. That is, if the curable composition (A1) having a high surface tension is applied to the entire surface of the substrate and the curable composition (A2) having a low surface tension is dropped, the pre-spread of the curable composition (A2) is accelerated. It is done.
  • the contact angles of the curable compositions (A1) and (A2) according to the present embodiment are the same as those of the components of the curable compositions (A1) and (A2) excluding the component (d) that is a solvent. And 0 ° or more and 90 ° or less with respect to both of the mold surface.
  • the contact angle is larger than 90 °, the capillary force acts in the negative direction (the direction in which the contact interface between the mold and the curable composition is contracted) in the mold pattern or in the gap between the substrate and the mold and is not filled. It is particularly preferable that the angle is 0 ° or more and 30 ° or less. Since the capillary force works stronger as the contact angle is lower, the filling speed is faster (Non-Patent Document 1).
  • the viscosity, surface tension, and contact angle of the curable compositions (A1) and (A2) according to this embodiment can be changed by adding the component (d) as a solvent, but the component (d ) Prevents the curing of the curable composition. Therefore, in this embodiment, it is preferable to set the viscosity, surface tension, and contact angle of the composition of the curable compositions (A1) and (A2) excluding the component (d) as a solvent to predetermined values. . ⁇ Impurities mixed in curable composition> It is preferable that the curable compositions (A1) and (A2) according to this embodiment contain no impurities as much as possible.
  • the impurities described here mean those other than the components (a), (b), (c), (d) and (e1) described above. Therefore, it is preferable that the curable composition which concerns on this embodiment is obtained through the refinement
  • a pore size of 0.001 ⁇ m or more and 5. It is preferable to filter with a filter of 0 ⁇ m or less. When performing filtration using a filter, it is more preferable to carry out in multiple stages or repeat many times. Moreover, you may filter the filtered liquid again. Filtration may be performed using a plurality of filters having different pore diameters.
  • filters made of polyethylene resin, polypropylene resin, fluororesin, nylon resin, etc. can be used, but are not particularly limited.
  • impurities such as particles mixed in the curable composition can be removed. Thereby, it can prevent that the unevenness
  • an impurity containing a metal atom (metal) in the curable composition is used so as not to hinder the operation of the product. It is preferable to avoid contamination of impurities) as much as possible.
  • the concentration of the metal impurities contained in the curable composition is preferably 10 ppm or less, and more preferably 100 ppb or less.
  • the pattern formation method according to the present embodiment is an embodiment of an optical nanoimprint method.
  • the pattern forming method of this embodiment is A first laminating step (1) for laminating the curable composition (A1) 202 of the present embodiment described above on the substrate 201; A second lamination step (2) of laminating the curable composition (A2) 203 on the layer of the curable composition (A1) 202; A mold contact step (3) of sandwiching a mixed layer formed by partially mixing the curable composition (A1) 202 and the curable composition (A2) 203 between the mold 205 having a pattern and the substrate 201; A light irradiation step (4) for curing the mixed layer by irradiating irradiation light 206 from the mold 205 side; A mold release step (5) for separating the mold 205 from the cured film 207 made of the curable composition after curing; Have
  • the cured product obtained by the method for producing a cured product having a pattern shape according to this embodiment is preferably a film having a pattern having a size of 1 nm or more and 10 mm or less.
  • a film having a pattern having a size of 10 nm or more and 100 ⁇ m or less is more preferable.
  • a pattern forming technique for producing a film having a nano-size (1 nm or more and 100 nm or less) pattern (uneven structure) using light is called an optical nanoimprint method.
  • the pattern forming method according to the present embodiment uses an optical nanoimprint method.
  • each step will be described.
  • First lamination step (1) In this step (first lamination step), as shown in FIGS. 2A and 2B, the curable composition (A1) 202 according to the present embodiment described above is laminated (coated) on the substrate 201 to form a coating film.
  • the substrate 201 on which the curable composition (A1) 202 is to be placed is a substrate to be processed, and a silicon wafer is usually used.
  • a layer to be processed may be formed over the substrate 201.
  • Another layer may be formed between the substrate 201 and the layer to be processed. If a quartz substrate is used as the substrate 201, a replica of the quartz imprint mold (mold replica) can be produced.
  • the substrate 201 is not limited to a silicon wafer or a quartz substrate.
  • the substrate 201 can be arbitrarily selected from those known as semiconductor device substrates such as aluminum, titanium-tungsten alloy, aluminum-silicon alloy, aluminum-copper-silicon alloy, silicon oxide, and silicon nitride. .
  • the surface of the substrate 201 (substrate to be processed) or the layer to be used is subjected to curable compositions (A1) 202 and (A2) by surface treatment such as silane coupling treatment, silazane treatment, or organic thin film formation. ) Adhesion with 203 may be improved.
  • the curable composition (A1) 202 on the substrate 201 or the layer to be processed
  • a method of disposing the curable composition (A1) 202 on the substrate 201 or the layer to be processed for example, an inkjet method, a dip coating method, an air knife coating method, a curtain coating method, a wire bar coating method.
  • Gravure coating method, extrusion coating method, spin coating method, slit scanning method and the like can be used.
  • the spin coating method is particularly preferable.
  • a baking process may be performed as necessary to volatilize the component (d1) as a solvent.
  • membrane of curable composition (A1) 202 changes also with the uses to be used, it is 0.1 nm or more and 10,000 nm or less, for example, Preferably they are 1 nm or more and 20 nm or less, Especially preferably. Is from 1 nm to 10 nm.
  • ⁇ Second laminating step (2)> In this step (second lamination step), as shown in FIGS. 2C and 2D, droplets of the curable composition (A2) 203 are discretely dropped on the layer of the curable composition (A1) 202. It is preferable to arrange. As an arrangement method, an inkjet method is particularly preferable. The droplets of the curable composition (A2) 203 are densely deposited on the substrate 201 facing the region where the concave portions are densely present on the mold 205, and on the substrate 201 facing the region where the concave portions are sparsely present. Sparsely arranged. This makes it possible to control the remaining film, which will be described later, to a uniform thickness regardless of the density of the pattern on the mold 205.
  • the droplets of the curable composition (A2) 203 arranged in this step spread quickly due to the Marangoni effect (pre-spread).
  • the curable composition (A1) 202 and the curable composition (A2) 203 formed in the previous step (first and second lamination steps) are partially mixed.
  • a mold 205 having an original pattern for transferring the pattern shape is brought into contact with the liquid layer.
  • the liquid formed by partially mixing the curable composition (A1) 202 and the curable composition (A2) 203 is filled (filled) into the concave portion of the fine pattern on the surface of the mold 205, and the mold 205 is filled.
  • the liquid film is filled (filled) into the fine pattern.
  • a mold 205 made of a light-transmitting material may be used in consideration of the next process (light irradiation process).
  • the material constituting the mold 205 include light transmissive resin such as glass, quartz, PMMA, and polycarbonate resin, transparent metal vapor-deposited film, flexible film such as polydimethylsiloxane, photocured film, and metal film. Etc. are preferred.
  • a light transmissive resin is used as the material of the mold 205, it is necessary to select a resin that does not dissolve in the components contained in the curable composition (A1) 202 or (A2) 203. Since the coefficient of thermal expansion is small and the pattern distortion is small, the material of the material constituting the mold 205 is particularly preferably quartz.
  • the fine pattern that the mold 205 has on the surface preferably has a pattern height of 4 nm or more and 200 nm or less.
  • the lower the pattern height the lower the force to peel the mold 205 from the cured resist film 207 in the mold release process, that is, the mold release force, and the resist pattern is torn along with the mold release and remains on the mask side.
  • Adjacent resist patterns may come into contact with each other due to the elastic deformation of the resist pattern due to impact when the mold is peeled off, and the resist pattern may adhere or break, but the pattern height is about twice or less than the pattern width (aspect ratio If it is 2 or less), there is a high possibility that these problems can be avoided.
  • the pattern height is too low, the processing accuracy of the substrate 201 (substrate to be processed) is low.
  • the mold 205 includes the curable compositions (A1) 202 and (A2) 203 and the mold 205.
  • Surface treatment may be performed before this step, which is the mold contact step.
  • the surface treatment method include a method of applying a release agent to the surface of the mold 205 to form a release agent layer.
  • a mold release agent to be applied to the surface of the mold 205 a silicone mold release agent, a fluorine mold release agent, a hydrocarbon mold release agent, a polyethylene mold release agent, a polypropylene mold release agent, a paraffin mold release agent.
  • Examples thereof include a mold agent, a montan release agent, and a carnauba release agent.
  • a commercially available coating mold release agent such as OPTOOL (registered trademark) DSX manufactured by Daikin Industries, Ltd. can be suitably used.
  • a mold release agent may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more types. Of these, fluorine-based and hydrocarbon-based release agents are particularly preferable.
  • the pressure applied to 203 is not particularly limited.
  • the pressure is preferably 0 MPa or more and 100 MPa or less.
  • the pressure is preferably 0 MPa or more and 50 MPa or less, more preferably 0 MPa or more and 30 MPa or less, and further preferably 0 MPa or more and 20 MPa or less.
  • the spread of the curable composition (A2) 203 in this step is promptly Complete.
  • the spread is finally completed and the concentration of the curable composition (A1) 202 is high.
  • the curable composition (A1) Since the contact angle of 202 is low, the fill is completed quickly also in this region.
  • the mold 205 and the curable compositions (A1) 202 and (A2) 203 are brought into contact with each other.
  • the time for contact is not particularly limited, but may be, for example, 0.1 seconds to 600 seconds.
  • the time is preferably 0.1 second or more and 3 seconds or less, particularly preferably 0.1 second or more and 1 second or less. If it is shorter than 0.1 seconds, spread and fill are insufficient, and defects called unfilled defects tend to occur frequently.
  • this step can be performed under any conditions of air atmosphere, reduced pressure atmosphere, and inert gas atmosphere, it can prevent the influence of oxygen and moisture on the curing reaction.
  • a gas atmosphere is preferable.
  • Specific examples of the inert gas that can be used when this step is performed in an inert gas atmosphere include nitrogen, carbon dioxide, helium, argon, various chlorofluorocarbons, and a mixed gas thereof.
  • a preferable pressure is 0.0001 atm or more and 10 atm or less.
  • the mold contact step may be performed under an atmosphere containing a condensable gas (hereinafter referred to as “condensable gas atmosphere”).
  • the condensable gas means an atmosphere together with the curable compositions (A1) 202 and (A2) 203 in the concave portions of the fine pattern formed on the mold 205 and the gap between the mold 205 and the substrate 201.
  • the gas inside refers to a gas that condenses and liquefies by the capillary pressure generated during filling.
  • the condensable gas exists as a gas in the atmosphere before the curable compositions (A1) 202 and (A2) 203 and the mold 205 come into contact with each other in the mold contact step (see FIG. 1D and the partially enlarged portion).
  • the gas filled in the concave portions of the fine pattern is liquefied by the capillary pressure generated by the curable compositions (A1) 202 and (A2) 203, whereby the bubbles disappear. Therefore, the filling property is excellent.
  • the condensable gas may be dissolved in the curable composition (A1) 202 and / or (A2) 203.
  • the boiling point of the condensable gas is not limited as long as it is equal to or lower than the atmospheric temperature in the mold contact step, but is preferably ⁇ 10 ° C. to 23 ° C., more preferably 10 ° C. to 23 ° C. If it is this range, a filling property will be further excellent.
  • the vapor pressure of the condensable gas at the atmospheric temperature in the mold contact process is such that the mold 205 and the curable compositions (A1) 202 and (A2) 203 in the mold contact process are brought into contact with each other. There is no limitation as long as it is below the pressure applied to the products (A1) 202 and (A2) 203, but 0.1 to 0.4 MPa is preferable.
  • the atmospheric temperature in the mold contact step is not particularly limited, but is preferably 20 ° C to 25 ° C.
  • the condensable gas include chlorofluorocarbon (CFC) such as trichlorofluoromethane, fluorocarbon (FC), hydrochlorofluorocarbon (HCFC), 1,1,1,3,3-pentafluoropropane (CHF 2 CH 2 Fluorocarbons such as hydrofluorocarbon (HFC) such as CF 3 , HFC-245fa, PFP) and hydrofluoroether (HFE) such as pentafluoroethyl methyl ether (CF 3 CF 2 OCH 3 , HFE-245mc) .
  • CFC chlorofluorocarbon
  • FC trichlorofluoromethane
  • FC fluorocarbon
  • HCFC hydrochlorofluorocarbon
  • CH 2 Fluorocarbons such as hydrofluorocarbon (HFC) such as CF 3 , HFC-245fa, PFP) and hydrofluoroether (HFE) such as pentafluoroethyl methyl
  • 1,1,1,3,3-pentafluoropropane vapour pressure at 23 ° C., 0.14 MPa, from the viewpoint of excellent filling properties at an atmospheric temperature of 20 ° C. to 25 ° C. in the mold contact process.
  • Preferred are boiling point 15 ° C.
  • trichlorofluoromethane vapor pressure 0.1056 MPa at 23 ° C., boiling point 24 ° C.
  • pentafluoroethyl methyl ether is particularly preferable from the viewpoint of excellent safety.
  • Condensable gas may be used alone or in combination of two or more. These condensable gases may be used by mixing with non-condensable gases such as air, nitrogen, carbon dioxide, helium, and argon.
  • the non-condensable gas mixed with the condensable gas is preferably helium from the viewpoint of filling properties. Helium can pass through the mold 205. Therefore, the recesses of the fine pattern formed on the mold 205 in the mold contact process are filled with gas (condensable gas and helium) in the atmosphere together with the curable composition (A1) 202 and / or (A2) 203. When this occurs, the condensable gas liquefies and helium passes through the mold 205.
  • irradiation light 206 is irradiated through a mold 205 to a mixed layer formed by partially mixing the curable composition (A1) 202 and the curable composition (A2) 203.
  • the curable composition (A1) 202 and / or (A2) 203 filled in the fine pattern of the mold 205 is irradiated with the irradiation light 206 through the mold 205.
  • the curable composition (A1) 202 and / or (A2) 203 filled in the fine pattern of the mold 205 is cured by the irradiated light 206 to be a cured film 207 having a pattern shape.
  • the irradiation light 206 applied to the curable composition (A1) 202 and / or (A2) 203 filled in the fine pattern of the mold 205 is the sensitivity of the curable compositions (A1) 202 and (A2) 203. It is selected according to the wavelength. Specifically, it is preferable to appropriately select and use ultraviolet light having a wavelength of 150 nm to 400 nm, X-rays, electron beams, and the like. Among these, the irradiation light 206 is particularly preferably ultraviolet light. This is because many commercially available curing aids (photopolymerization initiators) are sensitive to ultraviolet light.
  • Examples of light sources that emit ultraviolet light include high pressure mercury lamps, ultrahigh pressure mercury lamps, low pressure mercury lamps, deep-UV lamps, carbon arc lamps, chemical lamps, metal halide lamps, xenon lamps, KrF excimer lasers, ArF excimer lasers, and F 2. Although an excimer laser etc. are mentioned, an ultrahigh pressure mercury lamp is especially preferable. Further, the number of light sources used may be one or plural. Further, when the light irradiation is performed, the irradiation may be performed on the entire surface of the curable composition (A1) 202 and / or (A2) 203 filled in the fine pattern of the mold 205, or may be performed only on a partial region. Good.
  • the light irradiation may be intermittently performed a plurality of times over the entire region on the substrate 201, or the entire region may be continuously irradiated. Furthermore, the partial area A may be irradiated in the first irradiation process, and the area B different from the area A may be irradiated in the second irradiation process.
  • the cured film 207 having a pattern shape is separated from the mold 205.
  • this step release step
  • the cured film 207 having a pattern shape is separated from the mold 205, and the fine pattern formed on the mold 205 in the step (4) (light irradiation step).
  • the cured film 207 having a pattern shape that becomes a reverse pattern is obtained in a self-supporting state.
  • a cured film remains also in the recessed part of the uneven
  • the method of separating the cured film 207 having a pattern shape from the mold 205 is not particularly limited as long as a part of the cured film 207 having the pattern shape is not physically damaged when being separated, and various conditions are not particularly limited.
  • the substrate 201 substrate to be processed
  • the mold 205 may be fixed and the substrate 201 may be moved away from the mold 205 to be peeled off.
  • both of them may be peeled by pulling in the opposite direction.
  • a cured film 207 having a desired uneven pattern shape (a pattern shape due to the uneven shape of the mold 205) at a desired position is obtained.
  • the curable composition (A1) 202 is laminated on the entire surface of the substrate 201 in the step (1), and the repeating unit (shot) including the steps (2) to (5) is performed. ) Can be repeated multiple times on the same substrate. Further, the steps (1) to (5) may be repeated a plurality of times on the same substrate.
  • a plurality of desired irregularities are formed at a desired position on the substrate 201 (substrate to be processed).
  • a cured film 207 having a pattern shape (a pattern shape resulting from the uneven shape of the mold 205) can be obtained.
  • the steps (1) to (5) may be performed collectively on the entire surface of the substrate 201.
  • the substrate 201 (substrate to be processed) or a layer to be processed on the substrate 201 (substrate to be processed) is etched. It can be processed into a pattern using processing means.
  • pattern transfer may be performed using a processing means such as etching.
  • a processing means such as etching.
  • a circuit structure based on the pattern shape of the cured film 207 having a pattern shape can be formed on the substrate 201.
  • the circuit board utilized by a semiconductor element etc. can be manufactured.
  • electronic devices such as a display, a camera, and a medical device can be formed.
  • the semiconductor element here include LSI, system LSI, DRAM, SDRAM, RDRAM, D-RDRAM, and NAND flash.
  • the present invention relates to an imprint pretreatment coating material that forms a liquid film to be a pretreatment coating on a substrate and promotes the spread of droplet components in the substrate surface direction by dropping droplets onto the liquid film.
  • the imprint pretreatment coating material contains at least a component (a1) that is a polymerizable compound and at least a component (e1) that is a compound having a higher surface tension than the component (a1) that is the polymerizable compound. Including an imprint pretreatment coating material.
  • the surface tension of the imprint pretreatment coating is higher than the surface tension of the droplet to be dropped.
  • the surface tension of the composition of the imprint pretreatment coating material component excluding the solvent is preferably higher than the surface tension of the composition of the imprint resist component excluding the solvent.
  • an imprint resist is preferably provided as a combination of an imprint resist and an imprint pretreatment coating material. That is, it is provided as a set in which the surface tension of the composition of the imprint pretreatment coating material component excluding the solvent is higher than the surface tension of the composition of the imprint resist component excluding the solvent.
  • a suitable imprint is realized.
  • the difference between the surface tension of the composition of the imprint pretreatment coating material component excluding the solvent and the surface tension of the composition of the imprint resist component excluding the solvent is 1 mN / m or more and 25 mN / m or less. A combination set is more preferable.
  • Another aspect of the present invention provides a suitable substrate pretreatment method for imprinting by coating a substrate with an imprint pretreatment coating material.
  • the present invention includes a pattern forming method for forming a pattern on a substrate.
  • a pattern forming method for forming a pattern on a substrate.
  • Example 1 Preparation of curable composition (A1-1) As shown in Table 1, the formulation is neopentyl glycol diacrylate: 50 parts by weight as component (a1) and propylene glycol monomethyl ether acetate: 33000 as component (d1) 50 parts by weight of pentaerythritol tetrakis (3-mercaptobutyrate) as a component (e1) is blended and filtered through a 0.2 ⁇ m ultrahigh molecular weight polyethylene filter to obtain a curable composition (A1-1 ) Was prepared.
  • curable composition (A2-1) As shown in Table 2, the composition was as component (a2): 9 parts by weight of isobornyl acrylate, 38 parts by weight of benzyl acrylate, neopentyl glycol diacrylate: 47 parts by weight, Irgacure 369 as component (b2): 3 parts by weight component, pentadecaethylene glycol mono 1H, 1H, 2H, 2H-perfluorooctyl ether: 1.1 parts by weight as (c2) The mixture was filtered through a 2 ⁇ m ultrahigh molecular weight polyethylene filter to prepare a curable composition (A2-1).
  • a curable composition (at 25 ° C.) using an automatic surface tension meter DY-300 (manufactured by Kyowa Interface Chemical Co., Ltd.) and a plate method using a platinum plate ( The surface tension of A2-1) was measured and found to be 29.1 mN / m. In addition, the measurement was performed on condition that the number of measurement was 5 times and the prewet immersion distance of the platinum plate was 0.35 mm. Except for the first measurement value, the average value of the second to fifth measurement values was defined as the surface tension.
  • a curable composition (A1-1) is coated on a silicon substrate using a spin coater to form a film of the curable composition (A1-1) having a thickness of about 5 to 10 nm.
  • 1 pL droplets of the curable composition (A2-1) can be discretely arranged using an inkjet method.
  • the amount of droplets is, for example, an amount such that the average film thickness of the cured film is about 50 nm.
  • the surface tension of the curable composition (A1-1) disposed in the lower layer is higher than the surface tension of the curable composition (A2-1) dropped on the upper layer, the Marangoni effect appears.
  • the expansion (pre-spreading) of the droplets of the curable composition (A2-1) is rapid.
  • Optical nanoimprint process Examples 2 to 5 are as shown in Table 3, and the curable composition (A1) disposed in the lower layer as in Example 1 contains a component (e1) having a high surface tension. Since the surface tension is higher than the surface tension of the curable composition (A2) dropped on the upper layer, the Marangoni effect is exhibited, and the droplets of the curable composition (A2) are enlarged (pre-spread). ) Is prompt. In Comparative Example 1, since the curable composition (A1) does not contain the component (e1) that is a hydrogen donor and has a high surface tension, the pre-spread speed is slower than in Examples 1 to 3.
  • Table 3 shows the results of Examples and Comparative Examples.
  • the pre-spread evaluation was a relative evaluation based on Example 1. That is, if the speed is as fast as in the first embodiment, it is “fast”, and if it is slower than the first embodiment, it is “slow”.

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Wood Science & Technology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Shaping Of Tube Ends By Bending Or Straightening (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Polymers & Plastics (AREA)
  • Polymerisation Methods In General (AREA)

Abstract

重合性化合物である成分（ａ１）及び成分（ｅ１）を含む硬化性組成物（Ａ１）の層を、基板の表面に形成し、前記硬化性組成物（Ａ１）の層上に、少なくとも重合性化合物である成分（ａ２）を含む硬化性組成物（Ａ２）の液滴を離散的に滴下し、モールドと前記基板の間に前記硬化性組成物（Ａ１）及び前記硬化性組成物（Ａ２）の混合層をサンドイッチし、前記混合層を光を照射することにより硬化させ、前記モールドを硬化後の前記混合層から引き離すことにより、前記基板上にパターンが形成され、前記成分（ｅ１）が前記成分（ａ１）より表面張力が高い化合物であり、かつ、溶剤を除く前記 硬化性組成物（Ａ１）の成分の組成物の表面張力が前記硬化性組成物（Ａ２）の成分の組成物の表面張力よりも高い。

Description

パターン形成方法、加工基板の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、電子部品の製造方法、インプリントモールドの製造方法
　本発明は、パターン形成方法、加工基板の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、電子部品の製造方法、インプリントモールドの製造方法に関する。
　半導体デバイスやＭＥＭＳ等においては、微細化の要求が高まっており、微細加工技術として、光ナノインプリント技術が注目されている。
　光ナノインプリント技術では、表面に微細な凹凸パターンが形成されたモールド（型）を光硬化性組成物（レジスト）が塗布された基板（ウエハ）に押しつけた状態で光硬化性組成物を硬化させる。これにより、モールドの凹凸パターンを光硬化性組成物の硬化膜に転写し、パターンを基板上に形成する。光ナノインプリント技術によれば、基板上に数ナノメートルオーダーの微細な構造体を形成することができる。
　特許文献１に記載の光ナノインプリント技術を、図１Ａ～１Ｆを用いて説明する。まず、基板１０１上のパターン形成領域にインクジェット法を用いて、液状のレジスト１０２を離散的に滴下する（配置工程（１）、図１Ａ～１Ｃ）。滴下されたレジスト１０２の液滴は液滴の拡がる方向を示す矢印１０４で示すように基板１０１上に広がるが、この現象をプレスプレッドと呼ぶ（図１Ｃ）。次に、このレジスト１０２を、パターンが形成された、後述する照射光１０６に対して透明なモールド（型）１０５を用いて成形する（型接触工程（２）、図１Ｄおよび部分拡大部）。型接触工程においては、レジストの液滴が液滴の拡がる方向を示す矢印１０４で示すように基板１０１とモールド１０５の間隙の全域へ拡がる（図１Ｄ）。この現象をスプレッドと呼ぶ。また、型接触工程においては、レジスト１０２はモールド１０５上の凹部の内部へも液滴の拡がる方向を示す矢印１０４で示すように充填される（図１Ｄの部分拡大部）。この充填現象をフィルと呼ぶ。スプレッドとフィルが完了するまでの時間を充填時間と呼ぶ。レジスト１０２の充填が完了した後、照射光１０６を照射してレジスト１０２を硬化させ（光照射工程（３）、図１Ｅ）、その後、基板１０１をモールド１０５から引き離す（離型工程（４）、図１Ｆおよび部分拡大部）。これらの工程を実施することにより、所定のパターン形状を有する光硬化膜１０７（図１Ｆ）が基板１０１上に形成される。
特許第４７９１３５７号公報
Ｓ．Ｒｅｄｄｙ，Ｒ．Ｔ．Ｂｏｎｎｅｃａｚｅ／Ｍｉｃｒｏｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ　Ｅｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇ，８２（２００５）６０－７０ Ｎ．Ｉｍａｉｓｈｉ／Ｉｎｔ．　Ｊ．　Ｍｉｃｒｏｇｒａｖｉｔｙ　Ｓｃｉ．Ｎｏ．３１　Ｓｕｐｐｌｅｍｅｎｔ　２０１４　（Ｓ５－Ｓ１２）
　特許文献１に記載の光ナノインプリント技術においては、型接触開始からスプレッドとフィルが完了するまでの時間（充填時間）が長く、スループットが低い、という課題があった。
　そこで本発明者らは、充填時間が短い、つまり高スループットな光ナノインプリント技術（Ｓｈｏｒｔ　Ｓｐｒｅａｄ　Ｔｉｍｅ　Ｎａｎｏｉｍｐｒｉｎｔ　Ｌｉｔｈｏｇｒａｐｈｙ、以下、ＳＳＴ－ＮＩＬ）を考案した。ＳＳＴ－ＮＩＬは、図２Ａ～２Ｇの模式断面図に示すように、
　基板２０１上に、液状の硬化性組成物（Ａ１）２０２を積層する第一積層工程（１）（図２Ａ及び２Ｂ）、
　前記硬化性組成物（Ａ１）２０２の層上に、硬化性組成物（Ａ２）２０３の液滴を離散的に積層する第二積層工程（２）（図２Ｃ及び２Ｄ）、
　パターンを有するモールド２０５と基板２０１の間に硬化性組成物（Ａ１）２０２と硬化性組成物（Ａ２）２０３が部分的に混合してなる混合層をサンドイッチする型接触工程（３）（図２Ｅ）、
　前記混合層をモールド２０５側から照射光２０６を照射することにより硬化させる光照射工程（４）（図２Ｆ）、
　モールド２０５を硬化後の硬化性組成物からなる層（パターン形状を有する硬化膜２０７）から引き離す離型工程（５）（図２Ｇ）、
を有する。
　ＳＳＴ－ＮＩＬにおいて、第二積層工程（２）から離型工程（５）までの一連の工程単位を「ショット」と称し、モールド２０５が硬化性組成物（Ａ１）２０２及び（Ａ２）２０３と接触する領域、つまり、基板２０１上でパターンが形成される領域を「ショット領域」と称する。
　ＳＳＴ－ＮＩＬにおいては、離散的に滴下された硬化性組成物（Ａ２）２０３の液滴が、硬化性組成物（Ａ１）２０２の液膜上において液滴の拡がる方向を示す矢印２０４で示すように速やかに拡大するため、充填時間が短く、高スループットである。ＳＳＴ－ＮＩＬの詳しいメカニズムは後述する。
　従来の光ナノインプリント技術（ＳＳＴ－ＮＩＬを含む）の課題を、図３Ａ～３Ｄの模式断面図を用いて説明する。図３Ａ～３Ｃの積層工程（１）（図３Ａ）で基板３０１上のショット領域３０４に離散的に滴下された硬化性組成物（Ａ２）３０３は、型接触工程（２）（図３Ｂ）でモールド３０５と基板３０１の間にサンドイッチされ、続く光照射工程（３）（図３Ｃ）で硬化する。そして、図３Ｄの離型工程（４）でモールド３０５が硬化後の硬化性組成物からなる層から引き離される。
　本発明者らは、型接触工程（２）におけるスプレッドとフィルが遅いことで、光照射工程（３）で未充填部分３０６が生じ、最終的に離型工程（４）後に未充填欠陥３０７が生じるという課題を見出した。あるいは、未充填欠陥３０７を発生させないために充填時間を長くすると、結果として生産性が低下し、特にＳＳＴ－ＮＩＬの高スループットという特長が生かされない、という課題を見出した。
　本発明は、従来の光ナノインプリント技術、特にＳＳＴ－ＮＩＬにおける充填時間をさらに短縮し、さらに高スループットなパターン形成方法を提供することを目的とする。
　本発明に係るパターン形成方法は、
　基板の表面に、少なくとも重合性化合物である成分（ａ１）及び成分（ｅ１）を含む硬化性組成物（Ａ１）からなる層を積層する第一積層工程（１）、
　前記硬化性組成物（Ａ１）からなる層上に、少なくとも重合性化合物である成分（ａ２）を含む硬化性組成物（Ａ２）の液滴を離散的に滴下して積層する第二積層工程（２）、
　パターンを有するモールドと前記基板の間に前記硬化性組成物（Ａ１）及び前記硬化性組成物（Ａ２）が混合してなる混合層をサンドイッチする工程（３）、
　前記混合層を前記モールド側から光を照射することにより硬化させる光照射工程（４）、
　前記モールドを硬化後の前記混合層から引き離す離型工程（５）、
　を該順に有するパターン形成方法であって、
　前記成分（ｅ１）が前記成分（ａ１）より表面張力が高い化合物であり、かつ、
　溶剤を除く前記硬化性組成物（Ａ１）の成分の組成物の表面張力が溶剤を除く前記硬化性組成物（Ａ２）の成分の組成物の表面張力よりも高いことを特徴とする。
　本発明によれば、充填時間が短い、つまり高スループットなパターン形成方法を提供することができる。
　本発明の他の特徴は、添付された図面を参照して各種実施の形態を例示する以下の説明により明らかにされる。
光ナノインプリント技術の先行例を示す模式断面図である。 光ナノインプリント技術の先行例を示す模式断面図である。 光ナノインプリント技術の先行例を示す模式断面図である。 光ナノインプリント技術の先行例を示す模式断面図である。 光ナノインプリント技術の先行例を示す模式断面図である。 光ナノインプリント技術の先行例を示す模式断面図である。 ＳＳＴ－ＮＩＬ技術を示す模式断面図である。 ＳＳＴ－ＮＩＬ技術を示す模式断面図である。 ＳＳＴ－ＮＩＬ技術を示す模式断面図である。 ＳＳＴ－ＮＩＬ技術を示す模式断面図である。 ＳＳＴ－ＮＩＬ技術を示す模式断面図である。 ＳＳＴ－ＮＩＬ技術を示す模式断面図である。 ＳＳＴ－ＮＩＬ技術を示す模式断面図である。 発明が解決しようとする課題を示す模式断面図である。 発明が解決しようとする課題を示す模式断面図である。 発明が解決しようとする課題を示す模式断面図である。 発明が解決しようとする課題を示す模式断面図である。
　以下、本発明の実施の形態について詳細に説明する。なお、本発明は、以下の実施の形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、当業者の通常の知識に基づいて、以下の実施の形態に対して適宜変更、改良等が加えられたものも本発明の範囲に含まれる。
　［硬化性組成物］
　本実施形態に係る硬化性組成物（Ａ１）は、少なくとも重合性化合物である成分（ａ１）及び重合性化合物である成分（ａ１）より表面張力が高い化合物である成分（ｅ１）を含有する。また、硬化性組成物（Ａ２）は、少なくとも重合性化合物である成分（ａ２）を含有する。硬化性組成物（Ａ１）の表面張力が硬化性組成物（Ａ２）の表面張力よりも高い。硬化性組成物（Ａ１）はさらに、非重合性化合物である成分（ｃ１）、溶剤である成分（ｄ１）を含有してもよい。硬化性組成物（Ａ２）はさらに、光重合開始剤である成分（ｂ２）、非重合性化合物である成分（ｃ２）、溶剤である成分（ｄ２）を含有してもよい。
　以下、各成分について、詳細に説明する。
「成分（ａ）」という表記は「成分（ａ１）及び（ａ２）」を示す。成分（ａ１）という表記は硬化性組成物（Ａ１）に含まれる成分（ａ）を意味し、成分（ａ２）という表記は硬化性組成物（Ａ２）に含まれる成分（ａ）を意味する。「成分（ｂ）」、「成分（ｃ）」、「成分（ｄ）」についても同様である。
　＜成分（ａ）：重合性化合物＞
　成分（ａ）は、重合性化合物である。ここで、本明細書において重合性化合物とは、光重合開始剤である成分（ｂ）から発生した重合因子（ラジカル等）と反応し、連鎖反応（重合反応）によって高分子化合物からなる膜を形成する化合物である。
　このような重合性化合物としては、例えば、ラジカル重合性化合物が挙げられる。成分（ａ１）及び成分（ａ２）は同一化合物から構成されていてもよく、異なる化合物から構成されていてもよい。また成分（ａ１）及び成分（ａ２）は、一種類の重合性化合物のみから構成されていてもよく、複数種類の重合性化合物で構成されていてもよい。
　ラジカル重合性化合物としては、アクリロイル基又はメタクリロイル基を１つ以上有する化合物、すなわち、（メタ）アクリル化合物であることが好ましい。したがって、本実施形態に係る硬化性組成物（Ａ１）及び（Ａ２）は、成分（ａ１）及び成分（ａ２）として（メタ）アクリル化合物を含むことが好ましく、成分（ａ１）及び成分（ａ２）の主成分が（メタ）アクリル化合物であることがより好ましく、成分（ａ１）の全てが（メタ）アクリル化合物であることが最も好ましい。なお、ここで記載する成分（ａ１）及び成分（ａ２）の主成分が（メタ）アクリル化合物であるとは、成分（ａ１）及び成分（ａ２）の９０重量％以上が（メタ）アクリル化合物であることを示す。
　ラジカル重合性化合物が、アクリロイル基又はメタクリロイル基を１つ以上有する複数種類の化合物で構成される場合には、単官能（メタ）アクリルモノマーと多官能（メタ）アクリルモノマーを含むことが好ましい。これは、単官能（メタ）アクリルモノマーと多官能（メタ）アクリルモノマーを組み合わせることで、機械的強度が強い硬化膜が得られるからである。
　アクリロイル基又はメタクリロイル基を１つ有する単官能（メタ）アクリル化合物としては、例えば、フェノキシエチル（メタ）アクリレート、フェノキシ－２－メチルエチル（メタ）アクリレート、フェノキシエトキシエチル（メタ）アクリレート、３－フェノキシ－２－ヒドロキシプロピル（メタ）アクリレート、２－フェニルフェノキシエチル（メタ）アクリレート、４－フェニルフェノキシエチル（メタ）アクリレート、３－（２－フェニルフェニル）－２－ヒドロキシプロピル（メタ）アクリレート、ＥＯ変性ｐ－クミルフェノールの（メタ）アクリレート、２－ブロモフェノキシエチル（メタ）アクリレート、２，４－ジブロモフェノキシエチル（メタ）アクリレート、２，４，６－トリブロモフェノキシエチル（メタ）アクリレート、ＥＯ変性フェノキシ（メタ）アクリレート、ＰＯ変性フェノキシ（メタ）アクリレート、ポリオキシエチレンノニルフェニルエーテル（メタ）アクリレート、イソボルニル（メタ）アクリレート、１－アダマンチル（メタ）アクリレート、２－メチル－２－アダマンチル（メタ）アクリレート、２－エチル－２－アダマンチル（メタ）アクリレート、ボルニル（メタ）アクリレート、トリシクロデカニル（メタ）アクリレート、ジシクロペンタニル（メタ）アクリレート、ジシクロペンテニル（メタ）アクリレート、シクロヘキシル（メタ）アクリレート、４－ブチルシクロヘキシル（メタ）アクリレート、アクリロイルモルホリン、２－ヒドロキシエチル（メタ）アクリレート、２－ヒドロキシプロピル（メタ）アクリレート、２－ヒドロキシブチル（メタ）アクリレート、メチル（メタ）アクリレート、エチル（メタ）アクリレート、プロピル（メタ）アクリレート、イソプロピル（メタ）アクリレート、ブチル（メタ）アクリレート、アミル（メタ）アクリレート、イソブチル（メタ）アクリレート、ｔ－ブチル（メタ）アクリレート、ペンチル（メタ）アクリレート、イソアミル（メタ）アクリレート、へキシル（メタ）アクリレート、ヘプチル（メタ）アクリレート、オクチル（メタ）アクリレート、イソオクチル（メタ）アクリレート、２－エチルヘキシル（メタ）アクリレート、ノニル（メタ）アクリレート、デシル（メタ）アクリレート、イソデシル（メタ）アクリレート、ウンデシル（メタ）アクリレート、ドデシル（メタ）アクリレート、ラウリル（メタ）アクリレート、ステアリル（メタ）アクリレート、イソステアリル（メタ）アクリレート、ベンジル（メタ）アクリレート、テトラヒドロフルフリル（メタ）アクリレート、ブトキシエチル（メタ）アクリレート、エトキシジエチレングリコール（メタ）アクリレート、ポリエチレングリコールモノ（メタ）アクリレート、ポリプロピレングリコールモノ（メタ）アクリレート、メトキシエチレングリコール（メタ）アクリレート、エトキシエチル（メタ）アクリレート、メトキシポリエチレングリコール（メタ）アクリレート、メトキシポリプロピレングリコール（メタ）アクリレート、ジアセトン（メタ）アクリルアミド、イソブトキシメチル（メタ）アクリルアミド、Ｎ，Ｎ－ジメチル（メタ）アクリルアミド、ｔ－オクチル（メタ）アクリルアミド、ジメチルアミノエチル（メタ）アクリレート、ジエチルアミノエチル（メタ）アクリレート、７－アミノ－３，７－ジメチルオクチル（メタ）アクリレート、Ｎ，Ｎ－ジエチル（メタ）アクリルアミド、Ｎ，Ｎ－ジメチルアミノプロピル（メタ）アクリルアミド等が挙げられるが、これらに限定されない。
　上記単官能（メタ）アクリル化合物の市販品としては、アロニックス（登録商標）Ｍ１０１、Ｍ１０２、Ｍ１１０、Ｍ１１１、Ｍ１１３、Ｍ１１７、Ｍ５７００、ＴＯ－１３１７、Ｍ１２０、Ｍ１５０、Ｍ１５６（以上、東亞合成製）、ＭＥＤＯＬ１０、ＭＩＢＤＯＬ１０、ＣＨＤＯＬ１０、ＭＭＤＯＬ３０、ＭＥＤＯＬ３０、ＭＩＢＤＯＬ３０、ＣＨＤＯＬ３０、ＬＡ、ＩＢＸＡ、２－ＭＴＡ、ＨＰＡ、ビスコート＃１５０、＃１５５、＃１５８、＃１９０、＃１９２、＃１９３、＃２２０、＃２０００、＃２１００、＃２１５０（以上、大阪有機化学工業製）、ライトアクリレートＢＯ－Ａ、ＥＣ－Ａ、ＤＭＰ－Ａ、ＴＨＦ－Ａ、ＨＯＰ－Ａ、ＨＯＡ－ＭＰＥ、ＨＯＡ－ＭＰＬ、ＰＯ－Ａ、Ｐ－２００Ａ、ＮＰ－４ＥＡ、ＮＰ－８ＥＡ、エポキシエステルＭ－６００Ａ（以上、共栄社化学製）、ＫＡＹＡＲＡＤ（登録商標）　ＴＣ１１０Ｓ、Ｒ－５６４、Ｒ－１２８Ｈ（以上、日本化薬製）、ＮＫエステルＡＭＰ－１０Ｇ、ＡＭＰ－２０Ｇ（以上、新中村化学工業製）、ＦＡ－５１１Ａ、５１２Ａ、５１３Ａ（以上、日立化成製）、ＰＨＥ、ＣＥＡ、ＰＨＥ－２、ＰＨＥ－４、ＢＲ－３１、ＢＲ－３１Ｍ、ＢＲ－３２（以上、第一工業製薬製）、ＶＰ（ＢＡＳＦ製）、ＡＣＭＯ、ＤＭＡＡ、ＤＭＡＰＡＡ（以上、興人製）等が挙げられるが、これらに限定されない。
　また、アクリロイル基又はメタクリロイル基を２つ以上有する多官能（メタ）アクリル化合物としては、例えば、トリメチロールプロパンジ（メタ）アクリレート、トリメチロールプロパントリ（メタ）アクリレート、ＥＯ変性トリメチロールプロパントリ（メタ）アクリレート、ＰＯ変性トリメチロールプロパントリ（メタ）アクリレート、ＥＯ，ＰＯ変性トリメチロールプロパントリ（メタ）アクリレート、ジメチロールトリシクロデカンジ（メタ）アクリレート、ペンタエリスリトールトリ（メタ）アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ（メタ）アクリレート、エチレングリコールジ（メタ）アクリレート、テトラエチレングリコールジ（メタ）アクリレート、ポリエチレングリコールジ（メタ）アクリレート、ポリプロピレングリコールジ（メタ）アクリレート、１，４－ブタンジオールジ（メタ）アクリレート、１，６－へキサンジオールジ（メタ）アクリレート、ネオペンチルグリコールジ（メタ）アクリレート、１，９－ノナンジオールジ（メタ）アクリレート、１，１０－デカンジオールジ（メタ）アクリレート、１，３－アダマンタンジメタノールジ（メタ）アクリレート、トリス（２－ヒドロキシエチル）イソシアヌレートトリ（メタ）アクリレート、トリス（アクリロイルオキシ）イソシアヌレート、ビス（ヒドロキシメチル）トリシクロデカンジ（メタ）アクリレート、ジペンタエリスリトールペンタ（メタ）アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ（メタ）アクリレート、ＥＯ変性２，２－ビス（４－（（メタ）アクリロキシ）フェニル）プロパン、ＰＯ変性２，２－ビス（４－（（メタ）アクリロキシ）フェニル）プロパン、ＥＯ，ＰＯ変性２，２－ビス（４－（（メタ）アクリロキシ）フェニル）プロパン等が挙げられるが、これらに限定されない。
　上記多官能（メタ）アクリル化合物の市販品としては、ユピマー（登録商標）ＵＶ　ＳＡ１００２、ＳＡ２００７（以上、三菱化学製）、ビスコート＃１９５、＃２３０、＃２１５、＃２６０、＃３３５ＨＰ、＃２９５、＃３００、＃３６０、＃７００、ＧＰＴ、３ＰＡ（以上、大阪有機化学工業製）、ライトアクリレート４ＥＧ－Ａ、９ＥＧ－Ａ、ＮＰ－Ａ、ＤＣＰ－Ａ、ＢＰ－４ＥＡ、ＢＰ－４ＰＡ、ＴＭＰ－Ａ、ＰＥ－３Ａ、ＰＥ－４Ａ、ＤＰＥ－６Ａ（以上、共栄社化学製）、ＫＡＹＡＲＡＤ（登録商標）　ＰＥＴ－３０、ＴＭＰＴＡ、Ｒ－６０４、ＤＰＨＡ、ＤＰＣＡ－２０、－３０、－６０、－１２０、ＨＸ－６２０、Ｄ－３１０、Ｄ－３３０（以上、日本化薬製）、アロニックス（登録商標）Ｍ２０８、Ｍ２１０、Ｍ２１５、Ｍ２２０、Ｍ２４０、Ｍ３０５、Ｍ３０９、Ｍ３１０、Ｍ３１５、Ｍ３２５、Ｍ４００（以上、東亞合成製）、リポキシ（登録商標）ＶＲ－７７、ＶＲ－６０、ＶＲ－９０（以上、昭和高分子製）等が挙げられるが、これらに限定されない。
　なお、上述した化合物群において、（メタ）アクリレートとは、アクリレートまたはそれと同等のアルコール残基を有するメタクリレートを意味する。（メタ）アクリロイル基とは、アクリロイル基またはそれと同等のアルコール残基を有するメタクリロイル基を意味する。ＥＯは、エチレンオキサイドを示し、ＥＯ変性化合物Ａとは、化合物Ａの（メタ）アクリル酸残基とアルコール残基がエチレンオキサイド基のブロック構造を介して結合している化合物を示す。また、ＰＯは、プロピレンオキサイドを示し、ＰＯ変性化合物Ｂとは、化合物Ｂの（メタ）アクリル酸残基とアルコール残基がプロピレンオキサイド基のブロック構造を介して結合している化合物を示す。
　重合性化合物である成分（ａ１）の硬化性組成物（Ａ１）における配合割合は、成分（ａ１）、成分（ｂ１）、成分（ｃ１）、成分（ｅ１）の合計重量、すなわち溶剤である成分（ｄ１）を除く硬化性組成物（Ａ１）の成分の合計重量に対して、５０重量％以上１００重量％以下であるとよい。また、好ましくは、８０重量％以上１００重量％以下であり、さらに好ましくは９０重量％より大きく１００重量％以下である。
　重合性化合物である成分（ａ１）の硬化性組成物（Ａ１）における配合割合を、成分（ａ１）、成分（ｂ１）、成分（ｃ１）、成分（ｅ１）の合計重量に対して５０重量％以上とすることにより、得られる硬化膜をある程度の機械的強度を有する硬化膜とすることができる。
　重合性化合物である成分（ａ２）の硬化性組成物（Ａ２）における配合割合は、成分（ａ２）、成分（ｂ２）、成分（ｃ２）の合計重量、すなわち溶剤である成分（ｄ２）を除く硬化性組成物（Ａ２）の成分の合計重量に対して、５０重量％以上９９．９重量％以下であるとよい。また、好ましくは、８０重量％以上９９重量％以下であり、さらに好ましくは９０重量％より大きく９８重量％以下である。
　重合性化合物である成分（ａ２）の硬化性組成物（Ａ２）における配合割合を、成分（ａ２）、成分（ｂ２）、成分（ｃ２）の合計重量に対して５０重量％以上とすることにより、得られる硬化膜をある程度の機械的強度を有する硬化膜とすることができる。
　また、後述するように、硬化性組成物（Ａ１）は、成分（ｄ１）を含有することが好ましく、成分（ａ１）は溶剤である成分（ｄ１）を含む硬化性組成物（Ａ１）の成分の合計重量に対して、０．０１重量％以上１０重量％以下であるとよい。
　＜成分（ｂ）：光重合開始剤＞
　成分（ｂ）は、光重合開始剤である。
　本明細書において光重合開始剤は、所定の波長の光を感知して上記重合因子（ラジカル）を発生させる化合物である。具体的には、光重合開始剤は、光（赤外線、可視光線、紫外線、遠紫外線、Ｘ線、電子線等の荷電粒子線等、放射線）によりラジカルを発生する重合開始剤（ラジカル発生剤）である。
　成分（ｂ）は、一種類の光重合開始剤で構成されていてもよく、複数種類の光重合開始剤で構成されていてもよい。
　ラジカル発生剤としては、例えば、２－（ｏ－クロロフェニル）－４，５－ジフェニルイミダゾール二量体、２－（ｏ－クロロフェニル）－４，５－ジ（メトキシフェニル）イミダゾール二量体、２－（ｏ－フルオロフェニル）－４，５－ジフェニルイミダゾール二量体、２－（ｏ－又はｐ－メトキシフェニル）－４，５－ジフェニルイミダゾール二量体等の置換基を有してもよい２，４，５－トリアリールイミダゾール二量体；ベンゾフェノン、Ｎ，Ｎ’－テトラメチル－４，４’－ジアミノベンゾフェノン（ミヒラーケトン）、Ｎ，Ｎ’－テトラエチル－４，４’－ジアミノベンゾフェノン、４－メトキシ－４’－ジメチルアミノベンゾフェノン、４－クロロベンゾフェノン、４，４’－ジメトキシベンゾフェノン、４，４’－ジアミノベンゾフェノン等のベンゾフェノン誘導体；２－ベンジル－２－ジメチルアミノ－１－（４－モルフォリノフェニル）－ブタノン－１、２－メチル－１－〔４－（メチルチオ）フェニル〕－２－モルフォリノ－プロパン－１－オン等のα―アミノ芳香族ケトン誘導体；２－エチルアントラキノン、フェナントレンキノン、２－ｔ－ブチルアントラキノン、オクタメチルアントラキノン、１，２－ベンズアントラキノン、２，３－ベンズアントラキノン、２－フェニルアントラキノン、２，３－ジフェニルアントラキノン、１－クロロアントラキノン、２－メチルアントラキノン、１，４－ナフトキノン、９，１０－フェナンタラキノン、２－メチル－１，４－ナフトキノン、２，３－ジメチルアントラキノン等のキノン類；ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインフェニルエーテル等のベンゾインエーテル誘導体；ベンゾイン、メチルベンゾイン、エチルベンゾイン、プロピルベンゾイン等のベンゾイン誘導体；ベンジルジメチルケタール等のベンジル誘導体；９－フェニルアクリジン、１，７－ビス（９，９’－アクリジニル）ヘプタン等のアクリジン誘導体；Ｎ－フェニルグリシン等のＮ－フェニルグリシン誘導体；アセトフェノン、３－メチルアセトフェノン、アセトフェノンベンジルケタール、１－ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、２，２－ジメトキシ－２－フェニルアセトフェノン等のアセトフェノン誘導体；チオキサントン、ジエチルチオキサントン、２－イソプロピルチオキサントン、２－クロロチオキサントン等のチオキサントン誘導体；２，４，６－トリメチルベンゾイルジフェニルフォスフィンオキサイド、ビス（２，４，６－トリメチルベンゾイル）フェニルフォスフィンオキサイド、ビス－（２，６－ジメトキシベンゾイル）－２，４，４－トリメチルペンチルフォスフィンオキサイド等のアシルフォスフィンオキサイド誘導体；１，２－オクタンジオン，１－［４－（フェニルチオ）－，２－（Ｏ－ベンゾイルオキシム）］、エタノン，１－［９－エチル－６－（２－メチルベンゾイル）－９Ｈ－カルバゾール－３－イル］－，１－（Ｏ－アセチルオキシム）等のオキシムエステル誘導体；キサントン、フルオレノン、ベンズアルデヒド、フルオレン、アントラキノン、トリフェニルアミン、カルバゾール、１－（４－イソプロピルフェニル）－２－ヒドロキシ－２－メチルプロパン－１－オン、２－ヒドロキシ－２－メチル－１－フェニルプロパン－１－オン等が挙げられるが、これらに限定されない。
　上記ラジカル発生剤の市販品として、Ｉｒｇａｃｕｒｅ　１８４、３６９、６５１、５００、８１９、９０７、７８４、２９５９、ＣＧＩ－１７００、－１７５０、－１８５０、ＣＧ２４－６１、Ｄａｒｏｃｕｒ　１１１６、１１７３、Ｌｕｃｉｒｉｎ（登録商標）　ＴＰＯ、ＬＲ８８９３、ＬＲ８９７０（以上、ＢＡＳＦ製）、ユベクリルＰ３６（ＵＣＢ製）等が挙げられるが、これらに限定されない。
　これらの中でも、成分（ｂ）は、アシルフォスフィンオキサイド系重合開始剤であることが好ましい。なお、上記の例のうち、アシルフォスフィンオキサイド系重合開始剤は、２，４，６－トリメチルベンゾイルジフェニルフォスフィンオキサイド、ビス（２，４，６－トリメチルベンゾイル）フェニルフォスフィンオキサイド、ビス（２，６－ジメトキシベンゾイル）－２，４，４－トリメチルペンチルフォスフィンオキサイドなどのアシルフォスフィンオキサイド化合物である。
　本発明において、硬化性組成物（Ａ１）は実質的に光反応性を有さないものとする。このために、光重合開始剤である成分（ｂ１）の硬化性組成物（Ａ１）における配合割合は、成分（ａ１）、成分（ｂ１）、後述する成分（ｃ１）、成分（ｅ１）の合計重量、すなわち溶剤成分（ｄ１）を除く硬化性組成物（Ａ１）の成分の合計重量に対して、０．１重量％未満とする。また、好ましくは、０．０１重量％以下であり、さらに好ましくは０．００１重量％以下である。
　光重合開始剤である成分（ｂ２）の硬化性組成物（Ａ２）における配合割合は、成分（ａ２）、成分（ｂ２）、後述する成分（ｃ２）の合計重量、すなわち溶剤成分（ｄ２）を除く硬化性組成物（Ａ２）の成分の合計重量に対して、０．１重量％以上５０重量％以下であるとよい。また、好ましくは、０．１重量％以上２０重量％以下であり、さらに好ましくは１重量％以上１０重量％以下である。
　硬化性組成物（Ａ２）における成分（ｂ２）の配合割合を成分（ａ２）、成分（ｂ２）、成分（ｃ２）の合計重量に対して０．１重量％以上とすることにより、組成物の硬化速度が速くなり、反応効率を良くすることができる。また、成分（ｂ２）の配合割合を成分（ａ２）、成分（ｂ２）、成分（ｃ２）の合計重量に対して５０重量％以下とすることにより、得られる硬化膜をある程度の機械的強度を有する硬化膜とすることができる。
　＜成分（ｃ）：非重合性化合物＞
　本実施形態に係る硬化性組成物（Ａ１）及び（Ａ２）は、前述した、成分（ａ）、成分（ｂ）の他に、種々の目的に応じ、本発明の効果を損なわない範囲で、更に非重合性化合物である成分（ｃ）を含有することができる。このような成分（ｃ）としては、（メタ）アクリロイル基などの重合性官能基を有さず、かつ、所定の波長の光を感知して上記重合因子（ラジカル）を発生させる能力を有さない化合物が挙げられる。例えば、増感剤、水素供与体、内添型離型剤、界面活性剤、酸化防止剤、ポリマー成分、その他添加剤等が挙げられる。成分（ｃ）として前記化合物を複数種類含有してもよい。
　増感剤は、重合反応促進や反応転化率の向上を目的として、適宜添加される化合物である。増感剤として、例えば、増感色素等が挙げられる。
　増感色素は、特定の波長の光を吸収することにより励起され、光重合開始剤である成分（ｂ）と相互作用する化合物である。なお、ここで記載する相互作用とは、励起状態の増感色素から光重合開始剤である成分（ｂ）へのエネルギー移動や電子移動等である。
　増感色素の具体例としては、アントラセン誘導体、アントラキノン誘導体、ピレン誘導体、ペリレン誘導体、カルバゾール誘導体、ベンゾフェノン誘導体、チオキサントン誘導体、キサントン誘導体、クマリン誘導体、フェノチアジン誘導体、カンファキノン誘導体、アクリジン系色素、チオピリリウム塩系色素、メロシアニン系色素、キノリン系色素、スチリルキノリン系色素、ケトクマリン系色素、チオキサンテン系色素、キサンテン系色素、オキソノール系色素、シアニン系色素、ローダミン系色素、ピリリウム塩系色素等が挙げられるが、これらに限定されない。
　増感剤は、一種類を単独で用いてもよいし、二種類以上を混合して用いてもよい。
　水素供与体は光重合開始剤である成分（ｂ）から発生した開始ラジカルや、重合成長末端のラジカルと反応し、より反応性が高いラジカルを発生する化合物である。光重合開始剤である成分（ｂ）が光ラジカル発生剤である場合に添加することが好ましい。
　このような水素供与体の具体例としては、ｎ－ブチルアミン、ジ－ｎ－ブチルアミン、アリルチオ尿素、トリエチルアミン、トリエチレンテトラミン、４，４’－ビス（ジアルキルアミノ）ベンゾフェノン、Ｎ，Ｎ－ジメチルアミノ安息香酸エチルエステル、Ｎ，Ｎ－ジメチルアミノ安息香酸イソアミルエステル、ペンチル－４－ジメチルアミノベンゾエート、トリエタノールアミン、Ｎ－フェニルグリシンなどのアミン化合物、２－メルカプト－Ｎ－フェニルベンゾイミダゾール、メルカプトプロピオン酸エステル等のメルカプト化合物、ｓ－ベンジルイソチウロニウム－ｐ－トルエンスルフィネート等の硫黄化合物、トリ－ｎ－ブチルホスフィン等のリン化合物等が挙げられるが、これらに限定されない。
　水素供与体は、一種類を単独で用いてもよいし二種類以上を混合して用いてもよい。また、水素供与体は、増感剤としての機能を有してもよい。
　モールドとレジストとの間の界面結合力の低減、すなわち後述する離型工程における離型力の低減を目的として、硬化性組成物に内添型離型剤を添加することができる。本明細書において内添型とは、硬化性組成物の配置工程の前に予め硬化性組成物に添加されていることを意味する。
　内添型離型剤としては、シリコーン系界面活性剤、フッ素系界面活性剤および炭化水素系界面活性剤等の界面活性剤等を使用できる。なお、本発明において内添型離型剤は、重合性を有さないものとする。
　フッ素系界面活性剤としては、パーフルオロアルキル基を有するアルコールのポリアルキレンオキサイド（ポリエチレンオキサイド、ポリプロピレンオキサイド等）付加物、パーフルオロポリエーテルのポリアルキレンオキサイド（ポリエチレンオキサイド、ポリプロピレンオキサイド等）付加物等が含まれる。なお、フッ素系界面活性剤は、分子構造の一部（例えば、末端基）に、ヒドロキシル基、アルコキシ基、アルキル基、アミノ基、チオール基等を有してもよい。
　フッ素系界面活性剤としては、市販品を使用してもよい。市販品としては、例えば、メガファック（登録商標）Ｆ－４４４、ＴＦ－２０６６、ＴＦ－２０６７、ＴＦ－２０６８（以上、ＤＩＣ製）、フロラード　ＦＣ－４３０、ＦＣ－４３１（以上、住友スリーエム製）、サーフロン（登録商標）　Ｓ－３８２（ＡＧＣ製）、ＥＦＴＯＰ　ＥＦ－１２２Ａ、１２２Ｂ、１２２Ｃ、ＥＦ－１２１、ＥＦ－１２６、ＥＦ－１２７、ＭＦ－１００（以上、トーケムプロダクツ製）、ＰＦ－６３６、ＰＦ－６３２０、ＰＦ－６５６、ＰＦ－６５２０（以上、ＯＭＮＯＶＡ　Ｓｏｌｕｔｉｏｎｓ製）、ユニダイン（登録商標）ＤＳ－４０１、ＤＳ－４０３、ＤＳ－４５１（以上、ダイキン工業製）、フタージェント（登録商標）　２５０、２５１、２２２Ｆ、２０８Ｇ（以上、ネオス製）等が挙げられる。
　また、内添型離型剤は、炭化水素系界面活性剤でもよい。
　炭化水素系界面活性剤としては、炭素数１～５０のアルキルアルコールに炭素数２～４のアルキレンオキサイドを付加した、アルキルアルコールポリアルキレンオキサイド付加物等が含まれる。
　アルキルアルコールポリアルキレンオキサイド付加物としては、メチルアルコールエチレンオキサイド付加物、デシルアルコールエチレンオキサイド付加物、ラウリルアルコールエチレンオキサイド付加物、セチルアルコールエチレンオキサイド付加物、ステアリルアルコールエチレンオキサイド付加物、ステアリルアルコールエチレンオキサイド／プロピレンオキサイド付加物等が挙げられる。なお、アルキルアルコールポリアルキレンオキサイド付加物の末端基は、単純にアルキルアルコールにポリアルキレンオキサイドを付加して製造できるヒドロキシル基に限定されない。このヒドロキシル基が他の置換基、例えば、カルボキシル基、アミノ基、ピリジル基、チオール基、シラノール基等の極性官能基やアルキル基、アルコキシ基等の疎水性官能基に置換されていてもよい。
　アルキルアルコールポリアルキレンオキサイド付加物は、市販品を使用してもよい。市販品としては、例えば、青木油脂工業製のポリオキシエチレンメチルエーテル（メチルアルコールエチレンオキサイド付加物）（ＢＬＡＵＮＯＮ　ＭＰ－４００、ＭＰ－５５０、ＭＰ－１０００）、青木油脂工業製のポリオキシエチレンデシルエーテル（デシルアルコールエチレンオキサイド付加物）（ＦＩＮＥＳＵＲＦ　Ｄ－１３０３、Ｄ－１３０５、Ｄ－１３０７、Ｄ－１３１０）、青木油脂工業製のポリオキシエチレンラウリルエーテル（ラウリルアルコールエチレンオキサイド付加物）（ＢＬＡＵＮＯＮ　ＥＬ－１５０５）、青木油脂工業製のポリオキシエチレンセチルエーテル（セチルアルコールエチレンオキサイド付加物）（ＢＬＡＵＮＯＮ　ＣＨ－３０５、ＣＨ－３１０）、青木油脂工業製のポリオキシエチレンステアリルエーテル（ステアリルアルコールエチレンオキサイド付加物）（ＢＬＡＵＮＯＮ　ＳＲ－７０５、ＳＲ－７０７、ＳＲ－７１５、ＳＲ－７２０、ＳＲ－７３０、ＳＲ－７５０）、青木油脂工業製のランダム重合型ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンステアリルエーテル（ＢＬＡＵＮＯＮ　ＳＡ－５０／５０　１０００Ｒ、ＳＡ－３０／７０　２０００Ｒ）、ＢＡＳＦ製のポリオキシエチレンメチルエーテル（Ｐｌｕｒｉｏｌ（登録商標）　Ａ７６０Ｅ）、花王製のポリオキシエチレンアルキルエーテル（エマルゲンシリーズ）等が挙げられる。
　これらの炭化水素系界面活性剤の中でも内添型離型剤としては、アルキルアルコールポリアルキレンオキサイド付加物であることが好ましく、長鎖アルキルアルコールポリアルキレンオキサイド付加物であることがより好ましい。
　内添型離型剤は、一種類を単独で用いてもよいし、二種類以上を混合して用いてもよい。
　非重合性化合物である成分（ｃ）の硬化性組成物における配合割合は、成分（ａ）、成分（ｂ）、後述する成分（ｃ）の合計重量、すなわち溶剤を除く硬化性組成物の成分の合計重量に対して、０重量％以上５０重量％以下であるとよい。また、好ましくは、０．１重量％以上５０重量％以下であり、さらに好ましくは０．１重量％以上２０重量％以下である。
　成分（ｃ）の配合割合を成分（ａ）、成分（ｂ）、成分（ｃ）の合計重量に対して５０重量％以下とすることにより、得られる硬化膜をある程度の機械的強度を有する硬化膜とすることができる。
　＜成分（ｄ）：溶剤＞
　本実施形態に係る硬化性組成物は、溶剤である成分（ｄ）を含有していてもよい。成分（ｄ）としては、成分（ａ）、成分（ｂ）、成分（ｃ）が溶解する溶剤であれば、特に限定はされない。好ましい溶剤としては常圧における沸点が８０℃以上２００℃以下の溶剤である。さらに好ましくは、エステル構造、ケトン構造、水酸基、エーテル構造のいずれかを少なくとも１つ有する溶剤である。具体的には、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテル、シクロヘキサノン、２－ヘプタノン、γ－ブチロラクトン、乳酸エチルから選ばれる単独、あるいはこれらの混合溶剤である。
　本実施形態に係る硬化性組成物（Ａ１）は、成分（ｄ１）を含有することが好ましい。後述するように、基板上への硬化性組成物（Ａ１）の塗布方法としてスピンコート法が好ましいためである。
＜成分（ｅ１）：表面張力が高い化合物＞
　成分（ｅ１）は、重合性化合物である成分（ａ１）より表面張力が高い、室温において液体の化合物である。または、重合性化合物である成分（ａ１）との混合物が室温において液状であり、かつ、同混合物が重合性化合物である成分（ａ１）よりも高い表面張力を有する、室温において固体の化合物である。
　このような化合物としては、重合性化合物である成分（ａ１）より表面張力が高く、成分（ａ１）及び成分（ａ２）、成分（ｄ１）に溶解し光重合開始能を有さない化合物に限定される。好ましい表面張力が高い化合物としては、成分（ａ１）及び成分（ａ２）とラジカル反応を経て結合できる化合物である。さらに好ましくは、ラジカル重合を促進させる水素供与体である。具体的には、チオール化合物及びアミン化合物などが好ましい例として挙げられる。また成分（ｅ１）は、一種類の化合物のみから構成されていてもよく、複数種類の化合物で構成されていてもよい。
　成分（ｅ１）の具体例としては、上記を満足する化合物であれば特に限定されないが、本発明の発明者らは以下の化合物を好ましい例として見出した。
具体例としては、ペンタエリスリトールテトラキス（３－メルカプトブチレート）、１，１０－デカンジチオール、ペンタエリスリトールテトラキス（３－メルカプトプロピオネート)、１，３，５－トリス（３－メルカプトブチリルオキシエチル）－１，３，５－トリアジン－２，４，６（１Ｈ，３Ｈ，５Ｈ）－トリオン、トリメチロールプロパントリス（３－メルカプトプロピオネート）、１，４－ビス（３－メルカプトブチリルオキシ）ブタンが挙げられる。
　特に好ましい例としてはペンタエリスリトールテトラキス（３－メルカプトブチレート）、１，１０－デカンジチオール、ペンタエリスリトールテトラキス（３－メルカプトプロピオネート)、１，３，５－トリス（３－メルカプトブチリルオキシエチル）－１，３，５－トリアジン－２，４，６（１Ｈ，３Ｈ，５Ｈ）－トリオンが挙げられる。
　＜硬化性組成物の配合時の温度＞
　本実施形態の硬化性組成物（Ａ１）及び（Ａ２）を調製する際には、各成分を所定の温度条件下で混合・溶解させる。具体的には、０℃以上１００℃以下の範囲で行う。
　＜硬化性組成物（Ａ１）及び（Ａ２）の粘度＞
　本実施形態に係る硬化性組成物（Ａ１）及び（Ａ２）は液体であることが好ましい。なぜならば、後述する型接触工程において、硬化性組成物（Ａ１）及び／または（Ａ２）のスプレッド及びフィルが速やかに完了する、つまり充填時間が短いからである。
　本実施形態に係る溶剤である成分（ｄ１）を除く硬化性組成物（Ａ１）の成分の混合物の２５℃での粘度は、１ｍＰａ・ｓ以上１０００ｍＰａ・ｓ以下であることが好ましい。また、より好ましくは、１ｍＰａ・ｓ以上５００ｍＰａ・ｓ以下であり、さらに好ましくは、１ｍＰａ・ｓ以上１００ｍＰａ・ｓ以下である。
　本実施形態に係る溶剤である成分（ｄ２）を除く硬化性組成物（Ａ２）の成分の混合物の２５℃での粘度は、１ｍＰａ・ｓ以上１００ｍＰａ・ｓ以下であることが好ましい。また、より好ましくは、１ｍＰａ・ｓ以上５０ｍＰａ・ｓ以下である。
　硬化性組成物（Ａ１）及び（Ａ２）の粘度を１００ｍＰａ・ｓ以下とすることにより、硬化性組成物（Ａ１）及び（Ａ２）をモールドに接触する際に、スプレッド及びフィルが速やかに完了する（非特許文献１）。つまり、本実施形態に係る硬化性組成物を用いることで、光ナノインプリント法を高いスループットで実施することができる。また、充填不良によるパターン欠陥が生じにくい。
　また、粘度を１ｍＰａ・ｓ以上とすることにより、硬化性組成物（Ａ１）及び（Ａ２）を基板上に塗布する際に塗りムラが生じにくくなる。さらに、硬化性組成物（Ａ１）及び（Ａ２）をモールドに接触する際に、モールドの端部から硬化性組成物（Ａ１）及び（Ａ２）が流出しにくくなる。
　＜硬化性組成物の表面張力＞
　本実施形態に係る硬化性組成物（Ａ１）及び（Ａ２）の表面張力は、溶剤である成分（ｄ）を除く硬化性組成物（Ａ１）及び（Ａ２）の成分の組成物の２３℃での表面張力が、５ｍＮ／ｍ以上７０ｍＮ／ｍ以下であることが好ましい。また、より好ましくは、７ｍＮ／ｍ以上５０ｍＮ／ｍ以下であり、さらに好ましくは、１０ｍＮ／ｍ以上４０ｍＮ／ｍ以下である。ここで、表面張力が高いほど、例えば５ｍＮ／ｍ以上であると、毛細管力が強く働くため、硬化性組成物（Ａ１）及び／または（Ａ２）をモールドに接触させた際に、充填（スプレッド及びフィル）が短時間で完了する（非特許文献１）。本発明の硬化性組成物（Ａ１）は、成分（ｅ１）を含有しているため、従来のＳＳＴ-ＮＩＬ用の硬化性組成物（Ａ１）と比較しさらに表面張力が高い。
　また、表面張力を７０ｍＮ／ｍ以下とすることにより、硬化性組成物を硬化して得られる硬化膜が表面平滑性を有する硬化膜となる。
　本実施形態においては、溶剤である成分（ｄ１）を除く硬化性組成物（Ａ１）の成分の組成物の表面張力が、溶剤である成分（ｄ２）を除く硬化性組成物（Ａ２）の成分の組成物の表面張力より高いことが好ましい。型接触工程前に、後述するマランゴニ効果により硬化性組成物（Ａ２）のプレスプレッドが加速され（液滴が広範囲に広がり）、後述する型接触工程中のスプレッドに要する時間が短縮され、結果として充填時間が短縮されるためである。
　マランゴニ効果とは液体の表面張力の局所的な差に起因した自由表面移動の現象である（非特許文献２）。表面張力、つまり表面エネルギーの差を駆動力として、表面張力の低い液体が、より広い表面を覆うような拡散が生じる。つまり、基板全面に表面張力の高い硬化性組成物（Ａ１）を塗布しておき、表面張力の低い硬化性組成物（Ａ２）を滴下すれば、硬化性組成物（Ａ２）のプレスプレッドが加速されるのである。
　＜硬化性組成物の接触角＞
　本実施形態に係る硬化性組成物（Ａ１）及び（Ａ２）の接触角は、溶剤である成分（ｄ）を除く硬化性組成物（Ａ１）及び（Ａ２）の成分の組成物について、基板表面及びモールド表面の双方に対して０°以上９０°以下であることが好ましい。接触角が９０°より大きいと、モールドパターンの内部や基板－モールドの間隙において毛細管力が負の方向（モールドと硬化性組成物間の接触界面を収縮させる方向）に働き、充填しない。０°以上３０°以下であることが特に好ましい。接触角が低いほど毛細管力が強く働くため、充填速度が速い(非特許文献１)。
　本実施形態に係る硬化性組成物（Ａ１）及び（Ａ２）の粘度、表面張力、及び接触角は、溶剤である成分（ｄ）を添加することで変化し得るが、溶剤である成分（ｄ）は硬化性組成物の硬化を妨げる。従って、本実施形態では、溶剤である成分（ｄ）を除く硬化性組成物（Ａ１）及び（Ａ２）の成分の組成物の粘度、表面張力、及び接触角を所定の値にすることが好ましい。
　＜硬化性組成物に混入している不純物＞
　本実施形態に係る硬化性組成物（Ａ１）及び（Ａ２）は、できる限り不純物を含まないことが好ましい。ここで記載する不純物とは、前述した成分（ａ）、成分（ｂ）、成分（ｃ）成分（ｄ）および成分（ｅ１）以外のものを意味する。
　したがって、本実施形態に係る硬化性組成物は、精製工程を経て得られたものであることが好ましい。このような精製工程としては、フィルタを用いた濾過等が好ましい。
　フィルタを用いた濾過を行う際には、具体的には、前述した成分（ａ）、成分（ｂ）および必要に応じて添加する添加成分を混合した後、例えば、孔径０．００１μｍ以上５．０μｍ以下のフィルタで濾過することが好ましい。フィルタを用いた濾過を行う際には、多段階で行ったり、多数回繰り返したりすることがさらに好ましい。また、濾過した液を再度濾過してもよい。孔径の異なるフィルタを複数用いて濾過してもよい。濾過に使用するフィルタとしては、ポリエチレン樹脂製、ポリプロピレン樹脂製、フッ素樹脂製、ナイロン樹脂製等のフィルタを使用することができるが、特に限定されるものではない。
　このような精製工程を経ることで、硬化性組成物に混入したパーティクル等の不純物を取り除くことができる。これにより、パーティクル等の不純物によって、硬化性組成物を硬化した後に得られる硬化膜に不用意に凹凸が生じてパターンの欠陥が発生することを防止することができる。
　なお、本実施形態に係る硬化性組成物を、半導体集積回路を製造するために使用する場合、製品の動作を阻害しないようにするため、硬化性組成物中に金属原子を含有する不純物（金属不純物）が混入することを極力避けることが好ましい。このような場合、硬化性組成物に含まれる金属不純物の濃度としては、１０ｐｐｍ以下が好ましく、１００ｐｐｂ以下にすることがさらに好ましい。
［パターン形成方法］
　次に、本実施形態に係るパターン形成方法について、図２Ａ～２Ｇの模式断面図を用いて説明する。
　本実施形態に係るパターン形成方法は、光ナノインプリント方法の一形態である。本実施形態のパターン形成方法は、
　基板２０１上に、前述の本実施形態の硬化性組成物（Ａ１）２０２を積層する第一積層工程（１）、
　前記硬化性組成物（Ａ１）２０２の層上に、硬化性組成物（Ａ２）２０３を積層する第二積層工程（２）、
　パターンを有するモールド２０５と基板２０１の間に硬化性組成物（Ａ１）２０２と硬化性組成物（Ａ２）２０３が部分的に混合してなる混合層をサンドイッチする型接触工程（３）、
　前記混合層をモールド２０５側から照射光２０６を照射することにより硬化させる光照射工程（４）、
　モールド２０５を硬化後の硬化性組成物からなる硬化膜２０７から引き離す離型工程（５）、
を有する。
　本実施形態に係るパターン形状を有する硬化物の製造方法によって得られる硬化物は、１ｎｍ以上１０ｍｍ以下のサイズのパターンを有する膜であることが好ましい。また、１０ｎｍ以上１００μｍ以下のサイズのパターンを有する膜であることがより好ましい。なお、一般に、光を利用してナノサイズ（１ｎｍ以上１００ｎｍ以下）のパターン（凹凸構造）を有する膜を作製するパターン形成技術は、光ナノインプリント法と呼ばれている。本実施形態に係るパターン形成方法は、光ナノインプリント法を利用している。
　以下、各工程について説明する。
　＜第一積層工程（１）＞
　本工程（第一積層工程）では、図２Ａ及び２Ｂに示す通り、前述した本実施形態に係る硬化性組成物（Ａ１）２０２を基板２０１上に積層（塗布）して塗布膜を形成する。
　硬化性組成物（Ａ１）２０２を配置する対象である基板２０１は、被加工基板であり、通常、シリコンウエハが用いられる。基板２０１上には、被加工層が形成されていてもよい。基板２０１及び被加工層の間にさらに他の層が形成されていてもよい。また、基板２０１として石英基板を用いれば、石英インプリントモールドのレプリカ（モールドレプリカ）を作製することができる。
　ただし本発明において、基板２０１はシリコンウエハや石英基板に限定されるものではない。基板２０１は、アルミニウム、チタン－タングステン合金、アルミニウム－ケイ素合金、アルミニウム－銅－ケイ素合金、酸化ケイ素、窒化ケイ素等の半導体デバイス用基板として知られているものの中からも任意に選択することができる。
　なお、使用される基板２０１（被加工基板）あるいは被加工層の表面は、シランカップリング処理、シラザン処理、有機薄膜の成膜、等の表面処理によって硬化性組成物（Ａ１）２０２及び（Ａ２）２０３との密着性を向上されていてもよい。
　本実施形態において、硬化性組成物（Ａ１）２０２を基板２０１あるいは被加工層上に配置する方法としては、例えば、インクジェット法、ディップコート法、エアーナイフコート法、カーテンコート法、ワイヤーバーコート法、グラビアコート法、エクストルージョンコート法、スピンコート法、スリットスキャン法等を用いることができる。本発明においては、スピンコート法が特に好ましい。
　スピンコート法を用いて硬化性組成物（Ａ１）２０２を基板２０１あるいは被加工層上に配置する場合、必要に応じてベーク工程を実施し、溶剤である成分（ｄ１）を揮発させても良い。
　なお、硬化性組成物（Ａ１）２０２の膜の平均膜厚は、使用する用途によっても異なるが、例えば、０．１ｎｍ以上１０，０００ｎｍ以下であり、好ましくは１ｎｍ以上２０ｎｍ以下であり、特に好ましくは１ｎｍ以上１０ｎｍ以下である。
　＜第二積層工程（２）＞
　本工程（第二積層工程）では、図２Ｃ及び２Ｄに示す通り、硬化性組成物（Ａ２）２０３の液滴を、前記硬化性組成物（Ａ１）２０２の層上に離散的に滴下して配置することが好ましい。配置方法としてはインクジェット法が特に好ましい。硬化性組成物（Ａ２）２０３の液滴は、モールド２０５上に凹部が密に存在する領域に対向する基板２０１上には密に、凹部が疎に存在する領域に対向する基板２０１上には疎に配置される。このことにより、後述する残膜を、モールド２０５上のパターンの疎密によらずに均一な厚さに制御することができる。
　本発明においては、本工程（第二積層工程）で配置された硬化性組成物（Ａ２）２０３の液滴は、前述のように、マランゴニ効果により速やかに広がる（プレスプレッド）。
　＜型接触工程（３）＞
　次に、図２Ｅに示すように、前工程（第一および第二積層工程）で形成された硬化性組成物（Ａ１）２０２及び硬化性組成物（Ａ２）２０３が部分的に混合してなる液体の層にパターン形状を転写するための原型パターンを有するモールド２０５を接触させる。これにより、モールド２０５が表面に有する微細パターンの凹部に硬化性組成物（Ａ１）２０２及び硬化性組成物（Ａ２）２０３が部分的に混合してなる液体が充填（フィル）されて、モールド２０５の微細パターンに充填（フィル）された液膜となる。
　モールド２０５としては、次の工程（光照射工程）を考慮して光透過性の材料で構成されたモールド２０５を用いるとよい。モールド２０５を構成する材料の材質としては、具体的には、ガラス、石英、ＰＭＭＡ、ポリカーボネート樹脂等の光透過性樹脂、透明金属蒸着膜、ポリジメチルシロキサン等の柔軟膜、光硬化膜、金属膜等が好ましい。ただし、モールド２０５を構成する材料の材質として光透過性樹脂を使用する場合は、硬化性組成物（Ａ１）２０２または（Ａ２）２０３に含まれる成分に溶解しない樹脂を選択する必要がある。熱膨張係数が小さくパターン歪みが小さいことから、モールド２０５を構成する材料の材質は、石英であることが特に好ましい。
　モールド２０５が表面に有する微細パターンは、４ｎｍ以上２００ｎｍ以下のパターン高さを有することが好ましい。
　パターン高さが低いほど、離型工程においてモールド２０５をレジストの硬化膜２０７から引き剥がす力、すなわち離型力が低く、また、離型に伴ってレジストパターンがひきちぎられてマスク側に残存する離型欠陥数が少ない。モールドを引き剥がす際の衝撃によるレジストパターンの弾性変形で隣接レジストパターン同士が接触し、レジストパターンが癒着あるいは破損する場合があるが、パターン幅に対してパターン高さが２倍程度以下（アスペクト比２以下）であると、それらの不具合を回避できる可能性が高い。一方、パターン高さが低過ぎると、基板２０１（被加工基板）の加工精度が低い。
　モールド２０５には、硬化性組成物（Ａ１）２０２及び（Ａ２）２０３とモールド２０５の表面との剥離性を向上させるために、硬化性組成物（Ａ１）２０２及び（Ａ２）２０３とモールド２０５との型接触工程である本工程の前に表面処理を行っておいてもよい。表面処理の方法としては、モールド２０５の表面に離型剤を塗布して離型剤層を形成する方法が挙げられる。ここで、モールド２０５の表面に塗布する離型剤としては、シリコーン系離型剤、フッ素系離型剤、炭化水素系離型剤、ポリエチレン系離型剤、ポリプロピレン系離型剤、パラフィン系離型剤、モンタン系離型剤、カルナバ系離型剤等が挙げられる。例えば、ダイキン工業（株）製のオプツール（登録商標）ＤＳＸ等の市販の塗布型離型剤も好適に用いることができる。なお、離型剤は、一種類を単独で用いてもよいし、二種類以上を併用して用いてもよい。これらの中でも、フッ素系および炭化水素系の離型剤が特に好ましい。
　本工程（型接触工程）において、図２Ｅに示すように、モールド２０５と硬化性組成物（Ａ１）２０２及び（Ａ２）２０３とを接触させる際に、硬化性組成物（Ａ１）２０２及び（Ａ２）２０３に加える圧力は特に限定はされない。該圧力は０ＭＰａ以上１００ＭＰａ以下とするとよい。また、該圧力は０ＭＰａ以上５０ＭＰａ以下であることが好ましく、０ＭＰａ以上３０ＭＰａ以下であることがより好ましく、０ＭＰａ以上２０ＭＰａ以下であることがさらに好ましい。
　本発明では、前工程（第二積層工程）において硬化性組成物（Ａ２）２０３の液滴のプレスプレッドが進行しているため、本工程における硬化性組成物（Ａ２）２０３のスプレッドは速やかに完了する。硬化性組成物（Ａ２）２０３の液滴間境界領域においては、スプレッドが最後に完了し、かつ硬化性組成物（Ａ１）２０２の濃度が高いが、前述のように硬化性組成物（Ａ１）２０２の接触角が低いため、この領域においてもフィルが速やかに完了する。
　以上のように、本工程において硬化性組成物（Ａ１）２０２及び（Ａ２）２０３のスプレッド及びフィルが速やかに完了するため、モールド２０５と硬化性組成物（Ａ１）２０２及び（Ａ２）２０３を接触させる時間を短く設定できる。つまり短時間で多くのパターン形成工程を完了でき、高い生産性を得られることが、本発明の効果である。接触させる時間は、特に限定はされないが、例えば０．１秒以上６００秒以下とすると良い。また、該時間は０．１秒以上３秒以下であることが好ましく、０．１秒以上１秒以下であることが特に好ましい。０．１秒より短いと、スプレッド及びフィルが不十分となり、未充填欠陥と呼ばれる欠陥が多発する傾向がある。
　本工程は、大気雰囲気下、減圧雰囲気下、不活性ガス雰囲気下のいずれの条件下でも行うことができるが、酸素や水分による硬化反応への影響を防ぐことができるため、減圧雰囲気や不活性ガス雰囲気とすることが好ましい。不活性ガス雰囲気下で本工程を行う場合に使用することができる不活性ガスの具体例としては、窒素、二酸化炭素、ヘリウム、アルゴン、各種フロンガス等、あるいはこれらの混合ガスが挙げられる。大気雰囲気下を含めて特定のガスの雰囲気下で本工程を行う場合、好ましい圧力は、０．０００１気圧以上１０気圧以下である。
　型接触工程は、凝縮性ガスを含む雰囲気（以下、「凝縮性ガス雰囲気」と称する）下で行ってもよい。本明細書において凝縮性ガスとは、モールド２０５上に形成された微細パターンの凹部、およびモールド２０５と基板２０１との間隙に、硬化性組成物（Ａ１）２０２及び（Ａ２）２０３と一緒に雰囲気中のガスが充填されたとき、充填時に発生する毛細管圧力で凝縮して液化するガスのことを指す。なお凝縮性ガスは、型接触工程で硬化性組成物（Ａ１）２０２及び（Ａ２）２０３とモールド２０５とが接触する前は雰囲気中に気体として存在する（図１Ｄ及び部分拡大部参照）。
　凝縮性ガス雰囲気下で型接触工程を行うと、微細パターンの凹部に充填されたガスが硬化性組成物（Ａ１）２０２及び（Ａ２）２０３により発生する毛細管圧力により液化することで気泡が消滅するため、充填性が優れる。凝縮性ガスは、硬化性組成物（Ａ１）２０２及び／または（Ａ２）２０３に溶解してもよい。
　凝縮性ガスの沸点は、型接触工程の雰囲気温度以下であれば限定はされないが、－１０℃～２３℃が好ましく、さらに好ましくは１０℃～２３℃である。この範囲であれば、充填性がさらに優れる。
　凝縮性ガスの型接触工程の雰囲気温度での蒸気圧は、型接触工程で押印するときのモールド２０５と硬化性組成物（Ａ１）２０２及び（Ａ２）２０３とを接触させる際に、硬化性組成物（Ａ１）２０２及び（Ａ２）２０３に加える圧力以下であれば制限がないが、０．１～０．４ＭＰａが好ましい。この範囲であれば、充填性がさらに優れる。雰囲気温度での蒸気圧が０．４ＭＰａより大きいと、気泡の消滅の効果を十分に得ることができない傾向がある。一方、雰囲気温度での蒸気圧が０．１ＭＰａよりも小さいと、減圧が必要となり、装置が複雑になる傾向がある。
　型接触工程の雰囲気温度は、特に制限がないが、２０℃～２５℃が好ましい。
　凝縮性ガスとして、具体的には、トリクロロフルオロメタン等のクロロフルオロカーボン（ＣＦＣ）、フルオロカーボン（ＦＣ）、ハイドロクロロフルオロカーボン（ＨＣＦＣ）、１，１，１，３，３－ペンタフルオロプロパン（ＣＨＦ２ＣＨ２ＣＦ３、ＨＦＣ－２４５ｆａ、ＰＦＰ）等のハイドロフルオロカーボン（ＨＦＣ）、ペンタフルオロエチルメチルエーテル（ＣＦ３ＣＦ２ＯＣＨ３、ＨＦＥ－２４５ｍｃ）等のハイドロフルオロエーテル（ＨＦＥ）等のフロン類が挙げられる。
　これらのうち、型接触工程の雰囲気温度が２０℃～２５℃での充填性が優れるという観点から、１，１，１，３，３－ペンタフルオロプロパン（２３℃での蒸気圧０．１４ＭＰａ、沸点１５℃）、トリクロロフルオロメタン（２３℃での蒸気圧０．１０５６ＭＰａ、沸点２４℃）、およびペンタフルオロエチルメチルエーテルが好ましい。さらに、安全性が優れるという観点から、１，１，１，３，３－ペンタフルオロプロパンが特に好ましい。
　凝縮性ガスは、一種類を単独で用いてもよいし、二種類以上を混合して用いてもよい。またこれら凝縮性ガスは、空気、窒素、二酸化炭素、ヘリウム、アルゴン等の非凝縮性ガスと混合して用いてもよい。凝縮性ガスと混合する非凝縮性ガスとしては、充填性の観点から、ヘリウムが好ましい。ヘリウムはモールド２０５を透過することができる。そのため、型接触工程でモールド２０５上に形成された微細パターンの凹部に硬化性組成物（Ａ１）２０２及び／または（Ａ２）２０３と一緒に雰囲気中のガス（凝縮性ガスおよびヘリウム）が充填されたとき、凝縮性ガスが液化するとともにヘリウムはモールド２０５を透過する。
　＜光照射工程（４）＞
　次に、図２Ｆに示すように、硬化性組成物（Ａ１）２０２及び硬化性組成物（Ａ２）２０３が部分的に混合してなる混合層に対し、モールド２０５を介して照射光２０６を照射する。より詳細には、モールド２０５の微細パターンに充填された硬化性組成物（Ａ１）２０２及び／または（Ａ２）２０３に、モールド２０５を介して照射光２０６を照射する。これにより、モールド２０５の微細パターンに充填された硬化性組成物（Ａ１）２０２及び／または（Ａ２）２０３は、照射される照射光２０６によって硬化してパターン形状を有する硬化膜２０７となる。
　ここで、モールド２０５の微細パターンに充填された硬化性組成物（Ａ１）２０２及び／または（Ａ２）２０３に照射する照射光２０６は、硬化性組成物（Ａ１）２０２及び（Ａ２）２０３の感度波長に応じて選択される。具体的には、１５０ｎｍ以上４００ｎｍ以下の波長の紫外光や、Ｘ線、電子線等を適宜選択して使用することが好ましい。
　これらの中でも、照射光２０６は、紫外光が特に好ましい。これは、硬化助剤（光重合開始剤）として市販されているものは、紫外光に感度を有する化合物が多いからである。ここで紫外光を発する光源としては、例えば、高圧水銀灯、超高圧水銀灯、低圧水銀灯、Ｄｅｅｐ－ＵＶランプ、炭素アーク灯、ケミカルランプ、メタルハライドランプ、キセノンランプ、ＫｒＦエキシマレーザ、ＡｒＦエキシマレーザ、Ｆ２エキシマレーザ等が挙げられるが、超高圧水銀灯が特に好ましい。また使用する光源の数は１つでもよいし又は複数であってもよい。また、光照射を行う際には、モールド２０５の微細パターンに充填された硬化性組成物（Ａ１）２０２及び／または（Ａ２）２０３の全面に行ってもよく、一部領域にのみ行ってもよい。
　また、光照射は、基板２０１上の全領域に断続的に複数回行ってもよいし、全領域に連続照射してもよい。さらに、第一の照射過程で一部領域Ａを照射し、第二の照射過程で領域Ａとは異なる領域Ｂを照射してもよい。
　＜離型工程（５）＞
　次に、パターン形状を有する硬化膜２０７とモールド２０５と引き離す。本工程（離型工程）では、図２Ｇに示すように、パターン形状を有する硬化膜２０７とモールド２０５とを引き離し、工程（４）（光照射工程）において、モールド２０５上に形成された微細パターンの反転パターンとなるパターン形状を有する硬化膜２０７が自立した状態で得られる。なお、パターン形状を有する硬化膜２０７の凹凸パターンの凹部にも硬化膜が残存するが、この膜のことを残膜１０８と呼ぶこととする（図１Ｆの部分拡大部参照）。
　なお、型接触工程を凝縮性ガス雰囲気下で行った場合、離型工程で硬化膜２０７とモールド２０５とを引き離す際に、硬化膜２０７とモールド２０５とが接触する界面の圧力が低下することに伴って凝縮性ガスが気化する。これにより、硬化膜２０７とモールド２０５とを引き離すために必要な力である離型力を低減させる効果を奏する傾向がある。
　パターン形状を有する硬化膜２０７とモールド２０５とを引き離す方法としては、引き離す際にパターン形状を有する硬化膜２０７の一部が物理的に破損しなければ特に限定されず、各種条件等も特に限定されない。例えば、基板２０１（被加工基板）を固定してモールド２０５を基板２０１から遠ざかるように移動させて剥離してもよい。もしくは、モールド２０５を固定して基板２０１をモールド２０５から遠ざかるように移動させて剥離してもよい。あるいは、これらの両方を正反対の方向へ引っ張って剥離してもよい。
　以上の工程（１）～工程（５）を有する一連の工程（製造プロセス）によって、所望の凹凸パターン形状（モールド２０５の凹凸形状に因むパターン形状）を、所望の位置に有する硬化膜２０７を得ることができる。
　本実施形態のパターン形状を有する膜の製造方法では、工程（１）で基板２０１全面に硬化性組成物（Ａ１）２０２を積層し、工程（２）～工程（５）からなる繰り返し単位（ショット）を、同一基板上で繰り返して複数回行うことができる。また、工程（１）～工程（５）を同一基板上で繰り返して複数回行ってもよい。工程（１）～工程（５）あるいは工程（２）～工程（５）からなる繰り返し単位（ショット）を複数回繰り返すことで、基板２０１（被加工基板）の所望の位置に複数の所望の凹凸パターン形状（モールド２０５の凹凸形状に因むパターン形状）を有する硬化膜２０７を得ることができる。また、工程（１）～工程（５）を基板２０１全面に対して一括して行っても良い。
　工程（１）～工程（５）を経て得られた、パターン形状を有する硬化膜２０７をマスクとして、基板２０１（被加工基板）あるいは基板２０１（被加工基板）上の被加工層をエッチングなどの加工手段を用いてパターン状に加工することができる。また、パターン形状を有する硬化膜２０７上にさらに被加工層を成膜した後に、エッチングなどの加工手段を用いてパターン転写を行っても良い。このようにして、パターン形状を有する硬化膜２０７のパターン形状に基づく回路構造を基板２０１上に形成することができる。これにより、半導体素子等で利用される回路基板を製造することができる。また、この回路基板と回路基板の回路制御機構などとを接続することにより、ディスプレイ、カメラ、医療装置などの電子機器を形成することもできる。ここでいう半導体素子とは、例えば、ＬＳＩ、システムＬＳＩ、ＤＲＡＭ、ＳＤＲＡＭ、ＲＤＲＡＭ、Ｄ－ＲＤＲＡＭ、ＮＡＮＤフラッシュ等が挙げられる。
　工程（１）～工程（５）を経て得られた、パターン形状を有する硬化膜２０７を回折格子や偏光板などの光学部材（光学部材の一部材として用いる場合を含む）として利用し、光学部品を得ることもできる。このような場合、少なくとも、基板２０１と、この基板２０１上のパターン形状を有する硬化膜２０７と、を有する光学部品とすることができる。
　また、基板２０１として石英基板を用いて、工程（１）～工程（５）を経てパターン形状を有する硬化膜２０７を作製し、エッチングなどの加工手段を用いてパターン転写を行って石英インプリントモールドの石英レプリカ（モールドレプリカ）を作製することもできる。
［インプリント前処理コーティング材料（硬化性組成物（Ａ１））、およびインプリントレジスト（硬化性組成物（Ａ２））のセット］
　上述した本発明の別の側面は、基板上に前処理コーティングとなる液膜を形成し、液膜に対し硬化性組成物（Ａ２）からなる液滴を滴下することで液滴成分の基板面方向の広がりを促進するインプリント前処理コーティング材料（硬化性組成物（Ａ１））を提供するものである。
　すなわち、本発明は、基板上に前処理コーティングとなる液膜を形成し、前記液膜に対し液滴を滴下することで液滴成分の基板面方向の広がりを促進するインプリント前処理コーティング材料であって、
　前記インプリント前処理コーティング材料は、少なくとも重合性化合物である成分（ａ１）と、前記重合性化合物である成分（ａ１）より表面張力が高い化合物である成分（ｅ１）を少なくとも含有する、ことを特徴とするインプリント前処理コーティング材料、を包含する。
　インプリント前処理コーティングの表面張力が滴下される液滴の表面張力よりも高いことが好ましい。
　特に、溶剤を除くインプリント前処理コーティング材料の成分の組成物の表面張力が、溶剤を除くインプリントレジストの成分の組成物の表面張力より高いことが好ましい。
　これにより、液膜に対し液滴を滴下することで液滴成分の基板面方向の広がりが促進され、好適なインプリントを実現することができる。
　特に、インプリントレジストと、インプリント前処理コーティング材料とを組み合わせたセットとして提供されることが好ましい。
　すなわち、溶剤を除く前記インプリント前処理コーティング材料の成分の組成物の表面張力が、溶剤を除く前記インプリントレジストの成分の組成物の表面張力より高い、という関係で組み合わせたセットとして提供することで、好適なインプリントを実現する。
　さらに、溶剤を除く前記インプリント前処理コーティング材料の成分の組成物の表面張力と、溶剤を除く前記インプリントレジストの成分の組成物の表面張力の差が、１ｍＮ/ｍ以上２５ｍＮ/ｍ以下である組み合わせのセットであるとより好ましい。
　また、本発明の別の側面は、インプリント前処理コーティング材料を基板上にコーティングすることで、インプリントを行うための好適な基板の前処理方法をも提供するものである。
　加えて本発明は、基板上にパターンを形成するためのパターン形成方法をも包含するものである。インプリント前処理コーティング材料がコーティングされた基板上にレジストを不連続に滴下する工程を有することで、レジスト成分の基板面方向の広がりが促進され、インプリントに要する時間を短縮することができる。
　以下、実施例により本発明をより詳細に説明するが、本発明の技術的範囲は以下に説明する実施例に限定されるものではない。なお、以下に使用される「部」および「％」は特に示さない限りすべて重量基準である。
（実施例１）
　（１）硬化性組成物（Ａ１－１）の調製
　配合は表１に示されるとおり、成分（ａ１）としてネオペンチルグリコールジアクリレート：５０重量部、成分（ｄ１）としてプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート：３３０００重量部、成分（ｅ１）としてペンタエリスリトールテトラキス（３－メルカプトブチレート）：５０重量部を配合し、これを０．２μｍの超高分子量ポリエチレン製フィルタでろ過し、硬化性組成物（Ａ１－１）を調製した。
　（２）硬化性組成物（Ａ１－１）の表面張力の測定
　自動表面張力計ＤＹ－３００（協和界面化学製）を用い、白金プレートを用いたプレート法により、２５℃における溶剤である成分（ｄ１）を除く硬化性組成物（Ａ１－１）の成分の組成物の表面張力を測定したところ、３３．７ｍＮ／ｍであった。なお、測定は、測定回数５回、白金プレートのプリウェット浸漬距離０．３５ｍｍの条件で行った。１回目の測定値を除いて、２回目から５回目の測定値の平均値を表面張力とした。
　（３）硬化性組成物（Ａ２－１）の調整
　配合は表２に示されるとおり、成分（ａ２）としてイソボルニルアクリレート：９重量部、ベンジルアクリレート：３８重量部、ネオペンチルグリコールジアクリレート：４７重量部、成分（ｂ２）としてＩｒｇａｃｕｒｅ３６９：３重量部成分、（ｃ２）としてペンタデカエチレングリコールモノ１Ｈ，１Ｈ，２Ｈ，２Ｈ－パーフルオロオクチルエーテル：１．１重量部を配合し、これを０．２μｍの超高分子量ポリエチレン製フィルタでろ過し、硬化性組成物（Ａ２－１）を調製した。
　（４）硬化性組成物（Ａ２－１）の表面張力の測定
　自動表面張力計ＤＹ－３００（協和界面化学製）を用い、白金プレートを用いたプレート法により、２５℃における硬化性組成物（Ａ２－１）の表面張力を測定したところ、２９．１ｍＮ／ｍであった。なお、測定は、測定回数５回、白金プレートのプリウェット浸漬距離０．３５ｍｍの条件で行った。１回目の測定値を除いて、２回目から５回目の測定値の平均値を表面張力とした。
　（５）光ナノインプリントプロセス
　スピンコーターを用いて硬化性組成物（Ａ１－１）をシリコン基板上に塗布することで、５～１０ｎｍ程度の厚さの硬化性組成物（Ａ１－１）の膜を得ることができる。
　硬化性組成物（Ａ１－１）の膜の上に、インクジェット法を用いて硬化性組成物（Ａ２－１）の１ｐＬの液滴を離散的に配置することができる。液滴量は、例えば、硬化膜の平均膜厚が５０ｎｍ程度になる量とする。このとき、下層に配置されている硬化性組成物（Ａ１－１）の表面張力は、その上層に滴下される硬化性組成物（Ａ２－１）の表面張力より高いので、マランゴニ効果が発現し、硬化性組成物（Ａ２－１）の液滴の拡大（プレスプレッド）は速やかである。
（実施例２～５、比較例１）
　（１）硬化性組成物（Ａ１－２）～（Ａ１－５）及び（Ａ１－１´）並びに硬化性組成物（Ａ２－１）及び（Ａ２－１´）の調製
　実施例１と同様に表１及び表２に示すとおりに硬化組成物（Ａ１－２）～（Ａ１－５）及び（Ａ１－１´）並びに硬化性組成物（Ａ２－１）及び（Ａ２－１´）を調製した。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
  
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
  
成分（ａ）
　（ａ－１）ネオペンチルグリコールジアクリレート（共栄社化学製）
　（ａ－２）フェニルエチレングリコールジアクリレート（ナード研究所製）
　（ａ－３）イソボルニルアクリレート（共栄社化学製、商品名：ＩＢ－ＸＡ）
　（ａ－４）ベンジルアクリレート（大阪有機化学工業製、商品名：Ｖ＃１６０）
成分（ｂ）
　（ｂ－１）Ｉｒｇａｃｕｒｅ３６９（ＢＡＳＦ製）
成分（ｃ）
　（ｃ－１）ペンタデカエチレングリコールモノ１Ｈ，１Ｈ，２Ｈ，２Ｈ－パーフルオロオクチルエーテル（Ｆ（ＣＦ２）６ＣＨ２ＣＨ２（ＯＣＨ２ＣＨ２）１５ＯＨ）（ＤＩＣ製）
成分（ｄ）
　（ｄ－１）プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート（東京化成工業製）
成分（ｅ１）
　（ｅ－１）ペンタエリスリトールテトラキス（３－メルカプトブチレート）（昭和電工株式会社製、商品名：カレンズＭＴ　ＰＥ１）　
　（ｅ－２）１，１０－デカンジチオール（東京化成工業製）
　（ｅ－３）ペンタエリスリトールテトラキス（３－メルカプトプロピオネート）（東京化成工業製）
　（ｅ－４）１，３，５－トリス（３－メルカプトブチリルオキシエチル）－１，３，５－トリアジン－２，４，６（１Ｈ，３Ｈ，５Ｈ）－トリオン（昭和電工株式会社製、商品名：カレンズＭＴ　ＮＲ１）
　（２）硬化性組成物（Ａ１－２）～（Ａ１－５）及び（Ａ１－１´）並びに硬化性組成物（Ａ２－１）及び（Ａ２－１´）の表面張力の測定
　実施例１と同様に自動表面張力計ＤＹ－３００（協和界面化学製）を用い、白金プレートを用いたプレート法により、２５℃における溶剤成分（ｄ）を除く硬化性組成物（Ａ１－２）～（Ａ１－５）及び（Ａ１－１´）並びに硬化性組成物（Ａ２－１）及び（Ａ２－１´）の成分の組成物の表面張力を測定した。結果は表３に示した。なお、測定は、測定回数５回、白金プレートのプリウェット浸漬距離０．３５ｍｍの条件で行った。１回目の測定値を除いて、２回目から５回目の測定値の平均値を表面張力とした。
　（３）光ナノインプリントプロセス
　実施例２～５は表３に示すとおりであり、実施例１と同様に下層に配置されている硬化性組成物（Ａ１）は表面張力が高い成分（ｅ１）を含有しており、その表面張力は、その上層に滴下される硬化性組成物（Ａ２）の表面張力より高いので、マランゴニ効果が発現し、硬化性組成物（Ａ２）の液滴の拡大（プレスプレッド）は速やかである。
　比較例１は、硬化性組成物（Ａ１）に水素供与体であり表面張力が高い成分（ｅ１）が入っていないので実施例１～３と比べプレスプレッドの速度が遅い。
　（まとめ）
　実施例及び比較例の結果を表３に示す。
　表３において、プレスプレッドの評価は実施例１を基準とした相対評価とした。つまり、実施例１と同等に速い速度であれば「速い」とし、実施例１より遅い速度であれば「遅い」とした。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000003
  
　以上、本実施形態の方法を用いることで、従来よりも高スループットで光ナノインプリントパターンを形成できることが示された。
　この出願は２０１６年３月３１日に出願された米国特許出願番号６２／３１５，７４０及び２０１７年３月８日に出願された米国特許出願番号１５／４５３，５５７からの優先権を主張するものであり、その内容を引用してこの出願の一部とするものである。
 
１０１　基板
１０２　レジスト
１０４　液滴の拡がる方向を示す矢印
１０５　モールド
１０６　照射光
１０７　パターン形状を有する光硬化膜 
１０８　残膜
２０１　基板（被加工基板）
２０２　硬化性組成物（Ａ１） 
２０３　硬化性組成物（Ａ２）
２０４　液滴の拡がる方向を示す矢印
２０５　モールド
２０６　照射光
２０７　硬化膜
３０１　基板
３０３　硬化性組成物（Ａ２）
３０４　ショット領域
３０５　モールド
３０６　未充填部分
３０７　未充填欠陥
 
 

 

Claims (20)

  1. 　基板の表面に、少なくとも重合性化合物である成分（ａ１）及び成分（ｅ１）を含む硬化性組成物（Ａ１）からなる層を積層する第一積層工程（１）、
    　前記硬化性組成物（Ａ１）からなる層上に、少なくとも重合性化合物である成分（ａ２）を含む硬化性組成物（Ａ２）の液滴を離散的に滴下して積層する第二積層工程（２）、
    　パターンを有するモールドと前記基板の間に前記硬化性組成物（Ａ１）及び前記硬化性組成物（Ａ２）が混合してなる混合層をサンドイッチする型接触工程（３）、
    　前記混合層を前記モールド側から光を照射することにより硬化させる光照射工程（４）、
    　前記モールドを硬化後の前記混合層から引き離す離型工程（５）、
    を該順に有するパターン形成方法であって、
    　前記成分（ｅ１）が前記成分（ａ１）より表面張力が高い化合物であり、かつ、
    　溶剤を除く前記硬化性組成物（Ａ１）の成分の組成物の表面張力が溶剤を除く前記硬化性組成物（Ａ２）の成分の組成物の表面張力よりも高いことを特徴とするパターン形成方法。
  2. 　前記成分（ｅ１）が、チオール化合物またはアミン化合物であることを特徴とする請求項１に記載のパターン形成方法。
  3. 前記硬化性組成物（Ａ１）が揮発性溶剤を含むことを特徴とする請求項１または請求項２のいずれか一項に記載のパターン形成方法。
  4. 　前記モールドの表面の材質が石英であることを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載のパターン形成方法。
  5. 　前記型接触工程が、凝縮性ガスを含む雰囲気下で行われることを特徴とする、請求項１から４のいずれか１項に記載のパターン形成方法。
  6. 　前記第二積層工程が、前記凝縮性ガスと非凝縮性ガスとの混合ガスの雰囲気下で行われることを特徴とする請求項５に記載のパターン形成方法。
  7. 　前記非凝縮性ガスが、ヘリウムであることを特徴とする請求項６に記載のパターン形成方法。
  8. 　前記凝縮性ガスが、１，１，１，３，３－ペンタフルオロプロパンであることを特徴とする請求項５から７のいずれか１項に記載のパターン形成方法。
  9. 　請求項１から８のいずれか１項に記載のパターン形成方法を有することを特徴とする加工基板の製造方法。
  10. 　請求項１から８のいずれか１項に記載のパターン形成方法を有することを特徴とする光学部品の製造方法。
  11. 　請求項１から８のいずれか一項に記載のパターン形成方法を有することを特徴とする石英モールドレプリカの製造方法。
  12. 　前記硬化物が表面にナノサイズの凹凸パターンを有する硬化物である、請求項１から８のいずれか一項に記載のパターン形成方法。
  13. 前記パターンが、前記硬化性組成物の光硬化物によるナノサイズの凹凸パターンである、請求項１から８のいずれか一項に記載のパターン形成方法。
  14. 　基板上に前処理コーティングとなる液膜を形成し、前記液膜に対し硬化性組成物（Ａ２）からなる液滴を滴下することで液滴成分の基板面方向の広がりを促進する硬化性組成物（Ａ１）からなるインプリント前処理コーティング材料であって、
    　前記インプリント前処理コーティング材料は、少なくとも重合性化合物である成分（ａ１）と成分（ｅ１）を含有し、前記成分（ｅ１）が前記成分（ａ１）より表面張力が高い化合物であることを特徴とするインプリント前処理コーティング材料。
  15. 　前記インプリント前処理コーティング材料の表面張力が滴下される前記液滴の表面張力よりも高い請求項１４に記載のインプリント前処理コーティング材料。
  16. 　請求項１４または１５に記載のインプリント前処理コーティング材料と、前記インプリント前処理コーティング材料でコーティングされた基板に滴下するためのインプリントレジストと、を有するセット。
  17. 　溶剤を除く前記インプリント前処理コーティング材料の成分の組成物の表面張力が、溶剤を除く前記インプリントレジストの成分の組成物の表面張力より高いことを特徴とする請求項１６に記載のセット。
  18. 　請求項１６に記載のセットに用いるインプリントレジスト。
  19. 　基板上に硬化性組成物を配置してインプリントを行うための前処理方法であって、請求項１４または１５に記載のインプリント前処理コーティング材料を基板上にコーティングすることを特徴とする基板の前処理方法。
  20. 　基板上にパターンを形成するためのパターン形成方法であって、請求項１４または１５に記載のインプリント前処理コーティング材料がコーティングされた基板上にレジストを不連続に滴下する工程を有することを特徴とするパターン形成方法。

     
PCT/JP2017/012507 2016-03-31 2017-03-28 パターン形成方法、加工基板の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、電子部品の製造方法、インプリントモールドの製造方法 WO2017170466A1 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020187030447A KR102208977B1 (ko) 2016-03-31 2017-03-28 패턴 형성 방법과, 가공 기판, 광학 부품, 회로 기판, 전자 부품 및 임프린트 몰드의 제조 방법
JP2018508023A JP7086841B2 (ja) 2016-03-31 2017-03-28 パターン形成方法、加工基板の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、電子部品の製造方法、インプリントモールドの製造方法

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201662315740P 2016-03-31 2016-03-31
US62/315740 2016-03-31
US15/453,557 US10829644B2 (en) 2016-03-31 2017-03-08 Pattern forming method as well as production methods for processed substrate, optical component, circuit board, electronic component and imprint mold
US15/453557 2017-03-08

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2017170466A1 true WO2017170466A1 (ja) 2017-10-05

Family

ID=59958588

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2017/012507 WO2017170466A1 (ja) 2016-03-31 2017-03-28 パターン形成方法、加工基板の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、電子部品の製造方法、インプリントモールドの製造方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US10829644B2 (ja)
JP (1) JP7086841B2 (ja)
KR (1) KR102208977B1 (ja)
TW (1) TWI632046B (ja)
WO (1) WO2017170466A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2017170128A1 (ja) * 2016-03-31 2019-02-14 キヤノン株式会社 パターン形成方法、加工基板の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、電子部品の製造方法、インプリントモールドの製造方法

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20170066208A1 (en) 2015-09-08 2017-03-09 Canon Kabushiki Kaisha Substrate pretreatment for reducing fill time in nanoimprint lithography
US10488753B2 (en) 2015-09-08 2019-11-26 Canon Kabushiki Kaisha Substrate pretreatment and etch uniformity in nanoimprint lithography
US10620539B2 (en) 2016-03-31 2020-04-14 Canon Kabushiki Kaisha Curing substrate pretreatment compositions in nanoimprint lithography
US10754245B2 (en) 2016-03-31 2020-08-25 Canon Kabushiki Kaisha Pattern forming method as well as production methods for processed substrate, optical component, circuit board, electronic component and imprint mold
US10845700B2 (en) 2016-03-31 2020-11-24 Canon Kabushiki Kaisha Pattern forming method as well as production methods for processed substrate, optical component, circuit board, electronic component and imprint mold
US10754243B2 (en) 2016-03-31 2020-08-25 Canon Kabushiki Kaisha Pattern forming method as well as production methods for processed substrate, optical component, circuit board, electronic component and imprint mold
US10134588B2 (en) 2016-03-31 2018-11-20 Canon Kabushiki Kaisha Imprint resist and substrate pretreatment for reducing fill time in nanoimprint lithography
US10095106B2 (en) 2016-03-31 2018-10-09 Canon Kabushiki Kaisha Removing substrate pretreatment compositions in nanoimprint lithography
US10754244B2 (en) 2016-03-31 2020-08-25 Canon Kabushiki Kaisha Pattern forming method as well as production methods for processed substrate, optical component, circuit board, electronic component and imprint mold
US10578965B2 (en) 2016-03-31 2020-03-03 Canon Kabushiki Kaisha Pattern forming method
WO2017175668A1 (ja) * 2016-04-08 2017-10-12 キヤノン株式会社 硬化物パターンの形成方法、加工基板の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、電子部品の製造方法、インプリントモールドの製造方法、およびインプリント前処理コート用材料
US10509313B2 (en) 2016-06-28 2019-12-17 Canon Kabushiki Kaisha Imprint resist with fluorinated photoinitiator and substrate pretreatment for reducing fill time in nanoimprint lithography
US10317793B2 (en) 2017-03-03 2019-06-11 Canon Kabushiki Kaisha Substrate pretreatment compositions for nanoimprint lithography
CN110546734B (zh) 2017-03-08 2024-04-02 佳能株式会社 固化物图案的制造方法和光学部件、电路板和石英模具复制品的制造方法以及用于压印预处理的涂覆材料及其固化物
JP7425602B2 (ja) 2017-03-08 2024-01-31 キヤノン株式会社 パターン形成方法、ならびに加工基板、光学部品及び石英モールドレプリカの製造方法、ならびにインプリント前処理コーティング材料及びそれとインプリントレジストとのセット
WO2018164016A1 (ja) 2017-03-08 2018-09-13 キヤノン株式会社 光ナノインプリント技術を用いたパターン形成方法、インプリント装置、および硬化性組成物
JP7066674B2 (ja) 2017-03-08 2022-05-13 キヤノン株式会社 パターン形成方法、インプリント前処理コーティング材料、及び基板の前処理方法
WO2019031409A1 (ja) 2017-08-10 2019-02-14 キヤノン株式会社 パターン形成方法
US11752519B2 (en) 2020-06-19 2023-09-12 Canon Kabushiki Kaisha Planarization method and photocurable composition

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010508662A (ja) * 2006-10-27 2010-03-18 ザ ボード オブ トラスティーズ オブ ザ ユニヴァーシティー オブ イリノイ インクリソグラフィによるパターン生成デバイスおよび方法
JP2011508680A (ja) * 2007-12-04 2011-03-17 モレキュラー・インプリンツ・インコーポレーテッド 極薄ポリマー接着層
WO2011155602A1 (ja) * 2010-06-11 2011-12-15 Hoya株式会社 密着補助層付き基板、モールドの製造方法及びマスターモールドの製造方法
JP2014093385A (ja) * 2012-11-02 2014-05-19 Fujifilm Corp インプリント用密着膜の製造方法およびパターン形成方法
JP2016028419A (ja) * 2014-07-08 2016-02-25 キヤノン株式会社 密着層組成物、ナノインプリントによる膜の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、および電子機器の製造方法

Family Cites Families (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7307118B2 (en) 2004-11-24 2007-12-11 Molecular Imprints, Inc. Composition to reduce adhesion between a conformable region and a mold
US20050160934A1 (en) 2004-01-23 2005-07-28 Molecular Imprints, Inc. Materials and methods for imprint lithography
US7157036B2 (en) 2003-06-17 2007-01-02 Molecular Imprints, Inc Method to reduce adhesion between a conformable region and a pattern of a mold
US20060108710A1 (en) 2004-11-24 2006-05-25 Molecular Imprints, Inc. Method to reduce adhesion between a conformable region and a mold
JP2008507114A (ja) 2004-04-27 2008-03-06 ザ ボード オブ トラスティーズ オブ ザ ユニヴァーシティー オブ イリノイ ソフトリソグラフィ用複合パターニングデバイス
US8808808B2 (en) 2005-07-22 2014-08-19 Molecular Imprints, Inc. Method for imprint lithography utilizing an adhesion primer layer
US8557351B2 (en) 2005-07-22 2013-10-15 Molecular Imprints, Inc. Method for adhering materials together
US7759407B2 (en) 2005-07-22 2010-07-20 Molecular Imprints, Inc. Composition for adhering materials together
US8142703B2 (en) 2005-10-05 2012-03-27 Molecular Imprints, Inc. Imprint lithography method
JP4467611B2 (ja) * 2007-09-28 2010-05-26 株式会社日立製作所 光インプリント方法
US8119052B2 (en) * 2007-11-02 2012-02-21 Molecular Imprints, Inc. Drop pattern generation for imprint lithography
JP5065101B2 (ja) * 2008-03-05 2012-10-31 東洋合成工業株式会社 パターン形成方法
JP2010106185A (ja) 2008-10-31 2010-05-13 Fujifilm Corp 光インプリント用硬化性組成物およびそれを用いたパターン形成方法
CN102548744A (zh) 2009-09-02 2012-07-04 佳能株式会社 塑料部件的制造方法和塑料部件
JP6012344B2 (ja) 2011-10-24 2016-10-25 キヤノン株式会社 膜の形成方法
US9278857B2 (en) 2012-01-31 2016-03-08 Seagate Technology Inc. Method of surface tension control to reduce trapped gas bubbles
JP5959865B2 (ja) 2012-02-09 2016-08-02 キヤノン株式会社 光硬化物及びその製造方法
JP5930832B2 (ja) 2012-04-27 2016-06-08 キヤノン株式会社 光硬化物の製造方法
JP6071255B2 (ja) 2012-06-04 2017-02-01 キヤノン株式会社 光硬化物
JP5827180B2 (ja) 2012-06-18 2015-12-02 富士フイルム株式会社 インプリント用硬化性組成物と基板の密着用組成物およびこれを用いた半導体デバイス
JP6000712B2 (ja) 2012-07-24 2016-10-05 キヤノン株式会社 樹脂の製造方法及び樹脂の製造装置
JP6278645B2 (ja) * 2012-09-24 2018-02-14 キヤノン株式会社 光硬化性組成物及びこれを用いた膜の製造方法
JP6305058B2 (ja) 2013-03-05 2018-04-04 キヤノン株式会社 感光性ガス発生剤、光硬化性組成物
JP6047049B2 (ja) 2013-03-27 2016-12-21 富士フイルム株式会社 組成物、硬化物、積層体、下層膜の製造方法、パターン形成方法、パターンおよび半導体レジストの製造方法
JP6328001B2 (ja) 2013-08-30 2018-05-23 キヤノン株式会社 インプリント用硬化性組成物、膜、膜の製造方法
JP6460672B2 (ja) 2013-09-18 2019-01-30 キヤノン株式会社 膜の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法及び電子部品の製造方法
US20170068159A1 (en) * 2015-09-08 2017-03-09 Canon Kabushiki Kaisha Substrate pretreatment for reducing fill time in nanoimprint lithography
JP6141500B2 (ja) 2015-09-08 2017-06-07 キヤノン株式会社 ナノインプリントリソグラフィーにおける充填時間を短縮するための基板の前処理
WO2017130853A1 (ja) 2016-01-25 2017-08-03 キヤノン株式会社 パターン形成方法、加工基板の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、電子部品の製造方法、インプリントモールドの製造方法
US10754243B2 (en) 2016-03-31 2020-08-25 Canon Kabushiki Kaisha Pattern forming method as well as production methods for processed substrate, optical component, circuit board, electronic component and imprint mold
US10754244B2 (en) 2016-03-31 2020-08-25 Canon Kabushiki Kaisha Pattern forming method as well as production methods for processed substrate, optical component, circuit board, electronic component and imprint mold
US10578965B2 (en) 2016-03-31 2020-03-03 Canon Kabushiki Kaisha Pattern forming method
US10845700B2 (en) 2016-03-31 2020-11-24 Canon Kabushiki Kaisha Pattern forming method as well as production methods for processed substrate, optical component, circuit board, electronic component and imprint mold
US10883006B2 (en) 2016-03-31 2021-01-05 Canon Kabushiki Kaisha Pattern forming method as well as production methods for processed substrate, optical component, circuit board, electronic component and imprint mold
US10754245B2 (en) 2016-03-31 2020-08-25 Canon Kabushiki Kaisha Pattern forming method as well as production methods for processed substrate, optical component, circuit board, electronic component and imprint mold
WO2017175668A1 (ja) 2016-04-08 2017-10-12 キヤノン株式会社 硬化物パターンの形成方法、加工基板の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、電子部品の製造方法、インプリントモールドの製造方法、およびインプリント前処理コート用材料

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010508662A (ja) * 2006-10-27 2010-03-18 ザ ボード オブ トラスティーズ オブ ザ ユニヴァーシティー オブ イリノイ インクリソグラフィによるパターン生成デバイスおよび方法
JP2011508680A (ja) * 2007-12-04 2011-03-17 モレキュラー・インプリンツ・インコーポレーテッド 極薄ポリマー接着層
WO2011155602A1 (ja) * 2010-06-11 2011-12-15 Hoya株式会社 密着補助層付き基板、モールドの製造方法及びマスターモールドの製造方法
JP2014093385A (ja) * 2012-11-02 2014-05-19 Fujifilm Corp インプリント用密着膜の製造方法およびパターン形成方法
JP2016028419A (ja) * 2014-07-08 2016-02-25 キヤノン株式会社 密着層組成物、ナノインプリントによる膜の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、および電子機器の製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2017170128A1 (ja) * 2016-03-31 2019-02-14 キヤノン株式会社 パターン形成方法、加工基板の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、電子部品の製造方法、インプリントモールドの製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
TWI632046B (zh) 2018-08-11
TW201736086A (zh) 2017-10-16
JP7086841B2 (ja) 2022-06-20
JPWO2017170466A1 (ja) 2019-02-07
US20170283620A1 (en) 2017-10-05
KR102208977B1 (ko) 2021-01-28
US10829644B2 (en) 2020-11-10
KR20180127433A (ko) 2018-11-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7086841B2 (ja) パターン形成方法、加工基板の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、電子部品の製造方法、インプリントモールドの製造方法
JP6806766B2 (ja) パターン形成方法、加工基板の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、電子部品の製造方法、インプリントモールドの製造方法
JP6983757B2 (ja) パターン形成方法、加工基板の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、電子部品の製造方法、インプリントモールドの製造方法
JP6855448B2 (ja) パターン形成方法、加工基板の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、電子部品の製造方法、インプリントモールドの製造方法
JP6884757B2 (ja) パターン形成方法、加工基板の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、電子部品の製造方法、インプリントモールドの製造方法
JP7094878B2 (ja) パターン形成方法、加工基板の製造方法、光学部品の製造方法、石英モールドレプリカの製造方法、半導体素子の製造方法
JP7155002B2 (ja) パターン形成方法、加工基板の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、電子部品の製造方法、インプリントモールドの製造方法
JP7066674B2 (ja) パターン形成方法、インプリント前処理コーティング材料、及び基板の前処理方法
JP6961495B2 (ja) パターン形成方法、加工基板の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、電子部品の製造方法、インプリントモールドの製造方法
JP7328888B2 (ja) 硬化物パターンの製造方法、光学部品、回路基板および石英モールドレプリカの製造方法、ならびにインプリント前処理コート用材料およびその硬化物
JP7425602B2 (ja) パターン形成方法、ならびに加工基板、光学部品及び石英モールドレプリカの製造方法、ならびにインプリント前処理コーティング材料及びそれとインプリントレジストとのセット
WO2018164016A1 (ja) 光ナノインプリント技術を用いたパターン形成方法、インプリント装置、および硬化性組成物
JP2016162862A (ja) パターンの形成方法、加工基板の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、電子部品の製造方法
JP2016030829A (ja) 光硬化性組成物、これを用いた硬化物パターンの製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法
JP2016047913A (ja) 光硬化性組成物、これを用いた硬化物パターンの製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、およびインプリント用モールドの製造方法
JP2020027811A (ja) パターン形成方法

Legal Events

Date Code Title Description
ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2018508023

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 20187030447

Country of ref document: KR

Kind code of ref document: A

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 17775003

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 17775003

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1