WO2015041376A1 - 基板処理装置、半導体装置の製造方法および反応管 - Google Patents

基板処理装置、半導体装置の製造方法および反応管 Download PDF

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reaction tube
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吉田　秀成
小竹　繁
谷山　智志
高行 中田
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株式会社日立国際電気
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Definitions

  • the present invention relates to a substrate processing apparatus, a semiconductor device manufacturing method, and a reaction tube.
  • This type of substrate processing apparatus has a boat as a substrate holding member that holds substrates (wafers) in multiple stages in a reaction tube, and processes the substrate in a processing chamber in the reaction tube while holding the plurality of substrates. It is known that there is something to do.
  • Patent Document 1 in a state where a plurality of wafers 200 to be batch-processed are held in multiple stages with respect to a boat 217 and inserted into the reaction tube 203, two or more kinds of source gases are simultaneously supplied to the wafers 200 in the reaction tube 203.
  • a configuration in which a film is formed on the wafer 200 is disclosed.
  • An object of the present invention is to provide a technique capable of improving the film thickness uniformity and improving the productivity.
  • a substrate holding member for holding a plurality of substrates;
  • a reaction tube containing the substrate holding member and processing the substrate;
  • a processing gas supply system for supplying a processing gas into the reaction tube;
  • An exhaust system for exhausting the atmosphere in the reaction tube,
  • the reaction tube has a closed portion at the upper end and a cylindrical portion having an opening at the lower end,
  • a gas supply area formed on the outside of one side wall of the cylindrical portion and connected to the processing gas supply system;
  • a gas exhaust area formed on the outside of the other side wall of the cylindrical portion facing the gas supply area and connected to the exhaust system,
  • the gas supply area and the gas exhaust area are provided with a semiconductor manufacturing apparatus configured to have an inner wall that divides an internal space into a plurality of spaces.
  • the substrate processing apparatus in the present invention is configured as an example of a semiconductor manufacturing apparatus used for manufacturing a semiconductor device.
  • the processing furnace 202 has a heater 207 as a heating means (heating mechanism).
  • the heater 207 has a cylindrical shape and is vertically installed by being supported by a heater base (not shown) as a holding plate.
  • the heater 207 also functions as an activation mechanism (excitation unit) that activates (excites) the processing gas with heat.
  • a reaction tube 203 having a single tube structure that constitutes a reaction vessel (processing vessel) concentrically with the heater 207 is disposed.
  • the reaction tube 203 is made of a heat resistant material such as quartz (SiO 2 ) or silicon carbide (SiC).
  • the reaction tube 203 is formed in a ceiling shape in which the lower end is opened and the upper end is closed with a flat wall.
  • the side wall of the reaction tube 203 includes a cylindrical portion 209 formed in a cylindrical shape, and a gas supply area 222 and a gas exhaust area 224 provided on the outer wall of the cylindrical portion 209.
  • a processing chamber 201 is formed inside the cylindrical portion 209 of the reaction tube 203.
  • the processing chamber 201 is configured to process a wafer 200 as a substrate. Further, the processing chamber 201 is configured to be capable of accommodating a boat 217 that can hold the wafers 200 in a state where the wafers 200 are aligned in a vertical direction in multiple stages in a horizontal posture.
  • the gas supply area 222 is formed so that the convex portion protrudes outside the one side wall of the cylindrical portion 209.
  • the outer wall of the gas supply area 222 is larger than the outer diameter of the cylindrical portion 209 and concentrically with the cylindrical portion 209 on the outer side of one side wall as a part of the outer wall of the cylindrical portion 209.
  • the gas supply area 222 has a ceiling shape in which the lower end is opened and the upper end is closed by a flat wall.
  • the gas supply area 222 accommodates nozzles 410a to 410c, which will be described later, along the length direction (vertical direction), and a boundary wall 252 that is a wall body that forms a boundary between the gas supply area 222 and the cylindrical portion 209.
  • a gas supply slit 235 which will be described later, is formed.
  • the boundary wall 252 is one side wall of the cylindrical portion 209, and an outer side surface of the boundary wall 252 constitutes a side surface portion facing the gas supply area 222.
  • a gas exhaust area 224 is formed on the other side wall of the cylindrical portion 209 facing the one side wall where the gas supply area 222 is formed.
  • the gas exhaust area 224 is disposed so as to sandwich an area where the wafer 200 of the processing chamber 201 is accommodated between the gas exhaust area 224 and the gas supply area 222.
  • the gas exhaust area 224 is formed so that the convex portion protrudes outside the other side wall facing the one side wall where the gas supply area 222 of the cylindrical portion 209 is formed.
  • the outer wall of the gas exhaust area 224 is larger than the outer diameter of the cylindrical portion 209 on the outside of the other side wall as a part of the outer wall of the cylindrical portion 209 and is formed concentrically with the cylindrical portion 209.
  • the gas exhaust area 224 has a ceiling shape in which the lower end and the upper end are closed by a flat wall.
  • a gas exhaust slit 236 to be described later is formed in a boundary wall 254 that is a wall body that forms a boundary between the gas exhaust area 224 and the cylindrical portion 209.
  • the boundary wall 254 is a part of the cylindrical portion 209, and an outer side surface thereof constitutes a side surface portion facing the gas exhaust area 224.
  • the lower end of the reaction tube 203 is supported by a cylindrical manifold 226.
  • the manifold 226 is formed of a metal such as a nickel alloy or stainless steel, or a heat resistant material such as quartz (SiO 2 ) or silicon carbide (SiC).
  • a flange is formed at the upper end portion of the manifold 226, and the lower end portion of the reaction tube 203 is installed and supported on the flange.
  • An airtight member 220 such as an O-ring is interposed between the flange and the lower end portion of the reaction tube 203 to keep the inside of the reaction tube 203 airtight.
  • a seal cap 219 is attached to the opening at the lower end of the manifold 226 through an airtight member 220 such as an O-ring, so that the opening at the lower end of the reaction tube 203, that is, the opening of the manifold 226 is airtight. It is supposed to close.
  • the seal cap 219 is formed of, for example, a metal such as nickel alloy or stainless steel, and is formed in a disk shape.
  • the seal cap 219 may be configured to cover the outside with a heat resistant material such as quartz (SiO 2 ) or silicon carbide (SiC).
  • a boat support 218 that supports the boat 217 is provided on the seal cap 219.
  • the boat support 218 is made of a heat-resistant material such as quartz or silicon carbide, and functions as a heat insulating portion and is a support that supports the boat.
  • the boat 217 is erected on the boat support 218.
  • the boat 217 is made of a heat resistant material such as quartz or silicon carbide.
  • the boat 217 has a bottom plate fixed to a boat support (not shown) and a top plate arranged above the bottom plate, and has a configuration in which a plurality of columns are installed between the bottom plate and the top plate. Yes. A plurality of wafers 200 are held on the boat 217.
  • the plurality of wafers 200 are loaded in multiple stages in the tube axis direction of the reaction tube 203 in a state where the wafers 200 are kept in a horizontal posture while being spaced apart from each other at the center, and are supported on the support column of the boat 217.
  • a boat rotation mechanism 267 for rotating the boat is provided on the side of the seal cap 219 opposite to the processing chamber 201.
  • a rotation shaft 265 of the boat rotation mechanism 267 passes through the seal cap and is connected to the boat support base 218.
  • the boat rotation mechanism 267 rotates the boat 217 via the boat support base 218 to rotate the wafer 200. .
  • the seal cap 219 is moved up and down in the vertical direction by a boat elevator 115 as an elevating mechanism provided outside the reaction tube 203, so that the boat 217 can be carried into and out of the processing chamber 201.
  • nozzle support portions 350a to 350c that support the nozzles 340a to 340c are installed so as to be bent in an L shape and penetrate the manifold 226.
  • three nozzle support portions 350a to 350c are installed.
  • the nozzle support portions 350a to 350c are made of a material such as nickel alloy or stainless steel.
  • Gas supply pipes 310a to 310c for supplying gas into the reaction tube 203 are connected to one end of the nozzle support portion 350 on the reaction tube 203 side.
  • nozzles 340a to 340c are connected to the other ends of the nozzle support portions 350a to 350c, respectively.
  • the nozzles 340a to 340c are formed of a heat resistant material such as quartz or SiC.
  • the nozzles 340a to 340c are provided above the lower part in the gas supply area 222 along the length direction (vertical direction).
  • the nozzles 340a to 340c are each configured as an I-shaped long nozzle.
  • Gas supply holes 232a to 232c for supplying gas are provided on the side surfaces of the nozzles 340a to 340c, respectively.
  • the gas supply holes 232a to 232c are opened so as to face the center of the reaction tube 203, respectively.
  • the gas supply area 222 is provided with the three nozzles 340 a to 340 c so that a plurality of types of gases can be supplied into the processing chamber 201.
  • the boat 217 is inserted into the processing chamber 201 while being supported by the boat support 218, and the heater 207 is The wafer 200 inserted into the processing chamber 201 is heated to a predetermined temperature.
  • the gas supply pipe 310a includes, in order from the upstream direction, a first processing gas supply source 360a that supplies a first processing gas, a mass flow controller (MFC) 241a that is a flow rate controller (flow rate control unit), and a valve 243a that is an on-off valve.
  • the gas supply pipe 310b includes, in order from the upstream direction, a first processing gas supply source 360b that supplies a second processing gas, a mass flow controller (MFC) 241b that is a flow rate controller (flow rate control unit), and a valve 243b that is an on-off valve.
  • MFC mass flow controller
  • the gas supply pipe 310c includes, in order from the upstream direction, a first processing gas supply source 360c that supplies a third processing gas, a mass flow controller (MFC) 241c that is a flow rate controller (flow rate control unit), and a valve 243c that is an on-off valve.
  • MFC mass flow controller
  • Gas supply pipes 310d to 310f for supplying an inert gas are connected to the gas supply pipes 310a to 310c on the downstream side of the valve valves 243a to 243c, respectively.
  • the gas supply pipes 310d to 310f are provided with MFCs 241d to 241f as flow rate controllers (flow rate control units) and valves 243d to 243f as opening / closing valves, respectively, in order from the upstream direction.
  • the first process gas supply system is mainly configured by the gas supply pipe 310a, the MFC 320a, and the valve 330a.
  • the first process gas supply source 360a, the nozzle support part 350a, and the nozzle 340a may be included in the first process gas supply system.
  • a second processing gas supply system is mainly configured by the gas supply pipe 310b, the MFC 320b, and the valve 330b.
  • the second process gas supply source 360b, the nozzle support part 350b, and the nozzle 340b may be included in the second process gas supply system.
  • a third processing gas supply system is mainly configured by the gas supply pipe 310c, the MFC 320c, and the valve 330c.
  • the third processing gas supply source 360c, the nozzle support 350c, and the nozzle 340c may be included in the third processing gas supply system.
  • processing gas when the term “processing gas” is used, it includes only the first processing gas, includes only the second processing gas, includes only the third processing gas, or includes all of them. There is.
  • processing gas supply system when the term processing gas supply system is used, it includes only the first processing gas supply system, only the second processing gas supply system, only the third processing gas supply system, or all of them. May be included.
  • An exhaust port 230 is provided below the gas exhaust area 224.
  • the exhaust port 230 is connected to the exhaust pipe 231.
  • the exhaust pipe 232 is evacuated through a pressure sensor 245 as a pressure detector (pressure detection unit) for detecting the pressure in the processing chamber 201 and an APC (Auto Pressure Controller) valve 244 as a pressure regulator (pressure adjustment unit).
  • a vacuum pump 246 serving as an exhaust device is connected, and the processing chamber 201 can be evacuated so that the pressure in the processing chamber 201 becomes a predetermined pressure (degree of vacuum).
  • An exhaust pipe 232 on the downstream side of the vacuum pump 246 is connected to a waste gas treatment device (not shown) or the like.
  • the APC valve 244 can open and close the valve to stop evacuation / evacuation in the processing chamber 201, and further adjust the valve opening to adjust conductance to adjust the pressure in the processing chamber 201. It is an open / close valve.
  • An exhaust system is mainly configured by the exhaust pipe 232, the APC valve 244, and the pressure sensor 245.
  • a vacuum pump 246 may also be included in the exhaust system.
  • a temperature sensor 238 to be described later is installed in the reaction tube 203 as a temperature detector. By adjusting the power supplied to the heater 207 based on the temperature information detected by the temperature sensor 238, The temperature is configured to have a desired temperature distribution.
  • the controller 280 which is a control unit (control means), is configured as a computer including a CPU (Central Processing Unit) 121a, a RAM (Random Access Memory) 121b, a storage device 121c, and an I / O port 121d.
  • the RAM 121b, the storage device 121c, and the I / O port 121d are configured to exchange data with the CPU 121a via the internal bus 121e.
  • an input / output device 122 configured as a touch panel or the like is connected to the controller 280.
  • the storage device 121c includes, for example, a flash memory, a HDD (Hard Disk Drive), and the like.
  • a control program that controls the operation of the substrate processing apparatus, a process recipe that describes the procedure and conditions of the substrate processing described later, and the like are stored in a readable manner.
  • the process recipe is a combination of functions so that a predetermined result can be obtained by causing the controller 280 to execute each procedure in the substrate processing process described later, and functions as a program.
  • the process recipe, the control program, and the like are collectively referred to simply as a program.
  • program When the term “program” is used in this specification, it may include only a process recipe alone, only a control program alone, or both.
  • the RAM 121b is configured as a memory area (work area) in which programs, data, and the like read by the CPU 121a are temporarily stored.
  • the I / O port 121d is connected to the above-described MFCs 241a to 241f, valves 243a to 243f, pressure sensor 245, APC valve 244, vacuum pump 246, heater 207, temperature sensor 238, boat rotation mechanism 267, boat elevator 115, and the like. Yes.
  • the CPU 121a is configured to read and execute a control program from the storage device 121c, and to read a process recipe from the storage device 121c in response to an operation command input from the input / output device 122 or the like.
  • the CPU 121a adjusts the flow rates of various gases by the MFCs 241a to 241f, the opening and closing operations of the valves 243a to 243f, the opening and closing operations of the APC valve 244, and the pressure by the APC valve 244 based on the pressure sensor 245 so as to match the contents of the read process recipe.
  • Control of adjustment operation, start and stop of vacuum pump 246, temperature adjustment operation of heater 207 based on temperature sensor 238, rotation and rotation speed adjustment operation of boat 217 by boat rotation mechanism 267, raising / lowering operation of boat 217 by boat elevator 115, etc. Is configured to do.
  • the controller 280 is not limited to being configured as a dedicated computer, and may be configured as a general-purpose computer.
  • an external storage device storing the above-described program for example, magnetic tape, magnetic disk such as a flexible disk or hard disk, optical disk such as CD or DVD, magneto-optical disk such as MO, semiconductor memory such as USB memory or memory card
  • the controller 280 of this embodiment can be configured by installing a program on a general-purpose computer using the external storage device 123.
  • the means for supplying the program to the computer is not limited to supplying the program via the external storage device 123.
  • the program may be supplied without using the external storage device 123 by using communication means such as the Internet or a dedicated line.
  • the storage device 121c and the external storage device 123 are configured as computer-readable recording media. Hereinafter, these are collectively referred to simply as a recording medium.
  • recording medium When the term “recording medium” is used in this specification, it may include only the storage device 121c alone, may include only the external storage device 123 alone, or may include both.
  • inner walls 248 and 250 that divide each internal space into a plurality of spaces are formed inside the gas supply area 222 and the gas exhaust area 224.
  • the inner walls 248 and 250 are made of the same material as the reaction tube 203, and are made of a heat resistant material such as quartz (SiO 2 ) or silicon carbide (SiC).
  • quartz SiO 2
  • SiC silicon carbide
  • the two inner walls 248 that divide the gas supply area 222 are provided so as to divide the gas supply area 222 from the lower end side to the upper end side to form three isolated spaces.
  • nozzles 340a to 340c are respectively installed in each space of the gas supply area 222. Since the nozzles 340a to 340c are installed in independent spaces by the inner wall 248, it is possible to prevent the processing gases supplied from the nozzles 340a to 340c from being mixed in the gas supply area 222. With such a configuration, it is possible to prevent the processing gas from being mixed in the gas supply area 222 to form a thin film or to generate a by-product.
  • the inner wall 248 may be provided so as to partition the gas supply area 222 from the lower end to the upper end and form three isolated spaces.
  • the two inner walls 250 that divide the inside of the gas exhaust area 224 are provided so as to partition the gas exhaust area 224 from the lower end side to the upper end side to form three isolated spaces.
  • the inner wall 250 is provided so as to partition the gas exhaust area 224 from the lower end side to the upper end and form three isolated spaces.
  • the gas flow path cross-sectional areas of the gas supply area 222 and the gas exhaust area 224 are the same.
  • the cross-sectional area of the gas in each space in the gas supply area 222 and the cross-sectional area of the gas in each space in the gas exhaust area 224 facing each space in the gas supply area 222 are Same area.
  • an opening 256 for installing the nozzles 340a to 340c in the gas supply area 222 is formed at the lower end of the boundary wall 252 on the gas supply area 222 side of the cylindrical portion 209.
  • the nozzles 340a to 340c are inserted into the spaces from the openings 256, and the lower ends of the nozzles 340a to 340c are once lifted higher than the upper ends of the nozzle support portions 350a to 350c, and then the nozzles 340a to 340c are installed.
  • the lower end of 340c is inserted so as to be lower than the upper ends of the nozzle support portions 350a to 350c.
  • a buffer region 258 is formed above the upper end of ⁇ 340c (see FIG. 5).
  • the upper end side of the gas supply area 222 is configured to be higher than the ceiling of the gas exhaust area 224 by at least the buffer area 258.
  • the upper end of the ceiling portion of the gas supply area 222 is the same height as the upper end of the ceiling portion of the cylindrical portion 209, and the upper end of the ceiling portion of the gas exhaust area 224 is higher than the upper end of the ceiling portion of the cylindrical portion 209. It is configured to be low. In other words, the volume of the gas supply area 222 is larger than the volume of the gas exhaust area 224 by the buffer area 258. In this embodiment, the height of the upper end of the gas exhaust area 224 is configured to be lower than the upper end of the gas supply area 222.
  • the gas exhaust area 224 affects the exhaust balance due to the size of the volume, If there is no problem in the influence on the adhesion, the same height may be used.
  • the inner wall 250 in the gas exhaust area 224 is formed from the upper end of the ceiling of the gas exhaust area 224 to a position higher than the upper end of the exhaust port 230 on the lower end side. From the position higher than the upper end of the exhaust port 230 on the lower end side of the gas exhaust area 224 to the lower end of the gas exhaust area 224 is configured as one space. The gas flowing through each space partitioned by the inner wall 250 of the gas exhaust area 224 joins in one space before the exhaust port 230 and is exhausted from the exhaust port 230. With this configuration,
  • the inner wall 248 in the gas supply area 222 is formed from the ceiling of the gas supply area 222 to the upper part of the lower end of the reaction tube 203. Specifically, the lower end of the inner wall 248 is formed below the upper end of the opening 256. The lower end of the inner wall 248 is formed as a region above the lower end portion of the reaction tube 203 and below the upper end portion of the nozzle support portion 350.
  • the length of the inner wall 248 in the gas supply area 222 is configured to be shorter than the length of the reaction tube 203 and longer than the length of the boundary wall 252. Further, the inner wall 248 in the gas supply area 222 is configured to be longer than the inner wall 250 in the gas exhaust area 224.
  • a gas supply slit 235 for supplying a processing gas into the processing chamber 201 is formed on the boundary wall 252 between the cylindrical portion 209 and the gas supply area 222.
  • the gas supply slits 235 are formed in a matrix with a plurality of rows and columns in the vertical and horizontal directions. That is, a plurality of horizontally long slits are formed in the vertical direction facing each space defined by the inner wall 248 in the gas supply area 222.
  • the gas supply efficiency can be improved.
  • the gas supply slit 235 may be formed in a horizontally long shape except for a connecting portion between the inner wall 248 and the boundary wall 252 so as to improve gas supply efficiency.
  • the number of rows of gas supply slits 235 is the same as the number of partitioned spaces. In this embodiment, since three spaces are formed, the gas supply slits 235 are formed in three rows.
  • a gas exhaust slit 236 for exhausting the atmosphere in the processing chamber 201 is formed in a boundary wall 254 between the cylindrical portion 209 and the gas exhaust area 224.
  • the gas exhaust slits 236 are formed in a matrix of a plurality of rows and columns in the vertical and horizontal directions. That is, a plurality of horizontally long slits are formed in the vertical direction so as to face each space defined by the inner wall 248 in the gas supply area 222 and to be long in the circumferential direction of the cylindrical portion.
  • the length of the gas exhaust slit 236 in the circumferential direction of the cylindrical portion 209 is the same as the length of each space in the gas exhaust area 224 in the circumferential direction, the gas exhaust efficiency can be improved.
  • the gas exhaust slit 236 is formed in a horizontally long and a plurality of vertical stages excluding the connecting portion between the inner wall 250 and the boundary wall 254, so that the gas exhaust efficiency is improved.
  • the number of rows of gas exhaust slits 236 is the same as the number of partitioned spaces. In the present embodiment, since three spaces are formed, the gas exhaust slits 236 are formed in three rows.
  • the gas supply slit 235 and the gas exhaust slit 236 are smoothly formed so that the edge portions as the four corners draw curved surfaces.
  • R scribing or the like By performing R scribing or the like on the edge part to make it curved, it is possible to suppress stagnation of gas around the edge part, to suppress film formation on the edge part, and to be formed on the edge part. The film peeling of the film can be suppressed.
  • the gas supply slit 235 and the gas exhaust slit 236 are respectively arranged between adjacent wafers 200 mounted on the boat 217 in a state of being accommodated in the processing chamber 201. It is formed to be.
  • the boat 217 will be omitted.
  • the wafers 200 it is preferable to form the wafers 200 so as to face each other between the wafers 200 and the top plate.
  • the gas supply slits 235 and the gas exhaust slits 236 are formed to have the same height and the same number.
  • the gas supply slit 235 and the gas exhaust slit 234 may be formed in 25 stages.
  • the gas supply slit 235 and the gas exhaust slit 236 are formed with a constant vertical width L1.
  • the gas supply slit 235 and the gas exhaust slit 234 are preferably formed so that L1 is smaller than L2.
  • L1 is in the range of about 1 mm to 9 mm, and more preferably in the range of about 3 to 7 mm.
  • L2 is preferably in the range of about 6 to 14 mm, and more preferably in the range of about 8 to 12 mm.
  • the gas supply holes 234a to 234c of the nozzles 340a to 340c are preferably formed in the central part of the vertical width of each gas supply slit 235 so as to correspond to each gas supply slit 235 one by one.
  • 25 gas supply holes 234a to 234c are preferably formed. That is, the gas supply slit 235 and the gas supply holes 234a to 234c are preferably formed in the same number as the wafer 200 to be placed. With such a slit configuration, a flow of processing gas parallel to the wafer 200 can be formed on the wafer 200 (see the arrow in FIG. 5).
  • the gas exhaust area 224 is formed with a long slit in the circumferential direction, exhaust can be performed without disturbing the flow of the processing gas flowing on the wafer 200.
  • the gas exhaust slit is formed in a hole shape, the flow of the processing gas concentrates toward the hole, so that a uniform gas flow cannot be formed on the wafer 200.
  • the gas exhaust slit is formed in a horizontally long shape, the flow of gas is rectified on the wafer 200 uniformly without forming a concentrated process gas flow as it approaches the exhaust side. It becomes possible to supply the processing gas.
  • the substrate processing apparatus is controlled by the controller 280.
  • a boat 217 on which a predetermined number of wafers 200 are placed is inserted into the reaction tube 203, and the reaction tube 203 is hermetically closed by a seal cap 219.
  • the wafer 200 is heated and a processing gas is supplied into the reaction tube 203, so that the wafer 200 is subjected to heat treatment such as heating.
  • NH 3 gas as the first processing gas, HCDS gas as the second processing gas, and N 2 gas as the third processing gas are alternately supplied (HCDS gas supply ⁇ N 2 purge ⁇ NH 3 gas supply ⁇
  • HCDS gas supply ⁇ N 2 purge ⁇ NH 3 gas supply ⁇ By repeating this cycle a predetermined number of times with N 2 purge as one cycle, a SiN film is formed on the wafer 200.
  • the processing conditions are, for example, as follows. Wafer 200 temperature: 100-600 ° C. Processing chamber pressure: 1 to 3000 Pa HCDS gas supply flow rate: 1 to 2000 sccm NH 3 gas supply flow rate: 100 to 10000 sccm N 2 gas supply flow rate: 10 to 10000 sccm SiN film thickness: 0.2 to 10 nm
  • HCDS gas is supplied into the processing chamber 201 from the gas supply pipe 310b of the second processing gas supply system through the gas supply hole 234b of the nozzle 350b and the gas supply slit 235.
  • the supply of the HCDS gas into the processing chamber 201 from the gas supply pipe 310b is started together with the carrier gas by opening the valves 330b and 330e.
  • the opening degree of the APC valve 244 is adjusted to maintain the pressure in the processing chamber 201 at a predetermined pressure.
  • the valve 330b is closed and the supply of HCDS gas is stopped.
  • the HCDS gas supplied into the processing chamber 201 is supplied to the wafer 200, flows in parallel on the wafer 200, and then flows through the gas exhaust slit 236 from the upper part to the lower part through the gas exhaust area 236.
  • the exhaust pipe 232 is exhausted through the exhaust port 230 at the bottom of 222.
  • the APC valve 244 is opened to exhaust the processing chamber 201, and the HCDS gas and reaction products remaining in the processing chamber 201 are exhausted. Etc. are excluded. At this time, if an inert gas such as N 2 is supplied into the processing chamber 201 from the inert gas supply pipes 310a and 310c and purged, the effect of eliminating the residual gas from the processing chamber 201 can be further enhanced. . After a predetermined time has elapsed, the valve 330e is closed.
  • NH 3 gas is supplied from the gas supply pipe 310a of the first processing gas supply system into the processing chamber 201 through the gas supply hole 234a of the nozzle 350a and the gas supply slit 235.
  • the valves 330a and 330d the supply of the NH 3 gas into the processing chamber 201 from the gas supply pipe 310a is started together with the carrier gas.
  • the opening degree of the APC valve 244 is adjusted to maintain the pressure in the processing chamber 201 at a predetermined pressure.
  • the valve 330a is closed and the supply of NH 3 gas is stopped.
  • the NH 3 gas supplied into the processing chamber 201 is supplied to the wafer 200, flows in parallel on the wafer 200, and then flows through the gas exhaust slit 236 from the upper part to the lower part through the gas exhaust area 236.
  • the air is exhausted from the exhaust pipe 232 through the exhaust port 230 below the area 222.
  • the APC valve 244 is opened to exhaust the processing chamber 201, and the HCDS gas remaining in the processing chamber 201 and the reaction generation Exclude things.
  • an inert gas such as N 2 is supplied into the processing chamber 201 from the inert gas supply pipes 310e and 310f and purged, the effect of removing residual gas from the processing chamber 201 can be further enhanced. .
  • the valve 330e is closed.
  • the boat 217 is unloaded from the reaction tube 203 by the reverse procedure of the above-described operation.
  • the wafers 200 are transferred from the boat 217 to the cassette 100 of the transfer shelf 123 by the wafer transfer device 112, and the cassette 100 is transferred from the transfer shelf 123 to the cassette stage 105 by the cassette transfer device 115. It is carried out of the housing 101 by an external transport device that does not.
  • the processing gas is supplied in a conical shape from the gas supply hole up, down, left and right. Since the processing gas is widely supplied not only in the direction parallel to the wafer 200 (left-right direction) but also in the up-down direction, the processing gas flows into the space between the edge of the wafer 200 and the reaction tube. A sufficient amount of processing gas cannot be supplied in the meantime. For this reason, the film in the vicinity of the gas supply hole becomes thick and a uniform film thickness cannot be obtained. Further, the replacement efficiency of the processing gas is poor, and the productivity is deteriorated.
  • a horizontally long gas supply slit 235 is formed on the downstream side of the gas supply hole. Since the processing gas supplied in the vertical direction hits the boundary wall 254, it is not supplied as it is into the processing chamber 201. The processing gas that hits the boundary wall 254 diffuses in the gas supply area 222, spreads horizontally (in the left-right direction) along the shape of the gas supply slit 235, and is supplied into the processing chamber 201.
  • the vertical width of the gas supply slit 235 is shorter than the interval between the wafers 200, even if the processing gas that has passed through the gas supply slit 235 spreads in the vertical direction, the edge of the wafer 200 and the reaction tube The processing gas does not flow into the space between the two, a sufficient amount can be supplied between the wafers 200, and the uneven thickness can be reduced.
  • the gas supply area 222 and the gas exhaust area 224 are formed outside the cylindrical portion 209 (processing chamber 201).
  • the volume of the reaction tube 203 can be made smaller than that of the conventional reaction tube. If the interval between the cylindrical portion 209 and the edge of the wafer 200 is S1 (see FIG. 5), that is, the volume can be reduced by about 30% compared to the conventional reaction tube, so that productivity is improved. Is possible.
  • the gas supply area 222 and the gas exhaust area 224 are divided into three spaces, but may be divided into two spaces or may be divided into four or more spaces.
  • the number of spaces to be partitioned can be changed as appropriate in accordance with the number of nozzles necessary for the desired heat treatment.
  • each nozzle shape may be changed.
  • a gas supply hole of a nozzle installed in the middle space may be opened toward the inner wall.
  • a second embodiment of the present invention will be described.
  • This embodiment is different from the first embodiment in that a temperature measurement area 260 is formed at both ends of the gas exhaust area 224 in order to install the temperature sensor 238 in the gas exhaust area.
  • the shape of the reaction tube 203 suitably used in the second embodiment will be described with reference to FIG. Note that description of the same configuration as in the first embodiment is omitted.
  • a temperature measurement area 260 in which the temperature sensor 238 is accommodated is formed at both ends of the gas exhaust area 224.
  • the temperature measurement area 260 has a ceiling shape in which a lower end portion and an upper end portion are closed flat, and an outer wall thereof is formed concentrically with the cylindrical portion 209. Further, the temperature measurement area 260 is continuously formed through the gas exhaust area 224 and the inner wall 252.
  • the gas exhaust slit 236 is not formed in the boundary wall between the temperature measurement area 260 and the cylindrical portion 209. That is, the temperature measurement area 260 is formed spatially independent from the gas exhaust area 224 and the processing chamber 201. With such a configuration, it is possible to prevent the temperature sensor 238 from being exposed to the processing gas, so that deterioration of the temperature sensor 238 can be suppressed.
  • the height of the ceiling portion of the temperature measurement area 260 is It is formed at the same height as the cylindrical portion 209.
  • the ceiling portion of the gas exhaust area 224 is formed at the same height as the height of the cylindrical portion 209. That is, in the present embodiment, the gas supply area 222, the gas exhaust area 224, the temperature measurement area 260, and the cylindrical portion 209 are formed so that the height of the ceiling is the same height. With such a configuration, it is possible to measure the temperature inside the processing chamber 201 in the vertical direction, and uniform heating of the processing chamber 201 by the heater 207 can be performed. In addition, the strength of the reaction tube 203 can be increased. Further, by forming the temperature measurement areas 260 at both ends of the gas exhaust area 224, it is possible to improve maintainability.
  • Examples of the film forming process performed by the substrate processing apparatus include CVD, PVD, ALD, Epi, other processes for forming an oxide film and a nitride film, and processes for forming a film containing a metal. Further, annealing treatment, oxidation treatment, diffusion treatment or the like may be performed.
  • a substrate holding member for holding a plurality of substrates; A reaction tube containing the substrate holding member and processing the substrate; A processing gas supply system for supplying a processing gas into the reaction tube; An exhaust system for exhausting the atmosphere in the reaction tube,
  • the reaction tube has a closed portion at the upper end and a cylindrical portion having an opening at the lower end, A gas supply area formed on the outside of one side wall of the cylindrical portion and connected to the processing gas supply system; A gas exhaust area formed on the outside of the other side wall of the cylindrical portion facing the gas supply area and connected to the exhaust system,
  • the gas supply area and the gas exhaust area may be provided with a substrate processing apparatus configured to have an inner wall that divides an internal space into a plurality of spaces.
  • Appendix 2 The substrate processing apparatus according to appendix 1, preferably, A gas supply slit for supplying the processing gas into the cylindrical portion is formed in a boundary wall between the gas supply area and the cylindrical portion.
  • Appendix 3 The substrate processing apparatus according to appendix 1 or 2, preferably, A gas exhaust slit for exhausting the atmosphere in the cylindrical portion is formed in a boundary wall between the gas exhaust area and the cylindrical portion.
  • Appendix 4 The substrate processing apparatus according to appendix 3, preferably, The gas supply slit and the gas exhaust slit are formed in a plurality in the vertical direction at positions opposed to the plurality of spaces.
  • Appendix 5 The substrate processing apparatus according to appendix 3 or 4, wherein the gas supply slit and the gas exhaust slit are preferably formed long in the circumferential direction of the cylindrical portion, and both end portions thereof are formed in a curved shape. .
  • the substrate processing apparatus according to appendices 1 to 6, preferably, The gas supply area and the gas exhaust area have the same number of inner walls and are divided into the same number of spaces.
  • the substrate processing apparatus according to appendix 9 preferably, The length of the inner wall of the gas supply area is longer than the length of the inner wall of the gas exhaust area.
  • Appendix 14 The substrate processing apparatus according to appendices 4 to 13, preferably, The number of stages of the gas supply slit and the gas exhaust slit is the same as the number of the substrates.
  • Appendix 17 The substrate processing apparatus according to appendix 1, preferably, A temperature measurement area in which a temperature sensor for measuring the temperature in the reaction tube is installed is formed adjacent to the gas exhaust area.
  • a cylindrical portion having a closed portion at the upper end and an opening at the lower end, a gas supply area formed outside one side wall of the cylindrical portion, and the outside of the other side wall of the cylindrical portion facing the gas supply area
  • a method of manufacturing a semiconductor device and a substrate processing method comprising: exhausting an atmosphere in the cylindrical portion from a gas exhaust area having an inner wall that divides the internal space into a plurality of spaces.
  • a cylindrical portion having a closed portion at the upper end and an opening at the lower end, a gas supply area formed outside one side wall of the cylindrical portion, and the outside of the other side wall of the cylindrical portion facing the gas supply area
  • a procedure for supplying a processing gas into the cylindrical portion from a gas supply area having an inner wall that divides the internal space into a plurality of spaces A procedure for exhausting the atmosphere in the cylindrical portion from a gas exhaust area having an inner wall that divides the internal space into a plurality of spaces;
  • a computer-readable recording medium on which the program is recorded is provided.
  • a cylindrical portion having a closed portion at the upper end and an opening at the lower end; A gas supply area formed outside one side wall of the cylindrical portion; A gas exhaust area formed on the outside of the other side wall of the cylindrical portion facing the gas supply area, and the gas supply area and the gas exhaust area are inner walls that divide the internal space into a plurality of spaces.
  • a reaction tube configured to comprise is provided.
  • the substrate processing apparatus the method for manufacturing a semiconductor device, and the reaction tube according to the present invention, it is possible to reduce the volume of the reaction tube and improve the replacement efficiency of the processing gas.
  • controller control unit 200 Wafer 201 Processing chamber 202 Processing furnace 203 Reaction tube 207 Heater 222 Gas supply area 224 Gas exhaust area 231 Exhaust tubes 310a to 310f Gas supply tubes

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Abstract

生産性を向上させることが可能な技術を提供する。　基板処理装置は、複数枚の基板を保持する基板保持部材と、基板保持部材を収容し、基板を処理する反応管と、反応管内に処理ガスを供給する処理ガス供給系と、反応管内の雰囲気を排気する排気系と、を有し、反応管は、上端に閉塞部を有し、下端に開口部を有する円筒部と、円筒部の一側壁の外側に形成され、処理ガス供給系が接続されたガス供給エリアと、ガス供給エリアと対向する円筒部の他側壁の外側に形成され、排気系が接続されたガス排気エリアと、を備え、ガス供給エリアおよびガス排気エリアは、その内部の空間を複数の空間に区画する内壁を備えるよう構成される。

Description

基板処理装置、半導体装置の製造方法および反応管
　本発明は、基板処理装置、半導体装置の製造方法および反応管に関する。
　基板処理装置の一例として、半導体製造装置があり、さらに半導体製造装置の一例として、縦型装置があることが知られている。この種の基板処理装置として、反応管内に、基板（ウエハ）を多段に保持する基板保持部材としてのボートを有し、この複数の基板を保持した状態で反応管内の処理室にて基板を処理するものがあることが知られている。
　特許文献１は、バッチ処理される複数枚のウエハ２００がボート２１７に対し多段に保持され、反応管２０３内に挿入された状態において、２種類以上の原料ガスを同時に反応管２０３内のウエハ２００に対して供給し、ウエハ２００上に膜を形成する構成を開示する。
特開２０１１－５２３１９号公報
　しかしながら、上述した特許文献１に記載の構成ではウエハとウエハとの間に十分な量の原料ガスを供給できないため膜厚均一性が悪く、また、原料ガスの置換効率が悪いため処理時間を長く要し、生産性が悪化するという問題があった。
　本発明の目的は、膜厚均一性を改善するとともに生産性を向上させることが可能な技術を提供することにある。
　本発明の一態様によれば、
　　複数枚の基板を保持する基板保持部材と、
　前記基板保持部材を収容し、前記基板を処理する反応管と、
　前記反応管内に処理ガスを供給する処理ガス供給系と、
　前記反応管内の雰囲気を排気する排気系と、を有し、
前記反応管は、上端に閉塞部を有し、下端に開口部を有する円筒部と、
前記円筒部の一側壁の外側に形成され、前記処理ガス供給系が接続されたガス供給エリアと、
前記ガス供給エリアと対向する前記円筒部の他側壁の外側に形成され、前記排気系が接続されたガス排気エリアと、を備え、
前記ガス供給エリアおよび前記ガス排気エリアは、その内部の空間を複数の空間に区画する内壁を備えるよう構成された半導体製造装置が提供される。
　本発明によれば、膜厚均一性を改善するとともに生産性を向上させることが可能な技術を提供することができる。
本発明の実施形態で好適に用いられる基板処理装置の縦型処理炉の概略構成図であり、処理炉部分の縦断面図である。 本発明の実施形態で好適に用いられる基板処理装置の縦型処理炉の一部の概略構成図であり、反応管の横断面図である。 本発明の実施形態で好適に用いられる基板処理装置のコントローラの概略構成図であり、コントローラの制御系をブロック図である。 本発明の実施形態で好適に用いられる基板処理装置の縦型処理炉の一部の概略構成図であり、反応管部分の縦断面図である。 本発明の実施形態で好適に用いられる基板処理装置の縦型処理炉の一部の概略構成図であり、反応管の上部を拡大した拡大図である。 本発明の第２の実施形態で好適に用いられる反応管の横断面図である。 本発明の第２の実施形態で好適に用いられる反応管の縦断面図である。 従来例における処理ガスの流れを表す概略図である。 本発明における処理ガスの流れを表す概略図である。
　以下、本発明の第１の実施形態について、図１を用いて説明する。本発明における基板処理装置は、半導体装置の製造に使用される半導体製造装置の一例として構成されているものである。
　図１に示すように、処理炉２０２は加熱手段（加熱機構）としてのヒータ２０７を有する。ヒータ２０７は円筒形状であり、保持板としてのヒータベース（図示せず）に支持されることにより垂直に据え付けられている。ヒータ２０７は、処理ガスを熱で活性化（励起）させる活性化機構（励起部）としても機能する。
　ヒータ２０７の内側には、ヒータ２０７と同心円状に反応容器（処理容器）を構成する単管構造の反応管２０３が配設されている。反応管２０３は、例えば石英（ＳｉＯ２）または炭化シリコン（ＳｉＣ）等の耐熱性材料から形成されている。反応管２０３は、下端部が開放され、上端部が平坦状の壁体で閉塞された有天井の形状で形成され、いる。反応管２０３の側壁は、円筒形状に形成された円筒部２０９と、円筒部２０９の外壁に設けられたガス供給エリア２２２とガス排気エリア２２４とを備えている。反応管２０３の円筒部２０９の内部には、処理室２０１が形成されている。処理室２０１は、基板としてのウエハ２００を処理可能に構成されている。また、処理室２０１は、ウエハ２００を水平姿勢で垂直方向に多段に整列した状態で保持可能なボート２１７を収容可能に構成されている。
　ガス供給エリア２２２は、凸部が円筒部２０９の一側壁の外側に突出するように形成されている。ガス供給エリア２２２の外壁は、円筒部２０９の外壁の一部としての一側壁の外側に円筒部２０９の外径よりも大きく、円筒部２０９と同心円状に形成されている。ガス供給エリア２２２は、下端部が開放され、上端部が平坦状の壁体で閉塞された有天井の形状で構成されている。ガス供給エリア２２２は、その長さ方向（上下方向）に沿って後述するノズル４１０ａ～４１０ｃが収容され、ガス供給エリア２２２と円筒部２０９との間の境界を構成する壁体である境界壁２５２には後述するガス供給スリット２３５が形成されている。境界壁２５２は円筒部２０９の一側壁であって、その外側面は、ガス供給エリア２２２に面する側面部分を構成する。
　円筒部２０９のガス供給エリア２２２が形成された一側壁に対向する他側壁には、ガス排気エリア２２４が形成される。ガス排気エリア２２４は、ガス供給エリア２２２との間に処理室２０１のウエハ２００が収容される領域を挟むように配置されている。ガス排気エリア２２４は、凸部が円筒部２０９のガス供給エリア２２２が形成された一側壁に対向する他側壁の外側に突出するように形成されている。ガス排気エリア２２４の外壁は、円筒部２０９の外壁の一部としての他側壁の外側に円筒部２０９の外径よりも大きく、円筒部２０９と同心円状に形成されている。ガス排気エリア２２４は、下端部がと上端部が平坦状の壁体で閉塞された有天井の形状で構成されている。
ガス排気エリア２２４と円筒部２０９との間の境界を構成する壁体である境界壁２５４には後述するガス排気スリット２３６が形成されている。境界壁２５４は円筒部２０９の一部であって、その外側面は、ガス排気エリア２２４に面する側面部分を構成する。
　反応管２０３の下端は、円筒体状のマニホールド２２６によって支持されている。マニホールド２２６は、例えばニッケル合金やステンレス等の金属で形成されるか、若しくは石英（ＳｉＯ２）または炭化シリコン（ＳｉＣ）等の耐熱性材料で形成されている。マニホールド２２６の上端部にはフランジが形成されており、このフランジ上に反応管２０３の下端部を設置して支持する。このフランジと反応管２０３の下端部との間にはＯリング等の気密部材２２０を介在させて反応管２０３内を気密状態にしている。
マニホールド２２６の下端の開口部には、シールキャップ２１９がＯリング等の気密部材２２０を介して気密に取り付けられており、反応管２０３の下端の開口部側、すなわちマニホールド２２６の開口部を気密に塞ぐようになっている。シールキャップ２１９は、例えばニッケル合金やステンレス等の金属で形成され、円盤状に形成されている。シールキャップ２１９は、石英（ＳｉＯ２）または炭化シリコン（ＳｉＣ）等の耐熱性材料でその外側を覆うように構成されてもよい。
　シールキャップ２１９上にはボート２１７を支持するボート支持台２１８が設けられている。ボート支持台２１８は、例えば石英や炭化珪素等の耐熱性材料で構成され断熱部として機能すると共にボートを支持する支持体となっている。ボート２１７は、ボート支持台２１８上に立設されている。ボート２１７は例えば石英や炭化珪素等の耐熱性材料で構成されている。ボート２１７は図示しないボート支持台に固定された底板とその上方に配置された天板とを有しており、底板と天板との間に複数本の支柱が架設された構成を有している。ボート２１７には複数枚のウエハ２００が保持されている。複数枚のウエハ２００は、互いに一定の間隔をあけながら水平姿勢を保持しかつ互いに中心を揃えた状態で反応管２０３の管軸方向に多段に積載されボート２１７の支柱に支持されている。
　シールキャップ２１９の処理室２０１と反対側にはボートを回転させるボート回転機構２６７が設けられている。ボート回転機構２６７の回転軸２６５はシールキャップを貫通してボート支持台２１８に接続されており、ボート回転機構２６７によって、ボート支持台２１８を介してボート２１７を回転させることでウエハ２００を回転させる。
　シールキャップ２１９は反応管２０３の外部に設けられた昇降機構としてのボートエレベータ１１５によって垂直方向に昇降され、これによりボート２１７を処理室２０１内に対し搬入搬出することが可能となっている。
　マニホールド２２６には、ノズル３４０ａ～３４０ｃを支持するノズル支持部３５０ａ～３５０ｃが、Ｌ字状に屈曲されてマニホールド２２６を貫通するようにして設置されている。ここでは、３本のノズル支持部３５０ａ～３５０ｃが設置されている。ノズル支持部３５０ａ～３５０ｃは、例えばニッケル合金やステンレス等の材料から形成される。ノズル支持部３５０の反応管２０３側の一端には反応管２０３内へガスを供給するガス供給管３１０ａ～３１０ｃがそれぞれ接続されている。また、ノズル支持部３５０ａ～３５０ｃの他端にはノズル３４０ａ～３４０ｃがそれぞれ接続されている。ノズル３４０ａ～３４０ｃは、例えば石英またはＳｉＣ等の耐熱性材料から形成される。
　ノズル３４０ａ～３４０ｃはガス供給エリア２２２内の下部より上部に、その長さ方向（上下方向）に沿って設けられている。ノズル３４０ａ～３４０ｃは、Ｉ字型のロングノズルとしてそれぞれ構成されている。ノズル３４０ａ～３４０ｃの側面には、ガスを供給するガス供給孔２３２ａ～２３２ｃがそれぞれ設けられている。ガス供給孔２３２ａ～２３２ｃは、それぞれ反応管２０３の中心を向くように開口している。このように、ガス供給エリア２２２には、３本のノズル３４０ａ～３４０ｃが設けられており、処理室２０１内へ複数種類のガスを供給することができるように構成されている。
　以上の処理炉２０２では、バッチ処理される複数枚のウエハ２００がボート２１７に対し多段に積層された状態において、ボート２１７がボート支持台２１８で支持されながら処理室２０１に挿入され、ヒータ２０７が処理室２０１に挿入されたウエハ２００を所定の温度に加熱するようになっている。
　ガス供給管３１０ａには、上流方向から順に、第１処理ガスを供給する第１処理ガス供給源３６０ａ、流量制御器（流量制御部）であるマスフローコントローラ（ＭＦＣ）２４１ａおよび開閉弁であるバルブ２４３ａがそれぞれ設けられている。ガス供給管３１０ｂには、上流方向から順に、第２処理ガスを供給する第１処理ガス供給源３６０ｂ、流量制御器（流量制御部）であるマスフローコントローラ（ＭＦＣ）２４１ｂおよび開閉弁であるバルブ２４３ｂがそれぞれ設けられている。ガス供給管３１０ｃには、上流方向から順に、第３処理ガスを供給する第１処理ガス供給源３６０ｃ、流量制御器（流量制御部）であるマスフローコントローラ（ＭＦＣ）２４１ｃおよび開閉弁であるバルブ２４３ｃがそれぞれ設けられている。ガス供給管３１０ａ～３１０ｃのバルブバルブ２４３ａ～２４３ｃよりも下流側には、不活性ガスを供給するガス供給管３１０ｄ～３１０ｆがそれぞれ接続されている。ガス供給管３１０ｄ～３１０ｆには、上流方向から順に、流量制御器（流量制御部）であるＭＦＣ２４１ｄ～２４１ｆおよび開閉弁であるバルブ２４３ｄ～２４３ｆがそれぞれ設けられている。
　主に、ガス供給管３１０ａ、ＭＦＣ３２０ａ、バルブ３３０ａにより第１処理ガス供給系が構成される。第１処理ガス供給源３６０ａ、ノズル支持部３５０ａ、ノズル３４０ａを第１処理ガス供給系に含めて考えても良い。また、主に、ガス供給管３１０ｂ、ＭＦＣ３２０ｂ、バルブ３３０ｂにより第２処理ガス供給系が構成される。第２処理ガス供給源３６０ｂ、ノズル支持部３５０ｂ、ノズル３４０ｂを第２処理ガス供給系に含めて考えても良い。また、主に、ガス供給管３１０ｃ、ＭＦＣ３２０ｃ、バルブ３３０ｃにより第３処理ガス供給系が構成される。第３処理ガス供給源３６０ｃ、ノズル支持部３５０ｃ、ノズル３４０ｃを第３処理ガス供給系に含めて考えても良い。なお、本明細書において、処理ガスという言葉を用いた場合は、第１処理ガスのみを含む場合、第２処理ガスのみを含む場合、第３処理ガスのみを含む場合、もしくはそれら全てを含む場合がある。また、処理ガス供給系という言葉を用いた場合は、第１処理ガス供給系のみを含む場合、第２処理ガス供給系のみを含む場合、第３処理ガス供給系のみを含む場合、もしくはそれら全てを含む場合がある。
　ガス排気エリア２２４の下部には排気口２３０が設けられている。排気口２３０は排気管２３１に接続されている。排気管２３２には処理室２０１内の圧力を検出する圧力検出器（圧力検出部）としての圧力センサ２４５および圧力調整器（圧力調整部）としてのＡＰＣ（Ａｕｔｏ　Ｐｒｅｓｓｕｒｅ　Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）バルブ２４４を介して真空排気装置としての真空ポンプ２４６が接続されており、処理室２０１内の圧力が所定の圧力（真空度）となるよう真空排気し得るように構成されている。真空ポンプ２４６の下流側の排気管２３２は廃ガス処理装置（図示せず）等に接続されている。なお、ＡＰＣバルブ２４４は、弁を開閉して処理室２０１内の真空排気・真空排気停止ができ、更に弁開度を調節してコンダクタンスを調整して処理室２０１内の圧力調整をできるようになっている開閉弁である。主に、排気管２３２、ＡＰＣバルブ２４４、圧力センサ２４５により排気系が構成される。なお、真空ポンプ２４６も排気系に含めてもよい。
　反応管２０３内には温度検出器としての後述する温度センサ２３８が設置されており、温度センサ２３８により検出された温度情報に基づきヒータ２０７への供給電力を調整することで、処理室２０１内の温度が所望の温度分布となるように構成されている。
　図３に示すように、制御部（制御手段）であるコントローラ２８０は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ　Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ　Ｕｎｉｔ）１２１ａ、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ　Ａｃｃｅｓｓ　Ｍｅｍｏｒｙ）１２１ｂ、記憶装置１２１ｃ、Ｉ／Ｏポート１２１ｄを備えたコンピュータとして構成されている。ＲＡＭ１２１ｂ、記憶装置１２１ｃ、Ｉ／Ｏポート１２１ｄは、内部バス１２１ｅを介して、ＣＰＵ１２１ａとデータ交換可能なように構成されている。コントローラ２８０には、例えばタッチパネル等として構成された入出力装置１２２が接続されている。
　記憶装置１２１ｃは、例えばフラッシュメモリ、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ　Ｄｉｓｋ　Ｄｒｉｖｅ）等で構成されている。記憶装置１２１ｃ内には、基板処理装置の動作を制御する制御プログラムや、後述する基板処理の手順や条件等が記載されたプロセスレシピ等が、読み出し可能に格納されている。プロセスレシピは、後述する基板処理工程における各手順をコントローラ２８０に実行させ、所定の結果を得ることが出来るように組み合わされたものであり、プログラムとして機能する。以下、このプロセスレシピや制御プログラム等を総称して、単に、プログラムともいう。本明細書においてプログラムという言葉を用いた場合は、プロセスレシピ単体のみを含む場合、制御プログラム単体のみを含む場合、または、その両方を含む場合がある。ＲＡＭ１２１ｂは、ＣＰＵ１２１ａによって読み出されたプログラムやデータ等が一時的に保持されるメモリ領域（ワークエリア）として構成されている。
　Ｉ／Ｏポート１２１ｄは、上述のＭＦＣ２４１ａ～２４１ｆ、バルブ２４３ａ～２４３ｆ、圧力センサ２４５、ＡＰＣバルブ２４４、真空ポンプ２４６、ヒータ２０７、温度センサ２３８、ボート回転機構２６７、ボートエレベータ１１５等に接続されている。
　ＣＰＵ１２１ａは、記憶装置１２１ｃから制御プログラムを読み出して実行すると共に、入出力装置１２２からの操作コマンドの入力等に応じて記憶装置１２１ｃからプロセスレシピを読み出すように構成されている。ＣＰＵ１２１ａは、読み出したプロセスレシピの内容に沿うように、ＭＦＣ２４１ａ～２４１ｆによる各種ガスの流量調整動作、バルブ２４３ａ～２４３ｆの開閉動作、ＡＰＣバルブ２４４の開閉動作および圧力センサ２４５に基づくＡＰＣバルブ２４４による圧力調整動作、真空ポンプ２４６の起動および停止、温度センサ２３８に基づくヒータ２０７の温度調整動作、ボート回転機構２６７によるボート２１７の回転および回転速度調節動作、ボートエレベータ１１５によるボート２１７の昇降動作等を制御するように構成されている。
　コントローラ２８０は、専用のコンピュータとして構成されている場合に限らず、汎用のコンピュータとして構成されていてもよい。例えば、上述のプログラムを格納した外部記憶装置（例えば、磁気テープ、フレキシブルディスクやハードディスク等の磁気ディスク、ＣＤやＤＶＤ等の光ディスク、ＭＯ等の光磁気ディスク、ＵＳＢメモリやメモリカード等の半導体メモリ）１２３を用意し、この外部記憶装置１２３を用いて汎用のコンピュータにプログラムをインストールすること等により、本実施形態のコントローラ２８０を構成することができる。但し、コンピュータにプログラムを供給するための手段は、外部記憶装置１２３を介して供給する場合に限らない。例えば、インターネットや専用回線等の通信手段を用い、外部記憶装置１２３を介さずにプログラムを供給するようにしてもよい。記憶装置１２１ｃや外部記憶装置１２３は、コンピュータ読み取り可能な記録媒体として構成される。以下、これらを総称して、単に、記録媒体ともいう。本明細書において記録媒体という言葉を用いた場合は、記憶装置１２１ｃ単体のみを含む場合、外部記憶装置１２３単体のみを含む場合、または、その両方を含む場合がある。
　次に、第１の実施形態にて好適に用いられる反応管２０３の形状について、さらに図２、図４、図５を参照して説明する。
　図２に示すように、ガス供給エリア２２２およびガス排気エリア２２４の内部には、各エリア内空間を複数の空間に区画する内壁２４８、２５０が形成されている。
内壁２４８、２５０は、反応管２０３と同一材料で形成され、例えば、石英（ＳｉＯ２）または炭化シリコン（ＳｉＣ）等の耐熱性材料から形成されている。
ここでは、それぞれ２つの内壁を備え、３つの空間に区画されている。
ガス供給エリア２２２内を区画する２つの内壁２４８は、ガス供給エリア２２２を下端側から上端側に至るまで区画し、それぞれ隔離した３つの空間を形成するように、設けられている。ガス供給エリア２２２の各空間には、ノズル３４０ａ～３４０ｃがそれぞれ設置されている。内壁２４８により、各ノズル３４０ａ～３４０ｃはそれぞれ独立した空間内に設置されるため、各ノズル３４０ａ～３４０ｃから供給される処理ガスがガス供給エリア２２２内で混ざり合う事を抑制することができる。
このような構成により、ガス供給エリア２２２内で処理ガスが混ざり合って薄膜が形成されたり、副生成物が生成されたりすることを抑制することができる。
好適には、内壁２４８は、ガス供給エリア２２２を下端から上端に至るまで区画し、それぞれ隔離した３つの空間を形成するように、設けると良い。
ガス排気エリア２２４内を区画する２つの内壁２５０は、ガス排気エリア２２４を下端側から上端側に至るまで区画し、それぞれ隔離した３つの空間を形成するように、設けられている。
好適には、内壁２５０は、ガス排気エリア２２４を下端側から上端に至るまで区画し、それぞれ隔離した３つの空間を形成するように、設けると良い。
好適には、ガス供給エリア２２２およびガス排気エリア２２４の外壁の外径は、同一寸法とすると、ヒータ２０７との間のデッドスペースを少なくすることができる等のメリットがある。
また、好適には、ガス供給エリア２２２とガス排気エリア２２４それぞれのガスの流路断面積は同じ面積とする。また、好適には、ガス供給エリア２２２内の各空間のガスの流路断面積と、ガス供給エリア２２２内の各空間に対面するガス排気エリア２２４内の各空間のガスの流路断面積を同じ面積とする。
　図４に示すように、円筒部２０９のガス供給エリア２２２側の境界壁２５２の下端には、ノズル３４０ａ～３４０ｃをガス供給エリア２２２内に設置するための開口部２５６が形成されている。ノズル３４０ａ～３４０ｃを設置する際は、開口部２５６から各空間にノズル３４０ａ～３４０ｃを挿入し、ノズル３４０ａ～３４０ｃの下端をノズル支持部３５０ａ～３５０ｃの上端より一旦高く持ち上げてから、ノズル３４０ａ～３４０ｃの下端がノズル支持部３５０ａ～３５０ｃの上端よりも低くなるようにすることで差し込む。
ノズル３４０ａ～３４０ｃを一旦持ち上げてガス支持部３５０ａ～３５０ｃに設置する際に、ノズル３４０ａ～３４０ｃの上端がガス供給エリア２２２の上端にある天井部に接触しないように、ガス供給エリア２２２のノズル３４０ａ～３４０ｃ上端より上部にバッファ領域２５８が形成されている（図５参照）。ガス供給エリア２２２の上端側は、少なくともバッファ領域２５８の分だけ、ガス排気エリア２２４の天井部よりも高くなるように構成されている。
本実施形態では、ガス供給エリア２２２の天井部の上端は円筒部２０９の天井部の上端と同じ高さであり、ガス排気エリア２２４の天井部の上端は円筒部２０９の天井部の上端よりも低くなるように構成されている。
言い換えれば、バッファ領域２５８の分だけガス供給エリア２２２の容積はガス排気エリア２２４の容積よりも大きくなっているように構成されている。なお、本実施形態ではガス排気エリア２２４の上端の高さをガス供給エリア２２２の上端よりも低く構成しているが、ガス排気エリア２２４が容積のサイズによる排気バランスへの影響や副生成物の付着具合への影響等が問題ない場合には、同じ高さに構成しても良い。
ガス排気エリア２２４内の内壁２５０は、ガス排気エリア２２４の天井部の上端から下端側の排気口２３０上端よりも高い位置まで形成されている。ガス排気エリア２２４の下端側の排気口２３０上端よりも高い位置からガス排気エリア２２４の下端までは、１つの空間として構成されている。
ガス排気エリア２２４の内壁２５０で区画された各空間を流通したガスは、排気口２３０の手前の１つの空間にて合流し、排気口２３０から排気されるようになっている。このような構成とすることにより、
　ガス供給エリア２２２内の内壁２４８は、ガス供給エリア２２２の天井部から反応管２０３の下端部上部まで形成されている。具体的には、内壁２４８の下端は、開口部２５６の上端よりも下側まで形成される。内壁２４８の下端は、反応管２０３の下端部よりも上側であって、ノズル支持部３５０の上端部よりも下側になる領域として形成されている。ガス供給エリア２２２内の内壁２４８の長さは、反応管２０３の長さよりも短く、境界壁２５２の長さよりも長くなるよう構成されている。また、ガス供給エリア２２２内の内壁２４８の方が、ガス排気エリア２２４内の内壁２５０よりも長くなるように構成されている。
　図４に示すように、円筒部２０９とガス供給エリア２２２との境界壁２５２には、処理室２０１内に処理ガスを供給するためのガス供給スリット２３５が形成されている。ガス供給スリット２３５は、上下左右方向に複数段、複数列のマトリクス状に形成されている。すなわち、ガス供給エリア２２２内の内壁２４８で区画された各空間それぞれに対向した横長のスリットが上下方向に複数形成されている。
好適には、ガス供給スリット２３５の円筒部２０９周方向の長さはガス供給エリア２２２内の各空間の周方向の長さと同じにするとガス供給効率が向上するので良い。また、好適には、ガス供給スリット２３５は、内壁２４８と境界壁２５２との連結部分を除いて横長に、縦複数段に形成するとガス供給効率が向上するので良い。また、好適には、ガス供給スリット２３５の列数は区画された空間と同じ数に形成されると良い。本実施形態では、３つの空間が形成されているため、ガス供給スリット２３５は３列形成されている。
　円筒部２０９とガス排気エリア２２４との境界壁２５４に、処理室２０１内の雰囲気を排気するためのガス排気スリット２３６が形成されている。ガス排気スリット２３６は、上下左右方向に複数段、複数列のマトリクス状に形成されている。すなわち、ガス供給エリア２２２内の内壁２４８で区画された各空間それぞれに対向し、円筒部の周方向に長く形成された横長のスリットが上下方向に複数形成されている。
好適には、ガス排気スリット２３６の円筒部２０９周方向の長さはガス排気エリア２２４内の各空間の周方向の長さと同じにするとガス排気効率が向上するので良い。また、好適には、ガス排気スリット２３６は、内壁２５０と境界壁２５４との連結部分を除いて横長に、縦複数段に形成するとガス排気効率が向上するので良い。また、好適には、ガス排気スリット２３６の列数は区画された空間と同じ数に形成されると良い。本実施形態では、３つの空間が形成されているため、ガス排気スリット２３６は３列形成されている。
　ガス供給スリット２３５およびガス排気スリット２３６は、それぞれの四隅としてのエッジ部が曲面を描くように滑らかに形成されている。エッジ部にＲがけ等を行い、曲面状にすることにより、エッジ部周縁のガスのよどみを抑制することができ、エッジ部の膜の形成を抑制することができ、さらに、エッジ部に形成される膜の膜剥がれを抑制することができる。
　図５に示すように、ガス供給スリット２３５およびガス排気スリット２３６は、処理室２０１に収容された状態のボート２１７に複数段載置された、隣り合うウエハ２００とウエハ２００との間にそれぞれ配置されるように形成されている。図５では、ボート２１７を省略して説明する。
好適には、ボート２１７に載置可能な最下段のウエハ２００とその上側に隣り合うウエハ２００との間から、最上段のウエハ２００とその上側に隣り合うボート２１７の天板との間に至るまで、各ウエハ２００間、ウエハ２００と天板間に対し１段ずつ対向するように形成されると良い。
好適には、各ガス供給スリット２３５と各ガス排気スリット２３６とは同じ高さ、同じ数に形成されると良い。例えば、ウエハ２００が２５枚載置されるときは、ガス供給スリット２３５とガス排気スリット２３４は２５段形成されると良い。
　好適には、ガス供給スリット２３５およびガス排気スリット２３６は、一定の縦幅Ｌ１で形成すると良い。隣り合うウエハ２００間の間隔をＬ２とすると、Ｌ１の方がＬ２より小さくなるようにガス供給スリット２３５およびガス排気スリット２３４が形成されると良い。このように構成することで、ガス供給スリット２３５からウエハ２００へ流れるガスのよどみの発生を抑制でき、さらに、処理室２０１からガス排気スリット２３６へ流れるガスのよどみの発生を抑制することができる。
好適には、Ｌ１は１ｍｍ～９ｍｍ程度の範囲内とすると良く、さらに好適には３～７ｍｍ程度の範囲内とすると良い。また、Ｌ２は６～１４ｍｍ程度の範囲内とすると良く、さらに好適には８～１２ｍｍ程度の範囲内とすると良い。
　ノズル３４０ａ～３４０ｃのガス供給孔２３４ａ～２３４ｃは各ガス供給スリット２３５に対し１個ずつ対応するように、各ガス供給スリット２３５の縦幅の中央部分に形成すると良い。例えば、ガス供給スリット２３５が２５個形成されているときは、それぞれ２５個のガス供給孔２３４ａ～２３４ｃが形成されると良い。すなわち、ガス供給スリット２３５とガス供給孔２３４ａ～２３４ｃは、載置されるウエハ２００と同数形成されると良い。このようなスリット構成とすることにより、ウエハ２００上にウエハ２００に平行な処理ガスの流れを形成することができる（図５矢印参照）。
　また、ガス排気エリア２２４には周方向に長くスリットが形成されているため、ウエハ２００上を流れる処理ガスの流れを乱すことなく、排気を行う事が出来る。例えば、ガス排気スリットを孔状に形成した場合、処理ガスの流れが孔に向かって集中するため、ウエハ２００上において均一なガスの流れを形成することができない。これに対し、本実施形態においては、ガス排気スリットを横長に形成しているため、排気側に近づくにつれて集中した処理ガスの流れが形成されることなく、ウエハ２００上において流れを整流し、均一に処理ガスを供給することが可能となる。
次に、本発明に関わる基板処理装置の動作概要について説明する。なお、基板処理装置は、コントローラ２８０により制御されるものである。
所定枚数のウエハ２００が載置されたボート２１７が反応管２０３内に挿入され、シールキャップ２１９により、反応管２０３が気密に閉塞される。気密に閉塞された反応管２０３内では、ウエハ２００が加熱されると共に、処理ガスが反応管２０３内に供給され、ウエハ２００に加熱等の熱処理がなされる。
　熱処理として、例えば、第１処理ガスとしてＮＨ３ガスと、第２処理ガスとしてＨＣＤＳガスと、第３処理ガスとしてＮ２ガスとを交互供給（ＨＣＤＳガス供給→Ｎ２パージ→ＮＨ３ガス供給→Ｎ２パージを１サイクルとしてこのサイクルを所定回数繰り返すこと）することにより、ウエハ２００上にＳｉＮ膜を形成する。処理条件は、例えば下記のとおりである。
　ウエハ２００の温度：１００～６００℃
　処理室内圧力：１～３０００Ｐａ
　ＨＣＤＳガス供給流量：１～２０００ｓｃｃｍ
ＮＨ３ガス供給流量：１００～１００００ｓｃｃｍ
　Ｎ２ガス供給流量：１０～１００００ｓｃｃｍ
　ＳｉＮ膜の膜厚：０．２～１０ｎｍ
　まず、第２処理ガス供給系のガス供給管３１０ｂよりノズル３５０ｂのガス供給孔２３４ｂ、ガス供給スリット２３５を介して処理室２０１内にＨＣＤＳガスを供給する。具体的には、バルブ３３０ｂ、３３０ｅを開けることにより、キャリアガスと共に、ガス供給管３１０ｂからＨＣＤＳガスの処理室２０１内への供給を開始する。このとき、ＡＰＣバルブ２４４の開度を調整して、処理室２０１内の圧力を所定の圧力に維持する。所定時間が経過したら、バルブ３３０ｂを閉じ、ＨＣＤＳガスの供給を停止する。
　処理室２０１内に供給されたＨＣＤＳガスは、ウエハ２００に供給され、ウエハ２００上を平行に流れた後、ガス排気スリット２３６を通ってガス排気エリア２２２を上部から下部へと流れ、ガス排気エリア２２２下部の排気口２３０を介して排気管２３２から排気される。
　なお、処理室２０１内にＨＣＤＳガスを供給する間、ガス供給管３１０ａおよび３１０ｃに接続される不活性ガス供給管のバルブ３３０ａおよび３３０ｃを開けてＮ２等の不活性ガスを流すと、ガス供給管３２０内にＨＣＤＳガスが回り込むのを防ぐことができる。
　バルブ３３０ｂを閉じ、処理室２０１内へのＨＣＤＳガスの供給を停止した後は、ＡＰＣバルブ２４４を開けて処理室２０１内の排気し、処理室２０１内に残留しているＨＣＤＳガスや反応生成物等を排除する。この時、不活性ガス供給管３１０ａおよび３１０ｃからＮ２等の不活性ガスをそれぞれ処理室２０１内に供給してパージすると、処理室２０１内からの残留ガスを排除する効果をさらに高めることができる。所定時間経過後、バルブ３３０ｅを閉じる。
　次に、第１処理ガス供給系のガス供給管３１０ａよりノズル３５０ａのガス供給孔２３４ａ、ガス供給スリット２３５を介して処理室２０１内にＮＨ３ガスガスを供給する。具体的には、バルブ３３０ａ、３３０ｄを開けることにより、キャリアガスと共に、ガス供給管３１０ａからＮＨ３ガスの処理室２０１内への供給を開始する。このとき、ＡＰＣバルブ２４４の開度を調整して、処理室２０１内の圧力を所定の圧力に維持する。所定時間が経過したら、バルブ３３０ａを閉じ、ＮＨ３ガスの供給を停止する。
　処理室２０１内に供給されたＮＨ３ガスは、ウエハ２００に供給され、ウエハ２００上を平行に流れた後、ガス排気スリット２３６を通ってガス排気エリア２２２を上部から下部へと流れ、ガス排気エリア２２２下部の排気口２３０を介して排気管２３２から排気される。
　なお、処理室２０１内にＮＨ３ガスを供給する間、ガス供給管３１０ｂおよび３１０ｃに接続される不活性ガス供給管のバルブ３３０ｅおよび３３０ｆを開けてＮ２等の不活性ガスを流すと、ガス供給管３２０内にＮＨ３ガスが回り込むのを防ぐことができる。
　バルブ３３０ａを閉じ、処理室２０１内へのＮＨ３ガスの供給を停止した後は、ＡＰＣバルブ２４４を開けて処理室２０１内の排気し、処理室２０１内に残留しているＨＣＤＳガスや反応生成物等を排除する。この時、不活性ガス供給管３１０ｅおよび３１０ｆからＮ２等の不活性ガスをそれぞれ処理室２０１内に供給してパージすると、処理室２０１内からの残留ガスを排除する効果をさらに高めることができる。所定時間経過後、バルブ３３０ｅを閉じる。
  ウエハ２００の処理が完了すると、上記した動作の逆の手順により、ボート２１７が反応管２０３内から搬出される。ウエハ２００は、ウエハ移載機１１２により、ボート２１７から移載棚１２３のカセット１００に移載され、カセット１００は、カセット搬送機１１５により、移載棚１２３からカセットステージ１０５に移載され、図示しない外部搬送装置により、筐体１０１の外部に搬出される。
上述の実施形態では、第１処理ガスと第２処理ガスとを交互に供給する場合について説明したが、同時に供給した場合においても本発明は適用できる。
　図８に示すように、従来の反応管構成による処理ガス供給の場合、処理ガスはガス供給孔から上下左右にわたって円錐状に供給される。処理ガスがウエハ２００に平行な方向（左右方向）だけではなく、上下方向にも広く供給されることにより、ウエハ２００のエッジと反応管との間の空間に処理ガスが流れてしまい、ウエハ２００間に十分な量の処理ガスを供給できない。このため、ガス供給孔近傍の膜が厚くなり均一な膜厚が得られない。また、処理ガスの置換効率が悪く、生産性が悪化してしまう。
これに対し、図９に示すように、本実施形態においては、ガス供給孔の下流側に横長のガス供給スリット２３５が形成されている。上下方向に供給された処理ガスは境界壁２５４にぶつかるため、そのまま処理室２０１内に供給されることはない。境界壁２５４にぶつかった処理ガスは、ガス供給エリア２２２内を拡散し、ガス供給スリット２３５の形状に沿って横長（左右方向）に広がって処理室２０１内に供給される。ガス供給スリット２３５の縦幅はウエハ２００間の間隔よりも短く形成されているため、ガス供給スリット２３５を通った処理ガスは、多少上下方向に広がったとしても、ウエハ２００のエッジと反応管との間の空間に処理ガスが流れることはなく、ウエハ２００間に十分な量を供給することができ、膜厚の偏りを軽減できる。
　本実施形態においては、ガス供給エリア２２２とガス排気エリア２２４とを円筒部２０９（処理室２０１）の外側に形成している。このような構成により、反応管２０３の容積を従来の反応管よりも小さくすることが可能となる。円筒部２０９とウエハ２００のエッジとの間隔をＳ１とすると（図５参照）、すなわち、従来の反応管に比べて容積を３０％程度削減することが可能となるため、生産性を向上させることが可能となる。
　上述の実施形態においては、ガス供給エリア２２２とガス排気エリア２２４とを３つの空間に区画したが、２つの空間に区画しても良いし、４つ以上の空間に区画しても良い。所望の加熱処理に必要なノズルの本数に合わせて、区画する空間の数は適宜変更可能である。
　また、ノズルの形状を各々変更しても良い。例えば、真ん中の空間に設置されるノズルのガス供給孔を内壁に向けて開口させても良い。ガス供給口をウエハ２００ではなく内壁に向けて開口させることにより、処理ガスを空間内で拡散させ、各ガス供給スリットから均一に処理ガスを供給させることが可能になる。
（３）本実施形態による効果
　本実施形態によれば、以下に示す１つ又は複数の効果が得られる。
（ａ）ガス供給エリアとガス排気エリアとを処理室の外側に形成することにより、処理室にガスを供給するガス供給媒体としてのノズルを設置する必要がないため、基板のエッジと反応管内壁との間隔を短くすることができ、また、反応管の容積を従来の反応管よりも大幅に小さくすることが可能となる。これにより、ウエハのエッジと反応管内壁との間の間隙から処理ガスが流れることを抑制することができ、
基板間に十分な量の処理ガスを供給でき、処理ガスの置換効率を向上させることが可能となる。
（ｂ）供給バッファエリアおよび排気バッファエリアに内壁を形成することにより、ガス供給エリアとガス排気エリアとを処理室の外側に形成することによる反応管の強度の低下を補うことができる。これにより、反応管の容積を小さくしつつも反応管の破損のリスクを低下させることができる。
（ｃ）ガス供給スリットおよびガス排気スリットのエッジ部が曲面を描くように滑らかに形成することにより、エッジ部周縁のガスのよどみを抑制することができ、エッジ部の膜の形成を抑制することができ、さらに、エッジ部に形成される膜の膜剥がれを抑制することができる。
（ｄ）ガス供給エリアの内部の内壁により、ノズルがそれぞれ隔離した空間内に設置されるため、各ノズルから供給される処理ガスがガス供給エリア内で混ざり合う事を抑制することができる。このような構成により、ガス供給エリア内で処理ガスが混ざり合って薄膜が形成されたり、副生成物が生成されたりすることを防ぐことができ、パーティクル発生による歩留り低下を抑制することができる。また、各空間内で処理ガスの流速を緩和させることができるため、突発的な処理ガスの流速変化を生じさせることなく、処理室内への均一な処理ガスの供給を促進させ、生産性を向上させることが可能となる。
（ｅ）ガス供給エリアのノズル上端より上部にバッファ領域が形成されることにより、ノズル交換を安全に行う事が出来る。
　次に、本発明の第２の実施形態について説明する。本実施の形態は、ガス排気エリアに温度センサ２３８を設置するために、ガス排気エリア２２４の両端に温度測定エリア２６０を形成した点で第１の実施形態と相違する。以下、第２の実施形態において好適に用いられる反応管２０３の形状について図６を参照して説明する。なお、第１の実施形態と同じ構成については説明を省略する。
　図６に示すように、ガス排気エリア２２４の両端には、温度センサ２３８が収納される温度測定エリア２６０が形成されている。温度測定エリア２６０は、下端部と上端部とが平坦に閉塞された有天井の形状で構成され、その外壁は円筒部２０９と同心円状に形成されている。また、温度測定エリア２６０はガス排気エリア２２４と内壁２５２を介して連続して形成されている。温度測定エリア２６０と円筒部２０９との境界壁にはガス排気スリット２３６は形成されていない。すなわち、温度測定エリア２６０はガス排気エリア２２４および処理室２０１から空間的に独立して形成されている。このような構成とすることにより、温度センサ２３８が処理ガスに曝されることを防ぐことができるため、温度センサ２３８の劣化を抑制することが可能となる。
　図７に示すように、温度センサ２３８により、ボート２１７に載置された最上段のウエハ２００上方における処理室２０１内の温度を計測するために、温度測定エリア２６０の天井部の高さは、円筒部２０９の高さと同じ高さに形成されている。また、ガス排気エリア２２４の天井部も同様に、円筒部２０９の高さと同じ高さに形成される。すなわち、本実施例においては、ガス供給エリア２２２とガス排気エリア２２４と温度測定エリア２６０と円筒部２０９との天井部の高さが同じ高さに、平坦になるように形成されている。このような構成とすることにより、処理室２０１内を上下にわたって温度測定することが可能となり、ヒータ２０７による処理室２０１内の均一な加熱を行う事が出来る。また、反応管２０３の強度を高めることが可能となる。また、ガス排気エリア２２４の両端に温度測定エリア２６０を形成することにより、メンテナンス性を向上させることができる。
　基板処理装置で行われる成膜処理には、例えば、ＣＶＤ、ＰＶＤ、ＡＬＤ、Ｅｐｉ、その他酸化膜、窒化膜を形成する処理、金属を含む膜を形成する処理がある。更に、アニール処理、酸化処理、拡散処理等の処理でも構わない。
＜本発明の好ましい態様＞
　以下、本発明の好ましい態様について付記する。
（付記１）
複数枚の基板を保持する基板保持部材と、
　前記基板保持部材を収容し、前記基板を処理する反応管と、
　前記反応管内に処理ガスを供給する処理ガス供給系と、
　前記反応管内の雰囲気を排気する排気系と、を有し、
前記反応管は、上端に閉塞部を有し、下端に開口部を有する円筒部と、
前記円筒部の一側壁の外側に形成され、前記処理ガス供給系が接続されたガス供給エリアと、
前記ガス供給エリアと対向する前記円筒部の他側壁の外側に形成され、前記排気系が接続されたガス排気エリアと、を備え、
前記ガス供給エリアおよび前記ガス排気エリアは、その内部の空間を複数の空間に区画する内壁を備えるよう構成された基板処理装置が提供される。
（付記２）
付記１に記載の基板処理装置であって、好ましくは、
　前記ガス供給エリアと前記円筒部との境界壁に前記処理ガスを前記円筒部内に供給するガス供給スリットが形成される。
（付記３）
　付記１または２に記載の基板処理装置であって、好ましくは、
　前記ガス排気エリアと前記円筒部との境界壁に前記円筒部内の雰囲気を排気するガス排気スリットが形成される。
（付記４）
　付記３に記載の基板処理装置であって、好ましくは、
　前記ガス供給スリットおよび前記ガス排気スリットは、前記複数の空間それぞれに対向した位置に、上下方向に複数に形成されている。
（付記５）
　付記３または４に記載の基板処理装置であって、好ましくは、前記ガス供給スリットおよび前記ガス排気スリットは前記円筒部の周方向に長くに形成され、その両端部が曲面状に形成されている。
（付記６）
　付記１乃至５に記載の基板処理装置であって、好ましくは、
　前記ガス供給エリアの横断面積と前記ガス排気エリアの横断面積とは同じである。
（付記７）
　付記１乃至６に記載の基板処理装置であって、好ましくは、
　前記ガス供給エリアと前記ガス排気エリアとは同じ数だけ内壁を有し、同じ空間数に区画される。
（付記８）
　付記６または付記７に記載の基板処理装置であって、好ましくは、
　前記ガス供給エリアの各空間の横断面積と前記ガス供給エリアの各空間に対面する前記ガス排気エリアの各空間の横断面積とは同じ面積である。
（付記９）
　付記１乃至８に記載の基板処理装置であって、好ましくは、
　前記ガス供給エリアの容積の方が前記ガス排気エリアの容積より大きい。
（付記１０）
　付記９に記載の基板処理装置であって、好ましくは、
　前記ガス供給エリアの内壁の長さの方が前記ガス排気エリアの内壁の長さよりも長い。
（付記１１）
　付記１乃至１０に記載の基板処理装置であって、好ましくは、
　前記ガス供給エリアと前記円筒部との境界壁の下端に開口部が形成されている。
（付記１２）
　付記１１に記載の基板処理装置であって、好ましくは、
　前記ガス供給エリアの内壁の長さは、前記円筒部の長さよりも短く、かつ、前記ガス供給エリアと前記円筒部との前記境界壁の長さよりも長い。
（付記１３）
　付記１乃至１２に記載の基板処理装置であって、好ましくは、
　前記ガス供給スリットの縦の長さは、前記基板間の間隔よりも短い。
（付記１４）
　付記４乃至１３に記載の基板処理装置であって、好ましくは、
　前記ガス供給スリットおよび前記ガス排気スリットの段数は前記基板の枚数と同数である。
（付記１５）
　付記４乃至付記１４に記載の基板処理装置であって、好ましくは、
　前記ガス供給スリットおよび前記ガス排気スリットの列数は、前記ガス供給エリアの前記空間数および前記ガス排気エリアの前記空間数と同数である。
（付記１６）
　付記１５に記載の基板処理装置であって、好ましくは、
　前記ガス供給スリットおよび前記ガス排気スリットの横の長さは、前記ガス供給エリアの前記空間および前記ガス排気エリアの前記空間の横の長さと同じである。
（付記１７）
　付記１に記載の基板処理装置であって、好ましくは、
　前記ガス排気エリアに隣接して前記反応管内の温度を測定する温度センサが内部に設置された温度測定エリアが形成されている。
（付記１８）
　本発明の別の一態様によれば、
　上端に閉塞部を有し、下端に開口部を有する円筒部と、前記円筒部の一側壁の外側に形成されたガス供給エリアと、前記ガス供給エリアと対向する前記円筒部の他側壁の外側に形成されたガス排気エリアとで構成された反応管の円筒部内に基板を搬送する工程と、
　その内部の空間を複数の空間に区画する内壁を備えたガス供給エリアから前記円筒部内に処理ガスを供給する工程と、
　その内部の空間を複数の空間に区画する内壁を備えたガス排気エリアから前記円筒部内の雰囲気を排気する工程と、を有する半導体装置の製造方法および基板処理方法が提供される。
（付記１９）
　本発明のさらに他の一態様によれば、
　上端に閉塞部を有し、下端に開口部を有する円筒部と、前記円筒部の一側壁の外側に形成されたガス供給エリアと、前記ガス供給エリアと対向する前記円筒部の他側壁の外側に形成されたガス排気エリアとで構成された反応管の円筒部内に基板を搬送する手順と、
　その内部の空間を複数の空間に区画する内壁を備えたガス供給エリアから前記円筒部内に処理ガスを供給する手順と、
　その内部の空間を複数の空間に区画する内壁を備えたガス排気エリアから前記円筒部内の雰囲気を排気する手順と、
　をコンピュータに実行させるプログラム、または、該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体が提供される。
（付記２０）
　本発明のさらに他の一態様によれば、
　上端に閉塞部を有し、下端に開口部を有する円筒部と、
前記円筒部の一側壁の外側に形成されたガス供給エリアと、
前記ガス供給エリアの対向する前記円筒部の他側壁の外側に形成されたガス排気エリアと、を有し
前記ガス供給エリアおよび前記ガス排気エリアは、その内部の空間を複数の空間に区画する内壁を備えるよう構成される反応管が提供される。
　本発明に係る基板処理装置、半導体装置の製造方法、反応管によれば、反応管の容積を削減し、処理ガスの置換効率を向上させることが可能となる。
２８０　　コントローラ（制御部）
２００　　ウエハ
２０１　　処理室
２０２　　処理炉
２０３　　反応管
２０７　　ヒータ
２２２　　ガス供給エリア
２２４　　ガス排気エリア
２３１　　排気管
３１０ａ～３１０ｆ　ガス供給管

Claims (11)

  1. 　複数枚の基板を保持する基板保持部材と、
    　前記基板保持部材を収容し、前記基板を処理する反応管と、
    　前記反応管内に処理ガスを供給する処理ガス供給系と、
    　前記反応管内の雰囲気を排気する排気系と、を有し、
    前記反応管は、上端に閉塞部を有し、下端に開口部を有する円筒部と、
    前記円筒部の一側壁の外側に形成され、前記処理ガス供給系が接続されたガス供給エリアと、
    前記ガス供給エリアと対向する前記円筒部の他側壁の外側に形成され、前記排気系が接続されたガス排気エリアと、を備え、
    前記ガス供給エリアおよび前記ガス排気エリアは、その内部の空間を複数の空間に区画する内壁を備えるよう構成された基板処理装置。
  2. 　前記ガス供給エリアと前記円筒部との境界壁に前記処理ガスを前記円筒部内に供給するガス供給スリットが形成された請求項１記載の基板処理装置。
  3. 　前記ガス排気エリアと前記円筒部との境界壁に前記円筒部内の雰囲気を排気するガス排気スリットが形成された請求項２記載の基板処理装置。
  4. 　前記ガス供給スリットおよび前記ガス排気スリットは、前記複数の空間それぞれに対向した位置に、上下方向に複数形成されている請求項３記載の基板処理装置。
  5. 　前記ガス供給スリットおよび前記ガス排気スリットは前記円筒部の周方向に長く形成され、その両端部が曲面状に形成されている請求項４記載の基板処理装置。
  6. 　前記ガス供給エリアのガスの流路の断面積と前記ガス排気エリアのガスの流路の断面積とは同じ面積で形成されている請求項１記載の基板処理装置。
  7. 　前記ガス供給エリアと前記円筒部との境界壁の下端に開口部が形成されている請求項６記載の基板処理装置。
  8. 　前記ガス供給エリアの内壁の長さは、前記円筒部の長さよりも短く、かつ、前記ガス供給エリアと前記円筒部との前記境界壁の長さよりも長い請求項７記載の基板処理装置。
  9. 　前記ガス供給エリアの内壁の長さの方が前記ガス排気エリアの内壁の長さよりも長い請求項８記載の基板処理装置。
  10. 　上端に閉塞部を有し、下端に開口部を有する円筒部と、前記円筒部の一側壁の外側に形成されたガス供給エリアと、前記ガス供給エリアと対向する前記円筒部の他側壁の外側に形成されたガス排気エリアとで構成された反応管の円筒部内に基板を搬送する工程と、
    　その内部の空間を複数の空間に区画する内壁を備えたガス供給エリアから前記円筒部内に処理ガスを供給する工程と、
    　その内部の空間を複数の空間に区画する内壁を備えたガス排気エリアから前記円筒部内の雰囲気を排気する工程と、を有する半導体装置の製造方法。
  11. 　上端に閉塞部を有し、下端に開口部を有する円筒部と、
    前記円筒部の一側壁の外側に形成されたガス供給エリアと、
    前記ガス供給エリアの対向する前記円筒部の他側壁の外側に形成されたガス排気エリアと、を有し
    前記ガス供給エリアおよび前記ガス排気エリアは、その内部の空間を複数の空間に区画する内壁を備えるよう構成される反応管。
     
     
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