WO2010055728A1 - 放射線検出装置、放射線画像取得システム及び放射線の検出方法 - Google Patents

放射線検出装置、放射線画像取得システム及び放射線の検出方法 Download PDF

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WO2010055728A1
WO2010055728A1 PCT/JP2009/065739 JP2009065739W WO2010055728A1 WO 2010055728 A1 WO2010055728 A1 WO 2010055728A1 JP 2009065739 W JP2009065739 W JP 2009065739W WO 2010055728 A1 WO2010055728 A1 WO 2010055728A1
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WO
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detector
radiation
region
timing
thickness direction
Prior art date
Application number
PCT/JP2009/065739
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English (en)
French (fr)
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須山　敏康
丸野　正
俊英 佐々木
純一 薗田
真二 瀧日
Original Assignee
浜松ホトニクス株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation

Definitions

  • the present invention relates to a radiation detection apparatus, a radiation image acquisition system, and a radiation detection method.
  • the present invention has been made in view of such problems, and provides a radiation detection apparatus, a radiation image acquisition system, and a radiation detection method capable of improving the detection accuracy of a foreign substance or the like contained in an object. For the purpose.
  • the present inventors have detected a foreign matter when detecting the transmitted radiation of an object and inspecting the presence or absence of the foreign matter with a radiation detection device having two line sensors. It has been noted that there may be a case where a portion where the information may be included is limited to a predetermined region in the thickness direction of the object. Then, rather than improving the clarity of the subtraction image of the entire object as generally assumed, the subtraction image of at least the predetermined area (hereinafter referred to as “inspected area”) in the object. It has been found that if the degree of intelligibility is improved, it is possible to improve the detection accuracy of foreign matters contained in the object even if the subtraction image of the entire object is not clear.
  • the present inventors will perform foreign object inspection using two line sensors if the detection timing is adjusted so that the region to be inspected is surely included in the transmitted X-ray region detected by both of the two line sensors.
  • the present invention has been completed by obtaining the knowledge that the detection accuracy can be improved.
  • the radiation detection apparatus is a radiation detection apparatus that irradiates an object having a predetermined thickness from a radiation source and detects radiation transmitted through the object in a plurality of energy ranges,
  • a first detector that detects, in a first energy range, radiation that has passed through a first region that extends in the thickness direction within the object, and radiation that has passed through a second region that extends in the thickness direction within the object.
  • the second detector for detecting in the second energy range and the region to be inspected located at a predetermined location in the object are included in the first region and the second region.
  • a timing control unit that controls the detection timing of radiation.
  • the radiation detection method of the present invention includes a radiation source that irradiates an object with radiation, a first detector that detects radiation within a first energy range, and a second that detects radiation within a second energy range.
  • a radiation detection method in a radiation detection apparatus comprising: a detector; and a timing control unit that controls radiation detection timing at the first detector and the second detector, wherein the radiation source has a predetermined thickness.
  • a second detection step in which the second detector detects within the second energy range radiation that has been irradiated in the irradiation step and transmitted through the second region extending in the thickness direction within the target, and in the target Position in place That includes the inspection area and a timing control step of timing control unit detects the timing of the radiation at the first detector and the second detector to be included in the first region and the second region is controlled, the.
  • the timing control unit is configured by the first detector and the second detector so that a region to be inspected located at a predetermined location in the object is included in the first region and the second region.
  • the radiation detection timing is controlled.
  • the radiographic image acquisition system includes the above-described radiation detection device and a timing calculation unit that calculates the detection timing of radiation at the first detector and the second detector.
  • a timing calculation unit that calculates the detection timing of radiation at the first detector and the second detector.
  • FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an X-ray image acquisition system according to the present embodiment. It is a side view of the dual energy sensor which concerns on this embodiment.
  • FIG. 3 is a diagram showing an X-ray irradiation area on an object S.
  • (A) is a figure which shows the case where the to-be-inspected area
  • region (b) is a figure which shows the case where the to-be-inspected area
  • (A) is a figure which shows the control pulse signal of each detector of the X-ray image acquisition system which concerns on this embodiment
  • (b) is a figure which shows the high frequency signal for producing
  • FIG. 1 is a perspective view of an X-ray image acquisition system according to the present embodiment.
  • FIG. 2 is a schematic configuration diagram of the X-ray image acquisition system according to the present embodiment.
  • an X-ray image acquisition system (radiation image acquisition system) 1 includes an X-ray source (radiation source) on an object S having a predetermined thickness (for example, a constant thickness W). Is a device that detects transmitted X-rays transmitted through an object S in a plurality of energy ranges.
  • the X-ray image acquisition system 1 uses a transmitted X-ray image to set a foreign substance (sedimented in a liquid or floating on the surface) contained in a specific portion of the object S (hereinafter referred to as “inspected region E”).
  • a foreign substance sedimented in a liquid or floating on the surface
  • Foreign matter layers with separated liquids, specific heights of not only liquids but also solids and gases, such as when the inspection height changes depending on the shape of the object, etc., and voids (voids)
  • the object S is created by laminating or laminating different substances in the region E to be inspected, observation of the bonding surface (for example, in the vicinity of the bonding surface) It is used for performing foreign matter and void mixing, observation of a specific layer of the electronic substrate), and the like.
  • the X-ray image acquisition system 1 includes a belt conveyor 10, an X-ray irradiator 20, a low energy image acquisition unit 30, a high energy image acquisition unit 40, a timing control unit 50, a timing calculation unit 60, and an image processing apparatus (a composite image generation unit). 70).
  • the low-energy image acquisition unit 30, the high-energy image acquisition unit 40, and the timing control unit 50 constitute a dual image acquisition device (radiation detection device) 80.
  • the belt conveyor 10 includes a belt portion 12 on which the object S is placed.
  • the belt conveyor 10 conveys the object S in the conveyance direction A at a predetermined conveyance speed M by moving the belt portion 12 in the conveyance direction A (from the left upstream side in FIG. 1 to the right downstream side in FIG. 1). To do.
  • the conveyance speed M of the object S is, for example, 48 m / min.
  • the belt conveyor 10 can change the speed to a conveying speed of, for example, 24 m / min or 96 m / min by a belt conveyor control unit (not shown) as necessary.
  • the target object S conveyed by the belt conveyor 10 there exist foodstuffs, electronic parts, etc., such as meat, and these have the predetermined thickness W.
  • the X-ray irradiator 20 is an apparatus that irradiates the object S with X-rays as an X-ray source.
  • the X-ray irradiator 20 is a point light source and irradiates by diffusing X-rays in a predetermined irradiation range within a predetermined angle range.
  • the X-ray irradiator 20 is directed from the belt portion 12 so that the X-ray irradiation direction is directed to the belt portion 12 and the diffusing X-rays extend over the entire width direction of the object S (direction intersecting the transport direction A).
  • a predetermined distance is provided above the belt portion 12.
  • a predetermined division range in the length direction is an irradiation range.
  • the X-rays irradiated from the X-ray irradiator 20 pass through the regions R1 and R2.
  • These regions R1 and R2 are three-dimensional regions extending in the thickness direction D in the object S, and are from the upper surface Sa (X-ray irradiator 20 side which is a point light source) to the lower surface Sb (belt conveyor 10 side). It spreads as you go.
  • the X-ray irradiator 20 is configured to irradiate the entire length direction of the object S with X-rays when the object S is transported in the transport direction A by the belt conveyor 10.
  • the low energy image acquisition unit 30 includes a low energy detector (first detector) 32 and a low energy image correction unit 34.
  • the low energy detector 32 transmits X-rays transmitted from the X-ray irradiated from the X-ray irradiator 20 through a predetermined region (first region) R1 of the object S in a low energy range (first energy range). Detect and generate low energy image data.
  • the low energy detector 32 is composed of, for example, a linear line sensor having a length equal to or greater than the width of the object S, and the conveyance direction A with the X-ray detection surface facing the X-ray irradiator 20. Is disposed below and on the upstream side of the belt portion 12 so as to be orthogonal to each other.
  • the low energy image correction unit 34 amplifies and corrects the low energy image data generated by the low energy detector 32.
  • the low energy image correction unit 34 is converted by an amplifier 34a that amplifies low energy image data, an A / D conversion unit 34b that performs A / D conversion on the low energy image data amplified by the amplifier 34a, and an A / D conversion unit 34b.
  • a correction circuit 34c that performs a predetermined correction process on the low-energy image data and an output interface 34d that outputs the image data corrected by the correction circuit 34c to the outside are provided.
  • the high energy image acquisition unit 40 includes a high energy detector (second detector) 42 and a high energy image correction unit 44.
  • the high energy detector 42 transmits X-rays transmitted from the X-ray irradiated from the X-ray irradiator 20 through a predetermined region (second region) R2 of the object S in a high energy range (second energy range). Detect and generate high energy image data.
  • the high energy detector 42 is composed of, for example, a linear line sensor having a length equal to or greater than the width of the object S, and the conveyance direction A with the X-ray detection surface facing the X-ray irradiator 20. Is arranged below the downstream side of the belt portion 12 so as to be orthogonal to each other.
  • the high energy image correction unit 44 is a part that amplifies and corrects the high energy image data generated by the high energy detector 42.
  • the high energy image correction unit 44 converts the high energy image data amplified by the amplifier 44a, the A / D conversion unit 44b that performs A / D conversion on the high energy image data amplified by the amplifier 44a, and the A / D conversion unit 44b.
  • a correction circuit 44c that performs a predetermined correction process on the high-energy image data and an output interface 44d that externally outputs the image data corrected by the correction circuit 44c are provided.
  • the low energy detector 32 and the high energy detector 42 will be described in detail.
  • the low energy detector 32 is a line sensor whose sensing width along the conveyance direction A is LW.
  • the high energy detector 42 is a line sensor whose sensing width along the conveyance direction A is HW.
  • the detection width LW and the detection width HW are the same width, for example, 0.8 mm.
  • the low energy detector 32 and the high energy detector 42 are arranged and fixed on the base 84 in parallel with a dead zone 82 having a dead zone width NW (for example, 0.4 mm) along the conveyance direction A.
  • NW dead zone width
  • the low energy detector 32 having the sensing width LW detects X-rays transmitted through one region R1 in the object S based on a control pulse having a predetermined period (see FIG. 6A). Detect by surface. Then, the low energy detector 32 repeats this, and detects transmitted X-rays corresponding to the region R1 at each detection timing, for example, as schematically shown in FIG. 4B. Similarly to the low energy detector 32, the high energy detector 42 having the sensing width HW also transmits transmitted X-rays corresponding to the region R2 at each detection timing, as schematically shown in FIG. 4C, for example. To detect.
  • the low energy detector 32 and the high energy detector 42 constituting the dual energy sensor 86 for example, a device having an energy discrimination function in which a low energy cut filter is arranged on the high energy sensor may be used. Good.
  • a scintillator that converts X-rays in the low energy range into visible light and a scintillator that converts X-rays in the high energy range into visible light both detectors 32 and 42 have different wavelength sensitivities so that different energies are obtained. It is also possible to detect the range.
  • a filter may be arranged on a scintillator having different wavelength sensitivities.
  • a device having an energy discrimination function by a direct conversion method such as CdTe (cadmium telluride) may be used.
  • the timing controller 50 uses the transmission timing of the transmitted X-rays at the low energy detector 32 and the high energy detector 42 so that the inspection area E located at a predetermined location of the object S is included in the areas R1 and R2.
  • the transmission X-ray detection timing is controlled.
  • the timing control unit 50 outputs, for example, a low energy sensor control pulse having a predetermined cycle as shown in FIG. 6 to the low energy detector 32.
  • the timing controller 50 has the same period as the low energy sensor control pulse for the high energy detector 42, and the rising portion of the pulse is a predetermined time T (hereinafter sometimes referred to as "delay time").
  • the delayed control pulse signal for the high energy sensor is output.
  • the timing control unit 50 detects the inspection region E located at a predetermined position of the object S by the low energy detector 32 as shown in FIGS. 4B and 4C by changing the delay time T. To be included in both the region R1 to be detected and the region R2 detected by the high energy detector 42.
  • the timing control unit 50 controls the inspection area E to be included in the areas R1 and R2, as shown in FIG. 5A, the inspection area E includes the areas R1 and R2. To be included in the shared area R3. This indicates that both X-ray transmission image data detected and generated by the detectors 32 and 42 surely include information (existence of foreign matter, etc.) in the region E to be inspected.
  • the timing control unit 50 does not control the inspection area E to be included in the areas R1 and R2, for example, X-ray detection is performed at the detection timing as shown in FIG. As shown in FIG. 5B, the entire inspection area E is not included in the shared area R3 of the area R1 and the area R2.
  • a high-frequency signal for timing control shown in FIG. 6B is generated using a PLL (Phase Locked : Loop) or the like. Generate.
  • a high-frequency signal for example, when the pixel clock required for driving the sensor in the energy detectors 32 and 42 is driven at about 200 kHz, a signal of 20 MHz or higher, which is about 100 times as high as that, is used. And can be finely controlled. If the sensor-driven pixel clock is about 1 MHz, fine control can be performed by using a signal of 100 MHz or higher.
  • a delay control pulse signal may be generated using a delay signal high-frequency oscillator.
  • the timing calculation unit 60 calculates a delay time T that is a detection timing used by the timing control unit 50.
  • the timing calculation unit 60 detects the dead band width NW of the dead zone 82 in the dual energy sensor 86, the speed at which the object S passes through the dead zone 82 (that is, the conveyance speed M), and the expansion of X-rays that pass through the target S. Based on the rate R, the delay time T is calculated by the following equation (1).
  • T NW / (R ⁇ M) (1)
  • the magnification R is the FOD (Focus Object Distance: distance between source objects, see FIG.
  • the distance between the X-ray irradiator 20 and the inspection center of the object S, the X-ray irradiator 20 and each It is a ratio (FDD / FOD) to FDD (FocusDetector Distance: distance between source sensors, see FIG. 2), which is the distance between the detectors 32 and 42.
  • FDD Fluor Distance: distance between source sensors, see FIG. 2.
  • the timing calculation unit 60 calculates a delay time T of the detection timing of the high energy detector 42 with respect to the detection timing of the low energy detector 32 based on the equation (1).
  • the inspection center of the object S in the FOD for calculating the enlargement ratio R is set as the position in the thickness direction in the object S where the inspection area E is located. That is, for example, when the vicinity of the surface portion of the object S is the inspection area E, the distance between the upper surface of the object S and the X-ray irradiator 20 is FOD. When the vicinity of the center of the object S is the inspection area E, the distance between the center of the object S in the thickness direction D and the X-ray irradiator 20 is FOD.
  • the timing calculation unit 60 When the vicinity of the bottom of the object S is the inspection area E, the distance between the lower bottom surface of the object S and the X-ray irradiator 20 is FOD. Then, the timing calculation unit 60 outputs the calculated delay time T to the timing control unit 50 as a detection timing. Note that the dead band width NW, the conveyance speed M, and the enlargement ratio R are input to the timing calculation unit 60 via an input unit or the like.
  • the image processing device 70 performs arithmetic processing for obtaining difference data between the low energy image data detected and generated by the low energy detector 32 and the high energy image data detected and generated by the high energy detector 42, and the composite image Is an apparatus for generating an energy subtraction image.
  • Both energy image data input to the image processing device 70 are those whose detection timing is controlled by the timing control unit 50 so that the inspected area E of the object S is included in the mutual image data.
  • the processing device 70 generates an energy subtraction image with a clear portion corresponding to the region E to be inspected by a predetermined calculation process. Then, the image processing device 70 outputs and displays the generated energy subtraction image on a display or the like. With this output display, foreign substances contained in the object S can be visually confirmed. Note that the foreign matter contained in the object S may be detected directly from the image data by the detection process on the image data without outputting and displaying the energy subtraction image.
  • the object S used in the description has a length in the direction along the conveyance direction A of 4.0 mm, and the thickness in the thickness direction D is the distance (FDD) between the X-ray irradiator 20 and the detectors 32 and 42. It is assumed that the length corresponds to 1/3 and the length of the inspection area E along the conveyance direction A is smaller than the sensing widths LW and HW of the detectors 32 and 42.
  • the detection widths LW and HW of the detectors 32 and 42 are both 0.8 mm, the dead zone width NW of the dead zone 82 is 0.4 mm, and the conveying speed of the belt conveyor 10 is 0.8 mm / millisecond (48 m / second). Minutes).
  • the inspection area E is located near the lower bottom surface of the object S (inspection area E1)
  • FOD and FDD are set with the inspection center of the object S as the bottom surface of the object S
  • FOD: FDD Set to 2: 3.
  • the enlargement ratio R is 1.5.
  • the timing calculation unit 60 calculates the delay time T by adding the above-described various conditions and the enlargement ratio R to (Expression 1), the delay time T1 is, for example, 0.333 milliseconds.
  • the timing calculation unit 60 outputs the calculated delay time T1 to the timing control unit 50.
  • the timing control unit 50 When the delay time T1 is input from the timing calculation unit 60, the timing control unit 50 generates a control pulse signal (see FIG. 8) for each of the detectors 32 and 42 including the delay time T1. Output to 42.
  • the low energy detector 32 detects X-rays transmitted through the region R1 shown in FIG. 7A at a predetermined timing and transmits the region R2 shown in FIG. 7B.
  • the high energy detector 42 detects X-rays at a predetermined timing including the delay time T1.
  • FIG. 7C in the image processing apparatus 70, an image in which the region to be inspected E1 is included in the shared region R3 formed by intersecting the region R1 and the region R2 at the intersection P1. Using the data, an energy subtraction image is generated.
  • the timing control by the delay time T1 by the calculation of the above formula (1) is the following control. That is, the timing calculation unit 60 calculates the first reference plane R1a that intersects the thickness direction D of the object based on the thickness direction position (bottom surface position) where the inspection region E is located in the region R1. Subsequently, the timing calculation unit 60 calculates the second reference plane R2a that intersects the thickness direction D of the object S in the second region R2 at the same thickness direction position as the first reference plane R1a (that is, the bottom surface position). To do.
  • the timing calculation unit 60 calculates a detection timing such that the first reference surface R1a in the region R1 and the second reference surface R2a in the region R2 overlap or coincide with each other, and the timing control unit 50
  • the detectors 32 and 42 are controlled based on the detection timing. Also by such control, an energy subtraction image can be generated using image data in which the inspection area E1 is included in the shared area R3.
  • the inspection area E is located at the center of the object S (inspection area E2)
  • FOD and FDD are set, for example, with the inspection center of the object S being near the center of the object S.
  • Set FOD: FDD 1: 2.
  • the enlargement ratio R is 2.
  • the timing calculation unit 60 calculates the delay time T by adding the above-described various conditions and the enlargement ratio R to (Equation 1), the delay time T2 is, for example, 0.25 milliseconds.
  • the timing calculation unit 60 outputs the calculated delay time T2 to the timing control unit 50.
  • the timing control unit 50 When the delay time T2 is input from the timing calculation unit 60, the timing control unit 50 generates control pulse signals (see FIG. 10) for the detectors 32 and 42 including the delay time T2, and each of the detectors 32, Output to 42.
  • the low energy detector 32 detects X-rays transmitted through the region R1 shown in FIG. 9A at a predetermined timing and transmits the region R2 shown in FIG. 9B.
  • the high energy detector 42 detects X-rays at a predetermined timing including the delay time T2.
  • FIG. 9C in the image processing apparatus 70, an image in which the region to be inspected E2 is included in the shared region R3 formed by intersecting the region R1 and the region R2 at the intersection point P2. Using the data, an energy subtraction image is generated.
  • the timing control by the delay time T2 by the calculation of the above formula (1) is the control using the reference plane described above.
  • the timing calculation unit 60 causes the first reference surface R1b in the region R1 and the second reference surface R2b in the region R2 to overlap or coincide with each other.
  • the detection timing is calculated and the timing control unit 50 controls the detectors 32 and 42 based on such detection timing, the energy subtraction is performed using the image data in which the inspection area E2 is included in the shared area R3. An image can be generated.
  • the inspection area E is located above the object S (inspection area E3)
  • the enlargement ratio R is 3.
  • the timing calculation unit 60 calculates the delay time T3 by adding the above-described various conditions and the enlargement ratio R to (Expression 1), the delay time T3 is, for example, 0.167 milliseconds.
  • the timing calculation unit 60 outputs the calculated delay time T3 to the timing control unit 50.
  • the timing control unit 50 When the delay time T3 is input from the timing calculation unit 60, the timing control unit 50 generates a control pulse signal (see FIG. 12) for each of the detectors 32 and 42 including the delay time T3. Output to 42.
  • the low energy detector 32 detects X-rays transmitted through the region R1 shown in FIG. 11A at a predetermined timing and transmits through the region R2 shown in FIG. 11B.
  • the high energy detector 42 detects X-rays at a predetermined timing including the delay time T3.
  • the image processing apparatus 70 uses image data in which a region to be inspected E3 is included in a shared region R3 formed by intersecting the region R1 and the region R2. Thus, an energy subtraction image is generated.
  • the timing control by the delay time T3 by the calculation of the above formula (1) is the control using the reference plane described above.
  • the timing calculation unit 60 causes the first reference surface R1c in the region R1 and the second reference surface R2c in the region R2 to overlap or coincide with each other.
  • the timing control unit 50 controls the detectors 32 and 42 based on such detection timing, an energy subtraction image is obtained using image data in which the inspection area E3 is included in the shared area R3. Can be generated.
  • the position of the inspection region E position in the thickness direction D or position in the length direction
  • a method may be used in which calculation is performed using an adjustment object S ′ in which a test piece (test piece) that can be detected by X-rays is arranged at a position corresponding to the inspection area E similar to the object S.
  • the object S ′ for adjustment may be the same shape and the same quality as the object S. Further, the same shape and different materials may be used so that information necessary for timing control can be obtained, or a timing control jig may be used.
  • the timing calculation unit 60 is based on the amount of deviation in the X-ray data (including the energy subtraction image) transmitted through the adjustment target S ′ detected by the low energy detector 32 and the high energy detector 42, and the like. You may make it calculate or adjust the X-ray detection timing in the low energy detector 32 and the high energy detector 42 so that a test piece may be contained in the area
  • the timing calculation unit 60 can easily calculate the detection timing of the low energy detector 32 and the high energy detector 42.
  • the timing control unit 50 includes the low energy detector 32 and the region R1 and the region R2 so that the inspection region E located at a predetermined location in the object S is included in the region R1 and the region R2.
  • the X-ray detection timing at the high energy detector 42 is controlled.
  • the region E to be inspected also includes the region E to be inspected. Therefore, the inspection area E is reliably detected by the respective X-ray data detected by the detectors 32 and 42.
  • the unclear edge part is reduced at least in the part corresponding to the inspection area E, and the detection accuracy of the foreign matters contained in the object S can be improved.
  • the timing calculation unit 60 that calculates the X-ray detection timing of the low energy detector 32 and the high energy detector 42 is provided.
  • the detection timing can be easily calculated.
  • the timing calculation unit 60 calculates the FOD or the like based on the thickness direction position of a predetermined location in the object S where the inspection region E is located, and obtains the geometric magnification R based on the FOD or the like.
  • the detection timing is calculated based on the enlargement ratio R, the conveyance speed M, the dead band width NW, and the like thus obtained.
  • the timing calculation unit 60 uses the first reference planes R1a, R1b, and R1c that intersect the thickness direction of the object S based on the thickness direction position where the inspection region E is located in the region R1.
  • second reference surfaces R2a, R2b, and R2c that are at the same position in the thickness direction as the first reference surfaces R1a, R1b, and R1c and intersect the thickness direction of the object S are calculated.
  • the detection timing is calculated so that the surfaces R1a, R1b, R1c and the second reference surfaces R2a, R2b, R2c overlap or coincide with each other.
  • the low energy detector 32 and the high energy detector 42 detect X-rays that have passed through the adjustment target S ′ in which a test piece is arranged at a location corresponding to the inspection region E, and the timing calculation unit 60 Based on the X data transmitted through the adjustment target S ′ detected by the low energy detector 32 and the high energy detector 42, the low energy detector 32 and the region R1 and the region R2 so that the test piece is included in the region R1 and the region R2. You may make it calculate the detection timing of the X-ray in the high energy detector 42. FIG. By using such an adjustment object S ′, the detection timing of the low energy detector 32 and the high energy detector 42 can be easily calculated.
  • the detection timing may be set after the operator observes the deviation of the adjustment target S ′ on the image, or the deviation amount from the program on the PC or the image processing apparatus that has captured the image data. It may be calculated and set. Further, a circuit or a program for calculating a deviation amount may be mounted inside a detector such as the dual image acquisition device 80, and may be set based on the deviation amount inside the detector.
  • the inspected region E is included using transmission X-ray data transmitted through one region R1 in the low energy range and transmission X-ray data transmitted through one region R2 in the high energy range.
  • An energy subtraction image of the object S was generated to inspect foreign matter or the like in the inspection area E, but as shown in FIG. 13, transmitted X-ray data (FIG. 13) transmitted through one area R1 in the low energy range. 13 (a)) and transmitted X-ray data (see FIG.
  • transmitted X-ray data (see FIG. 14A) transmitted through the two regions R1 in the low energy range and transmitted X-ray data transmitted through the two regions R2 in the high energy range (see FIG. 14A).
  • 14 (b)) may be used to inspect foreign matter or the like in the inspected areas E7, E8, E9, and E10 (see FIG. 14 (c)) having different positions in the thickness direction.
  • Such foreign matter inspection with different thickness direction positions is used, for example, when foreign matter inspection is performed on cans having different height sizes.
  • a memory is prepared in each detector 32 and 42, and either the transmission X-ray data at low energy or the transmission X-ray data at high energy is held and stored in the memory.
  • a storage unit 90 that holds both low-energy transmission X-ray data and high-energy transmission X-ray data is prepared in the dual image acquisition device 80 a.
  • both the low-energy transmission X-ray data and the high-energy transmission X-ray data are held between the dual image acquisition device 80 and the plurality of image processing devices 70a.
  • the image processing apparatus 70 b is provided with a storage unit 96 that holds both transmission X-ray data with low energy and transmission X-ray data with high energy.
  • a storage unit 96 that holds both transmission X-ray data with low energy and transmission X-ray data with high energy.
  • the low energy detector 32 is provided on the upstream side in the conveyance direction A and the high energy detector 42 is provided on the downstream side.
  • the high energy detector 42 is provided on the upstream side in the conveyance direction A.
  • a low energy detector 32 may be provided on the downstream side.
  • the detection timing of the high energy detector 42 is delayed by a predetermined time T.
  • the detection timing of the low energy detector 32 may be advanced, the detection timing of the high energy detector 42 may be delayed, and both detection timings may be shifted by a predetermined time T. .
  • the detection timing in the two ranges of low energy and high energy is controlled. However, the detection timing in three or more ranges may be controlled.
  • timing calculation unit for example, it is preferable to calculate the detection timing based on the position in the thickness direction of a predetermined location in the object where the inspection region is located.
  • the first reference plane intersecting the thickness direction of the object is calculated based on the thickness direction position where the inspection region is located. It is preferable to calculate a second reference plane that intersects the thickness direction at the same position in the thickness direction as the first reference plane, and calculates the detection timing so that the first reference plane and the second reference plane overlap.
  • the first detector and the second detector detect radiation that has passed through the adjustment object in which a test piece is disposed at a position corresponding to the inspection area
  • the timing calculation unit includes the first detector and the second detector.
  • the detection timing of the radiation at the first detector and the second detector so that the test piece is included in the first region and the second region based on the radiation data transmitted through the adjustment target detected by the two detectors May be calculated.
  • the image processing apparatus includes a composite image generation unit that generates a composite image by combining the radiation data detected by the first detector and the radiation data detected by the second detector, and the composite image generation unit includes the first detector Is synthesized from a plurality of radiation data detected in a first region and a plurality of radiation data detected in a plurality of second regions by a second detector for a plurality of inspected regions having different thickness direction positions. An image may be generated. As a result, it is possible to inspect inspected regions at various positions in the thickness direction.
  • the present invention uses a radiation detection apparatus, a radiation image acquisition system, and a radiation detection method, and can improve the detection accuracy of a foreign substance contained in a region to be inspected in an object.
  • T Delay time, W ... Thickness, HW, LW ... sensing width, NW ... dead zone width, R1, R2 ... irradiation area, R3 ... shared area, R1a, R1b, R1c ... first reference plane, R2a, R2b, R2c ... second reference plane.

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Abstract

　対象物に含まれる異物の検出精度を向上させることができるＸ線画像取得システムを提供する。Ｘ線画像取得システム１は、所定の厚みＷを有する対象物ＳにＸ線源からＸ線を照射し、対象物Ｓを透過したＸ線を複数のエネルギ範囲で検出する。Ｘ線画像取得システム１は、対象物Ｓ内において厚み方向に延在する領域Ｒ１を透過したＸ線を低エネルギ範囲で検出する低エネルギ検出器３２と、対象物Ｓ内において厚み方向に延在する領域Ｒ２を透過したＸ線を高エネルギ範囲で検出する高エネルギ検出器４２と、対象物Ｓ内の所定箇所に位置する被検査領域Ｅが領域Ｒ１及び領域Ｒ２に含まれるように低エネルギ検出器３２及び高エネルギ検出器４２でのＸ線の検出タイミングを制御するタイミング制御部５０と、を備える。

Description

放射線検出装置、放射線画像取得システム及び放射線の検出方法
　本発明は、放射線検出装置、放射線画像取得システム及び放射線の検出方法に関する。
　従来から、食品や医薬品等の被検査物である対象物にＸ線を透過させて、その透過Ｘ線画像から対象物中の異物の有無を検査することが広く行われている。このような検査には、Ｘ線を対象物に照射するＸ線源と、このＸ線源から対象物に照射されたＸ線の透過画像を検出する直線状のラインセンサとを備えたＸ線の検出装置が用いられている。
　ところで、エネルギ弁別機能を有しない１つのラインセンサで検出する場合、エネルギ弁別機能を有しないので、対象物中に含まれる異物の組成の相違（例えば、食肉検査において骨なのか肉なのか又は軟骨なのか異物なのかといった違い）や厚さの相違により、検出精度が低下することがある。そこで、異なるエネルギ範囲のＸ線を検出する２つのラインセンサを並列に配置して、これら２つのラインセンサで検出されたＸ線画像から差分データ像であるサブトラクション像を取得して、対象物中に含まれる異物の組成や厚さに関係なく検出精度を向上させることが提案されている（例えば、特許文献１参照）。
特開平１０－３１８９４３号公報
　しかしながら、本発明者らの検討によれば、並列に配置された２つのラインセンサで検出された対象物のＸ線データからサブトラクション像を得ようとすると、サブトラクション像において異物等を示す画像部分のエッジが不明瞭になる場合があることがわかった。そのため、２つのラインセンサを用いるだけでは、対象物中に含まれる異物等の検出を精度良く行うことができない場合があった。
　そこで、本発明は、かかる課題に鑑みて為されたものであり、対象物に含まれる異物等の検出精度を向上させることができる放射線検出装置、放射線画像取得システム及び放射線の検出方法を提供することを目的とする。
　本発明者らは、上記目的を達成するために鋭意検討を重ねた結果、２つのラインセンサを備えた放射線検出装置で対象物の透過放射線を検出して異物の有無等を検査する際、異物等が含まれる可能性のある箇所が対象物の厚み方向の所定領域に限られる場合があることに着目した。そして、一般的に想定されるような対象物全体のサブトラクション像の明瞭度向上を図るのではなく、少なくとも対象物における上記所定の領域（以下、「被検査領域」と記す）でのサブトラクション像の明瞭度向上を図れば、仮に対象物全体のサブトラクション像が明瞭でなくても対象物に含まれる異物等の検出精度を向上できることがわかった。そこで、本発明者らは、この被検査領域が２つのラインセンサ双方で検出される透過Ｘ線領域に確実に含まれるように検出タイミングを調整することを行えば、２つのラインセンサによる異物検査での検出精度を向上させることができるとの知見を得て本発明を完成させるに至った。
　すなわち、本発明に係る放射線検出装置は、所定の厚みを有する対象物に放射線源から放射線を照射して、該対象物を透過した放射線を複数のエネルギ範囲で検出する放射線検出装置であって、対象物内において厚み方向に延在する第１領域を透過した放射線を第１のエネルギ範囲で検出する第１検出器と、対象物内において厚み方向に延在する第２領域を透過した放射線を第２のエネルギ範囲で検出する第２検出器と、対象物内の所定箇所に位置する被検査領域が第１領域及び第２領域に含まれるように第１検出器及び第２検出器での放射線の検出タイミングを制御するタイミング制御部と、を備える。
　また、本発明の放射線の検出方法は、対象物に放射線を照射する放射線源と、放射線を第１のエネルギ範囲で検出する第１検出器と、放射線を第２のエネルギ範囲で検出する第２検出器と、第１検出器及び第２検出器での放射線の検出タイミングを制御するタイミング制御部とを備えた放射線検出装置における放射線の検出方法であって、放射線源が所定の厚みを有する対象物に放射線を照射する照射工程と、照射工程で照射されて対象物内において厚み方向に延在する第１領域を透過した放射線を第１検出器が第１のエネルギ範囲で検出する第１検出工程と、照射工程で照射されて対象物内において厚み方向に延在する第２領域を透過した放射線を第２検出器が第２のエネルギ範囲で検出する第２検出工程と、対象物内の所定箇所に位置する被検査領域が第１領域及び第２領域に含まれるように第１検出器及び第２検出器での放射線の検出タイミングをタイミング制御部が制御するタイミング制御工程と、を含む。
　この放射線検出装置及び放射線の検出方法では、対象物内の所定箇所に位置する被検査領域が第１領域及び第２領域に含まれるようにタイミング制御部が第１検出器及び第２検出器での放射線の検出タイミングを制御するようになっている。これにより、所定の厚みを有する対象物では、第１検出器で検出される放射線が透過した第１領域及び第２検出器で検出される放射線が透過した第２領域のいずれにも被検査領域が含まれる。そのため、各検出器で検出されたそれぞれの放射線データによって被検査領域が確実に検出される。その結果、対象物のサブトラクション像のうち、少なくとも被検査領域に相当する部分では不明瞭なエッジ部分が低減され、対象物に含まれる異物等の検出精度を向上させることができる。
　また、本発明に係る放射線画像取得システムは、上記した放射線検出装置と、第１検出器及び第２検出器での放射線の検出タイミングを算出するタイミング算出部とを備えることが好ましい。タイミング算出部を備えることにより、検出タイミングの算出が容易になる。
　本発明によれば、対象物中の被検査領域に含まれる異物等の検出精度を向上させることができる。
本実施形態に係るＸ線画像取得システムの斜視図である。 本実施形態に係るＸ線画像取得システムの概略構成図である。 本実施形態に係るデュアルエナジセンサの側面図である。 対象物ＳにおけるＸ線の照射領域を示す図である。 （ａ）は、被検査領域ＥがＸ線の照射領域に含まれる場合を示す図であり、（ｂ）は、被検査領域ＥがＸ線の照射領域に含まれない場合を示す図である。 （ａ）は、本実施形態に係るＸ線画像取得システムの各検出器の制御パルス信号を示す図であり、（ｂ）は、制御パルス信号を生成するための高周波信号を示す図である。 被検査領域Ｅが対象物Ｓの底面付近にある場合に遅延時間Ｔを算出する例を示す図である。 図７の算出例における各検出器の制御パルス信号を示す図である。 被検査領域Ｅが対象物Ｓの中央部下方付近にある場合に遅延時間Ｔを算出する例を示す図である。 図９の算出例における各検出器の制御パルス信号を示す図である。 被検査領域Ｅが対象物Ｓの中央部上方付近にある場合に遅延時間Ｔを算出する例を示す図である。 図１１の算出例における各検出器の制御パルス信号を示す図である。 複数の照射領域を透過したＸ線データを用いて厚み方向の異なる複数の被検査領域Ｅを検査する場合を示す図である。 複数の照射領域を透過したＸ線データを用いて厚み方向の異なる複数の被検査領域Ｅを検査する別の場合を示す図である。 検出器で検出されたＸ線データを保持する記憶部を含む装置構成の例を示す図である。 検出器で検出されたＸ線データを保持する記憶部を含む装置構成の別の例を示す図である。 検出器で検出されたＸ線データを保持する記憶部を含む装置構成の別の例を示す図である。 検出器で検出されたＸ線データを保持する記憶部を含む装置構成の別の例を示す図である。
　以下、図面を参照しつつ本発明に係るＸ線画像取得システムの好適な実施形態について説明する。なお、図面の説明においては同一又は相当部分には同一符号を付し、重複する説明を省略する。
　図１は、本実施形態に係るＸ線画像取得システムの斜視図である。また、図２は、本実施形態に係るＸ線画像取得システムの概略構成図である。図１及び図２に示されるように、Ｘ線画像取得システム（放射線画像取得システム）１は、所定の厚み（例えば、一定の厚さＷ）を有する対象物ＳにＸ線源（放射線源）からＸ線（放射線）を照射し、照射されたＸ線のうち対象物Ｓを透過した透過Ｘ線を複数のエネルギ範囲で検出する装置である。Ｘ線画像取得システム１は、透過Ｘ線画像を用いて、対象物Ｓの特定の箇所（以下、「被検査領域Ｅ」と記す）に含まれる異物（液体中に沈降したり、表面を浮遊する異物、層を成して分離している液体のある層、液体に限らず固体や気体などの特定の高さ、例えば対象物の形状によって検査する高さが変わる場合など）やボイド（空隙）の検出を行ったり、または、対象物Ｓが被検査領域Ｅで異なる物質を貼り合わせたり、積層させて作成された場合には、その貼り合わせ面の観察（例えば、貼り合わせ面付近での異物やボイドの混入、電子基板の特定の層の観察）等を行ったりするために用いられる。
　Ｘ線画像取得システム１は、ベルトコンベア１０、Ｘ線照射器２０、低エネルギ画像取得部３０、高エネルギ画像取得部４０、タイミング制御部５０、タイミング算出部６０及び画像処理装置（合成画像生成部）７０を備えている。低エネルギ画像取得部３０、高エネルギ画像取得部４０及びタイミング制御部５０からデュアル画像取得装置（放射線検出装置）８０が構成される。
　ベルトコンベア１０は、図１に示すように、対象物Ｓが載置されるベルト部１２を備える。ベルトコンベア１０は、ベルト部１２を搬送方向Ａ（図１の左側の上流側から図１の右側の下流側）に移動させることで、対象物Ｓを所定の搬送速度Ｍで搬送方向Ａに搬送する。対象物Ｓの搬送速度Ｍは、例えば４８ｍ／分である。ベルトコンベア１０は、必要に応じて、ベルトコンベア制御部（不図示）により、例えば２４ｍ／分や９６ｍ／分といった搬送速度に速度を変更することができる。なお、ベルトコンベア１０で搬送される対象物Ｓとしては、例えば、食肉等の食品や電子部品等があり、これらは所定の厚みＷを有している。
　Ｘ線照射器２０は、Ｘ線源としてＸ線を対象物Ｓに照射する装置である。Ｘ線照射器２０は、点光源であり、一定の照射方向に所定の角度範囲でＸ線を拡散させて照射する。Ｘ線照射器２０は、Ｘ線の照射方向がベルト部１２に向けられると共に拡散するＸ線が対象物Ｓの幅方向（搬送方向Ａと交差する方向）全体に及ぶように、ベルト部１２から所定の距離を離れてベルト部１２の上方に配置される。Ｘ線照射器２０は、対象物Ｓの長さ方向（搬送方向Ａと平行な方向）においては、長さ方向における所定の分割範囲が照射範囲とされている。例えば、対象物ＳのＸ線照射範囲を示す図４（ａ）を参照して、Ｘ線照射器２０から照射されたＸ線は、領域Ｒ１，Ｒ２を透過する。この領域Ｒ１，Ｒ２は、対象物Ｓ内において厚み方向Ｄに延在する３次元領域であって、上面Ｓａ（点光源であるＸ線照射器２０側）から下面Ｓｂ（ベルトコンベア１０側）に向かうにつれて広がるようになっている。そして、Ｘ線照射器２０は、対象物Ｓがベルトコンベア１０で搬送方向Ａへ搬送されることにより、対象物Ｓの長さ方向全体に対してＸ線が照射されるようになっている。
　低エネルギ画像取得部３０は、低エネルギ検出器（第１検出器）３２と低エネルギ画像補正部３４とを備えている。
　低エネルギ検出器３２は、Ｘ線照射器２０から照射されたＸ線のうち対象物Ｓの所定の領域（第１領域）Ｒ１を透過したＸ線を低エネルギ範囲（第１のエネルギ範囲）で検出して、低エネルギ画像データを生成する。低エネルギ検出器３２は、例えば、対象物Ｓの幅と同等以上の長さを備えた直線状のラインセンサからなり、Ｘ線の検出面がＸ線照射器２０に対向した状態で搬送方向Ａと直交するようにベルト部１２の上流側の下方に配置される。
　低エネルギ画像補正部３４は、低エネルギ検出器３２で生成された低エネルギ画像データを増幅及び補正する部分である。低エネルギ画像補正部３４は、低エネルギ画像データを増幅するアンプ３４ａ、アンプ３４ａで増幅された低エネルギ画像データをＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換部３４ｂ、Ａ／Ｄ変換部３４ｂで変換された低エネルギ画像データに対して所定の補正処理を行う補正回路３４ｃ、及び、補正回路３４ｃで補正された画像データを外部出力する出力インターフェイス３４ｄを備えている。
　高エネルギ画像取得部４０は、高エネルギ検出器（第２検出器）４２と高エネルギ画像補正部４４とを備えている。
　高エネルギ検出器４２は、Ｘ線照射器２０から照射されたＸ線のうち対象物Ｓの所定の領域（第２領域）Ｒ２を透過したＸ線を高エネルギ範囲（第２のエネルギ範囲）で検出して、高エネルギ画像データを生成する。高エネルギ検出器４２は、例えば、対象物Ｓの幅と同等以上の長さを備えた直線状のラインセンサからなり、Ｘ線の検出面がＸ線照射器２０に対向した状態で搬送方向Ａと直交するようにベルト部１２の下流側の下方に配置される。
　高エネルギ画像補正部４４は、高エネルギ検出器４２で生成された高エネルギ画像データを増幅及び補正する部分である。高エネルギ画像補正部４４は、高エネルギ画像データを増幅するアンプ４４ａ、アンプ４４ａで増幅された高エネルギ画像データをＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換部４４ｂ、Ａ／Ｄ変換部４４ｂで変換された高エネルギ画像データに対して所定の補正処理を行う補正回路４４ｃ、及び、補正回路４４ｃで補正された画像データを外部出力する出力インターフェイス４４ｄを備えている。
　ここで、低エネルギ検出器３２及び高エネルギ検出器４２について詳細に説明する。図３に示すように、低エネルギ検出器３２は、搬送方向Ａに沿った感知幅がＬＷのラインセンサである。また、高エネルギ検出器４２は、搬送方向Ａに沿った感知幅がＨＷのラインセンサである。この感知幅ＬＷと感知幅ＨＷとは、本実施形態では、同一幅となっており、例えば０．８ｍｍである。そして、このような低エネルギ検出器３２と高エネルギ検出器４２とは、搬送方向Ａに沿って不感帯幅ＮＷ（例えば０．４ｍｍ）を有する不感帯領域８２を挟んで並列にベース８４上に配置固定され、半導体検出器であるデュアルエナジセンサ８６を構成する。
　感知幅ＬＷを有する低エネルギ検出器３２は、所定の周期を有する制御パルス（図６（ａ）参照）に基づいて、対象物Ｓにおける一の領域Ｒ１を透過したＸ線を感知幅ＬＷの検知面で検出する。そして、低エネルギ検出器３２は、これを繰り返し、例えば図４（ｂ）で模式的に示すように、領域Ｒ１に対応する透過Ｘ線を各検出タイミングで検出する。また、感知幅ＨＷを有する高エネルギ検出器４２も、低エネルギ検出器３２と同様に、例えば図４（ｃ）で模式的に示すように、領域Ｒ２に対応する透過Ｘ線を各検出タイミングで検出する。
　なお、デュアルエナジセンサ８６を構成する低エネルギ検出器３２と高エネルギ検出器４２としては、例えば、高エネルギセンサ上に低エネルギカット用のフィルタを配置したエネルギ弁別機能を備えたものを用いてもよい。また、低エネルギ範囲のＸ線を可視光に変換するシンチレータや高エネルギ範囲のＸ線を可視光に変換するシンチレータを用いて、両検出器３２，４２に異なる波長感度を持たせて、異なるエネルギ範囲を検出できるようにしたものでもよい。なお、異なる波長感度を持つシンチレータ上にフィルタを配置してもよい。更に、ＣｄＴｅ（テルル化カドミウム）などの直接変換方式によるエネルギ弁別機能を備えたものでもよい。
　タイミング制御部５０は、対象物Ｓの所定箇所に位置する被検査領域Ｅが領域Ｒ１，Ｒ２に含まれるように、低エネルギ検出器３２での透過Ｘ線の検出タイミングと高エネルギ検出器４２での透過Ｘ線の検出タイミングとを制御するものである。タイミング制御部５０は、低エネルギ検出器３２に対しては、例えば、図６等に示されるような所定周期の低エネルギセンサ用制御パルスを出力する。また、タイミング制御部５０は、高エネルギ検出器４２に対しては、低エネルギセンサ用制御パルスと同周期であってパルスの立ち上がり箇所が所定時間Ｔ（以下、「遅延時間」と記す場合ある）遅延する高エネルギセンサ用制御パルス信号を出力する。
　タイミング制御部５０は、遅延時間Ｔを変化させることにより、図４（ｂ），（ｃ）に示すように、対象物Ｓの所定箇所に位置する被検査領域Ｅが低エネルギ検出器３２で検出される領域Ｒ１と高エネルギ検出器４２で検出される領域Ｒ２との両方に含まれるように制御する。そして、タイミング制御部５０により、被検査領域Ｅが領域Ｒ１，Ｒ２に含まれるように制御された場合には、図５（ａ）に示すように、被検査領域Ｅが、領域Ｒ１と領域Ｒ２との共有領域Ｒ３に含まれようになる。これは、各検出器３２，４２で検出及び生成された両Ｘ線透過画像データに被検査領域Ｅでの情報（異物の有無等）が確実に含まれていることを示し、このような場合、両検出器３２，４２で検出される両画像間でのズレがなく、明瞭なエネルギサブトラクション像を得ることできる。なお、タイミング制御部５０により、被検査領域Ｅが領域Ｒ１，Ｒ２に含まれるように制御されなかった場合には、例えば、図４（ｄ）のような検出タイミングでＸ線検出を行い、図５（ｂ）に示すように、被検査領域Ｅの全体が、領域Ｒ１と領域Ｒ２との共有領域Ｒ３に含まれないこととなる。
　タイミング制御部５０がこの遅延時間Ｔを含む制御パルス信号を生成する場合には、ＰＬＬ（Phase Locked Loop：位相同期回路）等を用いて図６（ｂ）に示されるタイミング制御用の高周波信号を生成する。このような高周波信号としては、例えば、エネルギ検出器３２，４２などにおいてセンサ駆動に要するピクセルクロックが２００ｋＨｚ程度で駆動していた場合には、その１００倍程度の高周波である２０ＭＨｚ以上の信号を用いると細やかに制御できる。センサ駆動のピクセルクロックが１ＭＨｚ程度の場合には同様に１００ＭＨｚ以上の信号を用いれば細やかな制御ができる。高周波信号の周波数が高いほど、搬送速度Ｍやピクセルクロック等の変化に対して柔軟に対応することができ、きめ細やかな制御が行える。なお、ＰＬＬに代えて、遅延信号用の高周波発振器を用いて遅延制御パルス信号を生成するようにしてもよい。
　タイミング算出部６０は、タイミング制御部５０で用いる検出タイミングである遅延時間Ｔを算出するものである。タイミング算出部６０は、デュアルエナジセンサ８６における不感帯領域８２の不感帯幅ＮＷや、この不感帯領域８２を対象物Ｓが通過する速度（つまり搬送速度Ｍ）や、対象物Ｓを透過するＸ線の拡大率Ｒに基づき、遅延時間Ｔを下記式（１）により算出する。
Ｔ＝ＮＷ／（Ｒ×Ｍ）・・・（１）
なお、拡大率Ｒとは、Ｘ線照射器２０と対象物Ｓの検査中心との距離であるＦＯＤ（Focus Object Distance：線源物体間距離、図２参照）と、Ｘ線照射器２０と各検出器３２，４２との距離であるＦＤＤ（FocusDetector Distance：線源センサ間距離、図２参照）との比（ＦＤＤ／ＦＯＤ）である。例えば、図２において、ＦＯＤが１でＦＤＤが２である場合、拡大率Ｒは２となる。
　タイミング算出部６０は、式（１）に基づき、低エネルギ検出器３２の検出タイミングに対する高エネルギ検出器４２の検出タイミングの遅延時間Ｔを算出する。本実施形態では、拡大率Ｒを算出するためのＦＯＤにおける対象物Ｓの検査中心を、被検査領域Ｅが位置する対象物Ｓ内の厚み方向位置とするようにしている。つまり、例えば、対象物Ｓの表面部分付近を被検査領域Ｅとする場合には、対象物Ｓの上部表面とＸ線照射器２０との距離がＦＯＤとなる。また、対象物Ｓの中央付近を被検査領域Ｅとする場合には、対象物Ｓの厚み方向Ｄにおける中央とＸ線照射器２０との距離がＦＯＤとなる。また、対象物Ｓの底付近を被検査領域Ｅとする場合には、対象物Ｓの下部底面とＸ線照射器２０との距離がＦＯＤとなる。そして、タイミング算出部６０は、算出された遅延時間Ｔを、検出タイミングとしてタイミング制御部５０に出力する。なお、不感帯幅ＮＷや搬送速度Ｍや拡大率Ｒは、入力部等を介してタイミング算出部６０に入力される。
　画像処理装置７０は、低エネルギ検出器３２で検出及び生成された低エネルギ画像データと高エネルギ検出器４２で検出及び生成された高エネルギ画像データとの差分データを求める演算処理を行い、合成画像であるエネルギサブトラクション像を生成する装置である。画像処理装置７０に入力される両エネルギ画像データは、タイミング制御部５０により、互いの画像データに対象物Ｓの被検査領域Ｅが含まれるように検出タイミングが制御されているものであり、画像処理装置７０は、少なくとも被検査領域Ｅに応じた部分が明瞭なエネルギサブトラクション像を所定の演算処理により生成する。そして、画像処理装置７０は、生成したエネルギサブトラクション像をディスプレイ等に出力表示する。この出力表示により、対象物Ｓに含まれる異物を目視で確認することができる。なお、エネルギサブトラクション像を出力表示せずに、画像データ上での検出処理により画像データから直接、対象物Ｓに含まれる異物を検出するようにしてもよい。
　ここで、タイミング制御部５０で用いられる検出タイミングの遅延時間Ｔの算出例について、図７～１２を用いて説明する。説明に用いる対象物Ｓは、搬送方向Ａに沿った方向の長さが４．０ｍｍであり、厚み方向Ｄにおける厚みがＸ線照射器２０と各検出器３２，４２との距離（ＦＤＤ）の１／３に相当するものとし、被検査領域Ｅの搬送方向Ａに沿った長さが各検出器３２，４２の感知幅ＬＷ，ＨＷよりも小さいものを想定する。各検出器３２，４２の感知幅ＬＷ，ＨＷは共に０．８ｍｍであり、不感帯領域８２の不感帯幅ＮＷは０．４ｍｍであり、ベルトコンベア１０の搬送速度は０．８ｍｍ／ミリ秒（４８ｍ／分）とする。
　まず、被検査領域Ｅが対象物Ｓの下部底面付近に位置する場合（被検査領域Ｅ１）について、図７及び図８を用いて説明する。この場合、図７に示すように、被検査領域Ｅが対象物Ｓの下部底面付近に位置することから、対象物Ｓの検査中心を対象物Ｓの底面としてＦＯＤ及びＦＤＤを、ＦＯＤ：ＦＤＤ＝２：３と設定する。この設定値から拡大率Ｒを求めると、拡大率Ｒは１．５となる。そして、タイミング算出部６０は、上述した各種の条件や拡大率Ｒを（式１）に算入して遅延時間Ｔを求めると、遅延時間Ｔ１が例えば０．３３３ミリ秒となる。タイミング算出部６０は、算出した遅延時間Ｔ１をタイミング制御部５０へ出力する。
　タイミング制御部５０は、タイミング算出部６０から遅延時間Ｔ１が入力されると、遅延時間Ｔ１を含む各検出器３２，４２の制御用パルス信号（図８参照）を生成し、各検出器３２，４２へ出力する。この制御用パルス信号の出力により、図７（ａ）に示す領域Ｒ１を透過したＸ線を低エネルギ検出器３２が所定のタイミングで検出すると共に、図７（ｂ）に示す領域Ｒ２を透過したＸ線を高エネルギ検出器４２が遅延時間Ｔ１を含んだ所定のタイミングで検出する。そして、図７（ｃ）に模式的に示されるように、画像処理装置７０では、領域Ｒ１と領域Ｒ２とが交点Ｐ１で交わって形成された共有領域Ｒ３に被検査領域Ｅ１が含まれた画像データを用いて、エネルギサブトラクション像が生成される。
　なお、上記式（１）の算出による遅延時間Ｔ１によるタイミング制御は、次のような制御であると言い換えることができる。すなわち、タイミング算出部６０は、領域Ｒ１において、被検査領域Ｅが位置する厚み方向位置（底面位置）に基づいて対象物の厚さ方向Ｄと交差する第１基準面Ｒ１ａを算出する。続いて、タイミング算出部６０は、第２領域Ｒ２において、第１基準面Ｒ１ａと同じ厚み方向位置（すなわち底面位置）であって対象物Ｓの厚み方向Ｄと交差する第２基準面Ｒ２ａを算出する。そして、タイミング算出部６０は、領域Ｒ１における第１基準面Ｒ１ａと領域Ｒ２における第２基準面Ｒ２ａとが大部分において重なる若しくは一致するような検出タイミングを算出し、タイミング制御部５０は、このような検出タイミングに基づいて各検出器３２，４２を制御する。このような制御によっても、共有領域Ｒ３に被検査領域Ｅ１が含まれた画像データを用いて、エネルギサブトラクション像を生成できる。
　次に、被検査領域Ｅが対象物Ｓの中央部に位置する場合（被検査領域Ｅ２）について、図９及び図１０を用いて説明する。この場合、図９に示すように、被検査領域Ｅ２が対象物Ｓの中央部付近に位置することから、対象物Ｓの検査中心を対象物Ｓの中央部付近としてＦＯＤ及びＦＤＤを、例えば、ＦＯＤ：ＦＤＤ＝１：２と設定する。この設定値から拡大率Ｒを求めると、拡大率Ｒは２となる。そして、タイミング算出部６０は、上述した各種の条件や拡大率Ｒを（式１）に算入して遅延時間Ｔを求めると、遅延時間Ｔ２が例えば、０．２５ミリ秒となる。タイミング算出部６０は、算出した遅延時間Ｔ２をタイミング制御部５０へ出力する。
　タイミング制御部５０は、タイミング算出部６０から遅延時間Ｔ２が入力されると、遅延時間Ｔ２を含む各検出器３２，４２の制御用パルス信号（図１０参照）を生成し、各検出器３２，４２へ出力する。この制御用パルス信号の出力により、図９（ａ）に示す領域Ｒ１を透過したＸ線を低エネルギ検出器３２が所定のタイミングで検出すると共に、図９（ｂ）に示す領域Ｒ２を透過したＸ線を高エネルギ検出器４２が遅延時間Ｔ２を含んだ所定のタイミングで検出する。そして、図９（ｃ）に模式的に示されるように、画像処理装置７０では、領域Ｒ１と領域Ｒ２とが交点Ｐ２で交わって形成された共有領域Ｒ３に被検査領域Ｅ２が含まれた画像データを用いて、エネルギサブトラクション像が生成される。
　なお、上記式（１）の算出による遅延時間Ｔ２によるタイミング制御は、上述した基準面を用いた制御であると言い換えることができる。つまり、タイミング算出部６０は、図９（ａ），（ｂ）に示すような、領域Ｒ１における第１基準面Ｒ１ｂと領域Ｒ２における第２基準面Ｒ２ｂとが大部分において重なる若しくは一致するような検出タイミングを算出し、タイミング制御部５０が、このような検出タイミングに基づいて各検出器３２，４２を制御すると、共有領域Ｒ３に被検査領域Ｅ２が含まれた画像データを用いて、エネルギサブトラクション像を生成できる。
　続いて、被検査領域Ｅが対象物Ｓの上方に位置する場合（被検査領域Ｅ３）について、図１１及び図１２を用いて説明する。この場合、図１１に示すように、被検査領域Ｅ３が対象物Ｓの上方付近に位置することから、対象物Ｓの検査中心を対象物Ｓの上方付近としてＦＯＤ及びＦＤＤを、例えば、ＦＯＤ：ＦＤＤ＝１：３と設定する。この設定値から拡大率Ｒを求めると、拡大率Ｒは３となる。そして、タイミング算出部６０は、上述した各種の条件や拡大率Ｒを（式１）に算入して遅延時間Ｔ３を求めると、遅延時間Ｔ３が例えば、０．１６７ミリ秒となる。タイミング算出部６０は、算出した遅延時間Ｔ３をタイミング制御部５０へ出力する。
　タイミング制御部５０は、タイミング算出部６０から遅延時間Ｔ３が入力されると、遅延時間Ｔ３を含む各検出器３２，４２の制御用パルス信号（図１２参照）を生成し、各検出器３２，４２へ出力する。この制御用パルス信号の出力により、図１１（ａ）に示す領域Ｒ１を透過したＸ線を低エネルギ検出器３２が所定のタイミングで検出すると共に、図１１（ｂ）に示す領域Ｒ２を透過したＸ線を高エネルギ検出器４２が遅延時間Ｔ３を含んだ所定のタイミングで検出する。そして、図１１（ｃ）に模式的に示されるように、画像処理装置７０では、領域Ｒ１と領域Ｒ２とが交わって形成された共有領域Ｒ３に被検査領域Ｅ３が含まれた画像データを用いて、エネルギサブトラクション像が生成される。
　なお、上記式（１）の算出による遅延時間Ｔ３によるタイミング制御は、上述した基準面を用いた制御であると言い換えることができる。つまり、タイミング算出部６０は、図１１（ａ），（ｂ）に示すような、領域Ｒ１における第１基準面Ｒ１ｃと領域Ｒ２における第２基準面Ｒ２ｃとが大部分において重なる若しくは一致するような検出タイミングを算出し、タイミング制御部５０がこのような検出タイミングに基づいて各検出器３２，４２を制御すると、共有領域Ｒ３に被検査領域Ｅ３が含まれた画像データを用いて、エネルギサブトラクション像を生成できる。
　上記のように検出タイミングの遅延時間Ｔを算出する際、被検査領域Ｅの位置（厚み方向Ｄにおける位置や長さ方向における位置）などを入力部から入力して算出する方法もあるが、対象物Ｓと同様の被検査領域Ｅに相当する箇所にＸ線で検知可能な試験片（テストピース）が配置された調整用対象物Ｓ'を用いて算出する方法が取られてもよい。このとき、調整用対象物Ｓ'は、対象物Ｓと同形同質のものを用いてもよい。また、タイミング制御を行うにあたり必要となる情報を得られるように同形で異質のものを用いてもよいし、タイミング制御用の治具を用いてもよい。すなわち、このような調整用対象物Ｓ'を実際にベルトコンベア１０に載置して搬送し、低エネルギ検出器３２及び高エネルギ検出器４２で、調整用対象物Ｓ'を透過した放射線を検出する。そして、タイミング算出部６０は、低エネルギ検出器３２及び高エネルギ検出器４２で検出された調整用対象物Ｓ'を透過したＸ線データ（エネルギサブトラクション像含む）でのズレ量などに基づいて、試験片が領域Ｒ１及び領域Ｒ２に含まれるように低エネルギ検出器３２及び高エネルギ検出器４２でのＸ線の検出タイミングを算出又は調整するようにしてもよい。このような調整用対象物Ｓ'を用いると、低エネルギ検出器３２及び高エネルギ検出器４２での検出タイミングをタイミング算出部６０で簡単に算出することができる。
　以上説明したように、このＸ線検査装置１では、対象物Ｓ内の所定箇所に位置する被検査領域Ｅが領域Ｒ１及び領域Ｒ２に含まれるようにタイミング制御部５０が低エネルギ検出器３２及び高エネルギ検出器４２でのＸ線の検出タイミングを制御するようになっている。これにより、所定の厚みＷを有する対象物Ｓでは、低エネルギ検出器３２で検出されるＸ線が透過した領域Ｒ１及び高エネルギ検出器４２で検出されるＸ線が透過した領域Ｒ２のいずれにも被検査領域Ｅが含まれる。そのため、各検出器３２，４２で検出されたそれぞれのＸ線データによって被検査領域Ｅが確実に検出される。その結果、対象物Ｓのサブトラクション像のうち、少なくとも被検査領域Ｅに相当する部分では不明瞭なエッジ部分が低減され、対象物Ｓに含まれる異物等の検出精度を向上させることができる。
　また、上記実施形態では、低エネルギ検出器３２及び高エネルギ検出器４２でのＸ線の検出タイミングを算出するタイミング算出部６０を備えている。タイミング算出部６０を備えることにより、検出タイミングの算出が容易になる。このようなタイミング算出部６０は、例えば、被検査領域Ｅが位置する対象物Ｓ内の所定箇所の厚み方向位置に基づいてＦＯＤ等を算出してＦＯＤ等に基づく幾何学的拡大率Ｒを求め、このように求められた拡大率Ｒや搬送速度Ｍや不感帯幅ＮＷ等に基づいて検出タイミングを算出するようになっている。また、別の観点として、タイミング算出部６０は、領域Ｒ１において、被検査領域Ｅが位置する厚み方向位置に基づいて対象物Ｓの厚さ方向と交差する第１基準面Ｒ１ａ，Ｒ１ｂ，Ｒ１ｃを算出すると共に、領域Ｒ２において、第１基準面Ｒ１ａ，Ｒ１ｂ，Ｒ１ｃと同じ厚み方向位置であって対象物Ｓの厚み方向と交差する第２基準面Ｒ２ａ，Ｒ２ｂ，Ｒ２ｃを算出し、第１基準面Ｒ１ａ，Ｒ１ｂ，Ｒ１ｃと第２基準面Ｒ２ａ，Ｒ２ｂ，Ｒ２ｃとが重なる又は一致するように検出タイミングを算出するようになっている。このように、被検査領域Ｅに基づいた厚み方向位置や基準面を用いた算出によれば、領域Ｒ１及び領域Ｒ２のいずれにも被検査領域Ｅが確実に含まれるタイミングを算出することができる。
　また、低エネルギ検出器３２及び高エネルギ検出器４２は、被検査領域Ｅに相当する箇所に試験片が配置された調整用対象物Ｓ'を透過したＸ線を検出し、タイミング算出部６０は、低エネルギ検出器３２及び高エネルギ検出器４２で検出された調整用対象物Ｓ'を透過したＸデータに基づいて、試験片が領域Ｒ１及び領域Ｒ２に含まれるように低エネルギ検出器３２及び高エネルギ検出器４２でのＸ線の検出タイミングを算出するようにしてもよい。このような調整用対象物Ｓ'を用いることにより、低エネルギ検出器３２及び高エネルギ検出器４２での検出タイミングを簡易に算出することができる。この検出タイミングは、調整用対象物Ｓ'の画像上のずれを操作者が観察した上で設定するようにしてもよいし、画像データを取り込んだＰＣや画像処理装置上でプログラムからずれ量を計算して設定するようにしてもよい。また、デュアル画像取得装置８０などの検出器の内部にずれ量を算出する回路もしくはプログラムを実装し、検出器内部でずれ量をもとに設定するようにしてもよい。
　以上、本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されず、種々の変形が可能である。例えば、上記実施形態では、低エネルギ範囲において一つの領域Ｒ１を透過した透過Ｘ線データと、高エネルギ範囲において一つの領域Ｒ２を透過した透過Ｘ線データとを用いて、被検査領域Ｅを含む対象物Ｓのエネルギサブトラクション像を生成して、被検査領域Ｅにおける異物等を検査していたが、図１３に示すように、低エネルギ範囲において一つの領域Ｒ１を透過した透過Ｘ線データ（図１３（ａ）参照）と、高エネルギ範囲において三つの領域Ｒ２を透過した透過Ｘ線データ（図１３（ｂ）参照）とを用いて、厚み方向位置の異なる被検査領域Ｅ４，Ｅ５，Ｅ６（図１３（ｃ）参照）における異物等を検査するようにしてもよい。また、図１４に示すように、低エネルギ範囲において二つの領域Ｒ１を透過した透過Ｘ線データ（図１４（ａ）参照）と、高エネルギ範囲において二つの領域Ｒ２を透過した透過Ｘ線データ（図１４（ｂ）参照）とを用いて、厚み方向位置の異なる被検査領域Ｅ７，Ｅ８，Ｅ９，Ｅ１０（図１４（ｃ）参照）における異物等を検査するようにしてもよい。このような厚み方向位置の異なる異物検査等は、例えば、高さサイズの異なる缶における異物検査を行う場合などに利用される。
　上記のように複数の透過Ｘ線データを用いて被検査領域における異物等を検査する場合には、データ比較を行う手段として、メモリを使用する方法がある。例えば、１つの方法としては、各検出器３２，４２の内部にメモリを用意し、低エネルギでの透過Ｘ線データ又は高エネルギでの透過Ｘ線データのどちらかのデータを保持し、メモリ内に格納されたデータを比較に用いることにより、異なる厚み方向位置の被検査領域での異物検査等を行うことができる。また、図１５に示すように、デュアル画像取得装置８０ａに、低エネルギでの透過Ｘ線データ及び高エネルギでの透過Ｘ線データの両方のデータを保持する記憶部９０を用意し、記憶部９０内に格納されたデータを比較に用いることにより、異なる厚み方向位置の被検査領域での異物検査等を行うことができる。また、図１６に示すように、デュアル画像取得装置８０と画像処理装置７０との間に、低エネルギでの透過Ｘ線データ及び高エネルギでの透過Ｘ線データの両方のデータを保持する記憶部９２を用意し、記憶部９２内に格納されたデータを比較に用いることにより、異なる厚み方向位置の被検査領域での異物検査等を行うことができる。また、図１７に示すように、デュアル画像取得装置８０と複数の画像処理装置７０ａとの間に、低エネルギでの透過Ｘ線データ及び高エネルギでの透過Ｘ線データの両方のデータを保持する記憶部９４を用意し、記憶部９４内に格納されたデータを比較に用いることにより、異なる厚み方向位置の被検査領域での異物検査等を行うことができる。また、図１８に示すように、画像処理装置７０ｂに、低エネルギでの透過Ｘ線データ及び高エネルギでの透過Ｘ線データの両方のデータを保持する記憶部９６を用意し、記憶部９６内に格納されたデータを比較に用いることにより、異なる厚み方向位置の被検査領域での異物検査等を行うことができる。
　また、上記実施形態では、搬送方向Ａの上流側に低エネルギ検出器３２を、下流側に高エネルギ検出器４２を備える構成としたが、搬送方向Ａの上流側に高エネルギ検出器４２を、下流側に低エネルギ検出器３２を備えるようにしてもよい。更に、上記実施形態では、高エネルギ検出器４２の検出タイミングを所定時間Ｔ遅延させるようにしたが、領域Ｒ１と領域Ｒ２に被検査領域Ｅが含まれる限りにおいて、逆に低エネルギ検出器３２の検出タイミングを所定時間Ｔ早めるようにしてもよいし、低エネルギ検出器３２の検出タイミングを早めると共に高エネルギ検出器４２の検出タイミングを遅延させ、両検出タイミングを所定時間Ｔずらすようにしてもよい。また、上記実施形態では、低エネルギと高エネルギとの２つの範囲での検出タイミングを制御していたが、３つ以上の範囲での検出タイミングを制御するようにしてももちろんよい。
　このようなタイミング算出部としては、例えば、被検査領域が位置する対象物内の所定箇所の厚み方向位置に基づいて検出タイミングを算出することが好ましい。また、別のタイミング算出部としては、第１領域において、被検査領域が位置する厚み方向位置に基づいて対象物の厚み方向と交差する第１基準面を算出すると共に、第２領域において、第１基準面と同じ厚み方向位置であって厚み方向と交差する第２基準面を算出し、第１基準面と第２基準面とが重なるように検出タイミングを算出することが好ましい。このように、被検査領域に基づいた厚み方向位置や基準面を用いた算出によれば、第１領域及び第２領域のいずれにも被検査領域が確実に含まれるタイミングを算出することができる。
　また、第１検出器及び第２検出器は、被検査領域に相当する箇所に試験片が配置された調整用対象物を透過した放射線を検出し、タイミング算出部は、第１検出器及び第２検出器で検出された調整用対象物を透過した放射線データに基づいて、試験片が第１領域及び第２領域に含まれるように第１検出器及び第２検出器での放射線の検出タイミングを算出するようにしてもよい。このような調整用部材を用いることにより、第１検出器及び第２検出器での検出タイミングを簡易に算出することができる。
　また、第１検出器で検出された放射線データと第２検出器で検出された放射線データとを合成して合成画像を生成する合成画像生成部を備え、合成画像生成部は、第１検出器が一の第１領域において検出した一の放射線データと、第２検出器が複数の第２領域において検出した複数の放射線データとから、厚み方向位置の異なる複数の被検査領域を対象にした合成画像を生成するようにしてもよい。これにより、様々な厚み方向位置にある被検査領域をまとめて検査することができる。
　本発明は、放射線検出装置、放射線画像取得システム及び放射線の検出方法を使用用途とし、対象物中の被検査領域に含まれる異物等の検出精度を向上させることができるものである。
　１…Ｘ線画像取得システム、１０…ベルトコンベア、２０…Ｘ線照射器、３０…低エネルギ画像取得部、３２…低エネルギ検出器、３４…低エネルギ画像補正部、４０…高エネルギ画像取得部、４２…高エネルギ検出器、４４…高エネルギ画像補正部、５０…タイミング制御部、６０…タイミング算出部、７０…画像処理装置、８０…デュアル画像取得装置、８２…不感帯領域、８４…ベース、８６…デュアルエナジセンサ、Ａ…搬送方向、Ｄ…厚み方向、Ｅ，Ｅ１～Ｅ１０…被検査領域、Ｍ…搬送速度、Ｒ…拡大率、Ｓ…対象物、Ｔ…遅延時間、Ｗ…厚み、ＨＷ，ＬＷ…感知幅、ＮＷ…不感帯幅、Ｒ１，Ｒ２…照射領域、Ｒ３…共有領域、Ｒ１ａ，Ｒ１ｂ，Ｒ１ｃ…第１基準面、Ｒ２ａ，Ｒ２ｂ，Ｒ２ｃ…第２基準面。

Claims (7)

  1. 　所定の厚みを有する対象物に放射線源から放射線を照射して、該対象物を透過した放射線を複数のエネルギ範囲で検出する放射線検出装置であって、
    　前記対象物内において厚み方向に延在する第１領域を透過した放射線を第１のエネルギ範囲で検出する第１検出器と、
    　前記対象物内において厚み方向に延在する第２領域を透過した放射線を第２のエネルギ範囲で検出する第２検出器と、
    　前記対象物内の所定箇所に位置する被検査領域が前記第１領域及び前記第２領域に含まれるように前記第１検出器及び前記第２検出器での放射線の検出タイミングを制御するタイミング制御部と、を備える放射線検出装置。
  2. 　請求項１記載の放射線検出装置と、
    　前記第１検出器及び前記第２検出器での放射線の検出タイミングを算出するタイミング算出部と、を備える放射線画像取得システム。
  3. 　前記タイミング算出部は、前記被検査領域が位置する前記対象物内の所定箇所の厚み方向位置に基づいて前記検出タイミングを算出する請求項２に記載の放射線画像取得システム。
  4. 　前記タイミング算出部は、前記第１領域において、前記被検査領域が位置する厚み方向位置に基づいて前記対象物の厚み方向と交差する第１基準面を算出すると共に、前記第２領域において、前記第１基準面と同じ厚み方向位置であって前記厚み方向と交差する第２基準面を算出し、前記第１基準面と前記第２基準面とが重なるように前記検出タイミングを算出する請求項２に記載の放射線画像取得システム。
  5. 　前記第１検出器及び前記第２検出器は、前記被検査領域に相当する箇所に試験片が配置された調整用対象物を透過した放射線を検出し、
    　前記タイミング算出部は、前記第１検出器及び前記第２検出器で検出された前記調整用対象物を透過した放射線データに基づいて、前記試験片が前記第１領域及び前記第２領域に含まれるように前記第１検出器及び前記第２検出器での放射線の検出タイミングを算出する請求項２～４のいずれか一項に記載の放射線画像取得システム。
  6. 　前記第１検出器で検出された放射線データと前記第２検出器で検出された放射線データとを合成して合成画像を生成する合成画像生成部を備え、
    　前記合成画像生成部は、前記第１検出器が一の前記第１領域において検出した一の放射線データと、前記第２検出器が複数の前記第２領域において検出した複数の放射線データとから、厚み方向位置の異なる複数の前記被検査領域を対象にした合成画像を生成する請求項１～５のいずれか一項に記載の放射線画像取得システム。
  7. 　対象物に放射線を照射する放射線源と、放射線を第１のエネルギ範囲で検出する第１検出器と、放射線を第２のエネルギ範囲で検出する第２検出器と、前記第１検出器及び前記第２検出器での放射線の検出タイミングを制御するタイミング制御部とを備えた放射線検出装置における放射線の検出方法であって、
    　前記放射線源が所定の厚みを有する前記対象物に放射線を照射する照射工程と、
    　前記照射工程で照射されて前記対象物内において厚み方向に延在する第１領域を透過した放射線を前記第１検出器が第１のエネルギ範囲で検出する第１検出工程と、
    　前記照射工程で照射されて前記対象物内において厚み方向に延在する第２領域を透過した放射線を前記第２検出器が第２のエネルギ範囲で検出する第２検出工程と、
    　前記対象物内の所定箇所に位置する被検査領域が前記第１領域及び前記第２領域に含まれるように前記第１検出器及び前記第２検出器での放射線の検出タイミングをタイミング制御部が制御するタイミング制御工程と、を含む放射線の検出方法。
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