JPH11316198A - 放射線検出装置 - Google Patents
放射線検出装置Info
- Publication number
- JPH11316198A JPH11316198A JP10123485A JP12348598A JPH11316198A JP H11316198 A JPH11316198 A JP H11316198A JP 10123485 A JP10123485 A JP 10123485A JP 12348598 A JP12348598 A JP 12348598A JP H11316198 A JPH11316198 A JP H11316198A
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- Japan
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- energy
- radiation
- ray
- sensor
- sensors
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Abstract
(57)【要約】
【課題】厚みのある物体を検出する場合でも、ぼけのな
いエネルギサブストラクション像を得ることのできる放
射線検出装置を提供する。 【解決手段】複数のセンサ（低エネルギ用Ｘ線センサ１
１と高エネルギ用Ｘ線センサ１２）に入射する放射線の
被写体Ｓでの経路が全てのセンサ１１，１２について等
しくなるように、放射線源１、被写体Ｓ、センサ１１，
１２の各位置を設定することで、放射線の入射経路によ
る幾何学的なぼけが生じないようにする。
いエネルギサブストラクション像を得ることのできる放
射線検出装置を提供する。 【解決手段】複数のセンサ（低エネルギ用Ｘ線センサ１
１と高エネルギ用Ｘ線センサ１２）に入射する放射線の
被写体Ｓでの経路が全てのセンサ１１，１２について等
しくなるように、放射線源１、被写体Ｓ、センサ１１，
１２の各位置を設定することで、放射線の入射経路によ
る幾何学的なぼけが生じないようにする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、食品、非破壊検査
等に使用するＸ線式異物検査装置などの放射線検出装置
に関する。
等に使用するＸ線式異物検査装置などの放射線検出装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線式異物検査装置としては、従来、食
品等の被検査物（被写体）を搬送するベルトコンベア
と、その上方に設置され被検査物にＸ線を照射するＸ線
管と、ベルトコンベアの下方でＸ線管と対向する位置に
設置されたＸ線センサ（ラインセンサ）を備え、ベルト
コンベアの駆動により、被検査物をＸ線センサに対して
走査することによって、被検査物のＸ線透過画像を得
て、その被検査物の画像をＴＶモニタ等に表示する方式
のものがある。
品等の被検査物（被写体）を搬送するベルトコンベア
と、その上方に設置され被検査物にＸ線を照射するＸ線
管と、ベルトコンベアの下方でＸ線管と対向する位置に
設置されたＸ線センサ（ラインセンサ）を備え、ベルト
コンベアの駆動により、被検査物をＸ線センサに対して
走査することによって、被検査物のＸ線透過画像を得
て、その被検査物の画像をＴＶモニタ等に表示する方式
のものがある。
【０００３】また、このようなＸ線式異物検査システム
においては、図２に示すように、ベルトコンベア２１の
下方に、低エネルギ用Ｘ線センサ１１と高エネルギ用Ｘ
線センサ１２の２つのセンサを配置し、１つの被写体Ｓ
について低エネルギ画像データと高エネルギ画像データ
を収集して、エネルギサブストラクション（エネルギ差
分）により、食品等に含まれる異物の種別を特定する、
という検査方法も採られている。
においては、図２に示すように、ベルトコンベア２１の
下方に、低エネルギ用Ｘ線センサ１１と高エネルギ用Ｘ
線センサ１２の２つのセンサを配置し、１つの被写体Ｓ
について低エネルギ画像データと高エネルギ画像データ
を収集して、エネルギサブストラクション（エネルギ差
分）により、食品等に含まれる異物の種別を特定する、
という検査方法も採られている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、図２に示し
たセンサ配置つまり被写体Ｓを載せる１台のベルトコン
ベア２１に対して２つのＸ線センサ１１，１２を平行に
並べた配置では、２つのセンサ間のデッドスペース（搬
送方向の前後のＸ線センサ１１と１２との隙間）が、ど
うしても大きくなってしまうので、厚みのある物体を検
査する場合に次のような問題が生じる。
たセンサ配置つまり被写体Ｓを載せる１台のベルトコン
ベア２１に対して２つのＸ線センサ１１，１２を平行に
並べた配置では、２つのセンサ間のデッドスペース（搬
送方向の前後のＸ線センサ１１と１２との隙間）が、ど
うしても大きくなってしまうので、厚みのある物体を検
査する場合に次のような問題が生じる。
【０００５】すなわち、厚みのある物体を撮影して、エ
ネルギサブストラクション像を得る場合、図２に示すよ
うに、低エネルギ用Ｘ線センサ１１に入射するＸ線と、
高エネルギ用Ｘ線センサ１２に入射するＸ線とでは、被
写体Ｓに対するＸ線の入射経路が異なるため、得られる
エネルギサブストラクション像に幾何学的なぼけが生じ
る。
ネルギサブストラクション像を得る場合、図２に示すよ
うに、低エネルギ用Ｘ線センサ１１に入射するＸ線と、
高エネルギ用Ｘ線センサ１２に入射するＸ線とでは、被
写体Ｓに対するＸ線の入射経路が異なるため、得られる
エネルギサブストラクション像に幾何学的なぼけが生じ
る。
【０００６】なお、以上のような問題を解消するには、
図３に示すように、１つのデバイスに低エネルギ用Ｘ線
センサ１１１と高エネルギ用Ｘ線センサ１１２を接近さ
せて形成し、その両者間のデッドスペースＤを小さくし
たものを使用するという方法が考えられるが、このよう
なエネルギサブストラクション専用のセンサを開発・製
造するにはコストがかかり、またメンテナンスの面での
問題もある。
図３に示すように、１つのデバイスに低エネルギ用Ｘ線
センサ１１１と高エネルギ用Ｘ線センサ１１２を接近さ
せて形成し、その両者間のデッドスペースＤを小さくし
たものを使用するという方法が考えられるが、このよう
なエネルギサブストラクション専用のセンサを開発・製
造するにはコストがかかり、またメンテナンスの面での
問題もある。
【０００７】本発明はそのような実情に鑑みてなされた
もので、特別なセンサを使用することなく、ぼけのない
エネルギサブストラクション像を得ることのできる放射
線検出装置の提供を目的とする。
もので、特別なセンサを使用することなく、ぼけのない
エネルギサブストラクション像を得ることのできる放射
線検出装置の提供を目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明の放射線検出装置は、放射線を被写体に照射
する放射線源と、入射放射線量に応じてデータを出力す
る放射線検出素子が１次元または２次元に配列されてな
る複数のセンサを備え、それら複数のセンサで被写体の
透過放射線を検出し、１つの被写体について検出エネル
ギが異なる複数の透過放射線データを得る放射線検出装
置において、複数のセンサのそれぞれに入射する放射線
の被写体での経路が全てのセンサについて等しくなるよ
うに、放射線源、被写体及びセンサの各位置が設定され
ていることによって特徴づけられる。
め、本発明の放射線検出装置は、放射線を被写体に照射
する放射線源と、入射放射線量に応じてデータを出力す
る放射線検出素子が１次元または２次元に配列されてな
る複数のセンサを備え、それら複数のセンサで被写体の
透過放射線を検出し、１つの被写体について検出エネル
ギが異なる複数の透過放射線データを得る放射線検出装
置において、複数のセンサのそれぞれに入射する放射線
の被写体での経路が全てのセンサについて等しくなるよ
うに、放射線源、被写体及びセンサの各位置が設定され
ていることによって特徴づけられる。
【０００９】本発明の放射線検出装置によれば、厚みの
ある物体を撮影してエネルギサブストラクション像を得
る場合でも、低エネルギ用センサに入射する放射線の入
射経路と、高エネルギ用センサに入射する放射線の入射
経路が同じになるので、放射線の入射経路と被写体の厚
みが原因となる画像のぼけがなくなる。
ある物体を撮影してエネルギサブストラクション像を得
る場合でも、低エネルギ用センサに入射する放射線の入
射経路と、高エネルギ用センサに入射する放射線の入射
経路が同じになるので、放射線の入射経路と被写体の厚
みが原因となる画像のぼけがなくなる。
【００１０】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を、以下、図
面に基づいて説明する。
面に基づいて説明する。
【００１１】図１は本発明の実施の形態の構成図であ
る。本実施の形態の放射線検出装置は、Ｘ線管１、低エ
ネルギ用Ｘ線センサ１１、高エネルギ用Ｘ線センサ１２
（ともにラインセンサ）、２台のベルトコンベア２１，
２２、２つのスリット３１，３２、画像処理装置４及び
モニタ５を主体として構成されている。
る。本実施の形態の放射線検出装置は、Ｘ線管１、低エ
ネルギ用Ｘ線センサ１１、高エネルギ用Ｘ線センサ１２
（ともにラインセンサ）、２台のベルトコンベア２１，
２２、２つのスリット３１，３２、画像処理装置４及び
モニタ５を主体として構成されている。
【００１２】低エネルギ用Ｘ線センサ１１は、被写体Ｓ
の搬送方向の上流側のベルトコンベア２１の下方でＸ線
管１と対向する位置に配置されている。また、高エネル
ギ用Ｘ線センサ１２は、被写体Ｓの搬送方向の下流側の
ベルトコンベア２２の下方でＸ線管１と対向する位置に
配置されており、これらの各ベルトコンベア２１，２２
とＸ線管１との間にそれぞれスリット３１，３２が配置
されている。
の搬送方向の上流側のベルトコンベア２１の下方でＸ線
管１と対向する位置に配置されている。また、高エネル
ギ用Ｘ線センサ１２は、被写体Ｓの搬送方向の下流側の
ベルトコンベア２２の下方でＸ線管１と対向する位置に
配置されており、これらの各ベルトコンベア２１，２２
とＸ線管１との間にそれぞれスリット３１，３２が配置
されている。
【００１３】低エネルギ用Ｘ線センサ１１で検出された
低エネルギ画像データと、高エネルギ用Ｘ線センサ１２
で検出された高エネルギ画像データは、ともに画像処理
装置４に導かれる。画像処理装置４は、入力された２つ
の画像データを処理してエネルギサブストラクション像
を作成し、その画像データをモニタ５に出力する。
低エネルギ画像データと、高エネルギ用Ｘ線センサ１２
で検出された高エネルギ画像データは、ともに画像処理
装置４に導かれる。画像処理装置４は、入力された２つ
の画像データを処理してエネルギサブストラクション像
を作成し、その画像データをモニタ５に出力する。
【００１４】さて、本実施の形態では、低エネルギ用Ｘ
線センサ１１に入射するＸ線の被写体Ｓでの経路と、高
エネルギ用Ｘ線センサ１２に入射するＸ線の被写体Ｓで
の経路が等しくなるように、Ｘ線管１に対する低エネル
ギ用Ｘ線センサ１１、ベルトコンベア２１、スリット３
１の各位置と、Ｘ線管１に対する高エネルギ用Ｘ線セン
サ２１、ベルトコンベア２２、スリット３２の各位置を
設定している。
線センサ１１に入射するＸ線の被写体Ｓでの経路と、高
エネルギ用Ｘ線センサ１２に入射するＸ線の被写体Ｓで
の経路が等しくなるように、Ｘ線管１に対する低エネル
ギ用Ｘ線センサ１１、ベルトコンベア２１、スリット３
１の各位置と、Ｘ線管１に対する高エネルギ用Ｘ線セン
サ２１、ベルトコンベア２２、スリット３２の各位置を
設定している。
【００１５】すなわち、図１に示すように、Ｘ線管１か
ら出射されスリット３１を通過したＸ線が低エネルギ用
Ｘ線センサ１１に直交して入射するように、スリット３
１及び低エネルギ用Ｘ線センサ１１を配置するととも
に、ベルトコンベア２１を、その搬送面がＸ線進行方向
に対して直交するように配置し、また、高エネルギ用Ｘ
線センサ１２については、低エネルギ用Ｘ線センサ１１
に入射するＸ線が進行する経路に対して角度θだけ傾い
た直線上に、スリット３２、ベルトコンベア２２及び高
エネルギ用Ｘ線センサ１２を、その直線に対してそれぞ
れ直交させた姿勢で配置して、２つのＸ線センサ１１，
１２に入射するＸ線の被写体Ｓでの経路が同じになるよ
うにしている。
ら出射されスリット３１を通過したＸ線が低エネルギ用
Ｘ線センサ１１に直交して入射するように、スリット３
１及び低エネルギ用Ｘ線センサ１１を配置するととも
に、ベルトコンベア２１を、その搬送面がＸ線進行方向
に対して直交するように配置し、また、高エネルギ用Ｘ
線センサ１２については、低エネルギ用Ｘ線センサ１１
に入射するＸ線が進行する経路に対して角度θだけ傾い
た直線上に、スリット３２、ベルトコンベア２２及び高
エネルギ用Ｘ線センサ１２を、その直線に対してそれぞ
れ直交させた姿勢で配置して、２つのＸ線センサ１１，
１２に入射するＸ線の被写体Ｓでの経路が同じになるよ
うにしている。
【００１６】次に、本実施の形態の作用を述べる。ま
ず、被写体Ｓは、搬送方向の上流側に設置されたベルト
コンベア２１によって低エネルギ用Ｘ線センサ１１のと
ころまで運ばれて低エネルギ画像が撮影され、次いで下
流側に設置されたベルトコンベア２２によって高エネル
ギ用Ｘ線センサ１２のところまで運ばれて高エネルギ画
像が撮影される。そして、このような搬送過程で収集さ
れた低エネルギ画像データと高エネルギ画像データが画
像処理装置４に採り込まれ、そこでの画像処理によりエ
ネルギサブストラクション像が作成され、その作成画像
がモニタ５の画面上に表示される。
ず、被写体Ｓは、搬送方向の上流側に設置されたベルト
コンベア２１によって低エネルギ用Ｘ線センサ１１のと
ころまで運ばれて低エネルギ画像が撮影され、次いで下
流側に設置されたベルトコンベア２２によって高エネル
ギ用Ｘ線センサ１２のところまで運ばれて高エネルギ画
像が撮影される。そして、このような搬送過程で収集さ
れた低エネルギ画像データと高エネルギ画像データが画
像処理装置４に採り込まれ、そこでの画像処理によりエ
ネルギサブストラクション像が作成され、その作成画像
がモニタ５の画面上に表示される。
【００１７】ここで、本実施の形態では、低・高エネル
ギ画像の撮影時において、低エネルギ用Ｘ線センサ１１
に入射するＸ線と、高エネルギ用Ｘ線センサ１２に入射
するＸ線は、被写体Ｓへの入射経路が同じになるので、
被写体Ｓが厚みのある物体であっても、エネルギサブス
トラクション像に幾何学的なぼけが生じることがなくな
る。
ギ画像の撮影時において、低エネルギ用Ｘ線センサ１１
に入射するＸ線と、高エネルギ用Ｘ線センサ１２に入射
するＸ線は、被写体Ｓへの入射経路が同じになるので、
被写体Ｓが厚みのある物体であっても、エネルギサブス
トラクション像に幾何学的なぼけが生じることがなくな
る。
【００１８】なお、本実施の形態に用いる低エネルギ用
Ｘ線センサと高エネルギ用Ｘ線センサは、それぞれが低
エネルギと高エネルギの検出用として作製された異なる
構造のセンサであってもよいし、同じの構造のセンサで
あってもよい。ただし、同じ構造とする場合、例えば各
センサ窓の前面にそれぞれ低エネルギ用のフィルタと高
エネルギ用のフィルタを被せることにより、低エネルギ
用センサと高エネルギ用センサに使い分けるようにす
る。
Ｘ線センサと高エネルギ用Ｘ線センサは、それぞれが低
エネルギと高エネルギの検出用として作製された異なる
構造のセンサであってもよいし、同じの構造のセンサで
あってもよい。ただし、同じ構造とする場合、例えば各
センサ窓の前面にそれぞれ低エネルギ用のフィルタと高
エネルギ用のフィルタを被せることにより、低エネルギ
用センサと高エネルギ用センサに使い分けるようにす
る。
【００１９】また、低エネルギ用Ｘ線センサと高エネル
ギ用Ｘ線センサは、Ｘ線検出素子を１次元状に配列した
ラインセンサであってもよいし、Ｘ線検出素子を２次元
状に配列した面センサであってもよい。
ギ用Ｘ線センサは、Ｘ線検出素子を１次元状に配列した
ラインセンサであってもよいし、Ｘ線検出素子を２次元
状に配列した面センサであってもよい。
【００２０】さらに、これらのＸ線センサは、Ｘ線フォ
トンを半導体層において電気信号に変換する直接変換方
式のセンサであってもよいし、半導体層上の蛍光体（シ
ンチレータシート）を層状に重ね合わせ、その蛍光体へ
のＸ線の入射により発生する光を半導体層で電気信号に
変換する間接変換方式のセンサであってもよい。
トンを半導体層において電気信号に変換する直接変換方
式のセンサであってもよいし、半導体層上の蛍光体（シ
ンチレータシート）を層状に重ね合わせ、その蛍光体へ
のＸ線の入射により発生する光を半導体層で電気信号に
変換する間接変換方式のセンサであってもよい。
【００２１】ここで、以上の実施の形態では、１つのＸ
線管に対して２組のセンサ、ベルトコンベア、スリット
を配置した例を示したが、本発明はこれに限られること
なく、Ｘ線管は複数であってもよいし、またセンサ、ベ
ルトコンベア、スリットについては３組以上であっても
よい。
線管に対して２組のセンサ、ベルトコンベア、スリット
を配置した例を示したが、本発明はこれに限られること
なく、Ｘ線管は複数であってもよいし、またセンサ、ベ
ルトコンベア、スリットについては３組以上であっても
よい。
【００２２】さらに、本発明は、Ｘ線源（Ｘ線管）のほ
か、ガンマ線源等を用いてエネルギサブストラクション
像を撮影する放射線検出装置にも適用できる。
か、ガンマ線源等を用いてエネルギサブストラクション
像を撮影する放射線検出装置にも適用できる。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の放射線検
出装置によれば、複数のセンサ（低エネルギ用センサと
高エネルギ用センサ）に入射する放射線の被写体での経
路が全てのセンサについて等しくなるように、放射線
源、被写体及びセンサの各位置を設定しているので、厚
みのある物体であっても、放射線の入射経路が原因とな
る幾何学的なぼけが出ない、良好な画質のエネルギサブ
ストラクション像を得ることができる。
出装置によれば、複数のセンサ（低エネルギ用センサと
高エネルギ用センサ）に入射する放射線の被写体での経
路が全てのセンサについて等しくなるように、放射線
源、被写体及びセンサの各位置を設定しているので、厚
みのある物体であっても、放射線の入射経路が原因とな
る幾何学的なぼけが出ない、良好な画質のエネルギサブ
ストラクション像を得ることができる。
【００２４】しかも、開発・製造が困難なエネルギサブ
ストラクション専用のセンサを用いることなく、既存の
放射線センサを使用することができるので、開発・製造
のコストアップを招くことなくエネルギサブストラクシ
ョン像を得ることのできる放射線検出装置を実現するこ
とができる。また、エネルギサブストラクション専用の
センサを使用する場合と比較して、センサ構造が単純に
なり、メンテナンスも容易になる。
ストラクション専用のセンサを用いることなく、既存の
放射線センサを使用することができるので、開発・製造
のコストアップを招くことなくエネルギサブストラクシ
ョン像を得ることのできる放射線検出装置を実現するこ
とができる。また、エネルギサブストラクション専用の
センサを使用する場合と比較して、センサ構造が単純に
なり、メンテナンスも容易になる。
【図１】本発明の実施の形態の構成図である。
【図２】エネルギサブストラクションを行うＸ線検出装
置の従来の構成例を示す図である。
置の従来の構成例を示す図である。
【図３】エネルギサブストラクション用Ｘ線センサの模
式図である。
式図である。
１ Ｘ線管 １１ 低エネルギ用Ｘ線センサ １２ 高エネルギ用Ｘ線センサ ２１，２２ ベルトコンベア ３１，３２ スリット ４ 画像処理装置 ５ モニタ
Claims (1)
- 【請求項１】 放射線を被写体に照射する放射線源と、
入射放射線量に応じてデータを出力する放射線検出素子
が１次元または２次元に配列されてなる複数のセンサを
備え、それら複数のセンサで被写体の透過放射線を検出
し、１つの被写体について検出エネルギが異なる複数の
透過放射線データを得る放射線検出装置において、複数
のセンサのそれぞれに入射する放射線の被写体での経路
が全てのセンサについて等しくなるように、上記放射線
源、被写体及びセンサの各位置が設定されていることを
特徴とする放射線検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10123485A JPH11316198A (ja) | 1998-05-06 | 1998-05-06 | 放射線検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10123485A JPH11316198A (ja) | 1998-05-06 | 1998-05-06 | 放射線検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11316198A true JPH11316198A (ja) | 1999-11-16 |
Family
ID=14861806
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10123485A Pending JPH11316198A (ja) | 1998-05-06 | 1998-05-06 | 放射線検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11316198A (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JP2009536320A (ja) * | 2006-05-08 | 2009-10-08 | 清華大学 | 荷物セキュリティ検査システム |
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| WO2010055728A1 (ja) * | 2008-11-11 | 2010-05-20 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出装置、放射線画像取得システム及び放射線の検出方法 |
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-
1998
- 1998-05-06 JP JP10123485A patent/JPH11316198A/ja active Pending
Cited By (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2010117172A (ja) * | 2008-11-11 | 2010-05-27 | Hamamatsu Photonics Kk | 放射線検出装置、放射線画像取得システム及び放射線の検出方法 |
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