JPH0627249A

JPH0627249A - 放射線検査装置

Info

Publication number: JPH0627249A
Application number: JP18425892A
Authority: JP
Inventors: Kiichiro Uyama; 喜一郎宇山; Masaji Fujii; 正司藤井
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1992-07-13
Filing date: 1992-07-13
Publication date: 1994-02-04

Abstract

(57)【要約】【目的】視線方向に重なって見える透過／散乱画像を
視線方向の層により分離して表示し、被検体の内部状態
を見やすくする放射線検査装置を提供する。【構成】被検体を移動させながら被検体に放射線を照
射し、放射線面センサの出力を順次収集し、この収集デ
ータについて移動の異なる時間に得られたデータ同志を
平面上における移動方向についてずらしながら加算平均
し、被検体を通る１つの面に対して焦点の合った放射線
による被検体の透視画像を構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、透過線放射線を被検体
に照射し、被検体の透過線画像または散乱線画像を得
て、被検体の内部を検査する放射線検査装置に関し、更
に詳しくは、例えば空港等における荷物検査に利用され
る放射線検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】透過性放射線、特にＸ線が物体を透過す
ることを用いて被検査物の内部の構造を可視化できるこ
とは広く知られている。このような放射線検査装置の１
つとして、空港等で用いられ、危険物や禁輸出入物質の
検査を行なう荷物検査用Ｘ線検査装置がある。このＸ線
検査装置では、透過したＸ線を検出器で測ることで荷物
内部の透過Ｘ線画像を得、爆弾、ピストル等の危険物を
検出する。

【０００３】また、Ｘ線が被検査物に入射したときに、
その一部は物質を構成する原子により散乱されることも
コンプトン効果として良く知られた現象である。特にこ
のコンプトン効果による散乱Ｘ線を用いて被検査体の内
部を調べると、低原子番号の物質は良くＸ線を散乱す
る。そのため、これまで透過Ｘ線では素通しになり、捕
えることが困難であった低原子番号の物質（非金属等）
でも可視化が可能となる。この原理を応用して散乱Ｘ線
画像を得、プラスチック爆弾、麻薬等を見つけることが
できる。以下に、この従来の荷物検査用Ｘ線検査装置の
２つの例を説明する。

【０００４】図１６に第１の従来例を示す。これは、被
検体の透過Ｘ線画像を作る荷物検査用Ｘ線検査装置であ
る。Ｘ線管１から発生するＸ線はコリメータ９によりフ
ァン状に形成され、Ｘ線ファンビーム２となる。このＸ
線ファンビームを受けるように検出器４が配置されてい
る。被検体４はコンベア５によりＸ線ファンビーム２中
を通過する様に移動される。検出器４は一次元の多チャ
ンネルラインセンサーであり、Ｘ線ファンビーム２を空
間分解能をもって検出する。データ収集装置６は上記の
移動に同期して検出器４の出力を収集し、被検体３の透
過Ｘ線画像が得られ、表示装置７に表示される。なお、
８はＸ線制御装置である。

【０００５】図１７に第２の従来例を示す。これは、被
検体の透過Ｘ線画像と散乱Ｘ線画像を作る荷物検査用Ｘ
線検査装置である。Ｘ線管２１から発生するＸ線は固定
コリメータ２２と回転コリメータ２３により扇状に走査
されるペンシルＸ線ビーム２４が作られる。垂直な面内
を上下方向に高速で繰り返し走査されるペンシルＸ線ビ
ーム２４の面を被検体２５がコンベア２８により直角に
横切るように移動される。ペンシルＸ線ビーム２４は被
検体２５を透過しながら、１部は吸収され、１部は散乱
され、散乱Ｘ線２６は散乱Ｘ線検出器２７により測定さ
れる。

【０００６】検査中に被検体２５は連続的に移動させら
れるので、ペンシルＸ線ビーム２４は被検体をラスター
スキャンすることになる。散乱Ｘ線検出器２７の出力は
データ収集装置３０で収集され被検体の散乱Ｘ線画像が
得られ、表示装置３２に表示される。また、被検体２５
を透過したＸ線は、透過Ｘ線検出器２９で検出され、該
検出器２９の出力はデータ収集装置３１で収集され、こ
れにより被検体の透過Ｘ線画像が得られ、表示装置３２
に表示される。なお、３３はＸ線制御装置である。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】荷物検査用Ｘ線検査装
置を用いた空港での荷物検査あるいは税関での輸入品検
査等においては、検査官が透過Ｘ線画像や散乱Ｘ線画像
を目視して経験をたよりに危険物や禁輸出入品の判定を
行なっているが、荷物はコンベアで次々と流れるため、
検査官は短時間のうちに判定を下す必要がある。

【０００８】従って、従来の装置においては、透過／散
乱画像共に１方向から見た画像であって、視線方向の物
体が重なって見えるため、荷物の内部状態が判別しにく
い画像となり、検査官による判定は困難で、かつ労力を
要するものとなるとともに、また画像処理による自動判
定も困難であるという問題がある。

【０００９】本発明は、上記に鑑みてなされたもので、
その目的とするところは、視線方向に重なって見える透
過／散乱画像を視線方向の層により分離して表示し、被
検体の内部状態を見やすくする放射線検査装置を提供す
ることにある。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の請求項１記載の放射線検査装置は、透過性
の放射線源と、平面上で空間分解能をもって放射線を検
出する放射線面センサと、被検体を前記平面に対してほ
ぼ平行に前記放射線源と前記放射線面センサとの間で移
動させる移動手段と、前記放射線面センサの出力を前記
移動の間に順次収集する収集手段と、該収集手段で収集
した収集データについて前記移動の異なる時間に得られ
たデータ同志を前記平面上における前記移動方向につい
てずらしながら加算平均し、前記被検体を通る１つの面
に対して焦点の合った放射線による被検体の透視画像を
構成する加算平均手段とを有することを要旨とする。

【００１１】また、本発明の請求項２記載の放射線検査
装置は、透過性の放射線源と、平面上で空間分解能をも
って放射線を検出する放射線面センサと、被検体を前記
平面に対してほぼ平行に前記放射線源と前記放射線面セ
ンサとの間で移動させる移動手段と、前記放射線面セン
サの出力を前記移動の間に順次収集する収集手段と、該
収集手段で収集した収集データについて前記平面上の前
記移動方向の異なる位置で得られたデータ同志を前記移
動の時間方向についてずらしながら加算平均し、前記被
検体を通る１つの面に対して焦点の合った放射線による
被検体の透視画像を構成する加算平均手段とを有するこ
とを要旨とする。

【００１２】更に、本発明の請求項３記載の放射線検査
装置は、透過性の放射線源と、該放射線源から放射され
る放射線を線状のペンシルビームとしてラスタースキャ
ンさせる放射線走査手段と、被検体を前記ペンシルビー
ムのラスタースキャン領域を横切るように移動させる移
動手段と、被検体により散乱した放射線を検出する散乱
線検出手段と、該散乱線検出手段の出力を前記移動の間
に順次収集する収集手段と、該収集手段で収集された収
集データについて加算平均処理し、前記被検体を通る１
つの面に対して焦点の合った放射線による被検体の散乱
線画像を構成する加算平均手段とを有することを要旨と
する。

【００１３】本発明の請求項４記載の放射線検査装置
は、透過性の放射線源と、該放射線源から放射される放
射線を線状のペンシルビームとしてラスタースキャンさ
せる放射線走査手段と、被検体を前記ペンシルビームの
ラスタースキャン領域を横切るように移動させる移動手
段と、被検体を透過したペンシルビームを検出すべくラ
スタースキャン領域を覆うように配設された透過線検出
手段と、該透過線検出手段の出力を前記移動の間に順次
収集する収集手段と、該収集手段で収集された収集デー
タについて加算平均処理し、前記被検体を通る１つの面
に対して焦点の合った放射線による被検体の散乱線画像
を構成する加算平均手段とを有することを要旨とする。

【００１４】

【作用】本発明の請求項１記載の放射線検査装置では、
被検体を移動させながら被検体に放射線を照射し、放射
線面センサの出力を順次収集し、この収集データについ
て移動の異なる時間に得られたデータ同志を平面上にお
ける移動方向についてずらしながら加算平均し、被検体
を通る１つの面に対して焦点の合った放射線による被検
体の透視画像を構成する。

【００１５】また、本発明の請求項２記載の放射線検査
装置では、被検体を移動させながら被検体に放射線を照
射し、放射線面センサの出力を順次収集し、この収集デ
ータについて平面上の移動方向の異なる位置で得られた
データ同志を平面上における移動方向についてずらしな
がら加算平均し、被検体を通る１つの面に対して焦点の
合った放射線による被検体の透視画像を構成する。

【００１６】更に、本発明の請求項３記載の放射線検査
装置では、放射線を線状のペンシルビームとしてラスタ
ースキャンさせるとともに被検体をペンシルビームのラ
スタースキャン領域を横切るように移動させながら、被
検体により散乱した放射線を検出し、この散乱線検出出
力を移動の間に順次収集し、この収集データについて加
算平均処理し、被検体を通る１つの面に対して焦点の合
った放射線による被検体の散乱線画像を構成する。

【００１７】本発明の請求項４記載の放射線検査装置で
は、放射線を線状のペンシルビームとしてラスタースキ
ャンさせるとともに被検体をペンシルビームのラスター
スキャン領域を横切るように移動させながら、被検体を
透過した放射線を検出し、この透過線検出出力を移動の
間に順次収集し、この収集データについて加算平均処理
し、被検体を通る１つの面に対して焦点の合った放射線
による被検体の散乱線画像を構成する。

【００１８】

【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。

【００１９】図１は、本発明の第１の実施例に係る放射
線検査装置の構成を示す図である。図１においては、透
過性の放射線源であるＸ線管１０１に対向してライン上
で空間分解能をもって放射線を検出する複数のラインセ
ンサ１０７がｎチャンネル等間隔で１つのセンサー面内
に配置されている。

【００２０】このＸ線管１０１とラインセンサ１０７の
間にラインセンサ１０７の各チャンネルのライン方向と
直交し、かつセンサー面に平行に移動動作を行う搬送機
構部１０５があり、その上に被検体１０３が置かれる。

【００２１】また、ラインセンサ１０７の各チャンネル
から信号を収集する画像収集装置１１０、収集された画
像について異なるラインセンサにより得られた画像どう
しを平行移動方向についてずらしながら加算平均する加
算装置１１２、および画像表示用のＣＲＴ１１４が設け
られている。更に、Ｘ線制御装置１２０、機構制御装置
１２２が設けられている。図１，２，３を参照して第１
の実施例の作用を説明する。

【００２２】まず、搬送機構部１０５に被検体１０３を
のせて、Ｘ線管１０１からＸ線ビーム１２を放射してＸ
線照射を開始する。搬送機構部１０５の平行移動速度
は、機構制御装置１２２により一定速度に制御され、そ
の送り量をＰとする。

【００２３】図２に示すように、搬送機構部１０５の横
に配置されたｎ個のラインセンサ１０７のセンサー間隔
をＤ、Ｘ線管１０１の焦点からラインセンサ１０７の作
るセンサー面までの距離をＦＤＤ、焦点からセンサー面
に平行である被検体のピント面までの距離をＬとする
と、ピント面でのセンサー間隔ΔＳはで表わされる。

【００２４】各ラインセンサでのデータ収集は一定のサ
ンプリング周期で画像収集装置１１０により実行され
る。１サンプリング周期での送り量Ｐ、すなわちサンプ
リングピッチをΔＰとし、またラインセンサ１０７のチ
ャンネルピッチをΔｙとすると、被検体１０３がライン
センサ上を完全に通過し終わった後でＰ，ｙ平面上でΔ
Ｐ，Δｙ間隔で収集された画像データがラインセンサの
個数分蓄積される（図３参照）。

【００２５】画像データは第ｋ番目のラインセンサにつ
いてＰ，ｙ方向のサンプル点の番号をそれぞれｉ，ｊと
してＩ_k（ｉ，ｊ）で表わされる。この画像データを第
１番目のラインセンサを基準としてラインセンサの番号
方向に１つずれるごとにＰ方向にΔＳずつずらして各画
像を加算平均する。式で表わすと、

【００２６】

【数１】となる。とろこでこの式で一般にΔＳ・（ｋ−１）／Δ
Ｐは整数にならないので、実際にはＩ_k（ｉ＋ΔＳ・
（ｋ−１）／ΔＰ，ｊ）は次式で示す補間計算

【００２７】

【数２】で求める。ここでＮＩＴは切り捨て整数化、ＦＲＡＣは
整数化時のあまりを意味する。以上の補間を含んだ画像
の加算平均は加算装置１１２により実行される。●

【００２８】ここで、ΔＳずつずらして加算するという
ことは、図２より明らかなように被検体１０３のピント
面上の一点を通過する透過データどうしを加算するとい
うことである。加算するデータの透過経路は上記一点を
通過するが、各々方向が異なっているため加算後上記一
点にピントが合ってその上下の領域はボケたデータとな
る。このようにして目的とするピント面だけにピントの
合った画像を得ることができる。

【００２９】以上の手順によりＸ線管１０１の焦点から
の距離Ｌの面にピントの合った画像をＣＲＴ１４上に表
示することができる。尚、ピント面を変えるためには、
加算装置１１２においてΔＳの値を変えてやればよいこ
とになる。そして１回の被検体の移動により得られた収
集データからピント位置の異なる複数枚の画像が得られ
る。

【００３０】以上はピント面をラインセンサ１０７のセ
ンサー面に平行に設定する場合であるが、ΔＳをｉ，ｊ
の関数として設定することで傾斜平面、曲面、段差面等
任意の面にピントの合った画像を作ることができる。図
４を参照して説明すると、ピント面は第１番目のライン
センサ通過時のＬの値Ｌ（Ｐ，ｙ）として表現できる。
ピント面はＬ（Ｐ，ｙ）のΔＰ，Δｙピッチで取った数
値の二次元アレイで設定され、この値から次に示す式

【００３１】

【数３】を用いて、ΔＳ（ｉ，ｊ）を計算する。式（２），
（３）で加算平均を行なう時、ΔＳのかわりにこのΔＳ
（ｉ，ｊ）を用いることで、任意に設定されたピント面
にピントの合った画像を作ることができる。次に、図
５，６，７を参照して、第２の実施例について説明す
る。

【００３２】この実施例は、Ｘ線検出器としてＸ線面セ
ンサであるＸ線蛍光板を使用し、このＸ線蛍光板１３１
をテレビカメラ１３２で撮像するようにした場合の実施
例であり、Ｘ線蛍光板１３１面上での座標をｘ，ｙとす
る（ｘを送り方向にとる）。なお、１０１，１０２，１
０３は図１と同様にＸ線管、Ｘ線ビーム、被検体であ
る。被検体の送り量をＰとしてデータサンプリングピッ
チをΔＰとすると、Ｘ線蛍光板１３１面上でのサンプリ
ングピッチΔＰ’は ΔＰ’＝ΔＰ×ＦＤＤ／Ｌ（５）で表わされる。

【００３３】図７で示すように、ΔＰの周期で得られた
データをＡＤ変換し、一番最初に収集したデータを基準
にして第１の実施例の作用での説明と同様にΔＰ’ずつ
ずらして加算し（このとき補間計算を実行）、加算平均
することで、１つのピント面にピントのあった画像を得
ることができる。ピント面を変えるにはΔＰ’を変えて
やればよい。そして１回の被検体の移動により得られた
データからピント位置の異なる複数枚の画像が得られ
る。

【００３４】なおＸ線検出器は他のＸ線面センサー、た
とえば図８に示すレーザー読み出し型の蛍光蓄積板１４
１とフォトマル型光センサー１４６の組合せ、あるいは
Ｘ線Ｉ．Ｉ．（イメージインテンシファイア）等を用い
ても同様の効果を上げることができる。なお、図８にお
いて、１４２はレーザ、１４３はレーザ管、１４４はレ
ーザ走査機構、１４５は光である。次に、図９を参照し
て、第３の実施例を説明する。

【００３５】同図に示す実施例は、透過性の放射線源で
あるＸ線管２０１と、２本のらせんスリット２０７を有
する円筒状の回転コリメータ２０６と、この回転コリメ
ータ２０６を円筒軸のまわりに回転させるとともに円筒
軸と直角方向に往復運動させてＸ線をペンシルビームＸ
線２０８に絞り、ラスタースキャンさせるラスタースキ
ャン機構部２１０と、ペンシルビームＸ線２０８を検出
すべくラスタースキャン領域をおおうように配設された
透過線検出器２０４を有する。

【００３６】また、Ｘ線管２０１と透過線検出器２０４
の間にほぼペンシルビームＸ線２０８と直交する方向に
被検体２０２を移動させる搬送機構部２０３が設けられ
ている。

【００３７】上記ラスタースキャン領域に近接し、Ｘ線
管２０１の近傍に被検体２０２に当って散乱した散乱Ｘ
線２０９を検出するように散乱線検出器２０５が配設さ
れている。

【００３８】透過線検出器２０４と散乱線検出器２０５
は出力データを収集する画像収集装置２１３に接続さ
れ、この画像収集装置２１３は得られた画像どうしをず
らしながら加算平均する加算装置２１４に接続され、そ
れから画像表示用のＣＲＴ２１５に接続される。

【００３９】また、Ｘ線管２０１に電力を供給し、管電
圧と管電流を制御するＸ線制御装置２１１に接続され、
搬送機構部２０３とラスタースキャン機構部２１０は機
構制御装置２１２に接続される。

【００４０】図９，１０，１１，１２，１３を参照し
て、第３の実施例の作用を説明する。まず搬送機構部２
０３に被検体２０２を載せて、Ｘ線管２０１からのＸ線
照射を開始させるとともに、ラスタースキャン機構部２
１０の動作を開始させ、ペンシルビームＸ線２０８のラ
スタースキャンを開始する。搬送機構部２０３による被
検体２０２の移動速度は機構制御装置２１２により一定
速度に制御され、その移動量をＰとする。

【００４１】図１０を参照して、ラスタースキャン機構
２１０は回転コリメータ２０６を高速で等速回転させる
とともに、この速度に比べて遅い速度で回転コリメータ
２０６をその軸と直角方向に等速度で往復運させる。透
過線検出器２０４の位置に１つの基準面を設定し、この
基準面上のペンシルビームＸ線２０８の位置でラスター
スキャン位置を表わすものとする。基準面上でｘ軸を被
検体２０２の移動方向と平行に、ｙ軸をｘ軸に直角にと
る。

【００４２】図１１を参照すると、上記基準面でのペン
シルビームＸ線２０８の軌跡が示されている。軌跡はｙ
軸に平行になるようにラスタースキャン機構２１０が位
置調整されている。回転コリメータ２０６の上記往復運
動の前進動作および後退動作でそれぞれｘの増側および
減側に向けてラスタースキャンが行なわれる。

【００４３】透過線検出器２０４は被検体２０２を透過
したペンシルビームＸ線２０８を検出し、散乱線検出器
２０５はペンシルビームＸ線２０８が被検体２０２を透
過する時その内部から散乱される散乱Ｘ線２０９を検出
し、それぞれ電気信号として出力する。画像収集装置２
１３は上記出力をラスタースキャンに同期して収集し、
デジタル信号に変換してラスタースキャンの１周期当り
２枚の画像（前進方向１枚、後退方向１枚）を収集し、
メモリに記憶する。画像は図１１のｘ，ｙ平面でのマト
リックス点上でのデータである。

【００４４】図１２を参照して、ラスタースキャンと被
検体の移動の関係を説明する。ラスタースキャンのビー
ム走査速度と比較して上記移動の速度は十分小さく、ラ
スタースキャンの半周期（前進方向あるいは後退方向
分）の間の移動距離ΔＰは１〜数mmの小さな値である。
Ｘ線焦点Ｓから透過線検出器２０４の位置の基準面まで
の距離をＦＤＤ、基準面と平行に設定したピント面まで
の距離をＬとすると、検出面に写影した写影移動距離Δ
Ｐ’は式 ΔＰ’＝ΔＰ×ＦＤＤ／Ｌ（６）で表わされる。またｘ＝０のビーム線を基準にとってΔ
Ｐ’，ΔＰを積分すればＰ’＝Ｐ×ＦＤＤ／Ｌ（７）の関係があることがわかる。

【００４５】画像収集装置２１３で収集された複数の画
像は加算装置２１４に送られる。収集された画像データ
は図１３に示すようにｘ，ｙ，Ｐ軸で作る３次元空間内
でのデータ点マトリックス上の数値データとして考える
ことができる。ラスタースキャンの間も連続して移動が
行なわれるため各画像はｘｙ平面から少し傾斜してい
る。これらの複数の画像をずらしながら加算平均するわ
けであるが、そのずらし量Ｐ’をデータ点（ｘ，ｙ，
Ｐ）のＰの値に比例させ、Ｐ’＝Ｐ×ＦＤＤ／Ｌ（８）とすれば、図１２から明らかなようにピント面上の１点
を通るデータが常に加算されるので、ピント面にピント
の合った加算平均画像が出来ることがわかる。具体的な
画像ずらし手順は以下の通りである。前進方向画像中の
第ｉ番目の画像についてはずらし量Ｐ’はｘの関数とし
て次式で計算される。

【００４６】

【数４】

【００４７】

【数５】で計算される。式（９），（１０）でΔＰ’は式（６）
で計算され、ｘ_oは定数でΔＰ間に行なわれるｘ方向の
ラスタースキャン量である。

【００４８】式（９），（１０）で第１，２項は画像の
単純ずらしであり、第３項が画像の伸縮を意味する。Δ
ＰがペンシルビームＸ線のビームサイズと比較して、あ
まり大きくない場合は第３項は省略することができる。
式（９），（１０）で示される画像のずらし及び伸縮は
よく知られている画像のアフィン変換処理で行なうこと
ができる。

【００４９】なお、式（９），（１０）でΔＰ’の値を
変えることで任意のピント面の加算平均画像を得ること
ができる。そして１回の被検体の移動により得られるデ
ータからピント位置の異なる複数枚の画像が得られる。

【００５０】また、他の実施例として、互いに平行で等
間隔のピント面にピントの合った複数の透過画像あるい
は散乱画像を作成し、各画像について画像濃度の空間変
化率を強調した画像を作成する。これは、いわゆる微分
処理としてよく知られている。次に、微分処理後の画像
に対し２値化処理を施こすことで元の画像の濃度変化の
大きな部分を線として取り出せる。これにより被検体の
内部構造のピント面上でのパターンを抽出することがで
きる。複数の平行なピント面の画像について行なうの
で、３次元的な被検体内部の構造を抽出でき、内部の今
までにない視覚認識が可能になる。また、抽出画像を用
いた自動判定も可能になる。

【００５１】更に、別の実施例として、ピント面の異な
る多層のラミノグラフィ画像を多数形成し、このラミノ
グラフィ画像のとなり合ったプレーンまたはある間隔を
設けたプレーン間で画像間演算し、演算後の画像と演算
対象画像の間で更に画像間演算することにより、この処
理された画像は画像強調された状態であり、画像の認識
性を向上させることができる。なお、ラミノグラフィは
ピント面以外の構造にボケを積極的に与える手法であ
り、変化分を強調することが効果を生む。

【００５２】図１４は、このような実施例の説明図であ
り、被写体３００から多数のラミノグラフィ画像３０１
を形成し、プレーンＡ〜Ｅを作成する。そして、プレー
ンＡ，Ｂから差画像Ａ−Ｂ＝Ｐを得る。差分ＰとＡでＡ
＋α・Ｐ＝Ａ’の画像間演算を行い、強調画像を得る。
なお、αは函数である。各プレーン間の画像間演算は差
に限らず、強調に有効な演算であればよい。また、画像
間演算結果のＰまたはＰに空間フィルタや論理フィルタ
を作用させ、画像Ｐとして表示または自動判定に発展さ
せることも可能である。

【００５３】図１５は、自動的に画像内容を判定する他
の実施例の作用を示すフローチャートである。上述した
図１４の実施例で示したように、ラミノグラフィ画像を
作成し、画像間演算処理を行い、処理対象画像を抽出し
た後に（ステップ５１０〜５３０）、処理対象画像毎に
濃度パラメータを測定し（ステップ５４０）、濃度パラ
メータレベルを判定して特徴のある対象物を検出する
（ステップ５５０）。そして、金属であれば、高濃度画
像（平均濃度）を判定結果として出力し（ステップ５６
０）、またプラスチック系であれば、低濃度画像を判定
結果として出力する（ステップ５７０）。この出力は原
画にオーバレイして、カラーや白色でＣＲＴディスプレ
イ上に表示することも可能である。なお、一般的にはア
ラームを発してオペレータに警告する。

【００５４】また、前記実施例においては、図１０に示
したようなラスタースキャン発生手段を使用している
が、これに限定されるものでなく、代わりとして例えば
図１７に示すような直線スリットと回転円板コリメータ
を組み合わせたもの、または図１０の回転コリメータと
直線スリットによるラスタースキャン発生手段等を使用
してもよい。

【００５５】

【発明の効果】以上説明したように、請求項１または２
記載の発明によれば、被検体を移動させながら被検体に
放射線を照射し、放射線面センサの出力を順次収集し、
この収集データについて移動の異なる時間にまたは平面
上の移動方向の異なる位置で得られたデータ同志を平面
上における移動方向についてずらしながら加算平均し、
被検体を通る１つの面に対して焦点の合った放射線によ
る被検体の透視画像を構成している。

【００５６】また、請求項３または４記載の発明によれ
ば、放射線を線状のペンシルビームとしてラスタースキ
ャンさせるとともに被検体をペンシルビームのラスター
スキャン領域を横切るように移動させながら、被検体に
より散乱した放射線または被検体を透過した放射線を検
出し、この散乱線検出出力または透過線検出出力を移動
の間に順次収集し、この収集データについて加算平均処
理し、被検体を通る１つの面に対して焦点の合った放射
線による被検体の散乱線画像を構成している。●

【００５７】従って、被検体の内部の１つの面にピント
の合った透過線画像または散乱線画像を得ることがで
き、被検体の内部の構造の重なりを分離でき、内部状態
を明確に判別することができる。また、透過線画像では
吸収係数の大きな部分の構造が分かりやすく、散乱線画
像では吸収係数の小さな部分の構造が分かりやすい。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例に係わる放射線検査装置
の構成を示す図である。

【図２】図１の実施例の作用を示す説明図である。

【図３】図１の実施例の作用を示す説明図である。

【図４】図１の実施例の作用を示す説明図である。

【図５】本発明の第２の実施例に係わる放射線検査装置
の構成を示す図である。

【図６】図５に示す実施例の作用を示す説明図である。

【図７】図５に示す実施例の作用を示す説明図である。

【図８】図５に示す実施例の変形例の構成を示す図であ
る。

【図９】本発明の第３の実施例に係わる放射線検査装置
の構成を示す説明図である。

【図１０】図９の実施例の作用を示す説明図である。

【図１１】図９の実施例の作用を示す説明図である。

【図１２】図９の実施例の作用を示す説明図である。

【図１３】図９の実施例の作用を示す説明図である。

【図１４】本発明の別の実施例に係わる放射線検査装置
の要部の説明図である。

【図１５】本発明の他の実施例に係わる放射線検査装置
の作用を示すフローチャートである。

【図１６】従来の放射線検査装置の構成を示す図であ
る。

【図１７】従来の放射線検査装置の他の構成を示す図で
ある。

【符号の説明】

１０１Ｘ線管１０２Ｘ線ビーム１０３被検体１０５搬送機構部１０７ラインセンサ１１０画像収集装置１１２加算装置１１４ＣＲＴ１２０Ｘ線制御装置１２２機構制御装置

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】透過性の放射線源と、平面上で空間分解
能をもって放射線を検出する放射線面センサと、被検体
を前記平面に対してほぼ平行に前記放射線源と前記放射
線面センサとの間で移動させる移動手段と、前記放射線
面センサの出力を前記移動の間に順次収集する収集手段
と、該収集手段で収集した収集データについて前記移動
の異なる時間に得られたデータ同志を前記平面上におけ
る前記移動方向についてずらしながら加算平均し、前記
被検体を通る１つの面に対して焦点の合った放射線によ
る被検体の透視画像を構成する加算平均手段とを有する
ことを特徴とする放射線検査装置。
【請求項２】透過性の放射線源と、平面上で空間分解
能をもって放射線を検出する放射線面センサと、被検体
を前記平面に対してほぼ平行に前記放射線源と前記放射
線面センサとの間で移動させる移動手段と、前記放射線
面センサの出力を前記移動の間に順次収集する収集手段
と、該収集手段で収集した収集データについて前記平面
上の前記移動方向の異なる位置で得られたデータ同志を
前記移動の時間方向についてずらしながら加算平均し、
前記被検体を通る１つの面に対して焦点に合った放射線
による被検体の透視画像を構成する加算平均手段とを有
することを特徴とする放射線検査装置。
【請求項３】透過性の放射線源と、該放射線源から放
射される放射線を線状のペンシルビームとしてラスター
スキャンさせる放射線走査手段と、被検体を前記ペンシ
ルビームとラスタースキャン領域を横切るように移動さ
せる移動手段と、被検体により散乱した放射線を検出す
る散乱線検出手段と、該散乱線検出手段の出力を前記移
動の間に順次収集する収集手段と、該収集手段で収集さ
れた収集データについて加算平均処理し、前記被検体を
通る１つの面に対して焦点の合った放射線による被検体
の散乱線画像を構成する加算平均手段とを有することを
特徴とする放射線検査装置。
【請求項４】透過性の放射線源と、該放射線源から放
射される放射線を線状のペンシルビームとしてラスター
スキャンさせる放射線走査手段と、被検体を前記ペンシ
ルビームのラスタースキャン領域を横切るように移動さ
せる移動手段と、被検体を透過したペンシルビームを検
出すべくラスタースキャン領域を覆うように配設された
透過線検出手段と、該透過線検出手段の出力を前記移動
の間に順次収集する収集手段と、該収集手段で収集され
た収集データについて加算平均処理し、前記被検体を通
る１つの面に対して焦点の合った放射線による被検体の
散乱線画像を構成する加算平均手段とを有することを特
徴とする放射線検査装置。