JPH04353791A - 散乱線映像装置 - Google Patents
散乱線映像装置Info
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- JPH04353791A JPH04353791A JP3129890A JP12989091A JPH04353791A JP H04353791 A JPH04353791 A JP H04353791A JP 3129890 A JP3129890 A JP 3129890A JP 12989091 A JP12989091 A JP 12989091A JP H04353791 A JPH04353791 A JP H04353791A
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 10
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 72
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 26
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 3
- 102100027340 Slit homolog 2 protein Human genes 0.000 description 2
- 101710133576 Slit homolog 2 protein Proteins 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 1
- 229940079593 drug Drugs 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000002360 explosive Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
- G01V5/00—Prospecting or detecting by the use of ionising radiation, e.g. of natural or induced radioactivity
- G01V5/20—Detecting prohibited goods, e.g. weapons, explosives, hazardous substances, contraband or smuggled objects
- G01V5/22—Active interrogation, i.e. by irradiating objects or goods using external radiation sources, e.g. using gamma rays or cosmic rays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/20083—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials by using a combination of at least two measurements at least one being a transmission measurement and one a scatter measurement
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- G01V5/22—Active interrogation, i.e. by irradiating objects or goods using external radiation sources, e.g. using gamma rays or cosmic rays
- G01V5/222—Active interrogation, i.e. by irradiating objects or goods using external radiation sources, e.g. using gamma rays or cosmic rays measuring scattered radiation
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】[発明の目的]
【0002】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば空港、税関等に
おいて荷物内部の禁制品の有無等を検査する散乱線映像
装置に関する。
おいて荷物内部の禁制品の有無等を検査する散乱線映像
装置に関する。
【0003】
【従来の技術】図5は、散乱線映像装置の第1の従来例
を示している。X線管101から発生したX線が、直線
コリメータ102と回転コリメータ103により、扇状
に走査されるフライングスポットペンシルビームX線1
04とされ、被検体105に照射されるようになってい
る。112は、X線管101を制御するX線制御装置で
ある。検査中、被検体105はコンベヤ108により連
続的に移動されるので、被検体105はペンシルビーム
X線104でラスタースキャンされることになる。10
7は、ペンシルビームX線104の照射により被検体1
05から生じる散乱X線106を測定する散乱線検出器
、109は、透過X線を測定する透過線検出器であり、
散乱線検出器107の出力はデータ収集装置110でA
D変換され、被検体105の散乱X線像を表わす画像デ
ータとして表示装置111のメモリに取込まれた後、画
像表示される。また、透過線検出器109の出力も、上
記と同様に、データ収集装置113でAD変換され、被
検体105の透過X線像を表わす画像データとして表示
装置111のメモリに取込まれた後、画像表示される。
を示している。X線管101から発生したX線が、直線
コリメータ102と回転コリメータ103により、扇状
に走査されるフライングスポットペンシルビームX線1
04とされ、被検体105に照射されるようになってい
る。112は、X線管101を制御するX線制御装置で
ある。検査中、被検体105はコンベヤ108により連
続的に移動されるので、被検体105はペンシルビーム
X線104でラスタースキャンされることになる。10
7は、ペンシルビームX線104の照射により被検体1
05から生じる散乱X線106を測定する散乱線検出器
、109は、透過X線を測定する透過線検出器であり、
散乱線検出器107の出力はデータ収集装置110でA
D変換され、被検体105の散乱X線像を表わす画像デ
ータとして表示装置111のメモリに取込まれた後、画
像表示される。また、透過線検出器109の出力も、上
記と同様に、データ収集装置113でAD変換され、被
検体105の透過X線像を表わす画像データとして表示
装置111のメモリに取込まれた後、画像表示される。
【0004】散乱X線像は緑で、また透過X線像は赤で
重ねて表示されるので、1つの画面でそれぞれの像を区
別して認識することが可能である。透過X線像では、ピ
ストルやナイフ等の金属製の危険物を検出することが可
能であり、散乱X線像では、透過X線像では検出できな
いプラスチック爆薬や麻薬等の禁制品物質を検出するこ
とが可能である。
重ねて表示されるので、1つの画面でそれぞれの像を区
別して認識することが可能である。透過X線像では、ピ
ストルやナイフ等の金属製の危険物を検出することが可
能であり、散乱X線像では、透過X線像では検出できな
いプラスチック爆薬や麻薬等の禁制品物質を検出するこ
とが可能である。
【0005】しかし、第1の従来例では、被検体105
に対して常時使用されるX線は、約1mm×1mmの細
いペンシルビームX線104であるため、透過X線像1
画素当りのX線積分時間は約20μsとなり、特に透過
X線像についてのX線の利用効率が低くなって画像のノ
イズが大きくなり、そのためコンベヤスピードを上げる
ことができなかった。
に対して常時使用されるX線は、約1mm×1mmの細
いペンシルビームX線104であるため、透過X線像1
画素当りのX線積分時間は約20μsとなり、特に透過
X線像についてのX線の利用効率が低くなって画像のノ
イズが大きくなり、そのためコンベヤスピードを上げる
ことができなかった。
【0006】これに対し、散乱線映像装置の第2の従来
例として、図6に示すようなものがある(米国特許第4
870670号明細書)。X線源206とコリメータ2
07で作られたX線ファンビーム205が、コンベヤ2
01で移動される被検体202に照射され、被検体20
2中のX線照射面203から四方八方に散乱X線が生じ
る。この散乱X線のうち、散乱線測定位置220から生
じたものの一部が回転円板212の回転スリット213
を通過してシンチレータ214に吸収され、可視光が発
生する。次いで、この可視光が光電変換器215で電気
信号出力に変換さることにより散乱X線が測定される。
例として、図6に示すようなものがある(米国特許第4
870670号明細書)。X線源206とコリメータ2
07で作られたX線ファンビーム205が、コンベヤ2
01で移動される被検体202に照射され、被検体20
2中のX線照射面203から四方八方に散乱X線が生じ
る。この散乱X線のうち、散乱線測定位置220から生
じたものの一部が回転円板212の回転スリット213
を通過してシンチレータ214に吸収され、可視光が発
生する。次いで、この可視光が光電変換器215で電気
信号出力に変換さることにより散乱X線が測定される。
【0007】回転円板212を回転させると回転スリッ
ト213が回転し、散乱線測定位置220が移動方向2
11の方へ移動する。回転円板212を高速で回転させ
乍ら被検体202をコンベヤ201で移動方向204の
方へゆっくりと移動させると、散乱線測定位置220が
被検体202をラスター状にスキャンし、このときの光
電変換器215からの出力がイメージプロセッサ209
に取込まれ、テレビモニタ210に被検体202の散乱
線X線像が表示される。また、これと同時に、X線ライ
ンセンサ208により透過X線が測定され、マルチプレ
クサ216及びイメージプロセッサ209を介してテレ
ビモニタ210に被検体202の透過X線像が表示され
る。
ト213が回転し、散乱線測定位置220が移動方向2
11の方へ移動する。回転円板212を高速で回転させ
乍ら被検体202をコンベヤ201で移動方向204の
方へゆっくりと移動させると、散乱線測定位置220が
被検体202をラスター状にスキャンし、このときの光
電変換器215からの出力がイメージプロセッサ209
に取込まれ、テレビモニタ210に被検体202の散乱
線X線像が表示される。また、これと同時に、X線ライ
ンセンサ208により透過X線が測定され、マルチプレ
クサ216及びイメージプロセッサ209を介してテレ
ビモニタ210に被検体202の透過X線像が表示され
る。
【0008】この第2の従来例の用途も、第1の従来例
と同様である。
と同様である。
【0009】第2の従来例では、X線ファンビーム20
5を使用しているため、X線の利用効率が高く、透過X
線像については1画素当りのX線積分時間が数msとれ
る。しかし、散乱X線については、散乱点からみた検出
器面(回転スリットの開口)の大きさ(立体角)が第1
の従来例と比べると約1/400と小さくなって測定効
率が著しく低くなり、散乱X線像についてはノイズが大
きくなってしまう。
5を使用しているため、X線の利用効率が高く、透過X
線像については1画素当りのX線積分時間が数msとれ
る。しかし、散乱X線については、散乱点からみた検出
器面(回転スリットの開口)の大きさ(立体角)が第1
の従来例と比べると約1/400と小さくなって測定効
率が著しく低くなり、散乱X線像についてはノイズが大
きくなってしまう。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】第1の従来例は、特に
透過X線像についてのX線の利用効率が低く、画像のノ
イズが大きいという問題がある。即ち、常時使用される
X線は、約1mm×1mmの細いペンシルビームX線で
あるため、透過X線像1画素当りのX線積分時間は約2
0μsで、第2の従来例と比べて約1/400であり、
画像のノイズが大きく、そのため、コンベヤスピードを
上げることができなかった。
透過X線像についてのX線の利用効率が低く、画像のノ
イズが大きいという問題がある。即ち、常時使用される
X線は、約1mm×1mmの細いペンシルビームX線で
あるため、透過X線像1画素当りのX線積分時間は約2
0μsで、第2の従来例と比べて約1/400であり、
画像のノイズが大きく、そのため、コンベヤスピードを
上げることができなかった。
【0011】また、第2の従来例は、散乱X線像につい
ての散乱X線の測定効率が著しく低く、画像のノイズが
大きいという問題がある。即ち、散乱点からみた散乱X
線検出器面(回転スリットの開口)の大きさ(立体角)
が第1の従来例と比べて約1/400と小さくなり、測
定効率が低くなって画像のノイズが大きくなってしまう
。
ての散乱X線の測定効率が著しく低く、画像のノイズが
大きいという問題がある。即ち、散乱点からみた散乱X
線検出器面(回転スリットの開口)の大きさ(立体角)
が第1の従来例と比べて約1/400と小さくなり、測
定効率が低くなって画像のノイズが大きくなってしまう
。
【0012】そこで、本発明は、散乱放射線の検出効率
が高く、画質を向上させることのできる散乱線映像装置
を提供することを目的とする。
が高く、画質を向上させることのできる散乱線映像装置
を提供することを目的とする。
【0013】[発明の構成]
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するために、放射線源から発生させた放射線を平面状放
射線ビームとして被検体に照射する放射線ビーム発生手
段と、長さ方向が前記放射線源を通る直線に合致するよ
うに配置され前記平面状放射線ビームにより前記被検体
で生じる散乱放射線を通過させるスリットと、該スリッ
トに平行な検出面を有し当該スリットを通過した前記散
乱放射線を検出する多チャンネル型の散乱線検出手段と
を有することを要旨とする。
するために、放射線源から発生させた放射線を平面状放
射線ビームとして被検体に照射する放射線ビーム発生手
段と、長さ方向が前記放射線源を通る直線に合致するよ
うに配置され前記平面状放射線ビームにより前記被検体
で生じる散乱放射線を通過させるスリットと、該スリッ
トに平行な検出面を有し当該スリットを通過した前記散
乱放射線を検出する多チャンネル型の散乱線検出手段と
を有することを要旨とする。
【0015】
【作用】放射線ビーム発生手段から発生した平面状放射
線ビームが被検体に照射される。この平面状放射線ビー
ムにより、被検体で生じる散乱放射線がスリットを通過
して散乱線検出手段の検出面に結像される。検出面はス
リットに平行に配置されているので、平面状放射線ビー
ム中の放射状の各ビーム線で生じた散乱放射線は検出面
上で互いに平行な散乱放射線像として結像される。多チ
ャンネル型の散乱線検出手段は、この平行な各散乱放射
線像を、同時に検出することになり、さらに、各散乱放
射線像をその線方向に沿って積分して、これを検出出力
とすることが可能となる。これにより散乱放射線の検出
効率が高められ、良好な画質の散乱放射線画像が得られ
る。
線ビームが被検体に照射される。この平面状放射線ビー
ムにより、被検体で生じる散乱放射線がスリットを通過
して散乱線検出手段の検出面に結像される。検出面はス
リットに平行に配置されているので、平面状放射線ビー
ム中の放射状の各ビーム線で生じた散乱放射線は検出面
上で互いに平行な散乱放射線像として結像される。多チ
ャンネル型の散乱線検出手段は、この平行な各散乱放射
線像を、同時に検出することになり、さらに、各散乱放
射線像をその線方向に沿って積分して、これを検出出力
とすることが可能となる。これにより散乱放射線の検出
効率が高められ、良好な画質の散乱放射線画像が得られ
る。
【0016】
【実施例】以下本発明の実施例を図1ないし図3に基づ
いて説明する。この実施例は、放射線としてX線が適用
されている。
いて説明する。この実施例は、放射線としてX線が適用
されている。
【0017】図1及び図2において、1は放射線源とし
てのX線管(X線焦点S)であり、X線管1の前面には
、スリット2が垂直に配置されている。X線管1とスリ
ット2により、X線管1から発生させたX線を平面状放
射線ビームであるX線ファンビーム4とするためのX線
ビーム発生手段(放射線ビーム発生手段)3が構成され
ている。X線ビーム発生手段3は、被検体5を保持して
移動させるコンベヤ11の一側方に配置されている。 而して被検体5は、X線ファンビーム4を横切るように
移動するようになっている。コンベヤ11の他側方には
、被検体5を透過した透過X線を測定するための多チャ
ンネル検出素子からなるX線ラインセンサ10が配置さ
れ、その入射側には、透過X線を通過させて多重散乱X
線をカットするための透過X線用スリット9が取付けら
れている。
てのX線管(X線焦点S)であり、X線管1の前面には
、スリット2が垂直に配置されている。X線管1とスリ
ット2により、X線管1から発生させたX線を平面状放
射線ビームであるX線ファンビーム4とするためのX線
ビーム発生手段(放射線ビーム発生手段)3が構成され
ている。X線ビーム発生手段3は、被検体5を保持して
移動させるコンベヤ11の一側方に配置されている。 而して被検体5は、X線ファンビーム4を横切るように
移動するようになっている。コンベヤ11の他側方には
、被検体5を透過した透過X線を測定するための多チャ
ンネル検出素子からなるX線ラインセンサ10が配置さ
れ、その入射側には、透過X線を通過させて多重散乱X
線をカットするための透過X線用スリット9が取付けら
れている。
【0018】また、長さ方向が、X線管1におけるX線
焦点Sを通る直線に合致するように散乱X線用スリット
7が配置され、X線入射面(検出面)8aがその散乱X
線用スリット7と平行になるように、多チャンネル型の
散乱線検出手段としてのX線テレビ8が配置されている
。X線ファンビーム4により被検体5で生じる散乱X線
6のうち、散乱X線用スリット7を通過したものがX線
路テレビ8で検出されるようになっている。
焦点Sを通る直線に合致するように散乱X線用スリット
7が配置され、X線入射面(検出面)8aがその散乱X
線用スリット7と平行になるように、多チャンネル型の
散乱線検出手段としてのX線テレビ8が配置されている
。X線ファンビーム4により被検体5で生じる散乱X線
6のうち、散乱X線用スリット7を通過したものがX線
路テレビ8で検出されるようになっている。
【0019】X線ラインセンサ10は、データ収集装置
14を介して表示装置16に接続され、これと同様に、
X線テレビ8は、データ収集装置13を介して表示装置
15に接続されている。12はX線管1を制御するX線
制御装置である。
14を介して表示装置16に接続され、これと同様に、
X線テレビ8は、データ収集装置13を介して表示装置
15に接続されている。12はX線管1を制御するX線
制御装置である。
【0020】次に、上述のように構成された散乱線映像
装置の作用を説明する。
装置の作用を説明する。
【0021】X線ビーム発生手段3で発生された厚さ約
1mmのX線ファンビーム4が透過X線用スリット9を
通ってX線ラインセンサ10に入射する。コンベヤ11
が動き、その上に載せられた被検体5がX線ファンビー
ム4を通過する。コンベヤスピードは約15m /mi
n である。被検体5がX線ファンビーム4にかかると
、X線は被検体5を透過するとともに、一部は散乱され
て四方八方へ散乱X線6が放射される。散乱X線6のう
ち、散乱X線用スリット7を通過したものがX線テレビ
8に入射する。
1mmのX線ファンビーム4が透過X線用スリット9を
通ってX線ラインセンサ10に入射する。コンベヤ11
が動き、その上に載せられた被検体5がX線ファンビー
ム4を通過する。コンベヤスピードは約15m /mi
n である。被検体5がX線ファンビーム4にかかると
、X線は被検体5を透過するとともに、一部は散乱され
て四方八方へ散乱X線6が放射される。散乱X線6のう
ち、散乱X線用スリット7を通過したものがX線テレビ
8に入射する。
【0022】コンベヤ11により被検体5を移動させ乍
ら、変化する透過X線及び散乱X線6を、それぞれX線
ラインセンサ10及びX線テレビ8により測定するが、
このとき、コンベヤ11が2mm進む時間、8msを一
区切りとして、この間の入射X線を積分して測定データ
とする。これを、以下1ラインのデータと称する。
ら、変化する透過X線及び散乱X線6を、それぞれX線
ラインセンサ10及びX線テレビ8により測定するが、
このとき、コンベヤ11が2mm進む時間、8msを一
区切りとして、この間の入射X線を積分して測定データ
とする。これを、以下1ラインのデータと称する。
【0023】X線ラインセンサ10の出力は、データ収
集装置14で約400個の各チャンネル毎に8msの間
積分されてAD変換され、オフセット補正、ゲイン補正
が行われたのち、1ラインのデータとして表示装置16
のメモリに記憶される。このとき、チャンネル方向を画
面の縦方向として画面の左端の縦1列に相当するメモリ
に記憶される。次の8ms間も同様に1ラインのデータ
がとられ、画面で前のデータの右隣りに相当するメモリ
に記憶される。同様にして、コンベヤ11が2mmづつ
進む度に次々と1ラインづつデータがとられ、1m進行
すると500ラインのデータがとられて1つの被検体5
の透過X線画像がメモリに記憶されることになり、表示
装置16の画面に透過X線像が表示される。
集装置14で約400個の各チャンネル毎に8msの間
積分されてAD変換され、オフセット補正、ゲイン補正
が行われたのち、1ラインのデータとして表示装置16
のメモリに記憶される。このとき、チャンネル方向を画
面の縦方向として画面の左端の縦1列に相当するメモリ
に記憶される。次の8ms間も同様に1ラインのデータ
がとられ、画面で前のデータの右隣りに相当するメモリ
に記憶される。同様にして、コンベヤ11が2mmづつ
進む度に次々と1ラインづつデータがとられ、1m進行
すると500ラインのデータがとられて1つの被検体5
の透過X線画像がメモリに記憶されることになり、表示
装置16の画面に透過X線像が表示される。
【0024】上記と同様にして、X線テレビ8のデータ
も1ラインづつとられるが、このときの状況を図3の(
a),(b)を参照して説明する。X線ファンビーム4
中の線A上で散乱された散乱X線は、散乱X線用スリッ
ト7を通過してX線テレビ8のX線入射面8a上で線a
上に集まる。同様に、線B、線C上でそれぞれ散乱され
た散乱X線は、線b,線c上に集まる。X線入射面8a
は、散乱X線用スリット7に平行に配置されているので
、X線ファンビーム4中の放射状の各ビーム線A,B,
Cは、X線入射面8a上で平行線a,b,cの散乱X線
像として結像する。
も1ラインづつとられるが、このときの状況を図3の(
a),(b)を参照して説明する。X線ファンビーム4
中の線A上で散乱された散乱X線は、散乱X線用スリッ
ト7を通過してX線テレビ8のX線入射面8a上で線a
上に集まる。同様に、線B、線C上でそれぞれ散乱され
た散乱X線は、線b,線c上に集まる。X線入射面8a
は、散乱X線用スリット7に平行に配置されているので
、X線ファンビーム4中の放射状の各ビーム線A,B,
Cは、X線入射面8a上で平行線a,b,cの散乱X線
像として結像する。
【0025】X線入射面8a上での散乱X線像a,b,
cは、縦方向がX線ファンビーム4の各ビームA,B,
Cの角度に対応しており、横方向の散乱X線像に沿って
X線テレビ8の水平走査方向がとられている。走査は8
ms周期のラスタースキャンで行われ、X線テレビ8の
出力は、データ収集装置13で横方向の走査、約20μ
s間の出力が積分されてからAD変換され、縦方向に約
400個のデータが収集される。400個のデータは、
それぞれオフセット補正、ゲイン補正が行われ、1ライ
ンのデータとして表示装置15のメモリに記憶される。 このとき、データは画面の左端の縦1列に相当するメモ
リに記憶される。次の8ms間も同様に1ラインのデー
タがとられ、画面で前のデータの右隣りに相当するメモ
リに記憶される。同様に、コンベヤ11が2mmづつ進
む度に次々と1ラインづつデータがとられ、1m進むと
500ラインのデータがとられ、1つの被検体5の散乱
X線画像がメモリに記憶されることになり、表示装置1
5の画面に散乱X線像が表示される。
cは、縦方向がX線ファンビーム4の各ビームA,B,
Cの角度に対応しており、横方向の散乱X線像に沿って
X線テレビ8の水平走査方向がとられている。走査は8
ms周期のラスタースキャンで行われ、X線テレビ8の
出力は、データ収集装置13で横方向の走査、約20μ
s間の出力が積分されてからAD変換され、縦方向に約
400個のデータが収集される。400個のデータは、
それぞれオフセット補正、ゲイン補正が行われ、1ライ
ンのデータとして表示装置15のメモリに記憶される。 このとき、データは画面の左端の縦1列に相当するメモ
リに記憶される。次の8ms間も同様に1ラインのデー
タがとられ、画面で前のデータの右隣りに相当するメモ
リに記憶される。同様に、コンベヤ11が2mmづつ進
む度に次々と1ラインづつデータがとられ、1m進むと
500ラインのデータがとられ、1つの被検体5の散乱
X線画像がメモリに記憶されることになり、表示装置1
5の画面に散乱X線像が表示される。
【0026】上述のように、この実施例によれば、散乱
X線及び透過X線の測定効率が高くなるので、良好な画
質の散乱X線像及び透過X線像が得られる。表1は、散
乱X線像及び透過X線像に対するメリット値を、前記第
1、第2の従来例と比較して示している。ここで、メリ
ット値とは、1画素に用いられる測定X線フォトン数に
比例した相対値であり、散乱X線像については、第1の
従来例を1とし、透過X線像については第2の従来例を
1とした値である。
X線及び透過X線の測定効率が高くなるので、良好な画
質の散乱X線像及び透過X線像が得られる。表1は、散
乱X線像及び透過X線像に対するメリット値を、前記第
1、第2の従来例と比較して示している。ここで、メリ
ット値とは、1画素に用いられる測定X線フォトン数に
比例した相対値であり、散乱X線像については、第1の
従来例を1とし、透過X線像については第2の従来例を
1とした値である。
【0027】
【表1】
【0028】表1から、この実施例では、散乱X線及び
透過X線の両者ともに測定効率の高いことが分る。
透過X線の両者ともに測定効率の高いことが分る。
【0029】図4には、散乱線検出器の変形例を示す。
【0030】上述の実施例では、多チャンネルの散乱線
検出器としてX線テレビを用いたが、各チャンネルのセ
ンサ面が細長く、互いに平行に作られたものであれば、
その他の構造のものも適用することができる。図4の変
形例の散乱線検出器は、フォトダイオードアレーからな
る可視光ラインセンサ22と、その上に取付けられた線
状のシンチレータ21とで構成され、シンチレータ21
の表面には、アルミ23の蒸着が行われて反射及び遮光
が施されている。
検出器としてX線テレビを用いたが、各チャンネルのセ
ンサ面が細長く、互いに平行に作られたものであれば、
その他の構造のものも適用することができる。図4の変
形例の散乱線検出器は、フォトダイオードアレーからな
る可視光ラインセンサ22と、その上に取付けられた線
状のシンチレータ21とで構成され、シンチレータ21
の表面には、アルミ23の蒸着が行われて反射及び遮光
が施されている。
【0031】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
被検体で生じる散乱放射線を通過させるスリットを、そ
の長さ方向が放射線源を通る直線に合致するように配置
し、このスリットを通過した散乱放射線を検出する多チ
ャンネル型の散乱線検出手段を、その検出面が前記スリ
ットに平行になるように配設したため、平面状放射線ビ
ーム中の放射状の各ビーム線で生じた散乱放射線が、検
出面上で互いに平行な散乱放射線像として結像され、多
チャンネル型の散乱線検出手段は、その平行な各散乱放
射線像を同時に検出するとともに、各散乱放射線像をそ
の線方向に沿って積分してこれを検出出力とすることが
可能となる。したがって散乱放射線の検出効率が高くな
って散乱放射線画像の画質を向上させることができる。
被検体で生じる散乱放射線を通過させるスリットを、そ
の長さ方向が放射線源を通る直線に合致するように配置
し、このスリットを通過した散乱放射線を検出する多チ
ャンネル型の散乱線検出手段を、その検出面が前記スリ
ットに平行になるように配設したため、平面状放射線ビ
ーム中の放射状の各ビーム線で生じた散乱放射線が、検
出面上で互いに平行な散乱放射線像として結像され、多
チャンネル型の散乱線検出手段は、その平行な各散乱放
射線像を同時に検出するとともに、各散乱放射線像をそ
の線方向に沿って積分してこれを検出出力とすることが
可能となる。したがって散乱放射線の検出効率が高くな
って散乱放射線画像の画質を向上させることができる。
【図1】本発明に係る散乱線映像装置の実施例の構成を
示す斜視図である。
示す斜視図である。
【図2】上記実施例のシステム構成を一部ブロックで示
す図である。
す図である。
【図3】上記実施例の作用を説明するための図である。
【図4】散乱線検出器の変形例を示す図である。
【図5】散乱線映像装置の第1の従来例を示す斜視図で
ある。
ある。
【図6】散乱線映像装置の第2の従来例を示す斜視図で
ある。
ある。
1 X線管(放射線源)
3 X線ビーム発生手段(放射線ビーム発生手段)4
X線ファンビーム(平面状放射線ビーム)5 被
検体 6 散乱X線(散乱放射線) 7 散乱X線用スリット 8 X線テレビ(散乱線検出手段) 8a X線入射面(検出面) 10 X線ラインセンサ
X線ファンビーム(平面状放射線ビーム)5 被
検体 6 散乱X線(散乱放射線) 7 散乱X線用スリット 8 X線テレビ(散乱線検出手段) 8a X線入射面(検出面) 10 X線ラインセンサ
Claims (1)
- 【請求項1】 放射線源から発生させた放射線を平面
状放射線ビームとして被検体に照射する放射線ビーム発
生手段と、長さ方向が前記放射線源を通る直線に合致す
るように配置され前記平面状放射線ビームにより前記被
検体で生じる散乱放射線を通過させるスリットと、該ス
リットに平行な検出面を有し当該スリットを通過した前
記散乱放射線を検出する多チャンネル型の散乱線検出手
段とを有することを特徴とする散乱線映像装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3129890A JPH04353791A (ja) | 1991-05-31 | 1991-05-31 | 散乱線映像装置 |
DE4217359A DE4217359C2 (de) | 1991-05-31 | 1992-05-26 | Einrichtung zur Inspektion eines Gegenstandes |
US07/890,144 US5260981A (en) | 1991-05-31 | 1992-05-29 | Device for inspecting an article |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3129890A JPH04353791A (ja) | 1991-05-31 | 1991-05-31 | 散乱線映像装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04353791A true JPH04353791A (ja) | 1992-12-08 |
Family
ID=15020888
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3129890A Pending JPH04353791A (ja) | 1991-05-31 | 1991-05-31 | 散乱線映像装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5260981A (ja) |
JP (1) | JPH04353791A (ja) |
DE (1) | DE4217359C2 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4445679B4 (de) * | 1994-12-21 | 2005-08-04 | Philips Intellectual Property & Standards Gmbh | Anordnung zum Messen des Impulsübertragungsspektrums von elastisch gestreuten Röntgenquanten |
DE19504952B4 (de) * | 1995-02-15 | 2005-06-23 | Philips Intellectual Property & Standards Gmbh | Anordnung zum Messen von in einem Untersuchungsbereich elastisch gestreuten Röntgenquanten |
US5600700A (en) * | 1995-09-25 | 1997-02-04 | Vivid Technologies, Inc. | Detecting explosives or other contraband by employing transmitted and scattered X-rays |
US5642393A (en) * | 1995-09-26 | 1997-06-24 | Vivid Technologies, Inc. | Detecting contraband by employing interactive multiprobe tomography |
US5974111A (en) * | 1996-09-24 | 1999-10-26 | Vivid Technologies, Inc. | Identifying explosives or other contraband by employing transmitted or scattered X-rays |
WO2000033109A1 (en) * | 1998-11-30 | 2000-06-08 | American Science And Engineering, Inc. | Fan and pencil beams from a common source for x-ray inspection |
US7072440B2 (en) * | 2001-10-19 | 2006-07-04 | Control Screening, Llc | Tomographic scanning X-ray inspection system using transmitted and Compton scattered radiation |
US6661867B2 (en) | 2001-10-19 | 2003-12-09 | Control Screening, Llc | Tomographic scanning X-ray inspection system using transmitted and compton scattered radiation |
US7282713B2 (en) * | 2004-06-10 | 2007-10-16 | General Electric Company | Compositions and methods for scintillator arrays |
EP2562535A1 (en) * | 2006-08-28 | 2013-02-27 | Detection Systems Pty.Ltd. | Detection apparatus and method |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3763460D1 (de) * | 1986-11-26 | 1990-08-02 | Heimann Gmbh | Roentgenscanner. |
DE8631620U1 (de) * | 1986-11-26 | 1988-05-11 | Heimann Gmbh, 6200 Wiesbaden | Röntgenscanner |
DE8717508U1 (de) * | 1987-10-19 | 1989-01-05 | Heimann Gmbh, 6200 Wiesbaden | Röntgenscanner |
US5022062A (en) * | 1989-09-13 | 1991-06-04 | American Science And Engineering, Inc. | Automatic threat detection based on illumination by penetrating radiant energy using histogram processing |
-
1991
- 1991-05-31 JP JP3129890A patent/JPH04353791A/ja active Pending
-
1992
- 1992-05-26 DE DE4217359A patent/DE4217359C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1992-05-29 US US07/890,144 patent/US5260981A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5260981A (en) | 1993-11-09 |
DE4217359A1 (de) | 1993-02-18 |
DE4217359C2 (de) | 1996-07-04 |
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