JP2002168803A - X線異物検出装置 - Google Patents

X線異物検出装置

Info

Publication number
JP2002168803A
JP2002168803A JP2000365460A JP2000365460A JP2002168803A JP 2002168803 A JP2002168803 A JP 2002168803A JP 2000365460 A JP2000365460 A JP 2000365460A JP 2000365460 A JP2000365460 A JP 2000365460A JP 2002168803 A JP2002168803 A JP 2002168803A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
rays
foreign matter
sensors
quality
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000365460A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Abe
俊 阿部
Tomoyasu Otsuki
智保 大槻
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Anritsu Corp
Original Assignee
Anritsu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Anritsu Corp filed Critical Anritsu Corp
Priority to JP2000365460A priority Critical patent/JP2002168803A/ja
Publication of JP2002168803A publication Critical patent/JP2002168803A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【課題】 検出すべき異物に制限されず高感度の異物検
出を行う。 【解決手段】 単一のX線発生部1に対し、X線発生部
1からのX線を受ける複数のX線センサ2a,2bを設
け、X線発生部1から各X線センサ2a,2bに至るそ
れぞれのX線の線質を異ならせる線質可変体8を備え
る。そして、搬送部3にて搬送される被検査物WにX線
を曝射し、このX線の曝射に伴って被検査物Wを透過し
た線質の異なる各X線をそれぞれ各X線センサ2a,2
bで検出して、これらX線の透過量から被検査物W中の
異物の有無を検出する。この際、線質可変体8による異
なるX線の線質に応じて、例えばX線を透過し易い異物
と、X線を透過し難い異物とをそれぞれ別に検出するこ
とができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば生肉、魚、
加工食品、医薬などの各品種の被検査物に対し、X線を
曝射したときのX線の透過量から被検査物中の異物を検
出するX線異物検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、例えば生肉、魚、加工食品、
医薬などの各品種の被検査物中(表面も含む)の異物
(金属,骨,ガラス,石,合成樹脂材等)を検出するた
めにX線異物検出装置が用いられている。この種のX線
異物検出装置は、装置本体の上側にX線発生部を取り付
け、且つ、装置本体におけるX線発生部の下側となる位
置にX線検出部を取り付けている。これにより、X線発
生部から曝射されたX線をX線検出部にて受けるように
している。また、装置本体には、曝射されたX線の間に
被検査物を通す搬送部が取り付けられている。搬送部
は、装置本体における搬送方向の前後となる位置にそれ
ぞれローラを配し、このローラの間にベルトを掛け回し
ている。ローラの何れかは、装置本体に取り付けられた
モータ等の駆動機が連結されて駆動される。ベルトは、
ローラの駆動により循環する。これにより、X線異物検
出装置は、ベルト上を搬送された被検査物にX線を曝射
し、この被検査物を透過した透過X線をX線検出部にて
受けることで被検査物中に含まれる異物を検出する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来のX線異物検出装置では、X線発生部とX線検出
部がそれぞれ単一で対をなしている。これにより、曝射
されるX線の線質は単一であり、このX線によって検出
される異物に制限が生じるという問題がある。
【0004】具体的には、加工食品に異物がある場合、
この異物がその加工食品に元からあるはずのない金属な
どであればこれを確実に検出する必要がある。ところ
が、金属を強調するようにX線の線質を設定すると、今
度はその加工食品に元からあった骨や殻などを検出する
ことが困難となる。また、上記の如く金属などを強調す
る線質の場合、小さい異物や薄い異物の検出も困難とな
る。
【0005】そこで本発明は、上記課題を解消するため
に、検出すべき異物に制限を生じさせずに高感度の異物
検出を行うことができるX線異物検出装置を提供するこ
とを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明による請求項1に記載のX線異物検出装置は、搬
送される被検査物WにX線を曝射し、このX線の曝射に
伴って前記被検査物Wを透過するX線の透過量から前記
被検査物W中の異物の有無を検出するX線異物検出装置
において、単一のX線発生部1と、前記X線発生部1か
らのX線を受ける複数のX線センサ2a,2bと、前記
X線発生部1から前記各X線センサ2a,2bに至るそ
れぞれのX線の線質を異ならせる線質可変体8と、を備
えたことを特徴とする。
【0007】請求項2に記載のX線異物検出装置は、請
求項1に記載のX線異物検出装置において、前記線質可
変体8が、前記被検査物Wを透過した後のX線を受ける
前記X線センサ2a,2bに配されていることを特徴と
する。
【0008】請求項3に記載のX線異物検出装置は、請
求項1に記載のX線異物検出装置において、前記X線発
生部1から曝射されるX線を前記各X線センサ2a,2
bにそれぞれ向けて集束する集束部15a,15bを備
え、前記線質可変体8が、前記集束部15a,15bに
配されていることを特徴とする。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して具体的に説明する。図1は本発明のX線異物
検出装置の一例を示す斜視図、図2は図1における概略
正面図である。
【0010】図1および図2に示すように、X線異物検
出装置は、主に、X線を発生するX線発生部1と、X線
発生部1からのX線を受けるX線検出部2と、X線発生
部1からX線検出部2の間に被検査物Wを搬送する搬送
部3とからなる。
【0011】X線発生部1は、X線を発生するX線管4
の周囲を、遮蔽板にて覆うことにより、X線の漏洩を防
ぐように構成されている。遮蔽板は、鉛等の遮蔽材が内
貼りされてなる。X線発生部1は、X線異物検出装置の
本体をなす筐体5の上部に配置され、図2に示すX線曝
射口1aから下方に向けてX線を曝射させる。X線は、
図1および図2に一点鎖線で示すように、X線管4から
下方に広がる略円錐状に曝射する。また、X線発生部1
では、X線を発生した際に生じる熱を冷却フィン(不図
示)にて放熱する。
【0012】X線検出部2は、複数(本実施の形態では
二つ)のX線センサ2a,2bを備えている。各X線セ
ンサ2a,2bは、ライン状に形成され、X線異物検出
装置の本体をなす筐体5の下部にて、上記X線発生部1
から略円錐状に曝射されたX線を受けるの範囲内で併設
されている。
【0013】各X線センサ2a,2bは、金属箱6内に
収容されている。金属箱6は、略平坦に形成された上面
6aにスリット7a,7bを有している。スリット7
a,7bは、上面6aの板金における各X線センサ2
a,2bのそれぞれの上側位置に、各X線センサ2a,
2bの配置に沿って穿設された長穴を有し、この長穴に
X線を透過させる樹脂材がシリコン材等で防水されて取
り付けられてなる。このスリット7a、7bは、X線発
生部1から曝射された面状のX線を、金属箱6内に配置
された各X線センサ2a,2bに向けて透過する。
【0014】各X線センサ2a,2bは、図示しない
が、ライン状に配列された複数のフォトダイオードと、
フォトダイオード上に設けられたシンチレータとを備え
たアレイ状のラインセンサが用いられる。この種の構成
では、搬送された被検査物Wに対してX線が曝射された
時、被検査物Wを透過してくるX線をシンチレータで受
けて光に変換する。シンチレータで変換された光は、フ
ォトダイオードによって受光される。各フォトダイオー
ドは、受光した光を電気信号に変換して出力する。この
X線センサ2a,2bによるそれぞれの電気信号は、制
御手段14に入力される。
【0015】図2に示すように、X線センサ2a側に
は、X線の線質を異ならせる線質可変体8が設けられて
いる。この線質可変体8は、例えば、アルミニウムなど
の金属や、カーボンや樹脂材が薄板状に形成されたフィ
ルタをなしている。そして、線質可変体8は、X線セン
サ2aのX線を受けるべき部位であって、例えば上記シ
ンチレータ上面、あるいはスリット7aを覆うように配
される。線質可変体8は、X線センサ2aで受けるX線
をの透過量を減衰させる。これにより、X線センサ2a
で受けるX線と、X線センサ2bで受けるX線の線質を
異ならせることとなる。なお、本実施の形態では、線質
可変体8は、X線センサ2a側にのみ設けられている
が、各X線センサ2a,2bにて受けるX線の線質が異
なる別の種類の線質可変体8を各X線センサ2a,2b
それぞれに設けてもよい。
【0016】搬送部3は、X線発生部1からX線検出部
2(X線センサ2a,2b)に向けて曝射されたX線に
被検査物を通過させるものである。図1および図2に示
すように、搬送部3は、ローラ9(9a,9b,9c,
9d)と、モータユニット10と、搬送ベルト11とか
らなる。また、搬送部3を構成するローラ8及び搬送ベ
ルト11は、X線検出部2が収容された金属箱6に対し
て取り付けられている。この搬送部3は、モータユニッ
ト10の駆動により、ローラ9dが回転し、各ローラ9
a,9b,9c,9d間に張設された搬送ベルト11を
一方向(図1および図2中矢印方向)に循環させる。こ
の搬送ベルト11の循環方向は、上記ライン状の各X線
センサ2a,2bに直交する方向となる。また、搬送ベ
ルト11は、金属箱6の上面6aに沿って循環する。こ
れにより、搬送ベルト11の上に送られた被検査物W
は、金属箱6の上面6aを支持面として、X線発生部1
からX線検出部2(X線センサ2a,2b)に至るX線
の間を通過する。
【0017】なお、図1に示すように、X線検出部2を
収容する金属箱6、及び金属箱6に取り付けられた搬送
部3の構成は、筐体5の下部に配された前後及び正面の
カバー12によってX線の漏洩を防ぐように覆われてい
る。また、カバー12には、ローラ9a,9dおよび、
その上側にかけて開口して、被検査物Wを通過させる開
口部13が形成されている。
【0018】上述した構成のX線異物検出装置では、被
検査物Wが一方の開口部13から搬送部3の搬送ベルト
11上に搬入されると、搬送ベルト11上での搬送過程
において被検査物WにX線発生部1からX線が曝射され
る。このX線の曝射に伴って被検査物Wを透過してくる
X線は、X線検出部2の各X線センサ2a,2bによっ
て検出される。
【0019】制御手段14では、各X線センサ2a,2
bによって検出されたX線の透過量に応じた電気信号に
基づいて被検査物W中(表面も含む)に異物があるか否
かを判別し、この判別結果から良品(異物なし)又は不
良品(異物あり)を示す選別信号などを外部出力する。
そして、上記検査を終えた被検査物Wは、他方の開口部
13から搬出された後、制御手段14から出力される選
別信号に応じて良品と不良品とに選別される。
【0020】ここで、線質可変体8が設けられたX線セ
ンサ2aでは、透過量が減衰されたX線を受け、このX
線の透過量に応じた電気信号を制御手段14に出力して
いる。また、X線センサ2bでは、線質可変体8がない
ので、透過量が減衰されていないX線を受け、このX線
の透過量に応じた電気信号を制御手段14に出力してい
る。具体的には、例えば、加工食品である被検査物W中
(表面も含む)にある異物の種類が、加工食品に元から
あった骨や貝殻などと、加工食品に元からあるはずのな
い金属などがあるとする。この場合、透過量が減衰され
たX線を受けるX線センサ2a側で出力する電気信号
は、X線を透過し易い骨や貝殻など(小さい異物や薄い
異物)にかかる信号が含まれず、X線を透過し難い金属
などにかかる信号が強調されることとなる。一方、透過
量が減衰されていないX線を受けるX線センサ2b側で
出力する電気信号には、X線が透過し易い骨や貝殻など
にかかる信号も含まれることとなる。
【0021】これにより、制御手段14では、X線セン
サ2aとX線センサ2bからの二種類の電気信号を入力
する。そして、制御手段14は、良品と不良品とを示す
選別信号に加えて、不良品と選別した被検査物Wの異物
が、骨や貝殻など(小さい異物や薄い異物)のみである
か、あるいは金属などのみであるか、また、骨や貝殻な
ど(小さい異物や薄い異物)および金属など双方を含む
ものであるかの判別信号を外部出力する。そして、不良
品と選別された被検査物Wは、制御手段14から出力さ
れる判別信号毎に分別される。
【0022】したがって、上述したX線異物検出装置で
は、異なる線質のX線を受けるX線センサ2a,2bを
有することにより、X線を透過し易い異物(骨や貝殻な
どおよび小さい異物や薄い異物)と、X線を透過し難い
異物(金属など)とをそれぞれ別に検出することが可能
なため、検出すべき異物に制限されずに高感度の異物検
出を行うことができる。
【0023】また、X線検出部2にて複数のX線センサ
2a,2bを有するが、X線発生部1に関しては単一で
あるため、X線発生部1とX線検出部2とが共に単一で
ある従来のX線異物検出装置と比較して、大幅にコスト
増すことなく上記効果を得ることが可能である。
【0024】ところで、上述した実施の形態では、X線
発生部1から円錐状に曝射したX線を各X線センサ2
a,2bにて受ける構成としているが、このX線を各X
線センサ2a,2b毎に分けて曝射することも可能であ
る。この場合、図3および図4に示すように、X線発生
部1のX線曝射口1a部分に、円錐状に曝射されるX線
を各X線センサ2a,2bにそれぞれ向けて集束する集
束部15a,15bが設けられている。この集束部15
a,15bは、X線曝射口1aから円錐状に曝射される
X線を所定の幅を有したスリットによって図3および図
4中一端鎖線で示すように、下方に広がる面状として曝
射する。これにより、搬送部3側へのX線の曝射範囲
が、図4にて破線で示す範囲から一点鎖線で示す如く抑
えられる。そして、面状に曝射された各X線は、各々X
線センサ2a、2bが受ける。
【0025】このように構成したX線異物検出装置で
は、検出すべき異物に制限をされずに高感度の異物検出
を行うことができる上記効果を得るとともに、集束部1
5a,15bによって搬送部3側へのX線の曝射範囲を
抑えたので、搬送部3にて搬送される被検査物WへのX
線の曝射量を少なくすることができる。また、搬送部3
側へのX線の曝射範囲を抑えたことにより、各開口部1
3からのX線の漏洩も抑えることが可能となる。
【0026】また、集束部15a,15bを設けた構成
のX線異物検出装置では、線質可変体8をX線センサ2
a側に設ける以外に、図4に示すように、集束部15a
(あるいは集束部15b)側に設けることも可能とな
る。このように、線質可変体8を集束部15a側に設け
ることにより、被検査物Wが通過するX線の透過量が減
衰するので、搬送部3にて搬送される被検査物WへのX
線の曝射量を少なくすることができる。なお、線質可変
体8をX線センサ2a側に設けた場合には、各X線セン
サ2a,2bを近接させることが可能となるので、X線
検出部2の小型化を図ることができる。
【0027】
【発明の効果】以上説明したように本発明によるX線異
物検出装置は、異なる線質のX線を受ける複数のX線セ
ンサを有することにより、X線の線質に応じて、例えば
X線を透過し易い異物と、X線を透過し難い異物とをそ
れぞれ別に検出できるので、検出すべき異物に制限され
ず高感度の異物検出を行うことができる。
【0028】また、単一のX線発生部のX線を複数のX
線センサで受けるように構成されているので、X線発生
部とX線検出部とが共に単一であるX線異物検出装置と
比較して、大幅にコスト増すことなく上記効果を得るこ
とが可能である。
【0029】また、線質可変体が、被検査物を透過した
後のX線を受けるX線センサ側に設けられているので、
X線発生部からのX線の曝射範囲内で各X線センサを近
接させて小型化を図ることができる。
【0030】また、X線発生部から曝射されるX線を各
X線センサにそれぞれ向けて集束する集束部に線質可変
体を配したことにより、X線の曝射範囲を抑えて被検査
物へのX線の曝射量を少なくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のX線異物検出装置の一例を示す斜視
図。
【図2】図1における概略正面図。
【図3】本発明のX線異物検出装置の他の例を示す斜視
図。
【図4】図3における概略正面図。
【符号の説明】
1…X線発生部、2a,2b…X線センサ、8…線質可
変体、15a,15b…集束部。
フロントページの続き Fターム(参考) 2G001 AA01 BA11 CA01 DA06 DA08 EA06 GA01 HA12 HA13 JA09 JA11 KA04 LA01 PA11 RA03 SA02 SA04 SA14

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 搬送される被検査物(W)にX線を曝射
    し、このX線の曝射に伴って前記被検査物を透過するX
    線の透過量から前記被検査物中の異物の有無を検出する
    X線異物検出装置において、 単一のX線発生部(1)と、 前記X線発生部からのX線を受ける複数のX線センサ
    (2a,2b)と、 前記X線発生部から前記各X線センサに至るそれぞれの
    X線の線質を異ならせる線質可変体(8)と、 を備えたことを特徴とするX線異物検出装置。
  2. 【請求項2】 前記線質可変体(8)が、前記被検査物
    (W)を透過した後のX線を受ける前記X線センサ(2
    a,2b)側に配されていることを特徴とする請求項1
    に記載のX線異物検出装置。
  3. 【請求項3】 前記X線発生部(1)から曝射されるX
    線を前記各X線センサ(2a,2b)にそれぞれ向けて
    集束する集束部(15a,15b)を備え、前記線質可
    変体(8)が、前記集束部に配されていることを特徴と
    する請求項1に記載のX線異物検出装置。
JP2000365460A 2000-11-30 2000-11-30 X線異物検出装置 Pending JP2002168803A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000365460A JP2002168803A (ja) 2000-11-30 2000-11-30 X線異物検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000365460A JP2002168803A (ja) 2000-11-30 2000-11-30 X線異物検出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002168803A true JP2002168803A (ja) 2002-06-14

Family

ID=18836225

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000365460A Pending JP2002168803A (ja) 2000-11-30 2000-11-30 X線異物検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002168803A (ja)

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004333266A (ja) * 2003-05-07 2004-11-25 Ishida Co Ltd X線検査装置
JP2005257423A (ja) * 2004-03-11 2005-09-22 Toshiba Corp 欠陥検出装置
JP2006046921A (ja) * 2004-07-30 2006-02-16 Anritsu Sanki System Co Ltd X線異物検出装置
WO2010055727A1 (ja) * 2008-11-11 2010-05-20 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出装置、放射線画像取得システム、放射線検査システム、及び放射線検出方法
WO2010055728A1 (ja) * 2008-11-11 2010-05-20 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出装置、放射線画像取得システム及び放射線の検出方法
JP2011145253A (ja) * 2010-01-18 2011-07-28 Anritsu Sanki System Co Ltd X線異物検出装置およびx線異物検出方法
JP2012122927A (ja) * 2010-12-10 2012-06-28 Anritsu Sanki System Co Ltd X線異物検出装置
JP2014041157A (ja) * 2013-11-08 2014-03-06 Hamamatsu Photonics Kk 放射線検出装置、放射線画像取得システム、放射線検査システム、及び放射線検出方法
WO2015049765A1 (ja) * 2013-10-03 2015-04-09 株式会社システムスクエア 包装体の検査装置
JP2017116282A (ja) * 2015-12-21 2017-06-29 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出装置、放射線検査システム、及び、放射線検出装置の調整方法
WO2017110508A1 (ja) 2015-12-21 2017-06-29 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出装置、放射線検査システム、及び、放射線検出装置の調整方法
JP2020034574A (ja) * 2019-11-20 2020-03-05 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出装置、放射線検査システム、及び、放射線検出装置の調整方法
JPWO2019235022A1 (ja) * 2018-06-08 2021-06-17 株式会社イシダ 検査装置
CN113030130A (zh) * 2021-02-24 2021-06-25 中国水产科学研究院渔业机械仪器研究所 一种贝类肥满度判别的方法及系统

Cited By (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004333266A (ja) * 2003-05-07 2004-11-25 Ishida Co Ltd X線検査装置
JP2005257423A (ja) * 2004-03-11 2005-09-22 Toshiba Corp 欠陥検出装置
JP2006046921A (ja) * 2004-07-30 2006-02-16 Anritsu Sanki System Co Ltd X線異物検出装置
US10393676B2 (en) 2008-11-11 2019-08-27 Hamamatsu Photonics K.K. Radiation detection device, radiation image acquiring system, radiation inspection system, and radiation detection method
WO2010055728A1 (ja) * 2008-11-11 2010-05-20 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出装置、放射線画像取得システム及び放射線の検出方法
JP2010117170A (ja) * 2008-11-11 2010-05-27 Hamamatsu Photonics Kk 放射線検出装置、放射線画像取得システム、放射線検査システム、及び放射線検出方法
JP2010117172A (ja) * 2008-11-11 2010-05-27 Hamamatsu Photonics Kk 放射線検出装置、放射線画像取得システム及び放射線の検出方法
US8223922B2 (en) 2008-11-11 2012-07-17 Hamamatsu Photonics K.K. Radiation detection device, radiation image acquiring system, radiation inspection system, and radiation detection method
US8280005B2 (en) 2008-11-11 2012-10-02 Hamamatsu Photonics K.K. Radiation detection device, radiation image acquiring system, and method for detecting radiation
US8600005B2 (en) 2008-11-11 2013-12-03 Hamamatsu Photonics K.K. Radiation detection device, radiation image acquiring system, and method for detecting radiation
EP3128315A1 (en) * 2008-11-11 2017-02-08 Hamamatsu Photonics K.K. Radiation detection device, radiation image acquisition system, radiation inspection system, and radiation detection method
US8964939B2 (en) 2008-11-11 2015-02-24 Hamamatsu Photonics K.K. Radiation detection device, radiation image acquiring system, radiation inspection system, and radiation detection method
WO2010055727A1 (ja) * 2008-11-11 2010-05-20 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出装置、放射線画像取得システム、放射線検査システム、及び放射線検出方法
US9594031B2 (en) 2008-11-11 2017-03-14 Hamamatsu Photonics K.K. Radiation detection device, radiation image acquiring system, radiation inspection system, and radiation detection method
JP2011145253A (ja) * 2010-01-18 2011-07-28 Anritsu Sanki System Co Ltd X線異物検出装置およびx線異物検出方法
JP2012122927A (ja) * 2010-12-10 2012-06-28 Anritsu Sanki System Co Ltd X線異物検出装置
WO2015049765A1 (ja) * 2013-10-03 2015-04-09 株式会社システムスクエア 包装体の検査装置
US9733384B2 (en) 2013-10-03 2017-08-15 System Square Inc. Package inspection system
JP5720028B1 (ja) * 2013-10-03 2015-05-20 株式会社 システムスクエア 包装体の検査装置
CN104718447A (zh) * 2013-10-03 2015-06-17 世高株式会社 包装体的检查装置
EP3045897B1 (en) 2013-10-03 2019-07-03 System Square Inc. Package inspection device
JP2014041157A (ja) * 2013-11-08 2014-03-06 Hamamatsu Photonics Kk 放射線検出装置、放射線画像取得システム、放射線検査システム、及び放射線検出方法
WO2017110507A1 (ja) 2015-12-21 2017-06-29 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出装置、放射線検査システム、及び、放射線検出装置の調整方法
WO2017110508A1 (ja) 2015-12-21 2017-06-29 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出装置、放射線検査システム、及び、放射線検出装置の調整方法
JP2017116282A (ja) * 2015-12-21 2017-06-29 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出装置、放射線検査システム、及び、放射線検出装置の調整方法
US10444166B2 (en) 2015-12-21 2019-10-15 Hamamatsu Photonics K.K. Radiation detection device, radiation inspection system, and method for adjusting radiation detection device
US10677938B2 (en) 2015-12-21 2020-06-09 Hamamatsu Photonics K.K. Radiation detection device, radiation inspection system, and method for adjusting radiation detection device
JPWO2019235022A1 (ja) * 2018-06-08 2021-06-17 株式会社イシダ 検査装置
JP2020034574A (ja) * 2019-11-20 2020-03-05 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出装置、放射線検査システム、及び、放射線検出装置の調整方法
CN113030130A (zh) * 2021-02-24 2021-06-25 中国水产科学研究院渔业机械仪器研究所 一种贝类肥满度判别的方法及系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2002168803A (ja) X線異物検出装置
JP2002365368A (ja) X線検出器及び該検出器を用いたx線異物検出装置
US7593504B2 (en) X-ray inspection apparatus
JP3715524B2 (ja) X線異物検出装置
WO2006137919A2 (en) Contaminant detector for food inspection
JP6621657B2 (ja) 放射線検出装置、放射線検査システム、及び、放射線検出装置の調整方法
US20160041110A1 (en) X-ray transmission inspection apparatus and extraneous substance detecting method
JPH0949883A (ja) 異物検査装置
JP3011360B2 (ja) X線非破壊検査装置
KR101806954B1 (ko) 초점 조절 콜리메이터 구조의 엑스레이 검사 튜브
JP2000074856A (ja) X線異物検査装置
JP2009236633A (ja) X線異物検査装置
US5603414A (en) Detecting diamonds in a rock sample
JP2002310944A (ja) 放射線検査装置
JP2000241368A (ja) X線検査装置
JP2007212366A (ja) 被検部厚の検査方法及び装置
JP2000266695A (ja) ゆで卵検査装置
JP2002082199A (ja) 放射線検査装置
JP2006329822A (ja) 電磁波検出器およびこれを備えた検査装置
JP6506629B2 (ja) X線受光装置およびこれを備えたx線検査装置
JP2010122103A (ja) X線検査方法およびx線検査装置
JP2004061479A (ja) X線異物検出装置
JP6781323B2 (ja) 放射線検出装置、放射線検査システム、及び、放射線検出装置の調整方法
JP2004333286A (ja) X線異物検出装置
JP2004028961A (ja) X線異物検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050316

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050628

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20051101