JP2004333286A

JP2004333286A - Ｘ線異物検出装置

Info

Publication number: JP2004333286A
Application number: JP2003129412A
Authority: JP
Inventors: Shuhei Ishiguro; 修平石黒
Original assignee: Shimadzu Corp
Current assignee: Shimadzu Corp
Priority date: 2003-05-07
Filing date: 2003-05-07
Publication date: 2004-11-25

Abstract

【課題】搬入口及び搬出口から漏洩するＸ線を低減する。
【解決手段】検査室内９に製品通過センサ１５を取り付け、さらにこのセンサ１５の出力と同期してＸ線の断続を行なうよう開閉制御部１６と開閉機構１４を取り付けることで、検査対象物がＸ線照射位置にあるときだけセンサ１５の出力によって開閉機構を開いてＸ線を照射し、検査対象物がＸ線照射位置にないときはセンサ１５からの出力によって開閉機構１４を閉じてＸ線の照射を遮断する。
【選択図】図１

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、Ｘ線によって検査対象物内の異物の検出を行なうＸ線異物検出装置に関し、特に異物検出装置のＸ線照射機構に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来から、生肉や加工食品等の分野においてＸ線異物検出装置を用いた異物検出が行なわれている。Ｘ線を用いた異物検出は、検査対象物にＸ線を照射し被検査物を透過した透過Ｘ線よって検査対象物中に含まれる異物の検出を行なうものである。
【０００３】
図３は従来のＸ線異物検出装置の概略図である。
Ｘ線異物検出装置１ａはコンベアベルト等の搬送機構６により搬送される検査対象物７に対してＸ線発生器２からＸ線８を照射し、透過したＸ線をラインセンサ等のＸ線検出器１１で検出し、Ｘ線照射検出制御部１２やＸ線画像処理部１３により画像処理を行なって検査対象物７内の異物を検出している。
【０００４】
検査対象物７は搬送機構６により搬入口４から検査室９に搬入され、Ｘ線８の照射を受け搬出口５から搬出される。検査室９には常時Ｘ線が照射されているため、搬入口４及び搬出口５には、漏洩Ｘ線を遮蔽するための鉛ゴム製のノレン１０を複数枚多重に備えている。
【０００５】
しかし、検査対象物が裸物（非包装品）であるときなどの衛生等の問題でノレン１０を検査対象物に直接接触させることができない場合は、ノレンの代わりに防護カバーを取り付け、検査室９と搬入口４及び搬出口５との距離や角度を設けることで漏洩Ｘ線を遮蔽することが提案されている（特許文献１参照。）。
【０００６】
【特許文献１】
特開２０００−７４８５６号公報（第１図）
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
従来のＸ線異物検出装置においては、搬入口４及び搬出口５に複数枚の鉛ゴム製の遮蔽用ノレン１０を備えているが、Ｘ線８は常時照射されているので、十分な遮蔽の必要性からノレン１０としては複数枚を多重に配置している。そのため検査対象物の搬送の際、ノレン１０と検査対象物７の接触抵抗が大きいので、検査対象物７に傷やへこみ等の損傷を与えるという不具合があった。さらに、検査対象物が軽量の場合、ノレン１０の接触抵抗によって検査対象物が倒れたり、搬送できなかったりするなどの不具合もあった。
また、ノレンに代えて防護カバーを設ける場合は、大きなスペースを必要とした。
そこで本発明は、搬入口及び搬出口からのＸ線の漏洩を低減することができ上記の不具合を解決するＸ線異物検出装置を提供することを目的とするものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明は、ライン状のＸ線を照射するＸ線源と、前記Ｘ線源から照射されたＸ線を検出するように前記Ｘ線源に対向して配置されたＸ線検出器と、検査対象物が前記Ｘ線源からのＸ線を横切るように検査対象物を移動させる搬送機構とを備え、前記Ｘ線源からのＸ線が検査対象物を透過した後の前記Ｘ線検出器によるＸ線検出強度に基づいて検査対象物内の異物の有無を検知するＸ線異物検出装置であって、検査対象物がＸ線照射位置を通過する間だけＸ線を照射するというＸ線照射制御手段を備えたものである。
【０００９】
本発明のＸ線異物検出装置では、検査室において、検査対象物がＸ線照射位置を通過している間のみＸ線を照射することによりＸ線の漏洩の低減を図ることができるため、例えば遮蔽用ノレンの枚数を削減して検査対象物との接触抵抗を減少させたり、またノレンに代えて防護カバーを設ける場合も、そのサイズを小さくしたりすることができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】
本発明のＸ線異物検出装置において、Ｘ線照射を制御する手段は、搬送機構の側方に設けられて検査対象物がＸ線照射位置にあることを検出するセンサと、前記センサからの信号に基づき、検査対象物がＸ線照射位置を通過している間はＸ線を照射し、Ｘ線照射位置にないときにはＸ線を遮断する開閉手段を備えているものを挙げることができる。
【００１１】
【実施例】
図１は本発明の一実施例を示す図であり、（Ａ）は概略構成図、（Ｂ）は搬送機構及び製品通過センサを示す斜視図である。
図１（Ａ）において、Ｘ線異物検出装置１は、Ｘ線源３を備えライン状のＸ線を発生して検査対象物７に照射するＸ線発生器２と、検査対象物７を搬送するコンベアベルト式の搬送機構６と、検査対象物７を透過したＸ線８を検出するために搬送機構６のベルトを介してＸ線発生器に対向して配置されたラインセンサ１１と、検出したＸ線に基づいて検査対象物７中の異物を検出する検出機構（Ｘ線照射検出制御部１２及びＸ線画像処理部１３）とを備えている。
【００１２】
さらに、このＸ線異物検出装置１は検査対象物７の通過を検知する製品通過センサ１５と、センサ１５の信号に基づいて開閉することによりＸ線を遮断したり照射させたりする開閉機構１４と、開閉機構１４の開閉を制御する開閉制御部１６を備えている。
【００１３】
搬送機構６はＸ線照射位置に検査対象物７を移動させ、検査対象物７にＸ線８を照射させる機構であり、無端のコンベアベルトとこのコンベアベルトの両端を支持し回転させるローラを備え、搬入口４から搬入した検査対象物７を、Ｘ線照射位置を通過させた後、搬出口５へ送り出す構成となっている。
【００１４】
Ｘ線発生器２は、Ｘ線源３とＸ線源３を被うフード２０と、Ｘ線をライン状に形成するスリット（図示していない）等を備えていて、Ｘ線発生器２は装置本体１の上部に位置し、Ｘ線源３のＸ線発生口は鉛直下向きで、搬送機構６により移動する検査対象物７に対して上方からＸ線８を照射する。
【００１５】
透過Ｘ線を検出するラインセンサ１１は、搬送機構６のコンベアベルトの下方に固定されており、検査対象物７を透過したＸ線を検出する。Ｘ線画像処理部１３はラインセンサ１１が検出したＸ線強度に応じた電気信号を取り込んで画像処理を行い、これによって異物検査を行なう。
【００１６】
開閉機構１４は、Ｘ線源３から発生するＸ線を断続するものであり、本実施例では円盤回転式シャッターを用いている。円盤回転式シャッターは、図１（Ａ’）に示すように円盤の一部分をくり抜き、遮断部１４Ｂと非遮断部１４Ａを形成し、回転することでＸ線照射の制御を行なうものである。
【００１７】
開閉機構には円盤回転式のほかに往復式、円筒回転式など、製品通過センサに同期してＸ線を断続できるものであれば特に限定はされない。
また、開閉機構に代えて、Ｘ線発生器２に電気回路を組み込み、Ｘ線発生器２自体を製品通過センサ１５に同期させてＸ線照射のＯＮ／ＯＦＦを行なうようにした電気回路からなる開閉手段であってもよい。
【００１８】
図１（Ｂ）に示すように、本実施例で用いている製品通過センサ１５は、発光素子１５Ａと受光素子１５Ｂを備え、搬送機構６のコンベアベルトの側方にあって、発光素子１５Ａから出た光が受光素子１５Ｂで受光されているかどうかで検査対象物がＸ線照射位置にあるかどうかを検知するものである。図１で検査対象物が左から右方向に搬送されるものとすると、製品通過センサ１５はＸ線照射軸よりも左側に配置されており、検査対象物がＸ線照射位置に到達する手前で検査対象物を検出する。検査対象物が右から左方向に搬送される場合には、製品通過センサ１５はＸ線照射軸よりも右側に配置されることになる。
【００１９】
開閉制御部１６は、製品通過センサ１５から送信された信号により、開閉機構１４（円盤回転式シャッター）を回転させ遮断部１４Ｂもしくは非遮断部１４ＡによりＸ線を遮断又は非遮断状態にするものである。製品通過センサ１５により検査対象物が検出されると、開閉制御部１６は搬送機構６のコンベアベルトの搬送速度に応じて検査対象物がＸ線照射軸に到達する時間を計算し、検査対象物がＸ線照射軸を通過している間だけＸ線を照射するように開閉機構１４の開閉動作を制御する。
【００２０】
図２を参照しながら本実施例の動作を説明する。
図２は搬送機構６上における検査対象物の位置によるＸ線照射の動作状態図である。
検査対象物７が製品通過センサ１５により検出されると、その検出信号が開閉制御部１６に送られる。しかし、検査対象物７はまだＸ線照射軸に到達しておらず、開閉機構１４はＸ線を遮断している状態のままである（図２（Ａ））。
【００２１】
開閉制御部１６は搬送機構６のコンベアベルトの搬送速度から検査対象物７がＸ線照射軸に到達する時間を計算し、その時間になると開閉機構１４によるＸ線の遮断を解除し、Ｘ線による検査対象物７の異物検出を開始する（図２（Ｂ））。
【００２２】
検査対象物７が製品通過センサ１５の位置を通過したことが検出されると、その検出信号が開閉制御部１６に送られる。開閉制御部１６は搬送機構６のコンベアベルトの搬送速度から検査対象物７がＸ線照射軸を通過する時間を計算し、その時間になると開閉機構１４によりＸ線の照射を遮断する（図２（Ｃ））。
検査対象物７が製品通過センサ１５により検出されるごとに図２（Ａ）〜（Ｃ）の動作が繰り返されていく。
【００２３】
【発明の効果】
本発明によれば、検査対象物がＸ線照射位置を通過する間だけＸ線を照射するようにしたので、Ｘ線照射時間が短縮され漏洩するＸ線を低減することができる。
さらに、Ｘ線の透視画像を得るためのラインセンサへのＸ線照射時間の短縮により、ラインセンサの寿命が長くなる。
漏洩するＸ線が低減するので、遮蔽用のノレンの数量を減らして検査対象物に対する接触抵抗を抑え、へこみや傷などの損傷を軽減することができ、また、Ｘ線照射時間の短縮により防護カバーを設ける場合にも従来と比べて小さくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】実施例を示す概略構成図である。
【図２】同実施例の動作を示す説明図である。
【図３】従来技術を示す概略構成図である。
【符号の説明】
１Ｘ線異物検出装置本体
２Ｘ線発生装置
３Ｘ線源
４搬入口
５搬出口
６搬送機構
７検査対象物
８Ｘ線
９検査室
１０遮蔽用ノレン
１１Ｘ線検出器
１２Ｘ線照射検出制御部
１３Ｘ線画像処理部
１４開閉機構
１４Ａシャッター非遮断部
１４Ｂシャッター遮断部
１５製品通過センサ
１６開閉制御部
２０フード

Claims

ライン状のＸ線を照射するＸ線源と、前記Ｘ線源から照射されたＸ線を検出するように前記Ｘ線源に対向して配置されたＸ線検出器と、検査対象物が前記Ｘ線源からのＸ線を横切るように検査対象物を移動させる搬送機構とを備え、前記Ｘ線源からのＸ線が検査対象物を透過した後の前記Ｘ線検出器によるＸ線検出強度に基づいて検査対象物内の異物の有無を検知するＸ線異物検出装置において、
検査対象物がＸ線照射位置を通過する間だけＸ線を照射するようにＸ線照射を制御する手段を備えたことを特徴とするＸ線異物検出装置。
Ｘ線照射を制御する手段は、前記搬送機構の側方に設けられて検査対象物がＸ線照射位置にあることを検出するセンサと、前記センサからの信号に基づき、検査対象物がＸ線照射位置を通過している間はＸ線を照射し、Ｘ線照射位置にないときにはＸ線を遮断する開閉手段を備えていることを特徴とする請求項１記載のＸ線異物検出装置。
前記開閉手段はＸ線照射経路上に設けられたシャッターである請求項２記載のＸ線異物検出装置。