JP2007192605A - X線検査装置 - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 68
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 34
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims abstract description 5
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 16
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 6
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 4
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 4
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 3
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 description 1
- 235000013305 food Nutrition 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 239000000615 nonconductor Substances 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 230000000284 resting effect Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
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Abstract
【解決手段】 物品の搬送状態を検知する物品検知手段と、該物品検知手段からの検知信号を受けて、前記物品がX線検出器の検出領域にないことを判断する判断手段と、該判断手段の判断に基づき前記X線源の印加を低減させる制御部とを備えることを特徴とする。
【選択図】図2
Description
前記物品の搬送状態を検知する物品検知手段と、該物品検知手段からの検知信号を受けて、前記物品が前記X線検出器のX線検出領域にないことを判断する判断手段と、該判断手段の判断に基づき前記X線源の印加を低減させる制御部と、を備えることを特徴とするX線検査装置を提供する。
前記制御部は、前記X線源の印加電圧を一定としながら、印加電流のみを低減させることを特徴とするX線検査装置を提供する。
前記印加電圧は、X線を照射可能な電圧範囲において、所定値以上に設定されていることを特徴とするX線検査装置を提供する。
前記制御部は、前記判断手段の判断に基づき、X線源のヒーターの印加を低減させることを特徴とするX線検査装置を提供する。
X線検査装置1は、X線源2からのX線を搬送中の物品に照射し、物品を透過するX線をX線検出器3で受けて、画像処理することで物品の検査(異物混入有無の検査)を行うものであり、図1に示されるように、物品の搬送面Rの上方及び下方に、X線源2及びX線検出器3を備え、これらをX線が外部に漏洩しないように遮断する筐体4に設けてなる。筐体4の側方正面(図1中の手前側)には、筐体4の内部を清掃・点検できるように、支持軸41aを回転中心として水平方向に観音開きする二枚の本体扉41,41が設けられる。筐体4には、本体扉41,41の少なくとも一方が閉鎖されていないときに、X線源2からのX線照射を停止するインターロックスイッチ42が、各本体扉41に対応して設けられる。
X線検査装置1は、光電センサ6により物品の搬入が検知され、判断手段7によりX線検出領域に物品があると判断されているときは、例えば、図3のA領域に示されるように印加電圧50kV及び印加電流1mAをX線源2に印加する通常モードを維持する。これにより、X線検査装置1は、X線源2から搬送中の物品にX線を照射し、物品を透過するX線をX線検出器3で受けて画像処理することで異物混入検査を行うことができる検査状態となる。
上記X線検査装置1は、上記のとおり構成されるため、以下のような特徴点を有する。第一に、物品がX線検出領域にないことを判断する判断手段7の判断に基づいて、X線源2への印加を低減させるので、陽極21が不必要に高温加熱される時間が短くなる。これにより、陽極21及びこれを冷却する冷却用油27の劣化が防止され、X線源2を長寿命化することができる。しかも、X線源2に対する通電を完全に停止する場合に比べて、印加量増大から出力安定までの時間が短くなるので、短時間で検査可能な状態に復帰することができる。本実施形態のように、上流工程から連続的に搬入される物品にX線を順次照射して、複数物品を連続的に検査する場合には、物品の搬入再開を検知した後、速やかに検査を再開することができる。
上記実施形態では、制御部8は、X線源2の印加を低減させるために、印加電圧を一定に維持したままで印加電流のみを低減させることとしたが、X線源2の加熱劣化防止及び速やかな検査再開が可能な休止状態を実現できる方法として、印加電圧のみを低減させたり、印加電圧及び印加電流の両方を低減させたりする手段を採用しても良い。
2 X線源
3 X線検出器
5 搬送手段
6 光電センサ(物品検知手段)
7 判断手段
8 制御部
20 真空ガラス管
21 陽極
22 陰極
23 フィラメント(ヒーター)
24 定電圧電流回路
25 直流電源回路
26 フィラメント回路
27 冷却用油
28 ケース
Claims (4)
- 陰極と陽極間に高電圧をかけて、X線を照射するX線源を備え、
前記X線源からのX線を搬送中の物品に照射し、該物品を透過するX線をX線検出器で受けて、画像処理することで物品の検査を行うX線検査装置であって、
前記物品の搬送状態を検知する物品検知手段と、
該物品検知手段からの検知信号を受けて、前記物品が前記X線検出器のX線検出領域にないことを判断する判断手段と、
該判断手段の判断に基づき前記X線源の印加を低減させる制御部と、
を備えることを特徴とするX線検査装置。 - 請求項1に記載のX線検査装置であって、
前記制御部は、前記X線源の印加電圧を一定としながら、印加電流のみを低減させることを特徴とするX線検査装置。 - 請求項2に記載のX線検査装置であって、
前記印加電圧は、X線を照射可能な電圧範囲において、所定値以上に設定されていることを特徴とするX線検査装置。 - 請求項1乃至3のいずれかに記載のX線検査装置であって、
前記制御部は、前記判断手段の判断に基づき、X線源のヒーターの印加を低減させることを特徴とするX線検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006009460A JP4908852B2 (ja) | 2006-01-18 | 2006-01-18 | X線検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006009460A JP4908852B2 (ja) | 2006-01-18 | 2006-01-18 | X線検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007192605A true JP2007192605A (ja) | 2007-08-02 |
JP4908852B2 JP4908852B2 (ja) | 2012-04-04 |
Family
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2006009460A Active JP4908852B2 (ja) | 2006-01-18 | 2006-01-18 | X線検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP4908852B2 (ja) |
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