JP2002310944A - 放射線検査装置 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 放射線を用いた検査装置で、しかも従来のよ
うに大がかりな画像処理を必要とすることなく、画像処
理のためのハードウエア並びにソフトウエアを比較的簡
単なものとすることができ、低コストで光を透さない材
料等により包装された物品の欠品の有無を確実に判定す
ることのできる放射線検査装置を提供する。 【解決手段】 放射線検出手段３からの画素の濃淡情報
のうち、あらかじめ設定されている濃度範囲ＸＬ〜ＸＨ
内の画素数を積算し、その積算結果から欠品検査を行う
ように構成することで、放射線の透視像のパターン認識
を行うことなく、簡単なデータ処理によって欠品の有無
を正確に判定すること可能とする。
うに大がかりな画像処理を必要とすることなく、画像処
理のためのハードウエア並びにソフトウエアを比較的簡
単なものとすることができ、低コストで光を透さない材
料等により包装された物品の欠品の有無を確実に判定す
ることのできる放射線検査装置を提供する。 【解決手段】 放射線検出手段３からの画素の濃淡情報
のうち、あらかじめ設定されている濃度範囲ＸＬ〜ＸＨ
内の画素数を積算し、その積算結果から欠品検査を行う
ように構成することで、放射線の透視像のパターン認識
を行うことなく、簡単なデータ処理によって欠品の有無
を正確に判定すること可能とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、医薬品や食品等の
被破壊検査装置に関し、更に詳しくは、包装材料等の事
情により内部が可視光で観察できない対象物の欠品の有
無を検査するのに適した放射線検査装置に関する。
被破壊検査装置に関し、更に詳しくは、包装材料等の事
情により内部が可視光で観察できない対象物の欠品の有
無を検査するのに適した放射線検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】包装された食品などの欠品の有無する装
置として、従来、可視光ないしは赤外線を用いる検査装
置が知られている。この可視光または赤外線を用いる検
査装置においては、一般に、可視光またはは赤外線を被
検査物に対して照射し、その反射光もしくは透過光をＣ
ＣＤカメラなどで受光して包装内部の画像情報を得て、
その形状に基づいて包装内部の物品の個数などを判別し
ている。
置として、従来、可視光ないしは赤外線を用いる検査装
置が知られている。この可視光または赤外線を用いる検
査装置においては、一般に、可視光またはは赤外線を被
検査物に対して照射し、その反射光もしくは透過光をＣ
ＣＤカメラなどで受光して包装内部の画像情報を得て、
その形状に基づいて包装内部の物品の個数などを判別し
ている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、近年、食品
や医薬品等の包装形態として、アルミホイルや光を透過
させない箱などを用いたものが多く採用されており、こ
のような包装形態の商品については、光を用いた欠品の
検査装置は無力であった。
や医薬品等の包装形態として、アルミホイルや光を透過
させない箱などを用いたものが多く採用されており、こ
のような包装形態の商品については、光を用いた欠品の
検査装置は無力であった。
【０００４】また、光を用いた検査装置においては、光
を透過させる材料からなる包装材を用いていても、その
表面の着色等によって検査結果に大きな影響を受けると
いう問題があった。
を透過させる材料からなる包装材を用いていても、その
表面の着色等によって検査結果に大きな影響を受けると
いう問題があった。
【０００５】光を透さない材料からなる包装の内部の状
況を透視するには、Ｘ線をはじめとする放射線を用いた
検査装置を用いればよいのであるが、従来の放射線検査
装置においては、被検査物を透過した放射線を１次元も
しくは２次元の放射線検出器によって検出し、その画素
情報を用いた画像処理により包装内部の透視２次元像の
パターンを認識して、欠品の有無等を判定するものであ
り、高速インライン化に対応するには大がかりな画像処
理を必要とし、ハードウエア並びにソフトウエアの双方
ともに高価なものとなるという問題があった。
況を透視するには、Ｘ線をはじめとする放射線を用いた
検査装置を用いればよいのであるが、従来の放射線検査
装置においては、被検査物を透過した放射線を１次元も
しくは２次元の放射線検出器によって検出し、その画素
情報を用いた画像処理により包装内部の透視２次元像の
パターンを認識して、欠品の有無等を判定するものであ
り、高速インライン化に対応するには大がかりな画像処
理を必要とし、ハードウエア並びにソフトウエアの双方
ともに高価なものとなるという問題があった。
【０００６】本発明はこのような実情に鑑みてなされた
もので、放射線を用いた検査装置で、しかも従来のよう
な大がかりな画像処理を必要とすることなく、画像処理
のためのハードウエア並びにソフトウエアを比較的簡単
なものとすることができ、もって低コストの装置構成の
もとに、光を透さない材料等によって包装された物品の
欠品の有無等を確実に判定することのできる放射線検査
装置の提供を目的としている。
もので、放射線を用いた検査装置で、しかも従来のよう
な大がかりな画像処理を必要とすることなく、画像処理
のためのハードウエア並びにソフトウエアを比較的簡単
なものとすることができ、もって低コストの装置構成の
もとに、光を透さない材料等によって包装された物品の
欠品の有無等を確実に判定することのできる放射線検査
装置の提供を目的としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明の放射線検査装置は、放射線発生手段と、そ
の放射線発生手段に対して対向配置された放射線検出手
段と、その放射線発生手段および放射線検出手段の間で
被検査物を搬送する搬送手段と、上記放射線検出手段か
らの画素情報を用いてデータ処理を行うデータ処理手段
を備えた放射線検査装置において、上記データ処理手段
は、上記放射線検出手段からの画素の濃淡情報のうち、
あらかじめ設定されている濃度範囲内の画素数を積算
し、その積算結果から欠品検査を行うように構成されて
いることによって特徴づけられる。
め、本発明の放射線検査装置は、放射線発生手段と、そ
の放射線発生手段に対して対向配置された放射線検出手
段と、その放射線発生手段および放射線検出手段の間で
被検査物を搬送する搬送手段と、上記放射線検出手段か
らの画素情報を用いてデータ処理を行うデータ処理手段
を備えた放射線検査装置において、上記データ処理手段
は、上記放射線検出手段からの画素の濃淡情報のうち、
あらかじめ設定されている濃度範囲内の画素数を積算
し、その積算結果から欠品検査を行うように構成されて
いることによって特徴づけられる。
【０００８】本発明は、放射線検出器による画素情報を
用いた画像処理によって透視像のパターンを認識するの
ではなく、画素の濃淡情報のうち、あらかじめ設定され
ている濃度範囲内にある画素数を積算し、その結果から
欠品の有無を判定するという簡単なデータ処理を採用す
ることにより、所期の目的を達成しようとするものであ
る。
用いた画像処理によって透視像のパターンを認識するの
ではなく、画素の濃淡情報のうち、あらかじめ設定され
ている濃度範囲内にある画素数を積算し、その結果から
欠品の有無を判定するという簡単なデータ処理を採用す
ることにより、所期の目的を達成しようとするものであ
る。
【０００９】すなわち、包装内の物品の放射線透視像を
構成する画素は、他の部分の画素とは異なる濃度を有し
ているが故に、その透視像を視認できるのであり、従っ
て、その物品の透視像を構成する画素は他の部分とは異
なる濃度範囲に入り、その範囲はあらかじめ知ることが
できる。そこで、その濃度範囲をあらかじめ設定してお
き、その濃度範囲内にある画素数を積算すれば、その積
算結果は包装内部の物品の投影面積に相関したものとな
る。例えば複数の物品が一定の向きで包装容器内に収容
された商品を被検査物とした場合、上記した積算結果は
包装容器内の物品の個数に比例したものとなる。従っ
て、放射線透過像を構成する画素のうち、所定の濃度範
囲内にある画素を積算することにより、包装内の欠品の
有無を正確に判定することができる。
構成する画素は、他の部分の画素とは異なる濃度を有し
ているが故に、その透視像を視認できるのであり、従っ
て、その物品の透視像を構成する画素は他の部分とは異
なる濃度範囲に入り、その範囲はあらかじめ知ることが
できる。そこで、その濃度範囲をあらかじめ設定してお
き、その濃度範囲内にある画素数を積算すれば、その積
算結果は包装内部の物品の投影面積に相関したものとな
る。例えば複数の物品が一定の向きで包装容器内に収容
された商品を被検査物とした場合、上記した積算結果は
包装容器内の物品の個数に比例したものとなる。従っ
て、放射線透過像を構成する画素のうち、所定の濃度範
囲内にある画素を積算することにより、包装内の欠品の
有無を正確に判定することができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態について説明する。図１は本発明の実施の形
態の構成図であり、要部の機械的構成を表す模式図と、
電気的構成を表すブロック図とを併記して示す図であ
る。
実施の形態について説明する。図１は本発明の実施の形
態の構成図であり、要部の機械的構成を表す模式図と、
電気的構成を表すブロック図とを併記して示す図であ
る。
【００１１】被検査物Ｗはコンベアシステム１のループ
ベルト１１上に載せられて一定の速度で搬送される。コ
ンベアシステム１の上方には、Ｘ線管２がそのＸ線光軸
を鉛直下方に向けた姿勢で配置されているとともに、Ｘ
線管２に対向してその鉛直下方には、コンベアシステム
１のループベルト１１を介在させた状態で１次元Ｘ線検
出器３が配置されている。
ベルト１１上に載せられて一定の速度で搬送される。コ
ンベアシステム１の上方には、Ｘ線管２がそのＸ線光軸
を鉛直下方に向けた姿勢で配置されているとともに、Ｘ
線管２に対向してその鉛直下方には、コンベアシステム
１のループベルト１１を介在させた状態で１次元Ｘ線検
出器３が配置されている。
【００１２】コンベアシステム１は、ループベルト１１
と、そのループベルト１１が掛け回される駆動ローラ１
２並びに複数の従動ローラ１３を含み、駆動ローラ１２
は、操作パネル４に設けられているスイッチの操作によ
り駆動回路１４から供給される駆動信号によって回転駆
動するモータ（図示せず）により回転が与えられ、この
駆動ローラ１２の回転によりループベルト１１が各ロー
ラに案内されて移動し、被検査物Ｗを図中矢印の方向に
一定の速度で搬送する。
と、そのループベルト１１が掛け回される駆動ローラ１
２並びに複数の従動ローラ１３を含み、駆動ローラ１２
は、操作パネル４に設けられているスイッチの操作によ
り駆動回路１４から供給される駆動信号によって回転駆
動するモータ（図示せず）により回転が与えられ、この
駆動ローラ１２の回転によりループベルト１１が各ロー
ラに案内されて移動し、被検査物Ｗを図中矢印の方向に
一定の速度で搬送する。
【００１３】Ｘ線管２は、そのアノード２ａとカソード
２ｂ間に、Ｘ線制御器２１により制御される高電圧発生
回路２２からの高電圧が印加されることによってＸ線を
発生する。Ｘ線管２とコンベアシステム１との間には、
当該コンベアシステム１による搬送方向に直交する方向
に沿ったスリット２３ａが形成されてなる鉛製のスリッ
ト部材２３が設けられており、Ｘ線管２から出力された
Ｘ線は、このスリット２３ａを通過することにより、コ
ンベアシステム１の幅方向に広がりを持つ扇状のＸ線ビ
ームとなる。
２ｂ間に、Ｘ線制御器２１により制御される高電圧発生
回路２２からの高電圧が印加されることによってＸ線を
発生する。Ｘ線管２とコンベアシステム１との間には、
当該コンベアシステム１による搬送方向に直交する方向
に沿ったスリット２３ａが形成されてなる鉛製のスリッ
ト部材２３が設けられており、Ｘ線管２から出力された
Ｘ線は、このスリット２３ａを通過することにより、コ
ンベアシステム１の幅方向に広がりを持つ扇状のＸ線ビ
ームとなる。
【００１４】１次元Ｘ線検出器３はシンチレータと、複
数の素子がライン状に並べられたＭＯＳ型イメージセン
サによって構成されたものであり、入射したＸ線はシン
チレータにより光に変換されたうえでＭＯＳ型イメージ
センサの各素子によって一定の微小時間ごとに検出さ
れ、各素子ごとに刻々のＸ線の入射量に応じた検出信号
を出力する。
数の素子がライン状に並べられたＭＯＳ型イメージセン
サによって構成されたものであり、入射したＸ線はシン
チレータにより光に変換されたうえでＭＯＳ型イメージ
センサの各素子によって一定の微小時間ごとに検出さ
れ、各素子ごとに刻々のＸ線の入射量に応じた検出信号
を出力する。
【００１５】１次元Ｘ線検出器３の各素子からの検出信
号はデータ処理装置５に取り込まれる。データ処理装置
５は、その各素子からの検出信号を画素の濃淡情報とす
るＸ線透過像をモニタ５１に表示するとともに、後述す
るルーチンのもとに１次元Ｘ線検出器３の各素子からの
刻々のデータを用いて欠品の有無を判定する。そして、
その判定結果に基づき、欠品有りと判定した場合には、
その旨の出力を発生して、後述するようにブザー５４を
鳴らしたり、あるいは排除装置５５を駆動する。また、
その結果をデータプリンタ５２に出力するとともに、そ
の画像をビデオプリンタ５３に出力する。
号はデータ処理装置５に取り込まれる。データ処理装置
５は、その各素子からの検出信号を画素の濃淡情報とす
るＸ線透過像をモニタ５１に表示するとともに、後述す
るルーチンのもとに１次元Ｘ線検出器３の各素子からの
刻々のデータを用いて欠品の有無を判定する。そして、
その判定結果に基づき、欠品有りと判定した場合には、
その旨の出力を発生して、後述するようにブザー５４を
鳴らしたり、あるいは排除装置５５を駆動する。また、
その結果をデータプリンタ５２に出力するとともに、そ
の画像をビデオプリンタ５３に出力する。
【００１６】図２はデータ処理装置５に書き込まれてい
る欠品の有無の判定用のプログラムの内容を示すフロー
チャートであり、以下、この図２を参照しつつ本発明の
実施の形態における欠品の有無の判定動作について説明
する。この例においては、被検査物Ｗとして、図３
（Ａ）に正規の状態でのＸ線透過像を例示するように、
包装箱ＷＢ内に６個の饅頭ＷＡが収容されている商品を
例にとり、饅頭ＷＡの欠品の有無を検査するものとす
る。なお、図３（Ａ）においてＷＣは饅頭ＷＡ内の餡で
ある。また、このフローチャートにおいて、ｉは一定の
微小間隔ごとの１次元Ｘ線検出器３による信号の出力
（イベント）の順序、換言すれば時間、を表し、ｊは１
次元Ｘ線検出器３の各素子の番号（チャンネル）を表す
ものとし、従って被検査物ＷのＸ線透過像を構成する画
素は、Ｒijで表される。
る欠品の有無の判定用のプログラムの内容を示すフロー
チャートであり、以下、この図２を参照しつつ本発明の
実施の形態における欠品の有無の判定動作について説明
する。この例においては、被検査物Ｗとして、図３
（Ａ）に正規の状態でのＸ線透過像を例示するように、
包装箱ＷＢ内に６個の饅頭ＷＡが収容されている商品を
例にとり、饅頭ＷＡの欠品の有無を検査するものとす
る。なお、図３（Ａ）においてＷＣは饅頭ＷＡ内の餡で
ある。また、このフローチャートにおいて、ｉは一定の
微小間隔ごとの１次元Ｘ線検出器３による信号の出力
（イベント）の順序、換言すれば時間、を表し、ｊは１
次元Ｘ線検出器３の各素子の番号（チャンネル）を表す
ものとし、従って被検査物ＷのＸ線透過像を構成する画
素は、Ｒijで表される。
【００１７】さて、自動運転に先立ち、操作パネル４に
設けられているテンキー等を操作して、カウントに供す
べき画素の濃度範囲の下限ＸＬと上限ＸＨを設定する。
この濃度範囲は、図４に饅頭ＷＡの略中央部分に１次元
Ｘ線検出器３が位置している状態における各画素の出力
（濃淡）レベルを示すように、被検査物Ｗ内の饅頭ＷＡ
のＸ線透視像を構成する画素の全てが入り、かつ、背景
像を構成する画素が入らない濃度範囲に設定される。ま
た、この濃度範囲に入っている画素のカウント結果に従
って欠品の有無を判定する際の合格範囲の下限ＭＬと上
限ＭＨを設定する。
設けられているテンキー等を操作して、カウントに供す
べき画素の濃度範囲の下限ＸＬと上限ＸＨを設定する。
この濃度範囲は、図４に饅頭ＷＡの略中央部分に１次元
Ｘ線検出器３が位置している状態における各画素の出力
（濃淡）レベルを示すように、被検査物Ｗ内の饅頭ＷＡ
のＸ線透視像を構成する画素の全てが入り、かつ、背景
像を構成する画素が入らない濃度範囲に設定される。ま
た、この濃度範囲に入っている画素のカウント結果に従
って欠品の有無を判定する際の合格範囲の下限ＭＬと上
限ＭＨを設定する。
【００１８】更に、測定長ｉＭＡＸを設定する。このｉ
ＭＡＸは、１つの被検査物Ｗについての１次元Ｘ線検出
器３からの検出信号のデータ処理装置５への取り込み数
を表す。すなわち、データ処理装置５は、被検査物Ｗが
コンベアシステム１上を搬送されて、その先端がＸ線の
照射位置の直前に到来した時点で物品検出センサ（図示
せず）から出力される外部トリガ信号の発生により１次
元Ｘ線検出器３からの出力の取り込みを開始し（ｉ＝
１）、その取り込み数が上記したｉＭＡＸに達した時点
で当該被検査物Ｗに関しての出力の取り込みを終了す
る。
ＭＡＸは、１つの被検査物Ｗについての１次元Ｘ線検出
器３からの検出信号のデータ処理装置５への取り込み数
を表す。すなわち、データ処理装置５は、被検査物Ｗが
コンベアシステム１上を搬送されて、その先端がＸ線の
照射位置の直前に到来した時点で物品検出センサ（図示
せず）から出力される外部トリガ信号の発生により１次
元Ｘ線検出器３からの出力の取り込みを開始し（ｉ＝
１）、その取り込み数が上記したｉＭＡＸに達した時点
で当該被検査物Ｗに関しての出力の取り込みを終了す
る。
【００１９】自動運転の開始を指令して被検査物Ｗをコ
ンベアシステム１上に供給して搬送を始めると、上記し
た物品検出センサの出力の発生によりｉ＝１，ｊ＝１，
Ｍ＝０に初期化し、最初のイベントｉ＝１における各画
素情報Ｒ1jを取り込む。ｉ＝１において取り込んだ１次
元Ｘ線検出器３のｊ個の画素情報について、ｊ＝１から
全ての画素に至るまで、その濃度情報が先に設定した濃
度範囲ＸＬ〜ＸＨの範囲に入っているか否かを判別し、
範囲ＸＬ〜ＸＨ内に入っている場合にはＭの値を１カウ
ントアップする。
ンベアシステム１上に供給して搬送を始めると、上記し
た物品検出センサの出力の発生によりｉ＝１，ｊ＝１，
Ｍ＝０に初期化し、最初のイベントｉ＝１における各画
素情報Ｒ1jを取り込む。ｉ＝１において取り込んだ１次
元Ｘ線検出器３のｊ個の画素情報について、ｊ＝１から
全ての画素に至るまで、その濃度情報が先に設定した濃
度範囲ＸＬ〜ＸＨの範囲に入っているか否かを判別し、
範囲ＸＬ〜ＸＨ内に入っている場合にはＭの値を１カウ
ントアップする。
【００２０】全チャンネルの判別を終了した後、次に取
り込んだ各画素情報（ｉ＝２）について、上記と同様に
して最初のチャンネルｊ＝１から最終チャンネルに至る
まで設定されている濃度範囲内に入っているか否かを判
別し、入っている画素があるごとにＭを１カウントずつ
アップしていく。やがてｉ＝ｉＭＡＸに達した時点で、
Ｍの値が先に設定した合格範囲ＭＬ〜ＭＨに入っている
か否かを判別する。この判別によって、欠品の有無を正
確に知ることができる。
り込んだ各画素情報（ｉ＝２）について、上記と同様に
して最初のチャンネルｊ＝１から最終チャンネルに至る
まで設定されている濃度範囲内に入っているか否かを判
別し、入っている画素があるごとにＭを１カウントずつ
アップしていく。やがてｉ＝ｉＭＡＸに達した時点で、
Ｍの値が先に設定した合格範囲ＭＬ〜ＭＨに入っている
か否かを判別する。この判別によって、欠品の有無を正
確に知ることができる。
【００２１】すなわち、１個の饅頭ＷＡのＸ線透視像に
おいて、濃度範囲ＸＬ〜ＸＨに入る画素数の平均が１０
０個であったとしたとき、合格範囲ＭＬ〜ＭＨを例えば
５４０〜６６０程度に設定する。図３（Ａ）のように、
包装箱ＷＢ内に正しく６個の饅頭ＷＡが収容されている
場合には、Ｍの数は平均して６００となり、合格範囲Ｍ
Ｌ〜ＭＨに入るのに対し、図３（Ｂ）に示すように、包
装箱ＷＢ内に饅頭ＷＡが１個欠落している場合には、Ｍ
の数は平均して５００となり、合格範囲ＭＬ〜ＭＨには
入らず、欠品の有無を正確に判別することができる。な
お、Ｘ線透視像において、包装箱ＷＢのエッジ部分等の
画素が濃度範囲ＸＬ〜ＸＨに入る場合においては、その
画素数の概略はあらかじめ判るため、その数をＭから減
じたうえで合格範囲ＭＬ〜ＭＨと比較するか、あるいは
合格範囲ＭＬ〜ＭＨを包装箱ＷＢのエッジ部分等の画素
数を考慮した値に設定すればよい。
おいて、濃度範囲ＸＬ〜ＸＨに入る画素数の平均が１０
０個であったとしたとき、合格範囲ＭＬ〜ＭＨを例えば
５４０〜６６０程度に設定する。図３（Ａ）のように、
包装箱ＷＢ内に正しく６個の饅頭ＷＡが収容されている
場合には、Ｍの数は平均して６００となり、合格範囲Ｍ
Ｌ〜ＭＨに入るのに対し、図３（Ｂ）に示すように、包
装箱ＷＢ内に饅頭ＷＡが１個欠落している場合には、Ｍ
の数は平均して５００となり、合格範囲ＭＬ〜ＭＨには
入らず、欠品の有無を正確に判別することができる。な
お、Ｘ線透視像において、包装箱ＷＢのエッジ部分等の
画素が濃度範囲ＸＬ〜ＸＨに入る場合においては、その
画素数の概略はあらかじめ判るため、その数をＭから減
じたうえで合格範囲ＭＬ〜ＭＨと比較するか、あるいは
合格範囲ＭＬ〜ＭＨを包装箱ＷＢのエッジ部分等の画素
数を考慮した値に設定すればよい。
【００２２】Ｍが合格範囲ＭＬ〜ＭＨに収まっていれば
合格の旨の処理をするとともに、収まっていなければ、
前記したブザー奏鳴や物品排除等の異常判定処理を行っ
た後、次の被検査物Ｗの判定に移行する。
合格の旨の処理をするとともに、収まっていなければ、
前記したブザー奏鳴や物品排除等の異常判定処理を行っ
た後、次の被検査物Ｗの判定に移行する。
【００２３】以上の実施の形態において特に注目すべき
点は、１次元Ｘ線検出器３からの画素情報を用いた画像
処理により、被検査物Ｗ内の饅頭ＷＡのパターンを認識
して合否判定を行うのではなく、画素の濃度があらかじ
め設定されている濃度範囲内に収まる画素数を積算し、
その積算結果が合格範囲内にあるか否かによって欠品の
有無を判定する点であり、このようなデータ処理の採用
により、パターン認識による判定に比してそのソフトウ
エアが極めて簡単ですみ、それに伴ってデータ処理のた
めのハードウエアも比較的簡単なものですむという効果
を奏することができる。
点は、１次元Ｘ線検出器３からの画素情報を用いた画像
処理により、被検査物Ｗ内の饅頭ＷＡのパターンを認識
して合否判定を行うのではなく、画素の濃度があらかじ
め設定されている濃度範囲内に収まる画素数を積算し、
その積算結果が合格範囲内にあるか否かによって欠品の
有無を判定する点であり、このようなデータ処理の採用
により、パターン認識による判定に比してそのソフトウ
エアが極めて簡単ですみ、それに伴ってデータ処理のた
めのハードウエアも比較的簡単なものですむという効果
を奏することができる。
【００２４】ここで、 本発明は、上記のように包装箱
ＷＢ内に収容されている饅頭ＷＡ等の数のみならず、濃
度範囲ＸＬ〜ＸＨの設定を変更することによって、例え
ば各饅頭ＷＡ内の餡の欠落の有無をも検査することがで
きる。
ＷＢ内に収容されている饅頭ＷＡ等の数のみならず、濃
度範囲ＸＬ〜ＸＨの設定を変更することによって、例え
ば各饅頭ＷＡ内の餡の欠落の有無をも検査することがで
きる。
【００２５】すなわち、図５に示すように、饅頭ＷＡの
Ｘ線透視像においては、内部の餡ＷＣの透視像を構成す
る画素の濃度はその周囲の皮の部分の画素よりも濃く
（暗く）なる。従って、濃淡範囲ＸＬ〜ＸＨを餡ＷＣの
画素のみが入る濃度に設定しておくことにより、例えば
１個の饅頭ＷＡの餡ＷＣのＸ線透視像を構成する画素数
の平均を２０とすると、上記と同様に６個の饅頭ＷＡが
１つの包装箱ＷＢ内に収容されている商品において、前
記した図３（Ａ）に示すように全ての饅頭ＷＡ内に正し
く餡ＷＣが入っている場合には、Ｍの数は１２０程度と
なるのに対し、図６に示すように、１個の饅頭ＷＡ内内
に餡ＷＣが入っていない場合にはＭの数は約１００とな
り、例えば合格範囲ＭＬ〜ＭＨを１０５〜１３５程度に
設定しておくことにより、餡ＷＣの欠品の有無を正確に
判定することができる。
Ｘ線透視像においては、内部の餡ＷＣの透視像を構成す
る画素の濃度はその周囲の皮の部分の画素よりも濃く
（暗く）なる。従って、濃淡範囲ＸＬ〜ＸＨを餡ＷＣの
画素のみが入る濃度に設定しておくことにより、例えば
１個の饅頭ＷＡの餡ＷＣのＸ線透視像を構成する画素数
の平均を２０とすると、上記と同様に６個の饅頭ＷＡが
１つの包装箱ＷＢ内に収容されている商品において、前
記した図３（Ａ）に示すように全ての饅頭ＷＡ内に正し
く餡ＷＣが入っている場合には、Ｍの数は１２０程度と
なるのに対し、図６に示すように、１個の饅頭ＷＡ内内
に餡ＷＣが入っていない場合にはＭの数は約１００とな
り、例えば合格範囲ＭＬ〜ＭＨを１０５〜１３５程度に
設定しておくことにより、餡ＷＣの欠品の有無を正確に
判定することができる。
【００２６】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、被検査
物に放射線を照射してその透視像を得るとともに、その
透視像の各画素のうち、あらかじめ設定された濃度範囲
内にある画素数を積算し、その積算結果を用いて欠品の
有無を判定するので、アルミホイル等の光を透過させな
い包装容器内に収容された商品等についても検査に供す
ることができ、しかも、従来の放射線を用いた異物検査
装置等のように、放射線の透視像のパターンを認識して
検査する場合に比して、データ処理が簡単であり、ソフ
トウエアおよびハードウエアの双方ともに低コスト化す
ることが可能であり、低コストの装置構成のもとに、光
を透さない材料等によって包装された物品の欠品の有無
等を確実に判定することが可能となる。
物に放射線を照射してその透視像を得るとともに、その
透視像の各画素のうち、あらかじめ設定された濃度範囲
内にある画素数を積算し、その積算結果を用いて欠品の
有無を判定するので、アルミホイル等の光を透過させな
い包装容器内に収容された商品等についても検査に供す
ることができ、しかも、従来の放射線を用いた異物検査
装置等のように、放射線の透視像のパターンを認識して
検査する場合に比して、データ処理が簡単であり、ソフ
トウエアおよびハードウエアの双方ともに低コスト化す
ることが可能であり、低コストの装置構成のもとに、光
を透さない材料等によって包装された物品の欠品の有無
等を確実に判定することが可能となる。
【図１】本発明の実施の形態の構成図であり、要部の機
械的構成を表す模式図と、電気的構成を表すブロック図
とを併記して示す図である
械的構成を表す模式図と、電気的構成を表すブロック図
とを併記して示す図である
【図２】本発明の実施の形態におけるデータ処理装置５
に書き込まれている欠品の有無の判定用のプログラムの
内容を示すフローチャートである。
に書き込まれている欠品の有無の判定用のプログラムの
内容を示すフローチャートである。
【図３】本発明の実施の形態により欠品の有無の検査に
供される被検査物ＷのＸ線透視像の例の説明図で、
（Ａ）は欠品のない正規の状態の場合、（Ｂ）は欠品の
ある場合の透視像を示す図である。
供される被検査物ＷのＸ線透視像の例の説明図で、
（Ａ）は欠品のない正規の状態の場合、（Ｂ）は欠品の
ある場合の透視像を示す図である。
【図４】図３に示した被検査物Ｗを検査する場合の濃度
範囲ＸＬ〜ＸＨの設定例の説明図である。
範囲ＸＬ〜ＸＨの設定例の説明図である。
【図５】本発明の実施の形態による欠品の有無の検査を
行う場合の他の例における濃度範囲ＸＬ〜ＸＨの設定例
の説明図である。
行う場合の他の例における濃度範囲ＸＬ〜ＸＨの設定例
の説明図である。
【図６】図５に示した設定において欠品の有無の検査に
供される被検査物ＷのＸ線透視像の例の説明図で、欠品
のある場合の透視像を示す図である。
供される被検査物ＷのＸ線透視像の例の説明図で、欠品
のある場合の透視像を示す図である。
１ コンベアシステム １１ ループベルト １４ 駆動回路 ２ Ｘ線管 ２１ Ｘ線制御器 ２２ 高電圧発生回路 ２３ａ スリット ３ １次元Ｘ線検出器 ４ 操作パネル ５ データ処理装置
Claims (1)
- 【請求項１】 放射線発生手段と、その放射線発生手段
に対して対向配置された放射線検出手段と、その放射線
発生手段および放射線検出手段の間で被検査物を搬送す
る搬送手段と、上記放射線検出手段からの画素情報を用
いてデータ処理を行うデータ処理手段を備えた放射線検
査装置において、 上記データ処理手段は、上記放射線検出手段からの画素
の濃度情報のうち、あらかじめ設定されている濃度範囲
内の画素数を積算し、その積算結果から欠品検査を行う
ように構成されていることを特徴とする放射線検査装
置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001118629A JP3656566B2 (ja) | 2001-04-17 | 2001-04-17 | 放射線検査装置 |
| KR1020020019970A KR20020081074A (ko) | 2001-04-17 | 2002-04-12 | 방사선 검사장치 및 방사선 검사방법 |
| AU34341/02A AU779738B2 (en) | 2001-04-17 | 2002-04-16 | Radiation inspection apparatus and radiation inspection method |
| US10/123,756 US6661868B2 (en) | 2001-04-17 | 2002-04-16 | Radiation inspection apparatus and radiation inspection method |
| CNB021056706A CN100399013C (zh) | 2001-04-17 | 2002-04-17 | 辐射检查装置和辐射检查方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001118629A JP3656566B2 (ja) | 2001-04-17 | 2001-04-17 | 放射線検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002310944A true JP2002310944A (ja) | 2002-10-23 |
| JP3656566B2 JP3656566B2 (ja) | 2005-06-08 |
Family
ID=18968997
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001118629A Expired - Fee Related JP3656566B2 (ja) | 2001-04-17 | 2001-04-17 | 放射線検査装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6661868B2 (ja) |
| JP (1) | JP3656566B2 (ja) |
| KR (1) | KR20020081074A (ja) |
| CN (1) | CN100399013C (ja) |
| AU (1) | AU779738B2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2005024453A (ja) * | 2003-07-04 | 2005-01-27 | Anritsu Sanki System Co Ltd | Ｘ線検査装置 |
| JP2005127962A (ja) * | 2003-10-27 | 2005-05-19 | Anritsu Sanki System Co Ltd | Ｘ線検査装置 |
| WO2009041393A1 (ja) * | 2007-09-26 | 2009-04-02 | Ishida Co., Ltd. | 検査装置 |
| JP2013253832A (ja) * | 2012-06-06 | 2013-12-19 | Anritsu Sanki System Co Ltd | Ｘ線検査装置 |
| JP2014020913A (ja) * | 2012-07-18 | 2014-02-03 | Kyukyu Yakuhin Kogyo Kk | フィルム状医薬品の検査方法 |
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| JP4699563B1 (ja) * | 2010-10-20 | 2011-06-15 | オオクマ電子株式会社 | 錠剤検査装置 |
| JP6397690B2 (ja) * | 2014-08-11 | 2018-09-26 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | Ｘ線透過検査装置及び異物検出方法 |
| EP3658961B1 (en) | 2017-07-26 | 2022-08-17 | Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. | A radiation detector and methods of data output from it |
| DE102019111567A1 (de) * | 2019-05-03 | 2020-11-05 | Wipotec Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Röntgeninspektion von Produkten, insbesondere von Lebensmitteln |
| KR102373241B1 (ko) | 2021-06-15 | 2022-03-15 | 주식회사 디알텍 | 방사선 디텍터 및 이를 포함하는 방사선 검사장치 |
Family Cites Families (12)
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| US3828193A (en) * | 1971-03-10 | 1974-08-06 | Gerber Prod | Method and apparatus for detecting partially-filled or absent containers in a sealed shipping carton |
| JPS63225157A (ja) * | 1987-03-16 | 1988-09-20 | Toshiba Corp | 品質判定装置 |
| JPS63236989A (ja) * | 1987-03-26 | 1988-10-03 | Toshiba Corp | 異物検出装置 |
| CN87212001U (zh) * | 1987-08-22 | 1988-07-13 | 公安部第一研究所 | 双通道x射线线扫描检查设备 |
| JPH02266248A (ja) * | 1989-04-06 | 1990-10-31 | Hitachi Plant Eng & Constr Co Ltd | 異物検査方法 |
| JPH0480637A (ja) * | 1990-07-23 | 1992-03-13 | Fuji Photo Film Co Ltd | シート材料のムラの評価方法及びそのための評価システム |
| CN1030036C (zh) * | 1993-05-04 | 1995-10-18 | 刘长兴 | 用于透射诊断设备均衡成象的方法及其装置 |
| US5585603A (en) * | 1993-12-23 | 1996-12-17 | Design Systems, Inc. | Method and system for weighing objects using X-rays |
| DE19632478C2 (de) * | 1996-08-12 | 1998-07-02 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren zur Echtzeiterfassung von Fremdkörpern in einem Prüfobjekt |
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| US6215845B1 (en) * | 1999-10-18 | 2001-04-10 | General Mills, Inc. | Detection of variable positionable missing components utilizing x-rays |
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-
2001
- 2001-04-17 JP JP2001118629A patent/JP3656566B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2002
- 2002-04-12 KR KR1020020019970A patent/KR20020081074A/ko not_active Application Discontinuation
- 2002-04-16 US US10/123,756 patent/US6661868B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-04-16 AU AU34341/02A patent/AU779738B2/en not_active Ceased
- 2002-04-17 CN CNB021056706A patent/CN100399013C/zh not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20020150206A1 (en) | 2002-10-17 |
| CN1381716A (zh) | 2002-11-27 |
| AU779738B2 (en) | 2005-02-10 |
| AU3434102A (en) | 2002-11-21 |
| CN100399013C (zh) | 2008-07-02 |
| JP3656566B2 (ja) | 2005-06-08 |
| KR20020081074A (ko) | 2002-10-26 |
| US6661868B2 (en) | 2003-12-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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| A977 | Report on retrieval |
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| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
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|
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|
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|
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