JP2003315286A - Ｘ線異物検出装置 - Google Patents

Ｘ線異物検出装置

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JP2003315286A JP2002122464A JP2002122464A JP2003315286A JP 2003315286 A JP2003315286 A JP 2003315286A JP 2002122464 A JP2002122464 A JP 2002122464A JP 2002122464 A JP2002122464 A JP 2002122464A JP 2003315286 A JP2003315286 A JP 2003315286A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 製造ラインを停止させることなく、Ｘ線異物
検出装置が正常に機能しているか否かを常時チェックす
ることのできるＸ線異物検出装置を提供する。 【解決手段】 被検査物２を搬送するコンベア３と、こ
のコンベア３上の被検査物２に対してＸ線を照射するＸ
線発生器４と、このＸ線発生器４により被検査物２に照
射されたＸ線の透過度を検出するＸ線センサー５を備
え、Ｘ線センサー５の少なくとも一端部もしくはその近
傍のＸ線照射位置であって、被検査物２が通過しない位
置に、当該Ｘ線異物検出装置１の感度確認用のテストピ
ース８，９を配置する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、Ｘ線を用いて食品
等に混入した石、金属などの密度の高い異物を検出する
Ｘ線異物検出装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種のＸ線異物検出装置とし
て、ベルトコンベア等のコンベアによって被検査物を搬
送しつつ、このコンベアの上方からＸ線を照射し、コン
ベアの搬送面の下方に配されたＸ線センサーにより被検
査物を透過した後のＸ線を検出して、被検査物と異物と
の密度差を利用することによって異物を検出するように
した装置が知られている。
【０００３】ところで、このＸ線異物検出装置において
は、一定期間（例えば１時間）毎に当該異物検出装置が
正常に異物検出を行っているか否かを検査することが必
要である。この検査は、製造ラインを一時停止させ、異
物に模した石、金属などのテストピースを付着させた被
検査物をラインに流して、異物が正常に検出されて異物
混入物がラインから排出されるか否かをチェックするこ
とにより行われる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来装置では、Ｘ線異物検出装置が正常に機能しているか
否かの検査は一定期間毎に行われるものであるために、
その装置の正常状態が継続しているか否かは次回の検査
を待たないと判明しないという問題点がある。また、こ
の次回の検査において装置が正常に機能していないこと
が判明した場合には、前回の検査時点に遡って被検査物
を再調査する必要があるという問題点もある。しかも、
このような検査は製造ラインを一時停止させて行う必要
があるために、製造工程に及ぼす影響も大きい。
【０００５】本発明は、このような問題点を解消するた
めになされたもので、製造ラインを停止させることな
く、Ｘ線異物検出装置が正常に機能しているか否かを常
時チェックすることのできるＸ線異物検出装置を提供す
ることを目的とするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段および作用・効果】前記目
的を達成するために、本発明によるＸ線異物検出装置
は、被検査物を搬送するコンベアと、このコンベア上の
被検査物に対してＸ線を照射するＸ線発生器と、このＸ
線発生器により前記被検査物に照射されたＸ線の透過度
を検出するＸ線センサーを備えるＸ線異物検出装置にお
いて、前記Ｘ線センサーの少なくとも一端部もしくはそ
の近傍のＸ線照射位置であって、前記被検査物が通過し
ない位置に、当該Ｘ線異物検出装置の感度確認用のテス
トピースを配置することを特徴とするものである。
【０００７】本発明によれば、Ｘ線センサーの少なくと
も一端部もしくはその近傍のＸ線照射位置に感度確認用
のテストピースが配されているので、Ｘ線発生器とＸ線
センサーとによって被検査物の検査を行う際に同時にそ
のテストピースの密度と厚みとを検出することができ
る。したがって、Ｘ線異物検出装置の感度、言い換えれ
ばそのＸ線異物検出装置の機能が正常であるか否かを常
時確認することができる。こうして、Ｘ線異物検出装置
の機能チェックがリアルタイムで行えるので、製造ライ
ンをその機能チェックのために一定時間毎に停止させる
必要がなく、また前回のチェック時点まで遡って被検査
物を再調査する必要もない。
【０００８】本発明において、前記テストピースを前記
被検査物の搬送経路の両側に配するとともに、両方のテ
ストピースの密度および厚みを、確認すべき感度の下限
に近い値に設定することができる。このようにテストピ
ースの密度および厚みを確認すべき感度の下限に近い値
に設定することで、被検査物の異物検出をより確実に行
うことができる。また、このテストピースを被検査物の
搬送経路の両側に配することで、Ｘ線センサーにおける
左右の感度の違いを検出することができ、被検査物に対
する検出精度をより向上させることができる。
【０００９】また、本発明において、前記テストピース
を前記被検査物の搬送経路の両側に配するとともに、一
方のテストピースの密度および厚みを、確認すべき感度
の下限に近い値に設定し、他方のテストピースの密度お
よび厚みを、一方のテストピースより高い値に設定する
こともできる。このようにすれば、Ｘ線センサーによる
検出範囲（上限、下限）の設定を行うことができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】次に、本発明によるＸ線異物検出
装置の具体的な実施の形態について、図面を参照しつつ
説明する。
【００１１】図１には、本発明の一実施形態に係るＸ線
異物検出装置の全体斜視図が示されている。
【００１２】本実施形態のＸ線異物検出装置１は、食品
の搬送中にその食品に混入した石や金属などの密度の高
い異物を検出し、異物が混入された食品が検出された際
にはその食品を搬送経路外へ排出するようにされた装置
に適用した例を示すものである。
【００１３】このＸ線異物検出装置１は、被検査物（本
実施形態では食品）２を搬送するベルトコンベア３と、
このベルトコンベア３の上方に配されてそのベルトコン
ベア３によって搬送されてくる被検査物２に対してＸ線
を照射するＸ線発生器４と、前記ベルトコンベア３の搬
送面の下方に搬送方向を横断するように配されて前記Ｘ
線発生器４により被検査物２に照射されたＸ線の透過度
を検出するＸ線センサー５と、動作指示に基づき前記Ｘ
線発生器４の動作制御を行うとともに、前記Ｘ線センサ
ー５より得られるデータを演算処理して異物の有無の判
定を行うコントローラ６と、このコントローラ６に接続
されて各種画像および判定結果などを表示するモニター
７を備えて構成されている。
【００１４】前記Ｘ線センサー５としては、ベルトコン
ベア３の幅方向をその検出範囲とする一次元（直線配
列）のセンサー（ラインセンサー）が用いられ、その幅
（長手方向の長さ）は被検査物２の幅に対して十分大き
な幅にされている。これにより、Ｘ線センサー５の両端
部分には被検査物２を透過しないＸ線が入射されるの
で、この被検査物２を透過しない部分でのＸ線の出力信
号によって被検査物２を透過した部分でのＸ線の出力信
号を補正した後、被検査物２を２次元画像に展開して画
像処理によってその被検査物２内の異物の有無を判定す
ることができる。
【００１５】本実施形態においては、前記Ｘ線センサー
５の両端部のＸ線照射位置であって、被検査物２が通過
しない位置に、所定の密度と厚み（容積）とを有する当
該Ｘ線異物検出装置１の感度確認用のテストピース８，
９が配置され、これによってＸ線異物検出装置１の機能
が正常であるか否かのチェックを行うようにされてい
る。ここで、このテストピース８，９は、その密度およ
び厚みが確認すべき感度の下限に近い値に設定されてい
る。
【００１６】このように構成されているので、Ｘ線発生
器４からのＸ線が常にテストピース８，９に照射される
ことになるので、このテストピース８，９の密度と厚み
とをＸ線異物検出装置１にて常時チェックすることがで
きる。図２には、モニター７の画面に映し出された画像
が示されている。このように、モニター７の画面には、
被検査物２の画像２Ａのほかに、画面の両端部にテスト
ピース８，９の画像８Ａ，９Ａが映し出されている。こ
のテストピース８，９の画像８Ａ，９Ａを処理すること
で、Ｘ線異物検出装置１の感度を確認してその機能が正
常であるか否かをチェックすることができる。
【００１７】図３には、本発明の他の実施形態に係るＸ
線異物検出装置の平面図が示されている。
【００１８】本実施形態では、ベルトコンベア３の両側
部の搬送面よりやや上方位置にガードレール１０を設け
て、Ｘ線センサー５の両端に配されているテストピース
８，９の部位に被検査物２が通過しないようにし、この
部位を感度チェック用に確保したものである。こうする
ことで、感度チェックがより確実に行えることになる。
【００１９】図４には、本発明の更に他の実施形態に係
るＸ線異物検出装置の平面図（ａ）および（ａ）の部分
断面図（ｂ）が示されている。
【００２０】前記各実施形態においては、Ｘ線センサー
５の両端部に板状のテストピース８，９を装着するもの
としたが、本実施形態では、ベルトコンベア３の両側縁
近傍におけるベルト３ａ表面に球状のテストピース１１
を埋設するように構成されたものである。このような構
成によっても、テストピース１１がＸ線照射位置に来る
たびにそのテストピース１１にＸ線が照射されること
で、当該Ｘ線異物検出装置の感度チェックが行えること
になる。
【００２１】前記各実施形態によれば、ベルトコンベア
３の両側に配されたテストピースの密度および厚みが、
いずれも確認すべき感度の下限に近い値に設定されてい
るので、Ｘ線センサー５における左右の感度の違いを検
出することができ、被検査物に対する検出精度をより向
上させることができる。
【００２２】また、両側に配されるテストピースのう
ち、一方のテストピースの密度および厚みを、確認すべ
き感度の下限に近い値に設定し、他方のテストピースの
密度および厚みを、一方のものよりも高い値に設定する
こともできる。このようにすれば、Ｘ線センサーによる
検出範囲の上限値および下限値を設定できるという効果
がある。
【００２３】なお、前記各実施形態においては、感度チ
ェック用のテストピースをベルトコンベア３の両側に配
置したものを説明したが、このテストピースはベルトコ
ンベア３の片側のみに配置するようにしても良い。
【００２４】前記各実施形態では、食品に混入した異物
を検出する場合について説明したが、本発明は、食品以
外の種々の分野に対しても適用できるのは言うまでもな
い。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は、本発明の一実施形態に係るＸ線異物検
出装置の全体斜視図である。
【図２】図２は、本実施形態におけるモニター画面に映
し出された画像を示す図である。
【図３】図３は、本発明の他の実施形態に係るＸ線異物
検出装置の平面図である。
【図４】図４は、本発明の更に他の実施形態に係るＸ線
異物検出装置の平面図（ａ）および（ａ）の部分断面図
（ｂ）である。
【符号の説明】
１ Ｘ線異物検出装置 ２ 被検査物 ３ ベルトコンベア ４ Ｘ線発生器 ５ Ｘ線センサー ６ コントローラ ７ モニター ８，９，１１ テストピース １０ ガードレール

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 被検査物を搬送するコンベアと、このコ
    ンベア上の被検査物に対してＸ線を照射するＸ線発生器
    と、このＸ線発生器により前記被検査物に照射されたＸ
    線の透過度を検出するＸ線センサーを備えるＸ線異物検
    出装置において、 前記Ｘ線センサーの少なくとも一端部もしくはその近傍
    のＸ線照射位置であって、前記被検査物が通過しない位
    置に、当該Ｘ線異物検出装置の感度確認用のテストピー
    スを配置することを特徴とするＸ線異物検出装置。
  2. 【請求項２】 前記テストピースは前記被検査物の搬送
    経路の両側に配されるとともに、両方のテストピースの
    密度および厚みが、確認すべき感度の下限に近い値に設
    定される請求項１に記載のＸ線異物検出装置。
  3. 【請求項３】 前記テストピースは前記被検査物の搬送
    経路の両側に配されるとともに、一方のテストピースの
    密度および厚みが、確認すべき感度の下限に近い値に設
    定され、他方のテストピースの密度および厚みが、一方
    のテストピースより高い値に設定される請求項１に記載
    のＸ線異物検出装置。
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