JP5306682B2 - X線異物検査装置 - Google Patents
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Description
2 X線源
5 画像処理装置(異物検出手段)
31,32 X線エリアカメラ(撮像手段)
40,240 コンベア(搬送手段)
50,150,250 被検査物
Claims (2)
- 所定の照射角でX線を放射状に出射するX線源と、
前記X線源から出射されたX線が入射するように配置された撮像手段と、
前記X線源と前記撮像手段との間に設けられ、その上に載置された被検査物を所定の搬送経路に沿って搬送する搬送手段と、
前記撮像手段によって撮像されたX線画像に基づいて、前記被検査物の表面又は内部の異物や欠陥の有無を判別する異物検出手段とを備えたX線異物検査装置において、
前記搬送手段は、前記被検査物の幅方向中央部が、前記X線源の略真下に位置するように搬送し、
前記撮像手段は、1つの前記X線源に対して、平面視点対称に配置された2つの撮像素子を含み、
前記2つの撮像素子は、前記被検査物の搬送方向においては、前記X線源を中心として互いに重複しないように配置されており、かつ、前記搬送方向に直交する方向においては、前記X線源を中心として互いに部分的に重複するように配置されており、
前記搬送方向から見て、前記2つの撮像素子の中心点を通る垂線が前記X線源を通るように、前記2つの撮像素子が互いに逆向きに傾斜して配置されていることを特徴とするX線異物検査装置。 - 前記撮像素子は、X線エリアカメラであって、
前記搬送手段は、前記X線エリアカメラによる前記被検査物の撮像範囲がオーバーラップするように、当該X線エリアカメラの受光面の前記搬送手段の搬送方向の長さよりも短い移動距離で、前記被検査物を間欠移動させることを特徴とする請求項1記載のX線異物検査装置。
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