JP4275252B2 - 異物検査システム - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明はX線を用いた異物検査システムに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
近年、各種の商品についての安全性に関する要求が高まっており、特に食品などの商品においては、異物が混入することを防止する必要がある。一方、一般的な金属探知機では微小な針や骨片ないしプラスチックなどの非金属からなる異物の検出を行うのは難しい。
そこで、例えば特開平9−113631号公報または特開平9−127017号公報に開示されているようなX線を用いた異物検査システムが実用化されている。
【0003】
かかる異物検査システムの一例を図7に示す。図7に示すように、該異物検査システムは、図示しないコンベヤにより搬送される商品MにX線照射手段101からX線Lを照射し、商品Mを透過したX線をX線検出器(ラインセンサ)102に入射させ、該X線検出器102からの出力をコンピュータで連続的に処理することによって異物検出を行う。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、コンピュータで処理されたX線検出器102からの出力は、商品Mを透過した光量の分布を明度で示した画像として認識される。該画像において、周辺の部位に対して明度の大きく異なる部位がある場合には、異物によってX線が遮へいされたと考えられるので、当該部位に異物が存在していると判定することができる。
しかし、図7に示すように、針状の異物Dが商品Mに刺さっており、該異物Dの長手方向の軸線がX線Lの照射方向に対して直角に近い場合には、当該異物DによるX線の吸収量が比較的小さいために、商品M自体によるX線の吸収量が大きなノイズ(バックグラウンド)となって、該異物Dを認識することが困難となる。そのため、検出もれの生じる場合がある。
【0005】
したがって、本発明の目的は、微小な針状の異物等でも検出もれの生じにくい異物検査システムを提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するために、本発明の異物検査システムは、互いに平行に配列された2つのコンベヤにより搬送される各商品にX線照射手段からのX線を照射し、前記商品を透過したX線をX線検出器に入射させて、前記商品に付着している異物を検出することで合否の判定を行う異物検査システムにおいて、前記X線照射手段およびX線検出器を包含する光学系を2組設けると共に、これら2組のX線照射手段およびX線検出器を前記コンベヤの搬送方向に対して交差する平面上に設け、前記2組の光学系の光軸が、搬送方向の上流から見て互いに交差するように前記2組のX線照射手段およびX線検出器を配設し、前記各X線検出器からの出力に基づいて、各々、前記商品に異物が付着しているか否かの異物検出を行い、前記X線検出器のうちいずれか一つのX線検出器からの出力に基づいて、前記商品に異物が付着していると判別したときに、当該商品については不合格とする異物検査システムであって、前記各X線照射手段により2つのコンベヤ上の双方の商品にX線を照射可能で、前記各X線検出器は各々前記各コンベヤ上の商品についての前記異物を検出できるように検出範囲のアドレスが2分割されており、前記2つのX線検出器のうち一方のX線検出器からの出力に基づいて商品に異物が付着しているか否かの第1の異物検出を行い、前記第1の異物検出後、前記2つのX線検出器のうち他方のX線検出器からの出力に基づいて当該商品に異物が付着しているか否かの第2の異物検出を行う。
【0007】
かかるシステムにおいて、2組のX線検出器のうちいずれか一つのX線検出器からの出力に基づいて、商品に異物が付着していると判別した場合には、当該商品を不合格とする。
【0008】
なお、本発明において、前記2組の光学系以外に、更に別の光学系を設けて異物の検出を行うようにしてもよい。
【0009】
【発明の構成および原理】
つぎに、本発明の原理について図1および図2を用いて説明する。
図1に示すように、2組のX線照射手段21,31およびX線検出器22,32をそれぞれ設ける。該X線照射手段21,31およびX線検出器22,32の組は、搬送方向Yの上流から見て互いに交差するように配設されており、それぞれ、第1光学系20および第2光学系30を構成している。両光学系20,30は、コンベヤの側面から見て互いに搬送方向に離間した位置に配設されており、かつ、搬送方向Yに対して交差する平面上に設けられている。まず、第1光学系20によって第1の異物検出が行なわれた後、商品Mが第2光学系30の位置に搬送されて第2の異物検出が行なわれる。
【0010】
原理1:
ここで、図1に示すように、たとえば、針状の異物Dが商品Mに刺さっており、当該異物Dの長手方向の軸線が第1光学系20のX線Lの照射方向に対して直角に近い場合、第1の異物検出では、異物Dの吸収量が小さくなるので、商品M自体によるX線Lの吸収が大きなバックグラウンドとなって、該異物Dを認識することができない場合がある。しかし、この場合には、第2光学系30のX線Lの照射方向が異物Dの長手方向に沿っているから、第2の異物検出においては当該異物DによるX線Lの吸収量が大きくなるので、当該異物Dを認識することができる。
【0011】
原理2:
ところで、図2(a)に示すように、搬送方向Yに対し斜め前方および後方に向かう平面上に2組の光学系20a,30aを設けることも考えられる。しかし、こうすると、X線Lは商品Mに対し斜めに照射されるので、破線で示すように、大きな断面P1,P2に沿ってX線Lが通過する。そのため、商品M自体によるX線Lの吸収量が大きくなる。したがって、商品Mの端部MeにおけるX線Lの吸収量と、破線で示すその他の部分の吸収量との差が大きくなる。その結果、検出箇所により、いわゆるバックグラウンドが大きく変化するので、異物を判別しにくくなる。
したがって、本発明では、図2(b)に示すように、前記各X線照射手段21,31からX線検出器22,32に入射するX線Lが通過する平面P3,P4が互いに平行で、かつ、前記搬送方向Yに略直交するように設定するのが好ましい。このように設定することで、X線Lが商品Mの搬送方向に対して直交した横断面(検出断面)P3,P4を通過するので、商品MによるX線Lの吸収量が小さくなるから、すなわち、バックグラウンドの変化が小さくなるから、異物の判別が容易になる。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施形態を図面にしたがって説明する。
図3および図4は、本発明の理解に役立つ参考例1を示す。
【0013】
図3(a)に示すように、商品の搬送ライン上に設けられた異物検査システム1は、両側に商品Mの入口1aおよび出口1bの設けられたX線シールドボックス1Sを有している。X線シールドボックス1S内には第1〜第3コンベヤ51〜53が直列に配置されている。第1コンベヤ51は始端部が入口1aに位置しており、入口1aから搬入された商品Mは第2コンベヤ52を介して第3コンベヤ53に至り、該第3コンベヤ53によって出口1bから搬出される。
【0014】
前記X線シールドボックス1S内には、2組の第1および第2光学系20,30がコンベヤ51〜53の側面から見て互いに搬送方向に離間した位置に設けられている。該第1光学系20は第1X線照射手段21および第1X線検出器22によって構成されており、一方、第2光学系30は第2X線照射手段31および第2X線検出器32によって構成されている。該X線照射手段21,22はX線を発生させ、該X線をX線検出器22,32に向って照射する。X線検出器22,32は、多数の画素を所定間隔にコンベヤの幅方向に配設したラインセンサからなる。
【0015】
前記第1コンベヤ51の終端部と第2コンベヤ52の始端部との間、および第2コンベヤ52の終端部と第3コンベヤ53の始端部の間には、商品Mの受け渡しに支障がない寸法の第1および第2の隙間50a,50bがそれぞれ設けられている。両光学系20,30の光軸S1,S2は、前後のコンベヤの前記隙間50a,50bを通過する位置に設定されている。
図3(b)に示すように、前記2組の光学系20,30の光軸S1,S2は、搬送方向Yの上流から見て左右対称、かつ、互いに略直交するように配設されている。また、該2組の光学系20,30は、図3(a)に示すように、X線照射手段21,31からX線検出器22,32に入射するX線が通過する平面が互いに平行で、かつ、搬送方向Yに略直交するように設定されている。
なお、異物検査システム1の下流には、不良商品をラインアウトさせるための振り分け装置9が設けられている。
【0016】
つぎに、異物検査システムの制御構成について説明する。
図4に示すように、異物検査システム1は振り分け装置9と互いに接続されている。異物検査システム1はマイコン10を有している。マイコン10には、前記第1および第2光学系20,30、表示器4、第1〜第3コンベヤ51〜53および通過検出器8がそれぞれ接続されている。なお、図4に示す各機器は、それぞれ図示しないインターフェイスを介して接続されている。
【0017】
マイコン10はCPU11,ROM12およびRAM13を備えている。CPU11はX線画像処理部11aを備えている。
X線画像処理部11aは、第1X線検出器22からの出力を受信順に連続的に処理することにより、透過X線の量に応じた明暗の分布を有する画像を作成する。CPU11は当該画像を表示器4に表示させる。一方、CPU11は、当該画像において周辺の部位に対して明度の大きく異なる部位があるか否かを判別することで、当該商品Mに異物が付着しているか否かの第1の異物検出を行い、商品Mの合否を判定する。
前記X線画像処理部11aおよびCPU11は、第2X線検出器32からの出力に対しても同様な処理を行い、作成した画像を表示器4に表示させると共に、第2の異物検出を行う。
前記CPU11は、第1および第2の異物検出の結果のうち、少なくとも何れか一方において、商品Mに異物が付着していると判別した場合に、当該商品を不合格とし、振り分け信号を振り分け装置9に送信する。
【0018】
つぎに、異物検査システムの動作について説明する。
搬送ライン上の商品Mは、図3(a)に示す第1コンベヤ51によって、異物検査システム1の入口1aからX線シールドボックス1S内に搬入される。第1コンベヤ51上の該商品Mは、第1の隙間50a上を通過して第2コンベヤ52に乗り移る。同時に、X線画像処理部11aが第1X線検出器22からの透過X線の検出信号に基づいて画像を作成し、CPU11が該画像を表示器4に表示させる。同時に、CPU11は当該画像に基づいて第1の異物検出を行う。第1の異物検出において、当該商品Mに異物が付着しているので不合格であると判別した場合には、振り分け装置9に振り分け信号を送信する。
【0019】
前記第1の異物検出後、第2コンベヤ52上の商品Mは、第2の隙間50b上を通過して第3コンベヤ53に乗り移る。同時に、X線画像処理部11aが第2X線検出器32からの透過X線の検出信号に基づいて画像を作成し、CPU11が該画像を表示器4に表示させる。同時に、CPU11は第2の異物検出を行う。第2の異物検出において、当該商品Mが不合格であると判別した場合には、振り分け装置9に振り分け信号を送信する。
その後、商品Mは出口1bからX線シールドボックス1Sの外に搬送され、下流の振り分け装置9に送られる。
【0020】
前記構成において、本参考例1の異物検出システムでは、前述の原理1で説明したように、針状の異物であっても、2つの光学系20,30のうち少なくともいずれか一方では、当該異物DのX線Lの吸収量が大きくなるから、該異物Dを認識することができる。また、前述の原理2で説明したように、バックグラウンドの変化が小さくなるから、異物の判別が容易になる。したがって、微小な針状の異物等でも検出もれが生じにくい。
【0021】
また、本発明における両光学系20,30は搬送方向Yに対して交差する平面上に設けられているので、図2(a)のように2組の光学系20a,30aを斜めに設ける場合よりも、システムの全長を短くすることができる。そのため、異物検査システムをコンパクトにすることができる。
【0022】
なお、前記参考例1では、図3(a)の第1および第2の隙間50a,50bに両光学系20,30の光軸を設定したが、両隙間50a,50bを設けず、コンベヤ自体を透過したX線を検出するようにしてもよい。
【0023】
また、図5(a)の参考例に示すように、両光学系20,30を互いに干渉しない程度に接近させ、該両光学系20,30の光軸S1,S2を同一の隙間50aを通過する位置に設けてもよい。
また、光学系は3組以上設けてもよい。たとえば、図5(b)の参考例に示すように、搬送方向Yに対し斜め下方の前方等に設定された光軸を持つ第3光学系30Aを設けてもよい。
【0024】
図6は本発明の一実施形態を示す。
図6に示すように、本実施形態の異物検出システムは、互いに平行に配列された2連のコンベヤ51A(52A,53A),51B(52B,53B)上を搬送される商品M1,M2の異物検出を行うものである。
第1および第2光学系20,30のX線の照射範囲は、それぞれ、搬送される2つの商品M1,M2の両方に照射可能な位置に設けられている。X線検出器22,32は、その検出範囲がアドレスで22A,22Bおよび32A,32Bに2分割されており、1つのX線検出器で2連のコンベヤ51A(52A,53A),51B(52B,53B)上の商品M1,M2についての異物検出を同時に行うことができるようにしてある。
その他の構成は、前記参考例1と同様であり、同一部分または相当部分に同一符号を付して、その詳しい説明および図示を省略する。
【0025】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、2組の光学系の光軸を搬送方向の上流から見て互いに交差するように配設したので、針状の異物であっても、2組の光学系のうち少なくともいずれか一方では、当該異物のX線の吸収量が大きくなるから、該異物を認識することができる。したがって、検出もれが生じにくくなる。
また、各光学系のX線による検出断面を、コンベヤの搬送方向に対して直交する平面上に設ければ、商品の部位によるバックグラウンドの変化が小さくなるから、異物の判別が容易になる。したがって、異物検査システムの検出精度が向上して、検出もれが一層生じにくくなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の異物検査システムの検出原理を示す正面図である。
【図2】 (a)は本発明に含まれない異物検査システム、(b)は本発明にかかる異物検査システムの検出原理を示す斜視図である。
【図3】 本発明の理解に役立つ参考例にかかる異物検査システムを示す概略側面図および概略正面図である。
【図4】 同異物検査システムを示す概略構成図である。
【図5】 他の参考例を示す概略側面図である。
【図6】 本発明の一実施形態にかかる異物検査システムを示す概略正面図である。
【図7】 従来の異物検査システムを示す概略斜視図である。
【符号の説明】
20:第1光学系
21:第1X線照射手段
22:第1X線検出器
30:第2光学系
31:第2X線照射手段
32:第2X線検出器
51,51A,51B:第1コンベヤ
52,52A,52B:第2コンベヤ
53,53A,53B:第3コンベヤ
D:異物
M,M1,M2:商品
S1:光軸
S2:光軸
Y:搬送方向
Claims (7)
- 互いに平行に配列された2つのコンベヤにより搬送される各商品にX線照射手段からのX線を照射し、前記商品を透過したX線をX線検出器に入射させて、前記商品に付着している異物を検出することで合否の判定を行う異物検査システムにおいて、
前記X線照射手段およびX線検出器を包含する光学系を2組設けると共に、
これら2組のX線照射手段およびX線検出器を前記コンベヤの搬送方向に対して交差する平面上に設け、
前記2組の光学系の光軸が、搬送方向の上流から見て互いに交差するように前記2組のX線照射手段およびX線検出器を配設し、
前記各X線検出器からの出力に基づいて、各々、前記商品に異物が付着しているか否かの異物検出を行い、
前記X線検出器のうちいずれか一つのX線検出器からの出力に基づいて、前記商品に異物が付着していると判別したときに、当該商品については不合格とする異物検査システムであって、
前記各X線照射手段により2つのコンベヤ上の双方の商品にX線を照射可能で、
前記各X線検出器は各々前記各コンベヤ上の商品についての前記異物を検出できるように検出範囲のアドレスが2分割されており、
前記2つのX線検出器のうち一方のX線検出器からの出力に基づいて商品に異物が付着しているか否かの第1の異物検出を行い、前記第1の異物検出後、前記2つのX線検出器のうち他方のX線検出器からの出力に基づいて当該商品に異物が付着しているか否かの第2の異物検出を行う異物検査システム。 - 請求項1において、
前記2組の光学系の光軸が、搬送方向の上流から見て互いに略直交するように前記2組のX線照射手段およびX線検出器を配設したことを特徴とする異物検査システム。 - 請求項1もしくは2において、
前記2組の光学系の光軸が、コンベヤの側面から見て互いに搬送方向に離間した位置に設定されている異物検査システム。 - 請求項1,2もしくは3において、
前記2組の光学系の光軸が、前後のコンベヤの隙間を通過する位置に設定されている異物検査システム。 - 請求項1ないし4のいずれか1項において、
前記2組の光学系の光軸が、搬送方向の上流から見て左右対称となるように設定されている異物検査システム。 - 請求項1ないし5のいずれか1項において、
前記X線検出器がラインセンサで構成されている異物検査システム。 - 請求項6において、
前記2組の光学系は前記X線照射手段からX線検出器に入射するX線が通過する平面が互いに平行で、かつ、前記搬送方向に略直交するように設定されている異物検査システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16816599A JP4275252B2 (ja) | 1999-06-15 | 1999-06-15 | 異物検査システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16816599A JP4275252B2 (ja) | 1999-06-15 | 1999-06-15 | 異物検査システム |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008316677A Division JP2009053214A (ja) | 2008-12-12 | 2008-12-12 | 検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000356605A JP2000356605A (ja) | 2000-12-26 |
JP4275252B2 true JP4275252B2 (ja) | 2009-06-10 |
Family
ID=15863022
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16816599A Expired - Fee Related JP4275252B2 (ja) | 1999-06-15 | 1999-06-15 | 異物検査システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4275252B2 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4677137B2 (ja) * | 2001-08-07 | 2011-04-27 | 株式会社イシダ | X線検査装置 |
JP4531547B2 (ja) * | 2004-12-14 | 2010-08-25 | アンリツ産機システム株式会社 | X線異物検出装置 |
JP2006177760A (ja) * | 2004-12-22 | 2006-07-06 | Nagoya Electric Works Co Ltd | X線検査装置、x線検査方法およびx線検査プログラム |
CN101071109B (zh) * | 2006-05-08 | 2010-05-12 | 清华大学 | 一种多段直线轨迹成像的货物安全检查系统 |
JP5133590B2 (ja) * | 2007-04-27 | 2013-01-30 | アンリツ産機システム株式会社 | X線異物検出装置 |
JP2010127702A (ja) * | 2008-11-26 | 2010-06-10 | Kyocera Chemical Corp | 絶縁性樹脂組成物中の金属粉異物の自動検知方法 |
JP5650002B2 (ja) * | 2011-02-08 | 2015-01-07 | アンリツ産機システム株式会社 | X線異物検出装置 |
JP6749869B2 (ja) * | 2017-06-26 | 2020-09-02 | アンリツインフィビス株式会社 | 物品検査装置 |
CN108152304A (zh) * | 2017-12-14 | 2018-06-12 | 上海海洋大学 | 一种用于含骨鱼肉片的发射器检测器联动检测设备及方法 |
JP2020020593A (ja) * | 2018-07-30 | 2020-02-06 | 高嶋技研株式会社 | 放射線検査装置及び放射線検査方法 |
-
1999
- 1999-06-15 JP JP16816599A patent/JP4275252B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2000356605A (ja) | 2000-12-26 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060516 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080403 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080617 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080731 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20081014 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081212 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090303 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090304 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
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