WO2010044213A1 - セラミック積層部品とその製造方法 - Google Patents

セラミック積層部品とその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
WO2010044213A1
WO2010044213A1 PCT/JP2009/005140 JP2009005140W WO2010044213A1 WO 2010044213 A1 WO2010044213 A1 WO 2010044213A1 JP 2009005140 W JP2009005140 W JP 2009005140W WO 2010044213 A1 WO2010044213 A1 WO 2010044213A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
glass
ceramic
glass ceramic
green sheet
laminated
Prior art date
Application number
PCT/JP2009/005140
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
犬塚敦
元滿弘法
Original Assignee
パナソニック株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by パナソニック株式会社 filed Critical パナソニック株式会社
Priority to JP2010533802A priority Critical patent/JP5617637B2/ja
Priority to US13/121,656 priority patent/US8416049B2/en
Priority to CN200980140734.7A priority patent/CN102186792B/zh
Publication of WO2010044213A1 publication Critical patent/WO2010044213A1/ja

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C04CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04BLIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B35/00Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products
    • C04B35/01Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics
    • C04B35/16Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics based on silicates other than clay
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F17/00Fixed inductances of the signal type 
    • H01F17/0006Printed inductances
    • H01F17/0013Printed inductances with stacked layers
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C14/00Glass compositions containing a non-glass component, e.g. compositions containing fibres, filaments, whiskers, platelets, or the like, dispersed in a glass matrix
    • C03C14/004Glass compositions containing a non-glass component, e.g. compositions containing fibres, filaments, whiskers, platelets, or the like, dispersed in a glass matrix the non-glass component being in the form of particles or flakes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F1/00Magnets or magnetic bodies characterised by the magnetic materials therefor; Selection of materials for their magnetic properties
    • H01F1/01Magnets or magnetic bodies characterised by the magnetic materials therefor; Selection of materials for their magnetic properties of inorganic materials
    • H01F1/03Magnets or magnetic bodies characterised by the magnetic materials therefor; Selection of materials for their magnetic properties of inorganic materials characterised by their coercivity
    • H01F1/12Magnets or magnetic bodies characterised by the magnetic materials therefor; Selection of materials for their magnetic properties of inorganic materials characterised by their coercivity of soft-magnetic materials
    • H01F1/34Magnets or magnetic bodies characterised by the magnetic materials therefor; Selection of materials for their magnetic properties of inorganic materials characterised by their coercivity of soft-magnetic materials non-metallic substances, e.g. ferrites
    • H01F1/342Oxides
    • H01F1/344Ferrites, e.g. having a cubic spinel structure (X2+O)(Y23+O3), e.g. magnetite Fe3O4
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F17/00Fixed inductances of the signal type 
    • H01F17/04Fixed inductances of the signal type  with magnetic core
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F41/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties
    • H01F41/02Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for manufacturing cores, coils, or magnets
    • H01F41/04Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for manufacturing cores, coils, or magnets for manufacturing coils
    • H01F41/041Printed circuit coils
    • H01F41/046Printed circuit coils structurally combined with ferromagnetic material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F41/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties
    • H01F41/14Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for applying magnetic films to substrates
    • H01F41/16Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for applying magnetic films to substrates the magnetic material being applied in the form of particles, e.g. by serigraphy, to form thick magnetic films or precursors therefor
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C2214/00Nature of the non-vitreous component
    • C03C2214/08Metals
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F17/00Fixed inductances of the signal type 
    • H01F17/0006Printed inductances
    • H01F2017/0066Printed inductances with a magnetic layer

Definitions

  • the present invention relates to a ceramic laminated part used in various electronic devices, and particularly relates to a ceramic laminated part that can be sintered at a low temperature.
  • ceramic multilayer components mounted on electronic devices are required to support higher frequencies.
  • it is effective to reduce the stray capacitance of the circuit pattern inside the ceramic multilayer component.
  • the insulating material used for the ceramic laminated parts has a low dielectric constant.
  • silver having a high conductivity is often used as a material for a circuit pattern wiring formed inside thereof in order to reduce the electric resistance in the circuit. Therefore, an insulating material having a low dielectric constant needs to be sintered and densified at around 900 ° C. which is lower than the melting point of silver.
  • a borosilicate glass material to which fillers such as silica, alumina, forsterite, cordierite and the like are added is well known.
  • a glass ceramic in which a filler is mixed with borosilicate glass is often used for ceramic laminated parts corresponding to high frequencies.
  • ferrite which is a magnetic material
  • crystalline silica is often used as a filler in order to adjust the thermal expansion coefficient.
  • Such a low-temperature sintered glass is disclosed in Patent Document 1, for example.
  • the present invention is a highly reliable ceramic laminated part in which silver migration is suppressed.
  • the ceramic multilayer component of the present invention includes a ferrite magnetic layer and a glass ceramic layer that is mainly composed of borosilicate glass, is laminated with the ferrite magnetic layer, and has a silver inner conductor embedded therein. In the glass ceramic layer, minute regions in which aluminum and silver coexist are dispersed.
  • Such a ceramic laminated part is manufactured by the following procedure. First, a glass ceramic green sheet formed by mixing borosilicate glass powder, crystalline silica, and alumina hydrate powder is prepared. At this time, the amount of alumina hydrate in the glass ceramic green sheet is 0.5 wt% or more and 4.5 wt% or less. Next, a silver inner conductor is formed in the glass ceramic green sheet. Subsequently, a ferrite green sheet and a glass ceramic green sheet are laminated to form a laminate, and this laminate is fired at a melting point of silver or lower.
  • silver does not diffuse over a wide range in the glass ceramic layer, but is fixed together with aluminum in a fine dispersion region of alumina hydrate mixed with borosilicate glass. Therefore, silver migration is suppressed even in the presence of H 2 O in an electric field.
  • FIG. 1 is an internal cross-sectional view of a ceramic laminated part according to an embodiment of the present invention.
  • 2 is an exploded perspective view of the ceramic laminated component shown in FIG.
  • FIG. 3 is an external view of the ceramic laminated component shown in FIG.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view of the ceramic multilayer component
  • FIG. 2 is an exploded perspective view of the ceramic multilayer component
  • FIG. 3 is an external view of the ceramic multilayer component.
  • FIG. 1 shows a cross section taken along line 1-1 of FIG.
  • the ceramic laminated component includes a glass ceramic layer 20 mainly composed of borosilicate glass, ferrite magnetic layers 21A and 21B, a ferrite via 22, and silver (Ag) planar coils 23A and 23B.
  • a glass ceramic layer 20 mainly composed of borosilicate glass, ferrite magnetic layers 21A and 21B, a ferrite via 22, and silver (Ag) planar coils 23A and 23B.
  • minute regions 10 in which aluminum (Al) and Ag coexist are dispersed.
  • the ferrite magnetic layers 21A and 21B sandwich the glass ceramic layer 20.
  • the planar coil 23A is formed on the layer 20D, and the lead conductor 25A is formed on the layer 20E.
  • One end of the planar coil 23A is electrically connected to one of the external end face electrodes 26 shown in FIG. 3 from the Ag via electrode 24A via the lead conductor 25A.
  • the planar coil 23B is formed on the layer 20C, and the lead conductor 25B is formed on the layer 20B.
  • One end 232B of the planar coil 23B is electrically connected to the other one of the external end face electrodes 26 via an Ag via electrode 24B and a lead conductor 25B.
  • the other ends 231A and 231B of the planar coils 23A and 23B are electrically connected to the remaining two of the external end face electrodes 26.
  • Layers 20A-20E form glass ceramic layer 20.
  • a mixed powder obtained by mixing a borosilicate glass powder, a crystalline silica powder, and an Al (OH) 3 powder as raw materials for the glass ceramic layer 20 is mixed with a binder and a solvent to prepare a ceramic slurry.
  • the mixed powder is composed of, for example, 68.5 wt% borosilicate glass powder, 29 wt% crystalline silica powder, and 2.5 wt% Al (OH) 3 powder.
  • the binder for example, an acrylic resin, and as the solvent, for example, toluene, ethyl acetate, butyl acetate, or the like is used.
  • the prepared ceramic slurry is formed into a sheet having a thickness of, for example, about 25 ⁇ m by a doctor blade method to produce a glass ceramic green sheet used for the glass ceramic layer 20.
  • Ni-Zn-Cu ferrite powder that can be fired at 900 ° C. or lower, a binder, and a solvent are mixed using a ball mill to produce a ceramic slurry.
  • a binder for example, a butyral resin and a phthalic acid plasticizer are used
  • the solvent for example, butyl acetate, butanol, or the like is used.
  • a ferrite green sheet used for the ferrite magnetic layers 21A and 21B is produced from the prepared ceramic slurry by a doctor blade method so as to have a thickness of about 50 to 100 ⁇ m, for example.
  • via electrodes for electrical connection between layers to be Ag via electrodes 24A and 24B are formed on the glass ceramic green sheets in the layers 20B and 20D using Ag paste.
  • Ag planar coil conductors to be the planar coils 23A and 23B are formed on the layers 20C and 20D by using a printing method or a transfer method.
  • the conductor portions to be the lead conductors 25A and 25B are formed on the layers 20B and 20E using Ag paste.
  • two ferrite green sheets and each glass ceramic green sheet are sequentially laminated so as to obtain the configuration of FIG.
  • the ferrite via 22 is formed by making a hole near the axis of the planar coil and filling the ferrite paste there.
  • the produced laminated body is fired at 900 ° C. to produce a laminated fired body that is a laminated structure in which two planar coils 23 A and 23 B are embedded in the glass ceramic layer 20.
  • An Ag metallized layer is formed by applying an Ag paste to the end surfaces of the lead wires 25A and 25B and the end portions 231A and 231B exposed on the outer side surface of the laminated fired body so as to be electrically connected. Further, Ni plating and Sn plating are performed to form the external end face electrode 26.
  • a binder used for a glass ceramic green sheet and a ferrite green sheet a butyral resin-based binder and an acrylic binder whose lamination properties are controlled using an appropriate amount of a plasticizer can be used. That is, a commonly used binder may be used and is not particularly limited.
  • ester solvent is, for example, ethyl acetate, butyl acetate
  • ketone solvent is, for example, toluene, methyl ethyl ketone (MEK)
  • alcohol solvent is, for example, isopropyl alcohol (IPA), butanol.
  • the solvent is not particularly limited.
  • the mixing method may be a generally known method such as a medium stirring mill in addition to the ball mill, and is not particularly limited.
  • the sheet forming method may be a generally known method such as pressure sheet molding, and is not particularly limited.
  • Ag constituting Ag via electrodes 24A and 24B and planar coils 23A and 23B does not diffuse over a wide range in glass ceramic layer 20 during sintering. Then, Ag is fixed together with Al in a fine dispersion region of alumina hydrate (Al (OH) 3 powder) mixed with borosilicate glass. As a result, the glass ceramic layer 20 of the ceramic laminated part has a structure in which the microregions 10 in which Al and Ag coexist are dispersed. Therefore, Ag migration is suppressed even in the presence of H 2 O in an electric field.
  • a ceramic laminated part (sample A) as described above and confirming its effect will be described.
  • a ceramic laminated part (sample B) using a glass ceramic green sheet to which no Al (OH) 3 powder is added is produced and evaluated.
  • a ceramic laminated part (sample C) using a glass ceramic green sheet to which an equivalent amount of Al 2 O 3 powder is added instead of Al (OH) 3 powder is produced and evaluated.
  • a ceramic laminated part (sample D) having a built-in planar coil is produced and evaluated using only the glass ceramic green sheet used in sample B without using a ferrite green sheet. This is for comparison with the case where co-firing with ferrite is not performed.
  • PCBT test a reliability test by a pressure cooker bias test is performed on each of 100 ceramic laminated parts, and the result is shown as a defect rate.
  • an applied voltage of 5 V is applied between the planar coils 23A and 23B, and left for 48 hours in an environment of 2 atm, humidity 85%, and temperature 125 ° C.
  • the insulation resistance is reduced to 1 ⁇ 10 6 ⁇ or less, it is determined as defective.
  • the borosilicate glass is a glass that is softened and melted at 900 ° C. or less with boron (B) added to SiO 2 as a skeleton.
  • B boron
  • a small amount of an alkali such as Al or K, an alkaline earth such as Ca, or the like may be added.
  • the composition of B in the borosilicate glass is desirably 15% by weight or more and 28% by weight or less in terms of oxide. If the composition of B in the borosilicate glass is less than 15% by weight in terms of oxide, the softening point of the glass becomes high and a sufficiently dense fired body cannot be obtained. On the other hand, when the composition of B in the borosilicate glass exceeds 28% by weight in terms of oxide, it becomes difficult to stably produce the glass powder.
  • the content of the crystalline silica powder is set to 20% by weight or more and 40% by weight or less. If it is less than 20% by weight, the difference in thermal expansion coefficient from ferrite becomes too large, and the possibility of cracking in the glass ceramic layer during co-firing increases. If it exceeds 40% by weight, sintering of the glass ceramic layer 20 does not proceed sufficiently, and a sufficiently dense glass ceramic layer 20 cannot be obtained.
  • 20% by weight of crystalline silica powder is added, the thermal expansion coefficient of the glass ceramic is 54 ⁇ 10 ⁇ 7 / ° C., and if the thermal expansion coefficient is higher than that, the glass ceramic layer 20 is not cracked. Can be fired simultaneously with ferrite.
  • alumina Al 2 O 3
  • baking is performed at a temperature equal to or lower than the melting point of Ag, preferably around 900 ° C., for simultaneous firing with Ag. Therefore, the alumina hydrate in the glass ceramic layer 20 after firing is not alumina. Alumina was not detected in the analysis by X-ray diffraction.
  • the addition of alumina hydrate in the present embodiment is completely different from the addition of alumina used as a filler for glass materials.
  • the defect rate is zero when the blending amount (addition amount) of Al (OH) 3 is 0.5 wt% or more and 4.5 wt% or less (Sample G to Sample N).
  • the sample F having a blending amount of 0.1% by weight, Ag is detected in a wide range in the glass ceramic layer. This is presumably because the effect of alumina hydrate is insufficient because the blending amount of Al (OH) 3 is small.
  • the sample P having a blending amount of 5% by weight a portion where the microregions where Al and Ag coexist is connected is observed. It is considered that such a phenomenon occurs when the blending amount of Al (OH) 3 is too large, and the defect rate increases.
  • the blending amount of Al (OH) 3 in the ceramic component of the glass ceramic green sheet forming the glass ceramic layer 20 needs to be 0.5 wt% or more and 4.5 wt% or less. Although data is not shown, it has been confirmed that even when AlOOH is used, it is necessary to make this blending amount range in terms of molar fraction.
  • a mixed powder is prepared in which a mixing ratio of borosilicate glass, crystalline silica, and Mg (OH) 2 to be blended with the green sheet for the glass ceramic layer is blended at a weight ratio of 69: 29: 2.
  • a ceramic laminated part is manufactured through the same process as Sample A (Sample R).
  • a PCBT test is performed using these samples. The results are shown in (Table 3).
  • a green sheet using borosilicate glass tends to precipitate boric acid on the green sheet during storage.
  • pores are formed on the laminated surface and the reliability deteriorates.
  • it is particularly effective to add Mg (OH) 2 .
  • the common mode noise filter has been described as an example of the ceramic multilayer component.
  • the present invention is not limited to this.
  • the present invention can be similarly applied to other ceramic laminated parts such as a ceramic filter or a ceramic multilayer substrate that incorporates a circuit that generates a potential difference in a circuit wiring pattern.
  • the present invention is not limited to this. This is applicable when the glass ceramic layer and the ferrite magnetic layer are in contact with each other and sintered.
  • the ceramic laminated component according to the present invention is composed of a ferrite magnetic layer and a glass ceramic layer mainly composed of borosilicate glass and containing an Ag inner conductor.
  • alumina hydrate By blending alumina hydrate with the glass ceramic green sheet forming the glass ceramic layer, the glass ceramic layer is in a state where fine regions where Al and Ag coexist are dispersed.

Abstract

 セラミック積層部品は、フェライト磁性層と、ほう珪酸ガラスを主成分とし、フェライト磁性層と積層され、Agの内部導体が埋設されたガラスセラミック層とを有する。ガラスセラミック層にはアルミニウムと銀とが共存している微小領域が分散して存在している。

Description

セラミック積層部品とその製造方法
 本発明は、各種電子機器に用いられるセラミック積層部品であり、特に低温で焼結できるセラミック積層部品に関する。
 電子機器の扱う情報量の増大や高速化に伴い、電子機器に搭載されるセラミック積層部品にはより高周波への対応が要求されている。高周波化に対応するためには、セラミック積層部品内部の回路パターンの浮遊容量の低減が効果的である。そのためにはセラミック積層部品に用いる絶縁材料が低誘電率であることが要求される。
 また、このようなセラミック積層部品では、その内部に形成される回路パターン配線の材質として、回路内の電気抵抗を小さくするために高導電率を有する銀がよく用いられる。したがって低誘電率の絶縁材料は、銀の融点以下である900℃前後で焼結、緻密化することが必要である。
 このような要件を満たす低誘電率の絶縁材料としては、シリカ、アルミナ、フォルステライト、コーディエライト等のフィラーを加えたほう珪酸ガラス材料がよく知られている。高周波に対応するセラミック積層部品には、ほう珪酸ガラスにフィラーを混合したガラスセラミックがよく用いられる。特に、磁性材料であるフェライトと同時焼成する場合には熱膨張係数を調整するために、結晶性シリカがフィラーとしてよく用いられる。このような低温焼結ガラスは例えば特許文献1に開示されている。
 しかしながら、従来のほう珪酸ガラスを低誘電材料としてガラスセラミック層に用いた場合、ほう珪酸ガラス中の広い範囲に銀が拡散する。そのため、セラミック積層部品内で銀のマイグレーション反応が生じてショート等の不良が起こりやすく信頼性が低下する。
 特に、ガラスセラミック層とフェライト磁性層とを同時焼成する場合に銀の拡散は促進され、セラミック積層部品の信頼性が著しく低下する。
特開平11-171640号公報
 本発明は、銀のマイグレーションを抑制した信頼性の高いセラミック積層部品である。本発明のセラミック積層部品は、フェライト磁性層と、ほう珪酸ガラスを主成分とし、フェライト磁性層と積層され、銀の内部導体が埋設されたガラスセラミック層とを有する。ガラスセラミック層にはアルミニウムと銀とが共存している微小領域が分散して存在している。このようなセラミック積層部品は次の手順で作製される。まずほう珪酸ガラス粉末と結晶質シリカとアルミナ水和物粉末とを混合し成形したガラスセラミックグリーンシートを作製する。このときガラスセラミックグリーンシートにおいてアルミナ水和物の配合量を0.5重量%以上、4.5重量%以下とする。次にこのガラスセラミックグリーンシート内に銀の内部導体を形成する。続いてフェライトグリーンシートとガラスセラミックグリーンシートとを積層し、積層体を形成し、この積層体を銀の融点以下で焼成する。
 この構成では、銀はガラスセラミック層のなかで広い範囲に拡散せずに、ほう珪酸ガラスに混合したアルミナ水和物の微小な分散領域にアルミニウムと共に固定される。そのため、電界中、HO存在下でも銀のマイグレーションが抑制される。
図1は本発明の実施の形態によるセラミック積層部品の内部断面図である。 図2は図1に示すセラミック積層部品の分解斜視図である。 図3は図1に示すセラミック積層部品の外観図である。
 以下、本発明のセラミック積層部品として、フェライトグリーンシートとガラスセラミックグリーンシートとを同時焼成して得られるコモンモードノイズフィルターを一例として説明する。図1はセラミック積層部品の断面図、図2はこのセラミック積層部品の分解斜視図、図3はこのセラミック積層部品の外観図である。図1は図2の1-1線における断面を示している。
 図1に示すようにセラミック積層部品は、ほう珪酸ガラスを主成分とするガラスセラミック層20と、フェライト磁性層21A、21Bと、フェライトビア22と、銀(Ag)の平面コイル23A、23Bとを有する。ガラスセラミック層20内にはアルミニウム(Al)とAgが共存する微小領域10が分散している。フェライト磁性層21A、21Bはガラスセラミック層20を挟んでいる。
 図1、図2に示すように、平面コイル23Aは層20Dに形成され、引き出し導線25Aは層20Eに形成されている。平面コイル23Aの一方の端部は、Agビア電極24Aから、引き出し導線25Aを介して、図3に示す外部端面電極26のうちの1つに電気的に接続されている。平面コイル23Bは層20Cに形成され、引き出し導線25Bは層20Bに形成されている。平面コイル23Bの一方の端部232Bは、Agビア電極24B、引き出し導線25Bを介して、外部端面電極26のうちの他の1つに電気的に接続されている。平面コイル23A、23Bの他方の端部231A、231Bは外部端面電極26の残りの2つに電気的に接続されている。層20A~20Eはガラスセラミック層20を形成する。
 次にこのような構成のセラミック積層部品の製造プロセスの例を説明する。まず、ガラスセラミック層20の原材料となるほう珪酸ガラス粉末と結晶質シリカ粉末とAl(OH)粉末を混合した混合粉末を、バインダーと、溶剤と混合してセラミックスラリーを作製する。混合粉末は、例えば68.5重量%のほう珪酸ガラス粉末と、29重量%の結晶質シリカ粉末と、2.5重量%のAl(OH)粉末で構成されている。バインダーとしては、例えばアクリル樹脂、溶剤としては、例えばトルエン、酢酸エチル、酢酸ブチル等が用いられる。調製されたセラミックスラリーをドクターブレード法により、例えば25μm程度の厚みになるようシート成形してガラスセラミック層20に用いるガラスセラミックグリーンシートを作製する。
 同様に、900℃以下で焼成可能なNi-Zn-Cuフェライト粉末とバインダーと、溶剤とを、ボールミルを用いて混合してセラミックスラリーを作製する。バインダーとしては、例えばブチラール樹脂とフタル酸系の可塑剤が、溶剤としては、例えば酢酸ブチル、ブタノール等が用いられる。調製されたセラミックスラリーから、ドクターブレード法により、例えば50~100μm程度の厚みになるようシート成形してフェライト磁性層21A、21Bに用いるフェライトのグリーンシートを作製する。
 次に、ガラスセラミックグリーンシートに、Agビア電極24A、24Bとなる、層間の電気的接続のためのビア電極を、Agペーストを用いて層20B、20Dに形成する。また、平面コイル23A、23Bとなる、Agの平面コイル導体を印刷法もしくは転写法を用いて層20C、20Dに形成する。また引き出し導線25A、25Bとなる導体部を、Agペーストを用いて層20B、20Eに形成する。そして図2の構成になるように順次、2枚のフェライトグリーンシートと各ガラスセラミックグリーンシートを積層して積層体を作製する。フェライトビア22は、平面コイルの軸近傍に穴をあけ、そこにフェライトペーストを充填して形成する。
 次に作製された積層体を900℃で焼成して、ガラスセラミック層20中に二つの平面コイル23A、23Bを埋設した積層構造体である積層焼成体を作製する。この積層焼成体の外部側面に露出した引き出し導線25A、25B、および端部231A、231Bの端面に、電気的に接続されるようにAgペーストを端面塗布してAgメタライズ層を形成する。さらに、Niめっき、Snめっきを施して外部端面電極26を形成する。
 なお、ガラスセラミックグリーンシート、フェライトグリーンシートに用いるバインダーとしては、適量の可塑剤を用いて積層性が制御されたブチラール樹脂系およびアクリル系のバインダーを用いることができる。すなわち、通常用いられるバインダーを用いて良く、特に限定されない。
 また、溶剤としては、エステル系、ケトン系、アルコール系の溶剤を用いることができ、必要に応じて乾燥速度を制御するための高沸点溶剤を用いてもよい。エステル系の溶剤は、例えば酢酸エチル、酢酸ブチル、ケトン系の溶剤は、例えばトルエン、メチルエチルケトン(MEK)、アルコール系の溶剤は、例えばイソプロピルアルコール(IPA)、ブタノールである。このように溶剤は特に限定されない。
 また、混合の方法は、ボールミル以外にも媒体攪拌ミル等の一般に知られている方法を用いてもよく、特に限定されない。また、シート形成方法は、ドクターブレード法以外にも加圧シート成型等の一般に知られている方法を用いてもよく、特に限定されない。
 本実施の形態では、Agビア電極24A、24Bや平面コイル23A、23Bを構成するAgが焼結時にガラスセラミック層20のなかで広い範囲に拡散しない。そしてほう珪酸ガラスに混合したアルミナ水和物(Al(OH)粉末)の微小な分散領域に、AgがAlと共に固定される。結果としてセラミック積層部品のガラスセラミック層20はAlとAgが共存する微小領域10が分散した構造を有する。そのため、電界中、HO存在下でもAgのマイグレーションが抑制される。
 次に上述のようにしてセラミック積層部品(サンプルA)を作製し、その効果を確認した結果を説明する。比較のため、Al(OH)粉末を添加しないガラスセラミックグリーンシートを用いたセラミック積層部品(サンプルB)を作製、評価している。また、Al(OH)粉末の代わりに等量分のAl粉末を添加したガラスセラミックグリーンシートを用いたセラミック積層部品(サンプルC)を作製、評価している。さらに、フェライトグリーンシートを使用せず、サンプルBで用いたガラスセラミックグリーンシートのみを用いて平面コイルを内蔵したセラミック積層部品(サンプルD)を作製、評価している。これはフェライトとの同時焼成しない場合と比較するためである。これらのサンプルは使用した材料以外は同様のプロセスを経て作製している。
 まずサンプルA、サンプルB、サンプルC、サンプルDの断面をエネルギー分散型の元素マッピング分析を行う。その結果、サンプルAではAgが検出できないガラスセラミック層20のマトリックス中にAlとAgが共存する5μm以下の微小領域10が分散している。それに対して、サンプルBではAgがガラスセラミック層の広範囲に拡散し、かつ一部Agが強く検出される微小領域が観察される。サンプルCでは、Alのみが検出される微小領域とAgが強く検出される微小領域が観察され、Agはガラスセラミック層中に広い範囲に拡散している。サンプルDでは、ガラスセラミック層中にAgはほとんど検出できない。このことはフェライトとの同時焼成において、Agの拡散が促進されることを示唆している。このように、フェライトとの同時焼成時にガラスセラミック層20中にアルミナ水和物を添加した場合にのみ、フェライトとの同時焼成で拡散が促進されたAgがAlに固着されている。
 (表1)に、各々100個のセラミック積層部品に対してプレッシャークッカーバイアステストによる信頼性試験(PCBT試験)を行い、その結果を不良率で示す。PCBT試験では、平面コイル23A、23Bの間に5Vの印加電圧をかけた状態で、2気圧、湿度85%、温度125℃の環境下で48時間放置する。その結果、絶縁抵抗が、1×10Ω以下に低下したものを不良と判断する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
 フェライトと同時焼成しないサンプルDの場合は、ガラスセラミック層中にAgがほとんど拡散していないのでPCBT試験では不良が発生していない。フェライトとの同時焼成したサンプルB、サンプルCの場合、Agがガラスセラミックス層中に広い範囲で拡散していたためPCBT試験で不良が発生している。これに対しサンプルAではガラスセラミック層20にアルミナ水和物であるAl(OH)を添加している。これにより、ガラスセラミック層20中でAgがAlに固着され、PCBT試験で不良が発生していない。このように本実施の形態では高信頼性のセラミック積層部品を作製できる。
 なお、ほう珪酸ガラスは、SiOを骨格として、ほう素(B)を添加され、900℃以下で軟化溶融するガラスである。他に微量のAlやKのようなアルカリ、Ca等のアルカリ土類等が少量添加されていても良い。ほう珪酸ガラス中のBの組成は、酸化物換算で15重量%以上、28重量%以下であることが望ましい。ほう珪酸ガラス中のBの組成が酸化物換算で15重量%より少ないと、ガラスの軟化点が高温になり充分に緻密な焼成体が得られない。またほう珪酸ガラス中のBの組成が酸化物換算で28重量%を超えると、ガラス粉末の安定的な製造が困難になる。
 また、結晶質シリカ粉末の含有量は20重量%以上、40重量%以下としている。20重量%未満では、フェライトとの熱膨張係数の差が大きくなりすぎて、同時焼成時にガラスセラミック層に亀裂が生じる可能性が高まる。40重量%を超えると、ガラスセラミック層20の焼結が充分に進行せず、充分に緻密なガラスセラミック層20が得られない。結晶質シリカ粉末を20重量%加えた場合に、ガラスセラミックの熱膨張係数は、54×10-7/℃であり、それ以上の熱膨張係数であれば、ガラスセラミック層20に亀裂が入らず、フェライトと同時焼成が可能である。
 また、Al(OH)の代わりにアルミナ水和物であるAlOOHでもサンプルAと同様のプロセスを経てサンプルEを作製し、PCBT試験を実施した場合でも不良率はゼロである。このように、AlOOHを用いた場合でも高信頼性のあるセラミック積層部品を作製することができる。なおAlOOHとAl(OH)を併用しても不良率はゼロである。このようにAlOOH、Al(OH)の少なくともいずれかであるアルミナ水和物粉末をガラスセラミックグリーンシートに添加すればよい。ただし、Al(OH)はさらに生産性に優れているため、望ましい。
 なお、添加したアルミナ水和物がアルミナ(Al)になるためには、1000℃以上の高温にする必要がある。本実施の形態では、Agと同時焼成するためにAgの融点以下、望ましくは900℃付近で焼成する。したがって焼成後のガラスセラミックス層20中のアルミナ水和物はアルミナになっていない。X線回析による分析においてもアルミナは検出されていない。このように本実施の形態におけるアルミナ水和物の添加は、通常、ガラス材料のフィラーとして用いられるアルミナの添加とは全く作用が異なっている。
 次にアルミナ水和物の配合量に関して検討した結果を説明する。ガラスセラミック層20を形成するグリーンシートに配合するほう珪酸ガラスと結晶性シリカの配合比を70:30の重量比に固定して、Al(OH)を0.1重量%~5重量%までの範囲で配合する。この条件で、総量100重量%とした混合粉末を用いて、サンプルAと同様のプロセスを経て積層セラミック部品を作製し(サンプルF~サンプルR)、PCBT試験を実施する。その結果を(表2)に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
 (表2)に示すように、Al(OH)の配合量(添加量)が、0.5重量%以上、4.5重量%以下の範囲で不良率がゼロである(サンプルG~サンプルN)。配合量が0.1重量%のサンプルFでは、Agがガラスセラミック層中に広い範囲で検出されている。これはAl(OH)の配合量が少ないためアルミナ水和物の効果が不充分であるためと考えられる。また、配合量が5重量%のサンプルPでは、AlとAgの共存する微小領域が連結している箇所が観察される。Al(OH)の配合量が多すぎるとこのような現象が生じ、不良率が増大すると考えられる。以上から、ガラスセラミック層20を形成するガラスセラミックグリーンシートのセラミック成分におけるAl(OH)の配合量は0.5重量%以上、4.5重量%以下とする必要がある。なおデータは示さないが、AlOOHを用いた場合でもモル分率換算でこの配合量の範囲とする必要があることを確認している。
 次に、アルミナ水和物以外の添加物を混合しても、アルミナ水和物の効果が認められることを説明する。
 ガラスセラミック層用のグリーンシートに配合するほう珪酸ガラスと結晶性シリカとMg(OH)とAl(OH)の配合比を68:28:2:2の重量比で配合した混合粉末を調製する。この混合粉末を用いて、サンプルAと同様なプロセスを経て積層セラミック部品を作製する(サンプルQ)。
 また比較のため、ガラスセラミック層用のグリーンシートに配合するほう珪酸ガラスと結晶性シリカとMg(OH)の配合比を69:29:2の重量比で配合した混合粉末を調製する。この混合粉末を用いて、サンプルAと同様のプロセスを経てセラミック積層部品を作製する(サンプルR)。これらのサンプルを用いて、PCBT試験を実施する。その結果を(表3)に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000003
 ほう珪酸ガラスを用いたグリーンシートは、保管中にグリーンシート上にほう酸が析出しやすい。ほう酸が析出したグリーンシートを用いたセラミック積層部品では、積層面にポアが形成され信頼性が劣化する。このほう酸析出を抑制するためには、特にMg(OH)の添加が有効である。
 しかしながらMg(OH)を添加しAl(OH)を添加しないサンプルRでは、PCBT試験で不良が発生している。一方、Mg(OH)とAl(OH)を添加しているサンプルQでは、サンプルAと同様に不良が発生していない。このように、Mg(OH)を含んでいる場合でも、Al(OH)を配合することによって、信頼性が高まる。上述のようにMg(OH)を添加することでほう酸の析出を抑制できるため、アルミナ水和物とMg(OH)との同時添加は、信頼性の高いセラミック積層部品を作製するための効果が大きい。
 またMg(OH)以外にも、CaCO等の他の物質を少量配合しても、アルミナ水和物による効果が発揮されることを確認している。
 なお、以上の実施の形態ではセラミック積層部品としてコモンモードノイズフィルターを一例として説明した。しかしながら本発明はこれに限定されない。回路配線パターン内で電位差が生じる回路を内蔵するセラミックフィルターやセラミック多層基板のような他のセラミック積層部品についても同様に適用可能である。
 また本実施の形態ではガラスセラミック層20をフェライト磁性層21A、21Bで挟んだ構造を説明したが、本発明はこれに限定されない。ガラスセラミック層とフェライト磁性層とが接して焼結される場合に適用可能である。
 本発明によるセラミック積層部品は、フェライト磁性層と、ほう珪酸ガラスを主成分とし、Agの内部導体を含有するガラスセラミック層とで構成されている。このガラスセラミック層を形成するガラスセラミックグリーンシートにアルミナ水和物を配合することによって、ガラスセラミック層はAlとAgが共存する微小領域が分散した状態になる。その結果、信頼性の高いセラミック積層部品を作製することができるため、高周波に対応したセラミック積層部品として有用である。
10  AlとAgが共存する微小領域
20  ガラスセラミック層
20A,20B,20C,20D,20E   層
21A,21B  フェライト磁性層
22  フェライトビア
23A,23B  平面コイル
24A,24B  Agビア電極
25A,25B  引き出し導線
26  外部端面電極
231A,231B,232B  端部

Claims (4)

  1. フェライト磁性層と、
    ほう珪酸ガラスを主成分とし、前記フェライト磁性層と積層され、銀の内部導体が埋設されたガラスセラミック層と、を備え、
    前記ガラスセラミック層にはアルミニウムと銀とが共存している微小領域が分散して存在している、
    セラミック積層部品。
  2. ほう珪酸ガラス粉末と結晶質シリカとアルミナ水和物粉末とを混合し成形したガラスセラミックグリーンシートを作製するステップと、
    前記ガラスセラミックグリーンシート内に銀の内部導体を形成するステップと、
    フェライトグリーンシートと前記ガラスセラミックグリーンシートとを積層し、積層体を形成するステップと、
    前記積層体を銀の融点以下で焼成するステップとからなるセラミック積層部品の製造方法であって、
    前記ガラスセラミックグリーンシートを作製するステップにおいて、前記ガラスセラミックグリーンシートにおいて前記アルミナ水和物 の配合量を0.5重量%以上、4.5重量%以下とする、
    セラミック積層部品の製造方法。
  3. 前記アルミナ水和物粉末がAl(OH)とAlOOHとの少なくともいずれかである、
    請求項2記載のセラミック積層部品の製造方法。
  4. 前記ガラスセラミックグリーンシートを作製するステップにおいて、Mg(OH)とCaCOとの少なくとも一方を添加する、
    請求項2記載のセラミック積層部品の製造方法。
PCT/JP2009/005140 2008-10-14 2009-10-05 セラミック積層部品とその製造方法 WO2010044213A1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010533802A JP5617637B2 (ja) 2008-10-14 2009-10-05 セラミック積層部品とその製造方法
US13/121,656 US8416049B2 (en) 2008-10-14 2009-10-05 Multilayered ceramic component and manufacturing method thereof
CN200980140734.7A CN102186792B (zh) 2008-10-14 2009-10-05 陶瓷层叠部件及其制造方法

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008-265050 2008-10-14
JP2008265050 2008-10-14

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2010044213A1 true WO2010044213A1 (ja) 2010-04-22

Family

ID=42106388

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2009/005140 WO2010044213A1 (ja) 2008-10-14 2009-10-05 セラミック積層部品とその製造方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US8416049B2 (ja)
JP (3) JP5617637B2 (ja)
KR (1) KR101646801B1 (ja)
CN (2) CN103950249B (ja)
WO (1) WO2010044213A1 (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102633439A (zh) * 2011-02-15 2012-08-15 王怀 一种含金或银的玻璃制品及其制备方法
JP2013042040A (ja) * 2011-08-18 2013-02-28 Murata Mfg Co Ltd コモンモードチョークコイルの製造方法及びコモンモードチョークコイル
JP2013131578A (ja) * 2011-12-20 2013-07-04 Taiyo Yuden Co Ltd 積層コモンモードチョークコイル
JP2013135109A (ja) * 2011-12-27 2013-07-08 Panasonic Corp コモンモードノイズフィルタ
CN103915241A (zh) * 2013-01-09 2014-07-09 Tdk株式会社 层叠共模滤波器
JP2014179570A (ja) * 2013-03-15 2014-09-25 Taiyo Yuden Co Ltd コモンモードチョークコイル
WO2015093098A1 (ja) * 2013-12-19 2015-06-25 株式会社村田製作所 ガラスセラミック材料および積層セラミック電子部品
US9159467B2 (en) 2013-02-06 2015-10-13 Tdk Corporation Dielectric ceramic composition, electronic element, and composite electric element
JP2019121622A (ja) * 2017-12-28 2019-07-22 株式会社村田製作所 コイル部品

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101108719B1 (ko) * 2010-07-15 2012-03-02 삼성전기주식회사 적층 인덕터와 이의 제조 방법
JP6081051B2 (ja) 2011-01-20 2017-02-15 太陽誘電株式会社 コイル部品
JP2012238841A (ja) 2011-04-27 2012-12-06 Taiyo Yuden Co Ltd 磁性材料及びコイル部品
JP4906972B1 (ja) 2011-04-27 2012-03-28 太陽誘電株式会社 磁性材料およびそれを用いたコイル部品
JP5048155B1 (ja) * 2011-08-05 2012-10-17 太陽誘電株式会社 積層インダクタ
CN103814419B (zh) * 2011-09-15 2017-12-08 松下知识产权经营株式会社 共模噪声滤波器以及其制造方法
KR101629983B1 (ko) * 2011-09-30 2016-06-22 삼성전기주식회사 코일 부품
KR101862401B1 (ko) * 2011-11-07 2018-05-30 삼성전기주식회사 적층형 인덕터 및 그 제조방법
JP6012960B2 (ja) 2011-12-15 2016-10-25 太陽誘電株式会社 コイル型電子部品
JP2013183068A (ja) * 2012-03-02 2013-09-12 Murata Mfg Co Ltd 積層型電子部品および積層型電子部品の製造方法
KR101531082B1 (ko) * 2012-03-12 2015-07-06 삼성전기주식회사 공통 모드 필터 및 이의 제조 방법
CN104737245B (zh) * 2012-10-19 2016-12-07 株式会社村田制作所 层叠线圈部件及其制造方法
JP5790702B2 (ja) * 2013-05-10 2015-10-07 Tdk株式会社 複合フェライト組成物および電子部品
JP6630915B2 (ja) * 2015-10-08 2020-01-15 パナソニックIpマネジメント株式会社 積層コイル部品
JP6278173B2 (ja) * 2016-01-12 2018-02-14 株式会社村田製作所 積層体及び電子部品
JP6558302B2 (ja) * 2016-05-26 2019-08-14 株式会社村田製作所 電子部品
JP6414566B2 (ja) * 2016-05-26 2018-10-31 株式会社村田製作所 ガラス−セラミック−フェライト組成物および電子部品
JP6260731B1 (ja) * 2017-02-15 2018-01-17 Tdk株式会社 ガラスセラミックス焼結体およびコイル電子部品
JP6673298B2 (ja) 2017-06-05 2020-03-25 株式会社村田製作所 コイル部品
JP6642544B2 (ja) * 2017-09-12 2020-02-05 株式会社村田製作所 コイル部品
JP6720945B2 (ja) * 2017-09-12 2020-07-08 株式会社村田製作所 コイル部品
JP6778400B2 (ja) * 2017-11-29 2020-11-04 株式会社村田製作所 積層コイル部品
JP7065720B2 (ja) * 2018-07-19 2022-05-12 太陽誘電株式会社 磁気結合型コイル部品及びその製造方法
KR102609140B1 (ko) * 2019-03-06 2023-12-05 삼성전기주식회사 코일 부품

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09132483A (ja) * 1995-11-09 1997-05-20 Ngk Insulators Ltd 高温用構造セラミックスとその製造方法
JP2005340611A (ja) * 2004-05-28 2005-12-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd コモンモードノイズフィルタ
JP2007258384A (ja) * 2006-03-22 2007-10-04 Kyocera Corp ガラスセラミック焼結体およびその製造方法ならびに配線基板およびその製造方法
JP2008074679A (ja) * 2006-09-22 2008-04-03 Ngk Spark Plug Co Ltd セラミック多層部品及びその製造方法

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3610191B2 (ja) 1997-06-03 2005-01-12 Tdk株式会社 非磁性セラミックおよびセラミック積層部品
JP3284937B2 (ja) * 1997-09-05 2002-05-27 住友金属工業株式会社 低温焼成セラミックス基板
JPH11171640A (ja) 1997-12-09 1999-06-29 Murata Mfg Co Ltd 低温焼結基板組成物
JPH11288832A (ja) * 1998-04-01 1999-10-19 Ngk Spark Plug Co Ltd 積層インダクタ部品及びその製造方法
JP3528037B2 (ja) * 1998-12-24 2004-05-17 株式会社村田製作所 ガラスセラミック基板の製造方法
US6392525B1 (en) * 1998-12-28 2002-05-21 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Magnetic element and method of manufacturing the same
JP4239534B2 (ja) * 2002-09-10 2009-03-18 株式会社村田製作所 絶縁性ガラスセラミックおよびこれを用いた積層電子部品
JP2004161562A (ja) 2002-11-14 2004-06-10 Murata Mfg Co Ltd 回路基板用セラミックス材料
JP2004235494A (ja) * 2003-01-31 2004-08-19 Toko Inc 積層型電子部品
JP2005252128A (ja) * 2004-03-08 2005-09-15 Murata Mfg Co Ltd 磁性体焼結体の製造方法、及び磁性体焼結体、並びに電子部品
EP1635363A1 (en) * 2004-05-28 2006-03-15 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Common mode noise filter
JP4587758B2 (ja) * 2004-09-22 2010-11-24 京セラ株式会社 ガラスセラミック基板
EP1829841B1 (en) * 2004-10-26 2011-07-06 Murata Manufacturing Co., Ltd. Ceramic material composition, ceramic substrate and irreversible circuit element
JP4720216B2 (ja) * 2005-03-04 2011-07-13 パナソニック株式会社 積層型コモンモードノイズフィルタ
JP4736526B2 (ja) * 2005-05-11 2011-07-27 パナソニック株式会社 コモンモードノイズフィルタ

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09132483A (ja) * 1995-11-09 1997-05-20 Ngk Insulators Ltd 高温用構造セラミックスとその製造方法
JP2005340611A (ja) * 2004-05-28 2005-12-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd コモンモードノイズフィルタ
JP2007258384A (ja) * 2006-03-22 2007-10-04 Kyocera Corp ガラスセラミック焼結体およびその製造方法ならびに配線基板およびその製造方法
JP2008074679A (ja) * 2006-09-22 2008-04-03 Ngk Spark Plug Co Ltd セラミック多層部品及びその製造方法

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102633439A (zh) * 2011-02-15 2012-08-15 王怀 一种含金或银的玻璃制品及其制备方法
JP2013042040A (ja) * 2011-08-18 2013-02-28 Murata Mfg Co Ltd コモンモードチョークコイルの製造方法及びコモンモードチョークコイル
JP2013131578A (ja) * 2011-12-20 2013-07-04 Taiyo Yuden Co Ltd 積層コモンモードチョークコイル
JP2013135109A (ja) * 2011-12-27 2013-07-08 Panasonic Corp コモンモードノイズフィルタ
CN103915241A (zh) * 2013-01-09 2014-07-09 Tdk株式会社 层叠共模滤波器
US9159467B2 (en) 2013-02-06 2015-10-13 Tdk Corporation Dielectric ceramic composition, electronic element, and composite electric element
JP2014179570A (ja) * 2013-03-15 2014-09-25 Taiyo Yuden Co Ltd コモンモードチョークコイル
US9093213B2 (en) 2013-03-15 2015-07-28 Taiyo Yuden Co., Ltd. Common mode choke coil
WO2015093098A1 (ja) * 2013-12-19 2015-06-25 株式会社村田製作所 ガラスセラミック材料および積層セラミック電子部品
JP6079899B2 (ja) * 2013-12-19 2017-02-15 株式会社村田製作所 積層セラミック電子部品
US9881743B2 (en) 2013-12-19 2018-01-30 Murata Manufacturing Co., Ltd. Glass ceramic material and multilayer ceramic electronic component
JP2019121622A (ja) * 2017-12-28 2019-07-22 株式会社村田製作所 コイル部品

Also Published As

Publication number Publication date
CN103950249A (zh) 2014-07-30
JP2014232897A (ja) 2014-12-11
JP2015019100A (ja) 2015-01-29
US8416049B2 (en) 2013-04-09
JPWO2010044213A1 (ja) 2012-03-08
CN102186792A (zh) 2011-09-14
CN103950249B (zh) 2016-09-28
CN102186792B (zh) 2014-12-31
KR101646801B1 (ko) 2016-08-08
JP5617637B2 (ja) 2014-11-05
JP5845426B2 (ja) 2016-01-20
US20110181384A1 (en) 2011-07-28
JP5903671B2 (ja) 2016-04-13
KR20110083624A (ko) 2011-07-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5903671B2 (ja) コモンモードノイズフィルター
JP6079899B2 (ja) 積層セラミック電子部品
JP2006165585A (ja) セラミック多層プリント回路基板
JP5158040B2 (ja) ガラスセラミックス基板
JP2010147098A (ja) 電子部品
WO1998039784A9 (en) Ceramic multilayer printed circuit boards with embedded passive components
WO2013088957A1 (ja) 抵抗体内蔵多層ガラスセラミック基板
WO2018100863A1 (ja) 複合電子部品、及び該複合電子部品の製造方法
JPWO2010084813A1 (ja) 積層型セラミック電子部品およびその製造方法
JP3467873B2 (ja) 多層セラミック基板の製造方法
EP3802446A1 (en) High q ltcc dielectric compositions and devices
JP2006310340A (ja) 導体ペーストおよび成形体並びに配線基板
WO2020176584A1 (en) Ltcc dielectric compositions and devices having high q factors
JP3229021B2 (ja) 回路基板
JPH06338686A (ja) 多層基板の製造方法
WO2001056047A1 (fr) Reseau conducteur integre a une carte multicouche, carte multicouche a reseau conducteur integre et procede de fabrication de carte multicouche
JP2009231542A (ja) ガラスセラミック多層配線基板およびその製造方法
JPH0530317B2 (ja)
JPH0797703B2 (ja) セラミツク多層基板
JP2004345914A (ja) 誘電体ガラスセラミック組成物および多層回路基板
JP2005243856A (ja) ガラスセラミック配線基板

Legal Events

Date Code Title Description
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 200980140734.7

Country of ref document: CN

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 09820392

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2010533802

Country of ref document: JP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 13121656

Country of ref document: US

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 20117008369

Country of ref document: KR

Kind code of ref document: A

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 09820392

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1