WO2006038654A1 - プラズマディスプレイパネルとその製造方法 - Google Patents

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WO2006038654A1
WO2006038654A1 PCT/JP2005/018443 JP2005018443W WO2006038654A1 WO 2006038654 A1 WO2006038654 A1 WO 2006038654A1 JP 2005018443 W JP2005018443 W JP 2005018443W WO 2006038654 A1 WO2006038654 A1 WO 2006038654A1
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electrode
phosphor layer
substrate
display panel
plasma display
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PCT/JP2005/018443
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English (en)
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Masanori Miura
Yukihiro Morita
Shinichiro Hashimoto
Kyohei Yoshino
Junko Asayama
Masashi Goto
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.
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Publication date
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J11/00Gas-filled discharge tubes with alternating current induction of the discharge, e.g. alternating current plasma display panels [AC-PDP]; Gas-filled discharge tubes without any main electrode inside the vessel; Gas-filled discharge tubes with at least one main electrode outside the vessel
    • H01J11/10AC-PDPs with at least one main electrode being out of contact with the plasma
    • H01J11/12AC-PDPs with at least one main electrode being out of contact with the plasma with main electrodes provided on both sides of the discharge space
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J1/00Details of electrodes, of magnetic control means, of screens, or of the mounting or spacing thereof, common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
    • H01J1/54Screens on or from which an image or pattern is formed, picked-up, converted, or stored; Luminescent coatings on vessels
    • H01J1/62Luminescent screens; Selection of materials for luminescent coatings on vessels
    • H01J1/72Luminescent screens; Selection of materials for luminescent coatings on vessels with luminescent material discontinuously arranged, e.g. in dots or lines
    • H01J1/74Luminescent screens; Selection of materials for luminescent coatings on vessels with luminescent material discontinuously arranged, e.g. in dots or lines with adjacent dots or lines of different luminescent material
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    • H01J11/20Constructional details
    • H01J11/22Electrodes, e.g. special shape, material or configuration
    • H01J11/32Disposition of the electrodes
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    • H01J11/00Gas-filled discharge tubes with alternating current induction of the discharge, e.g. alternating current plasma display panels [AC-PDP]; Gas-filled discharge tubes without any main electrode inside the vessel; Gas-filled discharge tubes with at least one main electrode outside the vessel
    • H01J11/20Constructional details
    • H01J11/34Vessels, containers or parts thereof, e.g. substrates
    • H01J11/42Fluorescent layers
    • HELECTRICITY
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    • H01J9/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
    • H01J9/20Manufacture of screens on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted or stored; Applying coatings to the vessel
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    • H01J2211/00Plasma display panels with alternate current induction of the discharge, e.g. AC-PDPs
    • H01J2211/20Constructional details
    • H01J2211/22Electrodes
    • H01J2211/32Disposition of the electrodes
    • H01J2211/323Mutual disposition of electrodes

Definitions

  • the present invention relates to a plasma display panel and a manufacturing method thereof.
  • FIG. 26 (a) is an exploded perspective view (partially sectional view) showing a part of the discharge cell structure of a typical conventional surface discharge AC type PDP.
  • the PDP has a configuration in which a front panel 710 and a rear panel 720 are arranged to face each other.
  • the front panel 710 includes a front substrate 711, a display electrode pair 712 formed on the front substrate 711, and a dielectric layer 715 and a dielectric protective layer 716 sequentially stacked thereon.
  • the display electrode pair 712 includes a scan electrode 713 and a sustain electrode 714 extending in a stripe shape.
  • Each of the electrodes 713 and 714 includes a transparent electrode element 713a and 714a and a nos line 713b and 714b. It is comprised by lamination.
  • the bus lines 713b and 714b are narrowly formed of a metal material or the like in order to compensate for the high resistance of the transparent electrode elements 713a and 714a, that is, in order to reduce the electrical resistance.
  • the dielectric layer 715 is formed of a low-melting glass, and has a current limiting function peculiar to the AC type PDP.
  • the dielectric protective layer 716 has a function of protecting the surfaces of the scan electrode 713 and the sustain electrode 714 and efficiently discharging secondary electrons to lower the discharge start voltage.
  • MgO acidic oxide
  • Magnesium is widely used as a material for the dielectric protective layer 716.
  • the back panel 720 is formed in a plurality of stripes on the surface of the back substrate 721, covers the data electrode 722 for writing image data, and further covers at least part of the surface of the data electrode 722 and the back substrate 721.
  • the dielectric layer 723 on the back side is laminated with a low melting point glass.
  • a partition wall 724 having a predetermined height is formed in a stripe shape or a cross shape by low melting glass (in FIG. 26 (a), for example, a cross shape).
  • the phosphor layer 725 is applied and baked on the surface of the dielectric layer 723 and the side walls of the barrier ribs 724. In the phosphor layer 725, each of the phosphor materials of three colors of red, green, and blue light emission is divided and used for each discharge cell.
  • the PDP is configured by arranging and sealing a front panel 710 and a back panel 720 in a direction in which the scan electrode 713, the sustain electrode 714, and the data electrode 722 intersect.
  • the discharge space 730 formed between the front panel 710 and the back panel 720 exhausts the atmosphere and impurity gas remaining in the manufacturing process, and then uses the rare gas xenon (Xe) neon ( Ne) or Xenon (Xe) ⁇ Helium (He) is filled.
  • the partial pressure ratio of Xe to the total pressure is 5 (%) to 6 (%), and the sealing pressure (total pressure) is set to about several tens (kPa).
  • each region where the display electrode pair 712 and the data electrode 722 intersect three-dimensionally corresponds to a discharge cell as a discharge unit, and a plurality of discharge cells are arranged in a matrix.
  • the PDP is connected to each electrode 713, 714, 722 with a drive circuit for driving in a matrix form, a control circuit for controlling these, and the like, thereby forming a PDP device.
  • the above AC type PDP has (1) an initialization period in which all display cells are initialized, (2) each discharge cell is addressed, and a display state corresponding to input data is selected and input to each discharge cell! / The display is driven and displayed by a driving method consisting of a data writing period and (3) a sustain period in which the discharge cells in the display state are caused to emit light.
  • the light is directly emitted for display using the scan electrode 713 and the sustain electrode 714 of the front panel 710, and the data electrode 722 is used to select a discharge cell to be displayed. It functions and does not directly contribute to display light emission.
  • writing period of (2) above writing is performed using the data electrode 722 of the rear panel 720. Data is input, and wall charges are formed on the surface of the dielectric protective layer 716 of the front panel 710 facing each other.
  • voltage pulses for example, about 200 (for example) are applied to each of the scan electrode 713 and the sustain electrode 714 of the display electrode pair 712 in the discharge cell in which the wall charges exist.
  • V rectangular wave voltages
  • the display light emission Due to the generation of this sustain discharge, the display light emission generates a resonance line with a wavelength of 147 (nm) in the excitation Xe atomic force of the discharge space 730, and a molecular line mainly composed of a wavelength of 173 (nm) is emitted from the excited Xe molecule. .
  • the ultraviolet radiation is converted into visible radiation by the phosphor layer 725 provided on the back panel 720, whereby visible light is obtained.
  • the display state in which the sustain discharge does not occur even when the AC voltage is applied during the sustain period is black display.
  • the display pixel unit of the AC type PDP is usually constituted by a discharge cell force which is three display discharge units each provided with a phosphor layer 725 for emitting red, green and blue light.
  • the discharge during the ramp-up waveform voltage application in the initialization period is a discharge in which the data electrode 722 or the phosphor layer 725 having a small secondary electron emission coefficient ⁇ becomes a force sword (cathode).
  • the weak discharge becomes unstable and strong discharge tends to occur. For this reason, during this discharge, there is a problem that erroneous light emission due to initialization unrelated to the image (hereinafter referred to as initialization bright spot) is likely to occur!
  • the phosphor layer 725, the partition 724, and the back panel are used to reduce the driving voltage, reduce the loss of charged particles on the side of the partition 724 and the surface of the phosphor layer 725, and increase the luminous efficiency.
  • a technique has been proposed in which all portions of the 720 discharge space 730 facing are covered with a film made of a material having a high secondary electron emission coefficient ⁇ (see, for example, Patent Document 1).
  • FIG. 26 (b) is a cross-sectional view showing an embodiment disclosed in Patent Document 1.
  • FIG. 26 (b) in the back panel 740, all the portions facing the discharge space 730 on the surface of the phosphor layer 725 formed inside the back substrate 721 (on the discharge space 730 side) are secondary electrons. It is coated with a phosphor film 746 made of a material with a high emission coefficient. In this embodiment, when the surface of the barrier rib 724 is exposed to the discharge space 730, the exposed portion is also covered with the film 746.
  • Patent Document 1 Therefore, in Patent Document 1, it is considered possible to reduce the electric power of the discharge during the sustain period to some extent.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Laid-Open No. 2002-110046
  • Patent Document 2 Japanese Patent Laid-Open No. 08-212929
  • the MgO film is formed so as to cover the surface of the phosphor layer 725, but with this configuration, it is difficult to stabilize the weak discharge during the initialization period. it is conceivable that. Also in the PDP of this technology, the entire surface of the phosphor layer 725 is covered with a thick film 746 of 0.5 (m) to 20 ( ⁇ m). Excitation of discharge space 730 It is estimated that the resonance line of wavelength 147 (nm) emitted from Xe nuclear power is absorbed by the skin 746 and hardly reaches the phosphor layer 725, and the luminous efficiency is greatly reduced.
  • the present invention has been made in view of such a problem. Even if the Xe partial pressure ratio with respect to the total pressure in the discharge gas is increased, the weak discharge is always stabilized during the initialization period, and the discharge start voltage is increased. PDP that can reduce the initial brightness and improve the image quality by suppressing the occurrence of the initial bright spot, and can suppress the decrease in the luminous efficiency and suppress the decrease in the brightness and improve the brightness, and easily manufacture the PDP.
  • the object is to provide a possible manufacturing method.
  • the PDP according to the present invention is arranged so that the first substrate and the second substrate are opposed to each other with a space therebetween, and the first substrate has a fluorescent region in the space side region.
  • the high gamma part included in the component (hereinafter referred to as “high ⁇ part”) is coated, and the remaining area on the surface of the phosphor layer (that is, the area where the high collar part is not formed). And the high ⁇ part has a configuration in which both face the space.
  • the first substrate and the second substrate are arranged to face each other with a space therebetween, and a phosphor layer is formed in a space-side region of the first substrate.
  • the surface of the phosphor layer is a film-like high-layer material whose constituent elements include a material having a secondary electron emission coefficient ⁇ higher than that of the phosphor material constituting the phosphor layer.
  • the ⁇ portion is coated and the high ⁇ portion has a structure in which the film thickness is not less than 1 (nm) and not more than 10 (nm).
  • a space is provided between the first substrate and the second substrate.
  • a phosphor layer is formed on the surface of the first substrate facing the second substrate.
  • the remaining region on the surface of the phosphor layer (the region where the high ⁇ portion is not formed on the surface of the phosphor layer) and the high ⁇ portion are both exposed to the space.
  • the formation of the part is performed.
  • the first substrate and the second substrate are arranged to face each other with a space therebetween, and the phosphor layer is formed in a space-side region of the first substrate. Formed
  • a method for manufacturing a PDP which includes the following steps.
  • a phosphor layer is formed on the surface of the first substrate on the side facing the second substrate.
  • the high ⁇ portion is formed with a film thickness of 1 (nm) to 10 (nm).
  • the high ⁇ portion forming apparatus corresponds to the surface of the phosphor layer and the surface of the electrode with respect to the substrate on which the electrode and the phosphor layer covering the electrode are formed.
  • the invention's effect [0027]
  • the inventors of the present application have found that in the driving of a PDP having a conventional configuration, generation of a strong discharge during the initialization period is particularly likely to occur during the ramp waveform application, especially during the ramp waveform application. That is, during the initialization period, an up-ramp waveform voltage having a positive slope is applied to the scan electrode, and then a down-ramp waveform voltage having a negative slope is applied to initialize all cells.
  • an up-ramp waveform when the data electrode on the back panel or the secondary electron emission coefficient ⁇ is small and the phosphor layer side becomes a force sword, the initialization discharge becomes unstable and is undesirable. It is easy to generate strong discharge.
  • the high ⁇ portion is formed so as to face the space! Therefore, in the initialization period of the panel drive, the phosphor layer side is placed when the ramp waveform is applied.
  • a stable initializing discharge can be generated by reducing the discharge starting voltage in the case of a force sword and suppressing the generation of a strong discharge.
  • the ultraviolet light generated in the space at the time of driving is incident on the phosphor layer without being greatly attenuated. It is possible to suppress a decrease in the light emission efficiency of the panel as compared with the DP when the technique of Patent Document 1 in which the entire surface of the phosphor layer is covered with MgO is adopted.
  • a high ⁇ -part force can be adopted if it is formed in the shape of spots or stripes on the surface of the phosphor layer.
  • the high ⁇ portion is formed by adhering a particulate material to the surface of the phosphor layer, the! / ⁇ ⁇ configuration can be adopted.
  • the particle size of the particles is 0.05 m) or more and 20 (m) or less.
  • the primary particle diameter of the particles is 0.05 (111) or more and 1 (111) or less.
  • the diameter of the secondary particles of the particles, 2 m) or more 2 ⁇ m) is preferably less than.
  • the PDP according to the present invention employs a configuration in which a plurality of first electrodes are formed on the surface of the first substrate, and a dielectric layer and a phosphor layer are laminated so as to cover the first electrodes. In this case, if the high ⁇ portion is formed in a range including the upper region of the first electrode stack, the above configuration can be adopted.
  • the high ⁇ portion is formed unevenly on the surface of the phosphor layer, so that the above configuration is adopted.
  • the high ⁇ portion is unevenly distributed in the portion corresponding to the surface of the first electrode, it is possible to adopt the structure.
  • a plurality of first electrodes are formed on the surface of the first substrate, and intersect the first electrode on the first substrate on the surface of the second substrate.
  • a plurality of electrode pairs that are paired by a second electrode and a third electrode that are parallel to each other are formed, and the high ⁇ portion is in a region where the first electrode and the display electrode pair cross three-dimensionally.
  • a configuration in which it is unevenly distributed in a corresponding portion or a portion corresponding to the vicinity of the region can be adopted.
  • one of the second electrode and the third electrode is a scan electrode
  • the other is a sustain electrode
  • the high ⁇ portion includes the first electrode (corresponding to the data electrode). It is possible to adopt a configuration in which the scan electrode exists in a state of being unevenly distributed in a portion corresponding to a region where the scan electrode intersects in three dimensions.
  • a voltage based on input video data is applied to each of the first electrode, the second electrode, and the third electrode, and in the discharge cell selected based on the input video data, the first electrode It is possible to adopt a configuration in which a write discharge is generated by applying a voltage between the first electrode and the second electrode, and wall charges are formed by the generation of the write discharge.
  • a plurality of data electrodes are formed on the surface of the first substrate, and the planes intersecting the data electrodes on the surface of the second substrate are parallel to each other.
  • the Yan electrode and the sustain electrode form a plurality of electrode pairs, and each side edge force of the scan electrode is lowered with respect to the surface of the first substrate, the high-pitched portion becomes the phosphor layer. It has a part that exists in the area surrounded by the above normal line A configuration can be employed.
  • a dielectric layer is formed on the first substrate so as to cover a plurality of data electrodes, and between the adjacent data electrodes on the surface of the dielectric layer.
  • a partition wall having an inclined surface extending in a direction parallel to the data electrode and being narrowed toward each other toward the surface of the first substrate is provided, and the phosphor layer is a dielectric of the first substrate.
  • a dielectric layer is formed on the first substrate so as to cover the plurality of data electrodes, and between the adjacent data electrodes on the surface of the dielectric layer.
  • a first partition extending in a direction parallel to the data electrode and a second partition extending in a direction intersecting with the first partition and extending between adjacent electrode pairs formed on the second substrate are erected.
  • the phosphor layer is formed on the wall surface of each recess surrounded by the first partition wall and the second partition wall adjacent to the surface of the dielectric layer of the first substrate.
  • the second partition wall has a slope in a state where the distance between the second partition walls becomes narrower toward the surface of the first substrate, and the high ⁇ portion includes a region surrounded by the above perpendicular line, and is formed on the slope of the second partition wall. If the phosphor layer is formed so as to cover the surface of the phosphor layer, the configuration can be adopted.
  • the high ⁇ -part force is surrounded by the perpendicular and the second perpendicular. It is possible to adopt a configuration in which there is a portion that is damaged in the region.
  • the surface of the phosphor layer is surrounded by the third perpendicular line. It is possible to employ a configuration in which the area facing the space.
  • the PDP according to the present invention may employ a configuration in which a region outside the region surrounded by the perpendicular line faces the space in the surface of the phosphor layer.
  • the high ⁇ portion is formed in a film shape and the film thickness is set to lOO (nm) or more and 3 m or less, it is desirable to adopt the! / ,.
  • the high ⁇ portion is configured to include a metal oxide. Can be adopted.
  • the metal oxide As another specific example of the metal oxide, it is desirable to adopt a structure including at least one of MgO and SrO.
  • the PDP according to the present invention may employ a configuration in which the high ⁇ portion includes at least one selected from the group consisting of carbon nanotubes, nanofibers, fullerenes, and A1N.
  • the high ⁇ portion includes at least one selected from the group of metal materials of Pt, Au, Pd, Mg, Ta, W, and Ni can be adopted.
  • the PDP according to the present invention may employ a configuration in which the high ⁇ portion includes at least one of Pt and Mg.
  • the PDP according to the present invention it is possible to adopt a ⁇ ⁇ configuration when the surface of the high ⁇ -part force phosphor layer is formed with a coverage of 1 (%) or more and 50 (%) or less. Desire ⁇ . In the PDP according to the present invention, it is preferable to adopt a ⁇ ⁇ configuration when the PDP is formed with a coverage of 3 (%) or more and 20 (%) or less with respect to the surface of the high ⁇ part force phosphor layer. I want U ⁇ .
  • the PDP according to the present invention has a film thickness of 1 (nm) or more and 10 (nm) or less, and a high-profile portion is formed so as to cover the surface of the phosphor layer.
  • the vacuum ultraviolet ray including the resonance line of 147 (nm) generated in the space (discharge space) is not absorbed substantially in the high ⁇ part with high efficiency. It is transmitted to the phosphor layer. Therefore, in the PDP according to the present invention, although the high ⁇ portion is formed on the surface of the phosphor layer, it is difficult to cause a decrease in luminous efficiency by defining the film thickness within the above numerical range.
  • the film thickness of the high ⁇ part is defined as l (nm) or more and 10 (nm) or less in this way, a configuration in which substantially the entire surface of the phosphor layer is covered with the high ⁇ part should be adopted. Is possible.
  • the term “substantially covering the entire area” as used herein refers to the scope of the present invention even if, for example, in the formation process of the high ⁇ portion, a slight pinhole or the like occurs in the film-like high ⁇ portion due to the formation unevenness.
  • the high ⁇ portion is formed so as to face the space. Therefore, in the initialization period when the panel is driven, the side of the phosphor layer is powerful when the ramp waveform voltage is applied. In the case of a sword, the discharge start voltage can be reduced, and the occurrence of weak discharge can be stabilized.
  • the PDP according to the present invention can generate a stable weak discharge in the initialization period, and can achieve both high luminous efficiency and high image quality performance.
  • the following nomination can be adopted.
  • the PDP according to the present invention may employ a configuration in which the high ⁇ portion includes a metal oxide.
  • the high ⁇ portion includes a metal oxide.
  • the PDP according to the present invention adopts a configuration in which the metal oxide contains MgO and the high ⁇ portion is formed by vapor deposition of the metal oxide using the electron beam evaporation method. Is more desirable.
  • a space (discharge space) formed between the first substrate and the second substrate is filled with a discharge gas containing Xe, and the total pressure of the discharge gas
  • the ratio of Xe partial pressure to can be set to 5 (%) or more and 100 (%) or less.
  • a more desirable Xe partial pressure ratio can be in the range of 5 (%) to 50 (%).
  • the high ⁇ portion and the PDP according to the present invention including the same can be easily and reliably produced.
  • the method for producing a PDP according to the present invention can employ the following nomination.
  • any one of a spray method, a dispersion deposition method, and an electron beam evaporation method is used to form spots or stripes on the surface of the phosphor layer.
  • a specific method of forming a high ⁇ part can be employed.
  • the surface of the phosphor layer is formed using any one of a spraying method, a spraying method, a dispersion deposition method, and an electrodeposition method in the high ⁇ portion forming step.
  • a specific method of forming a high ⁇ portion by adhering a particulate material can be employed.
  • a plurality of first electrodes are formed in parallel with each other on the surface of the first substrate. Then, a specific method is adopted in which a dielectric layer is formed so as to cover the first electrode, and the high ⁇ portion is formed so as to cover the region including the upper region of the first electrode in the high rib portion forming step. can do.
  • a plurality of first electrodes are arranged on the surface of the first substrate.
  • the dielectric layers are stacked so as to cover the first electrode, and are parallel to each other in a direction intersecting the first electrode of the first substrate on the surface of the second substrate.
  • a plurality of display electrode pairs that are paired with the second electrode and the third electrode are formed, and in the high ⁇ portion forming step, the high ⁇ portion is formed in a range including a region where the first electrode and the second electrode intersect. It is possible to adopt this method.
  • the high ⁇ portion forming step in the high ⁇ portion forming step, a specific method of forming the high ⁇ portion using a material containing MgO or SrO may be adopted. it can.
  • At least one material selected from the group consisting of carbon nanotubes, nanofibers, fullerenes, and A1N is used in the high ⁇ portion forming step. It is possible to adopt a specific method of forming a high ⁇ part.
  • a specific method of forming a high ⁇ portion using a material containing Pt or Mg can be employed in the high ⁇ portion forming step.
  • the coverage of the high ⁇ portion with respect to the surface of the phosphor layer is regulated to 3 (%) or more and 20 (%) or less.
  • a fluorescent film with a film thickness of l (nm) or more and 10 (nm) or less is used.
  • the high ⁇ portion is formed so as to cover the surface of the light body layer, the following nomination can be employed.
  • a specific method can be employed in which the high ridge portion is formed by vapor deposition using an electron beam evaporation method in the high ⁇ portion forming step.
  • a specific method of forming a high ⁇ portion using a material containing MgO or SrO can be employed in the high ⁇ portion forming step.
  • a sealing step for sealing the outer peripheral portions of the first substrate and the second substrate, and a gas filling step for filling a discharge gas containing Xe in the discharge space In the gas filling step, a specific method of using a discharge gas in which the ratio of the Xe partial pressure to the total pressure is adjusted to 5 (%) or more and 50 (%) or less can be employed.
  • the forming material of the high ⁇ portion is charged and the charged forming material is applied to the phosphor layer by electrostatic force.
  • a specific method of depositing on the specified partial region on the surface can be employed.
  • a plurality of first electrodes are formed on the surface of the first substrate, and the first electrode is formed.
  • a dielectric layer is formed so as to cover the electrode, and in the high collar portion forming step, the material for forming the high collar portion is charged positively, and a negative voltage is applied to the first electrode to charge the first electrode.
  • a specific method of depositing a material for forming a high ⁇ portion in a state can be employed.
  • the application of the negative voltage to the first electrode is performed so as to increase toward the negative side over time.
  • the target method can be adopted.
  • the specific method is such that, in the high ⁇ portion forming step, the negative voltage is applied to the first electrode continuously or stepwise in the negative side. Can be adopted.
  • the high ⁇ portion forming material is charged in plasma, and the charged forming material is deposited by electron beam evaporation. Can be adopted.
  • the high ⁇ portion forming material is charged by irradiating a plasma beam, and the charged forming material is formed into a film.
  • a specific method of depositing can be employed.
  • a material containing at least MgO can be used as the high ⁇ portion forming material.
  • a plurality of data electrodes are parallel to each other on the surface of the first substrate.
  • a dielectric layer is formed so as to cover the data electrode, and extends in parallel between adjacent data electrodes on the surface of the dielectric layer toward the second substrate; and
  • the barrier ribs having slopes in a state where the distance between the first barrier plates is narrowed toward the surface of the first substrate are formed.
  • the barrier ribs and the dielectric are formed between the adjacent barrier ribs.
  • the phosphor layer is formed on the inner wall surface of the concave portion constituted by the layers, and the barrier ribs have slopes in a state in which the distance from each other decreases toward the main surface of the first substrate.
  • Scan electrodes parallel to each other on the surface of the substrate in a direction intersecting with the data electrodes A plurality of electrode pairs that are paired with the sustain electrode are formed, and each side edge force of the scan electrode is also perpendicular to the surface of the first substrate. It is possible to employ a method in which the surface of the phosphor layer on the slope of the barrier rib is formed with a coating on the high ⁇ portion by an oblique deposition method with an intersecting angle.
  • an electrode pair that is paired with a scan electrode and a sustain electrode that are parallel to each other in the direction intersecting the data electrode is formed on the surface of the second substrate.
  • a plurality of layers are formed, prior to the formation of the phosphor layer in the phosphor layer forming step.
  • a plurality of data electrodes are formed in parallel with each other on the surface of the first substrate, a dielectric layer is formed so as to cover the data electrodes, and the second substrate is formed on the surface of the dielectric layer.
  • first barrier rib extending in parallel between adjacent data electrodes toward the side, and on the surface of the same dielectric layer, toward the second substrate side, the first barrier rib
  • the second partition extending between adjacent electrode pairs formed on the second substrate in a direction intersecting with the first substrate (the first partition and the second partition constitute a so-called grid-shaped partition)
  • the phosphor layer is formed on the inner wall surface of the recess composed of the dielectric layer, the first partition, and the second partition, and the second partition
  • Each side edge of the scan electrode has a slope with the distance from each other narrowing toward the surface of the first substrate.
  • a metal oxide material containing MgO is used, and a specific method is used in which the high ⁇ portion is formed into a film by electron beam evaporation. be able to.
  • the high ⁇ portion is formed in a film shape having a film thickness of 100 (nm) or more and 3 ( ⁇ m) or less. Specific methods can be adopted.
  • the high ⁇ portion forming apparatus can form the high ⁇ portion at the specified location as described above by adopting the above configuration.
  • the PDP according to the present invention can be easily manufactured.
  • FIG. 1 is a perspective view (partially sectional view) showing a main part of a configuration of a PDP 1 according to a first embodiment.
  • FIG. 2 is a plan view and a cross-sectional view schematically showing a back panel 20 of PDP 1.
  • FIG. 1 is a plan view and a cross-sectional view schematically showing a back panel 20 of PDP 1.
  • FIG. 3 is a waveform diagram of pulses applied to the electrodes 121, 122, and 22 when driving the PDP1.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view of a main part showing the configuration of PDP 2 according to Embodiment 2.
  • FIG. 5 is a schematic plan view showing the positional relationship between each electrode 121, 122, 42 in the PDP 2 and the formation region of the phosphor film 46.
  • FIG. 6 is a cross-sectional view of a main part showing the configuration of PDP 3 according to Embodiment 3.
  • FIG. 7 is a cross-sectional view of a main part showing the configuration of PDP 4 according to Embodiment 4.
  • FIG. 8 is a schematic device diagram showing a process of forming a granular material 66 in PDP4.
  • FIG. 9 is a cross-sectional view showing a principal part of the configuration of PDP 5 according to the fifth embodiment.
  • FIG. 10 is a characteristic diagram showing the relationship between the thickness of the phosphor film and the ultraviolet transmittance.
  • FIG. 11 is a perspective view (partial cross-sectional view) depicting a portion constituting one pixel in a PDP 6 according to Embodiment 6 in a cut-out manner.
  • FIG. 12 (a) is an enlarged view of one discharge cell as viewed from the direction D in FIG. 11, and (b) is the rear panel 80 in FIG. 11 with the front panel 10 removed in FIG. It is the top view which also looked at force.
  • FIG. 13 is a schematic diagram for explaining a method for forming high ⁇ portion 86 according to the first embodiment.
  • FIG. 14 is a plan view in which a part of a PDP discharge cell in Modification 1 is cut away.
  • FIG. 15 is a schematic diagram showing a formation state of a high ⁇ portion 1086 of Modification 1;
  • FIG. 16 is a perspective view of a PDP 1006 according to Embodiment 7 cut out from a part constituting one pixel, and a part of the front panel 10 is cut out so that the internal configuration of the back panel 1180 is divided. It is.
  • FIG. 17 (a) is a GG cross-sectional view of FIG. 16, and (b) is a plan view of one discharge cell as viewed in the F direction.
  • FIG. 18 is a schematic diagram for explaining a method for forming a high ⁇ portion 86 according to Embodiment 8.
  • FIG. 19 is a perspective view of relevant parts showing a configuration of PDP 7 according to Embodiment 9.
  • FIG. 20 is a conceptual cross-sectional view showing only one discharge cell extracted from the configuration of PDP7.
  • FIG. 21 is a schematic plan view showing one discharge cell in a plane in the configuration of PDP7.
  • FIG. 22 is a process conceptual diagram showing a part of the process relating to formation of phosphor film 96 in the PDP manufacturing method according to the tenth embodiment.
  • FIG. 23 is a process conceptual diagram showing a part of the process for forming phosphor film 96 in the PDP manufacturing method according to Embodiment 11.
  • FIG. 24 is a conceptual cross-sectional view showing only one discharge cell extracted from the configuration of PDP 8 according to Embodiment 12.
  • FIG. 25 is a conceptual cross-sectional view showing only one discharge cell extracted from the configuration of PDP 9 according to Embodiment 13.
  • FIG. 26 is a conceptual cross-sectional view showing the structure of a conventional surface discharge AC type PDP.
  • PDP plasma display panel
  • FIG. 1 is a perspective view of the main part drawn by extracting the main part of the PDPI.
  • the PDP 1 is roughly composed of a front panel 10 and a back panel 20.
  • the front panel 10 has a plurality of display electrode pairs 12 formed on one main surface of the front substrate 11 (the main surface facing downward in the Z-axis direction in FIG. 1), and covers the display electrode pairs 12.
  • the dielectric layer 13 and the dielectric protective layer 14 are sequentially laminated.
  • the display electrode pair 12 includes a scan electrode (hereinafter referred to as “Scn electrode”) 121 and a sustain electrode (hereinafter referred to as “Sus electrode”) 122.
  • Scn electrode scan electrode
  • Sus electrode sustain electrode
  • Each of the Sen electrode 121 and the Sus electrode 122 is configured by laminating bus lines 121b and 122b on transparent electrode elements 121a and 122a, respectively.
  • the transparent electrode elements 121a, 122a are made of, for example, ITO (Indium Tin Oxide), SnO, ZnO, etc.
  • the electrodes 121 and 122 on the front panel 10 are not limited to the two-layer structure shown in the present embodiment, but a single-layer structure having a metal force such as Ag, or three such as Cr—Cu—Cr. Adopting a later structure with more than one layer.
  • the front substrate 11 is formed using, for example, soda lime glass
  • the dielectric layer 13 is formed using, for example, a lead-based low-melting glass material
  • the dielectric protective layer 14 is, for example, it is formed using MgO.
  • a vacuum vapor deposition method or the like can be usually used, but an oblique vapor deposition method can also be used, and the weight density is 70 (%) to 85 of the single crystal material. It is also possible to set it within the range of (%) it can.
  • the back panel 20 has a plurality of data electrodes (hereinafter referred to as "Dat electrodes”) on one main surface of the back substrate 21 (in FIG. 1, the main surface facing upward in the Z direction).
  • Dat electrodes data electrodes
  • a dielectric layer 23 is formed so as to cover the Dat electrode 22.
  • partition walls 24 are provided between the adjacent Dat electrodes 22, and each color is formed on the inner wall surface of the concave (groove) portion formed by the dielectric layer 23 and the partition wall 24.
  • a phosphor layer 25 corresponding to is formed.
  • the phosphor layer 25 includes a red (R) phosphor layer 25R, a green (G) phosphor layer 25G, and a blue (B) phosphor layer 25B, which are color-coded for each groove.
  • Each phosphor layer 25R, 25G, 25B is formed of, for example, the following phosphor material.
  • spot-like phosphor skin film 26 is formed on the surface of the phosphor layer.
  • the phosphor film 26 is formed so as to cover a part of the surface of the phosphor layer 25, and a part of the surface of the phosphor layer 25 and the surface of the phosphor film 26 both face the discharge space 30. It is in a state.
  • the back substrate 21 is formed of, for example, soda lime glass, like the front substrate 11
  • the Dat electrode 22 is made of, for example, Au, Ag, Cr, Cu, Ni, Pt and others are composed.
  • the dielectric layer 23 is basically mixed with force TiO formed using lead-based low-melting glass, like the dielectric layer 13.
  • the front panel 10 and the back panel 20 are arranged so that the main surfaces on which the display electrode pairs 12 and the Dat electrodes 22 are formed face each other, and the display electrode pairs 12 and the Dat electrodes
  • the electrodes 22 are arranged to face each other in the crossing direction, and the outer peripheral portions of the electrodes 22 are sealed with frit glass or the like.
  • the discharge space 30 is filled with a Xe—Ne discharge gas (rare gas) with a pressure of about 60 (kPa).
  • a Xe-Ne-He system mixed gas can also be used.
  • the ratio of the Xe partial pressure to the total pressure in the discharge gas is a major factor that affects the light emission efficiency of the panel.
  • the Xe partial pressure ratio to the total pressure is 5 (%) or more 50 ( %) The following is set.
  • FIG. 2A is a plan view of the phosphor layer 25 in the rear panel 20, and FIG. 2B is a cross-sectional view thereof.
  • the phosphor film 26 is formed in spots on the surface of the phosphor layer 25 in the back panel 20.
  • the phosphor film 26 is formed in a scattered manner on the surface of the phosphor layer 25, and the coverage with respect to the surface of the phosphor layer 25 is in the range of 1 (%) to 50 (%). Is set.
  • the coverage is more preferably in the range of 3 (%) to 20 (%).
  • the phosphor film 26 is formed so as to cover a part of the surface of the phosphor layer 25 and is exposed to the discharge space 30.
  • the phosphor film 26 is formed in a partial region of the surface of the phosphor layer 25, the phosphor film 26 is formed so that the surface of the phosphor layer 25 is in contact with the discharge space 30. Exposed.
  • the phosphor film 26 is a material having a secondary electron emission coefficient ⁇ higher than that of each phosphor material constituting the phosphor layer 25, and is composed of a material cover different from the phosphor material.
  • the portion where the film 26 is formed corresponds to a high ⁇ portion in the PDP 1 according to the present embodiment.
  • the constituent material of the phosphor film 26 include metal oxides such as MgO, SrO, CaO, BaO, MgNO, and ZnO.
  • the constituent material of the phosphor layer coating 26 includes nanofibers such as carbon nanotubes (CNT), fullerenes such as C60, A1N, and further, Pt, Au, Pd, Mg, Ta, Materials such as W and Ni can also be used.
  • CNT carbon nanotubes
  • fullerenes such as C60, A1N
  • Pt, Au, Pd, Mg, Ta Materials such as W and Ni can also be used.
  • the materials used for forming the phosphor film 26 should be generally larger than the phosphor material and have a secondary electron emission coefficient ⁇ .
  • the phosphor film 26 shown in FIG. 2 can be formed by using, for example, a spray method using a mixed organic solvent containing MgO material, a dispersion deposition method, an electron beam evaporation method, or the like.
  • a spray method using a mixed organic solvent containing MgO material
  • a dispersion deposition method for example, a dispersion deposition method, an electron beam evaporation method, or the like.
  • the phosphor film 26 is formed through the following steps.
  • a mask is attached along the surface of the phosphor layer 25, and the mixed organic solvent is applied onto a partial region of the surface of the phosphor layer 25 through the holes formed in the mask.
  • the phosphor film 26 as shown in FIG. 2 is formed.
  • MgO material is dispersed in an organic solvent, and the organic solvent in which this MgO material is dispersed is used.
  • the phosphor layer is deposited on a predetermined portion of the phosphor layer. Thereafter, this is dried and the organic solvent is volatilized to form a coating of the phosphor film 26 on a partial region of the phosphor surface. If a phosphor mask 26 is not formed on the surface of the phosphor layer prior to the deposition of the MgO material, a resist mask is formed on the surface of the phosphor layer 26 as shown in Fig. 2. A film 26 can be formed.
  • the PDP 1 having the above configuration has a configuration in which a control drive unit including each driver is connected to each electrode 121, 122, 22 (not shown)! / Speak.
  • a method of driving the PDP 1 to which the drive control unit is thus connected will be described with reference to FIG.
  • the display is driven with the address' display separation drive method.
  • this driving method for example, as shown in FIG. 3, one field is divided into eight subfields SF1 to SF8 in order to express 256 gradations.
  • initialization period T writing period ⁇
  • maintenance maintenance
  • Initialization discharge is generated, and thereby, initialization is performed to remove the influence due to the presence or absence of discharge in the subframe prior to the subframe and to absorb variations in discharge characteristics.
  • Initialization discharge during initialization period ⁇ is 1 hour as shown in Fig. 3.
  • a ramp waveform that gradually rises and falls slowly is applied between the Sen electrode 121 and the Dat electrode 22 so that a small discharge current flows constantly.
  • an initializing discharge which is a weak discharge, occurs once for each of the rising ramp waveform portion and the falling ramp waveform portion.
  • a rectangular-wave sustain pulse Psu s, Pscn is applied at a predetermined voltage (eg, 180 V) at a period (eg, 6 sec.).
  • the sustain pulse Psus applied to the Sus electrode 122 and the sustain pulse Pscn applied to the Sen electrode 121 have the same period and are out of phase by a half period. Are simultaneously applied.
  • Pulse discharge occurs. Due to the occurrence of such a sustain discharge, the display light emission is emitted from the excited Xe atoms in the discharge space 30 by 147 (nm) resonance lines and from the excited Xe molecules by 173 (nm) -based molecular beams. The generated ultraviolet rays are converted into visible light by the phosphor layer 25 in the rear panel 20 to display an image.
  • the secondary electron emission coefficient ⁇ is higher than the phosphor material on a partial region on the surface of the phosphor layer 25.
  • the phosphor film 26 is coated with MgO as a part having a high secondary electron emission coefficient ⁇ (high y part), and the remaining area on the surface of the phosphor layer 25 and the phosphor film 26 are both in the discharge space. It has a structure that faces 30. In the PDP 1 having such a configuration, a part of the surface of the phosphor layer 25 faces the discharge space 30, so that the discharge space 30 is maintained when the panel is driven in the sustain period T.
  • the light emission efficiency of the panel is incident on the phosphor layer 25 without being significantly attenuated. Can be suppressed.
  • the coverage of the phosphor film 26 on the entire surface of the phosphor layer 25 is 1 (%) or more and 50 (%) or less, and more preferably 3 (%) or more and 20 (%) or less. It prescribes. The specification of this numerical range will be described later.
  • the lamp waveform is applied during the initialization period T of the panel drive (
  • a stable initializing discharge can be generated as described above, so that the ratio of the Xe partial pressure to the total pressure in the discharge gas is 5 (%) or more 50 ( %) Even if it is raised within the following range, image quality will not be degraded.
  • Electricity can be generated, and it is possible to achieve both high emission efficiency and high image quality.
  • the coverage of the phosphor film 26 on the entire surface of the phosphor layer 25 is defined as 1 (%) to 50 (%), preferably 3 (%) to 20 (%). However, this is due to the following reasons.
  • the surface facing the discharge space 30 cannot substantially exhibit the function of stabilizing the generation of the initializing discharge in the initializing period T1.
  • the coverage of the body coating 26 should be at least 1 (%), preferably 3 (%).
  • the phosphor film 26 having a strong force such as MgO absorbs the vacuum ultraviolet rays generated in the discharge space 30 in accordance with the surface area facing the discharge space 30, and the covering rate is 50 (%) or more. As a result, the amount of ultraviolet rays reaching the phosphor layer 25 becomes too small, and the light emission efficiency of the panel is lowered to a practical level or less. Note that the upper limit of the desired coverage when considering other components of PDP1 is 20 (%) or less.
  • a PDP according to an example having the configuration according to the present embodiment was manufactured by the above-described manufacturing method. That is, a phosphor film 26 having a film thickness of 0.5 m) to 20 ( ⁇ m) having a coverage of 5 (%) and an MgO force was formed on the surface of the phosphor layer 25 in the back panel 20.
  • a spray method using a mixed dispersion organic solvent containing MgO and ethanol was used for the formation.
  • the discharge space 30 was filled with a high Xe discharge gas having a ratio of Xe partial pressure to total pressure of about 30 (%).
  • a PDP employing the configuration according to Patent Document 1 was manufactured. That is, a PDP having a structure in which the entire surface of the phosphor layer was covered with an MgO film having a thickness of 0.5 (m) to 20 ( ⁇ m) was produced as a comparative example.
  • the luminous efficiency was about 0.1 (lmZW). This was as low as about 1Z10 compared to a conventional PDP in which no film was formed on the surface of the phosphor layer. This is considered to be because, in the comparative example PDP, the MgO film coated on the surface of the phosphor layer absorbs vacuum ultraviolet rays including resonance lines generated in the discharge space.
  • the secondary electron emission coefficient ⁇ is larger than that of the phosphor material on a partial region of the surface of the phosphor layer 25 as in the embodiment!
  • the configuration of PDP 2 according to Embodiment 2 will be described using FIG. 4 and FIG. Since the configuration of the front panel 10 and the portion other than the formation form of the phosphor film 46 of the back panel 40 are the same as those of the first embodiment, description thereof is omitted.
  • the phosphor film 46 in the PDP2 layer has a force similar to that of the first embodiment in that it is formed on a partial region of the surface of the phosphor layer 45.
  • the formation mode is set to a region W corresponding to the Dat electrode 42.
  • the phosphor film 46 is set in a region W corresponding to the lower part of the Sen electrode 121 in the display electrode pair 12 formed on the front panel 10.
  • FIG. 5 schematically shows the electrodes 121, 122, and 42, the barrier ribs 44, and the phosphor film 46 extracted from the elements constituting the PDP 2.
  • the phosphor film 46 is formed by crossing the Sen electrode 121 and the Dat electrode 42 on the surface of the phosphor layer 45 of each discharge cell. It is formed in the area to be inserted.
  • the coverage of the phosphor film 46 on the surface of the phosphor layer 45 is 1 (%) or more and 50 (%) or less, preferably 3 (%), as in the first embodiment. ) Is set to 20 (%) or less. The reason for this is the same as above.
  • a material having a secondary electron emission coefficient ⁇ larger than that of the phosphor material constituting the phosphor layer 46 can be used as in the first embodiment.
  • the same material that can be used for forming the phosphor film 26 according to the first embodiment can be used.
  • the phosphor film 46 in the PDP 2 according to the present embodiment can also be formed by the same method as in the first embodiment.
  • the phosphor film 46 is formed at the intersection of the Sen electrode 121 and the Dat electrode 42 on the surface of the phosphor layer 45, regardless of the force Sen electrode 121. It is good also as forming in the whole upper part.
  • PDP 3 according to Embodiment 3 will be described with reference to FIG. Of the configuration of PDP 3, the configuration of the front panel 10 and the back panel 50 excluding the high ⁇ portion is the same as in the first and second embodiments, and a description thereof will be omitted.
  • the granular material 56 is attached and disposed.
  • This granular material 56 also has a material force having a secondary electron emission coefficient ⁇ larger than that of the phosphor material constituting the phosphor layer 55.
  • the granular material 56 constitutes the phosphor film 26 of the first embodiment.
  • the material to be used can be used.
  • the portion of the surface of the phosphor layer 56 where the granular material 56 is attached and disposed corresponds to the height portion.
  • metal oxides such as MgO and SrO are used for the material V
  • metal oxide particles with a particle size of 0.05 m) to 1 (m) are compressed nitrogen gas.
  • the granular material 56 is attached and dispersed by spraying using a material such as a high ⁇ portion on the surface of the phosphor layer 55.
  • the coverage of the granular material 56 on the surface of the phosphor layer 55 is set to 1 (%) to 50 (%), preferably 3 (%) to 20 (%). Is done.
  • the granular material 56 As described above, in the PDP 3 in which the granular material 56 is adhered and formed on the surface of the phosphor layer 55 with the coverage within the above numerical range, the granular material 56 having a higher secondary electron emission coefficient ⁇ with respect to the discharge space 30 and the fluorescent material Both body layers 55 are exposed. Therefore, in the PDP 3 according to the present embodiment, stable weak discharge can be generated during the initialization period ⁇ ⁇ ⁇ during panel driving.
  • a spray method, a dispersion deposition method, an electrodeposition method, or the like can be used as a method for forming the particles 56 on the surface of the phosphor layer 55.
  • the granule 56 constituting the high part particles having a particle size of 0.05 (111) or more and 1 (m) or less are scattered and formed as described above.
  • the secondary particle size is 2 ( ⁇ m) or more and 20 ( ⁇ m) or less, and the high ⁇ part is composed of particles 56 in the range of 0.05 (m) to 20 ( ⁇ m) or more.
  • a granular material having a diameter larger than 20 (m 2) cannot be actually used because it easily absorbs resonance lines and molecular beams generated in the discharge space 30 and lowers the light emission efficiency of the panel.
  • MgO particles having a particle size of 0.1 (m) or more and 0.6 (m) or less were dispersed on the surface of the phosphor layer 55 on the rear panel by a dispersion method.
  • the coverage of the surface of the phosphor layer 55 in the high ⁇ portion (parts where the granular material 56 is formed) formed by this dispersion was defined as about 10 (%).
  • the aggregated particle size of the granular material 56 when the high ⁇ portion was formed by the above method was 0.2 (m) or more and 5 ( ⁇ m) or less.
  • the Xe partial pressure ratio with respect to the total pressure in the discharge gas filled in the discharge space 30 was set to about 15 (%).
  • the discharge start voltage when the phosphor layer 55 side becomes a force sword decreases.
  • the stability of weak discharge was improved, and the image quality was improved by reducing erroneous writing.
  • the luminous efficiency is about 2 (lmZW), which is higher than the conventional PDP.
  • the primary particle size of the dispersed particles is 0.05 ( ⁇ m) or more and 1 ( ⁇ m) or less, and the secondary particle size of aggregated particles is 2 ( ⁇ m) or more 20 ( Adopting ⁇ m) particles is suitable.
  • PDP 4 according to Embodiment 4 will be described using FIG. 7 and FIG. Note that the configuration of the front panel 10 and the portion other than the formation form of the granular body 66 of the back panel 60 are the same as those in the first to third embodiments, and thus the description thereof is omitted.
  • the granular material 66 is set to a region W corresponding to the lower part of the Sen electrode 12 1 in the display electrode pair 12 formed on the front panel 10. That is, the same position as in the second embodiment.
  • a granular body 66 is formed on the screen, and thereby a high ⁇ portion is formed.
  • the coverage of the phosphor film 46 on the surface of the phosphor layer 65 is 1 (%) or more and 50 (%) or less, preferably the same as in the first embodiment. It is set to 3 (%) or more and 20 (%) or less. The reason for this is the same as described above.
  • a material having a secondary electron emission coefficient ⁇ larger than that of the phosphor material constituting the phosphor layer 66 can be used as in the first embodiment.
  • the same materials that can be used to form the body coatings 26, 46, and 56 can be used.
  • a voltage pulse with a ramp waveform is applied between Sen electrode 121 and Dat electrode 62 during the initialization period ⁇ .
  • FIG. 8 is a schematic cross-sectional view showing the process of attaching and attaching the granular material 66.
  • the number of partition walls 64 formed on the rear panel is four. Actually, a rear panel on which more partition walls 64 are formed is used.
  • the back substrate 61 is placed on the bottom portion in the spray container 501. At this time, the rear substrate 61 is set to be substantially horizontal in the spray container 501.
  • Rear substrate 61 A plurality of Dat electrodes 62 are formed thereon, a base dielectric layer 63 is formed so as to cover the Dat electrodes 62, and a partition wall 64 and a phosphor layer 65 are formed thereon.
  • a metal mask 504 having a through hole 504a provided in accordance with a desired pattern shape is disposed on the back substrate 61 placed on the bottom portion of the spray container 501.
  • Fig. 8 is a schematic diagram, so the force that does not show the fixtures of the metal mask 504 etc. is omitted. It is fixed using a fixture.
  • a particle insertion portion 502 is provided in an upper portion of the spray container 501.
  • a predetermined amount of particles 660 such as MgO is placed inside the particle insertion portion 502, for example.
  • a compressed gas such as nitrogen gas or air is supplied to the particle insertion portion 502, and the particles 660 are ejected vigorously from the nozzle 503 toward the surface of the phosphor layer 65 provided on the back substrate 61.
  • the supply of compressed gas is stopped, and the particles 660 are allowed to fall spontaneously over a certain period of time. In this way, particles are dispersed on the surface of the phosphor layer 65.
  • the particles 660 dispersed on the surface of the phosphor layer 65 are dried, whereby the particles 66 are deposited and arranged, and the formation of the high ⁇ portion is completed.
  • the coverage with the granular material 66 on the surface of the phosphor layer 65 is set to 1 (%) to 50 (%), preferably 3 (%) to 20 (%), as described above.
  • the high ⁇ part is placed at the position shown in Fig. 7.
  • These settings include setting the through hole 504a in the metal mask 504 and setting the relative position of the metal mask 504 with respect to the rear substrate 61. It becomes possible to carry out.
  • the shape and size of the spray container 501 and the spraying conditions, etc. are set as appropriate depending on the shape and size of the spray container 501 and the material of the particles 660 to be used. It is what is done.
  • spraying it is of course possible to carry out uniform spraying using a method such as charging, or to adopt various methods such as a dry / wet method in order to suppress aggregation of particles. Since these can be easily implemented by using the spacer spraying method used in manufacturing the liquid crystal panel, the description thereof is omitted here.
  • a spray method, a dispersion deposition method, an electrodeposition method, or the like can be used as a method for arranging the particles 66.
  • a spray method a resist mask having a predetermined pattern is formed on the surface of the phosphor layer 65, and a mixed organic solvent containing particles 660 and ethanol is sprayed on the resist mask. Then it is dried. Then, by removing the resist mask, the granular material 66 can be deposited and arranged in a predetermined pattern as shown in FIG.
  • the back substrate 61 in which a resist mask having a predetermined pattern is formed on the surface of the phosphor layer 65 is floated on the surface of the mixed organic solvent. This can be done by depositing 660 gently, drying it, and then removing the resist mask. Furthermore, in the electrodeposition method, Dat formed on the back substrate 61 in the electrolytic solution containing the particles 660 is used. A voltage is applied to the back substrate 61 side using the electrode 62. As a result, the charged particles 660 are attracted and fixed to a position on the Dat electrode 62 on the surface of the phosphor layer 65. Also by such a method, it is possible to carry out the adhesion arrangement of the granular material 66.
  • the phosphor film 76 is formed so as to cover substantially the entire surface of the phosphor layer 75 in the back panel 70. Yes.
  • the constituent parts other than the formation form of the phosphor film 76 are the same as those of the PDPs 1, 2, 3, and 4 according to the first to fourth embodiments.
  • “a state in which substantially the entire region is covered” indicates that, for example, a pinhole or formation unevenness that occurs in the manufacturing process is allowed.
  • the phosphor film 76 is formed so as to cover the entire surface of the phosphor layer 75.
  • the difference from the MgO film according to Patent Document 1 is that the film thickness t is defined. That is, in the PDP according to Patent Document 1, the MgO film is formed so as to cover the surface of the phosphor layer without defining the film thickness. For this reason, the PDP according to Patent Document 1 As discussed in the experiment of the first embodiment, the luminous efficiency is so low that it cannot be actually applied.
  • the film thickness t is specified to be 1 (nm) or more and 10 (nm) or less, and then the fluorescence.
  • a phosphor film 76 is formed covering the entire surface of the body layer 75.
  • the phosphor film 76 in the PDP 5 has a film thickness t that is extremely thin in the upper air numerical range, but the phosphor layer 75 during the pulse application of the ramp waveform during the initialization period T at the time of driving the node 75
  • the discharge start voltage when the side becomes a force sword is reduced in the same manner as in the first to fourth embodiments, and stable generation of weak discharge can be achieved. Such superiority does not change even when the Xe partial pressure in the discharge gas is set higher than 5 (%) in order to improve luminous efficiency.
  • the phosphor film 76 is formed in the same manner as in Embodiments 1 to 4 described above, at least the secondary electron emission coefficient ⁇ more than the phosphor material constituting the phosphor layer 75. It is necessary to use a material having a high value. For example, the materials listed above can be used.
  • an electron beam vapor deposition method for the formation of the phosphor film 76, an electron beam vapor deposition method, a sputtering method, or the like can be employed.
  • the film thickness is regulated within an extremely thin range, it is particularly desirable to use the electron beam vapor deposition method.
  • Forming the phosphor film 76 using the electron beam evaporation method is achieved by following the following procedure.
  • a film material such as MgO is placed in the electron beam evaporation system and irradiated with an electron beam.
  • the coating material irradiated with the electron beam is deposited on the surface of the phosphor layer 75 formed on the back substrate 71.
  • the phosphor film 76 is formed.
  • the thickness t of the phosphor film 76 is specified to be 1 (nm) or more and 10 (nm) or less, which is based on the following reason.
  • the film thickness t of the phosphor film 76 is less than 1 (nm), it is difficult to maintain a stable weak discharge during the initialization period T due to the phosphor film formation. That is, the film thickness is l (n
  • the discharge starting voltage cannot be reduced, weak discharge becomes unstable, and strong discharge may occur.
  • the ultraviolet transmittance becomes smaller than about 83 (%), and the fluorescent film 76
  • the brightness improvement obtained by increasing the Xe partial pressure in the discharge gas from the current 5 (%) to about 10 (%) is about 120 (%).
  • the ultraviolet transmittance is reduced to 83 (%) or less by setting it to be thicker than (nm), it is impossible to substantially improve the luminous efficiency. Therefore, in the case of having a phosphor film thicker than the film thickness force SlO (nm), the disadvantage of forming the phosphor film offsets the advantage of weak discharge stability. It becomes impossible to actually apply.
  • FIG. 10 shows a phosphor layer made of a BaMg Al 2 O 3: Eu (BAM) phosphor material.
  • the film thickness t need not be uniform throughout the entire area.
  • the film thickness t is effectively within the above numerical range. If it falls within the range of 10 (nm), the same effect can be obtained.
  • the surface of the actual phosphor layer 75 has irregularities. Therefore, even if there is a place where the film thickness t exceeds 10 (nm) locally at the part between the particles, etc., the effect of the PDP 5 according to the present embodiment is greatly affected. It is not a thing.
  • the Sen electrode 121, the Sus electrode 122, the Dat electrodes 22, 42, 52, 62, and 72 are used! Forces with PDP as the rear surface No. 20, 40, 50, 60, 70 are provided with 4th and 5th electrodes, and voltage is appropriately applied to these electrodes during initialization period T to maintenance period T.
  • partition walls 24, 44, 54, 64, and 74 in rear panels 20, 40, 50, 60, and 70 are connected to Dat electrodes. Although it is striped parallel to 22, 42, 52, 62, 72, it is also possible to adopt a cross-beam or meander-like shape.
  • the modified example can be applied. For example, instead of dividing one field into eight subfields SF1 to SF8, it is possible to adopt a driving method in which one field is divided into 9 or more subfields or vice versa. is there.
  • the phosphor film 26 is formed on the surface of the phosphor layer 25 in a state of being regularly arranged as shown in Figs. 1 and 2, but the present invention is not limited to this. However, the present invention is not limited to this and may be irregularly formed. It is also possible to create a striped pattern that is not a spotted pattern as shown in Fig. 2.
  • FIG. 11 is a perspective view (partial cross-sectional view) of a main part in which a portion constituting one pixel of the PDP 6 according to the present embodiment is cut out and drawn.
  • Fig. 12 (a) is an enlarged view of one discharge cell from the direction D in Fig. 11, and Fig. 12 (b) is a rear panel in which the front panel 10 in Fig. 11 is virtually removed. It is a plan view of the E direction force. Since the configuration of PDP 6 according to the present embodiment is the same as that of Embodiments 1 to 5 except for rear panel 80, repeated description of the same parts is omitted.
  • the back panel 80 in the PDP 6 is formed so as to cover the back substrate 81, the Dat electrode 82 formed on the surface of the back substrate 81, and the surface of the back substrate 81 on which the Dat electrode 82 is formed. And a dielectric layer 83.
  • the “surface” in this case indicates the surface located on the discharge space 30 side as in the case of the front panel 10, and in other words, the surface facing the discharge space 30. Specifically, it is the upper surface of the back substrate 81 in the Z-axis direction.
  • the Dat electrode 82 is for writing image data, and is in a position substantially at the center of the discharge cell and in a direction perpendicular to the extending direction of the display electrode pair 12 (Y-axis direction in FIG. 11). Stretched in stripes. Although described in the background art section, this is a discharge cell that is a unit of force discharge at each point where the display electrode pair 12 and the Dat electrode 82 cross three-dimensionally.
  • a partition wall 84 force is formed in a stripe shape along the extending direction of the Dat electrode 82, as shown in FIGS. Yes.
  • Phosphor layers 85R, 85G, and 85B having different emission colors for each recess are formed on the inner wall surface of each recess formed by the adjacent partition wall 84 and dielectric layer 83. Further, a high ⁇ portion 86 is formed in a partial region of the surface of the phosphor layers 85R, 85G, and 85B. Also for the high ⁇ portion 86 according to the present embodiment, the secondary electron emission coefficient ⁇ is larger than that of the phosphor layers 85R, 85G, and 85B and the phosphor layer 85R, as in the first to fifth embodiments. It is composed of a material different from the material of 85G and 85B. That is, even in the PDP 6 according to the present embodiment, the high ⁇ portion 86 is formed in a state of being unevenly distributed with respect to the surfaces of the phosphor layers 85R, 85G, and 85B. It is made.
  • the high ⁇ portion 86 is formed unevenly on the surfaces of the phosphor layers 85R, 85G, and 85B, as in the fourth embodiment. Specifically, the high ⁇ portion 86 is unevenly distributed in a portion corresponding to the front side of the Dat electrode 82 on the surface of the phosphor layers 85R, 85G, and 85B. In the present embodiment, as will be described later for confirmation, the high ⁇ portion 86 is composed of MgO particles as in the first to fifth embodiments. For this reason, in FIG. 12 (a), the high ⁇ portion 86 is shown in a granular form for convenience.
  • the transparent electrode portions 121a and 122a constituting the Sen electrode 121 and the Sus electrode 122 are made of ITO, S ⁇ , ZnO or the like, and the nos lines 121b and 122b are made of Cr—Cu—Cr, Ag, or the like.
  • the dielectric layer 13 of the front panel 10 is made of low-melting glass, and covers the surface of the front substrate 11 on which the display electrode pair 12 is formed by screen printing or the like using the glass paste of the structure. And then baked to form.
  • the dielectric protective layer 14 is formed using a thin film process or a printing method, and an electrically insulating and transparent MgO film is usually used as the material, and the thickness thereof is, for example, about 0.6 m). It is. Note that MgO, which is a constituent material of the dielectric protective layer 14, has a high secondary electron emission coefficient, is transparent, and has excellent sputtering resistance.
  • the Dat electrode 82 in the back panel 80 is made of Ag.
  • the width of the Dat electrode 82 (the dimension in the X-axis direction in FIG. 11) is 100 (m).
  • the dielectric layer 83 of the back panel 80 is formed of a low-melting glass similarly to the dielectric layer 13 of the front panel 10, and the same formation method can be adopted.
  • the barrier ribs 84 are made of a low melting point glass force. After the paste having the low melting point glass force is applied to the surface of the dielectric layer 83 and baked, stripes are formed in accordance with the discharge space 30 along the extending direction of the Dat electrode 82. This pattern is shaped like a rib by sandblasting or photolithography.
  • the phosphor layers 85R, 85G, and 85B have three emission colors of red, green, and blue, respectively (Y, Gd) BO: Eu, Zn SiO: Mn, and BaMg Al 2 O 3: Eu. Formed including phosphor
  • the phosphor layers 85R, 85G, and 85B are printed on the side surfaces of the partition walls 84 and portions where the partition walls 84 are not formed on the surface of the dielectric layer 83 for each emission color of the phosphor.
  • the surface of the concave portion constituted by the dielectric layer 83 and the partition wall 84 is formed.
  • the high ⁇ portion 86 is formed using a metal oxide material that is different from the constituent materials of the phosphor layers 85R, 85G, and 85B and has a high secondary electron emission coefficient ⁇ .
  • the metal oxide material used is, for example, MgO as in Embodiments 1 to 5 above, and particles having a particle diameter in the range of 0.05 (/ ⁇ ⁇ ) to 1 (/ ⁇ ⁇ ).
  • a corresponding portion is formed so that its thickness is lm).
  • the rare gas used for the discharge gas for example, a rare gas containing xenon / neon is used, and these are sealed at a pressure of about 60 (kPa).
  • the Xe partial pressure ratio to the total pressure of the discharge gas is 15 (%).
  • the material constituting the high- ⁇ portion 86 that is, the secondary electron emission coefficient ⁇ is the phosphor layer 85 (hereinafter, the reference numerals 85R, 85G, and 85B are summarized. And a material different from the constituent material of the phosphor layer 85 is charged, and the charged material is accumulated above the Dat electrode 82 by electrostatic force. High ⁇ part 86 is formed (this method is referred to as “voltage applied particle dispersion and accumulation method” t.
  • the high ⁇ portion 86 has a charging step of charging the metal particles that are the material forming the high ⁇ portion 86 and the Dat electrode 82 is made to have a lower potential than the metal particles that are charged. It is formed through an integration process in which metal particles are integrated by electrostatic force on the surface of the body layer 85 and in a portion corresponding to the upper part of the Dat electrode 82. A specific formation method will be described with reference to FIG. FIG. 13 is a schematic view for explaining a method for forming the high ⁇ portion 86.
  • MgO particles
  • the plate 80a for the rear panel 80 on which the partition wall 84 is formed (the rear panel 80 is completed by forming the high-profile portion 86 on this plate (that is, before the rear plate is completed).
  • This plate is referred to as “front rear panel.”) 80a is prepared, and the main surface of the rear substrate 81 is substantially horizontal and the phosphor layer 85 is on the upper side.
  • the front rear panel 80a includes the rear substrate 81, the Dat electrode 82, the dielectric layer 83, and the partition wall 84 described in the section of the above configuration, and is the side surface of the partition wall 84 and the surface of the dielectric layer 83.
  • the phosphor layer 85 is formed in a portion excluding the portion where the partition wall 84 is formed.
  • Formation of the high ⁇ portion 86 is performed using a particle scattering apparatus 510 shown in Fig. 13 (b).
  • This particle spraying device 510 includes a particle spraying container 511, a storage container 512 for storing MgO particles 670, a charging means 514 for charging MgO particles in the storage container 512, and MgO particles charged in the storage container 512.
  • the storage container 512 is arranged outside the upper wall 51 la of the particle spray container 511, and the spraying means is a nozzle 513 that communicates the inside of the storage container 512 with the interior of the particle spray container 511.
  • inflow means (not shown) through which compressed gas such as nitrogen gas or air flows into the storage container 512.
  • the charging unit applies a predetermined voltage to the storage container 512 and the nozzle 513 to charge the Mgo particles 670 in the storage container 512 and the nozzle 513.
  • Application to the containment vessel 512 and the nozzle 513 is performed by a high-voltage DC power supply 514.
  • the application of voltage to the Dat electrode 82 is also performed by the high voltage DC power supply 514.
  • FIG. 13 (b) A specific example of a method for forming the high ⁇ portion 86 using the particle spraying device 510 having the above-described configuration will be described.
  • a predetermined amount of MgO particles 670 having a diameter of 0.05 m) to 1 (m) is put into the storage container 512 on the upper wall 51 la of the particle spraying container 511.
  • a positive voltage (+ V1) of several thousand (V) to tens of thousands (V) is applied to the containment vessel 512 and the nozzle 513 storing the MgO particles 670 by the high-voltage DC power supply device 514, and the MgO particles 670 Is charged.
  • the Dat electrode 82 of the rear panel 80a at the front stage is applied to the negative voltage of a certain magnitude opposite to the polarity applied to charge the Mgo particles 670 by the high voltage DC power supply 514 (one V2 ), For example, ⁇ 100 (V) to 0 (V) is applied.
  • the compressed gas is caused to flow into the storage container 512, and charged MgO particles 670 are blown out from the nozzle 513 and dispersed. As a result, the positively charged MgO particles 671 are directed downward and fall.
  • the high ⁇ part 86 In the formation of the high ⁇ part 86 by the voltage application particle dispersion and accumulation method, the charged MgO particles 671 are attracted to the Dat electrode 82 by electrostatic force, and the part corresponding to the upper part of the Dat electrode 82 ( Since the MgO particles 671 do not adhere to the portion separated from the Dat electrode 82, it is possible to form the ridge 86 in a desired range with high accuracy (the ⁇ portion 86 is formed unevenly).
  • the high ⁇ portion 41 can be formed with a substantially uniform thickness and a desired density.
  • the thickness of the high ⁇ portion 86 can be determined by the voltage value applied to the Dat electrode 82 and the amount of sprayed charged MgO particles 671. Therefore, when the method according to the present embodiment is used, The thickness of the high ⁇ part 86 can be easily managed.
  • the MgO particles 671 which is an insulating material, are substantially uniform on the surface of the phosphor layer 85 of the front back panel 80a and the portion above the Dat electrode 82, as shown in FIG. And at the desired surface density by electrostatic force As a result, the high ⁇ portion 86 as shown in FIG. 11 and FIG. 13 (c) can be formed.
  • the shape of the particle dispersion container 511 of the particle dispersion apparatus 510, the inflow amount of compressed gas, the inflow speed, the amount of Mgo particles 6 70 filling the containment vessel 512 By appropriately setting various conditions such as a voltage value applied to the Mgo particles 670, the thickness of the high ⁇ portion 86 can be deposited in a more uniform state.
  • the voltage application particle dispersion and accumulation method is used. However, any method may be used as long as the material is charged and deposited on the Dat electrode 82 by electrostatic force.
  • PDP6 formed with the high ⁇ portion 86 of the example was prepared by the method described above, and a screen display test was performed using the PDP6.
  • the content of the test is the initialization period ⁇ ⁇ , voltage-time
  • a ramp waveform voltage whose transition gradually rises and falls slowly is applied between the Sen electrode 121 and the Dat electrode 82 on the front panel 10 side.
  • the discharge cell is selected depending on whether or not it is added, and the sustain period ⁇
  • the discharge in the discharge cell selected in step 3 is executed, and it is confirmed whether or not the intended image display is performed.
  • the conventional PDP (configuration shown in FIG. 26 (b)) in which a film 746 (equivalent to the high 0 portion) 746 is formed on all portions of the phosphor layer 85 and the partition wall 84 facing the discharge space 30 has an MgO force.
  • the initialization period T even if the phosphor layer 725 side is a discharge with a force sword, the initial bright spot
  • the film 746 on the entire surface of the phosphor layer 725 contained resonance lines. As the vacuum ultraviolet rays are absorbed, the brightness is greatly reduced. As a result, the luminous efficiency drastically decreased to about 1Z10 compared to the case where the phosphor layer did not have the coating 746.
  • the high ⁇ portion 86 is a surface of the phosphor layer 85 made of a material having a secondary electron emission coefficient ⁇ larger than that of the phosphor layer 85 and different from the constituent material of the phosphor layer 85.
  • the uneven distribution is formed only in the portion corresponding to the upper part of the Dat electrode 82.
  • the portion of the phosphor layer 85 where the high ⁇ portion 86 is not formed directly forms the discharge space 30. It is considered that the decrease in luminous efficiency was reduced as a result of reducing the decrease in luminance.
  • the high ⁇ portion 86 described above is formed over the entire surface so as to cover the surface of the phosphor layer 85 and corresponding to the surface of the Dat electrode 82.
  • the ⁇ portion 86 may not be formed. Hereinafter, it is formed over the entire range of the portion corresponding to the surface of the Dat electrode 82, and will be described as Modification 1 in Embodiment 1.
  • FIG. 14 is a plan view in which a part of a PDP discharge cell according to Modification 1 is cut away.
  • FIG. 14 is a view of one discharge cell viewed from a direction perpendicular to the display surface of the PDP (the surface of the front panel 11 on the front panel 11 opposite to the discharge space 30).
  • the high ⁇ portion 1086 is formed on the surface of the phosphor layer 1085 where the Sen electrode 121 and the Dat electrode 1082 of the display electrode pair 12 cross three-dimensionally. That is, when the front panel side is viewed from the direction orthogonal to the main surface of the front panel (as shown in FIG. 14), it is on the surface of the phosphor layer 1085 and above the Dat electrode 1082 (front panel side). ) And the area corresponding to the area below the Sen electrode 121 on the front panel (on the rear panel 1080 side) (the part corresponding to the area where the Dat electrode and the display electrode pair intersect three-dimensionally) ”.).
  • the material constituting the high ⁇ portion 1086 is the same as in Embodiment 6 and the like, the secondary electron emission coefficient ⁇ is larger than the constituent material of the phosphor layer 1085, and the phosphor layer It is a different material (MgO) from the 1085 material.
  • the phosphor layer 1085 is formed on the surface of the dielectric layer 1083, which is slightly different from the partition wall 1084, and is formed on the side surface of the partition wall 1084. Insane (see Figure 14).
  • FIG. 15 is a diagram showing a state of formation of the ridge portion of the first modification.
  • the formation of the high ⁇ portion 1086 in Modification 1 is performed using the voltage application particle scattering and accumulating method in the sixth embodiment.
  • the high ⁇ portion 1086 is formed in a portion corresponding to a portion where the Dat electrode 1082 and the Sen electrode 121 intersect three-dimensionally. Therefore, the particle disperser 550 described here has a high
  • the particle disperser 510 in the first embodiment is different from the particle disperser 510 in the first embodiment in that a selecting means 555 for selectively forming the ⁇ portion 1086 is provided.
  • the particle spraying device 550 in Modification 1 includes a particle spraying container 551, a storage container 552 for storing MgO particles 680, charging means 554 for charging the MgO particles 680 in the storage container 552, and a storage container 552.
  • the selection means 555 is constituted by a mask 557 having a through hole 556 in a portion corresponding to a portion where the high ⁇ portion 1086 is formed. Then, when the charged MgO particles 680 are sprayed from the nozzle 553, the charged and sprayed MgO particles 681 pass through the through holes 556 of the mask 557, and the desired corresponding to the opening portions of the through holes 556. Deposited in the area. As a result, the high ⁇ portion 1086 is in a range corresponding to the Dat electrode 1082 of the front rear panel 1080a and the front The Sen electrode 121 of the face panel 10 is partially unevenly formed only in the part corresponding to the back panel 1080 side.
  • the high ⁇ portion 1086 can be easily formed in a partially unevenly distributed state.
  • the high ⁇ portion 1086 according to this modification has a Dat electrode with a material whose secondary electron emission coefficient ⁇ is larger than that of the phosphor layer 1086 and different from the constituent material of the phosphor layer 1085. Since it is unevenly distributed only above 108 2 and only below Sen electrode 121, when applying the ramp waveform voltage in initialization period T, above Dat electrode 1082 and
  • the secondary electrons are efficiently emitted from the high ⁇ part 1086 formed only under the Sen electrode 121, and the discharge start voltage when the phosphor layer 1085 side becomes a force sword decreases, so that weak discharge is stable. It is thought that the occurrence of initial bright spots was suppressed.
  • the high ⁇ portion 1086 is unevenly distributed only above the Dat electrode 1082 and only below the Sen electrode 121.
  • phosphor layer 1085 has an area where the high ⁇ portion 1086 is not formed wider than that in the sixth embodiment, and directly faces the discharge space 30 in a wider range. Compared to this, it is considered that the decrease in luminous efficiency could be suppressed.
  • the partition walls 84 according to the sixth embodiment are formed in a stripe shape along the extending direction of the Dat electrode 82, but in the present embodiment, they are formed in a so-called grid pattern.
  • FIG. 16 is a perspective view in which a portion constituting one pixel in the PDP 1006 is cut out and a part of the front plate is cut out so that the state of the partition wall can be seen.
  • Figure 17 (a) shows G-G in Figure 16.
  • (B) is a view of one discharge cell as viewed in the F direction.
  • the high ⁇ portion 1186 is shaded. Is shown.
  • the same reference numerals are used for members having the same structure as in the sixth embodiment.
  • front panel 10 includes front substrate 11, display electrode pair 12, dielectric layer 13, and dielectric protective layer 14 as in the sixth embodiment. Further, the display electrode pair 12 is omitted from the Sen electrode 121 and the Sus electrode 122.
  • the rear panel 1180 includes a rear substrate 1181, a Dat electrode 1182, a dielectric layer 1183, a phosphor layer 1185R, 1185G, 1185B, a partition wall 1184 184a, 1184b) and a high A ⁇ part 1186 is provided.
  • the shape of the partition wall 1184 and the shape of the phosphor layers 1185R, 1185G, and 1185B on which the high ⁇ portion 1186 is formed are different from those of the above-described Embodiment 6.
  • the front panel 10 and the back panel 1180 are sealed such that the display electrode pair 12 of the front panel 10 and the Dat electrode 1182 of the back panel 1180 are three-dimensionally orthogonal to each other!
  • the barrier ribs 1184 are formed in a grid pattern so as to surround each discharge space 30, and are formed on the dielectric layer 1183 and adjacent to each other as in the sixth embodiment.
  • the discharge space is divided into 30 spaces.
  • the partition wall 1184 is composed of four partition wall elements 1184a and 1184b.
  • the cross-shaped partition wall 1184 is formed by applying a low-melting glass as a material, firing, and using a method such as a sand blast method or a photolithographic method in a cross-shaped pattern that partitions a plurality of arrays of discharge cells into rows and columns. To form the partition wall 1184 into a rib shape.
  • each of the optical layers 1185R, 1185G, and 1185B (for convenience, reference numeral 1185B [not shown] is a surface of the dielectric layer 1183 and the partition 1184 is not formed. It is formed on the J-face! For this reason, each of the optical layers 1185R, 1185G, and 1185B has a bottom portion formed on the dielectric layer 1183 and an inclined portion that is inclined from the side surface of the partition wall 1184 to the bottom portion.
  • the positional relationship between the display electrode pair 12 of the front panel 10 and the partition wall 1184 of the rear panel 1180 is the force that can be used.
  • the phosphor layers 1185R, 1185G, and 1185B at the positions of the It becomes a part straddling the bottom part from the oblique part.
  • the high ⁇ portion 1186 is the surface of the phosphor layer 1185B, and corresponds to the region above the Dat electrode 1182 and below the Sen electrode 121. It is formed at a portion where the region intersects three-dimensionally (a portion where the Dat electrode 1182 and the Sen electrode 121 overlap in plan view).
  • the phosphor layer 1185B has an inclined shape near the partition wall 1184 as described above, and thus the Sen electrode 121 of the phosphor layer 1185B It is formed in an inclined portion formed on the side surface of the partition wall 1 184b located on the outer side (in the extending direction of the Dat electrode 1182 and opposite to the Sus electrode 122) and a portion extending slightly from the inclined portion to the bottom portion.
  • the high ⁇ portion 1186 is formed of MgO particles as in the sixth embodiment, and the voltage application particle scattering and accumulation method similar to that in the sixth embodiment is used for this formation. It should be noted that the selection means 555 and the like used in the above-described modification example 1 must be used because they are formed on the surface of the light layer 1185R, 1185G, and 1185B.
  • the Sen electrode 121 From the standpoint of appearance, it occurs between the Sen electrode 121 and the vicinity of the surface of the inclined portions of the phosphor layers 1185R, 1185G, and 1185B. For this reason, if there is a high ⁇ portion 1186 across the inclined portion of the phosphor layers 1185R, 1185G, and 1185B where the discharge occurs and the inclined portion force bottom, the secondary electrons emitted from the high ⁇ portion 1186 Can effectively reduce the discharge start voltage.
  • the high ⁇ portions 86 and 1186 in the sixth embodiment and the seventh embodiment are formed by the voltage application particle scattering and accumulating method, but can also be formed by other forming methods.
  • the eighth embodiment the case where the high ⁇ portions 86 and 1186 are formed by using a vapor deposition method will be described.
  • the case where the high ⁇ portion 86 is formed on the front rear panel 80a in the sixth embodiment will be described.
  • the high ⁇ portion 86 is made of a material containing at least MgO by an evaporation method, for example, an electron beam.
  • an evaporation method for example, an electron beam.
  • an electron vapor deposition method for example, a coating film made of MgO having a film thickness of 10 (nm) to l ( i um). It is deposited and formed only above 82.
  • FIG. 18 is a schematic diagram for explaining a method for forming the high ⁇ portion 86 according to the eighth embodiment.
  • a negative or ground potential is applied to the Dat electrode 82 of the front rear panel 80a in the vapor deposition apparatus 560, and the RF plasma is formed below the front rear panel 80a in the vapor deposition apparatus 560. 563 is generated.
  • an electron beam 569 is irradiated onto the target MgO 690 by the electron gun 567 and scattered.
  • the scattered MgO particles 691 are charged to a positive potential in the RF plasma 563, and then attracted to the negative or ground potential Dat electrode 82 to form the surface of the phosphor layer 85 and the Dat electrode. Accumulate and deposit on the part corresponding to the front side of 82
  • the high ⁇ portion 86 is formed by irradiating the electron beam 569 onto the target Mg06 90 with the electron gun 567 and depositing it, and the MgO particles 691 positively charged in the RF plasma are converted into a high voltage DC power source. Since the device (applying means) 692 is sucked and vapor-deposited by the Dat electrode 82 applied at least to a negative or ground potential, it can be formed by a simple method, and the high-profile portion 86 made of a thin film can be efficiently formed. .
  • the PDP used in this experiment has a secondary electron emission coefficient ⁇ higher than that of the constituent material of the phosphor layer 85 so that it exists only above the Dat electrode 82 on the surface of the phosphor layer 85 in the back plate of the discharge cell.
  • a high ⁇ part 86 is formed to a film thickness of about 0.5 ( ⁇ m), and others Is created in the same manner as the experiment of the sixth embodiment.
  • High ⁇ portions 86, 1086, and 1186 in Embodiments 6 and 7 and Modification 1 are the surfaces of phosphor layers 85, 1085, and 1185, and the portions corresponding to the surfaces of Dat electrodes 82, 1082, and 1182
  • the high ⁇ portions 86, 1086, 1186 may be formed in addition to the portions corresponding to the surfaces of the force Dat electrodes 82, 1082, 1182 formed only in Note that only the portion corresponding to the surface of the data electrode is covered, and the formation range force of the high ⁇ layer 86, 1086, 1186 slightly exceeds the portion corresponding to the surface of the Dat electrodes 82, 1086, 1182. The case where it is formed is also included.
  • the high ⁇ portions 86, 1086, 1186 are formed with the high ⁇ portions 86, 1086, 1186 having a non-uniform thickness in a range including the portion corresponding to the front side of the Dat electrodes 82, 1082, 1182. If so, it is only necessary that the position where the thickness is the thickest is in the portion corresponding to the front side of the Dat electrodes 82, 1082, and 1182.
  • the thickness of the high ⁇ portions 86, 1086, and 1186 is set to the thickness of the discharge gas, for example, almost all resonance lines are generated. It must be thick enough not to be absorbed. Specifically, this thickness is an average of 0.5 (m) or less.
  • high ⁇ portions 86, 1086, and 1186 in Embodiments 6 and 7 and Modification 1 are the surfaces of phosphor layers 85, 1085, and 1185, and on the surfaces of Dat electrodes 82, 1082, and 1182.
  • the force formed uniformly may be non-uniform.
  • the high ⁇ portions 86, 1086, and 1186 are phosphor layers 85, 1085, and 118 5 in the portions corresponding to the front side of the Dat electrodes 82, 1082, and 1182, respectively.
  • the coverage power that covers the Dat electrodes 82, 1082, and 1182 is larger than the portion corresponding to the front side.
  • the Dat electrodes 82, 1082, and 1182 are formed in a concentrated manner on the portion corresponding to the front side.
  • a force using MgO as the constituent material of the high ⁇ portions 86, 1086, and 1186 can be used.
  • other materials that can be used are metal oxide materials containing at least one of MgO, CaO, BaO, SrO, MgNO and ZnO, and CNT as an insulator ( An insulating material containing at least one of nanofibers such as carbon nanotubes), fullerenes such as C60, and materials such as A1N (aluminum nitride) can be used. These may include other materials and impurity materials.
  • MgO particles 670, 680, and 690 that are insulating materials as the high ⁇ parts 86, 1086, and 1186.
  • Pt platinum
  • Au gold
  • Pd palladium
  • Mg manganesium
  • Ta tantalum
  • W tungsten
  • Ni equel
  • the process force for forming the high ⁇ portions 86, 1086, 1186 is positively charged with the material for forming the high ⁇ portions 86, 1086, 1186, Force S described as applying negative voltage to poles 82, 1082 and 1182 S, high Process force to form ⁇ ⁇ 86, 1086 and 1 186 Negative voltage of constant magnitude on Dat electrodes 82, 1082 and 1182 Or a step of applying a voltage on the Dat electrodes 82, 1082, and 1182 so as to increase toward the negative side as time elapses.
  • a step of applying a voltage on the Dat electrodes 82, 1082, and 1182 so that the voltage continuously increases on the negative side over time for example, linearly or curvedly.
  • a step of applying a voltage on the Dat electrodes 82, 1082, and 1182 so that the voltage gradually increases in the negative direction as time passes may be provided.
  • a positively charged MgO insulating material is marked as a negative voltage by taking the various methods described above.
  • the surface potential above the Dat electrodes 82, 1082, and 1182 rises due to the charges of the MgO particles 671, 681, and 691, and the MgO particles become Dat electrodes 82, 1082 and 1182 can be prevented from becoming difficult to deposit.
  • the surface potential of the upper part of the Dat electrodes 82, 1082, and 1182 that rises due to the adhesion of charged MgO particles, for example, increases to the negative side over time, for example, to the Dat electrodes 82, 1082, and 1182.
  • the upper surface potential of the rising Dat electrodes 82, 1082, and 1182 can be set to a substantially constant predetermined potential, and the surface potential can be lowered.
  • MgO particles 671, 681, and 691 can be uniformly accumulated above 82, 1082, and 1182.
  • the present invention can be similarly implemented by the other methods described above, and the force S can be formed above the Dat electrodes 82, 1082, and 1182 by using an efficient and simple method.
  • the high part 86, 1086, and 1186 are placed above the Dat electrodes 82, 108 2, and 1182. It is also possible to form.
  • MgO particles 670, 680, and 690 are used as materials for forming the high ⁇ portions 86, 1086, and 1186! In this embodiment, MgO particles 670, 680, and 690 are positively charged. Therefore, in the embodiment, MgO particles 670, 680, and 690 are positively charged. And a negative voltage was applied to the data electrode.
  • the Dat electrodes 82, 1082, and 1182 have a necessary force S for applying a positive voltage. In this way, the formation of high ⁇ 1 86, 1 086, 1186.
  • the charge polarity of the material formed by the high ⁇ ⁇ 86, 1086, 1186 depends on the ease of charging of the material.
  • the polarity of the voltage applied to the Dat electrodes 82, 1082, and 1182 is determined by the polarity of this charge.
  • MgO particles 670, 680, and 690 are used as materials for forming the high ⁇ portions 86, 1086, and 1186, and negative voltages are applied to the Dat electrodes 82, 1082, and 1182.
  • the Dat electrodes 82, 1082, and 1182 are set to the ground potential, the positively charged Mg 2 O particles 671, 681, and 691 are attracted to the Dat electrodes 82, 1082, and 1182.
  • the material forming the high ⁇ portions 86, 1086, and 1186 is negatively charged.
  • the force described as the step of forming the high ⁇ portions 86, 1086, and 1186 is a step by the voltage application particle dispersion and accumulation method.
  • the step of forming the high ⁇ portion 86 is based on the plasma beam irradiation film forming method in which the material forming the high ⁇ portion 86 is charged by irradiating the plasma beam to form a film. Even if it is a process, it can carry out similarly.
  • MgO particles 690 positively charged by plasma beam irradiation are scattered and accumulated on at least the upper part of the data electrode applied with a negative or ground potential, and deposited to form a high ⁇
  • the portion 86 can be formed efficiently.
  • a film with MgO force is formed by vapor deposition, and high ⁇ parts 86, 1086, 1186 are formed so that the film remains only on the portions corresponding to the surfaces of the Dat electrodes 82, 1082, 1182 by photoetching or the like. Also good! Reverse, do not form high ⁇ ⁇ 86, 1086, 1186! Mask the apportionment and correspond to the surface of the phosphor layers 85, 1085, 1185 and on the Dat electrodes 82, 1082, 1182 High ⁇ portions 86, 1086, and 1186 may be formed only in the portion.
  • the Dat electrodes 82 and 1182 in the sixth and seventh embodiments are formed of Ag (silver). However, it can be formed using other materials. Other materials include, for example, Au (gold), chromium (Cr), copper (Cu), nickel (Ni), platinum (Pt), and combinations of these as appropriate.
  • the back panels 80, 1080, 1180 in the above-described Embodiments 6 and 7 and Modification 1 are provided with the partition walls 84, 1084, 1184! , 1084, 1184 is a structure that can be removed! Further, when the partition walls 84, 1084, and 1184 are formed as a different configuration from the front panel 10 and the rear panel, and the front panel 10 and the rear panels 80, 1080, and 1180 are arranged to face each other, the partition wall 84 , 1084, 1184 may be interposed between them to form a PDP.
  • the phosphor materials constituting the phosphor layers 85, 1085, and 1185 are not limited to those in the sixth embodiment.
  • CaMgSi 2 O: Eu or YBO: Tb is adopted.
  • the phosphor material, discharge gas type, and pressure are not limited to those specified above.
  • the materials and conditions that can be normally used in the AC type PDP can be applied. Needless to say, the contents described in the above modification examples may be combined with each other.
  • FIG. 19 is a perspective view (partial cross-sectional view) showing a main part of the structure of the PDP 7 according to the ninth embodiment.
  • the basic configuration and the basic configuration of the front panel 10 are not different from those of the first to eighth embodiments, but will be described below for confirmation.
  • the front panel 10 is disposed on the surface of the front substrate 11 opposite to the rear panel 90 (the lower surface in FIG. 19), and a plurality of display electrode pairs 12 consisting of a Sen electrode 121 and a Sus electrode 122 are arranged in parallel with each other. Dielectric layer 13 and dielectric protective layer 1 so as to cover display electrode pair 12 4 are sequentially coated.
  • the front substrate 11 is made of, for example, high strain point glass or soda lime glass.
  • each of the Sen electrode 121 and the Sus electrode 122 has a wide range of forces such as ITO (tin-doped indium oxide), SnO (tin oxide), ZnO (zinc oxide), and has a film thickness of about lOOnm.
  • the transparent electrode elements 121a and 122a and the bus lines 121b and 122b for supplementing the high resistance transparent electrode elements 121a and 122a and reducing the electric resistance are laminated.
  • the bus lines 121b and 122b have, for example, a film thickness of several meters, and are silver (Ag), aluminum (A1), chromium (Cr), copper (Cu), nickel (Ni), platinum (Pt) or palladium (Pd).
  • the transparent electrode elements 121a and 122a are formed in a stripe shape or a protruding shape (in FIG. 19, a stripe shape).
  • the dielectric layer 13 is made of a lead-based or non-lead-based low-melting glass material or silicon oxide (SiO 2) material.
  • MgO acid magnesium
  • MgF metal silicate
  • the main material is (magnesium fluoride), etc., and the film thickness consists of several hundreds of nanometers (nm)!
  • a black stripe may be provided between adjacent display electrode pairs 12 to prevent light from adjacent discharge cells from leaking to each other.
  • the back panel 90 has a plurality of Dat electrodes 92 arranged on the surface of the back substrate 91 facing the front panel 10 (upper surface in FIG. 19) in a direction substantially orthogonal to the display electrode pair 12.
  • a dielectric layer 93 is formed so as to cover the Dat electrode 92.
  • a main partition wall element 94a is erected between adjacent Dat electrodes 92, and an auxiliary partition wall element 94b is formed in a direction substantially perpendicular to the main partition wall element 94a. Yes.
  • the main partition wall element 94a and the auxiliary partition wall element 94b constitute the partition wall 94 in the back panel 90.
  • the upper end of the auxiliary partition wall element 94b is set slightly lower than the upper end of the main partition wall element 94a in the Z-axis direction.
  • a phosphor layer 95 is provided on the inner wall surface of the enclosed recess.
  • the phosphor layer 95 is divided into red (R), green (G), and blue (B) for each depression.
  • the rear substrate 91 in the rear panel 90 also has a force such as high strain point glass or soda lime glass.
  • the Dat electrode 92 is made of a metal material such as silver (Ag), for example, and is formed by screen printing Ag paste on the surface of the back substrate 91.
  • As a material for forming the Dat electrode 92 in addition to Ag, Al, Cr, Cu, Ni, Pt, Pd, or a combination of these by, for example, a method of laminating them can also be used.
  • the dielectric layer 93 is basically made of the same strength as that of the dielectric layer 13 of the front panel 10, such as lead-based and lead-free low melting point glass materials, SiO materials, etc. O)
  • the partition wall 94 is, for example, a low melting point glass.
  • the partition wall 94 is formed so as to dig a rectangular parallelepiped hole in each discharge cell, the side wall of the partition wall 94 is not perpendicular to the rear substrate 91 and is adjacent to the downward side in the Z-axis direction. It is inclined so that the interval between them is narrow (not shown in FIG. 19).
  • the phosphor layer 95 is formed for each recess using the following color phosphors.
  • phosphor film 96 is formed so as to cover part of the surface of phosphor layer 95.
  • the phosphor film 96 will be described later, including its formation region.
  • the front panel 10 and the back panel 90 are sandwiched between the partition walls 94 formed on the back panel 90 as a gap material, and the display electrode pair 12 and the Dat electrode 92 are arranged in a substantially orthogonal direction.
  • the outer peripheral portions of the panels 10 and 20 are sealed.
  • a discharge space 30 partitioned by each partition wall 94 is formed between the front panel 10 and the back panel 90, and both panels 10 and 90 form a sealed container. It becomes.
  • the discharge space 30 in the PDP 7 is filled with a discharge gas in which Ne, Xe, He, or the like is mixed.
  • the sealed pressure of the discharge gas is, for example, about 50 (kPa) to 80 (kPa).
  • a method of sealing and sealing at the same time in a vacuum-substituted discharge gas may be employed.
  • the above gas types are not limited to those specified above, and materials and conditions that can be normally used in AC type PDPs can also be applied.
  • each point where the display electrode pair 12 and the Dat electrode 92 cross each other corresponds to a discharge cell (not shown).
  • the PDP 7 has a plurality of discharge cells arranged in a matrix.
  • FIG. FIG. 20 is a cross-sectional view showing one discharge cell of the PDP 7 extracted.
  • (A) is a view of the PDP 7 cut along the XZ cross section
  • (b) is a view of the PDP 7 cut along the YZ cross section.
  • the phosphor layer 95 is formed so as to be inclined on the surface of the inclined portion facing the discharge space 30 of the barrier rib 94 formed and arranged substantially parallel to the (Y direction).
  • the phosphor layer 95 is also laminated on the other inner wall surface including the surface of the dielectric layer 93.
  • the secondary electron emission coefficient ⁇ is larger than that of the phosphor layer 95, and the phosphor is made of a material different from the phosphor material constituting the phosphor layer 95.
  • a phosphor film 96 is formed so as to cover a part of the surface of the layer 95. As shown in FIGS. 20 (a) and 20 (b), the region where the phosphor film 96 is formed is perpendicular to the surface of the rear substrate 91 from each side edge (both edges in the X-axis direction) of the Sen electrode 121. When lowering (Z direction) The surface portion of the phosphor layer 95 surrounded by the perpendicular is included. Further, in the PDP 7, the surface of the phosphor layer 95 faces the discharge space 30 in the region under the Sus electrode 122 and the portion laminated on the surface of the dielectric layer 93.
  • the phosphor film 96 is formed on the bus line 121b even in the region under the Sen electrode 121.
  • a phosphor layer inclined portion 95a in the lower region is formed.
  • the phosphor film 96 is formed on the other inclined portions 95b to 95d and the bottom surface (the portion laminated on the surface of the dielectric layer 93) of the phosphor layer 95. .
  • the phosphor film 96 is made of a metal oxide material containing MgO (magnesium oxide), and is formed with an electron beam evaporation method with a film thickness of several tens (nm) to several thousand (nm). Being! It is more desirable to make the phosphor film 96 as thin as 100 (nm) -3000 (nm)! /.
  • the phosphor film 96 does not have to have a constant film thickness that is an average thickness of the inclined portion 95a on the surface of the phosphor layer 95 and that is within the above range.
  • the phosphor film 96 may be formed in an island shape as an extremely thin film. A method for forming the phosphor film 96 will be described later.
  • a drive circuit that applies a voltage to each of the electrodes 121, 14, and 22 at a predetermined timing is connected to the PDP 7 (not shown). Also in the PDP 7 according to the present embodiment, as in the PDP 1 according to the first embodiment, the PDP 7 is display-driven using a so-called address display separation drive method that repeats the following three operation periods.
  • the rectangular voltage of the electrode voltage pulse is applied to the electrode pair 12 so that the phases are different from each other. That is, the display state data is written by applying an AC voltage between the display electrode pair 12. A pulse discharge is generated in the discharge cell every time the voltage polarity changes.
  • the PDP 7 having the back panel 90 in which the phosphor film 96 is formed in a partial region of the surface of the phosphor layer 95 has the following advantages. As shown in FIGS. 20 and 21, a secondary electron emission coefficient ⁇ is larger than that of the phosphor layer 95 in the inclined portion 95a of the phosphor layer 95 in the region below the Sen electrode 121 in the Z-axis direction and The phosphor film 96 is coated with a material different from the phosphor material constituting the phosphor layer 95. In addition, in DP7, the other surface region of phosphor layer 95 (including other inclined portions 95b, 95c, and 95d) faces discharge space 30.
  • the phosphor film 96 formed by coating the inclined portion 95a on the surface of the phosphor layer 95 is made of a metal oxide containing MgO, which is a material having a large secondary electron emission coefficient ⁇ and high sputtering resistance.
  • the discharge start voltage when the phosphor layer 95 side becomes a force sword is further reduced to further stabilize the weak discharge, and since it is a material having high sputter resistance, high image quality and high reliability are achieved. can do.
  • the phosphor film 96 becomes a force sword on the phosphor layer 95 side during the initialization period T.
  • the phosphor film 96 is provided on at least a part of the surface of the phosphor layer 95 including the inclined portion 95a, and is a portion that contacts the other inclined portions 95b, 95c, 95d and the dielectric layer 93.
  • the phosphor film 96 is formed at a necessary place where a weak discharge is caused, and the phosphor film 96 is not formed at an unnecessary portion. Absorption of ultraviolet radiation by is minimized.
  • a panel with the same configuration as PDP7 was created. That is, after forming up to the phosphor layer 95 of the back panel 90 of the PDP7, MgO material is used in at least a part of the surface of the phosphor layer 95 including the region under the Sen electrode 121 (inclined portion 95a). Then, the phosphor film 96 was formed into a thin film with a film thickness of about 1000 (nm) by the electron beam evaporation method.
  • the phosphor film 96 is not formed at least on the inclined portions 95b, 95c, and 95d on the surface of the phosphor layer 95 by a manufacturing method using an oblique vapor deposition method to be described later.
  • the Xe partial pressure ratio with respect to the total pressure in the discharge gas was sealed at about 60 (kPa) as a high value of about 15 (%), PDP7 was prepared, and evaluated as follows.
  • the phosphor film 96 is not formed at least on the inclined portions 95b, 95c, 95d, etc. on the surface of the phosphor layer 95, the Xe partial pressure relative to the total pressure in the discharge gas is used. Even if the ratio is increased, the decrease in luminous efficiency can be suppressed and the decrease in luminance can be suppressed, and the luminance is greatly improved as a high Xe PDP. In PDP7, even if the Xe partial pressure ratio to the total pressure in the discharge gas is increased to a value in the range of 5 (%) to 100 (%), weak discharge always occurs stably, and the luminance is Xe Improved according to the partial pressure ratio.
  • the phosphor film 96 is formed on a part including at least a part of the inclined part 95a on the surface of the phosphor layer 95, and the other part.
  • the weak discharge is likely to occur stably and the initial bright spot is generated during the initialization period T.
  • the image quality can be improved and the brightness can be increased.
  • the phosphor film 96 is provided on the surface of the phosphor layer 95 at a portion including at least a part of the inclined portion 95a, and the other inclined portions 95b, 95c, 95d, particularly the Sus electrode. 1 Since it is not formed in the lower part of 22 (equivalent to the inclined part 95b), in the initializing period T, the discharge starting voltage can stabilize the weak force and weak discharge.
  • FIG. 22 is a process conceptual diagram showing a process related to formation of phosphor film 96 of rear panel 90 in the method for manufacturing PDP 7 according to the tenth embodiment.
  • the configuration of PDP 7 to be manufactured by the method according to the present embodiment is the same as that of PDP 7 in the ninth embodiment.
  • the Dat electrode 92 is formed by patterning on one main surface of the back substrate 91, and the Dat electrode 92 and at least part of the surface of the back substrate 91 are covered with a low height.
  • a dielectric layer 93 is formed by applying and baking a melting point glass best.
  • a partition wall 94 is erected on the surface of the dielectric layer 93.
  • the material used for forming the barrier ribs 94 is, for example, low melting point glass.
  • a plurality of rows and columns of discharge cells are partitioned and adjacent to each other. For example, a girder shape that partitions the periphery of the boundary with the discharge cell Use a method such as sandblasting, photolithography, or transfer.
  • the side wall surface of the partition wall 94 formed in parallel along the extending direction of the Sen electrode 121 is used as the cross-shaped partition wall 94, and the Sen electrode side inclined portion 24b 1 of the partition wall 94 is used. (See Figure 22 (b).)
  • the side wall surface of the partition wall 94 on the Sus electrode 122 side is used as the Sus electrode side inclined portion 94b2 of the partition wall 94.
  • inclined portions of the partition walls are also formed on the side wall surfaces of the other partition walls 94.
  • a phosphor material is printed and applied to the barrier ribs 94 formed in a cross-shaped pattern, and baked, so that the side wall surfaces of the barrier ribs 94 and the dielectric layer 93 A phosphor layer 95 is formed on the surface.
  • the above three color phosphor materials are used for each RGB discharge cell.
  • the phosphor materials used are not limited to those specified above, but materials normally used in AC-type PDPs can be applied.
  • the phosphor layer 95 is formed in an inclined manner on the Sen electrode side inclined portion 94bl on the surface of the partition wall 94 formed substantially in parallel along the extending direction of the Sen electrode 121 (Y-axis direction). Similarly, the phosphor layer 95 is inclined and formed on the Sus electrode side inclined portion 94b2 on the surface of the partition wall 94. The phosphor layer 95 is also formed on the side wall surface of the other partition wall 94 and the surface of the dielectric layer 93.
  • the manufacturing method of the PDP 7 according to the present embodiment is characterized in that the processing surface forming step of the back panel 90 is such that the secondary electron emission coefficient ⁇ is larger than that of the phosphor layer 95 and the phosphor layer 95 In a region surrounded by a vertical line extending from each side edge of the Sen electrode 121 toward the surface of the rear substrate 91 by a material different from the constituent material, the slope portion 95a of the phosphor layer 95 (see FIG. 21).
  • the method includes a step of forming the phosphor film 96 in a part including at least a part, which will be described in detail below.
  • the back plate processed surface in which the Dat electrode 92, the dielectric layer 93, the partition wall 94, and the phosphor layer 95 are sequentially formed on the back substrate 91 is represented by the Scn electrode 121 and
  • the extending direction of the Sus electrode 122 is arranged in the Y-axis direction (perpendicular to the paper surface), and the long axis direction of the Dat electrode 92 is arranged in the X-axis direction (horizontal on the paper surface).
  • the phosphor film 96 is formed by an oblique deposition method using a material whose secondary electron emission coefficient ⁇ is larger than that of the phosphor layer 95 and different from the phosphor material forming the same. Form.
  • Examples of the material used to form the phosphor film 96 include a metal oxide material containing MgO.
  • the phosphor film 96 is formed by using the above-mentioned materials and by processing the back plate from the direction perpendicular to the extending direction of the Sen electrode 121 (Y-axis direction) by a thin film forming process such as electron beam evaporation.
  • the angle of inclination from the normal direction (Z-axis direction) is formed by oblique deposition from the C direction of ⁇ .
  • the film thickness is set to be in the range of several tens ( ⁇ ! To 6000 (nm).
  • the partition wall 94 on the Sus electrode 122 side is used as a shielding wall provided in front, and the Sus electrode 122 side from the bottom of the partition wall 94 on the Sen electrode 121 side is used.
  • the inclination angle value of the oblique deposition can be set within an appropriate range.
  • the phosphor film 96 is formed on at least a part of the inclined surface of the phosphor layer 95 formed on the Sen electrode-side inclined portion 94b 1 of the partition wall 94, and the bottom surface of the phosphor layer 95 and other portions of the partition wall 94 are formed.
  • the phosphor film 96 is not formed on the surface of the phosphor layer of the inclined portion 94b2.
  • the front panel 10 having at least the display electrode pair 12 in which the Sen electrodes 121 and the Sus electrodes 122 are alternately extended in parallel is arranged opposite to each other with the discharge space 30 therebetween, and a plurality of discharge cells are provided.
  • PDP7 is configured by arranging and forming.
  • the discharge space 30 is filled with a discharge gas containing Xe with a high partial pressure ratio with respect to the total pressure. In this way, PD with high image quality and high brightness P7 can be manufactured stably with high yield.
  • the process of forming the processed surface of the back plate is such that the secondary electron emission coefficient ⁇ is larger than phosphor layer 95 in phosphor cell and phosphor layer 9 Forming a phosphor film 96 on at least a part of the surface of the phosphor layer 95 on the Sen electrode inclined portion 94bl of the partition wall 94 formed along the extending direction of the Sen electrode 121 with a material different from the material of 5
  • a metal oxide material containing MgO is directly intersected with the extending direction of Sen electrode 121 with respect to the processed surface of the back plate by electron beam evaporation.
  • a phosphor film 96 including a metal oxide material can be formed on a portion including at least a part of the surface of the phosphor layer 95 of 94bl.
  • the PDP 7 is driven. In the initialization period T, weak discharge is easily caused stably, and the occurrence of initial bright spots is suppressed.
  • FIG. 23 is a process conceptual diagram showing a process of another example for forming a part of rear panel 90 in the PDP manufacturing method according to the eleventh embodiment.
  • a process of forming a part of the back panel 90 of the PDP 7 according to the ninth embodiment will be described with reference to FIGS. 20 and 22 described above. Components identical to those in FIGS. 19 to 22 are given the same reference numerals, and are omitted for the sake of brevity.
  • the force not shown in the figure is formed up to the phosphor layer 95 in the rear panel 90.
  • the configuration of the discharge cell unit of the rear plate finished surface 900f is the same as that shown in FIGS. 20 (b) and 22 (a).
  • the side wall of the partition wall 94 formed substantially parallel to the extending direction of the Sen electrode 121 is used as the Sen electrode side inclined portion 94b 1 in the cross-shaped partition wall 94.
  • the side surface of the partition wall 94 on the Sus electrode 122 side is a Sus electrode side inclined portion 94b2.
  • the phosphor layer 95 is formed on the surface of the slope 94bl on the Sen electrode side of the partition wall 94 formed substantially in parallel along the extending direction of the Sen electrode 121 (X-axis direction). It is tilted. Similarly, the phosphor layer 95 is formed to be inclined on the surface of the slope 94b2 on the Sus electrode side of the partition wall 94.
  • the front stage rear panel 900 in which the rear panel processed surface 900f of a plurality of discharge cells is formed and arranged on the rear substrate 91 is arranged on the rear panel cover. Place the work surface 900f horizontally (Z-axis direction) horizontally. That is, in FIG. 23, the rear plate carved surface in FIG. 22 (a) is disposed downward (Z-axis direction), and the extending direction of the Scn electrode 121 and the Sus electrode 122 is the Y-axis direction.
  • the front rear panel 900 is arranged so that the Dat electrode 92 is in the X-axis direction (in the direction perpendicular to the page).
  • a metal mask 572 provided with an opening 572h, which is a rectangular hole, for example, a line connecting the material target 695 and the opening 572h, and a surface normal of the metal mask 572 (back plate carved surface normal) Are arranged so as to have an inclination angle ⁇ .
  • the front panel 900 is moved at a constant speed in the X-axis direction, and is orthogonal to the extending direction of the Sen electrode 121 through the opening 572h of the metal mask 572 with respect to the rear panel work surface 900f.
  • the secondary electron emission coefficient ⁇ is higher than that of the phosphor layer 95 by the electron beam evaporation method from the direction inclined with the inclination angle ⁇ substantially maintained from the normal direction of the back plate processed surface 900f.
  • a phosphor film 96 which is a high ⁇ portion is formed by obliquely depositing a metal oxide material containing MgO which is large and different from the material of the phosphor layer 95.
  • the step of forming the phosphor film 96 is performed by maintaining the inclination angle ⁇ with respect to the back plate processed surface 900f substantially constant and moving the front back panel 900 at a constant speed.
  • the partition wall 94 on the Sus electrode 122 side is used as a shielding wall, and oblique deposition is performed from a certain direction at a certain deposition rate.
  • the secondary electron emission coefficient ⁇ is larger than that of the phosphor layer 95 on at least a part of the surface of the phosphor layer 95 on the Sen electrode inclined portion 94bl of the partition wall 94 by the simple manufacturing method described above.
  • a phosphor film 96 made of a material that is large and different from the material of the phosphor layer 95 is formed, and the phosphor layer 95 on the surface of the phosphor layer 95 at the bottom surface of the recess and the slope 94 on the Sus electrode side of the partition wall 94b2
  • the phosphor film 96 is not formed on the surface of 95, and a high-luminance and high-quality PDP can be manufactured stably and inexpensively.
  • the step of forming the phosphor film 96 is performed while the front rear panel 900 is moved at a constant speed while the inclination angle ⁇ with respect to the back plate processed surface 900f is maintained substantially constant.
  • the material of the phosphor layer 95 is formed in the discharge cell by a simple manufacturing method in which vapor deposition is performed in a direction orthogonal to the direction in which the Sen electrode 121 extends with respect to the face plate machining surface 900f.
  • a phosphor film 96 is formed on at least part of the phosphor layer 95 on the Sen electrode inclined portion 94bl of the partition wall 94 along the extending direction of the Sen electrode 121 by using a material having a large secondary electron emission coefficient ⁇ different from However, since the phosphor film 96 is not formed on the surface of the phosphor layer 95 on the bottom surface of the concave portion and the surface of the phosphor layer 95 on the Sus electrode side inclined portion 94b2 of the partition wall 94, initialization is performed in driving the completed PDP. Stable weak discharge in period T
  • a panel having high brightness and high image quality which suppresses the occurrence of initial bright spots and suppresses a decrease in brightness during sustain discharge, can be manufactured stably and inexpensively.
  • FIG. 16 is a cross-sectional view and a conceptual plan view showing a partial configuration of a PDP 8 according to Embodiment 12 as a modification of Embodiment 9 described above.
  • Components having the same configuration as in FIG. 20 (c) are given the same reference numerals and are partially omitted.
  • PDP 8 according to the present embodiment is different from PDP 7 in the formation region of phosphor film 1096. Specifically, when both side edge forces of the bus electrode 12 lb in the Sen electrode 121 are lowered toward the surface of the back substrate 1091, the phosphor film 1096 is surrounded by two perpendicular lines on the phosphor layer 1095. Formed in area K.
  • the region K where the bus electrode 121b of the Sen electrode 121 and the surface of the phosphor layer 1095 formed on the rear panel overlap in a plane is a fairly gentle inclined surface. It has been. For this reason, the area of the region K is quite large.
  • the phosphor film 1096 can make a strong contribution, the discharge starting voltage can be stably reduced, and the weak discharge can be stably generated. Further, even if the phosphor film 1096 is formed in a region where it does not overlap with the Sen electrode 121 or the Dat electrode 1092 in a plane, it can contribute to the discharge in an oblique electric field.
  • the phosphor film 1096 is formed only on the surface of the phosphor layer 95 in the region K, the absorption of ultraviolet radiation by the phosphor film 1096 is reduced, and the luminance may be lowered. Absent.
  • the phosphor film 1096 containing MgO is formed on the surface region of the phosphor layer 1095 in the region K, so that the Xe component in the discharge gas in the discharge space 30 is formed. Even if the pressure ratio is increased, the initialization period T during driving of the PDP8
  • the effect of the present invention that suppresses the occurrence of the initial bright spot and further suppresses the decrease in luminance is increased by increasing the Xe partial pressure ratio with respect to the total pressure in the discharge gas.
  • This is especially effective for PDPs that have a Xe partial pressure ratio of 5 (%) to 6 (%).
  • the Xe partial pressure ratio to the total pressure in the discharge gas is in the range of 5 (%) to 6 (%), the brightness is low! /, And the power consumption is high! Even if the PDP has an unstable weak discharge during the conversion period T,
  • the phosphor film 1096 is formed on the surface of the phosphor layer 1095 on the Sen electrode side inclined portion of the partition wall 1094 (see Embodiment 9 etc.), and the Sus electrode side inclined portion is formed. (Refer to Embodiment 9 and the like) and the bottom surface of the recess (see Embodiment 9 and the like). Can stabilize and improve the weak discharge during the initialization period T, and
  • the front electrode substrate 12 adopts a laminated structure of transparent electrode elements 121a, 122a and bus lines 121b, 122b on the main surface of the front substrate 11.
  • the bus lines 121b and 122b may be formed first on the main surface of 11, and the transparent electrode elements 121a and 122a may be formed thereon.
  • FIG. 25 is a sectional view and a conceptual plan view showing a partial configuration of PDP9.
  • Components having the same configuration as in FIG. 20 (c) and FIG. 24 are given the same reference numerals, and are partially omitted.
  • the phosphor coating 1196 has both edges of the bus line 121b in the Sen electrode 121 in the same manner as the PDP 8 according to the twelfth embodiment.
  • this phosphor layer 1195 The force formed in the region surrounded by the two vertical lines on the upper side Unlike the above-described embodiment 12, in this embodiment, as shown in FIG. In the plane, it is set only in a region E where the bus line 121b of the Sen electrode 121 and the Dat electrode 1192 overlap.
  • PDP9 according to the present embodiment having such a configuration has the same effects as PDP7 and PDP8 according to Embodiment 9 and Embodiment 12 described above, and from the standpoint of suppressing luminance reduction. Is desirable.
  • the partition walls 94, 1094, and 1194 are applied as an example of a partition wall partition wall that partitions the boundary between adjacent discharge cells.
  • the partition walls are corrugated like a meander partition wall.
  • the partition wall 94, 1094, and 1194 along the extending direction of the Sen electrode 121 may be a corrugated uneven shape, even with a partition wall that partitions the periphery of the boundary with the adjacent discharge cell in the uneven shape. .
  • the process force for forming the phosphor coatings 96, 1096, and 1196 is a direction orthogonal to the extending direction of the Sen electrode 121 with respect to the back plate finishing surface 900f.
  • an orthogonal force or a direction force in the range of about ⁇ 30 (°) may be used as a direction substantially orthogonal to the extending direction of the Sen electrode 121.
  • the force of adopting MgO as the constituent material of the phosphor coatings 96, 1096, and 1196 is not limited to at least one of CaO, BaO, SrO, and ZnO.
  • a metal oxide material containing one kind may be used.
  • these may contain other materials and impurity materials. These materials are different from the phosphor materials constituting the phosphor layers 95, 1095, and 1195, and the secondary electron emission coefficient ⁇ is larger than the phosphor layer 95 and has a higher value than the phosphor layer 95. It is useful as a material for forming the phosphor film 96, 1096, 1196.
  • the material used for forming the high ⁇ portion the material used in the above-described Embodiments 1 to 13 can be applied.
  • the constituent material of the high ⁇ portion can be purchased for each discharge cell in the force PDP. It is also possible. For example, between the discharge cells of R, G, and B, the force that causes a difference in the secondary electron emission coefficient ⁇ of each phosphor layer depending on the phosphor material used, etc. In such a case, it is possible to change the constituent material, coverage, etc. of the high ⁇ portion according to the type of phosphor material used for the phosphor layer of the discharge cell.
  • the oblique deposition is performed by the electron beam irradiation from the electron gun 577 by the electron beam deposition method, but the number of the electron guns 577 may be plural.
  • phosphor films 96, 1096, and 1196 are uniformly formed on the substrate surface. It is possible to produce a large screen with high brightness, high image quality, and high-definition PD.
  • the process force for forming phosphor films 96, 1096, and 1196 is maintained at a constant speed while maintaining the inclination angle ⁇ with respect to the back plate processing surface 900f at a substantially constant angle ⁇ .
  • oblique deposition is performed while moving in the X-axis direction
  • the same can be performed by performing oblique deposition while moving the substrate in the X-axis direction while reciprocating in the Y-axis direction.
  • the phosphor films 96, 1096, and 1196 can be deposited more uniformly, so that a more uniform large-screen PDP with higher image quality and higher definition can be manufactured.
  • the present invention is required to realize both a large-size television and a high-definition television, such as a large display device, etc., which are required to have both high light emission efficiency and high image quality performance. It is valid.

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Abstract

 本発明は、放電ガス中の全圧に対するXe分圧比率を上げても、初期化期間において弱放電を常に安定化させて放電開始電圧を低下させ、初期化輝点の発生を抑制して画質を向上させ、かつ発光効率の低下を抑え輝度の低下を抑制し輝度を向上させることが可能なPDPと、当該PDPを簡易に製造可能な製造方法を提供する。  本発明に係るPDPは、前面パネルと背面パネルとが間に放電空間をあけた状態で対向配置された構成を有している。そして、背面パネルにおける放電空間側の領域には、蛍光体層が形成され、その表面の一部領域に高γ部としての蛍光体皮膜が形成されている。  蛍光体皮膜は、蛍光体層を構成する蛍光体材料よりも2次電子放出係数γが高い材料から構成されている。蛍光体層の表面は、その一部が蛍光体皮膜で覆われ、その他の部分が放電空間を臨む状態となっている。                                                                                     

Description

明 細 書
プラズマディスプレイパネルとその製造方法
技術分野
[0001] 本発明は、プラズマディスプレイパネルとその製造方法に関する。
背景技術
[0002] 従来の気体放電からの放射を利用した平面表示装置としてプラズマディスプレイ装 置(以下では、「PDP装置」と記載する。)の商品化が図られている。この PDP装置に は直流型 (DC型)と交流型 (AC型)があるが、大型表示装置として、面放電型 AC型 PDP装置がより高 、技術的ポテンシャルを持ち寿命特性がすぐれ商品化されて!/、る 。 PDP装置のパネル部であるプラズマディスプレイパネル(以下では、「PDP」と記載 する。)の構成について、図 26 (a)を用いて説明する。図 26 (a)は、従来の代表的な 面放電型 AC型 PDPの一部の放電セル構造を示す展開斜視図(一部断面図)であ る。
[0003] 図 26 (a)に示すように、 PDPは、前面パネル 710と背面パネル 720とが対向配置さ れた構成を有する。前面パネル 710は、前面基板 711と、この表面上に形成された 表示電極対 712、およびその上に順次積層される誘電体層 715および誘電体保護 層 716などカゝらなる。この内、表示電極対 712は、ストライプ状に延びたスキャン電極 713とサスティン電極 714とで構成され、その各々の電極 713、 714は、透明電極要 素 713a、 714aとノ スライン 713b、 714bとの積層により構成されている。ここで、バス ライン 713b、 714bは、透明電極要素 713a、 714aの高抵抗を補うため、即ち、電気 抵抗を下げるために金属材料などで細幅に形成されるものである。
[0004] 誘電体層 715は、低融点ガラスカゝら形成され、 AC型 PDP特有の電流制限機能を 有する。誘電体保護層 716は、スキャン電極 713およびサスティン電極 714の表面を 保護すると共に、 2次電子を効率よく放出し放電開始電圧を低下させる機能を有する 。そして、誘電体保護層 716の材料としては、 2次電子放出係数 γが大きぐ且つ、 耐スパッタ性が高ぐ光学的に透明な電気絶縁性材料である金属酸ィ匕物の MgO (酸 ィ匕マグネシウム)が広く用いられている。 [0005] 背面パネル 720は、背面基板 721と、この表面上にストライプ状に複数形成され、 画像データを書き込むためのデータ電極 722と、さらにデータ電極 722および背面 基板 721表面の少なくとも一部を覆うように、背面側の誘電体層 723が低融点ガラス により積層される。隣接する放電セル(図示省略)との間の誘電体層 723上には、所 定の高さの隔壁 724が低融点ガラスによってストライプ状や井桁状(図 26 (a)では、 一例として井桁状。)などに形成され、さらに誘電体層 723の表面と隔壁 724の側壁 には、蛍光体層 725が塗布焼成され配置された構造としている。蛍光体層 725は、 放電セル毎に赤、緑、青発光の 3色の蛍光体材料のそれぞれが区分けされ使用され ている。
[0006] PDPは、前面パネル 710と背面パネル 720とを、スキャン電極 713およびサスティ ン電極 714とデータ電極 722とが交差する方向に、配置され封着されて構成されて いる。ここで、前面パネル 710と背面パネル 720との間に形成される放電空間 730は 、製造過程で残留する大気や不純物ガスを排気した後、放電ガスとして希ガスのキ セノン (Xe) ·ネオン (Ne)あるいはキセノン (Xe) ·ヘリウム(He)などが充填されている 。放電ガスは、全圧に対する Xeの分圧比率が 5 (%)〜6 (%)であって、封入圧力(全 圧)が約数十 (kPa)で設定される。そして、 PDPでは、表示電極対 712とデータ電極 722とが立体交差する各領域が放電単位である放電セルに対応し、複数の放電セ ルがマトリクス状に配列した構成となって 、る。
[0007] さらに、 PDPは、各電極 713、 714、 722に対してマトリクス状に駆動する駆動回路 やこれらを制御する制御回路などが接続され、これによつて PDP装置が構成される。 上記 AC型 PDPは、(1)全表示セルを初期化状態にする初期化期間、(2)各放電 セルをアドレスし、各放電セルへ入力データに対応した表示状態を選択 '入力して!/ヽ くデータの書き込み期間、(3)表示状態にある放電セルを表示発光させる維持期間 とから構成される駆動方式により駆動表示されて ヽる。
[0008] 表示するために直接発光させるのは、前面パネル 710のスキャン電極 713とサステ イン電極 714とを用いてであり、データ電極 722は、表示発光させようとする放電セル を選択するために機能するものであって、表示発光には直接寄与していない。上記( 2)の書き込み期間において、背面パネル 720のデータ電極 722を用いて書き込み データが入力され、対向する前面パネル 710の誘電体保護層 716の表面に壁電荷 が形成される。
[0009] 上記(3)の維持期間において、上記壁電荷が存在する放電セルで、表示電極対 7 12のスキャン電極 713とサスティン電極 714とのそれぞれに対し、電圧パルス(例え ば、約 200 (V)の矩形波電圧)が互いに位相が異なるように印加される。即ち、維持 期間では、上記表示電極対 712間に交流電圧を印加することにより、表示状態が書 き込まれた放電セルに対し、電圧極性が変化するたびにパルス放電を発生させるこ とができる。この維持放電の発生により、表示発光は、放電空間 730の励起 Xe原子 力も波長 147 (nm)の共鳴線が発生し、励起 Xe分子からは波長 173 (nm)主体の分 子線が放射される。
[0010] 次いで、上記紫外放射が、背面パネル 720に設けられた蛍光体層 725で可視放射 に変換され、これにより可視光が得られる。ここで、誘電体保護層 716に壁電荷が書 き込まれていない放電セルでは、維持期間に交流電圧が印加されても維持放電が 発生することはなぐ表示状態は黒表示となる。なお、 AC型 PDPの表示画素単位は 、通常、それぞれに赤、緑および青色発光の蛍光体層 725を設けた 3つの表示放電 単位である放電セル力 構成される。
[0011] 従来、 PDPの 3つの上記動作期間の内、全表示セルの壁電荷分布を初期化状態 にする初期化期間において、コントラスト比を向上させるために、弱放電 (初期化放 電)と呼ばれる弱い小さな放電を安定して起こさせる工夫がなされている。通常、電 圧—時間推移が緩やかな傾斜で上下するランプ波形高電圧を、前面パネル 710の スキャン電極 713と背面パネル 720のデータ電極 722との間に印加し、小さな放電電 流を定常的に流すことにより、弱放電が安定して起きるようにして 、る。
[0012] 初期化期間における上りランプ波形電圧印加時の放電は、データ電極 722あるい は 2次電子放出係数 γが小さい蛍光体層 725側が力ソード(陰極)となる放電である ので、放電開始電圧が高くなり弱放電が不安定となって強い放電が起きやすくなる。 このため、この放電の際には、映像に無関係な初期化による誤発光 (以下、初期化 輝点と呼ぶ)が発生しやす!/、と 、う問題がある。
[0013] そこで、従来においては、初期化期間における弱放電を安定して発生させるために 、蛍光体層 725の表面を改質するという開発がなされている。このように蛍光体層 72 5の表面を改質することにより、初期化期間では、蛍光体層 725側が力ソードとなる時 の放電開始電圧を低下させて弱放電を安定化させ、正確な書き込み制御ができるよ うにして初期ィ匕輝点の発生を抑制することが考えられる。
[0014] ところで、 PDPの開発にあたっては、輝度向上のために放電ガスにおける全圧に対 する Xe分圧比率を上げて (高 Xe化を図って)発光効率を向上させることが提案され ている。しかし、 PDPの放電ガスの全圧に対する Xe分圧比率を上げた場合には、発 光効率は向上するが放電開始電圧が上昇することや、初期化期間における上記ラン プ波形印加時において弱放電が不安定になり、正確な初期化ができなくなるという大 きな問題が生じる。即ち、高 Xe化を図った PDPでは、放電開始時に印加される電圧 が大きくなり、また放電遅れが大きくなるので、発生する初期化放電が弱放電ではな く強い放電が発生し易くなり、不正確な壁電荷量が移動し、初期ィ匕輝点となって PD Pの黒表示部分が光って白表示となり正確な表示ができなくなるという大きな問題が めつに。
[0015] 従来においては、駆動電圧を下げ、また隔壁 724側面や蛍光体層 725表面での荷 電粒子の損失を低減し、発光効率を高めるために蛍光体層 725、隔壁 724、背面パ ネル 720の放電空間 730を臨む部分全てを、 2次電子放出係数 γが高い材料から なる皮膜で被覆すると ヽぅ技術が提案されて ヽる (例えば、特許文献 1参照)。
図 26 (b)は、特許文献 1に開示されている一実施例を示す断面図である。図 26 (b )に示すように、背面パネル 740では、背面基板 721の内側 (放電空間 730の側)に 形成された蛍光体層 725の表面の放電空間 730を臨む部分全てが、 2次電子放出 係数 Ύが高い材料カゝらなる蛍光体皮膜 746で被覆されている。なお、この実施例で は、隔壁 724の表面が放電空間 730に露出する場合には、その露出部分も皮膜 74 6で被覆する。
[0016] 図 26 (b)に示す特許文献 1に係る PDPでは、書き込み期間以外の期間では、デー タ電極 722の付近の蛍光体層 725表面に正の壁電荷が蓄積され、さらにデータ電極 722付近の放電空間 730に正イオン群が浮遊し、隔壁 724側面や蛍光体層 725表 面では放電空間 730中を拡散する電粒子が損失して、発光効率に悪影響を及ぼし ているとしている。そこで、背面パネル 740の中で放電空間 730を臨む部分 (蛍光体 層 725の表面に対応)に、 2次電子放出係数 γが高い材料を用いて皮膜 746を形成 することにより、正イオンが皮膜 746表面に衝突する際、放電空間 730に放出される 2次電子により浮遊している正イオン群を中和することで放電空間 730の電界を強め 、次の放電をより低電圧 '低消費電力で引き起こすことができるとしている。
[0017] 従って、特許文献 1においては、維持期間における放電の電力を下げることはある 程度可能となると考えられる。
また、他の従来技術としては、従来、長時間にわたり安定して PDPの発光輝度を保 つために、蛍光体層 725の表面を覆って MgO力もなる膜を成膜するという技術が開 発されている(例えば、特許文献 2参照)。この技術では、蛍光体層 725の表面を Mg O膜で被覆した構成を採用することにより、 2次電子放出性能を高めて放電状態の活 性ィ匕が行われるとともに、蛍光体層 725が放電時のスパッタカも保護される。よって、 この技術を採用する PDPでは、長期間にわたり安定して発光輝度を維持することが できると考えられる。
特許文献 1:特開 2002— 110046号公報
特許文献 2:特開平 08— 212929号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0018] しかし、上記特許文献 1、 2を含む従来の技術では、初期化期間における弱放電の 発生を安定化させるということは困難である。具体的には、上記特許文献 1の技術で は、蛍光体層、隔壁の放電空間を臨む部分全てに、 2次電子放出係数 γが高い材 料で構成した皮膜を備える構成を採用するが、このような構成では、初期化期間にお ける弱放電の安定ィ匕を図り初期ィ匕輝点の発生を抑制するという課題を解決すること は困難であると考えられる。特に、上述のように、放電ガス中における全圧に対する X e分圧比率を高めていく場合には、弱放電の安定ィ匕は困難である。
[0019] また、上記特許文献 1の技術では、蛍光体層 725の表面全体を皮膜で覆っている ので、放電空間 730の励起 Xe原子から放射される共鳴線の一部が蛍光体層 725上 に形成された膜で吸収されるに至り、蛍光体層 725に到達する共鳴線が減少する。 このため、この技術を採用する PDPでは、発光効率が低下し輝度が低下すると推定 される。
また、上記特許文献 2の PDPでは、蛍光体層 725表面を覆って MgO膜を成膜する 構成としているが、この構成では、初期化期間における弱放電の安定ィ匕を図ることは 困難であると考えられる。また、この技術の PDPにおいても、蛍光体層 725の表面全 体を 0. 5 ( m)〜20 ( μ m)の厚膜の皮膜 746で覆うので、上記特許文献 1の PDP と同様に、放電空間 730の励起 Xe原子力ゝら放射される波長 147 (nm)の共鳴線が皮 膜 746で吸収されて蛍光体層 725に届き難くなり、発光効率が大幅に低下するもの と推定される。
[0020] 本発明は、このような問題に鑑みなされたもので、放電ガスでの全圧に対する Xe分 圧比率を上げても、初期化期間において弱放電を常に安定化させて放電開始電圧 を低下させ、初期ィ匕輝点の発生を抑制して画質を向上させ、且つ、発光効率の低下 を抑え輝度の低下を抑制し輝度を向上させることが可能な PDPと、当該 PDPを簡易 に製造可能な製造方法を提供することを目的とする。
課題を解決するための手段
[0021] 上記目的を達成するために、本発明に係る PDPは、第 1の基板と第 2の基板とが間 に空間をあけて対向配置され、第 1の基板における空間側の領域に蛍光体層が形 成されてなる構成を有するものであって、蛍光体層の表面における一部領域には、 蛍光体層を構成する蛍光体材料よりも 2次電子放出係数 γが高 ヽ材料を構成要素 に含む高ガンマ部(以下では、「高 γ部」と記載する。)が被覆形成されており、蛍光 体層の表面における残りの領域 (即ち、高 Ί部が形成されていない領域)と、高 γ部 とは、ともに空間を臨む、という構成を有する。
[0022] また、本発明に係る PDPは、第 1の基板と第 2の基板とが間に空間をあけて対向配 置され、第 1の基板における空間側の領域に蛍光体層が形成されてなる構成を有す るものであって、蛍光体層の表面には、蛍光体層を構成する蛍光体材料よりも 2次電 子放出係数 γが高い材料を構成要素に含む皮膜状の高 γ部が被覆形成されており 、高 γ部は、その膜厚が l (nm)以上 10 (nm)以下である、という構成を有する。
[0023] また、本発明に係る PDPの製造方法は、第 1の基板と第 2の基板とが間に空間をあ けて対向配置され、第 1の基板における空間側の領域に蛍光体層が形成されてなる PDPを製造する方法であって、次の各ステップを有する。
※蛍光体層形成ステップ;第 1の基板の上であって、第 2の基板と対向させる側の 表面部分に蛍光体層を形成する。
[0024] ※高 γ部形成ステップ;蛍光体層の表面における一部領域に、蛍光体層を形成す るのに用いた蛍光体材料よりも 2次電子放出係数 γが高い材料を用いて、高 γ部を 被覆形成する。
ここで、高 γ部形成ステップでは、蛍光体層の表面における残りの領域 (蛍光体層 の表面における高 γ部が形成されていない領域)と高 γ部とがともに空間を臨むよう に高 γ部の形成を実施することを特徴とする。
[0025] また、本発明に係る PDPの製造方法は、第 1の基板と第 2の基板とが間に空間をあ けて対向配置され、第 1の基板における空間側の領域に蛍光体層が形成されてなる
PDPを製造する方法であって、次の各ステップを有する。
※蛍光体層形成ステップ;第 1の基板の上であって、第 2の基板と対向する側の表 面部分に蛍光体層を形成する。
[0026] ※高 γ部形成ステップ;蛍光体層の表面に、蛍光体層を形成するのに用いた蛍光 体材料よりも 2次電子放出係数 γが高 ヽ材料を用いて、皮膜状の高 γ部を被覆形成 する。
ここで、高 γ部形成ステップでは、高 γ部を 1 (nm)以上 10 (nm)以下の膜厚を以 つて形成することを特徴とする。
また、本発明に係る高 γ部の形成装置は、表面に電極と、当該電極を被覆する蛍 光体層が形成された基板に対して、蛍光体層の表面であって電極の表面に相当す る部分内に当該蛍光体層よりも 2次電子放出係数 γが高い材料を以つて高 γ部を形 成する装置であって、高 γ部の形成に用いる形成材料を帯電させる帯電手段と、帯 電された形成材料を散布する散布手段と、散布された形成材料を、蛍光体層の表面 であって電極の表面に相当する部分内に偏在して堆積させるために、電極に電圧を 印加する印加手段とを備える、という構成を有する。
発明の効果 [0027] 本願発明者らは、従来の構成を有する PDPの駆動において、初期化期間における 強い放電の発生がランプ波形印加時の中でも、特に上りランプ波形印加時に発生し 易いことを見出した。即ち、初期化期間には、スキャン電極に対して正の傾きを有す る上りランプ波形電圧を印加し、その後に、負の傾きを有する下りランプ波形電圧を 印加して全セルの初期化を行うのである力 上りランプ波形印加時において、背面パ ネルのデータ電極あるいは 2次電子放出係数 γが小さ 、蛍光体層の側が力ソードと なる際に、初期化放電が不安定となり、不所望の強い放電を生じ易い。
[0028] これに対して、本発明〖こ係る PDPでは、高 γ部が空間を臨む状態で形成されて!ヽ るので、パネル駆動の初期化期間において、ランプ波形印加時に蛍光体層の側が力 ソードとなる場合の放電開始電圧を低下させ、強!、放電の発生を抑制することで安 定した初期化放電の発生を生じさせることができる。
また、本発明に係る PDPでは、蛍光体層の表面の一部が空間を臨むことから、駆 動時にお 1ヽて空間内で発生した紫外線が大きく減衰することなく蛍光体層に入射し 、蛍光体層の表面全体を MgOで覆ってしまう特許文献 1の技術を採用した場合の Ρ DPに比べて、パネルの発光効率が低下してしまうのを抑制することができる。
[0029] 従って、本発明に係る PDPでは、初期化期間における安定的な弱放電の発生を図 ることができ、高い発光効率と高い画質性能との両立を図ることが可能である。この P DPにおいては、次のようなノリエーシヨンを採用することが可能である。
上記本発明に係る PDPでは、高 γ部力 前記蛍光体層の表面において、斑点状 または縞状に形成されて ヽると!ヽぅ構成を採用することができる。
[0030] 上記本発明に係る PDPでは、高 γ部が、蛍光体層の表面に粒子状の材料が付着 されることで形成されて ヽると!/ヽぅ構成を採用することができる。
上記本発明に係る PDPでは、粒子の粒径を、 0. 05 m)以上 20 ( m)以下に することが望ましい。
上記本発明に係る PDPでは、粒子の 1次粒子の径を、 0. 05 ( 111)以上1 ( 111) 以下にすることが望ましい。
[0031] 上記本発明に係る PDPでは、粒子の 2次粒子の径を、 2 m)以上 2〇 m)以下 にすることが望ましい。 上記本発明に係る PDPでは、第 1の基板の表面上に複数本の第 1電極が形成され 、当該第 1電極を覆うように誘電体層および蛍光体層が積層されてなる構成を採用 する場合において、高 γ部が、第 1電極の積層上方領域を含む範囲に形成されてい ると 、う構成を採用することができる。
[0032] 上記本発明に係る PDPでは、高 γ部が、蛍光体層の表面において偏在して形成さ れて 、ると 、う構成を採用することが望まし 、。
上記本発明に係る PDPでは、具体的に、高 γ部が、第 1電極の表面に相当する部 分に偏在して形成されて ヽると!ヽぅ構成を採用することができる。
上記本発明に係る PDPでは、第 1の基板の表面上には、複数本の第 1電極が形成 され、第 2の基板の表面上には、第 1の基板上における第 1電極と交差する方向であ つて、互いに平行な第 2電極および第 3電極で対をなす電極対が複数対形成されて おり、高 γ部が、第 1電極と表示電極対とが立体的に交差する領域に相当する部分 又は当該領域付近に相当する部分で偏在しているという構成を採用することができる
[0033] 上記本発明に係る PDPでは、第 2電極と第 3電極との一方がスキャン電極であり、 他方がサスティン電極であって、高 γ部は、第 1電極 (データ電極に相当)とスキャン 電極とが立体的に交差する領域に相当する部分に偏在した状態で存在しているとい う構成を採用することができる。
上記本発明に係る PDPでは、第 1電極、第 2電極および第 3電極の各々に対し入 力映像データに基づく電圧が印加され、入力映像データに基づき選択された放電セ ルにおいて、第 1電極と第 2電極との間に電圧が印加されることによって書き込み放 電が発生し、当該書き込み放電の発生により壁電荷の形成がなされるという構成を 採用することができる。
[0034] 上記本発明に係る PDPでは、第 1の基板の表面上に複数本のデータ電極が形成 され、第 2の基板の表面上にデータ電極と交差する方向であって、互いに平行なスキ ヤン電極およびサスティン電極で対をなす電極対が複数形成されており、スキャン電 極の各側縁辺力も前記第 1の基板の表面に対して垂線を下ろすときに、高 Ί部が、 蛍光体層の表面の内、上記垂線によって囲まれる領域に存する部分を有するという 構成を採用することができる。
[0035] 上記本発明に係る PDPでは、複数のデータ電極を覆うように第 1の基板に誘電体 層が形成されるとともに、当該誘電体層の表面に、隣り合うデータ電極どうしの間であ つてデータ電極と並行する方向に延び、当該第 1の基板の表面に向けて互いの間隔 が狭まっていく状態の斜面を有する隔壁が立設されており、蛍光体層が第 1の基板 の誘電体層の表面と隣り合う隔壁とに囲まれる各凹部の壁面に形成されているもの であって、高 γ部は、上記垂線で囲まれる領域を含み、隔壁の斜面上に形成された 蛍光体層表面を覆う状態に形成されているという構成を採用することができる。
[0036] 上記本発明に係る PDPでは、複数のデータ電極を覆うように第 1の基板に誘電体 層が形成されるとともに、当該誘電体層の表面に、隣り合うデータ電極どうしの間であ つてデータ電極と並行する方向に延びる第 1隔壁と、この第 1隔壁に交差する方向で あって、第 2の基板に形成された隣り合う電極対どうしの間に延びる第 2隔壁とが立設 されているものであって、蛍光体層が第 1の基板の誘電体層の表面と隣り合う第 1隔 壁および第 2隔壁とに囲まれる各凹部の壁面に形成されているものであって、第 2隔 壁が第 1の基板の表面に向けて互いの間隔が狭まっていく状態の斜面を有し、高 γ 部が上記垂線で囲まれる領域を含み、第 2隔壁の斜面上に形成された蛍光体層表 面を覆う状態に形成されて ヽると ヽぅ構成を採用することができる。
[0037] 上記本発明に係る PDPでは、データ電極の各側縁辺から第 2の基板の表面に対し て第 2の垂線を下ろすときに、高 γ部力 上記垂線と第 2の垂線とによって囲まれる 領域に損する部分を有するという構成を採用することができる。
上記本発明に係る PDPでは、サスティン電極の各側縁辺力ゝら第 1の基板の表面に 対して第 3の垂線を下ろすときに、蛍光体層の表面の内、第 3の垂線によって囲まれ る領域が空間を臨んでいるという構成を採用することができる。
[0038] 上記本発明に係る PDPでは、蛍光体層の表面の内、上記垂線によって囲まれる領 域の外の領域が空間を臨んでいるという構成を採用することができる。
上記本発明に係る PDPでは、高 γ部が膜状に形成され、その膜厚が lOO (nm)以 上 3 m)以下に設定されて 、ると!/、う構成を採用することが望ま 、。
上記本発明に係る PDPでは、高 γ部が金属酸ィ匕物を含み構成されているという構 成を採用することができる。
[0039] 上記本発明に係る PDPでは、上記金属酸化物の具体例として、 MgO、 CaO、 Ba
0、 SrO、 MgNOおよび ZnOの物質群の中力 選択される少なくとも 1種を含むとい う構成を採用することが望ましい。
上記本発明に係る PDPでは、上記金属酸ィ匕物の別の具体例として、 MgOおよび S rOの少なくとも一方を含むと!ヽぅ構成を採用することが望ま ヽ。
[0040] 上記本発明に係る PDPでは、高 γ部が、カーボンナノチューブ、ナノファイバー、 フラーレンおよび A1Nの物質群の中カゝら選択される少なくとも 1種を含むという構成を 採用することができる。
上記本発明に係る PDPでは、高 γ部が、 Pt、 Au、 Pd、 Mg、 Ta、 Wおよび Niの金 属材料群の中から選択される少なくとも 1種を含むという構成を採用することができる
[0041] 上記本発明に係る PDPでは、高 γ部が、 Ptおよび Mgの少なくとも 1種を含むという 構成を採用することができる。
上記本発明に係る PDPでは、高 γ部力 蛍光体層の表面に対して、 1 (%)以上 50 (%)以下の被覆率を以つて形成されて ヽると ヽぅ構成を採用することが望まし ヽ。 上記本発明に係る PDPでは、高 γ部力 蛍光体層の表面に対して、 3 (%)以上 20 (%)以下の被覆率を以つて形成されて ヽると ヽぅ構成を採用することが望ま Uヽ。
[0042] また、本発明に係る PDPは、上述のように、 1 (nm)以上 10 (nm)以下の膜厚で、蛍 光体層の表面を被覆する状態に高 Ί部が形成された構成を採用する場合において は、パネル駆動時において、空間(放電空間)で発生した 147 (nm)の共鳴線を含む 真空紫外線が高 γ部で実質的に多く吸収されることはなぐ高い効率で蛍光体層へ と透過される。よって、本発明に係る PDPでは、蛍光体層の表面に高 γ部を形成し ているものの、その膜厚を上記数値範囲に規定することによって発光効率の低下を 招き難い。なお、このように高 γ部の膜厚を l (nm)以上 10 (nm)以下に規定する場 合には、高 γ部で蛍光体層の表面の略全域を覆うという構成を採用することができる 。ここでいう「略全域を覆う」とは、例えば、高 γ部の形成過程において、その形成ム ラなどにより膜状の高 γ部に若干のピンホールなどが生じても、本発明の範疇に含 むということを示す。
[0043] また、上記本発明に係る PDPでは、空間を臨むように高 γ部を形成して 、るので、 パネル駆動時の初期化期間において、ランプ波形電圧の印加時に蛍光体層の側が 力ソードとなる場合の放電開始電圧の低下を図ることができ、弱放電の発生を安定ィ匕 させることがでさる。
従って、本発明に係る PDPは、初期化期間における安定的な弱放電の発生を図る ことができ、高い発光効率と高い画質性能との両立を図ることが可能である。このよう な構成を採用する本発明に係る PDPでは、次のようなノリエーシヨンを採用すること ができる。
[0044] 上記本発明に係る PDPでは、高 γ部が金属酸ィ匕物を含むという構成を採用するこ とができる。具体的な金属酸ィ匕物としては、 MgOおよび SrOの少なくとも一方を含む ことが望ましい。さらに、上記本発明に係る PDPでは、金属酸ィ匕物が MgOを含み、 高 γ部が、金属酸ィ匕物を電子ビーム蒸着法を用い蒸着形成されたものであるという 構成を採用することがより望ましい。
[0045] 上記本発明に係る PDPでは、第 1の基板と第 2の基板との間に形成された空間 (放 電空間)に Xeを含む放電ガスが充填されており、放電ガスの全圧に対する Xe分圧の 比率を、 5 (%)以上 100 (%)以下にすることができる。
上記本発明に係る PDPでは、より望ましい Xe分圧比率として、 5 (%)以上 50 (%) 以下の範囲を採用することができる。
[0046] また、本発明に係る PDPの製造方法では、高 γ部およびこれを備える上記本発明 に係る PDPを容易且つ確実に製造することができる。本発明に係る PDPの製造方 法は、次のようなノリエーシヨンを採ることが可能である。
上記本発明に係る PDPの製造方法では、高 γ部形成ステップにおいて、スプレー 法、分散堆積法あるいは電子ビーム蒸着法の何れかを用いて、蛍光体層の表面に 対して斑点状または縞状に皮膜を形成することで、高 γ部を形成するという具体的方 法を採用することができる。
[0047] 上記本発明に係る PDPの製造方法では、高 γ部形成ステップにお 、て、散布法、 スプレー法、分散堆積法あるいは電着法の何れかを用いて、蛍光体層の表面に対し て粒子状の材料を付着させることで、高 γ部を形成するという具体的方法を採用する ことができる。
上記本発明に係る PDPの製造方法では、蛍光体層形成ステップでの蛍光体層の 形成に先行して、第 1の基板の表面上に複数本の第 1電極を互!、に平行に形成し、 当該第 1電極を覆うように誘電体層を積層形成し、高 Ί部形成ステップにおいては第 1電極の積層上方領域を含む範囲に高 γ部を被覆形成するという具体的方法を採 用することができる。
[0048] 上記本発明に係る PDPの製造方法では、蛍光体層形成ステップでの蛍光体層の 形成に先行して、第 1の基板の表面上に複数本の第 1電極を互!、に平行に形成し、 当該第 1電極を覆うように誘電体層を積層形成し、第 2の基板の表面上に、第 1の基 板における第 1電極と交差する方向であって、互いに平行な第 2電極および第 3電極 で対をなす表示電極対を複数対形成し、高 γ部形成ステップにおいては、第 1電極 と第 2電極とが交差する領域を含む範囲に高 γ部を形成するという手段を採用するこ とがでさる。
[0049] 上記本発明に係る PDPの製造方法では、高 γ部形成ステップにお 、て、 MgOま たは SrOを含む材料を用いて高 γ部を形成するという具体的方法を採用することが できる。
上記本発明に係る PDPの製造方法では、高 γ部形成ステップにおいて、カーボン ナノチューブ、ナノファイバー、フラーレンおよび A1Nで構成される物質群の中力ゝら選 択される少なくとも 1種の材料を用いて高 γ部を形成するという具体的方法を採用す ることがでさる。
[0050] 上記本発明に係る PDPの製造方法では、高 γ部形成ステップにお 、て、 Ptまたは Mgを含む材料を用いて高 γ部を形成するという具体的方法を採用することができる 上記本発明に係る PDPの製造方法では、高 γ部形成ステップにおいて、蛍光体 層の表面に対する高 γ部の被覆率を 3 (%)以上 20 (%)以下に規定することが望ま しい。
また、高 γ部形成ステップにおいて、 l (nm)以上 10 (nm)以下の膜厚を以つて蛍 光体層の表面を覆う状態に高 γ部を形成する上記本発明に係る PDPの製造方法で は、次のようなノリエーシヨンを採用することができる。
[0051] 上記本発明に係る PDPの製造方法では、高 γ部形成ステップにお 、て、電子ビー ム蒸着法を用いて高 Ί部を蒸着形成するという具体的方法を採用することができる。 上記本発明に係る PDPの製造方法では、高 γ部形成ステップにおいて、 MgOま たは SrOを含む材料を用いて高 γ部を形成するという具体的方法を採用することが できる。
上記本発明に係る PDPの製造方法では、第 1の基板と第 2の基板との互いの外周 部を封止する封止ステップと、放電空間内に Xeを含む放電ガスを充填するガス充填 ステップとを有し、ガス充填ステップにおいては、全圧に対する Xe分圧の比率を 5 (% )以上 50 (%)以下に調整された放電ガスを用いるとういう具体的方法を採用すること ができる。
[0052] 上記本発明に係る PDPの製造方法では、高 γ部形成ステップにお 、て、高 γ部の 形成材料を帯電させるとともに、その帯電された形成材料を、静電力により蛍光体層 の表面における上記規定された一部領域に堆積させるという具体的方法を採用する ことができる。
上記本発明に係る PDPの製造方法では、蛍光体層形成ステップにおける蛍光体 層の形成に先行して、第 1の基板の表面上に、複数本の第 1電極を互いに形成し、 当該第 1電極を覆うように誘電体層を積層形成し、高 Ί部形成ステップにおいては、 高 Ί部の形成材料を正に帯電させるとともに、第 1電極に負の電圧を印加すること〖こ より、帯電状態の高 γ部の形成材料を堆積させるという具体的方法を採用することが できる。
[0053] 上記本発明に係る PDPの製造方法では、高 γ部形成ステップにお 、て、第 1電極 への負の電圧の印加を、時間の経過と共に負側に大きくなるように行うという具体的 方法を採用することができる。
上記本発明に係る PDPの製造方法では、高 γ部形成ステップにおいて、第 1電極 への負の電圧の印加を、負側に連続的または段階的に大きくなるように行うという具 体的方法を採用することができる。 [0054] 上記本発明に係る PDPの製造方法では、高 γ部形成ステップにお 、て、上記のよ うに帯電された形成材料を、蛍光体層の表面に向けて散布するという具体的方法を 採用することができる。
上記本発明に係る PDPの製造方法では、高 γ部形成ステップにおいて、高 γ部の 形成材料を、プラズマ中で帯電させ、当該帯電された形成材料を、電子ビーム蒸着 により堆積させるという具体的方法を採用することができる。
[0055] 上記本発明に係る PDPの製造方法では、高 γ部形成ステップにお 、て、高 γ部の 形成材料に、プラズマビームを照射させて帯電させ、当該帯電された形成材料を成 膜することにより堆積させるという具体的方法を採用することができる。
上記本発明に係る PDPの製造方法では、高 γ部形成ステップにおいて、高 γ部の 形成材料として、少なくとも MgOを含む材料を用いることができる。
[0056] 上記本発明に係る PDPの製造方法では、蛍光体層形成ステップでの蛍光体層の 形成に先行して、第 1の基板の表面上に複数本のデータ電極を互!ヽに平行に形成 し、当該データ電極を覆うように誘電体層を積層形成し、誘電体層の表面上に第 2の 基板の側に向けて、隣り合うデータ電極どうしの間で並行して延び、且つ、第 1の基 板の表面に向けて互いの間隔が狭まっていく状態の斜面を有する隔壁を形成するも のであって、蛍光体層形成ステップでは、隣り合う隔壁間において、当該隔壁および 誘電体層とで構成される凹部の内壁面に対して、蛍光体層を形成し、隔壁が第 1の 基板の主表面に向けて互いの間隔が狭まって行く状態の斜面を有し、第 2の基板の 表面上に、データ電極と交差する方向であって、互いに平行なスキャン電極および サスティン電極で対をなす電極対が複数形成されており、スキャン電極の各側縁辺 力も第 1の基板の表面に対して垂線を下ろすときに、高 γ部形成ステップにおいて、 上記垂線に対して交差する角度を以つて、隔壁の斜面上における蛍光体層の表面 に対して斜め蒸着法により高 γ部の被覆形成を行うという方法を採用することができ る。
[0057] 上記本発明に係る PDPの製造方法では、第 2の基板の表面上に、データ電極と交 差する方向であって、互いに平行なスキャン電極およびサスティン電極で対をなす電 極対が複数形成されており、蛍光体層形成ステップでの蛍光体層の形成に先行して 、第 1の基板の表面上に、複数本のデータ電極を互いに平行に形成し、当該データ 電極を覆うように誘電体層を積層形成し、誘電体層の表面上に、第 2の基板の側に 向けて、隣り合うデータ電極どうしの間で並行して延びる第 1隔壁を形成し、且つ、同 じく誘電体層の表面上に、第 2の基板の側に向けて、第 1隔壁に交差する方向であ つて、第 2の基板に形成された隣り合う前記電極対どうしの間に延びる第 2隔壁 (第 1 隔壁と第 2隔壁とで、所謂、井桁状隔壁を構成する。)を形成するものであって、蛍光 体層形成ステップにおいて、誘電体層および第 1隔壁および前記第 2隔壁とで構成 される凹部の内壁面に対して蛍光体層を形成し、第 2隔壁が第 1の基板の表面に向 けて互いの間隔が狭まって行く状態の斜面を有し、スキャン電極の各側縁辺から第 1 の基板の表面に対して垂線を下ろすときに、高 γ部形成ステップにおいて、上記垂 線に対して交差する角度を以つて、第 2隔壁の斜面上における蛍光体層の表面に対 して斜め蒸着法により高 Ί部の被覆形成を行うという方法を採用することができる。
[0058] 上記本発明に係る PDPの製造方法では、高 γ部形成ステップにお 、て、上記角 度を維持した状態で、第 1の基板をその主面方向に搬送するという具体的方法を採 用することができる。
上記本発明に係る PDPの製造方法では、高 γ部形成ステップにおいて、 MgOを 含む金属酸化物材料を用い、電子ビーム蒸着法により高 γ部を膜状に形成するとい う具体的方法を採用することができる。
[0059] 上記本発明に係る PDPの製造方法では、高 γ部形成ステップにお 、て、膜厚が 1 00 (nm)以上 3 ( μ m)以下の膜状に高 γ部を形成するという具体的方法を採用する ことができる。
上記本発明に係る PDPの製造方法では、高 γ部形成ステップにおいて、蛍光体 層の表面の内、上記垂線で囲まれる領域の外の領域を放電空間を臨む状態に維持 するという具体的方法を採用することができる。
[0060] また、本発明に係る高 γ部の形成装置は、上記構成を採用することにより、上述の ような規定箇所に高 γ部を形成することができる。そして、この装置を用いることで、 上記本発明に係る PDPを容易に製造することができる。
図面の簡単な説明 [図 1]実施の形態 1に係る PDP1の構成を示す要部斜視図(一部断面図)である。
[図 2]PDP1の背面パネル 20を模式的に示す平面図および断面図である。
[図 3]PDP1の駆動に際し、各電極 121、 122、 22に印加されるパルスの波形図であ る。
[図 4]実施の形態 2に係る PDP2の構成を示す要部断面図である。
[図 5]PDP2における各電極 121、 122、 42と蛍光体皮膜 46の形成領域との位置関 係を示す模式平面図である。
[図 6]実施の形態 3に係る PDP3の構成を示す要部断面図である。
[図 7]実施の形態 4に係る PDP4の構成を示す要部断面図である。
[図 8]PDP4における粒状体 66の形成工程を示す模式装置図である。
[図 9]実施の形態 5に係る PDP5の構成を示す要部断面図である。
[図 10]蛍光体皮膜の膜厚と紫外線透過率との関係を示す特性図である。
[図 11]実施の形態 6に係る PDP6における 1画素を構成する部分を切り出して描いた 斜視図 (一部断面図)である。
[図 12] (a)は、図 11の D方向から 1放電セルを見た拡大図であり、(b)は、図 11での 前面パネル 10を取り除いて背面パネル 80を図 11の E方向力も見た平面図である。
[図 13]実施の形態 1に係る高 γ部 86の形成方法を説明するための概略図である。
[図 14]変形例 1における PDPの放電セルの一部を切り欠いた平面図である。
[図 15]変形例 1の高 γ部 1086の形成状態を示す模式図である。
[図 16]実施の形態 7に係る PDP1006における 1画素を構成する部分を切り出し、背 面パネル 1180の内部構成が分力るように前面パネル 10の一部を切り欠 、て描 ヽた 斜視図である。
[図 17] (a)は、図 16の G— G断面図であり、(b)は、 1放電セルを F方向に見た平面図 である。
[図 18]実施の形態 8に係る高 γ部 86の形成方法を説明するための概略図である。
[図 19]実施の形態 9に係る PDP7の構成を示す要部斜視図である。
[図 20]PDP7の構成の内、 1つの放電セルのみを抜き出して示す断面概念図である [図 21]PDP7の構成の内、 1つの放電セルを平面的に示す平面概念図である。
[図 22]実施の形態 10に係る PDPの製造方法の内、蛍光体皮膜 96の形成に係るェ 程の一部を示す工程概念図である。
[図 23]実施の形態 11に係る PDPの製造方法の内、蛍光体皮膜 96の形成に係るェ 程の一部を示す工程概念図である。
[図 24]実施の形態 12に係る PDP8の構成の内、 1つの放電セルのみを抜き出して示 す断面概念図である。
[図 25]実施の形態 13に係る PDP9の構成の内、 1つの放電セルのみを抜き出して示 す断面概念図である。
[図 26]従来の面放電型 AC型 PDPの構成のを示す断面概念図である。
符号の説明
1、 2、 3、 4、 5、 6、 7、 8、 9、 1006. PDP
10. U面ノ、不ノレ
11.食 U面基板
12.表示電極対
13.誘電体層
14.誘電体保護層
20、 40、 50、 60、 70、 80、 90、 1080、 1180、 1190.背面パネル
21、 41、 51、 61、 71、 81、 91、 1081、 1181、 1191.背面基板
22、 42、 52、 62、 72、 82、 92、 1082、 1182、 1192.データ電極
23、 43、 53、 63、 73、 83、 93、 1083、 1183、 1193.誘電体層
24、 44、 54、 64、 74、 84、 94、 1084、 1184、 1194.隔壁
25、 45、 55、 65、 75、 85、 95、 1085、 1185、 1195.蛍光体層
26、 46, 76, 96, 1196.蛍光体皮膜
56、 66.粒状体
86、 1086、 1186.高 γ部
121.スキャン電極
122.サスティン電極 発明を実施するための最良の形態
[0063] 以下では、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参酌しながら説 明する。なお、以下の説明で用いるプラズマディスプレイパネル(以下では「PDP」と 記載する。)の各構成などについては、本発明の一例として示すものであって、本発 明は、上述のような特徴的部分以外について、適宜変更が可能である。
(実施の形態 1)
1. PDP1の全体構成
実施の形態 1に係る PDP1の全体構成について、図 1を用いて説明する。図 1は、 P DPIの要部を抜き出して描いた要部斜視図である。
[0064] 図 1に示すように、 PDP1は、大きく分けて前面パネル 10と背面パネル 20とから構 成されている。この内、前面パネル 10は、前面基板 11の一方の主面上(図 1におい ては、 Z軸方向下向きの主面)に表示電極対 12が複数対形成され、この表示電極対 12を覆うように誘電体層 13および誘電体保護層 14が順に積層され構成されて 、る 。構成要素の内、表示電極対 12は、スキャン電極(以下では、「Scn電極」と記載する 。)121とサスティン電極 (以下では、「Sus電極」と記載する。) 122とで構成されてい る。 Sen電極 121および Sus電極 122の各々は、透明電極要素 121a、 122aにバス ライン 121b、 122bがそれぞれ積層され構成されている。
[0065] 各電極 121、 122を構成する部分の内、透明電極要素 121a、 122aは、例えば、 I TO (Indium Tin Oxide)、 SnO、 ZnOなどから構成されており、ノ スライン 121b
2
、 122bは、 Au、 Ag、 Cr、 Cu、 Ni、 Ptなどから構成されている。なお、前面パネル 10 における各電極 121、 122については、本実施の形態で示す 2層構造のものに限ら ず、 Agなどの金属力もなる単層構造のものや、 Cr—Cu—Crなどの 3層以上の構造 のちのを採用することちでさる。
[0066] また、前面基板 11は、例えば、ソーダライムガラスなどを用い形成され、誘電体層 1 3は、例えば、鉛系の低融点ガラス材料を用い形成され、誘電体保護層 14は、例え ば、 MgOを用い形成されている。なお、誘電体保護層 14の形成にあたっては、通常 、真空蒸着法などを用いることができるが、斜め蒸着法を用いることもできるし、また、 重量密度を単結晶材料の 70 (%)〜85 (%)程度の範囲内に設定しておくことなども できる。
[0067] 背面パネル 20は、背面基板 21の一方の主面上(図 1においては、 Z方向上向きの 主面)に複数条のデータ電極 (以下では、「Dat電極」と記載する。) 22がストライプ状 に形成され、 Dat電極 22を覆うように誘電体層 23が形成され構成されている。背面 パネル 20における誘電体層 23の表面には、隣り合う Dat電極 22間のそれぞれ隔壁 24が立設され、誘電体層 23と隔壁 24とで構成される凹 (溝)部分の内壁面に各色に 対応の蛍光体層 25が形成されている。蛍光体層 25は、溝毎に色分けされて構成さ れた赤色 (R)蛍光体層 25R、緑色 (G)蛍光体層 25G、青色 (B)蛍光体層 25Bから 構成されている。各々の蛍光体層 25R、 25G、 25Bは、例えば、次のような蛍光体材 料から形成されている。
[0068] 赤色(R)蛍光体;(Y、 Gd) BO: Eu
3
緑色(G)蛍光体; Zn SiO: Mn
2 4
青色(B)蛍光体; BaMg Al O : Eu
2 14 24
そして、本実施の形態に係る PDP1では、蛍光体層の表面上に斑点状の蛍光体皮 膜 26が形成されている。蛍光体皮膜 26は、蛍光体層 25の表面の一部領域を覆い 形成されており、蛍光体層 25の表面の一部と、蛍光体皮膜 26の表面とが、ともに放 電空間 30を臨む状態となっている。
[0069] なお、背面パネル 20を構成する各部の内、背面基板 21は、前面基板 11と同様に 、例えばソーダライムガラスから形成され、 Dat電極 22は、例えば、 Au、 Ag、 Cr、 Cu 、 Ni、 Ptなどカゝら構成されている。また、誘電体層 23は、基本的には誘電体層 13と 同様に、鉛系の低融点ガラスを用い形成されている力 TiOが混入されていることも
2
ある。また、背面パネル 20における隔壁 24については、図 1に示すようなストライプ状 のものだけでなぐ井桁状のものなどを採用することも可能である。
[0070] 蛍光体皮膜 26の構成については、後述する。
図 1に示すように、前面パネル 10と背面パネル 20とは、各々の表示電極対 12およ び Dat電極 22などが形成された主面どうしが向き合うように、且つ、表示電極対 12と Dat電極 22とが交差する方向に対向配置され、互いの外周部がフリットガラスなどを 用いて封止されている。そして、前面パネル 10と背面パネル 20との間に形成される 放電空間 30には、 Xe— Ne系の放電ガス(希ガス)が約 60 (kPa)の圧力を以つて充 填されている。なお、放電ガスについては、 Xe— Ne系のもの以外に、 Xe— Ne— He 系の混合ガスを用いることもできる。そして、放電ガスにおける全圧に対する Xe分圧 の比率は、パネルの発光効率を左右する大きな要因となる力 本実施の形態では、 例えば、全圧に対する Xe分圧比率が 5 (%)以上 50 (%)以下に設定されて 、る。
[0071] 2.蛍光体皮膜 26の構成
本実施の形態に係る PDP1の構成要素の内でも、最も特徴的となる蛍光体皮膜 26 の構成について、図 2を用いて説明する。図 2は、(a)が背面パネル 20における蛍光 体層 25を平面視した図であり、 (b)がその断面図である。
図 2 (a)〖こ示すように、 PDP1では、背面パネル 20における蛍光体層 25の表面に 斑点状に蛍光体皮膜 26が形成されている。蛍光体皮膜 26は、蛍光体層 25の表面 上において、点在する状態に形成されており、蛍光体層 25の表面に対する被覆率 は、 1 (%)以上 50 (%)以下の範囲内に設定されている。なお、被覆率については、 3 (%)以上 20 (%)以下の範囲内とすることがより望ま 、。
[0072] 図 2 (b)に示すように、蛍光体皮膜 26は、蛍光体層 25の表面における一部領域に 被覆形成されており、放電空間 30に対して露出している。また、蛍光体皮膜 26は、 蛍光体層 25の表面の一部領域に形成されているため、蛍光体皮膜 26が形成されて V、な 、蛍光体層 25の表面は放電空間 30に対して露出されて 、る。
蛍光体皮膜 26は、蛍光体層 25を構成する各蛍光体材料よりも高い 2次電子放出 係数 γを有する材料であって、且つ、蛍光体材料とは異なる材料カゝら構成されており 、この皮膜 26の形成部分が本実施の形態に係る PDP1での高 γ部に相当する。蛍 光体皮膜 26の構成材料としては、例えば、 MgO、 SrO、 CaO、 BaO、 MgNOや Zn Oなどの金属酸ィ匕物をあげることができる。また、蛍光体層皮膜 26の構成材料として は、金属酸化物以外に、カーボンナノチューブ(CNT)などのナノファイバー、 C60な どのフラーレン、 A1Nなど、さらには、 Pt、 Au、 Pd、 Mg、 Ta、 W、 Niなどの材料を採 用することも可能である。
[0073] 蛍光体皮膜 26の構成に用いることのできる材料として列挙した上記材料の内、特 に、金属酸ィ匕物の場合には、 MgOや SrOなどが 2次電子放出係数 γなどの観点か ら望ましぐまた、上記金属材料を用いる場合には、 Ptや Mgが望ましい。
なお、蛍光体皮膜 26の形成においては、上記材料以外の材料や不純物材料が含 まれていてもよい。即ち、蛍光体皮膜 26の形成に用いる材料には、総合的に蛍光体 材料よりも大き 、2次電子放出係数 γとなって 、ればよ 、。
[0074] 3.蛍光体皮膜 26の形成
図 2に示す蛍光体皮膜 26は、例えば、 MgO材料を含む混合有機溶剤によるスプ レー法や分散堆積法、電子ビーム蒸着法などを用いることで形成可能である。例え ば、スプレー法を用いる場合には、次のようにステップを経て蛍光体皮膜 26の形成 がなされる。
(1)エタノールなどに MgO材料を混合し、混合有機溶剤を作製する。
(2)蛍光体層 25の表面に沿ってマスクを装着し、このマスクに形成された孔を通して 、混合有機溶剤を蛍光体層 25の表面の一部領域上に塗布する。
(3)蛍光体層 25の表面の一部領域上に塗布された混合有機溶剤を乾燥させ、有機 溶剤を揮発させる。
[0075] 以上のようにして、図 2に示すような蛍光体皮膜 26が形成される。
また、分散堆積法を用いる場合には、例えば、有機溶剤に MgO材料を分散させて おき、この MgO材料が分散された有機溶剤を用い、この溶剤表面に浮力せた MgO 材料を静かに背面パネルの蛍光体層の所定の部分に堆積させる。この後、これを乾 燥させ有機溶剤を揮発させることで蛍光体表面の一部領域上への蛍光体皮膜 26の 被覆形成がなされる。なお、 MgO材料の堆積に先行して蛍光体層表面における蛍 光体皮膜 26を形成したくない部分には、レジストマスクを形成しておけば、図 2に示 すような斑点状の蛍光体皮膜 26の形成が可能である。
[0076] 4. PDP1の駆動方法
上記構成の PDP1では、図示を省略する力 各電極 121、 122、 22に対し、各ドラ ィバを含む制御駆動部が接続された構成となって!/ヽる。このように駆動制御部が接 続された PDP1の駆動方法について、図 3を用いて説明する。図 3は、アドレス '表示 分離駆動方式を以つて表示駆動される。この駆動方法では、例えば図 3に示すように 、 256階調を表現するために 1フィールドを 8つのサブフィールド SF1〜SF8に分割 し、それぞれのサブフィールド SF1〜SF8に初期化期間 T、書き込み期間 Τ、維持
1 2 期間 Τの 3期間を設定する。
3
[0077] 先ず、 PDP1の駆動では、初期化期間 Τにおいて、 PDP1の全放電セルに対して
1
初期化放電を発生させ、これによつて当該サブフレームよりも前のサブフレームにお ける放電の有無による影響の除去や放電特性のバラツキを吸収するための初期化が 実施される。初期化期間 Τにおける初期化放電は、図 3に示すように、電圧一時間
1
推移が緩やかに傾斜して上下するランプ波形を、 Sen電極 121と Dat電極 22との間 に印加し、小さな放電電流を定常的に流す。これにより、 PDP1に形成された全放電 セルで、上り傾斜のランプ波形部分と下りランプ波形部分とで各 1回づっ弱放電であ る初期化放電が発生する。
[0078] 次に、書き込み期間 Tにおいて、サブフィールドデータに基づいて Sen電極 121 (
2
1)〜121 (k)を 1ライン毎に順にスキャンして行き、当該サブフィールドで維持放電さ せたい放電セルに対して、 Sen電極 121と Dat電極 22との間で書き込み放電(微小 な放電)を発生させる。このように Sen電極 121と Dat電極 22との間で書き込み放電 を生じた放電セルでは、前面パネル 10の誘電体保護層 14の表面に壁電荷が蓄えら れる。
[0079] その後、維持期間 Tにおいて、 Sus電極 122および Sen電極 121〖こ対し、所定の
3
周期(例えば、 6 sec. )、所定の電圧 (例えば、 180V)で矩形波の維持パルス Psu s、 Pscnを印加する。 Sus電極 122に印加する維持パルス Psusと、 Sen電極 121に 印加する維持パルス Pscnとは、互いに同一の周期を有し、且つその位相が半周期 ずれた状態となっており、 PDP1における全放電セルに対して同時に印加される。
[0080] 図 3に示すようなパルスの印加によって、 PDP1では、書き込みがなされた放電セ ルにおいて、維持期間 Tでの交流電圧の印加を以つて電圧極性が変化するたびに
3
パルス放電が発生する。このような維持放電の発生により、表示発光は、放電空間 3 0の励起 Xe原子からは 147 (nm)の共鳴線が、励起 Xe分子からは 173 (nm)主体の 分子線が放射され、次いで発生の紫外線を背面パネル 20における蛍光体層 25で 可視光変換して画像表示がなされることになる。
[0081] 5. PDP1の優位性 本実施の形態に係る PDP1では、図 2 (a)に示すように、蛍光体層 25の表面におけ る一部領域上に、蛍光体材料よりも 2次電子放出係数 γが高い特性を有する MgO で高 、2次電子放出係数 γを有する部分 (高 y部)としての蛍光体皮膜 26を被覆形 成し、蛍光体層 25の表面の残りの領域と蛍光体皮膜 26とがともに放電空間 30を臨 む構成となっている。このような構成の PDP1では、蛍光体層 25の表面の一部が放 電空間 30を臨むことから、維持期間 Tにおいてパネル駆動時において放電空間 30
3
内で発生した紫外線が大きく減衰することなく蛍光体層 25に入射し、特許文献 1〖こ 係る PDPのように蛍光体層の表面全体を MgO膜で被覆する場合に比べて、パネル の発光効率が低下してしまうのを抑制することができる。そして、本実施の形態では、 蛍光体層 25の全表面に対する蛍光体皮膜 26の被覆率を 1 (%)以上 50 (%)以下、 より望ましくは、 3 (%)以上 20 (%)以下に規定している。この数値範囲の規定につい ては、後述する。
[0082] また、本実施の形態に係る PDP1では、蛍光体皮膜 26が放電空間 30を臨む状態 で形成されているので、パネル駆動の初期化期間 Tにおいて、ランプ波形印加時(
1
特に、上りランプ波形印加時)に蛍光体層 25の側が力ソードとなる場合の放電開始 電圧を低下させることができ、強い放電の発生を抑制し、安定した初期化放電 (弱放 電)の発生を生じさせることができる。これは、仮に蛍光体層 25の表面に全く蛍光体 皮膜 26が形成されていない場合には、 Xe分圧を高く設定すると見かけ上の電子放 出が小さくなり放電が安定しないのに対し、 PDP1のように蛍光体皮膜 26を有する場 合には、ォージェ中和した際の蛍光体皮膜 26が受け取るエネルギが大きぐこのた めに弱放電を安定的に生じさせることができるためである。
[0083] また、本実施の形態に係る PDP1では、上述のように安定的な初期化放電を発生し 得るので、放電ガスでの全圧に対する Xe分圧の比率を 5 (%)以上 50 (%)以下の範 囲まで上げても、画質の低下を招くことがない。
従って、本実施の形態 1に係る PDP1では、初期化期間 Tにおける安定的な弱放
1
電の発生を図ることができ、高 、発光効率と高 、画質性能との両立を図ることが可能 である。
[0084] 6.蛍光体皮膜 26の被覆率 本実施の形態に係る PDP1では、蛍光体層 25の全表面に対する蛍光体皮膜 26の 被覆率を 1 (%)以上 50 (%)以下、望ましくは 3 (%)以上 20 (%)以下と規定したが、 これは、次のような理由によるものである。
被覆率を 1 (%)未満にした場合には、放電空間 30を臨む表面が初期化期間 T1に おける初期化放電の発生を安定化させる機能を実質的に発揮し得ないことから、蛍 光体皮膜 26の被覆率は、最低でも 1 (%)以上、望ましくは 3 (%)以上とする必要が ある。また、 MgOなど力もなる蛍光体皮膜 26は、放電空間 30に面する表面積に応じ て放電空間 30内で発生した真空紫外線を吸収してしまい、被覆率を 50 (%)以上に した場合には、蛍光体層 25にまで届く紫外線量が少なくなり過ぎ、パネルの発光効 率を実用となるレベル以下まで低下させてしまう。なお、 PDP1の他の構成要素など を考慮した際の望ましい被覆率の上限値は、同様の理由力も 20 (%)以下である。
[0085] 7.確認実験
本実施の形態に係る PDP1が有する優位性については、上述の通りであるが、以 下では、その確認のために実施した実験につ!、て説明する。
実験では、上述の製造方法により本実施の形態に係る構成を有する実施例に係る PDPを作製した。即ち、背面パネル 20における蛍光体層 25の表面に被覆率 5 (%) で MgO力もなる膜厚 0. 5 m)〜20 ( μ m)の蛍光体皮膜 26を形成した。形成にあ たっては、 MgOおよびエタノールなどを含む混合分散有機溶剤によるスプレー法を 用いた。そして、放電空間 30には、全圧に対する Xe分圧比率が約 30 (%)の高 Xe 放電ガスを充填した。
[0086] また、本確認実験では、比較例として、上記特許文献 1に係る構成を採用した PDP を作製した。即ち、蛍光体層の表面全体を膜厚 0. 5 ( m)〜20 ( μ m)の MgO膜で 被覆した構成の PDPを比較例として作製した。
優位性の確認は、上記実施例および比較例の各 PDPを表示駆動し、その発光効 率および初期化期間 Tにおける弱放電発生の安定性などを測定し、その結果を蛍
1
光体皮膜を有さない従来のパネルと比較した。その結果によると、本形態に係る構成 を有する PDPでは、従来の PDPに比べて、初期化期間 Tにおける弱放電が安定ィ匕
1
し、誤書き込みの低減による画質性能の向上がみられた。また、放電ガス中の全圧 に対する Xe分圧比率を 30 (%)まで上昇させて 、ることから、発光効率が約 3 (lmZ W)まで向上した。
[0087] 一方、蛍光体層の表面全体を MgO膜で被覆した比較例 PDPでは、発光効率は約 0. l (lmZW)であった。これは、蛍光体層の表面上に全く膜形成をしていない従来 の PDPに比べて、約 1Z10という低いものであった。これは、比較例 PDPにおいて は蛍光体層の表面上に被覆形成された MgO膜が放電空間で発生した共鳴線を含 む真空紫外線を吸収してしまうためであると考えられる。
[0088] 以上の結果より、実施例のように蛍光体層 25の表面の一部領域上に 2次電子放出 係数 γが蛍光体材料よりも大き!ヽ材料からなる高 γ部 (蛍光体皮膜 26)を形成し、蛍 光体層 25と蛍光体皮膜 26とがともに放電空間 30を望む構成を採用することにより、 発光効率の低下の抑制を図るとともに、初期化期間 Τにおける蛍光体層 25側がカソ
1
ードとなるときの放電開始電圧の低減を図ることができる。よって、実施例に係る PDP では、初期化期間 Τにおける弱放電の安定的な発生を確保し、誤書き込みによる画
1
質の低下を抑制することが可能となる。また、実施例に係る PDPでは、放電ガス中に おける Xe分圧を 5 (%)以上に設定する場合においても、画質の低下を招き難いので 、発光効率の向上と画質の向上とを両立できる。
[0089] (実施の形態 2)
次に、実施の形態 2に係る PDP2の構成について、図 4および図 5を用いて説明す る。なお、前面パネル 10の構成、および背面パネル 40の蛍光体皮膜 46の形成形態 を除く部分については、上記実施の形態 1と同様であるので、説明を省略する。 図 4 (a)に示すように、 PDP2〖こおける蛍光体皮膜 46は、蛍光体層 45の表面の一 部領域上に形成されている点では、上記実施の形態 1と同様である力 その形成形 態は、 Dat電極 42の上に相当する領域 W に設定されている。また、図 4 (a)の A—
DAT
A断面である図 4 (b)に示すように、蛍光体皮膜 46は、前面パネル 10に形成された 表示電極対 12の内の Sen電極 121の下に相当する領域 W に設定されている。
SCN
[0090] 図 5は、 PDP2を構成する各要素の内の電極 121、 122、 42と、隔壁 44と、蛍光体 皮膜 46とを抜き出して模式的に描いたものである。図 5に示すように、蛍光体皮膜 46 は、各放電セルの蛍光体層 45の表面上における Sen電極 121と Dat電極 42とが交 差する領域に形成されている。ここで、 PDP2では、蛍光体層 45の表面に対する蛍 光体皮膜 46の被覆率は、上記実施の形態 1と同様に、 1 (%)以上 50 (%)以下、望 ましくは 3 (%)以上 20 (%)以下に設定されている。この理由に付いては、上記同様 である。
[0091] 蛍光体皮膜 46の構成材料には、上記実施の形態 1と同様に、蛍光体層 46を構成 する蛍光体材料よりも 2次電子放出係数 γが大きい材料を用いることができ、例えば 、上記実施の形態 1に係る蛍光体皮膜 26の形成に用いることができるのと同様の材 料を用いることができる。
本実施の形態では、初期化期間 Τにおいて弱放電を生じさせようとする Sen電極 1
1
21と Dat電極 42との交差部分に蛍光体皮膜 46を形成することで、初期化期間 Tに
1
Sen電極 121と Sus電極 42との間にランプ波形パルスが印加された場合にも、弱放 電 (初期化放電)が安定的に発生する。特に、放電ガス中における Xe分圧を 5 (%) 以上に上昇させた場合の弱放電発生の安定性は、従来の PDPに比べて優れて ヽる
[0092] 従って、本実施の形態に係る PDP2では、初期化期間 Tにおける安定的な弱放電
1
の発生を図ることができ、高 、発光効率と高 、画質性能との両立を図ることが可能で ある。
なお、本実施の形態に係る PDP2における蛍光体皮膜 46も、上記実施の形態 1と 同様の方法を以つて形成することが可能である。
また、本実施の形態では、蛍光体皮膜 46を蛍光体層 45の表面上における Sen電 極 121と Dat電極 42との交差部分に形成することとした力 Sen電極 121に関係なく Dat電極 42の上方部分全体に形成することとしてもよい。
[0093] (実施の形態 3)
実施の形態 3に係る PDP3について、図 6を用いて説明する。なお、 PDP3の構成 の内、前面パネル 10および背面パネル 50における高 γ部を除く部分についての構 成は、上記実施の形態 1、 2と同様であるので説明を省略する。
1. PDP3の構成
図 6に示すように、本実施の形態に係る PDP3では、蛍光体層 55の表面上におい て、粒状体 56が付着配置されている。この粒状体 56は、蛍光体層 55を構成する蛍 光体材料よりも 2次電子放出係数 γが大きい材料力もなるものであって、例えば、上 記実施の形態 1の蛍光体皮膜 26を構成する材料などを用いることができる。本実施 の形態に係る PDP3では、蛍光体層 56の表面における粒状体 56が付着配置された 部分が、高 Ύ部相当する。に一例として、材料に MgO、 SrOなどの金属酸ィ匕物を用 V、る場合には、粒径が 0. 05 m)以上 1 ( m)以下の金属酸化物粒子を、圧縮窒 素ガスなどを用いて散布することで粒状体 56の付着配置がなされ、蛍光体層 55の 表面上に高 γ部の形成がなされる。
[0094] 本実施の形態においても、蛍光体層 55の表面に対する粒状体 56の被覆率は、 1 ( %)以上 50 (%)以下、望ましくは 3 (%)以上 20 (%)以下に設定される。
このように蛍光体層 55の表面上に上記数値範囲内の被覆率を以つて粒状体 56を 付着形成した PDP3では、放電空間 30に対して 2次電子放出係数 γが高い粒状体 56と蛍光体層 55とがともに露出されることになる。よって、本実施の形態に係る PDP 3では、パネル駆動における初期化期間 Τにおける安定的な弱放電の発生を図るこ
1
とができ、高 、発光効率と高 、画質性能との両立を図ることが可能である。
[0095] なお、蛍光体層 55の表面に対する粒状体 56の付着形成の方法には、上記散布法 以外にも、スプレー法、分散堆積法および電着法などを用いることができる。
2.粒状体 56の粒子径
高 0部を構成する粒状体 56については、上述のように各粒子径が 0. 05 ( 111)以 上 1 ( m)以下のものが散布形成されているので、複数の粒子が凝集することで 2次 粒子径が 2 ( μ m)以上 20 ( μ m)以下となり、高 γ部は、 0. 05 ( m)以上 20 ( μ m) 以下、あるいはそれ以上の範囲の粒状体 56により構成されることになる。ここで、 0. 05 m)よりも小さな粒状体については、作製すること自体が困難であって、また、 散布した際に凝集し難くなることから、実際に用いることはできない、。他方、 20 ( m )よりも大きな径の粒状体については、放電空間 30内で発生する共鳴線や分子線を 吸収し易くなり、パネルの発光効率を低下させるため、実際に用いることはできない。
[0096] 3.確認実験
以下では、本実施の形態に係る PDP3の上記優位性を確認するために実施した実 験について説明する。
本実験用の PDPとしては、背面パネルにおける蛍光体層 55の表面上に、粒径が 0 . 1 ( m)以上 0. 6 ( m)以下の MgO粒子を散布法を用いて散布した。そして、こ の散布により形成された高 γ部 (粒状体 56の形成部分)の蛍光体層 55の表面に対 する被覆率は、約 10 (%)に規定した。なお、上記方法を以つて高 γ部を構成した際 における粒状体 56の凝集粒子径は、 0. 2 ( m)以上 5 ( μ m)以下であった。また、 本実験に用 、た PDPでは、放電空間 30に充填の放電ガス中における全圧に対する Xe分圧比率を約 15 (%)とした。
[0097] 実験では、以上のように構成された PDPを表示駆動し、その発光効率および初期 化期間 Tにおける弱放電発生の安定性などを測定した。本実験に用いた PDPでは
1
、初期化期間 Tにおける蛍光体層 55側が力ソードとなる際の放電開始電圧が低下し
1
、弱放電の安定ィ匕が図られ、誤書き込みの低減により画質が向上した。また、全圧に 対する Xe分圧比率を 15 (%)まで高めたことで、発光効率が約 2 (lmZW)となり、従 来の PDPよりも向上した。
[0098] 以上の結果より、本実験に係る PDPでは、蛍光体層 55の表面上に粒状体 56を付 着配置することで高 γ部を形成し、これによつて発光効率を高く維持しながら、初期 化期間 Τにおける弱放電の安定ィ匕を図ることができたことがわかる。そして、粒状体 5
1
6の付着配置にあたっては、散布粒子単体の 1次粒子径が 0. 05 ( ^ m)以上 1 ( μ m )以下で、凝集粒子の場合の 2次粒子径が 2 ( μ m)以上 20 ( μ m)の粒子の採用が 適する。
[0099] また、このように高 γ部を形成することによって、放電ガス中の全圧に対する Xe分 圧比率を 5 (%)以上に高く設定する場合にも、初期化期間 Tにおける弱放電の安定
1
化を図ることが可能となり、発光効率を高めることも可能となる。
(実施の形態 4)
次に、実施の形態 4に係る PDP4について、図 7および図 8を用いて説明する。なお 、前面パネル 10の構成、および背面パネル 60の粒状体 66の形成形態を除く部分に ついては、上記実施の形態 1〜3と同様であるので、説明を省略する。
[0100] 1. PDP4の構成 図 7 (a)に示すように、 PDP4における粒状体 66は、蛍光体層 65の表面上における Dat電極 62の上に相当する領域 W に付着配置されており、また、図 7 (b)に示す
DAT
ように、粒状体 66は、前面パネル 10に形成された表示電極対 12の内の Sen電極 12 1の下に相当する領域 W に設定されている。即ち、上記実施の形態 2と同様の位
SCN
置に粒状体 66の形成がなされており、これによつて、高 γ部が形成されている。
[0101] ここで、 PDP4〖こついても、蛍光体層 65の表面に対する蛍光体皮膜 46の被覆率は 、上記実施の形態 1と同様に、 1 (%)以上 50 (%)以下、望ましくは 3 (%)以上 20 (% )以下に設定されている。この理由に付いては、上記同様である。
蛍光体皮膜 66の構成材料には、上記実施の形態 1と同様に、蛍光体層 66を構成 する蛍光体材料よりも 2次電子放出係数 γが大きい材料を用いることができ、例えば 、上記蛍光体皮膜 26、 46、 56の形成に用いることができるのと同様の材料を用いる ことができる。
[0102] 本実施の形態では、初期化期間 Τにおいて弱放電を生じさせようとする Sen電極 1
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21と Dat電極 62との交差部分に粒状体 66を付着配置し、高 γ部を形成することで、 初期化期間 Τに Sen電極 121と Dat電極 62との間にランプ波形の電圧パルスが印
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加された場合にも、弱放電 (初期化放電)が安定的に発生する。特に、放電ガス中に おける Xe分圧を 5 (%)以上に上昇させた場合の弱放電発生の安定性は、従来の P DPに比べて優れて!/、る。
[0103] 従って、本実施の形態に係る PDP4では、初期化期間 Tにおける安定的な弱放電
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の発生を図ることができ、高 、発光効率と高 、画質性能との両立を図ることが可能で ある。
2.粒状体 66の付着配置方法
本実施の形態に係る PDP4における粒状体 66の付着配置方法について、図 8を用 いて説明する。図 8は、粒状体 66の付着配置工程を示す模式断面図である。なお、 図 8では、図示の便宜上、背面パネルにおける隔壁 64の形成個数を 4条としている 力 実際には、より多い隔壁 64の形成がなされた背面パネルを用いる。
[0104] 図 8に示すように、散布容器 501内の底部分に背面基板 61を載置する。このとき、 背面基板 61は、散布容器 501内で略水平となるようにする。載置される背面基板 61 上には、複数の Dat電極 62が形成され、その上を覆うように下地誘電体層 63、さらに その上に隔壁 64および蛍光体層 65が形成されている。
次に、散布容器 501の底部分に載置した背面基板 61の上に所望のパターン形状 に合わせて設けられた透孔 504aを有するメタルマスク 504を配置する。図 8は模式 図のため、メタルマスク 504の固定具などの図示を省略している力 実際のメタルマス ク 504は、透孔 504aの位置が背面基板 61および散布容器 501に対してずれないよ うに固定具などを用いて固定されている。
[0105] 散布容器 501の上方部分には、粒子挿入部 502が設けられており、この粒子挿入 部 502の内方に、例えば、 MgOなどの粒子 660を所定量入れる。そして、粒子挿入 部 502に対して窒素ガスや空気などの圧縮ガスを供給し、粒子 660をノズル 503から 背面基板 61の上に設けられた蛍光体層 65の表面に向けて勢いよく噴出させる。この ように粒子 660を噴出させた後、圧縮ガスの供給を停止し、粒子 660を一定時間に わたって自然落下させる。このようにして、蛍光体層 65の表面上への粒子の散布が なされる。
[0106] 以上のように蛍光体層 65の表面上に散布された粒子 660を乾燥させることで粒状 体 66の付着配置がなされ、高 γ部の形成が完了する。
ここで、蛍光体層 65の表面に対する粒状体 66による被覆率は、上述のように 1 (% )以上 50 (%)以下、望ましくは 3 (%)以上 20 (%)以下と設定し、また、図 7に示すよ うな位置に高 γ部を配置するが、これらの設定は、メタルマスク 504における透孔 50 4aの設定、および背面基板 61に対するメタルマスク 504の相対位置の設定などを以 つて実施することが可能となる。
[0107] なお、上記散布法による粒状体 66の付着配置において、散布容器 501の形状や サイズ、散布条件などについては、その形成しょうとする形状、サイズ、用いる粒子 6 60の材質などによって適宜設定されるものである。また、散布時においては、帯電な どの手法を用いて均一な散布を実施したり、粒子どうしの凝集を抑制するために乾式 •湿式方法などの種々の方法を採用することも勿論可能である。これらは、液晶パネ ルを製造する際に用いられるスぺーサ散布方法を用いることで容易に実施すること ができるものであるため、ここでの説明を省略する。 [0108] また、粒状体 66の付着配置の方法としては、上記散布法の他に、スプレー法、分 散堆積法および電着法などを用いることも可能である。例えば、スプレー法を用いる 場合には、蛍光体層 65の表面上に所定パターンのレジストマスクなどを形成してお き、これに対して粒子 660およびエタノールを含む混合有機溶剤をスプレー散布して 、その後これを乾燥させる。そして、レジストマスクを除去することにより、図 7に示すよ うな所定のパターンでの粒状体 66の付着配置が可能となる。
[0109] また、分散堆積法につ!、ては、蛍光体層 65の表面上に所定のパターンを有するレ ジストマスクを形成した背面基板 61を、混合有機溶剤の表面に浮!、た粒子 660を静 かに堆積させ、これを乾燥させた後にレジストマスクを除去することで実施可能である さらに、電着法では、粒子 660を含む電解溶液中で背面基板 61上に形成された D at電極 62を用いて背面基板 61の側に電圧を印加する。これにより、帯電した粒子 6 60は、蛍光体層 65の表面上における Dat電極 62上の位置に引き寄せられ固着する 。このような方法によっても、粒状体 66の付着配置を実施することが可能である。
[0110] (実施の形態 5)
次に、実施の形態 5に係る PDP5の構成について、図 9を用いて説明する。
1. PDP5の構成
図 9 (a)、 (b)に示すように、本実施の形態に係る PDP5では、背面パネル 70にお ける蛍光体層 75の表面の略全域を覆う状態に蛍光体皮膜 76が形成されている。な お、この蛍光体皮膜 76の形成形態以外の構成部分については、上記実施の形態 1 〜4に係る各 PDP1、 2、 3、 4と同様である。また、上記において、「略全域を覆う状態 」とは、例えば、製造過程で生じるピンホールや形成ムラなどを許容するものである旨 を示す。
[0111] 本実施の形態に係る PDP5では、上記実施の形態 1〜4に係る各 PDP1、 2、 3、 4 と相違し、蛍光体層 75の表面全体を覆うように蛍光体皮膜 76が形成されているので あるが、上記特許文献 1に係る MgO膜との違いはその膜厚 tを規定しているところに ある。即ち、特許文献 1に係る PDPでは、膜厚の規定をすることなく蛍光体層の表面 を覆うように MgO膜を形成している。このため、特許文献 1に係る PDPでは、上記実 施の形態 1の実験の考察のように、発光効率が実際に適用できない程度に低いもの となる。
[0112] これに対して、本実施の形態に係る PDP5では、図 9 (b)拡大部分に示すように、膜 厚 tを 1 (nm)以上 10 (nm)以下に規定した上で、蛍光体層 75の表面全体を覆い蛍 光体皮膜 76を形成している。このように極薄い蛍光体皮膜 76では、放電空間 30で 発生した共鳴線や分子線が膜でほとんど吸収されることなく蛍光体層 75へと透過さ れる。そのため、 PDP5では、パネルの発光効率が大きく低下することはない。
[0113] PDP5における蛍光体皮膜 76は、その膜厚 tが上気数値範囲と極薄いものの、ノ ネル駆動時の初期化期間 Tにおいて、ランプ波形のパルス印加の際の蛍光体層 75
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の側が力ソードとなるときの放電開始電圧は上記実施の形態 1〜4と同様に低減され 、弱放電の安定的な発生を図ることができる。このような優位性は、発光効率向上の ために放電ガス中における Xe分圧を 5 (%)以上に高く設定する場合にも変わること はない。
[0114] なお、本実施の形態においても蛍光体皮膜 76の形成には、上記実施の形態 1〜4 と同様に、少なくとも蛍光体層 75を構成する蛍光体材料よりも 2次電子放出係数 γ が高い材料を用いることが必要である。例えば、上記列挙の材料などを用いることが できる。
2.蛍光体皮膜 76の形成方法
蛍光体皮膜 76の形成には、電子ビーム蒸着法やスパッタリング法などを採用する ことができるが、その膜厚を極薄い範囲内に規定することから、電子ビーム蒸着法を 用いることが特に望ましい。
[0115] 電子ビーム蒸着法を用いて蛍光体皮膜 76を形成するのには、以下のような手順を 踏むことで達成される。
電子ビーム蒸着装置内に MgOなどの皮膜材料を入れ、これに電子ビームを照射 する。電子ビームの照射を受けた皮膜材料は、背面基板 71上に形成された蛍光体 層 75の表面上に蒸着される。このようにして蛍光体皮膜 76の形成がなされる。この 形成方法を用いることで、蛍光体皮膜 76形成時における蛍光体層 75表面へのダメ ージはほとんどない。このため、 PDP5では、蛍光体皮膜 76の形成による輝度の低 下を生じることはない。
[0116] 3.蛍光体皮膜 76の膜厚規定
本実施の形態に係る PDP5では、蛍光体皮膜 76の膜厚 tを 1 (nm)以上 10 (nm) 以下に規定したが、これは、次のような理由に基づくものである。
蛍光体皮膜 76の膜厚 tを 1 (nm)未満とした場合には、蛍光体皮膜形成による初期 化期間 Tにおける安定的な弱放電の維持を図ることは困難となる。即ち、膜厚が l (n
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m)未満の蛍光体皮膜では、初期化期間 Tの蛍光体層 75の側が力ソードとなる際の
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放電開始電圧を低減することはできず、弱放電が不安定となり、強い放電を生じるこ とちある。
[0117] 一方、図 10に示すように、蛍光体皮膜 76の膜厚 tを 10 (nm)よりも厚くした場合に は、紫外線透過率が約 83 (%)よりも小さくなつてしまい、蛍光体皮膜で吸収される共 鳴線や分子線の量が大きくなる。このため、例えば、放電ガス中の Xe分圧を現状の 5 (%)から 10 (%)程度まで上げることで得られる輝度向上が約 120 (%)程度であるこ とから、膜厚 tを 10 (nm)よりも厚く設定することで紫外線透過率が 83 (%)以下まで 低下してしまうと、発光効率の向上を実質的に得られなくなってしまう。従って、膜厚 力 SlO (nm)よりも厚い蛍光体皮膜を有する場合には、蛍光体皮膜を形成することによ るデメリットの方が、弱放電の安定ィ匕というメリットを相殺してしまうことになり、実際に 適用することができなくなってしまう。
[0118] なお、上記図 10は、 BaMg Al O : Eu (BAM)蛍光体材料からなる蛍光体層をべ
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ースとするときの蛍光体皮膜の膜厚と紫外線透過率との関係を表すものであるが、他 の蛍光体材料力 なる蛍光体層をベースとするときにおいても、同様の結果が得られ る。
また、本実施の形態に係る PDP5では、膜厚 tを上記数値範囲内に規定した上で、 蛍光体層 75の表面全体を覆うように蛍光体皮膜 76を形成することとしている力 ここ での膜厚 tの規定は必ずしも全域で均一な厚みとする必要はない。また、部分的に僅 カゝの領域で膜厚 tが 10 (nm)を超えるような箇所を有する場合にあっても、実効的に 上記数値範囲内にその膜厚 tが 1 (nm)〜 10 (nm)の範囲に収まって 、れば同様の 効果を得ることが可能である。特に、実際の蛍光体層 75の表面は、凹凸を有するも のであるため、粒子と粒子との間の部分などで局所的に膜厚 tが 10 (nm)を超えるよ うなところがあっても、本実施の形態に係る PDP5が奏する効果に大きな影響を及ぼ すものではない。
[0119] (実施の形態 1〜5に関するその他の事項)
上記実施の形態 1〜5については、本発明の構成およびそれより得られる効果につ いて、分力りやすく説明するために一例として用いたものであって、本発明は、これに 限定を受けるものではない。例えば、実施の形態 1〜5では、 Sen電極 121、 Sus電 極 122、 Dat電極 22、 42、 52、 62、 72の 3電極を用!ヽてノ ノレの表示馬区動を行う構 成の PDPを一伊とした力 背面ノ ネノレ 20、 40、 50、 60、 70に第 4の電極、第 5の電 極を設けておき、初期化期間 T〜維持期間 Tに適宜これらの電極に電圧を印加す
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ることとしてちよい。
[0120] また、実施の形態 1〜5に係る各 PDP1、 2、 3、 4、 5では、背面パネル 20、 40、 50 、 60、 70における隔壁 24、 44、 54、 64、 74を Dat電極 22、 42、 52、 62、 72と平行 なストライプ状のものとしたが、井桁状やミアンダ状のものを採用することも可能である また、上記図 3の印加パルスの波形図についても、種々の変形例を適用することが できる。例えば、 1フィールドを 8つのサブフィールド SF1〜SF8に分割するのではな く、 9以上のサブフィールドに分割、あるいは逆に 7以下のサブフィールドに分割する ような駆動方法を採用することも可能である。
[0121] また、実施の形態 1では、蛍光体層 25の表面上における蛍光体皮膜 26の形成形 態について、図 1および図 2のように略規則正しく整列した状態としたが、本発明はこ れに限定されるものではなぐ不規則に形成されたものとすることもできる。また、図 2 のような斑点状ではなぐ縞状などとすることも可能である。
さらに、上記実施の形態における PDPの各構成材料、あるいは形成方法などにつ いても適宜変更が可能である。蛍光体皮膜 26、 46、 76の形成方法や粒状体 56、 6 6の付着配置の方法などにっ 、ても、その形成形態および用いる材料などに適用し て変更することが可能である。
[0122] (実施の形態 6) 次に、実施の形態 6に係る PDP6について説明する。
1. PDP6の全体構成
図 11は、本実施の形態に係る PDP6の 1画素を構成する部分を切り出して描!ヽた 要部斜視図(一部断面図)である。図 12 (a)は、図 11の D方向から 1放電セルを見た 拡大図であり、図 12 (b)は、図 11での前面パネル 10を仮想的に取り除いて背面パ ネルを図 11の E方向力も見た平面図である。なお、本実施の形態に係る PDP6の構 成は、背面パネル 80を除き、上記実施の形態 1〜5と同一であるので、同一部分に ついての繰り返しの説明を省略する。
[0123] PDP6における背面パネル 80は、背面基板 81と、当該背面基板 81の表面に形成 された Dat電極 82と、当該 Dat電極 82が形成された背面基板 81の表面を覆うように 形成された誘電体層 83とを備える。この場合における「表面」とは、上記前面パネル 10の場合と同様に、放電空間 30側に位置する表面を示し、さらに換言すると、放電 空間 30を臨む表面をいう。具体的には、背面基板 81における Z軸方向上側の表面 となる。
[0124] Dat電極 82は、画像データを書き込むためのものであり、放電セルのほぼ中央の 位置であって上記表示電極対 12の延伸方向に直交する方向(図 11では Y軸方向) へとストライプ状に延伸している。なお、背景技術の欄でも説明したが、表示電極対 1 2と Dat電極 82とが立体交差する各箇所力 放電単位である放電セルである。
背面パネル 80における誘電体層 83上であって、隣接する放電空間 30の間には、 隔壁 84力 図 11、 12に示すように、 Dat電極 82の延伸方向に沿ってストライプ状に 形成されている。
[0125] 隣り合う隔壁 84と誘電体層 83とで構成される各凹部の内壁面には、凹部毎に発光 色の異なる蛍光体層 85R、 85G、 85Bが形成されている。さらに、これら蛍光体層 85 R、 85G、 85Bの表面の一部領域には、高 γ部 86が形成されている。本実施の形態 に係る高 γ部 86についても、上記実施の形態 1〜5と同様に、 2次電子放出係数 γ が蛍光体層 85R、 85G、 85Bよりも大きく、且つ、蛍光体層 85R、 85G、 85Bの構成 材料とは異なる材料によって構成されている。即ち、本実施の形態に係る PDP6にお いても、蛍光体層 85R、 85G、 85Bの各表面に対し、偏在した状態で高 γ部 86が形 成されている。
[0126] 高 γ部 86は、上記実施の形態 4などと同様に、蛍光体層 85R、 85G、 85Bの表面 に偏在して形成されている。具体的に高 γ部 86は、蛍光体層 85R、 85G、 85Bの表 面において、 Dat電極 82のォモテ側に相当する部分で偏在している。なお、本実施 の形態では、確認的に後述するが、高 γ部 86は、上記実施の形態 1〜5などと同様 に、 MgO粒子により構成されている。このため、図 12 (a)では、便宜上、高 γ部 86を 粒状で表している。
[0127] なお、 PDP6の表示駆動については、上記実施の形態 1に係る PDP1と同じである ので、繰り返しての説明を省略する。
2.実施例
上記本実施の形態に係る PDP6の構成についての具体的について説明する。な お、ここでの説明は一つの例であり、本発明は、本実施例に限定されるものではない
[0128] 先ず、前面板 3について説明する。
Sen電極 121および Sus電極 122を構成する透明電極部 121a、 122aは、 ITO、 S ηθ、 ZnO等からなり、また、ノ スライン 121b、 122bは、 Cr— Cu— Crや Ag等から
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形成されている。
前面パネル 10の誘電体層 13は低融点ガラスにより構成されており、当該構成のガ ラスペーストを使用して、スクリーン印刷などにより、表示電極対 12が形成された前面 基板 11の表面を覆うように塗布され、その後焼成されて形成される。
[0129] 誘電体保護層 14は、薄膜プロセスまたは印刷法を用いて形成されており、材料に は電気絶縁性で透明な MgO膜が通常使用され、その厚さは例えば 0. 6 m)程度 である。なお、誘電体保護層 14の構成材料である MgOは、 2次電子放出係数が高く 、透明で耐スパッタ性に優れる。
次に、背面パネル 80における Dat電極 82は、 Agにより形成されている。 Dat電極 8 2の幅(図 11における X軸方向の寸法)は、 100 ( m)である。
[0130] 背面パネル 80の誘電体層 83は、上記前面パネル 10の誘電体層 13と同様に、低 融点ガラスで形成されており、形成方法も同じ方法を採用することができる。 隔壁 84は、低融点ガラス力 構成されており、誘電体層 83の表面に前記低融点ガ ラス力もなるペーストを塗布 '焼成した後、 Dat電極 82の延伸方向に沿う放電空間 30 に合わせてストライプ状のパターンで、サンドブラスト法やフォトリソグラフィ法等により リブ形状に形成される。
[0131] 蛍光体層 85R、 85G、 85Bは、その発光色がそれぞれ赤、緑、青の 3色であり、(Y 、 Gd) BO: Eu、 Zn SiO: Mnおよび BaMg Al O : Euなどの蛍光体を含み形成さ
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れている。蛍光体層 85R、 85G、 85Bは、上記隔壁 84の側面と、誘電体層 83の表 面上で隔壁 84が形成されていない部分に対して、上記蛍光体の発光色毎に印刷塗 布、焼成工程を行うことにより、誘電体層 83と隔壁 84とで構成される凹部の表面に形 成される。
[0132] 高 γ部 86は、蛍光体層 85R、 85G、 85Bの構成材料とは異なる材料で、且つ、高 い 2次電子放出係数 γを有する金属酸化物材料を用いて形成される。用いられる金 属酸化物材料は、上記実施の形態 1〜5などと同様に、例えば MgOであり、粒径が 0 . 05 ( /ζ πι)〜1 ( /ζ πι)の範囲内にある粒子力 Dat電極 82の表面上に対応する部 分に、その厚さが l m)になるように形成されている。なお、本実施例における高 γ 部 86の形成方法については、後で詳細に説明する。
[0133] また、放電ガスに用いられる希ガスとしては、例えば、キセノン ·ネオンを含む希ガス が用いられ、これらが約 60 (kPa)の圧力で封入されている。なお、放電ガスの全圧に 対する Xe分圧比率は、 15 (%)である。
4.高 γ部 86の形成方法
先ず、高 Ί部 86の形成方法の概略を説明すると、高 γ部 86を構成する材料、つま り、 2次電子放出係数 γが蛍光体層 85 (以下では、符号 85R、 85G、 85Bを纏めて、 符号 85と記載する。)よりも大きぐ且つ、蛍光体層 85の構成材料とは異なる材料を 帯電させて、この帯電した材料を静電力によって Dat電極 82の上方に集積すること で、高 γ部 86を形成する(この方法を、「電圧印加粒子散布集積法」 t 、うことにする
) o
[0134] つまり、高 γ部 86は、当該高 γ部 86を形成する材料である金属粒子を帯電させる 帯電工程と、 Dat電極 82を帯電する金属粒子より低い電位にすることによって、蛍光 体層 85の表面であって、 Dat電極 82の上方に相当する部分に金属粒子を静電力に より集積する集積工程とを経て形成される。具体的な形成方法について、図 13を用 いて説明する。図 13は、高 γ部 86の形成方法を説明するための概略図である。
[0135] 以下、高 γ部 86を構成する材料として MgO (粒子)を用いた例で説明する。
図 13 (a)に示すように、隔壁 84が形成された背面パネル 80用の板 80a (この板に 高 Ί部 86を形成して背面パネル 80が完成する(つまり、背面板が完成する前段階で ある)ので、この板を、「前段背面パネル」と記載する。) 80aを用意し、背面基板 81の 主面が略水平であって蛍光体層 85が上側となるように配する。この前段背面パネル 80aは、上記構成の欄で説明した、背面基板 81、 Dat電極 82、誘電体層 83、隔壁 8 4を備えるとともに、隔壁 84の側面および誘電体層 83の表面であって、隔壁 84が形 成されている部分を除く部分に蛍光体層 85が形成されているものである。
[0136] 高 γ部 86の形成は、図 13 (b)に示す粒子散布装置 510を利用して行われる。
この粒子散布装置 510は、粒子散布容器 511と、 MgO粒子 670を格納する格納容 器 512と、格納容器 512内の MgO粒子を帯電させる帯電手段 514と、格納容器 512 内で帯電された MgO粒子 670を粒子散布容器 511内に散布する散布手段と、散布 された MgO粒子 671を集積するために前段背面パネル 80aの Dat電極 82に所望の 電圧を印加する印加手段 514とを備える。
[0137] ここで、格納容器 512は、粒子散布容器 511の上壁 51 laの外側に配されており、 散布手段は、格納容器 512の内部と粒子散布容器 511の内部とを連通させるノズル 513と、格納容器 512内に、窒素ガスや空気等の圧縮ガスを流入される流入手段( 図示省略)とにより構成される。
また、帯電手段は、図 13 (b)に示すように、格納容器 512およびノズル 513に所定 の電圧を印加することで、格納容器 512内およびノズル 513内の Mgo粒子 670を帯 電させる。格納容器 512およびノズル 513への印加は、高電圧直流電源装置 514に より行われる。なお、 Dat電極 82への電圧の印加も、上記高電圧直流電源装置 514 により行われる。
[0138] 上記構成の粒子散布装置 510を用いた高 γ部 86の形成方法の具体例について 説明する。 図 13 (b)に示すように、先ず、粒子散布容器 511の上壁 51 la上の格納容器 512 に、例えば、直径 0. 05 m)〜1 ( m)の MgO粒子 670を所定量入れる。そして、 MgO粒子 670を格納する格納容器 512やノズル 513に、高電圧直流電源装置 514 により数千 (V)〜l万 (V)の正の電圧 (+V1)を印加して、 MgO粒子 670を帯電させ る。
[0139] 一方、前段背面パネル 80aの Dat電極 82には、高電圧直流電源装置 514によって 、 Mgo粒子 670を帯電させるために印加した極性と反対である負の一定の大きさの 電圧(一 V2)、例えば— 100 (V)〜0 (V)を印加する。
そして、圧縮ガスを格納容器 512の内部に流入させて、帯電した MgO粒子 670を ノズル 513から吹き出させて散布する。これにより、正に帯電して散布された MgO粒 子 671が下方に向力つて落下して行く。
[0140] その後、圧縮ガスの流入を止め、正に帯電して散布された MgO粒子 671は、自然 落下しつつ、負の一定の大きさの電圧が印加された Dat電極 82による静電力によつ て吸引され、やがて、吸引されている MgO粒子 671は、前段背面パネル 80aの蛍光 体層 85の表面であって Dat電極 85の上方に相当する部分に堆積されてゆく。これ によって、図 13 (c)の如く、 MgO粒子 670、 671力らなる高 γ部 86力 光体層 85の 表面上に偏在形成される。
[0141] 上記電圧印加粒子散布集積法による高 γ部 86の形成では、帯電状態の MgO粒 子 671は、静電力により Dat電極 82に吸引されて、 Dat電極 82の上部に相当する部 分 (電極部分を含む。 )に堆積され、 Dat電極 82から離れた部分には MgO粒子 671 は付着しないので、精度良く所望の範囲に高 Ί部 86を形成できる(高 γ部 86を偏在 形成させることができる)と共に、略均一な厚さでしかも所望の密度で高 γ部 41を形 成できる。
[0142] 一方、高 γ部 86の厚さは、 Dat電極 82に印加する電圧値および帯電した MgO粒 子 671の散布量によって決定できるので、本実施の形態に係る方法を用いた場合に は、高 γ部 86の厚さの管理を容易に行える。し力も、図 13 (c)に示すように、前段背 面パネル 80aの蛍光体層 85の表面であって Dat電極 82の上方に対応する部分に、 絶縁物材料である MgO粒子 671が略均一に、且つ、所望の面密度で静電力により 集積され、図 11および図 13 (c)に示すような、高 γ部 86を形成することができる。
[0143] なお、蛍光体層 85の表面に高 γ部 86を偏在形成しょうとすると、従来の方法では 、例えば、電子ビーム蒸着法により蛍光体層表面の全体に MgO膜を形成し、そのあ と、形成した MgO膜を所望のパターンにエッチング等により加工しなければならなか つた。し力しながら、本実施の形態に係る形成方法では、 MgO粒子 670を帯電させ 、 Dat電極 82に電圧を印加するだけで形成できるので、従来の方法に比べて、極め て簡易に、且つ、高精度に高 γ部 86を成形できる。
[0144] 上記の電圧印加粒子散布集積法では、粒子散布装置 510の粒子散布容器 511な どの形状や、圧縮ガスの流入量、流入速度や、格納容器 512に充填する Mgo粒子 6 70の量、 Mgo粒子 670に印加する電圧値等の種々の条件を適切に設定することに より、高 γ部 86の厚みを、さらに均一な状態で堆積させることができる。また、上記に おいて、電圧印加粒子散布集積法と呼ぶことにしたが、構成材料を帯電させ静電力 で Dat電極 82の上方に堆積させる方法であれば如何なる呼称の方法でもよい。
[0145] 4.評価実験
上述した方法で、実施例の高 γ部 86を形成してなる PDP6を作成して、当該 PDP 6を用いて画面の表示試験を行った。試験の内容は、初期化期間 Τに、電圧-時間
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推移が緩やかに傾斜して上下するランプ波形の電圧を前面パネル 10側の Sen電極 121と Dat電極 82との間に印加し、書き込み期間 Tにおいて、書き込みパルスの印
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加の有無により放電セルの選択を行い、維持期間 τ
3において選択された放電セルで の放電を実行し、意図した画像表示が行われて 、るかどうかを確認することである。
[0146] 実験結果によれば、本実施の形態に係る PDP6では、初期化期間 Tにおいて蛍光
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体層 85側が力ソードとなる放電であっても初期ィ匕輝点の発生が低減し、さらに輝度 の低下を抑えることができた。そして、結果的に発光効率の低下は、蛍光体層の表面 に高 γ部 86 (MgO膜)がな 、場合に対し、約 5 (%)に抑えられた。
これに対して、蛍光体層 85、隔壁 84の放電空間 30を臨む部分全てに MgO力 な る皮膜 (高 0部に相当) 746を形成した従来の PDP ( 26 (b)に示す構成)でも、初 期化期間 Tにおいて蛍光体層 725側が力ソードとなる放電であっても初期ィ匕輝点の
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発生が低減したが、蛍光体層 725の全表面に付けた皮膜 746によって共鳴線を含 む真空紫外線が吸収されるため輝度低下が大きい。そして、結果的に発光効率は、 蛍光体層に皮膜 746がな 、場合に対し、約 1Z10に激減した。
[0147] これは、高 γ部 86が、 2次電子放出係数 γが蛍光体層 85よりも大きぐ且つ、蛍光 体層 85の構成材料とは異なる材料によって、蛍光体層 85の表面であって Dat電極 8 2の上方に相当する部分のみに偏在形成されているので、初期化期間 Tにおいて、
1 この高 γ部 86から 2次電子が放出される。これによつて、ランプ波形電圧印加時にお いて、蛍光体層 85側が力ソードとなるときの放電遅れが減少し、弱放電が安定して起 きやすくなつたと考えられる。
[0148] さらに、高 γ部 86は、 Dat電極 82の上方に相当する部分のみに偏在形成されてい るので、蛍光体層 85における高 γ部 86が形成されていない部分が放電空間 30を直 接臨むことになり、輝度の低下を少なぐ結果的に発光効率の低下を少なくできたと 考えられる。
5.その他
上記で説明した高 γ部 86は、蛍光体層 85の表面であって、 Dat電極 82の表面に 相当する部分を覆うように全範囲に形成することとしたが、上記領域の全範囲に高 γ 部 86を形成していなくても良い。以下、 Dat電極 82の表面に相当する部分の全範囲 に形成されて 、な 、、実施の形態 1における変形例 1として説明する。
[0149] (1)構成
図 14は、変形例 1に係る PDPの放電セルの一部を切り欠いた平面図である。
ここでは、高 γ部 1086 (の大きさ)と、蛍光体層 1085の形成範囲以外は上記実施 の形態 6と同じであるため、高 γ部 1086および蛍光体層 1085以外の部分について は、上記実施の形態 6と同じ符号を使用する。また、図 14は、 PDPの表示面 (前面パ ネルの前面基板 11における放電空間 30と反対側に位置する面)と直交する方向か ら、 1つの放電セルを見た図である。
[0150] 高 γ部 1086は、図 14に示すように、表示電極対 12の Sen電極 121と Dat電極 10 82とが立体交差している蛍光体層 1085の表面に形成されている。つまり、前面パネ ルの主面と直交する方向から当該前面パネル側を見たとき(図 14となる。 )に、蛍光 体層 1085の表面上であって、 Dat電極 1082の上方(前面パネル側)に相当する領 域と、前面パネルの Sen電極 121の下方(背面パネル 1080側)に相当する領域とが 重なる部分 (本発明の「前記 Dat電極と前記表示電極対とが立体的に交差する領域 に相当する部分」である。)に形成されている。
[0151] なお、高 γ部 1086を構成する材料は、上記実施の形態 6などと同じであり、 2次電 子放出係数 γが蛍光体層 1085の構成材料よりも大きぐ且つ、蛍光体層 1085の構 成材料とは異なる材料 (MgO)である。また、蛍光体層 1085は、本変形例 1では、誘 電体層 1083の表面であって、隔壁 1084が形成されて ヽな 、部分に形成されており 、隔壁 1084の側面には形成されて ヽな ヽ(図 14を参照)。
[0152] (2)形成方法
本変形例に係る高 γ部 1086の形成方法について、図 15を用いて説明する。図 15 は、変形例 1の高 Ί部の形成状態を示す図である。
図 15に示すように、本変形例 1における高 γ部 1086の形成は、上記実施の形態 6 における電圧印加粒子散布集積法を用いて行われる。本変形例 1では、高 γ部 108 6を Dat電極 1082と Sen電極 121とが立体的に交差する部分に相当する部分に形 成されているため、ここで説明する粒子散布装置 550は、高 γ部 1086を選択的に形 成するための選択手段 555を備えている点で、上記実施の形態 1での粒子散布装置 510と異なる。
[0153] 本変形例 1における粒子散布装置 550は、粒子散布容器 551と、 MgO粒子 680を 格納する格納容器 552と、格納容器 552内の MgO粒子 680を帯電させる帯電手段 554と、格納容器 552内で帯電された MgO粒子 680を粒子散布容器 551内に散布 する散布手段と、散布された MgO粒子 681を集積するために前段背面パネル 1080 aの Dat電極 1082に所望の電圧を印加する印加手段 554と、高 γ部 1086を選択的 に形成するための選択手段 555とを備える。
[0154] 選択手段 555は、高 γ部 1086の形成部分に相当する部分に貫通孔 556を有する マスク 557により構成される。そして、帯電状態での MgO粒子 680がノズル 553から 散布されると、帯電して散布された MgO粒子 681が、マスク 557の貫通孔 556を通 つて、貫通孔 556の開口部分に対応する所望の範囲に堆積される。これにより、高 γ 部 1086は、前段背面パネル 1080aの Dat電極 1082に対応する範囲で、且つ、前 面パネル 10の Sen電極 121の背面パネル 1080側に対応する部分のみに部分的に 偏在形成される。
[0155] ここで説明した形成方法によると、選択手段 555を用いることで、高 γ部 1086を部 分的に偏在した状態で容易に形成することができる。
(3)実験結果
上記変形例 1における PDPにつ 、ても、上記実施の形態 6と同様に評価試験を行 つた。この実験によれば、本変形例 1における PDPは、初期化期間 Τにおいて、蛍
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光体層 1085側が力ソードとなる放電であっても初期ィ匕輝点の発生が低減し、さらに 輝度の低下を抑えることができ、蛍光体層、隔壁の放電空間側の部分全てに高 γ部 である皮膜 746を形成した従来の PDP (図 26 (b)に示す構成)の発光効率よりも高 い発光効率が得られた。
[0156] これは、本変形例に係る高 γ部 1086が、 2次電子放出係数 γが蛍光体層 1086よ りも大きぐ且つ、蛍光体層 1085の構成材料とは異なる材料によって、 Dat電極 108 2の上方のみで、且つ、 Sen電極 121の下方のみに偏在形成されているため、初期 化期間 Tにおけるランプ波形電圧印加時において、 Dat電極 1082の上方で、且つ
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、 Sen電極 121の下方のみに形成された高 γ部 1086から 2次電子が効率的に放出 され、蛍光体層 1085側が力ソードとなる時の放電開始電圧が低下することにより、弱 放電が安定して起きやすくなり、初期ィ匕輝点の発生が抑えられたと考えられる。
[0157] また、高 γ部 1086は、 Dat電極 1082の上方のみで、且つ、 Sen電極 121の下方 のみに偏在している。つまり、蛍光体層 1085は、高 γ部 1086の形成されていない 部分の面積が、実施の形態 6よりも広くなり、それだけ広い範囲で放電空間 30を直接 臨むことになり、実施の形態 6に比べて、発光効率の低下を抑制できたと考えられる。
[0158] (実施の形態 7)
上記実施の形態 6に係る隔壁 84は、 Dat電極 82の延伸方向に沿ってストライプ状 に形成されていたが、本実施の形態では、所謂、井桁状に形成されている。
.構成
図 16は、 PDP1006における 1画素を構成する部分を切り出し、隔壁の様子が分か るように前面板の一部を切り欠いて描いた斜視図である。図 17 (a)は、図 16の G— G 線における断面図であって矢印方向に見た図であり、(b)は、 1つの放電セル分を F 方向に見た図であり、図 17 (b)において、高 γ部 1186は網掛けで示している。なお 、ここでも、上記実施の形態 6と構造が同じ部分 '部材については同じ符号を用いる。
[0159] 図 16に示すように、前面パネル 10は、上記実施の形態 6と同様に、前面基板 11、 表示電極対 12、誘電体層 13、誘電体保護層 14を備える。また、表示電極対 12は、 Sen電極 121と Sus電極 122とを備免る。
背面パネル 1180は、図 16および図 17 (b)に示すように、背面基板 1181、 Dat電 極 1182、誘電体層 1183、蛍光体層 1185R、 1185G、 1185B、隔壁 1184 184 a、 1184b)および高 γ部 1186を備える。ここで、本実施の形態では、上記実施の形 態 6に対し、隔壁 1184の形状、高 γ部 1186が形成される蛍光体層 1185R、 1185 G、 1185Bの形状が異なる。
[0160] なお、前面パネル 10と背面パネル 1180との封着は、前面パネル 10の表示電極対 12と背面パネル 1180の Dat電極 1182とが立体的に直交するようになされて!、る。 隔壁 1184は、図 16および図 17に示すように、各放電空間 30の周りを囲むように 井桁状をしており、上記実施の形態 6と同様に、誘電体層 1183上に形成され、隣接 する放電空間 30どうしの間を区画している。なお、隔壁 1184は、図 17 (b)に示すよ うに、 4つの隔壁要素 1184a、 1184b力ら構成されて!/、る。
[0161] なお、井桁状の隔壁 1184の成形は、材料として低融点ガラスを塗布焼成し、放電 セルの複数個の配列を行および列を仕切る井桁状のパターンでサンドブラスト法や フォトリソ法などの方法を使用して、隔壁 1184をリブ形状に形成する。
一方、 光体層 1185R、 1185G, 1185B (便宜上、符号 1185B【こつ!ヽて ίま、不 図示。)は、誘電体層 1183の表面であって隔壁 1184が形成されていない部分と、 隔壁 1184の佃 J面とに形成されて!/、る。このため、 光体層 1185R、 1185G、 1185 Bは、誘電体層 1183上に形成された底部と、隔壁 1184の側面から前記底部へと傾 斜状に形成された傾斜部とを有する。
[0162] 前面パネル 10の表示電極対 12と背面パネル 1180の隔壁 1184との位置関係は、 種々採り得る力 表示電極対 12と隔壁 1184とが近接する場合、表示電極対 12の下 方側に位置する部分の蛍光体層 1185R、 1185G、 1185Bは、その傾斜部と当該傾 斜部から少し底部に跨った部分となる。
そして、高 γ部 1186は、図 17 (a)、(b)に示すように、蛍光体層 1185Bの表面で あって、 Dat電極 1182の上方に相当する領域と Sen電極 121の下方に相当する領 域とが立体交差する部分(平面視において、 Dat電極 1182と Sen電極 121とが重な る部分)に形成されている。
[0163] 図 17 (b)に示すように、特に、蛍光体層 1185Bは、上述したように、隔壁 1184に 近い箇所では、傾斜状になっているため、蛍光体層 1185Bにおける Sen電極 121の 外側(Dat電極 1182の延伸方向であって Sus電極 122の反対側)に位置する隔壁 1 184bの側面に形成された傾斜部と当該傾斜部から少し底部に跨った部分とに形成 されている。
[0164] 高 γ部 1186は、上記実施の形態 6と同様に、 MgO粒子により形成され、この形成 には、上記実施の形態 6と同様の電圧印加粒子散布集積法を用いている。なお、高 γ咅 1186ίま、 光体層 1185R、 1185G、 1185Bの表面上【こ咅分的【こ形成される ため、上記変形例 1で用いた選択手段 555等を用いる必要がある。
本実施の形態のように、 Sen電極 121と Dat電極 1182との間の蛍光体層 1185R、 1185G、 1185Bの表面が傾斜している場合には、初期化期間 Tにおける放電が、
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見力け上、 Sen電極 121と蛍光体層 1185R、 1185G、 1185Bの傾斜部の表面付近 との間で生じる。このため、放電が生じている蛍光体層 1185R、 1185G、 1185Bの 傾斜部および当該傾斜部力 底部とに跨る部分に高 γ部 1186があると、高 γ部 11 86から放出された 2次電子を有効に作用し、放電開始電圧を効果的に下げることが できる。
[0165] (実施の形態 8)
上記実施の形態 6および実施の形態 7における高 γ部 86、 1186は、電圧印加粒 子散布集積法により形成されていたが、他の形成方法によっても形成できる。本実施 の形態 8では、蒸着法を利用して高 γ部 86、 1186を形成する場合ついて説明する 。なお、ここでは、実施の形態 6での前段背面パネル 80aに高 γ部 86を形成する場 合について説明する。
[0166] この高 γ部 86は、 MgOを少なくとも含む材料によって、蒸着法、例えば、電子ビー ム蒸着法により、電子ビーム蒸着装置内でターゲットである MgOに電子ビームを照 射することによって、例えば、膜厚が10 (nm)〜l ( iu m)のMgOカらなる皮膜カ Da t電極 82の上方にのみに蒸着され形成される。
では、電子ビーム蒸着法よる高 γ部 86の形成方法について、以下説明する。
[0167] 図 18は、本実施の形態 8に係る高 γ部 86の形成方法を説明するための概略図で ある。高 Ύ部 86の形成方法は、蒸着装置 560内において、前段背面パネル 80aの D at電極 82に負あるいは接地電位を付与しておき、蒸着装置 560内の前段背面パネ ル 80aの下方で RFプラズマ 563を発生させておく。
この状態で、電子銃 567によって電子ビーム 569をターゲットである MgO690に照 射させて飛散させる。この飛散する MgO粒子 691は、上記 RFプラズマ 563中で正の 電位に帯電し、その後、負あるいは接地電位の Dat電極 82に吸引されて、蛍光体層 85の表面であって、且つ、 Dat電極 82のォモテ側に相当する部分に集積'堆積する
[0168] このように高 γ部 86は、電子銃 567により電子ビーム 569をターゲットである Mg06 90に照射して蒸着させて、 RFプラズマ中で正に帯電した MgO粒子 691が、高電圧 直流電源装置(印加手段) 692によって少なくとも負あるいは接地電位に付与された Dat電極 82に吸引されて蒸着するので、簡易な方法で成形できると共に、薄膜から なる高 Ί部 86を効率よく形成することができる。
[0169] なお、上記成形方法で形成された高 γ部 86を有する PDPにつ ヽても、実施の形 態 6と同様の試験を行った。
この実験に用いた PDPは、放電セルの背面板において、蛍光体層 85表面の Dat 電極 82の上方のみに存在するように、 2次電子放出係数 γが蛍光体層 85の構成材 料よりも大きい MgO材料を、 RFプラズマ 563中で帯電させながら電子ビーム蒸着す る電子ビーム蒸着法によって蒸着することにより、例えば、高 γ部 86を膜厚約 0. 5 ( μ m)に形成し、その他は実施の形態 6の実験と同様にして作成されている。
[0170] 本実験によって、上記実施の形態 6と同様に、初期化期間 Tにおいて弱放電が常
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に安定して起き、初期化輝点の発生が低減し、さらに輝度の低下が最小限に抑えら れることが確認できた。 以上、本発明に係る構成上および作用'効果面での特徴を各実施の形態に基づい て説明したが、本発明の内容が、上記各実施の形態に示された具体例に限定されな いことは勿論であり、例えば、以下のような変形例をさらに実施することができる。
[0171] 1.高 γ部
(1)形成範囲について
実施の形態 6、 7および変形例 1における高 γ部 86、 1086、 1186は、蛍光体層 8 5、 1085、 1185の表面であって、 Dat電極 82、 1082、 1182の表面に相当する部 分にのみ形成されていた力 Dat電極 82、 1082、 1182の表面に相当する部分以 外に高 γ部 86、 1086、 1186が形成されていても良い。なお、「データ電極の表面 にネ目当する咅分にのみ」に ίま、高 γ咅 86、 1086、 1186の形成範囲力 Dat電極 82 、 1086、 1182の表面に相当する部分を若干はみ出して形成されている場合も含ん でいる。
[0172] つまり、高 γ部 86、 1086、 1186は、 Dat電極 82、 1082、 1182の表側に相当する 部分を含む範囲に厚さが不均一な高 γ部 86、 1086、 1186が形成されている場合、 その厚さが最も厚い位置が Dat電極 82、 1082、 1182のォモテ側に相当する部分 内にあるように偏在して 、れば良!、。
但し、この場合、 Dat電極 82、 1082、 1182の表面に相当する部分以外では、高 γ部 86、 1086、 1186の厚さを、放電ガス等カゝら発せられた、例えば、共鳴線が殆ど 吸収されない程度の厚さにする必要がある。具体的には、この厚さは、平均で 0. 5 ( m)以下である。
[0173] また、実施の形態 6、 7および変形例 1における高 γ部 86、 1086、 1186は、蛍光 体層 85、 1085, 1185の表面であって、 Dat電極 82、 1082, 1182の表面に相当す る部分、あるいは、 Dat電極 82、 1082、 1182の上方(前面パネル 10側)に位置する 部分と Sen電極 121の下方(背面パネル 80、 1080、 1180側)に位置する部分との 重なり部分 (この部分を、単に、「データ電極と走査電極との重なり部分」という。)に均 一に形成されていた力 不均一であっても良い。例えば、 Dat電極 82、 1082、 1182 のォモテ側に相当する部分、または Dat電極 82、 1082、 1182と Sen電極 121との 重なり部分内に、高 0部 86、 1086、 1186の形成されていない部分があっても良い( つまり、高 γ咅 86、 1086、 1186力 ^島状に偏在して!/、ても良!ヽ)。さらに ίま、 Dat電極 82、 1082、 1182の才モテ佃 Jにネ目当する咅分、または Dat電極 82、 1082、 1182と Sen電極 121との重なり部分(立体交差部分)の略中央で、高 γ部 86、 1086、 118 6の厚さが最大となるように偏在しても良 、。
[0174] また、形成範囲について別の言い方をすれば、高 γ部 86、 1086、 1186は、 Dat 電極 82、 1082、 1182のォモテ側に相当する部分では、蛍光体層 85、 1085、 118 5を覆う被覆率力 Dat電極 82、 1082、 1182のォモテ側に相当する部分よりも大き くなつている。つまり、 Dat電極 82、 1082、 1182のォモテ側に相当する部分に集中 して形成されて ヽることになる。
[0175] (2)材料について
上記各実施の形態 6〜8および変形例 1では、高 γ部 86、 1086、 1186の構成材 料として MgOを用いた力 他の材料を用いることもできる。例えば、他の材料として用 いることが可能であるのは、 MgO、 CaO、 BaO、 SrO、 MgNOおよび ZnOの内の少 なくとも一種を含んだ金属酸ィ匕物材料、絶縁体としての CNT (カーボンナノチューブ )などのナノファイバー、 C60等のフラーレンおよび A1N (窒化アルミニウム)等の材料 の少なくとも 1種を含む絶縁物材料を使用することができる。これらには他の材料や 不純物材料も含まれて 、ても良 ヽ。
[0176] また、上記において、高 γ部 86、 1086、 1186として絶縁物質材料である MgO粒 子 670、 680、 690を使用して説明した力 他の粒子として、 Pt (白金)、 Au (金)、 Pd (パラジウム)、 Mg (マグネシウム)、 Ta (タンタル)、 W (タングステン)および Ni (エッケ ル)の少なくとも 1種を含む金属材料カゝらなる粒子を使用しても同様に実施可能であ る。これらの粒子群は、仕事関数の値が小さくて 2次電子放出係数 γが蛍光体層より も大きい値を有し、酸化されにくい金属粒子であり、初期化期間 Τにおいて蛍光体
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層 85、 1085、 1185側が力ソードとなる時の放電開始電圧を低下させることができ、 弱放電を安定して起こさせ、初期ィ匕輝点の発生を抑えることができる。
[0177] 2.電圧印加粒子散布集積法について
上記実施の形態 6〜8および変形例 1において、高 γ部 86、 1086、 1186を形成 する工程力 高 γ部 86、 1086、 1186を形成するための材料を正に帯電し、 Dat電 極 82、 1082、 1182に負の電圧を印カロするとして説明した力 S、高 γ咅 86、 1086、 1 186を形成する工程力 Dat電極 82、 1082、 1182に一定の大きさの負の電圧を印 加し続ける工程を有していても構わず、また、 Dat電極 82、 1082、 1182上に時間の 経過と共に負側に大きくなるように電圧を印加する工程を有していても構わず、また、 Dat電極 82、 1082、 1182上に時間の経過と共に負側に連続的、例えば、直線状、 或いは曲線状に大きくなるように電圧を印加する工程を有して 、ても構わず、また、 Dat電極 82、 1082、 1182上に時間の経過と共に負側に段階的に大きくなるように 電圧を印加する工程を有していても構わず、また、 Dat電極 82、 1082、 1182に負 電圧のパルスを印加する工程を有して ヽても構わな 、。
[0178] これらの製造方法により、 Dat電極 82、 1082、 1182に負の電圧を印加する方法と して、上記各種方法をとることにより、正に帯電した MgO絶縁性材料を負の電圧に 印カロした Dat電極 82、 1082、 1182に集積させる過程で、 MgO粒子 671、 681、 69 1の電荷により、 Dat電極 82、 1082、 1182の上方の表面電位が上昇し、 MgO粒子 が Dat電極 82、 1082、 1182の上方に堆積しにくくなるのを防止することができる。
[0179] 帯電した MgO粒子が付着することにより上昇する Dat電極 82、 1082、 1182の上 部の表面電位を、例えば、 Dat電極 82、 1082、 1182に時間の経過と共に負側に大 きくなるように電圧を印加する方法により、上昇する Dat電極 82、 1082、 1182の上 方の表面電位を略一定の所定の電位とすることが可能となり、表面電位が下がること 力 Sな ヽので、 Dat電極 82、 1082、 1182の上方に MgO粒子 671、 681、 691を均一 に集積させることができる。
[0180] 当然他の上記方法によっても同様に実施可能であって、効率よく簡易な方法で高 γ咅 86、 1086、 1186を Dat電極 82、 1082、 1182の上方に形成すること力 Sできる 。また、 Dat電極 82、 1082、 1182の上部の表面電位を検出しフィードバックしながら 上記負の電圧を調節する方法により、高 0部 86、 1086、 1186を Dat電極 82、 108 2、 1182の上方に形成することも可能である。
[0181] また、各実施の形態では、高 γ部 86、 1086、 1186を形成する材料として、 MgO 粒子 670、 680、 690を使用して!/ヽる。この MgO粒子 670、 680、 690ίま、正【こ帯電 しゃすい性質を有しているため、実施の形態では、 MgO粒子 670、 680、 690を正 に帯電させて、データ電極に負の電圧を印加した。
しかしながら、例えば、 MgO粒子 670、 680、 690を負に帯電させた場合は、 Dat 電極 82、 1082、 1182には正の電圧を印カロする必要力 Sある。このように高 γ咅 86、 1 086、 1186の形成【こお!ヽて ίま、当該高 γ咅 86、 1086、 1186の形成する材料の帯 電の極性は、その材料の帯電のし易さによって決定され、この帯電の極性によって D at電極 82、 1082、 1182に印加する電圧の極性が決まることになる。
[0182] さらに、各実施の形態では、高 γ部 86、 1086、 1186を形成する材料として、 MgO 粒子 670、 680、 690を使用し、 Dat電極 82、 1082、 1182に負の電圧を印カロさせて いたが、例えば、 Dat電極 82、 1082、 1182を接地電位としても、正に帯電した Mg O粒子 671、 681、 691は Dat電極 82、 1082、 1182に吸引される。これは、高 γ部 86、 1086、 1186を形成する材料を負に帯電した場合であっても同様のことが言え る。
[0183] 3.高 γ咅 86、 1086、 1186の形成【こつ!/ヽて
上記実施の形態 6、 7および変形例 1において、高 γ部 86、 1086、 1186を形成す る工程が、電圧印加粒子散布集積法による工程であるとして説明した力 さらに、実 施の形態 8で説明した電子ビーム蒸着法以外の製造方法として、高 γ部 86を形成 する工程が、高 γ部 86を形成する材料にプラズマビームを照射して帯電させ成膜す るプラズマビーム照射成膜法による工程であっても同様に実施可能である。
[0184] これにより、簡易な方法により、プラズマビーム照射によって正に帯電した MgO粒 子 690を少なくとも負あるいは接地電位に付与されたデータ電極の上部に飛散集積 させて蒸着し、薄膜からなる高 γ部 86を効率よく形成することができる。
さらに、蒸着より MgO力もなる皮膜を形成し、フォトエッチング等により Dat電極 82 、 1082、 1182の表面に相当する部分にのみ皮膜が残るようにして高 γ部 86、 108 6、 1186を形成しても良!ヽ。逆【こ、高 γ咅 86、 1086、 1186を形成しな!ヽ咅分をマス キングして、蛍光体層 85、 1085、 1185の表面であって Dat電極 82、 1082、 1182 上に相当する部分にだけ、高 γ部 86、 1086、 1186を形成しても良い。
[0185] 4. Dat電極 82、 1082、 1182【こつ!ヽて
上記実施の形態 6、 7〖こおける Dat電極 82、 1182は、 Ag (銀)により形成されてい たが、他の材料を用いて形成することも可能である。他の材料としては、例えば、 Au ( 金)、クロム (Cr)、銅 (Cu)、ニッケル (Ni)、白金 (Pt)や、これらを適宜組合わせたも のがある。
[0186] 5.隔壁 84、 1084、 1184【こつ!ヽて
上記実施の形態 6、 7および変形例 1における背面パネル 80、 1080、 1180は隔 壁 84、 1084、 1184を備えて!/ヽた力 f列えば、、前面ノ ネノレ 10の佃 Jに隔壁 84、 1084 、 1184を備免る構造であってち良!ヽ。また、隔壁 84、 1084、 1184を、前面ノ ノレ 1 0およ背面パネルと別の構成として成形して、前面パネル 10と背面パネル 80、 1080 、 1180とを対向配置させるときに、前記隔壁 84、 1084、 1184を両者間に介在させ て、 PDPを形成しても良い。
[0187] 6.蛍光体層 85、 1085、 1185について
蛍光体層 85、 1085、 1185を構成する各蛍光体材料は、上記実施の形態 6におけ る材料に限定するものではなぐ例えば、 CaMgSi O: Euや YBO: Tbなどを採用
2 6 3
することちでさる。
7.その他について
上記蛍光体材料や放電ガス種、圧力は上記に特定するものではなぐ AC型 PDP で通常使用できる材料、条件が適用できる。また、上記の変形例で説明した内容を それぞれ糸且合わせても良 、のは言うまでもな 、。
[0188] (実施の形態 9)
1. PDP1の構成
本発明の実施の形態 9に係る PDP7の構成について、図 19を用いて説明する。図 19は、実施の形態 9に係る PDP7の構造を示す要部斜視図(一部断面図)である。 なお、基本的な構成および前面パネル 10の基本的な構成については、上記実施の 形態 1〜8などと変わるところがないが、確認的に以下で説明する。
[0189] 1 1.前面パネル 10の構成
前面パネル 10は、前面基板 11における背面パネル 90と対向する側の面(図 19で は下面)に、 Sen電極 121と Sus電極 122からなる表示電極対 12力 互いに平行に 複数配設され、この表示電極対 12を覆うように、誘電体層 13および誘電体保護層 1 4が順に被覆形成されて 、る。
[0190] 前面基板 11は、例えば、高歪点ガラスあるいはソーダライムガラス力 構成されて いる。また、 Sen電極 121および Sus電極 122の各々は、 ITO (錫ドープ酸化インジゥ ム)、 SnO (酸化錫)、 ZnO (酸化亜鉛)など力もなる幅広であって膜厚約 lOOnmの
2
透明電極要素 121a、 122aと、高抵抗な透明電極要素 121a、 122aを補い電気抵 抗を下げるためのバスライン 121b、 122bとをそれぞれ積層した状態で構成されてい る。バスライン 121b、 122bは、例えば、膜厚が数 m)程度であって、銀 (Ag)、ァ ルミ-ゥム(A1)、クロム(Cr)、銅(Cu)、ニッケル (Ni)、白金(Pt)あるいはパラジウム (Pd)などから構成されている。なお、透明電極要素 121a、 122aについては、ストラ イブ状あるいは突出形状に形成される(図 19では、ストライプ状)。
[0191] また、誘電体層 13は、鉛系や非鉛系の低融点ガラス材料や酸ィ匕珪素 (SiO )材料
2 などを用い、厚膜形成プロセスまたは薄膜形成プロセスで膜厚数( μ m)〜数十( μ m)で形成され、誘電体保護層 14については、 MgO (酸ィ匕マグネシウム)あるいは M gF (弗化マグネシウム)などを主材料として膜厚が数百 (nm)で構成されて!、る。
2
なお、前面基板 11の表面において、隣り合う表示電極対 12どうしの間には、隣り合 う放電セルの光が互いに漏れ出るのを防止するためのブラックストライプが設けられ ることちある。
[0192] 1 - 2.背面パネル 90の構成
背面パネル 90は、背面基板 91における前面パネル 10と対向する側の面(図 19で は上面)に、表示電極対 12と略直交する方向において、 Dat電極 92が複数配置さ れており、この Dat電極 92を覆うように、誘電体層 93が形成されている。また、この誘 電体層 93上には、隣り合う Dat電極 92間に主隔壁要素 94aが立設され、さらに、こ の主隔壁要素 94aと略直行する方向に補助隔壁要素 94bが形成されている。
[0193] PDP7では、これら主隔壁要素 94aと補助隔壁要素 94bとを以つて背面パネル 90 における隔壁 94を構成している。なお、図面上では詳細に示していないが、 Z軸方 向において、補助隔壁要素 94bの上端は、主隔壁要素 94aの上端よりも若干低く設 定されている。
誘電体層 93と隣り合う 2条の主隔壁要素 94aおよび 2条の補助隔壁要素 94bとで 囲まれた凹部の内壁面には、蛍光体層 95が設けられている。蛍光体層 95は、窪み 毎に赤色 (R)、緑色 (G)、青色 (B)の各々に分けられて 、る。
[0194] 背面パネル 90における背面基板 91についても、上記前面パネル 10の前面基板 1 1と同様に、高歪点ガラスあるいはソーダライムガラスなど力も構成されている。 Dat電 極 92は、例えば、銀 (Ag)などの金属材料から形成されており、背面基板 91の表面 上に Agペーストをスクリーン印刷して形成されている。なお、 Dat電極 92の形成材料 としては、 Agの他に、 Al、 Cr、 Cu、 Ni、 Pt、 Pdや、例えば、これらを積層するなどの 方法で組み合わせたものも用いることもできる。
[0195] 誘電体層 93は、基本的に前面パネル 10の誘電体層 13と同じぐ鉛系や非鉛系の 低融点ガラス材料、 SiO材料など力も形成されている力 酸ィ匕アルミニウム (Al O )
2 2 3 や酸ィ匕チタン (TiO )が含まれたものでもよい。また、隔壁 94は、例えば、低融点ガラ
2
ス材料を用い、サンドブラスト法やフォトリソグラフィ法などの方法で形成されて 、る。 ここで、隔壁 94は、各放電セルにおいて直方体形状の穴を掘るように形成されること から、その側壁が、背面基板 91に対して垂直ではなぐ Z軸方向の下向に隣り合う隔 壁 94間の間隔が狭くなるような傾斜状となっている(図 19では、省略)。
[0196] 蛍光体層 95は、凹部毎に、次に示すような各色蛍光体を用い形成されている。
R蛍光体;(Y、 Gd) BO
3: Eu
G蛍光体; Zn SiO: Mn
2 4
B蛍光体; BaMg Al O : Eu
2 14 24
また、本実施の形態に係る PDP7では、蛍光体層 95の表面の一部を覆うように、蛍 光体皮膜 96が形成されている。この蛍光体皮膜 96については、その形成領域を含 め、後述する。
[0197] 1 - 3.前面パネル 10と背面パネル 90との配置
PDP7は、前面パネル 10と背面パネル 90とが、ギャップ材として背面パネル 90に 形成された隔壁 94を間に挟み、且つ、表示電極対 12と Dat電極 92とが略直交する 方向に配され、この状態で各々のパネル 10、 20の外周部どうしが封止されて構成さ れている。これによつて、前面パネル 10と背面パネル 90との間には、各隔壁 94によ つて仕切られた放電空間 30が形成され、両パネル 10、 90が密閉容器を形成するこ とになる。 PDP7における放電空間 30には、 Ne、 Xe、 He等が混合されてなる放電ガ スが充填され構成されている。放電ガスの封入圧力は、例えば、 50 (kPa)〜80 (kP a)程度である。
[0198] なお、放電ガス中における全圧に対する Xe分圧の比率については、従来、 5 (%) 未満に設定されていたものである力 パネルの発光輝度向上を目的として 5 (%;)〜 1 00 (%)の範囲の高!、値に設定される。
また、 PDP7の製造においては、両パネル 10、 90を貼り合わせて組み立てた後、 真空置換された放電ガス中で同時に封着封止する方法を採用しても構わない。また 、上記ガス種は上記に特定するものではなぐ AC型 PDPで通常使用できる材料、条 件も適用できる。
[0199] PDP7では、表示電極対 12と Dat電極 92とが立体交差する各箇所が放電セル (不 図示)に対応する。そして、 PDP7には、複数の放電セルがマトリックス配列された状 態となつている。
2.蛍光体皮膜 96
本実施の形態に係る PDP7において、構成上の特徴となる蛍光体皮膜 96の構成 について、図 20および図 21を用いて説明する。図 20は、 PDP7の 1つの放電セルを 抜き出して示す断面図であり、(a)が PDP7を XZ断面で切り取った図であり、(b)が P DP7を YZ断面で切り取った図である。
[0200] 図 20 (a)〖こ示すように、 PDP7では、 Sen電極 121および Sus電極 122の延設方向
(Y方向)に沿ってほぼ平行に形成配置された隔壁 94の放電空間 30を臨む側の傾 斜部表面に、蛍光体層 95が傾斜する形で形成される。また、蛍光体層 95は、誘電 体層 93の表面を含めて他の内壁表面にも積層形成されている。
本実施の形態に係る PDP7においては、後述するように、初期化期間 Tにおいて 2
1 次電子を放出させるために、放電セル内において、 2次電子放出係数 γが蛍光体層 95よりも大きぐ且つ、蛍光体層 95を構成する上記蛍光体材料とは異なる材料により 、蛍光体層 95の表面の一部を覆うように蛍光体皮膜 96が形成されている。図 20 (a) および図 20 (b)に示すように、蛍光体皮膜 96の形成領域は、 Sen電極 121の各側 縁辺 (X軸方向の両縁)から背面基板 91の表面に対して垂線 (Z方向)を下ろすとき、 この垂線で囲まれる蛍光体層 95の表面部分を含んでいる。また、 PDP7では、 Sus 電極 122の下の領域や誘電体層 93の表面に積層された部分では蛍光体層 95の表 面が放電空間 30を臨む状態となっている。
[0201] 図 21に示すように、 PDP7の蛍光体層 95を Z方向における前面パネル 10の側から 見るとき、蛍光体皮膜 96は、上記 Sen電極 121の下の領域の内でもバスライン 121b の下の領域にある蛍光体層傾斜部分 95aを含んで形成されている。そして、蛍光体 層 95の他の傾斜部分 95b〜95dおよび底面 (誘電体層 93の表面に積層された部分 )には蛍光体皮膜 96が形成されて 、な 、状態となって!/、る。
[0202] 蛍光体皮膜 96は、 MgO (酸化マグネシウム)を含む金属酸ィ匕物材料カゝらなり、電 子ビーム蒸着法を用いて膜厚数十 (nm)〜数千 (nm)で形成されて!、る。蛍光体皮 膜 96の膜厚につ!、ては、 100 (nm) -3000 (nm)の薄膜状とするのがより望まし!/、。 蛍光体皮膜 96は、蛍光体層 95の表面上における傾斜部分 95aで平均として上記範 囲の値の膜厚でよぐ一定の膜厚である必要はない。また、蛍光体皮膜 96は、極め て薄い膜として島状に形成されていてもよい。なお、蛍光体皮膜 96の形成方法に関 しては、後述する。
[0203] 3. PDP7の駆動および優位性
以下では、本実施の形態に係る PDP7を駆動する方法について説明する。 PDP7 には、各電極 121、 14、 22に対して所定タイミングで電圧を印加する駆動回路が接 続されている(図示を省略)。そして、本実施の形態に係る PDP7においても、上記実 施の形態 1に係る PDP1と同様に、次の 3つの動作期間を繰り返す、所謂、アドレス' 表示分離駆動方式を用いて PDP7は表示駆動される。
( 1 )全表示セルを初期化状態にする初期化期間 T
1
(2)各放電セルごとにアドレスし、各セルへ入力データに対応した表示状態を選択 · 入力していくデータの書き込み期間 T
2
(3)表示状態にある放電セル 1を表示発光させる維持期間 T
3
上記(3)の維持期間 Tにおいて、 Sen電極 121と Sus電極 122とで構成される表示
3
電極対 12に対して、電極電圧パルスの矩形波電圧を互 、に位相が異なるように印 加する。即ち、表示電極対 12間に交流電圧を印加して、表示状態データが書き込ま れた放電セルに、電圧極性が変化するたびにパルス放電を発生させる。
[0204] 上記維持放電により、放電空間 30の中の励起キセノン原子からは 147 (nm)の共 鳴線が、励起キセノン分子からは 173 (nm)主体の分子線が放射され、次いで上記 紫外放射を背面パネル 90の蛍光体層 95で可視放射に変換することにより、 PDP7 の表示発光が得られる。
上述のように、蛍光体層 95の表面の一部領域に蛍光体皮膜 96が形成されてなる 背面パネル 90を有する PDP7では、次のような優位性を有する。図 20、図 21に示す ように、 Z軸方向における Sen電極 121の下の領域にある蛍光体層 95の傾斜部分 9 5aに、 2次電子放出係数 γが蛍光体層 95よりも大きぐ且つ、蛍光体層 95を構成す る蛍光体材料とは異なる材料によって、蛍光体皮膜 96が被覆形成されてる。また、 Ρ DP7では、蛍光体層 95の他の表面領域(他の傾斜部分 95b、 95c、 95dを含む。 ) が放電空間 30を臨む状態になっている。
[0205] 蛍光体層 95の表面における傾斜部分 95aに被覆されてなる蛍光体皮膜 96は、 2 次電子放出係数 γが大きぐ且つ、耐スパッタ性が高い材料である MgOを含む金属 酸ィ匕物材料により形成されることにより、 PDP7の駆動の初期化期間 T
1において、蛍 光体層 95側が力ソードとなる時の放電開始電圧をさらに低下させて弱放電をさらに 安定化させ、且つ、耐スパッタ性が高い材料であるので、高画質および高信頼性に することができる。
[0206] また、蛍光体皮膜 96は、初期化期間 Tにおいて、蛍光体層 95側が力ソードとなる
1
時の放電開始電圧を低下させ、弱放電を安定して起こさせて画質を向上させるととも に、極く薄い膜で形成されることにより、放射される 147 (nm)の共鳴線を含む真空紫 外線をほとんど吸収することがない。よって、 PDP7では、放電空間 30で発生した真 空紫外線が蛍光体層 95に高効率に届けられ、発光効率が高く維持される。。
[0207] また、蛍光体皮膜 96は、蛍光体層 95の表面における傾斜部分 95aを含む少なくと も一部に設けられ、他の傾斜部分 95b、 95c、 95dおよび誘電体層 93の上に当たる 部分には形成されていないので、 PDP7では、弱放電を起こさせる必要な箇所には 蛍光体皮膜 96が形成され、不必要な個所には蛍光体皮膜 96が形成されていない ので、蛍光体皮膜 96による紫外線放射の吸収が最小限の範囲に抑えられる。 [0208] 4.実験
実験において、上述した PDP7と同一構成のパネルを作成した。即ち、 PDP7の背 面パネル 90の蛍光体層 95までを形成した後、 Sen電極 121の下の領域 (傾斜部分 95a)を含む蛍光体層 95の表面の少なくとも一部領域に、 MgO材料を使用して電子 ビーム蒸着法によって、蛍光体皮膜 96を膜厚約 1000 (nm)で薄膜状に形成した。
[0209] 蛍光体皮膜 96は、後述する斜め蒸着法による製造方法によって、蛍光体層 95の 表面における上記傾斜部分 95b、 95c、 95dなどの部分には少なくとも形成しないよ うにした。そして、放電ガス中の全圧に対する Xe分圧比率を約 15 (%)の高い値とし て約 60 (kPa)で封入し、 PDP7を作成し、次のような評価した。
上記 PDP7に対して、全表示セルを初期化状態にする初期化期間 Tにおいて、 Sc
1
n電極 121と Dat電極 92との間に電圧一時間推移が緩やかに上下する高電圧のラ ンプ波形を印加し評価した。
[0210] 実験結果によれば、本実施の形態に係る PDP7では、蛍光体層 95の表面における 傾斜部分 95aを含む一部の領域に蛍光体皮膜 96を形成したので、放電ガスの全圧 に対する Xe分圧比率を約 15 (%)と高く設定しているにも関わらず、初期化期間 Tに
1 おいて Sen電極 121と Dat電極 92との間にランプ波形高電圧が印加され、蛍光体層 95側が力ソードとなったときに、蛍光体皮膜 96により、放電開始電圧が 50 (V)〜10 0 (V)低下し、弱放電が常に安定して起きるようになって初期ィ匕輝点の発生が無くな り、画質が大幅に向上した。
[0211] また、蛍光体皮膜 96を蛍光体層 95の表面における上記傾斜部分 95b、 95c, 95d などの部分には少なくとも形成しな 、ようにしたので、放電ガス中の全圧に対する Xe 分圧比率を上げても発光効率の低下が抑えられて輝度の低下を抑制させることがで き、高 Xeの PDPとして輝度が大幅に向上した。なお、 PDP7では、放電ガス中の全 圧に対する Xe分圧比率を 5 (%)〜100 (%)の範囲の値に上げても弱放電が常に安 定して発生し、且つ、輝度は Xe分圧比率に対応して向上した。
[0212] 一方、図 26 (b)に示すように、蛍光体層 725の表面全体を覆って MgO力 なる厚 みの厚い蛍光体皮膜 746を成膜した従来例の PDPにおいては、放電ガス中の全圧 に対する Xe分圧比率を上げた場合、初期化期間 Tにおいて、蛍光体層 725側が力 ソードとなる時の放電開始電圧が下がって弱放電は安定ィ匕するものの、蛍光体層 72 5の全表面に付けた厚い蛍光体皮膜 746によって共鳴線を含む真空紫外線が吸収 され、発光効率が抑制され、放電ガス中の全圧に対する Xe分圧比率を上げても、本 実施の形態に係る PDP7に比較して輝度はその約 1/10となって向上しな力つた。
[0213] 以上の結果より、本実施の形態に係る PDP7では、蛍光体層 95の表面における傾 斜部分 95aの少なくとも一部を含む部分に蛍光体皮膜 96を形成し、且つ、これ以外 の部分を放電空間 30を臨む状態としておくことで、全表示セルを初期化状態にする 初期化期間 Tにおいて、弱放電が安定して起きやすくなつて初期ィ匕輝点の発生を
1
抑制するとともに、維持期間 τにおける発光効率の低下を抑え輝度の低下を抑制す
3
るので、画質を向上させ、かつ高輝度とすることができる。
[0214] 上述のように、蛍光体皮膜 96は、蛍光体層 95の表面における傾斜部分 95aの少 なくとも一部を含む部分に設けられ、他の傾斜部分 95b、 95c, 95d、特に Sus電極 1 22の下の部分 (傾斜部分 95bに相当。)には形成されない状態となっているので、初 期化期間 Tにおいて、放電開始電圧が下力 ^弱放電を安定化させることができ、か
1
つ紫外放射効率の低下を抑え発光効率の低下がおさえられる。このため、 PDP
7で は、高画質で高輝度あるいは低消費電力と!/、う優位性を有する。
[0215] (実施の形態 10)
実施の形態 10に係る PDP7の製造方法について、図 22を用いて説明する。図 22 は、実施の形態 10に係る PDP7の製造方法の内、背面パネル 90の蛍光体皮膜 96 の形成に係る工程を示す工程概念図である。なお、本実施の形態に係る方法を以っ て製造しょうとする PDP7の構成は、上記実施の形態 9の PDP7と同一の構成のもの である。
[0216] 図 22 (a)〖こ示すように、背面基板 91の一方の主面上に Dat電極 92をパターン化し て形成し、 Dat電極 92と背面基板 91表面の少なくとも一部を覆って低融点ガラスべ 一ストを塗布焼成して誘電体層 93を形成する。さらに、誘電体層 93の表面上に隔壁 94を立設する。隔壁 94の形成に用いる材料としては、例えば、低融点ガラスを用い 、隔壁 94の形成においては、この材料を塗布焼成した後、放電セルの複数個の配 列の行および列を仕切って、隣接放電セルとの境界周囲を仕切る例えば井桁形状 などのパターンで、サンドブラスト法やフォトリソ法あるいは転写法などの方法を使用 して実施する。
[0217] 上記実施の形態 9のように、井桁形状の隔壁 94として、 Sen電極 121の延設方向 に沿って平行に形成した隔壁 94の側壁面を、隔壁 94の Sen電極側傾斜部 24b 1 ( 図 22 (b)を参照。)としている。同様に、 Sus電極 122側の隔壁 94の側壁面を、隔壁 94の Sus電極側傾斜部 94b2としている。もちろんその他の隔壁 94の側壁面にも、 隔壁の傾斜部を形成して 、る。
[0218] 図 22 (a)に示すように、例えば井桁形状パターンで形成された隔壁 94に対して、 蛍光体材料を印刷塗布、焼成を実施し、隔壁 94の側壁面および誘電体層 93の表 面に蛍光体層 95を形成する。赤 (R)、緑 (G)、青 (B)発光の各蛍光体層 95の形成 には、上記 3色の蛍光体材料を RGB各放電セル単位にそれぞれ使用する。なお、 用いる蛍光体材料は、上記に特定するものではなぐ AC型 PDPで通常使用する材 料が適用できる。
[0219] Sen電極 121の延設方向(Y軸方向)に沿ってほぼ平行に形成した隔壁 94の表面 における Sen電極側傾斜部 94blには、蛍光体層 95を傾斜して形成している。同様 に、隔壁 94の表面における Sus電極側傾斜部 94b2にも、蛍光体層 95を傾斜して形 成している。また、蛍光体層 95は、その他の隔壁 94の側壁面および誘電体層 93の 表面にも形成ししている。
[0220] 本実施の形態に係る PDP7の製造方法での特徴は、背面パネル 90の加工面形成 工程が、 2次電子放出係数 γが蛍光体層 95よりも大きぐ且つ、蛍光体層 95の構成 材料とは異なる材料により、 Sen電極 121の各側縁辺カゝら背面基板 91の表面に向け て下ろす垂線で囲まれる領域において、蛍光体層 95の斜面部分 95a (図 21を参照 。)の少なくとも一部を含む部分に、蛍光体皮膜 96を形成する工程を有するものであ り、以下に詳述する。
[0221] 図 22 (b)に示すように、背面基板 91上に Dat電極 92、誘電体層 93、隔壁 94や蛍 光体層 95を順次形成した背面板加工面を、 S cn電極 121および Sus電極 122の延 設方向を Y軸方向(紙面垂直方向)に、 Dat電極 92の長軸方向を X軸方向(紙面水 平)に配置する。そして、背面板加工面に対して、 Sen電極 121の延設方向(Y軸方 向)と直交する方向から、 2次電子放出係数 γが蛍光体層 95よりも大きぐ且つ、これ を形成する蛍光体材料とは異なる材料を使用して、斜め蒸着方法により蛍光体皮膜 96を形成する。
[0222] 蛍光体皮膜 96の形成に用いる材料としては、例えば、 MgOを含む金属酸化物材 料をあげることができる。そして、蛍光体皮膜 96の形成は、上記材料を用い、電子ビ ーム蒸着法などの薄膜形成プロセスにより Sen電極 121の延設方向 (Y軸方向)と直 交する方向から、背面板加工面の法線方向(Z軸方向)からの傾斜角 Θの C方向から 斜め蒸着して形成する。斜め蒸着での蛍光体皮膜 96の形成に際しては、その膜厚 を数十 (ηπ!)〜 6000 (nm)の範囲となるようにする。なお、蛍光体皮膜 96の膜厚に 関しては、 100 (nm)〜3000 (nm)の範囲の値の薄膜とするのが望ましぐさらに極 薄膜として島状に形成してもよい。
[0223] 図 22 (c)に示すように、背面板加工面の放電セル内において、 Sen電極 121の延 設方向(Y軸方向)と直交する方向で、且つ、 Sus電極 122の側の隔壁 94を手前に 設けた遮蔽壁として利用し、 Sen電極 121の側の隔壁 94の底辺より手前の Sus電極 122の側には蒸着しないような傾斜角 Θで斜め蒸着する。このように、本実施の形態 に係る製造方法では、 Sus電極 122の側の隔壁 94を手前に設けた遮蔽壁として利 用し、 Sen電極 121の側の隔壁 94の底辺より Sus電極 122の側には蛍光体皮膜 96 が形成されない傾斜角 Θを設定することにより、斜め蒸着の傾斜角の値を適切な範 囲に設定することが可能となる。このようにして、隔壁 94の Sen電極側傾斜部 94b 1 に形成した蛍光体層 95の傾斜表面の少なくとも一部に蛍光体皮膜 96を形成し、蛍 光体層 95底面および隔壁 94の他の傾斜部 94b2の蛍光体層の表面には蛍光体皮 膜 96の形成を行わな 、ようにする。
[0224] 上記の製造方法では、蛍光体皮膜 96を蛍光体層 95の表面の一部(Sen電極側傾 斜部 94bl上の部分)に形成した背面パネル 90と、上記実施の形態 9のように、 Sen 電極 121と Sus電極 122とを交互に平行に延設した表示電極対 12を少なくとも有す る前面パネル 10とを、間に放電空間 30を挟んで対向配置し、放電セルを複数個配 列し形成して PDP7が構成される。なお、放電空間 30には、全圧に対する分圧比率 が高い状態で Xeを含む放電ガスを充填する。このようにして、高画質で高輝度の PD P7を歩留まりよく安定して製造することができる。
[0225] 本実施の形態に係る PDP7の製造方法では、背面板加工面の形成工程が、放電 セル内において、 2次電子放出係数 γが蛍光体層 95よりも大きぐ且つ、蛍光体層 9 5の材料とは異なる材料により、 Sen電極 121の延設方向に沿って形成した隔壁 94 の Sen電極側傾斜部 94bl上の蛍光体層 95の少なくとも一部表面に蛍光体皮膜 96 を形成する工程を有することにより、完成した PDP7の駆動において、初期化期間 T
1 に弱放電を安定して起こしやすく初期化輝点の発生を抑制する、且つ、維持期間 τ
3 における輝度の低下を抑えて高画質、高輝度と 、う優位性を有することが可能となる
[0226] また、本実施の形態に係る PDP7の製造方法では、 MgOを含む金属酸化物材料 を、電子ビーム蒸着法により、背面板加工面に対して、 Sen電極 121の延設方向と直 交する方向から、 Sus電極 122の側の隔壁 94を遮蔽壁とする傾斜角度で斜め蒸着 するという簡易な方法により、 Sen電極 121の延設方向に沿って形成した隔壁 94の S cn電極側傾斜部 94blの蛍光体層 95の表面の少なくとも一部を含む部分に、金属 酸ィ匕物材料を含んでなる蛍光体皮膜 96を形成することができる。そして、この製造方 法では、窪みの底面における蛍光体層 95、隔壁 94の Sus電極側傾斜部 94b2の蛍 光体層 95表面には蛍光体皮膜 96を形成しないようにするので、 PDP7の駆動にお いて、初期化期間 Tに弱放電を安定して起こしやすく初期ィ匕輝点の発生を抑制し、
1
且つ、維持期間 Tにおける輝度の低下を抑える高画質、高輝度の PDPを歩留まりよ
3
く安定して製造することができる。
[0227] (実施の形態 11)
実施の形態 11に係る PDPの製造方法について、図 23を用いて説明する。図 23は 、実施の形態 11に係る PDPの製造方法の内、背面パネル 90の一部を形成する別 の実施例の工程を示す工程概念図である。上記図 20および図 22を参照しながら、 実施の形態 10の製造方法のさらに具体的な実施例として、実施の形態 9に係る PD P7の背面パネル 90の一部を形成する工程について説明する。図 19〜22と同じもの には同じ参照番号を付与して 、て、簡略のために一部省略して 、る。
[0228] 図 23において、図示を省略する力 背面パネル 90における蛍光体層 95までを形 成した背面板カ卩工面 900fの放電セル単位の構成は、上記図 20 (b)、図 22 (a)と同 じである。図 23の拡大部分に示すように、井桁形状の隔壁 94には、 Sen電極 121の 延設方向に沿ってほぼ平行に形成した隔壁 94の側面を、 Sen電極側傾斜部 94b 1と している。同様に、 Sus電極 122の側の隔壁 94側面を、 Sus電極側傾斜部 94b2とし ている。
[0229] また、蛍光体層 95として、 Sen電極 121の延設方向(X軸方向)に沿ってほぼ平行 に形成した隔壁 94の Sen電極側傾斜部 94blの表面においては、蛍光体層 95を傾 斜して形成している。同様に、隔壁 94の Sus電極側傾斜部 94b2の表面においても、 蛍光体層 95を傾斜して形成して 、る。
図 23に示すように、電子ビーム蒸着装置(図示省略)内において、背面基板 91面 上に複数個の放電セル単位の背面板加工面 900fを形成配列した前段背面パネル 900を、背面板カ卩工面 900fを下側 (Z軸方向)にして水平に配置する。即ち、図 23に おいて、上記図 22 (a)における背面板カ卩工面を下側 (Z軸方向)に向けて配置し、 Sc n電極 121および Sus電極 122の延設方向を Y軸方向(紙面垂直方向)に、 Dat電極 92を X軸方向になるように前段背面パネル 900を配置する。
[0230] 図 23に示すように、前段背面パネル 900と、材料ターゲット 695および電子銃 577 との間には、 Sen電極 121の延設方向と平行方向(Y軸方向)に長軸方向を有する例 えば長方形状の穴である開口部 572hを設けた例えばメタルマスク 572を、材料ター ゲット 695と開口部 572hを結んだ線とメタルマスク 572の面法線 (背面板カ卩工面法 線)とが、ほぼ傾斜角 Θを有するように配置する。
[0231] 次に、前段背面パネル 900を Sen電極 121の延設方向(Y軸方向)と直交する X軸 方向へ、あるいは X軸方向から一定の速度で移動させながら、例えば MgOを含む金 属酸ィ匕物材料力もなる材料ターゲット 695に電子銃 577から電子ビームを照射し、傾 斜角 Θの下 «[方向から MgOを含む金属酸化物材料を斜め蒸着する。即ち、前段 背面パネル 900を一定速度で X軸方向に移動させながら、背面板カ卩工面 900fに対 して、メタルマスク 572の開口部 572hを介して、 Sen電極 121の延設方向と直交する 方向で、且つ、背面板加工面 900fの法線方向から傾斜角 Θを略維持して傾斜させ た方向から、電子ビーム蒸着法によって、 2次電子放出係数 γが蛍光体層 95よりも 大きぐ且つ、蛍光体層 95の材料とは異なる MgOを含む金属酸化物材料を斜め蒸 着することにより、高 γ部である蛍光体皮膜 96を形成する。
[0232] 以上のようにして、蛍光体皮膜 96を形成する工程は、背面板加工面 900fに対する 傾斜角 Θを略一定に維持して、前段背面パネル 900を一定速度で移動させながら、 背面板カ卩工面 900fに対して、 Sen電極 121の延設方向と直交する方向で、且つ、傾 斜した方向から斜め蒸着するという簡易な上記製造方法により、背面板加工面 900f の各放電セル単位に対して、 Sen電極 121の延設方向と直交する方向から、 Sus電 極 122の側の隔壁 94を遮蔽壁として一定の蒸着速度で一定の方向から斜め蒸着す ることになる。
[0233] 上記による簡易な製造方法によって、放電セルとして、隔壁 94の Sen電極側傾斜 部 94bl上の蛍光体層 95の少なくとも一部表面に、 2次電子放出係数 γが蛍光体層 95よりも大きぐ且つ、蛍光体層 95の材料とは異なる材料による蛍光体皮膜 96を形 成し、凹部の底面における蛍光体層 95の表面および隔壁 94の Sus電極側傾斜部 9 4b2上の蛍光体層 95の表面には蛍光体皮膜 96を形成せず、高輝度高画質の PDP を安定してかつ安価に製造することができる。
[0234] また、上記製造方法では、蛍光体皮膜 96を形成する工程が、背面板加工面 900f に対する傾斜角度 Θを略一定に維持したまま、前段背面パネル 900を一定速度で 移動させながら、背面板カ卩工面 900fに対して、 Sen電極 121の延設方向と直交する 方向で、且つ、傾斜した方向から斜め蒸着するという簡易な製造方法により、放電セ ル内において、蛍光体層 95の材料とは異なる 2次電子放出係数 γが大きい材料に より、 Sen電極 121の延設方向に沿う隔壁 94の Sen電極側傾斜部 94bl上の蛍光体 層 95の少なくとも一部に蛍光体皮膜 96を形成し、凹部の底面の蛍光体層 95表面お よび隔壁 94の Sus電極側傾斜部 94b2上の蛍光体層 95の表面には蛍光体皮膜 96 を形成しないので、完成した PDPの駆動において、初期化期間 Tに弱放電が安定
1
し初期ィ匕輝点の発生を抑え、かつ維持放電時の輝度の低下を抑制した、高輝度、高 画質と 、う優位性を有するパネルを、安定してかつ安価に製造することができる。
[0235] (実施の形態 12)
実施の形態 12に係る PDP8の構成について、図 24を用いて説明する。図 24は、 上記実施の形態 9の変形例として、実施の形態 12に係る PDP8の一部構成を示す 断面図および平面概念図である。図 20 (c)と同じ構成のものは同じ参照番号を付与 し、一部省略している。
[0236] 図 24 (a)に示すように、本実施の形態に係る PDP8が上記 PDP7と相違するのは、 蛍光体皮膜 1096の形成領域である。具体的には、 Sen電極 121におけるバス電極 12 lbの両側縁辺力も背面基板 1091の表面に向けて垂線を下ろすときに、蛍光体 皮膜 1096は、この蛍光体層 1095上における 2本の垂線で囲まれる領域 Kに形成さ れている。
[0237] 図 24 (b)〖こ示すように、 Sen電極 121のバス電極 121bと背面パネルに形成される 蛍光体層 1095の表面とが平面的に重なる領域 Kは、かなり緩やかな傾斜面になつ ている。このため、領域 Kの面積はかなり広い。蛍光体皮膜 1096を領域 Kにおける 蛍光体層 1095の表面上に設けることにより、 PDP8では、その駆動において、初期 放電時での Sen電極 121と Dat電極 1092との間で発生する放電に対して、蛍光体 皮膜 1096を強く寄与させることができ、放電開始電圧を安定して低下させ、弱放電 を安定して発生させることができる。また、例え蛍光体皮膜 1096が Sen電極 121や D at電極 1092と平面的に重ならない領域に形成されるものであっても、斜め方向の電 界で放電に寄与させることができる。
[0238] また、蛍光体皮膜 1096が、領域 Kにおける蛍光体層 95の表面上に限定して形成 されるので、蛍光体皮膜 1096による紫外放射の吸収が減少し、輝度を低下させるこ とがない。
以上により、本実施の形態に係る PDP8では、領域 Kにおける蛍光体層 1095の表 面領域に MgOを含む蛍光体皮膜 1096が形成されることにより、放電空間 30内の放 電ガス中における Xe分圧比率を上げても、 PDP8の駆動での初期化期間 Tにおい
1 て、 Sen電極 121と Dat電極 92との間において蛍光体層 1095側が力ソードとなる時 の放電開始電圧を低下させ、弱放電の発生をさらに安定化させ易くすることが可能と なる。
[0239] 従って、 PDP8では、特に全圧に対する Xe分圧比率を高い値に設定した場合にお いて、初期ィ匕輝点の発生をさらに抑えることができるようになって、さらに高い画質を 得ることができ、且つ、蛍光体皮膜 1096が領域 Kの蛍光体層 1095の表面上に限定 して形成されるので、蛍光体皮膜 1096による紫外放射の吸収が上記 PDP7に比べ てさらに減少し、輝度をさらに低下させることがなぐ特に高 Xeの放電ガスを採用した 場合において、放電ガス中の全圧に対する Xe分圧比率に応じて輝度を向上させるこ とがでさる。
[0240] なお、上記において、初期ィ匕輝点の発生を抑え、且つ、輝度の低下をさらに抑制 するという本発明の効果は、放電ガス中の全圧に対する Xe分圧比率を上げて封入さ れた PDPにおいて特に顕著である力 通常の 5 (%)〜6 (%)の Xe分圧比率を有す る PDPに対しても有効である。放電ガス中の全圧に対する Xe分圧比率が 5 (%)〜6 (%)の範囲にある従来の PDPの場合のように、低輝度ある!/、は消費電力が高!、か つ初期化期間 Tにおける弱放電が不安定な PDPであっても、上記本実施の形態に
1
係る構成を採用することによって、隔壁 1094の Sen電極側傾斜部(実施の形態 9な どを参照。)上の蛍光体層 1095の表面に蛍光体皮膜 1096を形成し、 Sus電極側傾 斜部(実施の形態 9などを参照。)や凹部の底面 (実施の形態 9などを参照。)におけ る蛍光体層 1095の表面などには蛍光体皮膜 1096を形成しないことにより、放電開 始電圧は下がるので初期化期間 Tでの弱放電を安定化させ改善することができ、且
1
つ、輝度の低下を抑制することができる。
[0241] また、上記 PDP8では、表示電極対 12を、前面基板 11の主面上において、透明電 極要素 121a、 122aとバスライン 121b、 122bとの積層構造のものを採用した力 前 面基板 11の主面上にバスライン 121b、 122bを先に形成し、その上に透明電極要素 121a, 122aを形成することとしても構わない。
(実施の形態 13)
実施の形態 13に係る PDP9の構成について、図 25を用いて説明する。図 25は、 P DP9の一部構成を示す断面図および平面概念図である。図 20 (c)および図 24と同 じ構成のものは同じ参照番号を付与し、一部省略している。
[0242] 図 25 (a)に示すように、本実施の形態に係る PDP9では、蛍光体皮膜 1196が上記 実施の形態 12に係る PDP8と同様に、 Sen電極 121におけるバスライン 121bの両 側縁辺から背面基板 1191の表面に向けて垂線を下ろすときに、この蛍光体層 1195 上における 2本の垂線で囲まれる領域に形成されているのである力 上記実施の形 態 12とは相違し、本実施の形態では、図 25 (b)に示すように、さらに、 X—Y平面に おいて、 Sen電極 121のバスライン 121bと Dat電極 1192とが重畳する領域 Eに限定 して設定されている。
[0243] このような構成を有する本実施の形態に係る PDP9では、上記実施の形態 9および 実施の形態 12に係る PDP7、 PDP8と同様の効果を有し、輝度の低下抑制という観 点からより望ましいものである。
(その他の事項)
なお、上記各実施の形態 9〜 13では、隔壁 94、 1094、 1194として、隣接放電セ ルとの境界周囲を仕切る隔壁を井桁形状のものを一例として適用したが、ミアンダ隔 壁のように波形凸凹形状で隣接放電セルとの境界周囲を仕切る隔壁でもよぐ Sen 電極 121の延設方向に沿う隔壁 94、 1094、 1194の形状が波形凸凹形状となって Vヽても同様に実施可能である。
[0244] また、上記各実施の形態 9〜13では、蛍光体皮膜 96、 1096、 1196を形成するェ 程力 背面板カ卩工面 900fに対して、 Sen電極 121の延設方向と直交する方向から 斜め蒸着することとしたが、 Sen電極 121の延設方向と略直交する方向としてよぐ直 交方向力も約 ± 30 (° )の範囲の方向力もでも構わない。
また、上記各実施の形態 9〜 13では、蛍光体皮膜 96、 1096、 1196の構成材料と して MgOを採用することとした力 この他に CaO、 BaO、 SrOおよび ZnOの内の少 なくとも一種を含んだ金属酸ィ匕物材料を使用しても構わない。また、これらには、他の 材料や不純物材料が含まれていてもよい。これら材料は、蛍光体層 95、 1095、 119 5を構成する蛍光体材料とは異なる材料であり、 2次電子放出係数 γが蛍光体層 95 よりも大きく高い値を有する材料として、本発明の蛍光体皮膜 96、 1096、 1196を形 成する材料として有用である。
[0245] また、高 γ部の形成に用いる材料としては、上記実施の形態 1〜13で用いたものを 適用することができるのである力 PDPにおける放電セル毎に高 γ部の構成材料を 買えることも可能である。例えば、 R、 G、 Bの放電セル間では、使われている蛍光体 材料などによって各々の蛍光体層の 2次電子放出係数 γに違いが生じる力 このよう な場合には、放電セルの蛍光体層に用いられる蛍光体材料種類に応じて高 γ部の 構成材料や被覆率などを変えるということも可能である。
[0246] また、上記各実施の形態 10、 11では、電子ビーム蒸着法により電子銃 577からの 電子ビーム照射により斜め蒸着することとしたが、電子銃 577の個数は複数個でもよ くこれらを基板に平行に配列させ、同様に平行に配列させた複数個の材料ターゲット 695に電子ビームをそれぞれ照射することによって、基板面により均一に蛍光体皮膜 96、 1096、 1196を形成することになるので、高輝度高画質の大画面、高精細な PD Ρを製造することがでさる。
[0247] また、上記各実施の形態 10、 11では、電子ビーム蒸着法により斜め蒸着するとして 説明したが、この他にスパッタ法ゃイオンガン蒸着法などの方法を使用しても同様に 実施可能である。
また、上記実施の形態 10、 11では、蛍光体皮膜 96、 1096、 1196を形成する工程 力 背面板加工面 900fに対する傾斜角度 Θを略一定に維持したまま、前段背面パ ネル 900を一定速度で X軸方向へ移動させながら斜め蒸着するとして説明したが、 基板を Y軸方向に往復させつつ X軸方向へ移動させながら斜め蒸着しても同様に実 施可能である。これにより、蛍光体皮膜 96、 1096、 1196をより均一に蒸着させること ができるので、より高画質、高精細のさらに均質な大画面 PDPを製造することができ る。
産業上の利用可能性
[0248] 本発明は、高 、発光効率と高!、画質性能との両立が要求される、特に大型のテレ ビジョンや高精細なテレビジョン、ある 1、は大型表示装置等を実現するのに有効であ る。

Claims

請求の範囲
[1] 第 1の基板と第 2の基板とが間に空間をあけて対向配置され、前記第 1の基板にお ける前記空間側の領域に蛍光体層が形成されてなるプラズマディスプレイパネルで あって、
前記蛍光体層の表面における一部領域には、前記蛍光体層を構成する蛍光体材 料よりも 2次電子放出係数が高い材料を構成要素として含む高ガンマ部が被覆形成 されており、
前記蛍光体層の表面における残りの領域と、前記高ガンマ部とは、ともに前記空間 を臨むプラズマディスプレイパネル。
[2] 請求項 1に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記高ガンマ部は、前記蛍光体層の表面において、斑点状または縞状に形成され ている。
[3] 請求項 1に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記高ガンマ部は、前記蛍光体層の表面に粒子状の材料が付着されることで形成 されている。
[4] 請求項 3に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記粒子の粒径は、 0. 05 μ m以上 20 μ m以下である。
[5] 請求項 4に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記粒子の 1次粒子の径は、 0. 05 μ m以上 1 μ m以下である。
[6] 請求項 4に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記粒子の 2次粒子の径は、 2 μ m以上 20 μ m以下である。
[7] 請求項 1に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記第 1の基板の表面上には、複数本の第 1電極が形成され、当該第 1電極を覆う ように誘電体層および前記蛍光体層が積層されてなり、
前記高ガンマ部は、前記第 1電極の積層上方領域を含む範囲に形成されている。
[8] 請求項 1に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記高ガンマ部は、前記蛍光体層の表面において偏在して形成されている。
[9] 請求項 8に記載のプラズマディスプレイパネルであって、 前記高ガンマ部は、前記第 1電極の表面に相当する部分に偏在して形成されてい る。
[10] 請求項 9に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記第 1の基板の表面上には、複数本の第 1電極が形成され、
前記第 2の基板の表面上には、前記第 1電極と交差する方向であって、互いに平 行な第 2電極および第 3電極で対をなす電極対が複数対形成されており、
前記高ガンマ部は、前記第 1電極と前記表示電極対とが立体的に交差する領域に 相当する部分又は当該領域付近に相当する部分で偏在して!/、る。
[11] 請求項 10に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記第 2電極と第 3電極とは、一方がスキャン電極であり、他方がサスティン電極で あって、
前記高ガンマ部は、前記第 1電極と前記スキャン電極とが立体的に交差する領域 に相当する部分に偏在している。
[12] 請求項 11に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記第 1電極、第 2電極および第 3電極には、各々に入力映像データに基づく電圧 が印加され、
前記入力映像データに基づき選択された放電セルでは、前記第 1電極と第 2電極 との間に電圧が印加されることによって書き込み放電が発生し、当該書き込み放電の 発生により壁電荷の形成がなされる。
[13] 請求項 1に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記第 1の基板の表面上には、複数本のデータ電極が形成され、
前記第 2の基板の表面上には、前記データ電極と交差する方向であって、互いに 平行なスキャン電極およびサスティン電極で対をなす電極対が複数形成されており、 前記スキャン電極の各側縁辺から前記第 1の基板の表面に対して垂線を下ろすと きに、
前記高ガンマ部は、前記蛍光体層の表面の内、前記垂線によって囲まれる領域に 存する部分を有する。
[14] 請求項 13に記載のプラズマディスプレイパネルであって、 前記第 1の基板には、前記複数のデータ電極を覆うように誘電体層が形成されると ともに、当該誘電体層の表面に、隣り合う前記データ電極どうしの間であって前記デ ータ電極と並行する方向に延び、当該第 1の基板の表面に向けて互いの間隔が狭ま つていく状態の斜面を有する隔壁が立設されており、
前記蛍光体層は、前記誘電体層の表面と隣り合う前記隔壁とに囲まれる各凹部の 壁面に形成されているものであって、
前記高ガンマ部は、前記垂線で囲まれる領域を含み、前記隔壁の斜面上に形成さ れた蛍光体層表面を覆う状態に形成されている。
[15] 請求項 13に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記第 1の基板には、前記複数のデータ電極を覆うように誘電体層が形成されると ともに、当該誘電体層の表面に、隣り合う前記データ電極どうしの間であって前記デ ータ電極と並行する方向に延びる第 1隔壁と、前記第 1隔壁に交差する方向であって 、前記第 2の基板に形成された隣り合う電極対どうしの間に延びる第 2隔壁とが立設 されているものであって、
前記蛍光体層は、前記誘電体層の表面と隣り合う前記第 1隔壁および前記第 2隔 壁とに囲まれる各凹部の壁面に形成されているものであって、
前記第 2隔壁は、前記第 1の基板の表面に向けて互いの間隔が狭まっていく状態 の斜面を有するものであって、
前記高ガンマ部は、前記垂線で囲まれる領域を含み、前記第 2隔壁の斜面上に形 成された蛍光体層表面を覆う状態に形成されている。
[16] 請求項 13に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記データ電極の各側縁辺から前記第 2の基板の表面に対して第 2の垂線を下ろ すときに、
前記高ガンマ部は、前記垂線と前記第 2の垂線とによって囲まれる領域に存する部 分を有する。
[17] 請求項 13に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記サスティン電極の各側縁辺から前記第 1の基板の表面に対して第 3の垂線を 下ろすときに、 前記蛍光体層の表面の内、前記第 3の垂線によって囲まれる領域は、前記空間を 臨んで 、る。
[18] 請求項 13に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記蛍光体層の表面の内、前記垂線によって囲まれる領域の外の領域は、前記空 間を臨んでいる。
[19] 請求項 13に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記高ガンマ部は、膜厚が lOOnm以上 3 /z m以下に設定されている。
[20] 請求項 1に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記高ガンマ部は、金属酸化物を含み構成されている。
[21] 請求項 20に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記金属酸化物は、 MgO、 CaO、 BaO、 SrO、 MgNOおよび ZnOの物質群の中 から選択される少なくとも 1種を含む。
[22] 請求項 20に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記金属酸化物は、 MgOおよび SrOの少なくとも一方を含む。
[23] 請求項 1に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記高ガンマ部は、カーボンナノチューブ、ナノファイバー、フラーレンおよび A1N の物質群の中から選択される少なくとも 1種を含み構成されて ヽる。
[24] 請求項 1に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記高ガンマ部は、 Pt、 Au、 Pd、 Mg、 Ta、 Wおよび Niの金属材料群の中力 選 択される少なくとも 1種を含み構成されている。
[25] 請求項 1に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記高ガンマ部は、 Ptおよび Mgの少なくとも 1種を含み構成されている。
[26] 請求項 1に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記高ガンマ部は、前記蛍光体層の表面に対して、 1%以上 50%以下の被覆率を 以つて形成されている。
[27] 請求項 1に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記高ガンマ部は、前記蛍光体層の表面に対して、 3%以上 20%以下の被覆率を 以つて形成されている。
[28] 第 1の基板と第 2の基板とが間に空間をあけて対向配置され、前記第 1の基板にお ける前記空間側の領域に蛍光体層が形成されてなるプラズマディスプレイパネルで あって、
前記蛍光体層の表面には、前記蛍光体層を構成する蛍光体材料よりも 2次電子放 出係数が高い材料を構成要素に含む皮膜状の高ガンマ部が被覆形成されており、 前記高ガンマ領域は、その膜厚が lnm以上 lOnm以下であるプラズマディスプレイ ノ ネノレ。
[29] 請求項 28に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記高ガンマ部は、金属酸化物を含み構成されている。
[30] 請求項 29に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記金属酸化物は、 MgOおよび SrOの少なくとも一方を含む。
[31] 請求項 29に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記金属酸化物は、 MgOを含み、
前記高ガンマ部は、前記金属酸化物を電子ビーム蒸着法を用い蒸着形成されたも のである。
[32] 請求項 1または請求項 28に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記第 1の基板と第 2の基板との間に形成された空間には、 Xeを含む放電ガスが 充填されており、
前記放電ガスの全圧に対する Xe分圧の比率は、 5%以上 100%以下である。
[33] 請求項 1または請求項 28に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記第 1の基板と第 2の基板との間に形成された空間には、 Xeを含む放電ガスが 充填されており、
前記放電ガスの全圧に対する Xe分圧の比率は、 5%以上 50%以下である。
[34] 第 1の基板と第 2の基板とが間に空間をあけて対向配置され、前記第 1の基板におけ る前記空間側の領域に蛍光体層が形成されてなるプラズマディスプレイパネルの製 造方法であって、
前記第 1の基板の上であって、前記第 2の基板と対向する側の表面部分に蛍光体 層を形成する蛍光体層形成ステップと、 前記蛍光体層の表面における一部領域に、前記蛍光体層を形成するのに用いた 蛍光体材料よりも 2次電子放出係数が高 ヽ材料を用いて、高ガンマ部を被覆形成す る高ガンマ領域形成ステップとを有し、
前記高ガンマ部形成ステップでは、蛍光体層の表面における残りの領域と前記高 ガンマ部とがともに前記空間を臨むように前記高ガンマ領域を形成するプラズマディ スプレイパネルの製造方法。
[35] 請求項 34に記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、
前記高ガンマ部形成ステップでは、スプレー法、分散堆積法あるいは電子ビーム蒸 着法の何れかを用いて、前記蛍光体層の表面に対して斑点状または縞状に皮膜を 形成することで、前記高ガンマ部を形成する。
[36] 請求項 34に記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、
前記高ガンマ部形成ステップでは、散布法、スプレー法、分散堆積法あるいは電着 法の何れかを用いて、前記蛍光体層の表面に対して粒子状の材料を付着させること で、前記高ガンマ部を形成する。
[37] 請求項 34に記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、
前記蛍光体層形成ステップでの前記蛍光体層の形成に先行して、前記第 1の基板 の表面上に、複数本の第 1電極を互いに平行に形成し、当該第 1電極を覆うように誘 電体層を積層形成するものであって、
前記高ガンマ部形成ステップでは、前記第 1電極の積層上方領域を含む範囲に前 記高ガンマ部を被覆形成する。
[38] 請求項 34に記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、
前記蛍光体層形成ステップでの前記蛍光体層の形成に先行して、第 1の基板の表 面上に、複数本の第 1電極を互いに平行に形成し、当該第 1電極を覆うように誘電体 層を積層形成し、
前記第 2の基板の表面上に、前記第 1電極と交差する方向であって、互いに平行な 第 2電極および第 3電極で対をなす電極対を複数対形成し、
前記高ガンマ部形成ステップでは、前記第 1電極と第 2電極とが交差する領域を含 む範囲に前記高ガンマ部を形成する。
[39] 請求項 34に記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、 前記高ガンマ部形成ステップでは、 MgOまたは SrOを含む材料を用いて前記高ガ ンマ部を形成する。
[40] 請求項 34に記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、
前記高ガンマ部形成ステップでは、カーボンナノチューブ、ナノファイバー、フラー レンおよび A1Nで構成される物質群の中カゝら選択される少なくとも 1種の材料を用い て前記高ガンマ部を形成する。
[41] 請求項 34に記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、
前記高ガンマ部形成ステップでは、 Ptまたは Mgを含む材料を用いて前記高ガン マ部を形成する。
[42] 請求項 34に記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、
前記高ガンマ部形成ステップでは、前記蛍光体層の表面に対する前記高ガンマ部 の被覆率を 3%以上 20%以下に規定する。
[43] 第 1の基板と第 2の基板とが間に空間をあけて対向配置され、前記第 1の基板におけ る前記空間側の領域に蛍光体層が形成されてなるプラズマディスプレイパネルの製 造方法であって、
前記第 1の基板の上であって、前記第 2の基板と対向する側の表面部分に蛍光体 層を形成する蛍光体層形成ステップと、
前記蛍光体層の表面に、前記蛍光体層を形成するのに用いた蛍光体材料よりも 2 次電子放出係数が高 ヽ材料を用いて、皮膜状の高ガンマ部を被覆形成する高ガン マ部形成ステップとを有し、
前記高ガンマ領域形成ステップでは、前記高ガンマ領域を lnm以上 10nm以下の 膜厚を以つて形成するプラズマディスプレイパネルの製造方法。
[44] 請求項 43に記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、
前記高ガンマ部形成ステップでは、電子ビーム蒸着法を用い、前記高ガンマ部を 蒸着形成する。
[45] 請求項 43に記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、
前記高ガンマ部形成ステップでは、 MgOまたは SrOを含む材料を用いて前記高ガ ンマ部を形成する。
[46] 請求項 34または請求項 43に記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法であつ て、
前記第 1の基板と第 2の基板との互いの外周部を封止する封止ステップと、 前記空間内に Xeを含む放電ガスを充填するガス充填ステップとを有し、 前記ガス充填ステップでは、 Xe分圧が 5%以上 50%以下に調整された放電ガスを 用いる。
[47] 請求項 34に記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、
前記高ガンマ部形成ステップでは、前記高ガンマ部の形成材料を帯電させるととも に、
前記帯電された形成材料を、静電力により前記蛍光体層の表面における前記一部 領域に堆積させる。
[48] 請求項 47に記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、
前記蛍光体層形成ステップにおける前記蛍光体層の形成に先行して、第 1の基板 の表面上に、複数本の第 1電極を互いに形成し、当該第 1電極を覆うように誘電体層 を積層形成するものであって、
前記高ガンマ部形成ステップでは、前記高ガンマ部の形成材料を正に帯電させる とともに、前記第 1電極に負の電圧を印加することにより、前記帯電状態の形成材料 を堆積させる。
[49] 請求項 48に記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、
前記高ガンマ部形成ステップでは、前記第 1電極への負の電圧の印加が、時間の 経過と共に負側に大きくなるように行われる。
[50] 請求項 49に記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、
前記高ガンマ部形成ステップでは、前記第 1電極への負の電圧の印加が、負側に 連続的または段階的に大きくなるように行われる。
[51] 請求項 47に記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、
前記高ガンマ部形成ステップでは、前記帯電された形成材料を、前記蛍光体層の 表面に向けて散布する。
[52] 請求項 47に記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、 前記高ガンマ部形成ステップでは、前記高ガンマ部の形成材料を、プラズマ中で 帯電させ、当該帯電された形成材料を、電子ビーム蒸着により堆積させる。
[53] 請求項 47に記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、
前記高ガンマ部形成ステップでは、前記高ガンマ部の形成材料に、プラズマビーム を照射させて帯電させ、当該帯電された形成材料を成膜することにより堆積させる。
[54] 請求項 47に記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、
前記高ガンマ部形成ステップでは、前記高ガンマ部の形成材料として、少なくとも MgOを含む材料を用いる。
[55] 請求項 34に記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、
前記蛍光体層形成ステップでの前記蛍光体層の形成に先行して、前記第 1の基板 の表面上に、複数本のデータ電極を互いに平行に形成し、当該データ電極を覆うよ うに誘電体層を積層形成し、前記誘電体層の表面上に、前記第 2の基板の側に向け て、隣り合う前記データ電極どうしの間で並行して延び、且つ、前記第 1の基板の表 面に向けて互!、の間隔が狭まって!/、く状態の斜面を有する隔壁を形成するものであ つて、
前記蛍光体層形成ステップでは、隣り合う前記隔壁間において、当該隔壁および 前記誘電体層とで構成される凹部の内壁面に対して、前記蛍光体層を形成し、 前記隔壁は、前記第 1の基板の主表面に向けて互いの間隔が狭まって行く状態の 斜面を有し、
前記第 2の基板の表面上には、前記データ電極と交差する方向であって、互いに 平行なスキャン電極およびサスティン電極で対をなす電極対が複数形成されており、 前記スキャン電極の各側縁辺から前記第 1の基板の表面に対して垂線を下ろすと きに、前記高ガンマ部形成ステップでは、前記垂線に対して交差する角度を以つて、 前記隔壁の斜面上における前記蛍光体層の表面に対して斜め蒸着法により前記高 ガンマ部の被覆形成を行う。
[56] 請求項 34に記載のプラズマディスプレイパネルであって、
前記第 2の基板の表面上には、前記データ電極と交差する方向であって、互いに 平行なスキャン電極およびサスティン電極で対をなす電極対が複数形成されており、 前記蛍光体層形成ステップでの前記蛍光体層の形成に先行して、前記第 1の基板 の表面上に、複数本のデータ電極を互いに平行に形成し、当該データ電極を覆うよ うに誘電体層を積層形成し、前記誘電体層の表面上に、前記第 2の基板の側に向け て、隣り合う前記データ電極どうしの間で並行して延びる第 1隔壁を形成し、且つ、前 記誘電体層の表面上に、前記第 2の基板の側に向けて、前記第 1隔壁に交差する方 向であって、前記第 2の基板に形成された隣り合う前記電極対どうしの間に延びる第 2隔壁を形成するものであって、
前記蛍光体層形成ステップでは、前記誘電体層および前記第 1隔壁および前記第 2隔壁とで構成される凹部の内壁面に対して、前記蛍光体層を形成し、
前記第 2隔壁は、前記第 1の基板の表面に向けて互いの間隔が狭まって行く状態 の斜面を有し、
前記スキャン電極の各側縁辺から前記第 1の基板の表面に対して垂線を下ろすと きに、前記高ガンマ部形成ステップでは、前記垂線に対して交差する角度を以つて、 前記第 2隔壁の斜面上における前記蛍光体層の表面に対して斜め蒸着法により前 記高ガンマ部の被覆形成を行う。
[57] 請求項 55または請求項 56に記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法であつ て、
前記高ガンマ部形成ステップでは、前記角度を維持した状態で、前記第 1の基板を その主面方向に搬送する。
[58] 請求項 55または請求項 56に記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法であつ て、
前記高ガンマ部形成ステップでは、 MgOを含む金属酸ィヒ物材料を用い、電子ビー ム蒸着法により前記高ガンマ部を膜状に形成する。
[59] 請求項 55または請求項 56に記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法であつ て、
前記高ガンマ部形成ステップでは、膜厚が lOOnm以上 3 m以下の膜状に前記 高ガンマ部を形成する。
[60] 請求項 55または請求項 56に記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法であつ て、
前記高ガンマ部形成ステップでは、前記蛍光体層の表面の内、前記垂線で囲まれ る領域の外の領域を、前記空間を臨む状態に維持する。
[61] 表面に電極と、当該電極を被覆する蛍光体層が形成された基板に対して、前記蛍 光体層の表面であつて前記電極の表面に相当する部分内に当該蛍光体層よりも 2 次電子放出係数が高い材料を以つて高ガンマ部を形成する形成装置であって、 前記高ガンマ部の形成に用いる形成材料を帯電させる帯電手段と、
帯電された前記形成材料を散布する散布手段と、
散布された形成材料を、前記蛍光体層の表面であって前記電極の表面に相当す る部分内に偏在して堆積させるために、前記電極に電圧を印加する印加手段とを備 える形成装置。
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