WO2004071992A1 - 誘電体磁器組成物及び電子部品 - Google Patents

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WO2004071992A1
WO2004071992A1 PCT/JP2004/001711 JP2004001711W WO2004071992A1 WO 2004071992 A1 WO2004071992 A1 WO 2004071992A1 JP 2004001711 W JP2004001711 W JP 2004001711W WO 2004071992 A1 WO2004071992 A1 WO 2004071992A1
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mol
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dielectric
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Yasuo Watanabe
Wataru Takahara
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Tdk Corporation
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Definitions

  • Patent Document 7 WO 02/00 5 6 8
  • the third subcomponent containing Mn oxide has a third subcomponent containing Mn oxide, and the ratio of the third subcomponent to 100 mol of the main component is 0 mol ⁇ third subcomponent in terms of Mn element in the oxide. ⁇ 5 monoles.
  • A1 a second subcomponent containing an oxide
  • An electronic component such as a chip capacitor according to the present invention has a dielectric layer composed of the dielectric ceramic composition according to the present invention (preferably, the dielectric ceramic composition manufactured by the method of the present invention). Therefore, it has excellent capacitance-temperature characteristics, suppresses low-frequency induction dispersion, improves the accelerated life of insulation resistance (high-temperature load life), and as a result, significantly improves the reliability of electronic components .
  • the internal electrode layer 3 is formed such that each end face is on the surface of the two opposite ends of the capacitor element body 10. It is laminated so that it is exposed alternately.
  • the pair of external electrodes 4 are formed at both ends of the capacitor element body 10 and connected to the exposed end faces of the alternately arranged internal electrode layers 3 to form a capacitor circuit.
  • part of the V oxide contained in the first subcomponent may be replaced with an oxide of a Group 5 element such as or Ta, or an oxide of a Group 6 element such as Cr, Mo, or W. Absent.
  • the dielectric ceramic composition of the present invention further includes a third subcomponent containing Mn oxide.
  • This third subcomponent has the effect of promoting sintering and the effect of improving the life, and also reduces the failure rate of the initial insulation resistance when the dielectric layer 2 is made thinner, for example, to about 4 ⁇ . It also has the effect of lowering.
  • the fourth subcomponent includes a composition formula ⁇ (B a z, C a ⁇ ) ⁇ S i ⁇ composite oxide represented by 2 (hereinafter, sometimes also referred to as BCG).
  • a composite oxide ⁇ (B a 2, C a ) O ⁇ S I_ ⁇ 2 has a low melting point, has good reactivity against the main component.
  • Composition formula as a more preferred embodiment of the fourth subcomponent
  • the dielectric layer 2 is composed of grains (dielectric particles) and a grain boundary phase.
  • the average particle diameter of the grains of the dielectric layer 2 is not particularly limited in the present invention, but is preferably about 0.1 to 5 tm.
  • the grain boundary phase of the dielectric layer 2 is usually mixed as an oxide of a material constituting the dielectric material or the internal electrode material, an oxidized material of a separately added material, or mixed as an impurity during the process. It is usually composed of glass or vitreous, with oxide of the material as a component.
  • the multilayer ceramic capacitor 1 using the dielectric porcelain composition of the present invention is prepared by manufacturing a green chip by a normal printing method using a paste and a sheet method, firing the green chip, and then printing or transferring an external electrode. It is manufactured by firing.
  • the manufacturing method will be specifically described.
  • the dielectric ceramic composition raw material contained therein is prepared.
  • the dielectric ceramic composition raw material includes a main component raw material and first to fourth subcomponent raw materials.
  • the starting materials e.g. S r COs, C a COs, T etc. i 0 2, Z r 0 2
  • the main ingredient material for producing the main ingredient material in addition to the at least a portion of the first byproduct content material to the final composition (e.g. V 2 0 5), second sub ingredient material (for example A 1 2 0 3), third sub ingredient material (for example, MnC0 3) and the fourth subcomponent material (e.g. (B a, C a) 2 S i A predetermined amount of O 2 + z ) is mixed and dried to prepare a raw material before calcining.
  • the starting materials e.g. S r COs, C a COs, T etc. i 0 2, Z r 0 2
  • the main ingredient material for producing the main ingredient material in addition to the at least a portion of the first byproduct content material to the final composition (e.g. V 2 0 5), second sub ingredient material (for example A 1 2 0 3), third sub ingredient
  • the calcination conditions are not particularly limited, but are preferably performed under the following conditions.
  • the rate of temperature rise is preferably 50 to 4 ° CZ hours, more preferably 100 to 300 ° CZ hours.
  • the holding temperature is preferably from 1000 to 1300 ° C.
  • the temperature holding time is preferably 0.5 to 6 hours, more preferably 1 to 3 hours.
  • the treatment atmosphere may be any of air, nitrogen and reducing atmosphere.
  • the dielectric layer paste and the internal electrode layer paste are laminated and printed on a substrate such as polyethylene terephthalate, cut into a predetermined shape, and then peeled off from the substrate. This is a green chip.
  • a green sheet is formed using a dielectric layer paste, an internal electrode layer paste is printed thereon, and these are laminated to form a green chip.
  • the obtained fired capacitor body is polished by, for example, barrel polishing or sand blasting, and the external electrode paste is printed or transferred and baked to form the external electrode 4. Then, if necessary, a coating layer (pad layer) is formed on the surface of the external electrode 4 by plating or the like.
  • a multilayer ceramic capacitor is illustrated as an electronic component according to the present invention.
  • the material is not limited to a densifier, and any material having a dielectric layer composed of the dielectric ceramic composition having the above composition may be used.
  • the starting materials for producing the main component materials and the first to fourth subcomponent materials are weighed and mixed such that the composition after firing has the mixing ratio shown in each sample in each table, and mixed.
  • powder before calcining was prepared.
  • the dielectric ceramic composition raw material thus obtained was mixed with an ataryl resin, ethyl acetate, mineral spirit and acetone by a ball mill to form a paste to obtain a dielectric layer paste.
  • Ni particles having an average particle size of 0.1 to 0.8 ⁇ , an organic vehicle, and butyl carbitol were kneaded with three rolls to form a paste, thereby obtaining a paste for an internal electrode layer.
  • a green sheet having a thickness of 6 ⁇ was formed on the PET film using the above-mentioned dielectric layer paste, and after printing the internal electrode layer paste on the green sheet, the green sheet was peeled off from the PET film.
  • the external electrode paste is transferred to the end face, and fired at 800 ° C. for 10 minutes in a humidified N 2 + H 2 atmosphere, and the external electrode paste is baked.
  • the electrodes were formed, and a sample of the multilayer ceramic capacitor having the configuration shown in Fig. 1 was obtained.
  • the size of each sample obtained in this way is 3.2 mm X 1.6 mm X 0.6 mm, the number of dielectric layers sandwiched between the internal electrode layers is 10, the thickness is 4 ⁇ , The thickness of the internal electrode layer was 2 // m. The following characteristics were evaluated for each sample.
  • the capacitance and dielectric loss (tan) of the capacitor sample were measured at a reference temperature of 25 ° C using a digital LCR meter (YHP 4274A) at a frequency of 1 MHz and an input signal level (measurement voltage) of lV rms. ⁇ , the unit is ./.). Regarding ta ⁇ ⁇ , all samples showed good values of 0.01% or less. Then, from the obtained capacitance, the electrode dimensions and the distance between the electrodes of the capacitor sample, the relative permittivity and the unit were calculated. The specific resistance ( ⁇ , unit: ⁇ cm) was measured after applying 50 V DC to the capacitor sample at 25 ° C using an insulation resistance tester (R 834 OA manufactured by Advantest) for 60 seconds.
  • R 834 OA insulation resistance tester
  • the relative dielectric constant ⁇ is an important characteristic for producing a small-sized and high-dielectric-constant capacitor.
  • the specific resistance ⁇ was set to 1 ⁇ 10 12 ⁇ cm or more.
  • Each of these values of the relative permittivity ⁇ , the specific resistance ⁇ , and the dielectric loss ta ⁇ ⁇ was obtained from the average value of the values measured using 10 capacitor samples ⁇ .
  • the addition of the first subcomponent as shown in each table is the number of moles of v 2 o 5 terms, the added amount of the second subcomponent is the number of moles of A 1 2 Os terms, third subcomponent ⁇ (4)
  • the number of moles of the fourth subcomponent is a number of moles in terms of oxide, and each is a number of moles relative to 100 moles of the final composition of the main component.
  • " ⁇ + ⁇ " means "mX 10 + n ".

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Description

誘電体磁器組成物及ぴ電子部品 ·
【0 0 0 1】
発明の属する技術分野
本発明は、 例えば積層セラミックコンデンサの誘電体層などとして用いられる '誘電体磁器組成物と、 該誘電体磁器組成物を誘電体層として用いる電子部品とに 関する。
【0 0 0 2】
背景技術
電子部品の一例である積層セラミックコンデンサは、 所定組成の誘電体磁器組 成物で構成してある誘電体層と、 各種金属を主成分とする内部電極層とが交互に 複数積層してあるコンデンサ素子本体を有する。 この種の積層セラミックコンデ ンサは、 通常、 誘電体磁器 a成物からなるグリーンシート上に導電ペーストを印 刷し、 該導電ペーストを印刷した複数枚のグリーンシートを積層し、 グリーンシ ートと内部電極とを一体的に焼成し、 形成される。
【0 0 0 3】
近年、 安価な卑金属 (例えばニッケルや銅など) を内部電極の材料に用いるた めに、 誘電体磁器組成物として、 種々の提案がなされている (例えば特許文献 1 〜4参照) 。
【0 0 0 4】
しかしながら、 いずれの誘電体磁器組成物でも、 焼成後の低周波での誘電特性 (容量変化、 誘電損失) が劣化するか、 あるいは焼成後の絶縁抵抗の加速寿命が 短くなることがあった。 このため、 該誘電体磁器組成物を用いてニッケルなどの 卑金属製内部電極を有する積層セラミックコンデンサを製造した場合に、 得られ る積層セラミックコンデンサの信頼性が低下する傾向にあった。
【0 0 0 5】
そこで、 優れた低周波誘電特性を有しつつ、 誘電体磁器組成物の絶縁抵抗の加 速寿命を長くし、 この誘電体磁器組成物を用いた積層セラミックコンデンサの信 頼性を向上させるために、 種々の提案がなされている (例えば特許文献 5〜7参 照)
【000 6】
特許文献 5では、 (C a i- x S r x ) m ' (Z r卜 y T i y ) 03 で示される 組成の誘電体酸化物 (但し、 0. 94≤m< l. 08、 0≤x≤ 1. 00、 0. 8≤ y≤ 1. 0 0) を主成分とし、 この主成分 1 00モルに対して、 0. 0 1〜 2モル (但し 2モルは除く) の V、 Nb、 W、 T a及び Moの少なくとも 1種の 酸ィ匕物と、 4モル未満の Mn〇2 と、 1 5モル未満の、 S i〇2 、 MO (但し、 Mは、 B a、 C a、 S r及ぴ M gから選ばれる少なくとも 1種の元素) 、 L i 2 O及ぴ B 2 03 の少なくとも 1種とを含有する誘電体磁器組成物が開示してある。
【000 7】
特許文献 6では、 (C a i- x S r x ) m ' (Z r y T i y ) 03 で示される 組成の誘電体酸化物 (但し、 0. 75≤m≤ l. 04、 0≤x≤ 1. 00、 0≤ y≤ 0. 1) を主成分とし、 この主成分 1 00モルに対して、 Vを除く、 Nb、 W、 T a及ぴ Moの少なくとも 1種の酸化物と、 0. 1〜: L 0モルの A 12 03 と、 0. 2〜5モノレの Mn02 と、 0. 5〜: 1 5モルの、 B aと C aと S iと O の複合酸ィヒ物とを含有する誘電体磁器組成物が開示してある。
【0008】
特許文献 7では、 (C a i- x S r x ) m * (Z r n T i y ) 03 で示される 組成の誘電体酸化物 (但し、 0. 8≤m≤ l . 3、 0≤ χ≤ 1. 00、 0. 1≤ y≤ 0. 8) を主成分とし、 この主成分 1 00モルに対して、 0. 0 1〜5モル の V、 Nb、 W、 T a及ぴ Moの少なくとも 1種の酸化物と、 0. 2〜 5モルの Mn〇2 と、 1 5モル未満の、 S i 02 、 MO (但し、 Mは、 B a、 C a、 S r 及ぴ Mgから選ばれる少なくとも 1種の元素) 、 : L i 2 O及ぴ B2 Oa の少なく とも 1種とを含有する誘電体磁器組成物が開示してある。
【000 9】
しかしながら、 これらの特許文献 5〜 7に記載の誘電体磁器組成物でも、 未だ、 十分な絶縁抵抗の加速寿命が得られないこともある。 その結果、 該誘電体磁器組 成物を用いてニッケルなどの卑金属製内部電極を有する積層セラミックコンデン サを製造した場合に、 該積層セラミックコンデンサの信頼性を改善できないこと があった。
【0010】
特許文献 1 特開平 1 1一 2 2 4 827号公報
特許文献 2 特開昭 60-1 3 1 708号公報
特許文献 3 特公昭 57— 3 7 0 8 1号公報
特許文献 4 特開昭 63-1 2 6 1 1 7号公報
特許文献 5 特開 2002— 8 0 278号公報
特許文献 6 特許第 2997 2 3 6号公報
特許文献 7 WO 02/00 5 6 8号公報
【001 1】
発明の開示
本発明の目的は、 優れた低周波誘電特性を有しつつ、 絶縁抵抗の加速寿命がよ り高められた耐還元性の誘電体磁器組成物と、 該誘電体磁器組成物を含み、 信頼 性がより高められたチップコンデンサなどの電子部品とを提供することである。
【0012】
上記目的を達成するために、 本発明によれば、
組成式 { (C a i-x Me κ ) O} m · (Z r i-y T i y ) 02 で示され、 該組 成式中の元素名を示す記号 Meが、 S r、 Mg及ぴ B aの少なくとも一つであり、 該組成式中の組成モル比を示す記号 m、 X及ぴ yが、 0. 8≤m≤l. 3, 0≤ x≤ 1. 00、 0≤y≤ 1. 00の関係にある誘電体酸化物を含む主成分と、
V酸化物を含む第 1副成分と、
A 1酸化物を含む第 2副成分とを、 有する誘電体磁器組成物であって、 前記主成分 100モルに対する各成分の比率が、
第 1副成分: 0モル <第 1副成分 < 7モル (但し、 V酸化物を V2 05 に換 算した値) 、
第 2副成分: 0モル <第 2副成分 < 1 5モル (但し、 A 1酸化物を A 12 O 3 に換算した値) 、 である誘電体磁器組成物が提供される。
【0013】 好ましくは、 Mn酸化物を含む第 3副成分を有し、 前記主成分 1 00モルに対 する前記第 3副成分の比率が、 酸化物中の Mn元素換算で、 0モル <第 3副成分 < 5モノレである。
【00 1 4】
好ましくは、 S i 02 を主成分とし、 MO (但し、 Mは、 B a、 C a、 S r及 ぴ Mgから選ばれる少なくとも 1種の元素) 、 L i 2 O及び B 2 03 から選ばれ る少なくとも 1種 (より好ましくは、 組成式 { (B a z , C a n ) O} v S i O2 で示され、 該組成式中の組成モル比を示す記号 z及ぴ vが、 0≤ ζ≤ 1及ぴ 0. 5≤ v≤4. 0の関係にある複合酸化物) を含む第 4副成分を有し、 前記主 成分 1 00モルに対する前記第 4副成分の比率が、 酸化物換算で、 0モルく第 4 副成分く 20モルである。
【00 1 5】
本発明によれば、
組成式 { (C a i-x Me x ) O} m · (Z r i T i y ) Oz で示され、 該組 成式中の元素名を示す記号 Meが、 S r、 Mg及ぴ B aの少なくとも一つであり、 該組成式中の組成モル比を示す記号 m、 X及ぴ yが、 0. 8≤m≤ l . 3, 0≤ x≤ 1. 00、 0≤y≤ 1. 00の関係にある誘電体酸化物を含む主成分と、
V酸化物を含む第 1副成分と、
A 1酸化物を含む第 2副成分と、
M n酸ィ匕物を含む第 3副成分と、
組成式 { (B a z , C a ) O} S i O2 で示され、 該組成式中の組成モ ル比を示す記号 z及ぴ Vが、 0≤ 2≤ 1及ぴ0. 5≤ v≤4. 0の関係にある複 合酸化物を含む第 4副成分とを、 有する誘電体磁器組成物であって、
前記主成分 1 00モルに対する各成分の比率が、
第 1副成分: 0モル <第 1副成分 < 7モル (但し、 V酸化物を V2 05 に換 算した値) 、
第 2副成分: ◦モル <第 2副成分 < 1 5モル (但し、 A 1酸化物を A 12 O 3 に換算した値) 、
第 3副成分: 0モル <第 3副成分 < 5モル (但し、 酸化物中の Mn元素換算 の値である) 、
第 4副成分: 0モル <第 4副成分 < 2 0モル (但し、 複合酸化物換算の値で ある) 、 である誘電体磁器組成物が提供される。
【0 0 1 6】
本発明に係る電子部品は、 誘電体層を有するものであれば、 特に限定されず、 例えば誘電体層と共に、 内部電極層とが交互に積層してある素子本体を有する積 層セラミックコンデンサである。 本発明では、 前記誘電体層が、 上記いずれかの 誘電体磁器組成物で構成してある。 内部電極層に含まれる導電材としては、 特に 限定されないが、 例えば N i又は N i合金などの卑金属が挙げられる。
【0 0 1 7】
発明の作用
本発明者らは、 耐還元性の誘電体磁器組成物に関し、 その絶縁抵抗の加速寿命 (=高温負荷寿命。 以下の説明では単に 「寿命」 と言うこともある) をより改善 するために鋭意検討を重ねた。 その結果、 特定組成の誘電体酸化物に対して、 少 なくとも V酸化物と A 1酸化物 (好ましくは、 さらに M n酸化物と特定の焼結助 剤と) を特定の割合で含有させた誘電体磁器組成物が、 従来組成の誘電体磁器組 成物と比較して、 寿命を大幅に向上させることができることを見出した。 寿命向 上の効果を生じる原因については、 必ずしも明らかではないが、 V酸化物と A 1 酸化物の相乗効果によるものと考えられる。 そして、 このような寿命が大幅に向 上した誘電体磁器組成物を用いた場合に得られる電子部品の信頼性を大幅に向上 させることができることを見出したものである。
【0 0 1 8】
すなわち、 本発明に係る誘電体磁器組成物では、 特定組成の誘電体酸化物を含 む主成分に対して、 少なくとも特定の第 1副成分及び第 2副成分を所定量含有さ せることにより、 焼成時の耐還元性に優れ、 焼成後には優れた容量温度特性を有 するとともに、 第 1副成分及び第 2副成分の双方を適量で含有させない場合に比 ベて、 低周波誘電分散 (例えば 1 6 0 °C、 1 0 O H Zのときの誘電損失) を抑制 しつつ、 絶縁抵抗の加速寿命 (高温負荷寿命) を大幅に改善することができる。
【0 0 1 9】 本発明に係るチップコンデンサなどの電子部品では、 本発明に係る誘電体磁器 組成物 (好ましくは、 本発明方法により製造された前記誘電体磁器組成物) で構 成してある誘電体層を有するので、 優れた容量温度特性を有し、 しかも低周波誘 電分散を抑制しつつ、 絶縁抵抗の加速寿命 (高温負荷寿命) が向上され、 その結 果、 電子部品の信頼性が大幅に向上する。
【0 0 2 0】 、
電子部品としては、 特に限定されないが、 セラミックコンデンサ、 積層セラミ ックコンデンサ、 チップパリスタ、 その他の表面実装 (S MD ) チップ型電子部 品が例示される。
【0 0 2 1】
図面の簡単な説明
図 1は本発明の一実施形態に係る積層セラミックコンデンサの断面図である。 図 1の符号は次の通りである。 1…積層セラミックコンデンサ、 1 0…コンデ ンサ素子本体、 2…誘電体層、 3…内部電極層、 4…外部電極。
【0 0 2 2】
発明を実施するための最良の形態
以下、 本発明を、 図面に示す実施形態に基づき説明する。
【0 0 2 3】
積層セラミックコンデンサ
図 1に示すように 本発明の一実施形態に係る積層セラミックコンデンサ 1は、 誘電体層 2と内部電極層 3とが交互に複数積層された構成のコンデンサ素子本体 1 0を有する。 コンデンサ素子本体 1 0の両端部には、 素子本体 1 0の内部で交 互に配置された内部電極層 3と各々導通する一対の外部電極 4が形成してある。 コンデンサ素子本体 1 0の形状に特に制限はないが、 通常、 直方体状とされる。 また、 その寸法にも特に制限はなく、 用途に応じて適当な寸法とすればよいが、 通常、 (0 . 4〜 5 . 6 mm) X ( 0 . 2〜 5 . 0 mm) X ( 0 . 2〜 1 . 9 m m) 程度である。
【0 0 2 4】
内部電極層 3は、 各端面がコンデンサ素子本体 1 0の対向する 2端部の表面に 交互に露出するように積層してある。 一対の外部電極 4は、 コンデンサ素子本体 10の両端部に形成され、 交互に配置された内部電極層 3の露出端面に接続され て、 コンデンサ回路を構成する。
【0025】
誘電体層 2は、 本発明の誘電体磁器組成物を含有する。
本発明の誘電体磁器組成物は、
少なくとも、
組成式 { (C a x Mex ) O} m · (Z r i-y T i y ) で示される誘電 体酸化物を含む主成分と、
V酸化物を含む第 1副成分と、
A 1酸化物を含む第 2副成分とを有する。 この際、 酸素 (O) 量は、 上記式の 化学量論組成から若干偏倚してもよい。
【0026】
上記式中、 Xは、 0≤χ≤ 1. 00である。 Xは記号 Me (但し、 Meは S r、 Mg及ぴ B aの少なくとも一つ。 中でも S rが好ましい。 ) の原子数を表し、 X、 すなわち記号 Me ZC a比を変えることで結晶の相転移点を任意にシフトさせる ことが可能となる。 そのため、 容量温度係数や比誘電率を任意に制御することが できる。 但し、 本発明においては、 C aと記号 Meとの比率は任意であり、 一方 だけを含有するものであってもよい。
【0027】
上記式中、 yは、 0≤y≤ l. 00、 好ましくは 0≤y≤0. 8、 特に好まし くは 0. l≤y≤0. 8である。 yは T i原子数を表すが、 T i〇2 に比べ還元 されにくい Z r 02 を置換していくことにより耐還元性がさらに増していく傾向 がある。
【0028】
上記式中、 mは、 0. 8 m≤ l. 3、 好ましくは 0. 970≤m≤ l. 03 0である。 mを 0. 8以上にすることにより還元雰囲気下での焼成に対して半導 体化を生じることが防止され、 mを 1. 3以下にすることにより焼成温度を高く しなくても緻密な焼結体を得ることができる。 【0 0 2 9】
本発明の誘電体磁器組成物が、 従来の誘電体磁器組成物と異なる点は、 yが特 に好ましくは 0 . l≤y≤0 . 8の範囲で、 少なくとも、 V酸ィ匕物を含む第 1副 成分と、 A 1酸化物を含む第 2副成分とを所定量添加することである。 少なくと も第 1副成分及び第 2副成分を所定量含有させることで、 主成分の yが特に好ま しくは 0 . l≤y≤0 . 8の範囲での誘電特性を劣化させることなく低温焼成が 可能となり、 誘電体層を薄層化した場合でも寿命の大幅アップが図られ、 引いて はコンデンサとしての信頼性を大幅に向上させることができる。
【0 0 3 0】
第 1副成分は、 高温負荷寿命を向上させる役割を果たす。 第 2副成分は、 焼成 温度を低下させ、 かつ高温負荷寿命を向上させる役割を果たす。
【0 0 3 1】
第 1副成分の主成分 1 0 0モルに対する比率は、 v2 o5 換算で、 0モル <第 1副成分ぐ 7モル、 好ましくは 0 . 0 1モル≤第 1副成分≤ 5モルである。 第 2 副成分の主成分 1 0 0モルに対する比率は、 A 1 2 03 換算で、 0モル <第 2副 成分く 1 5モル、 好ましくは 0 . 0 1モル≤第 2副成分≤ 1 0モルである。 第 1 副成分及び第 2副成分を所定量含有させることで、 主成分の yが特に好ましくは 0 . 1≤y≤ 0 . 8の範囲での誘電特性を劣化させることなく低温焼成が可能と なり、 誘電体層を薄層化した場合でも寿命の大幅アップが図られ、 引いてはコン デンサとしての信頼性を大幅に向上することができる。
【0 0 3 2】
なお、 第 1副成分に含まれる V酸化物の一部を、 や T aなどの 5族元素の 酸化物や、 C r、 M o、 Wの 6族元素の酸化物で置換しても構わない。
【0 0 3 3】
本発明の誘電体磁器組成物には、 M n酸化物を含む第 3副成分がさらに添加し てあることが好ましい。 この第 3副成分は、 焼結を促進する効果と寿命を改善す る効果を有し、 しかも誘電体層 2を例えば 4 μ πι程度に薄層化したときの初期絶 縁抵抗の不良率を低下させる効果も有する。
【0 0 3 4】 第 3副成分を添加する場合の該第 3副成分の前記主成分 100モルに対する比 率は、 酸化物中の Mri元素換算で、 好ましくは 0モル <第 3副成分く 5モル、 よ り好ましくは 0. 1モル≤第 3副成分≤ 4モルである。 第 3副成分の添加量が多 すぎると、 初期絶縁抵抗がとれない傾向があり、 第 3副成分の添加量が 0モル < 第 3副成分 < 5モルの範囲では、 添加量が多いほど、 寿命向上に寄与し、 しかも 初期 I R不良率の発生を低減でき、 添加量が少ないほど、 容量温度変化率を小さ くできる。
【0035】
本発明の誘電体磁器組成物には、 S i 02 を主成分とし、 MO (但し、 Mは、 B a、 Ca、 S r及ぴ Mgから選ばれる少なくとも 1種の元素) 、 L i 2 O及ぴ B2 Os から選ばれる少なくとも 1種を含む第 4副成分がさらに添カ卩してあるこ とが好ましい。 この第 4副成分は、 主として焼結助剤として作用するが、 誘電体 層 2を薄層化した際の初期絶縁抵抗 (I R) の不良率を改善する効果をも有する。
【0036】
好ましくは、 前記第 4副成分が、 組成式 { (B a z , C a ζ ) Ο} S i Ο 2 で示される複合酸化物 (以下、 BCGとも言うことがある) を含む。 複合酸化 物である { (B a 2 , C a ) O} S i〇2 は、 融点が低いため、 主成分に 対する反応性が良好である。 第 4副成分のより好ましい態様としての組成式
{ (B a , C a i ) O} v S i O2 において、 該組成式中の糸且成モル比を示 す記号 Vは、 好ましくは 0. 5≤ v≤4. 0であり、 より好ましくは 0. 5 v ≤ 2. 0である。 Vが小さすぎると、 すなわち S i 02 が多すぎると、 主成分と 反応して誘電体特性を悪化させてしまう。 一方、 Vが大きすぎると、 融点が高く なって焼結性を悪ィ匕させるため、 好ましくない。 なお、 B aと C aとの組成モル 比を示す記号 zは任意であり (0≤ζ≤ 1) 、 一方だけを含有するものであって もよいが、 好ましくは 0. 3≤ z≤0. 7である。
【0037】
第 4副成分を添加する場合の該第 4副成分の前記主成分 100モルに対する比 率は、 酸化物 (又は複合酸化物) 換算で、 好ましくは 0モル <第 4副成分 < 20 モル、 より好ましくは 0. 1モル≤第 4副成分≤ 15モルである。 第 4副成分を 少量でも添加することで、 初期 I R不良率の発生を低下させるのに効果的であり、 添加量を 20モル未満とすることで、 比誘電率の低下を抑え、 十分な容量を確保 できる。
【0038】
本発明の誘電体磁器組成物には、 Rの酸化物 (但し、 Rは、 S c、 Y、 L a、 C e、 P r、 Nd、 Pm、 Sm、 Eu、 Gd、 Tb、 Dy、 Ho、 E r、 Tm、 丫13及ぴ1^ 1の少なくとも一つの元素) を含む第 5副成分がさらに含有していて あよい。
【0039】
誘電体層 2の積層数や厚み等の諸条件は、 目的や用途に応じ適宜決定すればよ い。 また、 誘電体層 2は、 グレイン (誘電体粒子) と粒界相とで構成される。 誘 電体層 2のグレインの平均粒子径は、 本発明では特に限定されないが、 0. 1〜 5 t m程度であることが好ましい。 誘電体層 2の粒界相は、 通常、 誘電体材料あ るいは内部電極材料を構成する材質の酸化物や、 別途添加された材質の酸ィ匕物、 さらには工程中に不純物として混入する材質の酸化物を成分とし、 通常ガラスな いしガラス質で構成されている。
【0040】
内部電極層 3に含有される導電材は、 特に限定されないが、 誘電体層 2の構成 材料が耐還元性を有するため、 卑金属を用いることができる。 導電材として用い る卑金属としては、 N i又は N i合金が好ましい。 N i合金としては、 Mn, C r, C o及ぴ A 1から選択される 1種以上の元素と N i との合金が好ましく、 合 金中の N i含有量は 95重量%以上であることが好ましい。 なお、 «11又は^11 合金中には、 P, F e, Mg等の各種微量成分が 0. 1重量%程度以下含まれて いてもよい。 内部電極層の厚さは用途等に応じて適宜決定すればよいが、 通常、 0. 3〜3 μπι、 特に 0. 5〜2 ηι程度であることが好ましい。
【0041】
外部電極 4に含有される導電材は、 特に限定されないが、 通常、 0 1ゃ 合 金あるいは N iや N i合金等を用いる。 なお、 Agや Ag— P d合金等も、 もち. ろん使用可能である。 なお、 本実施形態では、 安価な N i, Cuや、 これらの合 金を用いる。 外部電極の厚さは用途等に応じて適宜決定されればよいが、 通常、
5〜5 0 程度であることが好ましい。
【0 0 4 2】
積層セラミックコンデンサの製造方法
本発明の誘電体磁器組成物を用いた積層セラミックコンデンサ 1は、 ペースト を用いた通常の印刷法ゃシート法によりグリーンチップを作製し、 これを焼成し た後、 外部電極を印刷又は転写して焼成することにより製造される。 以下、 製造 方法について具体的に説明する。
【0 0 4 3】
( 1 ) まず、 誘電体層用ペース ト、 内部電極用ペース ト、 外部電極用ペース ト をそれぞれ製造する。
【0 0 4 4】
誘電体層用ペース トを製造するに際しては、 まず、 これに含まれる誘電体磁器 組成物原料を準備する。 誘電体磁器組成物原料には、 主成分原料と、 第 1〜第 4 などの副成分原料が含まれる。
【0 0 4 5】
主成分原料としては、 組成式 { ( C a n M e ) O } m · ( Z r i -y T i y ) 02 で表される原料が用いられる。 この主成分原料は、 いわゆる固相法の他、 いわゆる液相法により得られるものであってもよい。 固相法は、 例えば、 S r C 03 、 C a C 0 3 、 T i 02 、 Z r 0 2 を出発原料として用いる場合、 これらを 所定量秤量して混合、 仮焼き、 粉砕することにより、 原料を得る方法である。 液 相合成法としては、 しゅう酸塩法、 水熱合成法、 ゾルゲル法などが挙げられる。
【0 0 4 6】
第 1副成分原料としては、 V酸化物及ぴ 又は焼成後に V酸化物になる化合物 が用いられる。 第 2副成分原料としては、 A 1酸化物及ぴ 又は焼成により A 1 酸化物になる化合物が用いられる。 第 3副成分原料としては、 Mn酸化物及ぴノ 又は焼成により M n酸化物になる化合物が用いられる。 第 4副成分原料としては S i 02 、 B a 0、 C a 0、 S r 0、 M g〇、 L i 2 0、 B 23 、 及ひ 又は 焼成によりこれらの酸化物になる化合物が用いられる。 ' 【0047】
誘電体磁器組成物原料の製造方法は、 本発明では特に限定されない。 例えば、 主成分原料を製造する際に、 前記出発原料に第 1〜第 4などの副成分原料を混合 しておき、 固相法や液相法などにより主成分原料を製造すると同時に誘電体磁器 組成物原料を得ることとしても良い (前添加) 。 あるいは、 ー且、 主成分原料を 固相法や液相法などにより製造した後、 該主成分原料に対して第 1〜第 4などの 副成分原料を混合させることによって、 誘電体磁器組成物原料を得ることとして もよい (後添加) 。
【0048】
以下、 固相法 (例えば仮焼き法) により主成分原料を製造する際に、 第 1〜第 4副成分原料を混合させて誘電体磁器組成物原料を得る方法 (前添加) を例に採 り説明する。
【0049】
まず、 主成分原料を製造するための出発原料 (例えば S r COs 、 C a COs 、 T i 02 、 Z r 02 など) の他に、 最終組成に対する少なくとも一部の第 1副成 分原料 (例えば V2 05 ) 、 第 2副成分原料 (例えば A 12 03 ) 、 第 3副成分 原料 (例えば MnC03 ) 及び第 4副成分原料 (例えば (B a, C a) 2 S i O 2 + z) を所定量枰量して混合、 乾燥することにより、 仮焼き前原料を準備する。
【0050】
次に、 準備された仮焼前粉体を仮焼きする。 仮焼き条件は、 特に限定されない が、 次に示す条件で行うことが好ましい。 昇温速度は、 好ましくは 50〜 4◦ 0 °CZ時間、 より好ましくは 100〜 300°CZ時間である。 保持温度は、 100 0〜 1300 °Cが好ましい。 温度保持時間は、 好ましくは 0. 5〜 6時間、 より 好ましくは 1〜3時間である。 処理雰囲気は、 空気中、 窒素中及ぴ還元雰囲気中 の何れでも構わない。
【0051】
仮焼きされた仮焼済粉末は、 アルミナロールなどにより粗粉砕された後、 必要 に応じて、 残りの添加物 (第 1〜第 4副成分原料の残部も含む) を添加して、 最 終a成にする。 その後、 この混合粉末を、 必要に応じて、 ボールミルなどによつ て混合し、 乾燥することによって、 本発明の組成を持つ誘電体磁器組成物原料 (粉末) を得る。
【0 0 5 2 1
次に、 この誘電体磁器組成物原料を塗料化して、 誘電体層用ペース トを調製す る。 誘電体層用ペース トは、 誘電体磁器組成物原料と有機ビヒクルとを混練した 有機系の塗料であってもよく、 水系の塗料であってもよい。
【0 0 5 3】
誘電体磁器組成物原料としては、 上記した酸化物やその混合物、 複合酸化物を 用いることができるが、 その他、 焼成により上記した酸化物や複合酸化物となる 各種化合物、 例えば、 炭酸塩、 シユウ酸塩、 硝酸塩、 水酸化物、 有機金属化合物 等から適宜選択し、 混合して用いることもできる。 誘電体磁器組成物原料中の各 化合物の含有量は、 焼成後に上記した誘電体磁器組成物の組成となるように決定 すればよレ、。
【0 0 5 4】
塗料化する前の状態で、 誘電体磁器組成物粉末の粒径は、 通常、 平均粒径 0 . 1〜 3 μ πι程度である。
【0 0 5 5】
有機ビヒクルとは、 パインダを有機溶剤中に溶解したものである。 有機ビヒク ルに用いるパインダは特に限定されず、 ェチルセルロース、 ポリビュルプチラー ル等の通常の各種バインダから適宜選択すればよい。 また、 用いる有機溶剤も特 に限定されず、 印刷法やシート法など、 利用する方法に応じて、 テルビネオール、 プチルカルビトール、 アセトン、 トルエン等の各種有機溶剤から適宜選択すれば よい。
【0 0 5 6】 '
誘電体層用ペーストを水系の塗料とする場合には、 水溶性のパインダゃ分散剤 などを水に溶解させた水系ビヒクルと、 誘電体原料とを混練すればよい。 水系ビ ヒクルに用いる水溶性バインダは特に限定されず、 例えば、 ポリビエルアルコー ル、 セルロース、 水溶性アクリル樹脂などを用いればよい。
【0 0 5 7】 内部電極用ペーストは、 各種導電性金属や合金からなる導電材料あるいは焼成 後に上述した導電材料となる各種酸ィヒ物、 有機金属化合物、 レジネート等と、 上 述した有機ビヒクルとを混練して調製される。
【0 0 5 8】
外部電極用ペーストも、 この内部電極用ペーストと同様にして調製される。 【0 0 5 9】
( 2 ) 印刷法を用いる場合は、 誘電体層用ペース ト及ぴ内部電極層用ペース ト をポリエチレンテレフタレ一ト等の基板上に積層印刷し、 所定形状に切断したの ち基板から剥離することでグリーンチップとする。 これに対して、 シート法を用 いる場合は、 誘電体層用ペーストを用いてグリーンシートを形成し、 この上に内 部電極層用ペーストを印刷したのちこれらを積層してグリーンチップとする。
【0 0 6 0】
( 3 ) 次に、 このグリーンチップを脱バインダ処理及び焼成してチップ焼結体 とした後、 ァニール (熱処理) を施してコンデンサ焼成体を得る。
【0 0 6 1】
( 4 ) 次に、 得られたコンデンサ焼成体に、 例えば、 バレル研磨やサンドブラ ストにより端面研磨を施し、 外部電極用ペーストを印刷又は転写して焼成し、 外 部電極 4を形成する。 そして、 必要に応じて外部電極 4の表面にメツキ等により 被覆層 (パッド層) を形成する。
【0 0 6 2】
このようにして製造された本実施形態のセラミックコンデンサ 1は、 はんだ付 け等によってプリント基板上に実装され、 各種電子機器に用いられる。
【0 0 6 3】
以上、 本発明の実施形態について説明してきたが、 本発明はこうした実施形態 に何等限定されるものではなく、 本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々 なる態様で実施し得ることは勿論である。
【0 0 6 4】
例えば、 上述した実施形態では、 本発明に係る電子部品として積層セラミック コンデンサを例示したが、 本発明に係る電子部品としては、 積層セラミックコン デンサに限定されず、 上記組成の誘電体磁器組成物で構成してある誘電体層を有 するものであれば何でも良い。
【0065】
実施例
次に、 本発明の実施の形態をより具体化した実施例を挙げ、 本発明をさらに詳 細に説明する。 但し、 本発明は、 これらの実施例のみに限定されるものではない。
【0066】
本実施例では、 以下に示す手順で積層セラミックコンデンサのサンプルを作製 した。
【0067】
各ペーストの調製
まず、 それぞれ平均粒径 0. l〜l /i mの、 主成分原料を製造するための出発 厚料 (S r COs 、 C a COa 、 T i 02 、 Z r〇2 ) と、 第 1〜第 4副成分原 料を用意した。 本実施例では、 MnOの原料には炭酸塩 (第 3副成分: MnCO 3 ) を用い、 他の原料には酸化物 (第 1副成分: V2 05 、 第 2副成分: A 12 03 、 第 4副成分: (B a 0. 6 C a。.4 ) S i 03 (表では、 B C Gと記載して ある) ) を用いた。 なお、 (B a 0. β G a。· 4 ) S i Oa は、 B a COs , C a C03 及ぴ S i O2 をポールミルにより 16時間湿式混合し、 乾燥後、 1000 〜1 300°Cで空気中で焼成し、 さらに、 ボールミルにより 100時間湿式粉碎 することにより製造した。
【0068】
次に、 主成分原料を製造するための出発原料と、 第 1〜第 4副成分原料とを、 焼成後の組成が各表の各試料に示す配合比となるように秤量して混合し、 乾燥す ることにより、 仮焼前粉体を準備した。
【0069】
次に、 この仮焼前粉体を仮焼した。 仮焼き条件は、 以下の通りであった。 昇温 速度: 3◦ 0°Cノ時間、 保持温度: 1000~1 300°C、 温度保持時間: 2時 間、 雰囲気:空気中。
【0070】 次に、 仮焼によって得られた材料をアルミナロールで粉砕して、 仮焼き済粉体 (誘電体磁器組成物原料) を得た。
【0071】
次に、 得られた誘電体磁器組成物原料に、 アタリル樹脂、 酢酸ェチル、 ミネラ ルスピリット及ぴァセトンを、 ボールミルで混合してペース ト化し、 誘電体層用 ペーストを得た。
【0072】
平均粒径 0. 1〜0. 8 μπιの N i粒子と、 有機ビヒクルと、 ブチルカルビト 一ルとを 3本ロールにより混練してペースト化し、 内部電極層用ぺ一ストを得た。
【0073】
平均粒径 0. 5 μπιの Cu粒子と、 有機ビヒクルと、 プチルカルビトールとを 混練してペースト化し、 外部電極用ペーストを得た。
【0074】
グリーンチップの作製
次いで、 上記誘電体層用ペーストを用いて PETフィルム上に、 厚さ 6 μπιの グリーンシートを形成し、 この上に内部電極層用ペーストを印刷したのち、 PE Tフィルムからグリーンシートを剥離した。
【0075】
次いで、 これらのグリーンシートと保護用グリーンシート (内部電極層用ぺー ストを印刷しないもの) とを積層、 圧着してグリーンチップを得た。 内部電極を 有するシートの積層数は 10層とした。
【0076】
次いで、 グリーンチップを所定サイズに切断し、 脱パインダ処理、 焼成及ぴァ ニール (熱処理) を行って、 積層セラミック焼成体を得た。 脱バインダ処理は、 昇温時間 15でノ時間、 保持温度 280°C、 保持時間 8時間、 空気雰囲気の条件 で行った。 また、 焼成は、 昇温速度 200°0 時間、 保持温度:各表参照、 保持 時間 2時間、 冷却速度 300°CZ時間、 加湿した N 2 +H2 混合ガス雰囲気 (酸 素分圧は 2 X 10— 7〜5 X 10— 4P a内に調節) の条件で行った。 ァュ一ルは、 保持温度 900°C、 温度保持時間 9時間、 冷却速度 300°CZ時間、 加湿した N 2 ガス雰囲気 (酸素分圧は 3. 54X 10— 2 P a) の条件で行った。
【0077】
なお、 焼成及びァニールの際の雰囲気ガスの加湿には、 ウェッターを用いた。 【0078】
次いで、 積層セラミック焼成体の端面をサンドブラストにて研磨したのち、 外 部電極用ペーストを端面に転写し、 加湿した N2 +H2 雰囲気中において、 80 0°Cにて 10分間焼成して外部電極を形成し、 図 1に示す構成の積層セラミック コンデンサのサンプルを得た。 このようにして得られた各サンプルのサイズは、 3. 2mmX 1. 6mmX 0. 6 mmであり、 内部電極層に挟まれた誘電体層の 数は 10、 その厚さは 4 μπιであり、 内部電極層の厚さは 2 //mであった。 各サ ンプルについて下記特性の評価を行った。
【0079】
比誘電率 ( £ ) 、 誘電損失 ( t a n δ ) 、 比抵抗 ( ρ )
コンデンサのサンプルに対し、 基準温度 25°Cでデジタル LCRメータ (YH P社製 4274A) にて、 周波数 1MHz, 入力信号レベル (測定電圧) lV r m sの条件下で、 静電容量及び誘電損失 ( t a n δ、 単位は。/。) を測定した。 t a ϋ δについては、 いずれの試料も 0. 01 %以下と良好な値を示した。 そして、 得られた静電容量と、 コンデンササンプルの電極寸法及び電極間距離とから、 比 誘電率 、 単位はなし) を算出した。 比抵抗 (ρ、 単位は Ω cm) は、 絶縁抵 抗計 (アドバンテスト社製 R 834 OA) を用いて、 25°Cにおいて DC 50 V を、 コンデンササンプルに 60秒間印加した後に測定した。 結果を各表に示す。 評価として、 比誘電率 εは小型で高誘電率のコンデンサを作成するために重要な 特性であり、 45以上を良好とした。 比抵抗 ρは 1 X 1012Ω cm以上を良好と した。 これら比誘電率 ε、 比抵抗 ρ及び誘電損失 t a η δのそれぞれの値は、 コ ンデンサの試料数 η= 10個を用いて測定した値の平均値から求めた。
【0080】
高温負荷寿命 (絶縁抵抗の加速寿命)
コンデンサのサンプルに対し、 200°Cで 50 VZi mの直流電圧の印加状態 に保持することにより、 高温負荷寿命を測定した。 この高温負荷寿命は、 10個 のコンデンササンプルについて行い、 平均寿命時間を測定することにより評価し た。 結果を各表に示す。 評価として、 高温負荷寿命は、 誘電体層を薄層化する際 に特に重要となるものであり、 印加開始から抵抗が一桁落ちるまでの時間を寿命 と定義した。
【0081】
静電容量の温度特性
コンデンサのサンプルに対し、 LCRメータを用いて、 l kHz、 IVの電圧 での静電容量を測定し、 基準温度を 20°Cとしたとき、 20〜85°Cの温度範囲 内で、 温度に対する静電容量変化率が— 3000〜0 p pmZ°Cを満足するかど うかを調べた。 その結果、 いずれのサンプルも満足できることが確認された。
【0082】
なお、 各表に示される第 1副成分の添加量は v2 o5 換算のモル数であり、 第 2副成分の添加量は A 12 Os 換算のモル数であり、 第 3副成分及ぴ第 4副成分 のモル数は酸化物換算でのモル数であり、 かついずれも主成分の最終組成 100 モルに対するモル数である。 また各表の比抵抗 (P) の値において、 「ιηΕ + η」 は 「mX 10+n」 を意味する。
【0083】
Figure imgf000021_0002
Figure imgf000021_0001
【0 0 8 4】
表 2
Figure imgf000022_0001
ただし、 主成分の組成式- { (Cai_xSrx) 0}m- (Zri_yTiy) 02
主成分の m=l、 x=0.4、 y=0.2、組成- (Ca0. 6Sr0.4) θ· (Zr0. 8Ti0. 2) 02 第 1副成分- V205、モル数 =0. 2モル
第 2副成分 =A1203、モル数 =0. 3モル
第 3副成分の元素 =Mn
第 4副成分の元素 =BCG
主成分 焼成温度 比抵抗 高温負荷寿命
試料畨 ε
X y m 組成 °C Ω 'cm h
34 実施例 0 0 1 CaZr03 1400 6.9E+14 2149 28
Figure imgf000023_0001
35 実施例 1 0 1 SrZrOg 1360 4.7E+14 1933 30
36 実施例 0.3 0.1 1 (Ca0. 7Sr0. 3) Ο· (Zr0. 9Ti0. 02 1320 4.4E+14 1427 31
15 実施例 0.4 0.2 1 (Ca0. 6Sr。. 4) O (Zr。. 8Ti0. 2) 02 1280 3.9E+14 1293 55
37 実施例 0.3 0.3 1 (Ca0. 7Sr0. 3) 0· (Zr0. 7Ti0. 3) 02 1270 9.7E+13 1276 66
38 実施例 0.7 0.3 1 (Ca0. 3Sr0. 7) O · (Zr0. 7Ti0. 3) 02 1260 6.3E+13 1202 71
39 実施例 0.3 0.7 1 (Ca0. 7Sr0. 3) O' (Zr0. 3Ti0. 7) 02 1250 1.5E+13 1150 148
40 実施例 0.7 0.7 1 (Ca0. 3Sr0. 7) O (Zr0. 3Ti0. 7) 02 1220 3.8E+12 1088 170
41 実施例 0.3 0.8 1 (Ca0. 7Sr0. 3) Ο· (Zr0. 2Ti。. 8)〇2 1240 6.1E+12 1119 160
42 実施例 0.3 0.9 1 (Ca0. 7Sr0. 3) Ο· (Zr0. iTi0. 9) 02 1230 5.3E+12 1093 169
43 実施例 0 1 1 CaTi03 1210 2.6E+12 1044 172
44 実施例 1 1 1 SrTi03 1200 1.2E+12 1007 277
第 1副成分 =v2o5. モル数 =0. 2モノレ
第 2副成分 =A120£ モノレ数 =0. 3モノレ
第 3副成分の元素 =: Mn、モル数 =0. 7モル
第 4副成分の元素 = BCG、モル数 =2モル
【0086】
表 1に示すように、 まず、 第 1副成分及ぴ第 2副成分の添加の有無に関し、 第 1副成分が含まれていないと (試料番号 1〜2) 、 高温負荷寿命時間が極端に短 い。 第 1副成分が含まれていても、 第 2副成分が含まれていないと (試料番号 3) 、 高温負荷寿命時間が十分でない。 これに対し、 第 1副成分及び第 2副成分 の双方が含まれていると (試料番号 4〜20) 、 高温負荷寿命時間がアップする。
【0087】
また、 第 1副成分及び第 2副成分の添加量に関し、 Vの添加量が多すぎたり (試料番号 1 8) 、 A 1の添加量が多すぎると (試料番号 1 1) 、 第 2副成分は 含まれていないが、 第 1副成分が適量含まれている試料番号 3と比較して、 高温 負荷寿命時間の大幅アップが図れない (試料番号 3と比較して 1. 5〜2. 5倍 程度しかアップしない) 。 なお、 A 1の添加量が多すぎると (試料番号 11) 、 εが低下する傾向がある。 これに対し、 第 1副成分及ぴ第 2副成分を所定量含有 する試料番号 4〜10, 12〜1 7, 1 9〜20では、 十分な比誘電率と比抵抗 を有し、 還元雰囲気での焼成においても還元されず、 また内部電極材料である- ッケルも酸化せず、 耐還元性に優れた誘電体磁器組成物が得られていることが確 認できた。 また、 容量温度特性が優れており、 しかも低周波誘電分散を抑制でき (10 OH ζ、 1 60°Cにおける t a η δが小さレヽ) 、 高温負荷寿命 (絶縁抵抗 の加速寿命) を大幅にアップできること (例えば、 試料番号 3と比較して約 4倍 以上) が確認できた。
【0088】
表 2に示すように、 第 3副成分及ぴ第 4副成分の含有の有無に関し、 第 3副成 分が含まれていないと (試料番号 21) 、 高温負荷寿命時間のアップ率が少なく なる傾向がある。 第 3副成分が含まれていても、 第 4副成分が含まれていないと (試料番号 27) 、 1400 °Cという高温で焼成しないと、 高温負荷寿命時間を 十分にアップさせることができない傾向がある。 第 3副成分も第 4副成分も含ま れていないと (試料番号 33) 、 高温負荷寿命時間のアップ率が少なくなる傾向 がある。 しかしながら、 これらの試料番号 21, 27, 33のいずれも、 第 1副 成分と第 2副成分を適量、 含有しているので、 表 1に示す試料番号 1〜 3のごと き、 第 1副成分及び第 2副成分の少なくとも一つが含まれていない場合と比較し て、 高温負荷寿命時間が向上している。
【0089】
また、 第 3副成分及び第 4副成分の含有量に関し、 Mnの添加量が多すぎたり (試料番号 26) 、 BCGの含有量が多すぎると (試料番号 32) 、 高温負荷寿 命時間のアップ率が少なくなる傾向がある。 これに対し、 第 3副成分及ぴ第 4副 成分を所定量含有する試料番号 22〜25, 28〜 31では、 高温負荷寿命 (絶 縁抵抗の加速寿命) を大幅にアップできること (例えば、 試料番号 26と比較し て 2倍以上) が確認できた。 なお、 BCGの添加量が多すぎると (試料番号 3 2) 、 εが低下する傾向がある。
【0090】
表 3に示すように、 主成分の記号 m、 X及ぴ yを変化させた場合でも、 高温負 荷寿命 (絶縁抵抗の加速寿命) を大幅にアップできることが確認できた。 特に、 yが、 0. l ^y^O. 8の範囲で、 高温負荷寿命時間の改善効果が高いことが 確認できた (試料番号 36〜41、 試料番号 15参照) 。
【0091】
産業上の利用可能性
本発明によれば、 優れた低周波誘電特性を有しつつ、 絶縁抵抗の加速寿命がよ り高められた耐還元性の誘電体磁器組成物と、 該誘電体磁器組成物を含み、 信頼 性がより高められたチップコンデンサなどの電子部品とを提供することができる。

Claims

請求の範囲
1. 組成式 { (C a x Me x ) O} m · (Z r i-y T i y ) O2 で示され、 該組成式中の元素名を示す記号 Meが、 S r、 Mg及ぴ B aの少なく とも一つであり、 該組成式中の組成モル比を示す記号 m、 X及ぴ yが、 0. 8≤ m≤ 1. 3、 0≤x≤ 1. 00、 0≤y≤ 1. 00の関係にある誘電体酸化物を 含む主成分と、
V酸化物を含む第 1副成分と、
A 1酸化物を含む第 2副成分とを、 有する誘電体磁器組成物であって、 前記主成分 100モルに対する各成分の比率が、
第 1副成分: 0モル <第 1副成分 < 7モル (但し、 V酸化物を V2 に換 算した値) 、
第 2副成分: 0モルく第 2副成分く 15モル (但し、 A 1酸化物を A 12 O に換算した値) 、
である誘電体磁器組成物。
2. Μη酸ィヒ物を含む第 3副成分を有し、 前記主成分 100モルに 対する前記第 3副成分の比率が、 酸化物中の Μη元素換算で、 0モル <第 3副成 分 < 5モルである請求項 1に記載の誘電体磁器組成物。
3. S i O2 を主成分とし、 MO (但し、 Mは、 B a、 C a、 S r 及ぴ Mgから選ばれる少なくとも 1種の元素) 、 L i 2 O及ぴ B2 O 3 から選ば れる少なくとも 1種を含む第 4副成分を有し、 前記主成分 100モルに対する前 記第 4副成分の比率が、 酸化物換算で、 0モル <第 4副成分 < 20モルである請 求項 2に記載の誘電体磁器組成物。
4. 組成式 { (B a z , C an ) O} v S i〇2 で示され、 該組 成式中の組成モル比を示す記号 z及ぴ vが、 0≤ 2≤ 1及ぴ0. 5≤v≤4. 0 の関係にある複合酸化物を含む第 4副成分を有し、 前記主成分 100モルに対す る前記第 4副成分の比率が、 酸化物換算で、 0モル <第 4副成分 < 20モルであ る請求項 2に記載の誘電体磁器組成物。
5. 組成式 { (C a Me ) O} m · (Z r T i y ) O2 で示され、 該組成式中の元素名を示す記号 Meが、 S r、 Mg及ぴ B aの少なく とも一つであり、 該組成式中の組成モル比を示す記号 m、 X及ぴ yが、 0. 8 m≤ 1. 3、 0≤ x≤ 1. 00、 0≤y≤ 1. 00の関係にある誘電体酸化物を 含む主成分と、
V酸ィ匕物を含む第 1副成分と、
A 1酸化物を含む第 2副成分と、
M n酸ィ匕物を含む第 3副成分と、
組成式 { (B a z , C a n ) O} S i 02 で示され、 該組成式中の組成モ ル比を示す記号 z及ぴ Vが、 0≤ ζ^ 1及び 0. 5≤ v≤4. 0の関係にある複 合酸化物を含む第 4副成分とを、 有する誘電体磁器組成物であって、
前記主成分 100モルに対する各成分の比率が、 '
第 1副成分: 0モルく第 1副成分 < 7モル (但し、 V酸化物を V2 O 5 に換 算した値) 、
第 2副成分: 0モルく第 2副成分く 15モル (但し、 A 1酸化物を A 12 O 3 に換算した値) 、
第 3副成分: 0モル <第 3副成分 < 5モル (但し、 酸化物中の Mn元素換算 の値である) 、
第 4副成分: 0モル <第 4副成分 < 20モル (但し、 複合酸化物換算の値で ある) 、
である誘電体磁器組成物。
6. 誘電体層を有する電子部品であって、
前記誘電体層が、 誘電体磁器組成物で構成してあり、
該誘電体磁器組成物が、
組成式 { (C a x Me ) O} m · (Z r T i y ) O2 で示され、 該組 成式中の元素名を示す記号 Meが、 S r、 Mg及ぴ B aの少なくとも一つであり、 該組成式中の組成モル比を示す記号 m、 X及ぴ yが、 0. 8≤m≤ l. 3, 0≤ x≤ 1. 00.、 0≤y≤ 1. 00の関係にある誘電体酸化物を含む主成分と、
V酸化物を含む第 1副成分と、
A 1酸化物を含む第 2副成分と、
M n酸化物を含む第 3副成分と、
組成式 { (B az', C a i-z ) O} v S i Oz で示され、 該組成式中の組成モ ル比を示す記号 z及ぴ Vが、 0≤ 2≤ 1及ぴ0. 5≤v 4. 0の関係にある複 合酸化物を含む第 4副成分とを、 有し、
前記主成分 100モルに対する各成分の比率が、
第 1副成分: 0モル <第 1副成分 < 7モル (但し、 V酸化物を V2 05 に換 算した値) 、 ,
第 2副成分: 0モルく第 2副成分 < 15モル (但し、 A 1酸化物を A 12 O に換算した値) 、
第 3副成分: 0モル <第 3副成分 < 5モル (但し、 酸化物中の Mn元素換算 の値である) 、
第 4副成分: 0モル <第 4副成分 < 20モル (但し、 複合酸化物換算の値で める) 、
である電子部品。
7. 誘電体磁器組成物で構成してある誘電体層と、 卑金属を主成分 とする内部電極層とが交互に積層してある素子本体を有する積層セラミックコン デンサであって、
前記誘電体磁器組成物が、
組成式 { (C a n S r ) O} m · (Z r !-y T i y ) Oz で示され、 該組 成式中の組成モル比を示す記号 m、 X及ぴ yが、 0. 8≤m l. 3、 0≤ x≤ 1. 00、 0. l≤y≤0. 8の関係にある誘電体酸化物を含む主成分と、
V酸化物を含む第 1副成分と、
A 1酸ィヒ物を含む第 2副成分と、 M n酸ィヒ物を含む第 3副成分と、
組成式 { (B a z , C a卜 z ) O} S i〇2 で示され、 該組成式中の組成モ ル比を示す記号 z及び Vが、 0≤ ζ≤ 1及ぴ 0. 5 v≤4. 0の関係にある複 合酸ィ匕物を含む第 4副成分とを、 有し、
前記主成分 100モルに対する各成分の比率が、
第 1副成分: 0モル <第 1副成分 < 7モル (但し、 V酸化物を V2 05 に換 算した値) 、
第 2副成分: 0モル <第 2副成分 < 15モル (但し、 A 1酸化物を A 12 O a に換算した値) 、
第 3副成分: 0モル <第 3副成分 < 5モル (但し、 酸化物中の Mn元素換算 の値である) 、
第 4副成分: 0モル <第 4副成分 < 20モル (但し、 複合酸化物換算の値で ある) 、 — ―
である積層セラミックコンデンサ。
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