WO1999046570A1 - Capteur et son procede de production - Google Patents

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WO1999046570A1
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sensor
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electrode extraction
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Takashi Kihara
Yoshiyuki Ishikura
Takashi Masuda
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Yamatake Corporation
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Definitions

  • the present invention relates to a capacitance type pressure sensor for detecting the pressure of a medium to be measured, a sensor such as an acceleration sensor for measuring acceleration, and a method for manufacturing the same, and more particularly to an improvement in a structure for taking out electrodes arranged opposite to each other. Things.
  • the capacitance-type pressure sensor has a plate-shaped fixed electrode and a movable electrode that are placed in parallel and close to each other in the cavity of the sensor body, and detects a change in capacitance between the two electrodes due to the displacement of the diaphragm.
  • This measures the pressure of the medium to be measured and various proposals have conventionally been made, as described in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 6-265428 (hereinafter referred to as prior art).
  • the electrode take-out structure in such a pressure sensor is usually formed by joining the connection pins passed through the electrode take-out hole into the cavity with solder, paste (a metal powder kneaded with a binder), or other bonding agent. Be composed.
  • FIG. 12 is a cross-sectional view showing the capacitance type pressure sensor described in the above prior art
  • FIG. 13 is a cross-sectional view taken along the line D-D ′ of FIG. 12
  • FIG. FIG. 4 is a cross-sectional view taken along line E ′.
  • a sensor body 202 is formed by first and second substrates 202 and 202 made of sapphire directly bonded to each other.
  • a fixed capacitance electrode 201 and a movable electrode 203 are arranged in parallel inside each other so as to oppose each other to constitute a capacitance type sensor.
  • the first substrate 202 is thicker than the second substrate 202B.
  • Cavity 207 is in communication with the outside world.
  • a concave portion 208 is formed at the center of the inner surface of the second substrate 202B facing the first substrate 202A, and the concave portion 208 and the first substrate 202A are formed.
  • the space surrounded by the inner surface of the hole forms the cavity 207.
  • the second substrate 2 0 2 The central portion of B forms a diaphragm 209 by reducing the thickness by the concave portion 208.
  • the second substrate 202B is directly bonded to the first substrate 202A at a thick outer peripheral portion 10 thereof. Since the first substrate 202A and the second substrate 202B are made of the same material and have no inclusions on the joint surface, there is almost no residual stress due to the joint. For this reason, it has a feature that it does not change with time that causes the deformation of the diaphragm 209 during use, so that stable characteristics as a sensor can be obtained.
  • the movable electrode 203 includes a sensing electrode 203 A that is sensitive to pressure, and a reference electrode 203 B that has little sensitivity to pressure. By taking the output difference between the two electrodes 203A and 202B, the effects of temperature changes and environmental changes can be offset.
  • the three electrode extraction holes 204 formed in the first substrate 202A that is, the holes 204a, 204b, 204c shown in FIG. 14 are fixed electrodes 201, It corresponds to the sensing electrode 203 A and the reference electrode 203 B, respectively.
  • the electrode extraction hole 204 a is formed at a position penetrating the electrode extraction portion 214 provided in the fixed electrode 201.
  • the electrode extraction holes 204b and 204c correspond to the electrode extraction parts 210A and 210B provided on the sensing electrode 203A and the reference electrode 203B. Each position is formed.
  • FIG. 15 is an enlarged cross-sectional view taken along the line FF ′ of FIG. 13
  • FIG. 16 is an enlarged cross-sectional view taken along the line GG ′ of FIG.
  • connection pins 211 with the solder (or conductive paste) 211 applied to the lower end in advance are sequentially inserted into the electrode extraction holes 204b and 204c for the movable electrode 203 ( (Actually, press-fitting) to bring them into contact with the electrode extraction portions 210A and 210B of the sensing electrode 203A and the reference electrode 203B, respectively.
  • the solder 212 After heating in this state to once melt the solder 212, it is cooled and solidified. As a result, as shown in FIG.
  • the sensing electrode 203 A, the reference electrode 203 B, and the connection pin 211 are electrically connected to each other. Also, as shown in Fig. 16, the connection pins 2 1 1 with the conductive paste 2 1 3 (or solder) applied to the lower end are pressed into the electrode extraction holes 2 0 4 a for the fixed electrodes 201. Then, the fixed electrode 201 and the connection pin 211 are electrically connected via the conductive paste 213.
  • the electrodes 201 and 203 and the connection pins 211 are mechanically and electrically connected to each other by using solder 212 or conductive paste 211. Connection, but had the following problems.
  • solder 212 when connecting the movable electrode 203 to the connection pin 211, if solder 212 is used as a bonding agent, sufficient bonding strength cannot be obtained if the wettability with the movable electrode 203 is low. On the other hand, if the wettability is high, the molten solder 2 12 flows out of the electrode extraction portions 2 15 A and 2 15 B, and the fixed electrode 201 and the movable electrode 203 are short-circuited. there were.
  • the conductive paste 2 13 is used as the bonding agent, as in the case of the solder 2 12, if the amount of the conductive paste 2 13 is too small, the bonding strength is reduced or poor conductivity is caused. If the amount is too large, the fixed electrode 20 is used. There is a problem in that the fixed electrode 201 and the movable electrode 203 are short-circuited by contact with 1.
  • the fixed electrode 201 and the connection pin 211 are connected, as shown in FIG. 16, the fixed electrode 201 is not formed on the surface in contact with the connection pin 211, In other words, since the fixed electrode 201 is provided on the inner surface of the sensor body 202 on the side where the electrode extraction hole 204a is formed, it is extremely difficult to establish conduction using solder. difficult.
  • the present invention has been made to solve such a problem, and an object of the present invention is to realize a sensor having a large bonding strength between a connection member such as a connection pin and an electrode. You.
  • Another object is to realize a sensor that can prevent a short circuit between electrodes.
  • Another object of the present invention is to realize a sensor capable of obtaining reliable conduction between the connection member and the electrode.
  • the senor of the present invention includes a plurality of electrode extraction holes.
  • connection member has low wettability with the electrode surface, even if a part of the melted connection member overflows from the pad, it does not easily flow along the electrode surface. For this reason, since the connecting member does not come into contact with both of the paired electrodes, there is little possibility of causing a short circuit between the electrodes.
  • An example of the configuration of the above sensor is the electrode (3, 3A, 3B, 15A, 15B) at the position where the pad (24) faces the electrode extraction hole (4a, 4b, 4c, 31).
  • This electrode is connected to the corresponding connecting member (11, 12) via a pad. This allows the connection member to take out the electrode from a direction different from that of the electrode.
  • connection member includes a connection pin (11) penetrated into the cavity from the electrode extraction hole, and a bonding agent (12) for bonding the connection pin to the pad. That is, since the connection pin is bonded to the pad with the bonding agent to form the connection member, extremely reliable conduction between the connection member and the electrode is obtained.
  • the senor When Sn—Ag is used as the material of the bonding agent, the sensor may be configured by using Pt: as the material of the electrode surface and Au as the material of the pad surface. This is because Sn—Ag has high wettability with Au and low wettability with Pt.
  • the pad (25) forms a force cavity.
  • the inner surface (21a, 21b) of the sensor body has an electrode on the surface (21b) opposite to the electrode extraction hole side. It is formed at a position facing the extraction hole, and is in contact with the connection member (11, 12) corresponding to the electrode (1) force provided on the electrode extraction hole side.
  • the electrode can be taken out from the connection member in the same direction as the electrode.
  • connection member examples include a connection pin (11) passed through the electrode extraction hole into the cavity, and a bonding agent for joining the connection pin to the pad and the electrode provided on the electrode extraction hole side. (12). That is, the connection pin is joined to the pad with a bonding agent to form a connection member.
  • the bonding agent since the pad having high wettability with the bonding agent is provided at the facing position, the bonding agent reaches the electrode surface via the bonding pin, and the electrode and the connection pin can be reliably conducted. Therefore, connection failure is reduced.
  • the senor When Sn—Ag is used as the material of the bonding agent, the sensor may be configured by using Pt as the material of the electrode surface and Au as the material of the pad surface.
  • connection member in the sensor includes solder for filling the space on the pad in the cavity and the electrode extraction holes (104a, 104b, 104c, and 131). That is, since the electrode extraction hole is filled with solder and this solder is used as a connection member, the connection member can be easily formed.
  • the above sensor may be configured by setting the material of the electrode surface to Pt: and the material of the pad surface to Au.
  • the electrode extraction hole may be tapered so that the inner diameter decreases from the outer surface to the inner surface of the sensor body. This taper allows the molten solder to flow smoothly.
  • a cavity (7) communicating with the outside is formed by a plurality of electrode extraction holes (104a, 104b, 104c, 131) inside the sensor body (2).
  • a pair of electrodes (1, 3) are provided facing each other in the cavity, and a plurality of pads (24, 25) made of a conductive material having a higher wettability with the solder (111) are formed in the cavity.
  • a lump of solder of a predetermined size (11 1 A) may be placed at the entrance of the electrode extraction hole on the outer surface of the sensor body, and this solder lump may be heated and melted and poured from the electrode extraction hole. .
  • the lump of solder can be reliably placed at a desired position.
  • the pressure outside the sensor body is made higher than the pressure inside the cavity to heat and melt the solder. This makes it possible to forcibly flow the molten solder onto the pad.
  • the pad (25) faces the electrode extraction hole on the surface (21b) opposite to the electrode extraction hole side of the inner surface (21a, 21b) of the sensor body forming the cavity. If it is formed, the solder is brought into contact with the electrode (1) provided on the electrode extraction hole side. Thus, the electrode on the electrode extraction hole side can be extracted with the connection member made of solder.
  • the electrode extraction hole is formed by using laser processing. Thereby, the electrode extraction hole can be tapered.
  • FIG. 1 is a sectional view showing a first embodiment of the sensor according to the present invention.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line II-II ′ of FIG.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view taken along the line III-III ′ of FIG.
  • FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view taken along the line IV-IV of FIG.
  • FIG. 5 is an enlarged sectional view taken along line VV ′ of FIG.
  • 6 (a) to 6 (d) are cross-sectional views showing main steps in manufacturing a sensor.
  • 7 (a) to 7 (e) are cross-sectional views showing steps subsequent to FIG.
  • FIG. 8 is a cross-sectional view illustrating a sensor according to a second embodiment of the present invention.
  • FIG. 9 is an enlarged sectional view of a portion IX in FIG.
  • FIG. 10 is an enlarged sectional view of a portion A in FIG.
  • FIGS. 11 (a) to 11 (c) are cross-sectional views showing main steps in manufacturing a sensor.
  • FIG. 12 is a cross-sectional view showing a conventional example of a pressure sensor.
  • FIG. 13 is a sectional view taken along the line DD ′ of FIG.
  • FIG. 14 is a cross-sectional view taken along the line EE ′ of FIG.
  • FIG. 15 is an enlarged cross-sectional view taken along line FF ′ of FIG.
  • FIG. 16 is an enlarged cross-sectional view taken along the line GG ′ of FIG.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view showing a first embodiment of a sensor according to the present invention
  • FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line 11-II ′ of FIG. 1
  • FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line III-II of FIG.
  • FIG. 4 is an enlarged sectional view taken along the line IV-IV 'in FIG. 2
  • FIG. 5 is an enlarged sectional view taken along the line VV' in FIG.
  • FIG. 1 shows an example in which the present invention is applied to a capacitance type pressure sensor.
  • the pressure sensor 20 includes a sensor main body 2 formed by directly joining first and second substrates 2A and 2B formed of sapphire, silicon, glass, alumina, or the like.
  • a cavity 7 is formed inside the sensor body 2. Further, three electrode extraction holes 4 (4a, 4b, 4c) communicating with the cavity 7 and one atmospheric pressure introduction hole 5 are formed to penetrate the first substrate 2A.
  • the above-mentioned cavity 7 is constituted by a space surrounded by a concave portion 8 provided at the center of the inner surface of the second substrate 2B and the first substrate 2A.
  • the central portion of the second substrate 2B forms the diaphragm 9 by reducing the thickness by forming the concave portion 8.
  • the pair of fixed electrodes 1 and movable electrodes 3 (3 A, 3 A) are provided on inner surfaces 21 a and 2 lb of the first substrate 2 A and the second substrate 2 B which are opposed to each other with the cavity 7 interposed therebetween. B) are formed respectively.
  • a PtZ adhesion enhancement film As a material of the fixed electrode 1 and the movable electrode 3, a PtZ adhesion enhancement film is used.
  • Ti, V, Cr, Nb, Zr, Hf, Ta and the like are used as the adhesion enhancing film.
  • PtZNb is used as the fixed electrode 1 and the movable electrode 3
  • the upper layer side of the fixed electrode 1 and the movable electrode 3 is Pt
  • the lower layer side is Nb.
  • the movable electrode 3 is composed of a sensing electrode 3A that is sensitive to pressure and a reference electrode 3B that has almost no sensitivity to pressure.
  • the electrode extraction portions 15A and 15B of the sensing electrode 3A and the reference electrode 3B are provided with movable electrode extraction pads 24 made of a conductive material.
  • an Au barrier layer / adhesion enhancement film is used as a material of the pad 24, an Au barrier layer / adhesion enhancement film is used. Pt, Ni or the like is used as the barrier layer.
  • As the adhesion enhancing film Ti, V, Cr, Nb, Zr, Hf, Ta, etc. are used similarly to the adhesion enhancing film of the electrode. In this embodiment, an example using AuZP tZNb will be described. In this case, as shown in FIG.
  • the surface of the pad 24 is Au, the inner layer is Pt, and the lower layer is Nb.
  • a connecting member for connecting the movable electrode 3 to the outside of the sensor body 2 is connected to the pad 24.
  • This connecting member has a structure in which the connecting pin 11 inserted from the electrode extraction holes 4b and 4c is joined to the pad 24 by a joining agent.
  • solder 12 or conductive paste is used as the bonding agent.
  • Sn—Ag is used as the material of the solder 12.
  • Such Sn—Ag solder 12 has a very high wettability with Au that forms the surface of the pad 24 when molten, and wets with Pt that forms the surface of the fixed electrode 1 and the movable electrode 3. It has the characteristic of low performance.
  • connection pin 11 When connecting the connection pin 11, first press the connection pin 11 with the Sn-Ag solder 12 applied to the lower end into the electrode extraction holes 4 b and 4 c, and pad the Sn-Ag solder 12 Contact 24. In this state, the connection pin 11 is fixed to the pad 24 by heating to a predetermined temperature to melt the Sn—Ag solder 12 and then cooling it. As a result, the sensing electrode 3 A and the reference electrode 3 B are electrically connected to the connection pin 11 via the pad 24 and the Sn—Ag solder 12.
  • connection pins 11 In the connection between the movable electrode 3 (3A, 3B) and the connection pin 11, a pad 24 made of Au is provided on each of the electrode take-out portions 15A, 15B.
  • the connection pins 11 When the connection pins 11 are mechanically and electrically connected to each other, the Sn—Ag solder 12 at the time of melting has a very good wettability with the pad 24, so that a connection having a sufficient connection strength can be obtained.
  • the Sn—Ag solder 12 at the time of melting has low wettability with respect to the electrode material whose surface is made of Pt. Therefore, the Sn—Ag solder 12 does not come into contact with the fixed electrode 1, so that a short circuit between the fixed electrode 1 and the movable electrode 3 is less likely to occur.
  • a conductive pad 25 for taking out a fixed electrode is provided on a portion of the inner surface 21b of the second substrate 2B corresponding to the electrode take-out portion 14 of the first electrode 1 as shown in FIG. ing.
  • the pad 25 is formed of the same material as the pad 24 for the movable electrode, and the connection pin 11 for the fixed electrode is connected via a Sn—Ag solder (or conductive base) 12 to be connected. A member is formed. Further, when the Sn—Ag solder 12 comes into contact with the electrode take-out portion 14 of the fixed electrode 1, the fixed electrode 1 and the connection pin 11 are electrically connected, thereby completing the capacitance type pressure sensor.
  • connection between the fixed electrode 1 and the connection pin 11 similarly to the connection between the movable electrode 3 and the connection pin 11, if the Sn—Ag solder 12 and the pad 25 made of AuZP t / Nb are used, Since the Sn—Ag solder 12 has very good wettability with the pad 25, a connection having sufficient bonding strength can be obtained. In addition, since the Sn—Ag solder 12 spreads over the entire surface of the pad 25, in the present pressure sensor 20 in which the depth d of the cavity 7 is several meters, the Sn—Ag solder 12 flows on the pad 25 due to the capillary force. It spreads so as to fill the cavity 7 and contacts the electrode take-out part 14 of the fixed electrode 1.
  • the fixed electrode 1 and the connection pin 11 can be reliably conducted.
  • the Sn—Ag solder 12 does not come into contact with the movable electrode 3, and there is little possibility of causing a short circuit between the fixed electrode 1 and the movable electrode 3.
  • the method of press-fitting the connection pin 11 having the lower end coated with the Sn—Ag solder 12 into the electrode extraction hole 4 has been exemplified as a method of forming the connection member.
  • the present invention is not limited to this.
  • solder balls or columnar solders are inserted in advance into desired electrode extraction holes, and then the connection pins are inserted and heated.
  • a method may be adopted. With such a method, the same effect as the above method can be obtained, and a capacitance type pressure sensor having a large number of electrode extracting structures at once can be obtained.
  • FIGS. 6 and 7 are cross-sectional views showing main steps in manufacturing this pressure sensor.
  • FIGS. 6 and 7 show a manufacturing process of a pressure sensor in which a cavity, an electrode extraction hole, and a fixed electrode are formed on one substrate, and the other substrate is used as a diaphragm.
  • a thick sapphire wafer 30 is prepared (FIG. 6 (a)).
  • An electrode extraction hole 31 and an atmospheric pressure introduction hole are formed through this sapphire wafer 30 (FIG. 6 (b)).
  • Methods for forming the electrode extraction hole 31 and the atmospheric pressure introduction hole include machining, laser machining, and ultrasonic machining.
  • a concave portion 8 having a desired depth to be a cavity 7 is formed on a surface inside the sapphire wafer 30 (FIG. 6 (c)).
  • the recess 8 may be formed by dry etching when the substrate material is sapphire, and may be formed by either dry etching or wet etching when the substrate material is glass or alumina.
  • the planar shape of the cavity 7 may be a circle as shown in FIG. 2 or a square.
  • the fixed electrode 1 is formed at a desired position on the bottom surface of the concave portion 8 (FIG. 6 (d)).
  • the material of the fixed electrode 1 is a PtZ adhesion enhancement film.
  • Ti, V, Cr, Nb, Zr, Hf, Ta and the like are used as the adhesion enhancing film.
  • Methods of forming the adhesion reinforcing film include vacuum evaporation, ion plating, and sputtering. In order to form an electrode shape, there is a method using a shadow mask and a method using photolithography and etching. is there.
  • a diaphragm wafer 35 is prepared (FIG. 7 (a)).
  • the movable electrode 3 is formed at a desired position on the inner surface of the diaphragm wafer 35 by using the same material and the same method as the fixed electrode 1 (FIG. 7 (b)).
  • pads 24 and 25 for taking out electrodes are formed (FIG. 7 (c)).
  • the pad material is an Au barrier layer Z adhesion enhancement film, for example, Au / PtZNb.
  • the pads 24 and 25 are formed by vacuum deposition, ion plating, sputtering, or the like.
  • connection pin 11 coated with Sn-Ag solder 12 at the lower end is pressed into the electrode extraction hole 31, heated and melted at 240 ° C to 300 ° C, and then cooled and connected. Is fixed to pads 24 and 25 (Fig. 7 (e)). In this way, the fixed electrode 1 connection pin 11_pad 25 and the movable electrode 3—pad 24—connection pin 11 are mechanically and electrically connected, respectively.
  • connection pins 11 The joining step of the connection pins 11 is performed after dicing into individual chips.
  • the Sn—Ag solder of the cylindrical preform is inserted into the electrode extraction hole 31 and heated at 240 ° C. to 300 ° C. so that the electrode can be extracted in a wafer state.
  • the construction is completed. This enables mass production, depending on the packaging method.
  • FIG. 8 is a cross-sectional view showing a sensor according to a second embodiment of the present invention
  • FIG. 9 is an enlarged cross-sectional view of a portion IX in FIG. 8
  • FIG. 10 is an enlarged cross-sectional view of a portion A in FIG.
  • FIG. 8 shows an example in which the present invention is applied to a capacitance type pressure sensor. 1 to 5 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted as appropriate.
  • the pressure sensor 120 shown in FIG. 8 has a structure of a connection member for taking out the fixed electrode 1 and the movable electrode 3 in the cavity 7 to the outside of the sensor main body 2 as shown in FIG. Sensor 20. That is, in the pressure sensor 120, the electrode extraction holes 104a to 104c for communicating the cavity 7 with the outside are buried with the solder 111, and the solder 111 is used as a connection member.
  • the electrode extraction portions 15A and 15B of the sensing electrode 3A and the reference electrode 3B are provided with movable electrode extraction pads 24, respectively.
  • the pad 24 is the same as that shown in FIG. 4, and for example, AuZPtNb is used.
  • the same material as the solder 12, Sn—Ag, is used for the solder 111 that also functions as a bonding agent.
  • connection member of the movable electrode 3 is formed by flowing a sufficient amount of molten solder 111 through the electrode extraction holes 104b and 104c and cooling the solder 111.
  • the Sn—Ag solder 111 when melted has a very good wettability with the pad 24 whose surface is made of Au, so the solidified solder 111 It is firmly bonded to pad 24.
  • the molten Sn-Ag solder 1 1 1 has low wettability with respect to the electrode material whose surface is made of Pt.
  • a conductive pad 25 for taking out a fixed electrode is provided on a portion of the inner surface 21b of the second substrate 2B corresponding to the electrode take-out portion 14 of the first electrode 1. This pad 25 is formed of the same material as the pad 24 for the movable electrode.
  • connection member of the fixed electrode 1 is also formed in the same manner as the connection member of the movable electrode 3.
  • Sn—Ag solder 1 11 and a pad 25 whose surface is made of Au both are firmly connected. Joined.
  • the Sn—Ag solder 1 1 1 spreads over the pad 25 to fill the cavity 7 by the capillary force, and the electrode extraction portion 1 of the fixed electrode 1 Contact 4
  • the fixed electrode 1 and the connection member made of the solder 111 can be reliably conducted.
  • the solder 111 since the solder 111 has low wettability with the electrode material, there is little possibility that a short circuit between the fixed electrode 1 and the movable electrode 3 is caused.
  • the electrode extraction holes 104a to 104c are provided with a taper whose inner diameter decreases from the outer surface to the inner surface of the first substrate 2A.
  • This table The effect of smoothing the flow of the molten solder 111 is obtained by the par. However, even if the electrode extraction hole 111 does not have a taper, the molten solder 111 can flow therein, so that the taper does not necessarily have to be provided.
  • FIG. 11 is a cross-sectional view showing main steps in manufacturing this pressure sensor.
  • FIG. 11 shows a manufacturing process of a pressure sensor in which a cavity, an electrode extraction hole, and a fixed electrode are formed on one substrate, and the other substrate is used as a diaphragm.
  • FIG. 11 (a) a member shown in FIG. 11 (a) is prepared.
  • This member is prepared in the same manner as shown in FIGS. 6 (a) to (d) and FIGS. 7 (a) to (d).
  • the inner diameter of the electrode extraction hole 13 1 is about 50 to 500 m, and the electrode extraction hole 13 1 exits from above the pads 24 and 25 (the first substrate 13 forming the cavity 7).
  • the height up to the portion on the inner surface of 0) is about 300 to 700 / m.
  • the electrode extraction hole 131 is formed through the sapphire wafer 130 using a laser.
  • solder ball 1 11 A made of Sn—Ag is arranged at the entrance of the electrode extraction hole 13 1 (portion on the outer surface of the first substrate 130).
  • the size of the solder ball 1 1 1 A which is a lump of solder, is determined by the space above the pads 24 and 25 in the cavity 7 where the solder 1 11 melted in the following process and the electrode extraction hole 1 3 1 Is determined to satisfy. Since the diameter of the solder ball 11 1 A is larger than the inner diameter of the entrance of the electrode extraction hole 13 1, the solder ball 11 1 A does not fall into the cavity 7.
  • the sensor main body is heated at 240 ° C. to 300 ° C. to melt the solder balls 11A and flow them onto the pads 24 and 25 from the electrode extraction holes 1311.
  • the electrode extraction holes 131 are buried with the solders 11 bonded to the nodes 24 and 25, and the solders 111 are used as connection members.
  • jigs 127 are removed to complete (Fig. 11 (C)).
  • the molten solder 1 1 1 weighs itself. of It reaches from the electrode extraction hole 1 3 1 to the pads 24, 25.
  • the surface tension of the solder 1 11 and the coefficient of friction of the inner surface of the electrode extraction hole 13 1 may cause the molten solder 11 1 1
  • the weight alone does not flow into the cavity 7. In such a case, the inflow of the molten solder 111 can be promoted by the following method.
  • the first method uses a pressure difference between the outside of the sensor body 2 and the inside of the cavity 7.
  • each electrode extraction hole 13 1 1 is covered with a solder ball 11 1 A, so the atmospheric pressure introduction hole (see Fig. 3 Atmospheric pressure introduction hole 5) If there is, the cavity 7 is sealed by closing the hole.
  • the external pressure of the sensor body 2 is sufficiently increased and heated, the molten solder 1 1 1 will be forcibly removed from the electrode extraction hole 1 3 1 by the pressure difference between both sides of the electrode extraction hole 13 1.
  • Can be introduced within when there is a hole for introducing atmospheric pressure, the same effect can be obtained by exhausting air from this hole and reducing the pressure in the cavity 7.
  • the second method is to improve the wettability of the inner surface of the electrode extraction hole 13 1. For example, by covering the inner surface of the electrode extraction hole 13 1 with Au, the wettability of the molten solder 11 1 becomes high, so that the molten solder 1 11 flows easily. The effect can be obtained even if only the vicinity of the entrance of the electrode extraction hole 13 1 is covered with Au.
  • the present invention is not limited to this, and a sensor in which an electrode provided in a cavity of a sensor body is taken out to the outside. Anything may be used as long as it is applicable to, for example, a capacitive acceleration sensor.
  • cavities an example has been described in which a cavity is formed by forming a concave portion in one of the two substrates.
  • the cavities may be formed by sandwiching a spacer between the two substrates.
  • the electrode is taken out using the connection member having low wettability to the electrode and the pad having high wettability with this connection member.
  • the connecting member and the electrode can be firmly joined, and there is no possibility that a part of the melted connecting portion flows on the electrode surface to short-circuit the electrodes. Can be reliably conducted. Therefore, it is possible to realize a sensor having a higher yield than before and having excellent mass productivity.
  • connection pin to the pad with a bonding agent to form the connection member, extremely reliable conduction between the connection member and the electrode can be obtained.
  • connection member can be easily formed by embedding the electrode extraction hole with solder and using the solder as a connection member.
  • connection member made of embedded solder can be reliably produced.
  • molten solder is poured onto the pad from the electrode extraction hole, and the electrode extraction hole is filled with the molten solder and cooled, and the electrode extraction hole is filled with a solder.
  • the electrode extraction hole can be tapered, so that the molten solder can flow smoothly.

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Description

明細書 センサおよびその製造方法
1 . 技術分野
本発明は、 被測定媒体の圧力を検出する静電容量式圧力センサ、 加速度を測定 する加速度センサ等のセンサおよびその製造方法に関し、 特に互いに対向して配 置された電極の取出構造の改良に関するものである。
2 . 背景技術
静電容量式圧力センサは、 板状に形成した固定電極と可動電極とをセンサ本体 のキヤビティ内に近接させて平行に対向配置し、 ダイァフラムの変位に伴う両電 極間の容量変化を検出することで被測定媒体の圧力を測定するものであり、 特開 平 6— 2 6 5 4 2 8号公報 (以下、 先行技術という) 等に記載されているように 従来から種々提案されている。 このような圧力センサにおける電極取出し構造は、 通常電極取出し穴よりキヤビティ内に揷通された接続ピンを半田、 ペースト (金 属粉をバインダで練ったもの) 等の接合剤で電極に接合して構成される。
図 1 2は上記先行技術に記載された静電容量式圧力センサを示す断面図、 図 1 3は図 1 2の D— D ' 線方向の断面図、 図 1 4は図 1 2の Ε— E ' 線方向の断面 図である。
図 1 2に示されるように、 直接接合されたサファイアからなる第 1、 第 2の基 板 2 0 2 Α, 2 0 2 Βとでセンサ本体 2 0 2を形成し、 このセンサ本体 2 0 2の 内部に固定電極 2 0 1と可動電極 2 0 3とを平行に対向させて配置することによ り静電容量式センサを構成している。
第 1の基板 2 0 2 Αは第 2の基板 2 0 2 Bより厚みが厚い。 第 1の基板 2 0 2 Aには 3つの電極取出し穴 2 0 4と 1つの大気圧導入用穴 2 0 5とが厚み方向に 貫通して形成され、 これによりセンサ本体 2 0 2内に形成したキヤビティ 2 0 7 が外部と連通している。
第 2の基板 2 0 2 Bの第 1の基板 2 0 2 Aと対向する内面の中央部には凹部 2 0 8が形成されており、 この凹部 2 0 8と第 1の基板 2 0 2 Aの内面とによって 囲まれた空間が前記キヤビティ 2 0 7を形成している。 また、 第 2の基板 2 0 2 Bの中央部は、 前記凹部 2 0 8によって厚みを薄くすることによりダイアフラム 2 0 9をなしている。
第 2の基板 2 0 2 Bは厚みの厚い外周部 1 0で第 1の基板 2 0 2 Aに直接接合 されている。 第 1の基板 2 0 2 Aと第 2の基板 2 0 2 Bとは材質が同じで接合面 に介在物がないので、 接合による残留応力が殆どない。 このため、 使用時にダイ ァフラム 2 0 9の変形を招くような経時変化が起きない特長を有しているので、 安定したセンサとしての特性が得られる。
可動電極 2 0 3は、 圧力に対して敏感なセンシング用電極 2 0 3 Aと、 圧力に 対して殆ど感度をもたないリファレンス用電極 2 0 3 Bとで構成されている。 両 電極 2 0 3 A, 2 0 2 Bの出力差をとることで温度変化、 環境の変化による影響 を相殺することができる。
第 1の基板 2 0 2 Aに形成された 3つの電極取出し穴 2 0 4、 すなわち図 1 4 に示す穴 2 0 4 a , 2 0 4 b , 2 0 4 cは、 固定電極 2 0 1、 センシング用電極 2 0 3 A、 リファレンス用電極 2 0 3 Bのそれぞれに対応している。 電極取出し 穴 2 0 4 aは、 固定電極 2 0 1に設けた電極取出し部 2 1 4を貫通する位置に形 成される。 また、 電極取出し穴 2 0 4 b , 2 0 4 cは、 センシング用電極 2 0 3 A、 リファレンス用電極 2 0 3 Bに設けた電極取出し部 2 1 5 A, 2 1 5 Bに対 応する位置にれぞれ形成される。
次に、 電極取出しについて説明する。 図 1 5は図 1 3の F— F ' 線方向の拡大 断面図、 図 1 6は図 1 3の G— G ' 線方向の拡大断面図である。
第 2の基板 2 0 2 Bの基板素材としてのウェハ上に第 1の基板 2 0 2 Aを直接 接合した後、 ウェハをダイシングによってチップに分割する。 次に、 予め下端部 に半田 (または導電性ペースト) 2 1 2が塗布された接続ピン 2 1 1を可動電極 2 0 3用の電極取出し穴 2 0 4 b , 2 0 4 cに順次挿入 (実際は圧入) して、 セ ンシング用電極 2 0 3 A、 リファレンス用電極 2 0 3 Bの電極取出し部 2 1 5 A, 2 1 5 Bにそれぞれ接触させる。 この状態で加熱して一旦半田 2 1 2を溶融した 後、 冷却固化させる。 これにより図 1 5に示されるようにセンシング用電極 2 0 3 A、 リファレンス用電極 2 0 3 Bと接続ピン 2 1 1とがそれぞれ電気的に接続 される。 また、 図 1 6に示されるように下端部に導電性ペースト 2 1 3 (または半田) が塗布された接続ピン 2 1 1を固定電極 2 0 1用の電極取出し穴 2 0 4 aに圧入 して、 固定電極 2 0 1と接続ピン 2 1 1とを導電性ペース卜 2 1 3を介して電気 的に接続する。
3 . 発明の明示
〔発明が解決しょうとする課題〕
上記したように従来の静電容量式圧力センサにおいては、 電極 2 0 1, 2 0 3 と接続ピン 2 1 1とを半田 2 1 2または導電性ペースト 2 1 3を用いて機械的お よび電気的に接続しているが、 以下に述べるような問題があった。
すなわち、 可動電極 2 0 3と接続ピン 2 1 1とを接続する場合、 接合剤として 半田 2 1 2を用いると、 可動電極 2 0 3との濡れ性が低いと十分な接合強度が得 られず、 反対に濡れ性が高いと、 溶融半田 2 1 2が電極取出し部 2 1 5 A, 2 1 5 Bから流れ出して固定電極 2 0 1と可動電極 2 0 3とが短絡してしまうという 問題があった。
接合剤として導電性ペースト 2 1 3を用いると、 半田 2 1 2と同様に、 導電性 ペースト 2 1 3の量が少なすぎると接合強度の低下や導電不良を招き、 多すぎる と固定電極 2 0 1に接触して固定電極 2 0 1と可動電極 2 0 3とが短絡してしま うという問題があった。
一方、 固定電極 2 0 1と接続ピン 2 1 1とを接続する場合は、 図 1 6に示すよ うに固定電極 2 0 1が接続ピン 2 1 1の当接する面に形成されていないため、 言 い換えれば固定電極 2 0 1がセンサ本体 2 0 2の電極取出し穴 2 0 4 aが形成さ れている側の内面に設けられているため、 半田を用いては導通を取ることが非常 に難しい。
導電性ペース卜 2 1 3を用いれば何とか導通をとることができる力 可動電極 2 0 3の場合と同じく、 導電性ペース卜 2 1 3の量の多少により可動電極 2 0 3 との短絡や固定電極 2 0 1との導通不良になるおそれがある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明はこのような課題を解決するためになされたものであり、 その目的は、 接続ピン等の接続部材と電極との接合強度が大であるセンサを実現することにあ る。
また他の目的は、 電極どうしの短絡を防止できるセンサを実現することにある。 また他の目的は、 上記接続部材と電極との確実な導通を得ることができるセン サを実現することにある。
また他の目的は、 歩留まりがよく量産性に優れたセンサを実現することにある。 このような目的を達成するために、 本発明のセンサは、 複数個の電極取出し穴
(4 a, 4b, 4 c, 31, 104 a, 104b, 104 c, 131) によって 外部と連通するキヤビティ (7) が内部に形成されたセンサ本体 (2) と、 キヤ ビティ内に互いに対向して設けられた一対の電極 (1, 3) と、 電極取出し穴よ りキヤビティ内に揷通されかつ対応する電極にそれぞれ電気的に接続される複数 本の接続部材 (11, 12, 1 11) と、 キヤビティ内における電極取出し穴と 対向する位置に設けられるとともに対応する接続部材と接合されかつ導電材料か らなるパッド (24, 25) とを備え、 接続部材のパッド表面に対する濡れ性は 接続部材の電極表面に対する濡れ性よりも高いことによって特徴づけられる。 接 続部材はパッド表面との濡れ性が高いので、 溶融された接続部材の一部はパッド 表面全体に広がり、 接続部材はパッドに強固に接合される。 これにより、 接続部 材と電極との的確な導通を得られる。 また、 接続部材は電極表面との濡れ性が低 いので、 溶融された接続部材の一部がパッド上から仮に溢れ出たとしても、 電極 表面に沿って流れ難い。 このため接続部材が、 対をなす電極の両方と接触するこ とがないので、 電極間の短絡を招くおそれが少ない。
上記センサの一構成例は、 パッド (24) が電極取出し穴 (4 a, 4 b, 4 c, 31) と対向する位置にある電極 (3, 3 A, 3B, 15 A, 15 B) の面上に 形成されており、 この電極がパッドを介して対応する接続部材 ( 1 1, 12) と 接続されている。 これにより、 電極と異なる方向から接続部材で電極を取り出せ る。
この場合、 接続部材のー構成例は、 電極取出し穴よりキヤビティ内に揷通され た接続ピン (1 1) と、 接続ピンをパッドと接合する接合剤 (12) とを備える。 すなわち、 接合剤によって接続ピンをパッドに接合して接続部材を形成するので、 接続部材と電極との極めて確実な導通が得られる。 - o -
接合剤の材料として S n— Agを用いる場合、 電極表面の材料を P t:、 パッド 表面の材料を Auとして、 上記センサを構成してもよい。 Sn— Agは Auとの 濡れ性が高く、 P tとの濡れ性が低いからである。
また、 上記センサの他の構成例は、 パッド (25) 力 キヤビティを形成する センサ本体の内面 (2 1 a, 21 b) のうち電極取出し穴側と反対側の面 (21 b) 上で電極取出し穴と対向する位置に形成されており、 電極取出し穴側に設け られた電極 (1) 力 対応する接続部材 (1 1, 12) と接触している。 これに より、 電極と同方向から接続部材で電極取り出せる。
この場合、 接続部材のー構成例は、 電極取出し穴よりキヤビティ内に揷通され た接続ピン (1 1) と、 接続ピンをパッドおよび電極取出し穴側に設けられた電 極と接合する接合剤 (12) とを備える。 すなわち、 接合剤によって接続ピンを パッドに接合して接続部材を形成する。 この場合、 対向位置に接合剤との濡れ性 が高いパッドを設けたので、 接合剤が接合ピンを伝って電極面まで到達し、 電極 と接続ピンを確実に導通させることができる。 したがって、 接続不良を少なくで さる。
接合剤の材料として S n—Agを用いる場合、 電極表面の材料を P t、 パッド 表面の材料を A uとして、 上記センサを構成してもよい。
また、 上記センサにおける接続部材の他の構成例は、 キヤビティ内におけるパ ッド上の空間および電極取出し穴 ( 104 a, 1 04 b, 104 c, 1 31) を 埋め込む半田からなる。 すなわち、 電極取出し穴を半田で埋め込み、 この半田を 接続部材として利用するので、 簡単に接続部材を形成できる。
半田の材料として S n—Agを用いる場合、 電極表面の材料を P t:、 パッド表 面の材料を A uとして、 上記センサを構成してもよい。
この場合、 電極取出し穴は、 センサ本体の外面から内面に向かって内径が小さ くなつていくようなテーパーがついていてもよい。 このテーパーにより、 溶融半 田の流れ込みがスムーズになる。
また、 この場合、 電極取出し穴の内面の少なくとも一部が半田に対して濡れ性 の高い材料で覆われていてもよい。 これにより、 溶融された半田が電極取出し穴 を流れやすくなる。 また、 本発明のセンサ製造方法は、 センサ本体 (2) の内部に複数個の電極取 出し穴 (104 a, 104b, 104 c, 131 ) によって外部と連通するキヤ ビティ (7) が形成され, キヤビティ内に互いに対向して一対の電極 (1, 3) が設けられ, 半田 (1 1 1) との濡れ性が電極よりも高い導電材料からなる複数 個のパッド (24, 25) がキヤビティ内における電極取出し穴と対向する位置 にそれぞれ設けられた部材を用意し、 電極取出し穴からキヤビティ内のパッド上 に溶融した半田を流し込んでキヤビティ内におけるパッド上の空間および電極取 出し穴を溶融した半田で満たし、 溶融した半田を冷却して、 電極取出し穴に埋め 込まれた半田によってキヤビティ内の電極を取り出すことによって特徴づけられ る。 これにより、 電極取出し穴を埋め込んだ半田を接続部材として利用するセン サを形成できる。
この場合、 センサ本体の外面における電極取出し穴の入口に所定の大きさの半 田の塊 (1 1 1A) を配置し、 この半田の塊を加熱溶融して電極取出し穴から流 し込んでもよい。
さらに、 電極取出し穴の入口の周囲にジグ (127) を取り付けた後で半田の 塊を配置することで、 所望の位置に半田の塊を確実に配置できる。
また、 センサ本体外の圧力をキヤビティ内の圧力よりも高くして半田を加熱溶 融する。 これにより、 溶融された半田を強制的にパッド上に流し込むことができ る。
上記の製造方法において、 パッド (24) が電極取出し穴と対向する位置にあ る電極 (3A, 3 B, 15 A, 15 B) の面上に形成されている場合、 このパッ ドに半田を接合する。 これにより、 電極取出し穴側と反対側の電極を半田からな る接続部材で取り出せる。
逆に、 パッド (25) がキヤビティを形成するセンサ本体の内面 (21 a, 2 1 b) のうち電極取出し穴側と反対側の面 (21 b) 上で電極取出し穴と対向す る位置に形成されている場合、 電極取出し穴側に設けられた電極 (1) に半田を 接触させる。 これにより、 電極取出し穴側の電極を半田からなる接続部材で取り 出せる。
また、 上記の製造方法で、 レーザー加工を用いて電極取出し穴を形成すること により、 電極取出し穴にテーパーをつけられる。
4. 図面の簡単な説明
図 1は、 本発明に係るセンサの第 1の実施の形態を示す断面図である。
図 2は、 図 1の II— II' 線方向の断面図である。
図 3は、 図 1の III— III' 線方向の断面図である。
図 4は、 図 2の IV— ΙΓ 線方向の拡大断面図である。
図 5は、 図 2の V— V' 線方向の拡大断面図である。
図 6 (a) 〜 (d) は、 センサを製造する際の主要な工程を示す断面図である。 図 7 (a) 〜 (e) は、 図 6に引き続く工程を示す断面図である。
図 8は、 本発明に係るセンサの第 2の実施の形態を示す断面図である。
図 9は、 図 8の IX部拡大断面図である。
図 10は、 図 8の A部拡大断面図である。
図 11 (a) 〜 (c) は、 センサを製造する際の主要な工程を示す断面図であ る。
図 12は、 圧力センサの従来例を示す断面図である。
図 13は、 図 12の D— D' 線方向の断面図である。
図 14は、 図 12の E— E' 線方向の断面図である。
図 15は、 図 13の F— F' 線方向の拡大断面図である。
図 16は、 図 13の G— G' 線方向の拡大断面図である。
5. 発明を実施するための最良の形態
以下、 本発明を実施の形態に基づき詳細に説明する。
(第 1の実施の形態)
図 1は本発明に係るセンサの第 1の実施の形態を示す断面図、 図 2は図 1の 11 一 II' 線方向の断面図、 図 3は図 1の III— II 線方向の断面図、 図 4は図 2の IV— IV' 線方向の拡大断面図、 図 5は図 2の V— V' 線方向の拡大断面図である。 図 1には本発明が静電容量式圧力センサに適用された例が示されている。
圧力センサ 20は、 サファイア、 シリコン、 ガラス、 アルミナ等によって形成 された第 1、 第 2の基板 2 A, 2 Bを直接接合することにより形成されたセンサ 本体 2を備えている。 センサ本体 2の内部にはキヤビティ 7が形成されている。 また、 このキヤビティ 7に連通する 3つの電極取出し穴 4 (4 a, 4 b, 4 c) と、 1つの大気圧導入用穴 5が第 1の基板 2 Aに貫通して形成されている。 前記したキヤビティ 7は、 第 2の基板 2 Bの内面中央部に設けた凹部 8と第 1 の基板 2 Aとによって囲まれた空間により構成される。 第 2の基板 2 Bの中央部 は、 凹部 8の形成によって厚みを薄くされることにより、 ダイアフラム 9を形成 している。 そして、 第 1の基板 2Aと第 2の基板 2Bのキヤビティ 7を挟んで互 いに近接して対向する内面 21 a, 2 l bには、 一対の固定電極 1と可動電極 3 (3 A, 3 B) とがそれぞれ形成されている。
固定電極 1と可動電極 3の材料としては、 P tZ密着増強膜が用いられる。 こ こで、 密着増強膜としては、 T i, V, C r, Nb, Z r , H f , T a等が用い られる。 本実施の形態においては、 固定電極 1と可動電極 3として、 P tZNb を用いた例を示す。 この場合、 図 4に示されるように固定電極 1と可動電極 3の 上層側は P t、 下層側は Nbである。
可動電極 3は、 圧力に対して敏感なセンシング用電極 3 Aと、 圧力に対して殆 ど感度をもたないリファレンス用電極 3 Bとで構成されている。 また、 センシン グ用電極 3 Aとリファレンス用電極 3 Bの電極取出し部 15 A, 15Bには、 導 電材料からなる可動電極取出し用のパッド 24がそれぞれ設けられている。 このパッド 24の材料としては、 A uノバリア層/密着増強膜が用いられる。 バリア層としては、 P t, N i等が用いられる。 密着増強膜としては、 電極の密 着増強膜と同様に T i, V, C r, Nb, Z r, Hf, T a等が用いられる。 本 実施の形態においては、 AuZP tZNbを用いた例を示す。 この場合、 図 4に 示されるようにパッド 24の表層側は Au、 内層は P t、 下層側は Nbである。 このパッド 24に対して、 可動電極 3をセンサ本体 2の外部に取り出す接続部 材が接続される。 この接続部材は電極取出し穴 4 b, 4 cから挿入された接続ピ ン 11が接合剤によりパッド 24と接合された構造を有している。 接合剤として は、 半田 12または導電性ペーストが用いられる。 特に、 半田 12の材料として は、 Sn— Agが用いられる。 このような S n— Ag半田 12は、 溶融時、 パッ ド 24の表面をなす A uとの濡れ性が非常に高く、 固定電極 1および可動電極 3 の表面をなす P tに対しては濡れ性が低いという特長を有している。 接続ピン 1 1の接続に際しては、 まず下端部に S n— A g半田 12が塗布され た接続ピン 1 1を電極取出し穴 4 b, 4 cにそれぞれ圧入して、 Sn— Ag半田 12をパッド 24に接触させる。 この状態で所定温度に加熱して S n— Ag半田 12を溶融した後、 冷却して接続ピン 1 1をパッド 24に固着する。 これにより センシング用電極 3 A、 ファレンス用電極 3 Bがパッド 24および Sn— Ag半 田 12を介して接続ピン 11と電気的に接続される。
可動電極 3 (3A, 3 B) と接続ピン 1 1との接続において、 表面が Auから なるパッド 24を電極取出し部 15 A, 15 Bにそれぞれ設け、 このパッド 24 に Sn— Ag半田 12を介して接続ピン 1 1を機械的および電気的に接続すると、 溶融時の S n— Ag半田 12はパッド 24との濡れ性が非常によいので十分な接 合強度をもった接続が得られる。 しかし、 溶融時の S n— Ag半田 12は表面が P tからなる電極材料に対しては濡れ性が低い、 言い換えれば電極取出し部 15 A, 15 Bの表面に沿って流れ難い。 このため Sn— Ag半田 12は固定電極 1 と接触することがないので、 固定電極 1と可動電極 3との短絡を招くおそれが少 ない。
また、 第 2の基板 2 Bの内面 21 bで第 1の電極 1の電極取出し部 14に対応 する部位には、 図 5に示されるように固定電極取出し用の導電性パッド 25が設 けられている。 このパッド 25は可動電極用のパッド 24と同一材料によって形 成されており、 固定電極用の接続ピン 1 1が Sn— Ag半田 (または導電性べ一 スト) 12を介して接続されて、 接続部材が形成される。 また、 Sn— Ag半田 12が固定電極 1の電極取出し部 14に接触することで固定電極 1と接続ピン 1 1とが電気的に接続され、 もって静電容量式圧力センサが完成する。
固定電極 1と接続ピン 11との接続においても、 可動電極 3と接続ピン 11と の接続と同様に、 Sn— Ag半田 12と、 AuZP t/Nbからなるパッド 25 とを用いると、 溶融時の S n— Ag半田 12はパッド 25との濡れ性が非常によ いので、 十分な接合強度をもった接続が得られる。 また、 Sn— Ag半田 12は パッド 25の表面全体に広がるので、 キヤビティ 7の深さ dが数 mである本圧 力センサ 20では、 毛細管力により S n— A g半田 12はパッド 25上をキヤビ ティ 7を埋めるように広がって固定電極 1の電極取出し部 14と接触する。 した がって、 固定電極 1と接続ピン 1 1とを確実に導通させることができる。 また、 電極材料とは濡れ性が低いので、 S n— A g半田 1 2が可動電極 3と接触するこ とはなく、 固定電極 1と可動電極 3との短絡を招くおそれが少ない。
以上では、 接続部材の作成方法として、 下端部に S n— A g半田 1 2が塗布さ れた接続ピン 1 1を電極取出し穴 4に圧入する方法を例示した。 しかしこれに限 らず、 第 2の基板 2 Bがダイシング前のウェハの状態において所望の電極取出し 穴に予め半田ボールまたは柱状の半田を挿入しておき、 しかる後接続ピンを挿入 して加熱する方法を採ってもよい。 このような方法でも上記の方法と同様な効果 が得られ、 一度に大量の電極取出し構造をもつ静電容量式圧力センサが得られる。 次に、 本実施の形態の圧力センサの製造方法について説明する。 図 6および図 7はこの圧力センサを製造する際の主要な工程を示す断面図である。 ただし図 6 および図 7には、 一方の基板にキヤビティ、 電極取出し穴および固定電極を形成 し、 他方の基板をダイアフラムとして用いた圧力センサの製造工程が示されてい る。
圧力センサの製造に際しては、 厚みの厚いサファイアウェハ 3 0を用意する (図 6 ( a ) ) 。 このサファイアウェハ 3 0に電極取出し穴 3 1と大気圧導入用 穴 (図示せず) を貫通形成する (図 6 ( b ) ) 。 これらの電極取出し穴 3 1と大 気圧導入用穴を形成する方法としては、 機械加工、 レーザ一加工、 超音波加工等 がある。
次いで、 サファイアウェハ 3 0の内側となる面に、 キヤビティ 7となる所望の 深さの凹部 8を形成する (図 6 ( c ) ) 。 凹部 8の形成は、 基板材料がサフアイ ァのときはドライエッチングで行い、 ガラス、 アルミナのときはドライエツチン グまたはウエットエッチングのいずれで行ってもよい。 キヤビティ 7の平面形状 は図 2に示されるような円形でもよいし、 四角形でもよい。
次いで、 凹部 8の底面の所望の位置に固定電極 1を形成する (図 6 ( d ) ) 。 固定電極 1の材料は、 P t Z密着増強膜である。 密着増強膜としては、 T i , V, C r, N b , Z r, H f , T a等が用いられる。 密着補強膜の成膜方法は、 真空 蒸着、 イオンプレーティング、 スパッタリング等があり、 電極形状に形成するに はシャド一マスクでの成膜とフォトリソグラフィー ·エッチングによる方法とが ある。
次に、 ダイアフラムウェハ 35を用意する (図 7 (a) ) 。 このダイアフラム ウェハ 35の内側となる面に、 前記固定電極 1と同様の材料、 同様の方法で所望 の位置に可動電極 3を形成する (図 7 (b) ) 。
続いて、 電極取出し用のパッド 24, 25を形成する (図 7 (c) ) 。 パッド 材料は A u バリア層 Z密着増強膜で、 例えば Au/P tZNbが用いられる。 パッド 24, 25は、 真空蒸着、 イオンプレーティング、 スパッタリング等によ つて成膜される。
次に、 基板 30, 35を洗浄した後、 400° C〜l 300 ° Cで基板 30, 35を直接接合することで、 強固な接合が得られる (図 7 (d) ) 。
最後に、 下端部に S n— Ag半田 12が塗布された接続ピン 1 1を電極取出し 穴 31に圧入し、 240° Cから 300 ° Cで加熱溶融した後、 冷却して接続ピ ン 1 1をパッド 24, 25に固着する (図 7 (e) ) 。 こうして固定電極 1一接 続ピン 11 _パッド 25、 可動電極 3—パッド 24—接続ピン 1 1をそれぞれ機 械的および電気的に接合する。
この接続ピン 1 1の接合工程は、 ダイシングで一つ一つのチップに分割した後 に行われる。 しかし、 一度に電極を取り出すために、 ダイシングで分割する前に S n— Ag半田 12を挿入してコンタクトをとるようにしてもよい。 この方法に よれば、 円柱状のプリフォームの S n— A g半田を電極取出し穴 31に揷入し、 240° Cから 300° Cで加熱することで、 ウェハの状態で電極が取出せる構 造ができあがる。 これによりパッケージ方法に依存するが、 大量生産が可能とな る。
(第 2の実施の形態)
図 8は本発明に係るセンサの第 2の実施の形態を示す断面図、 図 9は図 8の IX 部拡大断面図、 図 10は図 8の A部拡大断面図である。 図 1と同じく、 図 8にも 本発明が静電容量式圧力センサに適用された例が示されている。 なお、 図 1〜図 5と同一部分については同一符号をもって示し、 その説明を適宜省略する。 図 8に示された圧力センサ 120は、 キヤビティ 7内の固定電極 1および可動 電極 3をセンサ本体 2の外部に取り出す接続部材の構造が図 1に示された圧力セ ンサ 2 0と異なる。 すなわち、 圧力センサ 1 2 0ではキヤビティ 7を外部と連通 させる電極取出し穴 1 0 4 a〜 1 0 4 cを半田 1 1 1で埋め込み、 この半田 1 1 1を接続部材として利用する。
センシング用電極 3 Aとリファレンス用電極 3 Bの電極取出し部 1 5 A, 1 5 Bには、 可動電極取出し用のパッド 2 4がそれぞれ設けられている。 このパッド 2 4は、 図 4に示されたのと同じものであり、 例えば A u Z P tノ N bが使用さ れる。 接合剤としても機能する半田 1 1 1には、 半田 1 2と同一材料である S n — A gが用いられる。
可動電極 3の接続部材は、 十分な量の溶融半田 1 1 1を電極取出し穴 1 0 4 b, 1 0 4 cから流し込み、 この半田 1 1 1を冷却することによって形成される。 こ の際、 上述したように、 溶融時の S n— A g半田 1 1 1は表面が A uからなるパ ッド 2 4との濡れ性が非常によいので、 凝固した半田 1 1 1はパッド 2 4と強固 に接合される。 その一方で、 溶融時の S n—A g半田 1 1 1は表面が P tからな る電極材料に対しては濡れ性が低いので、 流し込まれた S n— A g半田 1 1 1が 仮にパッド 2 4上から溢れ出したとしても、 電極取出し部 1 5 A, 1 5 Bの表面 に沿って流れ難く、 固定電極 1と可動電極 3との短絡を招くおそれが少ない。 また、 第 2の基板 2 Bの内面 2 1 bで第 1の電極 1の電極取出し部 1 4に対応 する部位には、 固定電極取出し用の導電性パッド 2 5が設けられている。 このパ ッド 2 5は可動電極用のパッド 2 4と同一材料によって形成されている。
固定電極 1の接続部材も可動電極 3の接続部材と同様に形成され、 S n— A g 半田 1 1 1と、 表面が A uからなるパッド 2 5とを用いることにより、 両者は強 固に接合される。 また、 キヤビティ 7の深さ dが数 i mであるので、 毛細管力に より S n—A g半田 1 1 1はパッド 2 5上をキヤビティ 7を埋めるように広がり、 固定電極 1の電極取出し部 1 4と接触する。 これにより、 固定電極 1と半田 1 1 1からなる接続部材とを確実に導通させることができる。 なお、 半田 1 1 1は電 極材料とは濡れ性が低いので、 固定電極 1と可動電極 3との短絡を招くおそれが 少ない。
ところで、 電極取出し穴 1 0 4 a〜l 0 4 cには、 第 1の基板 2 Aの外面から 内面に向かって内径が小さくなつていくようなテ一パ一がついている。 このテー パーにより、 溶融半田 1 1 1の流れ込みがスムーズになるという効果が得られる。 ただし、 電極取出し穴 1 1 1にテーパーがついていなくても溶融半田 1 1 1を流 し込めるので、 必ずしもテ一パーがついていなくてもよい。
次に、 本実施の形態の圧力センサの製造方法について説明する。 図 1 1はこの 圧力センサを製造する際の主要な工程を示す断面図である。 ただし図 1 1には、 一方の基板にキヤビティ、 電極取出し穴および固定電極を形成し、 他方の基板を ダイアフラムとして用いた圧力センサの製造工程が示されている。
まず、 図 1 1 ( a ) に示される部材を用意する。 この部材は前掲の図 6 ( a ) 〜 ( d ) 、 図 7 ( a ) 〜 (d ) に示されたのと同様の方法で作成される。 ただし、 電極取出し穴 1 3 1の内径は 5 0〜5 0 0 m程度であり、 パッド 2 4, 2 5上 から電極取出し穴 1 3 1の出口 (キヤビティ 7を形成する第 1の基板 1 3 0の内 面における部分) までの高さは 3 0 0〜7 0 0 / m程度である。 また、 図 1 1 ( a )に示されるように電極取出し穴 1 3 1にテーパーをつけるには、 レ一ザ一加 ェを用いてサファイアウェハ 1 3 0に電極取出し穴 1 3 1を貫通形成すればよレ^ 次に、 電極取出し穴 1 3 1の入口 (第 1の基板 1 3 0の外面における部分) に S n— A gからなる半田ボール 1 1 1 Aを配置する。 半田の塊である半田ボール 1 1 1 Aの大きさは、 次の工程で溶融された半田 1 1 1がキヤビティ 7内におけ るパッド 2 4 , 2 5上の空間および電極取出し穴 1 3 1を満たすように決められ る。 この半田ボール 1 1 1 Aの直径は電極取出し穴 1 3 1の入口の内径よりも大 きいので、 半田ボール 1 1 1 Aがキヤビティ 7内に落ちてしまうことはない。 な お、 電極取出し穴 1 3 1の入口の周囲にジグ 1 2 7を取り付けることで、 半田ボ —ル 1 1 1 Aを所望の位置に配置しやすくなる (図 1 1 ( b ) ) 。
次いで、 センサ本体を 2 4 0 ° Cから 3 0 0 ° Cで加熱して、 半田ボール 1 1 1 Aを溶融し電極取出し穴 1 3 1からパッド 2 4 , 2 5上に流し込む。 そのあと 冷却して、 ノ\°ッド2 4, 2 5に接合された半田 1 1 1で電極取出し穴 1 3 1を埋 め込み、 この半田 1 1 1を接続部材として利用する。 最後にジグ 1 2 7を取り除 き、 完成する (図 1 1 ( C ) ) 。
上記の条件 (電極取出し穴 1 3 1の内径、 パッド 2 4 , 2 5から電極取出し穴 1 3 1の出口までの高さ、 温度) の下では、 溶融半田 1 1 1はそれ自体の重さの みで電極取出し穴 1 3 1からパッド 2 4 , 2 5まで達する。 しかし、 電極取出し 穴 1 3 1の内径および半田 1 1 1の組成等によっては、 半田 1 1 1の表面張力お よび電極取出し穴 1 3 1内面の摩擦係数等により、 溶融半田 1 1 1自体の重さだ けではキヤビティ 7内に流れ込まない場合も想定できる。 このような場合には、 次のような方法で溶融半田 1 1 1の流入を促すことができる。
第 1の方法は、 センサ本体 2の外部とキヤビティ 7の内部との圧力差を利用す る方法である。 図 1 1 ( b ) に示される工程では各電極取出し穴 1 3 1は半田ボ ール 1 1 1 Aによって蓋をされているので、 大気圧導入用穴 (図 3の大気圧導入 穴 5参照) がある場合にはその穴を塞ぐことによって、 キヤビティ 7は密閉され る。 この状態でセンサ本体 2の外圧を十分高くして加熱すれば、 電極取出し穴 1 3 1の両側の圧力差によって、 溶融された半田 1 1 1を強制的に電極取出し穴 1 3 1からキヤビティ 7内に導入できる。 また、 大気圧導入用穴がある場合には、 この穴から排気してキヤビティ 7内を減圧することによつても、 同様の効果が得 られる。
第 2の方法は、 電極取出し穴 1 3 1の内面の濡れ性を良くする方法である。 例 えば電極取出し穴 1 3 1の内面を A uで覆うことによって溶融半田 1 1 1の濡れ 性が高くなるので、 溶融半田 1 1 1は流れ込みやすくなる。 電極取出し穴 1 3 1 の入口付近のみを A uで覆っても効果が得られる。
以上、 本発明を静電容量式圧力センサに適用した例を示したが、 本発明はこれ に特定されるものではなく、 センサ本体のキヤビティ内に設けられた電極を外部 に取り出すようにしたセンサであれば何でもよく、 例えば容量式加速度センサ等 にも適用可能である。
また、 キヤビティついては、 2つの基板の一方に凹部を形成してキヤビティを 作成する例を示したが、 2つの基板の間にスぺ一サを挟んでキヤビティを作成す るようにしてもよい。
以上説明したように、 本発明のセンサでは、 電極に対して濡れ性が低い接続部 材と、 この接続部材と濡れ性の高いパッドを用いて電極を取出すようにする。 こ れにより、 接続部材と電極とを強固に接合できるとともに、 溶融された接続部分 の一部が電極面上に流れて電極どうしが短絡するおそれがなく、 電極と接続部材 とを確実に導通させることができる。 したがって、 従来よりも歩留まりがよく、 量産性に優れたセンサを実現できる。
この場合、 接合剤で接続ピンをパッドに接合して接続部材を形成することによ つて、 接続部材と電極との極めて確実な導通が得られる。
一方、 電極取出し穴を半田で埋め込み、 この半田を接続部材として利用するこ とによって、 簡単に接続部材を形成できる。
このとき、 電極取出し穴にテーパーをつけることによって、 溶融半田の流れ込 みがスムーズになるという効果が得られる。
また、 このとき、 電極取出し穴の内面を半田に対して濡れ性の高い材料で覆う ことにより、 埋め込み半田からなる接続部材を確実に作成できる。
また、 本発明のセンサ製造方法では、 電極取出し穴からパッド上に溶融半田を 流し込み、 電極取出し穴を溶融半田で満たしたあと冷却して、 電極取出し穴を半 田で埋め込む。 この半田を接続部材として利用することによって、 接続部材の形 成が簡単になる。
この製造方法において、 レーザ一加工を用いて電極取出し穴を形成すれば、 電 極取出し穴にテーパーをつけられるので、 溶融半田をスムーズに流し込めるよう になる。

Claims

請求の範囲
( 1 ) 複数個の電極取出し穴によって外部と連通するキヤビティが内部に形成さ れたセンサ本体と、
前記キヤビティ内に互いに対向して設けられた一対の電極と、
前記電極取出し穴より前記キヤビティ内に挿通されかつ対応する前記電極にそ れぞれ電気的に接続される複数本の接続部材と、
前記キヤビティ内における前記電極取出し穴と対向する位置に設けられるとと もに対応する前記接続部材と接合されかつ導電材料からなるパッドとを備え、 前記接続部材の前記パッド表面に対する濡れ性は、 前記接続部材の前記電極表 面に対する濡れ性よりも高いことを特徴とするセンサ。
( 2 ) 請求項 1において、
前記パッドは、 前記電極取出し穴と対向する位置にある前記電極の面上に形成 されており、
この電極は、 前記パッドを介して対応する前記接続部材と接続されていること を特徴とするセンサ。
( 3 ) 請求項 2において、
前記接続部材は、
前記電極取出し穴より前記キヤビティ内に揷通された接続ピンと、
前記接続ピンを前記パッドと接合する接合剤とを備えることを特徴とするセン サ。
( 4 ) 請求項 3において、
前記接合剤の材料は、 S n— A gであり、
前記電極の表面の材料は、 P tであり、
前記パッドの表面の材料は、 A uであることを特徴とするセンサ。
( 5 ) 請求項 1において、
前記パッドは、 前記キヤビティを形成する前記センサ本体の内面のうち前記電 極取出し穴側と反対側の面上で前記電極取出し穴と対向する位置に形成されてお り、
前記電極取出し穴側に設けられた前記電極は、 対応する前記接続部材と接触し ていることを特徴とするセンサ。
(6) 請求項 5において、
前記接続部材は、
前記電極取出し穴より前記キヤビティ内に挿通された接続ピンと、
前記接続ピンを前記パッドおよび前記電極取出し穴側に設けられた前記電極と 接合する接合剤とを備えることを特徴とするセンサ。
(7) 請求項 6において、
前記接合剤の材料は、 Sn— Agであり、
前記電極の表面の材料は、 P tであり、
前記パッドの表面の材料は、 Auであることを特徴とするセンサ。
(8) 請求項 1において、
前記接続部材は、 前記キヤビティ内における前記パッド上の空間および前記電 極取出し穴を埋め込む半田からなることを特徴とするセンサ。
(9) 請求項 8において、
前記半田の材料は、 Sn— Agであり、
前記電極の表面の材料は、 P tであり、
前記パッドの表面の材料は、 Auであることを特徴とするセンサ。
(10) 請求項 8において、
前記電極取出し穴は、 前記センサ本体の外面から内面に向かって内径が小さく なっていくようなテーパーがついていることを特徴とするセンサ。
(11) 請求項 8において、
前記電極取出し穴の内面の少なくとも一部が前記半田に対して濡れ性の高い材 料で覆われていることを特徴とするセンサ。
(12) センサ本体の内部に複数個の電極取出し穴によって外部と連通するキヤ ビティが形成され、 前記キヤビティ内に互いに対向して一対の電極が設けられ、 半田との濡れ性が前記電極よりも高い導電材料からなる複数個のパッドが前記キ ャビティ内における前記電極取出し穴と対向する位置にそれぞれ設けられた部材 を用意し、
前記電極取出し穴から前記キヤビティ内の前記パッド上に溶融した前記半田を - 1 o -
流し込んで、 前記キヤビティ内における前記パッド上の空間および前記電極取出 し穴を溶融した前記半田で満たし、
溶融した前記半田を冷却して、 前記電極取出し穴に埋め込まれた前記半田によ つて前記キャビティ内の前記電極を取り出すことを特徴とするセンサの製造方法。
(13) 請求項 12において、
前記センサ本体の外面における前記電極取出し穴の入口に所定の大きさの前記 半田の塊を配置し、 前記半田を加熱溶融して流し込むことを特徴とするセンサの 製造方法。
(14) 請求項 13において、
前記電極取出し穴の入口の周囲にジグを取り付けた後で前記半田の塊を配置す ることを特徴とするセンサの製造方法。
(15) 請求項 13において、
前記センサ本体外の圧力を前記キヤビティ内の圧力よりも高くして前記半田を 加熱溶融することを特徴とするセンサの製造方法。
(16) 請求項 12において、
前記パッドは前記電極取出し穴と対向する位置にある前記電極の面上に形成さ れており、 このパッドに前記半田を接合することを特徴とするセンサの製造方法。
(17) 請求項 12において、
前記パッドは前記キヤビティを形成する前記センサ本体の内面のうち前記電極 取出し穴側と反対側の面上で前記電極取出し穴と対向する位置に形成されており、 前記電極取出し穴側に設けられた前記電極に前記半田を接触させることを特徴と するセンサの製造方法。
(18) 請求項 12において、
レーザー加工を用いて前記電極取出し穴を形成することを特徴とするセンサの 製造方法。
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