TWI667134B - 量子點保護膜、使用其之量子點薄膜及背光單元 - Google Patents

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TWI667134B
TWI667134B TW104123162A TW104123162A TWI667134B TW I667134 B TWI667134 B TW I667134B TW 104123162 A TW104123162 A TW 104123162A TW 104123162 A TW104123162 A TW 104123162A TW I667134 B TWI667134 B TW I667134B
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北原吏里
時野谷修
西川健
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日商凸版印刷股份有限公司
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Abstract

本發明之第1量子點保護膜，其具備：包含二氧化矽蒸鍍層的第1阻隔薄膜、及第1擴散層。二氧化矽蒸鍍層之O/Si比以原子比為1.7以上2.0以下，二氧化矽蒸鍍層之折射率為1.5以上1.7以下，在波長450nm、波長540nm、及波長620nm之全部的波長之第1量子點保護膜的反射率為10%以上20%以下，且透射率為80%以上95%以下。

Description

量子點保護膜、使用其之量子點薄膜及背光單元
本發明係關於一種量子點保護膜、使用其之量子點薄膜及背光單元。
液晶顯示器為利用電壓之施加控制液晶之配向狀態，且藉由對每一區域透射或阻隔光而顯示圖像等之顯示裝置。作為該液晶顯示器之光源，可利用設置於液晶顯示器之背面的背光。背光，以往係使用冷陰極管，但最近因為壽命長、顯色良好等之理由，所以逐漸使用LED(發光二極體)代替冷陰極管。
然後，近年來使用量子點的奈米尺寸之螢光體被產品化。量子點係指發光性之半導體奈米粒子，且半導體奈米粒子的直徑的範圍為1~20nm左右。量子點顯示寬廣的激發光譜且具有高的量子效率，因此可作為LED波長轉換用螢光體使用。再者，有僅藉由變更量子點之點尺寸或半導體材料之種類，使量子點之發光波長橫跨可見區全體而可完全調整之優點。因此，量子點事實上可說藏有做出任何色，尤其是照明業界所強烈希望之暖白色的可能性。此外，組合對應於紅、綠、藍之發光波長的3種類的量子點時，可得到演色性指數不同的白 色光。如前述，使用利用量子點之背光的液晶顯示器，不會較以往者更增加厚度或消耗電力、成本、製造程序，並可提升色調，且變得可展現人可辨識的顏色之大部分。
使用白色LED的背光，具有將波長轉換片與LED光源及導光板組合的構成，該波長轉換片係使具備既定之發光光譜的螢光體(量子點)擴散於薄膜內，將其表面以阻隔薄膜密封，並根據情況也密封邊緣部的波長轉換片。阻隔薄膜為在塑膠薄膜等之基材的表面藉由蒸鍍等來形成薄膜，而防止水分或氣體之透過者。對於阻隔薄膜，除了阻隔性以外，亦要求所謂傷痕或皺褶的外觀不良之抑制或透明性等。例如，專利文獻1中提案有為了抑制螢光體之劣化，而具有將螢光體以阻隔薄膜夾持的構造之背光。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本特開2011-013567號公報
以往的阻隔薄膜，其係可作為食品或醫療品等之包裝材料或電子裝置等之封裝材料使用的薄膜。因此，製作藉由以往的阻隔薄膜密封量子點的顯示器時，因為阻隔薄膜之阻隔性不足，所以有因對量子點層內之水蒸氣的入侵等而難以維持量子點層之特性的情況。因 此，包含該量子點層的背光單元，無法維持高亮度，而且，背光單元應用於顯示器時，在顯示器產生由色彩不均一等導致的色調變化、及黑點等之色彩再現不良而外觀差。
本發明之目的在於提供一種阻隔性佳，在構成背光時可於長時間得到高亮度，並且，在構成顯示器時可於長時間得到優異的外觀之量子點保護膜、以及包含該量子點保護膜的量子點薄膜。再者，本發明之目的在於提供一種可得到高亮度與顯示器應用時之優異的外觀之背光單元。
涉及本發明之一形態的量子點保護膜，其係具備「包含二氧化矽蒸鍍層的阻隔薄膜」、及「擴散層」之量子點保護膜，二氧化矽蒸鍍層所含的氧與矽之O/Si比以原子比為1.7以上2.0以下，二氧化矽蒸鍍層之折射率為1.5以上1.7以下，在波長450nm、波長540nm、及波長620nm之全部的波長中，量子點保護膜之反射率為10%以上20%以下，且透射率為80%以上95%以下。
根據該量子點保護膜，O/Si比以原子比為1.7以上，因此可將二氧化矽蒸鍍層內之Si-Si鍵的比例抑制為低，使有色的金屬變少，並提升二氧化矽蒸鍍層之透射率。又，因為O/Si比以原子比為2.0以下，所以蒸鍍膜之成長變密，二氧化矽蒸鍍層之阻隔性優異。該量子點保護膜，可減低水蒸氣等之入侵。因此，製作包含具有該量子點保護膜的量子點薄膜之背光單元時，其背光單 元於長時間維持高亮度，而且抑制顯示器應用時之色彩不均一及黑點之產生，維持優異的外觀。又，二氧化矽蒸鍍層之折射率為1.5以上1.7以下，量子點保護膜之反射率為10%以上20%以下，而且，透射率為80%以上95%以下。因此，該量子點保護膜，可減低在薄膜內之光學干涉，而且提升背光單元之亮度。
上述量子點保護膜中，阻隔薄膜具有在聚酯薄膜之至少單面上，依序積層密合層、二氧化矽蒸鍍層、及複合被膜層的構造，複合被膜層為包含選自於含有水溶性高分子、金屬烷氧化物、金屬烷氧化物之水解物、及矽烷偶合劑的群組中之至少一種的層較佳。根據該量子點保護膜，因為進一步設置具有阻隔性的複合被膜層，所以水蒸氣阻隔性等被有效地改良。
上述量子點保護膜中，聚酯薄膜為包含重量平均分子量為6萬以上之聚對苯二甲酸乙二酯的聚對苯二甲酸乙二酯薄膜較佳。根據該量子點保護膜，因為聚對苯二甲酸乙二酯薄膜(PET薄膜)之末端羧基的濃度下降，所以反應點減少，PET薄膜之耐水解性能提升。因此，可維持PET薄膜之高阻隔性。
上述量子點保護膜中，阻隔薄膜具有二氧化矽蒸鍍層與複合被膜層交互積層各2層以上的構造較佳。根據該量子點保護膜，因為二氧化矽蒸鍍層與複合被膜層交互積層各2層以上，所以氣體阻隔性進一步提升，且可將使用量子點的螢光體之性能發揮至最大，結果得到高效率且高精細、壽命長的顯示器。
上述量子點保護膜中，具備阻隔薄膜2層以上較佳。根據該量子點保護膜，因為設置多個阻隔薄膜，所以阻隔性進一步提升。
涉及本發明之一形態的量子點薄膜，具備包含螢光體的量子點層與上述量子點保護膜較佳。根據該量子點保護膜，藉由包含螢光體的量子點層，提供寬廣的激發光譜與高量子效率。該量子點薄膜，因為含有具有優異的阻隔性之量子點保護膜，所以可於長時間維持高量子效率等之良好的光學特性。
上述量子點薄膜中，係依序積層擴散層、阻隔薄膜、量子點層、阻隔薄膜、及擴散層較佳。根據該背光，因為在量子點層之兩側設置擴散層及阻隔薄膜，所以可充分密封量子點層，而且，藉由兩側之擴散層可確保光之擴散性朝兩方向。
上述背光單元中，係具備LED光源、導光板、及在導光板上設置之上述量子點薄膜較佳。根據該背光單元，可於長時間得到高亮度與顯示器應用時之優異的外觀。
根據本發明，可提供一種阻隔性佳，在構成背光時可於長時間得到高亮度，並且，在構成顯示器時可於長時間得到優異的外觀之量子點保護膜、及包含該量子點保護膜的量子點薄膜。再者，根據本發明，可提供一種可得到高亮度與顯示器應用時之優異的外觀之背光單元。
1‧‧‧第1量子點保護膜
2‧‧‧第1量子點薄膜
3‧‧‧量子點層
4‧‧‧第2量子點保護膜
5‧‧‧第3量子點保護膜
10‧‧‧第1阻隔薄膜(阻隔薄膜)
11‧‧‧第1聚酯薄膜
12‧‧‧第1密合層(密合層)
13‧‧‧第1二氧化矽蒸鍍層(二氧化矽蒸鍍層)
14‧‧‧第1複合被膜層
15‧‧‧第2二氧化矽蒸鍍層
16‧‧‧第2複合被膜層
20‧‧‧第1擴散薄膜
21‧‧‧第2聚酯薄膜
22‧‧‧第1擴散層
30‧‧‧接著劑層
31‧‧‧第2擴散層
40‧‧‧背光單元
42‧‧‧導光板
51‧‧‧第2阻隔薄膜
52‧‧‧第2擴散薄膜
53‧‧‧第2接著劑層
60‧‧‧第3阻隔薄膜
61‧‧‧第2聚酯薄膜
62‧‧‧第2密合層
63‧‧‧第3二氧化矽蒸鍍層
64‧‧‧第3複合被膜層
65‧‧‧第4二氧化矽蒸鍍層
66‧‧‧第4複合被膜層
L1‧‧‧LED光
L2‧‧‧白色光
[第1圖]為涉及本發明之實施形態的第1量子點保護膜之示意剖面圖。
[第2圖]為涉及本發明之實施形態的背光單元之示意剖面圖。
[第3圖]為涉及本發明之實施形態的第1量子點薄膜之示意剖面圖。
[第4圖]為涉及本發明之實施形態的第3量子點保護膜之示意剖面圖。
[實施發明之形態]
以下一邊參照圖式一邊對於本發明之適當的實施形態詳細地說明。再者，圖式中，在相同或相當部分標記相同符號，且省略重複的說明。又，上下左右等之位置關係，只要沒有特別說明，則基於圖式所示的位置關係。再者，圖式之尺寸比率並沒有限定於圖式之比率。
(量子點保護膜)
第1圖為涉及本發明之實施形態的第1量子點保護膜之示意剖面圖。第1量子點保護膜(量子點保護膜)1具備第1阻隔薄膜(阻隔薄膜)10、第1擴散薄膜20、及接著劑層30。接著劑層30位於第1阻隔薄膜10與第1擴散薄膜20之間，且隔著接著劑層30貼合第1阻隔薄膜10與第1擴散薄膜20。
第1阻隔薄膜10具備：包含第1聚酯薄膜11的基材、第1密合層(密合層)12、第1二氧化矽蒸鍍層(二氧化矽蒸鍍層)13、第1複合被膜層(複合被膜層)14、第2二氧化矽蒸鍍層15、及第2複合被膜層16。在包含第1聚酯薄膜11的基材上，依序設置第1密合層12、第1二氧化矽蒸鍍層13、第1複合被膜層14、第2二氧化矽蒸鍍層15、及第2複合被膜層16。第2複合被膜層16接著於接著劑層30。
第1擴散薄膜20具備：包含第2聚酯薄膜21的基材與第1擴散層22，且第1擴散層22設置於包含第2聚酯薄膜21的基材上。第2聚酯薄膜21中，與第1擴散層22相接的面為相反側的面，係接著於接著劑層30。
(第1阻隔薄膜)
<第1聚酯薄膜>
本發明所使用的第1聚酯薄膜11，並沒有特別限定，但例如，可為包含聚對苯二甲酸乙二酯(PET)及聚萘二甲酸乙二酯(PEN)等之聚酯薄膜、包含聚乙烯、聚丙烯、環狀烯烴共聚物(COC)、及環烯烴聚合物(COP)等之聚烯烴薄膜、聚苯乙烯薄膜、包含6,6-耐綸等之聚醯胺薄膜、聚碳酸酯薄膜、聚丙烯腈薄膜、及聚醯亞胺薄膜等之工程塑膠薄膜等。作為第1聚酯薄膜11，特別是朝雙軸方向任意延伸的雙軸延伸聚酯薄膜較佳。雙軸延伸聚酯薄膜，其尺寸安定性、耐熱性、及透明性佳。
第1聚酯薄膜11的厚度，並沒有特別限定，但為3μm~200μm之範圍較佳，6μm~50μm之範圍更佳。該 第1聚酯薄膜11的厚度為考慮到將第1密合層12、第1二氧化矽蒸鍍層13、第1複合被膜層14、第2二氧化矽蒸鍍層15、及第2複合被膜層16積層時之加工性的數值。再者，在各層之積層時，為了提升各層之密合性，例如，可任意施以電漿處理、電暈放電處理、臭氧處理、及輝光放電處理之其他的前處理。
作為第1聚酯薄膜11，使用酸價(將樹脂1g中和所需要的氫氧化鉀之mg數)為25mgKOH/g以下的聚對苯二甲酸乙二酯系薄膜特佳。在此，第1聚酯薄膜11之酸價超過25mgKOH/g時，尤其會損及在高溫高濕環境下的基材安定性，引起阻隔性之下降，因此較不佳。另一方面，酸價為25mgKOH/g以下時，基材安定性增加，在高溫高濕環境下阻隔性也不會下降且安定，因此較佳。再者，作為酸價之測定方法，秤量經切割的第1聚酯薄膜11，例如，於甲酚加熱溶解後冷卻，之後，以氫氧化鉀乙醇溶液等滴定，而可定量酸價。作為指示劑，例如，可使用酚酞溶液(參照JIS K0070)。
第1聚酯薄膜11中，例如，在60℃/90%RH及85℃/85%RH等之嚴酷的環境下之顯示器機能的加速劣化試驗中，因為第1聚酯薄膜11之阻隔性安定地展現，所以耐水解性能優異而較佳。為了耐水解性能佳，例如，作為第1聚酯薄膜11之PET薄膜，就重量平均分子量而言，6萬以上較佳。PET薄膜，其重量平均分子量小於6萬時，通常變得容易引起水解，因此PET薄膜之阻隔性容易劣化。PET薄膜，為了耐水解性能佳，所以末端羧基 之濃度減少直到25當量/106g以下較佳。末端羧基之濃度減少直到25當量/106g以下時，因為反應點減少，所以PET薄膜之耐水解性能提升。聚酯中之末端羧基的濃度，可藉由記載於文獻(ANALYTICL CHEMISTRY第26卷、1614頁)的方法進行測定。重量平均分子量，可藉由所謂常溫GPC分析之方法進行測定。
PET薄膜為光透射性與平滑性優異的薄膜較佳。因此，為了提升PET薄膜之光透射性，減低使用於PET薄膜的滑劑較佳。又，在對PET薄膜積層第1二氧化矽蒸鍍層之際，為了不發生第1二氧化矽蒸鍍層破裂等，而且，為了使第1二氧化矽蒸鍍層成為均勻的薄膜，PET薄膜之中心線表面粗糙度(Ra)為30nm以下較佳。中心線表面粗糙度(Ra)為30nm以下的話，PET薄膜可說是具有優異的平滑性。PET薄膜之表面粗糙度，可採用依據JIS B0601的方法進行測定。
<第1密合層>
在第1聚酯薄膜11上設置第1密合層12。第1密合層12，係為了得到與第1二氧化矽蒸鍍層之密合而適當設置。第1密合層12，可藉由在第1聚酯薄膜11之延伸時塗布的線內(in-line)方式、及第1聚酯薄膜11製膜後之以線外塗布的線外(off-line)方式中之任一者的方法而形成，或者，可藉由線內方式及線外方式之雙方而形成。作為第1密合層12，並沒有特別限定，但用以形成利用線內方式之第1密合層12的密合層用組成物，例如，可為丙烯酸材料或胺基甲酸酯(urethane)材料。用以形成利用線外之第 1密合層12的密合層用組成物，例如，可為丙烯酸多元醇等之具有羥基的化合物與具有異氰酸酯基的異氰酸酯化合物之2液反應複合物。第1聚酯薄膜11中，可不僅於其單面，亦可在兩面設置第1密合層12。
<第1二氧化矽蒸鍍層及第2二氧化矽蒸鍍層>
第1二氧化矽蒸鍍層13及第2二氧化矽蒸鍍層15為展現阻隔性的層。作為蒸鍍層，就展現阻隔性的無機化合物而言，例如，有氧化鋁、氧化矽、氧化錫、氧化鎂、氧化鋅、或該等之混合物等，本實施形態中，可選擇包含氧化矽的二氧化矽蒸鍍層。第1二氧化矽蒸鍍層13及第2二氧化矽蒸鍍層15，具有在60℃/90%RH及85℃/85%RH等之嚴酷的環境下的顯示器機能之加速劣化試驗中的耐濕性。二氧化矽蒸鍍層，例如，可利用所謂真空蒸鍍法、濺鍍法、離子鍍覆法、電漿氣相沉積法(CVD)等之方法進行製造。
構成第1二氧化矽蒸鍍層13及第2二氧化矽蒸鍍層15的氧及矽之O/Si比以原子比皆為1.7以上2.0以下較佳。O/Si比，以原子比為小於1.7時，由於第1二氧化矽蒸鍍層13及第2二氧化矽蒸鍍層15內的Si-Si鍵之比例變多，且含有很多有色之金屬，故第1二氧化矽蒸鍍層13及第2二氧化矽蒸鍍層15之透射率下降。又，O/Si比，以原子比超過2.0時，第1二氧化矽蒸鍍層13及第2二氧化矽蒸鍍層15不會展現阻隔性。作為適於顯示器用途的第1二氧化矽蒸鍍層13及第2二氧化矽蒸鍍層15之O/Si比，以原子比為1.85~2.0更佳。
二氧化矽蒸鍍層之O/Si比，例如，可利用X射線光電子分光法(XPS)進行測定。作為XPS測定裝置，具體而言，例如，可為X射線光電子分光分析裝置(日本電子股份有限公司製JPS-90MXV)。在X射線源中，使用非單色化MgKα(1253.6eV)，X射線輸出值，例如，可為100W(10kV-10mA)。在用以求出O/Si比之定量分析中，例如，相對於O之1s軌道使用2.28的相對感度因子，相對於Si之2p軌道使用0.9的相對感度因子。
構成與第1二氧化矽蒸鍍層13及第2二氧化矽蒸鍍層15相接的第1複合被膜層14等之第1量子點保護膜1的有機層(第1複合被膜層14、第2複合被膜層16)之折射率，較佳為1.5~1.7。因此，為了防止在第1量子點保護膜1內之光學干涉，第1二氧化矽蒸鍍層13及第2二氧化矽蒸鍍層15之折射率為1.5以上1.7以下較佳。作為第1二氧化矽蒸鍍層13及第2二氧化矽蒸鍍層15之折射率，除了阻隔性以外，亦為了顯示器用途，從透明性之觀點，更佳為1.6~1.65。再者，在二氧化矽蒸鍍層之折射率的測定之際，可藉由物理氣相沉積(PVD)法，在PET薄膜上形成折射率不同之幾種二氧化矽蒸鍍膜。二氧化矽蒸鍍層之折射率，可自二氧化矽蒸鍍層的厚度與藉由光干涉產生的透射率曲線算出。
第1二氧化矽蒸鍍層13及第2二氧化矽蒸鍍層15的厚度為5nm~300nm之範圍內較佳。第1二氧化矽蒸鍍層13及第2二氧化矽蒸鍍層15的厚度小於5nm時，難以得到均勻的膜，而且，難以充分發揮作為氣體阻隔材之 機能。第1二氧化矽蒸鍍層13及第2二氧化矽蒸鍍層15的厚度超過300nm時，於第1二氧化矽蒸鍍層13及第2二氧化矽蒸鍍層15難以保持撓性，而且，在蒸鍍膜之成膜後，因為折曲及拉伸等之外在因素，而容易在蒸鍍膜產生龜裂。第1二氧化矽蒸鍍層13及第2二氧化矽蒸鍍層15的厚度，考慮到利用線內製膜之生產性時，更佳為10~50nm的範圍內。
作為形成第1二氧化矽蒸鍍層13及第2二氧化矽蒸鍍層15的方法，例如，亦可為真空蒸鍍法、濺鍍法、離子鍍覆法、及電漿氣相沉積法(CVD)等之任一者。作為真空蒸鍍法所需要的加熱手段，可使用電子束加熱方式、電阻加熱方式、及感應加熱方式中之任一者的方式。為了提升第1二氧化矽蒸鍍層13及第2二氧化矽蒸鍍層15之光透射性，例如，亦可使用吹送氧等之各種氣體等之反應蒸鍍法。
<第1複合被膜層及第2複合被膜層>
第1複合被膜層14及第2複合被膜層16為具備氣體阻隔性的被膜層，可使用塗布劑形成。塗布劑，例如，係將含有選自於包含水溶性高分子、金屬烷氧化物、金屬烷氧化物之水解物、及矽烷偶合劑的群組中之至少一種的水溶液、或水/醇混合溶液作為主劑。
塗布劑，具體而言，例如，在水溶性高分子之水溶液、或水/醇混合溶液中直接混合金屬烷氧化物、金屬烷氧化物之水解物、及矽烷偶合劑而作成。或者，塗布劑，例如，在水溶性高分子之水溶液、或水/醇混合 溶液中混合預先進行水解等之處理的金屬烷氧化物與矽烷偶合劑而作成。塗布劑之溶液，在第1密合層12上塗布後，藉由進行加熱乾燥而形成第1複合被膜層14及第2複合被膜層16。又，塗布劑的溶液，在第1二氧化矽蒸鍍層13及第2二氧化矽蒸鍍層15上各別塗布後，藉由進行加熱乾燥而形成第1複合被膜層14及第2複合被膜層16。
作為在塗布劑使用的水溶性高分子，例如，可舉出含羥基的高分子化合物。含羥基的高分子化合物，例如，可為聚乙烯醇(PVA)、聚乙烯吡咯啶酮、澱粉、甲基纖維素、羧甲基纖維素、及海藻酸鈉等。作為塗布劑，PVA特佳。自PVA作成的複合被膜層，其氣體阻隔性佳。
金屬烷氧化物為通式M(OR)n(M：Si、Ti、Al、Zr等之金屬、R：CH3、C2H5等之烷基、n：對應於M之價數的數)所示的化合物。作為金屬烷氧化物，具體而言，例如，有四乙氧矽烷[Si(OC2H5)4]、及三異丙氧基鋁[Al(O-2’-C3H7)3]等。作為金屬烷氧化物，四乙氧矽烷及三異丙氧基鋁特佳。四乙氧矽烷及三異丙氧基鋁，水解後，在水系溶媒中比較安定。
矽烷偶合劑為通式R1 mSi(OR2)4-m(R1：有機官能基、R2：CH3、C2H5等之烷基、m：1~3的整數)所示的化合物。作為矽烷偶合劑，具體而言，例如，可為乙基三甲氧矽烷、乙烯三甲氧矽烷、γ-氯丙基甲基二甲氧矽烷、γ-氯丙基三甲氧矽烷、縮水甘油氧丙基三甲氧矽烷、γ-甲基丙烯醯氧丙基三甲氧矽烷、及γ-甲基丙烯醯氧 丙基甲基二甲氧矽烷等之矽烷偶合劑等。在矽烷偶合劑之溶液中，在不損及氣體阻隔性的範圍，也可因應需要添加異氰酸酯化合物、或是分散劑、安定化劑、黏度調整劑、及著色劑等之周知的添加劑。
作為塗布劑之塗布方法，例如，可使用浸漬法、輥塗布法、網版印刷法、噴灑法、及凹版印刷法等之以往周知的方法。乾燥後之第1複合被膜層14及第2複合被膜層16的厚度，較佳為0.01~50μm，更佳為0.1~10μm。乾燥後之複合被膜層的厚度小於0.01μm時，因為得不到均勻的塗膜，所以有得不到足夠的氣體阻隔性之情況。又，乾燥後之複合被膜層的厚度超過50μm時，變得容易在複合被膜層產生裂縫。
<接著劑層>
為了貼合第1阻隔薄膜10與第1擴散薄膜20，使用接著劑層30。作為接著劑層30之材料，例如，可為包含丙烯酸系材料或聚酯系材料等之接著劑及黏著劑。為了使第1量子點保護膜1的厚度變薄，接著劑層30的厚度為10μm以下較佳。
(第1擴散薄膜)
<第2聚酯薄膜>
包含第2聚酯薄膜21的基材與包含第2聚酯薄膜21的基材同樣地，例如，可為PET及PEN等之聚酯薄膜等。第2聚酯薄膜21，特別是朝雙軸方向任意延伸的雙軸延伸聚酯薄膜較佳。雙軸延伸聚酯薄膜，其尺寸安定性、耐熱性、及透明性佳。在第2聚酯薄膜21使用的PET薄膜也以 光透射性與平滑性均優異的薄膜較佳。
<第1擴散層>
第1擴散層22中，在其表面設置凹凸形狀，賦予光之擴散性。又，也賦予抗干涉條紋(波紋(moire))機能及抗反射機能等。第1擴散層22中，例如，藉由將使粒子等分散之有機層進行被膜的方法、及在被膜後之有機層進一步施以壓印加工的方法等，而形成凹凸形狀。將使粒子等分散之有機層進行被膜的方法中，例如，微粒係以自有機層之表面使微粒之一部分露出的方式埋入。藉此，在第1擴散層22之表面產生細微的凹凸，而於第1擴散層22防止牛頓環之產生。
有機層，例如，可為包含聚酯系樹脂、丙烯酸系樹脂、丙烯酸胺基甲酸酯系樹脂、聚酯丙烯酸酯系樹脂、聚胺基甲酸酯丙烯酸酯系樹脂、環氧丙烯酸酯系樹脂、及胺基甲酸酯系樹脂等之高分子樹脂的層。
又，有機層，例如，可為包含熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂、紫外線硬化型樹脂等之高分子樹脂的層。
作為熱可塑性樹脂，可舉出乙醯纖維素、硝基纖維素、乙醯丁基纖維素、乙基纖維素、甲基纖維素等之纖維素衍生物、乙酸乙烯酯及其共聚物、氯乙烯及其共聚物、偏二氯乙烯及其共聚物等之乙烯系樹脂、聚乙烯縮甲醛(polyvinyl formal)、聚乙烯縮丁醛(polyvinyl butyral)等之縮醛樹脂、丙烯酸樹脂及其共聚物、甲基丙烯酸樹脂及其共聚物等之丙烯酸系樹脂、聚苯乙烯樹脂 、聚醯胺樹脂、線狀聚酯樹脂、氟樹脂、聚碳酸酯樹脂等。
作為熱硬化性樹脂，可舉出酚樹脂、尿素三聚氰胺樹脂、聚酯樹脂、聚矽氧樹脂等。
作為紫外線硬化型樹脂，可舉出環氧丙烯酸酯、胺基甲酸酯丙烯酸酯、聚酯丙烯酸酯等之光聚合性預聚物。又，也可將上述光聚合性預聚物作為主成分，且使用單官能或多官能的單體作為稀釋劑而構成紫外線硬化型樹脂。
有機層的厚度(膜厚)作成0.1~20μm的範圍內較佳，作成0.3~10μm的範圍內特佳。在此，有機層的膜厚小於0.1μm時，由於膜厚變得過薄，故會產生得不到均勻的膜的情況、或無法充分發揮光學機能的情況，因此較不佳。另一方面，膜厚超過20μm時，有微粒不會露出於第1擴散層22之表面，得不到凹凸賦予效果的可能，而且，因為透明性之下降或儘與可能薄膜化的顯示器之趨勢的不一致之理由，因而較不佳。
在有機層分散的粒子，例如，可為二氧化矽、黏土、滑石、碳酸鈣、硫酸鈣、硫酸鋇、矽酸鋁、氧化鈦、合成沸石、氧化鋁、膨潤石、及氧化鋯等之無機微粒。又，在有機層分散的粒子，例如，可為包含苯乙烯樹脂、胺基甲酸酯樹脂、苯并胍胺樹脂、聚矽氧樹脂、丙烯酸樹脂、四氟乙烯樹脂、聚乙烯樹脂、及環氧樹脂等之有機微粒等。該等之中，可僅使用任一種，亦可使用兩種以上。
微粒的平均一次粒徑為0.5~30μm較佳。本實施形態中，可利用雷射繞射法測定平均一次粒徑。微粒之平均粒徑小於0.5μm時，得不到對第1擴散層22之表面的凹凸之賦予效果，因此較不佳。另一方面，平均粒徑超過30μm時，變成使用遠較有機層的膜厚更大的粒子，且有導致光線透射率之下降的缺陷，因此較不佳。相對於此，平均粒徑為上述範圍內時，可維持高光線透射率，且在表面附加凹凸形狀。
再者，作為第1圖之第1量子點保護膜1，其反射率在各別的藍色區域之波長450nm、綠色區域之波長540nm、紅色區域之波長620nm中為10%以上20%以下較佳。反射率與由第1阻隔薄膜10導致之光學干涉有關。反射率在各波長中超過20%時，第1量子點保護膜1於導光板(參照第2圖)上作為擴散片使用的情況中，由光學干涉導致的色彩不均一大幅顯現而產生外觀不良的情況。反射率在各波長中小於10%時，第1阻隔薄膜10中的第1二氧化矽蒸鍍層13及第2二氧化矽蒸鍍層15之O/Si比與折射率超出上述較佳值的範圍，因此有無法展現第1阻隔薄膜10之阻隔性的可能性。
又，第1量子點保護膜1的透射率，在各別的藍色之450nm波長、綠色之540nm波長、紅色之620nm波長中為80%以上95%以下較佳。小於80%之透射率，其透射率低而使量子點層之光轉換效率下降，因此較不佳。
(背光單元)
第2圖為涉及本發明之實施形態的背光單元之示意 剖面圖。背光單元40係具備第1量子點薄膜2、LED光源41、及導光板42。第1量子點薄膜2係包含量子點層3(參照第3圖)。導光板42具有第1側面42A及與第1側面42A正交或交叉的第2側面42B，LED光源41設置於導光板42的第1側面42A的附近。LED光源41，例如，包含一個或多個LED元件。LED元件之發光色，可為較藍色、紫色、或紫色更低的波長。LED光源41朝向導光板42之第1側面42A，射出LED光L1。該LED光L1，經由導光板42，自第2側面42B朝向第1量子點薄膜2進行照射。第1量子點薄膜2中，受到LED光L1之照射，量子點層3會產生白色光L2。例如，在第1量子點薄膜2之附近設置液晶面板時，白色光L2提供於其液晶面板。
(第1量子點薄膜)
第3圖為涉及本發明之實施形態的第1量子點薄膜之示意剖面圖。第1量子點薄膜2具備量子點層3，第1量子點薄膜2具有將量子點層3藉由第1量子點保護膜1、及利用與第1量子點保護膜1同樣的方法製作之第2量子點保護膜4而夾持的構造。第2量子點保護膜4具備第2阻隔薄膜51、第2擴散薄膜52、及第2接著劑層53。第2接著劑層53位於第2阻隔薄膜51與第2擴散薄膜52之間，隔著第2接著劑層53而貼合第2阻隔薄膜51與第2擴散薄膜52。利用該第1量子點薄膜2之構造，對量子點層3賦予阻隔性。量子點層3係與第1量子點保護膜1之第1阻隔薄膜10及第2量子點保護膜4之第2阻隔薄膜51貼合。
量子點層3，係由量子點化合物與例如所謂丙 烯酸或環氧的感光性樹脂等之量子點層用混合物所形成。在量子點層3形成時，量子點層用混合物係塗布於第1阻隔薄膜10及第2阻隔薄膜51上。對量子點層用混合物進行UV照射時，使量子點層用混合物所包含的感光性樹脂硬化。藉此，形成將量子點層3藉由第1量子點保護膜1及第2量子點保護膜4夾持的第1量子點薄膜2。再者，在量子點層用混合物中，例如，可進一步包含熱硬化性樹脂或化學硬化性之樹脂等，在量子點層用混合物中，亦可在UV硬化之後，例如，施以熱硬化。
量子點層3中，使用2種包含量子點化合物的螢光體，例如，2種螢光體相互混合而被感光性樹脂等密封。或者，量子點層3中，將1種螢光體被密封的螢光體層與另1種螢光體被密封的螢光體層2層積層。1種螢光體的激發波長幾乎相同，其激發波長根據LED光源41之波長而決定。2種螢光體之螢光色相異，2種螢光體，例如，具有紅色及綠色之螢光色。螢光體的螢光之波長、及LED光源41之波長係基於液晶模組之像素中的彩色濾光片之分光特性而選擇。作為螢光體的螢光之峰波長，例如，紅色區域可為610nm，綠色區域可為550nm。
量子點層3中，例如，具有由發光的核與將核被膜的保護膜之殼構成的核．殼構造。核，例如，可包含硒化鎘(CdSe)，而且，殼，例如，可包含硫化鋅(ZnS)。例如，因為包含CdSe核與ZnS殼的量子點中，CdSe粒子之表面缺陷係藉由能帶間隙大的ZnS被覆，所以量子點之量子效率提升。螢光體亦可具有核藉由兩個殼而經雙重 被膜的構造。經雙重被膜的核.殼構造，例如，核包含CdSe，兩個殼各別可包含硒化鋅(ZnSe)及ZnS。
第1量子點薄膜2，因為設置於導光板42與例如液晶面板之間，所以為了避免因塑膠薄膜彼此積層引起的牛頓環等之缺陷，在第1量子點薄膜2之兩端，例如，設置擴散層。量子點層3的厚度，例如為數十μm~數百μm。
在第1量子點保護膜1中，積層第1二氧化矽蒸鍍層13與第1複合被膜層，並積層第2二氧化矽蒸鍍層15與第2複合被膜層時，氣體阻隔性會提升。亦即，第1阻隔薄膜中，具有二氧化矽蒸鍍層與複合被膜層交互積層各2層以上的構造時，可將使用量子點的螢光體之性能發揮至最大，結果得到高效率且高精細、壽命長的顯示器。
(第3量子點保護膜)
第4圖為涉及本發明之實施形態的第3量子點保護膜之示意剖面圖。第3量子點保護膜5係具備第1阻隔薄膜10、第3阻隔薄膜60、接著劑層30、及第2擴散層31。接著劑層30位於第1阻隔薄膜10與第3阻隔薄膜60之間，並貼合第1阻隔薄膜10與第3阻隔薄膜60。第2擴散層31，係於第3阻隔薄膜60，設置於第3阻隔薄膜60與接著劑層30相接的面為相反側之面上。第3量子點保護膜5藉由具備第2擴散層31而具有光之擴散性。
第1阻隔薄膜10係具備：包含第1聚酯薄膜11的基材、第1密合層12、第1二氧化矽蒸鍍層13、第1複合被膜層14、第2二氧化矽蒸鍍層15、及第2複合被膜層16 。在包含第1聚酯薄膜11的基材上，依序設置第1密合層12、第1二氧化矽蒸鍍層13、第1複合被膜層14、第2二氧化矽蒸鍍層15、及第2複合被膜層16。第2複合被膜層16係接著於接著劑層30。
第3阻隔薄膜60係具備：包含第2聚酯薄膜61的基材、第2密合層62、第3二氧化矽蒸鍍層63、第3複合被膜層64、第4二氧化矽蒸鍍層65、及第4複合被膜層66。在包含第2聚酯薄膜61的基材上，依序設置第2密合層62、第3二氧化矽蒸鍍層63、第3複合被膜層64、第4二氧化矽蒸鍍層65、及第4複合被膜層66。第4複合被膜層66係接著於接著劑層30。
再者，使用第3量子點保護膜5及與第3量子點保護膜同樣的第4量子點保護膜代替第1量子點保護膜1及第2量子點保護膜4時，利用與第1量子點薄膜2同樣的方法，可製作第2量子點薄膜。
[實施例]
以下根據實施例及比較例進一步說明本發明，但本發明沒有限制於下述例。
[實施例1]
(第1阻隔薄膜之製作)
在使用重量平均分子量6萬之PET形成的厚度16μm之PET薄膜的基材之單面，塗布密合層用組成物，積層厚度0.1μm的第1密合層。其次，在第1密合層上藉由物理蒸鍍法將第1二氧化矽蒸鍍層積層，使其厚度成為30nm。在第1二氧化矽蒸鍍層上，藉由使用包含塗布劑的複合 被膜層用組成物之濕式塗布法，形成厚度1μm的第1複合被膜層。再者，在第1複合被膜層上，積層第2二氧化矽蒸鍍層，使其厚度成為30nm。接著，在第2二氧化矽蒸鍍層上，藉由使用複合被膜組成物之濕式塗布法，形成厚度1μm的第2複合被膜層，製作第1阻隔薄膜。第1二氧化矽蒸鍍層及第2二氧化矽蒸鍍層的O/Si比以原子比為1.8，折射率為1.61。
密合層用組成物係設為丙烯酸多元醇與甲苯二異氰酸酯之乙酸乙酯溶液。丙烯酸多元醇之OH基與甲苯二異氰酸酯之NCO基係設為相互等量。乙酸乙酯溶液中的丙烯酸多元醇與甲苯二異氰酸酯之合計固體成分的濃度設為5質量%。
在複合被膜層用組成物之製作中，將四乙氧矽烷10.4g加入至0.1N(標準濃度(normal concentration))之鹽酸89.6g，將該鹽酸溶液攪拌30分鐘，將四乙氧矽烷水解。水解後的固體成分之濃度，以SiO2換算為3質量%。將四乙氧矽烷之水解溶液與聚乙烯醇之3質量%水溶液混合作為複合被膜層用組成物。四乙氧矽烷的水解溶液與聚乙烯醇之摻合比，以質量%換算為50對50。
在第1及第2二氧化矽蒸鍍層之形成中，在其形成前變更蒸鍍之材料的種類等之蒸鍍條件而決定適當的蒸鍍條件。二氧化矽蒸鍍層之O/Si比，可使用X射線光電子分光分析裝置(日本電子股份有限公司製、JPS-90MXV)調查。X射線源係使用非單色化MgKα(1253.6eV)，以X射線輸出100W(10kV-10mA)測定 。用以求出二氧化矽蒸鍍層之O/Si比的定量分析，各別在O1s使用2.28、在Si2p使用0.9的相對感度因子而進行。二氧化矽蒸鍍層之折射率，可利用二氧化矽蒸鍍層之厚度與藉由光干涉產生的透射率曲線之峰的波長，並藉由模擬而算出。
(第1擴散薄膜之形成)
在厚度50μm的PET薄膜基材上，塗布使粒子徑3μm之烯烴系粒子分散於胺基甲酸酯黏結劑中的擴散層，使其厚度成為5μm。藉此，得到霧度值60%(JIS K7136)的第1擴散薄膜。
(第1量子點保護膜之製作)
將第1阻隔薄膜之第2複合被膜層、與第2聚酯薄膜之擴散層相接的面為相反側之面，藉由接著劑層而接著，製作第1量子點保護膜。藉由2液硬化型之胺基甲酸酯接著劑而製作接著劑層。接著後之接著劑層的厚度為5μm。
(第1量子點薄膜之製作)
以下述的方法得到具有CdSe/ZnS之核．殼構造的螢光體。首先，將在十八烯添加辛胺及乙酸鎘的溶液、與在三辛基膦溶解硒的溶液以質量比1：1混合，使其通過加熱的微流路，得到作為核微粒之CdSe微粒溶液。接著，使CdSe微粒溶液、與將[(CH3)2NCSS]2Zn溶解於三辛基膦的溶液以質量比成為1：1的方式混合，使其通過加熱的微流路，得到CdSe/ZnS構造之螢光體。將得到的螢光體混合至感光性樹脂(環氧樹脂)，得到量子點層用混合物。接著，在第1量子點保護膜之第1阻隔薄膜上塗布量 子點層用混合物，並使塗布該量子點層用混合物之第1阻隔薄膜的面、與採用與第1量子點保護膜同樣之方法製作的第2量子點保護膜之第2阻隔薄膜的面結合，而在第1量子點保護膜積層第2量子點保護膜。對量子點層用混合物進行UV照射，使量子點層用混合物所包含的感光性樹脂硬化。藉此，形成量子點層藉由第1及第2量子點保護膜夾持的第1量子點薄膜。
(背光單元之製作)
在得到的量子點薄膜組合LED光源與導光板，製作背光單元。
[實施例2]
利用與實施例1同樣的步驟，製作第1阻隔薄膜與第3阻隔薄膜。實施例2中，隔著接著劑層貼合第1阻隔薄膜與第3阻隔薄膜。在第3阻隔薄膜的PET薄膜上，塗布使粒子徑3μm之烯烴系粒子分散於胺基甲酸酯黏結劑中的擴散層，使其厚度成為5μm。得到霧度值60%(JIS K7136)的第3量子點保護膜。使用兩個第3量子點保護膜，藉由與實施例1同樣的方法，得到第2量子點薄膜。
[比較例1]
藉由變更SiO蒸鍍材料之O/Si比，並調整物理蒸鍍之條件，使二氧化矽蒸鍍層之O/Si比以原子比成為1.4，折射率成為1.75，而製作第1及第2二氧化矽蒸鍍層。除了二氧化矽蒸鍍層之O/Si比與折射率之數值以外，藉由與實施例1同樣的方法，得到第1量子點薄膜。
[比較例2]
藉由變更SiO蒸鍍材料之O/Si比，並調整物理蒸鍍之條件，使二氧化矽蒸鍍層之O/Si比以原子比成為2.1，折射率成為1.42，而製作第1及第2二氧化矽蒸鍍層。除了二氧化矽蒸鍍層之O/Si比與折射率之數值以外，藉由與實施例1同樣的方法，得到第1量子點薄膜。
<量子點保護膜及背光單元之評價>
表1為表示在實施例1、實施例2、比較例1、及比較例2中製作的量子點保護膜之反射率及透射率之評價結果的表。
表2為表示在實施例1、實施例2、比較例1及比較例2中製作的量子點保護膜之水蒸氣滲透度、及背光單元之亮度及外觀之評價結果的表。
在表1及表2中，對於使用第1量子點保護膜之實施例及比較例，將量子點保護膜之構成記為第1。在表1及表2中，對於使用第3量子點保護膜之實施例，將量子點保護膜之構成記為第3。
量子點保護膜之反射率及透射率，係使用分光光度計(商品名：SHIMAZU UV-2450)，在波長450nm、540nm、及620nm中進行測定。在測定時，自與量子點保護膜之擴散層為相反側的面照射測定光。量子點保護膜之水蒸氣滲透度(g/m2．day)係使用水蒸氣滲透度測定裝置(Modern Control公司製之Permatran3/33)，在40℃/90%RH氣體環境下進行測定。
背光單元的亮度之測定、及外觀之評價係於60℃/90%RH氣體環境下之1,000小時保存實驗的前後實施。在表2中，初期係表示保存實驗前，保存後係表示保存實驗後。背光單元之亮度係使用亮度計(KONICA MINOLTA公司製之LS-100)進行測定。背光單元之外觀，具有可承受作為背光單元之顯示器用途的外觀時評價為「A」，在顯示器可看到由色彩不均一等導致的色調變化且有黑點等之色彩再現不良時評價為「B」。在表2中，「-」表示不需評價。
如表2所示，使用實施例1及實施例2之阻隔薄膜的背光單元，係顯示在初期可具備作為量子點顯示器之特長的高亮度以外，在60℃/90%RH氣體環境之嚴酷的 保存實驗後，也可維持高亮度。顯示阻隔薄膜之阻隔性在嚴酷的環境下也可維持。阻隔性低時，在嚴酷的環境下放置後之背光的亮度會下降。
比較例1因為二氧化矽蒸鍍層之折射率高，所以量子點保護膜之反射率高，同時透射率低。透射率低時，亮度低，且外觀也成為不透明，因此難以滿足作為顯示器用途之規格。比較例2因為二氧化矽蒸鍍層之反射率低，所以量子點保護膜之透明性(光透射性)高。另一方面，於比較例2，確認因為二氧化矽蒸鍍層之O/Si比以原子比超過2.0，所以無法充分展現阻隔性，亮度在短期間損失。比較例2之背光單元，顯示缺乏作為顯示器用途之可靠度。
[產業上之可利用性]
根據本發明，可提供一種阻隔性佳，在構成背光時可於長時間得到高亮度，並且，在構成顯示器時可於長時間得到優異的外觀之量子點保護膜、及包含該量子點保護膜的量子點薄膜。再者，根據本發明，可提供一種可得到高亮度與顯示器應用時之優異的外觀之背光單元。

Claims (6)

  1. 一種量子點保護膜，其係具備包含二氧化矽蒸鍍層的阻隔薄膜、及擴散層之量子點保護膜，該二氧化矽蒸鍍層所含的氧與矽之O/Si比以原子比為1.7以上2.0以下，該二氧化矽蒸鍍層之折射率為1.5以上1.7以下，在波長450nm、波長540nm、及波長620nm之全部的波長中，該量子點保護膜之反射率為10%以上20%以下，且透射率為80%以上87%以下，該阻隔薄膜具有在聚酯薄膜之至少單面上，依序積層密合層、該二氧化矽蒸鍍層、及複合被膜層的構造，該複合被膜層為包含選自於含有水溶性高分子、金屬烷氧化物、金屬烷氧化物之水解物、及矽烷偶合劑的群組中之至少一種的層。
  2. 如請求項1之量子點保護膜，其中該聚酯薄膜為包含重量平均分子量為6萬以上之聚對苯二甲酸乙二酯的聚對苯二甲酸乙二酯薄膜。
  3. 如請求項1或2之量子點保護膜，其中該阻隔薄膜具有該二氧化矽蒸鍍層與該複合被膜層交互積層各2層以上的構造。
  4. 一種量子點薄膜，其具備：包含螢光體的量子點層與如請求項1至3中任一項之量子點保護膜。
  5. 如請求項4之量子點薄膜，其係依序積層該擴散層、該阻隔薄膜、該量子點層、該阻隔薄膜、及該擴散層。
  6. 一種背光單元，其具備：LED光源、導光板、及在該導光板上設置之如請求項4或5之量子點薄膜。
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