TW463463B - Data receiver - Google Patents
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Description
A7 B7 46 3 46 3 6959pif. doc/00 6 五、發明說明(I ) 本發明是有關於一種半導體積體電路,且特別是有 關於一種穩定在資料接收器中之參考電壓之裝置與方法= 資料接收器電路之先前描敘可在由B丄ua等人之〗SSC (1998 年 10 月)之”A 2.6 Gbyte/s multipurpose Chip-to-Chip interface”中找到。 第1圖顯示包括第一、第二與第三級11、12與13之 傳統資料接收器10。第一級11包括用於比較輸入資料(DIN) 與參考電壓(VREF)之比較器,第二級12包括用以感應與 放大第一級11之輸出之感應放大器正反器(SAFF)〇第三 級13包括如S-R栓鎖器之栓鎖器,用以栓鎖第二級12之 輸出。 第一級11之比較器係由偏壓電壓BIAS所致能,以 比較輸入資料(DIN)與參考電壓(VREF)。因此,參考電壓 (VREF)需要穩定,而沒有波動。參考電壓(VREF)與偏壓電 壓BIAS具有既定DC準位,且由傳統電壓產生器所提供。 第二級12之SAFF係回應於時脈信號(CLK)而致能,以放 大第一級11所比較之結果。第三級13利用S-R栓鎖器而 穩定地栓鎖第二級12之輸出。 參考電壓(VREF)需要穩定於一準位間,沒有波動, 以提供第一級11之穩定操作。因此,電壓產生器產生參 考電壓(VREF)以具有定電壓。然而,當要施加至第一級時, 參考電壓(VREF)係變動。迫是,當第一級之比較器操作而 偏壓電壓BIAS正在作用時,參考電壓(VREF)之電位係被 在VREF線之耦合電容値造成變動,此耦合電容値包括在 4 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝ill·! —訂---------線 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNSM4規格(210 X 297公釐) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4 6 3 46 3 五、發明說明(1) 參考電壓(VREF)線與NMOS電晶體MN之汲極X間之耦合 電容,以及在參考電壓(VREF)線與NMOS電晶體MN之源 極Y間之耦合電容。此耦合電容,係必然地且寄生性產生 於電晶體之製造’代表在閘極與汲極間或閘極與源極間之 電容。 由耦合電容所造成之參考電壓(VREF)之準位變動係 稱爲反彈(kick-back)雜訊。反彈雜訊可由在參考電壓(VREF) 線與接地電壓VSS(未示出)間連接分流電容而減少。此分 流電容係設定成具有比耦合電容較大之電容値,且減少由 耦合電容在VREF線上所造成之反彈雜訊。 然而,當增加分流電容時,所產生之問題在於,接 地電壓VSS之電壓反彈係大大地耦合至參考電壓(VREF)。 VREF線之電壓準位之變動會降低操作速度’或造成 當比較VREF與輸入資料DIN之電壓時之錯誤動作。 因而,需要資料接收器,其能穩定地操作’而避免 參考電壓(VREF)因爲接地電壓之反彈、反彈雜訊或相似訊 號而變動。 本發明之一實施例提供一資料接收器,以回應於時 脈信號而接收輸入資料。此資料接收器包括:一接收器’ 回應於該時脈信號而比較該輸入資料與一參考電壓’放大 該比較結果’且儲存該輸入資料之邏輯準位;以及一計數 稱合電路,回應於一反相時脈信號,而補償由該接收器所 造成之該參考電壓之變動。 較好是,該接收器,包括:一第一與第二預充電單 5 家標準(CNS)A4 規格(210 X 297 公釐) " I — JI — ΙΊ 裝 i — ll·— — 訂 il· — · — —··^ {請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4 6 3 46 3 A7 6959pif.doc/006 _^_B7___ 五、發明說明(> ) 元,用以回應於該反相時脈信號而起始該接收器至一電源 電壓;以及一比較器,回應於該時脈信號而比較該輸入資 料與該參考電壓。 該比較器較好包括:一第一與第二反相器,交叉耦 合,分別連接至該些預充電單元,其中該第一反相器之該 輸出係連接至該第二反相器之該輸入,而該第一反相器之 該輸入係連接至該第二反相器之該輸出;一第一與第二比 較電晶體,分別連接至該些反相器之該些輸出,且分別受 控制於該輸入資料與該參考電壓;以及一開關電晶體,連 接於該些比較電晶體與一接地電壓間,且回應於該時脈信 號而受控制。 該計數耦合電路,根據本發明之一較佳實施例,包 括:一第一電晶體,其源極連接至一電源電壓,該第一電 晶體係回應於連接至該第一電晶體之該閘極之該反相時脈 信號而受控制;一第二電晶體,其源極連接至該第一電晶 體之該汲極,該第二電晶體係回應於連接至該第二電晶體 之該閘極之該參考電壓而受控制;一第三電晶體,其爲二 極體型,其源極連接至該第二電晶體之汲極,其閘極與汲 極係彼此相連接;以及一第四電晶體,其汲極連接至該第 三電晶體之該汲極,其源極連接至一電源電壓,該第四電 晶體係回應於連接至該第四電晶體之該閘極之該反相時脈 信號而受控制。 根據本發明之另一實施例,提供一種資料接收器, 回應於一時脈信號而接收輸人資料。該資料接收器包括: {請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝-! l·! — 訂------ιϊί& 本紙張尺度適用_國國家標準(CNS)A4規格(2〗〇χ297公釐) A7 B7 463463 6959pif.doc/006 五、發明說明(((:) 一第一與第二預充電單元,用以回應於一反相時脈信號而 起始該接收器至一電源電壓。該資料接收器更包括:一第 -與第二反相器,交叉耦合,分別連接至該第一與第二預 充電單元,其中該第一反相器之該輸出係連接至該第二反 相器之該輸入,而該第-反相器之該輸入係連接至該第二 反相器之該輸出。該資料接收器也包括:一第一與第二比 較電晶體,分別連接至該第一與第二反相器之該些輸出, 且分別受控制於該輸入資料與該參考電壓。較好,該資料 接收器包括:一開關電晶體,連接於該些比較電晶體與一 接地電壓間,且回應於該時脈信號而受控制。該資料接收 器也包括:一第一電晶體,其源極連接至一電源電壓,該 第一電晶體係回應於連接至該第一電晶體之該閘極之該反 相時脈信號而受控制;一第二電晶體,其源極連接至該第 一電晶體之該汲極,該第二電晶體係回應於連接至該第二 電晶體之該閘極之該參考電壓而受控制;一第三電晶體, 其爲二極體型,其源極連接至該第二電晶體之汲極,其閘 極與汲極係彼此相連接;以及一第四電晶體,其汲極連接 至該第三電晶體之該汲極,其源極連接至一電源電壓,該 第四電晶體係回應於連接至該第四電晶體之該閘極之該反 相時脈信號而受控制。 根據本發明之又一實施例,資料接收器包括:差動 正反器,以比較輸入資料與參考電壓:栓鎖器,具有一設 定端與一重設端,以栓鎖該差動放大正反器之輸出;一計 數耦合電路,連接至該參考電壓,以補償該參考電壓之變 7 — — — — — — I-HI—.i 裝 _ I — L I — I 訂. — — I —--I 梭 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 463463 6 9 5 91 :/006 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(<) 動寬度約30%。 較好是,該差動正反器包括一開關電晶體,回應於 一時脈信號而致能一比較器,該比較器回應於該時脈信號 而比較該輸入資料與該參考電壓。 該計數耦合電路,較好包括依序連接於一電源電壓 與一接地端間之四個電晶體,以補償參考電壓,其中連接 至電源電壓之第二電晶體係受控制於該比較器之參考電壓 輸入。該比較器包括:一第一比較電晶體,以接收該輸入 資料;以及一第二比較電晶體,以接收該補償後參考電壓。 爲讓本發明之上述目的、特徵、和優點能更明顯易 懂,下文特舉一較佳實施例,並配合所附圖式,作詳細說 明如下: 圖式之簡單說明: 第1圖繪示傳統資料接收器; 第2圖繪示依照本發明一較佳實施例之資料接收器; 第3圖繪示在第2圖之差動放大資料接收器之參考電 壓中之耦合雜訊之電路圖; 第4圖繪示在第2圖之資料接收器中之模型化計數耦 合電路;以及 第5圖繪示根據是否採用第2圖之資料接收器之參考 電壓(VREF)變動之模擬結果; 各別圖示中之相似參考符號係代表相同或相似元 件。 標號說明:
S I ( Ί---Ί f --ill·--ί 訂----—----终 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS>A4規格(210 * 297公釐) A7 B7 463463 6959pif.doc/006 五、發明說明(么) 10、100 :資料接收器 11 :第一級 12 :第二級 13 :第三級 20 :差動放大正反器 30 : S-R栓鎖器 40 :計數耦合電路 21 :第一預充電單元 24 :第二預充電單元 22、 25 : PMOS 電晶體 23、 26 : NMOS 電晶體 27 ' 28 :電晶體 29 :開關電晶體 41 :第一(PMOS)電晶體 42 :第二(PMOS)電晶體 43 :第三(PMOS)電晶體 44 :第四(NM0S)電晶體 較佳富施例 附圖描敘本發明之較佳實施例,且係可參考以了解 本發明之優點,其操作與伴隨本發明之操作之目的。 之後,本發明係藉由參考附圖來詳細解釋本發明之 較佳實施例而描敘。各別圖示中之相似參考符號係代表相 同或相似元件。 參考第2圖,其顯示本發明之較佳實施例之資料接收 I 1---I — I- J -裝! l·!— 訂----I --- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用t S國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 463463 6959pif.doc/006 五、發明說明(q ) 器’該資料接收器100包括差動放大正反器20,S-R栓鎖 器30與計數耦合電路40。 差動放大正反器20回應於時脈信號(CLK)比較輸入資 料與參考電壓(VREF)。差動放大正反器20包括第-與第 二預充電單元21與24。第一與第二預充電單元21與24 回應於該時脈信號(CLK)與比較器(CMP)。CMP包括交叉耦 合反相器INV1與INV2,其分別連接至第一與第二預充電 單元21與24。交叉耦合反相器INV1與INV2比較分別連 接至交叉耦合反相器INV1與INV2之電晶體27與28。電 晶體27與28係由輸入資料(DIN)與參考電壓(VREF)控制, 且開關電晶體29連接於比較電晶體27、28以及接地端VSS 間。開關電晶體29係回應於時脈信號(CLK)而致能。 在S-R栓鎖器30之操作中,當邏輯高準位係由設定 端S所接收,輸出信號(〇UT)係設成邏輯高準位。當邏輯 高準位係由設定端S所接收,輸出信號(OUT)係設成邏輯 低準位。 計數耦合電路40包括第一(PM0S)電晶體41,其回應 於反相時脈信號(/CLK)而受控制;第二(PM0S)電晶體42, 其回應於參考電壓(VREF)而受控制;二極電晶體型之第三 (PM0S)電晶體43 ;以及第四(NM0S)電晶體44,其回應於 反相時脈信號(/CLK)而受控制。第一至第四電晶體41〜44, 係依序彼此連接於電源電壓(VDD)與第二接地端VSS間。 也就是,第一(PM0S)電晶體41具有連接至電源電壓 (VDD)之源極,且係回應於連接至其閘極之反相時脈信號 本紙張尺度適用中國圉家標準(CNS)A4規格(210*297公楚) (請先閱讀背面之注^h項再填寫本頁) *^-----^---訂------1!%· 4 6 3 6 3 6959pif .doc/006 _B7___ 五、發明說明(分) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 而受限制。第二(PM0S)電晶體42之源極連接至第一電晶 體之汲極。第二(PM0S)電晶體42係回應於連接至其閘極 之參考電壓而受限制。二極體型之第三(PM0S)電晶體43 之源極連接至第二電晶體之汲極,且其閘極與汲極係彼此 連接。第四電晶體44之汲極連接至第三電晶體之汲極, 且其源極連接至第二接地端VSS,且係回應於連接至其閘 極之反相時脈信號而受限制。 將描敘,根據假設爲輸入資料(DIN)之電壓係低於參 考電壓(VrEF)時,資料接收器1〇〇之操作。第一與第二預 充電單元21與24係回應於時脈信號(CLK)之下降邊緣而 導通,使得節點N1與N2係受電源電壓(VDD)之充電。此 時,CMP並不動作,因爲CMP內之開關電晶體29係處於 關閉狀態。之後,開關電晶體29係回應於時脈信號(CLK) 之上升邊緣而導通,使得CMP受到致能。因爲輸入資料(DIN) 之電壓係低於參考電壓(VREF),流經第一比較電晶體27 之電流II係低於流經第二比較電晶體28之電流12。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 也就是,因爲流經第—比較電晶體2 8之電流12係相 當高,節點N2之電壓係變低。節點N2之變低後電壓係被 比較器(CMP)內之第一交叉耦合反相器INV1所接收,因而 增加節點N1之電位。節點N1之變高後電壓係被比較器 (CMP)內之第二交叉耦合反相器INV2所接收,因而更降低 節點N2之電位。藉由重複這些動作,節點N1變成邏輯高 電位,而節點N2變成邏輯低電位。
邏輯高電位節點N1係被S-R栓鎖器30之重.設端R 本紙張尺度適用t國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 463463 69 5 9pi f- doc/〇 五、發明說明(?) 所接收,使得其輸出信號(out)係重設爲邏輯低電位。輸 出信號(OUT)之重設符合於輸入資料(DiN)之電壓係低於參 考電壓(VREF)之假設’使得資料接收器100之輸出係邏輯 低電位。 將描敘,根據假設爲輸入資料(DIN)之電壓係高於參 考電壓(VREF)時,資料接收器100之操作。在此情況下, 流經第一比較電晶體27之電流Π係高於流經第二比較電 晶體28之電流12。因而,節點N1之電壓係變低。節點N1 之變低後電壓係被比較器(CMP)內之第二交叉耦合反相器 INV2所接收,因而增加節點N2之電位。節點N2之變高 後電壓係被比較器(CMP)內之第一交叉耦合反相器INV1所 接收,因而更降低節點N1之電位。藉由重複這些動作, 節點N1變成邏輯低電位,而節點N2變成邏輯高電位。 邏輯高電位節點N2係被S-R栓鎖器30之設定端S 所接收,使得其輸出信號(OUT)係設定爲邏輯高電位。輸 出信號(OUT)之設定符合於輸入資料(din)之電壓係低於參 考電壓(VREF)之假設’使得資料接收器100之輸出係邏輯 高電位。 如上所述’資料接收器100可在不需偏壓電壓BIAS 下操作’相較於由偏壓電壓BIAS所致能之第1圖中之傳 統資料接收器10。因此,在資料接收器1〇〇之例中,不會 出現偏壓電壓BIAS所造成之DC消耗。 第3圖顯示在第2圖之資料接收器1〇〇中之參考電壓 (VREF)線上造成反彈雜訊之分流電容値之電路圖同樣 n n n n n JJ ί I* » 1 1 - n n I n n n _aJ* n 1 n i f f t> t (請先閲讀背面之注意事項再填窝本頁) '我張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297 6959pi f.doc/006
五、發明說明(/P) 463463 地’第3圖顯示,在時脈信號(CLK)之下降邊緣時,連接 至參考電壓(VREF)線之電路路徑之等效或模型。就是,第 3圖顯示第二預充電單元24,第二反相器INV2內之NM〇s 電晶體26,第二比較電晶體28與開關電晶體29彼此連接 之路徑。在此,第二反相器INV2內之NMOS電晶體26係 模型化爲二極體型電晶體,其汲極與閘極係彼此連接,因 爲第2圖之節點N1與N2在時脈信號(CLK)之下降邊緣處 由預充電單元21與24充電而具相同電壓。 在模型化耦合路徑之例中,寄生耦合電容存在於第 二比較電晶體28之閘極/汲極間,以及閘極/源極間。寄生 耦合電容造成在VREF線之電壓變的。也就是,參考電壓 (VREF)係耦合至在節點a與b之電壓準位中之變動,因而 有變動。 節點a之電壓,在開始時,係從0V改變至,在時脈 信號(CLK)之下降邊緣時,將電源電壓(VDD)減去第二反相 器INV2內之NMOS電晶體26之臨界電壓(Vtn)所獲得之電 壓(VDD-Vtn)。因此,節點a之電壓變化,如,係(VDD-Vtn)-0,也就是VDD-Vtn。節點b之電壓,在開始時,係 從0V改變至,在時脈信號(CLK)之下降邊緣時,將參考電 壓(VREF)減去第二比較電晶體28之臨界電壓(Vtn)所獲得 之電壓(VREF-Vtn),因爲開關電晶體29係在時脈信號(CLK) 之F降邊緣時關閉。因此,節點b之電壓變化,Ab,係 (VREF-Vtn)-O,也就是 VREF-Vtn。 因此,節點a與b之電壓變化總和(如+仙)’也就是 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規袼(210 * 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝-----„----訂*1 線 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 6 9 5 9pi f. doc / 0 0 6 五、發明說明(//) VDD+VREF-2Vtn,經由耦合電容改變參考電壓(VREF)之電 壓。如果 VDD 是 2.5V,VREF 是 1.25V,Vtn 是 0.5V,電 壓變化總和(如+灿)是2.75V。 第4圖是耦合路徑之等效或模型化電路圖,其上,第 3圖之模型所顯示之參考電壓(VREF)之變化,係由計數耦 合電容40所補償。在模型化耦合路徑之例中,寄生耦合 電容存在於第二PMOS電晶體42之閘極/汲極,與閘極/源 極間。寄生耦合電容造成(VREF)線之電壓變動,且補償第 3圖之模型所示之參考電壓(VREF)之變動。 參考電壓(VREF)係耦合至在節點c與d之電壓準位中 之變動,因而有變動。節點c之電壓,在開始時,係從電 源電壓(VDD)改變至,將參考電壓(VREF)加上第二PMOS 電晶體42之臨界電壓(Vtp)所獲得之電壓(VREF+ | Vtp | ), 因爲在時脈信號(CLK)下降邊緣時,第一 PMOS電晶體係 關閉。因此,節點c之電壓變化,△<;,係(VREF+丨Vtp | +VDD。節點d之電壓,在開始時,係從電源電壓(VDD)改 變至第三PMOS電晶體43之臨界電壓(Vtp),因爲在時脈 信號(CLK)下降邊緣時,第二PMOS電晶體係導通。因此, 節點d之電壓變化,Ad,係| Vtp | -VDD。 因此,節點c與d之電壓變化總和(Ac+Ad),也就是 VREF+2 | Vtp卜VDD,經由耦合電容改變參考電壓(VREF) 之電壓。如果 VDD 是 2.5V,VREF 是 1.25V,| Vtp 丨是 0.5V, 電壓變化總和(Ac+Ad)是-2.75V。 因此,節點a與b之電壓變化總和(Δίΐ+ΔΙ)),其改變 本紙張尺度適用中囷國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) — in.---1 — I I l· I I —tT-1 — — —--I I (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁> 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 46346 3 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 69 5 9pi f ^ d〇c/ 006 β? 五、發明說明(丨之) 如第3圖之模型所示之參考電壓(VREF)之電壓’爲2.75V ’ 補償節點c與d之電壓變化總和(ΔαΜ) ’其改變如第3圖 之計數耦合電路所執行之模型所示之參考電壓(VREF)2電 壓,係-2.75V。兩電壓變化(如+灿)與(&+加)彼此補償’使 得參考電壓(VREF)幾乎沒有變化° 因此,在根據本發明之資料接收器中’參考電壓係 穩定維持而沒有變動’使得輸入資料⑴ΪΝ)係比較於正確 之參考電壓(VREF),且因而相關邏輯準位係輸出當成比較 結果。第5圖顯示當本發明之資料接收器應用計數耦合電 路時,以及當本發明之資料接收器沒有應用計數耦合電路 時,在參考電壓(VREF)之變動上所進行之模擬。 在第5圖中,輸入資料(DIN)係同步接收於時脈信號 (CLK),且參考電壓(VREF)係設成1.4V。可由第5圖看出, 當沒有應用計數耦合電路時,參考電壓(VREF)在每個時脈 信號(CLK)之邊緣從1.36V變動到1.42。變動寬度係分配於 1.0之任意値。 另一方面,當應用計數耦合電路時,參考電壓(VREF) 在每個時脈信號(CLK)之邊緣從1.37V變動到1.41。因此, 參考電壓(VREF)之變動寬度係約0.7,相比當沒有應用計 數耦合電路時之1.0之任意分配變動寬度。因此,明顯地, 當應用計數耦合電路時,參考電壓(VREF)之變動寬度係減 少約30%,比起當沒有應用計數耦合電路時之參考電壓 (VREF)變動寬度。所用之計數耦合電路之電容値,係簡單 分流電容値之一半,且提供即使接地電壓有反彈時之穩定 參紙張尺度適用_國國家標準(CNS>A4規格(210 X 297公3 ) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝-----^! —訂---------線 A7 B7 463 4b 3 6959pif.doc/006 五、發明說明(I V) 度。 綜上所述,雖然本發明已以一較佳實施例揭露如上, 然其並非用以限定本發明,任何熟習此技藝者,在不脫離 本發明之精神和範圍內,當可作各種之更動與潤飾,因此 本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者爲 準。 <請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 線 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐)
Claims (1)
- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4 6 3 46 3 6959pif.doc/006 六、申請專利範圍 1. 一種資料接收器,回應於一時脈信號而接收輸入 資料,該資料接收器包括: --接收器,回應於該時脈信號而比較該輸入資 料與一參考電壓,放大該比較結果,且儲存該輸入資料之 邏輯準位;以及 一計數耦合電路,回應於該時脈信號,而補償 由該接收器之一或多個電晶體所造成之該參考電壓之變 動。 2. 如申請專利範圍第1項所述之資料接收器,其中 該計數耦合電路包括耦合至該參考電壓之一或多個電晶 體,且回應於一反相時脈信號。 3. 如申請專利範圍第2項所述之資料接收器,其中 該一或多個電晶體包括: 一第一電晶體,其源極連接至一電源電壓,該 第一電晶體係回應於連接至該第一電晶體之該閘極之該反 相時脈信號而受控制: 一第二電晶體,其源極連接至該第一電晶體之 該汲極,該第二電晶體係回應於連接至該第二電晶體之該 閘極之該參考電壓而受控制; 一第三電晶體,其爲二極體型,其源極連接至 該第二電晶體之汲極,其閘極與汲極係彼此相連接;以及 一第四電晶體,其汲極連接至該第三電晶體之 該汲極,其源極連接至一電源電壓,該第四電晶體係回應 於連接至該第四電晶體之該閘極之該反相時脈信號而受控 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ------— —訂------I I 雀*^ I _ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 463463 :/006 AS B8 C8 D8 六 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 申請專利範圍 制。 4. 如申請專利範圍第1項所述之資料接收器,包括: 一第一與第二預充電單元,用以回應於該反相 時脈信號而起始該接收器至一電源電壓;以及 一比較器,回應於該時脈信號而比較該輸入資 料與該參考電壓。 5. 如申請專利範圍第2項所述之資料接收器,其中 該比較器包括: 一第一與第二反相器,交叉耦合,分別連接至 該些預充電單元,其中該第一反相器之該輸出係連接至該 第二反相器之該輸入,而該第一反相器之該輸入係連接至 該第二反相器之該輸出; 一第一與第二比較電晶體,分別連接至該些反 相器之該些輸出,且分別受控制於該輸入資料與該參考電 壓;以及 一開關電晶體,連接於該些比較電晶體與一接 地電壓間,且回應於該時脈信號而受控制。 6. 一種資料接收器,回應於一時脈信號而接收輸入 資料,該資料接收器包括: 一第一與第二預充電單元,用以回應於一反相 時脈信號而起始該接收器至一電源電壓; 一第一與第二反相器,交叉耦合,分別連接至 該第一與第二預充電單元,其中該第一反相器之該輸出係 連接至該第二反相器之該輸入,而該第一反相器之該輸入 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ^•丨|-----訂·!------線· 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 * 297公釐) 4 6 3 4 6 3 as B8 6959pif.doc/006 惡 六、申請專利範圍 係連接至該第二反相器之該輸出; 一第一與第二比較電晶體,分別連接至該第 與第二反相器之該些輸出,且分別受控制於該輸入資料與 該參考電壓; 一開關電晶體,連接於該些比較電晶體與一接 地電壓間,且回應於該時脈信號而受控制; 一第一電晶體,其源極連接至一電源電壓,該 第一電晶體係回應於連接至該第一電晶體之該閘極之該反 相時脈信號而受控制; 一第二電晶體,其源極連接至該第一電晶體之 該汲極,該第二電晶體係回應於連接至該第二電晶體之該 閘極之該參考電壓而受控制; 一第三電晶體,其爲二極體型,其源極連接至 該第二電晶體之汲極,其閘極與汲極係彼此相連接;以及 一第四電晶體,其汲極連接至該第三電晶體之 該汲極,其源極連接至一電源電壓,該第四電晶體係回應 於連接至該第四電晶體之該閘極之該反相時脈信號而受控 制。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 7. 如申請專利範圍第6項所述之資料接收器,更包 括一栓鎖器,其具有分別用以接收該些反相器之該些輸出 之一設定端與一重設端,以儲存該輸入資料之該邏輯準 位。 8. 一種資料接收器,回應於一時脈信號而接收輸入 資料,該資料接收器包括: 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 6 3 46 3 g88 6959pif.doc/006 轉 六、申請專利範圍 j妾收器,回應於該時脈信號而比較該輸入資 料與一參考電壓,且用以栓鎖一比較器之該輸出,該參考 電壓係施加至一 NM0S電晶體之閘極,該參考電壓在該 N Μ ◦ S電晶體回應於該時脈信號之動作期間具有電壓變 動;以及 -計數耦合電路,具有一或多個M0S電晶體, 其中該參考電壓係施加至一 PM0S電晶體,以補償該參考 電壓在該PM0S電晶體回應於一反相時脈信號之動作期間 所具有之電壓變動。 9.如申請專利範圍第8項所述之資料接收器,其中該 計數耦合電路更包括一第二PM0S電晶體,用來將該PM0S 電晶體耦合到一電壓供應源,該反相時脈信號係施加至該 第二PM0S電晶體的閘極。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) .衣.-------訂----I ( I--線I 經濟部智慧財產局員工消費合作社印^ί 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐)
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Families Citing this family (24)
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US6741670B2 (en) * | 2002-04-29 | 2004-05-25 | Lsi Logic Corporation | Counter circuit and reset therefor |
US6975152B1 (en) * | 2003-04-22 | 2005-12-13 | Advanced Micro Devices, Inc. | Flip flop supporting glitchless operation on a one-hot bus and method |
DE10331544B3 (de) * | 2003-07-11 | 2004-09-30 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zum Ansteuern eines Transistors |
US7023255B1 (en) * | 2004-06-23 | 2006-04-04 | Analog Devices, Inc. | Latch with data jitter free clock load |
KR100640156B1 (ko) * | 2004-10-30 | 2006-10-30 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 소자의 데이터 입력 버퍼 |
US7795945B2 (en) * | 2006-05-24 | 2010-09-14 | Sharp Kabushiki Kaisha | Signal process circuit, level-shifter, display panel driver circuit, display device, and signal processing method |
US7339403B2 (en) * | 2006-06-29 | 2008-03-04 | Intel Corporation | Clock error detection circuits, methods, and systems |
JP5439976B2 (ja) * | 2009-03-25 | 2014-03-12 | 富士通株式会社 | 比較回路、アナログデジタル変換装置 |
JP5446689B2 (ja) * | 2009-09-30 | 2014-03-19 | 富士通株式会社 | 電圧比較回路および半導体装置 |
JP2012227588A (ja) * | 2011-04-15 | 2012-11-15 | Fujitsu Semiconductor Ltd | 比較回路及びアナログデジタル変換回路 |
JP5807549B2 (ja) | 2012-01-10 | 2015-11-10 | 富士通株式会社 | 比較回路およびa/d変換回路 |
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JP6098342B2 (ja) * | 2013-05-09 | 2017-03-22 | 株式会社ソシオネクスト | コンパレータ |
CN103560792B (zh) * | 2013-10-11 | 2016-11-09 | 华为技术有限公司 | 一种比较器以及模数转换器 |
US9577637B2 (en) * | 2014-02-19 | 2017-02-21 | Altera Corporation | Stability-enhanced physically unclonable function circuitry |
WO2016191385A1 (en) * | 2015-05-22 | 2016-12-01 | Arizona Board Of Regents, A Body Corporate Of The State Of Arizona, Acting For And On Behalf Of Arizona State University | Energy efficient, robust differential mode d-flip-flop |
WO2019239537A1 (ja) * | 2018-06-14 | 2019-12-19 | 株式会社ソシオネクスト | 分周回路、通信回路、及び集積回路 |
JP7159634B2 (ja) * | 2018-06-18 | 2022-10-25 | 株式会社ソシオネクスト | コンパレータ及びad変換器 |
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US11528016B2 (en) * | 2021-01-21 | 2022-12-13 | Apple Inc. | Low latency comparator with local clock circuit |
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Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3321868B2 (ja) * | 1992-12-25 | 2002-09-09 | ソニー株式会社 | センスアンプ回路 |
JPH06223570A (ja) * | 1993-01-25 | 1994-08-12 | Hitachi Ltd | ダイナミック型ramとそれを用いた情報処理システム |
JPH0750098A (ja) * | 1993-08-05 | 1995-02-21 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
JP3510335B2 (ja) * | 1994-07-18 | 2004-03-29 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体記憶装置、内部電源電圧発生回路、内部高電圧発生回路、中間電圧発生回路、定電流源、および基準電圧発生回路 |
JP3230435B2 (ja) * | 1996-05-17 | 2001-11-19 | 日本電気株式会社 | 半導体記憶装置 |
US5790467A (en) * | 1996-11-25 | 1998-08-04 | Texas Instruments Incorporated | Apparatus and method for a direct-sense sense amplifier with a single read/write control line |
KR100253081B1 (ko) * | 1997-06-25 | 2000-09-01 | 윤종용 | 셀프-리프레시 모드를 가지는 다이나믹 랜덤 액세스 메모리 장치 |
US6201412B1 (en) * | 1997-07-30 | 2001-03-13 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Semiconductor integrated circuit with driver stabilization using parasitic capacitance |
JPH11250665A (ja) * | 1998-03-04 | 1999-09-17 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路 |
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