TW201944141A - 顯示面板及其製造方法 - Google Patents

顯示面板及其製造方法

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Abstract

一種顯示面板，包括基板、遮光定位層以及透光定位層。基板具有第一表面以及相對第一表面的第二表面。遮光定位層設置於第一表面上且具有至少一第一對位圖案。透光定位層設置於第二表面上且具有至少一第二對位圖案。於垂直基板的方向上，至少一第一對位圖案重疊於至少一第二對位圖案。一種顯示面板的製造方法亦被提出。

Description

顯示面板及其製造方法
本發明是有關於一種顯示面板，且特別是有關於一種包括以自對準方式形成的對位圖案的顯示面板及其製造方法。
隨著技術進展，顯示面板的尺寸也逐年增加。但是，製造顯示面板之母基板無法無限的放大。目前，為了製造較大尺吋之顯示裝置係將多個顯示面板拼接成一個大尺吋之顯示裝置。然而，在拼接多個顯示面板時，如何精確的拼接多個顯示面板與拼接後之顯示裝置具有窄邊框或無縫（seamless）仍然存在多個問題。
本發明提供一種適於窄邊框或無邊框的顯示面板及其製造方法，可以提升顯示面板的對位精確度及可靠性。
本發明的一種顯示面板的製造方法包括以下步驟。提供具有第一表面及相對第一表面的第二表面的基板。形成遮光定位層於第一表面上，其中遮光定位層具有至少一第一對位圖案。形成透光材料層於第二表面上。形成光阻層於透光材料層上。進行曝光程序，以使光束通過至少一第一對位圖案而穿透基板及透光材料層至光阻層。進行顯影程序，以圖案化光阻層並形成經圖案化光阻層。進行蝕刻程序，以經圖案化光阻層為罩幕，圖案化透光材料層，以形成具有至少一第二對位圖案的透光定位層，其中於垂直基板的方向上，至少一第一對位圖案重疊於至少一第二對位圖案。
本發明的一種顯示面板包括基板、遮光定位層以及透光定位層。基板具有第一表面以及相對第一表面的第二表面。遮光定位層設置於第一表面上且具有至少一第一對位圖案。透光定位層設置於第二表面上且具有至少一第二對位圖案。於垂直基板的方向上，至少一第一對位圖案重疊於至少一第二對位圖案。
基於上述，在本發明一實施方式的顯示面板的製造方法中，透光定位層的第二對位圖案透過以下步驟形成：提供具有第一表面以及相對第一表面的第二表面的基板；利用位於第一表面上的遮光定位層的第一對位圖案進行曝光程序及顯影程序來形成位於第二表面上的經圖案化光阻層；以及以經圖案化光阻層為罩幕，對位於第二表面上的透光材料層進行蝕刻程序，藉此第二對位圖案得以由自對準的方式形成，並且於垂直基板的方向上，與第一對位圖案相重疊。
另一方面，由於第二對位圖案藉由第一對位圖案而能以自對準的方式形成，故透過使用第一對位圖案進行對位程序而形成的第一接墊與使用第二對位圖案進行對位程序而形成的第二接墊之間的對位精確度得以提升。如此一來，在本發明的顯示面板中，透過具有第一對位圖案的遮光定位層設置於第一表面上，具有第二對位圖案的透光定位層設置於第二表面上，且於垂直基板的方向上，第一對位圖案重疊於第二對位圖案，使得設置於第一表面上的第一接墊與設置於第二表面上的第二接墊因錯位而導致連接結構無法達成連接作用的機率可降低，可靠性可提升。
為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施方式，並配合所附圖式作詳細說明如下。
為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施方式，並配合所附圖式作詳細說明如下。如任何所屬技術領域中具有通常知識者將認識到的，可以以各種不同的方式修改所描述的實施方式，而不脫離本發明的精神或範圍。
在附圖中，為了清楚起見，放大了各元件等的厚度。在整個說明書中，相同的附圖標記表示相同的元件。應當理解，當諸如層、膜、區域或基板的元件被稱為在「另一元件上」、或「連接到另一元件」、「重疊於另一元件」時，其可以直接在另一元件上或與另一元件連接，或者中間元件可以也存在。相反，當元件被稱為「直接在另一元件上」或 「直接連接到」另一元件時，不存在中間元件。如本文所使用的，「連接」可以指物理及/或電連接。
應當理解，儘管術語「第一」、「第二」、「第三」等在本文中可以用於描述各種元件、部件、區域、層及/或部分，但是這些元件、部件、區域、及/或部分不應受這些術語的限制。這些術語僅用於將一個元件、部件、區域、層或部分與另一個元件、部件、區域、層或部分區分開。因此，下面討論的「第一元件」、「部件」、「區域」、「層」、或「部分」可以被稱為第二元件、部件、區域、層或部分而不脫離本文的教導。
此外，諸如「下」或「底部」和「上」或「頂部」的相對術語可在本文中用於描述一個元件與另一元件的關係，如圖所示。應當理解，相對術語旨在包括除了圖中所示的方位之外的裝置的不同方位。例如，如果一個附圖中的裝置翻轉，則被描述為在其他元件的「下」側的元件將被定向在其他元件的「上」側。因此，示例性術語「下」可以包括「下」和「上」的取向，取決於附圖的特定取向。類似地，如果一個附圖中的裝置翻轉，則被描述為在其他元件「下方」或「下方」的元件將被定向為在其他元件 「上方」。因此，示例性術語「下面」或「下面」可以包括上方和下方的取向。
除非另有定義，本文使用的所有術語（包括技術和科學術語）具有與本發明所屬領域的普通技術人員通常理解的相同的含義。將進一步理解的是，諸如在通常使用的字典中定義的那些術語應當被解釋為具有與它們在相關技術和本發明的上下文中的含義一致的含義，並且將不被解釋為理想化的或過度正式的意義，除非本文中明確地這樣定義。
圖1A繪示為本發明一實施方式的裁切前的顯示面板的第一表面的上視示意圖，圖1A為了方便說明及觀察，僅示意性地繪示部分構件。圖1B繪示為本發明一實施方式的裁切前的顯示面板的第二表面的上視示意圖，圖1B為了方便說明及觀察，僅示意性地繪示部分構件。圖2A至圖2G繪示為沿圖1A及圖1B之剖面線A-A’的顯示面板的製造流程的剖面示意圖。圖3繪示為本發明一實施方式的顯示面板的剖面示意圖。值得注意的是，圖3的剖面位置可對應於圖1A及圖1B中剖面線A-A’的位置。
請先參照圖1A、圖1B及圖3，在本實施方式中，顯示面板10B及/或裁切前的顯示面板10A包括基板100、遮光定位層120以及透光定位層220，其中基板100具有第一表面101以及相對第一表面101的第二表面102，遮光定位層120設置於第一表面101上，且透光定位層220設置於第二表面102上。遮光定位層120具有至少一第一對位圖案122。透光定位層220具有至少一第二對位圖案222。於垂直基板100的方向N上，至少一第一對位圖案122重疊於至少一第二對位圖案222。顯示面板10B更包括至少一第一接墊160、至少一第二接墊260以及至少一連接結構400電性連接第一接墊160及第二接墊260。為求清楚表示，圖1A中示意性地繪示了從基板100的第一表面101（也就是上表面）至第二表面102方向上可以觀察到的遮光定位層120的圖案；圖1B中示意性地繪示了從基板100的第二表面102（也就是下表面）至第一表面101方向上可以觀察到的透光定位層220的圖案。以下將以一實施方式說明顯示面板10B的製造方法。
請參照圖1A及圖2A，首先提供基板100。在本實施方式中，基板100的材料包括玻璃、石英、有機聚合物或其他可適用材料，但本發明不限於此。
在本實施方式中，基板100具有顯示區11以及環繞顯示區11的周邊區13。顯示區11還包括多個元件區14、導線區18以及至少一對位圖案區12。顯示區11更包括至少一接墊區16。這些元件區14、對位圖案區12與接墊區16彼此分離。導線區18至少部份環繞這些元件區14、對位圖案區12及接墊區16。
接著，於基板100的第一表面101上形成多個膜層。如圖2A所示，於第一表面101上形成第一絕緣層110。第一絕緣層110例如是整面地形成於基板100上，且位於顯示區11及周邊區13中。在本實施方式中，第一絕緣層110的材料包括無機材料、有機材料或上述材料的組合或其他合適的材料。上述無機材料例如是（但不限於）：氧化矽、氮化矽、氮氧化矽或上述至少二種材料的堆疊層。上述有機材料例如是（但不限於）：聚醯亞胺系樹脂、環氧系樹脂或壓克力系樹脂等高分子材料。在本實施方式中，第一絕緣層110為單一膜層，但本發明並不限於此。在其他實施方式中，第一絕緣層110也可以由多個膜層堆疊而成。另外，在本實施方式中，第一絕緣層110可利用物理氣相沉積法、化學氣相沉積法、或其它合適的方法形成於第一表面101上。
在本實施方式中，於形成第一絕緣層110的步驟之前，可先形成遮光定位層120於第一表面101上。在本實施方式中，遮光定位層120的形成方法可包括：形成遮光定位材料層（未繪示）於第一表面101上，然後圖案化所述遮光定位材料層，以形成具有至少一第一對位圖案122的遮光定位層120。在本實施方式中，第一對位圖案122為開口圖案，亦即以開口的形式存在遮光定位層120中，如圖2A所示。另外，在本實施方式中，第一絕緣層110填入第一對位圖案122中。第一對位圖案122的形成方法可包括進行微影蝕刻製程、雷射剝除製程、或其他適合的移除方式，但本發明不以此為限。在本實施方式中，遮光定位層120之第一對位圖案122以外的部分能遮蔽後續曝光程序中使用的光束L（於後文進行詳細描述）。在本實施方式中，遮光定位層120一般是使用金屬材料，但本發明不限於此。根據其他實施方式，遮光定位層120可以使用合金或是金屬材料及/或合金與其他導電材料的堆疊層。其他導電材料例如是：金屬材料的氮化物、金屬材料的氧化物、金屬材料的氮氧化物、或其它合適的材料。於另一實施方式中，遮光定位層120也可為有機材料，或前述所列之遮光定位層120的至少二種材料之堆疊層，但不限於此。如圖1A所示，至少一第一對位圖案122以八個第一對位圖案122為例，但本發明並不以此為限，第一對位圖案122的數量可依照實際所需而設計成一個或多個。
如圖1A所示，使用者（未繪示）自俯視的方向觀察，第一對位圖案122可約呈十字形，且可供後續曝光程序中的光束L（繪示於圖2C）通過。然而，本發明並不限於此，在其他未繪示的實施方式中，第一對位圖案122可以呈星形、圓形或其他可供辨識的圖案化形狀。此外，在俯視的方向上，第一對位圖案122可對應對位圖案區12或周邊區13設置。換句話說，在一些實施方式中，第一對位圖案122可以僅對應地位於顯示區11中的對位圖案區12或僅對應地位於周邊區13中；在另一些實施方式中，第一對位圖案122可以同時對應對位圖案區12及周邊區13設置。以下將以第一對位圖案122同時對應對位圖案區12及周邊區13設置進行說明。
接著，形成多個畫素單元PX於顯示區11中。在本實施方式中，於垂直基板100的方向N上，每一畫素單元PX皆與一個元件區14相重疊。另外，在本實施方式中，這些畫素單元PX是以陣列的方式排列於顯示區11中，但本發明不以此為限。另外，如圖1A所示，多個畫素單元PX是以十五個畫素單元PX為例，但任何所屬技術領域中具有通常知識者應當能理解，畫素單元PX的數量是依據使用者的需求而設置，不以圖1A所示的數量為限。
在本實施方式中，如圖1A及圖2A所示，畫素單元PX可包括併排於顯示區11中的第一畫素單元PX1以及第二畫素單元PX2。換言之，圖2A所繪示的剖面圖僅局部地示出多個畫素單元PX中的兩個畫素單元（即第一畫素單元PX1以及第二畫素單元PX2）的局部結構。即便如此，根據以下關於第一畫素單元PX1以及第二畫素單元PX2的描述，任何所屬技術領域中具有通常知識者應可理解，其餘畫素單元的架構及佈置方式。
在本實施方式中，各畫素單元PX之形成步驟可包括：形成元件層130於第一絕緣層110上、形成第二絕緣層150於元件層130上、以及形成多條導線180於第二絕緣層150上。另外，在本實施方式中，各畫素單元PX之形成步驟可選擇性更包括：於第二絕緣層150上形成第三絕緣層152。另外，在本實施方式中，在形成多條導線180於第二絕緣層150上的製程中，可形成至少一第一接墊160於第二絕緣層150上。
在本實施方式中，元件層130可包括主動元件T及訊號線SL。請參照圖1A以及圖2A，第一畫素單元PX1中的主動元件T對應元件區14設置。需注意的是，雖然繪示沿剖面線A-A’的剖面的圖2A僅揭示第一畫素單元PX1包括主動元件T，但任何所屬技術領域中具有通常知識者應當能理解，每一畫素單元PX皆包括對應設置於元件區14中的主動元件T，以驅動畫素單元PX中的發光元件140（繪示於圖2G）。另一方面，雖然圖2A僅繪示一個主動元件T對應元件區14設置，但本發明並不限於此，任何所屬技術領域中具有通常知識者應當能理解，元件層130可包括兩個、三個或更多個主動元件T，以驅動畫素單元PX中的發光元件140（繪示於圖2G）。
請參照圖1A以及圖2A，在第一畫素單元PX1中，訊號線SL電性連接至主動元件T及導線180，而在第二畫素單元PX2中，訊號線SL電性連接至導線180及第一接墊160。也就是說，在本實施方式中，元件層130中的訊號線SL係用以電性連接至其他構件以傳遞訊號。從另一觀點而言，請參照圖1A及圖2A，在第一畫素單元PX1中，電性連接至位於元件區14中的主動元件T的訊號線SL會延伸進入導線區18，而在第二畫素單元PX2中，訊號線SL可以自導線區18中延伸進入接墊區16中。需注意的是，雖然繪示沿剖面線A-A’的剖面的圖2A僅揭示第一畫素單元PX1中的一條訊號線SL以及第二畫素單元PX2中的一條訊號線SL，但任何所屬技術領域中具有通常知識者應當能理解，元件層130可包括兩條、三條或更多條訊號線SL。在本實施方式中，訊號線SL例如為掃描線、資料線、共用訊號線、電源線或其他合適之線路，本發明不以此為限。
在本實施方式中，元件層130可以包括藉由一般的半導體製程所形成的一個或多個導電層、一個或多個介電層或一個或多個半導體層。如圖2A所示，主動元件T可包括閘極G、半導體層CH、源極S以及汲極D。在本實施方式中，閘極G舉例由第一導體層M1所形成，位於半導體層CH上方，且由閘絕緣層GI與半導體層CH相隔開。換句話說，上述主動元件T是以頂部閘極型薄膜電晶體（top gate TFT）為例，但本發明不限於此。根據其他實施方式，上述主動元件T也可為底部閘極型薄膜電晶體（bottom gate TFT，即閘極G位於半導體層CH下方且由閘絕緣層GI與半導體層CH相隔開）、或其他適當型式的薄膜電晶體。在本實施方式中，半導體層CH可為單層或多層結構，且可為多晶矽、非晶矽單晶矽、微晶矽、氧化物半導體材料、有機半導體材料、鈣鈦礦、奈米碳管、其它合適的材料、或前述至少一種材料之組合。
在本實施方式中，源極S以及汲極D位於半導體層CH的上方。在本實施方式中，源極S以及汲極D分別透過形成在閘絕緣層GI與層間絕緣層ILD中的接觸窗O1而與半導體層CH電性連接。如圖2A所示，在第一畫素單元PX1中，訊號線SL與主動元件T的汲極D電性連接。在本實施方式中，源極S、汲極D與訊號線SL可屬於同一膜層，並由第二導體層M2所形成。第一導體層M1與第二導體層M2一般是使用金屬材料，但本發明不限於此。根據其他實施方式，第一導體層M1與第二導體層M2可以使用其他導電材料，例如：合金、金屬材料的氮化物、金屬材料的氧化物、金屬材料的氮氧化物、或是金屬材料與其他導電材料的堆疊層。在本實施方式中，第一導體層M1的材料可與第二導體層M2的材料實質上相同或不同。
在本實施方式中，第二絕緣層150形成於基板100上，以提供保護各畫素單元PX中的元件層130的功能或是平坦化的功能。從另一角度而言，在本實施方式中，各畫素單元PX中的元件層130位於第一絕緣層110與第二絕緣層150之間。在本實施方式中，第二絕緣層150的材料包括無機材料、有機材料或上述材料的組合或其他合適的材料。上述無機材料例如是（但不限於）：氧化矽、氮化矽、氮氧化矽或上述至少二種材料的堆疊層。上述有機材料例如是（但不限於）：聚醯亞胺系樹脂、環氧系樹脂或壓克力系樹脂等高分子材料。在本實施方式中，第二絕緣層150的材料可與第一絕緣層110的材料實質上相同或不同。在本實施方式中，第二絕緣層150為單一膜層，但本發明並不限於此。在其他實施方式中，第二絕緣層150也可以由多個膜層堆疊而成。
在本實施方式中，第三絕緣層152形成於基板100上以覆蓋各畫素單元PX。如圖2A所示，第三絕緣層152可填入第二絕緣層150中的多個開口O2，其中所述開口O2暴露出部分訊號線SL。在本實施方式中，第三絕緣層152的材料包括無機材料、有機材料或上述材料的組合或其他合適的材料。上述無機材料例如是（但不限於）：氧化矽、氮化矽、氮氧化矽或上述至少二種材料的堆疊層。上述有機材料例如是（但不限於）：聚醯亞胺系樹脂、環氧系樹脂或壓克力系樹脂等高分子材料。在本實施方式中，第三絕緣層152的材料可與第一絕緣層110的材料相同或不同。在本實施方式中，第三絕緣層152為單一膜層，但本發明並不限於此。在其他實施方式中，第三絕緣層152也可以由多個膜層堆疊而成。
如圖2A所示，導線180設置於第三絕緣層152上。在本實施方式中，部分導線180電性連接於元件層130。如圖2A所示，在第一畫素單元PX1中，位於元件區14中的一條導線180可透過第三絕緣層152中的接觸窗O3而電性連接至主動元件T，而在第二畫素單元PX2中，位於導線區18中的一條導線180可透過第三絕緣層152中的接觸窗O3而電性連接至訊號線SL，但本發明不以此為限。在本實施方式中，導線180是由第三導體層M3所形成。第三導體層M3一般是使用金屬材料，但本發明不限於此。根據其他實施方式，第三導體層M3可以使用其他導電材料，例如：合金、金屬材料的氮化物、金屬材料的氧化物、金屬材料的氮氧化物、或是金屬材料與其他導電材料的堆疊層。在本實施方式中，第三導體層M3的材料可與第一導體層M1的材料相同或不同。在本實施方式中，於垂直基板100的方向N上，第一畫素單元PX1及第二畫素單元PX2中的多條訊號線SL及多條導線180不重疊對位圖案區12中的第一對位圖案122。如此，於後續進行的曝光程序中，遮光定位層120可應用為罩幕，且通過第一對位圖案122的光束L（繪示於圖2C）不會被位於第一表面101上的多條訊號線SL及多條導線180所遮蔽或影響。
如圖1A所示，於垂直基板100的方向N上，第一畫素單元PX1以及第二畫素單元PX2同時重疊於設置於顯示區11內的一個第一對位圖案122（即一個對位圖案區12）。進一步而言，如圖1A所示，於垂直基板100的方向N上，設置於顯示區11內的每一第一對位圖案122同時重疊於四個畫素單元PX，但本發明不限於此。在一些實施方式中，設置於顯示區11內的第一對位圖案122可重疊於一個、兩個或三個畫素單元PX。另一方面，如圖1A所示，基板100上有十二個畫素單元PX與第一對位圖案122相重疊，但本發明並不以此為限，只要基板100上的多個畫素單元PX中的一部分畫素單元PX有與第一對位圖案122相重疊即落入本發明的範疇。
在本實施方式中，於周邊區13中的第一對位圖案122可對應周邊區13的角落設置。如圖1A所示，於周邊區13中的對位圖案122同時設置於周邊區13的四個角落，但本發明不以此為限。在其他未繪示的實施方式中，對位圖案122可以僅設置於周邊區13的一個、兩個或三個角落四個角落。換言之，只要基板100上設置有對位圖案122即落入本發明的範疇。
如圖1A所示，至少一第一接墊160以八個第一接墊160為例，但本發明並不以此為限，第一接墊160的數量可依照實際所需而設計成一個或多個。在本實施方式中，如圖2A所示，第一接墊160與導線180可屬於同一膜層，換言之，第一接墊160也是由第三導體層M3所形成。請參照圖1A以及圖2A，第一接墊160設置於接墊區16中且位於元件層130上。詳細而言，如圖2A所示，第一接墊160透過第三絕緣層152中的接觸窗O4而電性連接至訊號線SL。
在本實施方式中，第一接墊160是透過使用遮光定位層120中的第一對位圖案122進行對位程序來形成於接墊區16中。也就是說，在本實施方式中，第一對位圖案122可以用來作為形成第一接墊160的依據，以使第一接墊160準確地形成於接墊區16中。基於導電性的考量，第一接墊160的材料一般是使用金屬材料，但本發明不限於此。
此外，如圖1A所示，於垂直基板100的方向N上，第一畫素單元PX1以及第二畫素單元PX2同時重疊於設置於顯示區11內的一個第一接墊160（即一個接墊區16）。進一步而言，如圖1A所示，於垂直基板100的方向N上，設置於顯示區11內的每一接墊區16同時重疊於二個畫素單元PX，但本發明不限於此。在一些實施方式中，設置於顯示區11內的接墊區16可僅重疊於一個畫素單元PX。另一方面，如圖1A所示，基板100上有九個畫素單元PX與接墊區16相重疊，但本發明並不以此為限，只要基板100上的多個畫素單元PX中的一部分畫素單元PX有與接墊區16相重疊即落入本發明的範疇。另外，如圖1A所示，多個接墊區16係對應設置於鄰近顯示區11的三個邊，但本發明不以此為限。在一些實施方式中，多個接墊區16也可以集中於顯示區11的一個邊設置。在另一些實施方式中，多個接墊區16也可以對應顯示區11的兩個邊設置。在又一些實施方式中，多個接墊區16也可以對應顯示區11的所有邊設置。
在本實施方式中，在形成畫素單元PX之後，於各畫素單元PX的導線180上及第一接墊160上形成保護層170。如圖2A所示，在第一畫素單元PX1中，保護層170中具有暴露出位於元件區14的導線180的接觸窗O5。由於圖2A所繪示的剖面圖僅局部地示出第一畫素單元PX1以及第二畫素單元PX2的局部結構，故根據前述針對第一畫素單元PX1以及第二畫素單元PX2的描述，任何所屬技術領域中具有通常知識者應可理解，保護層170中可具有對應於每一畫素單元PX的接觸窗O5。另外，如圖2A所示，在第二畫素單元PX2中，保護層170中具有暴露出第一接墊160的接觸窗O7。由於圖2A所繪示的剖面圖僅局部地示出第一畫素單元PX1以及第二畫素單元PX2的局部結構，故根據前述針對第一畫素單元PX1以及第二畫素單元PX2的描述，任何所屬技術領域中具有通常知識者應可理解，保護層170中可具有對應於每一第一接墊160的接觸窗O6。在本實施方式中，保護層170對應地設置於顯示區11以及周邊區13中。在本實施方式中，保護層170的材料包括無機材料、有機材料或上述材料的組合或其他合適的材料。上述無機材料例如是（但不限於）：氧化矽、氮化矽、氮氧化矽或上述至少二種材料的堆疊層。上述有機材料例如是（但不限於）：聚醯亞胺系樹脂、環氧系樹脂或壓克力系樹脂等高分子材料。
在本實施方式中，於保護層170上形成多個電極142。如圖2A所示，電極142分別透過保護層170中的接觸窗O5而電性連接至導線180，其中所述導線180中的一者係電性連接於元件層130。由於圖2A所繪示的剖面圖僅局部地示出第一畫素單元PX1以及第二畫素單元PX2的局部結構，故根據前述針對第一畫素單元PX1以及第二畫素單元PX2的描述，任何所屬技術領域中具有通常知識者應可理解，保護層170上會形成有可對應於每一畫素單元PX的電極142。
在本實施方式中，在形成電極142的製程中，還可形成導電電極162於保護層170上。也就是說，在本實施方式，電極142與導電電極162可屬於同一膜層。如圖2A所示，導電電極162可透過保護層170中的接觸窗O7而電性連接至第一接墊160。由於圖2A所繪示的剖面圖僅局部地示出第一畫素單元PX1以及第二畫素單元PX2的局部結構，故根據前述針對第一畫素單元PX1以及第二畫素單元PX2的描述，任何所屬技術領域中具有通常知識者應可理解，保護層170上會形成有可對應於每一第一接墊160的導電電極162。在本實施方式中，電極142與導電電極162的材料分別可包括金屬、合金、金屬氧化物、其它合適的材料、或上述至少二者的堆疊層，其中所述金屬氧化物例如包括：銦錫氧化物、銦鋅氧化物、鋁錫氧化物、鋁鋅氧化物、銦鎵鋅氧化物、或上述至少二者的堆疊層，但本發明不以此為限。
接著，請參照圖2B及圖2C，於形成透光材料層220’的步驟之前，於基板100的第一表面101上形成保護層190。如圖2B所示，保護層190覆蓋保護層170、電極142與導電電極162。如此一來，在後續翻轉基板100以於第二表面102上設置膜層的製程中，可以保護多個畫素單元PX不受影響。
接著，請參照圖2B及圖2C，將圖2B所示的結構上下翻轉（upside down）之後，將透光材料層220’及光阻層240依序形成於基板100的第二表面102上。在本實施方式中，透光材料層220’能夠使後續曝光程序中使用的光束L（於後文進行詳細描述）穿透。在本實施方式中，透光材料層220’例如為透光或半透光的絕緣材料。在一實施方式中，對於可見光，透光材料層220’之穿透率約至少40%以上，其中穿透率無單位。較佳地，對於可見光，透光材料層220’之穿透率約45%~100%，其中穿透率無單位。更佳地，對於可見光，透光材料層220’之穿透率約80%~100%，其中穿透率無單位。光阻層240的材料包括正型光阻或負型光阻。以下先以光阻層240為正型光阻進行說明。
請參照圖2C，進行曝光程序，使光束L通過遮光定位層120的第一對位圖案122並穿透基板100及透光材料層220’而照射至光阻層240。如前文所述，由於遮光定位層120之第一對位圖案122以外的部分能遮蔽光束L，且透光材料層220’能使光束L穿透，因此在曝光程序中，光束L僅會從遮光定位層120的第一對位圖案122處穿透並照射至與第一對位圖案122對應的光阻層240。光束L例如為紫外光或雷射光，其具有特定的波長範圍以與光阻層240反應。在一些實施方式中，光束L也可以為電子束，但本發明不以此為限。
接著，請參照圖2D，進行顯影程序，圖案化光阻層240以形成經圖案化光阻層240’。在本實施方式中，由於光阻層240為正型光阻，因此光阻層240中經曝光的部分（亦即受光束L照射的部分）會溶於顯影程序中使用的顯影液而形成開口圖案P，而未被曝光的部分（亦即未受光束L照射的部分）則形成經圖案化光阻層240’，其中所述開口圖案P對應於第一對位圖案122的圖案。也就是說，經由曝光及顯影程序，第一對位圖案122的圖案能夠轉移至經圖案化光阻層240’上。
然後，請參照圖1B、圖2D及圖2E，以經圖案化光阻層240’為罩幕進行蝕刻程序E，圖案化透光材料層220’，以形成具有至少一第二對位圖案222的透光定位層220。詳細而言，第二對位圖案222係藉由移除開口圖案P所暴露出的透光材料層220’的部分來形成。換言之，經由蝕刻程序E，開口圖案P的圖案能夠轉移至透光定位層220上。從另一觀點而言，透光定位層220的第二對位圖案222係透過利用遮光定位層120的第一對位圖案122而形成，因此第二對位圖案222的形成藉由遮光定位層120中的第一對位圖案122而達成自對準的效果。如此一來，在本實施方式中，於垂直基板100的方向N上，透光定位層220的第二對位圖案222會與遮光定位層120的第一對位圖案122相重疊。
如前文所述，在本實施方式中，第一對位圖案122對應設置於對位圖案區12及周邊區13中，因此第二對位圖案222亦對應設置於對位圖案區12及周邊區13中。然而，如前文所述，本發明並不限於此，在其他實施方式中，第二對位圖案222可以僅對應地設置於對位圖案區12中或僅對應地設置於周邊區13中。
另外，基於前述針對第一對位圖案122的描述，任何所屬技術領域中具有通常知識者應當能理解，第二對位圖案222的數量可依照實際所需而設計成一個或多個，並不以圖1B所示的數量為限。另外，基於前述針對第一對位圖案122的描述，任何所屬技術領域中具有通常知識者應當能理解，第二對位圖案222的形狀並不限於十字形。在本實施方式中，蝕刻程序E例如是乾蝕刻程序及/或濕蝕刻程序。
如圖2E所示，在沿著剖面線A-A’的剖面中，第二對位圖案222的尺寸約等於第一對位圖案122的尺寸。然而，本發明並不限於此，在其他實施方式中，依照蝕刻條件、曝光條件及/或相關膜層之折射率或材料的影響，第二對位圖案222的尺寸可大於或小於第一對位圖案122的尺寸。換句話說，於垂直基板100的方向N上，第一對位圖案122可以完全重疊第二對位圖案222，或第一對位圖案122可以位於第二對位圖案222的外邊緣之內。另外，基於前述針對位於周邊區13中的第一對位圖案122的描述，任何所屬技術領域中具有通常知識者應當能理解，位於周邊區13中的第二對位圖案222的布局方式並不以圖1B所示者為限。
請再次參照圖2E，在形成透光定位層220後，將經圖案化光阻層240’去除。去除經圖案化光阻層240’的方法可包括雷射剝除製程、蝕刻製程、顯影製程、其他適合的移除方式、或前述方式至少二種之組合。
在一些實施方式中，光阻層240可為負型光阻，此時在顯影程序中，光阻層240中未被曝光的部分（亦即未受光束L照射的部分）會溶於顯影程序中使用的顯影液，而經曝光的部分（亦即受光束L照射的部分）則因無法溶於顯影液中而留下並形成經圖案化光阻層240’。也就是說，在光阻層240為正型光阻的實施方式（亦即圖2E的實施方式）中，第二對位圖案222為開口圖案，而在光阻層240為負型光阻的實施方式中，第二對位圖案222約為實體圖案。
接著，請參照圖1B及圖2F，於透光定位層220上形成多條扇出線320。基於導電性的考量，扇出線320一般是使用金屬材料，但本發明不限於此。根據其他實施方式，扇出線320可以使用合金或是金屬材料及/或合金與其他導電材料的堆疊層。其他導電材料例如是：金屬材料的氮化物、金屬材料的氧化物、金屬材料的氮氧化物、或其它合適的材料。於另一實施方式中，遮光定位層120也可為有機導電材料，或前述所列之扇出線320的至少二種材料之堆疊層，但不限於此。雖然圖1B揭示八條扇出線320，但本發明並不以此為限，任何所屬技術領域中具有通常知識者應當能理解，扇出線320的數量可依照實際所需而設計成一個或多個。
請再次參照圖2F，在本實施方式中，在形成多條扇出線320後，於透光定位層220上可以選擇性地形成第四絕緣層280。在本實施方式中，第四絕緣層280的材料包括無機材料、有機材料或上述材料的組合或其他合適的材料。上述無機材料例如是（但不限於）：氧化矽、氮化矽、氮氧化矽或上述至少二種材料的堆疊層。上述有機材料例如是（但不限於）：聚醯亞胺系樹脂、環氧系樹脂或壓克力系樹脂等高分子材料。在本實施方式中，第四絕緣層280的材料可與第一絕緣層110的材料相同或不同。在本實施方式中，第四絕緣層280為單一膜層，但本發明並不限於此。在其他實施方式中，第四絕緣層280也可以由多個膜層堆疊而成。
如圖2F所示，第四絕緣層280具有接觸窗O6，其中接觸窗O6暴露出一條扇出線320的一部分。由於圖2F繪示的僅為沿剖面線A-A’的剖面圖，故根據前述針對扇出線320的描述，任何所屬技術領域中具有通常知識者應可理解，第四絕緣層280中可具有對應於每一扇出線320的接觸窗O6。在本實施方式中，第四絕緣層280對應地設置於顯示區11以及周邊區13中。在本實施方式中，第四絕緣層280填入第二對位圖案222中。
請再次參照圖1B及圖2F，在本實施方式中，透過使用第二對位圖案222進行對位程序，以形成至少一第二接墊260於第四絕緣層280上。如圖1B所示，至少一第二接墊260以八個第二接墊260為例，但本發明並不以此為限，第二接墊260的數量可依照實際所需而設計成一個或多個。在本實施方式中，每一第二接墊260電性連接至對應的扇出線320。舉例而言，如圖1B所示，第二接墊260中的任一者是以一對一的關係電性連接至扇出線320中的一者。另一方面，如圖2F所示，第二接墊260係透過第四絕緣層280中的接觸窗O6而電性連接至對應的扇出線320。基於導電性的考量，第二接墊260的材料一般是使用金屬材料，但本發明不限於此。於其它實施方式中，第二接墊260的材料亦可使用前文針對第一接墊160所述之材料，且二者實質上相同或不同。
如前文所述，由於第二對位圖案222的形成藉由能使第一接墊160準確地形成於接墊區16中的第一對位圖案122而達成自對準的效果，故透過使用第二對位圖案222作為依據而形成的第二接墊260亦能準確地形成於接墊區16中。也就是說，在本實施方式中，於垂直基板100的方向N上，第二接墊260係重疊於第一接墊160。從另一觀點而言，在本實施方式中，彼此之間存在對位關係的第一對位圖案122和第二對位圖案222分別係作為形成位於第一表面101上的第一接墊160及位在第二表面102上的第二接墊260的對位標記，藉此第一對位圖案122和第二對位圖案222的設置有助於提升位於基板100相對兩面上的第一接墊160與第二接墊260的對位精確度。
另外一提的是，雖然本文中僅描述以第一對位圖案122作為形成第一接墊160的對位標記和以第二對位圖案222作為形成第二接墊260的對位標記，但任何所屬技術領域中具有通常知識者應可理解，第一對位圖案122可作為形成於第一表面101上的任何構建的對位標記，且第二對位圖案222可作為形成於第二表面102上的任何構建的對位標記。
此外，在本實施方式中，於形成第二接墊260的製程中，還可形成電性連接至扇出線320的多個第三接墊262。也就是說，在本實施方式，第二接墊260與第三接墊262可屬於同一膜層。舉例而言，如圖1B所示，第三接墊262中的任一者是以一對一的關係電性連接至扇出線320中的一者。從另一觀點而言，在本實施方式中，每一扇出線320係用以將第二接墊260中的一者電性連接至第三接墊262中的一者。雖然圖1B揭示八個第三接墊262，但本發明並不以此為限，任何所屬技術領域中具有通常知識者應當能理解，第三接墊262的數量可依照實際所需而設計成一個或多個。
接著，請參照圖2G，將圖2F所示的結構上下翻轉之後，去除保護層190。去除保護層190的方法例如包括乾式移除方法、濕式移除方法、雷射移除方法、其它合適的方法、或前述至少二種方法之組合。
請再次參照圖2G，在去除保護層190後，於元件區14中形成發光元件140。由於圖2G所繪示的剖面圖僅局部地示出第一畫素單元PX1以及第二畫素單元PX2的局部結構，故根據前述針對第一畫素單元PX1以及第二畫素單元PX2的描述，任何所屬技術領域中具有通常知識者應可理解，每一畫素單元PX皆包括對應設置於元件區14中的至少一發光元件140。在本實施方式中，發光元件140係藉由電極142及導線180而電性連接至元件層130。在本實施方式中，發光元件140可為無機及/或有機發光二極體（light-emitting diode，LED），例如是微型發光二極體（micro-LED）、次毫米發光二極體（mini-LED）、量子點發光二極體（quantum dot）、鈣鈦礦發光二極體、其它合適的發光二極體、或前述至少二種之組合。另外，在本實施方式中，發光元件140屬於覆晶式發光二極體，但本發明並不限於此。在其他實施方式中，發光元件140亦可為垂直式發光二極體、水平式發光二極體、或其它合適的發光元件。至此，以大致完成裁切前的顯示面板10A（舉例為顯示母板）。另外，裁切前的顯示面板10A具有預定切割線L1，以於後續的製程中進行裁切，以完成顯示面板10B的製作。如圖1A及圖2G所示，預定切割線L1係位於顯示區11內且至少部份環繞顯示區11。舉例而言，如圖1A所示，元件區14、接墊區16與對位圖案區12皆位於預定切割線L1所環繞的區域內。
請同時參照圖1A、圖2G及圖3，沿著預定切割線L1進行切割程序，以切除基板100的周邊區13及部分的顯示區11並形成顯示面板10B。在本實施方式中，切割程序例如是雷射切割程序、水刀切割程序、刀輪切割程序、其它合適程序、或前述程序至少二種之組合。值得一提的是，由於切割程序移除了周邊區13，故顯示面板10B為無邊框顯示面板，適用於製作拼接顯示裝置。在本實施方式中，雖然預定切割線L1係位於顯示區11內，但本發明並不限於此。在一些實施方式中，預訂切割線L1可以位於周邊區13中，則此時，由於切割程序僅移除部分的周邊區13，故顯示面板10B為窄邊框顯示面板。
在一些實施方式中，於進行前述切割程序之後，可以進一步地對顯示面板10B的側面103進行微蝕刻（micro-etching）、研磨（polishing）、其他適宜的平整化製程、或前述程序至少二種之組合，以提升側面103的平整度（flatness）。
另外，如圖3所示，在完成切割程序之後，於顯示面板10B上形成連接結構400，以電性連接彼此對向設置的第一接墊160與第二接墊260。詳細而言，連接結構400係經由導電電極162而電性連接至第一接墊160。另外，在本實施方式中，連接結構400覆蓋顯示面板10B的側面103。由於圖3繪示的僅為顯示面板10B的局部剖面圖（對應於剖面線A-A’），故根據前述針對第一接墊160與第二接墊260的描述，任何所屬技術領域中具有通常知識者應可理解，顯示面板10B可具有對應於每一第一接墊160與每一第二接墊260的連接結構400。也就是說，在本實施方式中，連接結構400係用以傳遞位於第一表面101上的第一接墊160與位在第二表面102上的第二接墊260之間的訊號。
另外，任何所屬技術領域中具有通常知識者應可理解，顯示面板10B可以更包括外部電路（未繪示），電性連接於第三接墊262。所述外部電路（未繪示）例如可為驅動晶片、控制電路、軟性印刷電路板（Flexible Printed Circuit，FPC）、配置有驅動晶片的印刷電路板（printed circuit board，PCB）、配置有驅動晶片的軟性印刷電路板、其它合適之外部電路、或前述至少二種之組合。
值得說明的是，在顯示面板10B的製造方法中，透光定位層220的第二對位圖案222係透過利用遮光定位層120的第一對位圖案122進行曝光程序及顯影程序來形成經圖案化光阻層240’後，以經圖案化光阻層240’為罩幕對透光材料層220’進行蝕刻程序E而形成，因此第二對位圖案222是以自對準的方式形成，並且於垂直基板100的方向N上，與第一對位圖案122相重疊。
進一步而言，由於第二對位圖案222的形成藉由第一對位圖案122而達成自對準的效果，故透過使用第一對位圖案122作為依據而形成的第一接墊160與使用第二對位圖案222作為依據而形成的第二接墊260之間的對位精確度得以提升。如此一來，在顯示面板10B中，第一接墊160與第二接墊260因錯位而導致連接結構400無法達成連接作用的機率可降低，藉此顯示面板10B因避免電性連接不良的問題而可靠性提升。
在圖2G的實施方式中，第一對位圖案122係形成在介於基板100與元件層130之間的遮光定位層120中，但本發明並不限於此。在其他實施方式中，第一對位圖案122可形成在基板100之第一表面101上的其他膜層中。以下，將參照圖4、圖5針對其他的實施型態進行說明。在此必須說明的是，下述實施方式沿用了前述實施方式的元件符號與部分內容，其中採用相同或相似的符號來表示相同或相似的元件，並且省略了相同技術內容的說明。關於省略部分的說明可參考前述實施方式，下述實施方式不再重複贅述。
圖4繪示為本發明另一實施方式的裁切前的顯示面板的剖面示意圖。請參照圖2G及圖4，圖4的裁切前的顯示面板10C與圖2G的裁切前的顯示面板10A（舉例為顯示母板）相似，因此相同或相似的元件以相同或相似的符號表示，並且省略了相同技術內容的說明。關於省略部分的說明可參考前述實施方式。以下，將就圖4的裁切前的顯示面板10C與圖2G的裁切前的顯示面板10A間的差異處進行說明。
請參照圖4，在本實施方式中，具有至少一第一對位圖案122A的遮光定位層120A與主動元件T的閘極G屬於同一膜層，亦即遮光定位層120A是由第一導體層M1所形成。從另一觀點而言，在本實施方式中，具有至少一第一對位圖案122A的遮光定位層120A是在形成第一絕緣層110的步驟之後且在形成第二絕緣層150的步驟之前形成的。舉例而言，具有至少一第一對位圖案122A的遮光定位層120A的形成方法可包括：將遮光材料層（未繪示）形成於第一絕緣層110上後，圖案化所述遮光材料層，以形成具有第一對位圖案122A的遮光定位層120A。
在本實施方式中，由於遮光定位層120A與閘極G可以透過同一道光罩製程進行圖案化，因此裁切前的顯示面板10C的製作能與現有製程相容。其餘部分請參考前述實施方式，在此不贅述。
圖5繪示為本發明另一實施方式的裁切前的顯示面板的剖面示意圖。請參照圖2G及圖5，圖5的裁切前的顯示面板10D與圖4的裁切前的顯示面板10C相似，因此相同或相似的元件以相同或相似的符號表示，並且省略了相同技術內容的說明。關於省略部分的說明可參考前述實施方式。以下，將就圖5的裁切前的顯示面板10D與圖4的裁切前的顯示面板10C間的差異處進行說明。
請參照圖5，在本實施方式中，具有至少一第一對位圖案122B的遮光定位層120B與導線180屬於同一膜層，亦即遮光定位層120B是由第三導體層M3所形成。從另一觀點而言，在本實施方式中，具有至少一第一對位圖案122B的遮光定位層120B是在形成第二絕緣層150的步驟之後且在形成保護層170的步驟之前形成的。舉例而言，具有至少一第一對位圖案122B的遮光定位層120B的形成方法可包括：將遮光材料層（未繪示）形成於第二絕緣層150上後，圖案化所述遮光材料層，以形成具有至少一第一對位圖案122B的遮光定位層120B。
如圖5所示，遮光定位層120B位於顯示區11中，且遮光定位層120A位於周邊區13中。也就是說，在本實施方式中，對應顯示區11中的第一對位圖案122B與位於周邊區13中的第一對位圖案122A係在不同道的製程中形成。
在本實施方式中，由於遮光定位層120A與閘極G可以透過同一道光罩製程進行圖案化，且遮光定位層120B與導線180可以透過同一道光罩製程進行圖案化，因此裁切前的顯示面板10D的製作能與現有製程相容。其餘部分請參考前述實施方式，在此不贅述。
雖然圖4及圖5的實施方式僅揭示了利用第一導體層M1及第三導體層M3形成遮光定位層120A及遮光定位層120B，但根據圖4及圖5的實施方式的內容，任何所屬技術領域中具有通常知識者應可理解，本發明的遮光定位層亦可由第二導體層M2形成。
綜上所述，在本發明之至少一實施方式的顯示面板的製造方法中，透光定位層的第二對位圖案透過以下步驟形成：提供具有第一表面以及相對第一表面的第二表面的基板；利用位於第一表面上的遮光定位層的第一對位圖案進行曝光程序及顯影程序來形成位於第二表面上的經圖案化光阻層；以及以經圖案化光阻層為罩幕，對位於第二表面上的透光材料層進行蝕刻程序，藉此第二對位圖案得以由自對準的方式形成，並且於垂直基板的方向上，與第一對位圖案相重疊。
另一方面，由於第二對位圖案藉由第一對位圖案而能以自對準的方式形成，故透過使用第一對位圖案進行對位程序而形成的第一接墊與使用第二對位圖案進行對位程序而形成的第二接墊之間的對位精確度得以提升。如此一來，在本發明的顯示面板中，透過具有第一對位圖案的遮光定位層設置於第一表面上，具有第二對位圖案的透光定位層設置於第二表面上，且於垂直基板的方向上，第一對位圖案重疊於第二對位圖案，使得設置於第一表面上的第一接墊與設置於第二表面上的第二接墊因錯位而導致連接結構無法達成連接作用的機率可降低，可靠性可提升。
雖然本發明已以實施方式揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。
10A、10C、10D‧‧‧裁切前的顯示面板
10B‧‧‧顯示面板
11‧‧‧顯示區
12‧‧‧對位圖案區
13‧‧‧周邊區
14‧‧‧元件區
16‧‧‧接墊區
18‧‧‧導線區
100‧‧‧基板
101‧‧‧第一表面
102‧‧‧第二表面
103‧‧‧側面
110‧‧‧第一絕緣層
120、120A、120B‧‧‧遮光定位層
122、122A、122B‧‧‧第一對位圖案
130‧‧‧元件層
140‧‧‧發光元件
142‧‧‧電極
150‧‧‧第二絕緣層
160‧‧‧第一接墊
162‧‧‧導電電極
170‧‧‧保護層
180‧‧‧導線
190‧‧‧保護層
220‧‧‧透光定位層
220’‧‧‧透光材料層
222‧‧‧第二對位圖案
240‧‧‧光阻層
240’‧‧‧經圖案化光阻層
260‧‧‧第二接墊
262‧‧‧第三接墊
280‧‧‧第四絕緣層
320‧‧‧扇出線
400‧‧‧連接結構
CH‧‧‧半導體層
D‧‧‧汲極
E‧‧‧蝕刻程序
G‧‧‧閘極
GI‧‧‧閘絕緣層
ILD‧‧‧層間絕緣層
L‧‧‧光束
L1‧‧‧預定切割線
M1‧‧‧第一導體層
M2‧‧‧第二導體層
M3‧‧‧第三導體層
N‧‧‧方向
O1、O2、O3、O4、O5、O6、O7‧‧‧接觸窗
P‧‧‧開口圖案
152‧‧‧第三絕緣層
PX‧‧‧畫素單元
PX1‧‧‧第一畫素單元
PX2‧‧‧第二畫素單元
S‧‧‧源極
SL‧‧‧訊號線
T‧‧‧主動元件
圖1A繪示為本發明一實施方式的裁切前的顯示面板的第一表面的上視示意圖。
圖1B繪示為本發明一實施方式的裁切前的顯示面板的第二表面的上視示意圖。
圖2A至圖2G繪示為沿圖1A及圖1B之剖面線A-A’的顯示面板的製造流程的剖面示意圖。
圖3繪示為本發明一實施方式的顯示面板的剖面示意圖。
圖4繪示為本發明另一實施方式的裁切前的顯示面板的剖面示意圖。
圖5繪示為本發明又一實施方式的裁切前的顯示面板的剖面示意圖。

Claims (20)

  1. 一種顯示面板的製造方法，包括： 提供一基板，具有一第一表面以及相對該第一表面的一第二表面； 形成一遮光定位層於該第一表面上，該遮光定位層具有至少一第一對位圖案； 形成一透光材料層於該第二表面上； 形成一光阻層於該透光材料層上； 進行一曝光程序，使一光束通過該至少一第一對位圖案而穿透該基板及該透光材料層至該光阻層； 進行一顯影程序，圖案化該光阻層以形成一經圖案化光阻層；以及 進行一蝕刻程序，以該經圖案化光阻層為罩幕，圖案化該透光材料層，以形成具有至少一第二對位圖案的一透光定位層， 其中，於垂直該基板的方向上，該至少一第一對位圖案重疊於該至少一第二對位圖案。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的顯示面板的製造方法，其中於形成該透光材料層的步驟之前，更包括： 形成一第一絕緣層於該第一表面上；以及 形成多個畫素單元於該第一絕緣層上，各該畫素單元之形成步驟包括： 形成一元件層於該第一絕緣層上； 形成一第二絕緣層於該元件層上；以及 形成多條導線於該第二絕緣層上，該些導線電性連接至該元件層， 其中，該基板具有一顯示區以及環繞該顯示區的一周邊區，該顯示區包括多個元件區、一導線區以及至少一對位圖案區，該些元件區與該至少一對位圖案區彼此分離，且該導線區環繞該些元件區及該至少一對位圖案區， 其中，該些畫素單元位於該顯示區中， 其中，該至少一第一對位圖案對應該至少一對位圖案區或該周邊區設置。
  3. 如申請專利範圍第2項所述的顯示面板的製造方法，其中該至少一第一對位圖案為多個，且該些第一對位圖案對應該至少一對位圖案區及該周邊區設置。
  4. 如申請專利範圍第2項所述的顯示面板的製造方法，其中於形成該第一絕緣層的步驟之前，包括： 形成一遮光材料層於該第一表面上；以及 圖案化該遮光材料層，以形成該遮光定位層具有至少一第一對位圖案。
  5. 如申請專利範圍第2項所述的顯示面板的製造方法，其中於形成該第一絕緣層的步驟之後，包括： 形成一遮光材料層於該第一絕緣層上；以及 圖案化該遮光材料層，以形成該遮光定位層。
  6. 如申請專利範圍第2項所述的顯示面板的製造方法，其中於形成該第二絕緣層的步驟之後，包括： 形成一遮光材料層於該第二絕緣層上；以及 圖案化該遮光材料層，以形成該遮光定位層。
  7. 如申請專利範圍第2項所述的顯示面板的製造方法，更包括： 形成至少一第一接墊於該元件層上，該至少一第一接墊電性連接至該元件層；以及 形成一保護層於該些導線及該至少一第一接墊上， 其中該基板的該顯示區更包括至少一接墊區，該至少一接墊區與該至少一對位圖案區彼此分離，且該至少一第一接墊對應該至少一接墊區設置。
  8. 如申請專利範圍第7項所述的顯示面板的製造方法，其中於形成該透光定位層的步驟之後，更包括： 透過該至少一第二對位圖案進行一對位程序，形成至少一第二接墊於該透光定位層上， 其中，該至少一第二接墊對應該至少一接墊區設置，且於垂直該基板的方向上，該至少一第二接墊重疊於該至少一第一接墊。
  9. 如申請專利範圍第8項所述的顯示面板的製造方法，其中於形成至少一第二接墊的步驟之後，更包括： 沿著一預定切割線進行一切割程序；以及 形成至少一連接結構，該至少一連接結構將該至少一第一接墊電性連接至該至少一第二接墊， 其中，於垂直該基板的方向上，該預定切割線位於該顯示區內，且該些元件區、該至少一接墊區與該至少一對位圖案區位於預定切割線所環繞的區域內。
  10. 如申請專利範圍第9項所述的顯示面板的製造方法，更包括： 於形成該透光材料層的步驟之前，形成一保護層於該第一表面上，該保護層覆蓋該些畫素單元及該基板；以及 於形成該至少一連接結構的步驟之前，去除該保護層。
  11. 如申請專利範圍第2項所述的顯示面板的製造方法，其中各該畫素單元之形成步驟更包括： 設置一發光元件於該些導線上，該發光元件對應各該元件區，且該發光元件電性連接該元件層。
  12. 如申請專利範圍第1項所述的顯示面板的製造方法，其中該光阻層的材料包括正型光阻或負型光阻。
  13. 一種顯示面板，包括： 一基板，具有一第一表面以及相對該第一表面的一第二表面； 一遮光定位層，設置於該第一表面上，其中該遮光定位層具有至少一第一對位圖案；以及 一透光定位層，設置於該第二表面上，其中該透光定位層具有至少一第二對位圖案，且於垂直該基板的方向上，該至少一第一對位圖案重疊於該至少一第二對位圖案。
  14. 如申請專利範圍第13項所述的顯示面板，更包括： 一第一絕緣層，設置於該第一表面上；以及 多個畫素單元，設置於該第一絕緣層上，各該畫素單元包括： 一元件層，設置於該第一絕緣層上； 一第二絕緣層，設置於該元件層上；以及 多條導線，設置於該第二絕緣層上，且電性連接至該元件層，其中 該基板具有一顯示區以及環繞該顯示區的一周邊區，該顯示區包括多個元件區、一導線區以及至少一對位圖案區，該些元件區與該至少一對位圖案區彼此分離，且該導線區環繞該些元件區及該至少一對位圖案區，以及 該些畫素單元位於該顯示區中，且該至少一第一對位圖案對應該至少一對位圖案區或該周邊區設置。
  15. 如申請專利範圍第14項所述的顯示面板，其中該元件層包括一主動元件及一訊號線電性連接至該主動元件，該主動元件對應該些元件區的一者設置，且於垂直該基板的方向上，該訊號線及該些導線不重疊於該至少一第一對位圖案。
  16. 如申請專利範圍第14項所述的顯示面板，其中該至少一第一對位圖案為多個，且該些第一對位圖案對應該至少一對位圖案區及該周邊區設置。
  17. 如申請專利範圍第14項所述的顯示面板，其中該至少一第一對位圖案位於該至少一對位圖案區中，且於垂直該基板的方向上，部分該些畫素單元重疊該至少一對位圖案區。
  18. 如申請專利範圍第14項所述的顯示面板，其中該至少一第一對位圖案對應該周邊區的角落設置。
  19. 如申請專利範圍第14項所述的顯示面板，更包括： 至少一第一接墊，設置於該元件層上，且電性連接該元件層； 一保護層，設置於該些導線及該至少一第一接墊上； 至少一第二接墊，設置於該透光定位層上；以及 至少一連接結構，電性連接該至少一第一接墊及該至少一第二接墊， 其中該基板的該顯示區更包括至少一接墊區，該至少一接墊區與該至少一對位圖案區彼此分離，該至少一第一接墊與該至少一第二接墊對應該至少一接墊區設置，且於垂直該基板的方向上，該至少一第一接墊重疊於該至少一第二接墊。
  20. 如申請專利範圍第14項所述的顯示面板，其中各該畫素單元更包括： 一發光元件，設置於該些導線上，其中各該發光元件對應各該元件區設置，且各該發光元件電性連接該些導線。
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