KR970052258A - 반도체 소자의 미세 콘택홀 형성 방법 - Google Patents

반도체 소자의 미세 콘택홀 형성 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR970052258A
KR970052258A KR1019950050895A KR19950050895A KR970052258A KR 970052258 A KR970052258 A KR 970052258A KR 1019950050895 A KR1019950050895 A KR 1019950050895A KR 19950050895 A KR19950050895 A KR 19950050895A KR 970052258 A KR970052258 A KR 970052258A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
gas
contact hole
semiconductor device
forming
forming fine
Prior art date
Application number
KR1019950050895A
Other languages
English (en)
Inventor
이병석
이해정
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김주용, 현대전자산업 주식회사 filed Critical 김주용
Priority to KR1019950050895A priority Critical patent/KR970052258A/ko
Priority to TW085114526A priority patent/TW348296B/zh
Priority to DE19651776A priority patent/DE19651776A1/de
Priority to GB9626111A priority patent/GB2308232A/en
Priority to JP8335933A priority patent/JPH09186144A/ja
Publication of KR970052258A publication Critical patent/KR970052258A/ko

Links

Abstract

본 발명은 반도체 기판 상에 산화막을 형성하는 단계; 및 플루오르카본(fluorocarbon)계 가스와 카본 옥사이드(carbon oxide)계 가스의 혼합가스를 사용하여 산화막을 플라즈마 식각하되 플루오르카본계 가스에 대한 카본 옥사이드(carbon oxide)계 가스의 비율을 0.1 내지 10이 되도록 가스를 혼합하여 식각하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 콘택홀 형성방법에 관한 것이다.

Description

반도체 소자의 미세 콘택홀 형성 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2A도 내지 제2C도는 본 발명에 따른 콘택홀 형성 방법을 설명하기 위한 도면.

Claims (4)

  1. 반도체 소자의 콘택홀 형성방법에 있어서, 반도체 기판 상에 산화막을 형성하는 단계; 및 플루오르카본(fluorocarbon)계 가스와 카본 옥사이드(carbon oxide)계 가스의 혼합가스를 사용하여 산화막을 플라즈마 식각하되 플루오르카본계 가스에 대한 카본 옥사이드(carbon oxide)계 가스의 비율을 0.1 내지 10이 되도록 가스를 혼합하여 식각하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 콘택홀 형성방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 플우오르카본계 가스의 플루오린에 대한 카본의 조성비는 1:3이하인 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 콘택홀 형성방법.
  3. 제2항에 있어서, 상기 플루오르카본계 가스는 C2F3, C3F8, C4F8중 적어도 어느 하나로 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 콘택홀 형성방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 카본 옥사이드계 가스는 CO, CO2중 적어도 어느 하나로 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 콘택홀 형성방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950050895A 1995-12-16 1995-12-16 반도체 소자의 미세 콘택홀 형성 방법 KR970052258A (ko)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950050895A KR970052258A (ko) 1995-12-16 1995-12-16 반도체 소자의 미세 콘택홀 형성 방법
TW085114526A TW348296B (en) 1995-12-16 1996-11-25 Method for forming contact hole in semiconductor device
DE19651776A DE19651776A1 (de) 1995-12-16 1996-12-12 Verfahren zur Herstellung eines Kontaktlochs in einer Halbleitervorrichtung
GB9626111A GB2308232A (en) 1995-12-16 1996-12-16 A method of forming a contact hole in a semiconductor device.
JP8335933A JPH09186144A (ja) 1995-12-16 1996-12-16 半導体素子のコンタクトホール形成方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950050895A KR970052258A (ko) 1995-12-16 1995-12-16 반도체 소자의 미세 콘택홀 형성 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR970052258A true KR970052258A (ko) 1997-07-29

Family

ID=66594208

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950050895A KR970052258A (ko) 1995-12-16 1995-12-16 반도체 소자의 미세 콘택홀 형성 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR970052258A (ko)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR950015650A (ko) 반도체 장치 제조방법
KR930014829A (ko) 에칭방법
KR950001924A (ko) 미세 구리 전도체 패턴을 형성하는 방법
KR970052258A (ko) 반도체 소자의 미세 콘택홀 형성 방법
KR970077353A (ko) 반도체 디바이스의 제조 방법
KR970023814A (ko) 반도체 건식에칭방법
KR950021178A (ko) 반도체 장치의 제조 방법
KR970077232A (ko) 반도체 장치의 스몰콘택홀 형성방법
KR970052254A (ko) 반도체 소자의 콘택홀 형성 방법
KR970072094A (ko) 반도체 장치의 콘택 식각 방법
KR970008375A (ko) 반도체장치의 제조방법
KR970072170A (ko) 플라즈마에칭장치 및 플라즈마에칭방법
KR970018232A (ko) 반도체소자의 텅스텐막 형성방법
KR970023731A (ko) 반도체 장치의 콘택홀 형성 방법
KR970018032A (ko) 반도체 장치의 스몰콘택 형성방법
KR940027080A (ko) 반도체 소자의 저온 건식식각 방법
KR960019515A (ko) 콘택식각방법
KR970023816A (ko) 멀티 레이어 식각 방법
KR950034602A (ko) 반도체장치의 다층배선 형성방법
KR970052762A (ko) 건식각 공정의 이물질 감소방법
KR970018179A (ko) 반도체막의 식각방법
KR970067551A (ko) 반도체 장치의 패턴형성방법
KR960030367A (ko) 반도체 장치의 소자분리방법
KR970052800A (ko) 게이트 절연막 형성방법
KR970023635A (ko) 반도체장치의 미세패턴 형성방법

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination