KR970023453A - 플래쉬 메모리 장치 - Google Patents

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KR970023453A
KR970023453A KR1019950035938A KR19950035938A KR970023453A KR 970023453 A KR970023453 A KR 970023453A KR 1019950035938 A KR1019950035938 A KR 1019950035938A KR 19950035938 A KR19950035938 A KR 19950035938A KR 970023453 A KR970023453 A KR 970023453A
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권규완
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김주용
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Abstract

본 발명은 플래쉬 메모리 장치에 관한 것으로서, 셀어레이를 다수의 셀 블럭으로 분할시켜 NQP 회로로 셀을 구동시킬때 걸리는 부하(loading)를 최소화시킬 수 있도록 하므로써, 원하는 레벨의 NQP 전압을 신속하게 얻을 수 있도록 한 플래쉬 메모리 장치에 관한 것이다.

Description

플래쉬 메모리 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 플래쉬 메모리 장치의 블럭도.

Claims (8)

  1. 플래쉬 메모리 장치에 있어서, 다수의 각기 다른 제어신호를 입력으로 하는 셀블럭 콘트롤 회로와, 상기 셀블럭 콘트롤회로의 출력 신호 및 소거신호의 입력에 따라 다수의 셀블럭중 어느 한 셀블럭을 선택하기 위한 셀블럭 선택회로와, 네가티브 챠지펌프 회로에 접속되며 상기 셀블럭 선택회로의 출력신호에 따라 셀 블럭을 선택적으로 구동시키는 네가티브 챠지펌프 바이어스 구동회로를 구비하는 것을 특징으로 하는 플래쉬 메모리 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 셀블럭 콘트롤 회로는 블럭 소거신호 및 기준 클럭신호를 입력으로 하여 셀블럭 선택회로를 구동시키기 위한 클럭신호를 발생시키도록 구성되는 것을 특징으로 하는 플래쉬 메모리 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 셀블럭 콘트롤 회로는 새로운 셀블럭이 선택될때 소거상태를 소거 바이어싱 상태로 스테이트 카운터를 리셋시키도록 구성되는 것을 특징으로 하는 플래쉬 메모리 장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기 셀블럭 콘트롤 회로는 최종블럭의 소거동작이 끝났을때 소거종료 신호를 발생시키도록 구성되는 것을 특징으로 하는 플래쉬 메모리 장치.
  5. 제1항에 있어서, 상기 셀블럭 선택회로는 소거신호를 입력으로 하는 라이징 엣지 검출회로와, 상기 라이징 엣지 검출회로의 출력신호 및 상기 셀블럭 콘트롤 회로의 출력신호인 클럭신호에 따라 상기 제1 및 제2플립플롭 회로의 출력신호가 변화되어 다수의 셀블럭중 어느 한 셀블럭을 선택하도록 하는 블럭선택 디코더로 구성되는 것을 특징으로 하는 플래쉬 메모리 장치.
  6. 제1항에 있어서, 상기 셀블럭 선택회로는 소거신호에 의해 스테이트 카운터 출력이 선택되도록 구성되는 것을 특징으로 하는 플래쉬 메모리 장치.
  7. 제1항에 있어서, 상기 네가티브 챠지펌프 바이어스 구동회로는 네가티브 챠지펌프의 출력단자로부터 다수의 네가티브 챠지펌프 구동회로의 출력신호를 입력으로 하는 다수의 패스 트랜지스터를 통해 다수의 셀블럭이 대응하여 접속 구성되는 것을 특징으로 하는 플래쉬 메모리 장치.
  8. 제7항에 있어서, 상기 다수의 네가티브 챠지펌프 구동회로는 상기 다수의 패스 트랜지스터의 입력단자 및 네가티브 챠지펌프의 출력단자간에 각각 직렬접속되며 캐패시터 및 낸드게이트를 통해 각각의 셀 블럭 선택 회로 및 기준클럭 신호의 입력에 따라 교호로 동작되며 PMOS 트랜지스터로 구성되는 것을 특징으로 하는 플래쉬 메모리 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950035938A 1995-10-18 1995-10-18 플래쉬 메모리 장치 KR0172532B1 (ko)

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Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100200922B1 (ko) * 1995-12-27 1999-06-15 윤종용 반도체 메모리장치의 펌핑전압발생기
KR100190366B1 (ko) * 1996-04-10 1999-06-01 김영환 반도체 메모리 장치 및 그 전원인가방법
US5781490A (en) * 1996-07-03 1998-07-14 Micron Technology, Inc. Multiple staged power up of integrated circuit
KR19990050472A (ko) * 1997-12-17 1999-07-05 구본준 승압전압 발생회로
US6232826B1 (en) * 1998-01-12 2001-05-15 Intel Corporation Charge pump avoiding gain degradation due to the body effect
KR20000032290A (ko) * 1998-11-13 2000-06-15 윤종용 멀티-뱅크 구조를 가지는 반도체 메모리 장치
DE69921974D1 (de) 1999-06-24 2004-12-23 St Microelectronics Srl Nichtflüchtige Speicheranordnung, insbesondere vom Flash-Typ
US6671769B1 (en) * 1999-07-01 2003-12-30 Micron Technology, Inc. Flash memory with fast boot block access
JP4011248B2 (ja) * 1999-12-22 2007-11-21 沖電気工業株式会社 半導体記憶装置
JP4290618B2 (ja) * 2004-07-27 2009-07-08 Necエレクトロニクス株式会社 不揮発性メモリ及びその動作方法
JP2006185530A (ja) * 2004-12-28 2006-07-13 Renesas Technology Corp 不揮発性半導体メモリ装置
JP2008052803A (ja) * 2006-08-23 2008-03-06 Toshiba Corp 不揮発性半導体記憶装置
JP2009003991A (ja) * 2007-06-19 2009-01-08 Toshiba Corp 半導体装置及び半導体メモリテスト装置
US8060453B2 (en) * 2008-12-31 2011-11-15 Pitney Bowes Inc. System and method for funds recovery from an integrated postal security device
US8055936B2 (en) * 2008-12-31 2011-11-08 Pitney Bowes Inc. System and method for data recovery in a disabled integrated circuit
US10796773B1 (en) * 2019-05-14 2020-10-06 Micron Technolgy, Inc. Memory devices including voltage generation systems
CN116166180A (zh) * 2021-11-25 2023-05-26 新唐科技股份有限公司 存储器装置以及抹除方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1992005560A1 (en) * 1990-09-25 1992-04-02 Kabushiki Kaisha Toshiba Nonvolatile semiconductor memory
JP2835215B2 (ja) * 1991-07-25 1998-12-14 株式会社東芝 不揮発性半導体記憶装置
JPH06150677A (ja) * 1992-10-30 1994-05-31 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
US5335200A (en) * 1993-01-05 1994-08-02 Texas Instruments Incorporated High voltage negative charge pump with low voltage CMOS transistors
JP3594626B2 (ja) * 1993-03-04 2004-12-02 株式会社ルネサステクノロジ 不揮発性メモリ装置
US5339279A (en) * 1993-05-07 1994-08-16 Motorola, Inc. Block erasable flash EEPROM apparatus and method thereof
US5399928A (en) * 1993-05-28 1995-03-21 Macronix International Co., Ltd. Negative voltage generator for flash EPROM design
EP0704851B1 (en) * 1994-09-27 2001-11-28 STMicroelectronics S.r.l. Byte erasable EEPROM fully compatible with a single power supply flash-EPROM process

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Publication number Publication date
JP3128061B2 (ja) 2001-01-29
KR0172532B1 (ko) 1999-03-30
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GB2306718B (en) 2000-01-19
GB2306718A (en) 1997-05-07
JPH09180476A (ja) 1997-07-11
GB9621504D0 (en) 1996-12-04

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