KR930005037A - 반도체 메모리 장치의 자동 스트레스 모드 테스트장치 - Google Patents

반도체 메모리 장치의 자동 스트레스 모드 테스트장치 Download PDF

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Abstract

내용 없음.

Description

반도체 메모리 장치의 자동 스트레스 모드 테스트장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 블럭 다이어그램,
제3도는 제2도의 일실시예를 보여주는 회로도.

Claims (6)

  1. 외부 전원전압과 내부 전원전압을 사용하는 반도체 메모리 장치의 스트레스 모드 테스트 회로에 있어서, 상기 내부 전원전압에 따르는 제1전압노드와, 상기 외부 전압에 따르는 제2전압노드와, 상기 제1 및 제2전압노드의 전위를 각각 입력하고 하나의 출력노드를 가지는 차동증폭기와, 상기 차동증폭기의 출력노드에 게이트가 접속된 절연게이트 전계효과 트랜지스터와, 상기 절연게이트 전계효과 트랜지스터의 채널의 일단에 접속되고 상기 외부 전원전압에 따르는 충전노드와, 상기 절연게이트 전계효과 트랜지스터의 채널의 타단에 접속된 트리거 노드를 구비함을 특징으로 하는 스트레스 모드 테스트회로.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1전압노드가 상기 내부 전원전압과 접지 전압단 사이에 직렬 연결된 분압수단을 구비함을 특징으로 하는 스트레스 모드 테스트회로.
  3. 제1항에 있어서, 상기 제2전압노드가 상기 외부 전원전압과 접지 전압단 사이에 직렬 연결된 분압수단을 구비함을 특징으로 하는 스트레스 모드 테스트회로.
  4. 제1항에 있어서, 상기 트리거 노드에 입력이 연결된 바이어스 회로와, 상기 바이어스 회로의 출력에 게이트가 접속되고 상기 외부 전원전압과 상기 내부 전원전압 사이에 채널이 연결된 절연게이트 전계효과 트랜지스터를 더 구비함을 특징으로 하는 스트레스 모드 테스트회로.
  5. 외부 전원전압과 내부 전원전압을 사용하는 반도체 메모리 장치의 스트레스 모드 테스트 회로에 있어서, 상기 외부 전원전압과 내부 전원전압을 입력하는 차동증폭기와, 상기 차동증폭기의 출력을 입력하는 레벨 트리거와, 상기 레벨 트리거의 출력을 입력하는 바이어스 회로와, 상기 바이어스 회로의 출력에 게이트가 접속되고 상기 외부 전원전압과 내부 전원전압 사이에 채널이 연결된 구동용 절연게이트 전계효과 트랜지스터로 구성됨을 특징을 하는 스트레스 모드 테스트회로.
  6. 제5항에 있어서, 상기 레벨 트리거가 상기 차동증폭기의 출력에 게이트가 접속되고 상기 외부 전원전압에 채널의 일단이 접속된 절연게이트 전계효과 트랜지스터와, 상기 절연게이트 전계효과 트랜지스터의 채널의 타단에 접속되고 상기 바이어스 회로의 입력에 연결된 트리거 노드를 구비함을 특징으로 하는 스트레스 모드 테스트회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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