KR920022678A - 반도체 메모리 장치의 데이타 입력버퍼 - Google Patents

반도체 메모리 장치의 데이타 입력버퍼 Download PDF

Info

Publication number
KR920022678A
KR920022678A KR1019910008453A KR910008453A KR920022678A KR 920022678 A KR920022678 A KR 920022678A KR 1019910008453 A KR1019910008453 A KR 1019910008453A KR 910008453 A KR910008453 A KR 910008453A KR 920022678 A KR920022678 A KR 920022678A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
voltage
channel
data input
power supply
input buffer
Prior art date
Application number
KR1019910008453A
Other languages
English (en)
Other versions
KR930008661B1 (ko
Inventor
장현순
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김광호, 삼성전자 주식회사 filed Critical 김광호
Priority to KR1019910008453A priority Critical patent/KR930008661B1/ko
Priority to US07/726,188 priority patent/US5355033A/en
Priority to JP3235677A priority patent/JPH04351791A/ja
Publication of KR920022678A publication Critical patent/KR920022678A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR930008661B1 publication Critical patent/KR930008661B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K21/00Details of pulse counters or frequency dividers
    • H03K21/02Input circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0175Coupling arrangements; Interface arrangements
    • H03K19/0185Coupling arrangements; Interface arrangements using field effect transistors only
    • H03K19/018507Interface arrangements
    • H03K19/018521Interface arrangements of complementary type, e.g. CMOS
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/24Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

내용 없음.

Description

반도체 메모리 장치의 데이타 입력버퍼
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 데이타 입력버퍼의 회로도,
제3도는 제2도의 기준전압 발생회로의 내부 구성도,
제4도는 본 발명에 따른 전압 및 전류 특성을 보여주는 그래프들,
제5도의(A)도는 입력트립마진에 본 발명과 종래의 시험결과를 대비한 도표.

Claims (6)

  1. 전원전압에 연결된 데이타입력버퍼에 있어서, 상기 전원전압과 소정의 레벨감지노드 사이에 연결되고 입력전압의 레벨에 따라 전류의 양이 조절되는 도전성통로와, 상기 도전성통로에 채널의 일단이 접속되고 채널의 타단이 접지전압단에 접속되고 게이트가 상기 전원전압의 레벨에 따르는 전압을 인가받는 절연게이트전계 효과 트랜지스터를 구비함을 특징으로 하는 데이타입력버퍼.
  2. 제1항에 있어서, 상기 도전성통로가 상지 절연게이트 전계효과 트랜지스터의 채널의 일단과 상기 레벨 감지 노드 사이에 채널이 연결되고 상기 입력전압에 게이트가 접속된 피채널 모오스트랜지스터를 구비함을 특징으로 하는 데이타입력버퍼.
  3. 제1항에 있어서, 상기 레벨감지노드와 접지전압단 사이에 채널이 연결되고 상기 입력전압에 게이트가 접속된 엔채널 모오스트랜지스터를 구비함을 특징으로 하는 데이타입력버퍼.
  4. 제1항에 있어서, 상기 절연게이트 전계효과트랜지스터의 게이트가 각기 서로 다른 클램핑 전압을 발생하는 복수개의 클램프회로들을 가지는 전압발생회로의 출력단에 접속되어 있음을 특징으로 하는 데이타입력버퍼.
  5. 전원전압단에 연결되고 씨모오스인버터 회로를 가지는 데이타 입력버퍼에 있어서, 피모오스 트랜지스터의 소오스와 상기 전원전압단 사이의 노드에 채널의 일단이 접속되고 접지전압단에 채널의 타단이 접속되고 상기 전원전압의 레벨에 따르는 전압에 의하여 전도성이 제어되는 절연게이트 전계효과 트랜지스터와, 상기 전원전압에 연결되고 각기 서로 다른 크램핑전압을 발생하는 복수개의 클램프 회로들을 가지며 상기 절연게이트 전계효과 트랜지스터의 게이트에 출력단이 접속된 전압발생회로를 구비함을 특징으로 하는 데이타입력버퍼.
  6. 제5항에 있어서, 상기 전원전압이 제1상태에서 있는 경우에는 상기 노드가 충전되고, 상기 전원전압이 제2 상태에 있는 경우에는 상기 노드가 상기 절연게이트 전계효과 트랜지스터의 채널을 통하여 접지전압단으로 방전됨을 특징으로 하는 데이타입력버퍼.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019910008453A 1991-05-24 1991-05-24 반도체메모리장치의 데이타입력버퍼 KR930008661B1 (ko)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019910008453A KR930008661B1 (ko) 1991-05-24 1991-05-24 반도체메모리장치의 데이타입력버퍼
US07/726,188 US5355033A (en) 1991-05-24 1991-07-05 Data input buffer circuit for use in a semiconductor memory device
JP3235677A JPH04351791A (ja) 1991-05-24 1991-08-23 半導体メモリー装置のデータ入力バッファー

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019910008453A KR930008661B1 (ko) 1991-05-24 1991-05-24 반도체메모리장치의 데이타입력버퍼

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR920022678A true KR920022678A (ko) 1992-12-19
KR930008661B1 KR930008661B1 (ko) 1993-09-11

Family

ID=19314871

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019910008453A KR930008661B1 (ko) 1991-05-24 1991-05-24 반도체메모리장치의 데이타입력버퍼

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5355033A (ko)
JP (1) JPH04351791A (ko)
KR (1) KR930008661B1 (ko)

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5638418A (en) * 1993-02-05 1997-06-10 Dallas Semiconductor Corporation Temperature detector systems and methods
KR0124046B1 (ko) * 1993-11-18 1997-11-25 김광호 반도체메모리장치의 승압레벨 감지회로
EP0752175B1 (de) * 1994-03-24 1999-02-17 Siemens Aktiengesellschaft Verlustarme integrierte schaltung mit reduziertem takthub
IT1274537B (it) 1994-05-20 1997-07-17 Fujitsu Ltd Apparato a circuito elettronico per trasmettere segnali attraverso un bus e dispositivo a semiconduttore per generare una predeterminata tensione stabile
US5589783A (en) * 1994-07-29 1996-12-31 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Variable input threshold adjustment
US5537065A (en) * 1994-09-15 1996-07-16 Lsi Logic Corporation Programmable voltage detection system
US5668483A (en) * 1995-06-21 1997-09-16 Micron Quantum Devices, Inc. CMOS buffer having stable threshold voltage
US5534789A (en) * 1995-08-07 1996-07-09 Etron Technology, Inc. Mixed mode output buffer circuit for CMOSIC
US6104229A (en) * 1996-05-02 2000-08-15 Integrated Device Technology, Inc. High voltage tolerable input buffer and method for operating same
JP3686174B2 (ja) * 1996-07-30 2005-08-24 株式会社ルネサステクノロジ 半導体集積回路装置
US5872464A (en) * 1996-08-12 1999-02-16 Cypress Semiconductor Corp. Input buffer with stabilized trip points
US6040708A (en) * 1997-01-02 2000-03-21 Texas Instruments Incorporated Output buffer having quasi-failsafe operation
US6023174A (en) * 1997-07-11 2000-02-08 Vanguard International Semiconductor Corporation Adjustable, full CMOS input buffer for TTL, CMOS, or low swing input protocols
US6023176A (en) * 1998-03-27 2000-02-08 Cypress Semiconductor Corp. Input buffer
KR100301809B1 (ko) * 1998-11-24 2001-09-06 김영환 데이터 입출력 버퍼 제어회로_
JP2000244322A (ja) * 1999-02-23 2000-09-08 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置
US6897702B2 (en) * 2002-05-30 2005-05-24 Sun Microsystems, Inc. Process variation compensated high voltage decoupling capacitor biasing circuit with no DC current
US20050068077A1 (en) * 2003-09-30 2005-03-31 Intel Corporation Local bias generator for adaptive forward body bias
US8035455B1 (en) 2005-12-21 2011-10-11 Cypress Semiconductor Corporation Oscillator amplitude control network
US8564252B2 (en) * 2006-11-10 2013-10-22 Cypress Semiconductor Corporation Boost buffer aid for reference buffer
US8035401B2 (en) 2007-04-18 2011-10-11 Cypress Semiconductor Corporation Self-calibrating driver for charging a capacitive load to a desired voltage
KR100996186B1 (ko) * 2008-11-06 2010-11-24 주식회사 하이닉스반도체 내부 전압 생성회로
US8364870B2 (en) 2010-09-30 2013-01-29 Cypress Semiconductor Corporation USB port connected to multiple USB compliant devices
US9667240B2 (en) 2011-12-02 2017-05-30 Cypress Semiconductor Corporation Systems and methods for starting up analog circuits

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4464587A (en) * 1980-10-14 1984-08-07 Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha Complementary IGFET Schmitt trigger logic circuit having a variable bias voltage logic gate section
US4687954A (en) * 1984-03-06 1987-08-18 Kabushiki Kaisha Toshiba CMOS hysteresis circuit with enable switch or natural transistor
JPS61103223A (ja) * 1984-10-26 1986-05-21 Mitsubishi Electric Corp 定電圧発生回路
JPH0679263B2 (ja) * 1987-05-15 1994-10-05 株式会社東芝 基準電位発生回路
JPS63305616A (ja) * 1987-06-08 1988-12-13 Sony Corp 信号レベル変換回路
KR910005609B1 (ko) * 1988-07-19 1991-07-31 삼성전자 주식회사 복수전압 ic용 입력신호 로직 판별회로
US5034623A (en) * 1989-12-28 1991-07-23 Texas Instruments Incorporated Low power, TTL level CMOS input buffer with hysteresis

Also Published As

Publication number Publication date
KR930008661B1 (ko) 1993-09-11
JPH04351791A (ja) 1992-12-07
US5355033A (en) 1994-10-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR920022678A (ko) 반도체 메모리 장치의 데이타 입력버퍼
KR970029757A (ko) 반도체장치 및 비교회로
KR890008849A (ko) 퓨우즈 상태 검출회로
KR880012008A (ko) 전원절환회로
KR870011696A (ko) 전원전압강하회로
KR910003665A (ko) 반도체 기억 회로
KR910008954A (ko) 파워-업 펄스 발생기 회로 및 파워-업 검출용 회로
KR960032721A (ko) P 채널 mis 트랜지스터로 구현된 부하 저항을 갖는 입력 보호 회로
KR930005037A (ko) 반도체 메모리 장치의 자동 스트레스 모드 테스트장치
KR960009158A (ko) 기준전압 발생회로
KR970013732A (ko) 멀티파워를 사용하는 데이타 출력버퍼
KR950024349A (ko) 외부 파워 서플라이의 전위에 의거하여 내부 파워 서플라이의 전위를 발생시키는 내부 파워 서플라이 회로
KR960009157A (ko) 반도체 집적회로
KR850006902A (ko) 전압레벨 검출회로
KR960039604A (ko) 클램프 반도체 회로
KR940025175A (ko) 반도체 집적회로의 중간전위 발생회로
KR940020669A (ko) 바이어스 회로(bias circuit)
KR970003924A (ko) 반도체 장치
KR960027331A (ko) 버퍼회로 및 바이어스회로
KR960027317A (ko) 반도체 메모리장치의 데이타 출력 버퍼회로
KR970003257A (ko) 반도체 메모리 장치
KR970017589A (ko) 반도체 메모리 장치의 내부전원전압 발생회로
KR950034763A (ko) 반도체 집적회로 장치
KR950012703A (ko) 반도체 메모리 장치의 데이타 입력 버퍼
KR0150227B1 (ko) 입력 회로

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20090814

Year of fee payment: 17

LAPS Lapse due to unpaid annual fee