JP2000244322A - 半導体集積回路装置 - Google Patents

半導体集積回路装置

Info

Publication number
JP2000244322A
JP2000244322A JP11044504A JP4450499A JP2000244322A JP 2000244322 A JP2000244322 A JP 2000244322A JP 11044504 A JP11044504 A JP 11044504A JP 4450499 A JP4450499 A JP 4450499A JP 2000244322 A JP2000244322 A JP 2000244322A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
voltage
main electrode
power supply
output terminal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11044504A
Other languages
English (en)
Inventor
Masakazu Tsunezawa
正和 経澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP11044504A priority Critical patent/JP2000244322A/ja
Priority to US09/362,725 priority patent/US6249174B1/en
Publication of JP2000244322A publication Critical patent/JP2000244322A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/24Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only
    • G05F3/242Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only with compensation for device parameters, e.g. channel width modulation, threshold voltage, processing, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 電流セル・マトリクス型D/Aコンバータが
待機状態から動作状態に遷移するまでの遷移時間を短縮
することが可能な基準電圧発生回路を得る。 【解決手段】 基準電圧発生回路RG1は、NMOSト
ランジスタM7、M8、M9と、PMOSトランジスタ
M10、M11、M12、M13と、インバータG4
と、抵抗R1とで構成される電圧発生部GPの他に、N
MOSトランジスタM14、M15、M16で構成され
た放電経路DP1を備えている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体集積回路装置
に関し、特にアナログ回路に内蔵され、基準電圧の生成
に利用される半導体集積回路装置に関する。
【0002】
【従来の技術】情報のマルチメディア化に伴い、音声・
映像などのアナログ信号を高速かつ高精度に処理するシ
ステムに対する需要が高まっている。1つの半導体チッ
プにMCU(Micro Controller Unit)、DSP(Digit
al Signal Processor)、D/A・A/Dコンバータを
内蔵したアナログ・ディジタル回路混在LSIは、高速
・高精度化に加え低消費電力化が可能であり、LSI開
発の主流である。
【0003】アナログ・ディジタル回路混在LSIにお
いて、ディジタル回路部分はMOS回路の微細加工技術
の進展とともに集積度が高められ、高速・高性能・低消
費電力化されているが、システムの入出力に必須のD/
A・A/Dコンバータについては加工精度およびトラン
ジスタの物理的特性の制約から、ディジタル回路部分ほ
ど集積化・低消費電力化が達成されていないのが現状で
ある。
【0004】近年、アナログ・ディジタル混在LSIを
ポータブル機器に内蔵した製品が登場し始めているが、
ポータブル機器内蔵用LSIはバッテリー動作が前提で
あるから、低消費電力化は最優先で克服すべき技術課題
である。
【0005】CMOSプロセスを用いて製作され、高速
・高精度かつ低消費電力のD/Aコンバータとして電流
セル・マトリクス型D/Aコンバータがある。図11に
電流セル・マトリクス型D/Aコンバータの全体構成を
ブロック図で示す。
【0006】図11に示すように、電流セル・マトリク
ス型D/Aコンバータは、複数の電流源セルSLがマト
リクス状に配設されて構成されるセルマトリクスMX
と、セルマトリクスMXの行および列位置を指定するX
デコーダXDおよびYデコーダYDと、各電流源セルS
Lに動作電圧を与える基準電圧発生回路RGとを備えて
いる。
【0007】XデコーダXDには、b3、b2、b1、
b0の4ビットの入力ディジタルコードが入力され、Y
デコーダYDには、b7、b6、b5、b4の4ビット
の入力ディジタルコードが入力され、計8ビットの入力
ディジタルコードに基づいて電流源セルSLのオンする
個数を設定するものである。
【0008】なお、各電流源セルSLは2つの出力IOU
TおよびIOUTBを有し、出力IOUTは抵抗RLを介して接
地され、出力IOUTBは抵抗RLBを介して接地されてい
る。
【0009】ここで、電流源セルSLの構成を図12に
示す。電流源セルSLは、反転2入力のANDゲートG
1と、ANDゲートG1の出力が、その入力の1つに接
続された2入力のORゲートG2とで構成される入力部
と、Pチャネル型MOSトランジスタ(以後、PMOS
トランジスタと呼称)M1、M2、M3、M4とNチャ
ネル型MOSトランジスタ(以後、NMOSトランジス
タと呼称)M5およびM6で構成される。
【0010】入力部においては、ANDゲートG1の2
つの入力にはXデコーダXDからの出力と、Yデコーダ
YDからの出力とが与えられ、ORゲートG2の反転入
力にはYデコーダYDからの出力が与えられる。
【0011】電流源セルの構成は、PMOSトランジス
タM3およびM4のソースが電源VDDに接続され、PM
OSトランジスタM3およびM4のドレインには、それ
ぞれPMOSトランジスタM1およびM2のソースが接
続され、PMOSトランジスタM1およびM2のドレイ
ンが、それぞれ相補的な出力IOUTBおよびIOUTとなっ
ている。
【0012】PMOSトランジスタM3のドレインには
NMOSトランジスタM5のドレインが接続され、PM
OSトランジスタM4のドレインにはNMOSトランジ
スタM6のドレインが接続され、NMOSトランジスタ
M5およびM6のソースは接地されている。そして、N
MOSトランジスタM5のゲートはNMOSトランジス
タM6のドレインに接続され、NMOSトランジスタM
6のゲートはNMOSトランジスタM5のドレインに接
続されている。
【0013】また、PMOSトランジスタM1およびM
2のゲートには基準電圧発生回路RGから基準電圧VBI
ASが与えられる構成となっている。
【0014】そして、ORゲートG2の出力はPMOS
トランジスタM3のゲートに与えられるとともに、イン
バータG3により反転されて、PMOSトランジスタM
4のゲートに与えられる構成となっている。
【0015】次に、電流セル・マトリクス型D/Aコン
バータの動作について説明する。電流セル・マトリクス
型D/Aコンバータにおいては、所定の入力ディジタル
コードがXデコーダXDおよびYデコーダYDに与えら
れると、セルマトリクスMXのうち、入力ディジタルコ
ードに応じた数の電流源セルがONし、これらの電流が
加算されて負荷抵抗RLに流れることで、入力ディジタ
ルコードに対応したアナログ出力電圧が得られる。
【0016】なお、電流源セルSLの出力IOUTBおよび
IOUTが相補的になっている理由は、装置全体の発熱量
を入力ディジタルコードによらず一定とするためであ
る。
【0017】基準電圧発生回路RGは、電流源セルSL
のPMOSトランジスタM1およびM2を定電流源とし
て動作させるのに必要な基準電圧VBIASを生成する回路
である。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】以上説明した電流セル
・マトリクス型D/Aコンバータ(以後、単にD/Aコ
ンバータと呼称する場合あり)においては、待機時(シ
ステム停止時)の消費電力を小さくするために、基準電
圧発生回路RGが待機時に生成する基準電圧VBIASを電
源VDDの電圧と等しくするように、基準電圧発生回路R
Gを構成している。
【0019】図13に基準電圧発生回路RGの構成を示
す。図13に示すように基準電圧発生回路RGは、NM
OSトランジスタM7、M8、M10と、PMOSトラ
ンジスタM10、M11、M12、M13と、インバー
タG4と、抵抗R1とを有している。
【0020】NMOSトランジスタM7およびM8は、
ドレインどうしが接続され、ソースがともに接地されて
いる。そして、NMOSトランジスタM7およびM8の
ドレインには、抵抗R1を介してPMOSトランジスタ
M10のドレインが接続され、PMOSトランジスタM
10のソースは電源VDDに接続されている。電源VDDに
は、ゲートが接地されたPMOSトランジスタM11の
ソースが接続され、PMOSトランジスタM11のドレ
インは、PMOSトランジスタM12のソースに接続さ
れ、PMOSトランジスタM12のドレインはNMOS
トランジスタM9のドレインに接続され、NMOSトラ
ンジスタM9のソースは接地されている。そして、NM
OSトランジスタM9のゲートは、NMOSトランジス
タM8のゲートに接続され、NMOSトランジスタM8
のゲートは、NMOSトランジスタM7およびM8のド
レインに接続されている。
【0021】また、電源VDDにはPMOSトランジスタ
M13のソースが接続され、PMOSトランジスタM1
3のドレインは、PMOSトランジスタM12のゲート
に接続され、PMOSトランジスタM12のゲートは自
らのソースに接続されている。なお、PMOSトランジ
スタM13のドレインおよびPMOSトランジスタM1
2のゲートは基準電圧VBIASの出力端VTに接続されて
いる。
【0022】そして、PMOSトランジスタM10およ
びNMOSトランジスタM7のゲートには、D/Aコン
バータ外部から与えられる制御信号の1つである停止信
号STOPが入力される構成となっており、PMOSト
ランジスタM13のゲートには、停止信号STOPをイ
ンバータG4で反転させた反転停止信号STOPBが入
力される構成となっている。
【0023】次に、基準電圧発生回路RGの動作につい
て説明する。停止信号STOPはD/Aコンバータの動
作状態と待機状態との切り換えを行う制御信号である。
動作状態では停止信号STOPの電位はLowレベル
(以後「L」と呼称)であり、PMOSトランジスタM
10がON、NMOSトランジスタM7およびPMOS
トランジスタM13がOFFし、基準電圧発生回路RG
はカレントミラー回路として動作し、基準電圧VBIASと
して所定の動作電圧Vopが得られる。
【0024】待機状態では停止信号STOPの電位はH
ighレベル(以後「H」と呼称)であり、NMOSト
ランジスタM7およびPMOSトランジスタM13がO
Nし、PMOSトランジスタM10がOFFするので、
基準電圧VBIASは電源VDDの電圧(VDD)となる。この
場合、基準電圧VBIASが与えられる電流源セルSLのP
MOSトランジスタM1およびM2はOFFし、基準電
圧発生回路RGのPMOSトランジスタM9もOFFす
るので、基準電圧発生回路RGおよび電流源セルSL内
において電源VDDから接地(GND)に流れる電流パス
が存在せず、消費電力は小さくなる。
【0025】ここで、D/Aコンバータが動作状態であ
るとき、停止信号STOPが「L」から「H」に立ち上
がり、完全に待機状態となるまでに要する時間(すなわ
ち遷移時間)は電流源セルSL内のPMOSトランジス
タM1およびM2のゲート充電時間によって決まる。よ
って、PMOSトランジスタトランジスタM13のゲー
ト幅を変えることによって、この遷移時間を制御でき
る。
【0026】一方、D/Aコンバータが待機状態である
とき、停止信号STOPが「H」から「L」に立ち下が
ると、電流源セルSL内のPMOSトランジスタM1お
よびM2のゲートに充電された電荷が、基準電圧発生回
路RGのNMOSトランジスタM9を通って放電され、
基準電圧VBIASは、電源電圧VDDから動作時における電
圧レベルVopまで低下する。この遷移時間は、NMOS
トランジスタM9のトランジスタサイズによって決定さ
れる。
【0027】NMOSトランジスタM9のトランジスタ
サイズは、基準電圧発生回路RG内における占有面積お
よび動作時の消費電力を考慮し、例えばD/Aコンバー
タのXデコーダXDおよびYデコーダYDに与えられる
入力ディジタルコードがすべて「1」の場合に、電流源
セルSLの出力IOUTの1/16の電流源として動作す
るように設定されている。
【0028】また、例えNMOSトランジスタM9のゲ
ート幅を2倍にしても遷移時間を劇的に短縮することは
できない。従って、図13に示す基準電圧生成回路RG
において、待機状態から動作状態への遷移時間を任意に
制御することは不可能である。
【0029】ここで、図3(a)に停止信号STOPの
供給状態を、図3(b)に、基準電圧生成回路RGを用
いた場合のD/Aコンバータの回路シミュレーション結
果を示す。図3(b)は、XデコーダXDおよびYデコ
ーダYDに与えられる入力ディジタルコードをすべて
「1」とし、図3(a)に示すように、停止信号STO
Pを100ns(nsec)の時点で「L」(すなわち
0V)から「H」(すなわちフルスケール)に立ち上
げ、500nsの時点で「H」から「L」に立ち下げた
場合の、電流源セルSLの出力電圧Voutをプロットし
たものであり、横軸に経過時間(sec)、縦軸に電圧
(V)を示す。
【0030】図3(b)から判るように、従来の基準電
圧発生回路RGを用いた場合、停止信号STOPを立ち
下げて待機状態から動作状態に遷移するまでの遷移時間
(ここでは、時間500nsにおいて0Vであった出力
電圧Voutが、出力電圧Voutが動作時の値の±1LSB
となるまでの時間として定義する時間)は500ns以
上必要であり、これはD/Aコンバータのクロック周期
の十数倍であり、その間はD/Aコンバータが正常動作
しない。
【0031】本発明は上記のような問題点を解消するた
めになされたもので、電流セル・マトリクス型D/Aコ
ンバータが待機状態から動作状態に遷移するまでの遷移
時間を短縮することが可能な基準電圧発生回路を得るこ
とを目的とする。
【0032】
【課題を解決するための手段】本発明に係る請求項1記
載の半導体集積回路装置は、第1の回路と第2の回路と
を備えた半導体集積回路装置であって、前記第1の回路
は主たる回路であって、前記第2の回路は、前記第1の
回路に設けられた電流源トランジスタの制御電極に与え
る制御電圧を発生させる回路であって、前記制御電圧を
第1および第2の電圧とすることで、電流源トランジス
タをオフおよびオンして、前記第1の回路を、待機状態
および動作状態とする機能を有し、第1の電源と第2の
電源との間に配設された電流源および該電流源の出力電
圧を前記第2の電圧に設定する出力電圧設定素子と、少
なくとも前記電流源の出力電圧を出力する出力端と、前
記出力端に接続され、前記第1の回路を動作状態にする
場合に、前記電流源トランジスタの制御電極の電圧を前
記第2の電圧に強制的に近づける電圧確定手段とを備え
ている。
【0033】本発明に係る請求項2記載の半導体集積回
路装置は、前記電圧確定手段が、前記出力端と前記第2
の電源との間に接続されたダイオード接続されたトラン
ジスタを少なくとも1つ有し、前記第1の回路を動作状
態にする場合は、前記トランジスタのしきい値電圧に達
するまで前記電流源トランジスタの制御電極の電圧を前
記第2の電圧に近づけるものである。
【0034】本発明に係る請求項3記載の半導体集積回
路装置は、前記第2の回路が、前記第1の電源と前記出
力端との間に配設され、前記第1の電源と前記出力端と
の接続および切り離しを行うスイッチ手段をさらに備
え、前記電圧確定手段は、前記出力端に第1の主電極を
接続され、該第1の主電極に制御電極が接続された第1
導電型の第1のトランジスタと、前記第1のトランジス
タの第2の主電極に第1の主電極を接続され、該第1の
主電極に制御電極が接続された第1導電型の第2のトラ
ンジスタと、前記第2のトランジスタの第2の主電極に
第1の主電極を接続され、第2の主電極が前記第2の電
源に接続された第1導電型の第3のトランジスタとを有
し、前記スイッチ手段は、前記第1の電源に第1の主電
極を接続され、前記出力端に第2の主電極を接続された
第2導電型の第4のトランジスタを有し、前記第3およ
び第4のトランジスタの制御電極には、前記第1の回路
を待機状態にする場合に、前記第3のトランジスタをオ
フ状態にするとともに、前記第4のトランジスタをオン
状態にする制御信号が与えられる。
【0035】本発明に係る請求項4記載の半導体集積回
路装置は、前記電圧確定手段が、前記出力端と前記第2
の電源との間に接続されたトランジスタを少なくとも有
し、前記第2の回路は、前記トランジスタのオン・オフ
制御を行う少なくとも1つのインバータをさらに備え、
前記少なくとも1つのインバータは、その入力が前記出
力端に接続され、その出力に基づいて前記トランジスタ
のオン・オフ制御がなされ、前記第1の回路を動作状態
にする場合は、前記電流源トランジスタの制御電極の電
圧が前記少なくとも1つのインバータのしきい値電圧に
達するまで前記トランジスタがオン状態を保つものであ
る。
【0036】本発明に係る請求項5記載の半導体集積回
路装置は、前記第2の回路が、前記第1の電源と前記出
力端との間に配設され、前記第1の電源と前記出力端と
の接続および切り離しを行うスイッチ手段をさらに備
え、前記少なくとも1つのインバータは、直列に接続さ
れた第1および第2のインバータであって、前記第1の
インバータの入力が前記出力端に接続され、前記第1の
インバータの出力が前記第2のインバータの入力に接続
され、前記電圧確定手段は、前記出力端に第1の主電極
を接続され、制御電極に前記第2のインバータの出力が
接続された第1導電型の第1のトランジスタと、前記第
1のトランジスタの第2の主電極に第1の主電極を接続
され、第2の主電極が前記第2の電源に接続された第1
導電型の第2のトランジスタとを有し、前記スイッチ手
段は、前記第1の電源に第1の主電極を接続され、前記
出力端に第2の主電極を接続された第2導電型の第3の
トランジスタを有し、前記第2および第3のトランジス
タの制御電極には、前記第1の回路を待機状態にする場
合に、前記第2のトランジスタをオフ状態にするととも
に、前記第3のトランジスタをオン状態にする制御信号
が与えられる。
【0037】本発明に係る請求項6記載の半導体集積回
路装置は、前記電圧確定手段が、前記出力端と前記第2
の電源との間に接続されたトランジスタを少なくとも有
し、前記第2の回路は、少なくともシュミットゲートを
有し、前記トランジスタのオン・オフ制御を行う制御部
をさらに備え、前記シュミットゲートは、その入力が前
記出力端に接続され、前記シュミットゲートの出力に基
づいて前記トランジスタのオン・オフ制御がなされ、前
記出力が第1のレベルから第2のレベルに変化する電圧
を規定する第1のしきい値電圧と、前記出力が第2のレ
ベルから第1のレベルに変化する電圧を規定する第2の
しきい値電圧とを有し、前記第1の回路を動作状態にす
る場合は、前記電流源トランジスタの制御電極の電圧が
前記シュミットゲートの前記第1のしきい値電圧に達す
るまで前記トランジスタがオン状態を保つものである。
【0038】本発明に係る請求項7記載の半導体集積回
路装置は、前記第2の回路が、前記第1の電源と前記出
力端との間に配設され、前記第1の電源と前記出力端と
の接続および切り離しを行うスイッチ手段をさらに備
え、前記制御部は、前記シュミットゲートの出力に入力
を接続されたインバータをさらに有し、前記電圧確定手
段は、前記出力端に第1の主電極を接続され、制御電極
に前記インバータの出力が接続された第1導電型の第1
のトランジスタと、前記第1のトランジスタの第2の主
電極に第1の主電極を接続され、第2の主電極が前記第
2の電源に接続された第1導電型の第2のトランジスタ
とを有し、前記シュミットゲートは、前記第2の電源に
第1の主電極が接続された第1導電型の第3のトランジ
スタと、前記第3のトランジスタの第2の主電極に第1
の主電極が接続された第1導電型の第4のトランジスタ
と、前記第4のトランジスタの第2の主電極に第1の主
電極が接続され、第2の主電極が前記第1の電源に接続
された第2導電型の第5のトランジスタと、前記第4の
トランジスタの第1の主電極に第1の主電極が接続さ
れ、第2の主電極が前記第1の電源に接続された第1導
電型の第6のトランジスタとを有し、前記第3、第4お
よび第5のトランジスタの制御電極は、前記出力端に接
続され、前記第6のトランジスタの制御電極は、前記シ
ュミットゲートの出力となる前記第5のトランジスタの
第1の主電極に接続され、前記スイッチ手段は、前記第
1の電源に第1の主電極を接続され、前記出力端に第2
の主電極を接続された第2導電型の第7のトランジスタ
を有し、前記第2および第7のトランジスタの制御電極
には、前記第1の回路を待機状態にする場合に、前記第
2のトランジスタをオフ状態にするとともに、前記第7
のトランジスタをオン状態にする制御信号が与えられ
る。
【0039】
【発明の実施の形態】<発明の概要>本発明では、電流
源セルの電流源となるMOSトランジスタのゲートに充
電された電荷を放電する放電経路(放電パス)あるいは
MOSトランジスタのゲートを充電する充電経路(充電
パス)を基準電圧発生回路内に設け、電流セル・マトリ
クス型D/Aコンバータの待機状態から動作状態への遷
移時間を短縮するものである。
【0040】従って、電流セル・マトリクス型D/Aコ
ンバータ(以後、単にD/Aコンバータと呼称する場合
あり)において、基準電圧発生回路以外の構成は、図1
1および図12を用いて説明したものと同じであり、以
下の説明においては、図11および図12を併せて参照
しつつ説明を行う。
【0041】<A.実施の形態1> <A−1.装置構成>図1は本発明に係る実施の形態1
の基準電圧発生回路RG1の構成を示す図である。図1
に示すように基準電圧発生回路RG1は、NMOSトラ
ンジスタM7、M8、M9と、PMOSトランジスタM
10、M11、M12、M13と、インバータG4と、
抵抗R1とで構成される電圧発生部GPの他に、NMO
SトランジスタM14、M15、M16で構成された放
電経路DP1を備えている。
【0042】NMOSトランジスタM7およびM8は、
ドレインどうしが接続され、ソースがともに接地されて
いる。そして、NMOSトランジスタM7およびM8の
ドレインには、抵抗R1を介してPMOSトランジスタ
M10のドレインが接続され、PMOSトランジスタM
10のソースは電源VDDに接続されている。電源VDDに
は、ゲートが接地されたPMOSトランジスタM11の
ソースが接続され、PMOSトランジスタM11のドレ
インは、PMOSトランジスタM12のソースに接続さ
れ、PMOSトランジスタM12のドレインはNMOS
トランジスタM9のドレインに接続され、NMOSトラ
ンジスタM9のソースは接地されている。そして、NM
OSトランジスタM9のゲートは、NMOSトランジス
タM8のゲートに接続され、NMOSトランジスタM8
のゲートは、NMOSトランジスタM7およびM8のド
レインに接続されている。
【0043】また、電源VDDにはPMOSトランジスタ
M13のソースが接続され、PMOSトランジスタM1
3のドレインは、PMOSトランジスタM12のゲート
に接続され、PMOSトランジスタM12のゲートは自
らのドレインに接続されている。
【0044】なお、PMOSトランジスタM13のドレ
インおよびPMOSトランジスタM12のゲートは基準
電圧VBIASの出力端VTに接続されている。
【0045】また、基準電圧VBIASの出力端VTには、
ダイオード接続されたNMOSトランジスタM14のド
レインが接続され、NMOSトランジスタM14のソー
スにはダイオード接続されたNMOSトランジスタM1
5のドレインが接続され、NMOSトランジスタM15
のソースにはNMOSトランジスタM16のドレインが
接続され、NMOSトランジスタM16のソースは接地
されている。
【0046】そして、PMOSトランジスタM10およ
びNMOSトランジスタM7のゲートには、D/Aコン
バータ外部から与えられる制御信号の1つである停止信
号STOPが入力される構成となっており、PMOSト
ランジスタM13のゲートおよびNMOSトランジスタ
M16のゲートには、停止信号STOPをインバータG
4で反転させた反転停止信号STOPBが入力される構
成となっている。
【0047】図1においては、ダイオード接続されたN
MOSトランジスタM14およびM15を直列接続する
ことで所望のしきい値の合成ダイオードを得るようにし
ており、当該合成ダイオードのしきい値Vtotは、NM
OSトランジスタM14およびM15のそれぞれのしき
い値Vth14およびVth15の合計で表される。なお、合成
ダイオードのしきい値Vtotは、D/Aコンバータ動作
時の基準電圧VBIAS値である動作電圧Vopよりも大きな
値(Vtot>Vop)となるように、直列接続するNMO
Sトランジスタの個数を決定する。
【0048】NMOSトランジスタM16は、D/Aコ
ンバータ動作時にONし、待機時にOFFするスイッチ
として機能するように、反転停止信号STOPBが与え
られている。
【0049】<A−2.装置動作>次に、基準電圧発生
回路RG1の動作について説明する。D/Aコンバータ
を待機状態から動作状態にするため、停止信号STOP
の電位がHighレベル(以後「H」と呼称)からLo
wレベル(以後「L」と呼称)になると、PMOSトラ
ンジスタM13がOFFし、NMOSトランジスタM9
およびM16がONし、出力端VTからPMOSトラン
ジスタM12を迂回してNMOSトランジスタM9を通
る従来からの経路および、放電経路DP1にそれぞれ電
流I1およびI2が流れ、図12に示す電流源セルSLの
PMOSトランジスタM1およびM2のゲートに蓄積さ
れた電荷が放電される。放電が進み、出力端VTの電
圧、すなわちVBIASが合成ダイオードのしきい値Vtot
よりも小さくなる(Vtot>VBIAS)と、NMOSトラ
ンジスタM14およびM15がOFFし、従来からの経
路に流れる電流I1による放電によって、出力端VTの
電圧VBIASはD/Aコンバータ動作時の基準電圧VBIAS
値である動作電圧Vopまで低下する。
【0050】ここで、ダイオード接続されたNMOSト
ランジスタM14およびM15による合成ダイオードの
電流−電圧特性を図2に示す。
【0051】なお、動作状態ではPMOSトランジスタ
M10がON、NMOSトランジスタM7およびPMO
SトランジスタM13がOFFし、基準電圧発生回路R
Gはカレントミラー回路として動作し、基準電圧VBIAS
として所定の動作電圧Vopが得られる。
【0052】図2において、横軸に出力端VTでの電圧
VBIAS(V)を、縦軸に放電経路DP1に流れる電流I
2(μA)を示す。図2に示すように、電圧VBIASが例
えば、1.0以上の場合は、電流I2の値は大きく、放
電経路DP1における放電が支配的であるが、電圧VBI
ASが1.0よりも小さくなると電流I2の値は極端に小
さくなり、放電経路DP1には殆ど電流が流れなくな
る。なお、D/Aコンバータ動作時の動作電圧Vopを図
中において矢示する。
【0053】次に、基準電圧発生回路RG1を用いた場
合のD/Aコンバータの回路シミュレーション結果を図
3(c)に示す。図3(c)は、XデコーダXDおよび
YデコーダYDに与えられる入力ディジタルコードをす
べて「1」とし、図3(a)に示すように、停止信号S
TOPを100ns(nsec)の時点で「L」(すな
わち0V)から「H」(すなわちフルスケール)に立ち
上げ、500nsの時点で「H」から「L」に立ち下げ
た場合の、電流源セルSLの出力電圧Voutをプロット
したものであり、横軸に経過時間(sec)、縦軸に電
圧(V)を示す。なお、図3(a)は停止信号STOP
の供給状態を示す図であり、横軸に経過時間(sec)
を、縦軸に停止信号STOPの電圧(V)を示す。
【0054】図3(a)に示すように、500nsの時
点で停止信号STOPを「H」から「L」に立ち下げた
直後は、放電経路DP1に流れる電流I2が支配的であ
り、放電が短時間に行われるので、図3(c)に示すよ
うに電流源セルSLの出力電圧Voutの立ち上がりが速
いが、図2を用いて説明したように、次第に放電電流は
従来からの経路に流れる電流I1が支配的となり、出力
電圧Voutの変化は遅くなる。
【0055】ここで、基準電圧発生回路RG1を用いた
場合に、停止信号STOPを立ち下げて待機状態から動
作状態に遷移するまでの遷移時間(ここでは、時間50
0nsにおいて0Vであった出力電圧Voutが、出力電
圧Voutが動作時の値の±1LSBとなるまでの時間と
して定義する時間)は、図3(b)に示した従来の基準
電圧発生回路RGを用いた場合に得られる特性に比べて
20%程度短縮されることになる。
【0056】なお、放電経路DP1を構成するダイオー
ド接続されたNMOSトランジスタの個数は、D/Aコ
ンバータ動作時の基準電圧VBIAS値に合わせて設定すれ
ば良いので、図1に示したように2段に限定されるもの
ではないが、個数が増えた場合、初期における放電を高
速に行うために、各ダイオード接続したNMOSトラン
ジスタのゲート幅を大きくする場合がある。
【0057】<A−3.作用効果>以上説明したよう
に、基準電圧発生回路RG1においては、電流源セルS
LのPMOSトランジスタM1およびM2のゲートに蓄
積された電荷を放電するための放電経路DP1を備える
ので、放電時間を短縮することができ、D/Aコンバー
タが待機状態から動作状態になるのに費やす時間を短縮
できる。
【0058】なお、放電経路DP1の構成は単純であ
り、放電経路DP1を設けることによる装置の大型化、
および製造コストの増加を抑制することができる。
【0059】また、D/Aコンバータの待機時には、基
準電圧発生回路RG1が生成する基準電圧VBIASは電源
電圧となり、基準電圧発生回路RG1および電流源セル
SL内において電源VDDから接地(GND)に流れる電
流経路が存在せず、消費電力を小さくすることができ
る。
【0060】<A−4.変形例>以上説明した本発明に
係る実施の形態1の基準電圧発生回路RG1は、電流源
セルの電流源となるMOSトランジスタがPチャネル型
である場合に、当該MOSトランジスタの電荷を放電さ
せる構成を備えていたが、上記電流源がNMOSトラン
ジスタである場合には電荷を蓄積させる必要があり、そ
の場合は図4に示す基準電圧発生回路RG11を適用す
る。
【0061】すなわち、基準電圧発生回路RG11は、
PMOSトランジスタM71、M81、M91と、NM
OSトランジスタM101、M111、M121、M1
31と、インバータG41と、抵抗R11とで構成され
る電圧発生部GP1の他に、PMOSトランジスタM1
41、M151、M161で構成された充電経路DP1
1を備えている。
【0062】PMOSトランジスタM71およびM81
は、ドレインどうしが接続され、ソースがともに電源V
DDに接続されている。そして、PMOSトランジスタM
71およびM81のドレインには、抵抗R11を介して
NMOSトランジスタM101のドレインが接続され、
NMOSトランジスタM101のソースは接地されてい
る。ゲートが電源VDDに接続されたNMOSトランジス
タM111のソースは接地され、NMOSトランジスタ
M111のドレインは、NMOSトランジスタM121
のソースに接続され、NMOSトランジスタM121の
ドレインはPMOSトランジスタM91のドレインに接
続され、PMOSトランジスタM91のソースは電源V
DDに接続されている。そして、PMOSトランジスタM
91のゲートは、PMOSトランジスタM81のゲート
に接続され、PMOSトランジスタM81のゲートは、
PMOSトランジスタM71およびM81のドレインに
接続されている。
【0063】また、NMOSトランジスタM131のソ
ースは接地され、NMOSトランジスタM131のドレ
インは、NMOSトランジスタM121のゲートに接続
され、NMOSトランジスタM121のゲートは自らの
ドレインに接続されている。
【0064】なお、NMOSトランジスタM131のド
レインおよびNMOSトランジスタM121のゲートは
基準電圧VBIASの出力端VTに接続されている。
【0065】また、基準電圧VBIASの出力端VTには、
ダイオード接続されたPMOSトランジスタM141の
ドレインが接続され、PMOSトランジスタM141の
ソースにはダイオード接続されたNMOSトランジスタ
M151のドレインが接続され、PMOSトランジスタ
M151のソースにはPMOSトランジスタM161の
ドレインが接続され、PMOSトランジスタM161の
ソースは電源VDDに接続されている。
【0066】そして、NMOSトランジスタM101お
よびPMOSトランジスタM71のゲートには、D/A
コンバータ外部から与えられる制御信号の1つである反
転停止信号STOPBが入力される構成となっており、
NMOSトランジスタM131のゲートおよびPMOS
トランジスタM161のゲートには、反転停止信号ST
OPBをインバータG41で反転させた停止信号STO
Pが入力される構成となっている。
【0067】このような構成を採ることにより、D/A
コンバータの待機時(システム停止時)には、基準電圧
発生回路RG11が生成する基準電圧VBIASは接地電位
となり消費電力を小さくすることができ、また、反転停
止信号STOPBが「L」から「H」になって、D/A
コンバータが待機状態から動作状態に遷移する場合に
は、電流源セルの電流源となるNMOSトランジスタの
ゲートに充電経路DP11を介して電荷を供給するの
で、充電時間を短縮することができ、D/Aコンバータ
が待機状態から動作状態になるのに費やす時間を短縮で
きる。
【0068】なお、図1に示す基準電圧発生回路RG1
の放電経路DP1および、図4に示す基準電圧発生回路
RG11の充電経路DP11は、ともに電流源セルの電
流源となるトランジスタのゲートの電圧を動作電圧Vop
に高速に近づけて、電圧を確定するための手段であるの
で、電圧確定手段と総称することができる。
【0069】<B.実施の形態2> <B−1.装置構成>図5は本発明に係る実施の形態2
の基準電圧発生回路RG2の構成を示す図である。図5
に示すように基準電圧発生回路RG2は、NMOSトラ
ンジスタM7、M8、M9と、PMOSトランジスタM
10、M11、M12、M13と、インバータG4と、
抵抗R1とで構成される電圧発生部GPの他に、NMO
SトランジスタM21、M22で構成された放電経路D
P2と、当該放電経路DP2のON・OFF制御を行う
CMOSインバータIV1およびIV2(以後、単にイ
ンバータIV1およびIV2と呼称)を備えている。
【0070】なお、電圧発生部GPの構成は図1を用い
て説明した基準電圧発生回路RG1と同様であり、重複
する説明は省略する。
【0071】インバータIV1は、電源VDDと接地との
間に直列に接続されたPMOSトランジスタM17およ
びNMOSトランジスタM18を備え、両者のゲートは
基準電圧VBIASの出力端VTに接続されている。また、
インバータIV2は、電源VDDと接地との間に直列に接
続されたPMOSトランジスタM19およびNMOSト
ランジスタM20を備え、両者のゲートはインバータI
V1の出力部であるPMOSトランジスタM17および
NMOSトランジスタM18のドレインに接続されてい
る。
【0072】放電経路DP2においては、基準電圧VBI
ASの出力端VTに、NMOSトランジスタM21のドレ
インが接続され、NMOSトランジスタM21のソース
にはNMOSトランジスタM22のドレインが接続さ
れ、NMOSトランジスタM22のソースは接地されて
いる。なお、NMOSトランジスタ21のゲートは、イ
ンバータIV2の出力部であるPMOSトランジスタM
19およびNMOSトランジスタM20のドレインに接
続されている。
【0073】そして、PMOSトランジスタM10およ
びNMOSトランジスタM7のゲートには、D/Aコン
バータ外部から与えられる制御信号の1つである停止信
号STOPが入力される構成となっており、PMOSト
ランジスタM13のゲートおよびNMOSトランジスタ
M22のゲートには、停止信号STOPをインバータG
4で反転させた反転停止信号STOPBが入力される構
成となっている。
【0074】放電経路DP2においては、基準電圧VBI
ASが入力されるインバータIV1の出力を反転した信号
でNMOSトランジスタM21がON/OFF制御され
る。また、NMOSトランジスタM22は、D/Aコン
バータ動作時にONし、待機時にOFFするスイッチと
して機能するように、反転停止信号STOPBが与えら
れている。
【0075】ここで、インバータIV1のしきい値VIV
1がD/Aコンバータの動作時の基準電圧VBIAS値であ
るVopよりも大きく(Vop<VIV1)なるように、PM
OSトランジスタM17、NMOSトランジスタM18
のゲート長およびゲート幅が設定されている。また、イ
ンバータIV2のしきい値は、電源電圧の半分(VDD/
2)程度に設定される。なお、インバータのしきい値と
はインバータの出力が切り替わる電圧を指す。
【0076】<B−2.装置動作>次に、基準電圧発生
回路RG2の動作について説明する。D/Aコンバータ
を待機状態から動作状態にするため、停止信号STOP
の電位がHighレベル(以後「H」と呼称)からLo
wレベル(以後「L」と呼称)になると、PMOSトラ
ンジスタM13がOFFし、NMOSトランジスタM9
およびM22がONする。電圧発生部GPは、D/Aコ
ンバータが待機状態にある場合は、基準電圧VBIASを電
源VDDの電圧に保っているので、停止信号STOPの切
り替わり当初は、基準電圧VBIASは電源電圧(VDD)に
近似しているので、インバータIV1の出力電圧Vaは
「L」、インバータIV2の出力電圧Vbは「H」とな
り、NMOSトランジスタM21がONする。また、N
MOSトランジスタM22もオンするので、出力端VT
からPMOSトランジスタM12を迂回してNMOSト
ランジスタM9を通る従来からの経路および、NMOS
トランジスタM21およびM22で構成される放電経路
DP2にそれぞれ電流I1およびI2が流れ、図12に示
す電流源セルSLのPMOSトランジスタM1およびM
2のゲートに蓄積された電荷が放電される。なお、放電
初期における放電速度はNMOSトランジスタM21の
トランジスタサイズによって任意に設定できる。
【0077】放電が進み、出力端VTの電圧、すなわち
VBIASがインバータIV1のしきい値VIV1よりも小さ
くなる(VIV1>VBIAS)と、インバータIV1の出力
電圧Vaが「H」、インバータIV2の出力電圧Vbが
「L」となって、NMOSトランジスタM21がOFF
し、従来からの経路に流れる電流I1による放電によっ
て、出力端VTの電圧VBIASはD/Aコンバータ動作時
の基準電圧VBIAS値である動作電圧Vopまで低下する。
【0078】次に、基準電圧発生回路RG2を用いた場
合のD/Aコンバータの回路シミュレーション結果を図
3(d)に示す。図3(d)は、XデコーダXDおよび
YデコーダYDに与えられる入力ディジタルコードをす
べて「1」とし、図3(a)に示すように、停止信号S
TOPを100ns(nsec)の時点で「L」(すな
わち0V)から「H」(すなわちフルスケール)に立ち
上げ、500nsの時点で「H」から「L」に立ち下げ
た場合の、電流源セルSLの出力電圧Voutをプロット
したものであり、横軸に経過時間(sec)、縦軸に電
圧(V)を示す。なお、図3(a)は停止信号STOP
の供給状態を示す図であり、横軸に経過時間(sec)
を、縦軸に停止信号STOPの電圧を示す。
【0079】図3(a)に示すように、500nsの時
点で停止信号STOPを「H」から「L」に立ち下げた
直後は、放電経路DP2に流れる電流I2が支配的であ
り、放電が短時間に行われるので、図3(d)に示すよ
うに電流源セルSLの出力電圧Voutの立ち上がりが速
いが、NMOSトランジスタM21がOFFした後は、
従来からの経路に流れる電流I1が支配的となり、出力
電圧Voutの変化は遅くなる。
【0080】ここで、基準電圧発生回路RG2を用いた
場合に、停止信号STOPを立ち下げて待機状態から動
作状態に遷移するまでの遷移時間(ここでは、時間50
0nsにおいて0Vであった出力電圧Voutが、出力電
圧Voutが動作時の値の±1LSBとなるまでの時間と
して定義する時間)は、図3(b)に示した従来の基準
電圧発生回路RGを用いた場合に得られる特性に比べて
60%程度短縮されることになる。
【0081】なお、インバータIV1の電圧入出力特性
が急峻でないため、その動作時には若干の貫通電流I3
が流れる。これを説明するために、図6(a)にインバ
ータIV1の電圧入出力特性を、図6(b)にインバー
タIV1の入力電圧に対する貫通電流特性を示す。
【0082】図6(a)において、横軸はインバータI
V1の入力電圧、すなわち基準電圧VBIAS(V)を、縦
軸は出力電圧Va(V)を示す。また、図6(b)にお
いては、横軸はインバータIV1の入力電圧、すなわち
基準電圧VBIAS(V)を、縦軸はインバータIV1の貫
通電流I3(μA)を示す。
【0083】図6(a)に示すように、インバータIV
1の電圧入出力特性が急峻でないため、図6(b)に示
すように貫通電流特性がインバータIV1のしきい値V
IV1をピークとしてブロードな山形の特性となる。そし
て、その裾はD/Aコンバータ動作時の基準電圧VBIAS
値である動作電圧Vopを含む範囲に広がっているので、
D/Aコンバータ動作時にも電流が流れる。この値を小
さくするには、インバータIV1のしきい値VIV1が動
作電圧Vopよりもさらに高い値となるようにNMOSト
ランジスタM17およびM18のトランジスタサイズを
設定すれば良いが、そうすると電流源セルSLの出力電
圧Voutの立ち上がりが緩やかになり、D/Aコンバー
タが待機状態から動作状態に遷移するまでの遷移時間が
長くなる。
【0084】逆に、インバータIV1のしきい値VIV1
を動作電圧Vopに近づけるようにすると、遷移時間は短
くできるが、図6(b)に示す貫通電流特性が動作電圧
Vopの側にシフトすることになり、貫通電流が増加して
しまう。
【0085】基準電圧発生回路RG2においては、イン
バータIV1のしきい値VIV1を、NMOSトランジス
タM17およびM18のトランジスタサイズによって任
意の値に決定できるという利点を有しているが、その際
には上述の貫通電流特性、およびトランジスタ製造プロ
セスのばらつき考慮して、インバータIV1のしきい値
にマージンを設定する。
【0086】なお、インバータIV2は、インバータI
V1の出力を反転増幅するだけであるので、その電圧入
出力特性は急峻である。
【0087】また、インバータIV1のしきい値VIV1
が動作電圧Vopよりも小さく(VIV1<Vop)なると、
D/Aコンバータの動作電圧が変わって、正常動作しな
くなる。
【0088】<B−3.作用効果>以上説明したよう
に、基準電圧発生回路RG2においては、電流源セルS
LのPMOSトランジスタM1およびM2のゲートに蓄
積された電荷を放電するための放電経路DP2を備える
ので、放電時間を短縮することができ、D/Aコンバー
タが待機状態から動作状態になるのに費やす時間を短縮
できる。
【0089】また、放電経路DP2のON・OFF制御
を行うインバータIV1を構成するPMOSトランジス
タM17およびNMOSトランジスタM18のトランジ
スタサイズを変更することで、インバータIV1のしき
い値VIV1を任意の値に決定でき、D/Aコンバータが
待機状態から動作状態になるのに費やす時間を任意の値
に設定できる。
【0090】また、D/Aコンバータの待機時には、基
準電圧発生回路RG2が生成する基準電圧VBIASは電源
電圧となり、基準電圧発生回路RG2および電流源セル
SL内において電源VDDから接地(GND)に流れる電
流経路が存在せず、消費電力を小さくすることができ
る。
【0091】<B−4.変形例>以上説明した本発明に
係る実施の形態2の基準電圧発生回路RG2は、電流源
セルの電流源となるMOSトランジスタがPチャネル型
である場合に、当該MOSトランジスタの電荷を放電さ
せる構成を備えていたが、上記電流源がNMOSトラン
ジスタである場合には電荷を蓄積させる必要があり、そ
の場合は図7に示す基準電圧発生回路RG21を適用す
る。
【0092】すなわち、基準電圧発生回路RG21は、
電圧発生部GP1と、PMOSトランジスタM211、
M221で構成された充電経路DP21と、当該充電経
路DP21のON・OFF制御を行うインバータIV1
およびIV2を備えている。なお、電圧発生部GP1の
構成は図4を用いて説明した基準電圧発生回路RG11
と同様であり、また、インバータIV1およびIV2は
図5を用いて説明した基準電圧発生回路RG2と同様で
あるので、重複する説明は省略する。
【0093】充電経路DP21においては、基準電圧V
BIASの出力端VTに、PMOSトランジスタM211の
ドレインが接続され、PMOSトランジスタM211の
ソースにはPMOSトランジスタM221のドレインが
接続され、PMOSトランジスタM221のソースは電
源VDDに接続されている。
【0094】また、充電経路DP2においては、基準電
圧VBIASが入力されるインバータIV1の出力を反転し
た信号でPMOSトランジスタM211がON/OFF
制御される。また、PMOSトランジスタM221は、
D/Aコンバータ動作時にONし、待機時にOFFする
スイッチとして機能するように、反転停止信号STOP
が与えられている。
【0095】このような構成を採ることにより、D/A
コンバータの待機時(システム停止時)には、基準電圧
発生回路RG21が生成する基準電圧VBIASは接地電位
となり消費電力を小さくすることができ、また、反転停
止信号STOPBが「L」から「H」になって、D/A
コンバータが待機状態から動作状態に遷移する場合に
は、電流源セルの電流源となるNMOSトランジスタの
ゲートに充電経路DP21を介して電荷を供給するの
で、充電時間を短縮することができ、D/Aコンバータ
が待機状態から動作状態になるのに費やす時間を短縮で
きる。
【0096】なお、図5に示す基準電圧発生回路RG2
の放電経路DP2および、図7に示す基準電圧発生回路
RG21の充電経路DP21は、ともに電流源セルの電
流源となるトランジスタのゲートの電圧を動作電圧Vop
に高速に近づけて、電圧を確定するための手段であるの
で、電圧確定手段と総称することができる。
【0097】<C.実施の形態3> <C−1.装置構成>図8は本発明に係る実施の形態3
の基準電圧発生回路RG3の構成を示す図である。図8
に示すように基準電圧発生回路RG3は、NMOSトラ
ンジスタM7、M8、M9と、PMOSトランジスタM
10、M11、M12、M13と、インバータG4と、
抵抗R1とで構成される電圧発生部GPの他に、NMO
SトランジスタM21、M22で構成された放電経路D
P2と、当該放電経路DP2のON・OFF制御を行う
シュミットゲートSGおよびインバータIV2を備えて
いる。なお、シュミットゲートSGおよびインバータI
V2を総称して制御部と呼称することができる。
【0098】なお、電圧発生部GPの構成は図1を用い
て説明した基準電圧発生回路RG1と同様であり、放電
経路DP2およびインバータIV2の構成は、図5を用
いて説明した基準電圧発生回路RG2と同様であるので
重複する説明は省略する。
【0099】シュミットゲートSGは、電源VDDにソー
スを接続されたPMOSトランジスタM23と、PMO
SトランジスタM23のドレインにドレインを接続され
たNMOSトランジスタM24と、NMOSトランジス
タ24のソースにドレインを接続され、ソースが接地さ
れたNMOSトランジスタM25と、電源VDDにドレイ
ンを接続され、ソースをNMOSトランジスタM24の
ソースに接続されたNMOSトランジスタM26とを備
えている。
【0100】そして、PMOSトランジスタM23、N
MOSトランジスタM24およびM25のゲートは基準
電圧VBIASの出力端VTに接続され、NMOSトランジ
スタM26のゲートは、シュミットゲートSGの出力部
であるPMOSトランジスタM23のドレインに接続さ
れている。
【0101】また、インバータIV2のPMOSトラン
ジスタM19およびNMOSトランジスタM20のゲー
トは、シュミットゲートSGの出力部であるPMOSト
ランジスタM23のドレインに接続されている。
【0102】放電経路DP2のNMOSトランジスタM
21のゲートは、インバータIV2の出力部であるPM
OSトランジスタM19およびNMOSトランジスタM
20のドレインに接続されている。
【0103】そして、PMOSトランジスタM10およ
びNMOSトランジスタM7のゲートには、D/Aコン
バータ外部から与えられる制御信号の1つである停止信
号STOPが入力される構成となっており、PMOSト
ランジスタM13のゲートおよびNMOSトランジスタ
M22のゲートには、停止信号STOPをインバータG
4で反転させた反転停止信号STOPBが入力される構
成となっている。
【0104】放電経路DP2においては、基準電圧VBI
ASが入力されるシュミットゲートSGの出力を反転した
信号でNMOSトランジスタM21がON/OFF制御
される。また、NMOSトランジスタM22は、D/A
コンバータ動作時にONし、待機時にOFFするスイッ
チとして機能するように、反転停止信号STOPBが与
えられている。
【0105】<C−2.装置動作>次に、基準電圧発生
回路RG3の動作について説明する。D/Aコンバータ
を待機状態から動作状態にするため、停止信号STOP
の電位がHighレベル(以後「H」と呼称)からLo
wレベル(以後「L」と呼称)になると、PMOSトラ
ンジスタM13がOFFし、NMOSトランジスタM9
およびM22がONする。電圧発生部GPは、D/Aコ
ンバータが待機状態にある場合は、基準電圧VBIASを電
源VDDの電圧に保っているので、停止信号STOPの切
り替わり当初は、基準電圧VBIASは電源電圧(VDD)に
近似しているので、NMOSトランジスタM24および
M25がONし、シュミットゲートSGの出力電圧Va
は「L」、インバータIV2の出力電圧Vbは「H」と
なり、NMOSトランジスタM21がONする。また、
NMOSトランジスタM22もオンするので、出力端V
TからPMOSトランジスタM12を迂回してNMOS
トランジスタM9を通る従来からの経路および、NMO
SトランジスタM21およびM22で構成される放電経
路DP2にそれぞれ電流I1およびI2が流れ、図12に
示す電流源セルSLのPMOSトランジスタM1および
M2のゲートに蓄積された電荷が放電される。なお、放
電初期における放電速度はNMOSトランジスタM21
のトランジスタサイズによって任意に設定できる。
【0106】放電が進み、VBIASが低下してPMOSト
ランジスタM23のしきい値に近づくと、PMOSトラ
ンジスタM23がONして、電源VDDからPMOSトラ
ンジスタM23を介して流れる電流I4によってNMO
SトランジスタM26のゲートが充電され、シュミット
ゲートSGの出力電圧Vaが上昇する。
【0107】そして、NMOSトランジスタM26のゲ
ート電圧が、そのしきい値より大きくなるとNMOSト
ランジスタM26がONし、電源VDDからNMOSトラ
ンジスタM26を介して流れる電流I5によって、NM
OSトランジスタM24とM25の接続部の電圧Vcが
上昇し、NMOSトランジスタM24のゲート・ソース
間電圧が小さくなり、NMOSトランジスタM24がO
FFする。NMOSトランジスタM24がOFFすると
出力電圧Vaが「H」、インバータIV2の出力電圧Vb
は「L」となり、NMOSトランジスタM21がOFF
する。
【0108】NMOSトランジスタM21がOFFする
と、従来からの経路に流れる電流I1による放電によっ
て、出力端VTの電圧VBIASはD/Aコンバータ動作時
の基準電圧VBIAS値である動作電圧Vopまで低下する。
【0109】ここで、基準電圧発生回路RG3を用いた
場合のD/Aコンバータの回路シミュレーション結果を
図3(e)に示す。図3(e)は、XデコーダXDおよ
びYデコーダYDに与えられる入力ディジタルコードを
すべて「1」とし、図3(a)に示すように、停止信号
STOPを100ns(nsec)の時点で「L」(す
なわち0V)から「H」(すなわちフルスケール)に立
ち上げ、500nsの時点で「H」から「L」に立ち下
げた場合の、電流源セルSLの出力電圧Voutをプロッ
トしたものであり、横軸に経過時間(sec)、縦軸に
電圧(V)を示す。なお、図3(a)は停止信号STO
Pの供給状態を示す図であり、横軸に経過時間(se
c)を、縦軸に停止信号STOPの電圧を示す。
【0110】図3(a)に示すように、500nsの時
点で停止信号STOPを「H」から「L」に立ち下げた
直後は、放電経路DP2に流れる電流I2が支配的であ
り、放電が短時間に行われるので、図3(e)に示すよ
うに電流源セルSLの出力電圧Voutの立ち上がりが極
めて速く、NMOSトランジスタM21がOFFした後
に、従来からの経路に流れる電流I1が放電に寄与する
割合は、図3(c)および図3(d)に示す、他の実施
の形態に比べて小さい。
【0111】ここで、基準電圧発生回路RG3を用いた
場合に、停止信号STOPを立ち下げて待機状態から動
作状態に遷移するまでの遷移時間(ここでは、時間50
0nsにおいて0Vであった出力電圧Voutが、出力電
圧Voutが動作時の値の±1LSBとなるまでの時間と
して定義する時間)は、図3(b)に示した従来の基準
電圧発生回路RGを用いた場合に得られる特性に比べて
90%程度短縮されることになる。
【0112】次に、シュミットゲートSGの電圧入出力
特性を図9に示す。図9において、横軸にシュミットゲ
ートSGの入力電圧、すなわち基準電圧VBIAS(V)
を、縦軸にシュミットゲートSGの出力電圧Va(V)
を示す。また、図9においては、出力電圧Vaが「H」
から「L」になるためのしきい値電圧VHLおよび、出力
電圧Vaが「L」から「H」になるためのしきい値電圧
VLHを矢示する。
【0113】一旦、出力電圧Vaが「H」になると、N
MOSトランジスタM24のソース電位が電流I5によ
って高い状態となるので、NMOSトランジスタM24
はONしにくくなり、シュミットゲートSGの特性は図
9に示すように、ヒステリシス特性を示す。
【0114】なお、しきい値電圧VLHは、D/Aコンバ
ータ動作時の基準電圧VBIAS値である動作電圧Vopに近
似するように、PMOSトランジスタM23、NMOS
トランジスタM24およびM25のトランジスタサイズ
を決める。また、しきい値電圧VHLはNMOSトランジ
スタM26のトランジスタサイズで決定できる。
【0115】シュミットゲートSGは、基準電圧VBIAS
が「H」から「L」に変化する際の、基準電圧VBIASに
対する出力電圧Vaの変化が、図6を用いて説明した実
施の形態2のインバータIV1の変化よりも急峻であ
り、D/Aコンバータ動作時に電源VDDから接地に流れ
る貫通電流I3は無視できるほど小さい。
【0116】また、シュミットゲートSGの入出力特性
がヒステリシス特性を示すため、出力電圧Vaが一旦
「H」になると、オーバーシュート、アンダーシュート
等により基準電圧VBIASが多少変動しても出力電圧Va
は変化しないので、NMOSトランジスタM21のOF
F状態を安定に保つことができる。
【0117】また、シュミットゲートSGにおいては、
電圧発生部GPおよびシュミットゲートSGの製造プロ
セスのばらつきにより、D/Aコンバータ動作時の基準
電圧VBIAS値である動作電圧Vopおよびしきい値VLHが
ずれて、Vop>VLHとなった場合であっても、Vop<V
HLならばD/Aコンバータは正常に動作する。すなわ
ち、トランジスタの製造プロセスのばらつきに対して影
響を受けにくい回路といえる。
【0118】なお、Vop>VLHの場合、電流I2による
放電によってVBIASは、一旦しきい値VLHまで低下し、
NMOSトランジスタM21がOFFする。その後、電
圧発生部GPにおいて電源VDDからPMOSトランジス
タM11を介して流れる電流I7によってD/Aコンバ
ータ動作時の基準電圧VBIAS値である動作電圧Vopまで
上昇する。
【0119】<C−3.作用効果>以上説明したよう
に、基準電圧発生回路RG3においては、電流源セルS
LのPMOSトランジスタM1およびM2のゲートに蓄
積された電荷を放電するための放電経路DP2を備える
ので、放電時間を短縮することができ、D/Aコンバー
タが待機状態から動作状態になるのに費やす時間を短縮
できる。
【0120】また、放電経路DP2のON・OFF制御
のための制御信号を、入出力特性がヒステリシス特性を
示すシュミットゲートSGにより基準電圧VBIASに基づ
いて生成するので、基準電圧VBIASが多少変動しても制
御信号は変化せず、放電経路DP2のON・OFF制御
を安定に行うことができる。
【0121】また、シュミットゲートSGは、電圧発生
部GPやシュミットゲートSGのトランジスタの製造プ
ロセスのばらつきに対して影響を受けにくいので、不良
発生率の低く、製造歩留まりの良い基準電圧発生回路を
得ることができる。
【0122】また、D/Aコンバータの待機時には、基
準電圧発生回路RG3が生成する基準電圧VBIASは電源
電圧、基準電圧発生回路RG3および電流源セルSL内
において電源VDDから接地(GND)に流れる電流経路
が存在せず、となり消費電力を小さくすることができ
る。
【0123】<C−4.変形例>以上説明した本発明に
係る実施の形態3の基準電圧発生回路RG3は、電流源
セルの電流源となるMOSトランジスタがPチャネル型
である場合に、当該MOSトランジスタの電荷を放電さ
せる構成を備えていたが、上記電流源がNMOSトラン
ジスタである場合には電荷を蓄積させる必要があり、そ
の場合は図10に示す基準電圧発生回路RG31を適用
する。
【0124】すなわち、基準電圧発生回路RG31は、
電圧発生部GP1の他に、充電経路DP21と、当該充
電経路DP21のON・OFF制御を行うシュミットゲ
ートSG1およびインバータIV2を備えている。
【0125】なお、電圧発生部GP1、充電経路DP2
1の構成は図7を用いて説明した基準電圧発生回路RG
21と同様であり、また、インバータIV2は図8を用
いて説明した基準電圧発生回路RG3と同様であるの
で、重複する説明は省略する。
【0126】シュミットゲートSG1は、ソースが接地
されたNMOSトランジスタM231と、NMOSトラ
ンジスタM231のドレインにドレインを接続されたP
MOSトランジスタM241と、PMOSトランジスタ
241のソースにドレインを接続され、ソースが電源V
DDに接続されたPMOSトランジスタM251と、ドレ
インが接地され、ソースをPMOSトランジスタM24
1のソースに接続されたPMOSトランジスタM261
とを備えている。
【0127】そして、NMOSトランジスタM231、
PMOSトランジスタM241およびM251のゲート
は基準電圧VBIASの出力端VTに接続され、PMOSト
ランジスタM261のゲートは、シュミットゲートSG
の出力部であるNMOSトランジスタM231のドレイ
ンに接続されている。
【0128】また、インバータIV2のPMOSトラン
ジスタM19およびNMOSトランジスタM20のゲー
トは、シュミットゲートSG1の出力部であるNMOS
トランジスタM231のドレインに接続されている。
【0129】そして、PMOSトランジスタM71およ
びNMOSトランジスタM101のゲートには、D/A
コンバータ外部から与えられる制御信号の1つである反
転停止信号STOPBが入力される構成となっており、
PMOSトランジスタM221のゲートおよびNMOS
トランジスタM131のゲートには、反転停止信号ST
OPBをインバータG41で反転させた停止信号STO
Pが入力される構成となっている。
【0130】充電経路DP21においては、基準電圧V
BIASが入力されるシュミットゲートSGの出力を反転し
た信号でNMOSトランジスタM211がON/OFF
制御される。また、PMOSトランジスタM221は、
D/Aコンバータ動作時にONし、待機時にOFFする
スイッチとして機能するように、停止信号STOPが与
えられている。
【0131】このような構成を採ることにより、D/A
コンバータの待機時(システム停止時)には、基準電圧
発生回路RG31が生成する基準電圧VBIASは接地電位
となり消費電力を小さくすることができ、また、反転停
止信号STOPBが「L」から「H」になって、D/A
コンバータが待機状態から動作状態に遷移する場合に
は、電流源セルの電流源となるNMOSトランジスタの
ゲートに充電経路DP21を介して電荷を供給するの
で、充電時間を短縮することができ、D/Aコンバータ
が待機状態から動作状態になるのに費やす時間を短縮で
きる。
【0132】なお、シュミットゲートSG1は、図8に
示すシュミットゲートSGの構成としても良い。
【0133】<D.電圧確定手段の他の適用例>以上説
明した本発明に係る実施の形態1〜3においては、電流
セル・マトリクス型D/Aコンバータの基準電圧発生回
路において、電圧確定手段を備えた構成についてのみ言
及したが、基準電圧発生回路を内蔵する種々の半導体集
積回路装置であって、MOSトランジスタのゲート電圧
を高速で確定する必要がある回路であれば、本発明を適
用可能である。
【0134】
【発明の効果】本発明に係る請求項1記載の半導体集積
回路装置によれば、第1の回路を動作状態にする場合
に、第1の回路の電流源トランジスタの制御電極の電圧
を第2の電圧に強制的に近づける電圧確定手段を備える
ので、電圧確定に費やす時間を短縮することができ、第
1の回路、すなわち半導体集積回路装置が待機状態から
動作状態になるのに費やす時間を短縮できる。また、半
導体集積回路装置が待機状態である場合には、電流源ト
ランジスタの制御電極の電圧が第1の電源の電圧とな
り、電流源トランジスタを完全にオフするので、待機状
態における消費電力を小さくすることができる。
【0135】本発明に係る請求項2記載の半導体集積回
路装置によれば、電圧確定手段の構成は単純であり、電
圧確定手段を設けることによる装置の大型化、および製
造コストの増加を抑制することができる。
【0136】本発明に係る請求項3記載の半導体集積回
路装置によれば、第1の回路が待機状態である場合に
は、スイッチ手段により第1の電源と出力端とが接続さ
れるので、出力端から第1の電圧として第1の電源の電
圧が出力される。また、第3のトランジスタがオフ状態
となって第2の電源が出力端と切り離されるので電圧確
定手段を通じて電流が流れることが防止され、かつ、構
成が単純な電圧確定手段を実現することができる。
【0137】本発明に係る請求項4記載の半導体集積回
路装置によれば、電圧確定手段のトランジスタのオン・
オフ制御をインバータで行うので、インバータを構成す
るトランジスタのトランジスタサイズを変更すること
で、インバータのしきい値電圧を任意の値に決定でき、
第1の回路、すなわち半導体集積回路装置が待機状態か
ら動作状態になるのに費やす時間を任意の値に設定でき
る。
【0138】本発明に係る請求項5記載の半導体集積回
路装置によれば、第1の回路が待機状態である場合に
は、スイッチ手段により第1の電源と出力端とが接続さ
れるので、出力端から第1の電圧として第1の電源の電
圧が出力される。また、第2のトランジスタがオフ状態
となって第2の電源が出力端と切り離されるので、電圧
確定手段を通じて電流が流れることが防止され、かつ、
半導体集積回路装置が待機状態から動作状態になるのに
費やす時間を任意の値に設定できる第2の回路を有した
半導体集積回路装置を実現することができる。
【0139】本発明に係る請求項6記載の半導体集積回
路装置によれば、電圧確定手段のトランジスタのオン・
オフ制御を、第1および第2のしきい値電圧を有し、入
出力特性がヒステリシス特性を示すシュミットゲートに
より行うので、出力端の電圧が多少変動してもシュミッ
トゲートの出力は変わらず、電圧確定手段のトランジス
タのオン・オフ制御を安定に行うことができる。また、
シュミットゲートは、電流源部やシュミットゲートのト
ランジスタの製造プロセスのばらつきに対して影響を受
けにくいので、不良発生率の低く、製造歩留まりの良い
第2の回路を得ることができる。
【0140】本発明に係る請求項7記載の半導体集積回
路装置によれば、第1の回路が待機状態である場合に
は、スイッチ手段により第1の電源と出力端とが接続さ
れるので、出力端から第1の電圧として第1の電源の電
圧が出力される。また、第2のトランジスタがオフ状態
となって第2の電源が出力端と切り離されるので、電圧
確定手段を通じて電流が流れることが防止され、かつ、
出力端の電圧が多少変動しても電圧確定手段のトランジ
スタのオン・オフ制御を安定に行うことができる第2の
回路を有した半導体集積回路装置を実現することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係る半導体集積回路装置の実施の形
態1の構成を示す図である。
【図2】 本発明に係る半導体集積回路装置の実施の形
態1の放電経路の特性を説明する図である。
【図3】 本発明に係る半導体集積回路装置の実施の形
態1〜3の動作特性を示す図である。
【図4】 本発明に係る半導体集積回路装置の実施の形
態1の変形例の構成を示す図である。
【図5】 本発明に係る半導体集積回路装置の実施の形
態2の構成を示す図である。
【図6】 本発明に係る半導体集積回路装置の実施の形
態2の放電経路の特性を説明する図である。
【図7】 本発明に係る半導体集積回路装置の実施の形
態2の変形例の構成を示す図である。
【図8】 本発明に係る半導体集積回路装置の実施の形
態3の構成を示す図である。
【図9】 本発明に係る半導体集積回路装置の実施の形
態3の放電経路の特性を説明する図である。
【図10】 本発明に係る半導体集積回路装置の実施の
形態3の変形例の構成を示す図である。
【図11】 電流セル・マトリクス型D/Aコンバータ
の構成を示す図である。
【図12】 電流源セルの構成を示す図である。
【図13】 従来の基準電圧発生回路の構成を示す図で
ある。
【符号の説明】
GP,GP1 電圧発生部、DP1,DP2 放電経
路、DP11,DP21充電経路、SG,SG1 シュ
ミットゲート、SL 電流源セル。

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1の回路と第2の回路とを備えた半導
    体集積回路装置であって、 前記第1の回路は主たる回路であって、 前記第2の回路は、 前記第1の回路に設けられた電流源トランジスタの制御
    電極に与える制御電圧を発生させる回路であって、前記
    制御電圧を第1および第2の電圧とすることで、電流源
    トランジスタをオフおよびオンして、前記第1の回路
    を、待機状態および動作状態とする機能を有し、 第1の電源と第2の電源との間に配設された電流源およ
    び該電流源の出力電圧を前記第2の電圧に設定する出力
    電圧設定素子と、 少なくとも前記電流源の出力電圧を出力する出力端と、 前記出力端に接続され、前記第1の回路を動作状態にす
    る場合に、前記電流源トランジスタの制御電極の電圧を
    前記第2の電圧に強制的に近づける電圧確定手段とを備
    える、半導体集積回路装置。
  2. 【請求項2】 前記電圧確定手段は、 前記出力端と前記第2の電源との間に接続されたダイオ
    ード接続されたトランジスタを少なくとも1つ有し、 前記第1の回路を動作状態にする場合は、前記トランジ
    スタのしきい値電圧に達するまで前記電流源トランジス
    タの制御電極の電圧を前記第2の電圧に近づける、請求
    項1記載の半導体集積回路装置。
  3. 【請求項3】 前記第2の回路は、 前記第1の電源と前記出力端との間に配設され、前記第
    1の電源と前記出力端との接続および切り離しを行うス
    イッチ手段をさらに備え、 前記電圧確定手段は、 前記出力端に第1の主電極を接続され、該第1の主電極
    に制御電極が接続された第1導電型の第1のトランジス
    タと、 前記第1のトランジスタの第2の主電極に第1の主電極
    を接続され、該第1の主電極に制御電極が接続された第
    1導電型の第2のトランジスタと、 前記第2のトランジスタの第2の主電極に第1の主電極
    を接続され、第2の主電極が前記第2の電源に接続され
    た第1導電型の第3のトランジスタと、を有し、 前記スイッチ手段は、 前記第1の電源に第1の主電極を接続され、前記出力端
    に第2の主電極を接続された第2導電型の第4のトラン
    ジスタを有し、 前記第3および第4のトランジスタの制御電極には、前
    記第1の回路を待機状態にする場合に、前記第3のトラ
    ンジスタをオフ状態にするとともに、前記第4のトラン
    ジスタをオン状態にする制御信号が与えられる、請求項
    2記載の半導体集積回路装置。
  4. 【請求項4】 前記電圧確定手段は、 前記出力端と前記第2の電源との間に接続されたトラン
    ジスタを少なくとも有し、 前記第2の回路は、 前記トランジスタのオン・オフ制御を行う少なくとも1
    つのインバータをさらに備え、 前記少なくとも1つのインバータは、 その入力が前記出力端に接続され、その出力に基づいて
    前記トランジスタのオン・オフ制御がなされ、 前記第1の回路を動作状態にする場合は、前記電流源ト
    ランジスタの制御電極の電圧が前記少なくとも1つのイ
    ンバータのしきい値電圧に達するまで前記トランジスタ
    がオン状態を保つ、請求項1記載の半導体集積回路装
    置。
  5. 【請求項5】 前記第2の回路は、 前記第1の電源と前記出力端との間に配設され、前記第
    1の電源と前記出力端との接続および切り離しを行うス
    イッチ手段をさらに備え、 前記少なくとも1つのインバータは、直列に接続された
    第1および第2のインバータであって、 前記第1のインバータの入力が前記出力端に接続され、 前記第1のインバータの出力が前記第2のインバータの
    入力に接続され、 前記電圧確定手段は、 前記出力端に第1の主電極を接続され、制御電極に前記
    第2のインバータの出力が接続された第1導電型の第1
    のトランジスタと、 前記第1のトランジスタの第2の主電極に第1の主電極
    を接続され、第2の主電極が前記第2の電源に接続され
    た第1導電型の第2のトランジスタと、を有し、 前記スイッチ手段は、 前記第1の電源に第1の主電極を接続され、前記出力端
    に第2の主電極を接続された第2導電型の第3のトラン
    ジスタを有し、 前記第2および第3のトランジスタの制御電極には、前
    記第1の回路を待機状態にする場合に、前記第2のトラ
    ンジスタをオフ状態にするとともに、前記第3のトラン
    ジスタをオン状態にする制御信号が与えられる、請求項
    4記載の半導体集積回路装置。
  6. 【請求項6】 前記電圧確定手段は、 前記出力端と前記第2の電源との間に接続されたトラン
    ジスタを少なくとも有し、 前記第2の回路は、 少なくともシュミットゲートを有し、前記トランジスタ
    のオン・オフ制御を行う制御部をさらに備え、 前記シュミットゲートは、 その入力が前記出力端に接続され、前記シュミットゲー
    トの出力に基づいて前記トランジスタのオン・オフ制御
    がなされ、 前記出力が第1のレベルから第2のレベルに変化する電
    圧を規定する第1のしきい値電圧と、 前記出力が第2のレベルから第1のレベルに変化する電
    圧を規定する第2のしきい値電圧とを有し、 前記第1の回路を動作状態にする場合は、 前記電流源トランジスタの制御電極の電圧が前記シュミ
    ットゲートの前記第1のしきい値電圧に達するまで前記
    トランジスタがオン状態を保つ、請求項1記載の半導体
    集積回路装置。
  7. 【請求項7】 前記第2の回路は、 前記第1の電源と前記出力端との間に配設され、前記第
    1の電源と前記出力端との接続および切り離しを行うス
    イッチ手段をさらに備え、 前記制御部は、前記シュミットゲートの出力に入力を接
    続されたインバータをさらに有し、 前記電圧確定手段は、 前記出力端に第1の主電極を接続され、制御電極に前記
    インバータの出力が接続された第1導電型の第1のトラ
    ンジスタと、 前記第1のトランジスタの第2の主電極に第1の主電極
    を接続され、第2の主電極が前記第2の電源に接続され
    た第1導電型の第2のトランジスタと、を有し、 前記シュミットゲートは、 前記第2の電源に第1の主電極が接続された第1導電型
    の第3のトランジスタと、 前記第3のトランジスタの第2の主電極に第1の主電極
    が接続された第1導電型の第4のトランジスタと、 前記第4のトランジスタの第2の主電極に第1の主電極
    が接続され、第2の主電極が前記第1の電源に接続され
    た第2導電型の第5のトランジスタと、 前記第4のトランジスタの第1の主電極に第1の主電極
    が接続され、第2の主電極が前記第1の電源に接続され
    た第1導電型の第6のトランジスタと、を有し、 前記第3、第4および第5のトランジスタの制御電極
    は、前記出力端に接続され、 前記第6のトランジスタの制御電極は、前記シュミット
    ゲートの出力となる前記第5のトランジスタの第1の主
    電極に接続され、 前記スイッチ手段は、 前記第1の電源に第1の主電極を接続され、前記出力端
    に第2の主電極を接続された第2導電型の第7のトラン
    ジスタを有し、 前記第2および第7のトランジスタの制御電極には、前
    記第1の回路を待機状態にする場合に、前記第2のトラ
    ンジスタをオフ状態にするとともに、前記第7のトラン
    ジスタをオン状態にする制御信号が与えられる、請求項
    6記載の半導体集積回路装置。
JP11044504A 1999-02-23 1999-02-23 半導体集積回路装置 Pending JP2000244322A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11044504A JP2000244322A (ja) 1999-02-23 1999-02-23 半導体集積回路装置
US09/362,725 US6249174B1 (en) 1999-02-23 1999-07-29 Semiconductor integrated circuit device which shortens the transition time between operating and standby states

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11044504A JP2000244322A (ja) 1999-02-23 1999-02-23 半導体集積回路装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000244322A true JP2000244322A (ja) 2000-09-08

Family

ID=12693393

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11044504A Pending JP2000244322A (ja) 1999-02-23 1999-02-23 半導体集積回路装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6249174B1 (ja)
JP (1) JP2000244322A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100885183B1 (ko) 2006-09-14 2009-02-23 삼성전자주식회사 유입전류의 영향을 차단하는 전자회로 및 아날로그 디지털변환 회로

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2819954B1 (fr) * 2001-01-24 2003-04-11 St Microelectronics Sa Dispositif de commande d'un circuit de generation de tensions de reference
US6760353B2 (en) * 2002-07-30 2004-07-06 Broadcom Corporation Jitter suppression techniques for laser driver circuits
DE10349092B4 (de) * 2003-10-22 2020-06-18 Atmel Corp. Integrierte Schaltungsanordnung zum Erkennen und Ausgeben von Steuersignalen
TWI263441B (en) * 2004-01-19 2006-10-01 Sunplus Technology Co Ltd Circuit for generating reference voltage
US6998904B2 (en) * 2004-03-17 2006-02-14 Texas Instruments Incorporated Circuit and method for turn-on of an internal voltage rail
KR100623614B1 (ko) 2004-10-29 2006-09-19 주식회사 하이닉스반도체 반도체 기억 소자에서의 내부전원 발생기
CN100574030C (zh) * 2006-09-27 2009-12-23 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 泄漏电流防护电路
KR101039878B1 (ko) * 2009-05-11 2011-06-09 주식회사 하이닉스반도체 전압 발생 회로

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60112122A (ja) 1983-11-24 1985-06-18 Ricoh Co Ltd 定電圧発生回路
EP0193901B1 (en) * 1985-03-06 1990-01-31 Fujitsu Limited Comparator circuit having improved output characteristics
JPS6434014A (en) 1987-07-30 1989-02-03 Kawasaki Steel Co Buffer circuit
US4874967A (en) * 1987-12-15 1989-10-17 Xicor, Inc. Low power voltage clamp circuit
JPH02134921A (ja) 1988-11-15 1990-05-23 Nec Corp 出力バッファ回路
KR930008661B1 (ko) * 1991-05-24 1993-09-11 삼성전자 주식회사 반도체메모리장치의 데이타입력버퍼
US5289054A (en) * 1992-03-24 1994-02-22 Intel Corporation Fast electronic comparator
US5390147A (en) * 1994-03-02 1995-02-14 Atmel Corporation Core organization and sense amplifier having lubricating current, active clamping and buffered sense node for speed enhancement for non-volatile memory

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100885183B1 (ko) 2006-09-14 2009-02-23 삼성전자주식회사 유입전류의 영향을 차단하는 전자회로 및 아날로그 디지털변환 회로

Also Published As

Publication number Publication date
US6249174B1 (en) 2001-06-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6411554B1 (en) High voltage switch circuit having transistors and semiconductor memory device provided with the same
JP3980431B2 (ja) バッファ回路とバッファツリー及び半導体装置
US5581506A (en) Level-shifter, semiconductor integrated circuit, and control methods thereof
JPH06261450A (ja) ヒューズ・プログラマブル降圧回路
JP2002353804A (ja) レベルシフト回路
JP2000244322A (ja) 半導体集積回路装置
US20040051391A1 (en) Adaptive, self-calibrating, low noise output driver
US7868605B1 (en) Mixed mode power regulator circuitry for memory elements
JP2009070239A (ja) 電圧供給回路
JPH02228813A (ja) バイポーラ・mos論理回路および半導体集積回路
JP2004214717A (ja) フリップフロップ
JP3262103B2 (ja) 内部電源回路を有する半導体装置
EP0868026A1 (en) Variable delay circuit
JP2003101401A (ja) 電圧トランスレータ回路
JPH1127137A (ja) 半導体集積回路
JP3372854B2 (ja) 半導体装置
JP3496750B2 (ja) 電源回路
CN116094500A (zh) 基于失调电压校准技术的数字综合动态电压比较器
JPS58196727A (ja) 論理回路
JPH079457Y2 (ja) ブレーク・ビフォア・メーク制御回路
JPH0244415A (ja) 出力バツフア回路
JP2944255B2 (ja) 論理回路
JPH0362397A (ja) 半導体メモリのセンスアンプ回路
JP2835533B2 (ja) Daコンバータ
JP2000165214A (ja) クロックドコンパレータ