KR910010645A - 메모리반도체구조 및 위상시프트마스크 - Google Patents
메모리반도체구조 및 위상시프트마스크 Download PDFInfo
- Publication number
- KR910010645A KR910010645A KR1019900018204A KR900018204A KR910010645A KR 910010645 A KR910010645 A KR 910010645A KR 1019900018204 A KR1019900018204 A KR 1019900018204A KR 900018204 A KR900018204 A KR 900018204A KR 910010645 A KR910010645 A KR 910010645A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- phase shift
- memory semiconductor
- semiconductor structure
- shift mask
- pattern layer
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10B—ELECTRONIC MEMORY DEVICES
- H10B10/00—Static random access memory [SRAM] devices
- H10B10/15—Static random access memory [SRAM] devices comprising a resistor load element
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/027—Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34
Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 실시예-1에 사용한 본원 발명에 관한 위상시프트마스크의 구성을 도시한 평면도.
제2도 (a),(b) 는 각각 실시예-1에 사용한 위상시프트마스크의 설명도.
Claims (2)
- 복수의 요소패턴을 가진 패턴층을 구비한 동시에, 동일셀내 또는 인접하는 셀에 있어서 서로 근접하는 평행 부분을 가진 요소패턴을 1조이상 가진 패턴층을 구비한 것을 특징으로 하는 메모리반도체구조.
- 노광파장에 대하여 투명한 기판상에 차광부와 광투과부와 위상시프트막을 가지며, 서로 근접한 평행부분을 가진 광투과부와 위상시프트막으로 이루어지는 조를 1조이상 가진 것을 특징으로 하는 메모리반도체장치 형성용의 위상시프트마스크.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP89-296,775 | 1989-11-15 | ||
JP29677589A JP2946567B2 (ja) | 1989-11-15 | 1989-11-15 | メモリ半導体構造及び位相シフトマスク |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR910010645A true KR910010645A (ko) | 1991-06-29 |
KR100193873B1 KR100193873B1 (ko) | 1999-06-15 |
Family
ID=17837972
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019900018204A KR100193873B1 (ko) | 1989-11-15 | 1990-11-12 | 메모리반도체구조 및 위상시프트마스크 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0432900B1 (ko) |
JP (1) | JP2946567B2 (ko) |
KR (1) | KR100193873B1 (ko) |
DE (1) | DE69026689T2 (ko) |
SG (1) | SG79913A1 (ko) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04221954A (ja) * | 1990-12-25 | 1992-08-12 | Nec Corp | フォトマスク |
US5536604A (en) * | 1992-07-17 | 1996-07-16 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Exposure mask |
JP3204798B2 (ja) * | 1992-07-17 | 2001-09-04 | 株式会社東芝 | 露光用マスク |
US5631109A (en) * | 1992-07-17 | 1997-05-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Exposure mask comprising transparent and translucent phase shift patterns |
JPH06123963A (ja) * | 1992-08-31 | 1994-05-06 | Sony Corp | 露光マスク及び露光方法 |
DE10160616A1 (de) * | 2001-12-11 | 2003-06-05 | Infineon Technologies Ag | Phasenschiebermaske |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5688350A (en) * | 1979-12-19 | 1981-07-17 | Toshiba Corp | Semiconductor device |
EP0090924B1 (en) * | 1982-04-05 | 1987-11-11 | International Business Machines Corporation | Method of increasing the image resolution of a transmitting mask and improved masks for performing the method |
DE3778533D1 (de) * | 1987-01-28 | 1992-05-27 | Advanced Micro Devices Inc | Statische ram-zellen mit vier transistoren. |
-
1989
- 1989-11-15 JP JP29677589A patent/JP2946567B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1990
- 1990-11-12 KR KR1019900018204A patent/KR100193873B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1990-11-13 SG SG9608351A patent/SG79913A1/en unknown
- 1990-11-13 EP EP90312363A patent/EP0432900B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-11-13 DE DE69026689T patent/DE69026689T2/de not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69026689D1 (de) | 1996-05-30 |
JPH03156459A (ja) | 1991-07-04 |
SG79913A1 (en) | 2001-04-17 |
EP0432900A3 (en) | 1991-12-04 |
DE69026689T2 (de) | 1996-10-10 |
EP0432900A2 (en) | 1991-06-19 |
KR100193873B1 (ko) | 1999-06-15 |
EP0432900B1 (en) | 1996-04-24 |
JP2946567B2 (ja) | 1999-09-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR960026072A (ko) | 콘택마스크 | |
KR890007391A (ko) | 스텦퍼에 사용되는 x-레이 노광 마스크 | |
KR850000787A (ko) | 반도체소자 제작을 위한 포토마스크(Photomask) 레티클(Raticle)의 검사방법 | |
KR840002984A (ko) | 일렉트로크롬(Electrochromic) 표시장치 및 그제작방법 | |
KR930701769A (ko) | 위상시프트 마스크 | |
KR910010645A (ko) | 메모리반도체구조 및 위상시프트마스크 | |
KR930003264A (ko) | 위상 시프트마스크를 사용한 패턴 형성방법 | |
KR950001919A (ko) | 회절빛 제어 마스크 | |
KR910008486A (ko) | 노광마스크 | |
TW360922B (en) | Method of manufacturing a semiconductor integrated circuit device | |
KR900002434A (ko) | 세라믹 기판상의 편평한 회로내에 유전층을 제조하는 방법 및 노출 마스크 | |
KR890011015A (ko) | 불투명한 슬라이스의 두 대향 표면상의 비교적 정렬된 패턴의 형성 방법 | |
KR937000886A (ko) | 미세 레지스트 패턴의 형성 방법 | |
KR970022514A (ko) | Psm의 구조 | |
KR940010302A (ko) | 반도체 접속장치 | |
KR970016789A (ko) | 위상반전 마스크 및 그 제조방법 | |
JPS5610944A (en) | Division of semiconductor device | |
KR960019486A (ko) | 반도체소자의 콘택 마스크 제조방법 | |
KR970022526A (ko) | 반도체패턴 형성방법 및 이에 사용되는 포토마스크 | |
KR970016787A (ko) | 좁은 피치 패턴을 위한 포토마스크 | |
KR970022554A (ko) | 미세 패턴 형성을 위한 마스크 | |
KR950012630A (ko) | 위상반전 마스크 및 그 제조 방법 | |
KR970022532A (ko) | 위상 반전 패턴 및 투과율 조절 패턴을 가지는 마스크 | |
KR970022507A (ko) | 포토마스크 및 그의 제조 방법 | |
KR970048925A (ko) | 반도체 장치의 제조에 사용되는 마스크 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20070131 Year of fee payment: 9 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |