KR930701769A - 위상시프트 마스크 - Google Patents
위상시프트 마스크Info
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-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F1/00—Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
- G03F1/26—Phase shift masks [PSM]; PSM blanks; Preparation thereof
-
- G—PHYSICS
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- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
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- G03F1/30—Alternating PSM, e.g. Levenson-Shibuya PSM; Preparation thereof
-
- G—PHYSICS
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- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
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- G03F1/26—Phase shift masks [PSM]; PSM blanks; Preparation thereof
- G03F1/28—Phase shift masks [PSM]; PSM blanks; Preparation thereof with three or more diverse phases on the same PSM; Preparation thereof
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Abstract
본 발명은 배선패턴을 형성하는 사이의 포토리소 그래피 공정에 사용되는 위상시프트 마스크에 관한 것이다.
투명마스크기판(11)상에, 선택적으로 형성된 차광패턴(12)과, 이 차광패턴에 인접하는 투명부에 시설되어, 투명마스크 기판과의 위상차가 90°인 2종류의 위상시프터층이며, 또한 위상시프터간의 위상차가 180°인 위상시프터(13a, 13b)를 설치한 것이다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 위상시프트 마스크의 단면도, 제2도는 본 발명의 위상시프트 마스크의 상면도.
Claims (2)
- 광을 투과하는 기체와, 상기 기체상에 선택적으로 형성되어, 광을 차단하는 차광패턴과, 상기 차광패턴을 좁혀서, 노출한 상기 기체상에 교호로 형성된 공을 투과하는 2종의 위상시프터층이며, 상기 2종의 위상시프터층은, 상기 기체와의 사이에 각각 90°의 위상차를 가지며, 또한 상기 차광패턴을 좁해서 인접한 2종의 위상시프터층간에는 180°의 위상차가 있는 2종의 위상시프터와를 가진 것을 특징으로 하는 위상시프트 마스크.
- ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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