KR980003806A - 위상반전마스크 및 그 제작방법 - Google Patents
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Abstract
신규한 공간주파변조형 위상반전마스크 및 그 제작방법이 개시되어 있다. 기판 상에 피노광물로의 패턴전사를 위해 차광막이 형성된다. 상기 차광막 상에 n₁π/2(여기서 n₁=1,3,5, …홀수)의 두께로 제1위상반전막이 형성된다. 그 위에 상기 제1위상반전막이 형성된 차광막의 인접패턴 부분에, 상기 기판을 식각하여 n₂π/2(여기서 n₂=1,3,5,…홀수)의 두께로 제2위상반전막이 형성된다. 기판의 언더커팅없이, 위상번전막의 유·무에 따른 임계치수의 차이를 억제할 수 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제4a도 내지 제4e도는 본 발명의 제1실시예에 의한 공간주파변조형 위상반전마스크의 제작방법을 설명하기 위한 단면도들.
Claims (5)
- 기판; 상기 기판 상에 피노광물로의 패턴전사를 위해 형성된 차광막; 상기 차광막 상에 n₁π/2(여기서 n₁=1,3,5, …홀수)의 두께로 형성된 제1위상반전막; 및 그 위에 상기 제1위상반전막이 형성된 차광막의 인접패턴 부분에, 상기 기판을 식각하여 n₂π/2(여기서 n₂=1,3,5,…홀수)의 두께로 형성된 제2위상반전막을 구비하는 것을 특징으로 하는 위상반전마스크.
- 제1항에 있어서, 상기 제1위상반전막은 SOG, 스퍼터된 실리콘산화막, 화학기상증착된 실리콘산화막, 레지스트 및 다른 투명막 등의 군에서 선택된 어느 하나인 것을 특징으로 하는 위상반전마스크.
- 기판 상에 피노광물로의 패턴전사를 위한 차광막을 형성하는 단계; 상기 차광막 상에 물질층을 형성하는 단계; 상기 물질층 상에 위상반전막 패터닝을 위한 포토레지스트 패턴을 형성하는 단계; 상기 포토레지스트 패턴을 마스크로 이용하여 상기 물질층을 식각함으로써, n₁π/2(여기서 n₁=1,3,5, …홀수) 두께의 제1위상반전막을 형성하는 단계; 및 상기 포토레지스트 패턴을 마스크로 이용하여 상기 기판을 식각함으로써, 그 위에 상기 제1위상반전막이 형성된 차광막의 인접패턴 부분에 n₂π/2(여기서 n₂=1,3,5,…홀수) 두께의 제2위상반전막을 형성하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 위상반전마스크의 제작방법.
- 제3항에 있어서, 상기 물질층은 SOG, 스퍼터된 실리콘산화막, 화학기상증착된 실리콘산화막, 레지스트 및 다른 투명막 등의 군에서 선택된 어느 하나로 형성하는 것을 특징으로 하는 위상반전마스크의 제작방법.
- 제3항에 있어서, 상기 제1위상반전막을 구성하는 상기 물질층은 π/2ⁿ, 상기 제2위상반전막은 π/2ⁿ(여기서, n은 1,2,3,…자연수)로 각각 n회씩 나누어서 형성하는 것을 특징으로 하는 위상반전마스크의 제작방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019960020363A KR100207473B1 (ko) | 1996-06-07 | 1996-06-07 | 위상반전마스크의 제작방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1019960020363A KR100207473B1 (ko) | 1996-06-07 | 1996-06-07 | 위상반전마스크의 제작방법 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR980003806A true KR980003806A (ko) | 1998-03-30 |
KR100207473B1 KR100207473B1 (ko) | 1999-07-15 |
Family
ID=19461112
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019960020363A KR100207473B1 (ko) | 1996-06-07 | 1996-06-07 | 위상반전마스크의 제작방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100207473B1 (ko) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100353406B1 (ko) * | 2000-01-25 | 2002-09-18 | 주식회사 하이닉스반도체 | 위상 반전 마스크 및 그 제조 방법 |
KR100355228B1 (ko) * | 2000-01-18 | 2002-10-11 | 삼성전자 주식회사 | 하프톤 위상반전 마스크 및 그 제조방법 |
KR100790574B1 (ko) * | 2006-12-28 | 2008-01-03 | 주식회사 하이닉스반도체 | 위상 반전 마스크의 제조 방법 |
CN111258175A (zh) * | 2018-11-30 | 2020-06-09 | Hoya株式会社 | 光掩模坯料、光掩模坯料的制造方法、光掩模的制造方法及显示装置的制造方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20000020831A (ko) * | 1998-09-24 | 2000-04-15 | 전주범 | 위상 반전 마스크의 제조방법 |
-
1996
- 1996-06-07 KR KR1019960020363A patent/KR100207473B1/ko not_active IP Right Cessation
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---|---|---|---|---|
KR100355228B1 (ko) * | 2000-01-18 | 2002-10-11 | 삼성전자 주식회사 | 하프톤 위상반전 마스크 및 그 제조방법 |
US6531250B2 (en) | 2000-01-18 | 2003-03-11 | Samsung Eletronics Co., Ltd. | Half-tone phase shift mask having a stepped aperture |
KR100353406B1 (ko) * | 2000-01-25 | 2002-09-18 | 주식회사 하이닉스반도체 | 위상 반전 마스크 및 그 제조 방법 |
KR100790574B1 (ko) * | 2006-12-28 | 2008-01-03 | 주식회사 하이닉스반도체 | 위상 반전 마스크의 제조 방법 |
CN111258175A (zh) * | 2018-11-30 | 2020-06-09 | Hoya株式会社 | 光掩模坯料、光掩模坯料的制造方法、光掩模的制造方法及显示装置的制造方法 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
KR100207473B1 (ko) | 1999-07-15 |
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