KR970022526A - 반도체패턴 형성방법 및 이에 사용되는 포토마스크 - Google Patents

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KR970022526A
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KR
South Korea
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pattern
forming
photo mask
semiconductor pattern
mask
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Application number
KR1019950037281A
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English (en)
Inventor
유영훈
남정림
오석환
문주태
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
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Landscapes

  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

정사각형 형태가 아닌 웨이퍼의 패턴을 형성하기 위하여 포토 마스크의 패턴을 석영 기판상에 다수개의 작은 정사각형 모양의 크롬 패턴을 0.2㎛ 이하의 거리를 두어서 노광하게 되면 다양한 모양의 레이퍼 패턴을 형성할 수 있게 되고 초기설계에 충실한 파인 패턴을 형성할 수 있게 되므로 반도체의 안정화를 기할 수 있게 된다.

Description

반도체패턴 형성방법 및 이에 사용되는 포토마스크
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3A도와 제3B도는 본 발명의 포토 마스크와 이를 이용하여 웨이퍼상에 형성시킨 패턴의 평면도.

Claims (3)

  1. 포토 마스크를 이용한 패턴 형성 방법에 있어서, 웨이퍼에 형성하고자 하는 패턴의 형태를 소정 패턴에 따라 다수개의 더미 패턴으로 나누는 공정과; 포토 마스크상에서 상기 더미 패턴을 일정한 거리를 두고 형성하는 공정과; 상기 공정에서 형성된 패턴에 따른 포토 마스크를 형성하는 공정과; 상기의 포토 마스크를 이용하여 웨이퍼상에 반도체 패턴을 형성하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 패턴 형성방법.
  2. 마스크 패턴을 구비한 포토 마스크에 있어서, 상기 마스크 패턴이 다수개의 더미라인에 의해 다수개의 작은 접촉창을 갖도록 분리된 구조를 갖는 것을 특징으로 하는 포토 마스크.
  3. 제2항에 있어서, 더미라인의 폭은 0.2㎛이하인 것을 특징으로 하는 포토 마스크 형성방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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