KR890012398A - Mos형 반도체장치의 입력보호회로 - Google Patents
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Abstract
내용 없음.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명에 따른 제1실시예의 회로도,
제4도는 제1실시예의 회로에서 제1보호소자로 사용되는 소자의 단면도,
제5도는 제1실시예의 회로에서 제2보호소자로 사용되는 소자의 단면도.
Claims (10)
- 입력패드(11)와, 이 입력패드(11)의 신호가 게이트에 공급되는 입력단 MOS트랜지스터(13, 50, 56), 상기 입력패드(11)와 상기 입력단 MOS트랜지스터(13, 50, 56)게이트를 접속하는 배선 (12, 25, 41, 45, 46), 상기 입력패드(11) 근방에 설치되어 그 일단이 상기 배선에 접속된 제1보호소자(14, 16, 17, 18) 및 상기 입력단 MOS트랜지스터(13, 50, 56) 게이트 근방에 설치되어 그 일단이 상기 배선(12, 25, 41, 46)에 접속된 제2보호소자(15, 19)로 구성된 것을 특징으로 MOS형 반도체 장치의 입력보호회로.
- 제1항에 있어서, 상기 제2보호소자(15, 19)가 보호링영역(55)으로 둘러싸이면서 상기 입력단 MOS트랜지스터(13, 50, 56)가 형성되어 있는 회로블럭(54)내에 형성된 것을 특징으로 하는 MOS형 반도체 장치의 입력보호회로.
- 제1항에 있어서, 상기 제1보호소자(14, 16, 17, 18)가 1개의 바이폴러 트랜지스터(14)로 구성된 것을 특징으로 하는 MOS형 트랜지스터의 입력보호회로.
- 제1항에 있어서, 상기 제1보호소자(14, 16, 17, 18)가 2개의 다이오드(16, 17)로 구성된 것을 특징으로 하는 MOS형 트랜지스터의 입력보호회로.
- 제1항에 있어서, 상기 제1보호소자(14, 16, 17, 18)가 2개의 바이폴러 트랜지스터(14, 18)로 구성된 것을 특징으로 하는 MOS형 트랜지스터의 입력보호회로.
- 제1항에 있어서, 상기 제2보호소자(15,19)가 다이오드(15)인 것을 특징으로 하는 MOS형 트랜지스터의 입력보호회로.
- 제1항에 있어서, 상기 제2보호소자(15,19)가 소오스와 드레인이 상기 배선(12)에 공통접속된 MOS 트랜지스터(19)인 것을 특징으로 하는 MOS형 트랜지스터의 입력보호회로.
- 제7항에 있어서, 상기 MOS형 트랜지스터(19)의 게이트가 접지전위(Vss)에 접속된 것을 특징으로 하는 MOS형 트랜지스터의 입력보호회로.
- 제7항에 있어서, 상기 MOS형 트랜지스터(19)의 게이트가 전원전위(Vcc)에 접속된 것을 특징으로 하는 MOS형 트랜지스터의 입력보호회로.
- 제1항에 있어서, 상기 배선(12, 25, 41, 45, 46)도중에 저항(R)이 직렬로 연결되어진 것을 특징으로 하는 MOS형 트랜지스터의 입력보호회로.※참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63-3612 | 1988-01-11 | ||
JP63003612A JPH07105446B2 (ja) | 1988-01-11 | 1988-01-11 | Mos型半導体装置の入力保護回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR890012398A true KR890012398A (ko) | 1989-08-26 |
KR910009355B1 KR910009355B1 (ko) | 1991-11-12 |
Family
ID=11562315
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019890000192A KR910009355B1 (ko) | 1988-01-11 | 1989-01-10 | Mos형 반도체장치의 입력보호회로 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4924339A (ko) |
EP (1) | EP0324185B1 (ko) |
JP (1) | JPH07105446B2 (ko) |
KR (1) | KR910009355B1 (ko) |
DE (1) | DE3885263T2 (ko) |
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- 1988-01-11 JP JP63003612A patent/JPH07105446B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1988-12-28 US US07/291,476 patent/US4924339A/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-12-30 DE DE88121907T patent/DE3885263T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1988-12-30 EP EP88121907A patent/EP0324185B1/en not_active Expired - Lifetime
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1989
- 1989-01-10 KR KR1019890000192A patent/KR910009355B1/ko not_active IP Right Cessation
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KR910009355B1 (ko) | 1991-11-12 |
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