KR101364486B1 - 시험용 캐리어 - Google Patents
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Abstract
시험용 캐리어(10)는 다이(90)를 사이에 끼우는 베이스 부재(20A) 및 커버 부재(50A)를 구비하고 있고, 베이스 부재(20A)의 베이스 필름(40)은 미리 형성된 제1 배선 패턴(41)과, 제1 배선 패턴(41)과 전기적으로 접속되는 제2 배선 패턴(44)이 인쇄에 의해 형성될 수 있도록 인쇄 영역(22)을 갖고 있다.
Description
본 발명은 다이칩에 형성된 집적회로소자 등의 전자회로소자를 시험하기 위하여, 상기 다이칩이 일시적으로 실장되는 시험용 캐리어에 관한 것이다.
베어칩 상태의 반도체칩이 일시적으로 실장되는 시험용 캐리어로서, 외기에 비해서 감압된 분위기에서 뚜껑체와 기체의 사이에 반도체칩을 끼워넣는 것이 알려져 있다(예를 들면 특허문헌 1참조).
상기 시험용 캐리어의 뚜껑체에는, 반도체칩의 전극에 대응한 배선 패턴이 형성되어 있고, 이 배선 패턴을 통해서 반도체칩이 외부의 시험장치와 접속된다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는, 다품종의 전자부품에 대응 가능한 동시에, 생산성이 뛰어난 시험용 캐리어를 제공하는 것이다.
[1] 본 발명에 따른 시험용 캐리어는, 전자 부품을 사이에 끼우는 제1 부재와 제2 부재를 구비한 시험용 캐리어로서, 상기 제1 부재는, 미리 형성된 제1 도전로를 갖고, 상기 제1 부재 또는 상기 제2 부재의 한쪽은, 상기 제1 도전로와 전기적으로 접속되는 제2 도전로가 인쇄에 의해 형성될 수 있도록 제1 인쇄 영역을 갖는 것을 특징으로 한다.
[2] 상기 발명에 있어서, 상기 제1 부재는, 제1 필름을 갖고, 상기 제2 부재는, 상기 제1 필름에 대향하는 제2 필름을 갖고, 상기 제1 인쇄 영역은, 상기 제1 필름 또는 상기 제2 필름의 한쪽에 설치되어 있고, 상기 제1 필름과 상기 제2 필름의 사이에 상기 전자 부품을 개재시켜도 좋다.
[3] 상기 발명에 있어서, 상기 제1 도전로는, 상기 제1 필름에 설치된 외부단자에 접속되어 있어도 좋다.
[4] 상기 발명에 있어서, 상기 제1 부재는, 중앙에 제1 개구가 형성되어 있는 동시에, 상기 제1 필름이 첩부된 제1 프레임을 더 갖고 있고, 상기 제1 도전로는, 상기 제1 프레임에 설치된 외부단자에 접속되어 있어도 좋다.
[5] 상기 발명에 있어서, 상기 제2 부재는, 중앙에 제2 개구가 형성되어 있는 동시에, 상기 제2 필름이 첩부되는 제2 프레임을 더 갖더라도 좋다.
[6] 상기 발명에 있어서, 상기 제1 부재는, 평판상의 리지드판을 갖고, 상기 제2 부재는, 상기 리지드판에 대향하는 필름을 갖고, 상기 제1 인쇄 영역은, 상기리지드판 또는 상기 필름의 한쪽에 설치되어 있고, 상기 리지드판과 상기 필름의 사이에 상기 전자 부품을 개재시켜도 좋다.
[7] 상기 발명에 있어서, 상기 제1 도전로는, 상기 리지드판에 설치된 외부단자에 접속되어 있어도 좋다.
[8] 상기 발명에 있어서, 상기 제2 부재는, 중앙에 개구가 형성되어 있는 동시에, 상기 필름이 첩부되는 프레임을 더 갖더라도 좋다.
[9] 상기 발명에 있어서, 상기 제1 부재는, 필름을 갖고, 상기 제2 부재는, 상기 필름에 대향하는 평판상의 리지드판을 갖고, 상기 제1 인쇄 영역은, 상기 필름 또는 상기 리지드판의 한쪽에 설치되어 있고, 상기 필름과 상기 리지드판의 사이에 상기 전자 부품을 개재시켜도 좋다.
[10] 상기 발명에 있어서, 상기 제1 도전도는, 상기 필름에 설치된 외부단자에 접속되어 있어도 좋다.
[11] 상기 발명에 있어서, 상기 제1 부재는, 중앙에 개구가 형성되어 있는 동시에, 상기 필름이 첩부된 프레임을 더 갖고 있고, 상기 제1 도전도는, 상기 프레임에 설치된 외부단자에 접속되어 있어도 좋다.
[12] 상기 발명에 있어서, 상기 제1 부재는, 상기 제1 인쇄 영역을 갖고, 상기 제2 부재는, 미리 형성된 제3 도전로와, 상기 제3 도전도와 전기적으로 접속되는 제4 도전로가 인쇄에 의해 형성될 수 있도록 제2 인쇄 영역을 갖더라도 좋다.
[13] 상기 발명에 있어서, 상기 제1 부재 또는 상기 제2 부재의 한쪽은, 상기 제2 도전로와, 상기 제2 도전로에서 상기 전자 부품의 윤곽에 대응하는 부분 위에 형성된 절연층을 갖더라도 좋다.
[14] 상기 발명에 있어서, 상기 제2 도전로는, 상기 전자 부품의 전극과 접촉하는 패드를 갖더라도 좋다.
[15] 상기 발명에 있어서, 상기 전자 부품은, 반도체 웨이퍼로부터 다이싱된 다이이더라도 좋다.
[16] 상기 발명에 있어서, 상기 제1 부재와 상기 제2 부재의 사이에 형성되어, 상기 전자 부품을 수용하는 수용 공간은, 외기에 비해서 감압되어 있어도 좋다.
본 발명에서는, 제1 인쇄 영역에 제2 도전로를 인쇄하므로, 하나의 시험용 캐리어로 다품종의 전자 부품에 대응할 수 있다.
또한, 본 발명에서는, 제1 도전로를 미리 형성하여 둠으로써 제2 도전로를 짧게 하고 있으므로, 제2 도전로의 인쇄 시간을 단축할 수가 있어, 시험용 캐리어의 생산성 향상을 도모할 수 있다.
도1은 본 발명의 제1 실시 형태에 있어서의 디바이스 제조 공정의 일부를 도시한 플로우 차트.
도2는 본 발명의 제1 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어의 분해 사시도.
도3은 본 발명의 제1 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어의 단면도.
도4는 본 발명의 제1 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어의 분해 단면도.
도5은 도4의 V부의 확대도.
도6은 본 발명의 제1 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어의 베이스 부재를 도시한 평면도.
도7은 본 발명의 제1 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어의 제1 변형예를 도시한 분해 사시도.
도8은 본 발명의 제1 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어의 제2 변형예를 도시한 분해 사시도.
도9는 본 발명의 제1 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어의 제3 변형예를 도시한 분해 사시도.
도10은 본 발명의 제1 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어의 제4 변형예를 도시한 분해 사시도.
도11은 본 발명의 제1 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어의 제5 변형예를 도시한 분해 사시도
도12는 본 발명의 제1 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어의 제6 변형예를 도시한 분해 사시도.
도13은 본 발명의 제2 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어를 도시한 단면도.
도14는 본 발명의 제3 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어를 도시한 단면도.
도15는 본 발명의 제4 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어를 도시한 단면도.
도16은 본 발명의 제5 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어를 도시한 단면도.
도17은 본 발명의 제6 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어를 도시한 단면도.
도18은 본 발명의 제7 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어를 도시한 단면도.
도19는 본 발명의 제8 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어를 도시한 단면도.
도2는 본 발명의 제1 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어의 분해 사시도.
도3은 본 발명의 제1 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어의 단면도.
도4는 본 발명의 제1 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어의 분해 단면도.
도5은 도4의 V부의 확대도.
도6은 본 발명의 제1 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어의 베이스 부재를 도시한 평면도.
도7은 본 발명의 제1 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어의 제1 변형예를 도시한 분해 사시도.
도8은 본 발명의 제1 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어의 제2 변형예를 도시한 분해 사시도.
도9는 본 발명의 제1 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어의 제3 변형예를 도시한 분해 사시도.
도10은 본 발명의 제1 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어의 제4 변형예를 도시한 분해 사시도.
도11은 본 발명의 제1 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어의 제5 변형예를 도시한 분해 사시도
도12는 본 발명의 제1 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어의 제6 변형예를 도시한 분해 사시도.
도13은 본 발명의 제2 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어를 도시한 단면도.
도14는 본 발명의 제3 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어를 도시한 단면도.
도15는 본 발명의 제4 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어를 도시한 단면도.
도16은 본 발명의 제5 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어를 도시한 단면도.
도17은 본 발명의 제6 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어를 도시한 단면도.
도18은 본 발명의 제7 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어를 도시한 단면도.
도19는 본 발명의 제8 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어를 도시한 단면도.
이하, 본 발명의 제1 실시 형태를 도면에 기초하여 설명한다.
도1은 본 발명의 제1 실시 형태에 있어서의 디바이스 제조 공정의 일부를 도시한 플로우 차트이다.
본 실시 형태에서는, 반도체 웨이퍼의 다이싱의 후(도1의 스텝 S10의 후)로서 최종 패키징의 전(스텝 S50의 전)에, 다이(90)에 조립된 집적회로소자 등의 전자회로소자의 시험을 수행한다(스텝 S20~S40).
본 실시 형태에서는, 우선, 다이(90)를 시험용 캐리어(10)에 일시적으로 실장한다(스텝 S20). 그 다음에, 상기 시험용 캐리어(10)를 통해서 다이(90)를 시험 장치(미도시)와 전기적으로 접속함으로써, 다이(90)에 형성된 전자회로소자의 시험을 실행한다(스텝 S30). 그리고, 이 시험이 종료되면, 시험용 캐리어(10)를 분해하여 상기 캐리어(10)로부터 다이(90)를 취출하고(스텝 S40), 상기 다이(90)를 정식패키징함으로써, 디바이스가 최종제품으로서 완성된다.
이하에, 본 실시 형태에 있어서 다이(90)가 일시적으로 실장(임시 패키징) 되는 시험용 캐리어(10)에 대해서 설명한다.
도2~도5는 본 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어를 도시한 도면이며, 도6은 그 시험용 캐리어의 베이스 부재를 도시한 도면, 도7~도12는 본 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어의 변형예를 도시한 단면도이다.
본 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어(10)는, 도2~도4에 도시한 바와 같이, 다이(90)가 재치되는 베이스 부재(20A)와, 상기 베이스 부재(20A)에 덮어지는 커버 부재(5OA)를 구비하고 있다. 상기 시험용 캐리어(10)는, 대기압보다도 감압된 상태에서 베이스 부재(2OA)와 커버 부재(5OA)의 사이에 다이(90)를 끼워 넣음으로써, 다이(90)를 홀드한다.
베이스 부재(2OA)는, 베이스 프레임(30)과, 베이스 필름(40)을 구비하고 있다.
베이스 프레임(30)은, 높은 강성(적어도 베이스 필름(40)이나 커버 필름(70)보다도 높은 강성)을 갖고, 중앙에 개구(31)가 형성된 리지드판이다. 상기 베이스 프레임(30)은, 예를 들면, 폴리아미드이미드 수지, 세라믹스, 유리 등으로 구성되어 있다.
베이스 필름(40)은, 가요성을 갖는 필름이며, 중앙 개구(31)를 포함한 베이스 프레임(30)의 전면에 접착제(미도시)를 통해서 첩부되어 있다. 본 실시 형태에서는, 가요성을 갖는 베이스 필름(40)에, 강성이 높은 베이스 프레임(30)이 첩부되어 있으므로, 베이스 부재(20A)의 핸들링성의 향상이 도모된다.
도5에 도시한 바와 같이, 상기 베이스 필름(40)은, 제1 배선 패턴(41)이 형성된 베이스층(42)과, 상기 베이스층(42)을 피복하는 커버층(43)을 갖고 있다. 베이스 필름(40)의 베이스층(42) 및 커버층(43)은 모두 폴리이미드 필름 등으로 구성되어 있다.
제1 배선 패턴(41)은, 예를 들면, 베이스층(42) 위에 적층된 동박을 에칭함으로써 미리 형성되어 있다. 한편, 커버층(43)의 표면에는, 잉크젯 인쇄에 의해 제2배선 패턴(44)이 형성되어 있다. 상기 제2 배선 패턴(44)은, 다이(90)를 베이스 부재(2OA)에 실장하기 직전에, 배선형성장치(미도시)에 의해 실시간으로 인쇄된다.
한편, 잉크젯 인쇄를 대신하여, 예를 들면 레이저 인쇄에 의해 제2 배선 패턴(44)을 형성해도 좋다. 또한, 본 실시 형태에 있어서의 제1 배선 패턴(41)이 본 발명에 있어서의 제1 도전로의 일례에 상당하고, 본 실시 형태에 있어서의 제2 배선 패턴(44)이 본 발명에 있어서의 제2 도전로의 일례에 상당한다.
도5 및 도6에 도시한 바와 같이, 제1 배선 패턴(41)의 일단은, 커버층(43)의 스루홀(431)을 통해서 외부단자(45)에 접속되어 있다. 상기 외부단자(45)에는 다이(90)의 전자회로소자를 시험할 때에, 시험장치의 콘택트핀이 접촉하게 된다.
한편, 제1 배선 패턴(41)의 타단은, 커버층(43)의 스루홀(432)을 통해서 제2 배선 패턴(44)의 일단에 접속되어 있다. 제2 배선 패턴(44)은, 패드(441)를 타단에 갖고 있다. 상기 패드(441)에는 다이(90)의 전극(91)이 접속된다.
또한, 본 실시 형태에서는, 도5 및 도6에 도시한 바와 같이, 베이스 필름(40) 위에서 다이(90)의 에지(윤곽)에 대응하는 부분에 절연층(47)이 형성되어 있다. 상기 절연층(47)은, 예를 들면 솔더 레지스트 등으로 구성되어 있어, 전기 절연성을 갖고 있다. 제2 배선 패턴(44)에서 다이(90)의 에지에 대응하는 부분 위에 절연층(47)을 형성함으로써, 다이(90)의 에지에 의해 제2 배선 패턴(44)이 단락되는 것을 방지할 수 있다.
이상과 같이 , 본 실시 형태에서는, 다이(90)의 전극(91)의 배치에 따라 제2 배선 패턴(44)을 잉크젯 인쇄에 의해 실시간으로 형성할 수 있으므로, 하나의 시험용 캐리어(10)로 다품종의 다이(90)에 대응할 수 있다.
또한, 본 실시 형태에서는, 도5 및 도6에 도시한 바와 같이, 베이스 부재(2OA)가, 제1 배선 패턴(41)이 미리 형성되어 있는 기형성 영역(21)과, 제2 배선 패턴(44)이 잉크젯 인쇄에 의해 실시간으로 형성되는 인쇄 영역(22)을 갖고 있다. 이러한 구성을 채용함으로써, 잉크젯 인쇄의 범위가 작아지므로, 제2 배선 패턴(44)의 인쇄 시간의 단축화를 도모할 수 있어, 시험용 캐리어(10)의 생산성 향상을 도모할 수 있다. 한편, 본 실시 형태에 있어서의 인쇄 영역(22)이 본 발명에 있어서의 기형성 영역의 일례에 상당한다.
한편, 패드의 위치나 외부단자의 위치는 특별히 한정되지 않고, 이하에 설명하는 도7~도11에 도시한 구성이어도 좋고, 이들을 조합한 구성이어도 좋다.
예를 들면, 도7에 도시한 제1 변형예와 같이, 패드(441)를 포함한 제2 배선 패턴(44)을 베이스 필름(40) 위에 잉크젯 인쇄에 의해 형성하고, 제2 배선 패턴(44)과 외부단자(32)를 접속하는 도전로(46)를, 베이스 필름(40)과 베이스 프레임(30)에 미리 형성해도 좋다.
한편, 본 예에 있어서의 도전로(46)는, 베이스 필름(40)에 미리 형성된 제1 배선 패턴(41)과, 베이스 프레임(30)에 미리 형성된 스루홀(33)을 포함한다. 또한, 스루홀(33)은, 제1 배선 패턴(41)과 외부단자(32)를 전기적으로 접속한다. 덧붙여 말하자면, 상기 제1 변형예에서는, 제2 배선 패턴(44)이 본 발명에 있어서의 제2 도전로의 일례에 상당하고, 도전로(46)가 본 발명에 있어서의 제1 도전로의 일례에 상당한다.
또한, 도8에 도시한 제2 변형예와 같이, 패드(441)를 베이스 필름(40)의 상면에 형성하고, 외부단자(45)를 베이스 필름(40)의 하면에 형성해도 좋다.
또한, 도9에 도시한 제3 변형예와 같이, 패드(741)를 포함하는 제2 배선 패턴(74)을 커버 필름(70) 위에 잉크젯 인쇄에 의해 형성하고, 제2 배선 패턴(74)과 외부단자(62)를 접속하는 도전로(76)를, 커버 필름(70)과 커버 프레임(60)에 미리 형성해도 좋다.
한편, 본 예에 있어서의 도전로(76)는, 커버 필름(70)에 미리 형성된 제1 배선 패턴(71)과, 커버 프레임(60)에 미리 형성된 스루홀(63)을 포함한다. 또한, 스루홀(63)은, 제1 배선 패턴(71)과 외부단자(62)를 전기적으로 접속한다. 덧붙여 말하자면, 상기 제3 변형예에서는, 제2 배선 패턴(74)이 본 발명에 있어서의 제2 도전로의 일례에 상당하고, 도전로(76)가 본 발명에 있어서의 제1 도전로의 일례에 상당한다.
또한, 도10에 도시한 제4 변형예와 같이, 제2 배선 패턴(74)을 커버 필름(70)의 하면에 잉크젯 인쇄에 의해 형성하고, 제2 배선 패턴(74)과 외부단자 (32)를 접속하는 도전로(46)를, 베이스 필름(40)과 베이스 프레임(30)에 미리 형성해도 좋다.
한편, 본 예에 있어서의 도전로(46)는, 베이스 필름(40)에 미리 형성된 제1 배선 패턴(41)과, 베이스 프레임(30)에 미리 형성된 스루홀(33)을 포함한다. 또한, 스루홀(33)은, 제1 배선 패턴(41)과 외부단자(32)를 전기적으로 접속한다. 덧붙여 말하자면, 상기 제4 변형예에서는, 제2 배선 패턴(74)이 본 발명에 있어서의 제2 도전로의 일례에 상당하고, 도전로(46)가 본 발명에 있어서의 제1 도전로의 일례에 상당한다.
한편, 도10에 도시한 예에서, 잉크젯 인쇄에 의해 베이스 필름(40) 위에 형성되어, 제1 배선 패턴(41)과 제2 배선 패턴(74)을 접속하는 배선 패턴을 더 구비하더라도 좋다.
게다가, 다이(90)가 상면 및 하면에 전극(91)을 갖는 경우에는, 도11에 도시한 제5 변형예와 같이, 패드(441,741)를 베이스 필름(40) 및 커버 필름(70)의 양쪽에 형성하는 동시에, 외부단자(32,62)를 베이스 프레임(30) 및 커버 프레임(60)의 양쪽에 형성해도 좋다.
도2~도4로 되돌아가서, 커버 부재(5OA)는 커버 프레임(60)과, 커버 필름(70)을 구비하고 있다.
커버 프레임(60)은, 높은 강성(적어도 베이스 필름(40)이나 커버 필름(70)보다도 높은 강성)을 갖고, 중앙에 개구(61)가 형성된 리지드기판이다. 상기 커버 프레임(60)은, 예를 들면, 폴리아미드이미드 수지, 세라믹스, 유리 등으로 구성되어 있다.
커버 필름(70)은 가요성을 갖는 필름이며, 중앙 개구(61)를 포함한 커버 프레임(60)의 전면에 접착제(미도시)를 통해서 첩부되어 있다. 상기 커버 필름(70)은, 예를 들면, 폴리이미드 필름 등으로 구성되어 있다. 이와 같이, 본 실시 형태에서는, 가요성을 갖는 커버 필름(70)에, 강성이 높은 커버 프레임(60)이 첩부되어 있으므로, 커버 부재(5OA)의 핸들링성의 향상이 도모된다.
이상에 설명한 시험용 캐리어(10)는 다음과 같이 조립할 수 있다.
즉, 우선, 전극(91)을 패드(441)에 맞춘 상태에서, 다이(90)를 베이스 부재(20A)의 베이스 필름(40) 위에 재치한다.
그 다음에, 대기압과 비교해서 감압된 환경 하에서, 베이스 부재(2OA) 위에 커버 부재(5OA)를 포개고, 베이스 부재(2OA)와 커버 부재(5OA)의 사이에 다이(90)를 끼워 넣는다. 이 때, 베이스 필름(40)과 커버 필름(70)이 직접 접촉하도록, 베이스 부재(2OA) 위에 커버 부재(5OA)를 포갠다.
그 다음에, 베이스 부재(2OA)와 커버 부재(5OA)의 사이에 다이(90)를 끼워 넣은 상태 그대로, 시험용 캐리어(10)를 대기압 환경으로 되돌림으로써, 베이스 부재(2OA)와 커버 부재(5OA)의 사이에 형성된 수용 공간(11)(도3 참조)내에 다이(90)가 홀드된다.
한편, 다이(90)의 전극(91)과 베이스 필름(40)의 패드(441)는, 땜납 등으로 고정되어 있지 있다. 본 실시 형태에서는, 수용 공간(11)이 외기에 비해서 감압되어 있으므로, 베이스 필름(40)과 커버 필름(70)에 의해 다이(90)가 압압되어, 다이(90)의 전극(91)과 베이스 필름(40)의 패드(441)가 서로 접촉하고 있다.
도3에 도시한 바와 같이, 수용 공간(11)의 기밀성을 유지하기 위해서, 베이스 부재(2OA)와 커버 부재(5OA)는 접착부(80)로 서로 고정되어 있다. 상기 접착부(80)를 구성하는 접착제(81)로는, 예를 들면 자외선 경화형 접착제를 예시할 수 있다.
상기 접착제(81)는, 도2, 도4, 도5 및 도6에 도시한 바와 같이, 베이스 부재(20A)에서 커버 부재(50A)의 외주부에 대향하는 위치에 도포되어 있다. 그리고, 베이스 부재(2OA)를 커버 부재(5OA)에 씌운 후에, 접착제(81)를 향해서 자외선을 조사하여, 해당 접착제(81)를 경화시킴으로써, 접착부(80)가 형성된다. 한편, 감압만으로 베이스 부재(20A)와 커버 부재(50A)의 밀착을 확보할 수 있는 경우에는, 접착제를 이용하지 않아도 좋다.
한편, 다이(90)가 비교적 두꺼운 경우에는, 도12에 도시한 제6 변형예와 같이, 베이스 프레임(30)과 커버 프레임(60)이 직접 접촉하도록, 베이스 부재(20A) 위에 커버 부재(50A)를 포개더라도 좋다.
<제2 실시 형태>
도13은 본 발명의 제2 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어를 도시한 도면이다.
본 실시 형태에서는, 베이스 부재의 구성이 제1 실시 형태(도3 참조)와 다르지만, 그 이외의 구성은 제1 실시 형태와 동일하다. 이하에, 제2 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어에 대해서 제1 실시 형태와의 다른점에 대해서 설명하고, 제1 실시 형태와 동일한 구성인 부분에 대해서는 동일한 부호를 부여하여 설명을 생략한다.
도13에 도시한 바와 같이, 본 실시 형태에 있어서의 베이스 부재(20B)는, 높은 강성(적어도 커버 필름(70)보다도 높은 강성)을 갖지만, 중앙 개구를 갖지 않는 평판상의 리지드판만으로 구성되어 있다. 상기 베이스 부재(20B)는, 예를 들면, 폴리아미드이미드 수지나 세라믹스, 유리 등으로 구성되어 있다.
본 실시 형태에서는, 특별히 도시하지 않지만, 상기 베이스 부재(20B)에 제 1 배선 패턴이 미리 형성되어 있는 동시에, 상기 베이스 부재(20B) 위에 제2 배선 패턴이 잉크젯 인쇄에 의해 실시간으로 형성되어 있다. 한편, 베이스 부재(20B)를 예를 들면 단층 혹 다층의 프린트 배선 기판으로 구성함으로써, 베이스 부재(20B) 에 제1 배선 패턴을 형성할 수 있다.
본 실시 형태에서는, 상기 베이스 부재(20B) 위에, 잉크젯 인쇄에 의해 제 2의 배선 패턴을 실시간으로 형성하므로, 하나의 시험용 캐리어로 다품종의 다이에 대응할 수 있다.
또한, 본 실시 형태에서는, 베이스 부재(20B)가, 미리 형성된 제1 배선 패턴을 갖고 있으므로, 잉크젯 인쇄의 범위를 작게 할 수 있고, 제2 배선 패턴의 인쇄 시간의 단축화를 도모할 수 있어, 시험용 캐리어의 생산성 향상을 도모할 수 있다.
한편, 도13에 도시한 예에서는, 커버 필름(70)과 베이스 부재(20B)가 직접 접촉하도록, 베이스 부재(20B)에 커버 부재(5OA)를 포개고 있지만, 특별히 이것에 한정되지 않는다. 예를 들면, 다이(90)가 비교적 두꺼운 경우에는, 특별히 도시하지 않지만, 커버 프레임(60)과 베이스 부재(20B)가 직접 접촉하도록, 베이스 부재(20B)에 커버 부재(50A)를 포개더라도 좋다.
<제3 실시 형태>
도14는 본 발명의 제3실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어를 도시한 도면이다.
본 실시 형태에서는, 커버 부재의 구성이 제1 실시 형태(도3 참조)와 다르지만, 그 이외의 구성은 제1 실시 형태와 동일하다. 이하에, 제2 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어에 대해서 제1 실시 형태와의 다른점에 대해서 설명하고, 제1 실시 형태와 동일한 구성인 부분에 대해서는 동일한 부호를 부여하여 설명을 생략한다.
도14에 도시한 바와 같이, 본 실시 형태에 있어서의 커버 부재(50B)는, 높은 강성(적어도 베이스 필름(40)보다도 높은 강성)을 갖지만, 중앙 개구를 갖지 않는 평판상의 리지드판만으로 구성되어 있다. 상기 커버 부재(50B)는, 예를 들면, 폴리아미드이미드 수지, 세라믹스, 유리 등으로 구성되어 있다.
본 실시 형태에서는, 베이스 부재(2OA) 위에, 잉크젯 인쇄에 의해 제2 배선 패턴(44)을 실시간으로 형성하므로, 하나의 시험용 캐리어로 다품종의 다이에 대응할 수 있다.
또한, 본 실시 형태에서는, 베이스 부재(2OA)가, 미리 형성된 제1 배선 패턴(41)을 갖고 있으므로, 잉크젯 인쇄의 범위를 작게 할 수 있고, 제2 배선 패턴의 인쇄 시간의 단축화를 도모할 수가 있어, 시험용 캐리어의 생산성 향상을 도모할 수 있다.
한편, 도14에 도시한 예에서는, 베이스 필름(40)과 커버 부재(50B)가 직접 접촉하도록, 베이스 부재(2OA)에 커버 부재(50B)를 포개고 있지만, 특별히 이것에 한정되지 않는다. 예를 들면, 다이(90)가 비교적 두꺼운 경우에는, 특별히 도시하지 않지만, 베이스 프레임(30)과 커버 부재(50B)가 직접 접촉하도록, 베이스 부재(20A)에 커버 부재(50B)를 포개더라도 좋다.
<제4실시 형태>
도15는 본 발명의 제4 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어를 도시한 도면이다.
본 실시 형태에서는, 커버 부재의 구성이 제1 실시 형태(도3 참조)와 다르지만, 그 이외의 구성은 제1 실시 형태와 동일하다. 이하에, 제4 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어에 대해서 제1 실시 형태와의 다른점에 대해서만 설명하고, 제1 실시 형태와 동일한 구성인 부분에 대해서는 동일한 부호를 부여하여 설명을 생략한다.
도15에 도시한 바와 같이, 본 실시 형태에 있어서의 커버 부재(50C)는, 가요성을 갖는 필름만으로 구성되어 있다. 상기 커버 부재(50C)는은, 예를 들면 폴리이미드 필름 등으로 구성되어 있다.
본 실시 형태에서는, 베이스 부재(2OA) 위에, 잉크젯 인쇄에 의해 제2 배선 패턴(44)을 실시간으로 형성하므로, 하나의 시험용 캐리어로 다품종의 다이에 대응할 수 있다.
또한, 본 실시 형태에서는, 베이스 부재(2OA)가, 미리 형성된 제1 배선 패턴(41)을 갖고 있으므로, 잉크젯 인쇄의 범위를 작게 할 수 있고, 제2 배선 패턴의 인쇄 시간의 단축화를 도모할 수가 있어, 시험용 캐리어의 생산성 향상을 도모할 수 있다.
한편, 도15에 도시한 예에서는, 베이스 필름(40)과 커버 부재(50C)가 직접 접촉하도록, 베이스 부재(2OA)에 커버 부재(50C)를 포개고 있지만, 특별히 이것에 한정되지 않는다. 예를 들면, 다이(90)가 비교적 두꺼운 경우에는, 특별히 도시하지 않지만, 베이스 프레임(30)과 커버 부재(50C)가 직접 접촉하도록, 베이스 부재(20A)에 커버 부재(50C)를 포개더라도 좋다.
<제5실시 형태>
도16은 본 발명의 제5 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어를 도시한 도이다.
본 실시 형태에서는, 베이스 부재의 구성이 제1 실시 형태(도3 참조)와 다르지만, 그 이외의 구성은 제1 실시 형태와 동일하다. 이하에, 제5 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어에 대해서 제1 실시 형태와의 다른점에 대해서만 설명하고, 제1 실시 형태와 동일한 구성인 부분에 대해서는 동일한 부호를 부여하여 설명을 생략한다.
도16에 도시한 바와 같이, 본 실시 형태에 있어서의 베이스 부재(20C)는, 가요성을 갖는 필름만으로 구성되어 있다. 상기 베이스 부재(20C)는, 예를 들면 폴리이미드 필름 등으로 구성되어 있다.
본 실시 형태에서는, 특별히 도시하지 않지만, 상기 베이스 부재(20C)에 제1 배선 패턴이 미리 형성되어 있는 동시에, 상기 베이스 부재(20C) 위에 제2 배선 패턴이 잉크젯 인쇄에 의해 실시간으로 형성되어 있다.
본 실시 형태에서는, 상기 베이스 부재(20C) 위에, 잉크젯 인쇄에 의해 제2 배선 패턴을 실시간으로 형성하므로, 하나의 시험용 캐리어로 다품종의 다이에 대응할 수 있다.
또한, 본 실시 형태에서는, 베이스 부재(20C)가, 미리 형성된 제1 배선 패턴을 갖고 있으므로, 잉크젯 인쇄의 범위를 작게 할 수 있고, 제2 배선 패턴의 인쇄 시간의 단축화를 도모할 수가 있어, 시험용 캐리어의 생산성 향상을 도모할 수 있다.
한편, 도16에 도시한 예에서는, 베이스 부재(20C)와 커버 필름(70)이 직접 접촉하도록, 베이스 부재(20C)에 커버 부재(5OA)를 포개고 있지만, 특별히 이것에 한정되지 않는다. 예를 들면, 다이(90)가 비교적 두꺼운 경우에는, 특별히 도시하지 않지만, 베이스 부재(2OC)와 커버 프레임(60)이 직접 접촉하도록, 베이스 부재(20C)에 커버 부재(50A)를 포개더라도 좋다.
<제6실시 형태>
도17은 본 발명의 제6 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어를 도시한 도면이다.
본 실시 형태에서는, 커버 부재의 구성이 제2 실시 형태(도13 참조)와 다르지만, 그 이외의 구성은 제2 실시 형태와 동일하다. 이하에, 제6 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어에 대해서 제2실시 형태와의 다른점에 대해서만 설명하고, 제2실시 형태와 동일한 구성인 부분에 대해서는 동일한 부호를 부여하여 설명을 생략한다.
도17에 도시한 바와 같이, 본 실시 형태에 있어서의 커버 부재(50C)는, 가요성을 갖는 필름만으로 구성되어 있다. 상기 커버 부재(50C)는, 예를 들면 폴리이미드 필름 등으로 구성되어 있다.
본 실시 형태에서는, 상기 베이스 부재(20B) 위에, 잉크젯 인쇄에 의해 제2 배선 패턴을 실시간으로 형성하므로, 하나의 시험용 캐리어로 다품종의 다이에 대응할 수 있다.
또한, 본 실시 형태에서는, 베이스 부재(20B)가, 미리 형성된 제1 배선 패턴을 갖고 있으므로, 잉크젯 인쇄의 범위를 작게 할 수 있고, 제2 배선 패턴의 인쇄 시간의 단축화를 도모할 수가 있어, 시험용 캐리어의 생산성 향상을 도모할 수 있다.
<제7 실시 형태>
도18은 본 발명의 제7실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어를 도시한 도면이다.
본 실시 형태에서는, 커버 부재의 구성이 제5 실시 형태(도16 참조)와 다르지만, 그 이외의 구성은 제5 실시 형태와 동일하다. 이하에, 제7 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어에 대해서 제5 실시 형태와의 다른점에 대해서만 설명하고, 제5 실시 형태와 동일한 구성인 부분에 대해서는 동일한 부호를 부여하여 설명을 생략한다.
도18에 도시한 바와 같이, 본 실시 형태에 있어서의 커버 부재(50B)는, 높은 강성(적어도 베이스 부재(20C)보다도 높은 강성)을 갖지만, 중앙 개구를 갖지 않는 평판상의 리지드판만으로 구성되어 있다. 상기 커버 부재(50B)는, 예를 들면, 폴리아미드이미드 수지, 세라믹스, 유리 등으로 구성되어 있다.
본 실시 형태에서는, 상기 베이스 부재(20C) 위에, 잉크젯 인쇄에 의해 제2 배선 패턴을 실시간으로 형성하므로, 하나의 시험용 캐리어로 다품종의 다이에 대응할 수 있다.
또한, 본 실시 형태에서는, 베이스 부재(20C)가, 미리 형성된 제1 배선 패턴을 갖고 있으므로, 잉크젯 인쇄의 범위를 작게 할 수 있고, 제2 배선 패턴의 인쇄 시간의 단축화를 도모할 수가 있어, 시험용 캐리어의 생산성 향상을 도모할 수 있다.
<제8 실시 형태>
도19는 본 발명의 제8 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어를 도시한 도면이다.
본 실시 형태에서는, 커버 부재의 구성이 제5 실시 형태(도16 참조)와 다르지만, 그 이외의 구성은 제5 실시 형태와 동일하다. 이하에, 제8 실시 형태에 있어서의 시험용 캐리어에 대해서 제5 실시 형태와의 다른점에 대해서만 설명하고, 제5 실시 형태와 동일한 구성인 부분에 대해서는 동일한 부호를 부여하여 설명을 생략한다.
도19에 도시한 바와 같이, 본 실시 형태에 있어서의 커버 부재(50C)는, 가요성을 갖는 필름만으로 구성되어 있다. 상기 커버 부재(50C)는, 예를 들면 폴리이미드 필름 등으로 구성되어 있다.
본 실시 형태에서는, 상기 베이스 부재(20C) 위에, 잉크젯 인쇄에 의해 제2 배선 패턴을 실시간으로 형성하므로, 하나의 시험용 캐리어로 다품종의 다이에 대응할 수 있다.
또한, 본 실시 형태에서는, 베이스 부재(20C)가, 미리 형성된 제1 배선 패턴을 갖고 있으므로, 잉크젯 인쇄의 범위를 작게 할 수 있고, 제2 배선 패턴의 인쇄 시간의 단축화를 도모할 수가 있어, 시험용 캐리어의 생산성 향상을 도모할 수 있다.
이상에 설명한 제1~제8 실시 형태에 있어서의 베이스 부재(20A~20C)가, 본 발명에 있어서의 제1 부재 또는 제2 부재의 한 방면의 일례에 상당하고, 제1~제8 실시 형태에 있어서의 커버 부재(5OA~50C)가, 본 발명에 있어서의 제2 부재 또는 제1 부재의 다른 방면의 일례에 상당한다.
한편, 이상 설명한 실시 형태는 본 발명의 이해를 용이하게 하기 위해 기재된 것으로서, 본 발명을 한정하기 위해 기재된 것은 아니다. 따라서, 상기 실시 형태에 개시된 각 요소는 본 발명의 기술적 범위에 속하는 모든 설계 변경이나 균등물을 포함하는 취지이다.
예를 들면, 도13~도19에 도시한 제2~제8 실시 형태에 있어서, 도7~도11에 도시한 도전로를 채용해도 좋다.
10…시험용 캐리어
11…수용 공간
20A~20C…베이스 부재
21…제1 영역
22…제2 영역
30…베이스 프레임
31…중앙 개구
40…베이스 필름
41…제1 배선 패턴
42…베이스층
43…커버층
44…제2 배선 패턴
441…패드
45…외부단자
46…도전로
47…절연층
50A~50C…커버 부재
60…커버 프레임
61…중앙 개구
70…커버 필름
80…접착부
81…접착제
90…다이
91…전극
11…수용 공간
20A~20C…베이스 부재
21…제1 영역
22…제2 영역
30…베이스 프레임
31…중앙 개구
40…베이스 필름
41…제1 배선 패턴
42…베이스층
43…커버층
44…제2 배선 패턴
441…패드
45…외부단자
46…도전로
47…절연층
50A~50C…커버 부재
60…커버 프레임
61…중앙 개구
70…커버 필름
80…접착부
81…접착제
90…다이
91…전극
Claims (16)
- 전자부품을 사이에 끼우는 제 1부재와 제2 부재를 구비한 시험용 캐리어로서,
상기 제1 부재는 미리 형성된 제1 도전로를 갖고,
상기 제1 부재 또는 상기 제2 부재의 한쪽은, 상기 제1 도전로와 전기적으로 접속되는 제2 도전로가 인쇄에 의해 형성될 수 있도록 제1 인쇄영역을 갖고,
상기 제1 인쇄영역은 상기 제1 도전로 보다 내측에 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 시험용 캐리어. - 청구항 1에 있어서,
상기 제1 부재는, 제1 필름을 갖고,
상기 제2 부재는, 상기 제1 필름에 대향하는 제2 필름을 갖고,
상기 제1 인쇄 영역은, 상기 제1 필름 또는 상기 제2 필름의 한쪽에 설치되어 있고,
상기 제1 필름과 상기 제2 필름의 사이에 상기 전자 부품을 개재시키는 것을 특징으로 하는 시험용 캐리어. - 청구항 2에 있어서,
상기 제1 도전로는, 상기 제1 필름에 설치된 외부단자에 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 시험용 캐리어. - 청구항 2에 있어서,
상기 제1 부재는, 중앙에 제1 개구가 형성되어 있는 동시에, 상기 제1 필름이 첩부된 제1 프레임을 더 갖고 있고,
상기 제1 도전로는, 상기 제1 프레임에 설치된 외부단자에 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 시험용 캐리어. - 청구항 2에 있어서,
상기 제2 부재는, 중앙에 제2 개구가 형성되어 있는 동시에, 상기 제2 필름이 첩부되는 제2 프레임을 더 갖는 것을 특징으로 하는 시험용 캐리어. - 청구항 1에 있어서,
상기 제1 부재는, 평판상의 리지드판을 갖고,
상기 제2 부재는, 상기 리지드판에 대향하는 필름을 갖고,
상기 제1 인쇄 영역은, 상기 리지드판 또는 상기 필름의 한쪽에 설치되어 있고,
상기 리지드판과 상기 필름의 사이에 상기 전자 부품을 개재시키는 것을 특징으로 하는 시험용 캐리어. - 청구항 6에 있어서,
상기 제1 도전로는, 상기 리지드판에 설치된 외부단자에 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 시험용 캐리어. - 청구항 6에 있어서,
상기 제2 부재는, 중앙에 개구가 형성되어 있는 동시에, 상기 필름이 첩부되는 프레임을 더 갖는 것을 특징으로 하는 시험용 캐리어. - 청구항 1에 있어서,
상기 제1 부재는, 필름을 갖고,
상기 제2 부재는, 상기 필름에 대향하는 평판상의 리지드판을 갖고,
상기 제1 인쇄 영역은, 상기 필름 또는 상기 리지드판의 한쪽에 설치되어 있고,
상기 필름과 상기 리지드판의 사이에 상기 전자 부품을 개재시키는 것을 특징으로 하는 시험용 캐리어. - 청구항 9에 있어서,
상기 제1 도전로는, 상기 필름에 설치된 외부단자에 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 시험용 캐리어. - 청구항 9에 있어서,
상기 제1 부재는, 중앙에 개구가 형성되어 있는 동시에, 상기 필름이 첩부된 프레임을 더 갖고 있고,
상기 제1 도전로는, 상기 프레임에 설치된 외부단자에 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 시험용 캐리어. - 청구항 1에 있어서,
상기 제1 부재는, 상기 제1 인쇄 영역을 갖고,
상기 제2 부재는, 미리 형성된 제3 도전로와, 상기 제3 도전로와 전기적으로 접속되는 제4 도전로가 인쇄에 의해 형성될 수 있도록 제2 인쇄 영역을 갖는 것을 특징으로 하는 시험용 캐리어. - 청구항 1에 있어서,
상기 제1 부재 또는 상기 제2 부재의 한쪽은,
상기 제2 도전로와,
상기 제2 도전로에서 상기 전자 부품의 윤곽에 대응하는 부분 위에 형성된 절연층을 갖는 것을 특징으로 하는 시험용 캐리어. - 청구항 13에 있어서,
상기 제2 도전로는, 상기 전자 부품의 전극과 접촉하는 패드를 갖는 것을 특징으로 하는 시험용 캐리어. - 청구항 1에 있어서,
상기 전자 부품은, 반도체 웨이퍼로부터 다이싱된 다이인 것을 특징으로 하는 시험용 캐리어. - 청구항 1 내지 15 중 어느 한 항에 있어서,
상기 제1 부재와 상기 제2 부재의 사이에 형성되어, 상기 전자 부품을 수용하는 수용 공간은, 외기에 비해서 감압되어 있는 것을 특징으로 하는 시험용 캐리어.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009240654A JP2011086880A (ja) | 2009-10-19 | 2009-10-19 | 電子部品実装装置および電子部品の実装方法 |
JPJP-P-2009-240654 | 2009-10-19 | ||
PCT/JP2010/057898 WO2011048834A1 (ja) | 2009-10-19 | 2010-05-10 | 試験用キャリア |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20120061979A KR20120061979A (ko) | 2012-06-13 |
KR101364486B1 true KR101364486B1 (ko) | 2014-02-20 |
Family
ID=43878817
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020127009688A KR101364486B1 (ko) | 2009-10-19 | 2010-05-10 | 시험용 캐리어 |
KR20100096730A KR101186800B1 (ko) | 2009-10-19 | 2010-10-05 | 전자부품 실장장치 및 전자부품의 실장방법 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR20100096730A KR101186800B1 (ko) | 2009-10-19 | 2010-10-05 | 전자부품 실장장치 및 전자부품의 실장방법 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US9030223B2 (ko) |
JP (2) | JP2011086880A (ko) |
KR (2) | KR101364486B1 (ko) |
CN (2) | CN102576046A (ko) |
TW (2) | TWI476848B (ko) |
WO (1) | WO2011048834A1 (ko) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5616119B2 (ja) | 2010-05-10 | 2014-10-29 | 株式会社アドバンテスト | 試験用キャリア |
JP4858657B1 (ja) * | 2011-08-11 | 2012-01-18 | 富士ゼロックス株式会社 | 基板検査装置、及び基板検査方法 |
CN102508495B (zh) * | 2011-09-28 | 2014-09-10 | 三一重工股份有限公司 | 一种控制执行臂末端运动的方法及控制系统 |
JP5752002B2 (ja) * | 2011-10-04 | 2015-07-22 | 株式会社アドバンテスト | 試験用キャリア |
JP5824337B2 (ja) * | 2011-11-16 | 2015-11-25 | 株式会社アドバンテスト | 試験用キャリア |
JP5702705B2 (ja) * | 2011-11-16 | 2015-04-15 | 株式会社アドバンテスト | 試験用キャリア |
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-
2009
- 2009-10-19 JP JP2009240654A patent/JP2011086880A/ja not_active Withdrawn
-
2010
- 2010-05-10 WO PCT/JP2010/057898 patent/WO2011048834A1/ja active Application Filing
- 2010-05-10 JP JP2011537155A patent/JP5529154B2/ja active Active
- 2010-05-10 KR KR1020127009688A patent/KR101364486B1/ko active IP Right Grant
- 2010-05-10 US US13/502,655 patent/US9030223B2/en active Active
- 2010-05-10 CN CN201080042423XA patent/CN102576046A/zh active Pending
- 2010-09-09 TW TW099130475A patent/TWI476848B/zh active
- 2010-09-09 TW TW99130473A patent/TW201130067A/zh unknown
- 2010-10-05 US US12/898,010 patent/US8653846B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2010-10-05 KR KR20100096730A patent/KR101186800B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2010-10-09 CN CN2010105154224A patent/CN102044450B/zh not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011086880A (ja) | 2011-04-28 |
TW201126626A (en) | 2011-08-01 |
CN102576046A (zh) | 2012-07-11 |
WO2011048834A1 (ja) | 2011-04-28 |
JPWO2011048834A1 (ja) | 2013-03-07 |
KR101186800B1 (ko) | 2012-09-28 |
KR20120061979A (ko) | 2012-06-13 |
US20120235699A1 (en) | 2012-09-20 |
US8653846B2 (en) | 2014-02-18 |
US20110089968A1 (en) | 2011-04-21 |
TW201130067A (en) | 2011-09-01 |
CN102044450A (zh) | 2011-05-04 |
KR20110043441A (ko) | 2011-04-27 |
US9030223B2 (en) | 2015-05-12 |
JP5529154B2 (ja) | 2014-06-25 |
TWI476848B (zh) | 2015-03-11 |
CN102044450B (zh) | 2012-12-05 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E90F | Notification of reason for final refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170126 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180124 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190123 Year of fee payment: 6 |