JPWO2015170539A1 - 樹脂多層基板およびその製造方法 - Google Patents

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Abstract

樹脂多層基板(102)は、複数の樹脂層(2)を積層して一体化させることによって得られた積層体(1)を備える。積層体(1)には、複数の樹脂層(2)のうちの少なくとも1つを貫通し、積層体(1)の外に向かって直接露出するように配置された層間接続導体が設けられている。

Description

本発明は、樹脂多層基板およびその製造方法に関するものである。
半導体素子を内蔵する配線基板の一例が、国際公開第2011/108308号(特許文献1)に開示されている。この配線基板の上部には、配線構造層が形成されている。この配線構造層においては、絶縁層の上面に配線が配置され、この絶縁層のさらに上側を覆うように保護絶縁層が配置されている。ただし、保護絶縁層は開口部を有しており、この開口部を通じて配線の一部が露出している。
国際公開第2011/108308号
樹脂多層基板において、表面に部品を実装する場合がある。昨今、実装部品の端子サイズの小型化、狭ギャップ化が望まれている。しかし、従来採用されているように、部品実装面に露出した銅箔などによる導体パターンを介して部品が実装される構造では、これらのニーズに十分に対応することは難しい。たとえば、特許文献1に記載された配線基板の構造も、最上面に部品を実装しようとした場合は、最上面に部分的に露出した配線としての導体パターンを介して部品を実装することとなるので、同様である。
そこで、本発明は、実装部品の狭ギャップ化に対応しやすい樹脂多層基板およびその製造方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明に基づく樹脂多層基板は、複数の樹脂層を積層して一体化させることによって得られた積層体を備え、上記積層体には、上記複数の樹脂層のうちの少なくとも1つを貫通し、上記積層体の外に向かって直接露出するように配置された層間接続導体が設けられている。
本発明によれば、樹脂多層基板において層間接続導体が積層体の外に向かって直接露出しているので、実装部品の狭ギャップ化に対応しやすい。
本発明に基づく実施の形態1における樹脂多層基板の断面図である。 本発明に基づく実施の形態1における樹脂多層基板に、バンプを備える部品を実装する様子の説明図である。 本発明に基づく実施の形態1における樹脂多層基板に、バンプを備える部品を実装した状態の部分断面図である。 本発明に基づく実施の形態1における樹脂多層基板に、外部電極を備える部品を実装する様子の説明図である。 本発明に基づく実施の形態1における樹脂多層基板に、外部電極を備える部品を実装した状態の部分断面図である。 本発明に基づく実施の形態2における樹脂多層基板の断面図である。 本発明に基づく実施の形態3における樹脂多層基板の断面図である。 本発明に基づく実施の形態4における樹脂多層基板の部分断面図である。 本発明に基づく実施の形態1〜4で用いられていた層間接続導体を単独で取り出した状態の斜視図である。 本発明に基づく実施の形態5における樹脂多層基板を作製する際に用いられるレーザ光の照射位置の説明図である。 本発明に基づく実施の形態5における樹脂多層基板を作製する際に用いられる樹脂層の1つの平面図である。 本発明に基づく実施の形態5における樹脂多層基板の断面図である。 本発明に基づく実施の形態6における樹脂多層基板の断面図である。 本発明に基づく実施の形態6における樹脂多層基板の平面図である。 本発明に基づく実施の形態7における樹脂多層基板の製造方法のフローチャートである。 本発明に基づく実施の形態7における樹脂多層基板の製造方法の第1の工程の説明図である。 本発明に基づく実施の形態7における樹脂多層基板の製造方法の第2の工程の説明図である。 本発明に基づく実施の形態7における樹脂多層基板の製造方法の第3の工程の説明図である。 本発明に基づく実施の形態7における樹脂多層基板の製造方法の第4の工程の説明図である。 本発明に基づく実施の形態7における樹脂多層基板の製造方法の第5の工程の説明図である。 本発明に基づく実施の形態7における樹脂多層基板の製造方法の第6の工程の説明図である。 本発明に基づく実施の形態7における樹脂多層基板の製造方法の第7の工程の説明図である。 本発明に基づく実施の形態8における樹脂多層基板の製造方法で、複数の樹脂層から積層体を得た状態の断面図である。 本発明に基づく実施の形態8における樹脂多層基板の製造方法で、積層体に開口部を形成する工程の説明図である。 本発明に基づく実施の形態8における樹脂多層基板の製造方法で、積層体に部品を実装する工程の説明図である。 本発明に基づく実施の形態8における樹脂多層基板の製造方法で、積層体に部品を実装し終えた状態の断面図である。
(実施の形態1)
図1を参照して、本発明に基づく実施の形態1における樹脂多層基板について説明する。
本実施の形態における樹脂多層基板101は、複数の樹脂層2を積層して一体化させることによって得られた積層体1を備え、積層体1には、前記複数の樹脂層2のうちの少なくとも1つを貫通し、積層体1の外に向かって直接露出するように配置された層間接続導体6が設けられている。このように、複数の樹脂層2のうちの少なくとも1つを貫通して積層体1の外に向かって直接露出するように配置された層間接続導体のことを、以下では説明の便宜上、「ダイレクトビア」とも呼ぶものとする。
層間接続導体6は、積層体1の内部で導体パターン7に接続しており、導体パターン7は適宜他の配線と接続していてよい。図1では、樹脂多層基板101の構成を単純化して1つの層間接続導体6のみを備える例を描いているが、実際には、樹脂多層基板101は、複数の層間接続導体6を備えていてもよい。樹脂多層基板101は、層間接続導体6とは別に、他の部位に外部電極を備えていてもよい。樹脂多層基板101は、内蔵部品および/または表面実装部品を備えていてもよい。図1では、積層体1に含まれる樹脂層2の数が2である例を示したが、積層体1の構成はこれに限らず、より多くの樹脂層2を含むものであってもよい。
本実施の形態では、積層体1の外に向かって直接露出するように層間接続導体6が設けられているので、他の部品を実装する際には、この層間接続導体6を利用することができる。
たとえば図2に示すように、下面にバンプ9を備える部品3を積層体1の上面に実装する場合、図3に示すように層間接続導体6でバンプ9と直接接続することができる。
たとえば図4に示すように、メッキなどによって形成された外部電極10を備える部品3を積層体1の上面に実装する場合、図5に示すように層間接続導体6で外部電極10と直接接続することができる。
本実施の形態では、樹脂多層基板101は、層間接続導体6の上を覆うパッド電極としての導体パターンを設ける必要がないので、実装部品の狭ギャップ化にも対応しやすい。
なお、層間接続導体6は、融点変化型接合材によって形成されていることが好ましい。「融点変化型接合材」とは、加熱前の状態であるペースト状態と、このペースト状態を通常のリフロー温度(たとえば250℃)で加熱して金属間化合物になった後の状態とで、融点が異なる接合材のことである。融点変化型接合材であれば、必要に応じて高融点の層間接続導体6を実現することができるので、リフロー時などの不所望のタイミングで溶融することのない層間接続導体とすることができる。
ここでいう融点変化型接合材としては、特許5018978号に記載された導電性材料を用いることが好ましい。すなわち、ここでいう融点変化型接合材は、第1金属と、前記第1金属よりも融点が高く、前記第1金属と反応して金属間化合物を生成する第2金属とからなる金属成分を含む導電性材料であって、前記第1金属はSnまたはSnを70重量%以上含む合金であり、前記第2金属はCu−Mn合金またはCu−Ni合金であり、前記第1金属と前記第2金属とは、310℃以上の融点を示す金属間化合物を生成する、導電性材料であることが好ましい。
この融点変化型接合材は、フラックス成分を含むことが好ましい。この融点変化型接合材においては、前記第1金属はSnまたはSnを85重量%以上含む合金であることが好ましい。この融点変化型接合材においては、前記金属成分中に占める前記第2金属の割合が、30体積%以上であることが好ましい。この融点変化型接合材においては、前記第1金属は、Sn単体、または、Cu、Ni、Ag、Au、Sb、Zn、Bi、In、Ge、Al、Co、Mn、Fe、Cr、Mg、Mn、Pd、Si、Sr、Te、Pからなる群より選ばれる少なくとも1種とSnとを含む合金であることが好ましい。この融点変化型接合材においては、前記第2金属は、前記第2金属に占めるMnの割合が10〜15重量%であるCu−Mn合金、または、前記第2金属に占めるNiの割合が10〜15重量%であるCu−Ni合金であることが好ましい。この融点変化型接合材においては、前記第2金属は、比表面積が0.05m2・g-1以上のものであることが好ましい。この融点変化型接合材においては、前記第1金属のうち少なくとも一部が、前記第2金属の周りにコートされていることが好ましい。
上述の融点変化型接合材を用いた場合、一般的なリフロープロファイルで高融点化させることが可能となるので好ましい。
従来、表面に露出させた導体パターンを介して部品が実装される構造においては、通常、ハンダが用いられる。しかし、ハンダが用いられている場合、部品の実装を終えた製品に対してリフローを行なった際に、既に付いているハンダが溶融して実装されていた部品の位置がずれてしまうおそれがあった。さらに、このように不所望なタイミングでハンダが溶融することによって、実装されていた部品が外れてしまうおそれもあった。さらに、ハンダを用いた接続の作業時には、ハンダのスプラッシュ現象が問題となる。したがって、ハンダを用いずに部品を実装することができれば好ましいが、従来は、そのための構造および方法は見出されていなかった。これらの問題に関して、上述の融点変化型接合材を用いた場合、以下の効果を得ることができる。
上述の融点変化型接合材を用いた場合、積層体1を一体化させるための熱圧着工程において熱および圧力が加わることによって、Cu6Sn5やCu3Snが形成される。Cu6Sn5は融点が415℃であり、Cu3Snは融点が676℃である。ここに、実装されるべき部品が接合面にSnメッキを施されたものである場合、接合材が溶融することがなく、さらにSnメッキに含まれるSnと接合部材との間での金属間化合物が形成されるので、良好な接続が実現される。すなわち、実装すべき部品の接合すべき表面にSnメッキが施されている場合、ハンダを用いることなく、この部品を層間接続導体6にそのまま接合することができる。
したがって、樹脂多層基板としては、Snメッキされた接合面を有する部品が、前記Snメッキされた面を接合面として、ダイレクトビアとしての層間接続導体に接合されていることが好ましい。
(実施の形態2)
図6を参照して、本発明に基づく実施の形態2における樹脂多層基板について説明する。本実施の形態における樹脂多層基板102は、実施の形態1で説明した樹脂多層基板101と比べて、基本的な構成は共通するが、以下の点で異なる。
樹脂多層基板102においては、積層体1の一方の主表面の側を向いて、互いに離隔するように2以上の層間接続導体6が配置されており、層間接続導体6同士の間には、層間接続導体6を保持する樹脂層2の層間接続導体6が露出する側の面5より高くなっている隆起部13が設けられている。言い換えれば、最上層の樹脂層2には開口部15が設けられている。開口部15を通じて層間接続導体6が露出している。
図6に示した例では、2つの層間接続導体6が示されているが、層間接続導体6の数は3以上であってもよい。図6に示したように、隆起部13は、層間接続導体6を保持する樹脂層2の上に積層した他の樹脂層2の一部を残すことによって形成したものであってもよい。図6に示したように、隆起部13は、最上層の樹脂層2に開口部15を形成した結果残る部分であってもよい。
本実施の形態においても、実施の形態1と同様の効果を得ることができる。本実施の形態では、層間接続導体6が露出している箇所同士は隆起部13によって互いに隔てられているので、層間接続導体6に対する接続で何らかの接合材が用いられ、この接合材が液状になる場合であっても、接合材は隆起部13によってせき止められる。したがって、隣接する層間接続導体6同士の間で短絡が生じることを防止することができる。
実装される部品にバンプが設けられている場合、バンプが開口部15に入り込むように開口部15の寸法を揃えておけば、安定した接合を行なうことができる。部品に設けられたバンプがたとえハンダ製であっても、層間接続導体6同士は隆起部13によって隔てられているので、短絡が生じることを防止することができる。
(実施の形態3)
図7を参照して、本発明に基づく実施の形態3における樹脂多層基板について説明する。本実施の形態における樹脂多層基板103は、実施の形態2で説明した樹脂多層基板102と比べて、基本的な構成は共通するが、以下の点で異なる。
樹脂多層基板103においては、積層体1の一方の主表面の側を向いて、互いに離隔するように2以上の層間接続導体6が配置されており、層間接続導体6同士の間には、層間接続導体6が露出する面より低くなっている凹部14が設けられている。
本実施の形態においても、実施の形態1と同様の効果を得ることができる。本実施の形態では、層間接続導体6が露出している箇所同士は凹部14によって互いに隔てられている。本実施の形態では、層間接続導体6に対する接続で何らかの接合材が用いられ、この接合材が液状になり、面5に沿って流れ出た場合であっても、隣接する層間接続導体6との間には凹部14があるので、流出した接合材が隣接する層間接続導体6までそのままつながることは防止される。したがって、隣接する層間接続導体6同士の間で短絡が生じることを防止することができる。
実装すべき部品の端子間の部位が膨らんでいる場合、この部品を平坦な基板面に実装しようとすると、膨らんだ部分が端子より先に基板面に当たってしまい、端子が十分に基板面に当接しないという、いわゆる腹打ち現象の問題があったが、本実施の形態のように層間接続導体6同士の間に凹部14が設けられていれば、腹打ち現象を回避することができるので、好ましい。実装すべき部品の下面にうねりがある場合も、本実施の形態のように凹部14を設けた構成の樹脂多層基板であれば、うねりの影響をあまり受けることなく実装することができるので、好ましい。
(実施の形態4)
図8を参照して、本発明に基づく実施の形態4における樹脂多層基板について説明する。本実施の形態における樹脂多層基板104は、実施の形態1で説明した樹脂多層基板101と比べて、基本的な構成は共通するが、以下の点で異なる。
樹脂多層基板104においては、層間接続導体6を保持する樹脂層2よりも上側にさらに他の樹脂層2が積層されている。樹脂多層基板104においては、複数の樹脂層2のうち層間接続導体6を保持する樹脂層2を第1樹脂層21と呼ぶこととしたとき、層間接続導体6が露出する側から見て、層間接続導体6の少なくとも中央部6aを露出させた状態で層間接続導体6の外縁部6bの少なくとも一部を覆う第2樹脂層22が、第1樹脂層21に重なっている。第2樹脂層22には開口部15が形成されている。
本実施の形態では、層間接続導体6の外縁部6bの少なくとも一部が第2樹脂層22によって覆われているので、層間接続導体6が抜けてしまうことが防止され、その結果、部品実装時の接合強度を高めることができる。
なお、図8では断面図で示したが、第2樹脂層22は層間接続導体6の外縁部6bを全周にわたって覆っているとは限らない。ただし、第2樹脂層22は、層間接続導体6の外縁部6bを全周にわたって覆っていることが好ましい。全周にわたって覆っていれば、層間接続導体6の抜けをより確実に防止することができるからである。
(実施の形態5)
これまでの実施の形態で示してきた層間接続導体6は、たとえば主表面に銅箔が形成された樹脂層2に対してレーザ加工を施すことによって樹脂層2を貫通するようにビア孔を形成し、このビア孔にペースト状の材料を充填し、加熱圧着工程において加熱および加圧を経て材料を硬化させることによって形成することができる。このビア孔はレーザ光の1ヶ所への照射で形成されるものを想定していたため、層間接続導体6は限られた面積のものとなっていた。これまでの実施の形態で用いられていた層間接続導体6を単独で取り出したところを図9に示す。層間接続導体6は、このように単純な円錐台形状のものとなっていた。
しかし、ダイレクトビアとしての層間接続導体の形状は、このようなものに限らない。ダイレクトビアとしての層間接続導体を形成するためには、複数回の照射によって1つのビア孔を形成してもよい。
図10〜図12を参照して、本発明に基づく実施の形態5における樹脂多層基板について説明する。図10に示すように、1枚の樹脂層2の限られた領域内に密に並ぶように複数の照射領域29を設定し、照射位置を毎回ずらしながらレーザ光を繰返し照射してもよい。
樹脂層2に大きなビア孔を形成することができ、図11に示すように大きな面積の層間接続導体16を形成することができる。このようにして形成した樹脂層2を用いることによって、図12に示すような樹脂多層基板105を得ることができる。
部品などとの接合のために、広い面積が必要な場合にも、このように必要に応じて大きな面積の層間接続導体16を形成することによって対応することができる。
本実施の形態では、正方形に並べられた3×3の合計9箇所の領域にレーザ光を照射する例を示したが、これはあくまで一例であり、レーザ光の照射領域の数や位置関係にはさまざまなパターンが考えられる。
(実施の形態6)
図13を参照して、本発明に基づく実施の形態6における樹脂多層基板について説明する。図12に示した樹脂多層基板105の構成の上側にさらにもう1層の樹脂層2を積層し、この樹脂層2に開口部15を設けることによって、図13に示す樹脂多層基板106を得ることができる。層間接続導体16を保持している樹脂層2は第1樹脂層21とみなすことができ、上側に載せられた樹脂層2は第2樹脂層22とみなすことができる。
図13に示した樹脂多層基板106を平面的に見たところを図14に示す。積層体1の上面に形成された正方形の開口部15を通して層間接続導体16の一部が露出している。開口部15は、たとえばパンチング加工によって形成されたものである。層間接続導体16の中央部16aは露出しているのに対して、外縁部16bは樹脂層によって隠されている。図14に示した例では、外縁部16bは全周にわたってある程度覆い隠されているが、必ずしも全周でなくてもよい。ただし、樹脂層によって覆われた部分は全周にわたって均一に存在することが好ましい。なぜなら、そのような構成になっていれば、どの方向に対しても安定して均一に層間接続導体16を押さえることができるからである。
特に層間接続導体16の面積が大きくなった場合は、層間接続導体16の抜けが起こりやすくなる傾向にあるが、このような構成によって外縁部16bの少なくとも一部を樹脂層2で押さえることとすれば、層間接続導体16の抜けを起こりにくくすることができるので好ましい。
第2樹脂層22に設ける開口部15は、第2樹脂層22の積層後に形成してもよいが、積層前の第2樹脂層22の単独のシート状の状態で予め形成してもよい。第2樹脂層22に開口部15を予め形成しておく場合は、開口部15の形成は打抜き加工によってもよい。あるいは、開口部15はレーザ加工によって形成してもよい。
(実施の形態7)
図15〜図22を参照して、本発明に基づく実施の形態7における樹脂多層基板の製造方法について説明する。本実施の形態における樹脂多層基板の製造方法のフローチャートを図15に示す。
本実施の形態における樹脂多層基板の製造方法は、層間接続導体が厚み方向に貫通している第1樹脂層を配置する工程S1と、前記層間接続導体を覆い隠すように前記第1樹脂層上に第2樹脂層を積層する工程S2と、前記第1樹脂層および前記第2樹脂層を含む複数の樹脂層を積層したものに対して、加熱および加圧を行なうことによって、一体的な積層体を得る工程S3と、前記積層体に含まれる前記第2樹脂層に対して除去加工を施して前記第2樹脂層を貫通する孔をあけることによって、前記第1樹脂層に保持された前記層間接続導体の前記第2樹脂層側の表面を、直接露出させる工程S4とを含む。
これらの各工程について詳しく、以下に説明する。さらに、樹脂多層基板の製造方法を実施する際に、通常、これらの工程の前後に含まれる工程も含めて説明する。
まず、図16に示すような導体箔付き樹脂シート12を用意する。導体箔付き樹脂シート12は、樹脂層2の片面に導体箔17が付着した構造のシートである。樹脂層2は、たとえば熱可塑性樹脂である。本実施の形態では、樹脂層2は、たとえば熱可塑性タイプのPI(ポリイミド)を主材料とする。樹脂層2の材料としては、熱可塑性タイプのPIの他に、PEEK(ポリエーテルエーテルケトン)、PEI(ポリエーテルイミド)、PPS(ポニフェニレンスルファイド)、LCP(液晶ポリマー)などであってもよい。導体箔17は、たとえばCuからなる金属箔である。本実施の形態では、導体箔17としては、厚み18μmの金属箔を用いることとする。なお、導体箔17の材料はCu以外にAg、Al、SUS、Ni、Auであってもよく、これらの金属のうちから選択された2以上の異なる金属の合金であってもよい。本実施の形態では、導体箔17は厚み18μmとしたが、導体箔17の厚みは、たとえば3μm以上40μm以下程度のものが用いられる。すなわち、導体箔17は、回路形成が可能な厚みであればよい。
導体箔付き樹脂シート12を用意する際には、複数枚の導体箔付き樹脂シート12を用意してもよく、1枚の導体箔付き樹脂シート12の中に、のちに複数の樹脂シートとして個別に切り出されるべき領域が設定されたものを用意してもよい。
次に、導体箔付き樹脂シート12の導体箔17の表面に、スクリーン印刷などの方法で、所望の回路パターンに対応するレジストパターンを印刷する。次に、このレジストパターンをマスクとしてエッチングを行ない、導体箔17のうちレジストパターン13で被覆されていない部分を除去する。導体箔17のうち、このエッチングの後に残った部分を「導体パターン」と称する。その後、洗浄液などを用いて、レジストパターンを除去する。こうして図17に示すように、樹脂層2の一方の表面に所望の導体パターン7が得られる。
次に、図18に示すように、導体箔付き樹脂シート12の導体パターン7が付着する面とは反対側の樹脂層2の表面に炭酸ガスレーザ光を照射することによって樹脂層2を貫通するようにビア孔11を形成する。ビア孔11は、樹脂層2を貫通しているが導体パターン7は貫通していない。その後、必要に応じてビア孔11のスミア(図示せず)を除去する。ここではビア孔11を形成するために炭酸ガスレーザ光を用いたが、他の種類のレーザ光を用いてもよい。ただし、樹脂層2は貫通するが導体パターン7は貫通しないレーザ光を用いることが好ましい。また、ビア孔11を形成するためにレーザ光照射以外の方法を採用してもよい。
次に、図19に示すように、ビア孔11に、スクリーン印刷などにより導電性ペーストを充填する。充填する導電性ペーストは、ハンダより融点が高いものが好ましい。充填する導電性ペーストは、融点変化型接合材であることが好ましい。融点変化型接合材の詳細な条件については、実施の形態1で既に説明したとおりである。こうして導電性ペーストを充填することによって、層間接続導体36が形成される。
ここでは、樹脂層2の表面に導体パターン7を形成してから、ビア孔11を形成して導電性ペーストの充填を行なうことによって層間接続導体36を形成したが、順序はこれに限らない。樹脂層2にビア孔11を形成して導電性ペーストの充填を行なうことによって層間接続導体36を形成した後で、樹脂層2の表面に導体パターン7を形成してもよい。
図20に示すように、複数の樹脂層2を積層して基板を形成する。基板の最下層では、基板の下面に導体パターン7が配置されるよう、樹脂層2の導体パターン7が形成された側の面を下に向けた状態で樹脂層2が配置されている。これにより基板の下面に配置された導体パターン7は外部電極18となる。
一方、基板の最上面付近では、基板の最上面に導体パターン7が配置されるよう、樹脂層2の導体パターン7が形成された側の面を上に向けた状態で樹脂層2が配置されている。これにより基板の最上面に配置された導体パターン7は外部電極19となる。樹脂多層基板は、断面で見たときに単純な矩形状となるものであってもよいが、図20に示すように部位によって厚みが異なるものであってもよい。図20に示した形状はあくまで一例であって、これに限るものではない。
図20に示すように複数の樹脂層2を積層する中で、工程S1,S2が行なわれる。すなわち、工程S1として、層間接続導体36が厚み方向に貫通している第1樹脂層21が配置される。次に、工程S2として、層間接続導体36を覆い隠すように第1樹脂層21上に第2樹脂層22が積層される。図20に示すように全ての樹脂層2を積層し終えた状態で、工程S3として全体に加熱および加圧を施し、一体的な積層体1とする。
なお、全ての樹脂層2を積層し終える前に、一部の樹脂層2のみを積層し終えた時点で、熱圧着温度より低い温度で仮圧着することとしてもよい。仮圧着の温度は、たとえば150℃以上200℃以下である。仮圧着することにより、この時点までに積層した樹脂層2が仮固定される。
次に、工程S4として、図20に示したように一体化した積層体1に含まれる第2樹脂層22に対して除去加工を施すことによって、第2樹脂層22を貫通する孔をあける。すなわち、図21に示すように開口部15を形成する。これによって、第1樹脂層21に保持された層間接続導体36の第2樹脂層22側の表面が、直接露出し、層間接続導体36は層間接続導体6となる。こうして、樹脂多層基板107が得られる。
さらに、図22に示すように、外部電極10を備える部品3を実装してもよい。部品3は、開口部15から露出していた層間接続導体6を介して電気的に接続される。外部電極10の一部が溶融したものである接合材料は、開口部15に入り込んで層間接続導体6に達する。この状態で接合材料が硬化することによって、部品3は固定されている。
本実施の形態によれば、このようにして、実装部品の狭ギャップ化に対応しやすい樹脂多層基板を得ることができる。また、本実施の形態によれば、ハンダを用いないか、あるいは、ハンダを用いたとしても問題を生じずに、部品を実装することができるような樹脂多層基板を得ることができる。特に、積層体1を形成した後で加工を行なうことにより開口部15をあけて層間接続導体6を露出させることとしているので、小さなサイズの層間接続導体6にも容易に対応することができる。また、層間接続導体6を露出させる箇所の位置精度が高くなる。開口部15をあけるためには、公知の加工方法を適宜用いることができる。積層体1を一体化させるための加熱および加圧の際には、樹脂層2の材料が流動化するので、既に孔があけられている場合にはその孔が樹脂によって塞がれたり狭くなったりするおそれがあったが、本実施の形態では、複数の樹脂層2を積層体1として既に一体化させた後で開口部15をあけることとしているので、そのような問題を回避することができる。
また、各層間接続導体6に対応して個別に開口部15が設けられていることによって、接合材料同士が短絡することを防ぎやすい。したがって、実装部品の狭ギャップ化にも有利である。
なお、工程S4で行なう除去加工はレーザ加工であることが好ましい。この除去加工はレーザ加工以外の方法によって行なうこととしてもよいが、レーザ加工であれば、迅速かつ高精度に行なうことができるので、好ましい。
なお、樹脂多層基板の製造方法としては、Snメッキされた接合面を有する部品が、前記Snメッキされた面を接合面として前記層間接続導体に接合される工程を含むことが好ましい。このような工程を含んでいれば、ハンダを用いることなく、部品を層間接続導体にそのまま接合することができるからである。
(実施の形態8)
図23〜図26を参照して、本発明に基づく実施の形態8における樹脂多層基板の製造方法について説明する。本実施の形態における樹脂多層基板の製造方法も、図15に示したフローチャートに沿ったものである。
一体化した積層体1を得るまでの各工程は、基本的には実施の形態7で説明したものと同様である。
工程S1〜S4を経て、図23に示すように一体化した積層体1に含まれる第2樹脂層22に対して除去加工を施すことによって、第2樹脂層22を貫通する孔をあける。すなわち、図24に示すように開口部15を形成する。これによって、第1樹脂層21に保持された層間接続導体36の第2樹脂層22側の表面が、直接露出し、層間接続導体36は層間接続導体6となる。こうして、樹脂多層基板108が得られる。
さらに、図25に示すように、部品31,32を表面実装する。部品31は外部電極10を備える。部品32は下面にバンプ9を備える。ここで示す部品31,32はあくまで一例である。部品31,32とも、それぞれ開口部15から露出していた層間接続導体6を介して電気的に接続される。外部電極10の一部が溶融したものである接合材料は、開口部15に入り込んで層間接続導体6に達している。バンプ9は開口部15内で溶融して開口部15の形状に合わせて変形し、開口部15の底に露出していた層間接続導体6に達する。こうして、図26に示すような樹脂多層基板108が得られる。
本実施の形態に示したように、複数の部品を実装する場合であっても、さらに、異なる種類の部品を混載する場合であっても、このように対応することができる。本実施の形態においても、実施の形態7において説明したのと同様の効果を得ることができる。
なお、今回開示した上記実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではない。本発明の範囲は上記した説明ではなくて請求の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更を含むものである。
本発明は、樹脂多層基板およびその製造方法に利用することができる。
1 積層体、2 樹脂層、3,31,32 部品、5 (層間接続導体が露出する側の)面、6,16 層間接続導体、6a,16a (層間接続導体の)中央部、6b,16b (層間接続導体の)外縁部、7 導体パターン、9 バンプ、10 外部電極、11 ビア孔、12 導体箔付き樹脂シート、13 隆起部、14 凹部、15 開口部、17 導体箔、21 第1樹脂層、22 第2樹脂層、29 照射領域、36 層間接続導体、101,102,103,104,105,106,107,108 樹脂多層基板。

Claims (11)

  1. 複数の樹脂層を積層して一体化させることによって得られた積層体を備え、
    前記積層体には、前記複数の樹脂層のうちの少なくとも1つを貫通し、前記積層体の外に向かって直接露出するように配置された層間接続導体が設けられている、樹脂多層基板。
  2. 前記積層体の一方の主表面の側を向いて、互いに離隔するように2以上の前記層間接続導体が配置されており、前記層間接続導体同士の間には、前記層間接続導体を保持する前記樹脂層の前記層間接続導体が露出する側の面より高くなっている隆起部が設けられている、請求項1に記載の樹脂多層基板。
  3. 前記積層体の一方の主表面の側を向いて、互いに離隔するように2以上の前記層間接続導体が配置されており、前記層間接続導体同士の間には、前記層間接続導体を保持する前記樹脂層の前記層間接続導体が露出する側の面より低くなっている凹部が設けられている、請求項1に記載の樹脂多層基板。
  4. 前記複数の樹脂層のうち前記層間接続導体を保持する樹脂層を第1樹脂層と呼ぶこととしたとき、前記層間接続導体が露出する側から見て、前記層間接続導体の少なくとも中央部を露出させた状態で前記層間接続導体の外縁部の少なくとも一部を覆う第2樹脂層が、前記第1樹脂層に重なっている、請求項1から3のいずれかに記載の樹脂多層基板。
  5. 前記第2樹脂層は、前記層間接続導体の外縁部を全周にわたって覆っている、請求項4に記載の樹脂多層基板。
  6. 前記層間接続導体は、融点変化型接合材によって形成されている、請求項1から5のいずれかに記載の樹脂多層基板。
  7. 前記融点変化型接合材は、
    第1金属と、前記第1金属よりも融点が高く、前記第1金属と反応して金属間化合物を生成する第2金属とからなる金属成分を含む導電性材料であって、
    前記第1金属はSnまたはSnを70重量%以上含む合金であり、
    前記第2金属はCu−Mn合金またはCu−Ni合金であり、
    前記第1金属と前記第2金属とは、310℃以上の融点を示す金属間化合物を生成する、導電性材料である、請求項6に記載の樹脂多層基板。
  8. 層間接続導体が厚み方向に貫通している第1樹脂層を配置する工程と、
    前記層間接続導体を覆い隠すように前記第1樹脂層上に第2樹脂層を積層する工程と、
    前記第1樹脂層および前記第2樹脂層を含む複数の樹脂層を積層したものに対して、加熱および加圧を行なうことによって、一体的な積層体を得る工程と、
    前記積層体に含まれる前記第2樹脂層に対して除去加工を施して前記第2樹脂層を貫通する孔をあけることによって、前記第1樹脂層に保持された前記層間接続導体の前記第2樹脂層側の表面を、直接露出させる工程とを含む、樹脂多層基板の製造方法。
  9. 前記除去加工はレーザ加工である、請求項8に記載の樹脂多層基板の製造方法。
  10. Snメッキされた接合面を有する部品が、前記Snメッキされた面を接合面として前記層間接続導体に接合されている、請求項1から7のいずれかに記載の樹脂多層基板。
  11. Snメッキされた接合面を有する部品が、前記Snメッキされた面を接合面として前記層間接続導体に接合される工程を含む、請求項8または9に記載の樹脂多層基板の製造方法。
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