JPS646540B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS646540B2
JPS646540B2 JP54095004A JP9500479A JPS646540B2 JP S646540 B2 JPS646540 B2 JP S646540B2 JP 54095004 A JP54095004 A JP 54095004A JP 9500479 A JP9500479 A JP 9500479A JP S646540 B2 JPS646540 B2 JP S646540B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
processing
passageway
area
departments
work
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP54095004A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5619635A (en
Inventor
Hiroto Nagatomo
Hiroshi Maejima
Jun Suzuki
Yoshuki Fujikawa
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP9500479A priority Critical patent/JPS5619635A/ja
Priority to GB8023045A priority patent/GB2056169B/en
Priority to DE19803028283 priority patent/DE3028283A1/de
Publication of JPS5619635A publication Critical patent/JPS5619635A/ja
Priority to US06/477,895 priority patent/US4544318A/en
Priority to SG414/84A priority patent/SG41484G/en
Priority to HK359/85A priority patent/HK35985A/xx
Priority to MY667/85A priority patent/MY8500667A/xx
Publication of JPS646540B2 publication Critical patent/JPS646540B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10PGENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P72/00Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
    • H10P72/06Apparatus for monitoring, sorting, marking, testing or measuring
    • H10P72/0612Production flow monitoring, e.g. for increasing throughput
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10PGENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P72/00Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
    • H10P72/30Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations
    • H10P72/32Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H10P72/3214Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations between different workstations by means of a cart or a vehicle
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10PGENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P72/00Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
    • H10P72/30Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations
    • H10P72/32Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H10P72/3216Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations between different workstations using a general scheme of a conveying path within a factory
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10PGENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P72/00Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
    • H10P72/30Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations
    • H10P72/32Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H10P72/3222Loading to or unloading from a conveyor
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10PGENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P72/00Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
    • H10P72/30Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations
    • H10P72/34Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
    • H10P72/3404Storage means
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/51Plural diverse manufacturing apparatus including means for metal shaping or assembling
    • Y10T29/5196Multiple station with conveyor

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は多品種の製品群を製造するにあたつて
数工程に亘る各処理作業にそれぞれ対応する処理
装置群(Job―Shop―Type)および各処理装置
群にワーク(被処理物)を搬送する搬送機(搬送
装置)を配し、多品種のワークの処理順序、処理
条件等を入力情報から自動的に求めて前記搬送
機、処理装置群等を制御し、効率よく有機的にこ
れらを稼動(Flow―Shop―Type)させ製品管
理、工程管理の最適化を図つた自動化された製造
装置、特に、半導体工業におけるウエハ(半導体
薄板)の処理加工装置に関する。
半導体装置、IC(集積回路)、LSI(大規模集積
回路)等の組立に用いる回路素子は一般に半導体
小片(ペレツト)で形成されている。このペレツ
トは薄い半導体板(ウエハ)に縦横に整列配置形
成された回路素子領域をその境で分断することに
よつて得られる。ウエハに回路素子領域を作るに
は極めて多くの製造工程を必要とする。たとえ
ば、シリコンウエハに所望の不純物原子を含む領
域を形成する工程についてみても、(1)ウエハを洗
浄して清浄化する洗浄工程、(2)ウエハを熱処理し
て表面に酸化膜(SiO2)を形成する酸化膜形成
工程、(3)酸化膜上にレジスト(フオトレジスト)
を塗布しかつ乾燥するレジスト塗布工程、(4)レジ
ストを部分感光させる露光工程、(5)感光レジスト
あるいは非感光レジストを部分的に除去するレジ
スト部分除去(エツチング)工程、(6)酸化膜上に
部分的に残留するレジストをマスクとして用いて
露出する酸化膜を除去する酸化膜部分除去(エツ
チング)工程、(7)酸化膜上の残留するレジストを
除去するレジスト除去(エツチング)工程、(8)酸
化膜をマスクとして不純物雰囲気中にシリコンウ
エハを置くとか、CVD(気相化学成長)、蒸着、
イオン打ち込み等の技術で不純物原子を露出する
シリコン上に沈着あるいは素層部に浸入させ、再
び熱を加えて所望の深さに不純物を拡散させる拡
散工程、(9)ウエハ表面の不要酸化膜等を除去する
除去(エツチング)工程等がある。また、前記レ
ジスト塗布工程から始まり、(7)のレジスト除去工
程で終る技術は一般に写真蝕刻技術と呼ばれてい
るが、回路素子の形成にはこの技術が繰り返して
使用される。すなわち、不純物拡散以外の配線層
の形成、パツシベーシヨンのための保護膜形成等
にも用いられる。
このようにウエハに各種処理を施こすウエハ処
理における工程順路は各製品毎によつて異なる。
最も効率のよい作業形態として工程順に沿つて作
業装置設備を配置するいわゆるフロ・シヨツプ型
(Flow―Shop―Type)を採用すれば、スムース
にワークが流れる。しかし、各製品は独自に設備
配置を持つに足るようには大量に生産できないの
が一般である。仮りに、そのような大量生産がで
きる製品が存在しても、半導体工業の発展は著し
く、製品の移り変わりは激しい。このため、その
設備配置はすぐに陳腐化して使えなくなる危険が
ある。そこで、従来は第1図に示すように、共通
的な作業をする設備群をまとめる配置、いわゆる
ジヨブ・シヨツプ型(Job―Shop―Type){同図
において、複数の拡散装置1を配置した拡散室
2、複数のイオン打込み装置3を配置したイオン
打込み室4、複数のフオトエツチング装置5およ
び露装置6を配置したフオトレジスト室7、複数
の蒸着装置8等を配置したCVD蒸着室9、複数
の検査装置(プローバ)10を配置した検査室1
1等を配設むる。}を採用し、各装置群で一度に
多数多品種のワークを処理する方法をとらざるを
得ない。しかし、ウエハ処理では製法(数十方
法)の異なる多種(数百種類)のワークを大量
(数万個)に同時に流すので、これを旨く管理し
て流すことは難しい。その結果、工完(工期)は
長くなり、かつ多数の作業員を必要とする欠点が
ある。また、ウエハを処理する作業空間は常に清
浄に保つ必要があるが、多勢の作業員が処理室内
を動き回るため、被服に付着したごみや床等に付
着するごみが舞い上がつたりして飛散し、ウエハ
が汚染され、歩留が低下する。特に回路素子のパ
ターンが微細化するにつれて高い清浄度の作業空
間が要求される。
一方、人間は本質的に最も効率の良い状態を永
続することは難しく、工完長期化の原因ともなつ
ている。
そこで、従来ウエハ処理工程の細部の個々の自
動化を図ることによつて、各工程での作業の効率
化、清浄作業空間の維持による歩留の向上を図つ
ている。また、工程の進行管理情報処理をコンピ
ユータ化することも一部では行なわれている。
しかし、これらの装置では単一工程の自動化、
コンピユータ制御化であつて、単一製品の製造経
路からみた場合、製品管理が充分とは言えない。
また、ウエハは各自動機関あるいは処理空間を作
業者によつて選ばれることから、ウエハの汚染防
止は充分とは言えない。特にウエハの移動経路中
に作業者が存在することが汚染を充分に防げない
致命的な原因となつている。
したがつて、本発明の目的はウエハ処理等のワ
ークの処理を無人化装置内で処理することによつ
てワークの汚染を防止するとともに、ワークの一
連の作業を有機的に制御して、多品種多数のワー
クの製品管理を行なうことによつて、製品の工完
短縮、歩留向上、作業人員低減を図ることにあ
る。
また、本発明の他の目的は各処理装置群を集約
することによつて設備の据付けに必要な敷地を小
さくすることにある。
本願発明の製造装置は、直線状に延在する通路
と、前記通路に沿つて延在する搬送路と、それぞ
れがロード位置およびアンロード位置を有し、少
なくとも互いに異なつた処理を被処理物に施すこ
とができる処理部門を含む複数の処理部門と、前
記複数の処理部門のそれぞれのロード位置とアン
ロード位置における被処理物を前記搬送路に沿つ
て移動させるための搬送装置とを有し、前記各処
理部門はその一端が前記通路に面するように前記
通路からその通路の延在方向と直角の方向に延在
し、かつ互いに離間してなり、前記複数の処理部
門および前記通路は空気清浄度の高いクリーン領
域からなり、前記複数の処理部門を互いに離間す
る領域を含む前記クリーン領域を取り囲む領域で
前記クリーン領域に隣接するように配置された、
空気清浄度が前記クリーン領域より低い、前記処
理部門の保全作業をするための保全領域とからな
ることを特徴とする。
つぎに、第2図〜第9図に示す図面を参照しな
がら本発明について説明する。第2図〜第8図は
本発明の一実施例を示す。第2図は本発明による
製造装置、特にウエハ処理装置の概略平面図を示
す。このウエハ処理装置は建屋全体あるいは一部
が一つの装置となつていて、その中には多くの装
置類が配置されている。すなわち、建屋の中央に
はその長手方向に沿つて搬送路12が配設されて
いる。また、この搬送路12はいくつも停止箇所
(図示〇印で示す。)13を有している。また、搬
送路12の両側にはそれぞれ複数の処理装置から
なる処理部門が複数配設されている。すなわち、
搬送路12の一側には2台の自動化されたCVD
装置14からなるCVD処理部門15、4台の自
動化された拡散装置16からなる拡散処理部門1
7、4台の自動化されたフオトレジスト感光装置
18からなる感光処理部門(露光処理部門)1
9、2台の自動化されたフオトエツチング装置2
0からなるエツチング処理部門21、2台の自動
化されたイオン打込装置22からなるイオン打込
処理部門23がそれぞれ並べて配設されている。
また、搬送路12の他側には2台の自動化された
蒸着装置24からなる蒸着処理部門25、3台の
自動化された検査装置26からなる検査処理部門
27、自動化されたストツカ28が配設されてい
る。また、ストツカ28の背面には、中央制御装
置29(コンピユータ)を配したガラス張りの室
からなる中央情報処理室30が配設されている。
また、ストツカ28および中央情報処理室30の
側方には空気調和除塵(空調除塵)機械室31が
広く設けられている。この空調除塵機械室31に
は空気を清浄化する図示しない装置が配設され、
この装置で建屋内全体の空気の清浄化を図つてい
る。特に図でハツチングを施こさない領域(ハツ
チング領域は各処理装置を修理調整する保全室と
なつている。)すなわち、搬送路12を設けた領
域、ストツカ28を設けた領域、各処理装置およ
び各処理装置の前面および搬送路12に対面する
それぞれの領域、すなわちクリーン室は一段と高
い空気清浄度に維持されている。なお、図中32
は扉を示す。
前記各処理部門17の各処理装置の数は同一の
処理でも工程によつてはたとえば処理雰囲気が異
なつたり、オートドーピングを防いだりすること
から同一装置を使用できないことによつて増加す
るとともに、建屋内全体のワークの流れを円滑に
行なわせるように各装置のバランスを考慮して決
定される。
また、搬送路12における停止箇所に対応する
各処理装置の一端にはワークを搬出入するローデ
イングステーシヨン(ローデイング位置)および
アンローデイングステーシヨン(アンローデイン
グ位置)がそれぞれ配設されている。そして、ロ
ーデイングステーシヨンに供給(搬入)されたワ
ークはそれぞれ鎖線矢印で示すように各処理装置
の処理部に自動的に運び込まれて所定の処理を施
こされた後、アンローデイングステーシヨンに戻
される。また停止箇所13はストツカ28にも対
面している。
一方、前記搬送路12上にはワーク(この場合
はウエハを収容したカートリツジ、たとえばウエ
ハを25枚並列に収容する公知の運搬用カートリツ
ジ)を複数保持して搬送する搬送装置(搬送機)
23が配設されている。この搬送装置33はたと
えば4台配設されて、個々は前記中央制御装置2
9に制御されて搬送路12上を移動する。また、
搬送路12の両端部には搬送装置待機ステーシヨ
ン34が設けられ、使用されない搬送装置33が
待機するようになつている。搬送装置33は第5
図〜第7図で示すように、台座35の下部に車輪
36を有し、無線によつて制御されて移動する。
また、台座35上の機機体37からは側方にワー
ク受けアーム38が設けられ、第5図で示すよう
に、ストツカ28から運び出されたワーク39を
載置支持し、第6図で示すように処理装置のロー
デイングステーシヨン40に移し変えるようにな
つている。(アンローデイングステーシヨンにあ
つてはワークを受け取る。なお、これら授受装置
は一般公知の装置、機構でよく、たとえば各処理
装置側に設ける。)。したがつて、ワーク受けアー
ム38は台座35上を回動するようにもなつてい
る。また、搬送装置33は搬送路12に沿つて移
動するが、搬送路12に沿つて張り付けられた光
学的・磁気的・機械的等に検出可能なテープを検
出しながら進み、たとえば、搬送路12の停止箇
所13をカウントして目的位置に進むようになつ
ている。
ストツカ28は第3図、第4図に示すように、
ワーク39を収容する複数の収容部41を有する
棚42と、この棚42の前面において昇降、左右
動自在なトランスフア機43とからなつている。
そして、トランスフア機43は中央制御装置29
の指令によつて、棚42の所定位置にあるワーク
39を取り出して搬送装置33に供給したり、あ
るいは搬送装置33に保持されているワーク39
を保持して棚の空収容部41に収容する。なお、
棚におけるワーク39の情報は全て中央制御装置
29で制御される。
つぎに、第8図のフローチヤートを参照しなが
らウエハ処理作業を説明する。まず、ストツカに
収容されているワーク(処理品種やロツト)全体
の確認を行なう(製品管理)。品種(製品)を確
認すれば、工程フローは決定しているので、つぎ
はどの処理を行なえばよいか判明する。また、各
処理部門における各処理装置の現在の作業状態を
確認して、その余裕度、仕掛状態を調べる。さら
に、各製品(ロツト)の優先順位を決定する。こ
れらの各作業は中央制御装置に記憶されている情
報に基づいて行なわれる。その後、空きライン
(各処理装置)の有無をチエツクし、このライン
を使用することのできるワーク(ロツト)がある
か否かをチエツクする。さらに、このワーク(ロ
ツト)は優先順位を結果的に損わないか否かをチ
エツクし、損わない場合には搬送装置およびトラ
ンスフア機を駆動させて、所定の処理装置にワー
クを運ぶ用意をさせる。
一方、これと併行して、完成したロツトがある
か否かをチエツクし、有る場合には搬送装置およ
びトランフア機を駆動させてワークを空収容部4
1に収容する。そして、全ラインのチエツクを完
了した後は、各処理装置、搬送装置、トランスフ
ア機を、常に作業進行予測を行ないながら動作さ
せる。
前記中央制御装置はワーク(ロツト)の工程管
理、製品管理ばかりでなく、各処理装置のプロセ
ス条件管理、プロセスデータ収集、さらには処理
装置のシーケンス制御群管理をも行なう。なお、
中央制御装置で全ての管理を行なうと、情報記憶
装置、計算量等が多くなり、装置が大型化するこ
とから、各処理装置、搬送装置、ストツカ等にも
小型の制御装置を内蔵させ、中央制御装置との間
で記憶、計算、制御等の各作業を分担させるよう
にしてもよい。
このような実施例によれば、つぎのような効果
が生じる。
(1) ワークに対して同一系統の作業は同一処理部
門の処理装置で行ない、各処理部門間は搬送装
置を用いて行なう、いわゆるフロウ・シヨツ
プ・タイプとし、これらを製品管理、工程管理
をも考慮して自動的に制御装置で管理するた
め、各処理装置は効率よく稼動し、かつロツト
も希望するロツトから順次ウエハ作業が完了す
ることになるので、作業性が極めて高くなる。
また、プロセス条件、プロセスモニタ等もコン
ピユータによつて制御されるため、高品質で安
定した処理が成される。
(2) この装置はジヨブ・シヨツプ・タイプをも一
部で採用したフロー・シヨツプ・タイプである
ことから敷地面積を従来に較べて狭くすること
ができる。
(3) ウエハの移動域には原則的には作業者は立ち
入らない。このため、従来多量の塵埃の発生源
である作業者がいないことによつてウエハの汚
染は減少し、歩留が向上する。
(4) 各処理装置は第2図のハツチング領域である
背面から修理調整されるため、高い清浄度空間
が狭くなり空気清浄化装置が従来に較べて小型
化できる。
従つて、空気清浄化装置を安価に設置するこ
とができるとともに、空気清浄化装置の運転に
要する費用を経済的にすることができる。
(5) この装置では全ての作業は自動化されている
ので、作業人員を低減できる。
(6) 本発明は処理部門のロード位置およびアンロ
ード位置が、CVD装置,拡散装置,フオトレ
ジスト感光装置などの処理装置自体のロード位
置およびアンロード位置となつており、被処理
ウエハの処理管理が処理装置ごとに可能とな
る。これによつて、被処理ウエハの管理が容易
となる。また、処理装置の変更が容易にでき
る。
なお、本発明は前記実施例に限定されない。す
なわち、処理部門はさらに多数であつてもよく、
各処理部門の処理装置数は実施例の数と異なつて
もよい。また、実施例では搬送装置は建屋内だけ
を移動するようにしてあるが、他の作業との連結
を考え、隣接する建屋に直接出入するようにして
もよい。また、各処理装置のローデイング位置お
よびアンローデイング位置は実施例では同一端に
設け、一つの移換装置を共用するようにしている
が、このローデイング位置およびアンローデイン
グ位置を自動化された処理装置をそれぞれ一端に
分けて配置するようにしてもよい。また、移換装
置には搬送装置の位置決め機構やワークの授受確
認機構を設ける。また、位置決めされた際、搬送
装置と処理装置がドツキングし、この状態で両者
間の情報の交換が行なわれるようにしてもよい。
また、移換装置はローラコンベア方式やプツシヤ
方式等があつてもよい。また、搬送装置は有線方
式でコントロールするようにしてもよい。また、
搬送装置は床上を走るタイプ以外であつてもよ
い。また、第9図に示すように、中央にストツカ
28を配し、その囲りを搬送装置33を回動さ
せ、各処理部門44にワークを搬送するようにし
てもよい。また、本発明はウエハ処理以外の技術
に適用できる。
以上のように、本発明の製造装置によれば、全
てコンピユータによつて製品管理、工程管理、処
理搬送管理等が行なわれるので、各処理部門は有
機的に制御されワークの流れがスムースになり、
所望のロツトから効率よく順次処理が行なわれ
る。このため、処理コストの低減が図れる。
また、本発明によれば、作業スペースと保全ス
ペースを分離させ、高清浄度ルームとしての作業
スペースを従来に較べて狭くすることができたこ
とから、空調除塵装置の小型化を図ることがで
き、設備費を軽減することができた。
また、本発明によれば、作業スペースには作業
者が立ち居らないことと、各処理装置の処理条件
等はコンピユータによつて適格に制御されること
から、微細処理も正確確実に行なえ、歩留も向上
する。
また、本発明によれば、処理装置の配置をジヨ
ブ・シヨツプ・タイプとフロー・タイプとを連結
した構成となつていることから、各ワークを効率
的に流せる。特に、このフロー・シヨツプ・タイ
プによれば、新製品系列でもコンピユータ内にデ
ータを追加するだけで旧来の製品と同様に合理化
されたラインとして流すことができる。また、新
プロセスを導入する場合でも、追加設備群として
取り扱えばスムースにラインに入れることができ
る。また、フロー・シヨツプ・タイプにすること
によつて、必要な敷地を狭くすることができる等
多くの効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のウエハ処理室を示すレイアウ
ト、第2図は本発明の製造装置の一実施例を示す
平面図、第3図は同じくストツカの正面図、第4
図は同じくストツカの側断面図、第5図は同じく
ストツカと搬送機を示す正面図、第6図は同じく
搬送機と処理装置群を示す正面図、第7図は同じ
く搬送機の側面図、第8図は同じく処理工程進行
制御フローチヤート、第9図は本発明の他の実施
例を示す平面図である。 1……拡散装置、2……拡散室、3……イオン
打込み装置、4……イオン打込み室、5……フオ
トエツチング装置、6……露光装置、7……フオ
トレジスト室、8……蒸着装置、9……CVD…
蒸着室、10……検査装置、11……検査室、1
2……搬送路、13……停止箇所、14……
CVD装置、15……CVD処理部門、16……拡
散装置、17……拡散処理部門、18……フオト
レジスト感光装置、19……感光処理部門、20
……フオトエツチング装置、21……エツチング
処理部門、22……イオン打込装置、23……イ
オン打込処理部門、24……蒸着装置、25……
蒸着処理部門、26……検査装置、27……検査
処理部門、28……ストツカ、29……中央制御
装置、30……中央情報処理室、31……空調除
塵機械室、32……扉、33……搬送装置、34
……搬送装置待期ステーシヨン、35……台座、
36……車輪、37……機体、38……ワーク受
けアーム、39……ワーク、40……ローデイン
グステーシヨン、41……収容部、42……棚、
43……トランスフア機、44……処理部門。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 直線状に延在する通路と、 前記通路に沿つて延在する搬送路と、 それぞれがロード位置およびアンロード位置を
    有し、少なくとも互いに異なつた処理を被処理物
    に施すことができる処理部門を含む複数の処理部
    門と、 前記複数の処理部門のそれぞれのロード位置と
    アンロード位置における被処理物を前記搬送路に
    沿つて移動させるための搬送装置とを有し、 前記各処理部門はその一端が前記通路に面する
    ように前記通路からその通路の延在方向と直角の
    方向に延在し、かつ互いに離間してなり、 前記複数の処理部門および前記通路は空気清浄
    度の高いクリーン領域からなり、 前記複数の処理部門を互いに離間する領域を含
    む前記クリーン領域を取り囲む領域で前記クリー
    ン領域に隣接するように配置された、空気清浄度
    が前記クリーン領域より低い、前記処理部門の保
    全作業をするための保全領域とからなることを特
    徴とする製造装置。 2 前記複数の処理部門のあるものは互いに前記
    通路を挾んで相対向する方向に延在してなること
    を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の製造装
    置。 3 前記搬送装置は前記通路の床上を走るもので
    あることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
    の製造装置。 4 前記各処理部門はその延在方向に沿つて中央
    に延びる作業スペースと、その作業スペースを挾
    むようにその両側に配置された処理装置とを含ん
    でなることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
    載の製造装置。 5 前記被処理物は半導体ウエハであつて、前記
    複数の処理部門は、CVD処理、拡散処理、露光
    処理、エツチング処理、およびイオン打込み処理
    をそれぞれ行なうものであることを特徴とする特
    許請求の範囲第1項、第2項、第3項あるいは第
    4項いずれか記載の製造装置。
JP9500479A 1979-07-27 1979-07-27 Manufacturing apparatus Granted JPS5619635A (en)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9500479A JPS5619635A (en) 1979-07-27 1979-07-27 Manufacturing apparatus
GB8023045A GB2056169B (en) 1979-07-27 1980-07-15 Manufacturing system for semiconductor devices
DE19803028283 DE3028283A1 (de) 1979-07-27 1980-07-25 Fertigungssystem
US06/477,895 US4544318A (en) 1979-07-27 1983-03-23 Manufacturing system
SG414/84A SG41484G (en) 1979-07-27 1984-06-04 Manufacturing system
HK359/85A HK35985A (en) 1979-07-27 1985-05-09 Manufacturing system
MY667/85A MY8500667A (en) 1979-07-27 1985-12-30 Manufacturing system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9500479A JPS5619635A (en) 1979-07-27 1979-07-27 Manufacturing apparatus

Related Child Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60235122A Division JPS61123150A (ja) 1985-10-23 1985-10-23 製造装置
JP60235123A Division JPS61123151A (ja) 1985-10-23 1985-10-23 製造装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5619635A JPS5619635A (en) 1981-02-24
JPS646540B2 true JPS646540B2 (ja) 1989-02-03

Family

ID=14125760

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9500479A Granted JPS5619635A (en) 1979-07-27 1979-07-27 Manufacturing apparatus

Country Status (7)

Country Link
US (1) US4544318A (ja)
JP (1) JPS5619635A (ja)
DE (1) DE3028283A1 (ja)
GB (1) GB2056169B (ja)
HK (1) HK35985A (ja)
MY (1) MY8500667A (ja)
SG (1) SG41484G (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0313837A (ja) * 1989-06-12 1991-01-22 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 排気弁の故障診断装置

Families Citing this family (60)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5821318A (ja) * 1981-07-28 1983-02-08 Toshiba Corp ウエハ搬送方式
JPS58134441A (ja) * 1982-02-04 1983-08-10 Fujitsu Ltd ウエハ処理装置
US4682927A (en) * 1982-09-17 1987-07-28 Nacom Industries, Incorporated Conveyor system
JPS5981034U (ja) * 1982-11-22 1984-05-31 日立プラント建設株式会社 ウエハ搬送装置
JPS60186572A (ja) * 1984-03-06 1985-09-24 Hinode Eng Kk 塗料の製造方法
JPS61283337A (ja) * 1985-06-06 1986-12-13 Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd 少量多品種化学製品の生産方法
US4943457A (en) * 1985-10-24 1990-07-24 Texas Instruments Incorporated Vacuum slice carrier
JPS63229836A (ja) * 1987-03-19 1988-09-26 Nikon Corp ウエハ検査装置
JPS63283141A (ja) * 1987-05-15 1988-11-21 Tokyo Electron Ltd 全自動プロ−バ遠隔操作システム
JP2559617B2 (ja) * 1988-03-24 1996-12-04 キヤノン株式会社 基板処理装置
JPH0756879B2 (ja) * 1988-03-31 1995-06-14 日鉄セミコンダクター株式会社 半導体の無塵化製造装置
US5024570A (en) * 1988-09-14 1991-06-18 Fujitsu Limited Continuous semiconductor substrate processing system
JPH07101706B2 (ja) * 1988-09-14 1995-11-01 富士通株式会社 ウェーハの連続処理装置及び連続処理方法
US5536128A (en) * 1988-10-21 1996-07-16 Hitachi, Ltd. Method and apparatus for carrying a variety of products
JP2528708B2 (ja) * 1989-03-14 1996-08-28 富士通株式会社 半導体製造装置
JP2941308B2 (ja) 1989-07-12 1999-08-25 株式会社日立製作所 検査システムおよび電子デバイスの製造方法
US6185324B1 (en) 1989-07-12 2001-02-06 Hitachi, Ltd. Semiconductor failure analysis system
JP2565786B2 (ja) * 1990-03-09 1996-12-18 三菱電機株式会社 自動搬送装置及び方法
DE9004208U1 (de) * 1990-04-11 1990-06-13 Groninger & Co Gmbh, 74564 Crailsheim Einrichtung zur Verarbeitung pharamzeutischer, kosmetischer o.dgl. Medien
JP2525284B2 (ja) * 1990-10-22 1996-08-14 ティーディーケイ株式会社 クリ―ン搬送方法及び装置
US5668056A (en) * 1990-12-17 1997-09-16 United Microelectronics Corporation Single semiconductor wafer transfer method and manufacturing system
JP3351802B2 (ja) * 1991-01-01 2002-12-03 忠弘 大見 薄膜形成装置
ATE129361T1 (de) * 1992-08-04 1995-11-15 Ibm Fertigungsstrasse architektur mit vollautomatisierten und rechnergesteuerten fördereinrichtungen geeignet für abdichtbaren tragbaren unter druck stehenden behältern.
US5865319A (en) * 1994-12-28 1999-02-02 Advantest Corp. Automatic test handler system for IC tester
JPH0936198A (ja) * 1995-07-19 1997-02-07 Hitachi Ltd 真空処理装置およびそれを用いた半導体製造ライン
US6672819B1 (en) 1995-07-19 2004-01-06 Hitachi, Ltd. Vacuum processing apparatus and semiconductor manufacturing line using the same
KR100487590B1 (ko) * 1995-08-21 2005-08-04 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 폴리싱장치
JPH08227925A (ja) * 1995-12-27 1996-09-03 Tokyo Electron Ltd プロービィング方法
US6267661B1 (en) * 1996-10-03 2001-07-31 Richard Archer Melville Apparatus and process for meat packing
JP2883596B2 (ja) * 1997-06-23 1999-04-19 株式会社日立製作所 真空処理装置及び基板の処理方法
GB9713390D0 (en) * 1997-06-26 1997-08-27 Trikon Equip Ltd Apparatus for processing workpieces
US6647303B1 (en) 1999-10-15 2003-11-11 Data I/O Corporation Feeder/programming/buffer control system and control method
NL1013569C2 (nl) * 1999-11-12 2001-05-15 Fico Bv Transportinrichting en werkwijze voor het verplaatsen van productdragers voor elektronische componenten.
US6892104B2 (en) * 2000-01-18 2005-05-10 Dell Products L.P. System and method for manufacturing products according to customer orders
US7096468B1 (en) * 2000-01-18 2006-08-22 Data I/O Corporation Programmer/feeder system task linking program
US6711798B2 (en) 2000-01-18 2004-03-30 Dell Products L.P. Method for manufacturing products according to customer orders
US6631606B2 (en) 2000-01-18 2003-10-14 Dell Products L.P. System and method for accommodating atypical customer requirements in a mass customization manufacturing facility
JP4915033B2 (ja) * 2000-06-15 2012-04-11 株式会社ニコン 露光装置、基板処理装置及びリソグラフィシステム、並びにデバイス製造方法
US6611727B2 (en) 2001-03-05 2003-08-26 Dell Products L.P. Method and system for simulating production within a manufacturing environment
US6505094B2 (en) 2001-03-05 2003-01-07 Dell Products L.P. System and method for shipping items from a distribution facility
US6529797B2 (en) 2001-03-05 2003-03-04 Dell Products L.P. System and method for automatically releasing collections of goods for shipment
US6634506B2 (en) 2001-03-05 2003-10-21 Dell Products L.P. Reusable container management system and method
US6560509B2 (en) 2001-03-05 2003-05-06 Dell Products L.P. System and method for automated management of a distribution facility
US6615092B2 (en) 2001-03-05 2003-09-02 Dell Products L.P. Method, system and facility for controlling resource allocation within a manufacturing environment
US6816746B2 (en) 2001-03-05 2004-11-09 Dell Products L.P. Method and system for monitoring resources within a manufacturing environment
US7076317B2 (en) * 2001-06-14 2006-07-11 Renesas Technology Corp. Method for manufacturing semiconductor device
US6847858B2 (en) 2001-12-05 2005-01-25 Dell Products L.P. System and method for managing release of goods for packaging
US6726429B2 (en) 2002-02-19 2004-04-27 Vertical Solutions, Inc. Local store for a wafer processing station
JP3966211B2 (ja) * 2002-05-08 2007-08-29 株式会社ニコン 露光方法、露光装置及びデバイス製造方法
US6962306B2 (en) * 2002-07-15 2005-11-08 West Ronald R Units for storing flexible elongated objects
US7778721B2 (en) 2003-01-27 2010-08-17 Applied Materials, Inc. Small lot size lithography bays
US7221993B2 (en) 2003-01-27 2007-05-22 Applied Materials, Inc. Systems and methods for transferring small lot size substrate carriers between processing tools
US6840367B2 (en) * 2003-06-16 2005-01-11 Richard R. Tucker Material handling and manufacturing system and method
US7239930B2 (en) 2005-05-24 2007-07-03 International Business Machines Corporation Method, system, and computer program product for improved flow of development lots in a manufacturing facility
US7305276B2 (en) 2005-10-31 2007-12-04 International Business Machines Corporation Method, system, and computer program product for controlling the flow of material in a manufacturing facility using an extended zone of control
KR101340110B1 (ko) * 2008-09-30 2013-12-10 가부시키가이샤 섬코 반도체 제조 공장
DE202012011690U1 (de) 2012-03-09 2013-03-13 Schneider Gmbh & Co. Kg Anlage zum Bearbeiten optischer Linsen
DE102015015040A1 (de) 2015-11-12 2017-05-18 Schneider Gmbh & Co. Kg Verfahren, Anlage und System zur Bearbeitung optischer Linsen
DE102016007837A1 (de) 2016-05-25 2017-11-30 Schneider Gmbh & Co. Kg Verfahren und System zur Bearbeitung optischer Linsen
DE102017001680A1 (de) 2017-02-22 2018-08-23 Schneider Gmbh & Co. Kg Anlage und Verfahren zur Bearbeitung optischer Linsen

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL103467C (ja) * 1959-05-12
US4015530A (en) * 1966-03-30 1977-04-05 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Two channel optical fuzing system
US3530571A (en) * 1967-12-15 1970-09-29 Cincinnati Milacron Inc Manufacturing system
US3765763A (en) * 1969-07-29 1973-10-16 Texas Instruments Inc Automatic slice processing
JPS5335316B2 (ja) * 1972-12-20 1978-09-26
US3889355A (en) * 1973-02-05 1975-06-17 Ibm Continuous processing system
JPS5332586B2 (ja) * 1973-01-19 1978-09-08
JPS5429797B2 (ja) * 1974-08-30 1979-09-26
US4015536A (en) * 1974-11-09 1977-04-05 Unitika Ltd. Transfer system
SU521197A1 (ru) * 1975-04-25 1976-07-15 Специализированная Проектно-Конструкторская Организация По Наладке Технологических Процессов Производства И Оказанию Помощи Предприятиям "Оргтехстром" Латвийской Сср Устройство дл точного адресовани передаточной тележки
US4030622A (en) * 1975-05-23 1977-06-21 Pass-Port Systems, Inc. Wafer transport system
JPS5943822B2 (ja) * 1976-09-17 1984-10-24 株式会社日立製作所 カ−トリツジからのウエハ自動引出装置
JPS5856251B2 (ja) * 1977-04-25 1983-12-14 ア−ルシ−エ− コ−ポレ−ション 複数基板の一括処理装置
US4282825A (en) * 1978-08-02 1981-08-11 Hitachi, Ltd. Surface treatment device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0313837A (ja) * 1989-06-12 1991-01-22 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 排気弁の故障診断装置

Also Published As

Publication number Publication date
US4544318A (en) 1985-10-01
GB2056169B (en) 1983-04-27
DE3028283A1 (de) 1981-02-19
MY8500667A (en) 1985-12-31
HK35985A (en) 1985-05-17
DE3028283C2 (ja) 1987-11-26
JPS5619635A (en) 1981-02-24
SG41484G (en) 1985-03-08
GB2056169A (en) 1981-03-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS646540B2 (ja)
EP0756315B1 (en) A resist processing apparatus and a resist processing method
CN102324397B (zh) 衬底处理系统以及衬底搬送方法
US7778721B2 (en) Small lot size lithography bays
JPS61123150A (ja) 製造装置
JP4816217B2 (ja) 塗布、現像装置、塗布、現像方法及び記憶媒体
US20100203434A1 (en) Substrate treatment method and substrate treatment system
CN101473416B (zh) 衬底处理系统以及衬底搬送方法
JPH0722490A (ja) ロット自動編成装置及び方法
US5972727A (en) Reticle sorter
US6457587B1 (en) Integrated reticle sorter and stocker
CN100452294C (zh) 基板处理装置的控制方法以及基板处理装置
US8412368B2 (en) Method and apparatus for routing dispatching and routing reticles
JP5183861B2 (ja) 小ロットサイズ基板キャリアを使用する方法および半導体デバイス製造施設
US20080294282A1 (en) Use of logical lots in semiconductor substrate processing
JPS61123151A (ja) 製造装置
US20080125900A1 (en) Method and apparatus for scheduling material transport in a semiconductor manufacturing facility
JP2850018B2 (ja) 半導体基板の連続処理システム
JP2002026106A (ja) 半導体装置製造施設
US6878895B1 (en) Reticle sorter
JPH096409A (ja) 生産ライン制御システム
KR20090067236A (ko) 반도체 제조설비 및 그의 카세트 이송방법
KR20020096528A (ko) 측면 인터페이스를 갖는 반도체 제조 설비
JPH0828320B2 (ja) ウエーハの写真製版処理設備及び写真製版処理方法