JPS61123150A - 製造装置 - Google Patents
製造装置Info
- Publication number
- JPS61123150A JPS61123150A JP23512285A JP23512285A JPS61123150A JP S61123150 A JPS61123150 A JP S61123150A JP 23512285 A JP23512285 A JP 23512285A JP 23512285 A JP23512285 A JP 23512285A JP S61123150 A JPS61123150 A JP S61123150A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- processing
- treating section
- work
- stocker
- control
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67763—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
- H01L21/67769—Storage means
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67703—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
- H01L21/67724—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations by means of a cart or a vehicule
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67703—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
- H01L21/67727—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations using a general scheme of a conveying path within a factory
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67703—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
- H01L21/67736—Loading to or unloading from a conveyor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Control Of Conveyors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は多品種の製品群を製・造するにあたって数工程
に亘る各処理作業にそれぞれ対応する処理装置群(Jo
b−5hop−Type)及び各処理装置群にワーク(
被処理物)を搬送する搬送機(搬送装置)を配し、多品
種のワークの処理順序。
に亘る各処理作業にそれぞれ対応する処理装置群(Jo
b−5hop−Type)及び各処理装置群にワーク(
被処理物)を搬送する搬送機(搬送装置)を配し、多品
種のワークの処理順序。
処理条件等を入力情報から自動的に求めて前記搬送機、
処理装置群等を制御゛シ、効率よく有機的にこれらを稼
動(Flow−5−hop−Type)させ製品!理、
工程管理の最適化を図った自動化された製造装置、特に
、半導体工業におけるウェハ(半導 以下余白 体薄板)0処理加工製置に関する。
処理装置群等を制御゛シ、効率よく有機的にこれらを稼
動(Flow−5−hop−Type)させ製品!理、
工程管理の最適化を図った自動化された製造装置、特に
、半導体工業におけるウェハ(半導 以下余白 体薄板)0処理加工製置に関する。
半導体装置、IC(集積回路)、LSI(大規模集積回
路)等の組立に用いる回路素子は一般に半導体小片(ペ
レット)で形成てれている。このイレットは薄い半導体
板(ウニ・・)K縦横に整列配置形成された回路素子領
域t−(−12:!境で分断することKよって得られる
。ウニ^に回路素子領域全作るKは極めて多くのi造工
程を必要とする。たとえば、シリコンウニ・・に所望の
不純物原子を含む領域を形成する工程についてみても、
(1)ウェーへを洗浄して清浄化する洗浄工程、(2)
ウニ・・を熱処理して弐面に酸化膜(sio*) t
−形成する酸化膜形成工程、(3)i!i!化膜上化膜
上ニレジストトレジスト・)を塗布しかつ乾燥するレジ
ストC布工程、(4)レジストを部分感光させる露光工
程、<5)感光しσストるるいは非感光レジストt一部
分的に除去するレジスト細分除去(エツチング)工L
(6)酸化膜上に部分的に残留するレジストをマスクと
して用いて露出する酸化膜を除去する酸化膜部分除去(
エツチング)工程、(7)酸化膜上の残留するレジスト
を除去するレジスト除去(エツチング)工程、(8)酸
化膜をマスクとして不純物雰囲気中にシリコンウニ八を
置くとか、CvD(気相化学成長)、蒸着、イオン打ち
込み等の技術で不純物原子t−露出するシリコン上に沈
着あるいは索届部に浸入させ、再び熱を加えて所望の深
場に不純物を拡散させる拡散工程、(9)クエへ表面の
不要酸化膜等を除去する除去(エツチング)工程等がる
る。また、前記レジスト塗布工程から始まり、(7)の
レジスト除去工程で終る技術は一般に写真蝕刻技術と呼
ばnているが、回路素子の形成にはこの技術が繰り返し
て使用される。すなわち、不純物拡散以外の配線層の形
成、ノッシイーションのための保漫膜形成等にも用いら
れる。
路)等の組立に用いる回路素子は一般に半導体小片(ペ
レット)で形成てれている。このイレットは薄い半導体
板(ウニ・・)K縦横に整列配置形成された回路素子領
域t−(−12:!境で分断することKよって得られる
。ウニ^に回路素子領域全作るKは極めて多くのi造工
程を必要とする。たとえば、シリコンウニ・・に所望の
不純物原子を含む領域を形成する工程についてみても、
(1)ウェーへを洗浄して清浄化する洗浄工程、(2)
ウニ・・を熱処理して弐面に酸化膜(sio*) t
−形成する酸化膜形成工程、(3)i!i!化膜上化膜
上ニレジストトレジスト・)を塗布しかつ乾燥するレジ
ストC布工程、(4)レジストを部分感光させる露光工
程、<5)感光しσストるるいは非感光レジストt一部
分的に除去するレジスト細分除去(エツチング)工L
(6)酸化膜上に部分的に残留するレジストをマスクと
して用いて露出する酸化膜を除去する酸化膜部分除去(
エツチング)工程、(7)酸化膜上の残留するレジスト
を除去するレジスト除去(エツチング)工程、(8)酸
化膜をマスクとして不純物雰囲気中にシリコンウニ八を
置くとか、CvD(気相化学成長)、蒸着、イオン打ち
込み等の技術で不純物原子t−露出するシリコン上に沈
着あるいは索届部に浸入させ、再び熱を加えて所望の深
場に不純物を拡散させる拡散工程、(9)クエへ表面の
不要酸化膜等を除去する除去(エツチング)工程等がる
る。また、前記レジスト塗布工程から始まり、(7)の
レジスト除去工程で終る技術は一般に写真蝕刻技術と呼
ばnているが、回路素子の形成にはこの技術が繰り返し
て使用される。すなわち、不純物拡散以外の配線層の形
成、ノッシイーションのための保漫膜形成等にも用いら
れる。
この:うにウニ^に各種処理を施こすウニ^処理におけ
る工程順路は各製品毎によって異なる。
る工程順路は各製品毎によって異なる。
最も効率のよい作業形態として工程順に沿って作業装置
設備を配置するいわゆる7cl・ショップ塁(plow
−3hOp −TYpe ) f:採用すれば、スム
ースにワークが流れる。しかし、各製品は独自に設備配
はt持つに足るようには大量に生産で塾ないのが一般で
ろる。仮りに、そのような大量生産ができる良品が存在
しても、半導体工業の発展は看しく、製品の移り変わり
は激しい。このため、その設備配置はすぐに陳腐化して
便えなくなる危険がある。そこで、従来は第1■に示す
ように、共通的な作業をする設備群f:まとめる配置、
いわゆるジョブ・シ目ツゾml(Job −5hop
−Type、)(同図において、複数のwA政装置1t
−配置した拡1&呈2、複数のイオン打込み装置3t−
配置したイオン打込み胆4、複数のフォトエツチング装
置5およびg装置16を配置したフォトレジスト呈7、
複数の蒸MI装置8等を配置したCVD′fA瘤呈9、
複数の検量装置(プローバ)10t−配置した検査N1
1等を配設する。)を採用し、各装#L群で一部 度に多数品桟のワークを処理する方法をとらざるへ を得ない。しかし、ウニへ処理では製法(数十方法)の
異なる多種(数百種類)のワークを大量(数万個)K同
時に−流すので、これを旨く管理して流すことは鐵しい
。その結果、1完(工期)は長くなり、かつ多数の作業
員を必要とする欠点がある。また、ウェーを処理する作
業空間は常に清浄に保つ必要がめるが、多勢の作業員が
処理室内を動き回るため、被服に付着し次ごみや床等に
付着するごみが舞い上がったりして飛散し、クエ/1が
汚染され、歩留が低下する。特に回路素子のバター/が
微細化するにつれて高い清浄度の作業空間が要求される
。
設備を配置するいわゆる7cl・ショップ塁(plow
−3hOp −TYpe ) f:採用すれば、スム
ースにワークが流れる。しかし、各製品は独自に設備配
はt持つに足るようには大量に生産で塾ないのが一般で
ろる。仮りに、そのような大量生産ができる良品が存在
しても、半導体工業の発展は看しく、製品の移り変わり
は激しい。このため、その設備配置はすぐに陳腐化して
便えなくなる危険がある。そこで、従来は第1■に示す
ように、共通的な作業をする設備群f:まとめる配置、
いわゆるジョブ・シ目ツゾml(Job −5hop
−Type、)(同図において、複数のwA政装置1t
−配置した拡1&呈2、複数のイオン打込み装置3t−
配置したイオン打込み胆4、複数のフォトエツチング装
置5およびg装置16を配置したフォトレジスト呈7、
複数の蒸MI装置8等を配置したCVD′fA瘤呈9、
複数の検量装置(プローバ)10t−配置した検査N1
1等を配設する。)を採用し、各装#L群で一部 度に多数品桟のワークを処理する方法をとらざるへ を得ない。しかし、ウニへ処理では製法(数十方法)の
異なる多種(数百種類)のワークを大量(数万個)K同
時に−流すので、これを旨く管理して流すことは鐵しい
。その結果、1完(工期)は長くなり、かつ多数の作業
員を必要とする欠点がある。また、ウェーを処理する作
業空間は常に清浄に保つ必要がめるが、多勢の作業員が
処理室内を動き回るため、被服に付着し次ごみや床等に
付着するごみが舞い上がったりして飛散し、クエ/1が
汚染され、歩留が低下する。特に回路素子のバター/が
微細化するにつれて高い清浄度の作業空間が要求される
。
一方、人間は本質的(最も効率の良い状態を永続するこ
とは難しく、1完長期化の原因ともなっている。
とは難しく、1完長期化の原因ともなっている。
そこで、従来クエ^処理工程の細部の個々の自動化を図
ることによって、各工程での作業の効率化、清浄作業空
間の維持による歩留の向上を図っている。また、工程の
運行管理情報処理をコンピユータ化することも一部では
行なわれている。
ることによって、各工程での作業の効率化、清浄作業空
間の維持による歩留の向上を図っている。また、工程の
運行管理情報処理をコンピユータ化することも一部では
行なわれている。
しかし、これらの装置では単一工程の自動化、コンピュ
ータ制御化でろって、単一製品の製造経路からみた場合
、製品管理が充分とは言えない。
ータ制御化でろって、単一製品の製造経路からみた場合
、製品管理が充分とは言えない。
また、ウェーは各自動機間あるいは処理空間を作業者に
よって運ばれることから、ウェーの汚染防止は充分とは
言えない。特〈ウェーの移!!IJ経路中に作業者が存
在することが汚染を充分に防げない致命的な原因となっ
ている。
よって運ばれることから、ウェーの汚染防止は充分とは
言えない。特〈ウェーの移!!IJ経路中に作業者が存
在することが汚染を充分に防げない致命的な原因となっ
ている。
したがって、本発明の目的はウェハ処理等のワークの処
理を無人化肢置内で処理することくよってワークの汚染
を防止するとともに、ワークの一連の作業を有機的に制
厘して、多品種多数の7−クの製品管理を行なうこと(
よって、製品の二完短起、歩留向上、作業人員低@を図
ることKある。
理を無人化肢置内で処理することくよってワークの汚染
を防止するとともに、ワークの一連の作業を有機的に制
厘して、多品種多数の7−クの製品管理を行なうこと(
よって、製品の二完短起、歩留向上、作業人員低@を図
ることKある。
また、本発明の他の目的は各処理装置#全集約すること
によって設備の据付けに必要な敷地を小さくすることに
るる。
によって設備の据付けに必要な敷地を小さくすることに
るる。
このような目的を達成するために本発明は、被処理物を
自動的に搬送して所定の処理を施す処理装置をそれぞれ
少なくとも一台有し被処理物に対してそれぞれ異なった
処理を施す複数の処理部門と、各処理装置間を結ぶ搬送
路と、前記搬送路に沿って移動して各処理装置に移動す
る被処理物を収容保持する搬送装置と、各処理装置と搬
送装置との間で被処理物を移換する移換装置と、前記各
処理装置、搬送装置、移換装置を制御する制御装置と、
前記制御装置を制御して製品管理を行う中央制御装置と
を備えるものである。
自動的に搬送して所定の処理を施す処理装置をそれぞれ
少なくとも一台有し被処理物に対してそれぞれ異なった
処理を施す複数の処理部門と、各処理装置間を結ぶ搬送
路と、前記搬送路に沿って移動して各処理装置に移動す
る被処理物を収容保持する搬送装置と、各処理装置と搬
送装置との間で被処理物を移換する移換装置と、前記各
処理装置、搬送装置、移換装置を制御する制御装置と、
前記制御装置を制御して製品管理を行う中央制御装置と
を備えるものである。
つぎに、第2f!i!!l−第9図に示す図面を参照し
ながら本発明について説明する。第2図〜w48図は本
発明の一実施例を示す。第2図は本発明による製造装置
、特にウニI%JJ、−理装置の概略平面圀を示す。こ
のウェハ処理装置はa腫全体あるいは一部が−りの装置
となっていて、その中には多くの襄匁類が配置されてい
る。すなわち、建屋の中央に以下余白 はその長手方向に沿って搬送′#!I12が配設されて
いる。t ft、この搬送[12はいくつも停止箇所(
図示O印で示す。)13′t−有している。ま九、搬送
w112の両側にはそれぞれ複数の処理装置からなる処
理部門が複数配設されている。すなわち、搬送路12の
一側には2台の自動化されたCVD装置14からなるC
YD処理部門15.4台の自動化された拡散装置16か
らなる拡散処理部門17.4台の自動化石れ穴フォトレ
ジスト感光装置18からなる感光処理部門(fi党処理
部門)19.2台の自動化され次フォトエツチング装置
20からなるエツチング処理部門21.2台の自動化さ
れたイオン打込装e、22からなるイオン打込処理部門
23がそれぞれ並にて配設されている。
ながら本発明について説明する。第2図〜w48図は本
発明の一実施例を示す。第2図は本発明による製造装置
、特にウニI%JJ、−理装置の概略平面圀を示す。こ
のウェハ処理装置はa腫全体あるいは一部が−りの装置
となっていて、その中には多くの襄匁類が配置されてい
る。すなわち、建屋の中央に以下余白 はその長手方向に沿って搬送′#!I12が配設されて
いる。t ft、この搬送[12はいくつも停止箇所(
図示O印で示す。)13′t−有している。ま九、搬送
w112の両側にはそれぞれ複数の処理装置からなる処
理部門が複数配設されている。すなわち、搬送路12の
一側には2台の自動化されたCVD装置14からなるC
YD処理部門15.4台の自動化された拡散装置16か
らなる拡散処理部門17.4台の自動化石れ穴フォトレ
ジスト感光装置18からなる感光処理部門(fi党処理
部門)19.2台の自動化され次フォトエツチング装置
20からなるエツチング処理部門21.2台の自動化さ
れたイオン打込装e、22からなるイオン打込処理部門
23がそれぞれ並にて配設されている。
また、搬送路12の他側には2台の自動化された蒸着装
置24からなる蒸着処理部門25.3台の自動化された
倹査装[26からなる検査処理部門27、自動化され九
ストッカ28が配設されている。また、ストッカ28の
背面には、中央制御鯨[29(コンピュータ)を配した
ガラス張りの室からなるψ央情報処理宝30が配設嘔れ
ている。
置24からなる蒸着処理部門25.3台の自動化された
倹査装[26からなる検査処理部門27、自動化され九
ストッカ28が配設されている。また、ストッカ28の
背面には、中央制御鯨[29(コンピュータ)を配した
ガラス張りの室からなるψ央情報処理宝30が配設嘔れ
ている。
また、ストッカ28お工び中央情報処理室30の側方に
は空気調和除塵(空調除塵)機械室31が広く設けられ
ている。この空調除塵機械室31K。
は空気調和除塵(空調除塵)機械室31が広く設けられ
ている。この空調除塵機械室31K。
は空気を清浄化する図示しない!!置が配設され、この
i&置で建屋内全体の空気の清浄化を図っている。@に
図で・・ツチンメt−施こさない領域(・・ツチング領
域Fi冬処理′装置を修理調整する保全室となっている
。)すなわち、搬送路121に:設けた領域、ストッカ
2B’i設けた領域、各処理装置および各処理装置の前
面お二び搬送路1zに対面するそれぞれの領域は一段と
高い空気清浄度て維持嘔れている。なお、図中32はn
t−示す。
i&置で建屋内全体の空気の清浄化を図っている。@に
図で・・ツチンメt−施こさない領域(・・ツチング領
域Fi冬処理′装置を修理調整する保全室となっている
。)すなわち、搬送路121に:設けた領域、ストッカ
2B’i設けた領域、各処理装置および各処理装置の前
面お二び搬送路1zに対面するそれぞれの領域は一段と
高い空気清浄度て維持嘔れている。なお、図中32はn
t−示す。
前記各処理部門17の各処理製置の数は同一の処理でも
工程によってはたとえば処理雰囲気が異なつ次り、オー
トドーピングを防いだりすることから同一装置を使用で
きないことによって増加するとともに、建屋内全体のワ
ークの流れを円滑に行なわせるように各装置のバランス
を考証して決定される。
工程によってはたとえば処理雰囲気が異なつ次り、オー
トドーピングを防いだりすることから同一装置を使用で
きないことによって増加するとともに、建屋内全体のワ
ークの流れを円滑に行なわせるように各装置のバランス
を考証して決定される。
また、搬送路12における停止箇所に対応する昼処理装
はの一端にはワークを搬出入するローディングステーシ
ョン(ローディング位ff1i)およびアン筒−ティン
メスチージョン(アンローディング位置)がそれ七tL
配設てれている。セして、ローディングステーションに
供給(搬入)ぢ8次ワークはそれぞれ鎖線矢印で示すよ
うに咎処理装置の処理部に自動的に運び込まれて所定の
処理t−施嘔几る。lt停止箇所13はストッカ28に
も対面している。
はの一端にはワークを搬出入するローディングステーシ
ョン(ローディング位ff1i)およびアン筒−ティン
メスチージョン(アンローディング位置)がそれ七tL
配設てれている。セして、ローディングステーションに
供給(搬入)ぢ8次ワークはそれぞれ鎖線矢印で示すよ
うに咎処理装置の処理部に自動的に運び込まれて所定の
処理t−施嘔几る。lt停止箇所13はストッカ28に
も対面している。
一方、f1紀搬送路12上にはワーク(この場せはクエ
へを収容したカートリッジ、たとえば゛クエ^を25枚
並列に収容する公知の運搬用ガー) ラック)を複数保
持して搬送する搬送装置(搬送機)23が配設されてい
る。この搬送装[33に九とえば4台配設ぢnて、個々
は前記〒犬制@装置29に制御されて搬送路12上t−
移動する。1次、搬送路12の両端部には搬送装置待機
ステーション34が設けられ、使用嘔れない搬送装置3
3が待機するよう罠なっている。搬送装置33は第5図
〜wI7図で示すように、台座35の下部に単輪36t
−有し、無線によって制御きれて移動する。
へを収容したカートリッジ、たとえば゛クエ^を25枚
並列に収容する公知の運搬用ガー) ラック)を複数保
持して搬送する搬送装置(搬送機)23が配設されてい
る。この搬送装[33に九とえば4台配設ぢnて、個々
は前記〒犬制@装置29に制御されて搬送路12上t−
移動する。1次、搬送路12の両端部には搬送装置待機
ステーション34が設けられ、使用嘔れない搬送装置3
3が待機するよう罠なっている。搬送装置33は第5図
〜wI7図で示すように、台座35の下部に単輪36t
−有し、無線によって制御きれて移動する。
1 fc %台座35上の機体37からは側方にワーク
受はアーム38が設けられ、第5図で示すように、スト
ッカ28から運び比重れ次ワーク39を載置支持し、第
60で示すように処m装置のローディングステーション
40に移し変えるようになっている。(アンローディン
グステーションVc6つてはワークを受は取る。なお、
これら授受装置は一般公知の装置、機構でよ<、次とえ
は各処理装置側に設ける。)。し九がって、ワーク受は
アーム38は台座35上を回動するようにもなっている
。
受はアーム38が設けられ、第5図で示すように、スト
ッカ28から運び比重れ次ワーク39を載置支持し、第
60で示すように処m装置のローディングステーション
40に移し変えるようになっている。(アンローディン
グステーションVc6つてはワークを受は取る。なお、
これら授受装置は一般公知の装置、機構でよ<、次とえ
は各処理装置側に設ける。)。し九がって、ワーク受は
アーム38は台座35上を回動するようにもなっている
。
また、搬送装fi33は搬送路12に沿って移動するが
、搬送路12に沿って張り付けられた光学的・磁気的・
機械的等に検出可能なテープを検出しながら進み、たと
えば、搬送路12の停止箇所13をカウントして目的位
置く進むようになっている。
、搬送路12に沿って張り付けられた光学的・磁気的・
機械的等に検出可能なテープを検出しながら進み、たと
えば、搬送路12の停止箇所13をカウントして目的位
置く進むようになっている。
ストッカ2Bは第3図、第4図に示すように、ワーク3
9に収容する複数の収容部41t−有する棚42と、こ
の棚42の前面において昇降、左右動自在なトランスフ
ァ1a43とからなっている。
9に収容する複数の収容部41t−有する棚42と、こ
の棚42の前面において昇降、左右動自在なトランスフ
ァ1a43とからなっている。
そして、トランス77機43は中央制御装置290指令
によって、棚420所足位置にあるワーク39を取り出
して厳送装933に供給したし、あるいは搬送装置33
に保持嘔れているワーク39を保持して棚の空状容部4
1に収容する。なお、棚におけるワーク39の情報は全
て中央制御装置29で制御される。
によって、棚420所足位置にあるワーク39を取り出
して厳送装933に供給したし、あるいは搬送装置33
に保持嘔れているワーク39を保持して棚の空状容部4
1に収容する。なお、棚におけるワーク39の情報は全
て中央制御装置29で制御される。
つざKX第8図のフローチャートを参照しな・がら9.
1八処理作業t−aqする。まず、ストッカに収容され
ているワーク(処理品種やロフト)全体の確認を行なう
(製品管理)。品株(製品)t−確認すれは、工程フロ
ーは決定しているので、つぎはどの処理を行なえばよい
か判明する。また、各処理部門における各処理装置の現
在の作業状態を確認して、その余裕度、仕掛状at−調
べる。さらに、各製品(cIノットの優先順位を決定す
る。4これらの各作業は中央制御装置に記憶されている
情報に基づいて行なわれる。その後、空きライン(各処
理装置)の有無をチェックし、このラインを使用するこ
とのでさるワーク(ロット)があるか否かをチェックす
る。さらに、このワーク(eIフットは優先J@位を結
果的に損わないか否かをチェックし、損わない場合には
搬送装置およびトランスファ機t−駆動させて、所定の
処理装filKワークを運ぶ用21−嘔せる。
1八処理作業t−aqする。まず、ストッカに収容され
ているワーク(処理品種やロフト)全体の確認を行なう
(製品管理)。品株(製品)t−確認すれは、工程フロ
ーは決定しているので、つぎはどの処理を行なえばよい
か判明する。また、各処理部門における各処理装置の現
在の作業状態を確認して、その余裕度、仕掛状at−調
べる。さらに、各製品(cIノットの優先順位を決定す
る。4これらの各作業は中央制御装置に記憶されている
情報に基づいて行なわれる。その後、空きライン(各処
理装置)の有無をチェックし、このラインを使用するこ
とのでさるワーク(ロット)があるか否かをチェックす
る。さらに、このワーク(eIフットは優先J@位を結
果的に損わないか否かをチェックし、損わない場合には
搬送装置およびトランスファ機t−駆動させて、所定の
処理装filKワークを運ぶ用21−嘔せる。
一方、これと併行して、完成し九ロットがあるか否かを
チェックし、−有る場合には搬送装置およびトランスフ
ァSを駆動嘔ぜてワークを空状容部41に収容する。そ
して、全ラインのチェックを完了した後は、各処理装置
、搬送装置、トランスファ機を、常に作業進行予測を行
ないながら動作嘔ぜる。
チェックし、−有る場合には搬送装置およびトランスフ
ァSを駆動嘔ぜてワークを空状容部41に収容する。そ
して、全ラインのチェックを完了した後は、各処理装置
、搬送装置、トランスファ機を、常に作業進行予測を行
ないながら動作嘔ぜる。
前記中央制御装置はワーク(0ツト)の工程管理、製品
管:E!!はかりでなく、各処m装置のプロセス条件管
理、グ1七スT−タ収果、さらには処理装置のシーク/
ス制御群管理をも行なう。なお、中央制御装置で全ての
管理を行なうと、情報記憶@置、計算量等が多くなり、
装置が大型化することから、各処理装置、以送装謹、ス
トッカ等にも小型の制侮装gLt内叔させ、中央制御装
置との間で記は、計算、制御等の各作業を分担嘔ぜるよ
うにしてもよい。
管:E!!はかりでなく、各処m装置のプロセス条件管
理、グ1七スT−タ収果、さらには処理装置のシーク/
ス制御群管理をも行なう。なお、中央制御装置で全ての
管理を行なうと、情報記憶@置、計算量等が多くなり、
装置が大型化することから、各処理装置、以送装謹、ス
トッカ等にも小型の制侮装gLt内叔させ、中央制御装
置との間で記は、計算、制御等の各作業を分担嘔ぜるよ
うにしてもよい。
このような実施向くよれば、つぎのような効果が生じる
。
。
a) ワークに対して同一系統の作業は同一処理部門の
処理g&置で行ない、各処理部門間は搬送装置を用いて
行なう、いわゆる70つ・ショップ・タイプとし、これ
らt−製品V端、工程管理をも考慮して自動的に制御装
置で管理するため、各処理装置は効率よく稼動し、かつ
ロフトも希望するロットからIIUIKウェハ作業が完
了することになるので、作業性が極めて高くなる。また
、グロ七ス条件、7110七ス七ニタ等モコンピュータ
によって制御されるため、高品質で安定した処理が成嘔
れる。
処理g&置で行ない、各処理部門間は搬送装置を用いて
行なう、いわゆる70つ・ショップ・タイプとし、これ
らt−製品V端、工程管理をも考慮して自動的に制御装
置で管理するため、各処理装置は効率よく稼動し、かつ
ロフトも希望するロットからIIUIKウェハ作業が完
了することになるので、作業性が極めて高くなる。また
、グロ七ス条件、7110七ス七ニタ等モコンピュータ
によって制御されるため、高品質で安定した処理が成嘔
れる。
(2) この装置はジョグ・ショップ・タイプをも一部
で採用した70−・ショップ・タイプでるることから敷
地面積を従来に較べて狭くすることができる。
で採用した70−・ショップ・タイプでるることから敷
地面積を従来に較べて狭くすることができる。
(3) クエ・・の移動域には原則的には作業者は立
ち入らない。このため、従来多量の一部の発生源でめる
作業者がいないことによってクエへの汚染は減少し、歩
留が向上する。
ち入らない。このため、従来多量の一部の発生源でめる
作業者がいないことによってクエへの汚染は減少し、歩
留が向上する。
(4) 各処理装置は第2図のハツチング領域である
背面から6理調柾されるため、高い清浄度空間が狭くな
り空気清浄化装置が従来に較べて小型化できる。
背面から6理調柾されるため、高い清浄度空間が狭くな
り空気清浄化装置が従来に較べて小型化できる。
(5) この装置では全ての作業は自動化されている
ので、作業人員を低減できる。
ので、作業人員を低減できる。
なお1不発明は前記実施向に1a走されない。すなわち
、処理部門はさらに多数であってもよく、各処理部門の
処理装置数は実施向の数と異なってもよい。また、実施
向では搬送fc置はa朧内だけを移動するよりにしであ
るが、他の作業との連結を考え、隣掛する建屋に直接出
入するよ5Kt、てもよい。また、各処理装置のローデ
ィング位置およびアンは−ディング位置は実施向では同
一端に設け、一つの移換装rlLを共用するようにして
いる。
、処理部門はさらに多数であってもよく、各処理部門の
処理装置数は実施向の数と異なってもよい。また、実施
向では搬送fc置はa朧内だけを移動するよりにしであ
るが、他の作業との連結を考え、隣掛する建屋に直接出
入するよ5Kt、てもよい。また、各処理装置のローデ
ィング位置およびアンは−ディング位置は実施向では同
一端に設け、一つの移換装rlLを共用するようにして
いる。
が、この四−ディング位置およびアンローディング位−
を自動化され次処理装置をそれぞれ一端に分けて配置す
るようにしてもよい。また、移換装置には搬送装置のt
fL置決め機構やワークの授受確認機41tを設ける。
を自動化され次処理装置をそれぞれ一端に分けて配置す
るようにしてもよい。また、移換装置には搬送装置のt
fL置決め機構やワークの授受確認機41tを設ける。
また、位置決めされた際、搬送装置と処理装置がドラヤ
ングし、この状態で両者。
ングし、この状態で両者。
間の情報の交換が行なわれるようKしてもよい。
1次、移換装置はローラコンベア方式やグツシャ方式等
で6ってもよい。また、搬送装置は有線方式でコントロ
ールする:うKしてもよい。また、搬送装置は床上t−
走るタイプ以外であってもよい。
で6ってもよい。また、搬送装置は有線方式でコントロ
ールする:うKしてもよい。また、搬送装置は床上t−
走るタイプ以外であってもよい。
また、第9図に示すように、中央にストッカ28を配し
、その囲りt−搬送装置33七回動させ、各処理部門4
4にワークを搬送するよう和してもよい。ま九、本発明
はクエハ処理以外の技術に適用できる。
、その囲りt−搬送装置33七回動させ、各処理部門4
4にワークを搬送するよう和してもよい。ま九、本発明
はクエハ処理以外の技術に適用できる。
以上のように、不発明の製造装置によれば、全てコンピ
ュータによって製品管理、工程管理、処理!!2送′:
!理等が行なわれるので、各処理部門は有機的に制御さ
れワークの流れがスムースになり、所曽の一ット刀為ら
効:J−よくツム欠処理が行なわれる。
ュータによって製品管理、工程管理、処理!!2送′:
!理等が行なわれるので、各処理部門は有機的に制御さ
れワークの流れがスムースになり、所曽の一ット刀為ら
効:J−よくツム欠処理が行なわれる。
この友め、処理コスト(Dt減が図れる。
’!、九、本発明によれば、作業スペースと保全スペー
ス七分離させ、高清浄度ルームとしての作業スペースt
−従来に較べて狭くすることができ九ことから、!2調
除塵装置の小型化を図ることができ、設備費を@滅する
ことができた。
ス七分離させ、高清浄度ルームとしての作業スペースt
−従来に較べて狭くすることができ九ことから、!2調
除塵装置の小型化を図ることができ、設備費を@滅する
ことができた。
ま友、本発明によれば、作業スペースには作業者が立ち
居らないことと、各処理*iの処理条件等はコンピュー
タによって適格に制御てれることから、微細処理も正確
確実に行なえ、歩留も同上する。
居らないことと、各処理*iの処理条件等はコンピュー
タによって適格に制御てれることから、微細処理も正確
確実に行なえ、歩留も同上する。
また、本発明によれば、処理&置の配gttジョブ・シ
ョップ・タイプとフロー・タイプとを連結し7?、構成
となっていることから、各ワークt9jJ率的に流せる
。%に、このフトーショップ・タイプによれば、新製品
系列でもコンピュータ内にデータを追加するだけで旧来
の製品と同様に合理化されたラインとして流すことがで
きる。lた、新プロセスを導入する場合でも、追加設備
群とじて取り扱えばスムースにラインに入れることがで
きる。’!7t、70−・ショップ・タイプにすること
によって、必g1な敷jl狭くすることができる等多く
の効果I−奏する。
ョップ・タイプとフロー・タイプとを連結し7?、構成
となっていることから、各ワークt9jJ率的に流せる
。%に、このフトーショップ・タイプによれば、新製品
系列でもコンピュータ内にデータを追加するだけで旧来
の製品と同様に合理化されたラインとして流すことがで
きる。lた、新プロセスを導入する場合でも、追加設備
群とじて取り扱えばスムースにラインに入れることがで
きる。’!7t、70−・ショップ・タイプにすること
によって、必g1な敷jl狭くすることができる等多く
の効果I−奏する。
wJIISJは従来のウニ八処理室を示すレイアウト、
第20は本発明の艮造装置の一実施例を示す平面図、第
3図は同じくストッカの正面図、第4図は同じくストッ
カの側断面図、第5図は同じくストッカと搬送at−示
す正面図、第6図は同じく搬送機と処理装置Wt−示す
正面図、第7図は同じく搬送機の側面図、第8図は同じ
く処理工程進行制御フローチャート、第9図は本発明の
他の爽應例を示す平面図である。 1・・・拡散装置、2・・・拡散室、3・・・イオン打
込み装置、4・・・イオン打込み室、5・・・フォトエ
ツチング装置、6−・・露光装置、7・・・・フォトレ
ジスト室、8・・・蒸着装置、9・−CV D・・・蒸
着型、10・・・検査装置、11・・・検31室、12
・・・搬送路、13・・・停止箇所、14−(、/D張
装置15−CVD処理部門、16・・・拡散装置、17
・・・拡散処理部門、18・・・フォトレジスト感光装
置、19・・・感光処理部門、20・・・フォトエツチ
ング装置、21・・・エツチング処理部門、22・・・
イオン打込611.23・・・イオン打込処理部門、2
4・・・蒸着装置、25・・・蒸着処理部門、26・・
・検査装置、27・・・検査処理部門、28・・・スト
ッカ、29・・・中央制御装置、3o・・・中/、35
・・・台座、36・・・車輪、37・・・機体、38・
・・ワーク受はアーム、39・・・ワーク、4o・・・
0−ディングステーション、41・・・収容部、42・
・・棚、43・・・トランスファ機、44・・・処理部
門。 第 3[21 ′yA40 第 6 (2) ¥57 口
第20は本発明の艮造装置の一実施例を示す平面図、第
3図は同じくストッカの正面図、第4図は同じくストッ
カの側断面図、第5図は同じくストッカと搬送at−示
す正面図、第6図は同じく搬送機と処理装置Wt−示す
正面図、第7図は同じく搬送機の側面図、第8図は同じ
く処理工程進行制御フローチャート、第9図は本発明の
他の爽應例を示す平面図である。 1・・・拡散装置、2・・・拡散室、3・・・イオン打
込み装置、4・・・イオン打込み室、5・・・フォトエ
ツチング装置、6−・・露光装置、7・・・・フォトレ
ジスト室、8・・・蒸着装置、9・−CV D・・・蒸
着型、10・・・検査装置、11・・・検31室、12
・・・搬送路、13・・・停止箇所、14−(、/D張
装置15−CVD処理部門、16・・・拡散装置、17
・・・拡散処理部門、18・・・フォトレジスト感光装
置、19・・・感光処理部門、20・・・フォトエツチ
ング装置、21・・・エツチング処理部門、22・・・
イオン打込611.23・・・イオン打込処理部門、2
4・・・蒸着装置、25・・・蒸着処理部門、26・・
・検査装置、27・・・検査処理部門、28・・・スト
ッカ、29・・・中央制御装置、3o・・・中/、35
・・・台座、36・・・車輪、37・・・機体、38・
・・ワーク受はアーム、39・・・ワーク、4o・・・
0−ディングステーション、41・・・収容部、42・
・・棚、43・・・トランスファ機、44・・・処理部
門。 第 3[21 ′yA40 第 6 (2) ¥57 口
Claims (1)
- 1、被処理物を自動的に搬送して所定の処理を施す処理
装置をそれぞれ少なくとも一台有し被処理物に対してそ
れぞれ異なった処理を施す複数の処理部門と、各処理装
置間を結ぶ搬送路と、前記搬送路に沿って移動して各処
理装置に移動する被処理物を収容保持する搬送装置と、
各処理装置と搬送装置との間で被処理物を移換する移換
装置と、前記各処理装置、搬送装置、移換装置を制御す
る制御装置と、前記制御装置を制御して製品管理を行う
中央制御装置とを備える製造装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23512285A JPS61123150A (ja) | 1985-10-23 | 1985-10-23 | 製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23512285A JPS61123150A (ja) | 1985-10-23 | 1985-10-23 | 製造装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9500479A Division JPS5619635A (en) | 1979-07-27 | 1979-07-27 | Manufacturing apparatus |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61123150A true JPS61123150A (ja) | 1986-06-11 |
Family
ID=16981376
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23512285A Pending JPS61123150A (ja) | 1985-10-23 | 1985-10-23 | 製造装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61123150A (ja) |
Cited By (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6387738A (ja) * | 1986-09-30 | 1988-04-19 | Tokyo Electron Ltd | プローバの制御方法 |
JPS63190122U (ja) * | 1987-05-20 | 1988-12-07 | ||
JPH01251606A (ja) * | 1988-03-30 | 1989-10-06 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | ウエハ処理装置 |
JPH01302738A (ja) * | 1988-05-31 | 1989-12-06 | Toshiba Corp | 自動生産指示システム |
JPH022605A (ja) * | 1987-12-23 | 1990-01-08 | Texas Instr Inc <Ti> | 自動化フォトリソグラフィック・ワーク・セル |
JPH02132840A (ja) * | 1988-02-12 | 1990-05-22 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置及びレジスト処理装置及び処理方法及びレジスト処理方法 |
JPH02155251A (ja) * | 1988-12-07 | 1990-06-14 | Tokyo Electron Ltd | 半導体製造装置 |
JPH02265255A (ja) * | 1989-04-06 | 1990-10-30 | Tokyo Electron Ltd | プローブ装置システム |
JPH0334441A (ja) * | 1989-06-30 | 1991-02-14 | Fujitsu Ltd | 半導体基板の連続処理システム |
US5339128A (en) * | 1988-02-12 | 1994-08-16 | Tokyo Electron Limited | Resist processing method |
US5371940A (en) * | 1991-05-24 | 1994-12-13 | Fujitsu Limited | Pallet arranging system |
JPH08227930A (ja) * | 1988-02-12 | 1996-09-03 | Tokyo Electron Ltd | 製造装置及び製造方法 |
JPH08227927A (ja) * | 1988-02-12 | 1996-09-03 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置 |
JPH08227929A (ja) * | 1988-02-12 | 1996-09-03 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置 |
JPH08255824A (ja) * | 1988-02-12 | 1996-10-01 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置 |
JPH08255823A (ja) * | 1988-02-12 | 1996-10-01 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置 |
US5584118A (en) * | 1991-05-24 | 1996-12-17 | Fujitsu Limited | Production control with centralized physical distribution control between storage and production cells |
US6264705B1 (en) * | 1996-11-19 | 2001-07-24 | Tokyo Electron Limited | Processing system |
US6287067B1 (en) | 1996-06-21 | 2001-09-11 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Processing unit and processing unit structure by assembling thereof |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS49107678A (ja) * | 1973-02-05 | 1974-10-12 | ||
JPS5336478A (en) * | 1976-09-17 | 1978-04-04 | Hitachi Ltd | Automatic lead-out device for wafer from cartridge |
JPS53137670A (en) * | 1977-04-25 | 1978-12-01 | Rca Corp | Device for simultaneously treating plural substrates |
-
1985
- 1985-10-23 JP JP23512285A patent/JPS61123150A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS49107678A (ja) * | 1973-02-05 | 1974-10-12 | ||
JPS5336478A (en) * | 1976-09-17 | 1978-04-04 | Hitachi Ltd | Automatic lead-out device for wafer from cartridge |
JPS53137670A (en) * | 1977-04-25 | 1978-12-01 | Rca Corp | Device for simultaneously treating plural substrates |
Cited By (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6387738A (ja) * | 1986-09-30 | 1988-04-19 | Tokyo Electron Ltd | プローバの制御方法 |
JPH067568B2 (ja) * | 1986-09-30 | 1994-01-26 | 東京エレクトロン株式会社 | プローバの制御方法 |
JPS63190122U (ja) * | 1987-05-20 | 1988-12-07 | ||
JPH022605A (ja) * | 1987-12-23 | 1990-01-08 | Texas Instr Inc <Ti> | 自動化フォトリソグラフィック・ワーク・セル |
JPH08227929A (ja) * | 1988-02-12 | 1996-09-03 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置 |
JPH08255823A (ja) * | 1988-02-12 | 1996-10-01 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置 |
JPH02132840A (ja) * | 1988-02-12 | 1990-05-22 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置及びレジスト処理装置及び処理方法及びレジスト処理方法 |
JPH08255824A (ja) * | 1988-02-12 | 1996-10-01 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置 |
JPH08227927A (ja) * | 1988-02-12 | 1996-09-03 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置 |
JPH08227930A (ja) * | 1988-02-12 | 1996-09-03 | Tokyo Electron Ltd | 製造装置及び製造方法 |
US5339128A (en) * | 1988-02-12 | 1994-08-16 | Tokyo Electron Limited | Resist processing method |
JPH0618164B2 (ja) * | 1988-03-30 | 1994-03-09 | 大日本スクリーン製造株式会社 | ウエハ処理装置 |
JPH01251606A (ja) * | 1988-03-30 | 1989-10-06 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | ウエハ処理装置 |
JPH01302738A (ja) * | 1988-05-31 | 1989-12-06 | Toshiba Corp | 自動生産指示システム |
JPH02155251A (ja) * | 1988-12-07 | 1990-06-14 | Tokyo Electron Ltd | 半導体製造装置 |
JPH02265255A (ja) * | 1989-04-06 | 1990-10-30 | Tokyo Electron Ltd | プローブ装置システム |
JPH0334441A (ja) * | 1989-06-30 | 1991-02-14 | Fujitsu Ltd | 半導体基板の連続処理システム |
US5371940A (en) * | 1991-05-24 | 1994-12-13 | Fujitsu Limited | Pallet arranging system |
US5584118A (en) * | 1991-05-24 | 1996-12-17 | Fujitsu Limited | Production control with centralized physical distribution control between storage and production cells |
US6287067B1 (en) | 1996-06-21 | 2001-09-11 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Processing unit and processing unit structure by assembling thereof |
US6264705B1 (en) * | 1996-11-19 | 2001-07-24 | Tokyo Electron Limited | Processing system |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS61123150A (ja) | 製造装置 | |
JPS646540B2 (ja) | ||
US7778721B2 (en) | Small lot size lithography bays | |
JP4668222B2 (ja) | 半導体装置の製造システム及び半導体装置の製造方法 | |
CN101802978B (zh) | 基板处理方法和基板处理系统 | |
US8702370B2 (en) | Substrate transfer method for performing processes including photolithography sequence | |
CN101517703B (zh) | 涂敷、显影装置和涂敷、显影装置的控制方法 | |
US6403905B1 (en) | Reticle stocking and sorting management system | |
JPH0722490A (ja) | ロット自動編成装置及び方法 | |
DE102014222705A1 (de) | Verfahren, Speichermedium und System zur Steuerung der Verarbeitung von Losen von Werkstücken | |
CN101473416B (zh) | 衬底处理系统以及衬底搬送方法 | |
TWI333233B (en) | Small lot size lithography bays | |
JPH0278243A (ja) | ウェーハの連続処理装置及び連続処理方法 | |
US8412368B2 (en) | Method and apparatus for routing dispatching and routing reticles | |
US20080294282A1 (en) | Use of logical lots in semiconductor substrate processing | |
JP3708919B2 (ja) | 生産ラインの管理システム | |
JPS61123151A (ja) | 製造装置 | |
JP2934245B2 (ja) | 生産管理方法 | |
JPH096409A (ja) | 生産ライン制御システム | |
JPH0334441A (ja) | 半導体基板の連続処理システム | |
JPH0828320B2 (ja) | ウエーハの写真製版処理設備及び写真製版処理方法 | |
JP2001044261A (ja) | ストッカ搬送システム | |
US6878895B1 (en) | Reticle sorter | |
JP2005050857A (ja) | 半導体ウエハの搬送方法、半導体ウエハの搬送システムおよび半導体装置の製造方法 | |
JPH0722488A (ja) | 半導体装置製造工場のウエハ搬送システム |