JPS6387738A - プローバの制御方法 - Google Patents

プローバの制御方法

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JPS6387738A
JPS6387738A JP61233481A JP23348186A JPS6387738A JP S6387738 A JPS6387738 A JP S6387738A JP 61233481 A JP61233481 A JP 61233481A JP 23348186 A JP23348186 A JP 23348186A JP S6387738 A JPS6387738 A JP S6387738A
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JP
Japan
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measurement
wafer
cassette
measurement stage
prober
Prior art date
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JP61233481A
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JPH067568B2 (ja
Inventor
Wataru Karasawa
唐沢 渉
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Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] 本発明はウェハの搬送から測定までを自動的に行なう全
自動プローバの制御方法に係わり、特に搬送系と測定系
を機能的に分離可能にした全自動プローバの制御方法に
関する。
[発明の技術的背景コ 近年のLSI生産技術の路進に伴ないウェハの測定装置
であるプローバもマニュアルから全自動へと変化しつつ
ある。
全自動プローバにおいてはウェハの搬送から測定までを
コンピュータ制御によって自動化し、その制御方法は第
1図の概略構成図及び第2図にフローチャートで示すよ
うに搬送系りにおいて、カセット1から取り出されたウ
ェハ2は、プリアラインメントの後、ロードポジション
において測定系の測定ステージ3に搬送され、測定系P
においてファインアラインメント及びプロービング等が
実行される。この間、搬送系りではカセットから次のウ
ェハを取り出し、プリアラインメントをした後、待機状
態になる。そして測定系Pでのウェハ2の測定が終了し
、測定ステージ3がアンロードポジションに移動してく
ると、搬送系りは測定ステージ3上の測定済ウェハ2′
を取り上げると共に、待機中のウェハを測定ステージ3
上にのせ、測定済のウェハ2′は元のカセット1へ収納
する。
測定ステージ3に搭載されたウェハは前述のように測定
系において測定が開始する。カセットl内に未測定のウ
ェハがある間は以上の5tepが繰り返される。
カセット1内に未測定のウェハ2がなくなると、測定ス
テージ3上の最後の測定法ウェハをカセット1に収納し
、−カセット分の測定が終了する。
[従来技術の問題点コ ところで、上記の全自動制御システムにおいては、搬送
系が故障した場合でもプローバ全体として機能しなくな
り、正常である測定系が使えないということがある。又
、測定中、例えばテスターの測定プログラムが違って入
力されていたり、プローブ針で正常にチップのパッド(
電極)に接触していないなど何らかの原因で良品チップ
が出ない場合があるが、このような時にウェハを取り出
して金属顕微鏡等でパッドに針が正常に当っているかを
確認しようとしても測定ステージ上のウェハを直ちに検
査することはできないので、オペレータはウェハが搬送
系を通過し、カセットに収納されるまで待たねばならな
い、測定終了後の目視検査(不良測定を防ぐ目的で正常
にマーキングされたか、正常にプローブ針がパッドに当
たっているかなどを金属顕微鏡等で検査する)を行う場
合も同様で、測定法ウェハがカセットに収納する経路途
中のアンロードストップテーブル(−時ウェハ載置場所
)まで搬送されるまで、目視検査を行うことができない
。更に、全自動ブローμにおいては最初に搬送されたウ
ェハについて、プローブ針とパッドの位置、プローブ針
のパッドへのくい込み量、測定エリアの調整マーキング
装置の検査などを実施するため、最初のウェハ上のチッ
プはマーキング装置の検査等によって必然的に不良品扱
いとなるものがあり、全体として歩留りの低下を招いて
いる。このため、同品種のチェック用ウェハをまず測定
ステージ上に搬送して上記の条件設定、マーキング装置
の検査を行う方法がとられているが、この場合も従来の
全自動ブローμでは、カセット内の一枚のウェハをチェ
ック用ウェハと入れかえるか、又は測定用ウェハの入っ
たカセットをセットする前にチェック用ウェハが一枚入
ったカセットをセットするため、操作性が悪く、効率が
低がるという問題点があった。
[発明の目的] 本発明は上記従来の問題点を解決するためになされたも
ので、全自動ブローμの測定系と搬送系を機能的に切り
離すことにより、搬送系故障時や、測定終了直後の目視
検査等の多様な要請に対応しうる全自動ブローμの制御
方法を提供せんとするものである。
[R1明の概要] このような目的を達成するために本発明の全自動ブロー
μの制御方法はカセット内に収納されたウェハを1枚ず
つ測定ステージ上に搬送し、該搬送された測定ステージ
上のウェハを測定し、該測定後のウェハを前記カセット
内°に収納する過程をコンピュータ制御によって全自動
で行なう全自動ブローμにおいて、前記カセットと前記
測定ステージとの間のウェハの搬送を行う搬送系の機能
を選択的に駆動、非駆動可能にしたことを特徴とする。
[発明の実施例コ 以下、本発明の好ましい実施例を図面に基き説明する。
本発明の制御方法を実現するために、全自動ブローμに
は測定系と搬送系とを機能的に切り離すためのスイッチ
、例えばLoader 0N10FFスイツチを設け、
且つ測定系のフロント部に直接測定ステージ上にウェハ
を着脱するための窓を設ける。このような全自動ブロー
μにおいて、まず測定開始時に測定条件の設定、検査等
を行う場合について述べるにの場合は、 Loader
 0N10FFスイツチをOFFにしておき、フロント
部からチェック用ウェハを測定ステージ上にのせ、装置
を5TARTさせる。そしてプロービング動作をさせな
がら条件設定、マーキング装置の検査等を行う。ブロー
ビング動作が終了するとフロント部からチェック用ウェ
ハを測定ステージ上から取り出し、LoaderON1
0FFスイッチをONにして1通常の全自動制御(第2
図のフローチャート)を実行する(第3図)。
搬送部が故障した場合は、Loader 0N10FF
スイツチをOFFにし、フロント部の窓から直接測定ス
テ−ジ上にウェハをのせ、E−A作パネルの5TART
ボタンを押す、すると、測定系はウェハのファインアラ
インメントを行った後、ブロービングを行い、ブロービ
ング終了後測定ステージをアンロードポジションへ移動
し、停止する。これによりオペレータはフロントからウ
ェハを取り出す(第4図)。
次に、測定中良品チップがでない時にウェハを取り出し
てその原因を調べる場合について述べる。
その時には測定中であってもLoader 0N10F
FスイツチをOFFにする。するとCPUはその時測定
中のウェハの測定が終了すると同時にLogder 0
N10FFスイツチを読み込み、搬送系の機能を停止す
る。
この時1次のウェハは待機位置で待機した状態でストッ
プする。そこでオペレータは測定済ウェハをフロントか
ら取り出し、金属顕微鏡等でプローブ針が正しくチップ
のパッドに当っているかを確認し、プローブ針とパッド
が正しく当っていない場合にはフロントからウェハをの
せてLoader 0N10FFスイツチをONにして
、ブロービングを実施しながらプローブ針の位置を調整
し、そのまま全自動制御を実行する。
プローブ針とパッドが正しく当っている場合はテスター
プログラムのミスなど他の原因を探りチェックし、目視
検査後のウェハをフロント部から測定ステージに戻すか
あるいはカセットに手で収納した後Loader 0N
10FFスイツチをONにして全自動制御を再開する。
(第5図)。
測定終了後の目視検査も同様に行うことができる0以上
の実施例では、Loader 0N10FFスイツチの
CPUへの読み込みタイミングをウェハ測定の終了時に
設定しているが、随時読み込み可能でも又、プローブ装
置がマニアル状態の時に読み込み可能であってもよい。
[発明の効果] 以上の説明からも明らかなように1本発明においては搬
送から測定までをコンピュータ制御によっ  。
て全自動で行うプローバの搬送系と測定系とを機能的に
切り離したので、搬送部故障時や測定直後のウェハ目視
検査がある時など多様な状況に対応してプローバを駆動
制御することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は全自動プローバの概略構成図、第2図は全自動
の制御を示すフローチャート、第3図、第4図及び第5
図はそれぞれ本発明の制御方法の実施例を示すフローチ
ャートである。 1・・・・・・・・カセット 21111・ウェハ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. カセット内に収納されたウェハを1枚ずつ測定ステージ
    上に搬送し、該搬送された測定ステージ上のウェハを測
    定し、該測定後のウェハを前記カセット内に収納する過
    程をコンピュータ制御によって全自動で行なう全自動プ
    ローバにおいて、前記カセットと前記測定ステージとの
    間のウェハの搬送を行う搬送系の機能を選択的に駆動、
    非駆動可能にしたことを特徴とする全自動プローバの制
    御方法。
JP61233481A 1986-09-30 1986-09-30 プローバの制御方法 Expired - Fee Related JPH067568B2 (ja)

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JP61233481A JPH067568B2 (ja) 1986-09-30 1986-09-30 プローバの制御方法

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JP61233481A JPH067568B2 (ja) 1986-09-30 1986-09-30 プローバの制御方法

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JPS6387738A true JPS6387738A (ja) 1988-04-19
JPH067568B2 JPH067568B2 (ja) 1994-01-26

Family

ID=16955682

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JP61233481A Expired - Fee Related JPH067568B2 (ja) 1986-09-30 1986-09-30 プローバの制御方法

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0372246A (ja) * 1989-08-11 1991-03-27 Fuji Photo Film Co Ltd 生化学分析装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59128125A (ja) * 1983-01-12 1984-07-24 Nec Home Electronics Ltd ロ−ダ・アンロ−ダ
JPS61123150A (ja) * 1985-10-23 1986-06-11 Hitachi Ltd 製造装置

Patent Citations (2)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0372246A (ja) * 1989-08-11 1991-03-27 Fuji Photo Film Co Ltd 生化学分析装置

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JPH067568B2 (ja) 1994-01-26

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