JPH0618164B2 - ウエハ処理装置 - Google Patents

ウエハ処理装置

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JPH0618164B2
JPH0618164B2 JP63079478A JP7947888A JPH0618164B2 JP H0618164 B2 JPH0618164 B2 JP H0618164B2 JP 63079478 A JP63079478 A JP 63079478A JP 7947888 A JP7947888 A JP 7947888A JP H0618164 B2 JPH0618164 B2 JP H0618164B2
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    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/02Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]

Description

【発明の詳細な説明】 <産業上の利用分野> 本発明は、半導体ウエハや液晶表示装置用ガラス基板な
ど(以下、単にウエハと総称する)に所要の処理を施す
複数個の処理ユニットからなるウエハ処理装置に係り、
特に、ウエハの枚葉処理に適した装置に関する。
<従来の技術> 近年、半導体装置などの仕様は多様化してきており、多
品種少量生産をとることが少なくない。このような多品
種少量生産の場合には、一枚あるいは数枚のウエハごと
に異なった処理を施す、いわゆる枚葉処理が必要であ
る。
そこで、従来、ウエハの枚葉処理を前提としたウエハ処
理装置が提案実施されている。
この種の処理装置として、例えば、特公昭61−397
295号公報に記載の『半導体ウエハ処理装置』が例示
される。この装置は、処理すべき半導体ウエハを供給す
るローダ部と、半導体ウエハの処理部と、処理された半
導体ウエハを収納するアンローダ部とを備え、前記ロー
ダ部における半導体ウエハの配列順序をコンピュータに
よって記憶しておき、このコンピュータに記憶された情
報に基づいて、アンローダ部における半導体ウエハの配
列順序が前記ローダ部の配列順序と同一になるようにす
ることによって、各半導体ウエハが混在しないようにし
ている。
また、製造ラインに設置された複数台の処理装置を集中
制御あるいは分散制御して、各ウエハの処理条件などを
ウエハごとに管理できるようにしたシステムもある。
<発明が解決しようとする課題> しかしながら、上述した従来装置によれば、次のような
問題点がある。
まず、前者の装置によれば、ウエハが混在しないという
利点はあるが、例えば必要により、ある製造ロットを処
理している途中で他の製造ロットのウエハを挿入した
り、あるいは検査や不測のトラブルのために処理されて
いるウエハを途中で取り除いたりすると、ウエハの配列
順序が変わってしまうという問題点がある。
一方、後者の集中制御によって各ウエハのデータを管理
するシステムの場合、上述したようなウエハの挿入ある
いは削除を行うと、これに伴う管理データの変更のため
に、集中制御するホストコンピュータの負担が大きくな
るという問題点がある。
また、分散制御するシステムでは、ホストコンピュータ
にかかる負担は軽減されるが、従来のこの種のシステム
は複数個のユニットから構成される装置を一単位として
制御するものであるから、各ユニット間あるいは各ユニ
ット内でのウエハの挿入や削除をすることができず、ま
た、特定のウエハが装置内のどのユニットにあるかな
ど、きめ細かい管理をすることができないという問題点
もある。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであっ
て、複数個の処理ユニットで構成されるウエハ処理装置
において、各ユニット間あるいは各ユニット内でウエハ
の挿入、削除を容易にすることができるとともに、ユニ
ット単位できめ細かく各ウエハの管理をすることができ
るウエハ処理装置を提供することを目的としている。
<課題を解決するための手段> 以下、第1図を参照して本発明の構成を説明する。
第1図(a)に示すように、本発明はウエハに所要の処理
を施す複数個の処理ユニットU〔U1,U2,U3,
…〕からなるウエハ処理装置であって、 ウエハごとの管理データを格納すべき管理データ記憶部
M〔M1,M2,M3,…〕を備えた、各処理ユニット
ごとのユニットコントローラUC〔UC1,UC2,U
C3,…〕と、 各処理ユニットUへ搬送されるウエハの有無を検出する
ウエハ検出手段S〔S1,S2,S3,…〕と、 所要のユニットコントローラUCの管理データ記憶部M
の内容を設定・変更するための操作手段OPとを備え、 前記ユニットコントローラUCは、前記ウエハ検出手段
Sからの検出信号に基づいて、そのウエハの管理データ
を次の処理ユニットUのユニットコントローラUCの管
理データ記憶部Mに転送するものである。
さらに、第1図(b)に示すように、本発明は所要の処理
ユニットU内に、所要の複数個所のウエハ検出位置にお
いてウエハの有無をそれぞれ検出する複数個のウエハ検
出手段S〔S01,S02,S03,…〕があり、 その処理ユニットUに対応するユニットコントローラU
Cは、前記各ウエハ検出位置に対応した複数個の管理デ
ータ記憶部M〔M01,M02,M03,…〕を備え、 前記ユニットコントローラUCは、前記各ウエハ検出手
段Sからの検出信号に基づいて、そのウエハの管理デー
タを次のウエハ検出位置に対応した管理データ記憶部M
に転送するものである。
具体的には、前記ウエハ検出手段Sは、ウエハによる遮
光あるいは反射光を検出する光センサや、ウエハの真空
吸着による圧力変化を検出する吸着センサのような直接
的にウエハを検出する手段のほか、例えば、処理ユニッ
ト内にある機構部の1動作サイクルの完了を検出するこ
とによって、特定位置のウエハを間接的に検出するよう
な手段も含む。
<作用> 本発明の作用は次のとおりである。
例えば最初の処理ユニットU1に対応した管理データ記
憶部M1に、操作部OPを介して処理対象となるウエハ
の管理データがセットされる。そのウエハが処理ユニッ
トU1からU2に搬送されて、ウエハ検出手段S2に検
出されることに基づき、管理データ記憶部M1からM2
に、そのウエハの管理データが転送される。このよう
に、処理ユニットU間のウエハの搬送に同期して、その
ウエハの管理データが順に転送される。ここで、管理デ
ータの転送のタイミングは、ウエハの搬送前、搬送中、
搬送後のいずれであってもよく、要するに、ウエハの搬
送が完了した段階で、そのウエハの管理データが、その
処理ユニットに対応した記憶部に格納されておればよ
い。
また、例えば処理ユニットU2で、ウエハを取り除いた
場合には、処理ユニットU2のウエハ検出手段S2によ
ってウエハが検出されないので、記憶部M2の管理デー
タを削除する。
一方、例えば処理ユニットU2に異なるウエハを挿入す
る場合には、操作部OPを操作することによって、記憶
部M2に、そのウエハに応じた管理データを書き込む。
第1図(b)のように、所要の処理ユニットU内に所要の
複数個所のウエハ検出位置がある場合も同様に、各ウエ
ハ検出手段S01,S02,S03,…でウエハが検出される
ことに基づいて、管理データ記憶部M11に格納されてい
た管理データが、管理データ記憶部M02,M03,…へと
転送される。
<実施例> 以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。
第2図は本発明の一実施例に係る装置の概略構成を示す
外観斜視図である。
この装置は、ウエハ上にフォトレジスト膜を塗布して加
熱処理するラインを2ライン備えたウエハ処理装置であ
って、各ラインはウエハを供給するローダ部10、供給さ
れたウエハを加熱処理する熱処理部20、熱処理されたウ
エハ上に所定の膜厚のフォトレジスト膜を塗布するスピ
ンナー部30、フォトレジスト膜が塗布されたウエハを加
熱処理する熱処理部40および熱処理されたウエハを収納
するアンローダ部50などを含む複数個の処理ユニットか
ら構成されている。
なお、図中のMOPは熱処理部20および40での制御温度
データやスピンナー部30での制御回転数データなどの種
々の処理に対するデータの入力設定などを行う主操作パ
ネルであり、DSPはその内容や処理中のウエハの管理
データなどを表示する表示器である。また、OP1〜O
P5は各処理ユニットでのウエハの挿入や削除などの手
動的な操作を指示するための操作パネルである。
第3図は上述した各部の概略構成図である。
ローダ部10は、複数枚のウエハ(Wで示す)を水平状態
で一定間隔に収納するカセットCがセットされ、パルス
モータ11によってカセットCを間欠昇降移動させる昇降
機構12から構成されている。また、ローダ部10のウエハ
送り出し位置にはウエハの有無を検出するための透過型
の光センサPS1が設けられている。ウエハ送り出し位
置にあるウエハは搬送部61によって搬送され熱処理部20
に搬送される。なお、搬送部61にはウエハの吸着を確認
する吸着センサVS1が設けられている。上述したロー
ダ部10および搬送部61は処理ユニットU1を構成してい
る。
熱処理部20に搬送されたウエハは搬送ワイヤ21に乗せて
熱処理プレート22つづいて23の各プレート上にタクトに
よって間欠的に搬送される。タクト搬送部T1を概述す
ると、例えばエアーシリンダなどにより駆動される前・
後進機構と上・下降機構とが組合わされた機構で、本例
ではこの機構により搬送ワイア21および熱処理プレート
22の上にある各ウエハは一旦上昇した後、さらに前進
し、その後、降下させられ、それぞれ熱処理プレート22
および23に載置される。このタクト搬送部は、後述の熱
処理プレート40においても同じく採用しており、T2で
示されている。なお、MS1およびMS3は、それらの
機構と連動してウエハの前進した時点を検出するスイッ
チである。
熱処理部20の入口部および出口部には、搬送されるウエ
ハを検出するための反射式の光センサPS2およびPS
3が設けられている。熱処理されたウエハは、搬送部62
によって搬出され、スピンナー部30に搬送される。上述
した熱処理部20および搬送部62は処理ユニットU2を構
成している。
スピンナー部30に搬送されたウエハは、スライダー34に
載置される。このスライダー34はモータ36によって正逆
方向に駆動されるタイミングベルト37に連結されてお
り、載置されたウエハをスピンチャック32上に搬送する
とともに、MS2はその機構と連動して、搬送を検出・
確認するスイッチである。スピンチャック34上ではウエ
ハが載置・吸着されると、スピンチャック32がモータ35
によって所定回転数で回転駆動される。そして、図示し
ないフォトレジスト吐出器からウエハ上にフォトレジス
トが滴下され、ウエハ上に必要な膜厚のフォトレジスト
膜が塗布される。スピンナー部30の入口部および出口部
には、熱処理部と同様にウエハを検出するための反射型
の光センサPS4およびPS5が設けられている。ま
た、スピンチャック32にはウエハの吸着の有無を検出す
るための吸着センサVS2が設けられている。フォトレ
ジスト膜が塗布されたウエハは、ウエハ搬送部63により
熱処理部40に搬送される。上述したスピンナー部30およ
び搬送部63は処理ユニットU3を構成している。
熱処理部40には熱処理部20と同じく、タクト運動によっ
てウエハ搬送を行う搬送ワイヤ41と熱処理プレート42,
43があり、またその入口部および出口部にはウエハを検
出するための光センサPS6およびPS7が設けられて
おり、MS3はMS1と同じくウエハが前進した時点を
検出するスイッチである。ウエハの熱処理の後、搬送部
64によって熱処理部40から搬送されたウエハはアンロー
ダ部50に搬送される。搬送部64には、この時のウエハの
吸着の有無を検出するための吸着センサVS3が設けら
れている。上述した熱処理部40および搬送部64は処理ユ
ニットU4を構成している。
アンローダ部50には、前述したローダ部10と同様の昇降
機構51が設けられており、これにセットされたカセット
Cに処理ずみのウエハが順次に収納される。そしてアン
ローダ部50にも、所定の収納位置におけるウエハの有無
を検出するための透過型の光センサPS8が設けられて
いる。このアンローダ部50は処理ユニットU5を構成し
ている。
第4図は上述したウエハ処理装置の制御系の概略ブロッ
ク図である。
この装置の制御系は、上述した各処理ユニットU1〜U
5(以下、特定しないときはUと記す)をそれぞれ個別
に制御するユニットコントローラUC1〜UC5(以
下、特定しないときはUCと記す)と、これらのユニッ
トコントローラUCを統括的に制御するユニットマスタ
ーコントローラUMCとから構成されている。各ユニッ
トコントローラUCとユニットマスターコントローラU
MCとは、ローカル・エリア・ネットワーク(LAN)
によって接続されている。
ユニットコトローラUCは、各処理ユニットUの負荷制
御やウエハのデータ管理などを行うもので、具体的には
第5図に示すように、対応する処理ユニットUを制御す
るCPU71、制御プログラムを格納するROM72、管理
データ記憶部としてのRAM73、RAM73を制御するダ
イレクト・メモリ・アクセス・コントローラ(DMA
C)74、パラレル入出力インターフェース(PIO)7
5、シリアル入出力インターフェース(SIO)76を含
む。
各処理ユニットUに設けられた各センサの検出信号およ
び操作パネルOPからの指令はPIO75を介してユニッ
トコントローラUC内に取り込まれ、各処理ユニットへ
の負荷制御信号(例えば、熱処理部20,40の温度制御信
号やスピンナー部30の回転数制御信号)はPIO75ある
いは別に配設されるSIO(図示せず)などを介して出
力される。後述するウエハ管理データはDMAC74で制
御されることによって、RAM73からSIO76を介して
出力される。
ユニットマスターコントローラUMCは、各処理ユニッ
ト間の制御および各処理ユニットに与えるデータの作成
や、各ユニットコントローラUCから送られたウエハの
管理データを必要により表示器DSPに表示させたりす
る。
次に、第6図を参照して、ウエハの管理データについて
説明する。
ユニットコントローラUC内のRAM73(第5図)に
は、処理ユニット内の所定位置、例えば上述した各セン
サが設けられた位置にウエハがあるかどうかを示すデー
タD1、そのウエハがどの処理ユニットから投入された
かを示す投入ユニット番号D2、そのウエハが収納され
ていたカセットの番号D3およびカセットの溝番号D
4、そのウエハの種々の処理条件(例えば、熱処理温
度、スピンナーの回転数など)を示すレシピー番号D5
およびウエハの種類D6などの管理データを格納する領
域が設定されている。
データD1〜D6のうち、データD2〜D6がウエハの
搬送に伴って後述のように転送される。なお、上述した
ウエハの種類D6は、例えばそのウエハがカセットから
供給される最終のウエハ(カセットエンド)であるか、
製造ロットの最終のウエハ(ロットエンド)であるか、
あるいは削除すべきウエハ(キャンセルウエハ)である
かなどを示すフラグがそれぞれに対応して構成されてい
る。
以下、第7図〜第10図を参照して実施例における各ユニ
ット毎の管理データの格納状態とその転送動作を説明す
る。
〔A〕まず、第7図を参照して通常処理時のウエハの搬
送に伴う管理データの転送動作を説明する。
図中、Mの付された部番(M61,M21,…,M44,M6
4)は、各処理ユニット内の処理部位に対応して各ユニ
ットコントローラUC1〜UC5に対応して、それぞれ
に設けられたRAM73内に設定される管理データ記憶部
を模式的に表したものである。
記憶部M61は、搬送部61上にあるウエハの管理データを
格納する。
また、記憶部M21は熱処理部20の入口部、記憶部M22お
よびM23は熱処理プレート22,23上の所定位置、M24は
熱処理部20の出口部にある各ウエハの管理データをそれ
ぞれ格納し、記憶部M62は搬送部62上にあるウエハの管
理データを格納する。
記憶部M31はスピンナー部30の入口部に、記憶部M32は
スピンチャック32に、記憶部M33はスピンナー部30の出
口部に、記憶部M63は搬送部63にある各ウエハの管理デ
ータをそれぞれ格納する。
記憶部M41は熱処理部40の入口部に、記憶部M42,M43
は熱処理プレート42,43の所定位置に、記憶部M44は熱
処理部40の出口部に、記憶部M64は搬送部64にある各ウ
エハの管理データを格納する。
ウエハの各管理データのうち、レシピー番号はオペレー
タがローダ部10の操作パネルOP1を操作することによ
ってユニットコントローラUC1に与えられるが、他の
管理データについては、ユニットコントローラUC1
で、以下のように自動的に設定される。
まず、投入ユニット番号は、処理ユニットU1が『0
1』、処理ユニットU2が『02』、処理ユニットU3が
『03』、処理ユニットU4が『04』のように予め定めら
れているので、ローダ部10から投入されたウエハの投入
ユニット番号はすべて『01』に自動的に設定される。
カセット番号は、ローダ部10にセットされたカセットに
対して、その製造ロット中の何番目のカセットかを処理
ユニットU1内で計数し、この計数値に基づいて自動的
に設定される。例えば、一番目のカセットであれば『00
1 』のように設定される。
カセット溝番号(以下、単に溝番号と記す)は、ローダ
部10の送り出し位置にあるウエハが光センサPS1で検
出されたとき、パルスモータ11および昇降機構12による
カセットCのその位置までの移動距離を溝番号に換算し
て自動的に設定される。この実施例では、一つのカセッ
ト内に25個の溝が形成されており、例えば、10番目の溝
部にあるウエハとして検出されたときは、溝番号として
『10』が自動的に設定される。
また、ウエハの種類は次のように設定される。
カセットエンドの場合、カセット内の最後のウエハ、即
ち、第25番目の溝にあるウエハが光センサPS1によっ
て検出されたときに、溝番号が『25』に設定されるとと
もに、カセットエンドのフラグが『1』に自動的に設定
される。
また、ロットエンドの場合、そのロットの最後のカセッ
トのカセットエンドのウエハが検出されたときに、ロッ
トエンドのフラグが『1』に自動的に設定される。
第7図(a)は、溝番号『6』〜『16』までの各ウエハが
装置の各ユニット内にあり、溝番号『1』〜『5』の各
ウエハは処理されて既にアンローダ部50に収納されてお
り、溝番号『17』〜『25』の各ウエハはローダ部10に収
納されている状態を示している。
溝番号『5』のウエハが、アンローダ部50のカセットC
に収容されると、そのカセットは昇降機構により、一溝
分だけ降下する。そして、その位置で光センサPS8の
ウエハ検出信号がないと、次のウエハ収容動作が行われ
る。
まず、熱処理部40の出口部にある溝番号『6』のウエハ
を光センサPS7が検出すると、そのウエハは搬送部に
より搬出・吸着される。吸着センサVS3がウエハ吸着
を検出すると、その信号と同期して記憶部M44にある管
理データは記憶部M64に転送された後、消去(クリア)
される。
一方、熱処理部40での所要の処理が済むと記憶部M44が
クリアされているので、溝番号『9』,『8』および
『7』の各ウエハがタクト搬送され、記憶部M41,M42
およびM43にある後続ウエハの管理データはタトク搬送
の検出スイッチMS3の信号により、それぞれM42,M
43およびM44に転送されるとともに記憶部M41はクリア
される。
記憶部M41のクリアにより、搬送部63はスピンナー部30
の出口部33にある溝番号『10』のウエハを搬出するとと
もに熱処理部40の入口部41に搬送する。
このときの管理データは搬送部64と同じ要領で光センサ
PS5およびPS6の検出信号に同期して記憶部M33か
ら同M63に、記憶部M63から同M41にそれぞれ転送さ
れ、記憶部M33はクリアされる。
記憶部M33がクリアされた以後、スピンナー部30の処理
が済み次第、溝番号『12』および『11』のウエハがスラ
イダー部34により、それぞれスピンチャック32および出
口部33に搬送され、搬送終了を検出するMS2の信号と
同期して記憶部M32の管理データは記憶部33に転送され
るとともに、クリアされる。
処理ユニットU2より前段の処理位置にある各ウエハも
同様にして搬送されるとともに、対応する各記憶部の管
理データが転送される。
各搬送部の記憶部はウエハの転送時の管理データの転送
に係わるのみで、その他の時は常にクリアされている。
この点は、以後の第8,9,10図についても同様であ
る。
第7図(b)は、このようにして各ウエハの搬送とともに
各処理部位の記憶部に第7図(a)の管理データが転送さ
れた状態を、全体的にとりまとめて示したものである。
また、処理されたウエハが搬送部64を介してアンローダ
部50に搬送・収納されると、記憶部M44の管理データは
記憶部M45を介してユニットコントローラUC5内のR
AM73に順に転送され格納される。
ユニットコントローラUC5に取り込まれた各管理デー
タは、ユニットマスターコントローラUMCの制御によ
って、表示器DSPに順に表示される。オペレータは、
この表示内容を見ることによって、処理が終わったウエ
ハを即座に確認することができる。また、必要により、
各ユニットコントローラUCの記憶部が格納している管
理データを読み取り、その内容を表示器DSPに表示さ
せることによって、各処理ユニットで処理されているウ
エハに関するデータを容易に知ることができる。
〔B〕次に、第8図を参照して通常処理時に次のカセッ
トが投入された場合の管理データ転送動作について説明
する。
第8図(a)はローダ部10にセットされたカセットCの最
終のウエハ(溝番号『25』のウエハ)が処理ユニットU
2内にある場合を示している。このとき記憶M23に記憶
されている管理データのウエハの種類は、そのウエハが
カセットエンドであることを示すために、カセットエン
ド表示用のフラグが『1』になっている。
そして、第8図(b)に示すように、2番目のカセットC
がローダ部10にセットされ、そのウエハのレシピー番号
は操作パネルOP1により『2』に設定されている。例
えば、レシピー番号『2』が、スピンナー部30の回転数
を所定回転数に変更する指示であった場合には、このウ
エハがスピンチャック34に搬送され、その管理データが
記憶部M32に格納されたときに、ユニットコントローラ
UC3がその管理データを確認することによって、スピ
ンナーの回転数が指示された回転数になるようにモータ
35が駆動制御される。
なお、第8図(b)は、〔A〕と同様にして溝番号『17』
〜『25』の各ウエハが次の処理部に搬送されるとともに
それらの管理データが転送された状態を併せ示してい
る。
〔C〕次に、第9図を参照して処理中のウエハが取り除
かれる場合の管理データの転送動作を説明する。
例えば、スライダー34によってスピンチャック32に搬送
されたウエハ(図中の溝番号『23』とする)が、ウエハ
の反りなどが原因して吸着センサVS2に検出されなか
ったとする。このとき、スライダー34の搬送に同期し
て、記憶部M31に格納されていた管理データは記憶部M
32に転送されるが、同時に、図示しないアラームでオペ
レータに知らせる。オペレータは、そのウエハを確認
し、操作パネルOP3を操作して『キャンセル』を指示
すると、ウエハの種類データの例えば最下位ビットに設
定されているキャンセルフラグが『1』にセットされ
る。キャンセルフラグは、そのウエハが処理不能のウエ
ハであることを示している。
キャンセルフラグが『1』のウエハにはフォトレジスト
膜が塗布されずに、次の動作サイクルでスピンナー部30
の出口に搬送される。これによって記憶部M32の管理デ
ータも記憶部M33に転送される。ユニットコントローラ
UC3では、記憶部M33のウエハの種類データを監視し
ており、キャンセルフラグが『1』になっている場合に
は、装置を停止状態にするとともに、図示しないアラー
ムを駆動してオペレータに知らせる。
オペレータは、スピンナー部30の出口部にあるウエハを
取り除くとともに、処理ユニットU3の操作パネルOP
3を操作して、第9図(b)に示すように記憶部M33にあ
る溝番号『23』のウエハの管理データを抹消する。
このように吸着センサVS2によってウエハが検出され
なっかた場合に、キャンセルフラグを立てて管理データ
を記憶部M33にまで転送するのは、スピンチャック32部
分でウエハを取り除くことが困難だからである。特に、
熱処理部内でウエハが検出されなかった場合などでは、
熱処理オーブンのカバーを開放すると熱処理プレートの
温度が低下するので、本実施例のように、そのウエハを
管理データとともに処理ユニットの出口部まで搬送・転
送したのち、取り除くとともに管理データを抹消する手
法は有効である。
〔D〕次に、第10図を参照してウエハの処理中に異なる
ウエハが挿入される場合の管理データの転送動作を説明
する。
例えば、処理ユニットU3の入口から異なるウエハを挿
入しようとする場合、処理ユニットU2の操作パネルO
P2に設けられるサイクル停止スイッチが操作される。
これにより、処理ユニットU1およびU2が停止状態に
なるので、第10図(a)に示す記憶部M21〜M24に格納さ
れているウエハの各管理データは、そこでの処理対象の
ウエハとともに、そのままの状態で保持される。一方、
記憶部M31以降の各記憶部に格納されている管理データ
は、次の動作サイクルでそれぞれ次の記憶部に転送され
る。
そして、オペレータの操作によって処理ユニットU3の
入口部に異なる処理を要するウエハがセットされるとと
もに、そのウエハの管理データが処理ユニットU3に設
けられた操作パネルOP3をオペレータが操作すること
によって設定される。この管理データは、第10図(b)に
示すように処理ユニットU3の入口部に対応した記憶部
M31に格納される。
記憶部M31に設定された管理データのうち、投入ユニッ
ト番号『03』は処理ユニットU3から投入されたこと
を示し、カセット番号『000』はそのウエハが挿入さ
れたウエハであることを示し、溝番号『1』はそのウエ
ハが挿入された1枚目のウエハであることを示し、レシ
ピー番号『4』は挿入されたウエハはレシピー番号
『4』で処理されることを示している。
挿入されたウエハの管理データが書き込まれた後、その
管理データは前述したと同様にウエハの動きに同期して
各記憶部に順次に転送される。
なお、本発明においてウエハの管理データは、上述の実
施例において説明したようなものに限られず任意に設定
することができる。
また、上述の実施例ではオペレータが操作パネルを操作
することによって、ウエハの管理データを入力するよう
に説明したが、これは例えばフロッピーディスクやIC
カードなどに予め管理データを書き込んでおき、これら
の記憶媒体を処理装置に備えられた読み取り器に読み取
らせることによって管理データをセットするように構成
してもよい。
さらに、実施例ではフォトレジスト塗布処理および熱処
理を行う装置を例にとって説明したが、本発明は例え
ば、ウエハの現像処理・エッチング処理・洗浄処理・乾
燥処理などを行う処理装置にも適用することができる。
また、実施例ではウエハを処理する装置を例にとって説
明したが、本発明は液晶表示装置用のガラス基板を処理
する装置などにも適用することができる。
<発明の効果> 以上の説明から明らかなように、本発明によれば、各記
憶部の内容から処理途中のウエハがどのユニット、ある
いは処理部位にあるかを確実に知ることができる。
また、各ユニットに設けられた操作手段によって管理デ
ータ記憶部の内容を設定・変更することにより、各ユニ
ット間でウエハの挿入・削除を容易に行うことができ、
ホストコンピュータで管理データの設定・変更を行う場
合に比較して、ホストコンピュータの負担が軽減され
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の構成を説明するためのブロック図、第
2図〜第10図は本発明の一実施例に係る装置の説明図で
あり、第2図はその全体斜視図、第3図は各処理ユニッ
トの概略構成図、第4図は制御系の概略ブロック図、第
5図は各ユニットコントローラの概略ブロック図、第6
図はウエハの管理データのフォーマット、第7図は通常
動作時における管理データ転送動作の説明図、第8図は
カセット切り換え時の管理データ転送動作の説明図、第
9図はウエハ削除時の管理データ転送動作の説明図、第
10図はウエハ挿入時の管理データ転送動作の説明図であ
る。 U1〜U5……処理ユニット UC1〜UC5……ユニットコントローラ PS1〜PS8……光センサ VS1〜VS3……吸着センサ OP1〜OP5……操作パネル W……ウエハ 10……ローダ部、20,40……熱処理部 30……スピンナー部、50……アンローダ部 61〜64……ウエハ搬送部 74……RAM

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ウエハに所要の処理を施す複数個の処理ユ
    ニットからなるウエハ処理装置であって、 ウエハごとの管理データを格納すべき管理データ記憶部
    を備えた、各処理ユニットごとのユニットコントローラ
    と、 各処理ユニットへ搬送されるウエハの有無を検出するウ
    エハ検出手段と、 所要のユニットコントローラの管理データ記憶部の内容
    を設定・変更するための操作手段とを備え、 前記ユニットコントローラは、前記ウエハ検出手段から
    の検出信号に基づいて、そのウエハの管理データを次の
    処理ユニットのユニットコントローラの管理データ記憶
    部に転送することを特徴とするウエハ処理装置。
  2. 【請求項2】請求項(1)に記載のウエハ処理装置におい
    て、 所要の処理ユニット内に、所要の複数個所のウエハ検出
    位置においてウエハの有無をそれぞれ検出する複数個の
    ウエハ検出手段があり、 その処理ユニットに対応するユニットコントローラは、
    前記各ウエハ検出位置に対応した複数個の管理データ記
    憶部を備え、 前記ユニットコントローラは、前記各ウエハ検出手段か
    らの検出信号に基づいて、そのウエハの管理データを次
    のウエハ検出位置に対応した管理データ記憶部に転送す
    ることを特徴とするウエハ処理装置。
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