JPS61239650A - 高速集積回路パツケ−ジ - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
半導体集積回路チップを気密封止する部分に於ける配線
の幅を狭くして、その配線のマイクロストリップライン
構造となる部分と平衡型ストリップライン構造となる部
分の特性インピーダンスを整合させて、高速信号の伝搬
特性を改善したものである。
の幅を狭くして、その配線のマイクロストリップライン
構造となる部分と平衡型ストリップライン構造となる部
分の特性インピーダンスを整合させて、高速信号の伝搬
特性を改善したものである。
本発明は、数G b / s程度の高速動作を可能とし
た半導体集積回路チップを気密封止し、高速動作特性を
改善した高速集積回路パッケージに関するものである。
た半導体集積回路チップを気密封止し、高速動作特性を
改善した高速集積回路パッケージに関するものである。
半導体技術の進歩により、数G b / s程度の高速
伝送信号の処理用の半導体集積回路が実現している。こ
のような高速半導体集積回路に於いても、信頼性向上の
為に半導体集積回路チップはパッケージにより気密封止
され、半導体集積回路チップと接続された外部端子が導
出されて、外部装置との接続を行う必要がある。
伝送信号の処理用の半導体集積回路が実現している。こ
のような高速半導体集積回路に於いても、信頼性向上の
為に半導体集積回路チップはパッケージにより気密封止
され、半導体集積回路チップと接続された外部端子が導
出されて、外部装置との接続を行う必要がある。
St(シリコン)又はGaAs (ガリウム砒素)等
の半導体チップに複数のトランジスタ等を形成した高速
動作可能の半導体集積回路チップを気密封止するパッケ
ージは、例えば、第3図の要部断面図及び第4図の要部
平面図に示す構成を有するものであった。即ち、下面に
金属膜14が形成されたセラミック等の絶縁基板12上
に半導体集積回路チップ16が搭載され、その半導体集
積回路チップ16と配&’1lllとがアルミニウム或
いは金の接続線17で接続され、金属のキャップ15に
より半導体集積回路チップ16の気密封止が行われるも
のである。この場合、キャップ15と配線11との間に
は絶縁体13が介在されている。
の半導体チップに複数のトランジスタ等を形成した高速
動作可能の半導体集積回路チップを気密封止するパッケ
ージは、例えば、第3図の要部断面図及び第4図の要部
平面図に示す構成を有するものであった。即ち、下面に
金属膜14が形成されたセラミック等の絶縁基板12上
に半導体集積回路チップ16が搭載され、その半導体集
積回路チップ16と配&’1lllとがアルミニウム或
いは金の接続線17で接続され、金属のキャップ15に
より半導体集積回路チップ16の気密封止が行われるも
のである。この場合、キャップ15と配線11との間に
は絶縁体13が介在されている。
又配線11が気密封止部分から延長されて外部端子とな
る。
る。
この外部端子は、プリント基板1Bの配線19と半田等
により接続され、所望の信号処理装置が構成されるもの
である。
により接続され、所望の信号処理装置が構成されるもの
である。
半導体集積回路チップ1Gが気密封止された内部に於け
る配線11は、絶縁基板12の下面に金属
属膜14が形成されており、上部が空間であるかト らマイクロストリップライン構造となり、又気密封止部
分では、絶縁基板I2と絶縁体I3とにより挟まれて、
それらの厚さや誘電率を同一とすることにより平衡型ス
トリップライン構造となる。
る配線11は、絶縁基板12の下面に金属
属膜14が形成されており、上部が空間であるかト らマイクロストリップライン構造となり、又気密封止部
分では、絶縁基板I2と絶縁体I3とにより挟まれて、
それらの厚さや誘電率を同一とすることにより平衡型ス
トリップライン構造となる。
従って、この平衡型ストリップライン構造となる配線1
1部分に於いては、絶縁体13の誘電率に対応して特性
インピーダンスが低下することになる。その為、配&1
lllを伝搬する信号に対して特性インピーダンスの不
整合による反射損失等が生じる欠点があった。
1部分に於いては、絶縁体13の誘電率に対応して特性
インピーダンスが低下することになる。その為、配&1
lllを伝搬する信号に対して特性インピーダンスの不
整合による反射損失等が生じる欠点があった。
本発明は、このような特性インピーダンスの不整合をな
くすことを目的とするものである。
くすことを目的とするものである。
本発明の高速集積回路パッケージは、第1図を参照して
説明すると、下面に金属膜を形成したセラミック等の絶
縁基板2上に半導体集積回路チップ6を搭載し、その半
導体集積回路チップ6と配線1とを接続線7で接続し、
その配線1を延長して外部端子1cとし、キャップによ
って半導体集積回路チップ6を気密封止し、その気密封
止の配線部分1bとキャップとの間に絶縁体3を介在さ
せて、平衡型ストリップライン構造とし、この平衡型ス
トリップライン構造となる配線部分1bの幅を、他のマ
イクロストリップライン構造となる配線部分1aの幅よ
り狭くしたものである。
説明すると、下面に金属膜を形成したセラミック等の絶
縁基板2上に半導体集積回路チップ6を搭載し、その半
導体集積回路チップ6と配線1とを接続線7で接続し、
その配線1を延長して外部端子1cとし、キャップによ
って半導体集積回路チップ6を気密封止し、その気密封
止の配線部分1bとキャップとの間に絶縁体3を介在さ
せて、平衡型ストリップライン構造とし、この平衡型ス
トリップライン構造となる配線部分1bの幅を、他のマ
イクロストリップライン構造となる配線部分1aの幅よ
り狭くしたものである。
配線の幅を狭くすることにより特性インピーダンスは大
きくなり、又平衡型ストリップラインは誘電体によって
配線が挟まれるので、特性インピーダンスが小さくなる
傾向を有するものであり、気密封止部分の配線は、平衡
型ストリップライン構造であるから、特性インピーダン
スが小さくなるが、その配線1bの幅を狭くすることに
より特性インピーダンスを大きくし、結果として他のマ
イクロストリップライン構造の配線部分と同じ特性イン
ピーダンスとすることが可能となり、特性インピーダン
スの整合をとることができる。
きくなり、又平衡型ストリップラインは誘電体によって
配線が挟まれるので、特性インピーダンスが小さくなる
傾向を有するものであり、気密封止部分の配線は、平衡
型ストリップライン構造であるから、特性インピーダン
スが小さくなるが、その配線1bの幅を狭くすることに
より特性インピーダンスを大きくし、結果として他のマ
イクロストリップライン構造の配線部分と同じ特性イン
ピーダンスとすることが可能となり、特性インピーダン
スの整合をとることができる。
以下図面を参照して本発明の実施例について詳細に説明
する。
する。
第1図は本発明の実施例の要部平面図、第2図は要部断
面図であり、下面に金属膜4が形成されたセラミック等
の絶縁基板2上に、半導体集積回路チップ6を搭載し、
配線1と接続線7で接続する。又金属のキャップ5と絶
縁基板2の周辺とを絶縁体3を介して接合し、半導体集
積回路チップ6を気密封止する。配線1は、内部配線部
分1aと気密封止配線部分1bと外部端子ICとからな
り、気密封止配線部分1bは、絶縁基板2と絶縁体3と
に挟まれて平衡型ストリップラインを構成し、内部配線
部分1aは上部が空間のマイクロストリップラインを構
成している。なお、気密封止手段は半導体集積回路パッ
ケージに於番fる公知の手段を採用することができるも
のである。
面図であり、下面に金属膜4が形成されたセラミック等
の絶縁基板2上に、半導体集積回路チップ6を搭載し、
配線1と接続線7で接続する。又金属のキャップ5と絶
縁基板2の周辺とを絶縁体3を介して接合し、半導体集
積回路チップ6を気密封止する。配線1は、内部配線部
分1aと気密封止配線部分1bと外部端子ICとからな
り、気密封止配線部分1bは、絶縁基板2と絶縁体3と
に挟まれて平衡型ストリップラインを構成し、内部配線
部分1aは上部が空間のマイクロストリップラインを構
成している。なお、気密封止手段は半導体集積回路パッ
ケージに於番fる公知の手段を採用することができるも
のである。
配線1に於いて、平衡型ストリップライン構造の気密封
止配線部分1bの輻Wbを、マイクロストリップライン
構造の内部配線部分1aの幅Waより狭くするものであ
る。この幅Wa、Wbの関係は、絶縁基板2と絶縁体3
との誘電率や厚さに対応して特性インピーダンスが整合
するように選定されるものである。
止配線部分1bの輻Wbを、マイクロストリップライン
構造の内部配線部分1aの幅Waより狭くするものであ
る。この幅Wa、Wbの関係は、絶縁基板2と絶縁体3
との誘電率や厚さに対応して特性インピーダンスが整合
するように選定されるものである。
例えば、絶縁基板2と絶縁体3とのそれぞれの誘電率ε
−10、それぞれの厚さt=330μm、配線1の厚さ
d−15μmとし、内部配線部分1aの幅Waを300
μmとして、特性インピーダンスZQ=50Ωとした場
合に、気密封止配線部分1bの幅wbを300μmとす
ると、その気密封止配線部分1bの特性インピーダンス
ば33Ωとなり、特性インピーダンスの不整合が生じる
ことになる。しかし、気密封止配線部分1bの幅wbを
1100x1とすると、その部分に於ける特性インピー
ダンスはほぼ50Ωとなり、特性インピーダンスの不整
合は生じないことになる。
−10、それぞれの厚さt=330μm、配線1の厚さ
d−15μmとし、内部配線部分1aの幅Waを300
μmとして、特性インピーダンスZQ=50Ωとした場
合に、気密封止配線部分1bの幅wbを300μmとす
ると、その気密封止配線部分1bの特性インピーダンス
ば33Ωとなり、特性インピーダンスの不整合が生じる
ことになる。しかし、気密封止配線部分1bの幅wbを
1100x1とすると、その部分に於ける特性インピー
ダンスはほぼ50Ωとなり、特性インピーダンスの不整
合は生じないことになる。
又内部配線部分1aと気密封止配線部分1bとの境界部
分の幅の変化は、気密封止部分の構成に対応して連続的
となるようにすることもできる。
分の幅の変化は、気密封止部分の構成に対応して連続的
となるようにすることもできる。
以」二説明したように、本発明は、半導体集積回路子ツ
ブ6と接続した配′fLIA1を延長して外部端子1c
とし、気密封止される配線部分1bの幅wbを内部配線
部分1aの幅Waより狭くしたことにより、内部配線部
分1aと気密封止配線部分1bとの特性インピーダンス
を整合させることができる。又外部端子ICの特性イン
ピーダンスとの整合をとることもできる。従って、高速
信号の伝搬特性を改善することができる利点がある。
ブ6と接続した配′fLIA1を延長して外部端子1c
とし、気密封止される配線部分1bの幅wbを内部配線
部分1aの幅Waより狭くしたことにより、内部配線部
分1aと気密封止配線部分1bとの特性インピーダンス
を整合させることができる。又外部端子ICの特性イン
ピーダンスとの整合をとることもできる。従って、高速
信号の伝搬特性を改善することができる利点がある。
第1図は本発明の実施例の要部平面図、第2図は本発明
の実施例の要部断面図、第3図は従来例の要部断面図、
第4図は従来例の要部平面図である。 1は配線、1aは内部配線部分、1bは気密封止配線部
分、ICは外部端子、2は絶縁基板、3は絶縁体、4は
金属膜、5はキャップ、6は半導体集積回路チップ、7
は接続線である。
の実施例の要部断面図、第3図は従来例の要部断面図、
第4図は従来例の要部平面図である。 1は配線、1aは内部配線部分、1bは気密封止配線部
分、ICは外部端子、2は絶縁基板、3は絶縁体、4は
金属膜、5はキャップ、6は半導体集積回路チップ、7
は接続線である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 下面に金属膜(4)を有する絶縁基板(2)上に搭載
した半導体集積回路チップ(6)と、該半導体集積回路
チップ(6)と接続して外部端子とする配線(1)と、 前記絶縁基板(2)の周辺と接合させて前記半導体集積
回路チップ(6)を気密封止するキャップ(5)とを備
えた高速集積回路パッケージに於いて、 前記絶縁基板(2)と前記キャップ(5)との間の平衡
型ストリップライン構造となる気密封止配線部分(1b
)の幅を、他のマイクロストリップライン構造となる配
線部分(1a)の幅より狭くした ことを特徴とする高速集積回路パッケージ。
Priority Applications (8)
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JP60077550A JPH0812887B2 (ja) | 1985-04-13 | 1985-04-13 | 高速集積回路パツケ−ジ |
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JP60077550A JPH0812887B2 (ja) | 1985-04-13 | 1985-04-13 | 高速集積回路パツケ−ジ |
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CA (1) | CA1246170A (ja) |
DE (1) | DE3682101D1 (ja) |
HK (1) | HK56592A (ja) |
SG (1) | SG58992G (ja) |
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